JP2017222537A - Crucible, and single crystal growing unit and growing method - Google Patents

Crucible, and single crystal growing unit and growing method Download PDF

Info

Publication number
JP2017222537A
JP2017222537A JP2016118886A JP2016118886A JP2017222537A JP 2017222537 A JP2017222537 A JP 2017222537A JP 2016118886 A JP2016118886 A JP 2016118886A JP 2016118886 A JP2016118886 A JP 2016118886A JP 2017222537 A JP2017222537 A JP 2017222537A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crucible
single crystal
raw material
tungsten
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016118886A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7113478B2 (en
Inventor
承生 福田
Tsuguo Fukuda
承生 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fukuda Crystal Laboratory
Original Assignee
Fukuda Crystal Laboratory
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fukuda Crystal Laboratory filed Critical Fukuda Crystal Laboratory
Priority to JP2016118886A priority Critical patent/JP7113478B2/en
Priority to KR1020160125231A priority patent/KR101842487B1/en
Publication of JP2017222537A publication Critical patent/JP2017222537A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7113478B2 publication Critical patent/JP7113478B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • C30B15/12Double crucible methods
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/14Metallic material, boron or silicon
    • C23C14/16Metallic material, boron or silicon on metallic substrates or on substrates of boron or silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/06Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C4/00Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
    • C23C4/04Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the coating material
    • C23C4/06Metallic material
    • C23C4/08Metallic material containing only metal elements
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials
    • C30B15/16Heating of the melt or the crystallised materials by irradiation or electric discharge
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/32Seed holders, e.g. chucks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • C30B29/22Complex oxides
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00Crucible or pot furnaces
    • F27B14/06Crucible or pot furnaces heated electrically, e.g. induction crucible furnaces with or without any other source of heat
    • F27B14/061Induction furnaces
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00Crucible or pot furnaces
    • F27B14/08Details peculiar to crucible or pot furnaces
    • F27B14/10Crucibles
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27DDETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS, IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KIND OF FURNACE
    • F27D1/00Casings; Linings; Walls; Roofs
    • F27D1/0003Linings or walls
    • F27D1/0006Linings or walls formed from bricks or layers with a particular composition or specific characteristics
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00Crucible or pot furnaces
    • F27B14/08Details peculiar to crucible or pot furnaces
    • F27B14/10Crucibles
    • F27B2014/104Crucible linings

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Crucibles And Fluidized-Bed Furnaces (AREA)
  • Furnace Details (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide: a single crystal growing apparatus and a single crystal growing method capable of using a crucible made of graphite, extremely simple in assembly and arrangement, efficient in thermal efficiency, capable of growing of a single crystal of a large diameter of 8 inches or more and having little strain; and a long-life crucible for use in a single crystal growing apparatus and a single crystal growing method.SOLUTION: In a single crystal growing apparatus for growing a single crystal 200 by pulling up a seed crystal 210, after the seed crystal 210 was made to contact a material molten liquid 300 in a crucible, said crucible includes: a material holding crucible 18, in which the inner face of a body composed of W and Mo is covered with a layer made of Ir and Pt; and a heating crucible 19 arranged at intervals or without intervals on the outer side of said material holding crucible 18.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、るつぼ並びに単結晶の育成装置及び育成方法に係る。   The present invention relates to a crucible and a single crystal growth apparatus and method.

単結晶としてサファイア単結晶を例にとり背景技術を説明する。
単結晶の育成方法としてチョクラルスキー法が知られている。チョクラルスキー法とは、ルツボ中の原料溶融液面に種結晶を接触させ、次いで、その種結晶をルツボの加熱域から徐々に引上げて冷却することにより、該種結晶の下方に単結晶を成長させる方法である。
The background art will be described taking a sapphire single crystal as an example.
The Czochralski method is known as a method for growing a single crystal. In the Czochralski method, a seed crystal is brought into contact with the surface of the raw material melt in the crucible, and then the seed crystal is gradually pulled up from the heating region of the crucible and cooled to form a single crystal below the seed crystal. It is a way to grow.

この単結晶を成長させる方法に用いる引上げ装置の一般的な例を図5に示す。この装置は、結晶成長炉を構成するチャンバ11を備えており、このチャンバ11の上壁には、開口部を介して、図示しない駆動機構によって上下動および回転可能な単結晶引上げ棒12が吊設されている。この単結晶引上げ棒12の先端には、保持部材13を介して種結晶210が取り付けられており、種結晶210がルツボ419の中心軸上に位置するように配置されている。また、この単結晶引上げ棒12の上端には、結晶重量を測定するロードセル(図示せず)を備えている。   FIG. 5 shows a general example of a pulling apparatus used in this method for growing a single crystal. This apparatus includes a chamber 11 that constitutes a crystal growth furnace. A single crystal pulling rod 12 that can be moved up and down by a drive mechanism (not shown) is suspended from an upper portion of the chamber 11 through an opening. It is installed. A seed crystal 210 is attached to the tip of the single crystal pulling rod 12 via a holding member 13, and the seed crystal 210 is disposed on the central axis of the crucible 419. Further, a load cell (not shown) for measuring the crystal weight is provided at the upper end of the single crystal pulling rod 12.

ルツボ419は、一般には、上部から見た開口部が円形状であり、円柱状の胴部を持ち、底面の形状が平面状又は碗状又は逆円錐状のものが用いられる。また、ルツボの材質としては、原料溶融液である酸化アルミニウムの融点に耐え、また酸化アルミニウムとの反応性が低いものが適しており、イリジウム、モリブデン、タングステン、レニウムまたはこれらの混合物が一般的に用いられる。   The crucible 419 generally has a circular opening as viewed from above, a cylindrical body, and a bottom surface having a planar shape, a bowl shape, or an inverted conical shape. Also, as the material of the crucible, a material that can withstand the melting point of aluminum oxide as a raw material melt and has low reactivity with aluminum oxide is suitable, and iridium, molybdenum, tungsten, rhenium or a mixture thereof is generally used. Used.

ルツボ419は、耐火物で形成された円筒状の支持台により支持されている。   The crucible 419 is supported by a cylindrical support base made of a refractory material.

上述した単結晶引上げ装置を用いた単結晶サフアイアの引上げは、ルツボ419にサフアイア原料(必要に応じドープ剤としてCr,Fe,NOを添加したもの)を入れ、加熱コイル20に高周波電流を流すことによりルツボ419を加熱してサフアイア原料を溶融させ、耐火物15(保温体)15で保温し、引上げ棒12ないしルツボ419を回転させながら、アルミナ融液20に引上げ棒12の下端の種結晶210を浸し、引上げ棒12を引上げることにより行う。 In the pulling of the single crystal sapphire using the single crystal pulling apparatus described above, the sapphire raw material (added with Cr 2 O 3 , Fe 2 O 3 , NO as a dopant if necessary) is put in the crucible 419, and the heating coil 20 The crucible 419 is heated by flowing a high-frequency current to melt the sapphire raw material, kept warm by the refractory 15 (heat retaining body) 15, and while the pulling rod 12 or the crucible 419 is rotated, the pulling rod 12 is pulled into the alumina melt 20. Is performed by immersing the seed crystal 210 at the lower end of the substrate and pulling up the pulling rod 12.

特開2008−7353号公報JP 2008-7353 A 特開2011−105575号公報JP 2011-105575 A

しかし、上述した高周波加熱法を用いた単結晶育成装置においては次なる問題点がある。
(1)高周波加熱法においては、ルツボ419は、原料融液を保持する容器としての役割と、ルツボ自体が発熱して原料を溶解するヒータとしての役割とを兼ねている。
このため、ルツボには、発熱した部分と発熱していない部分とが混在することになり、ルツボ内の融液の温度勾配が急峻になってしまい、成長させた単結晶に歪みが生じてしまうという問題。
However, the single crystal growth apparatus using the above-described high frequency heating method has the following problems.
(1) In the high-frequency heating method, the crucible 419 serves both as a container for holding the raw material melt and as a heater for melting the raw material when the crucible itself generates heat.
For this reason, in the crucible, a portion where heat is generated and a portion where heat is not generated are mixed, the temperature gradient of the melt in the crucible becomes steep, and the grown single crystal is distorted. The problem.

(2)MoやWからなるルツボは高周波による加熱効率が悪く、それらよりも加熱効率が良いIrからなるルツボを使用せざるを得ず、コスト高になってしまうという問題。 (2) The crucible made of Mo or W has a high heating efficiency due to high frequency, and a crucible made of Ir having a heating efficiency better than those has to be used, resulting in a high cost.

特許文献1では、ルツボを、内側に配置されたモリブデン製又はタングステン製ルツボ76と、それとは近接するが互いに接触しない間隔で外側に配置されたイリジウム製ルツボ73とからなる二重構造にする、という技術を提示し、ルツボ内の融液の温度勾配が急峻になることを防止し、上記(1)の問題を解決している。
ただ、特許文献1ではIrルツボを使用しており、上述した(2)の問題は残っている。
In Patent Document 1, the crucible has a double structure including a molybdenum or tungsten crucible 76 disposed on the inner side and an iridium crucible 73 disposed on the outer side at a distance close to but not in contact with each other. The technique (1) is solved by preventing the temperature gradient of the melt in the crucible from becoming steep.
However, in Patent Document 1, an Ir crucible is used, and the problem (2) described above remains.

特許文献2では、熱容器(加熱室)の内側に、ルツボを配置し、そのルツボの外側にルツボの壁部を取り巻くように発熱体を設けている。そして、発熱体の内側でかつルツボの外側に、ルツボの壁部を取り巻くように、発熱体17の構成材料がルツボ内のアルミナ融液300に混入するのを防止する遮蔽体を備えている単結晶育成装置が開示されている。   In Patent Document 2, a crucible is arranged inside a heat vessel (heating chamber), and a heating element is provided outside the crucible so as to surround a wall portion of the crucible. A shielding body is provided inside the heating element and outside the crucible so as to prevent the constituent material of the heating element 17 from being mixed into the alumina melt 300 in the crucible so as to surround the crucible wall. A crystal growth apparatus is disclosed.

特許文献1、特許文献2に記載の技術は、ともに、発熱体と融液収納体とを別体とし、発熱体と収納体とを離隔し、発熱体の熱を輻射により収納体に伝達しようとするものである。   In the techniques described in Patent Document 1 and Patent Document 2, both the heating element and the melt container are separated, the heating element and the container are separated from each other, and the heat of the heating element is transmitted to the container by radiation. It is what.

しかし、特許文献1、特許文献2により提示された技術においても次なる問題点がある。
(1)特許文献1記載技術では、Irルツボを用いており、コスト高となる。
(2)特許文献2記載技術を用いて単結晶を育成すると、図6に示すように、その尾部は、インゴットの直径以上の長さに細長く延びてしまう。このように、テールだけがのびてしまうとルツボに充填した原料の量に対して必要とされる直径の有効直胴長の長さが短くなり、生産性が低減してしまう。
However, the techniques presented by Patent Document 1 and Patent Document 2 also have the following problems.
(1) In the technique described in Patent Document 1, an Ir crucible is used, which increases costs.
(2) When a single crystal is grown using the technique described in Patent Document 2, the tail portion thereof is elongated to a length equal to or greater than the diameter of the ingot, as shown in FIG. Thus, if only the tail extends, the length of the effective straight body length of the diameter required with respect to the amount of the raw material filled in the crucible becomes short, and the productivity is reduced.

(3)特許文献2記載技術では、安価なグラファイトを使用している。そして、加熱により発生するカーボンガスあるいはカーボン粒子が融液中に混入することを防止するために、加熱体であるグラファイトと収納体であるルツボとの間に遮蔽板を設ける配置する必要がある。配置にあたっては、ルツボとは接触することなく離隔していること、ルツボに均一に熱を輻射により伝えるために全周にわたりルツボとの距離を均一に保つこと、遮蔽板の上端を発熱体の上端より高く保つこと、という要件を満たす必要がある。 (3) In the technique described in Patent Document 2, inexpensive graphite is used. In order to prevent carbon gas or carbon particles generated by heating from being mixed into the melt, it is necessary to provide a shielding plate between the graphite as the heating body and the crucible as the storage body. When disposing, keep away from the crucible without contact, keep the distance from the crucible uniform all around the circumference in order to transmit heat uniformly to the crucible, the upper end of the shielding plate at the upper end of the heating element The requirement to keep higher must be met.

かかる要件を満たしつつ実際に遮蔽板を配置、組立するためには幾多の工夫が必要であり、実際、特許文献2では概念的に配置しているだけである。
(4)特許文献2の技術で実際に単結晶の育成を行うと、熱効率が極めて悪く消費電力が多大なものとなってしまう。
In order to actually arrange and assemble the shielding plate while satisfying such requirements, many ideas are required. In fact, Patent Document 2 merely conceptually arranges them.
(4) When a single crystal is actually grown by the technique of Patent Document 2, the thermal efficiency is extremely poor and the power consumption becomes large.

また、従来の単結晶は硬度が高く、加工が困難であった。
かかる問題を解決するための技術として本出願人は、別途次なる技術を提供している(特願2003−183028号)。
チャンバ内に設けられた断熱材で形成される加熱室と、加熱室の内部に設けられたルツボと、加熱室の外周に配置された加熱コイルとを備え、前記ルツボを加熱して得られた原料融液に種結晶を接触させた後に、種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、タングステンの表面にタングステンの炭化物を有する有底の原料保持用ルツボと、原料保持用ルツボの外側に配置されたグラファイトからなる有底の加熱用ルツボとからなる単結晶育成装置。
チャンバ内に設けられた断熱材で形成される加熱室と、加熱室の内部に設けられたルツボと、加熱室の外周に配置された加熱コイルとを備え、前記ルツボを加熱して得られた原料融液に種結晶を接触させた後に、種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、有底の原料保持用ルツボと、原料保持用ルツボの外側に配置されたグラファイトからなる有底の加熱用ルツボとからなり、前記原料保持用ルツボの外周と前記加熱用ルツボの内周とにより形成される空間にタングステンカーバイドの粉末が装入されている単結晶育成装置。
この技術により、グラファイトからなるルツボの使用が可能であり、組立・配置が極めて簡単であり、熱効率が良く、歪の少ない8インチ以上の大口径の結晶をも育成することが可能となり、また、従来の結晶よりも硬度が低く加工が容易である結晶を育成可能となった。
しかし、この技術においては、ルツボに変形が生じることがあり、そのためルツボの寿命が短くなることがある。
本発明は、グラファイトからなるルツボの使用が可能であり、組立・配置が極めて簡単であり、熱効率が良く、歪の少ない8インチ以上の大口径の単結晶をも育成することができる単結晶の育成装置及び育成方法を提供することを目的とする。
本発明は、従来の単結晶よりも硬度が低く加工が容易である単結晶を育成可能な単結晶育成装置及び育成方法を提供することを目的とする。
本発明は、より高純度の単結晶の育成が可能な単結晶育成装置及び育成方法を提供することを目的とする。
本発明は、より高寿命な単結晶育成装置及び育成方法に用いられるルツボを提供することを目的とする。
Further, conventional single crystals have high hardness and are difficult to process.
As a technique for solving such a problem, the present applicant separately provides the following technique (Japanese Patent Application No. 2003-183028).
A heating chamber formed of a heat insulating material provided in the chamber, a crucible provided inside the heating chamber, and a heating coil arranged on the outer periphery of the heating chamber, and obtained by heating the crucible In a single crystal growing apparatus for raising a seed crystal by bringing the seed crystal into contact with the raw material melt,
The crucible is a single crystal growing apparatus comprising a bottomed raw material holding crucible having tungsten carbide on the surface of tungsten and a bottomed heating crucible made of graphite disposed outside the raw material holding crucible.
A heating chamber formed of a heat insulating material provided in the chamber, a crucible provided inside the heating chamber, and a heating coil arranged on the outer periphery of the heating chamber, and obtained by heating the crucible In a single crystal growing apparatus for raising a seed crystal by bringing the seed crystal into contact with the raw material melt,
The crucible includes a bottomed raw material holding crucible and a bottomed heating crucible made of graphite disposed outside the raw material holding crucible, and the outer periphery of the raw material holding crucible and the heating crucible A single crystal growth apparatus in which tungsten carbide powder is charged in a space formed by the circumference.
With this technology, it is possible to use a crucible made of graphite, it is very easy to assemble and arrange, it is possible to grow a crystal with a large diameter of 8 inches or more with good thermal efficiency and little distortion, It has become possible to grow crystals that are lower in hardness and easier to process than conventional crystals.
However, in this technique, the crucible may be deformed, which may shorten the life of the crucible.
The present invention allows the use of a crucible made of graphite, is extremely simple to assemble and arrange, has good thermal efficiency, and can grow a single crystal having a large diameter of 8 inches or more with little distortion. An object is to provide a training apparatus and a training method.
An object of the present invention is to provide a single crystal growing apparatus and a growing method capable of growing a single crystal that has a hardness lower than that of a conventional single crystal and is easy to process.
An object of the present invention is to provide a single crystal growth apparatus and a growth method capable of growing a single crystal of higher purity.
An object of this invention is to provide the crucible used for the single crystal growth apparatus and the growth method of a longer life.

請求項1に係る発明は、ルツボ内の原料融液に種結晶を接触させた後に、前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている原料保持用ルツボと、前記原料保持のためのルツボの外側に間隔を置いて又は置かないで配置された加熱用ルツボとからなる単結晶育成装置である。
請求項2に係る発明は、前記加熱用ルツボに高周波電力を供給することにより加熱を行う請求項1記載の単結晶育成装置である。
請求項3に係る発明は、前記加熱用ルツボはグラファイトからなる請求項1又は2記載の単結晶育成装置である。
請求項4に係る発明は、前記原料保持用ルツボと前記加熱用ルツボとの間隔にタングステン又はタングステンからなる粉末が充填されている請求項1ないし3のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項5に係る発明は、前記原料用ルツボの底部と前記加熱用ルツボとの間にタングステン又はタングステンカーバイドからなるスペーサーを設けてある請求項1ないし4のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項6に係る発明は、前記単結晶は酸化物単結晶である請求項1ないし5のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項7に係る発明は、タングステン若しくはタングステン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金の層で覆われており、前記酸化物はサファイア(Al)、ScAlMgO、LiTaO、LiAG又はYAGである請求項6記載の単結晶育成装置である。
請求項8に係る発明は、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなす内層で覆われており、前記酸化物はLiNbO又はランガサイトである請求項6記載の単結晶育成装置である。
請求項9に係る発明は、前記加熱用ルツボの外周にカーボンフェルトが配置されている請求項1ないし8のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項10に係る発明は、前記層の厚さは、前記保持用ルツボの厚さの1/10以下である請求項1ないし9のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項11に係る発明は、前記層の厚さは0.1mm〜0.5mmである請求項1ないし10のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項12に係る発明は、前記層は、溶射、スパッタリング、CVD法、MOCVD法、箔の圧着、めっきのいずれかにより形成したものである請求項1ないし11のいずれか1項記載の単結晶育成装置である。
請求項13に係る発明は、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金からなる層で覆われており、その内部の原料融液に種結晶を接触させた後に前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成に用いられるルツボである。
請求項14に係る発明は、モリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなる層で覆われており、その内部の原料融液に種結晶を接触させた後に前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成に用いられるルツボである。
請求項15に係る発明は、請求項1ないし12いずれか1項記載の単結晶育成装置を用いた単結晶の育成方法である。
The invention according to claim 1 is a single crystal growth apparatus in which a seed crystal is brought into contact with a raw material melt in a crucible and then the seed crystal is pulled up to grow a single crystal.
The crucible includes a raw material holding crucible in which an inner surface of a main body made of tungsten, tungsten alloy, molybdenum, or molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium, iridium alloy, platinum, or platinum alloy, and the crucible for holding the raw material. Is a single crystal growth apparatus comprising a heating crucible arranged with or without an interval outside.
The invention according to claim 2 is the single crystal growth apparatus according to claim 1, wherein heating is performed by supplying high-frequency power to the crucible for heating.
The invention according to claim 3 is the single crystal growth apparatus according to claim 1 or 2, wherein the heating crucible is made of graphite.
The invention according to claim 4 is the single crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein a gap between the raw material holding crucible and the heating crucible is filled with tungsten or a powder made of tungsten. is there.
The invention according to claim 5 is the single crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein a spacer made of tungsten or tungsten carbide is provided between a bottom portion of the raw material crucible and the heating crucible. It is.
The invention according to claim 6 is the single crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the single crystal is an oxide single crystal.
In the invention according to claim 7, the inner surface of the main body made of tungsten or tungsten alloy is covered with a layer of iridium or iridium alloy, and the oxide is sapphire (Al 2 O 3 ), ScAlMgO 4 , LiTaO 3 , LiAG. Or it is YAG, The single crystal growth apparatus of Claim 6.
In the invention according to claim 8, the inner surface of the main body made of tungsten or tungsten alloy or molybdenum or molybdenum alloy is covered with an inner layer made of platinum or platinum alloy, and the oxide is LiNbO 3 or langasite. 6. The single crystal growing apparatus according to 6.
The invention according to claim 9 is the single crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein a carbon felt is disposed on an outer periphery of the heating crucible.
The invention according to claim 10 is the single crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the thickness of the layer is 1/10 or less of the thickness of the holding crucible.
The invention according to claim 11 is the single crystal growing apparatus according to any one of claims 1 to 10, wherein the layer has a thickness of 0.1 mm to 0.5 mm.
The invention according to claim 12 is the single crystal according to any one of claims 1 to 11, wherein the layer is formed by any one of thermal spraying, sputtering, CVD, MOCVD, foil pressure bonding, and plating. It is a training device.
In the invention according to claim 13, the inner surface of the main body made of tungsten, tungsten alloy, molybdenum or molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium or iridium alloy, and the seed crystal is brought into contact with the raw material melt therein. It is a crucible used for single crystal growth in which the seed crystal is later pulled to grow a single crystal.
In the invention according to claim 14, the inner surface of the main body made of molybdenum or a molybdenum alloy is covered with a layer made of platinum or a platinum alloy, and the seed crystal is brought into contact with the raw material melt inside thereof. It is a crucible used for growing a single crystal that is pulled up to grow a single crystal.
A fifteenth aspect of the present invention is a method for growing a single crystal using the single crystal growing apparatus according to any one of the first to twelfth aspects.

本発明によれば、次の諸々の効果を奏する。
グラファイトからなるルツボの使用が可能であり、安価に単結晶を育成することができる。
単結晶の育成装置の組立・配置が極めて簡単である。
熱効率が良く、育成単結晶に歪の発生を少なくすることができる。
従来よりも硬度が低く、加工が容易な単結晶を得ることができる。
よりルツボ寿命を長くすることができる。
The present invention has the following various effects.
A crucible made of graphite can be used, and a single crystal can be grown at a low cost.
Assembly and placement of single crystal growth equipment is extremely simple.
Thermal efficiency is good, and the generation of strain in the grown single crystal can be reduced.
A single crystal that is lower in hardness and easier to process than before can be obtained.
The crucible life can be further extended.

本発明を実施するための形態1に係る単結晶育成装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the single crystal growth apparatus which concerns on the form 1 for implementing this invention. 本発明を実施するための形態2に係る単結晶育成装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the single crystal growth apparatus which concerns on the form 2 for implementing this invention. 本発明を実施するための形態1に係る単結晶育成装置を用いて育成した単結晶のインゴットを概念的に示す図である。It is a figure which shows notionally the ingot of the single crystal grown using the single crystal growth apparatus which concerns on the form 1 for implementing this invention. 本発明を実施するための形態3に係る単結晶育成装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the single crystal growth apparatus which concerns on the form 3 for implementing this invention. 従来の単結晶育成装置を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the conventional single crystal growth apparatus. 他の従来技術に係る単結晶育成装置を用いて育成した単結晶のインゴットを概念的に示す図である。It is a figure which shows notionally the ingot of the single crystal grown using the single crystal growth apparatus which concerns on another prior art.

以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。   Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

[育成装置についての第1の形態]
図1は、本発明を実施するための第1の形態に係る単結晶引き上げ装置を説明するための図である。
ルツボ内の原料融液300に種結晶210を接触させた後に、種結晶210を引き上げて単結晶200を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている原料保持用ルツボ18と、原料保持用ルツボ18の外側に間隔を置いて又は置かないで配置された加熱用ルツボ19とからなる単結晶育成装置である。
[First form of training apparatus]
FIG. 1 is a diagram for explaining a single crystal pulling apparatus according to a first embodiment for carrying out the present invention.
In the single crystal growing apparatus for bringing the seed crystal 210 into contact with the raw material melt 300 in the crucible and then raising the seed crystal 210 to grow the single crystal 200,
The crucible includes a raw material holding crucible 18 in which an inner surface of a main body made of tungsten, a tungsten alloy, molybdenum, or a molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium, an iridium alloy, platinum, or a platinum alloy; This is a single crystal growing apparatus comprising a heating crucible 19 arranged with or without an interval on the outside.

本形態をより詳細に説明する。
チャンバ11内に設けられた断熱材で形成される加熱室15と、加熱室15の内部に設けられたルツボと、加熱室15の外周に配置された加熱コイル20とを備え、前記ルツボを加熱して得られた原料融液300に種結晶210を接触させた後に、種結晶210を引き上げて単結晶200を育成させる単結晶育成装置において、
This embodiment will be described in more detail.
A heating chamber 15 formed of a heat insulating material provided in the chamber 11, a crucible provided in the heating chamber 15, and a heating coil 20 disposed on the outer periphery of the heating chamber 15, and heating the crucible In the single crystal growing apparatus for bringing the seed crystal 210 into contact with the raw material melt 300 obtained in this way and then raising the seed crystal 210 to grow the single crystal 200,

ルツボ内の原料融液300に種結晶210を接触させた後に、種結晶210を引き上げて単結晶200を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている原料保持用ルツボ18と、原料保持用ルツボ18の外側に間隔を置いて又は置かないで配置された加熱用ルツボ19とからなる単結晶育成装置である。
In the single crystal growing apparatus for bringing the seed crystal 210 into contact with the raw material melt 300 in the crucible and then raising the seed crystal 210 to grow the single crystal 200,
The crucible includes a raw material holding crucible 18 in which an inner surface of a main body made of tungsten, a tungsten alloy, molybdenum, or a molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium, an iridium alloy, platinum, or a platinum alloy; This is a single crystal growing apparatus comprising a heating crucible 19 arranged with or without an interval on the outside.

以下本形態をより詳細に説明する。
(原料保持用ルツボ)
原料保持用ルツボ18の母体(本体)は高融点材料からなる。タングステン(W)、モリブデン(Mo)あるいはW合金、Mo合金からなる。底部を有し、底部周縁から立ち上がる側壁を有している。その母体の本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている。
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail.
(Crucible for holding raw materials)
The base (main body) of the raw material holding crucible 18 is made of a high melting point material. It consists of tungsten (W), molybdenum (Mo), W alloy, or Mo alloy. It has a bottom and a sidewall that rises from the periphery of the bottom. The inner surface of the base body is covered with a layer made of iridium or iridium alloy or platinum or platinum alloy.

イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層の形成は、たとえば、溶射、CVD、スパッタリング、箔の圧着などの方法により行えばよい。
イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層の厚さは、本体の厚さの1/10以下が好ましい。通常、本体の厚さは1〜5mmであるので層厚保は0.1〜0.5mmが好ましい。材料コストの面からは層厚は小さい方ほど好ましい。
The formation of iridium or an iridium alloy or a layer made of platinum or a platinum alloy may be performed by a method such as thermal spraying, CVD, sputtering, or foil pressure bonding.
The thickness of the layer made of iridium or iridium alloy or platinum or platinum alloy is preferably 1/10 or less of the thickness of the main body. Usually, since the thickness of the main body is 1 to 5 mm, the layer thickness is preferably 0.1 to 0.5 mm. From the viewpoint of material cost, the smaller the layer thickness, the better.

(加熱用ルツボ)
加熱用ルツボ19はグラファイトから構成される。グラファイトはIrに比べてはるか
に安価である。また、高周波(RF)に対する発熱効率が極めて良好である。
加熱用ルツボ19は、底部を有し(有底)、底部の周縁から上方に立ち上げる側壁を有している。
(Crucible for heating)
The heating crucible 19 is made of graphite. Graphite is much cheaper than Ir. Moreover, the heat generation efficiency with respect to the high frequency (RF) is very good.
The crucible 19 for heating has a bottom (bottomed), and has a side wall that rises upward from the periphery of the bottom.

グラファイトが発熱した場合に発生するカーボンガスあるいはカーボン粒子が融液に混入しないように、加熱用ルツボ19の上端(側壁の最上部)の高さは、原料保持用ルツボ18の上端よりも高くなく設定される。図1に示す例では、両者の上端は面一状態となっている。
加熱用ルツボ19の内部は、原料保持用ルツボ18の外面全体と加熱用ルツボ19の内面全体が接触するように、外径、内径を適宜設定しておくことが好ましい。底部においても、加熱用ルツボ19の底部内面が、原料保持用ルツボ18の底部外面と接触させ加熱用ルツボ19内に原料保持用ルツボ18をスライドさせてはめ込み可能な形状としておくことが好ましい。
加熱用ルツボ19の内面及び原料保持用ルツボ18の外面は鏡面仕上げしておけば、原料保持用ルツボ18を容易に加熱用ルツボ19内にスライドさせて収納させることができる。
なお、図1では、原料保持用ルツボ18と加熱用ルツボ19とを接触させて配置した例を示したが、原料保持用ルツボ18の側壁と加熱用ルツボ19の側壁とを離隔して配置してもよい。
なお、図1に示す形態では、加熱用ルツボ19の上端が原料保持用ルツボ18の上端より高くないようにしてある。
The height of the upper end (uppermost portion of the side wall) of the heating crucible 19 is not higher than the upper end of the raw material holding crucible 18 so that carbon gas or carbon particles generated when the graphite is heated does not enter the melt. Is set. In the example shown in FIG. 1, the upper ends of both are in a flush state.
The inside of the heating crucible 19 preferably has an outer diameter and an inner diameter appropriately set so that the entire outer surface of the raw material holding crucible 18 and the entire inner surface of the heating crucible 19 are in contact with each other. Also at the bottom, it is preferable that the bottom inner surface of the heating crucible 19 is brought into contact with the outer surface of the bottom of the raw material holding crucible 18 so that the raw material holding crucible 18 can be slid into the heating crucible 19.
If the inner surface of the heating crucible 19 and the outer surface of the raw material holding crucible 18 are mirror-finished, the raw material holding crucible 18 can be easily slid and stored in the heating crucible 19.
Although FIG. 1 shows an example in which the raw material holding crucible 18 and the heating crucible 19 are placed in contact with each other, the side wall of the raw material holding crucible 18 and the side wall of the heating crucible 19 are arranged separately. May be.
In the embodiment shown in FIG. 1, the upper end of the heating crucible 19 is not higher than the upper end of the raw material holding crucible 18.

(カーボンフェルト材)
図1に示す例では、加熱室15はジルコニア耐火物により構成されている。
ジルコニア(ZrO)は高温(1800℃以上)になると、酸化・還元反応を起こして、下記式(1)のように酸素が放出されルツボ材のモリブデンを酸化させる。Moを酸化させた際には、黒青色の煙を発生させ、この煙がサファイア原料表面、又はサファイア融液に混入し着色及び純度低下を引き起こす。これはルツボ材としてタングステンを使用した場合も同様である。また、ジルコニア以外の耐火物であっても温度の違いはあるにせよ式(1)の反応が生ずる。
2ZrO ⇔ 2ZrO+O ・・・(1)
そこで、本形態では、加熱用ルツボ19の外壁の周囲にカーボンフェルト材16を設けてある。加熱用ルツボ19から耐火物15への輻射をカーボンフェルト16が防止する。その結果、耐火物15の温度が酸化・還元反応を起こす温度まで上昇することが防止される。そのため、ルツボとしてMoやW製ルツボを使用することがより一層容易になる。
(Carbon felt material)
In the example shown in FIG. 1, the heating chamber 15 is composed of a zirconia refractory.
When zirconia (ZrO 2 ) reaches a high temperature (1800 ° C. or higher), it undergoes an oxidation / reduction reaction, and oxygen is released as shown in the following formula (1) to oxidize molybdenum of the crucible material. When Mo is oxidized, black-blue smoke is generated, and this smoke is mixed into the surface of the sapphire raw material or the sapphire melt to cause coloring and a decrease in purity. The same applies to the case where tungsten is used as the crucible material. Moreover, even if it is refractories other than a zirconia, reaction of Formula (1) will arise, although there is a difference in temperature.
2ZrO 2 ⇔ 2ZrO + O 2 (1)
Therefore, in this embodiment, the carbon felt material 16 is provided around the outer wall of the heating crucible 19. The carbon felt 16 prevents radiation from the heating crucible 19 to the refractory 15. As a result, the temperature of the refractory 15 is prevented from rising to a temperature at which an oxidation / reduction reaction occurs. Therefore, it becomes easier to use a crucible made of Mo or W as a crucible.

(単結晶材料)
本発明における単結晶はいかなる材料でもよく、半導体材料、化合物半導体材料、酸化
物その他の材料の単結晶を育成することができる。

特に、酸化物材料に適用した場合に効果的であり、その中でも、サファイア、ScAl
MgOに適用した場合より効果的である。
(Single crystal material)
The single crystal in the present invention may be any material, and single crystals of semiconductor materials, compound semiconductor materials, oxides and other materials can be grown.

In particular, it is effective when applied to oxide materials. Among them, sapphire, ScAl
It is more effective when applied to MgO 4 .

また、育成する単結晶の寸法には限定されるものではなく、いかなる寸法の単結晶の育成も可能である。ただ、従来は、単結晶の外径が6インチ以上になると、ルツボ内の融液の温度分布が大きくなり、育成単結晶の品質の劣化を招いていた。   Further, the size of the single crystal to be grown is not limited, and a single crystal having any size can be grown. However, conventionally, when the outer diameter of the single crystal is 6 inches or more, the temperature distribution of the melt in the crucible becomes large, and the quality of the grown single crystal is deteriorated.

本発明による方法を採用すると温度勾配が緩くなり、かつ対流が安定するため、結晶の品質に影響する固液界面の形状が下凸形状から平らな形状に誘導される。大口径になればそれにつれてさらに平になる。平らになるほど結晶品質が安定する。 When the method according to the present invention is employed, the temperature gradient becomes gentle and the convection is stabilized, so that the shape of the solid-liquid interface that affects the quality of the crystal is induced from the downward convex shape to the flat shape. The larger the diameter, the flatter it becomes. The flatter the crystal quality becomes.

従って、本発明では、6インチを以上であってもそれ未満の単結晶と同等の品質を保持することが可能であるため、6インチ以上の単結晶に適用すると効果がより顕著に現れる。なお、8インチ以上においても同様である。 Therefore, in the present invention, even if the length is 6 inches or more, it is possible to maintain the same quality as a single crystal of less than 6 inches. Therefore, the effect is more remarkable when applied to a single crystal of 6 inches or more. The same applies to 8 inches or more.

融点が2100℃以下の例えば、 サファイア(Al)(融点:2072℃)、ScAlMgO、LiTaO(融点:1650℃)又はYAG(融点:1970℃)などの単結晶の育成の場合には、タングステン若しくはタングステン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金の層で覆われている原料保持用ルツボを用いることができる。融点が高いこれら単結晶の場合であっても、原料保持用ルツボの変形はすくなくルツボの寿命は長い。 In the case of growing a single crystal such as sapphire (Al 2 O 3 ) (melting point: 2072 ° C.), ScAlMgO 4 , LiTaO 3 (melting point: 1650 ° C.) or YAG (melting point: 1970 ° C.) having a melting point of 2100 ° C. or less A crucible for holding a raw material in which the inner surface of a main body made of tungsten or a tungsten alloy is covered with a layer of iridium or an iridium alloy can be used. Even in the case of these single crystals having a high melting point, the crucible for holding the raw material is not easily deformed and the life of the crucible is long.

一方、融点が1600℃以下のたとえば、LiNbO(融点:1250℃)又はランガサイト(融点:1475℃)などの単結晶の育成の場合には、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなす内層で覆われている原料用ルツボを用いることが好ましい。 On the other hand, in the case of growing a single crystal such as LiNbO 3 (melting point: 1250 ° C.) or langasite (melting point: 1475 ° C.) having a melting point of 1600 ° C. or less, a body made of tungsten or a tungsten alloy or molybdenum or a molybdenum alloy It is preferable to use a raw material crucible whose inner surface is covered with an inner layer made of platinum or a platinum alloy.

(他の構成物)
図1には図示していないが、単結晶引上げ装置には、真空ポンプ、高周波誘導加熱用発振機、発振機の制御及び、単結晶引き上げ成長炉のコンピュータ制御、温度制御、駆動系制御、成長結晶直径制御等を行う制御装置その他の装置が設けられている。
(Other components)
Although not shown in FIG. 1, the single crystal pulling apparatus includes a vacuum pump, an oscillator for high frequency induction heating, control of the oscillator, computer control of the single crystal pulling growth furnace, temperature control, drive system control, growth A control device and other devices for controlling the crystal diameter and the like are provided.

[育成装置についての第2の形態]
図2に他の形態を示す。
この形態においては、加熱用ルツボと原料保持用ルツボとが間隔を置いて配置されている。
[Second form of training apparatus]
FIG. 2 shows another form.
In this embodiment, the heating crucible and the raw material holding crucible are arranged at an interval.

タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなす内層で覆われている原料用ルツボ18が、加熱用ルツボ内に間隔をおいて設けられている。 Raw material crucibles 18 in which the inner surface of the main body made of tungsten or tungsten alloy or molybdenum or molybdenum alloy is covered with an inner layer made of platinum or platinum alloy are provided in the heating crucible at intervals.

本例における加熱用ルツボは2重構造をなしている。すなわち、外側はグラファイトからなるルツボ19bであり、内側はWCで表面を被覆したいWからなるルツボ19aである。内側のルツボ19aとしては、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなす内層で覆われているルツボを用いてもよい。内側のルツボ19aと外側のルツボ19bとは離間せずに密着させてある。 The heating crucible in this example has a double structure. That is, the outer side is a crucible 19b made of graphite, and the inner side is a crucible 19a made of W whose surface is to be covered with WC. As the inner crucible 19a, a crucible in which the inner surface of a main body made of tungsten or a tungsten alloy or molybdenum or a molybdenum alloy is covered with an inner layer made of platinum or a platinum alloy may be used. The inner crucible 19a and the outer crucible 19b are in close contact with each other without being separated.

原料保持用ルツボ18は、加熱用ルツボ18の内部に、側壁同士を離隔させ、底部にタングステンあるいはタングステンカーバイドからなるスペーサー21を介して配置されている。 The raw material holding crucible 18 is disposed inside the heating crucible 18 with the side walls spaced apart and at the bottom via a spacer 21 made of tungsten or tungsten carbide.

本形態では、ルツボは三重構造をなしている。加熱用ルツボの内側ルツボ19aの内面は、タングステン(あるいはイリジウムもしくは白金)であり、その面からの輻射により原料保持用ルツボ18が加熱される。原料保持用ルツボ187内における融液300中の温度勾配はより一層低減され、より一層歪の少ない単結晶が得られる。 In this embodiment, the crucible has a triple structure. The inner surface of the inner crucible 19a of the heating crucible is tungsten (or iridium or platinum), and the raw material holding crucible 18 is heated by radiation from the surface. The temperature gradient in the melt 300 in the raw material holding crucible 187 is further reduced, and a single crystal with less distortion is obtained.

従来のルツボにおいては、育成結晶が小さい時(8インチ未満の時)はルツボの側壁が均一に加熱され、融液の自然対流は保持される。ところが育成結晶が大きくなると(8インチ以上になると)コイルに発生する高周波磁束の密度がルツボの中心になるにつれて弱まり、ルツボ外壁の一部が特に加熱されるホットエリアが形成され、温度勾配がきつくなる。   In the conventional crucible, when the grown crystal is small (less than 8 inches), the side wall of the crucible is uniformly heated and the natural convection of the melt is maintained. However, when the grown crystal becomes large (over 8 inches), the density of the high-frequency magnetic flux generated in the coil becomes weaker as it becomes the center of the crucible, forming a hot area where a part of the outer wall of the crucible is particularly heated, and the temperature gradient becomes tight. Become.

この現象を弱めるために直接的にルツボによって融液を加熱するよりもクッション的に直接加熱されないルツボを内側に配置することで比較的、側面側からの加熱を弱め、融液の温度分布のばらつきをマイルドにして温度勾配が急峻にならないようになる。
融液の温度勾配が緩くなると自然対流が安定して結晶の欠陥やひずみを抑制する効果が生
ずる。
また、3重構造にすると各々のルツボの高寿命化がより一層達成される。
In order to weaken this phenomenon, the crucible that is not heated directly in a cushion rather than directly heated by the crucible is placed inside to relatively weaken the heating from the side, and the dispersion of the temperature distribution of the melt As a result, the temperature gradient does not become steep.
When the temperature gradient of the melt is relaxed, natural convection is stabilized and the effect of suppressing crystal defects and strains is produced.
In addition, when a triple structure is used, the life of each crucible can be further increased.

なお、図2に示す例では、原料保持用ルツボ18の底部内壁にはタングステンのスペーサー21が配置されている。原料保持用ルツボはこのスペーサー21上に載置される。すなわち、側壁においては離隔して輻射により熱を供与するが、底壁においては離隔せず熱伝導により熱を供与する。これにより、温度勾配をより少なくすることができる。 In the example shown in FIG. 2, a tungsten spacer 21 is disposed on the bottom inner wall of the raw material holding crucible 18. The raw material holding crucible is placed on the spacer 21. In other words, heat is provided by radiation at the side walls while being separated, but heat is provided by heat conduction at the bottom wall without separation. Thereby, a temperature gradient can be decreased more.

[育成装置についての第3の形態]
図4に形態3に係る育成装置を示す。
チャンバ11内に設けられた断熱材15で形成される加熱室と、加熱室の内部に配置されたルツボと、加熱室の外周に配置された加熱コイル20とを備え、前記ルツボを加熱し
て得られた原料融液300に種結晶210を接触させた後に、種結晶210を引き上げて
単結晶200を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、有底の原料保持用ルツボ18と、原料保持用ルツボ18の外側に配置されたグラファイトからなる有底の加熱用ルツボ19とからなり、前記原料保持用ルツボ18の外周と前記加熱用ルツボ19の内周とにより形成される空間にタングステンカーバイドの粉末350が装入されている。
原料保持用ルツボ18は、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている。
[Third embodiment of the training apparatus]
FIG. 4 shows a growing apparatus according to the third embodiment.
A heating chamber formed of a heat insulating material 15 provided in the chamber 11, a crucible disposed inside the heating chamber, and a heating coil 20 disposed on the outer periphery of the heating chamber, and heating the crucible In the single crystal growth apparatus for bringing the seed crystal 210 into contact with the obtained raw material melt 300 and then growing the single crystal 200 by pulling up the seed crystal 210.
The crucible includes a bottomed raw material holding crucible 18 and a bottomed heating crucible 19 made of graphite disposed outside the raw material holding crucible 18, and the outer periphery of the raw material holding crucible 18 and the heating Tungsten carbide powder 350 is charged into a space formed by the inner periphery of the crucible 19 for use.
In the raw material holding crucible 18, the inner surface of the main body made of tungsten, tungsten alloy, molybdenum, or molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium, iridium alloy, platinum, or platinum alloy.

本形態に係る育成装置は例えば次の手順で作成する。
(1)加熱用ルツボであるグラファイトルツボ19を、加熱室内の台座上に設置した後にタングステンカーバイドの粉末350をグラファイトルツボ19の内側の底面に好ましくは1〜5mmの厚さで敷き詰める。
(2)原料保持用ルツボ18を、タングステンカーバイドの粉末350上に設置する。その際、原料保持用ルツボ18と加熱用ルツボ19の中心が一致させる。
(3)原料保持用ルツボ18の外形はグラファイトルツボ(加熱用ルツボ)19の内径より、例えば、10mmぐらい小さいものにする。そのようにするとグラファイトルツボ19と原料保持用ルツボ18の隙間は5mmになる。
The training apparatus according to the present embodiment is created by the following procedure, for example.
(1) After the graphite crucible 19 as a heating crucible is placed on a pedestal in the heating chamber, a tungsten carbide powder 350 is spread on the bottom surface inside the graphite crucible 19 with a thickness of preferably 1 to 5 mm.
(2) The raw material holding crucible 18 is placed on the tungsten carbide powder 350. At that time, the centers of the raw material holding crucible 18 and the heating crucible 19 are aligned.
(3) The outer shape of the raw material holding crucible 18 is made smaller than the inner diameter of the graphite crucible (heating crucible) 19 by about 10 mm, for example. As a result, the gap between the graphite crucible 19 and the raw material holding crucible 18 becomes 5 mm.

(4)その隙間にタングステンカーバイドの粉末を注入する。
本形態によれば、次の諸々の効果が達成される。
タングステンカーバイドをコーティングするよりもはるかに安価で簡易的に結晶育成が行える。タングステンカーバイドのコーティングは熱膨張率の差異により、使用回数が多くなった時、クラックや劣化が心配されるが、粉末の場合には熱膨張の差異を吸収することができる。
また、充填密度を制御することにより、加熱用ルツボ19から原料保持用ルツボ19への熱の伝達量や伝達速度を制御することができるため、温度勾配が生じない最適な伝達量、伝達速度の設定が容易に可能となる。
なお、原料保持用ルツボ18と加熱用ルツボ19との間は全てWC粉末を充填してもよいが、原料用ルツボの底部にブロック状のW又はWCのスペーサーを設けてもよい。このスペーサーの寸法を変化させることにより加熱用ルツボ18から原料保持用ルツボ19への熱伝達を制御することができ、原料融液の温度分布のばらつきをより少なくすることが可能となる。
(4) Tungsten carbide powder is injected into the gap.
According to this embodiment, the following various effects are achieved.
Crystal growth is much cheaper and easier than coating with tungsten carbide. The tungsten carbide coating is worried about cracks and deterioration when the number of uses increases due to the difference in thermal expansion coefficient, but in the case of powder, the difference in thermal expansion can be absorbed.
Further, by controlling the packing density, it is possible to control the amount and speed of heat transfer from the heating crucible 19 to the raw material holding crucible 19. Setting is easily possible.
The space between the raw material holding crucible 18 and the heating crucible 19 may be entirely filled with WC powder, but a block-like W or WC spacer may be provided at the bottom of the raw material crucible. By changing the size of the spacer, heat transfer from the heating crucible 18 to the raw material holding crucible 19 can be controlled, and variation in the temperature distribution of the raw material melt can be further reduced.

[育成方法の形態]
<準備工程>
準備工程では種結晶を用意して、引上げ棒12の保持部材13に取り付ける。続いて加熱用ルツボ19を配置する。加熱用ルツボ19の底にタングステン板21を置き、その上に原料保持用ルツボ18を設けることで二重構造のルツボとする。
さらに原料粉末を原料保持用ルツボ18内充填し、チャンバ11内にルツボを取り囲むように断熱容器としてカーボンフェルト材16とジルコニア耐火物15を組み立てる。さらにまた加熱コイル20と断熱容器15の間に石英管14を配置する。この準備作業が終了した後にガス供給部22からガス供給を行わないで、排気部23を用いてチャンバ内を減圧する。
[Growth method]
<Preparation process>
In the preparation step, a seed crystal is prepared and attached to the holding member 13 of the pulling rod 12. Subsequently, a heating crucible 19 is arranged. A tungsten plate 21 is placed on the bottom of the heating crucible 19 and a raw material holding crucible 18 is provided thereon to form a double structure crucible.
Further, the raw material powder is filled in the raw material holding crucible 18, and the carbon felt material 16 and the zirconia refractory 15 are assembled as a heat insulating container so as to surround the crucible in the chamber 11. Furthermore, a quartz tube 14 is disposed between the heating coil 20 and the heat insulating container 15. After the preparatory work is completed, the gas supply unit 22 is not supplied with a gas, and the inside of the chamber is decompressed using the exhaust unit 23.

その後、ガス供給部22からアルゴンガスを供給し、チャンバ11の内部を不活性ガス雰囲気で常圧にする。ガスを供給するに際しては、ガスの流れが下方から上方に向かうように供給することが好ましい。これにより、不純物等が融液300中に混入することを低減させることができる。
<溶融工程>
溶融工程では、ガス供給部22からアルゴンガスをチャンバ11に供給する。コイル電源が加熱コイル20に高周波電を供給し、加熱コイル20で磁束が発生し、発熱体であるグラファイトルツボ19には渦電流が発生する。
Thereafter, argon gas is supplied from the gas supply unit 22 to bring the inside of the chamber 11 to normal pressure in an inert gas atmosphere. When supplying the gas, it is preferable to supply the gas so that the gas flows upward from below. Thereby, it can reduce that an impurity etc. mix in the melt 300. FIG.
<Melting process>
In the melting step, argon gas is supplied from the gas supply unit 22 to the chamber 11. The coil power supply supplies high-frequency electricity to the heating coil 20, magnetic flux is generated in the heating coil 20, and eddy current is generated in the graphite crucible 19 which is a heating element.

グラファイトルツボ19の融点は3000℃であるので、グラファイトルツボ19を2500℃以上に加熱することも可能であり、2500℃以上に加熱した方が作業効率は上昇する。しかし、グラファイトルツボ19の加熱は2500℃以下とすることが好ましく、2300℃以下とすることがより好ましい。このように、グラファイトルツボ19の加熱温度を制限することによりルツボの寿命がはるかに長くなる。 Since the melting point of the graphite crucible 19 is 3000 ° C., it is possible to heat the graphite crucible 19 to 2500 ° C. or higher, and the working efficiency increases when heated to 2500 ° C. or higher. However, the heating of the graphite crucible 19 is preferably 2500 ° C. or less, and more preferably 2300 ° C. or less. Thus, limiting the heating temperature of the graphite crucible 19 makes the life of the crucible much longer.

図2に示す三重ルツボの構造の場合は、発熱体であるグラファイトルツボ19bからの熱伝導によって、タングステンの内側ツボ19aが加熱され、さらにタングステンルツボ19aからの熱輻射または熱伝導によって、原料保持用璧部が加熱され、これに伴って原料保持用ルツボ18に収容される酸化アルミニウムがその融点(2054℃)を超えて加熱されると、原料保持用ルツボ187内においてアルミナ原料すなわち酸化アルミニウムが溶融し、アルミナ融液300となる。 In the case of the triple crucible structure shown in FIG. 2, the inner crucible 19a of tungsten is heated by heat conduction from the graphite crucible 19b, which is a heating element, and further, the material is held by heat radiation or heat conduction from the tungsten crucible 19a. When the wall portion is heated and the aluminum oxide contained in the raw material holding crucible 18 is heated to exceed its melting point (2054 ° C.), the alumina raw material, that is, aluminum oxide is melted in the raw material holding crucible 187. Thus, the alumina melt 300 is obtained.

<種付け工程>
種付け工程では、ガス供給部22が、アルゴンガスをチャンバ23内に供給する。
引上げ駆動部は、保持部材13に取り付けられた種結晶200の下端が、原料保持用ルツボ18内のアルミナ融液300と接触する位置まで引上げ棒12を下降させて停止させる。その状態で、コイル電源は、重量検出部からの重量信号をもとに加熱コイル20に供給する高周波電流の電流値を調節する。
<Seeding process>
In the seeding step, the gas supply unit 22 supplies argon gas into the chamber 23.
The pulling drive unit lowers the pulling rod 12 to a position where the lower end of the seed crystal 200 attached to the holding member 13 comes into contact with the alumina melt 300 in the raw material holding crucible 18 to stop. In this state, the coil power supply adjusts the current value of the high-frequency current supplied to the heating coil 20 based on the weight signal from the weight detector.

<肩部形成工程>
肩部形成工程では、コイル電源が加熱コイル20に供給する高周波電流を調節したのち、アルミナ融液300の温度が安定するまでしばらくの間保持し、その後、引上げ棒12を第一の回転速度で回転させながら第一の引上げ速度にて引き上げる。すると、種結晶210は、その下端部がアルミナ融液300に浸った状態で回転されつつ引き上げられることになり、種結晶210の下端には、鉛円直下方に向かって拡開する肩部220が形成されていく。肩部220の直径が所望とする基板の直径よりも数mm(1〜5mm)ほど大きくなった時点で肩部形成工程を完了する。
<Shoulder formation process>
In the shoulder forming step, after the high frequency current supplied from the coil power supply to the heating coil 20 is adjusted, the temperature is kept for a while until the temperature of the alumina melt 300 is stabilized, and then the pulling rod 12 is moved at the first rotational speed. Pull up at the first pulling speed while rotating. Then, the seed crystal 210 is pulled up while being rotated in a state where its lower end is immersed in the alumina melt 300, and a shoulder 220 that expands directly below the lead circle is formed at the lower end of the seed crystal 210. Will be formed. The shoulder forming step is completed when the diameter of the shoulder 220 becomes several mm (1 to 5 mm) larger than the desired diameter of the substrate.

<直胴部形成工程>
直胴部形成工程では、ガス供給部22がアルゴンガスをチャンバ11内に供給する。コイル電源は、引き続き加熱コイル20に高周波電流の供給を行い、原料保持用ルツボ18を介してアルミナ融液300を加熱する。引き上げ駆動部は、引き上げ棒12を第2の引き上げ速度にて引き上げる。ここで第2の引き上げ速度は、肩部形成工程における原料保持用引き上げ速度と異なる速度である。さらに、回転駆動部は、引き上げ棒12を第2の回転速度で回転させる。
<Straight body part formation process>
In the straight body forming step, the gas supply unit 22 supplies argon gas into the chamber 11. The coil power supply continues to supply high-frequency current to the heating coil 20 to heat the alumina melt 300 via the raw material holding crucible 18. The pulling drive unit pulls the pulling rod 12 at the second pulling speed. Here, the second pulling speed is different from the pulling speed for holding the raw material in the shoulder forming step. Further, the rotation drive unit rotates the pulling rod 12 at the second rotation speed.

ここで、第2の回転速度は、肩部形成工程における第1の回転速度と異なる速度である。
種結晶210と一体化した肩部220は、その下端部がアルミナ融液300に浸った状態で回転されつつ引き上げられることになるため、肩部220の下端部には、円柱状の直胴部230が形成されていく。直胴部230の直径は、所望とする基板の直径より数mmほど大きなっていればよい。
Here, the second rotation speed is a speed different from the first rotation speed in the shoulder portion forming step.
Since the shoulder 220 integrated with the seed crystal 210 is pulled up while being rotated with its lower end immersed in the alumina melt 300, a cylindrical straight body portion is provided at the lower end of the shoulder 220. 230 is formed. The diameter of the straight body 230 may be several mm larger than the desired diameter of the substrate.

<尾部形成工程>
尾部形成工程では、ガス供給部22がアルゴンガスをチャンバ11内に供給する。
また、コイル電源は、引き続き加熱コイル20に高周波電流の供給を行い、原料保持用ルツボ18を介したアルミナ融液300を加熱する。さらに、引き上げ駆動部は、引き上げ棒12を第3の引き上げ速度にて引き上げる。ここで第3の引き上げ速度は、肩部形成工程における第1の引き上げ速度あるいは直胴部形成工程における第2の引き上げ速度と異なる速度である。
<Tail formation process>
In the tail formation step, the gas supply unit 22 supplies argon gas into the chamber 11.
The coil power supply continues to supply high-frequency current to the heating coil 20 to heat the alumina melt 300 through the raw material holding crucible 18. Further, the pulling drive unit pulls the pulling rod 12 at the third pulling speed. Here, the third pulling speed is a speed different from the first pulling speed in the shoulder forming process or the second pulling speed in the straight body forming process.

さらにまた、回転駆動部は、引き上げ棒12を第3の回転速度で回転させる。ここで、第3の回転速度は、肩部形成工程における第1の回転速度あるいは直胴部形成工程における第2の回転速度とは異なる速度である。なお、尾部形成工程の序盤において、尾部240下端は、アルミナ融液300と接触した状態を維持する。
そして、所定の時間が経過した尾部形成工程の終盤において、引き上げ駆動部は、引き上げ棒12の引き上げ速度を増速させて引き上げ棒12をさらに上方に引き上げさせることにより、尾部240の下端をアルミナ融液300から引き離す。これにより、図2に示すサファイアインゴット200が得られる。
Furthermore, the rotation drive unit rotates the pulling rod 12 at the third rotation speed. Here, the third rotation speed is a speed different from the first rotation speed in the shoulder portion forming step or the second rotation speed in the straight body portion forming step. Note that the lower end of the tail portion 240 is kept in contact with the alumina melt 300 in the early stage of the tail portion forming step.
Then, at the end of the tail forming process after a predetermined time has elapsed, the pulling drive unit increases the pulling speed of the pulling rod 12 to raise the pulling rod 12 further upward, so that the lower end of the tail 240 is fused with alumina. Pull away from liquid 300. Thereby, the sapphire ingot 200 shown in FIG. 2 is obtained.

<冷却工程>
冷却工程では、ガス供給部22がアルゴンガスをチャンバ11内に供給する。また、コイル電源は、加熱コイル20へ高周波電流の供給を停止し、ルツボ17を介したアルミナ融液300の加熱を中止する。さらに、引き上げ駆動部は引き上げ棒12の引き上げを停止させ、回転駆動部は引き上げ棒12の回転を停止させる。このとき、ルツボ17内には、サファイアインゴット200を形成しなかった酸化アルミニウムがアルミナ融液300として少量残存している。このため、加熱の停止に伴って、原料保持ルツボ18中のアルミナ融液300は徐々に冷却され、酸化アルミニウムの融点を下回った後にルツボ18中で固化し、酸化アルミニウムの固体となる。そして、チャンバ11内が十分に冷却された状態で、チャンバ11内からサファイアインゴット200が取り出される。
<Cooling process>
In the cooling process, the gas supply unit 22 supplies argon gas into the chamber 11. Further, the coil power supply stops the supply of the high frequency current to the heating coil 20 and stops the heating of the alumina melt 300 via the crucible 17. Further, the pulling drive unit stops the pulling of the pulling rod 12, and the rotation driving unit stops the rotation of the pulling rod 12. At this time, a small amount of aluminum oxide that did not form the sapphire ingot 200 remains as the alumina melt 300 in the crucible 17. For this reason, with the stop of heating, the alumina melt 300 in the raw material holding crucible 18 is gradually cooled, and after solidifying below the melting point of aluminum oxide, solidifies in the crucible 18 to become an aluminum oxide solid. Then, the sapphire ingot 200 is taken out from the chamber 11 in a state where the inside of the chamber 11 is sufficiently cooled.

以上説明したように、本実施の形態では、加熱コイル20により原料保持用ルツボ18の壁部を直接加熱することなく、原料保持用ルツボ18を間接的に加熱している。このため、加熱コイル20により原料保持用ルツボ18の壁部を直接加熱した場合に比べ、ルツボ17内の融液の温度勾配を緩和することができる。よって、急激な温度勾配によって成長させた単結晶に発生する歪みを抑制することができる。 As described above, in the present embodiment, the raw material holding crucible 18 is indirectly heated without directly heating the wall portion of the raw material holding crucible 18 by the heating coil 20. For this reason, compared with the case where the wall part of the raw material holding crucible 18 is directly heated by the heating coil 20, the temperature gradient of the melt in the crucible 17 can be relaxed. Therefore, distortion generated in the single crystal grown by the rapid temperature gradient can be suppressed.

(実施例1)
本例では、図4に示す構造の高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いてYAG(YAl12)を育成した。
原料ルツボ(原料保持用ルツボ)18として、内面にイリジウムを0.5mmの厚さにコーティングを行ったタングステン製のΦ100mmのルツボを用いた。加熱用ルツボ19にはグラファイトルツボを用いた。
原料保持用ルツボ18に、出発原料として4N(99.99%)のY、Alを規定mol配合した原料2.0kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉に投入し、炉内を真空にした後にアルゴンガスを導入し、1.0L/minの流量でフローを行った。炉内が大気圧となった時点でルツボの加熱を開始し、YAGの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。
その後、(111)方位に切り出したYAG単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分6.0回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度0.5mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。
その結果、直径50mm、直胴部の長さ100mmの単結晶が得られた。この単結晶を観察したところ、微小な気泡は観測されなかった。さらに、ウェハ状に切断・研磨し、偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
本例では、チャンバ内径1000φの高周波加熱コイルを備えた高周波誘導加熱型チョ
クラルスキー炉を用いた。内径φ295mmのタングステン製ルツボの外壁に0.5mm
の厚みを持ったタングステンカーバイドをコーティングしたルツボの外側にグラファイト
ルツボを密接して配置した一体型二重ルツボに出発原料として4N(99.99%)の酸
化アルミニウム原料を52kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉の加熱室に
投入した。前記一体型二重ルツボの外周にはカーボンフェルト材およびジルコニアによっ
て断熱構造を設け、加熱室内部の最外周に高周波加熱コイルが配置され、その内側に石英
管を配置した。炉内を真空にした後に装置下方からアルゴンガスを導入し、1.0L/m
inの流量でフローさせ装置上方に排気口を設け、加熱室内の雰囲気ガスを循環させるた
めに、前記石英管は雰囲気ガスを密封するように配置した。
Example 1
In this example, YAG (Y 3 Al 5 O 12 ) was grown using a high-frequency induction heating type Czochralski furnace having the structure shown in FIG.
As a raw material crucible (raw material holding crucible) 18, a Φ100 mm crucible made of tungsten having an inner surface coated with iridium to a thickness of 0.5 mm was used. A graphite crucible was used as the heating crucible 19.
The raw material holding crucible 18 was charged with 2.0 kg of raw material containing 4 mol (99.99%) of Y and Al 2 O 3 as a starting material. The crucible charged with the raw material was put into the growth furnace, the inside of the furnace was evacuated, argon gas was introduced, and flow was performed at a flow rate of 1.0 L / min. When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was heated and gradually heated over 12 hours until reaching the melting point of YAG.
Thereafter, the YAG single crystal cut in the (111) orientation was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 6.0 revolutions per minute, and the pulling speed is 0.5 mm / h while the tip is brought into contact with the melt and the temperature is gradually lowered. The crystal was grown by raising the seed crystal.
As a result, a single crystal having a diameter of 50 mm and a length of the straight body portion of 100 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Further, when the wafer was cut and polished into a wafer and the inside was observed with polarized light, no generation of subgrains was observed.
In this example, a high-frequency induction heating type Czochralski furnace equipped with a high-frequency heating coil having a chamber inner diameter of 1000φ was used. 0.5mm on the outer wall of tungsten crucible with inner diameter φ295mm
52 kg of 4N (99.99%) aluminum oxide raw material was charged as a starting material into an integrated double crucible in which a graphite crucible was closely arranged on the outside of a crucible coated with tungsten carbide having a thickness of 5 mm. The crucible charged with the raw material was charged into the heating chamber of the growth furnace. A heat insulating structure was provided on the outer periphery of the integrated double crucible with carbon felt material and zirconia, a high-frequency heating coil was disposed on the outermost periphery of the heating chamber, and a quartz tube was disposed on the inner side. After evacuating the inside of the furnace, argon gas was introduced from the bottom of the apparatus, and 1.0 L / m
The quartz tube was disposed so as to seal the atmosphere gas in order to flow at a flow rate of in, to provide an exhaust port above the apparatus, and to circulate the atmosphere gas in the heating chamber.

炉内が大気圧になった時点でルツボの加熱を開始し、酸化アルミニウムの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。溶融後、酸化アルミニウム単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分2回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度2mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。   When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was started to be heated gradually over 12 hours until reaching the melting point of aluminum oxide. After melting, an aluminum oxide single crystal was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 2 revolutions per minute, and the seed crystal is lowered at a pulling speed of 2 mm / h while gradually lowering the temperature by bringing the tip of the seed crystal into contact with the melt. The crystal was grown by raising.

その結果、直径205mm、直胴部の長さ150mmの単結晶が得られた。この単結晶
を観察したところ、微小な気泡は観察されなかった。さらに、ウエハ状に切断・研磨し、
偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
上記実験を複数回行ったところ、
As a result, a single crystal having a diameter of 205 mm and a length of the straight body portion of 150 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Furthermore, it is cut and polished into a wafer,
When the inside was observed with polarized light, no subgrains were observed.
When the above experiment was performed multiple times,

(実施例2)
本例では、図4に示す構造の高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いてLTGA(LaTa0.5Ga5.3Al0.214)を育成した。
原料ルツボ(原料保持用ルツボ)18として、内面にイリジウムを0.3mmコーティングを行ったタングステン製のΦ100mmのルツボを用いた。
加熱用ルツボ19にはグラファイトルツボを用いた。
原料保持用ルツボ18に、出発原料として4N(99.99%)のLa、Ta、Ga、Alを規定mol%に配合した原料2.0kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉に投入し、炉内を真空にした後にアルゴンガスを導入し、2.0L/minの流量でフローを行った。
炉内が大気圧となった時点でルツボの加熱を開始し、LTGAの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。その後、(100)方位に切り出したLTGA単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分4.0回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度2.0mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。
その結果、直径50mm、直胴部の長さ100mmの単結晶が得られた。この単結晶を観察したところ、微小な気泡は観測されなかった。さらに、ウェハ状に切断・研磨し、偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
本例では、チャンバ内径1000mmφの高周波加熱コイルを備えた高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いた。内径φ295mmのタングステン製ルツボの外壁に0.5mmの厚みを持ったタングステンカーバイドをコーティングしたルツボの外側にグラファイトルツボを密接して配置した一体型二重ルツボの内側に内径φ230mmのモリブデンルツボを配置し、該モリブデンルツボはタングステンスペーサーを介してタングステンカーバイドを内壁にコーティングしたタングステンルツボ内に配置される。
(Example 2)
In this example, LTGA (La 3 Ta 0.5 Ga 5.3 Al 0.2 O 14 ) was grown using a high-frequency induction heating type Czochralski furnace having the structure shown in FIG.
As a raw material crucible (raw material holding crucible) 18, a Φ100 mm crucible made of tungsten having an inner surface coated with 0.3 mm of iridium was used.
A graphite crucible was used as the heating crucible 19.
The raw material holding crucible 18 was charged with 2.0 kg of raw material containing 4N (99.99%) of La 2 O 3 , Ta 2 O 5 , Ga 2 O 3 , and Al 2 O 3 in a specified mol% as a starting material. . The crucible charged with the raw material was put into the growth furnace, the inside of the furnace was evacuated, argon gas was introduced, and flow was performed at a flow rate of 2.0 L / min.
When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was heated and gradually heated over 12 hours until reaching the melting point of LTGA. Thereafter, the LTGA single crystal cut in the (100) orientation was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 4.0 revolutions per minute, and the tip of the seed crystal is brought into contact with the melt to gradually lower the temperature, while the pulling speed is 2.0 mm / h. Crystal growth was carried out by raising the seed crystal.
As a result, a single crystal having a diameter of 50 mm and a straight body portion length of 100 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Further, when the wafer was cut and polished into a wafer and the inside was observed with polarized light, no generation of subgrains was observed.
In this example, a high-frequency induction heating type Czochralski furnace equipped with a high-frequency heating coil having a chamber inner diameter of 1000 mmφ was used. A molybdenum crucible with an inner diameter of 230 mm is placed inside an integrated double crucible in which a graphite crucible is placed in close contact with the outside of a crucible coated with tungsten carbide having a thickness of 0.5 mm on the outer wall of a tungsten crucible with an inner diameter of φ295 mm. The molybdenum crucible is disposed in a tungsten crucible having an inner wall coated with tungsten carbide via a tungsten spacer.

出発原料として4N(99.99%)の酸化アルミニウム原料22kgをモリブデンルツボに投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉の加熱室に投入した。前記一体型二重ルツボの外周にはカーボンフェルト材およびジルコニアによって断熱構造を設け、加熱室内部の最外周に高周波加熱コイルが配置され、その内側に石英管を配置した。炉内を真空にした後に装置下方からアルゴンガスを導入し、1.0L/minの流量でフローさせ装置上方に排気口を設け、加熱室内の雰囲気ガスを循環させるために、前記石英管は雰囲気ガスを密封するように配置した。
炉内が大気圧になった時点でルツボの加熱を開始し、酸化アルミニウムの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。溶融後、酸化アルミニウム単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分10回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度2mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。
As a starting material, 22 kg of 4N (99.99%) aluminum oxide material was charged into a molybdenum crucible. The crucible charged with the raw material was charged into the heating chamber of the growth furnace. A heat insulating structure was provided on the outer periphery of the integrated double crucible with carbon felt material and zirconia, a high-frequency heating coil was disposed on the outermost periphery of the heating chamber, and a quartz tube was disposed on the inner side. In order to circulate the atmosphere gas in the heating chamber by introducing argon gas from the lower part of the furnace after evacuating the furnace, flowing at a flow rate of 1.0 L / min, providing an exhaust port above the apparatus, and circulating the atmospheric gas in the heating chamber, Arranged to seal the gas.
When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was started to be heated gradually over 12 hours until reaching the melting point of aluminum oxide. After melting, an aluminum oxide single crystal was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 10 revolutions per minute, and the seed crystal is pulled at a pulling speed of 2 mm / h while gradually lowering the temperature by bringing the tip of the seed crystal into contact with the melt. The crystal was grown by raising.

その結果、直径155mm、直胴部の長さ150mmの単結晶が得られた。この単結晶
を観察したところ、微小な気泡は観察されなかった。さらに、ウエハ状に切断・研磨し、
偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
As a result, a single crystal having a diameter of 155 mm and a length of the straight body portion of 150 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Furthermore, it is cut and polished into a wafer,
When the inside was observed with polarized light, no subgrains were observed.

(実施例3)
本例では、図4に示す構造の高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いてLT(LiTaO)を育成した。
原料ルツボ(原料保持用ルツボ)18として、内面にイリジウムを0.3mmコーティングを行ったタングステン製のΦ100mmのルツボを用いた。
加熱用ルツボ19にはグラファイトルツボを用いた。
原料保持用ルツボ18出発原料として4N(99.99%)のLiO、Taを規定mol%に配合した原料2.0kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉に投入し、炉内を真空にした後にアルゴンガスを導入し、1.0L/minの流量でフローを行った。
(Example 3)
In this example, LT (LiTaO 3 ) was grown using a high-frequency induction heating type Czochralski furnace having the structure shown in FIG.
As a raw material crucible (raw material holding crucible) 18, a Φ100 mm crucible made of tungsten having an inner surface coated with 0.3 mm of iridium was used.
A graphite crucible was used as the heating crucible 19.
Raw material holding crucible 18 As a starting material, 2.0 kg of raw material in which 4N (99.99%) of Li 2 O and Ta 2 O 5 were blended in a specified mol% was charged. The crucible charged with the raw material was put into the growth furnace, the inside of the furnace was evacuated, argon gas was introduced, and flow was performed at a flow rate of 1.0 L / min.

炉内が大気圧となった時点でルツボの加熱を開始し、LTの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。その後、(100)方位に切り出したLT単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分10.0回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度1.0mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。   When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was started to be heated gradually over 12 hours until reaching the melting point of LT. Thereafter, the LT single crystal cut in the (100) orientation was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 10.0 revolutions per minute, and the pulling speed is 1.0 mm / h while the tip is brought into contact with the melt and the temperature is gradually lowered. The crystal was grown by raising the seed crystal.

その結果、直径50mm、直胴部の長さ100mmの単結晶が得られた。この単結晶を観察したところ、微小な気泡は観測されなかった。さらに、ウェハ状に切断・研磨し、偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
本例では、原料保持用ルツボと加熱用ルツボとの間にタングステンカーバイドの粉末を挿入した装置を用いて単結晶を育成した例を示す。
As a result, a single crystal having a diameter of 50 mm and a length of the straight body portion of 100 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Further, when the wafer was cut and polished into a wafer and the inside was observed with polarized light, no generation of subgrains was observed.
In this example, an example is shown in which a single crystal is grown using an apparatus in which a tungsten carbide powder is inserted between a raw material holding crucible and a heating crucible.

実施例1〜3で製造した単結晶はいずれも従来に比べて硬度が低かった。なお、本実施
例に係る単結晶が従来の単結晶よりも硬度が低い理由は次の通りであると推測される。
All the single crystals produced in Examples 1 to 3 had lower hardness than the conventional ones. The reason why the single crystal according to this example has lower hardness than the conventional single crystal is presumed as follows.

従来は、従来の育成装置においては、ルツボにイリジウムを使用しており、また、保温
室はジルコニアから形成されていた。そのため、従来の育成装置では、酸素が炉内に発生
し、発生した酸素が単結晶の硬度を高めていたものと推測される。それに対し本実施例で
は、アルゴンガスにより炉内をパージして炉内から酸素を排除しているため単結晶は従来
の育成装置で育成されたサファイア結晶と比較して結晶が軟らかく、加工が容易となった
ものと推測される。なお、アルゴンガスとしては酸素、水分の含有量が100ppb以下
(より好ましくは100ppt以下)のガスを用いることが好ましい。
Conventionally, in the conventional breeding apparatus, iridium is used for the crucible, and the thermal insulation chamber is formed from zirconia. Therefore, in the conventional growth apparatus, it is estimated that oxygen was generated in the furnace and the generated oxygen increased the hardness of the single crystal. In contrast, in this example, the inside of the furnace was purged with argon gas and oxygen was excluded from the inside of the furnace, so the single crystal was softer and easier to process than the sapphire crystal grown with the conventional growth equipment. It is presumed that Note that it is preferable to use a gas having an oxygen and moisture content of 100 ppb or less (more preferably 100 ppt or less) as the argon gas.

(実施例4)
本例では、図4に示す構造の高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いてLuAG(LuAl12)を育成した。
原料ルツボ(原料保持用ルツボ)18として、内面にイリジウムを0.3mmコーティングを行ったタングステン製のΦ100mmのルツボを用いた。
加熱用ルツボ19にはグラファイトルツボを用いた。
Example 4
In this example, LuAG (Lu 3 Al 5 O 12 ) was grown using a high-frequency induction heating type Czochralski furnace having the structure shown in FIG.
As a raw material crucible (raw material holding crucible) 18, a Φ100 mm crucible made of tungsten having an inner surface coated with 0.3 mm of iridium was used.
A graphite crucible was used as the heating crucible 19.

原料保持用ルツボ18に、出発原料として4N(99.99%)のLu、Alを規定mol%に配合した原料2.0kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉に投入し、炉内を真空にした後にアルゴンガスを導入し、1.0L/minの流量でフローを行った。 The raw material holding crucible 18 was charged with 2.0 kg of a raw material in which 4N (99.99%) of Lu 2 O 3 and Al 2 O 3 were blended in a specified mol% as a starting raw material. The crucible charged with the raw material was put into the growth furnace, the inside of the furnace was evacuated, argon gas was introduced, and flow was performed at a flow rate of 1.0 L / min.

炉内が大気圧となった時点でルツボの加熱を開始し、LuAGの融点に達するまで20時間かけて徐々に加熱した。その後、(111)方位に切り出したLuAG単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分10.0回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度1.0mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。
その結果、直径50mm、直胴部の長さ100mmの単結晶が得られた。この単結晶を観察したところ、微小な気泡は観測されなかった。さらに、ウェハ状に切断・研磨し、偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was heated and gradually heated over 20 hours until reaching the melting point of LuAG. Thereafter, the LuAG single crystal cut in the (111) orientation was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 10.0 revolutions per minute, and the pulling speed is 1.0 mm / h while the tip is brought into contact with the melt and the temperature is gradually lowered. The crystal was grown by raising the seed crystal.
As a result, a single crystal having a diameter of 50 mm and a length of the straight body portion of 100 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Further, when the wafer was cut and polished into a wafer and the inside was observed with polarized light, no generation of subgrains was observed.

(実施例5)
本例では、図4に示す構造の高周波誘導加熱型チョクラルスキー炉を用いてLN(LiNbO)を育成した。
原料ルツボ(原料保持用ルツボ)18として、内面に白金を0.3mmコーティングを行ったタングステン製のΦ100mmのルツボを用いた。
加熱用ルツボ19にはグラファイトルツボを用いた。
(Example 5)
In this example, LN (LiNbO 3 ) was grown using a high-frequency induction heating type Czochralski furnace having the structure shown in FIG.
As a raw material crucible (raw material holding crucible) 18, a Φ100 mm crucible made of tungsten having an inner surface coated with 0.3 mm of platinum was used.
A graphite crucible was used as the heating crucible 19.

原料保持用ルツボ18に、出発原料として4N(99.99%)のLiCO、Nbを規定mol%に配合した原料2.0kg投入した。原料を投入したルツボを前記育成炉に投入し、炉内を真空にした後にアルゴンガスを導入し、1.0L/minの流量でフローを行った。 The raw material holding crucible 18 was charged with 2.0 kg of raw material in which 4N (99.99%) of Li 2 CO 3 and Nb 2 O 5 were blended in the specified mol% as starting materials. The crucible charged with the raw material was put into the growth furnace, the inside of the furnace was evacuated, argon gas was introduced, and flow was performed at a flow rate of 1.0 L / min.

炉内が大気圧となった時点でルツボの加熱を開始し、LNの融点に達するまで12時間かけて徐々に加熱した。その後、(100)方位に切り出したLN単結晶を種結晶として用い、種結晶を融液近くまで降下させた。この種結晶を毎分10.0回転の速度で回転させながら徐々に降下させ、種結晶の先端を融液に接触させて温度を徐々に降下させながら、引上速度1.0mm/hの速度で種結晶を上昇させて結晶成長を行った。
その結果、直径50mm、直胴部の長さ100mmの単結晶が得られた。この単結晶を観察したところ、微小な気泡は観測されなかった。さらに、ウェハ状に切断・研磨し、偏光により内部を観察した所、サブグレインの発生は認められなかった。
When the inside of the furnace became atmospheric pressure, the crucible was heated and gradually heated over 12 hours until reaching the melting point of LN. Thereafter, the LN single crystal cut in the (100) orientation was used as a seed crystal, and the seed crystal was lowered to near the melt. The seed crystal is gradually lowered while rotating at a speed of 10.0 revolutions per minute, and the pulling speed is 1.0 mm / h while the tip is brought into contact with the melt and the temperature is gradually lowered. The crystal was grown by raising the seed crystal.
As a result, a single crystal having a diameter of 50 mm and a length of the straight body portion of 100 mm was obtained. When this single crystal was observed, minute bubbles were not observed. Further, when the wafer was cut and polished into a wafer and the inside was observed with polarized light, no generation of subgrains was observed.

(実施例6)
実施例1から5に示す条件の試験をそれぞれ図1、図2に示す構造の育成装置についても行なった。ほぼ実施例1から5と同様の結果が得られた。
(Example 6)
Tests under the conditions shown in Examples 1 to 5 were also conducted on the growth apparatuses having the structures shown in FIGS. 1 and 2, respectively. Almost the same results as in Examples 1 to 5 were obtained.

(参考例)
原料保持用ルツボとして、タングステンカーバイドをタングステン本体の表面に被覆したルツボを用いて実施例1〜5と同様の試験を行ったところ、実施例1〜5の場合に比べて単結晶の尾部の長さが若干長かった。また、ルツボ寿命は実施例1〜5の方が長かった。
(Reference example)
As a raw material holding crucible, a crucible in which tungsten carbide was coated on the surface of the tungsten main body was used to perform the same test as in Examples 1 to 5. As compared with Examples 1 to 5, the length of the tail portion of the single crystal was increased. Was slightly longer. The crucible life was longer in Examples 1 to 5.

11 チャンバ
12 引上げ棒
13 保持部材
14 石英管
15 加熱室
16 カーボンフェルト
17 原料保持用ルツボ
18 原料保持用ルツボ
19 加熱用ルツボ
20 加熱手段(加熱コイル)
22 ガス供給部
23 ガス排気部
200 インゴット(単結晶)
210 種結晶
220 肩部
230 直胴部
240 尾部
300 原料融液
350 タングステンカーバイドの粉末
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Chamber 12 Pulling rod 13 Holding member 14 Quartz tube 15 Heating chamber 16 Carbon felt 17 Raw material holding crucible 18 Raw material holding crucible 19 Heating crucible 20 Heating means (heating coil)
22 Gas supply part 23 Gas exhaust part 200 Ingot (single crystal)
210 Seed crystal 220 Shoulder 230 Straight body 240 Tail 300 Raw material melt 350 Tungsten carbide powder

Claims (15)

ルツボ内の原料融液に種結晶を接触させた後に、前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成装置において、
前記ルツボは、タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金又は白金若しくは白金合金からなる層で覆われている原料保持用ルツボと、前記原料保持のためのルツボの外側に間隔を置いて又は置かないで配置された加熱用ルツボとからなる単結晶育成装置。
In the single crystal growth apparatus for raising the seed crystal by bringing the seed crystal into contact with the raw material melt in the crucible,
The crucible includes a raw material holding crucible in which an inner surface of a body made of tungsten, tungsten alloy, molybdenum, or molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium, iridium alloy, platinum, or platinum alloy, and the crucible for holding the raw material. A single crystal growing apparatus comprising a heating crucible arranged with or without an interval outside.
前記加熱用ルツボに高周波電力を供給することにより加熱を行う請求項1記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to claim 1, wherein heating is performed by supplying high-frequency power to the heating crucible. 前記加熱用ルツボはグラファイトからなる請求項1又は2記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to claim 1, wherein the heating crucible is made of graphite. 前記原料保持用ルツボと前記加熱用ルツボとの間隔にタングステン又はタングステンからなる粉末が充填されている請求項1ないし3のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein tungsten or a powder made of tungsten is filled in an interval between the raw material holding crucible and the heating crucible. 前記原料用ルツボの底部と前記加熱用ルツボとの間にタングステン又はタングステンカーバイドからなるスペーサーを設けてある請求項1ないし4のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein a spacer made of tungsten or tungsten carbide is provided between a bottom portion of the raw material crucible and the heating crucible. 前記単結晶は酸化物単結晶である請求項1ないし5のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to claim 1, wherein the single crystal is an oxide single crystal. タングステン若しくはタングステン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金の層で覆われており、前記酸化物はサファイア(Al)、ScAlMgO、LiTaO、LiAG又はYAGである請求項6記載の単結晶育成装置。 The inner surface of a main body made of tungsten or a tungsten alloy is covered with a layer of iridium or an iridium alloy, and the oxide is sapphire (Al 2 O 3 ), ScAlMgO 4 , LiTaO 3 , LiAG, or YAG. Single crystal growth equipment. タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなす内層で覆われており、前記酸化物はLiNbO又はランガサイトである請求項6記載の単結晶育成装置。 The single crystal growth apparatus according to claim 6, wherein an inner surface of a main body made of tungsten or a tungsten alloy or molybdenum or a molybdenum alloy is covered with an inner layer made of platinum or a platinum alloy, and the oxide is LiNbO 3 or langasite. 前記加熱用ルツボの外周にカーボンフェルトが配置されている請求項1ないし8のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein a carbon felt is disposed on an outer periphery of the heating crucible. 前記層の厚さは、前記保持用ルツボの厚さの1/10以下である請求項1ないし9のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to claim 1, wherein the thickness of the layer is 1/10 or less of the thickness of the holding crucible. 前記層の厚さは0.1mm〜0.5mmである請求項1ないし10のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to claim 1, wherein the layer has a thickness of 0.1 mm to 0.5 mm. 前記層は、溶射、スパッタリング、CVD法、MOCVD法、箔の圧着、めっきのいずれかにより形成したものである請求項1ないし11のいずれか1項記載の単結晶育成装置。 The single crystal growing apparatus according to any one of claims 1 to 11, wherein the layer is formed by any one of thermal spraying, sputtering, CVD, MOCVD, pressure bonding of foil, and plating. タングステン若しくはタングステン合金又はモリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、イリジウム若しくはイリジウム合金からなる層で覆われており、その内部の原料融液に種結晶を接触させた後に前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成に用いられるルツボ。 The inner surface of the main body made of tungsten or tungsten alloy or molybdenum or molybdenum alloy is covered with a layer made of iridium or an iridium alloy. A crucible used for single crystal growth to grow crystals. モリブデン若しくはモリブデン合金からなる本体の内面が、白金若しくは白金合金からなる層で覆われており、その内部の原料融液に種結晶を接触させた後に前記種結晶を引き上げて単結晶を育成させる単結晶育成に用いられるルツボ。 The inner surface of the main body made of molybdenum or a molybdenum alloy is covered with a layer made of platinum or a platinum alloy. After the seed crystal is brought into contact with the raw material melt therein, the seed crystal is pulled up to grow the single crystal. A crucible used for crystal growth. 請求項1ないし12いずれか1項記載の単結晶育成装置を用いた単結晶の育成方法。 A method for growing a single crystal using the single crystal growing apparatus according to claim 1.
JP2016118886A 2016-06-15 2016-06-15 Crucible and Single Crystal Growth Apparatus and Growth Method Active JP7113478B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016118886A JP7113478B2 (en) 2016-06-15 2016-06-15 Crucible and Single Crystal Growth Apparatus and Growth Method
KR1020160125231A KR101842487B1 (en) 2016-06-15 2016-09-29 Glowing equipment and methods for lithium tantalate single crystal by crucible structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016118886A JP7113478B2 (en) 2016-06-15 2016-06-15 Crucible and Single Crystal Growth Apparatus and Growth Method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017222537A true JP2017222537A (en) 2017-12-21
JP7113478B2 JP7113478B2 (en) 2022-08-05

Family

ID=60686212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016118886A Active JP7113478B2 (en) 2016-06-15 2016-06-15 Crucible and Single Crystal Growth Apparatus and Growth Method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7113478B2 (en)
KR (1) KR101842487B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020093941A (en) * 2018-12-10 2020-06-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Ramo4 substrate and method of manufacturing the same, and group iii nitride semiconductor
EP3702483A1 (en) 2019-02-26 2020-09-02 Heraeus Deutschland GmbH & Co KG Moulded body made from a molybdenum-aluminium-titanium alloy

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102474145B1 (en) * 2018-03-30 2022-12-02 주식회사 엘지화학 Silicon carbide single crystal growth device and single crystal growth method of using the same

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57156400A (en) * 1981-03-23 1982-09-27 Hitachi Metals Ltd Crucible for preparing single crystal
JP2000344593A (en) * 1999-06-02 2000-12-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Crucible for growing single crystal
JP2015048296A (en) * 2013-09-04 2015-03-16 株式会社福田結晶技術研究所 Growth unit and growth method of single crystal
WO2016010040A1 (en) * 2014-07-14 2016-01-21 株式会社福田結晶技術研究所 Lithium tantalate single crystal growth device and growth method
JP2016028831A (en) * 2014-07-14 2016-03-03 株式会社福田結晶技術研究所 METHOD AND APPARATUS FOR GROWING Fe-Ga-BASED ALLOY SINGLE CRYSTAL

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007145679A (en) * 2005-11-30 2007-06-14 Fujikura Ltd Apparatus for and method of producing aluminum nitride single crystal

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57156400A (en) * 1981-03-23 1982-09-27 Hitachi Metals Ltd Crucible for preparing single crystal
JP2000344593A (en) * 1999-06-02 2000-12-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Crucible for growing single crystal
JP2015048296A (en) * 2013-09-04 2015-03-16 株式会社福田結晶技術研究所 Growth unit and growth method of single crystal
WO2016010040A1 (en) * 2014-07-14 2016-01-21 株式会社福田結晶技術研究所 Lithium tantalate single crystal growth device and growth method
JP2016028831A (en) * 2014-07-14 2016-03-03 株式会社福田結晶技術研究所 METHOD AND APPARATUS FOR GROWING Fe-Ga-BASED ALLOY SINGLE CRYSTAL

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020093941A (en) * 2018-12-10 2020-06-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Ramo4 substrate and method of manufacturing the same, and group iii nitride semiconductor
JP7182262B2 (en) 2018-12-10 2022-12-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 RAMO4 SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR
EP3702483A1 (en) 2019-02-26 2020-09-02 Heraeus Deutschland GmbH & Co KG Moulded body made from a molybdenum-aluminium-titanium alloy
US11306375B2 (en) 2019-02-26 2022-04-19 Deutschland Gmbh & Co. Kg Molded article made of a molybdenum-aluminum-titanium alloy

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170141572A (en) 2017-12-26
JP7113478B2 (en) 2022-08-05
KR101842487B1 (en) 2018-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6606638B2 (en) Method and apparatus for growing Fe-Ga based alloy single crystal
JP6302192B2 (en) Single crystal growth apparatus and method
JP2008007353A (en) Apparatus for growing sapphire single crystal and growing method using the same
WO2011062092A1 (en) Single crystal pulling apparatus
JP2007204309A (en) Single crystal growth device and single crystal growth method
JP2008007354A (en) Method for growing sapphire single crystal
US8268077B2 (en) Upper heater, single crystal production apparatus, and method for producing single crystal
JP7113478B2 (en) Crucible and Single Crystal Growth Apparatus and Growth Method
JP2018150198A (en) LARGE-DIAMETER ScAlMgO4 SINGLE CRYSTAL, AND GROWTH METHOD AND GROWTH UNIT THEREFOR
JP2010059031A (en) Aluminum oxide single crystal and method for manufacturing the same
TW202217085A (en) Method for producing silicon single crystal
JP4904862B2 (en) Method for producing aluminum oxide single crystal and obtained aluminum oxide single crystal
US9234296B2 (en) Apparatus having heat insulating cylinder with step portion for manufacturing semiconductor single crystal
CN116516463A (en) Thermal field structure and method for growing silicon carbide single crystal by solution method
JP2008280206A (en) Single crystal growing apparatus
JP2019172521A (en) Method for manufacturing oxide single crystal and crystal growth apparatus using the same
JP2004123510A (en) Apparatus for manufacturing single crystal and method for manufacturing the same
CN108441937A (en) The crystal growing apparatus of included melt agitating function
JPH11189487A (en) Production apparatus for oxide single crystal
JP2011037643A (en) Single crystal pulling apparatus, method for producing single crystal and single crystal
WO2011108417A1 (en) Method for manufacturing sapphire single crystal, apparatus for pulling sapphire single crystal, and sapphire single crystal
JPH10338594A (en) Apparatus for growing single crystal by pulling up method
JP2017193469A (en) After-heater and sapphire single crystal production apparatus
CN116145236A (en) Special-shaped crucible and method for growing lithium tantalate crystal by using same
KR101323346B1 (en) Growing method of sapphire crystal and sapphire crystal grower

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200401

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200601

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200731

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20201007

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210106

C60 Trial request (containing other claim documents, opposition documents)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60

Effective date: 20210106

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20210114

C21 Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21

Effective date: 20210120

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20210219

C211 Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211

Effective date: 20210224

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20220106

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20220324

C23 Notice of termination of proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23

Effective date: 20220519

C03 Trial/appeal decision taken

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03

Effective date: 20220616

C30A Notification sent

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012

Effective date: 20220616

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220719

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7113478

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150