JP2018141697A - Abnormality diagnostic device - Google Patents

Abnormality diagnostic device Download PDF

Info

Publication number
JP2018141697A
JP2018141697A JP2017035867A JP2017035867A JP2018141697A JP 2018141697 A JP2018141697 A JP 2018141697A JP 2017035867 A JP2017035867 A JP 2017035867A JP 2017035867 A JP2017035867 A JP 2017035867A JP 2018141697 A JP2018141697 A JP 2018141697A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
measurement
waveform data
abnormality diagnosis
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017035867A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6888329B2 (en
Inventor
高典 池本
Takanori Ikemoto
高典 池本
暁 千林
Satoru Senbayashi
暁 千林
大木　秀人
Hideto Oki
秀人 大木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP2017035867A priority Critical patent/JP6888329B2/en
Publication of JP2018141697A publication Critical patent/JP2018141697A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6888329B2 publication Critical patent/JP6888329B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an abnormality diagnostic device for acquiring information which is used to achieve both the securement of synchronization between a commercial AC power signal and measurement data, and the extension of the total measurement time of abnormality diagnosis in abnormality diagnostic measurement.SOLUTION: An abnormality diagnostic device 100 includes: a measurement part 1 for measuring a partial discharge signal generated in synchronization with a commercial AC power signal supplied to an apparatus and a background signal of general environment as waveform data in each of a plurality of frequencies when the apparatus is in an abnormal state; and a control part 2 for controlling measurement by the measurement part 1, performing control for inputting waveform data in each of the plurality of frequencies obtained by the measurement by the measurement part 1 placed in a state where only the background signal is measured as background waveform data in environment with the apparatus is installed, and performing processing for determining an exclusion frequency excluded from abnormality diagnosis of the apparatus on the basis of the background waveform data in each of a plurality of inputted frequencies.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、異常診断用装置に関する。   The present invention relates to an abnormality diagnosis apparatus.

ガス絶縁開閉器、電力用トランス、配電盤などの電気機器では、絶縁破壊に至る前に部分放電が発生する。この部分放電を検出することによって、絶縁診断、すなわち絶縁破壊に至る兆候を発見することができる。   In electrical equipment such as gas insulated switches, power transformers, and switchboards, partial discharge occurs before dielectric breakdown occurs. By detecting this partial discharge, it is possible to discover insulation diagnosis, that is, a sign of dielectric breakdown.

部分放電時には電磁波、異常電流、超音波、振動等が発生するので、アンテナなどの電磁波センサ、電流センサ、超音波センサ、振動センサ等を利用して、部分放電の有無の診断、即ち機器の異常診断を行うことができる。   Electromagnetic waves, abnormal currents, ultrasonic waves, vibrations, etc. are generated during partial discharges. Use electromagnetic wave sensors such as antennas, current sensors, ultrasonic sensors, vibration sensors, etc. to diagnose the presence or absence of partial discharges, that is, device abnormalities. Diagnosis can be made.

機器の異常診断では、電磁波信号や音声信号などを計測対象として、計測対象とする周波数範囲内の複数の周波数毎に得られた計測データ、即ち信号強度の時間変化を示す周波数毎の波形データをまとめた波形データ群において、機器の部分放電に伴うデータを検知したかどうかにより異常診断が行われる。   In equipment abnormality diagnosis, measurement data obtained for each of a plurality of frequencies within the frequency range to be measured, that is, electromagnetic wave signals and audio signals are measured, that is, waveform data for each frequency indicating a time change of signal intensity. In the grouped waveform data group, abnormality diagnosis is performed based on whether data associated with partial discharge of the device is detected.

特許文献１には、計測対象とする周波数帯域を例えば１００分割して、１００個の周波数毎の電磁波等の計測データである波形データを波形データ群として処理することにより、ノイズ成分を除去し、異常診断として、部分放電の有無を判定する部分放電診断装置、即ち異常診断装置が開示されている。   In Patent Document 1, for example, a frequency band to be measured is divided into 100, for example, by processing waveform data that is measurement data such as electromagnetic waves for every 100 frequencies as a waveform data group, noise components are removed, As the abnormality diagnosis, a partial discharge diagnostic device that determines the presence or absence of partial discharge, that is, an abnormality diagnostic device is disclosed.

特開２０１６−０６１７３３号公報JP 2006-061733 A

機器の部分放電現象は、機器の駆動用として供給されている商用交流電力信号の所定の位相範囲で発生することがわかっている。そのため、異常診断に係る波形データは、商用交流電力信号との間で同期性を有していることが要請される。異常診断の対象となる機器の設置環境によっては、商用交流電力信号を異常診断装置に容易に取り込めない場合が多いため、一般的には、装置内部クロックを使って計測開始時間を管理することにより同期性を確保している。しかし、商用交流電力信号には、しばしば±０．０１％程度の周波数のズレが生じうるため、計測時間が長くなると同期ズレが大きくなることがある。従って、異常診断の際の計測対象となる周波数毎の波形データの計測時間を全周波数について合計した総計測時間は、同期ズレが許容範囲内に収まるように制限される。例えば、総計測時間を１５秒として、周波数のズレが０．０１％あると、１．５ｍｓの同期ズレが生じるが、これを大きく超える同期ズレが生じると部分放電の診断に悪影響が生じる恐れがある。従って、異常診断に係る計測時間は、好ましくは１５ｓ以下、長くても２０ｓ以下に設定されることが望ましい。   It has been found that the partial discharge phenomenon of the device occurs in a predetermined phase range of the commercial AC power signal supplied for driving the device. For this reason, it is required that the waveform data relating to the abnormality diagnosis is synchronized with the commercial AC power signal. Depending on the installation environment of the equipment subject to abnormality diagnosis, it is often not possible to easily capture commercial AC power signals into the abnormality diagnosis device, so in general, by managing the measurement start time using the internal clock of the device Synchronicity is ensured. However, the commercial AC power signal can often have a frequency deviation of about ± 0.01%, and therefore the synchronization deviation may increase as the measurement time increases. Accordingly, the total measurement time obtained by summing the measurement times of the waveform data for each frequency to be measured at the time of abnormality diagnosis for all frequencies is limited so that the synchronization deviation falls within an allowable range. For example, if the total measurement time is 15 seconds and the frequency deviation is 0.01%, a synchronization deviation of 1.5 ms occurs, but if a synchronization deviation greatly exceeding this occurs, there is a possibility that the diagnosis of partial discharge may be adversely affected. is there. Therefore, the measurement time for abnormality diagnosis is preferably set to 15 s or less, and at most 20 s or less.

特許文献１の部分放電診断装置において異常診断の際の総計測時間を１４ｓとし、計測対象の周波数を１００個とすると、１周波数当たりの計測時間は１４０ｍｓである。１回の計測を、商用交流電力信号の周波数を５０Ｈｚとしたときの、２サイクル分とすると、その計測に要する時間は４０ｍｓであり、周波数切り換えに伴う準備時間を２０ｍｓとすると、１４０ｍｓの計測時間では、１周波数当たり２サイクル分の計測を、３回繰り返して実施することができる。   In the partial discharge diagnostic apparatus of Patent Document 1, if the total measurement time for abnormality diagnosis is 14 s and the frequency to be measured is 100, the measurement time per frequency is 140 ms. If one measurement is for two cycles when the frequency of the commercial AC power signal is 50 Hz, the time required for the measurement is 40 ms, and if the preparation time for frequency switching is 20 ms, the measurement time is 140 ms. Then, measurement for two cycles per frequency can be repeated three times.

部分放電には、発生頻度の低い、例えばボイド放電などが含まれうる。このような発生頻度低い部分放電は例えば３回程度の繰り返し計測では必ずしも確実に検知されるとは言えない。発生頻度の低い部分放電の検知確率を高めることにより、異常診断の確度を上げるためには、各周波数における合計計測時間、即ち繰り返し計測回数を増やすことが望ましい。   The partial discharge may include a low frequency of occurrence, for example, a void discharge. Such a partial discharge with a low occurrence frequency cannot be surely detected by repeated measurement of, for example, about three times. In order to improve the accuracy of abnormality diagnosis by increasing the detection probability of partial discharges with low occurrence frequency, it is desirable to increase the total measurement time at each frequency, that is, the number of repeated measurements.

しかし、異常診断の確度を上げるために、上記条件下で、各周波数毎の繰り返し計測回数を１回増やす毎に、波形データの総計測時間は４ｓずつ増えることになるため、同期性の点で、各周波数毎の計測回数を大きく増やすことは難しい。   However, in order to increase the accuracy of abnormality diagnosis, the total measurement time of waveform data increases by 4 s each time the number of repeated measurements for each frequency is increased by 1 under the above conditions. It is difficult to greatly increase the number of measurements for each frequency.

本発明は、上記事情の下になされたもので、異常診断用計測において、商用交流電力信号に対する計測データの同期性を確保しつつ、異常診断に係る総計測時間を延長するために利用される情報を取得する異常診断用装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made under the above circumstances, and is used to extend the total measurement time for abnormality diagnosis while ensuring the synchronization of measurement data with respect to a commercial AC power signal in abnormality diagnosis measurement. An object of the present invention is to provide an abnormality diagnosis device that acquires information.

本発明に係る異常診断用装置は、機器の異常時に、該機器の動作用に供給される商用交流電力信号に同期して発生する部分放電信号及び一般環境に存在するバックグランド信号の強度の時間変化を複数の周波数毎の波形データとして計測する計測部と、前記計測部による波形データの計測を制御し、前記機器の設置された環境において、前記機器の異常時に発生する部分放電信号を計測せず、バックグランド信号のみが計測される状態に置かれた前記計測部の計測により得られる、予め定められた周波数範囲内で設定された前記複数の周波数毎の波形データを、バックグランド波形データとして入力する制御を行い、入力された前記複数の周波数毎のバックグランド波形データに基づき、前記機器の異常診断の対象から除外する除外周波数を決定する処理を行う制御部と、を備えることを特徴とする。   The apparatus for diagnosing abnormality according to the present invention is the time of the intensity of the partial discharge signal generated in synchronization with the commercial AC power signal supplied for operation of the apparatus and the background signal existing in the general environment when the apparatus is abnormal. A measurement unit that measures changes as waveform data for each of a plurality of frequencies, and controls measurement of waveform data by the measurement unit, and measures a partial discharge signal generated when the device is abnormal in the environment where the device is installed. First, the waveform data for each of the plurality of frequencies set within a predetermined frequency range, which is obtained by measurement of the measurement unit placed in a state where only the background signal is measured, is used as background waveform data. Based on the input background waveform data for each of the plurality of frequencies, an excluded frequency to be excluded from the abnormality diagnosis target of the device is controlled. Characterized in that it comprises a control unit for performing a process constant for, a.

異常診断用装置は、異常診断の計測に先立つバックグランド計測により、異常診断の対象から除外できる既知ではない除外周波数の情報（以下では除外周波数情報と呼ぶ）を新たに取得することができる。除外周波数情報が得られることにより、異常診断の計測において、除外周波数の計測時間の少なくとも一部を、除外周波数ではない異常診断の対象周波数における波形データの繰り返し計測回数の増加に充当することにより、異常診断の対象周波数における波形データの計測時間の増加を図ることが可能となる。これは、波形データの総計測時間を基本的には増やすことなく、即ち、商用交流電力信号に対する波形データの同期性を確保したまま、異常診断に係る総計測時間を延長できることを意味する。従って、この異常診断用装置は、商用交流電力信号に対する異常診断用の波形データの同期性の確保と、異常診断用の波形データの総計測時間の延長との両立を図るために利用される除外周波数という情報を提供することができる。   The apparatus for abnormality diagnosis can newly acquire information on an excluded frequency that is not known (hereinafter referred to as excluded frequency information) that can be excluded from the object of the abnormality diagnosis by background measurement prior to the measurement of the abnormality diagnosis. By obtaining the exclusion frequency information, in the measurement of the abnormality diagnosis, by allocating at least a part of the measurement time of the exclusion frequency to the increase in the number of repeated measurement of the waveform data at the abnormality diagnosis target frequency, It is possible to increase the measurement time of waveform data at the target frequency for abnormality diagnosis. This means that the total measurement time for abnormality diagnosis can be extended without basically increasing the total measurement time of the waveform data, that is, while ensuring the synchronism of the waveform data with respect to the commercial AC power signal. Therefore, this abnormality diagnosis device is an exclusion used for ensuring both the synchronization of the waveform data for abnormality diagnosis with respect to the commercial AC power signal and extending the total measurement time of the waveform data for abnormality diagnosis. Information of frequency can be provided.

本発明の実施形態１に係る異常診断用装置の構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a structure of the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 1 of this invention. 実施形態１に係る異常診断用装置の計測で得られた波形データ群の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the waveform data group obtained by measurement of the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態１に係る異常診断用装置の制御部のハードウェア構成例を示す図である。3 is a diagram illustrating a hardware configuration example of a control unit of the abnormality diagnosis device according to the first embodiment. FIG. 実施形態１に係る異常診断用装置のバックグランド計測に関与する制御部の詳細例を示す図である。It is a figure which shows the detailed example of the control part in connection with the background measurement of the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態１に係る異常診断用装置の異常診断計測に関与する制御部の詳細例を示す図である。It is a figure which shows the detailed example of the control part in connection with the abnormality diagnosis measurement of the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 1. FIG. 除外周波数の設定例を示す図である。It is a figure which shows the example of a setting of an exclusion frequency. 実施形態１に係る異常診断用装置による異常診断の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the abnormality diagnosis by the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 1. FIG. 図７に示すバックグランド計測処理の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the background measurement process shown in FIG. 図７に示す除外周波数設定処理の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the exclusion frequency setting process shown in FIG. 図７に示す診断用計測処理の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the measurement process for a diagnosis shown in FIG. 図７に示すノイズ除去処理の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the noise removal process shown in FIG. 本発明の実施形態２に係る異常診断用装置の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 2 of this invention. 実施形態２に係る異常診断用装置による異常診断の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the abnormality diagnosis by the apparatus for abnormality diagnosis which concerns on Embodiment 2. FIG. 図１３に示す診断用再計測処理の内容を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the content of the remeasurement process for a diagnosis shown in FIG.

（実施形態１）
図１に、本発明の実施形態１に係る異常診断用装置の構成例を示す。異常診断用装置１００は、ガス絶縁開閉器、電力用トランス、配電盤などの電気機器の絶縁異常時に発生しうる部分放電の有無により、電気機器の異常を診断する装置である。以下では、電磁波を検出対象として計測することにより得られる複数の周波数毎の波形データに基づき、部分放電を検知する場合を例に、異常診断用装置について説明する。 (Embodiment 1)
FIG. 1 shows a configuration example of an abnormality diagnosis apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. The abnormality diagnosis apparatus 100 is an apparatus for diagnosing an abnormality in an electric device based on the presence or absence of partial discharge that may occur when an insulation abnormality occurs in an electric device such as a gas insulated switch, a power transformer, or a switchboard. Hereinafter, an apparatus for diagnosing abnormality will be described by taking as an example a case where partial discharge is detected based on waveform data for each of a plurality of frequencies obtained by measuring electromagnetic waves as detection targets.

図１に示す異常診断用装置１００は、電磁波を検出し、波形データとして計測する計測部１と、計測部１の計測を制御すると共に、計測された波形データに基づき、除外周波数情報を提供するための処理および、異常診断の処理を行う制御部２と、制御部２に対して、制御・処理に係る指示を入力する入力装置３と、制御部２の処理結果を出力する出力装置４とを備える。   The abnormality diagnosis apparatus 100 shown in FIG. 1 detects electromagnetic waves and controls the measurement unit 1 for measuring as waveform data and measurement of the measurement unit 1 and provides excluded frequency information based on the measured waveform data. Control unit 2 that performs processing for processing and abnormality diagnosis, input device 3 that inputs control and processing instructions to control unit 2, and output device 4 that outputs processing results of control unit 2 Is provided.

計測部１は、電磁波を検知するセンサ１０と、このセンサ１０からの電気信号を、与えられた計測条件に従って計測して、複数の周波数毎の波形データとして出力する信号処理部１１とを備える。波形データは計測された電気信号の強度の時間変化を示す。   The measurement unit 1 includes a sensor 10 that detects electromagnetic waves, and a signal processing unit 11 that measures an electrical signal from the sensor 10 according to a given measurement condition and outputs it as waveform data for each of a plurality of frequencies. The waveform data indicates a time change of the intensity of the measured electric signal.

センサ１０は、例えばアンテナで構成され、電磁波を受けてその強度に比例した電気信号、例えば電圧信号に変換し出力する。   The sensor 10 is composed of, for example, an antenna, receives an electromagnetic wave, converts it into an electric signal proportional to the intensity, for example, a voltage signal, and outputs the electric signal.

信号処理部１１は、例えばスペクトラムアナライザで構成される。信号処理部１１は、計測条件に従って、センサ１０から出力された電気信号を、周波数掃引により、複数の周波数毎に計測し、各周波数の波形データとして出力する。周波数軸と時間軸と信号強度を示す波高軸との３次元で各周波数の波形データを示したものが、図２に例示する波形データ群である。計測条件は、計測対象とする複数の周波数、各周波数の１回当たりの計測時間とサンプリング周期、各周波数の繰り返し計測回数、及び各計測の開始のタイミングである。各周波数の１回当たりの計測時間は、異常診断の対象となる電気機器に供給される動作用の商用交流電力信号の少なくとも２サイクル分に相当する時間に設定される。以下に示す例では、一回当たりの計測時間は２サイクル分に相当する時間であるとする。各計測の開始のタイミングは、それぞれの波形データが商用交流電力信号に同期するように、商用交流電力信号の周期の整数倍の時刻に設定される。   The signal processing unit 11 is configured by, for example, a spectrum analyzer. The signal processing unit 11 measures the electrical signal output from the sensor 10 for each of a plurality of frequencies by frequency sweeping according to the measurement conditions, and outputs it as waveform data of each frequency. The waveform data group illustrated in FIG. 2 shows the waveform data of each frequency in three dimensions with the frequency axis, the time axis, and the wave height axis indicating the signal intensity. The measurement conditions are a plurality of frequencies to be measured, a measurement time and a sampling period for each frequency, the number of times of repeated measurement of each frequency, and the start timing of each measurement. The measurement time per time for each frequency is set to a time corresponding to at least two cycles of the commercial AC power signal for operation supplied to the electrical device that is the target of abnormality diagnosis. In the example shown below, the measurement time per time is assumed to be a time corresponding to two cycles. The start timing of each measurement is set to a time that is an integral multiple of the period of the commercial AC power signal so that each waveform data is synchronized with the commercial AC power signal.

入力装置３は、制御部２に各種指示や情報を入力するための装置であり、例えばキーボードやスイッチなどで構成される。入力装置３からの入力情報の代表例がバックグランド計測の開始の指示又は異常診断計測の開始の指示である。   The input device 3 is a device for inputting various instructions and information to the control unit 2 and includes, for example, a keyboard and a switch. A representative example of input information from the input device 3 is an instruction to start background measurement or an instruction to start abnormality diagnosis measurement.

制御部２は、計測制御部２０とデータ取得部２１と記憶部２２とデータ処理部２３と診断部２４と出力制御部２５とを備え、ハードウェアとしては図３に示すようにＣＰＵ（Central Processing Unit）５００、内部記憶部５１０、外部記憶部５２０、入力部５３０、出力部５４０及びこれらを接続して信号の通路となるバスライン５５０とで構成される。図１の記憶部２２は、図３の外部記憶部５２０に対応する。制御部２の計測制御部２０、データ取得部２１、データ処理部２３、診断部２４、及び出力制御部２５のそれぞれの機能は、ＣＰＵ５００が、外部記憶部５２０に格納されたプログラムを読み出して、内部記憶部５１０、外部記憶部５２０、入力部５３０、及び出力部５４０を利用して実行することにより実現される。   The control unit 2 includes a measurement control unit 20, a data acquisition unit 21, a storage unit 22, a data processing unit 23, a diagnosis unit 24, and an output control unit 25. As shown in FIG. Unit) 500, an internal storage unit 510, an external storage unit 520, an input unit 530, an output unit 540, and a bus line 550 that connects these to form a signal path. The storage unit 22 in FIG. 1 corresponds to the external storage unit 520 in FIG. Each function of the measurement control unit 20, the data acquisition unit 21, the data processing unit 23, the diagnosis unit 24, and the output control unit 25 of the control unit 2 is read by the CPU 500 by reading a program stored in the external storage unit 520. This is realized by executing using the internal storage unit 510, the external storage unit 520, the input unit 530, and the output unit 540.

制御部２の計測制御部２０は、ＢＧ計測制御部２００と診断用計測制御部２０１とを備え、入力装置３からの入力情報に応じて、ＢＧ計測制御部２００又は診断用計測制御部２０１のいずれか一方が機能する。以下では、ＢＧ計測制御部２００の制御による計測をバックグランド計測、診断用計測制御部２０１の制御による計測を異常診断計測と呼ぶ。   The measurement control unit 20 of the control unit 2 includes a BG measurement control unit 200 and a diagnostic measurement control unit 201. Depending on input information from the input device 3, the BG measurement control unit 200 or the diagnostic measurement control unit 201 Either one works. Hereinafter, the measurement by the control of the BG measurement control unit 200 is referred to as background measurement, and the measurement by the control of the diagnostic measurement control unit 201 is referred to as abnormality diagnosis measurement.

バックグランド計測は、異常診断の妨げとなる波形データに対応する周波数を予め抽出し、その周波数を除外周波数として設定するために実施される。設定した除外周波数は、記憶部２２の除外周波数情報２２２に、後述する図４に示す様に、除外周波数設定情報２２２ｂとして格納される。バックグランド計測は、異常診断の対象となる電気機器からの部分放電信号を検知し得ない場所であって、部分放電信号以外の計測環境は異常診断用の計測環境と略同じと見なせる場所に、計測部１のセンサ１０を設置して、異常診断計測に先立って実施される。センサ１０がバックグランド計測を実施できる状態に配置されると、入力装置３を介してバックグランド計測の開始の指示が入力される。この入力に対応して動作するＢＧ計測制御部２００は、信号処理部１１の制御、データ取得部２１の制御、及び得られた波形データのデータ処理部２３での処理の制御を開始する。   Background measurement is performed in order to extract in advance a frequency corresponding to waveform data that hinders abnormality diagnosis and to set that frequency as an excluded frequency. The set exclusion frequency is stored in the exclusion frequency information 222 of the storage unit 22 as exclusion frequency setting information 222b as shown in FIG. The background measurement is a place where the partial discharge signal from the electrical device subject to abnormality diagnosis cannot be detected, and the measurement environment other than the partial discharge signal can be regarded as almost the same as the measurement environment for abnormality diagnosis, The sensor 10 of the measurement unit 1 is installed, and is performed prior to abnormality diagnosis measurement. When the sensor 10 is placed in a state where background measurement can be performed, an instruction to start background measurement is input via the input device 3. The BG measurement control unit 200 that operates in response to this input starts control of the signal processing unit 11, control of the data acquisition unit 21, and control of processing of the obtained waveform data in the data processing unit 23.

異常診断計測は、電気機器からの部分放電を検知対象として異常診断を行うために実施される。従って、異常診断計測は、異常診断の対象となる電気機器からの部分放電信号を検知し得る場所にセンサ１０を設置して実施される。センサ１０が、異常診断計測ができる状態に配置されると、入力装置３を介して異常診断計測の開始の指示が入力される。この入力に対応して動作する診断用計測制御部２０１は、信号処理部１１の制御、データ取得部２１の制御、及び得られた波形データのデータ処理部２３での処理の制御を開始する。   The abnormality diagnosis measurement is performed in order to perform abnormality diagnosis with a partial discharge from an electrical device as a detection target. Therefore, the abnormality diagnosis measurement is performed by installing the sensor 10 in a place where a partial discharge signal from the electrical device that is the object of the abnormality diagnosis can be detected. When the sensor 10 is arranged in a state where abnormality diagnosis measurement is possible, an instruction to start abnormality diagnosis measurement is input via the input device 3. The diagnostic measurement control unit 201 that operates in response to this input starts control of the signal processing unit 11, control of the data acquisition unit 21, and control of processing of the obtained waveform data in the data processing unit 23.

バックグランド計測及び異常診断計測は、上述の計測条件のうち、計測対象とする複数の周波数、各周波数の１回当たりの計測時間とサンプリング周期、及び各計測の開始のタイミングを商用交流電力信号の周期の整数倍の時刻に設定することについては、互いに同じ条件で実施される。しかし、各周波数の繰り返し計測回数については、バックグランド計測と異常診断計測とで異なる。   In the background measurement and the abnormality diagnosis measurement, among the above-described measurement conditions, a plurality of frequencies to be measured, a measurement time and a sampling period for each frequency, and a start timing of each measurement are determined based on the commercial AC power signal. About setting to the time of the integral multiple of a period, it implements on the mutually same conditions. However, the number of repeated measurements at each frequency differs between background measurement and abnormality diagnosis measurement.

バックグランド計測においては、各周波数の繰り返し計測回数ＮＢは周波数によらず同じ回数に設定される。バックグランド計測においては、波形データと商用交流電力信号との間の同期性は要求されず、同一周波数において繰り返し計測により得られる波形データ間の同期性が問題になるだけである。従って、繰り返し計測回数についての制限は特にない。 In the background measurement, repeat the measurement number N B of each frequency is set to the same number of times regardless of the frequency. In the background measurement, the synchronism between the waveform data and the commercial AC power signal is not required, and the synchronism between the waveform data obtained by repeated measurement at the same frequency is only a problem. Therefore, there is no particular limitation on the number of repeated measurements.

一方、異常診断計測においては、除外周波数における繰り返し計測回数をＮ１、除外周波数でない周波数である診断対象周波数における繰り返し計測回数をＮ１よりも大きな値であるＮ２とする。同期性確保の観点から設定された総計測時間をＴとし、計測対象の全周波数での各周波数における繰り返し計測回数を同じ値にしたと仮定することにより得られる繰り返し計測回数をＮ０（Ｔ＝１４ｓとすると、例えばＮ０＝３となる）とすると、Ｎ１はＮ０よりも小さい値に予め設定され、記憶部２２の計測条件２２１に格納される。除外周波数は異常診断の対象外となる周波数であるため、異常診断計測時には、除外周波数での繰り返し計測回数を０、即ち除外周波数での計測を省いてもよいが、対象とする周波数範囲の予め定めた全周波数での波形データを残しておくという必要がある場合には、例えば１に設定される。 On the other hand, in the abnormality diagnosis measurement, the number of repeated measurements at the excluded frequency is N 1 , and the number of repeated measurements at the diagnosis target frequency that is a frequency that is not the excluded frequency is N 2 that is a value larger than N 1 . It is assumed that the total measurement time set from the viewpoint of ensuring synchronism is T, and the number of repeated measurements obtained by assuming that the number of repeated measurements at each frequency at all frequencies to be measured is the same value is N 0 (T = 14 s, for example, N 0 = 3), N 1 is preset to a value smaller than N 0 and stored in the measurement condition 221 of the storage unit 22. Since the excluded frequency is a frequency that is not subject to abnormality diagnosis, at the time of abnormality diagnosis measurement, the number of repeated measurements at the excluded frequency may be 0, that is, the measurement at the excluded frequency may be omitted. When it is necessary to leave waveform data at all the determined frequencies, it is set to 1, for example.

診断対象周波数における繰り返し計測回数Ｎ２は、診断用計測制御部２０１で算定され、信号処理部１１及びデータ取得部２１に送信される。異常診断計測時の繰り返し計測回数Ｎ２は、バックグランド計測において設定され、記憶部２２に格納された除外周波数設定情報２２２ｂ（図４参照）の除外周波数の数と、異常診断計測時の総計測時間Ｔとに基づき、診断用計測制御部２０１により算定される。具体的には、Ｎ２は、総計測時間Ｔのとき、全周波数で同じ繰り返し計測回数としたときの繰り返し計測回数Ｎ０に対して、除外周波数での繰り返し計測回数をＮ０より小さいＮ１にしたことによる計測時間の減少分を、診断対象周波数での繰り返し計測回数の増加に充当することにより得られる値とする。このとき小数点以下の回数については、例えば四捨五入、切り捨て、若しくは切り上げなどの処理により、整数の繰り返し計測回数とする。この処理により、異常診断計測において、計測対象となる全周波数の計測時間の総和は、このような処理を行わないときの異常診断計測に係る計測時間の総和Ｔと予め設定した誤差Δの範囲内で略等しくなる。 The number of repeated measurements N 2 at the diagnosis target frequency is calculated by the diagnostic measurement control unit 201 and transmitted to the signal processing unit 11 and the data acquisition unit 21. The number of repeated measurements N 2 at the time of abnormality diagnosis measurement is set in the background measurement, and the number of excluded frequencies in the exclusion frequency setting information 222b (see FIG. 4) stored in the storage unit 22 and the total measurement at the time of abnormality diagnosis measurement. Based on the time T, it is calculated by the diagnostic measurement control unit 201. Specifically, N 2, when the total measurement time T, to repetitive measurement times N 0 when the same repetition number of measurements over the entire frequency, repeatedly measuring the number of times N 0 is smaller than N 1 with exclusion frequency The decrease in the measurement time due to the determination is made a value obtained by applying to the increase in the number of repeated measurements at the diagnosis target frequency. At this time, the number of times after the decimal point is set to an integer number of repeated measurements by, for example, rounding, rounding down, or rounding up. As a result of this processing, the total measurement time of all frequencies to be measured in abnormality diagnosis measurement is within the range of the total error time T related to abnormality diagnosis measurement when such processing is not performed and a preset error Δ. Is approximately equal.

ＢＧ計測制御部２００及び診断用計測制御部２０１は、記憶部２２に計測条件２２１として格納されているそれぞれの計測条件を読み込んで、信号処理部１１及びデータ取得部２１に計測条件として送信する。ただし、異常診断計測時の繰り返し計測回数Ｎ２については、診断用計測制御部２０１が算定した値を使用する。Ｎ２の算定に必要な、異常診断計測時の総計測時間Ｔは、直接の計測条件ではないが、計測条件２２１に含められる。計測対象となる複数の周波数については、周波数範囲の分割数を計測条件２２１に格納し、そこから読み込んだ分割数と入力装置３が入力する計測対象の周波数範囲とに基づき計測制御部２０が設定してもよい。なお、変更のない計測条件については予め信号処理部１１及びデータ取得部２１に設定しておいても良い。 The BG measurement control unit 200 and the diagnostic measurement control unit 201 read the respective measurement conditions stored in the storage unit 22 as the measurement conditions 221 and transmit them as measurement conditions to the signal processing unit 11 and the data acquisition unit 21. However, the abnormality diagnosis for the measurement repeated measurement number N 2 during uses values diagnostic measurement control unit 201 is calculated. The total measurement time T at the time of abnormality diagnosis measurement necessary for the calculation of N 2 is not a direct measurement condition, but is included in the measurement condition 221. For a plurality of frequencies to be measured, the number of divisions of the frequency range is stored in the measurement condition 221, and the measurement control unit 20 sets based on the number of divisions read therefrom and the frequency range of the measurement target input by the input device 3 May be. Note that measurement conditions that are not changed may be set in the signal processing unit 11 and the data acquisition unit 21 in advance.

データ取得部２１は、計測制御部２０の制御により、計測部１からの計測データ、即ち複数の周波数毎の波形データを、設定された繰り返し計測回数分入力し、これに基づき各周波数の代表波形データを求め、これを記憶部２２に格納する。波形データの横軸は時間軸で、具体的にはサンプリング番号に対応する。波形データの縦軸は計測された信号の強度を示すデータである。代表波形データは、同じ周波数での繰り返し計測により得られる複数の波形データに基づき生成された、その周波数を代表する波形データであり、例えば、時間軸の各点に対する信号の強度を示すデータ波高値の最大値により構成された波形データである。記憶部２２の波形データ群２２０は、そのようにして生成された複数の周波数毎の代表波形データで構成される。   Under the control of the measurement control unit 20, the data acquisition unit 21 inputs measurement data from the measurement unit 1, that is, waveform data for each of a plurality of frequencies, for the set number of repeated measurements, and based on this, the representative waveform of each frequency Data is obtained and stored in the storage unit 22. The horizontal axis of the waveform data is the time axis, and specifically corresponds to the sampling number. The vertical axis of the waveform data is data indicating the intensity of the measured signal. The representative waveform data is waveform data representing the frequency generated based on a plurality of waveform data obtained by repeated measurement at the same frequency. For example, the data peak value indicating the intensity of the signal at each point on the time axis. Waveform data composed of the maximum value of. The waveform data group 220 of the storage unit 22 is constituted by representative waveform data for each of a plurality of frequencies generated in this way.

記憶部２２は、波形データ群２２０と計測条件２２１と除外周波数情報２２２と診断用波形データ群２２３と診断結果２２４とを格納する。波形データ群２２０と計測条件２２１については既に説明した通りである。計測条件２２１の内容は、入力装置３からの入力により書き換えることができるようにしてもよい。   The storage unit 22 stores a waveform data group 220, a measurement condition 221, excluded frequency information 222, a diagnostic waveform data group 223, and a diagnostic result 224. The waveform data group 220 and the measurement condition 221 are as described above. The contents of the measurement condition 221 may be rewritten by input from the input device 3.

除外周波数情報２２２は、除外周波数既知情報２２２ａと、除外周波数設定情報２２２ｂとを含む。除外周波数既知情報２２２ａは、ノイズ源となることがわかっている、例えば通信波等の予め知られている周波数の情報のことであり、異常診断の対象から除外してもいいということがわかっている周波数の情報である。除外周波数設定情報２２２ｂは、除外周波数既知情報２２２ａとバックグランド計測により得られた波形データ群２２０から、後述する処理により設定された有効データ有りの代表波形データに対応する周波数の情報とから最終的に設定された除外周波数の情報である。除外周波数設定情報２２２ｂに含まれる周波数は異常診断の対象外とされる。   The excluded frequency information 222 includes excluded frequency known information 222a and excluded frequency setting information 222b. The excluded frequency known information 222a is information of a known frequency, such as a communication wave, which is known to be a noise source, and it can be excluded from the target of abnormality diagnosis. It is information of the frequency that is. The excluded frequency setting information 222b is finally determined from the excluded frequency known information 222a and the waveform data group 220 obtained by the background measurement, and the frequency information corresponding to the representative waveform data with valid data set by the processing described later. This is information on the exclusion frequency set in. The frequency included in the excluded frequency setting information 222b is not subject to abnormality diagnosis.

診断用波形データ群２２３は、異常診断計測時に記憶部２２に格納される波形データ群であり、波形データ群２２０から、データ処理部２３での処理により、ノイズ成分に係る波形データ等を除いて得られる異常診断の対象となる波形データ群のことである。   The diagnostic waveform data group 223 is a waveform data group stored in the storage unit 22 at the time of abnormality diagnosis measurement, and from the waveform data group 220, the waveform data related to the noise component is excluded by the processing in the data processing unit 23. It is a waveform data group to be obtained as a target of abnormality diagnosis.

診断結果２２４は、診断部２４の処理により得られ、記憶部２２に格納される、電気機器の異常状況を示す情報である。   The diagnosis result 224 is information indicating an abnormal state of the electrical device obtained by the processing of the diagnosis unit 24 and stored in the storage unit 22.

データ処理部２３は、有効データ有無判定部２３０と除外周波数設定部２３１とノイズ除去部２３２とを備える。データ処理部２３の処理内容はバックグランド計測か異常診断計測かにより異なる。図４及び図５は、バックグランド計測時及び異常診断計測時のそれぞれにおけるデータ処理部２３での処理内容と記憶部２２に格納されているどの情報が使用され、どの情報が格納されるかを示す。   The data processing unit 23 includes a valid data presence / absence determination unit 230, an excluded frequency setting unit 231, and a noise removal unit 232. The processing content of the data processing unit 23 differs depending on whether it is background measurement or abnormality diagnosis measurement. 4 and 5 show the processing contents in the data processing unit 23 and the information stored in the storage unit 22 at the time of background measurement and abnormality diagnosis measurement, and which information is stored. Show.

まず初めに、バックグランド計測時のデータ処理部２３の処理内容について説明する。バックグランド計測時には、図４に示すように、ＢＧ計測制御部２００の制御により、データ処理部２３の中の有効データ有無判定部２３０と除外周波数設定部２３１とが動作する。なお、データ処理部２３は、データ取得部２１からバックグランド計測における各周波数の代表波形データが記憶部２２に格納された旨の通知を受けることにより動作を開始する。   First, processing contents of the data processing unit 23 at the time of background measurement will be described. At the time of background measurement, as shown in FIG. 4, the effective data presence / absence determination unit 230 and the excluded frequency setting unit 231 in the data processing unit 23 operate under the control of the BG measurement control unit 200. The data processing unit 23 starts the operation when receiving a notification from the data acquisition unit 21 that the representative waveform data of each frequency in the background measurement is stored in the storage unit 22.

有効データ有無判定部２３０は、除外周波数情報２２２の中の除外周波数既知情報２２２ａを読み出す。有効データ有無判定部２３０は、除外周波数既知情報２２２ａに含まれていない周波数について、記憶部２２に格納されている波形データ群２２０から各周波数の代表波形データを読み出し、その代表波形データに有効データが含まれているかどうかの判定を実施する。有効データとは、波形データ中の、他の部位から識別できる程度に顕著な波高値を有するデータのことである。   The valid data presence / absence determination unit 230 reads the excluded frequency known information 222 a in the excluded frequency information 222. The valid data presence / absence determination unit 230 reads representative waveform data of each frequency from the waveform data group 220 stored in the storage unit 22 for frequencies not included in the excluded frequency known information 222a, and uses the effective data as the representative waveform data. To determine whether or not is included. The effective data is data having a peak value that is remarkable enough to be distinguished from other parts in the waveform data.

有効データ有無の判定は、２つの判定式で実行される。最初の判定式は次の（１）式に示すとおりである。
算定標準偏差＞標準偏差閾値 （１）
（１）式を満たせば有効データ有りと判定され、満たさなければ有効データ無しと判定されるが、より確実な判定を行う場合には、（１）式を満たすという判定がでた場合に、後述するもう一つの判定を実行する。 The determination of the presence / absence of valid data is executed using two determination formulas. The first judgment formula is as shown in the following formula (1).
Calculated standard deviation> Standard deviation threshold (1)
If the expression (1) is satisfied, it is determined that there is valid data. If the expression is not satisfied, it is determined that there is no valid data. However, when a more reliable determination is made, if it is determined that the expression (1) is satisfied, Another determination described later is executed.

算定標準偏差は、代表波形データの平均値に、経験則により設定された裕度を加えた値を閾値Ｈｔｈとし、代表波形データにおいて、この閾値Ｈｔｈ以下の波高値を、全て閾値Ｈｔｈに置き換え、閾値を超える波高値はそのまま残した代表波形データから算定した標準偏差とする。標準偏差閾値は、算定標準偏差に対して予め設定された閾値である。   The calculated standard deviation is a value obtained by adding a tolerance set by an empirical rule to the average value of the representative waveform data as a threshold value Hth, and in the representative waveform data, all peak values below the threshold value Hth are replaced with the threshold value Hth. The peak value exceeding the threshold is the standard deviation calculated from the representative waveform data left as it is. The standard deviation threshold is a threshold set in advance for the calculated standard deviation.

２番目の判定式は、次の（２）式に示すとおりである。Ｍａｘは代表波形データの最大値、Ａｖは代表波形データの平均値である。比の閾値Ｊは予め設定された閾値である。
Ｍａｘ／Ａｖ＞Ｊ （２）
Ｊ；比の閾値
代表波形データが（２）式を満たすとき、その代表波形データには有効データがあると判定され、（２）式を満たさないときは有効データが無いと判定される。 The second judgment formula is as shown in the following formula (2). Max is the maximum value of the representative waveform data, and Av is the average value of the representative waveform data. The ratio threshold value J is a preset threshold value.
Max / Av> J (2)
J: Threshold of ratio When the representative waveform data satisfies the equation (2), it is determined that there is valid data in the representative waveform data, and when the equation (2) is not satisfied, it is determined that there is no valid data.

（２）式による判定は、通信波等のノイズ信号に起因する波形データにおいて、ノイズ成分が時間的に略一定のときと途切れるときとが混在する様な場合に必要となる。このような代表波形データにおいては、代表波形データの波高値が、代表波形データの平均値に基づく閾値Ｈｔｈを超える可能性が高くなるため、上記（１）式による判定では、有効データが存在すると誤判定されることがある。（２）式による判定はこのような誤判定を防止するためのものであり、（１）式による判定で、有効データが存在するという判定がなされたときに（２）式による判定が実行される。波形データに有効データが含まれているときはＭａｘが大きな値となるため、有効データが含まれていないときに比べると、代表波形データの平均値Ａｖに対する最大値Ｍａｘの比は大きくなる。従って、比の閾値Ｊを予め適当な値に設定することにより、（２）式により有効データの有無を判定することができる。即ち（１）式、（２）式共に満たしたときその代表波形は有効データを有すると判定され、それ以外は有効データを有さないと判定される。なお、状況によっては（１）式、（２）式のいずれか一方で有効データの有無を判定しても良い。   The determination by the expression (2) is necessary when the waveform data resulting from a noise signal such as a communication wave includes both cases where the noise component is substantially constant in time and when it is interrupted. In such representative waveform data, there is a high possibility that the peak value of the representative waveform data exceeds the threshold value Hth based on the average value of the representative waveform data. Therefore, in the determination by the above equation (1), there is valid data. It may be misjudged. The determination based on equation (2) is for preventing such erroneous determination. When the determination based on equation (1) determines that valid data exists, the determination based on equation (2) is executed. The When the valid data is included in the waveform data, Max is a large value. Therefore, the ratio of the maximum value Max to the average value Av of the representative waveform data is larger than when the valid data is not included. Accordingly, by setting the ratio threshold value J to an appropriate value in advance, it is possible to determine the presence or absence of valid data by the equation (2). That is, when both the expressions (1) and (2) are satisfied, it is determined that the representative waveform has valid data, and other than that, it is determined that there is no valid data. Note that, depending on the situation, the presence or absence of valid data may be determined by either one of the equations (1) and (2).

有効データ有無判定部２３０は、有効データがあれば、対応する周波数の情報を除外周波数として、除外周波数設定部２３１に送信し、有効データが無ければ、次の計測対象とする周波数の代表波形データの処理に移行する。   If there is valid data, the valid data presence / absence determination unit 230 transmits the corresponding frequency information as an excluded frequency to the excluded frequency setting unit 231, and if there is no valid data, the representative waveform data of the frequency to be measured next. Move on to processing.

除外周波数設定部２３１は、有効データ有無判定部２３０から送信される除外周波数の情報と除外周波数既知情報２２２ａとを合わせた１次除外周波数情報に基づき最終的な除外周波数を設定し、記憶部２２の除外周波数設定情報２２２ｂとして格納する。除外周波数は、１次除外周波数情報とその近傍の周波数とで構成される。「近傍」の範囲は、予め設定された定義に従って決められる。例えば、１次除外周波数情報に含まれる周波数の両隣の周波数も除外周波数とし、更にこのように設定された除外周波数の一塊であるブロック間にブロックに含まれない計測対象周波数が例えば１つしかない場合は、この周波数も除外周波数に設定する。このような処理の例を図６に示す。図６の最上段の項目「周波数」は、周波数範囲を５００〜１５００ＭＨｚとし、この間を１００等分したときの計測対象とする周波数である。項目「１次除外範囲」は、１次除外周波数情報に対応しており、対応する箇所をハッチングで示したものである。項目「ブロック」は、１次除外周波数情報に含まれる周波数の両隣の周波数を含めた範囲をブロックとしてハッチングを付して示している。項目「除外範囲」は、ブロック範囲に基づき最終的に設定される除外周波数の範囲を、ハッチングを付して示したものである。「除外範囲」は、例えば、各ブロック間にブロックに含まれない周波数が、１箇所存在したときは、この周波数も除外周波数に含めるという基準に従ったものである。   The excluded frequency setting unit 231 sets a final excluded frequency based on primary excluded frequency information that is a combination of the excluded frequency information transmitted from the valid data presence / absence determining unit 230 and the excluded frequency known information 222a, and the storage unit 22 Is stored as excluded frequency setting information 222b. The excluded frequency is composed of primary excluded frequency information and frequencies in the vicinity thereof. The “neighboring” range is determined according to a preset definition. For example, the frequencies adjacent to the frequencies included in the primary excluded frequency information are also excluded frequencies, and there is, for example, only one measurement target frequency that is not included in a block between blocks that are a group of excluded frequencies set in this way. In this case, this frequency is also set as an excluded frequency. An example of such processing is shown in FIG. The item “frequency” in the uppermost row in FIG. 6 is a frequency to be measured when the frequency range is 500 to 1500 MHz and the interval is divided into 100 equal parts. The item “primary exclusion range” corresponds to primary exclusion frequency information, and the corresponding portion is indicated by hatching. The item “block” is hatched with a range including both adjacent frequencies included in the primary excluded frequency information as a block. The item “exclusion range” indicates the range of the exclusion frequency finally set based on the block range with hatching. The “exclusion range” is based on a criterion that, for example, when there is one frequency that is not included in each block between the blocks, this frequency is also included in the excluded frequency.

バックグランド計測において上記の様に除外周波数を設定する理由は、次の通りである。部分放電の信号を検知すると代表波形データ中には有効データが現れるが、部分放電の信号を検知し得ない環境下で行ったバックグランド計測において、取得された代表波形データに有効データが含まれている場合は、この有効データは部分放電に起因するものではなく、ノイズ成分であるということは明白である。この周波数又は近傍の計測対象とする周波数においては、異常診断計測で取得された波形データにおいても、同様の有効データが、ノイズ成分として含まれる可能性が高い。このような有効データを含む波形データは、異常診断の際に誤診断の原因となりかねない。このような事態を避けるために、異常診断の処理の際、この周波数とその近傍の周波数を除外周波数として異常診断の対象から除外する。   The reason for setting the exclusion frequency as described above in the background measurement is as follows. When the partial discharge signal is detected, valid data appears in the representative waveform data. However, in the background measurement performed in an environment where the partial discharge signal cannot be detected, the acquired representative waveform data contains valid data. It is clear that this valid data is not due to partial discharge but is a noise component. At this frequency or a frequency to be measured in the vicinity, there is a high possibility that similar effective data is included as a noise component in the waveform data acquired by the abnormality diagnosis measurement. Waveform data including such valid data can cause a misdiagnosis in an abnormality diagnosis. In order to avoid such a situation, at the time of abnormality diagnosis processing, this frequency and frequencies in the vicinity thereof are excluded from the abnormality diagnosis target as excluded frequencies.

次に、異常診断計測時のデータ処理部２３の処理内容について説明する。この内容は特許文献１に開示された内容に準拠しているが、構成要素の名称等については一部変更されている。異常診断計測時には、図５に示すように、診断用計測制御部２０１の制御により、データ処理部２３の中の有効データ有無判定部２３０とノイズ除去部２３２と診断部２４と出力制御部２５とが動作する。なお、データ処理部２３は、データ取得部２１から異常診断計測における各周波数の代表波形データが記憶部２２に格納された旨の通知を受けることにより動作を開始する。   Next, processing contents of the data processing unit 23 at the time of abnormality diagnosis measurement will be described. This content is based on the content disclosed in Patent Document 1, but the names of the components are partially changed. At the time of abnormality diagnosis measurement, as shown in FIG. 5, under the control of the diagnostic measurement control unit 201, the valid data presence / absence determination unit 230, the noise removal unit 232, the diagnosis unit 24, and the output control unit 25 in the data processing unit 23 Works. The data processing unit 23 starts the operation when receiving a notification from the data acquisition unit 21 that the representative waveform data of each frequency in the abnormality diagnosis measurement is stored in the storage unit 22.

有効データ有無判定部２３０は、異常診断計測時には、波形データ群２２０から異常診断の対象となる代表波形データを選別するために有効データの有無を判定する。有効データ有無判定部２３０は、除外周波数情報２２２中の除外周波数設定情報２２２ｂを読み出すことにより除外周波数の情報を取得し、計測対象とする周波数から除外周波数を削除してノイズ除去の対象となる診断対象周波数を設定する。有効データ有無判定部２３０は、診断対象周波数について、記憶部２２に格納されている波形データ群２２０から各周波数の代表波形データを読み出し、その代表波形データに有効データが含まれているかどうかの判定を実施する。判定の内容は既に説明したとおりである。有効データが含まれていないと判定したときはその代表波形データは異常診断の対象外となり、データ処理部２３は、次の診断対象周波数の代表波形データの処理に移行する。   The valid data presence / absence determination unit 230 determines the presence / absence of valid data in order to select representative waveform data to be subjected to abnormality diagnosis from the waveform data group 220 during abnormality diagnosis measurement. The valid data presence / absence determination unit 230 acquires information on the excluded frequency by reading the excluded frequency setting information 222b in the excluded frequency information 222, deletes the excluded frequency from the frequency to be measured, and is a target for noise removal. Set the target frequency. The valid data presence / absence determination unit 230 reads representative waveform data of each frequency from the waveform data group 220 stored in the storage unit 22 for the diagnosis target frequency, and determines whether the representative waveform data includes valid data. To implement. The contents of the determination are as described above. When it is determined that the valid data is not included, the representative waveform data is not subject to abnormality diagnosis, and the data processing unit 23 proceeds to processing of representative waveform data of the next diagnosis target frequency.

有効データが含まれていると判定したときは、その代表波形データはノイズ除去部２３２により処理される。ノイズ処理部２３は、含まれている有効データがノイズに依るものかどうかを判定し、ノイズによるものと判定した場合はその代表波形データを診断対象から除外する。ノイズによるものではない有効データが含まれていると判定した場合は、その代表波形データを記憶部２２に診断用波形データ群２２３として格納するが、ケースによっては代表波形データ中のノイズに起因すると判定した有効データを、その周囲のデータで置き換えることにより得られる代表波形データを、診断用波形データ群２２３として格納する。ノイズ処理部２３は、処理結果を診断部２４に送信する。ノイズ除去部２３２は、有効データ数算定部２３２ａと第１有効データ数判定部２３２ｂと有効データ数偏り判定部２３２ｃと第２有効データ数判定部２３２ｄと継続時間判定部２３２ｅと同期性判定部２３２ｆとを備え、これらにより上記処理を次のようにして実施する。   When it is determined that valid data is included, the representative waveform data is processed by the noise removing unit 232. The noise processing unit 23 determines whether the included valid data is due to noise, and if it is determined to be due to noise, excludes the representative waveform data from the diagnosis target. If it is determined that valid data that is not caused by noise is included, the representative waveform data is stored in the storage unit 22 as the diagnostic waveform data group 223. However, depending on the case, it may be caused by noise in the representative waveform data. Representative waveform data obtained by replacing the determined effective data with the surrounding data is stored as a diagnostic waveform data group 223. The noise processing unit 23 transmits the processing result to the diagnosis unit 24. The noise removal unit 232 includes an effective data number calculation unit 232a, a first effective data number determination unit 232b, an effective data number bias determination unit 232c, a second effective data number determination unit 232d, a duration determination unit 232e, and a synchronization determination unit 232f. And the above processing is carried out as follows.

有効データ数算定部２３２ａは、各周波数の代表波形データに含まれる有効データの数Ｎｅｆｆを算定する。ただし、有効データが連続する場合はこれらを結合して連続する部分全体を１と数える。有効データの数Ｎｅｆｆは、代表波形データを例えば二値化することによって簡単に算定することができる。二値化は、代表波形データの各波高値が予め設定された閾値Ｈｔｈ’を超えたとき例えば「１」、そうでないとき「０」とする。有効データ数Ｎｅｆｆは、「１」の塊数を計数することにより得られる。閾値Ｎｔｈ’は、例えば、代表波形データの平均値に所定の裕度を加えた値とする。   The effective data number calculation unit 232a calculates the number Neff of effective data included in the representative waveform data of each frequency. However, when valid data is continuous, these are combined and the entire continuous portion is counted as one. The number of effective data Neff can be easily calculated by binarizing the representative waveform data, for example. The binarization is, for example, “1” when each peak value of the representative waveform data exceeds a preset threshold value Hth ′, and “0” otherwise. The effective data number Neff is obtained by counting the number of chunks of “1”. The threshold value Nth ′ is, for example, a value obtained by adding a predetermined margin to the average value of the representative waveform data.

第１有効データ数判定部２３２ｂは、有効データ数算定部２３２ａで得られた有効データ数Ｎｅｆｆが、次式（３）を満たすかどうかを判定する。
Ｎｅｆｆ＞Ｎｍａｘ （３）
Ｎｍａｘ; 第１の有効データ数閾値で、例えば８に設定される。 The first valid data number determination unit 232b determines whether the valid data number Neff obtained by the valid data number calculation unit 232a satisfies the following expression (3).
Neff> Nmax (3)
Nmax; the first threshold value of valid data number, for example, set to 8.

電気機器の部分放電は、動作用に供給されている商用交流電力信号の強度が、０と極大値又は極小値との間の増加する位相範囲で発生する。このような位相範囲は、それぞれが１／４周期の位相範囲であり、一回の計測時間を商用交流電力信号の２サイクル分としたときは４箇所存在する。Ｎｅｆｆを後述する塊化処理したあとの数とすれば、Ｎｍａｘを４に設定できるが、ノイズ成分除去処理の初めの段階の、ノイズに起因する有効データが含まれる可能性が高い代表波形データで塊化処理を実行すると不都合が生じるため、（３）式は塊化処理実施前における予備的な判定式という位置づけになる。そのため、Ｎｍａｘは４よりも大きな裕度をとり、例えば８とする。尚、Ｎｍａｘは波形データとして取得されるサイクル数に依存して設定される。   The partial discharge of the electric device occurs in a phase range in which the intensity of the commercial AC power signal supplied for operation increases between 0 and a maximum value or a minimum value. Each of such phase ranges is a phase range of ¼ period, and there are four locations when one measurement time is two cycles of the commercial AC power signal. If Neff is the number after agglomeration processing described later, Nmax can be set to 4, but it is representative waveform data that is likely to contain valid data due to noise at the beginning of the noise component removal processing. Since inconvenience occurs when the agglomeration process is executed, the expression (3) is positioned as a preliminary judgment expression before the agglomeration process is performed. Therefore, Nmax has a tolerance greater than 4, for example, 8. Nmax is set depending on the number of cycles acquired as waveform data.

（３）式が満たされる場合は、第１有効データ数判定部２３２ｂは、この代表波形データはノイズ成分を多く含むと判断し、これを診断対象波形データ群に含めず、データ処理部２３は次の診断対象周波数の代表波形データの処理に移行する。（３）式が満たされない場合は、有効データ数偏り判定部２３２ｃでの処理が実行される。 When the expression (3) is satisfied, the first valid data number determination unit 232b determines that the representative waveform data includes a lot of noise components, does not include this in the diagnosis target waveform data group, and the data processing unit 23 The process proceeds to processing of representative waveform data of the next diagnosis target frequency. When the expression (3) is not satisfied, the processing in the valid data number deviation determination unit 232c is executed.

有効データ数偏り判定部２３２ｃは、有効データについて後述する塊化処理を行い、代表波形データのある１サイクル分と他の１サイクル分（波形データが２サイクル分のデータの場合は最初の１サイクル分と次の１サイクル分）にそれぞれ含まれる有効データの数Ｎｅｆｆ１、Ｎｅｆｆ２を塊化処理後の塊の数として算定し、次式（４）を満たすかどうかを判定する。
ΔＮ＝｜Ｎｅｆｆ１−Ｎｅｆｆ２｜＞ΔＮｄ （４）
ΔＮｄ；偏りの閾値で、例えば２に設定される。 The valid data number deviation determination unit 232c performs agglomeration processing, which will be described later, on valid data, and one cycle of representative waveform data and another cycle (if the waveform data is data of two cycles, the first cycle) The number Neff 1 and Neff 2 of valid data included in each of the minute and the next one cycle) are calculated as the number of chunks after the agglomeration process, and it is determined whether or not the following equation (4) is satisfied.
ΔN = | Neff 1 −Neff 2 |> ΔNd (4)
ΔNd: bias threshold, for example, 2

塊化処理とは、有効データが時間軸に沿って連続する場合に、連続する有効データ群を一塊として処理したあと、隣り合う有効データ群の間に有効データでない領域が予め設定された閾値（即ち時間軸上の設定ポイント数）以下であれば、この領域も有効データ群に含めるという処理である。この塊化処理も、２値化データを使用することにより簡便に実行することができる。この閾値は例えば４ポイントに設定される。   In the agglomeration process, when valid data is continuous along the time axis, a continuous valid data group is processed as a lump, and then a non-valid data area between adjacent valid data groups is set in advance ( That is, if the number is less than or equal to the number of set points on the time axis, this area is also included in the valid data group. This agglomeration process can also be easily performed by using binary data. This threshold is set to 4 points, for example.

有効データが部分放電に起因するもののみであればΔＮは、適切に設定されたΔＮｄ、例えば２、を超えることはない。そのため、（４）式を満たす場合は、有効データ数偏り判定部２３２ｃは、この代表波形データがノイズ成分である有効データを含むと判断し、この代表波形データを異常診断の対象から除外し、データ処理部２３は、次の診断対象周波数の代表波形データの処理を開始する。（４）式を満たさない場合は、第２有効データ数判定部２３２ｄでの処理が実行される。   If the valid data is only due to partial discharge, ΔN does not exceed an appropriately set ΔNd, eg, 2. Therefore, when the expression (4) is satisfied, the valid data number deviation determination unit 232c determines that the representative waveform data includes valid data that is a noise component, excludes the representative waveform data from the target of abnormality diagnosis, The data processing unit 23 starts processing the representative waveform data of the next diagnosis target frequency. When the expression (4) is not satisfied, the process in the second valid data number determination unit 232d is executed.

第２有効データ数判定部２３２ｄは、有効データ数偏り判定部２３２ｃが、ΔＮは（４）式を満たさない、と判定したとき、塊化処理後の有効データ数Ｎｅｆｆｃを算定し、Ｎｅｆｆｃが次式（５）を満たすかどうかを判定する。
Ｎｅｆｆｃ＞Ｎｍａｘｃ （５）
Ｎｍａｘｃ；第２の有効データ数閾値で、例えば４に設定される。 The second valid data number determination unit 232d calculates the valid data number Neffc after the agglomeration process when the valid data number bias determination unit 232c determines that ΔN does not satisfy the equation (4). It is determined whether or not Expression (5) is satisfied.
Neffc> Nmaxc (5)
Nmaxc; second threshold value of valid data, for example, set to 4.

第２有効データ数判定部２３２ｄは、Ｎｅｆｆｃが（５）式を満たす場合は、この代表波形データがノイズ成分である有効データを含むと判断し、この代表波形データを異常診断の対象から除外し、データ処理部２３は、次の診断対象周波数の代表波形データの処理を開始する。（５）式を満たさない場合は、継続時間判定部２３２ｅでの処理が実行される。   The second valid data number determination unit 232d determines that the representative waveform data includes valid data that is a noise component if Neffc satisfies Equation (5), and excludes the representative waveform data from the target of abnormality diagnosis. The data processing unit 23 starts processing the representative waveform data of the next diagnosis target frequency. When the expression (5) is not satisfied, the processing in the duration determination unit 232e is executed.

継続時間判定部２３２ｅは、有効データの塊化処理後のｊ番目（ｊ＝１〜ｊｍａｘ）の塊の領域の波形データ時間軸上での幅、即ちサンプリングポイント数を継続時間Ｔｃｊとして算定し、ｊ番目の塊の継続時間Ｔｃｊが次式（６）を満たすかどうかを判定する。
Ｔｃｊ＞Ｔｔｈ （６）
Ｔｔｈ；予め設定された継続時間の閾値である。
Ｔｔｈは、部分放電が発生しうる１／４位相範囲に対応するポイント数であり、波形データの時間軸のサンプリングポイント数を１００ポイントとしたときは、例えば１０−１４ポイントに設定される。 The duration determination unit 232e calculates, as the duration Tcj, the width on the waveform data time axis of the j-th (j = 1 to j max ) chunk area after the effective data chunking process, that is, the number of sampling points. , It is determined whether the duration Tcj of the j-th chunk satisfies the following expression (6).
Tcj> Tth (6)
Tth: a preset threshold value of duration.
Tth is the number of points corresponding to a ¼ phase range in which partial discharge can occur, and is set to, for example, 10-14 points when the number of sampling points on the time axis of the waveform data is 100 points.

継続時間判定部２３２ｅは、式（６）が満たされていると判定したときは、当該ｊ番目の塊にかかる有効データの部位は、継続時間の観点から、部分放電に起因したものではなく、ノイズ成分であると判定する。   When the duration determination unit 232e determines that the expression (6) is satisfied, the portion of the effective data related to the j-th block is not caused by partial discharge from the viewpoint of duration, The noise component is determined.

継続時間判定部２３２ｅは、継続時間Ｔｃｊのｊ＝１，２・・ｊｍａｘのうち一つでも式（６）を満たすと判定したときは、その代表波形データをノイズ成分と見なして診断用波形データ群２２３から削除し、データ処理部２３は次の診断対象周波数の代表波形データの処理を開始する。継続時間Ｔｃｊが全て式（６）を満たさないと判定したときは、その代表波形データは同期性判定部２３２ｆでの処理に移される。なお、継続時間判定部２３２ｅは、判定後の処理について他の方法を採用してもよい。例えば、算定した継続時間Ｔｃｊのｊ＝１，２・・ｊｍａｘのすべてが式（６）を満たすと判定したとき、継続時間判定部２３２ｅは、対応する代表波形データをノイズ成分と見なして診断用波形データ群２２３から除去し、データ処理部２３は次の診断対象周波数の代表波形データの処理を開始する。そして、算定した継続時間Ｔｃｊの一部のみが、式（６）を満たす、すなわちノイズ成分であると判定したときは、当該継続時間Ｔｃｊに対応する有効データの部位を診断対象から除く処理、例えば、対応する部位の代表波形データをその有効データの部位に隣接する部位の代表波形データの値で内挿して置き換えるという処理を行う。そのような継続時間Ｔｃｊを有する有効データの部位がなければ、代表波形データはそのままにする。いずれの場合もその代表波形データは同期性判定部２３２ｆでの処理に移される。 When the duration determination unit 232e determines that at least one of j = 1, 2,... J max of the duration Tcj satisfies Expression (6), the representative waveform data is regarded as a noise component, and the diagnostic waveform The data processing unit 23 deletes the data from the data group 223, and starts processing the representative waveform data of the next diagnosis target frequency. When it is determined that all the durations Tcj do not satisfy the formula (6), the representative waveform data is transferred to the process in the synchronism determining unit 232f. The duration determination unit 232e may adopt another method for the processing after the determination. For example, when it is determined that j = 1, 2... J max of the calculated duration Tcj satisfy all the expressions (6), the duration determination unit 232e performs diagnosis by regarding the corresponding representative waveform data as a noise component. The data processing unit 23 starts processing the representative waveform data of the next diagnosis target frequency. Then, when it is determined that only a part of the calculated duration Tcj satisfies the formula (6), that is, is a noise component, a process of removing the effective data portion corresponding to the duration Tcj from the diagnosis target, for example Then, a process of interpolating and replacing the representative waveform data of the corresponding part with the value of the representative waveform data of the part adjacent to the part of the effective data is performed. If there is no valid data portion having such a duration Tcj, the representative waveform data is left as it is. In either case, the representative waveform data is transferred to processing in the synchronism determining unit 232f.

同期性判定部２３２ｆは、塊化処理後の有効データの同期性の判定に先立ち、幅拡張処理を行う。幅拡張処理は、塊化処理して得られるそれぞれの一塊の有効データの部位について、有効データの範囲を両端に予め設定したポイント数分、例えば１−２ポイント分拡張するという処理である。二値化処理の場合は、一塊の「１」の領域の両端の１−２ポイントの「０」の値を「１」に置き換える処理となる。この処理はこの後に実行される同期性判定において時間的な裕度を持たせるために行われる。以下の同期性判定処理については、説明の便宜上、幅拡張処理後の二値化データを使用するものとして説明する。   The synchronization determination unit 232f performs a width expansion process prior to determining the synchronization of valid data after the agglomeration process. The width expansion process is a process of expanding the effective data range by a preset number of points at both ends, for example, 1-2 points, for each lump of effective data portions obtained by the agglomeration process. In the case of the binarization process, the “0” value of 1-2 points at both ends of the “1” area of the lump is replaced with “1”. This process is performed in order to provide a time margin in the synchronization determination executed later. The following synchronism determination process will be described assuming that the binarized data after the width expansion process is used for convenience of explanation.

同期性判定部２３２ｆは、幅拡張処理後の二値化データに基づき、その有効データ部である値「１」の領域が、各サイクル間で同期しているかどうかを判定する。この判定は次の処理を含む。まず、幅拡張後の二値化データを商用交流電力信号の１サイクル毎に分割し、分割後の二値化データの時間軸の原点を揃える。このとき、あるサイクルの二値化データの「１」の領域と、他のサイクルの二値化データの「１」の領域との間に、時間軸上で重なるポイントが存在するかどうかを判定する。重なるポイントが存在するときは同期性があり、存在しない時は同期性がないと判定する。   The synchronism determination unit 232f determines whether or not the region of the value “1” that is the effective data unit is synchronized between the cycles based on the binarized data after the width expansion processing. This determination includes the following processing. First, the binarized data after the width expansion is divided for each cycle of the commercial AC power signal, and the origin of the time axis of the binarized data after the division is aligned. At this time, it is determined whether or not there is an overlapping point on the time axis between the “1” area of the binarized data of a certain cycle and the “1” area of the binarized data of another cycle. To do. When there is an overlapping point, there is synchronization, and when there is no point, it is determined that there is no synchronization.

同期性判定部２３２ｆは、その代表波形データについて同期性がないと判定したときは、その代表波形データを診断対象外とする。部分放電に起因する信号は同期性を有するので、互いに同期性のない場合は、これをノイズ成分であると判定するのである。一方、同期性があると判定したときは、その結果を診断部２４に送信するとともに、対応する代表波形データを、記憶部２２に診断用波形データ群２２３として格納する。いずれの場合もデータ処理部２３は次の診断対象周波数の代表波形データについて、これまで説明した処理を繰り返す。   When the synchronism determining unit 232f determines that the representative waveform data is not synchronic, the synchronicity determining unit 232f excludes the representative waveform data from the diagnosis target. Since the signals resulting from the partial discharge have synchronicity, if they are not synchronic with each other, they are determined to be noise components. On the other hand, when it is determined that there is synchronization, the result is transmitted to the diagnosis unit 24, and corresponding representative waveform data is stored in the storage unit 22 as a diagnostic waveform data group 223. In either case, the data processing unit 23 repeats the processing described so far for the representative waveform data of the next diagnosis target frequency.

同期性判定に、継続時間について幅拡張を行った後の二値化データを使用するのは、同期性判定に裕度を持たせるためである。部分放電の同期性はそれほど厳密なものではなく、若干の位相誤差を伴うものである。そのため、同期性判定において、有効データ部の継続時間が短いと、２つのサイクル間の有効データ部が、略同期している場合でも厳密に同期していないときは、それらは同期していないと判断されてしまう。このような事態を避けるために同期性判定に幅拡張後の二値化データを使用し、同期性判定に裕度を持たせる。   The reason for using the binarized data after the width extension for the duration in the synchronization determination is to allow a margin for the synchronization determination. The partial discharge synchrony is not so strict and involves some phase error. Therefore, in the synchronization determination, if the duration of the valid data part is short, the valid data part between the two cycles is not synchronized when it is not strictly synchronized even when it is substantially synchronized. It will be judged. In order to avoid such a situation, binarized data after width expansion is used for the synchronization determination, and a margin is given to the synchronization determination.

診断部２４は、各周波数の代表波形データ毎の同期性判定結果及び／又はノイズ成分を除去した診断用波形データ群２２３のデータを使って異常診断を行う。以下に診断処理の一例を説明する。   The diagnosis unit 24 performs abnormality diagnosis by using the data of the diagnosis waveform data group 223 from which the synchronization determination result and / or the noise component is removed for each representative waveform data of each frequency. An example of the diagnosis process will be described below.

診断部２４は、同期性判定部２３２ｆの判定後、診断用波形データ群２２３から、同期性のある有効データ数が、例えば４個以下の適正な数存在すると判定された代表波形データの数Ｎａｂを算定する。この代表波形データでは、部分放電信号（ＰＤ信号）が検知された可能性が高いといえるので、ＮａｂをＰＤ検出数と呼ぶことにする。診断部２４は、ＰＤ検出数Ｎａｂが次式（７）を満たすと判定したときは、部分放電ありと診断する。
Ｎａｂ＞Ｎａｂｓ （７）
Ｎａｂｓ；部分放電ありと診断するときの閾値で、例えば５。
閾値Ｎａｂｓが大きいほど、診断の信頼性が向上する。診断部２４は、診断の結果を記憶部２２に格納するとともに出力制御部２５を介して出力装置４に出力する。 After the determination by the synchronism determining unit 232f, the diagnosis unit 24 determines the number Nab of representative waveform data determined from the diagnostic waveform data group 223 that there is an appropriate number of synchronous valid data, for example, four or less. Is calculated. In this representative waveform data, it can be said that there is a high possibility that a partial discharge signal (PD signal) has been detected, so Nab will be referred to as the number of detected PDs. When the diagnosis unit 24 determines that the PD detection number Nab satisfies the following expression (7), the diagnosis unit 24 diagnoses that partial discharge is present.
Nab> Nabs (7)
Nabs: Threshold value for diagnosis of partial discharge, for example, 5.
The greater the threshold value Nabs, the more reliable the diagnosis. The diagnosis unit 24 stores the diagnosis result in the storage unit 22 and outputs it to the output device 4 via the output control unit 25.

図７に、異常診断用装置１００による動作を示すフロー図を示す。異常診断用装置１００の計測制御部２０は、入力装置３から入力される周波数範囲、計測の種別を含む計測開始の指示により動作を開始する。計測制御部２０は、入力される計測開始の指示がバックグランド計測の指示であるか、異常診断計測の指示であるかを判定する（図７のステップＳ１）。バックグランド計測の指示であれば（ステップＳ１；ＹＥＳ）、バックグランド計測を開始し、異常診断計測の指示であれば（ステップＳ１；ＮＯ）、異常診断計測を開始する。バックグランド計測の指示は異常診断計測の指示に先行して入力される。従って、バックグランド計測が実行され、除外周波数が設定された後、異常診断計測が実行される。なお、計測環境が変わらないと判断できれば、バックグランド計測のあと、異常診断計測を複数回実行してもよい。   FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the abnormality diagnosis apparatus 100. The measurement control unit 20 of the abnormality diagnosis device 100 starts an operation in response to a measurement start instruction including the frequency range and the measurement type input from the input device 3. The measurement control unit 20 determines whether the input measurement start instruction is a background measurement instruction or an abnormality diagnosis measurement instruction (step S1 in FIG. 7). If it is an instruction for background measurement (step S1; YES), background measurement is started, and if it is an instruction for abnormality diagnosis measurement (step S1; NO), abnormality diagnosis measurement is started. The background measurement instruction is input prior to the abnormality diagnosis measurement instruction. Therefore, after background measurement is performed and an excluded frequency is set, abnormality diagnosis measurement is performed. If it can be determined that the measurement environment does not change, the abnormality diagnosis measurement may be executed a plurality of times after the background measurement.

バックグランド計測の指示が入力されたと判定された場合（ステップＳ１；ＹＥＳ）について説明する。このときは、ＢＧ計測制御部２００の制御により、バックグランド計測処理が実行される（ステップＳ２）。   A case where it is determined that a background measurement instruction has been input (step S1; YES) will be described. At this time, a background measurement process is executed under the control of the BG measurement control unit 200 (step S2).

ステップＳ２のバックグランド計測処理の詳細を、図８に示す。ＢＧ計測制御部２００は、バックグランド計測に係る計測条件を設定する（図８のステップＳ２０）。ＢＧ計測制御部２００は、記憶部２２から計測条件２２１を読み出して、計測対象とする周波数、１回の計測時間、即ち商用交流電力信号の例えば２サイクル分に相当する計測時間、同一周波数での繰り返し計測回数ＮＢなどの計測条件を設定する。それぞれの計測は商用交流電力信号と同期するように計測開始のタイミングが設定される。計測対象とする周波数は、入力された周波数範囲を予め定められた分割点数ｉｍａｘ、例えばｉｍａｘ=１００で分割したときのそれぞれの分割点を代表する周波数Ｆｉ(ｉ=１〜ｉｍａｘ)に設定される。 Details of the background measurement process in step S2 are shown in FIG. The BG measurement control unit 200 sets measurement conditions related to background measurement (step S20 in FIG. 8). The BG measurement control unit 200 reads the measurement condition 221 from the storage unit 22, the frequency to be measured, one measurement time, that is, the measurement time corresponding to, for example, two cycles of the commercial AC power signal, at the same frequency to set the measurement conditions such as the repetition number of times of measurement N B. The measurement start timing is set so that each measurement is synchronized with the commercial AC power signal. The frequency to be measured is a frequency Fi (i = 1 to i max ) representing each division point when the input frequency range is divided by a predetermined division point number i max , for example, i max = 100. Is set.

ＢＧ計測制御部２００は、設定した計測条件に従って、計測部１とデータ取得部２１とを制御することにより、計測部１での周波数Ｆｉの例えば２サイクル分の波形データの計測を行い（ステップＳ２１）、データ取得部２１を介して、計測した波形データを取得する（ステップＳ２２）。この計測は、ステップＳ２３及びステップＳ２４を介して、繰り返し計測回数ｋがＮＢに等しくなるまで行われる。繰り返し計測回数ｋがＮＢ回になると（ステップＳ２３；ＹＥＳ）、データ取得部２１は、取得したＮＢ個の波形データから周波数Ｆｉの代表波形データを生成し（ステップＳ２５）、波形データ群２２０の一部として記憶部２２に格納する（ステップＳ２６）。ステップＳ２１〜Ｓ２６の処理は、ステップＳ２７及びステップＳ２８を介して、計測条件で設定された計測対象とする周波数Ｆｉの全て（ｉ＝１〜ｉｍａｘ）について実行され、ｉ＝ｉｍａｘになると（ステップＳ２７；ＹＥＳ）、データ取得部２１はバックグランド計測が終了した旨の信号をデータ処理部２３に送信する。その後、データ処理部２３は、次の除外周波数設定処理を開始する（図７のステップＳ３）。 The BG measurement control unit 200 controls the measurement unit 1 and the data acquisition unit 21 according to the set measurement conditions, thereby measuring, for example, two cycles of waveform data of the frequency Fi in the measurement unit 1 (step S21). ) The measured waveform data is acquired via the data acquisition unit 21 (step S22). This measurement, via step S23 and step S24, repeating the measurement number k is performed until equal to N B. Repeated measurement number k becomes N B times (step S23; YES), the data acquisition unit 21 generates a representative waveform data of the frequency Fi from the acquired N B number of waveform data (step S25), and the waveform data group 220 Is stored in the storage unit 22 as a part of (step S26). The processes in steps S21 to S26 are executed for all the frequencies Fi to be measured (i = 1 to imax ) set in the measurement conditions via steps S27 and S28, and when i = imax ( Step S27; YES), the data acquisition unit 21 transmits a signal indicating that the background measurement has been completed to the data processing unit 23. Thereafter, the data processing unit 23 starts the next excluded frequency setting process (step S3 in FIG. 7).

除外周波数設定処理の詳細を図９に示す。ＢＧ計測制御部２００の制御により、図４に示すデータ処理部２３の有効データ有無判定部２３０と除外周波数設定部２３１とが図９に示すフロー図に従って図７の除外周波数設定処理（ステップＳ３）を実行する。   Details of the excluded frequency setting process are shown in FIG. Under the control of the BG measurement control unit 200, the valid data presence / absence determination unit 230 and the exclusion frequency setting unit 231 of the data processing unit 23 illustrated in FIG. 4 perform the exclusion frequency setting process of FIG. 7 according to the flowchart illustrated in FIG. 9 (step S3). Execute.

データ処理部２３は、データ取得部２１から送信されたバックグランド計測が終了した旨の信号を受けると除外周波数設定処理（図７のステップＳ３、即ち図９に示す処理）を開始する。この処理が開始されると、有効データ有無判定部２３０は、前処理として、記憶部２２の除外周波数既知情報２２２ａを読み込み（図９のステップＳ３０）、波形データ群２２０の中の処理対象とする代表波形データの周波数Ｆｉが、除外周波数既知情報２２２ａに含まれている既知の除外周波数かどうかを判定する（ステップＳ３１）。既知の除外周波数であれば（ステップＳ３１；ＹＥＳ）、ステップＳ３５とステップＳ３６を介して、次の周波数に移行し、ステップＳ３１の処理に戻る。   When the data processing unit 23 receives the signal indicating that the background measurement transmitted from the data acquisition unit 21 is completed, the data processing unit 23 starts the exclusion frequency setting process (step S3 in FIG. 7, that is, the process illustrated in FIG. 9). When this process is started, the valid data presence / absence determination unit 230 reads the excluded frequency known information 222a in the storage unit 22 as a preprocessing (step S30 in FIG. 9) and sets it as a processing target in the waveform data group 220. It is determined whether the frequency Fi of the representative waveform data is a known excluded frequency included in the excluded frequency known information 222a (step S31). If it is a known excluded frequency (step S31; YES), the process proceeds to the next frequency via steps S35 and S36, and the process returns to step S31.

周波数Ｆｉが、既知の除外周波数でなければ（ステップＳ３１；ＮＯ）、有効データ有無判定部２３０は、記憶部２２の波形データ群２２０から周波数Ｆｉの代表波形データを読み込み（ステップＳ３２）、この代表波形データについて有効データ有無の判定を行う（ステップＳ３３）。有効データなしという判定結果（ステップＳ３３；ＮＯ）の場合は、有効データ有無判定部２３０は、ステップＳ３５とステップＳ３６を介して、次の周波数に移行し、ステップＳ３１の処理に戻る。   If the frequency Fi is not a known excluded frequency (step S31; NO), the valid data presence / absence determining unit 230 reads the representative waveform data of the frequency Fi from the waveform data group 220 of the storage unit 22 (step S32), and this representative. The presence / absence of valid data is determined for the waveform data (step S33). In the case of the determination result that there is no valid data (step S33; NO), the valid data presence / absence determination unit 230 shifts to the next frequency via steps S35 and S36, and returns to the process of step S31.

有効データ有りという判定結果（ステップＳ３３；ＹＥＳ）の場合は、有効データ有無判定部２３０は、周波数Ｆｉを除外周波数として設定すると共に、その旨を除外周波数設定部２３１に通知し（ステップＳ３４）、ステップＳ３５及びステップＳ３６を介して、次の周波数に移行し、ステップＳ３１の処理に戻る。   In the case of the determination result that there is valid data (step S33; YES), the valid data presence / absence determining unit 230 sets the frequency Fi as an excluded frequency and notifies the excluded frequency setting unit 231 to that effect (step S34). The process proceeds to the next frequency via steps S35 and S36, and the process returns to step S31.

ステップＳ３１〜Ｓ３４の処理は、ステップＳ３５及びステップＳ３６を介して、計測対象とする周波数Ｆｉの全て（ｉ＝１〜ｉｍａｘ）について実行され、ｉ＝ｉｍａｘになると（ステップＳ３５；ＹＥＳ）、除外周波数設定部２３１は、記憶部２２の除外周波数既知情報２２２ａと有効データ有無判定部２３０から除外周波数であると通知された周波数とに基づき、図６に除外範囲として例示するように、除外周波数を拡大して最終的な除外周波数を設定する（ステップＳ３７）。これにより、図７のステップＳ３に示す除外周波数設定処理が終了する。 Processing in step S31~S34, via step S35 and step S36, is performed for all frequencies Fi to be measured (i = 1~i max), becomes the i = i max (step S35; YES), Based on the excluded frequency known information 222a stored in the storage unit 22 and the frequency notified from the valid data presence / absence determining unit 230 as the excluded frequency, the excluded frequency setting unit 231 includes the excluded frequency as illustrated in FIG. Is expanded to set the final exclusion frequency (step S37). Thereby, the exclusion frequency setting process shown in step S3 of FIG. 7 ends.

除外周波数設定部２３１は、図７のステップＳ３で設定された除外周波数を記憶部２２の除外周波数設定情報２２２ｂとして格納する（図７のステップＳ４）。   The excluded frequency setting unit 231 stores the excluded frequency set in step S3 in FIG. 7 as excluded frequency setting information 222b in the storage unit 22 (step S4 in FIG. 7).

次に、図７のステップＳ１で、異常診断計測の指示が入力されたと判定された場合（ステップＳ１；ＮＯ）について説明する。このときは、診断用計測制御部２０１の制御により、診断用計測処理が実行される（ステップＳ５）。   Next, the case where it is determined in step S1 of FIG. 7 that an instruction for abnormality diagnosis measurement has been input (step S1; NO) will be described. At this time, a diagnostic measurement process is executed under the control of the diagnostic measurement control unit 201 (step S5).

図７のステップＳ５の診断用計測処理の詳細を図１０に示す。診断用計測制御部２０１は、まず、記憶部２２の除外周波数設定情報２２２ｂを読み込む（ステップＳ５０）。次に、診断用計測制御部２０１は、異常診断計測に係る計測条件を設定する（図１０のステップＳ５１）。計測条件の設定にあたって、診断用計測制御部２０１は、記憶部２２から計測条件２２１を読み出して、計測周波数、１回当たりの計測時間、即ち商用交流電力信号の例えば２サイクル分に相当する計測時間、同一周波数での繰り返し計測回数などの計測条件を設定する。それぞれの計測は商用交流電力信号と同期するように計測開始のタイミングが設定される。計測対象とする周波数は、対応するバックグランド計測と同じに設定される。   Details of the measurement process for diagnosis in step S5 of FIG. 7 are shown in FIG. The diagnostic measurement control unit 201 first reads the excluded frequency setting information 222b in the storage unit 22 (step S50). Next, the diagnostic measurement control unit 201 sets measurement conditions related to abnormality diagnosis measurement (step S51 in FIG. 10). In setting the measurement conditions, the diagnostic measurement control unit 201 reads the measurement conditions 221 from the storage unit 22 and measures the measurement frequency, the measurement time per time, that is, the measurement time corresponding to, for example, two cycles of the commercial AC power signal. Set measurement conditions such as the number of repeated measurements at the same frequency. The measurement start timing is set so that each measurement is synchronized with the commercial AC power signal. The frequency to be measured is set to be the same as the corresponding background measurement.

なお、診断用計測制御部２０１は、異常診断計測における繰り返し計測回数のうち、除外周波数についての繰り返し計測回数Ｎ１については、計測条件２２１から読み出し、診断対象周波数についての繰り返し計測回数Ｎ２については、既に説明した方法により算定して設定する。 Incidentally, the diagnostic measurement control unit 201, out of the repetition number of measurements in the abnormality diagnosis measurement, the repetition number of measurement times N 1 for exclusion frequency reads from the measurement conditions 221, the repetition number of times of measurement of N 2 for diagnosis target frequency Calculate and set by the method already explained.

次に、診断用計測制御部２０１は、計測対象とする周波数Ｆｉ（ｉ＝１〜ｉｍａｘ）について、除外周波数設定情報２２２ｂに含まれている除外周波数であるかどうかを判定する（図１０のステップＳ５２）。除外周波数であれば（ステップＳ５２；ＹＥＳ）、その周波数Ｆｉについては、繰り返し計測回数Ｎ＝Ｎ１とし（ステップＳ５３）、除外周波数でなければ（ステップＳ５２；ＮＯ）、その周波数Ｆｉについては、繰り返し計測回数Ｎ＝Ｎ２とする（ステップＳ５４）。診断用計測制御部２０１は、このように設定された繰り返し計測回数Ｎを含む計測条件に従って、計測部１及びデータ取得部２１を制御して、周波数Ｆｉの波形データを計測し（ステップＳ５５）、取得する（ステップＳ５６）。この計測は、ステップＳ５７とステップＳ５８を介して、各周波数においてＮ回、即ち、除外周波数ではＮ１回、診断対象周波数ではＮ２回、繰り返される。繰り返し計測回数ｋがＮ回になると（ステップＳ５７；ＹＥＳ）、得られたＮ個の波形データから代表波形データが生成され（ステップＳ５９）、記憶部２２に格納され、波形データ群２２０が構成される。なお、Ｎが１の場合は、代表波形データは計測された波形データそのものとなる。ステップＳ５２〜Ｓ６０の処理は、ステップＳ６１とステップＳ６２を介して、各周波数Ｆｉにおいて実行され、ｉ＝ｉｍａｘとなったとき（ステップＳ６１；ＹＥＳ）完了する。以上で図７のステップＳ５の診断用計測処理が完了し、次のステップＳ６のノイズ除去処理が実行される。 Next, the diagnostic measurement control unit 201 determines whether or not the frequency Fi (i = 1 to i max ) to be measured is an excluded frequency included in the excluded frequency setting information 222b (FIG. 10). Step S52). If negative frequency (step S52; YES), for the frequency Fi, a repetition number of measurements N = N 1 (step S53), if not excluded frequency (step S52; NO), its frequency Fi is repeated The number of times of measurement is N = N 2 (step S54). The diagnostic measurement control unit 201 controls the measurement unit 1 and the data acquisition unit 21 according to the measurement conditions including the number of repeated measurements N set in this way, and measures the waveform data of the frequency Fi (step S55). Obtain (step S56). This measurement is repeated N times at each frequency, that is, N 1 times for the excluded frequency and N 2 times for the diagnosis target frequency, through steps S57 and S58. When the number of repeated measurements k reaches N (step S57; YES), representative waveform data is generated from the obtained N pieces of waveform data (step S59), and is stored in the storage unit 22 to form the waveform data group 220. The When N is 1, the representative waveform data is the measured waveform data itself. The processing of steps S52 to S60 is executed at each frequency Fi through steps S61 and S62, and is completed when i = i max (step S61; YES). Thus, the diagnostic measurement process in step S5 in FIG. 7 is completed, and the noise removal process in the next step S6 is executed.

図７のステップＳ６のノイズ除去処理の詳細を図１１に示す。図１１は、図５に示す異常診断計測時のデータ処理部２３について説明した内容をフロー図で示したものであるため、詳細についての説明は省略するが、データ処理部２３での処理内容は、図１１に示すフロー図と次の様に対応している。有効データ有無判定部２３０の処理内容は図１１のステップＳ７０〜Ｓ７３に対応する。なお、ステップＳ７１では、診断対象周波数をＦｎ’（ｎ＝１〜ｎｍａｘ）として明示した。有効データ数算定部２３２ａの処理内容はステップＳ７５に、第１有効データ数判定部２３２ｂの処理内容はステップＳ７６にそれぞれ対応する。有効データ数偏り判定部２３２ｃの処理内容はステップＳ７７とステップＳ７８に対応する。第２有効データ数判定部２３２ｄの処理内容はステップＳ７９、ステップＳ８０に対応する。継続時間判定部２３２ｅの処理内容はステップＳ８１、ステップＳ８２に対応する。同期性判定部２３２ｆの処理内容はステップＳ８３〜Ｓ８７に対応する。ステップＳ７３、ステップＳ８２、ステップＳ８４のいずれかがＮＯのとき、及びステップＳ７６、ステップＳ７８、ステップＳ８０のいずれかがＹＥＳのときは、それぞれにおいてステップＳ８７とステップＳ７４を介して、診断対象周波数Ｆｎ’（ｎ＝１〜ｎｍａｘ）の各周波数について、ステップＳ７２以降、最大でステップＳ８６までの処理が実行される。なお、ステップＳ８２に示す継続時間判定部２３２ｅの処理内容は、一例であり、図５に関して説明した継続時間判定部２３２ｅの処理内容も選択することができる。図７のステップＳ６のノイズ除去処理の後はステップＳ７の異常診断処理に移行する。 Details of the noise removal processing in step S6 in FIG. 7 are shown in FIG. FIG. 11 is a flowchart showing the contents described for the data processing unit 23 at the time of abnormality diagnosis measurement shown in FIG. 5, so that the detailed description is omitted, but the processing contents in the data processing unit 23 are as follows. The flow chart shown in FIG. 11 corresponds to the following. The processing content of the valid data presence / absence determination unit 230 corresponds to steps S70 to S73 in FIG. In step S71, the diagnosis target frequency is specified as Fn ′ (n = 1 to n max ). The processing content of the valid data number calculation unit 232a corresponds to step S75, and the processing content of the first valid data number determination unit 232b corresponds to step S76. The processing content of the valid data number deviation determination unit 232c corresponds to step S77 and step S78. The processing contents of the second valid data number determination unit 232d correspond to steps S79 and S80. The processing content of the duration determination unit 232e corresponds to step S81 and step S82. The processing content of the synchronization determination unit 232f corresponds to steps S83 to S87. When any of step S73, step S82, and step S84 is NO, and when any of step S76, step S78, and step S80 is YES, the diagnosis target frequency Fn ′ is respectively passed through step S87 and step S74. For each frequency (n = 1 to n max ), the process from step S72 to step S86 is executed at the maximum. Note that the processing content of the duration determination unit 232e shown in step S82 is an example, and the processing content of the duration determination unit 232e described with reference to FIG. 5 can also be selected. After the noise removal process in step S6 in FIG. 7, the process proceeds to the abnormality diagnosis process in step S7.

異常診断処理（ステップＳ７）、診断結果の出力（ステップＳ８）については、図５の診断部２４における説明と同じである。   The abnormality diagnosis process (step S7) and the output of the diagnosis result (step S8) are the same as described in the diagnosis unit 24 in FIG.

異常診断用装置１００は、異常診断計測に先立つバックグランド計測により、異常診断の対象から除外する除外周波数を求める。異常診断計測の際には、除外周波数における繰り返し計測回数Ｎ１を先に説明したＮ０よりも小さくすることによる計測時間の減少分を、診断対象周波数での繰り返し計測回数の増加に充当する。これにより診断対象周波数Ｆｎ’での総計測時間を延長することができる。すなわち、この異常診断用装置１００は、異常診断計測において、商用交流電力信号に対する計測データの同期性の確保と、異常診断に係る計測時間の延長との両立を図るために利用される除外周波数という情報を提供することができる。その結果、異常診断用装置１００は、除外周波数の情報を利用することにより、例えばボイド放電などの発生頻度の低い部分放電の検知確度を高めることができ、異常診断の確度を向上させることができる。 The abnormality diagnosis apparatus 100 obtains an exclusion frequency to be excluded from the abnormality diagnosis target by background measurement prior to the abnormality diagnosis measurement. At the time of abnormality diagnosis measurement, the decrease in the measurement time by making the number of repeated measurements N 1 at the excluded frequency smaller than N 0 described above is applied to the increase in the number of repeated measurements at the diagnosis target frequency. As a result, the total measurement time at the diagnosis target frequency Fn ′ can be extended. That is, the abnormality diagnosis apparatus 100 is an exclusion frequency used for ensuring both the synchronization of the measurement data with respect to the commercial AC power signal and the extension of the measurement time related to the abnormality diagnosis in the abnormality diagnosis measurement. Information can be provided. As a result, the abnormality diagnosis apparatus 100 can improve the accuracy of abnormality diagnosis by using the information on the excluded frequency, for example, by increasing the detection accuracy of partial discharge with a low occurrence frequency such as void discharge. .

異常診断計測時の除外周波数における繰り返し計測回数Ｎ１は１又は０ではなくてもよく、Ｎ０よりも小さければ、Ｎ２は、同じ総計測時間Ｔでの従来のＮ２よりも大きくすることができる。また、図９のステップＳ３７の除外周波数の拡大設定処理の内容も、図６に例示したものに限定されない。 The number of repeated measurements N 1 at the excluded frequency at the time of abnormality diagnosis measurement may not be 1 or 0. If it is smaller than N 0 , N 2 should be larger than conventional N 2 at the same total measurement time T. Can do. Further, the contents of the exclusion frequency enlargement setting process in step S37 of FIG. 9 are not limited to those illustrated in FIG.

異常診断用装置１００の異常診断方法も、上記に限定されない。異常診断に周波数毎の波形データを計測するものであればどのような装置であってもよい。そのような異常診断用装置であれば、バックグランド計測により設定した除外周波数は、これまで説明したように、除外周波数を除いた診断対象周波数Ｆｎ’における繰り返し計測回数Ｎを増加させるために利用できる。   The abnormality diagnosis method of the abnormality diagnosis apparatus 100 is not limited to the above. Any device that measures waveform data for each frequency for abnormality diagnosis may be used. In such an abnormality diagnosis apparatus, the excluded frequency set by the background measurement can be used to increase the number of repeated measurements N at the diagnosis target frequency Fn ′ excluding the excluded frequency, as described above. .

なお、計測作業者は、高感度に異常診断を行うために、センサである例えばアンテナを、計測時間中、手持ちで異常診断の対象となる機器に押し当てておく必要があることが多い。このような状況下では、異常診断に係る総計測時間は、計測作業者の負担の軽減のために、例えば２０ｓ以下など、できるだけ短くすることが望ましい。計測データの同期性確保のために総計測時間を所定値以下に制限するということは、計測作業者の負担の軽減にも繋がる。なお、バックグランド計測においては、センサを異常診断の対象となる機器に押し当てるという作業は発生しないため、その計測時間は計測作業者の負担という点では大きな問題とはならない。   In order to perform abnormality diagnosis with high sensitivity, it is often necessary for a measurement operator to hold a sensor, for example, an antenna, while holding it against a device to be subjected to abnormality diagnosis during measurement time. Under such circumstances, the total measurement time for abnormality diagnosis is desirably as short as possible, for example, 20 s or less, in order to reduce the burden on the measurement operator. Limiting the total measurement time to a predetermined value or less in order to ensure the synchronization of measurement data leads to a reduction in the burden on the measurement operator. In the background measurement, since the work of pressing the sensor against the device to be subjected to the abnormality diagnosis does not occur, the measurement time is not a big problem in terms of the burden on the measurement operator.

異常診断計測のとき、除外周波数の数から算定される、診断対象周波数での繰り返し計測回数Ｎ２の算定値は、通常は、小数部を含む値になることが多い。繰り返し計測回数Ｎ２は整数値でなければならないため、小数部を含む場合には、例えば切り捨て、四捨五入等の処理を行ってＮ２を設定する。四捨五入等の処理の場合は、総計測時間が大きくなることがあるが、その増加分は大きなものとはならないので同期性の点で許容することができる。 When the abnormality diagnosis measurement, is calculated from the number of excluded frequencies, the calculation value of the repetition number of times of measurement of N 2 at a diagnosis target frequency, usually, it is often a value including a decimal fraction. Since the repetition number of times of measurement N 2 must be an integer value, if it contains a fractional part, for example truncation, it performs processing of rounding the like to set the N 2. In the case of processing such as rounding off, the total measurement time may be increased, but the increase is not large, so that it can be allowed in terms of synchronization.

各周波数における代表波形データは、図８のステップＳ２５、又は図１０のステップＳ５９に示す様に、Ｎ回の繰り返し計測後に得られたＮ個の波形データから、例えば時間軸上の各ポイントでのデータ値を最大値とすることによって得られる波形データであるとした。しかし、代表波形データは、Ｎ個の波形データが揃ってから生成するのではなく、波形データが得られる都度、その一つ前の波形データと比較して、時間軸上の各ポイントにおいて大きい方の値を選択して暫定的な代表波形とし、この操作をＮ個の波形データについて実行することにより代表波形データを生成しても良い。   As shown in step S25 of FIG. 8 or step S59 of FIG. 10, representative waveform data at each frequency is obtained from N waveform data obtained after N repeated measurements, for example, at each point on the time axis. The waveform data is obtained by setting the data value to the maximum value. However, the representative waveform data is not generated after N pieces of waveform data are collected, but each time waveform data is obtained, the larger one at each point on the time axis compared to the previous waveform data. The representative waveform data may be generated by selecting this value as a temporary representative waveform and executing this operation on N pieces of waveform data.

代表波形データは、Ｎ個の波形データに基づき、時間軸上の各ポイントでＮ個のデータ値を平均することによって得られる波形データとしてもよい。   The representative waveform data may be waveform data obtained by averaging N data values at each point on the time axis based on N waveform data.

バックグランド計測により得られる除外周波数の数が多いほど、異常診断計測時の診断対象周波数での繰り返し計測回数Ｎ２の増加の程度を大きくすることができる。除外周波数は、図９のステップＳ３３における有効データ有無の判定結果に依存して決まる。従って、バックグランド計測時の繰り返し計測回数を大きくすることにより、有効データを検知する確率を向上させて、除外周波数の数を増加させることができる。 The more negative the frequency obtained by the background measurement is large, it is possible to increase the degree of increase in the repetition number of times of measurement of N 2 at the diagnosis target frequency during the abnormality diagnosis measurement. The exclusion frequency is determined depending on the determination result of the presence / absence of valid data in step S33 of FIG. Therefore, by increasing the number of repeated measurements during background measurement, the probability of detecting valid data can be improved and the number of excluded frequencies can be increased.

図１に例示する異常診断用装置１００は、バックグランド計測とそれに伴う除外周波数の設定処理、及び異常診断計測とそれに伴う異常診断処理の両方の機能を備えたものとして説明したが、バックグランド計測とそれに伴う除外周波数の設定処理を行う装置をバックグランド計測装置とし、異常診断計測とそれに伴う異常診断処理を行う装置を異常診断装置として互いに別の装置としてもよい。このときのバックグランド計測装置においては、図１の計測制御部２０はＢＧ計測制御部２００となり、データ処理部２３及び記憶部２２は図４に示すデータ処理部２３及び記憶部２２と同じ構成となる。設定された除外周波数情報は除外周波数設定情報２２２ｂとして記憶部２２に格納され、異常診断計測に利用できる。設定された除外周波数情報を異常診断装置に送信しても良い。   The apparatus 100 for abnormality diagnosis illustrated in FIG. 1 has been described as having both functions of background measurement and associated exclusion frequency setting processing, and abnormality diagnosis measurement and accompanying abnormality diagnosis processing. The apparatus that performs the setting process of the exclusion frequency associated therewith may be a background measurement apparatus, and the apparatus that performs abnormality diagnosis measurement and the abnormality diagnosis process associated therewith may be separate apparatuses as abnormality diagnosis apparatuses. In the background measurement device at this time, the measurement control unit 20 in FIG. 1 is the BG measurement control unit 200, and the data processing unit 23 and the storage unit 22 have the same configuration as the data processing unit 23 and the storage unit 22 shown in FIG. Become. The set exclusion frequency information is stored in the storage unit 22 as exclusion frequency setting information 222b and can be used for abnormality diagnosis measurement. The set exclusion frequency information may be transmitted to the abnormality diagnosis apparatus.

部分放電の検知には電磁波信号以外に音波、超音波などを利用しても良い。   For detection of partial discharge, sound waves, ultrasonic waves, or the like may be used in addition to electromagnetic wave signals.

（実施形態２）
本発明の実施形態２に係る異常診断用装置１００の構成例を図１２に示す。図１２に示す異常診断用装置１００は、図１に示す異常診断用装置１００の制御部２に再計測判定部２６を追加したものであり、他の構成は変わらない。 (Embodiment 2)
FIG. 12 shows a configuration example of the abnormality diagnosis apparatus 100 according to the second embodiment of the present invention. The abnormality diagnosis device 100 shown in FIG. 12 is obtained by adding a remeasurement determination unit 26 to the control unit 2 of the abnormality diagnosis device 100 shown in FIG. 1, and other configurations are not changed.

再計測判定部２６は、診断部２４の診断の結果等から、再計測の条件を満たすかどうかを判定する。満たさなければ、再計測は行わず、診断部２４の診断結果を最終診断結果として記憶部２２の診断結果２２４に格納すると共に、出力制御部２５を介して出力装置４に出力する。再計測の条件を満たす場合は、再計測判定部２６は、診断用計測制御部２０１に、再度の異常診断計測を実施する指示を行う。この指示を受けた診断用計測制御部２０１は、以下に説明するように、計測対象とする周波数を絞り込み、絞り込んだ後の各周波数における繰り返し計測回数Ｎ３を算定し、絞り込んだ計測対象とする各周波数において、異常診断用の波形データの計測をＮ３回繰り返して実行する。得られたＮ３個の波形データから代表波形データを生成し、このときの計測対象とする各周波数を診断対象周波数とすることにより、診断対象周波数での代表波形データに基づき、ノイズ除去部２３２によるノイズ除去処理と診断部２４による異常診断処理を行うという点については実施形態１で説明した通りである。 The remeasurement determination unit 26 determines whether or not the remeasurement condition is satisfied from the diagnosis result of the diagnosis unit 24 and the like. If not satisfied, the remeasurement is not performed, and the diagnosis result of the diagnosis unit 24 is stored in the diagnosis result 224 of the storage unit 22 as the final diagnosis result and is output to the output device 4 via the output control unit 25. When the remeasurement condition is satisfied, the remeasurement determination unit 26 instructs the diagnostic measurement control unit 201 to perform the abnormality diagnosis measurement again. Diagnostic measurement control unit 201 receives this instruction, as described below, to narrow the frequency to be measured, to calculate the repetition number of measurements N 3 at each frequency after narrowed, and the measurement target narrowed At each frequency, measurement of waveform data for abnormality diagnosis is repeated N 3 times. Representative waveform data is generated from the obtained N 3 waveform data, and each frequency as a measurement target at this time is set as a diagnosis target frequency, so that the noise removing unit 232 is based on the representative waveform data at the diagnosis target frequency. As described in the first embodiment, the noise removal process according to the above and the abnormality diagnosis process by the diagnosis unit 24 are performed.

再計測判定部２６の処理内容について、図１３及び図１４のフロー図を使ってより詳しく説明する。図１３は、実施形態２に係る異常診断用装置１００の動作を示すフロー図であり、図７に示すフロー図のステップＳ１〜Ｓ８の処理はそのまま踏襲され、ステップＳ７の後に再計測判定部２６の処理内容であるステップＳ９〜Ｓ１１を追加したものである。   The processing content of the remeasurement determination unit 26 will be described in more detail using the flowcharts of FIGS. 13 and 14. FIG. 13 is a flowchart showing the operation of the abnormality diagnosis apparatus 100 according to the second embodiment. The processing in steps S1 to S8 in the flowchart shown in FIG. 7 is followed as it is, and after step S7, the remeasurement determination unit 26 is performed. Steps S9 to S11, which are the contents of the process, are added.

再計測判定部２６は、記憶部２２の除外周波数設定情報２２２ｂを読み込み、除外周波数の数Ｎｒを算定し、除外周波数の数Ｎｒが、次式（８）を満たすかどうかを判定する（図１３のステップＳ９）。
Ｎｒ≦Ｎｒｔｈ （８）
Ｎｒｔｈ；予め設定された再計測に係る除外周波数の数の閾値。
計測対象とする周波数Ｆｉが例えば１００点ある場合は、Ｎｒｔｈは例えば３０に設定される。Ｎｒが（８）式を満たさないときは（ステップＳ９；ＮＯ）、診断部２４の診断結果をそのまま記憶部２２に格納し、出力装置４に出力する（ステップＳ８）。 The remeasurement determination unit 26 reads the excluded frequency setting information 222b of the storage unit 22, calculates the number Nr of excluded frequencies, and determines whether the number Nr of excluded frequencies satisfies the following equation (8) (FIG. 13). Step S9).
Nr ≦ Nrth (8)
Nrth: a threshold value of the number of excluded frequencies related to re-measurement set in advance.
For example, when there are 100 frequencies Fi to be measured, Nrth is set to 30, for example. When Nr does not satisfy the equation (8) (step S9; NO), the diagnosis result of the diagnosis unit 24 is stored in the storage unit 22 as it is and is output to the output device 4 (step S8).

除外周波数の数Ｎｒが、（８）式を満たすときは（ステップＳ９；ＹＥＳ）、再計測判定部２６は、例えば、診断部２４から、ＰＤ検出数Ｎａｂを取得し、次式（９）を満たすかどうかを判定する（ステップＳ１０）。
１≦Ｎａｂ≦Ｎａｂｈ （９）
Ｎａｂｈ；予め設定された再計測に係るＰＤ検出数の上限閾値。
Ｎａｂｈは、通常、式（７）の異常判定に係る閾値Ｎａｂｓと同じ値に設定される。計測対象となる周波数が例えば１００点の場合は、例えばＮａｂｈは５に設定される。 When the number Nr of excluded frequencies satisfies the equation (8) (step S9; YES), the remeasurement determination unit 26 acquires the PD detection number Nab from the diagnosis unit 24, for example, and the following equation (9) is obtained. It is determined whether or not it is satisfied (step S10).
1 ≦ Nab ≦ Nabh (9)
Nabh: preset upper limit threshold of the number of PD detections related to re-measurement.
Nabh is normally set to the same value as the threshold value Nabs related to the abnormality determination of Expression (7). When the frequency to be measured is 100 points, for example, Nabh is set to 5, for example.

再計測判定部２６は、Ｎａｂが（９）式を満たさないと判定したときは（ステップＳ１０；ＮＯ）、処理をステップＳ８に移行させる。Ｎａｂが（９）式を満たすと判定したときは（ステップＳ１０；ＹＥＳ）、診断用計測制御部２０１にその旨通知する。通知を受けた診断用計測制御部２０１は診断用再計測処理（ステップＳ１１）を実行する。   When the remeasurement determination unit 26 determines that Nab does not satisfy the expression (9) (step S10; NO), the remeasurement determination unit 26 shifts the process to step S8. When it is determined that the Nab satisfies the expression (9) (step S10; YES), the diagnosis measurement control unit 201 is notified accordingly. Upon receiving the notification, the diagnostic measurement control unit 201 executes a diagnostic remeasurement process (step S11).

図１４に、診断用再計測処理の処理内容をフロー図で示す。図１４は図１０に対応したもので、図１０のステップＳ５０、ステップＳ５２、ステップＳ５３を省き、ステップＳ５１をステップＳ５１’に、ステップＳ５４をステップＳ５４’に、ステップＳ６１をステップＳ６１’に変更したものである。   FIG. 14 is a flowchart showing the details of the diagnostic remeasurement process. FIG. 14 corresponds to FIG. 10. Steps S50, S52, and S53 in FIG. 10 are omitted, step S51 is changed to step S51 ′, step S54 is changed to step S54 ′, and step S61 is changed to step S61 ′. Is.

診断用計測制御部２０１は、まず再計測時の計測条件の中の計測対象とする周波数を次の様にして設定する。診断用計測制御部２０１は、診断用波形データ群２２３に対応する周波数の範囲内で、診断用波形データ群２２３に対応する周波数において連続するＮａｂｈ個、例えば５個の周波数からなる周波数帯をスキャンし、各代表波形データに含まれる残存する有効データ数の合計が最も多い周波数帯の周波数を、Ｆｉ”（ｉ＝１〜Ｎａｂｈ）として、再計測時の計測対象とする周波数に設定する。診断用計測制御部２０１は、計測対象とする周波数の数がＮａｂｈであるとして、総計測時間が同期性を確保できる時間Ｔと予め定めた誤差の範囲で等しくなるようにＮ３を算定する（図１４のステップＳ５１’）。 The diagnostic measurement control unit 201 first sets the frequency to be measured in the measurement conditions at the time of remeasurement as follows. The diagnostic measurement control unit 201 scans a frequency band composed of Nabh, for example, five consecutive frequencies in the frequency corresponding to the diagnostic waveform data group 223 within the frequency range corresponding to the diagnostic waveform data group 223. Then, the frequency in the frequency band with the largest total number of remaining effective data included in each representative waveform data is set as Fi ″ (i = 1 to Nabh) as the frequency to be measured at the time of remeasurement. The measurement control unit 201 assumes that the number of frequencies to be measured is Nabh, and calculates N 3 so that the total measurement time is equal to a time T within which synchronization can be ensured and a predetermined error range (see FIG. 14 step S51 ').

ステップＳ５４’は、図１０のステップＳ５４でＮ２をＮ３に変更したものであり、ステップＳ６１’は、図１０のステップＳ６１において、ｉの最大値をＮａｂｈに変更したものに対応している。 Step S54 ′ corresponds to the step in which N 2 is changed to N 3 in step S54 of FIG. 10, and step S61 ′ corresponds to the step in which the maximum value of i is changed to Nabh in step S61 of FIG. .

実施形態２に係る異常診断用装置１００は、除外周波数の数Ｎｒが少ない場合、即ち診断対象周波数の数が十分に低減しない場合、診断対象周波数での繰り返し計測回数をあまり増やすことができない。このような状況下であっても、部分放電に起因する有効データを含むと判定された周波数の数、即ちＰＤ検出数Ｎａｂが、予め設定した数Ｎａｂｈ、例えば５より多い場合は、異常が発生していると判定できるが、ＰＤ検出数Ｎａｂが、予め設定した数、例えば５以下で０でもない、即ち１〜５の場合、異常が発生していないとは言えないが異常が発生していると判定することも難しい状況となる。実施形態２に係る異常診断用装置１００は、このような状況下であっても、再計測に係る計測対象とする周波数を部分放電の検知確率が高いと考えられる狭い周波数帯内の所定数の周波数に絞り、これを診断対象周波数とすることにより、計測対象とする周波数における繰り返し計測回数を大幅に増やすことができる。これにより、より確度の高い異常診断を行うことが可能となる。   In the abnormality diagnosis device 100 according to the second embodiment, when the number Nr of excluded frequencies is small, that is, when the number of diagnosis target frequencies is not sufficiently reduced, the number of repeated measurements at the diagnosis target frequency cannot be increased so much. Even in such a situation, an abnormality occurs when the number of frequencies determined to include valid data resulting from partial discharge, that is, the number of detected PDs Nab is greater than a preset number Nabh, for example, five. However, if the PD detection number Nab is a preset number, for example, 5 or less and not 0, that is, 1 to 5, it cannot be said that an abnormality has occurred, but an abnormality has occurred. It is difficult to determine that it is. Even in such a situation, the abnormality diagnosis apparatus 100 according to the second embodiment has a predetermined number of frequencies within a narrow frequency band in which the frequency to be measured for remeasurement is considered to have a high detection probability of partial discharge. By limiting the frequency to a frequency to be diagnosed, the number of repeated measurements at the frequency to be measured can be greatly increased. Thereby, it is possible to perform abnormality diagnosis with higher accuracy.

なお、再計測された代表波形データに有効データが含まれるかどうかの判定に使用される（１）式の標準偏差閾値を実施形態１で設定した値より小さい値とし、（２）式の閾値Ｊを実施形態１で設定した値より大きい値としてもよい。このように閾値を設定することにより判定式（１）（２）を満たすケースが増える。換言すれば、有効データが抽出されやすくなる。抽出された有効データはノイズ除去部２３２での処理によりノイズ成分は除外されるので、繰り返し計測回数の増加と相まって、微小で、低頻度の部分放電信号を検知しやすくなる。   Note that the standard deviation threshold value of equation (1) used for determining whether valid data is included in the remeasured representative waveform data is set to a value smaller than the value set in the first embodiment, and the threshold value of equation (2) J may be larger than the value set in the first embodiment. Setting the threshold value in this way increases the number of cases that satisfy the determination formulas (1) and (2). In other words, effective data is easily extracted. Since noise components are excluded from the extracted effective data by the processing in the noise removing unit 232, coupled with an increase in the number of repeated measurements, it is easy to detect minute and low-frequency partial discharge signals.

１ 計測部
２ 制御部
３ 入力装置
４ 出力装置
１０ センサ
１１ 信号処理部
２０ 計測制御部
２１ データ取得部
２２ 記憶部
２３ データ処理部
２４ 診断部
２５ 出力制御部
２６ 再計測判定部
１００ 異常診断用装置
２００ ＢＧ計測制御部
２０１ 診断用計測制御部
２２０ 波形データ群
２２１ 計測条件
２２２ 除外周波数情報
２２２ａ 除外周波数既知情報
２２２ｂ 除外周波数設定情報
２２３ 診断用波形データ群
２２４ 診断結果
２３０ 有効データ有無判定部
２３１ 除外周波数設定部
２３２ ノイズ除去部
２３２ａ 有効データ数算定部
２３２ｂ 第１有効データ数判定部
２３２ｃ 有効データ数偏り判定部
２３２ｄ 第２有効データ数判定部
２３２ｅ 継続時間判定部
２３２ｆ 同期性判定部
５００ ＣＰＵ
５１０ 内部記憶部
５２０ 外部記憶部
５３０ 入力部
５４０ 出力部
５５０ バスライン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Measurement part 2 Control part 3 Input device 4 Output device 10 Sensor 11 Signal processing part 20 Measurement control part 21 Data acquisition part 22 Storage part 23 Data processing part
24 Diagnosis unit 25 Output control unit 26 Remeasurement determination unit 100 Abnormality diagnosis device 200 BG measurement control unit 201 Diagnosis measurement control unit 220 Waveform data group 221 Measurement condition 222 Excluded frequency information 222a Excluded frequency known information 222b Excluded frequency setting information 223 Diagnostic waveform data group 224 Diagnosis result 230 Effective data presence / absence determination unit 231 Excluded frequency setting unit 232 Noise removal unit 232a Effective data number calculation unit 232b First effective data number determination unit 232c Effective data number deviation determination unit 232d Second effective data number Determination unit 232e Duration determination unit 232f Synchronization determination unit 500 CPU
510 internal storage unit 520 external storage unit 530 input unit 540 output unit 550 bus line

Claims (7)

機器の異常時に、該機器の動作用に供給される商用交流電力信号に同期して発生する部分放電信号及び一般環境に存在するバックグランド信号の強度の時間変化を複数の周波数毎の波形データとして計測する計測部と、
前記計測部による波形データの計測を制御し、前記機器の設置された環境において、前記機器の異常時に発生する部分放電信号を計測せず、バックグランド信号のみが計測される状態に置かれた前記計測部の計測により得られる、予め定められた周波数範囲内で設定された前記複数の周波数毎の波形データを、バックグランド波形データとして入力する制御を行い、入力された前記複数の周波数毎のバックグランド波形データに基づき、前記機器の異常診断の対象から除外する除外周波数を決定する処理を行う制御部と、
を備えることを特徴とする異常診断用装置。 When the equipment is abnormal, the time change of the intensity of the partial discharge signal generated in synchronization with the commercial AC power signal supplied for operation of the equipment and the background signal existing in the general environment is used as waveform data for each of a plurality of frequencies. A measuring unit to measure,
The measurement unit controls the measurement of waveform data, and in the environment where the device is installed, the partial discharge signal generated when the device is abnormal is not measured, and only the background signal is measured. Control is performed to input the waveform data for each of the plurality of frequencies set within a predetermined frequency range, which is obtained by measurement of the measurement unit, as background waveform data. Based on the ground waveform data, a control unit that performs processing to determine an exclusion frequency to be excluded from the target of abnormality diagnosis of the device;
An abnormality diagnosis apparatus comprising: 前記制御部は、前記複数の周波数毎のバックグランド波形データが、有意なピークデータを含むかどうかを判定し、含む場合には当該周波数を除外周波数として設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の異常診断用装置。 The control unit determines whether the background waveform data for each of the plurality of frequencies includes significant peak data, and if included, sets the frequency as an excluded frequency.
The apparatus for abnormality diagnosis according to claim 1. 前記制御部は、前記バックグランド波形データに基づき算定された標準偏差が、予め定められた標準偏差閾値を超えるとき、前記バックグランド波形データが、有意なピークデータを含むと判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の異常診断用装置。 When the standard deviation calculated based on the background waveform data exceeds a predetermined standard deviation threshold, the control unit determines that the background waveform data includes significant peak data.
The apparatus for diagnosing abnormality according to claim 2. 前記バックグランド波形データに基づき算定される標準偏差は、前記バックグランド波形データの平均値以下のデータを、該平均値に基づき定めた値で置き換えた波形データに基づき算定される標準偏差である、
ことを特徴とする請求項３に記載の異常診断用装置。 The standard deviation calculated based on the background waveform data is a standard deviation calculated based on waveform data obtained by replacing data equal to or lower than the average value of the background waveform data with a value determined based on the average value.
The abnormality diagnosis device according to claim 3. 前記制御部は、前記バックグランド波形データにおいて、その最大値のその平均値に対する比が、予め定められた比の閾値を超えるとき、前記バックグランド波形データが、前記有意なピークデータを含むと判定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の異常診断用装置。 The control unit determines that the background waveform data includes the significant peak data when the ratio of the maximum value to the average value exceeds a predetermined ratio threshold in the background waveform data. To
The apparatus for diagnosing abnormality according to claim 2. 前記除外周波数を求める計測処理と、前記計測部が前記機器の異常を検知しうる位置に配置された状態で実行される異常診断に係る異常診断計測処理のいずれを実行するかを指示する入力部を備え、
前記制御部は、前記入力部を介して入力された指示に基づき、前記除外周波数を求める計測処理と前記異常診断計測処理のいずれか一方を実行する制御を行い、
前記制御部は、前記除外周波数を決定した後、前記異常診断計測処理を実行する制御を行い、
前記異常診断計測処理において、前記制御部は、計測対象とする周波数を前記除外周波数を求める計測処理の場合と同じ複数の周波数とし、前記複数の周波数毎の波形データの計測時間の総計が予め定められた値Ｔに対して、予め定められた誤差Δの範囲で一致するように、前記複数の周波数のうち前記除外周波数でない周波数である診断対象周波数毎の波形データの繰り返し計測回数を、前記除外周波数毎の波形データの繰り返し計測回数よりも大きくして、前記計測部による波形データの計測を実行し、前記診断対象周波数毎の繰り返し計測により得られる波形データに基づき、前記診断対象周波数毎の代表波形データを生成し、前記診断対象周波数毎の代表波形データに基づき前記機器の異常診断処理を実行する、
ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の異常診断用装置。 An input unit for instructing which one of a measurement process for obtaining the excluded frequency and an abnormality diagnosis measurement process related to an abnormality diagnosis executed in a state where the measurement unit is arranged at a position where the abnormality of the device can be detected With
The control unit performs control to execute one of the measurement process for obtaining the excluded frequency and the abnormality diagnosis measurement process based on an instruction input via the input unit,
The controller performs control to execute the abnormality diagnosis measurement process after determining the exclusion frequency,
In the abnormality diagnosis measurement process, the control unit sets the frequency to be measured as the same plurality of frequencies as in the measurement process for obtaining the excluded frequency, and the total measurement time of the waveform data for each of the plurality of frequencies is determined in advance. The number of repetitions of waveform data for each frequency to be diagnosed that is a frequency that is not the excluded frequency among the plurality of frequencies so as to match the determined value T within a predetermined error Δ range. The waveform data is measured by the measurement unit by setting the waveform data to be larger than the number of repetitions of the waveform data for each frequency, and based on the waveform data obtained by the repeated measurement for each diagnosis target frequency, the representative for each diagnosis target frequency Generate waveform data, and execute abnormality diagnosis processing of the device based on representative waveform data for each frequency to be diagnosed,
The abnormality diagnosis device according to claim 1, wherein the abnormality diagnosis device is an abnormality diagnosis device. 制御部は、
前記除外周波数の数が、予め設定された除外数閾値以下であると判定した場合であって、
前記異常診断処理により、前記診断対象周波数毎の代表波形データが、前記機器の部分放電に起因する有意なピークデータを有する有意波形データであるかどうかを判定し、
前記有意波形データの数が、１以上、且つ予め定められた異常判定閾値以下であると判定したときは、前記診断対象周波数の範囲内で、前記診断対象周波数において連続する、予め設定された数Ｎａｂｈ個の周波数から成る周波数帯を、スキャンさせたとき、前記周波数帯内の前記有意波形データの数が最大となる周波数帯の周波数を再計測周波数に設定し、前記再計測周波数毎の波形データの計測時間の総計が、前記Ｔに対して前記誤差Δの範囲で一致するように、該再計測周波数毎の繰り返し計測回数Ｎを算定し、前記計測部を介して実行される、前記再計測周波数毎の前記Ｎ回の繰り返し計測で得られる波形データから、前記再計測周波数毎の代表波形データを生成し、該再計測周波数毎の代表波形データに基づき前記機器の異常診断処理を再度実行する、
ことを特徴とする請求項６に記載の異常診断用装置。 The control unit
When it is determined that the number of the excluded frequencies is equal to or less than a preset exclusion number threshold,
By the abnormality diagnosis process, it is determined whether the representative waveform data for each frequency to be diagnosed is significant waveform data having significant peak data resulting from partial discharge of the device,
When it is determined that the number of significant waveform data is greater than or equal to 1 and less than or equal to a predetermined abnormality determination threshold, a predetermined number that is continuous at the diagnosis target frequency within the range of the diagnosis target frequency When a frequency band consisting of N abh frequencies is scanned, the frequency of the frequency band in which the number of significant waveform data in the frequency band is maximum is set as the remeasurement frequency, and the waveform for each remeasurement frequency The re-measurement count N for each re-measurement frequency is calculated so that the total measurement time of the data matches the T in the range of the error Δ, and the re-measurement is executed via the measurement unit. Generating representative waveform data for each remeasurement frequency from waveform data obtained by the N repeated measurements for each measurement frequency, and diagnosing abnormality of the device based on the representative waveform data for each remeasurement frequency To perform the management again,
The abnormality diagnosis device according to claim 6.
JP2017035867A 2017-02-28 2017-02-28 Abnormality diagnosis device Active JP6888329B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017035867A JP6888329B2 (en) 2017-02-28 2017-02-28 Abnormality diagnosis device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017035867A JP6888329B2 (en) 2017-02-28 2017-02-28 Abnormality diagnosis device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018141697A true JP2018141697A (en) 2018-09-13
JP6888329B2 JP6888329B2 (en) 2021-06-16

Family

ID=63526544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017035867A Active JP6888329B2 (en) 2017-02-28 2017-02-28 Abnormality diagnosis device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6888329B2 (en)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249156A (en) * 2000-03-06 2001-09-14 Tohoku Electric Power Co Inc Insulation diagnostic device
JP2001249157A (en) * 2000-03-06 2001-09-14 Tohoku Electric Power Co Inc Insulation diagnostic device and insulation diagnostic method
JP2010032457A (en) * 2008-07-31 2010-02-12 Hioki Ee Corp Insulation inspecting apparatus and technique
US20110172970A1 (en) * 2008-07-14 2011-07-14 Chang-Won Kang Apparatus for removing the partial discharge noise of an electrical power facility and apparatus for detecting a partial discharge generated section
JP2016061733A (en) * 2014-09-19 2016-04-25 日新電機株式会社 Partial discharge diagnostic device
JP2016130650A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 三菱電機株式会社 Partial discharge monitoring apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249156A (en) * 2000-03-06 2001-09-14 Tohoku Electric Power Co Inc Insulation diagnostic device
JP2001249157A (en) * 2000-03-06 2001-09-14 Tohoku Electric Power Co Inc Insulation diagnostic device and insulation diagnostic method
US20110172970A1 (en) * 2008-07-14 2011-07-14 Chang-Won Kang Apparatus for removing the partial discharge noise of an electrical power facility and apparatus for detecting a partial discharge generated section
JP2010032457A (en) * 2008-07-31 2010-02-12 Hioki Ee Corp Insulation inspecting apparatus and technique
JP2016061733A (en) * 2014-09-19 2016-04-25 日新電機株式会社 Partial discharge diagnostic device
JP2016130650A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 三菱電機株式会社 Partial discharge monitoring apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP6888329B2 (en) 2021-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5935850B2 (en) Partial discharge diagnostic device
CN107505540B (en) Diagnostic system for electrical equipment
JP5414413B2 (en) Partial discharge diagnostic method and partial discharge diagnostic device for gas insulated switchgear
US6297642B1 (en) Partial discharge detection method
JP7370693B2 (en) Partial discharge detection system, learning system, partial discharge detection method, computer program and electrical equipment
JP6489651B2 (en) Partial discharge measuring device, partial discharge measuring method, and program
CN108226772B (en) Diagnostic device for a switching device
KR101350529B1 (en) Partial dischange decision apparatus and method having noise rejection function
EP2982971B1 (en) Ultrasonic flaw-detection method and device by setting of gates
JP2019135455A (en) Partial discharge detector using multi-sensor
JP2010107289A (en) Insulation anomaly diagnosing method and apparatus for electrical installation
CN103376394B (en) For detecting system and the method thereof of local discharge signal
JP2018151376A (en) Evaluation of phase-resolved partial discharge
Behrmann et al. State of the Art in GIS PD Diagnostics
JP5489055B2 (en) Insulation diagnostic equipment for power equipment
JP2018151345A (en) Partial discharge detection method and partial discharge detection device
KR20190020233A (en) Simulated signal generating Apparatus and method for partial discharge simulation
JP2019039845A (en) Partial discharge diagnosis device and partial discharge diagnosis method
JP6320596B2 (en) Discharge monitoring device and discharge monitoring method
JP2018141697A (en) Abnormality diagnostic device
JP2019045401A (en) Partial discharge diagnostic device and partial discharge diagnostic method
US11300603B2 (en) Method and system for condition monitoring electrical equipment
JP6570439B2 (en) Spark plug evaluation device and spark plug evaluation method
JP7233903B2 (en) Partial discharge detection system, partial discharge detection device, partial discharge detection method, and computer program
JP6824493B1 (en) Diagnostic device for electric motor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200226

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20201223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210401

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20210401

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210420

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210503

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6888329

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150