JP2017512394A - 誘導される割り込みを介してテストフローを制御することにより、無線周波数送受信器をテストするシステム及び方法 - Google Patents
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Description
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- 外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス(DUT)である無線周波数(RF)信号送受信器をテストするシステムを含む装置であって、
前記外部信号インターフェースに接続して、1つ以上のDUT制御信号を伝達する1つ以上の外部信号接続と、
前記1つ以上の外部信号接続に結合される制御回路と、
ここで、前記1つ以上のDUT制御信号、及び
1つ以上のテスト制御信号
のうちの少なくとも1つを提供し、
前記制御回路に結合され、1つ以上のRF受信信号を前記DUTに送信し、前記DUTから、
前記1つ以上のDUT制御信号、及び
前記1つ以上のテスト制御信号
のうちの少なくとも1つに関連する1つ以上のRF送信信号を受信することにより、前記1つ以上のテスト制御信号に応答するRF回路と
を備える、装置。 - 前記1つ以上の外部信号接続は、導電性オーディオ信号インターフェースを備える、請求項1に記載の装置。
- 前記1つ以上のRF送信信号は、前記1つ以上のRF受信信号に更に関連する、請求項1に記載の装置。
- 前記1つ以上のRF送信信号は、前記1つ以上のRF受信信号に応答する、請求項1に記載の装置。
- 前記1つ以上のRF送信信号は、前記1つ以上のDUT制御信号及び前記1つ以上のRF受信信号に応答してのものである、請求項1に記載の装置。
- 前記制御回路は、前記DUTに接続して、1つ以上の追加のDUT制御信号を提供する1つ以上のテスト信号接続を含み、
前記1つ以上のRF送信信号は、前記1つ以上の追加のDUT制御信号に更に関連する、請求項1に記載の装置。 - 外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス(DUT)である無線周波数(RF)信号送受信器をテストする方法であって、
1つ以上の外部信号接続を介して前記外部信号インターフェースに接続して、1つ以上のDUT制御信号を伝達することと、
前記1つ以上のDUT制御信号、及び
1つ以上のテスト制御信号
のうちの少なくとも1つを提供することと、
1つ以上のRF受信信号を前記DUTに送信することにより、前記1つ以上のテスト制御信号に応答することと、
前記DUTから、
前記1つ以上のDUT制御信号、及び
前記1つ以上のテスト制御信号
のうちの少なくとも1つに関連する1つ以上のRF送信信号を受信することと
を含む、方法。 - 前記1つ以上の外部信号接続を介して前記外部信号インターフェースに接続することは、導電性オーディオ信号インターフェースを介して接続することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することは、前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号及び前記1つ以上のRF受信信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することは、前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信し、前記1つ以上のRF受信信号に応答することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することは、前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号及び前記1つ以上のRF受信信号に応答して、1つ以上のRF送信信号を受信することを含む、請求項7に記載の方法。
- 1つ以上のテスト信号接続を介して前記DUTに接続して、1つ以上の追加のDUT制御信号を提供することを更に含み、前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することは、前記DUTから、前記1つ以上のDUT制御信号及び前記1つ以上の追加のDUT制御信号に関連する1つ以上のRF送信信号を受信することを含む、請求項7に記載の方法。
- 外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス(DUT)である無線周波数(RF)信号送受信器をテストする方法であって、
前記外部信号インターフェースへの外部コネクタの接続、及び
前記外部信号インターフェースを介してのベースバンド信号の受信
のうちの少なくとも1つを検出することと、
前記検出後、1つ以上の内部DUT制御信号を提供することと、
前記1つ以上の内部DUT制御信号の前記提供後、前記DUTを用いて、前記DUT内に記憶された1つ以上のテストコマンドを実行することと、
前記1つ以上のテストコマンドの前記実行後、前記DUTを用いて外部RF信号送受信器と通信することと
を含む、方法。 - 前記検出することは、前記外部コネクタの第1の部分と第2の部分との間でのDC電圧電位を検出することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記検出することは、前記外部コネクタの第1の部分と第2の部分との間の短絡回路を検出することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記検出後、前記1つ以上の内部DUT制御信号を提供することは、割り込みを生成することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記DUTを用いて外部RF信号送受信器と通信することは、RFテスト信号を受信し、RF応答信号を送信することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記外部コネクタを前記外部信号インターフェースに接続することを更に含む、請求項13に記載の方法。
- 割り込みの誘導を介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス(DUT)である無線周波数(RF)信号送受信器をテストする方法であって、
外部信号インターフェースへの外部導電体の接触、及び
前記内部信号インターフェースを介するベースバンド信号の受信
のうちの少なくとも1つを検出することと、
前記検出後、1つ以上の内部DUT制御信号を提供することと、
前記1つ以上の内部DUT制御信号の前記提供後、前記DUTを用いて、前記DUT内に記憶された1つ以上のテストコマンドを実行することと、
前記1つ以上のテストコマンドの前記実行後、前記DUTを用いて、外部RF信号送受信器と通信することと
を含む、方法。 - 前記検出することは、前記外部導電体でのDC電圧電位を検出することを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記検出することは、前記外部導電体での短絡回路を検出することを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記検出後、前記1つ以上の内部DUT制御信号を提供することは、割り込みを生成することを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記DUTを用いて、前記外部RF信号送受信器と通信することは、RFテスト信号を受信し、RF応答信号を送信することを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記内部信号インターフェースを前記外部導電体に接触させることを更に含む、請求項19に記載の方法。
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