JP2018138871A - 基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
関連する技術として、基板に実装された電子部品の傾きをチェックする装置も知られている(例えば、特許文献1参照)。
このような構成により、基板に実装される部品ごとの外観検査の設定を自動的に行うことができるようになる。その結果、例えば、検査領域の設定漏れが発生したり、不適切な検査項目が設定されたりすることを防止できる。また、その検査の設定を行う作業者の負荷が軽減されることになる。
このような構成により、部品位置情報を用いて、装着位置に装着される部品の種類を取得することができるようになる。
このような構成により、形状情報を用いて、装着位置に装着される部品の種類を取得することができるようになる。
このような構成により、形状情報を用いて、部品の実装ずれ検査に関する検査領域を自動的に設定できるようになる。
このような構成により、形状情報を用いて、部品の実装ずれ検査に用いられる基準を自動的に設定できるようになる。
このような構成により、形状情報を用いて、リード付きICに関するリード検査の検査領域を自動的に設定できるようになる。
このような構成により、3次元撮影画像を用いて、リード付きICのリード検査に用いられる基準を自動的に設定できるようになる。
(ステップS101)撮影画像取得部11は、良品基板に関する3次元撮影画像を取得する。その3次元撮影画像の取得は、上述のように、例えば、2次元の撮影画像の取得と、3次元情報の取得とによって行われてもよい。
11 撮影画像取得部
12 記憶部
13 形状情報取得部
14 表示部
15 部品種類取得部
16 設定部
Claims (6)
- 部品が実装された良品基板の3次元撮影画像を取得する撮影画像取得部と、
前記良品基板に対応する被検査基板において部品が装着される位置である装着位置を含む部品位置情報、及び、部品の種類と当該部品の種類に応じた部品の外観検査の内容とを対応付ける対応情報が記憶される記憶部と、
装着位置に対応する前記良品基板の位置における部品の形状に関する形状情報を、前記3次元撮影画像に含まれる高さ情報を用いて取得する形状情報取得部と、
装着位置に装着される部品の種類を取得する部品種類取得部と、
前記良品基板に実装された部品に対応する形状情報と、当該部品について前記部品種類取得部によって取得された部品の種類に前記対応情報によって対応付けられている外観検査の内容とを用いて、当該部品の外観検査に関する設定を行う設定部と、を備えた基板検査装置。 - 前記部品位置情報は、装着位置に装着される部品の種類も含んでおり、
前記部品種類取得部は、装着位置に装着される部品の種類を、前記部品位置情報から取得する、請求項1記載の基板検査装置。 - 前記部品種類取得部は、装着位置に装着される部品の種類を、当該装着位置に対応する形状情報を用いて取得する、請求項1記載の基板検査装置。
- 前記設定部は、形状情報によって示される部品の形状を囲む基板上の領域を、当該部品の実装ずれ検査の検査領域に設定する、請求項1から請求項3のいずれか記載の基板検査装置。
- 前記設定部は、実装ずれ検査の検査領域に対応する形状情報によって示される前記良品基板における部品の実装状況を、当該実装ずれ検査の基準に設定する、請求項4記載の基板検査装置。
- 前記設定部は、設定対象の部品の種類がリード付きICである場合に、当該設定対象の部品に対応する形状情報によって示されるリード部分を囲む基板上の領域を、リード検査の検査領域に設定する、請求項1から請求項5のいずれか記載の基板検査装置。
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