JP2018159618A - Waveform analysis assisting device and waveform analysis assisting system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、繰り返しサイクルにおいて得られた波形データを扱う波形分析補助装置、及び波形分析補助システムに関する。 The present invention relates to a waveform analysis auxiliary device and a waveform analysis auxiliary system that handle waveform data obtained in a repetitive cycle.
従来から、作業工程中に測定した振動値、温度、電流値等のアナログ信号をデジタル変換すると共に、作業工程の１サイクルのデジタルデータを時系列的に記憶し、記憶した前記デジタルデータと後続サイクルのものから基準値を求めると共に上下限値を設定し、以降の作業工程中に測定した振動値、温度、電流値等を前記上下限値と比較し、比較した値が前記上下限値より外れたときに警報を発する監視方法が知られている（例えば、特許文献１参照。）。 Conventionally, analog signals such as vibration values, temperatures, and current values measured during a work process are digitally converted, and digital data for one cycle of the work process is stored in time series, and the stored digital data and subsequent cycles are stored. The upper and lower limit values are determined and the vibration value, temperature, current value, etc. measured during the subsequent work process are compared with the upper and lower limit values, and the compared values deviate from the upper and lower limit values. There is known a monitoring method that issues an alarm when the alarm occurs (see, for example, Patent Document 1).
ところで、上述の監視方法で設定される上限値及び下限値から外れる場合は明らかな異常と判断されるが、異常ではないものの、他のサイクルとは異なる値を示す波形データが得られる場合がある。このような異常には至らない小さな差異のある波形データを分析することにより、装置の故障を未然に防止したり、装置の性能を改善したりすることが可能になる。しかしながら、このような小さな差異は、データのばらつきに埋もれてしまい、見つけることが難しい。 By the way, when it deviates from the upper limit value and the lower limit value set by the above-described monitoring method, it is determined that the abnormality is obvious. However, although it is not abnormal, waveform data showing a value different from other cycles may be obtained. . By analyzing the waveform data having such a small difference that does not lead to such an abnormality, it becomes possible to prevent a failure of the apparatus and improve the performance of the apparatus. However, such small differences are buried in data variations and are difficult to find.
本発明の目的は、繰り返しサイクルにおいて得られた複数の波形データの中から、他の波形データと差異のある波形データを見つけることを容易にすることが可能な波形分析補助装置、及び波形分析補助システムを提供することである。 An object of the present invention is to provide a waveform analysis auxiliary device and waveform analysis auxiliary that can easily find waveform data that is different from other waveform data from among a plurality of waveform data obtained in a repetitive cycle. Is to provide a system.
本発明に係る波形分析補助装置は、繰り返しサイクルにおける各サイクルにおいて時間の経過に応じて得られる数値を表す波形データを、複数サイクル分記憶する記憶部と、画像を表示する表示画面を有する表示部と、前記表示画面に前記時間に対応する時間軸と前記数値に対応する数値軸とを設定し、前記各波形データが所定の特徴を有する基準特徴点を、前記時間軸上で一致させるように当該各波形データの前記時間軸における表示位置を調節しつつ当該各波形データが重ね合わされた補正波形を前記表示画面に表示させる表示処理部とを備える。 A waveform analysis auxiliary device according to the present invention includes a storage unit that stores waveform data representing a numerical value obtained in accordance with the passage of time in each cycle in a repeated cycle, and a display unit that has a display screen that displays an image. And a time axis corresponding to the time and a value axis corresponding to the numerical value are set on the display screen, and reference feature points having predetermined characteristics of the waveform data are matched on the time axis. A display processing unit configured to display a correction waveform on which the waveform data is superimposed on the display screen while adjusting a display position of the waveform data on the time axis.
この構成によれば、繰り返しサイクルに対応する複数の波形データが、サイクルの最初ではなく各波形データが所定の特徴を有する基準特徴点が、時間軸上で一致した状態で重ね合わされた補正波形が表示される。その結果、サイクルの最初からのばらつきが基準特徴点の位置でキャンセルされた状態で各波形データが表示されるので、小さな差異がデータのばらつきに埋もれてしまうおそれが低減される。その結果、繰り返しサイクルにおいて得られた複数の波形データの中から、他の波形データと差異のある波形データを見つけることが容易となる。 According to this configuration, a plurality of waveform data corresponding to the repetitive cycle is not a correction waveform in which the reference feature points having predetermined characteristics of each waveform data are not aligned with each other on the time axis. Is displayed. As a result, since each waveform data is displayed in a state where the variation from the beginning of the cycle is canceled at the position of the reference feature point, the possibility that a small difference is buried in the variation in the data is reduced. As a result, it becomes easy to find waveform data that is different from other waveform data from among a plurality of waveform data obtained in the repetition cycle.
また、前記表示処理部は、前記各波形データにおける前記各サイクルが開始される開始点を、前記時間軸上で一致させるように当該各波形データの前記時間軸における表示位置を調節しつつ当該各波形データが重ね合わされた集団波形を前記表示画面に表示させる第一表示処理部と、前記各波形データにおける前記基準特徴点を前記時間軸上で一致させるように、前記集団波形における前記各波形データを前記時間軸に沿って平行移動させることによって前記補正波形を前記表示画面に表示させる第二表示処理部とを含むことが好ましい。 In addition, the display processing unit adjusts the display position of the waveform data on the time axis so that the start points at which the cycles of the waveform data are started coincide on the time axis. The first display processing unit for displaying the collective waveform on which the waveform data is superimposed on the display screen, and the waveform data in the collective waveform so that the reference feature points in the waveform data are matched on the time axis. And a second display processing unit for displaying the correction waveform on the display screen by translating along the time axis.
この構成によれば、第一表示処理部によって、繰り返しサイクルに対応する複数の波形データが、サイクルが開始される開始点が時間軸上で一致した状態で重ね合わされた集団波形が表示される。これにより、サイクルの開始からのサイクル動作を波形データから把握することが容易になる。さらに、第二表示処理部によって、各波形データが所定の特徴を有する基準特徴点が、時間軸上で一致した状態で重ね合わされた補正波形が表示されるので、サイクルの開始からのサイクル動作の把握を容易にしつつ、他の波形データと差異のある波形データを見つけることが容易となる。 According to this configuration, the first display processing unit displays a collective waveform obtained by superimposing a plurality of waveform data corresponding to the repetitive cycle in a state where the start points at which the cycle is started coincide on the time axis. This makes it easy to grasp the cycle operation from the start of the cycle from the waveform data. Furthermore, since the second display processing unit displays a corrected waveform in which the reference feature points having predetermined characteristics of each waveform data are aligned on the time axis, the cycle operation from the start of the cycle is displayed. While facilitating grasping, it becomes easy to find waveform data that is different from other waveform data.
また、前記基準特徴点は、前記各サイクルの開始から所定回数目に立ち上がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、前記各サイクルの開始から所定回数目に立ち下がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、前記各サイクルの開始から所定回数目に上向きに凸のピークとなる点、及び前記各サイクルの開始から所定回数目に下向きに凸のピークとなる点のうちのいずれかの点であることが好ましい。 The reference feature point is that the numerical value becomes a predetermined threshold in the rising direction at a predetermined number of times from the start of each cycle, and the numerical value is predetermined in the falling direction at a predetermined number of times from the start of each cycle. Any one of a point that becomes a threshold, a point that becomes a convex peak upwards a predetermined number of times from the start of each cycle, and a point that becomes a convex peak downwards a predetermined number of times from the start of each cycle It is preferable that
各サイクルの開始から所定回数目に立ち上がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、各サイクルの開始から所定回数目に立ち下がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、各サイクルの開始から所定回数目に上向きに凸のピークとなる点、及び各サイクルの開始から所定回数目に下向きに凸のピークとなる点は、いずれも特徴点として好適である。 The point where the numerical value becomes a predetermined threshold in the rising direction at a predetermined number of times from the start of each cycle, the point where the numerical value becomes a predetermined threshold in the falling direction at the predetermined number of times from the start of each cycle, from the start of each cycle A point that has a convex peak upwards a predetermined number of times and a point that has a convex peak downwards a predetermined number of times from the start of each cycle are both suitable as feature points.
また、前記各波形データには、複数の繰り返し波形が含まれていることが好ましい。 Each waveform data preferably includes a plurality of repetitive waveforms.
例えば一サイクル中に複数の工程が含まれるような装置の動作に伴い得られた波形データには、複数の繰り返し波形が含まれる場合が多い。このような場合に補正波形を表示すると、基準特徴点を含む波形より後の繰り返し波形における小さな差異を見つけやすくなるので、複数の工程のうちの後工程に関する情報を波形データから得ることが容易になる。 For example, waveform data obtained with the operation of an apparatus that includes a plurality of steps in one cycle often includes a plurality of repetitive waveforms. Displaying the correction waveform in such a case makes it easy to find small differences in the repetitive waveform after the waveform including the reference feature point, so that it is easy to obtain information about the subsequent process from the waveform data. Become.
また、前記集団波形及び前記補正波形のうち少なくとも一方の波形について、当該少なくとも一方の波形を分析するための所定の特徴を有する分析特徴点が前記各サイクルに対応する前記各波形データにおいて現れる前記時間軸上の時間を示す特徴出現時間を、当該波形に含まれる各波形データについて取得する分析時間位置取得部と、前記表示画面に前記各波形データに対応するサイクル数を示すサイクル軸と前記時間軸とを設定し、当該表示画面に前記各サイクルに対応する前記特徴出現時間をプロットする分析表示処理部とをさらに備えることが好ましい。 Further, for at least one of the collective waveform and the correction waveform, the time at which an analysis feature point having a predetermined characteristic for analyzing the at least one waveform appears in each waveform data corresponding to each cycle An analysis time position acquisition unit that acquires a feature appearance time indicating time on the axis for each waveform data included in the waveform, a cycle axis that indicates the number of cycles corresponding to each waveform data on the display screen, and the time axis And an analysis display processing unit that plots the feature appearance time corresponding to each cycle on the display screen.
この構成によれば、所定のサイクル間隔で分析特徴点の現れるタイミングが変動するようなデータの傾向を見つけることが容易となる。 According to this configuration, it is easy to find a data tendency such that the timing at which the analysis feature point appears at a predetermined cycle interval varies.
また、前記分析特徴点は、前記各サイクルの開始から所定回数目に立ち上がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、前記各サイクルの開始から所定回数目に立ち下がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、前記各サイクルの開始から所定回数目に上向きに凸のピークとなる点、及び前記各サイクルの開始から所定回数目に下向きに凸のピークとなる点のうちのいずれかの点であることが好ましい。 The analysis feature point is that the numerical value becomes a predetermined threshold in the rising direction at a predetermined number of times from the start of each cycle, and the numerical value is predetermined in the falling direction at a predetermined number of times from the start of each cycle. Any one of a point that becomes a threshold, a point that becomes a convex peak upwards a predetermined number of times from the start of each cycle, and a point that becomes a convex peak downwards a predetermined number of times from the start of each cycle It is preferable that
各サイクルの開始から所定回数目に立ち上がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、各サイクルの開始から所定回数目に立ち下がり方向で前記数値が所定の閾値となる点、各サイクルの開始から所定回数目に上向きに凸のピークとなる点、及び各サイクルの開始から所定回数目に下向きに凸のピークとなる点は、いずれも分析特徴点として好適である。 The point where the numerical value becomes a predetermined threshold in the rising direction at a predetermined number of times from the start of each cycle, the point where the numerical value becomes a predetermined threshold in the falling direction at the predetermined number of times from the start of each cycle, from the start of each cycle A point that becomes a convex peak upwards a predetermined number of times and a point that becomes a convex peak downwards a predetermined number of times from the start of each cycle are both suitable as analysis feature points.
また、本発明に係る波形分析補助システムは、上述の波形分析補助装置と、前記各サイクルにおいて時間の経過に応じて変化する信号を検出する信号検出部と、前記各サイクルが開始されるタイミングを示すトリガ信号を受信するトリガ信号受信部と、前記トリガ信号受信部によって、前記トリガ信号が受信されてから再び前記トリガ信号が受信されるまでの期間を１サイクルとして当該期間に前記信号検出部で受信された信号から１サイクル分の前記波形データを生成する波形データ生成部とを備える。 The waveform analysis auxiliary system according to the present invention includes the waveform analysis auxiliary device described above, a signal detection unit that detects a signal that changes with time in each cycle, and a timing at which each cycle is started. A trigger signal receiving unit that receives the trigger signal indicated by the trigger signal receiving unit, and a period from when the trigger signal is received to when the trigger signal is received again by the trigger signal receiving unit as one cycle. A waveform data generation unit that generates the waveform data for one cycle from the received signal.
この構成によれば、トリガ信号が受信されたタイミングがサイクルの開始点として各波形データが生成されるので、サイクルと波形データとの対応精度を向上することができる。 According to this configuration, since each waveform data is generated with the timing at which the trigger signal is received as the start point of the cycle, the correspondence accuracy between the cycle and the waveform data can be improved.
このような構成の波形分析補助装置、及び波形分析補助システムは、繰り返しサイクルにおいて得られた複数の波形データの中から、他の波形データと差異のある波形データを見つけることを容易にすることが可能である。 The waveform analysis auxiliary device and the waveform analysis auxiliary system configured as described above can easily find waveform data that is different from other waveform data from among a plurality of waveform data obtained in a repetitive cycle. Is possible.
以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。図１は、本発明の一実施形態に係る波形分析補助装置を備えた波形分析補助システムの構成の一例を示すブロック図である。 Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the structure which attached | subjected the same code | symbol in each figure shows that it is the same structure, The description is abbreviate | omitted. FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of a waveform analysis assistance system including a waveform analysis assistance device according to an embodiment of the present invention.
図１に示す波形分析補助システム１は、波形分析補助装置２と、信号観測装置３とを備えている。信号観測装置３は、例えば信号検出部３１、トリガ信号受信部３２、及び波形データ生成部３３を備えている。 A waveform analysis auxiliary system 1 shown in FIG. 1 includes a waveform analysis auxiliary device 2 and a signal observation device 3. The signal observation device 3 includes, for example, a signal detection unit 31, a trigger signal reception unit 32, and a waveform data generation unit 33.
信号観測装置３は、例えば所定の演算処理を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）、所定の制御プログラム等を記憶するフラッシュメモリ等の不揮発性の記憶装置、波形分析補助装置２と通信するための通信回路、ＡＤ（アナログデジタル）コンバータ、Ｉ／Ｏポート、及びこれらの周辺回路等を備えて構成されている。そして、信号観測装置３は、所定の制御プログラムを実行することによって、波形データ生成部３３として機能する。 The signal observation device 3 is a nonvolatile memory such as a CPU (Central Processing Unit) that executes predetermined arithmetic processing, a RAM (Random Access Memory) that temporarily stores data, a flash memory that stores predetermined control programs, and the like. A storage device, a communication circuit for communicating with the waveform analysis auxiliary device 2, an AD (analog / digital) converter, an I / O port, and peripheral circuits thereof are configured. Then, the signal observation device 3 functions as the waveform data generation unit 33 by executing a predetermined control program.
信号観測装置３は、繰り返しサイクル動作を行う装置に接続される。信号観測装置３は、そのサイクル動作に伴い検出された信号を、その装置から得られたサイクルの開始を示すトリガ信号に基づき、サイクル毎の波形データとして取得する。 The signal observation device 3 is connected to a device that performs a repeated cycle operation. The signal observation device 3 acquires the signal detected with the cycle operation as waveform data for each cycle based on the trigger signal indicating the start of the cycle obtained from the device.
繰り返しサイクル動作を行う装置は、例えばＮＣ工作機（Numerically Controlled Machine Tools）である。ＮＣ工作機では、一つのワークを加工する期間が１サイクルに相当する。ＮＣ工作機のサイクル動作に伴い検出される信号としては、例えばドリルやメタルソーを駆動する駆動モータの駆動電流を示す信号が例示される。例えば駆動モータに電流センサを取り付け、電流センサで検出された信号が信号検出部３１に入力される。また、ＮＣ工作機は、その加工サイクルの開始を示すトリガ信号を、トリガ信号受信部３２へ出力する。 An apparatus that repeatedly performs a cycle operation is, for example, an NC machine tool (Numerically Controlled Machine Tools). In an NC machine tool, a period for machining one workpiece corresponds to one cycle. As a signal detected with the cycle operation of the NC machine tool, for example, a signal indicating a drive current of a drive motor for driving a drill or a metal saw is exemplified. For example, a current sensor is attached to the drive motor, and a signal detected by the current sensor is input to the signal detection unit 31. Further, the NC machine tool outputs a trigger signal indicating the start of the machining cycle to the trigger signal receiving unit 32.
信号検出部３１は、例えばＡＤコンバータを用いて構成されている。信号検出部３１は、各サイクルにおいて時間の経過に応じて変化する信号、例えば上述の電流センサの検出信号を検出する。トリガ信号受信部３２は、例えばＩ／Ｏポートである。トリガ信号受信部３２は、ＮＣ工作機の加工サイクルが開始されるタイミングを示すトリガ信号を受信する。 The signal detection unit 31 is configured using, for example, an AD converter. The signal detector 31 detects a signal that changes with time in each cycle, for example, a detection signal of the above-described current sensor. The trigger signal receiving unit 32 is, for example, an I / O port. The trigger signal receiving unit 32 receives a trigger signal indicating the timing at which the machining cycle of the NC machine tool is started.
波形データ生成部３３は、トリガ信号受信部３２によって、トリガ信号が受信されてから再びトリガ信号が受信されるまでの期間を１サイクルとして当該期間に信号検出部３１で受信された信号から１サイクル分の波形データを生成する。そして、波形データ生成部３３は、このようにして得られたサイクル毎の波形データを波形分析補助装置２へ送信する。なお、波形データ生成部３３は、このようにして得られたサイクル毎の波形データを例えばメモリカードなどの記憶媒体に記憶しておき、その記憶媒体のデータを波形分析補助装置２に読み込ませるようにしてもよい。 The waveform data generation unit 33 sets the period from when the trigger signal is received by the trigger signal reception unit 32 to when the trigger signal is received again as one cycle, from the signal received by the signal detection unit 31 during that period to one cycle. Generate minute waveform data. Then, the waveform data generation unit 33 transmits the waveform data for each cycle obtained in this way to the waveform analysis auxiliary device 2. The waveform data generation unit 33 stores the waveform data for each cycle thus obtained in a storage medium such as a memory card, and causes the waveform analysis auxiliary device 2 to read the data in the storage medium. It may be.
波形分析補助装置２は、例えば、本体部４、記憶部５、ディスプレイ装置６（表示部）、マウス７（操作受付部）、及びキーボード８（操作受付部）を備えている。波形分析補助装置２は、例えばパーソナルコンピュータを用いて構成されている。ディスプレイ装置６は、例えば液晶表示装置やＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイ等のディスプレイ装置である。 The waveform analysis auxiliary device 2 includes, for example, a main body unit 4, a storage unit 5, a display device 6 (display unit), a mouse 7 (operation reception unit), and a keyboard 8 (operation reception unit). The waveform analysis auxiliary device 2 is configured using, for example, a personal computer. The display device 6 is a display device such as a liquid crystal display device or an EL (Electro-Luminescence) display.
記憶部５は、例えばＨＤＤ（Hard Disk Drive）やＳＳＤ（Solid State Drive）等の記憶装置を用いて構成されている。あるいは、記憶部５は、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリやＳＤメモリカード等の記憶媒体であってもよい。記憶部５には、ｎ個（ｎは２以上の整数）の波形データＤ１〜Ｄｎが記憶されている。以下、波形データＤ１〜Ｄｎを総称して波形データＤと称する。各波形データは、記号Ｄに、波形データが得られたサイクルのサイクル数ｉを付して、波形データＤｉのように表記する。 The storage unit 5 is configured using a storage device such as an HDD (Hard Disk Drive) or an SSD (Solid State Drive). Alternatively, the storage unit 5 may be a storage medium such as a USB (Universal Serial Bus) memory or an SD memory card. The storage unit 5 stores n (n is an integer of 2 or more) waveform data D1 to Dn. Hereinafter, the waveform data D1 to Dn are collectively referred to as waveform data D. Each waveform data is represented as a waveform data Di by adding the number i of cycles in which the waveform data is obtained to the symbol D.
波形データＤ１〜Ｄｎは、それぞれ、例えば所定のセンサで検出された検出値であるセンサ値（数値）を、例えば一定の時間間隔でサンプリングすることにより時間の経過に応じて取得されたデータであり、このようなデータは、時間に対応する時間軸とセンサ値に対応する数値軸とからなる座標平面（二次元座標）上にプロットすることにより、波形として把握することが可能である。 Each of the waveform data D1 to Dn is data acquired as time elapses, for example, by sampling a sensor value (numerical value) that is a detection value detected by a predetermined sensor, for example, at a constant time interval. Such data can be grasped as a waveform by plotting on a coordinate plane (two-dimensional coordinates) composed of a time axis corresponding to time and a numerical axis corresponding to a sensor value.
一つの波形データＤを構成する複数のセンサ値には、波形データＤ毎にサンプリングされた順番に、０から順にサンプル番号が付されている。すなわち、サンプル番号０のセンサ値は、サイクルが開始された最初のセンサ値であり、以後、サイクルが開始されてからの経過時間は、サンプリング間隔×サンプル番号で得られる。すなわち、サンプル番号は、サンプリングが開始されてからの経過時間を意味している。サンプリング間隔は、例えば１０ｍｓとされている。 A plurality of sensor values constituting one waveform data D are assigned sample numbers in order from 0 in the order sampled for each waveform data D. That is, the sensor value of sample number 0 is the first sensor value at which the cycle is started, and thereafter, the elapsed time from the start of the cycle is obtained by sampling interval × sample number. That is, the sample number means an elapsed time since the sampling was started. The sampling interval is, for example, 10 ms.
上述のセンサは、例えばワークを加工する加工機の加工用モータの負荷電流を検出する電流センサである。そして、１つのワークを加工する加工工程の開始から終了までの１サイクル中に複数サンプリングして得られたセンサ値が一つの波形データＤとされ、このようなサイクルをｎ回繰り返すことによって、波形データＤ１〜Ｄｎが得られる。 The above-described sensor is a current sensor that detects a load current of a processing motor of a processing machine that processes a workpiece, for example. The sensor value obtained by sampling a plurality of times during one cycle from the start to the end of the machining process for machining one workpiece is used as one waveform data D. By repeating such a cycle n times, a waveform is obtained. Data D1 to Dn are obtained.
ここで、サイクル数１〜ｎに対応する波形データＤ１〜Ｄｎは、サイクル数順に、時間の経過（サイクル数の増加）に伴い添え字の番号ｉが増加するようになっている。 Here, in the waveform data D1 to Dn corresponding to the number of cycles 1 to n, the subscript number i increases with the passage of time (increase in the number of cycles) in the order of the number of cycles.
なお、センサは電流センサに限らない。例えば電圧センサ、温度センサ、トルクセンサ、あるいは圧力センサ等であってもよい。また、波形データＤの数値は、センサで検出された値に限らず、時間の経過に伴い得られる数値であればよい。 The sensor is not limited to a current sensor. For example, a voltage sensor, a temperature sensor, a torque sensor, or a pressure sensor may be used. The numerical value of the waveform data D is not limited to the value detected by the sensor, and may be a numerical value obtained with the passage of time.
図２（ａ）〜図２（ｄ）は、記憶部５に記憶されている波形データＤ１〜Ｄｎの一例を説明するための波形図である。図２（ａ）〜図２（ｄ）に示す波形図は、横軸（時間軸）を時間、縦軸（数値軸）をセンサ値とする座標平面（二次元座標）上に、波形データＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄｎがプロットされたものである。図２（ａ）〜図２（ｄ）に示すように、波形データＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄｎは、同じ種類のワークを加工するサイクルが繰り返されたものなので、波形データＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄｎを表す波形は略同じような波形となる。 2A to 2D are waveform diagrams for explaining an example of the waveform data D1 to Dn stored in the storage unit 5. FIG. The waveform diagrams shown in FIGS. 2A to 2D show waveform data D1 on a coordinate plane (two-dimensional coordinates) having the horizontal axis (time axis) as time and the vertical axis (numerical value axis) as sensor values. , D2, D3, Dn are plotted. As shown in FIGS. 2A to 2D, the waveform data D1, D2, D3, and Dn are obtained by repeating a cycle of machining the same type of workpiece. Waveforms representing Dn are substantially similar.
図２に示す例では、図２（ｃ）に示す波形データＤ３の波形が、サンプル番号１０００（１０秒）前後の時間位置で他の波形と僅かに異なっているが、図２（ａ）〜図２（ｄ）の波形を一見しただけでは、波形データＤ３が異常なのか、波形データＤ３と他の波形データとの差異はデータばらつきの範囲内なのかを判断することは困難である。 In the example shown in FIG. 2, the waveform of the waveform data D3 shown in FIG. 2C is slightly different from the other waveforms at the time positions around the sample number 1000 (10 seconds). It is difficult to determine whether the waveform data D3 is abnormal or whether the difference between the waveform data D3 and other waveform data is within the range of data variation by simply looking at the waveform in FIG.
また、波形データＤの数ｎは、例えば２００個〜２０００個である。そのため、このような多数の波形をユーザが一つずつ目視して、数多くの波形データの中から異常な波形データを判別することは、困難かつ煩雑である。 The number n of waveform data D is, for example, 200 to 2000. For this reason, it is difficult and cumbersome for the user to visually recognize such a large number of waveforms one by one and discriminate abnormal waveform data from the large number of waveform data.
本体部４は、例えば所定の演算処理を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）、信号観測装置３と通信するための通信回路、及びこれらの周辺回路等を備えて構成されている。そして、本体部４は、記憶部５に記憶された制御プログラムを実行することによって、表示処理部４０、分析時間位置取得部４３、及び分析表示処理部４４として機能する。表示処理部４０は、第一表示処理部４１と第二表示処理部４２とを含む。 The main unit 4 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit) that executes predetermined arithmetic processing, a RAM (Random Access Memory) that temporarily stores data, a communication circuit for communicating with the signal observation device 3, and their peripherals A circuit is provided. The main body 4 functions as a display processing unit 40, an analysis time position acquisition unit 43, and an analysis display processing unit 44 by executing the control program stored in the storage unit 5. The display processing unit 40 includes a first display processing unit 41 and a second display processing unit 42.
本体部４は、例えば信号観測装置３から受信された波形データＤ１〜Ｄｎ、あるいは記憶媒体から読み込まれた波形データＤ１〜Ｄｎを記憶部５に記憶させてもよい。あるいは、波形データＤ１〜Ｄｎが記憶された記憶媒体を記憶部５として用いてもよい。 The main body unit 4 may store the waveform data D1 to Dn received from the signal observation device 3 or the waveform data D1 to Dn read from the storage medium in the storage unit 5, for example. Alternatively, a storage medium in which the waveform data D1 to Dn are stored may be used as the storage unit 5.
第一表示処理部４１は、波形データＤ１〜Ｄｎにおける各サイクルが開始される開始点を、時間軸上で一致させるように波形データＤ１〜Ｄｎの時間軸における表示位置を調節しつつ波形データＤ１〜Ｄｎが重ね合わされた集団波形をディスプレイ装置６の表示画面に表示させる。 The first display processing unit 41 adjusts the display position of the waveform data D1 to Dn on the time axis so that the start points at which the cycles of the waveform data D1 to Dn start are matched on the time axis, while the waveform data D1 The collective waveform on which .about.Dn is superimposed is displayed on the display screen of the display device 6.
第二表示処理部４２は、波形データＤ１〜Ｄｎにおける基準特徴点を時間軸上で一致させるように、集団波形における波形データＤ１〜Ｄｎを時間軸に沿って平行移動させることによって補正波形を表示画面に表示させる。 The second display processing unit 42 displays the corrected waveform by translating the waveform data D1 to Dn in the collective waveform along the time axis so that the reference feature points in the waveform data D1 to Dn match on the time axis. Display on the screen.
分析時間位置取得部４３は、第一表示処理部４１によって表示される集団波形及び第二表示処理部４２によって表示される補正波形のうち少なくとも一方の波形について、当該少なくとも一方の波形を分析するための所定の特徴を有する分析特徴点が各サイクルに対応する波形データＤ１〜Ｄｎにおいて現れる時間軸上の時間を示す特徴出現サンプル番号（特徴出現時間）を、当該波形に含まれる波形データＤ１〜Ｄｎについて取得する。 The analysis time position acquisition unit 43 analyzes at least one of the collective waveform displayed by the first display processing unit 41 and the correction waveform displayed by the second display processing unit 42. The feature appearance sample numbers (feature appearance times) indicating the time on the time axis at which the analysis feature points having the predetermined features appear in the waveform data D1 to Dn corresponding to each cycle are represented by the waveform data D1 to Dn included in the waveform. Get about.
分析表示処理部４４は、ディスプレイ装置６の表示画面に波形データＤ１〜Ｄｎに対応するサイクル数を示すサイクル軸と時間軸とを設定し、当該表示画面に各サイクルに対応する特徴出現サンプル番号（特徴出現時間）をプロットする。 The analysis display processing unit 44 sets a cycle axis and a time axis indicating the number of cycles corresponding to the waveform data D1 to Dn on the display screen of the display device 6, and a feature appearance sample number (corresponding to each cycle) on the display screen. Plot feature appearance time).
図３は、図１に示す第一表示処理部４１によってディスプレイ装置６に表示された集団波形Ｇ２の一例を示す画面図である。図３に示す表示画面Ｇ１は、横軸がサイクル開始からの経過時間をサンプル番号で示す時間軸とされ、縦軸がセンサ値を示す数値軸となっている。集団波形Ｇ２は、波形データＤ１〜Ｄｎの各サイクル番号をそのまま時間軸に合わせて表示画面Ｇ１にプロットしたもので、サイクルの開始タイミングで時間軸を揃えて波形データＤ１〜Ｄｎが重ね合わされた波形になっている。 FIG. 3 is a screen diagram showing an example of the collective waveform G2 displayed on the display device 6 by the first display processing unit 41 shown in FIG. In the display screen G1 shown in FIG. 3, the horizontal axis is a time axis indicating the elapsed time from the start of the cycle as a sample number, and the vertical axis is a numerical axis indicating the sensor value. The collective waveform G2 is obtained by plotting the cycle numbers of the waveform data D1 to Dn on the display screen G1 as they are along the time axis, and is a waveform in which the waveform data D1 to Dn are overlapped with the time axis aligned at the cycle start timing. It has become.
集団波形Ｇ２の部分Ａでは、波形が太い線状になっており、この線の太さが波形データＤ１〜Ｄｎのばらつきに相当している。 In the portion A of the collective waveform G2, the waveform is a thick line, and the thickness of this line corresponds to the variation of the waveform data D1 to Dn.
図３に示す例では、１サイクル中に２工程含まれている。例えば、ＮＣ工作機で、１つのワークに順次２箇所、孔開けを行う場合に相当している。図３に示す集団波形Ｇ２では、１工程目に対応する波形Ｇ２１と、２工程目に対応する波形Ｇ２２とが表示されている。 In the example shown in FIG. 3, two steps are included in one cycle. For example, this corresponds to a case where two holes are sequentially drilled in one workpiece with an NC machine tool. In the collective waveform G2 shown in FIG. 3, a waveform G21 corresponding to the first step and a waveform G22 corresponding to the second step are displayed.
表示処理部４０は、ユーザがマウス７を操作して選択した部分を拡大表示する。図４は、ユーザが表示画面Ｇ１における波形Ｇ２２の選択範囲Ｇ２３を選択した場合に、表示処理部４０によって拡大表示された選択範囲Ｇ２３の波形Ｇ２２を示す画面図である。図４に示す画面図では、部分Ｅの波形は一定の範囲内で略均一にばらついているように見え、ばらつきと異なる理由で他の波形データと差異が生じている波形データを見つけることは困難である。 The display processing unit 40 enlarges and displays a portion selected by the user by operating the mouse 7. FIG. 4 is a screen diagram showing the waveform G22 of the selection range G23 enlarged and displayed by the display processing unit 40 when the user selects the selection range G23 of the waveform G22 on the display screen G1. In the screen diagram shown in FIG. 4, the waveform of the portion E seems to vary substantially uniformly within a certain range, and it is difficult to find waveform data that is different from other waveform data for a reason different from variation. It is.
図５、図６は、第二表示処理部４２による補正波形の表示動作を説明するための説明図である。図５は、基準特徴点の特徴となる設定の入力を受け付ける設定受付画面を示す画面図である。 5 and 6 are explanatory diagrams for explaining the correction waveform display operation by the second display processing unit 42. FIG. 5 is a screen diagram illustrating a setting reception screen that receives an input of a setting that is a feature of the reference feature point.
ユーザがマウス７又はキーボード８を操作して、補正波形の表示指示を入力すると、第二表示処理部４２は、図５に示す設定受付画面Ｇ３をディスプレイ装置６に表示させる。設定受付画面Ｇ３には、基準特徴点を探す範囲をサンプル数で指定するための「開始：」欄と、「長さ：」欄とが表示されている。また、何サイクル目を対象とするかを設定するためのサイクル入力欄Ｇ３１と、立ち上り、立ち下り、上向きに凸のピーク、及び下向きに凸のピークを選択するための選択欄Ｇ３２と、閾値を設定するための「検出レベル：」欄とが設けられている。ユーザがマウス７又はキーボード８を操作して各欄に所望の設定を行うことが可能にされている。 When the user operates the mouse 7 or the keyboard 8 to input a correction waveform display instruction, the second display processing unit 42 causes the display device 6 to display a setting reception screen G3 shown in FIG. In the setting reception screen G3, a “start:” field and a “length:” field for designating a range for searching for a reference feature point by the number of samples are displayed. In addition, a cycle input field G31 for setting what cycle is targeted, a selection field G32 for selecting rising, falling, upwardly convex peak, and downwardly convex peak, and threshold values A “detection level:” field for setting is provided. The user can operate the mouse 7 or the keyboard 8 to make desired settings in each column.
図５に示す例では、「開始：」欄に１２０、「長さ：」欄に１００、サイクル入力欄Ｇ３１に「最初」、選択欄Ｇ３２に立ち上がり、「検出レベル：」欄に２０が入力され、第二表示処理部４２は、設定受付画面Ｇ３に入力された設定内容に対応するカーソルＢを、図３に示す表示画面Ｇ１に表示する。 In the example shown in FIG. 5, 120 is input in the “Start:” field, 100 in the “Length:” field, “First” in the cycle input field G31, 20 in the selection field G32, and 20 in the “Detection level:” field. The second display processing unit 42 displays the cursor B corresponding to the setting content input on the setting reception screen G3 on the display screen G1 shown in FIG.
図３，図５に示す例では、表示画面Ｇ１に表示されたカーソルＢを、波形データＤ１〜Ｄｎが立ち上がり方向で通過したときにおける波形データＤ１〜Ｄｎが閾値（検出レベル）になった点が、波形データＤ１〜Ｄｎそれぞれの基準特徴点として、第二表示処理部４２によって取得される。 In the example shown in FIGS. 3 and 5, the waveform data D1 to Dn when the waveform data D1 to Dn pass in the rising direction through the cursor B displayed on the display screen G1 has a threshold value (detection level). The second display processing unit 42 acquires the reference feature points of the waveform data D1 to Dn.
図６は、図１に示す第二表示処理部４２によって表示された補正波形の一例を示す画面図である。第二表示処理部４２は、波形データＤ１〜Ｄｎそれぞれの基準特徴点を時間軸（横軸）上で一致させるように、集団波形における波形データＤ１〜Ｄｎを時間軸に沿って平行移動させることによって補正した補正波形Ｇ４１を表示画面Ｇ４に表示させる。 FIG. 6 is a screen diagram showing an example of a correction waveform displayed by the second display processing unit 42 shown in FIG. The second display processing unit 42 translates the waveform data D1 to Dn in the collective waveform along the time axis so that the reference feature points of the waveform data D1 to Dn are matched on the time axis (horizontal axis). The corrected waveform G41 corrected by the above is displayed on the display screen G4.
図６に示す補正波形Ｇ４１では、集団波形Ｇ２における部分Ａに対応する部分Ｃにおいて、部分Ａの集団波形Ｇ２よりも部分Ｃの補正波形Ｇ４１の方が、線が細くなっている。すなわち、補正波形Ｇ４１では、波形データＤ１〜Ｄｎそれぞれの基準特徴点が時間軸（横軸）上で一致させられた結果、基準特徴点に対応する部分Ｃで、補正波形Ｇ４１が細くなっている。 In the correction waveform G41 shown in FIG. 6, in the portion C corresponding to the portion A in the collective waveform G2, the correction waveform G41 of the portion C is thinner than the collective waveform G2 of the portion A. That is, in the correction waveform G41, as a result of matching the reference feature points of the waveform data D1 to Dn on the time axis (horizontal axis), the correction waveform G41 is narrowed at the portion C corresponding to the reference feature points. .
図７は、ユーザが表示画面Ｇ４において、補正波形Ｇ４１の２工程目の波形Ｇ２２の選択範囲Ｇ４２を選択した場合に、表示処理部４０によって拡大表示された選択範囲Ｇ４２の補正波形Ｇ４１を示す画面図である。図７に示すように、補正波形Ｇ４１では、拡大表示された選択範囲Ｇ４２の部分Ｆにおいて、波形データＤ１〜Ｄｎが、互いに異なる略２グループに分かれることが確認できる。このように、補正波形Ｇ４１によれば、繰り返しサイクルにおいて得られた複数の波形データＤ１〜Ｄｎの中から、他の波形データと差異のある波形データを見つけることが容易になる。 FIG. 7 shows the correction waveform G41 of the selection range G42 enlarged and displayed by the display processing unit 40 when the user selects the selection range G42 of the waveform G22 in the second step of the correction waveform G41 on the display screen G4. FIG. As shown in FIG. 7, in the corrected waveform G41, it can be confirmed that the waveform data D1 to Dn are divided into approximately two different groups in the portion F of the enlarged selection range G42. Thus, according to the correction waveform G41, it becomes easy to find waveform data that is different from other waveform data from among the plurality of waveform data D1 to Dn obtained in the repetition cycle.
図３、図４に示す集団波形Ｇ２では、１工程目の波形Ｇ２１で生じたばらつきが累積されて２工程目の波形Ｇ２２で現れる。そのため、２工程目の波形Ｇ２２における、波形データＤ１〜Ｄｎの差異が、波形Ｇ２１で生じたばらつきの累積によって覆い隠されてしまうため、集団波形Ｇ２では、波形データＤ１〜Ｄｎの差異を見つけることが困難になる。 In the collective waveform G2 shown in FIG. 3 and FIG. 4, the variations generated in the waveform G21 in the first step are accumulated and appear in the waveform G22 in the second step. For this reason, the difference between the waveform data D1 to Dn in the waveform G22 in the second step is obscured by the accumulation of variations generated in the waveform G21, and therefore, the difference between the waveform data D1 to Dn is found in the collective waveform G2. Becomes difficult.
一方、図６、図７に示す補正波形Ｇ４１では、第二表示処理部４２によって、波形データＤ１〜Ｄｎにおける基準特徴点が時間軸上で一致されるように、集団波形Ｇ２における波形データＤ１〜Ｄｎが時間軸に沿って平行移動される結果、波形Ｇ２１で生じたばらつきがキャンセルされるので、図７に示すように、繰り返しサイクルにおいて得られた複数の波形データＤ１〜Ｄｎの中から、他の波形データと差異のある波形データを見つけることが容易になる。 On the other hand, in the correction waveform G41 shown in FIGS. 6 and 7, the waveform data D1 to D1 in the collective waveform G2 is set by the second display processing unit 42 so that the reference feature points in the waveform data D1 to Dn are matched on the time axis. As a result of the parallel movement of Dn along the time axis, the variation occurring in the waveform G21 is canceled, so that, as shown in FIG. 7, from among the plurality of waveform data D1 to Dn obtained in the repetitive cycle, the other It becomes easy to find the waveform data that is different from the waveform data.
図８、図９は、分析時間位置取得部４３及び分析表示処理部４４の動作を説明するための説明図である。図８は、分析特徴点の特徴となる設定の入力を受け付ける設定受付画面を示す画面図である。 8 and 9 are explanatory diagrams for explaining operations of the analysis time position acquisition unit 43 and the analysis display processing unit 44. FIG. FIG. 8 is a screen diagram illustrating a setting reception screen that receives an input of a setting that is a feature of an analysis feature point.
図３若しくは図４に示す集団波形Ｇ２、又は図６若しくは図７に示す補正波形Ｇ４１が表示された状態で、ユーザがマウス７又はキーボード８を操作してタイミング分析波形の表示指示を入力すると、分析時間位置取得部４３は、図８に示す設定受付画面Ｇ５をディスプレイ装置６に表示させる。設定受付画面Ｇ５には、表示されている波形を処理対象として分析特徴点を探す範囲をサンプル数で指定するための「開始：」欄と、「長さ：」欄とが表示されている。また、何サイクル目を対象とするかを設定するためのサイクル入力欄Ｇ３１と、立ち上り、立ち下り、上向きに凸のピーク、及び下向きに凸のピークを選択するための選択欄Ｇ３２と、閾値を設定するための「検出レベル：」欄とが設けられている。ユーザがマウス７又はキーボード８を操作して各欄に所望の設定を行うことが可能にされている。 When the collective waveform G2 shown in FIG. 3 or FIG. 4 or the correction waveform G41 shown in FIG. 6 or FIG. 7 is displayed, the user operates the mouse 7 or the keyboard 8 to input a timing analysis waveform display instruction. The analysis time position acquisition unit 43 causes the display device 6 to display a setting reception screen G5 shown in FIG. In the setting reception screen G5, a “start:” field and a “length:” field for designating a range to search for analysis feature points by using the displayed waveform as a processing target are displayed. In addition, a cycle input field G31 for setting what cycle is targeted, a selection field G32 for selecting rising, falling, upwardly convex peak, and downwardly convex peak, and threshold values A “detection level:” field for setting is provided. The user can operate the mouse 7 or the keyboard 8 to make desired settings in each column.
図８に示す例では、「開始：」欄に７７０、「長さ：」欄に３０、サイクル入力欄Ｇ３１に「最初」、選択欄Ｇ３２に立ち上がり、「検出レベル：」欄に２０が入力されている。図７に示す補正波形Ｇ４１を処理対象とする場合、分析時間位置取得部４３は、設定受付画面Ｇ５に入力された設定内容に対応するカーソルＨを、図７に示す補正波形Ｇ４１上に表示する。 In the example shown in FIG. 8, 770 is entered in the “Start:” field, 30 is entered in the “Length:” field, “First” is entered in the cycle entry field G31, 20 is entered in the Selection field G32, and 20 is entered in the “Detection level:” field. ing. When the correction waveform G41 shown in FIG. 7 is to be processed, the analysis time position acquisition unit 43 displays the cursor H corresponding to the setting content input on the setting reception screen G5 on the correction waveform G41 shown in FIG. .
図７，図８に示す例では、カーソルＨを、補正波形Ｇ４１の波形データＤ１〜Ｄｎが立ち上がり方向で通過したときにおける波形データＤ１〜Ｄｎが閾値（検出レベル）になった点が、波形データＤ１〜Ｄｎそれぞれの分析特徴点とされる。分析時間位置取得部４３は、それら各分析特徴点の時間軸上の時間をサンプル番号で示した特徴出現サンプル番号を取得する。特徴出現サンプル番号は、特徴出現時間の一例に相当している。補正波形Ｇ４１が対象とされる場合、特徴出現サンプル番号は、第二表示処理部４２によって補正された後の時間軸上のサンプル番号（時間）となる。 In the example shown in FIGS. 7 and 8, the waveform data is that the waveform data D <b> 1 to Dn when the waveform data D <b> 1 to Dn of the correction waveform G <b> 41 passes through the cursor H in the rising direction becomes a threshold value (detection level). It is set as each analysis feature point of D1-Dn. The analysis time position acquisition unit 43 acquires a feature appearance sample number indicating the time on the time axis of each analysis feature point by a sample number. The feature appearance sample number corresponds to an example of the feature appearance time. When the correction waveform G41 is targeted, the feature appearance sample number is the sample number (time) on the time axis after being corrected by the second display processing unit.
図９は、図１に示す分析表示処理部４４によって表示される、各サイクルに対応する特徴出現時間のプロットを線で繋いだグラフＧ６１を示す画面図Ｇ６である。図９に示す画面図Ｇ６は、横軸が波形データＤ１〜Ｄｎに対応するサイクル数を示すサイクル軸とされ、縦軸が各サイクル（波形データＤ１〜Ｄｎ）に対応する特徴出現サンプル番号とされている。 FIG. 9 is a screen diagram G6 showing a graph G61 displayed by the analysis display processing unit 44 shown in FIG. 1 and connecting plots of feature appearance times corresponding to the respective cycles with lines. In the screen diagram G6 shown in FIG. 9, the horizontal axis is the cycle axis indicating the number of cycles corresponding to the waveform data D1 to Dn, and the vertical axis is the feature appearance sample number corresponding to each cycle (waveform data D1 to Dn). ing.
分析表示処理部４４は、画面図Ｇ６において、サイクル（波形データＤ１〜Ｄｎ）毎に特徴出現サンプル番号をプロットし、グラフＧ６１をディスプレイ装置６に表示させる。 The analysis display processing unit 44 plots the feature appearance sample numbers for each cycle (waveform data D1 to Dn) in the screen diagram G6 and causes the display device 6 to display the graph G61.
グラフＧ６１によれば、４サイクル毎に、特徴出現サンプル番号が小さくなっているのがわかる。図７に示す補正波形Ｇ４１では、波形データＤ１〜Ｄｎが２グループに分かれることしか判らない。しかしながら分析時間位置取得部４３と分析表示処理部４４とによって図９に示すグラフＧ６１を表示させることによって、４サイクル毎に、特徴出現サンプル番号が小さい、他のサイクルとは異なる波形が生じることを容易に見つけることができる。 According to the graph G61, it can be seen that the feature appearance sample number decreases every four cycles. In the correction waveform G41 shown in FIG. 7, it can only be understood that the waveform data D1 to Dn are divided into two groups. However, by displaying the graph G61 shown in FIG. 9 by the analysis time position acquisition unit 43 and the analysis display processing unit 44, it is possible to generate a waveform having a small feature appearance sample number and different from other cycles every four cycles. Can be easily found.
このように、分析時間位置取得部４３と分析表示処理部４４とによれば、他の波形データと差異のある波形データが生じる傾向に関する情報を得ることが容易になる。 As described above, according to the analysis time position acquisition unit 43 and the analysis display processing unit 44, it is easy to obtain information regarding the tendency of generating waveform data that is different from other waveform data.
１ 波形分析補助システム
２ 波形分析補助装置
３ 信号観測装置
４ 本体部
５ 記憶部
６ ディスプレイ装置（表示部）
７ マウス
８ キーボード
３１ 信号検出部
３２ トリガ信号受信部
３３ 波形データ生成部
４０ 表示処理部
４１ 第一表示処理部
４２ 第二表示処理部
４３ 分析時間位置取得部
４４ 分析表示処理部
Ｄ，Ｄ１〜Ｄｎ 波形データ
Ｇ１ 表示画面
Ｇ２ 集団波形
Ｇ２１，Ｇ２２ 波形
Ｇ２３ 選択範囲
Ｇ３ 設定受付画面
Ｇ３１ サイクル入力欄
Ｇ３２ 選択欄
Ｇ４ 表示画面
Ｇ４１ 補正波形
Ｇ４２ 選択範囲
Ｇ５ 設定受付画面
Ｇ６ 画面図
Ｇ６１ グラフ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Waveform analysis auxiliary system 2 Waveform analysis auxiliary device 3 Signal observation apparatus 4 Main body part 5 Memory | storage part 6 Display apparatus (display part)
7 mouse 8 keyboard 31 signal detection unit 32 trigger signal reception unit 33 waveform data generation unit 40 display processing unit 41 first display processing unit 42 second display processing unit 43 analysis time position acquisition unit 44 analysis display processing units D, D1 to Dn Waveform data G1 Display screen G2 Collective waveform G21, G22 Waveform G23 Selection range G3 Setting reception screen G31 Cycle input field G32 Selection field G4 Display screen G41 Correction waveform G42 Selection range G5 Setting reception screen G6 Screen diagram G61 Graph
Claims (7)
画像を表示する表示画面を有する表示部と、
前記表示画面に前記時間に対応する時間軸と前記数値に対応する数値軸とを設定し、前記各波形データが所定の特徴を有する基準特徴点を、前記時間軸上で一致させるように当該各波形データの前記時間軸における表示位置を調節しつつ当該各波形データが重ね合わされた補正波形を前記表示画面に表示させる表示処理部とを備える波形分析補助装置。 A storage unit for storing waveform data representing a numerical value obtained in accordance with the passage of time in each cycle in a repetitive cycle;
A display unit having a display screen for displaying an image;
A time axis corresponding to the time and a numerical axis corresponding to the numerical value are set on the display screen, and each of the waveform data has a predetermined characteristic on the time axis so that the reference feature points having predetermined characteristics coincide with each other. A waveform analysis auxiliary device comprising: a display processing unit that displays a correction waveform in which the waveform data is superimposed on the display screen while adjusting a display position of the waveform data on the time axis.
前記各波形データにおける前記各サイクルが開始される開始点を、前記時間軸上で一致させるように当該各波形データの前記時間軸における表示位置を調節しつつ当該各波形データが重ね合わされた集団波形を前記表示画面に表示させる第一表示処理部と、
前記各波形データにおける前記基準特徴点を前記時間軸上で一致させるように、前記集団波形における前記各波形データを前記時間軸に沿って平行移動させることによって前記補正波形を前記表示画面に表示させる第二表示処理部とを含む請求項１記載の波形分析補助装置。 The display processing unit
A collective waveform in which the waveform data is superimposed while adjusting the display position of the waveform data on the time axis so that the start points at which the cycles in the waveform data are started coincide with each other on the time axis. A first display processing unit for displaying on the display screen;
The correction waveform is displayed on the display screen by translating the waveform data in the collective waveform along the time axis so that the reference feature points in the waveform data coincide on the time axis. The waveform analysis auxiliary device according to claim 1, further comprising a second display processing unit.
前記表示画面に前記各波形データに対応するサイクル数を示すサイクル軸と前記時間軸とを設定し、当該表示画面に前記各サイクルに対応する前記特徴出現時間をプロットする分析表示処理部とをさらに備える請求項２記載の波形分析補助装置。 On at least one of the collective waveform and the correction waveform, an analysis feature point having a predetermined feature for analyzing the at least one waveform appears on the time axis corresponding to each cycle. An analysis time position acquisition unit that acquires the feature appearance time indicating the time of each waveform data included in the waveform;
An analysis display processing unit configured to set a cycle axis indicating the number of cycles corresponding to each waveform data and the time axis on the display screen, and plot the feature appearance times corresponding to the cycles on the display screen; The waveform analysis auxiliary device according to claim 2 provided.
前記各サイクルにおいて時間の経過に応じて変化する信号を検出する信号検出部と、
前記各サイクルが開始されるタイミングを示すトリガ信号を受信するトリガ信号受信部と、
前記トリガ信号受信部によって、前記トリガ信号が受信されてから再び前記トリガ信号が受信されるまでの期間を１サイクルとして当該期間に前記信号検出部で受信された信号から１サイクル分の前記波形データを生成する波形データ生成部とを備える波形分析補助システム。 The waveform analysis auxiliary device according to any one of claims 1 to 6,
A signal detector that detects a signal that changes with time in each cycle;
A trigger signal receiving unit for receiving a trigger signal indicating a timing at which each cycle is started;
The period of time from when the trigger signal is received by the trigger signal receiving unit to when the trigger signal is received again is defined as one cycle, and the waveform data for one cycle from the signal received by the signal detection unit during the period A waveform analysis auxiliary system comprising a waveform data generation unit for generating a waveform data.
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