JP2018151164A - 共焦点計測装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】コンパクトな装置構成で測定範囲を拡大することができる共焦点計測装置を提供する。
【解決手段】共焦点計測装置1Aは、白色LED光源21から出射された光に、色収差を生じさせる回折レンズ11と、回折レンズ11を通過した光の色収差を増加させる回折レンズ13bと、集光された光が光軸に沿った色収差を有するように、計測対象範囲に集光する対物レンズ12とを備える構成である。
【選択図】図1

Description

本発明は、共焦点光学系を利用した共焦点計測装置に関するものである。
非接触で計測対象物の変位を測定する計測装置が、従来技術として知られている。中でも、共焦点光学系を用いて変位を測定する計測装置について、さまざまな技術が開示されている。例えば、特許文献1には、対物レンズと回折レンズを組み合わせることにより、光の波長による、計測対象物の変位を計測する精度の変動を抑える共焦点計測装置が開示されている。
特許文献2には、広い計測対象範囲を実現するために、複数の軸方向分散合焦要素を備えるクロマティック共焦点ポイントセンサ光学ペンが開示されている。
特開2012−208102号公報 特開2012−173294号公報
ところで、共焦点計測装置においては、広い計測対象範囲を得ることが好ましい。
例えば、特許文献1の技術において測対象範囲を拡大するために対物レンズの焦点距離を大きくすることが考えられる。しかし、単に対物レンズの焦点距離を大きくすると測定中心距離が変化すると共に、性能が大きく変化してしまう。
また、特許文献2の技術では、複数の軸方向分散合焦要素の間の領域で光を合焦するため、複数の軸方向分散合焦要素の間の距離が大きくなる。それゆえ、クロマティック共焦点ポイントセンサ光学ペンのサイズが大きくなってしまう。
本発明の一態様は、コンパクトな装置構成で計測対象範囲を拡大することができる共焦点計測装置を実現することを目的とする。
本発明の一態様に係る共焦点計測装置は、共焦点光学系を利用した共焦点計測装置であって、複数の波長の光を出射する光源と、前記光源から出射された光に、色収差を生じさせる第1回折レンズと、前記第1回折レンズを通過した光の色収差を増加させる第2回折レンズと、集光された光が光軸に沿った色収差を有するように、前記第2回折レンズを通過した光を前記光軸に沿った計測対象範囲に集光する対物レンズと、前記対物レンズで集光された光のうち、計測対象物上に合焦した波長の光の強度を測定する測定部とを備える構成である。
前記の構成によれば、第1回折レンズによって光に生じた色収差を、第2回折レンズによってさらに増加させる。対物レンズによって集光された光は、光軸に沿った大きな色収差を有する。そのため、波長によって合焦する位置を大きく異ならせることができるため、計測対象範囲を大きくすることができる。また、第2回折レンズを用いるため、装置サイズの増加を抑制することができる。
前記共焦点計測装置では、前記対物レンズに入射する光はコリメートされており、前記対物レンズに入射する光の有効径が変わらない構成とすることが好ましい。
前記の構成によれば、対物レンズの開口数は略変化しない。このため、測定中心距離が変化することはなく、測定中心距離の性能が変化することもない。
前記共焦点計測装置は、前記対物レンズよりも前記光源側に、光を発散させる第1発散光学部を備える構成としてもよい。
対物レンズよりも光源側に、第2回折レンズを追加すると、余分な屈折力が加わり、対物レンズの開口数(NA)が変化する。対物レンズの開口数は計測の性能に影響する。前記の構成によれば、第2回折レンズの前又は後において、第2回折レンズで生じる光の集束の少なくとも一部を、第1発散光学部によってキャンセルすることができる。それゆえ、対物レンズの開口数を大きくすることができる。
前記共焦点計測装置では、前記第1発散光学部は、少なくとも1つの凹レンズを有する構成としてもよい。
前記共焦点計測装置は、発散系の焦点距離を負値で表現した場合、前記第2回折レンズの焦点距離をf1とし、前記第1発散光学部の焦点距離をf2とし、かつ前記第2回折レンズと前記第1発散光学部との間の距離をdとすると、f1+f2=dを満たすことが好ましい。
前記の構成によれば、合成焦点距離の公式から、第1回折レンズ後の光がコリメートされている場合、f1+f2=dを満たすとき対物レンズに入射する光もコリメートとなる。
また、第2回折レンズの前又は後において、第2回折レンズで生じる光の集束を、第1発散光学部によってキャンセルすることができる。それゆえ、測定中心距離を変えることなく、第2回折レンズを追加して測定範囲を拡大することができる。
前記共焦点計測装置では、前記第1発散光学部は、前記第1回折レンズと前記第2回折レンズとの間に配置されており、前記第2回折レンズと前記対物レンズとの間において光はコリメートされている構成としてもよい。
前記の構成によれば、第1発散光学部によって光を発散させることにより、第2回折レンズの焦点位置から第2回折レンズに光が入射するかのように、光学系を構成することができる。これにより、測定中心距離を変えることなく効率的に色収差を生じさせることができる。
前記共焦点計測装置は、前記第1回折レンズの焦点距離と前記第2回折レンズの焦点距離とは同じである構成としてもよい。
前記の構成によれば、例えば第1回折レンズ及び第2回折レンズとして、同じ設計の回折レンズを用いることができる。それゆえ、共焦点計測装置の製造が容易になる。
前記共焦点計測装置では、前記第1回折レンズの焦点距離と前記第2回折レンズの焦点距離とは異なる構成としてもよい。
前記共焦点計測装置は、前記第1回折レンズと前記対物レンズとの間に、光の色収差を増加させる第3回折レンズと、光を発散させる第2発散光学部とを備える構成としてもよい。
前記の構成によれば、回折レンズと発散光学部とのセットの数を増やすことにより、さらに色収差を増加させることができる。それゆえ、計測対象範囲を大きくすることができる。
本発明の一態様によれば、コンパクトな装置構成で測定範囲を拡大することができる。
本発明の実施の一形態における共焦点計測装置を示すものであって、共焦点計測装置の構成を示す模式図である。 前記共焦点計測装置におけるコントローラの内部構成を示す模式図である。 (a)は前記共焦点計測装置における色収差重畳発生部を含むセンサヘッドの構成を示す断面図であり、(b)は前記色収差重畳発生部を除いたセンサヘッドの構成を示す断面図である。 (a)は前記共焦点計測装置におけるセンサヘッドの光路を示す図であり、(b)は、計測対象物付近での複数の波長の合焦の位置を示す図である。 (a)は前記共焦点計測装置におけるセンサヘッドの回折レンズを通過する光路を示す図であり、(b)は前記センサヘッドの回折レンズ及び凹レンズを通過する光路を示す図であり、(c)は前記センサヘッドの回折レンズ及び色収差重畳発生部を通過する光路を示す図である。 前記共焦点計測装置のセンサヘッドから色収差重畳発生部を取り除いた構成を示す参考図である。 本発明の他の実施の形態における共焦点計測装置を示すものであって、共焦点計測装置におけるセンサヘッドの構成を示す断面図である。 本発明のさらに他の実施の形態における共焦点計測装置を示すものであって、共焦点計測装置におけるセンサヘッドの構成を示す断面図である。
〔実施の形態1〕
共焦点計測装置の計測対象範囲を拡大するためには、光軸に沿った色収差を大きくする必要がある。ただし、計測の精度(分解能)は対物レンズの開口数(NA:numerical aperture)に依存する。そのため、対物レンズの焦点距離を大きくすると、計測対象範囲は拡大されるが、計測の精度は低下する。一方、回折レンズの開口数を大きくすることで、色収差を大きくすることができる。しかしながら、回折レンズの開口数を大きくするためには回折溝のピッチを小さくする必要がある。回折溝のピッチを小さくするには製造限界があり、それゆえ、回折レンズの開口数には限界がある。
本発明の一実施形態について図1〜図6に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
(共焦点計測装置の基本構成)
本実施の形態の共焦点計測装置は、共焦点光学系を利用して計測対象物までの距離を非接触にて計測するものである。本実施の形態の共焦点計測装置で計測する計測対象物には、例えば液晶表示パネルのセルギャップ等がある。ここで、共焦点光学系では、対物レンズの焦点位置と共役な位置(像位置)に開口の効果をもつピンホールを配置することによって、焦点の合った光のみを検出することが可能となる。また、共焦点光学系においては、点光源から出射した光は、対物レンズにより計測対象物上に光軸方向に色収差を持った状態で集光される。計測対象物の表面に集光して反射された光は同じ光路を戻り、ピンホール上に集光される。共焦点光学系では焦点以外からの反射光は、殆どピンホールでカットされ、焦点位置のみの情報が得られる。以上により、共焦点光学系では、光軸方向に分解能をもつこととなり、それにより光軸方向の計測が可能となる。
図1は、本実施の形態における共焦点計測装置1Aの構成を示す模式図である。図2は、共焦点計測装置1Aにおけるコントローラ20の内部構成を示す模式図である。本実施の形態の共焦点計測装置1Aの構成について、図1及び図2に基づいて説明する。
図1に示すように、本実施の形態の共焦点計測装置1Aは、共焦点の光学系を有するセンサヘッド10Aと、光ファイバケーブル2を介して光学的に接続されたコントローラ20とを備えている。
センサヘッド10Aは、回折レンズ11(第1回折レンズ)、色収差重畳発生部13及び対物レンズ12をこの順に備えている。
回折レンズ11は、複数の波長の光を出射する光源としての白色LED光源21(後述)から出射され、かつ光ファイバケーブル2を通してセンサヘッド10Aに入射された白色光に対して、光軸方向に沿った色収差を生じさせる光学素子である。
前記回折レンズ11は、ガラス又は樹脂等の単一材料の基板に、光軸方向に沿って色収差を生じさせるパターンを形成した構成を有している。具体的には、回折レンズ11のレンズ表面には、例えば、波面形状若しくは階段形状等の微細な起伏形状が周期的に形成されているか、又は光の透過率を周期的に変更する振幅型のゾーンプレートが形成されている。尚、回折レンズ11は、単一材料の基板に色収差を生じさせるパターンを形成した構成に限定されるものではなく、例えば、複数の材料にて構成することも可能である。具体的には、ガラス基板と、該ガラス基板の片面に形成され、かつ光軸方向に沿って色収差を生じさせるパターンの樹脂層とを有するものであってもよい。この場合、例えば、樹脂層は、ガラス基板に紫外線硬化樹脂を塗布し、所望のパターンの型を紫外線硬化樹脂の塗布面に押し付け、紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化することによって形成することができる。
ガラスのみで構成した回折レンズ11は、硬いガラスを加工することにより、光軸方向に沿って色収差を生じさせるパターンを形成するので、製造コストが高価になる。しかし、ガラス基板と樹脂層とで構成する回折レンズ11は、所望のパターンの型で樹脂層を加工することにより、光軸方向に沿って色収差を生じさせるパターンを形成する。このため、製造コストが安価になる。
尚、樹脂のみで構成した回折レンズ11は、環境温度による形状の変化が大きく、温度特性が悪い。しかし、前述したガラス基板と樹脂層とで構成する回折レンズ11は、環境温度による形状の変化が小さいガラス基板が構成の大部分を占める。このため、温度特性がよい。
色収差重畳発生部13は、回折レンズ11にて発生させた軸上色収差に対して、重ねて軸上色収差を発生させるものである。色収差重畳発生部13については、後に詳述する。
対物レンズ12は、回折レンズ11及び色収差重畳発生部13で色収差を生じさせた光を計測対象範囲に集光する光学素子である。集光された光は光軸に沿った色収差を有している。計測対象範囲は、共焦点計測装置1Aによって計測可能な光軸方向の位置範囲である。計測対象範囲に計測対象物Mが配置される。本実施の形態の対物レンズ12は、一般的な光学レンズを用いている。しかし、必ずしもこれに限らず、例えば、屈折率の異なる2種類のガラス材で作られた凸レンズと凹レンズとを近接又は接着したアクロマティックレンズを用いてもよい。
光ファイバケーブル2は、後述するコントローラ20の内部に設けられた白色LED光源21から出射する光を、センサヘッド10Aに導くものである。光ファイバケーブル2から出射する光を回折レンズ11にて有効に利用するには、光ファイバケーブル2の開口数と回折レンズ11の開口数とを一致させるのが好ましい。
また、本実施の形態の共焦点計測装置1Aでは、光ファイバケーブル2は、コントローラ20からセンサヘッド10Aまでの光路であると共に、ピンホールとしても機能している。すなわち、対物レンズ12で集光した光のうち、計測対象物M上に合焦する波長の光は、光ファイバケーブル2のコアに合焦することになる。そのため、光ファイバケーブル2は、計測対象物M上に合焦しない波長の光を遮光し、計測対象物M上に合焦する光を通過させるピンホールとして機能することになる。この結果、本実施の形態では、コントローラ20からセンサヘッド10Aまでの光路に光ファイバケーブル2を用いることによって、ピンホールが不要となるメリットを有している。
尚、本実施の形態の共焦点計測装置1Aにおいては、コントローラ20からセンサヘッド10Aまでの光路に光ファイバケーブル2を用いない構成であってもよい。しかしながら、該光路に光ファイバケーブル2を用いることによって、センサヘッド10Aをコントローラ20に対してフレキシブルに移動することが可能になる。
また、光ファイバケーブル2は、マルチモードファイバ又はシングルモードファイバのいずれを用いてもよい。
マルチモードファイバを用いた光ファイバケーブル2は、ファイバの直径が大きいため、白色LED光源21からの出射光を伝送するときの光パワーのロスを少なくすることができ、光反射率の低い計測対象物でも高いS/N比で安定して計測することができる。
一方、シングルモードファイバを用いた光ファイバケーブル2は、ファイバの直径が数μmと小さいため、ピンホールとして機能させるためには好ましい。これにより、受光波形の半値幅を狭くすることができ、精度よく計測することができる。
また、光ファイバケーブル2には、耐屈曲ファイバを用いることが望ましい。センサヘッド10Aは、電子部品実装装置等の駆動部分に取り付けられることが多く、その場合にはセンサヘッド10A自体も移動することになる。そのため、センサヘッド10Aに接続された光ファイバケーブル2は、センサヘッド10Aの移動方向に絶えず曲げられるため、耐屈曲ファイバを用いることによって、損傷を防ぐことができる。
次に、コントローラ20は、内部に白色光源としての白色LED(Light Emitting Diode)光源21と、分岐光ファイバ22と、分光器23と、受光素子24と、処理部25とを備えていると共に、外部にモニタ26を備えている。
白色LED光源21は、LED光源からなり、本実施の形態では、白色光を出射するようになっている。尚、本実施の形態では、光源として白色LED光源21を使用しているが、必ずしもこれに限らず、複数の波長の光を出射することができる光源であれば他の光源であってもよい。
分岐光ファイバ22は、光ファイバケーブル2と接続する側に一本の光ファイバ22aを有していると共に、光ファイバケーブル2とは反対側に2本の光ファイバ22b・22cを有している。光ファイバ22bは白色LED光源21に接続されている。一方、光ファイバ22cは分光器23に接続されている。この結果、分岐光ファイバ22は、白色LED光源21から出射する光を光ファイバケーブル2に導くと共に、光ファイバケーブル2を通してセンサヘッド10Aから戻る光を分光器23に導く。
図2に示すように、分光器23は、コリメートレンズ23a、回折格子23b、及び集光レンズ23cを備える。コリメートレンズ23aは、センサヘッド10Aから戻る光をコリメートする。回折格子23bは、コリメートレンズ23aにてコリメートされた光を回折することにより分光する。集光レンズ23cは、回折格子23bから出射された光を、波長毎に受光素子24の異なる位置に集光する。
受光素子24としては、分光器23から出射された光の強度を測定する例えばラインCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)又はCCD(Charge Coupled Device)を用いることができる。ここで、本実施の形態の共焦点計測装置1Aでは、分光器23及び受光素子24によって、センサヘッド10Aから戻る光の強度を波長毎に測定する測定部を構成している。すなわち、測定部は、対物レンズで集光された光のうち、計測対象物M上に合焦した波長の光の強度を測定する。尚、測定部は、センサヘッド10Aから戻る光の強度を波長毎に測定することができれば、CCD等の受光素子24の単体で構成してもよい。また、受光素子24は、2次元のCMOS又は2次元のCCDであってもよい。
図1に示すように、処理部25は、白色LED光源21及び受光素子24等の動作を制御する回路である。処理部25には、白色LED光源21又は受光素子24等の動作を制御するための信号を出力する図示しない出力インターフェース、及び受光素子24からの信号を入力する図示しない入力インターフェース等が設けられている。処理部25は、各画素において受光した光の強度から、計測対象物M上に合焦した光の波長を特定し、該波長から計測対象物Mの位置(光軸方向の位置)を特定する。処理部25は、特定された位置をモニタ26に表示させる。モニタ26は、処理部25からの指示に基づき、特定された計測対象物Mの位置を表示する。
(共焦点計測装置における距離の測定動作)
次に、前記構成の共焦点計測装置1Aにおける計測対象物Mまでの距離の測定動作について、図1に基づいて説明する。
図1に示すように、共焦点計測装置1Aでは、白色LED光源21から複数の波長の光を含む白色光が出射される。この白色光は、光ファイバケーブル2を通してセンサヘッド10Aの回折レンズ11に入射される。
回折レンズ11では、光軸に沿って色収差が生じる。色収差が生じた光は、対物レンズ12を通すことによって、高さ方向(光軸方向)に色分離される。光軸に沿った色収差が生じた光は、集光されることによって所謂虹色に色分離される。対物レンズ12から近くでは波長の長い赤色が集光され、対物レンズ12から遠くになるに伴って波長の短い青色が集光される。計測対象範囲は、いずれかの波長の光が合焦している範囲である。
ここで、センサヘッド10Aにおける計測対象範囲に計測対象物Mが存在すると、計測対象物Mの表面上に合焦した波長の反射光のみが、共焦点光学系(対物レンズ12、色収差重畳発生部13、回折レンズ11)を通って光ファイバケーブル2の端面に合焦される。コントローラ20では、図2にも示すように、反射光は、まず、分光器23に入射され、回折格子23bを介してCCD等からなる受光素子24に入射される。ここで、本実施の形態では、光ファイバケーブル2がピンホールの機能を有しているので、光ファイバケーブル2に合焦していない波長の光は受光されない。
この結果、CCD等からなる受光素子24では、光の波長によって、CCDにおいてどの画素が受光するかが変わる。このため、処理部25にて画素の特定を行うことにより、計測対象物Mの表面において合焦していた光の波長が分かる。処理部25では、波長毎にセンサヘッド10A(例えばセンサヘッド10Aの端面又は対物レンズ12)から計測対象物Mまでの距離が換算式により対応付けられている。このため、CCD等からなる受光素子24での受光波形の情報によって、センサヘッド10Aの端面(或いは対物レンズ12)から計測対象物Mの表面までの距離を計測することができる。計測した値は、モニタ26に表示される。
このように、本実施の形態の共焦点計測装置1Aでは、回折レンズ11及び色収差重畳発生部13で色を分離し、色(波長)によって計測対象物Mの高さ方向の位置を計測して、計測対象物Mの距離を求めるようになっている。
(共焦点計測装置の色収差重畳発生部)
次に、本実施の形態の共焦点計測装置1Aにおける色収差重畳発生部13について、以下に説明する。
図3の(a)は、共焦点計測装置1Aにおける色収差重畳発生部13を含むセンサヘッド10Aの構成を示す断面図であり、図3の(b)は色収差重畳発生部13を除いたセンサヘッドの構成を示す断面図である。
図3の(b)に示すように、センサヘッドでは、光ファイバケーブル2の端部から出射する光を回折レンズ11に入射させ、回折レンズ11にて軸上色収差を生じさせている。そして、回折レンズ11の焦点距離f11と対物レンズ12の焦点距離f12との組み合わせにより、測定範囲R(計測対象範囲)を制御している。
ここで、共焦点計測装置においては、測定範囲Rを大きくすることが、広い範囲を測定できるので好ましい。
そこで、測定範囲Rを増加させる方法として、例えば、対物レンズ12の焦点距離f12を大きくすることが考えられる。しかし、対物レンズ12の焦点距離f12を大きくするためには、別の対物レンズ12を用意しなければならない。また、対物レンズ12の焦点距離f12を大きくすると、測定中心距離が長くなる(すなわち対物レンズ12の開口数が小さくなる)。このため、分解能が低下するので、精度が劣化する。
また、測定範囲Rを増加させる他の方法として、例えば、回折レンズ11の焦点距離f11を小さくする(開口数を大きくする)ことが考えられる。しかし、回折レンズ11の焦点距離f11を小さくするためには、別の回折レンズ11を用意しなければならない。回折レンズ11の開口数には製造上の限界がある。
図3の(a)に示すように、本実施の形態の共焦点計測装置1Aでは、回折レンズ11に加えて、回折レンズ11と対物レンズ12との間に色収差重畳発生部13を設けている。
具体的には、本実施の形態の色収差重畳発生部13は、凹レンズ13a(第1発散光学部)と回折レンズ13b(第2回折レンズ)とを含む。凹レンズ13aは、回折レンズ13bに対して回折レンズ11側、つまり対物レンズ12とは反対側の位置つまり負側の位置に設けている。凹レンズ13aは光を発散させる発散光学素子である。
ここで、回折レンズ13bの焦点距離をf1とし、凹レンズ13aの焦点距離をf2とし、かつ回折レンズ13bと凹レンズ13aのとの間の距離をdとすると、f1+f2=dを満たす。これにより、合成焦点距離の公式から、回折レンズ11後の光がコリメートされている場合、対物レンズ12に入射する光(回折レンズ13bから出射される光)もコリメートとなる。尚、発散系の焦点距離を負値で表現している。
尚、焦点距離は、白色光に含まれる代表波長に対する値である。代表波長は、測定範囲に合焦される光の波長であれば限定されない。ここでは、測定範囲の中心に合焦される光の波長(白色光の波長範囲のほぼ中心の波長)を代表波長とする。
回折レンズ11を通過した光は、回折レンズ11と凹レンズ13aとの間において、コリメートされている。コリメートされた光は凹レンズ13aによって発散され、回折レンズ13bに入射する。凹レンズ13aで発散された光は、回折レンズ13bの焦点位置から回折レンズ13bに入射するのと同じ角度で、回折レンズ13bに入射する。回折レンズ13bは通過する光の色収差を増加させる。回折レンズ13bを通過した光は、回折レンズ13bと対物レンズ12との間において、コリメートされている。対物レンズ12は、集光された光が光軸に沿った色収差を有するように、回折レンズ13bを通過した光を光軸に沿った測定範囲に集光する。より正確には、生じた色収差によって波長毎に光の進行方向は異なり、回折レンズ11と凹レンズ13aとの間、及び回折レンズ13bと対物レンズ12との間において、代表波長の光が平行光となっている。
この結果、回折レンズ11と色収差重畳発生部13とを組み合わせたときの回折レンズ群31の焦点距離f31は、回折レンズ11の焦点距離f11と変わらない。したがって、回折レンズ11と色収差重畳発生部13とを組み合わせても、対物レンズ12の測定中心距離は変化しないことになる。
一方、本実施の形態では、回折レンズ11にて軸上色収差を発生していると共に、色収差重畳発生部13でも軸上色収差を重ねて発生している。そして、回折レンズ11と回折レンズ13bとはいずれも同じ焦点距離であり、かつ回折レンズ13b後の光がコリメートされている。この結果、共焦点計測装置1Aの測定範囲は、色収差重畳発生部13が存在しない場合(R)に比べて、約2倍(2R)に拡大される。
図4の(a)は、共焦点計測装置1Aにおけるセンサヘッド10Aの光路を示す図である。図4の(b)は、計測対象物M付近での複数の波長の合焦の位置を示す図である。図5の(a)は、共焦点計測装置1Aにおけるセンサヘッド10Aの回折レンズ11を通過する光路を示す図である。図5の(b)は、センサヘッド10Aの回折レンズ11及び凹レンズ13aを通過する光路を示す図である。図5の(c)は、センサヘッド10Aの回折レンズ11及び色収差重畳発生部13を通過する光路を示す図である。
図4の(a)(b)に示すように、白色LED光源21からは種々の波長の光が出射される。この光は、回折レンズ11、色収差重畳発生部13、及び対物レンズ12を通して計測対象物Mにて反射(散乱)される。このとき、対物レンズ12は光を集光するが、発生した色収差により波長によって合焦する位置が異なっている。そして、計測対象物M上に合焦し、反射された光は、元の光路とは逆向きに進む。
図5の(a)に示すように、前記の光路をレンズ毎に検証すると、焦点距離f11の回折レンズ11を通過した光のうち、代表波長の光は平行に進み、それ以外の光は集束又は発散しながら進む。
図5の(b)に示すように、回折レンズ11の対物レンズ12側に焦点距離f2の凹レンズ13aが存在すると、凹レンズ13aを出射した光が少し発散して進む。すなわち、凹レンズ13aは、回折レンズ11と回折レンズ13bとの間に位置し、回折レンズ11から入射される平行光を、回折レンズ13bの焦点位置から発光しているように見せかけて回折レンズ13bに導く。
図5の(c)に示すように、凹レンズ13aの対物レンズ12側に焦点距離f1の回折レンズ13bが存在すると、回折レンズ11にて発生した軸上色収差を有する光に対して回折レンズ13bにて重畳して軸上色収差が発生される。回折レンズ13bは入射した光の色収差をさらに増加させる。焦点距離f1の回折レンズ13bを通過した光のうち、代表波長の光は平行に進み、それ以外の光は集束又は発散しながら進む。この結果、光は回折レンズ11で発生した色収差よりも大きい色収差を有して対物レンズ12に導かれることになる。
尚、回折レンズ11の焦点距離f11が小さい方が、軸上色収差が大きくなる。このため、製造限界の焦点距離f11からなる回折レンズ11を採用していた場合、回折レンズ13bとして同じ焦点距離f1の回折レンズを使う場合に、最も測定範囲が大きくなる。
このように、本実施の形態の共焦点計測装置1Aでは、光が対物レンズ12に対してコリメートに入射されるため、測定中心距離を変えることなく、より大きな測定範囲を得ることができる。
図6は、共焦点計測装置1Aのセンサヘッド10Aから色収差重畳発生部13を取り除いた構成を示す参考図である。
共焦点計測装置の性能を維持したまま測定範囲を増加させることが好ましい。ここで、測定範囲内で性能が変わらないとは、受光素子が受光する光の強度について波長によって半値全幅が変わらないことを示す。すなわち、対物レンズ12側の開口数NAが一定であることを示す。
半値全幅が測定範囲内で異なるのは、波長によって対物レンズ12側の開口数NAが異なるために起こる。尚、半値全幅は、被写界深度で決まり、ピンホール径、ピンホール側の開口数NAと対物レンズ12の開口数NAとで決まる。ここで、ピンホール径、及びピンホール側の開口数NAはどの波長でも共通であるので、対物レンズ12の開口数NAの波長依存性が半値全幅の変化の要因となる。
ただし、色収差重畳発生部13を追加することにより、対物レンズ12の開口数NAが変化すると精度が変化する。仮に、回折レンズ11と対物レンズ12との間に回折レンズ13bのみを追加すると、余分な屈折力が追加されるので、対物レンズ12側の焦点距離(=測定中心距離)が変化し、開口数NAも変化する。
そこで、本実施の形態では、前記の問題を防止するために、凹レンズ13aを追加している。すなわち、凹レンズ13aにて、追加した回折レンズ13bの屈折力を打ち消している。
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施の形態について図7に基づいて説明すれば、以下のとおりである。尚、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態1と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態1の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
前記実施の形態1の共焦点計測装置1Aでは、センサヘッド10Aにおいて、回折レンズ11に加えて色収差重畳発生部13が1個追加されていた。これに対して、本実施の形態の共焦点計測装置1Bでは、センサヘッド10Bにおいて色収差重畳発生部13が2つ設けられている点が相違している。本実施の形態の共焦点計測装置1Bの構成について、以下に説明する。
図7は、本実施の形態における共焦点計測装置1Bのセンサヘッド10Bの構成を示す断面図である。
図7に示すように、本実施の形態における共焦点計測装置1Bのセンサヘッド10Bには、回折レンズ11に加えて、該回折レンズ11と対物レンズ12との間に2つの色収差重畳発生部13・13が追加されている。色収差重畳発生部13は、実施の形態1において説明したように、凹レンズ13aと回折レンズ13bとを組み合わせたものからなっている。ここでは、2つの色収差重畳発生部13・13は互いに同じものである。いずれの色収差重畳発生部13においても、回折レンズ11の焦点距離f11に対して、凹レンズ13aは焦点距離f2であり、回折レンズ13bの焦点距離はf1である。尚、実施の形態1と同様に、回折レンズ13bと凹レンズ13aのとの間の距離をdとすると、f1+f2=dを満たす。
これにより、回折レンズ11側の色収差重畳発生部13では、凹レンズ13aの焦点距離f2と回折レンズ13bの焦点距離f1とにより、コリメートされた光が色収差重畳発生部13に入射すると、色収差重畳発生部13からコリメートされた光が出射される。
このように、色収差重畳発生部13を複数設ける場合に、対物レンズ12に入射させる光をコリメートさせることが重要である。これにより、測定中心距離を変えることなく効率よく測定範囲を拡大することができるからである。
この結果、回折レンズ11と2つの色収差重畳発生部13・13とを組み合わせた回折レンズ群32の焦点距離は、回折レンズ11の焦点距離f11と同じ焦点距離f32である。
したがって、回折レンズ11と2つの色収差重畳発生部13・13とを組み合わせた回折レンズ群32の焦点距離f32が、回折レンズ11のみの焦点距離f11に対して変化しない。このため、対物レンズ12における測定中心距離は変化しない。
しかしながら、回折レンズ11に対して2つの回折レンズ13bを追加しているので、回折レンズ11にて発生した軸上色収差が、3倍の大きさになっている。この結果、測定範囲R’=3×Rに拡大される。
すなわち、本実施の形態では、回折レンズ11及び回折レンズ13b・13bの合計が3個であるので、測定範囲R’=3×Rとなる。
したがって、一般的に、回折レンズ11及び回折レンズ13bの合計がN(Nは正の整数)個になると、
測定範囲R’=N×R
となる。このため、共焦点計測装置1Bの測定範囲R’が回折レンズ11のみの場合に比べてN倍となることが分かる。すなわち、回折レンズ群32の回折レンズ11と回折レンズ13bとの数をN個にすれば、色収差がN倍となり、同一の対物レンズ12と組み合わせると測定中心距離は同じまま測定範囲R’をN倍にすることができる。
このように、本実施の形態における共焦点計測装置1Bでは、色収差重畳発生部13における凹レンズ13aの焦点距離をf1、回折レンズ13bの焦点距離をf2、2つのレンズ間距離をdとすると、f1+f2=dを満たすのであれば、色収差重畳発生部13が何組存在する構成であってもよい。さらに、追加する凹レンズ13aの数も何枚でもよい。
(変形例)
2つの凹レンズ13a及び2つの回折レンズ13bの配置順は、図示の例に限らず、任意の配置順としてよい。例えば、回折レンズ11、回折レンズ13b、回折レンズ13b、凹レンズ13a、凹レンズ13a、対物レンズ12の配置順に並べてもよい。
尚、複数の色収差重畳発生部13のうち、1つの色収差重畳発生部13の凹レンズ13a(及び回折レンズ13b)の焦点距離と、他の色収差重畳発生部13の凹レンズ13a(及び回折レンズ13b)の焦点距離とは異なっていてもよい。また、1つの色収差重畳発生部13における凹レンズ13a及び回折レンズ13bの位置関係と、他の色収差重畳発生部13の凹レンズ13a及び回折レンズ13bの位置関係とは異なっていてもよい。ただし、回折レンズ13b後の光がコリメートでないと効率よく色収差を重畳することができないことから、色収差重畳発生部13をN個追加したとしても測定範囲R’が(元の測定範囲R)*(N+1)にならない。
〔実施の形態3〕
本発明のさらに他の実施の形態について図8に基づいて説明すれば、以下のとおりである。尚、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態1及び実施の形態2と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態1及び実施の形態2の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
前記実施の形態1の共焦点計測装置1Aでは、センサヘッド10Aにおいて、色収差重畳発生部13が1個設けられていた。そして、色収差重畳発生部13における回折レンズ13bの焦点距離は、回折レンズ11の焦点距離f11と同じ焦点距離f1であった。
これに対して、本実施の形態の共焦点計測装置1Cでは、センサヘッド10Cにおいて、回折レンズ11に加えて色収差重畳発生部14が1個追加されている点は同じであるが、色収差重畳発生部14における回折レンズ14bの焦点距離が回折レンズ13bの焦点距離f1とは異なる焦点距離f3となっている点が相違している。本実施の形態の共焦点計測装置1Cの構成について、以下に説明する。
図8は、本実施の形態における共焦点計測装置1Cのセンサヘッド10Cの構成を示す断面図である。
図8に示すように、本実施の形態における共焦点計測装置1Cのセンサヘッド10Cにおいては、回折レンズ11に加えて、1個の色収差重畳発生部14が追加されている。ここで、本実施の形態では、色収差重畳発生部14における回折レンズ14b(第2回折レンズ)の焦点距離は、回折レンズ11(第1回折レンズ)の焦点距離f11とは異なる焦点距離f3となっている。また、この回折レンズ14bの焦点距離f3に対応して、凹レンズ14a(第1発散光学部)の焦点距離がf3+f4=d(レンズ間距離)を満たすとき、色収差重畳発生部14では、回折レンズ14bの集束を凹レンズ14aがキャンセルする。これにより、回折レンズ14bを通過した光はコリメートされている。
この結果、回折レンズ11と1つの色収差重畳発生部14とを組み合わせた回折レンズ群33の焦点距離は、回折レンズ11の焦点距離f11と同じ焦点距離f33である。このため、対物レンズ12における測定中心距離は変化しない。
本実施の形態では、焦点距離が互いに異なる回折レンズ11と回折レンズ14bとを組み合わせている。これにより、回折レンズ11にて発生した色収差が、A倍となっている(Aは1よりも大きい実数)。この結果、測定範囲R’=A×Rとなる。本実施の形態の共焦点計測装置1Cでは、自由に測定範囲を変えることが可能となる。
したがって、この共焦点計測装置1Cの構成によっても、実施の形態2の共焦点計測装置1Bと同様に拡大した測定範囲を得ることができる。そして、本実施の形態の場合、色収差重畳発生部14の個数は増加しないので、共焦点計測装置1Cは、共焦点計測装置1Bの構成を簡略化することができる。
尚、本実施の形態では、色収差重畳発生部14の個数を増加しないことを前提にしているが、本発明の一態様においては、必ずしもこれに限らず、色収差重畳発生部14の個数を増加することも可能である。
(変形例)
共焦点計測装置1Cの共焦点光学系にさらに、実施の形態2の色収差重畳発生部13を追加してもよい。このように、焦点距離f1の回折レンズ13bと焦点距離f3の回折レンズ14bを配置してもよい。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
1A・1B・1C 共焦点計測装置
2 光ファイバケーブル
10A・10B・10C センサヘッド
11 回折レンズ(第1回折レンズ)
12 対物レンズ
13a・14a 凹レンズ(第1発散光学部、第2発散光学部)
13・14 色収差重畳発生部
13b・14b 回折レンズ(第2回折レンズ、第3回折レンズ)
20 コントローラ
21 白色LED光源(光源)
22 分岐光ファイバ
23 分光器(測定部)
24 受光素子(測定部)
25 処理部
26 モニタ
31・32・33 回折レンズ群

Claims (9)

  1. 共焦点光学系を利用した共焦点計測装置であって、
    複数の波長の光を出射する光源と、
    前記光源から出射された光に、色収差を生じさせる第1回折レンズと、
    前記第1回折レンズを通過した光の色収差を増加させる第2回折レンズと、
    集光された光が光軸に沿った色収差を有するように、前記第2回折レンズを通過した光を前記光軸に沿った計測対象範囲に集光する対物レンズと、
    前記対物レンズで集光された光のうち、計測対象物上に合焦した波長の光の強度を測定する測定部とを備えることを特徴とする共焦点計測装置。
  2. 前記対物レンズに入射する光はコリメートされていることを特徴とする請求項1に記載の共焦点計測装置。
  3. 前記対物レンズよりも前記光源側に、光を発散させる第1発散光学部を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の共焦点計測装置。
  4. 前記第1発散光学部は、少なくとも1つの凹レンズを有することを特徴とする請求項3に記載の共焦点計測装置。
  5. 発散系の焦点距離を負値で表現した場合、前記第2回折レンズの焦点距離をf1とし、前記第1発散光学部の焦点距離をf2とし、かつ前記第2回折レンズと前記第1発散光学部との間の距離をdとすると、f1+f2=dを満たすことを特徴とする請求項3又は4に記載の共焦点計測装置。
  6. 前記第1発散光学部は、前記第1回折レンズと前記第2回折レンズとの間に配置されており、
    前記第2回折レンズと前記対物レンズとの間において光はコリメートされていることを特徴とする請求項3から5のいずれか一項に記載の共焦点計測装置。
  7. 前記第1回折レンズの焦点距離と前記第2回折レンズの焦点距離とは同じであることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の共焦点計測装置。
  8. 前記第1回折レンズの焦点距離と前記第2回折レンズの焦点距離とは異なることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の共焦点計測装置。
  9. 前記第1回折レンズと前記対物レンズとの間に、光の色収差を増加させる第3回折レンズと、光を発散させる第2発散光学部とを備えることを特徴とする請求項3から6のいずれか一項に記載の共焦点計測装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113686439A (zh) * 2021-08-24 2021-11-23 熵智科技(深圳)有限公司 一种线光谱共焦传感器

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6819362B2 (ja) * 2017-03-02 2021-01-27 オムロン株式会社 共焦点計測装置
JP6834623B2 (ja) * 2017-03-13 2021-02-24 オムロン株式会社 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ
JP6969453B2 (ja) * 2018-03-12 2021-11-24 オムロン株式会社 光学計測装置
DE102018130901A1 (de) * 2018-12-04 2020-06-04 Precitec Optronik Gmbh Optische Messeinrichtung
JP6986235B2 (ja) * 2018-12-20 2021-12-22 オムロン株式会社 共焦点センサ
US11415674B2 (en) * 2019-10-31 2022-08-16 Mitutoyo Corporation Chromatic point sensor optical pen with adjustable range and adjustable stand-off distance
CN113218312B (zh) * 2021-05-18 2022-09-30 哈尔滨工业大学 光针式共光路干涉共焦位移测量装置与方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221607A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Olympus Optical Co Ltd 共焦点顕微鏡
US20060109483A1 (en) * 2004-11-24 2006-05-25 Tamar Technology, Inc. Trench measurement system employing a chromatic confocal height sensor and a microscope
JP2012173294A (ja) * 2011-02-23 2012-09-10 Mitsutoyo Corp クロマティック共焦点ポイントセンサ光学ペン
JP2014055920A (ja) * 2012-09-14 2014-03-27 Omron Corp 共焦点計測装置
JP2017116508A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 株式会社キーエンス 共焦点変位計
JP2017116493A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 株式会社キーエンス 共焦点変位計

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6834036B1 (en) * 1998-10-28 2004-12-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head for a plurality of types of information recording media
JP2000311848A (ja) * 1999-04-27 2000-11-07 Nikon Corp 投影露光方法及び装置
JP2001256670A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Sony Corp 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置
US7206276B2 (en) * 2001-10-12 2007-04-17 Konica Corporation Objective lens, optical element, optical pick-up apparatus and optical information recording and/or reproducing apparatus equipped therewith
DE102004022454B4 (de) * 2004-05-06 2014-06-05 Carl Mahr Holding Gmbh Messeinrichtung mit optischer Tastspitze
DE102005013949A1 (de) * 2005-03-26 2006-09-28 Carl Zeiss Meditec Ag Scanvorrichtung
DE102005023351A1 (de) * 2005-05-17 2006-11-30 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen von Oberflächen
JP4860500B2 (ja) * 2007-02-13 2012-01-25 株式会社 ニコンビジョン 色消しレンズ系、光学装置
TWI490444B (zh) * 2009-01-23 2015-07-01 Univ Nat Taipei Technology 線型多波長共焦顯微方法與系統
WO2010143394A1 (ja) * 2009-06-11 2010-12-16 パナソニック株式会社 回折光学素子
JP5790178B2 (ja) 2011-03-14 2015-10-07 オムロン株式会社 共焦点計測装置
US9477091B2 (en) 2012-01-11 2016-10-25 Howard Hughes Medical Institute Multi-dimensional imaging using multi-focus microscopy
US8654352B1 (en) * 2012-08-08 2014-02-18 Asm Technology Singapore Pte Ltd Chromatic confocal scanning apparatus
US9706094B2 (en) * 2014-12-05 2017-07-11 National Security Technologies, Llc Hyperchromatic lens for recording time-resolved phenomena
CN113532286A (zh) * 2015-12-25 2021-10-22 株式会社基恩士 共焦位移计

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221607A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Olympus Optical Co Ltd 共焦点顕微鏡
US20060109483A1 (en) * 2004-11-24 2006-05-25 Tamar Technology, Inc. Trench measurement system employing a chromatic confocal height sensor and a microscope
JP2012173294A (ja) * 2011-02-23 2012-09-10 Mitsutoyo Corp クロマティック共焦点ポイントセンサ光学ペン
JP2014055920A (ja) * 2012-09-14 2014-03-27 Omron Corp 共焦点計測装置
JP2017116508A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 株式会社キーエンス 共焦点変位計
JP2017116493A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 株式会社キーエンス 共焦点変位計

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113686439A (zh) * 2021-08-24 2021-11-23 熵智科技(深圳)有限公司 一种线光谱共焦传感器

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