JP2018155544A - X-ray inspection device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、Ｘ線検査装置に関する。 The present invention relates to an X-ray inspection apparatus.
物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品を透過した低エネルギー帯のＸ線、及び物品を透過した高エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、低エネルギー帯のＸ線の検出結果、及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備えるＸ線検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。このようなＸ線検査装置によれば、例えば、低エネルギー帯のＸ線の検出結果として取得されたＸ線透過画像と、高エネルギー帯のＸ線の検出結果として取得されたＸ線透過画像との差分を取ることにより、Ｘ線の減衰特性において物品と差が少ない異物であっても精度良く検出することができる。 An X-ray irradiating unit that irradiates the article with X-rays, an X-ray detecting unit that detects X-rays transmitted through the article, and X-rays transmitted through the article, and a low-energy band; An X-ray inspection apparatus including a processing unit that determines whether or not a foreign object is contained in an article based on the detection result of X-rays and the detection result of X-rays in a high energy band is known (for example, a patent) Reference 1). According to such an X-ray inspection apparatus, for example, an X-ray transmission image acquired as a detection result of a low energy band X-ray, and an X-ray transmission image acquired as a detection result of a high energy band X-ray, By taking this difference, it is possible to accurately detect a foreign object having a small difference from the article in the X-ray attenuation characteristics.
上述したようなＸ線検査装置においては、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品を検査対象として、Ｘ線の減衰特性において当該物品と差が少ない異物を検出すべき場合がある。例えば、赤身と脂身とを含む牛肉を検査対象として、異物として骨片を検出するような場合である。 In the X-ray inspection apparatus as described above, an object including the first part having the first physical property and the second part having the second physical property is an object to be inspected. May be detected. For example, it is a case where a bone fragment is detected as a foreign object with beef containing red and fat as an inspection target.
本発明は、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるＸ線検査装置を提供することを目的とする。 An object of this invention is to provide the X-ray inspection apparatus which can detect a foreign material accurately in the article | item containing the 1st part which has a 1st physical property, and the 2nd part which has a 2nd physical property.
本発明のＸ線検査装置は、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品を透過した第１エネルギー帯のＸ線、及び物品を透過した第２エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定し、第１処理は、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理であり、第２処理は、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理である。 An X-ray inspection apparatus according to the present invention includes an X-ray irradiation unit that irradiates an article including a first part having a first physical property and a second part having a second physical property, and a first energy band transmitted through the article. X-ray detection unit that detects X-rays in the second energy band that has passed through the article, first detection result of X-rays in the first energy band, and second detection of X-rays in the second energy band A processing unit that determines whether or not a foreign object is included in the article based on the result, and the processing unit performs the first process using the first detection result and the second detection result acquired for the article. By carrying out the second process using the first detection result and the second detection result acquired for the article, it is determined whether or not the first part contains foreign matter. It is determined whether or not a foreign object is included in the A process intended to adjust the first detection result and the second detection results obtained with, the second process is a first detection result and the second detection result and the combined Komu process obtained for previously second portion.
このＸ線検査装置では、第１部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む第１処理が実施される。また、第２部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む第２処理が実施される。これらにより、例えば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを判定するために、第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物を精度良く検出することができる。よって、このＸ線検査装置によれば、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができる。 In this X-ray inspection apparatus, a first process for combining the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first portion is performed in order to determine whether or not the first portion contains foreign matter. Is done. Further, in order to determine whether or not the second part contains foreign matter, a second process is performed in which the first detection result and the second detection result acquired in advance for the second part are combined. Thus, for example, in order to determine whether or not a foreign matter is included in the first portion and whether or not a foreign matter is included in the second portion, the same combination of the first detection result and the second detection result is performed. Compared to the case where the above process is performed, the foreign matter can be detected with high accuracy. Therefore, according to this X-ray inspection apparatus, foreign matter can be detected with high accuracy in an article including the first portion having the first physical property and the second portion having the second physical property.
本発明のＸ線検査装置では、第１処理は、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であり、第２処理は、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であってもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを好適に判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the first process is a process of matching the luminance values between corresponding pixels in the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first portion for each luminance value, The second process may be a process of matching the luminance values between corresponding pixels in the first detection result and the second detection result acquired in advance for the second portion for each luminance value. According to this, it can be suitably determined whether or not the first part contains foreign matter and whether or not the second part contains foreign matter.
本発明のＸ線検査装置では、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the processing unit uses the first detection result and the second detection result acquired for the article to perform the first process on the region corresponding to the entire article, thereby By determining whether or not the part contains foreign matter, and using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the second process is performed on the region corresponding to the entire article, thereby It may be determined whether or not foreign matter is included in the two portions. According to this, it is possible to easily and accurately determine whether or not the first part contains foreign matter and whether or not the second part contains foreign matter.
本発明のＸ線検査装置では、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果の少なくとも１つに基づいて、当該物品において第１部分に対応する第１領域及び第２部分に対応する第２領域を抽出し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かをより精度良く判定することができる。 In the X-ray inspection apparatus of the present invention, the processing unit has a first region and a second region corresponding to the first portion in the article based on at least one of the first detection result and the second detection result acquired for the article. By extracting the second region corresponding to the part and using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the first process is performed on the first region, so that the first part contains foreign matter. Whether or not the second part contains foreign matter by performing the second process on the second region using the first detection result and the second detection result acquired for the article. It may be determined. According to this, it is possible to more accurately determine whether or not the first portion contains foreign matter and whether or not the second portion contains foreign matter.
本発明によれば、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるＸ線検査装置を提供することが可能となる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the X-ray inspection apparatus which can detect a foreign material accurately in the articles | goods containing the 1st part which has a 1st physical property, and the 2nd part which has a 2nd physical property. .
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the same or equivalent part, and the overlapping description is abbreviate | omitted.
図１に示されるように、Ｘ線検査装置１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部６と、Ｘ線検出部７と、表示操作部８と、制御部１０と、を備えている。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査（例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入される。検査後の物品Ｇは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置（図示省略）よって生産ライン外に振り分けられる。Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、当該振分装置をそのまま通過する。
As shown in FIG. 1, the
装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられている。シールドボックス４は、外部へのＸ線の漏洩を防止する。シールドボックス４の内部には、Ｘ線による物品Ｇの検査が実施される検査領域Ｒが設けられている。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介して検査領域Ｒに搬入される。検査後の物品Ｇは、検査領域Ｒから搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
The apparatus
搬送部５は、シールドボックス４内に配置されている。搬送部５は、搬入口４ａから検査領域Ｒを介して搬出口４ｂまで、搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。
The
図１及び図２に示されるように、Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線照射部６は、搬送部５によって搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線検出部７は、第１ラインセンサ１１と、第２ラインセンサ１２と、を有している。第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２は、それぞれ、搬送方向Ａに垂直な水平方向に沿って一次元に配列されたＸ線検出素子によって構成されている。第１ラインセンサ１１は、物品Ｇ及び搬送部５の搬送ベルトを透過した低エネルギー帯（第１エネルギー帯）のＸ線を検出する。第２ラインセンサ１２は、物品Ｇ、搬送部５の搬送ベルト及び第１ラインセンサ１１を透過した高エネルギー帯（第２エネルギー帯）のＸ線を検出する。
The
図１に示されるように、表示操作部８は、装置本体２に設けられている。表示操作部８は、各種情報を表示すると共に、各種条件の入力を受け付ける。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
As shown in FIG. 1, the
制御部１０は、装置本体２内に配置されている。制御部１０は、Ｘ線検査装置１の各部の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等で構成されている。制御部１０には、Ｘ線検出部７の第１ラインセンサ１１（図２参照）から低エネルギー帯のＸ線の検出結果（第１検出結果）が入力されると共に、Ｘ線検出部７の第２ラインセンサ１２（図２参照）から高エネルギー帯のＸ線の検出結果（第２検出結果）が入力される。制御部１０は、低エネルギー帯のＸ線の検出結果、及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、物品Ｇに異物が含まれているか否かを判定する処理部として機能する。
The
以上のように構成されたＸ線検査装置１において実施される異物検出処理の一例について説明する。以下の例は、図５の（ａ）に示されるように、第１物性を有する第１部分Ｐ１（例えば赤身）及び第２物性を有する第２部分Ｐ２（例えば脂身）を含む物品Ｇ（例えば牛肉）を検査対象として、異物Ｆ（例えば骨片）を検出する例である。なお、第１物性及び第２物性とは、Ｘ線の減衰特性（エネルギー特性）が互いに異なる物性を意味する。
An example of the foreign object detection process performed in the
まず、第１部分Ｐ１のみを含む物品Ｇを用意し、当該物品ＧをＸ線検査装置１に掛ける。これにより、図３の（ａ）に示されるように、第１部分Ｐ１のみを含む物品Ｇについて、低エネルギー帯のＸ線の検出結果（破線）及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果（実線）が取得される。図３の（ａ）は、第１部分Ｐ１のみを含む物品ＧのＸ線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品ＧのＸ線透過画像における画素数に相当する。
First, an article G including only the first portion P1 is prepared, and the article G is placed on the
続いて、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨを低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬに合わせるための乗数を算出する。制御部１０は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図３の（ｂ）に示されるように、高エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。
Subsequently, the
これにより、制御部１０は、第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第１部分Ｐ１について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第１処理を実施することが可能となる。つまり、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理といえる。
Accordingly, the
以上の第１処理の実施の準備を行う一方で、第２部分Ｐ２のみを含む物品Ｇを用意し、当該物品ＧをＸ線検査装置１に掛ける。これにより、図４の（ａ）に示されるように、第２部分Ｐ２のみを含む物品Ｇについて、低エネルギー帯のＸ線の検出結果（破線）及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果（実線）が取得される。図４の（ａ）は、第２部分Ｐ２のみを含む物品ＧのＸ線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品ＧのＸ線透過画像における画素数に相当する。
While preparing for the implementation of the first process, an article G including only the second portion P2 is prepared, and the article G is applied to the
続いて、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨを低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬに合わせるための乗数を算出する。制御部１０は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図４の（ｂ）に示されるように、高エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。
Subsequently, the
これにより、制御部１０は、第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第２部分Ｐ２について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第２処理を実施することが可能となる。つまり、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理といえる。
Accordingly, the
以上の第１処理の実施の準備及び第２処理の実施の準備を行った後に、図５に示されるように、第１物性を有する第１部分Ｐ１及び第２物性を有する第２部分Ｐ２を含む物品Ｇの検査を開始する。 After performing the preparation for the first process and the preparation for the second process, the first part P1 having the first physical property and the second part P2 having the second physical property are prepared as shown in FIG. The inspection of the containing article G is started.
まず、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、図５の（ｂ）に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部１０は、当該輝度値の差分と予め設定された第１閾値Ｔ１とを比較し、第１閾値Ｔ１を超えた領域を、異物Ｆに対応する領域と判定する。このように、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
First, the
その一方で、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果（上述したものと同一の検出結果）を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、図５の（ｃ）に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部１０は、当該輝度値の差分と予め設定された第２閾値Ｔ２とを比較し、第２閾値Ｔ２を超えた領域を、異物Ｆに対応する領域と判定する。このように、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
On the other hand, the
図５の（ｂ）及び（ｃ）には、図５の（ａ）に示される一点鎖線上に位置する画素の輝度値の差分が示されている。図５の（ｂ）では、第１部分Ｐ１に相当する領域において、第２部分Ｐ２に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第１部分Ｐ１に含まれる異物Ｆに相当する領域において、輝度値の差分が第１閾値Ｔ１を超えている（すなわち、第１部分Ｐ１に含まれる異物Ｆが検出されている）。これは、図５の（ｂ）に示される輝度値の差分が、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第１処理を実施した結果だからである。 FIGS. 5B and 5C show differences in luminance values of pixels located on the alternate long and short dash line shown in FIG. 5A. In (b) of FIG. 5, noise is smaller in a region corresponding to the first portion P1 than in a region corresponding to the second portion P2, and in a region corresponding to the foreign matter F included in the first portion P1. The difference between the luminance values exceeds the first threshold value T1 (that is, the foreign matter F included in the first portion P1 is detected). This is because the difference in luminance value shown in FIG. 5B combines the detection result of the X-rays in the high energy band and the detection result of the X-rays in the low energy band acquired in advance for the first portion P1. This is because the result of performing one process.
その一方で、図５の（ｃ）では、第２部分Ｐ２に相当する領域において、第１部分Ｐ１に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第２部分Ｐ２に含まれる異物Ｆに相当する領域において、輝度値の差分が第２閾値Ｔ２を超えている（すなわち、第２部分Ｐ２に含まれる異物Ｆが検出されている）。これは、図５の（ｃ）に示される輝度値の差分が、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第２処理を実施した結果だからである。 On the other hand, in FIG. 5C, noise is smaller in the region corresponding to the second portion P2 than in the region corresponding to the first portion P1, and corresponds to the foreign matter F included in the second portion P2. In the area where the luminance value is exceeded, the difference between the luminance values exceeds the second threshold value T2 (that is, the foreign matter F included in the second portion P2 is detected). This is because the difference between the luminance values shown in FIG. 5C combines the detection result of the X-rays in the high energy band and the detection result of the X-rays in the low energy band acquired in advance for the second portion P2. This is because the result of performing the two processes.
以上説明したように、Ｘ線検査装置１では、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第１処理が実施される。また、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第２処理が実施される。これらにより、例えば、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物Ｆが第１部分Ｐ１に含まれているか第２部分Ｐ２に含まれているかにかかわらず、異物Ｆを精度良く検出することができる。よって、Ｘ線検査装置１によれば、第１物性を有する第１部分Ｐ１、及び第２物性を有する第２部分Ｐ２を含む物品Ｇにおいて、異物Ｆを精度良く検出することができる。
As described above, in the
一例として、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。また、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。これにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを好適に判定することができる。 As an example, in the first process, the luminance values between corresponding pixels in the detection result of the X-rays in the high energy band and the detection result of the X-rays in the low energy band acquired for the first portion P1 in advance are matched for each luminance value. Process. In the second process, the luminance values between corresponding pixels in the detection result of the X-rays in the high energy band and the detection result of the X-rays in the low energy band acquired for the second portion P2 in advance are matched for each luminance value. It is processing. Thereby, it can be suitably determined whether or not the foreign matter F is contained in the first portion P1 and whether or not the foreign matter F is contained in the second portion P2.
制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。また、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。これにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。
The
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されない。例えば、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、第１部分Ｐ１に対応する第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定し、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、第２部分Ｐ２に対応する第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定してもよい。この場合、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果の少なくとも１つに基づいて、物品Ｇにおいて第１部分Ｐ１に対応する第１領域及び第２部分Ｐ２に対応する第２領域を予め抽出する。これによれば、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かをより精度良く判定することができる。
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, this invention is not limited to embodiment mentioned above. For example, the
また、物品Ｇについては、例えば、２種類の食品が互いに隔てられた状態で１つのパッケージに収容されているような場合に、一方の種類の食品を第１部分Ｐ１と捉え、他方の種類の食品を第２部分Ｐ２と捉えることができる。つまり、第１物性を有する第１部分Ｐ１及び第２物性を有する第２部分Ｐ２は、物品Ｇにおいて一体として存在する場合に限定されず、例えば１つのパッケージ内において、別々に存在する場合もある。 For the article G, for example, when two types of food are separated from each other and contained in one package, one type of food is regarded as the first portion P1, and the other type of food is The food can be regarded as the second portion P2. That is, the first part P1 having the first physical property and the second part P2 having the second physical property are not limited to the case where the first part P1 and the second part P2 have the second physical property, and may exist separately in one package, for example. .
なお、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２が別々に存在する場合には、第２部分Ｐ２に対応する第２領域にマスク処理を施した状態で、第１部分Ｐ１に対応する第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定し、第１部分Ｐ１に対応する第１領域にマスク処理を施した状態で、第２部分Ｐ２に対応する第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定することが、有効である。また、例えば、Ｘ線の減衰特性が内容物とは異なる容器内に当該内容物が検査対象として収容されているような場合には、当該容器の縁、仕切り等に相当する領域にマスク処理を施した上で、当該内容物に異物Ｆが含まれているか否かを判定することができる。 When the first portion P1 and the second portion P2 exist separately, the first region corresponding to the first portion P1 in the state where the second region corresponding to the second portion P2 is masked. By performing the first process, it is determined whether or not the foreign matter F is included in the first part P1, and the second part P2 is subjected to the mask process on the first region corresponding to the first part P1. It is effective to determine whether or not the foreign matter F is included in the second portion P2 by performing the second process on the second region corresponding to the. Further, for example, when the contents are accommodated as an inspection object in a container having an X-ray attenuation characteristic different from that of the contents, mask processing is performed on an area corresponding to an edge, a partition, etc. In addition, it can be determined whether or not the foreign matter F is included in the content.
また、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬを高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨに合わせるための乗数を算出し、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、低エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶してもよい。その場合、制御部１０は、第１部分Ｐ１について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第１処理を実施する。また、制御部１０は、第２部分Ｐ２について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第２処理を実施する。
Further, the
また、互いに異なる３つ以上の物性を有する３つ以上の部分を含む物品Ｇを検査対象とすることも可能である。その場合にも、それぞれの部分について、高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理を予め準備すればよい。 Moreover, it is also possible to set the article G including three or more portions having three or more different physical properties as inspection targets. Even in that case, for each part, a process for combining the detection result of the X-rays in the high energy band and the detection result of the X-rays in the low energy band may be prepared in advance.
１…Ｘ線検査装置、６…Ｘ線照射部、７…Ｘ線検出部、１０…制御部（処理部）、Ｇ…物品、Ｐ１…第１部分、Ｐ２…第２部分、Ｆ…異物。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記物品を透過した第１エネルギー帯のＸ線、及び前記物品を透過した第２エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、
前記第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び前記第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果に基づいて、前記物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記第１処理は、予め前記第１部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を合わせ込む処理であり、
前記第２処理は、予め前記第２部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を合わせ込む処理である、Ｘ線検査装置。 An X-ray irradiation unit that irradiates an X-ray to an article including the first part having the first physical property and the second part having the second physical property;
An X-ray detector that detects X-rays in a first energy band that has passed through the article and X-rays in a second energy band that has passed through the article;
A processing unit that determines whether or not the article contains foreign matter based on a first detection result of X-rays in the first energy band and a second detection result of X-rays in the second energy band; With
The processor is
By performing the first process using the first detection result and the second detection result acquired for the article, it is determined whether or not the foreign matter is included in the first part,
By performing a second process using the first detection result and the second detection result acquired for the article, it is determined whether or not the foreign matter is included in the second part,
The first process is a process of combining the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first part,
The X-ray inspection apparatus, wherein the second process is a process of combining the first detection result and the second detection result acquired in advance for the second portion.
前記第２処理は、予め前記第２部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である、請求項１に記載のＸ線検査装置。 The first process is a process of matching luminance values between corresponding pixels in the first detection result and the second detection result acquired in advance for the first part for each luminance value;
The said 2nd process is a process which matches the luminance value between the corresponding pixels in the said 1st detection result and the said 2nd detection result previously acquired about the said 2nd part for every luminance value. X-ray inspection equipment.
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する領域について前記第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する前記領域について前記第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。 The processor is
Using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the foreign substance is included in the first portion by performing the first process on a region corresponding to the entire article. Whether or not
Using the first detection result and the second detection result acquired for the article, the foreign matter is included in the second portion by performing the second process on the region corresponding to the entire article. The X-ray inspection apparatus according to claim 1, wherein the X-ray inspection apparatus is configured to determine whether or not the inspection is performed.
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果の少なくとも１つに基づいて、当該物品において前記第１部分に対応する第１領域及び前記第２部分に対応する第２領域を抽出し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記第１領域について前記第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記第２領域について前記第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。 The processor is
Based on at least one of the first detection result and the second detection result acquired for the article, a first area corresponding to the first part and a second area corresponding to the second part in the article are determined. Extract and
Whether or not the foreign matter is included in the first portion by performing the first process on the first region using the first detection result and the second detection result acquired for the article Determine
Whether or not the foreign matter is included in the second portion by performing the second processing on the second region using the first detection result and the second detection result acquired for the article The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein:
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