JP2017219602A - Fixing device and image forming apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、定着装置及び画像形成装置に関するものである。 The present invention relates to a fixing device and an image forming apparatus.
デジタル複写機、レーザプリンタ等のいわゆる電子写真方式の画像形成装置は、記録紙等の記録媒体にトナー像を転写し、所定の条件で加熱及び加圧することにより、トナー像を記録紙等の記録媒体に定着させて画像を形成する。 A so-called electrophotographic image forming apparatus such as a digital copying machine or a laser printer transfers a toner image onto a recording medium such as a recording paper, and records the toner image on a recording paper or the like by heating and pressing under a predetermined condition. An image is formed by fixing on a medium.
画像形成のうち最後の工程である定着では、定着ローラあるいは定着ベルトと呼ばれる定着部材と加圧ローラ等の加圧部材との間に記録媒体を通過させてトナーを定着させる。通常、定着部材の温度制御は定着部材の表面温度を温度センサにより検出し、フィードバック制御を行うことで行われる。 In fixing, which is the last step in image formation, a recording medium is passed between a fixing member called a fixing roller or a fixing belt and a pressure member such as a pressure roller to fix the toner. Usually, the temperature control of the fixing member is performed by detecting the surface temperature of the fixing member with a temperature sensor and performing feedback control.
また、近年のカラー機においては、温度センサによる定着部材の摩耗等が発生すると画質劣化へつながるため、非接触温度センサを用いることが増えている。
非接触温度センサによる温度検出は、概ね以下の原理を用いている。すなわち、対象物の放射する赤外線をセンサ内部の吸収膜へ吸収させ、吸収膜の温度を温度検出素子で検出して、対象物の温度を算出する。温度検出素子としては、熱電対を用いるものと、サーミスタを用いるものがあり、前者はサーモパイル、後者は非接触サーミスタと呼ばれる。また、センサ自体の温度、あるいは対流熱による吸収膜温度への影響を除去するため、これを補償する素子をさらに設けるセンサも多い。
Further, in recent color machines, use of a non-contact temperature sensor is increasing because wear of a fixing member due to a temperature sensor causes deterioration of image quality.
The temperature detection by the non-contact temperature sensor generally uses the following principle. That is, the infrared rays emitted from the object are absorbed by the absorption film inside the sensor, the temperature of the absorption film is detected by the temperature detection element, and the temperature of the object is calculated. As a temperature detection element, there are an element using a thermocouple and an element using a thermistor. The former is called a thermopile and the latter is called a non-contact thermistor. In addition, in order to remove the influence of the temperature of the sensor itself or the absorption film temperature due to convection heat, many sensors are further provided with an element for compensating for this.
このような非接触温度センサの応答速度、つまり対象物の温度変化に対する追従性は速い方が望ましいが、これにはセンサの吸収膜と温度検出素子対象物の応答速度が重要である。そのため吸収膜と温度検出素子は非常に薄く小さく作られている。 It is desirable that the response speed of such a non-contact temperature sensor, that is, the followability to the temperature change of the object is faster, but for this purpose, the response speed of the absorption film of the sensor and the temperature detection element object is important. Therefore, the absorption film and the temperature detection element are made very thin and small.
しかしながら、非接触温度センサの吸収膜等に異物が付着することで、吸収膜と温度検知素子の熱容量が増加し、経時的に応答速度が低下するという問題があった。
特許第4705126号公報(特許文献1)には、温度検知対象物とサーミスタとの接触部分への付着物の付着状態など、センサと対象物の接触部分の状態を判別することができるようにした画像形成装置が記載されている。
However, there is a problem in that foreign matters adhere to the absorption film or the like of the non-contact temperature sensor, so that the heat capacities of the absorption film and the temperature detection element increase, and the response speed decreases with time.
In Japanese Patent No. 4705126 (Patent Document 1), it is possible to determine the state of the contact portion between the sensor and the object, such as the attachment state of the attachment to the contact portion between the temperature detection object and the thermistor. An image forming apparatus is described.
しかし、特許文献1に記載されたように、センサを自己発熱させた後の検出温度に基づいて接触部分の状態を判別するだけでは、異物付着による応答速度の低下を把握することはできず、センサの応答速度の低下を補償することはできない。
However, as described in
本発明は、従来の定着装置における異物付着によるセンサ応答速度低下の問題を解決し、温度センサへの異物付着による影響を特別な機構を設けることなく、補正することのできる定着装置ならびに画像形成装置を提供することを課題とする。 The present invention solves the problem of sensor response speed reduction due to foreign matter adhesion in a conventional fixing device, and can correct the influence of foreign matter adhesion to a temperature sensor without providing a special mechanism, and an image forming apparatus It is an issue to provide.
この課題を解決するため、本発明は、定着部材と、前記定着部材を加熱する加熱手段と、前記定着部材の温度を検出する非接触式の温度検知手段を備える定着装置において、所定間隔で前記加熱手段を発熱させるシーケンス動作を実施して前記温度検知手段の応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、前記定着部材の温度を制御する制御パラメータ、あるいは前記温度検知手段の出力を補正することを特徴とする。 In order to solve this problem, the present invention provides a fixing device including a fixing member, a heating unit that heats the fixing member, and a non-contact type temperature detection unit that detects the temperature of the fixing member. Measure the response speed of the temperature detection means by performing a sequence operation to generate heat in the heating means, calculate the difference between the response measurement value by the measurement and the reference value stored in advance, and according to the calculated difference Then, the control parameter for controlling the temperature of the fixing member or the output of the temperature detecting means is corrected.
また、前記の課題を解決するため、本発明は、定着部材と、前記定着部材を加熱する加熱手段と、前記定着部材の温度を検出する非接触式の温度検知手段を備える定着装置において、前記温度検知手段を加熱する熱源を設け、所定間隔で前記熱源を発熱させるシーケンス動作を実施して前記温度検知手段の応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、前記定着部材の温度を制御する制御パラメータ、あるいは前記温度検知手段の出力を補正することを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a fixing device including a fixing member, a heating unit that heats the fixing member, and a non-contact temperature detecting unit that detects a temperature of the fixing member. A heat source for heating the temperature detection means is provided, a sequence operation for generating heat at a predetermined interval is performed to measure the response speed of the temperature detection means, and a response measurement value by the measurement and a reference value stored in advance And a control parameter for controlling the temperature of the fixing member or an output of the temperature detecting means is corrected according to the calculated difference.
本発明によれば、所定間隔で加熱手段(定着ヒータ)または温度センサが備える熱源を発熱させるシーケンス動作を実施して温度センサの応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、定着制御パラメータ、あるいはセンサ出力を補正することにより、異物付着によるセンサ応答速度低下の影響を排除して適正な定着制御を行うことが可能となる。また、非接触温度センサの継続使用が可能となる。さらに、これらの効果を、清掃機構などといった付記的な構成を設けることなく実現できるため、コストの上昇を抑制することもできる。 According to the present invention, the response speed of the temperature sensor is measured by performing a sequence operation for generating heat at a heating unit (fixing heater) or the temperature sensor at predetermined intervals, and the response measurement value by the measurement is stored in advance. By calculating the difference from the reference value and correcting the fixing control parameter or the sensor output according to the calculated difference, the effect of the sensor response speed decrease due to the adhesion of foreign matter is eliminated, and proper fixing control is performed. Can be done. Further, the non-contact temperature sensor can be continuously used. Furthermore, since these effects can be realized without providing an additional structure such as a cleaning mechanism, an increase in cost can be suppressed.
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明に係る定着装置を備える画像形成装置の一例における概略構成を示す断面図である。図示の画像形成装置は、電子写真方式を採用するものであり、画像形成装置本体100の上に画像読取装置200を設置して複写装置として構成している。また、装置本体100の右側面に両面ユニット300を取り付けてある。画像形成装置本体100内には、中間転写装置10を備える。中間転写装置10は、複数のローラに掛けまわしてエンドレスの中間転写ベルト11をほぼ水平に張り渡し、反時計まわりに走行するように設ける。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of an example of an image forming apparatus including a fixing device according to the present invention. The illustrated image forming apparatus employs an electrophotographic system, and an
中間転写装置10の下には、シアン、マゼンタ、イエロ、ブラックの作像装置12c、12m、12y、12kを、中間転写ベルト11の張り渡し方向に沿って四連タンデム式に並べて設ける。各作像装置12c、12m、12y、12kでは、図中時計まわりに回転するドラム状の像担持体のまわりに帯電装置、現像装置、転写装置、クリーニング装置などを設置して構成する。作像装置12c、12m、12y、12kの下には、露光装置13を備える。
Under the
露光装置13の下には、給紙装置14を設ける。給紙装置14には、記録媒体である用紙20を収納する給紙カセット15を、この例では二段に備えてなる。そして、各給紙カセット15の右上には、各給紙カセット15内の用紙20を一枚ずつ繰り出して用紙搬送路16に入れる給紙コロ17を設けてある。
A
用紙搬送路16は、画像形成装置本体100内の右側に下方から上方に向けて形成し、画像形成装置本体100上に画像読取装置200との間に形成する胴内排紙部18へと通ずるように設ける。用紙搬送路16には、搬送ローラ19、中間転写ベルト11と対向して二次転写装置21、定着装置22、一対の排紙ローラよりなる排紙装置23などを順に設けてなる。搬送ローラ19の上流には、両面ユニット300から再給紙し、または両面ユニット300を横切って手差し給紙装置36から手差し給紙する用紙20を用紙搬送路16に合流する給紙路37を設ける。また、定着装置22の下流には、両面ユニット300への再給紙搬送路24を分岐して設けてある。
The
そして、コピーを取るときは、画像読取装置200で原稿画像を読み取って露光装置13で書き込みを行い、各作像装置12c、12m、12y、12kのそれぞれの像担持体上に各色トナー画像を形成し、そのトナー像を一次転写装置25c、25m、25y、25kで順次転写して中間転写ベルト11上にカラー画像を形成する。
When a copy is taken, the original image is read by the
一方、給紙コロ17の1つを選択的に回転して対応する給紙カセット15から用紙20を繰り出して用紙搬送路16に入れ、または手差し給紙装置36から手差し用紙を給紙路37に入れる。そして、用紙搬送路16を通して搬送ローラ19で搬送してタイミングを取って二次転写位置へと送り込み、上述したごとく中間転写ベルト11上に形成したカラー画像を二次転写装置21で用紙20に転写する。画像転写後の用紙20は、定着装置22で画像定着後、排紙装置23で排出して胴内排紙部18上にスタックする。
On the other hand, one of the
用紙20の裏面にも画像を形成するときには、再給紙搬送路24に入れて両面ユニット300で反転してから給紙路37を通して再給紙し、別途中間転写ベルト11上に形成したカラー画像を用紙20に二次転写した後、再び定着装置22で定着して排紙装置23で胴内排紙部18に排出する。
When forming an image on the back side of the
ここで、図2を参照して、従来の定着装置における温度検出について説明する。
図2は、従来の定着装置の一例における概略構成を示す模式図である。この定着装置は、定着部材40、加圧部材41、ヒータ42、赤外光指向部材43、加圧ローラ44、温度センサ45等を有している。定着部材40は厚み1mm未満である。用紙20は図の下方向から定着ニップを通り、その際に加圧部材41と加圧ローラ44から圧力を受ける。
Here, temperature detection in a conventional fixing device will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a schematic configuration of an example of a conventional fixing device. The fixing device includes a fixing
例えば、図2で示した定着装置においては、赤外光指向部材43により、加熱領域がKRとなり、この部分で温度ムラが生じるが、赤外光指向部材43を設けない構成においては、加熱領域はより広くなる。また、温度センサの設置位置は通常、レイアウトの制約からどこにでも設置できるわけではなく、定着装置の構成による。
For example, in the fixing device shown in FIG. 2, the heating region becomes KR due to the infrared
次に、図3を参照して、非接触温度センサの概念について説明する。
非接触温度センサ51は対象物50(温度検知対象物)から発せられる赤外線IRを吸収膜52に吸収し、吸収膜52の温度変化を検知素子53で検出することで、赤外線量を検出し、間接的に対象物の温度を検出する仕組みとなっている。
Next, the concept of the non-contact temperature sensor will be described with reference to FIG.
The
しかし検知素子53の検出する温度にはセンサ自身の温度も影響するため、この影響をキャンセルするために、赤外線の影響を受けない位置に補償素子54を設け、この2素子の検出値から温度を換算する。検知素子53及び補償素子54の出力は検出回路55に入力され、さらに制御手段としてのCPU56へ送られる。
However, since the temperature of the sensor itself also affects the temperature detected by the
検知素子53には熱電対を用いるタイプ(サーモパイル)や、サーミスタを使う。また、赤外線に関連する光学系には集光レンズを用いることで、感度を向上させているものもある。
As the
ここで温度センサ51の応答速度は、吸収膜52と検知素子53の持つ、単位面積あたりの熱容量と、受光する赤外線量に関係している。例えば、受光する赤外線量に対して熱容量が小さければ、吸収膜52の単位時間あたりの温度上昇は大きくなり、センサが温度を検出する応答速度も早くなる。
Here, the response speed of the
次に、図4及び図5を参照して、温度センサへの異物付着による影響について説明する。
図4は、非接触温度センサの初期状態と異物付着状態を示す図である。また、図5は、各状態における非接触温度センサの応答速度を示すグラフである。
Next, with reference to FIG.4 and FIG.5, the influence by the foreign material adhesion to a temperature sensor is demonstrated.
FIG. 4 is a diagram illustrating an initial state and a foreign matter adhesion state of the non-contact temperature sensor. FIG. 5 is a graph showing the response speed of the non-contact temperature sensor in each state.
図4において、(a)では異物が付着していない初期状態を示しており、(b)では吸収膜52に異物57が付着した状態を示している。そして、図5のグラフには、上記初期状態および異物付着状態における温度センサの応答速度を実温度と共に示してある。図5のグラフからも判るように、温度センサは初期状態から応答遅れにより実温度とは一致しない。しかし、画像形成装置を長時間稼働すると、温度センサの吸収膜52などに紙粉、トナーといった異物が付着することで吸収膜の熱容量が増加し、さらに応答遅れが発生する場合がある。温度センサの応答速度低下が発生すると、温度センサを用いる温度制御において、弊害が生じる。そこで、本発明では、異物付着による非接触温度センサの応答速度低下に、特別な機構を付加することなく(コストアップを抑制して)、対応可能とするものである。
4A shows an initial state in which no foreign matter is attached, and FIG. 4B shows a state in which
図1に示す実施形態の画像形成装置において、定着装置22の構成は、基本的に図2で示した定着装置と同様であるので、図2を用いて本発明の説明を続ける。ただし、定着装置の構成はこれに限らず、適宜な構成のものを採用可能である。なお、本発明では、図2における温度センサ45が非接触温度センサとなる。非接触温度センサとしては、図3で説明したものを使用可能である。
In the image forming apparatus of the embodiment shown in FIG. 1, the configuration of the fixing
図6は、本発明におけるシーケンス動作の一形態を説明するための図である。
[シーケンス動作1]
図6(b)に示すように、定着ヒータ42を点灯させ、所定時間経過後の温度を、非接触温度センサ45で読み取る。すると、異物付着の無い初期状態と、異物付着状態では、センサの応答速度が異なるため、図6(a)に示すように、異物付着状態の方が低い温度を示す。
FIG. 6 is a diagram for explaining one mode of the sequence operation in the present invention.
[Sequence operation 1]
As shown in FIG. 6B, the fixing heater 42 is turned on, and the temperature after a predetermined time is read by the
本発明においては、異物の付着状態を以下のようにして判断する。
センサに異物付着の無い初期状態で、上記シーケンス動作に従い所定時間経過後の温度を読み取り、記憶手段に記録しておく。記憶手段としては、例えば、画像形成装置制御部に備わるメモリを用いる。
In the present invention, the adhesion state of the foreign matter is determined as follows.
In the initial state in which no foreign matter adheres to the sensor, the temperature after the elapse of a predetermined time is read in accordance with the above sequence operation and recorded in the storage means. As the storage unit, for example, a memory provided in the image forming apparatus control unit is used.
また、所定の印刷間隔、例えば1万枚程度の印刷間隔でシーケンス動作を実施して、そのときの計測値と上記初期状態における検知温度(上記記憶手段に記録した温度)とを比較する。実施形態では、上記初期状態における検知温度を基準として、所定の印刷間隔でシーケンス動作を実施した際の計測値(検知温度)との差分であるΔTを求め、そのΔTの大きさに応じて定着装置の制御パラメータ、あるいは非接触温度センサ45の検知出力に補正を加える。補正については後述する。
Further, the sequence operation is performed at a predetermined printing interval, for example, about 10,000 printing intervals, and the measured value at that time is compared with the detected temperature in the initial state (the temperature recorded in the storage means). In the embodiment, ΔT, which is a difference from a measured value (detected temperature) when a sequence operation is performed at a predetermined printing interval, is obtained with reference to the detected temperature in the initial state, and fixing is performed according to the magnitude of ΔT. Correction is applied to the control parameters of the apparatus or the detection output of the
次に、本発明におけるシーケンス動作の別形態について、図7を参照して説明する。
[シーケンス動作2]
図6で説明した形態のシーケンス動作(シーケンス動作1)では、定着ヒータを点灯させることで、定着装置自体を加熱していた。それに対し、この別形態のシーケンス動作(シーケンス動作2)では、図7に示すように、非接触温度センサ51Bの内部に熱源(例えば抵抗発熱体)58を設け、シーケンス動作に際し、熱源58を発熱させ、センサ51Bを加熱して所定時間経過後の温度を、非接触温度センサ45で読み取る。図6の場合と同様、センサ51Bに異物付着の無い初期状態で、上記シーケンス動作に従い所定時間経過後の温度を読み取り、記憶手段に記録しておく。また、所定の印刷間隔、例えば1万枚程度の印刷間隔でシーケンス動作を実施して、そのときの計測値と上記初期状態における検知温度(上記記憶手段に記録した温度)とを比較する。実施形態では、上記初期状態における検知温度を基準として、所定の印刷間隔でシーケンス動作を実施した際の計測値(検知温度)との差分であるΔTを求め、そのΔTの大きさに応じて定着装置の制御パラメータ、あるいは非接触温度センサ45の検知出力に補正を加える。
Next, another embodiment of the sequence operation in the present invention will be described with reference to FIG.
[Sequence operation 2]
In the sequence operation (sequence operation 1) described in FIG. 6, the fixing device itself is heated by turning on the fixing heater. On the other hand, in this sequence operation (sequence operation 2), as shown in FIG. 7, a heat source (for example, a resistance heating element) 58 is provided inside the non-contact temperature sensor 51B, and the
上記各形態のシーケンス動作で求めたΔTの大きさに応じた補正について説明する。
上記シーケンス動作において、初期状態とのΔTが検出された場合は、応答速度の低下があると判断し、定着制御のパラメータを変更(補正)する。
The correction according to the magnitude of ΔT obtained by the sequence operations of the above embodiments will be described.
In the above sequence operation, when ΔT with respect to the initial state is detected, it is determined that there is a decrease in the response speed, and the fixing control parameters are changed (corrected).
ここで、センサの遅れ要素が加わるためフィードバック制御は不安定化する傾向にある。そこで、実施形態では定着制御のパラメータを修正する。例えば定着装置をPID制御する場合、上記ΔTの検出値に対してP係数とI係数を対応付ける、表1の様なテーブルを予め用意し、前記のシーケンス動作後にこの補正(キャリブレーション)を実施する。なお、ここで例示する補正(キャリブレーション)は一例であり、適宜な補正を設定可能である。 Here, since a delay element of the sensor is added, the feedback control tends to become unstable. Therefore, in the embodiment, the fixing control parameters are corrected. For example, when performing PID control of the fixing device, a table as shown in Table 1 is prepared in advance to associate the P coefficient and the I coefficient with the detected value of ΔT, and this correction (calibration) is performed after the sequence operation. . Note that the correction (calibration) exemplified here is an example, and an appropriate correction can be set.
上記は定着制御のパラメータを変更(補正)する例であるが、制御パラメータを変更(補正)するのではなく、非接触温度センサ45の検知出力(センサの読み値)を補正しても良い。
The above is an example of changing (correcting) the parameters for fixing control, but instead of changing (correcting) the control parameters, the detection output (sensor reading value) of the
[補足1]
上記キャリブレーションは画像形成装置の工場出荷前に行うとともに、ユーザ使用状態においても行われることが望ましい。この際、上記シーケンス動作を行う際に、定着の初期温度状態を揃えておかないと、同一のシーケンス動作を行っても、検知対象物温度が異なってしまう。このため、上記シーケンス動作を前回の印刷から十分な時間経過した後に行うのが望ましい。例えば前回印刷から3時間以上経過し、室温となった後に行うようにする。
[Supplement 1]
It is desirable that the calibration is performed before the image forming apparatus is shipped from the factory and also in a user use state. At this time, if the initial temperature state of fixing is not made uniform when performing the above sequence operation, even if the same sequence operation is performed, the detected object temperature will be different. For this reason, it is desirable to perform the sequence operation after a sufficient time has elapsed since the previous printing. For example, it is performed after 3 hours have passed since the previous printing and the room temperature is reached.
[補足2]
上記キャリブレーションは画像形成装置の工場出荷前に行うとともに、画像形成装置のユーザ使用状態においても行われることが望ましい。この際、定着ヒータ42又は熱源58に印加する電圧が揃っていないと、同一のシーケンス動作を行っても、実際にヒータ42又は熱源58が発生する熱量が異なるため、検知対象物温度が異なってしまう。ヒータ又は熱源に印加する電圧は、通常コンセントからのAC電源を用いるが、電力負荷状態等により、変動する場合が多い。
[Supplement 2]
It is desirable that the calibration is performed before the image forming apparatus is shipped from the factory and also in the user use state of the image forming apparatus. At this time, if the voltages applied to the fixing heater 42 or the
このため、定着ヒータ42又は熱源58に印加される電圧を検知する検知回路を設けるとともに、上記シーケンス動作を、検知回路で検知した電圧が予め設定した電圧に対して所定範囲内(ここでは±5%以下)の差である場合のみ実施するように設定する。
For this reason, a detection circuit for detecting the voltage applied to the fixing heater 42 or the
次に、本発明におけるシーケンス動作のさらに別の形態について、図8を参照して説明する。 Next, still another form of the sequence operation in the present invention will be described with reference to FIG.
上記のシーケンス動作1及びシーケンス動作2では、仮に定着装置側に異常があると、同一のシーケンス動作を行っても、ΔTが生じ、異常状態と気が付かずに前記の補正を行ってしまう可能性がある。
In the
[シーケンス動作3]
そこで、本形態のシーケンス動作3では、2つの異なったシーケンス動作を実施し、異常があるかを確認する。具体的な手順を以下の例に示す。
手順例
(1)例えば所定時間5秒(第1の所定時間)でシーケンス動作1を実施。
(2)そのシーケンス動作1(手順(1))でのΔT(計測値1)が仮に10℃だったとする。
(3)手順(2)の計測値1(10℃)より、例えば所定時間8秒(第2の所定時間)でシーケンス動作2を実施した場合のΔTを15℃と予想する(予測値を求める)。
(4)シーケンス動作2を実施する。
(5)シーケンス動作2の実測誤差:ΔT(計測値2)が仮に10℃だった。
(6)補正を実施するか否かを判定する。
[Sequence operation 3]
Therefore, in the sequence operation 3 of the present embodiment, two different sequence operations are performed to check whether there is an abnormality. The specific procedure is shown in the following example.
Procedure example (1) For example, the
(2) It is assumed that ΔT (measured value 1) in the sequence operation 1 (procedure (1)) is 10 ° C.
(3) From the measured value 1 (10 ° C.) in step (2), for example, ΔT is predicted to be 15 ° C. when the sequence operation 2 is performed for a predetermined time of 8 seconds (second predetermined time) (a predicted value is obtained). ).
(4) The sequence operation 2 is performed.
(5) Actual measurement error of sequence operation 2: ΔT (measured value 2) was temporarily 10 ° C.
(6) It is determined whether or not correction is performed.
上記補正実施有無の判定は、閾値を例えば3℃とする。手順(3)で予想したΔT=15℃は、手順(5)でのΔTの実測値10℃±3℃(閾値)に含まれないため、シーケンス動作による誤差:ΔTの確認結果は異常と判断し、補正を実施しない。また、画像形成装置の操作パネルに備えた表示手段上にアラートを表示させる。 In determining whether or not the correction is performed, the threshold value is set to 3 ° C., for example. Since ΔT = 15 ° C. predicted in step (3) is not included in the actual measurement value of 10 ° C. ± 3 ° C. (threshold value) in step (5), it is determined that the confirmation result of error: ΔT due to sequence operation is abnormal. However, no correction is made. Also, an alert is displayed on the display means provided on the operation panel of the image forming apparatus.
一方で、例えば手順(1)〜(3)の結果予想したΔTが仮に9℃だった場合、また、手順(5)でのΔTの実測値ΔTが仮に10℃だったとすると、上記予想したΔT=9℃は、手順(5)でのΔTの実測値10℃±3℃(閾値)の範囲内となるため、異常は無いと判断し、上記表1に示すような補正を実施する。 On the other hand, for example, if ΔT predicted as a result of the procedures (1) to (3) is 9 ° C., and if the measured value ΔT of ΔT in the procedure (5) is 10 ° C., the predicted ΔT = 9 ° C. falls within the range of 10 ° C. ± 3 ° C. (threshold value) of ΔT measured in step (5), so that it is determined that there is no abnormality, and the correction shown in Table 1 is performed.
図8には、手順(2)で計測したΔTの値に対して設定した手順(3)におけるΔTの予想値の例を複数例示してある。上記説明した計測値10℃、予想値15℃は、上から3番目の例である。 FIG. 8 illustrates a plurality of examples of the predicted value of ΔT in the procedure (3) set for the value of ΔT measured in the procedure (2). The measured value of 10 ° C. and the expected value of 15 ° C. described above are the third example from the top.
ここでは2種類のシーケンス動作として、定着ヒータ42又は熱源58を発熱させる時間を異ならせたもので説明したが、発熱温度を異ならせた2種類のシーケンス動作としてもよい。
Here, the two types of sequence operations have been described with different times for generating heat from the fixing heater 42 or the
次に、2種類の温度センサを備える構成の定着装置の実施形態を図9及び図10を参照して説明する。
図9に示すように、本実施形態の定着装置は、軸方向(定着部材及び加圧部材の回転軸方向)の位置において同一位置で、定着部材の回転方向の位置をずらして2種類の温度センサ45A,45Bが設置されている。温度センサ45A,45Bは共に非接触温度センサであるが、第1センサ45Aの方が第2センサ45Bよりも異物が付着しやすいものとする。言い換えれば、第2センサ45Bの方が第1センサ45Aよりも異物が付着しにくいものである。また、第1センサ45Aの方が第2センサ45Bよりも定着部材(ここでは定着ベルト40)に近い位置に設置されている。
Next, an embodiment of a fixing device having two types of temperature sensors will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 9, the fixing device according to the present embodiment has two types of temperatures by shifting the position of the fixing member in the rotational direction at the same position in the axial direction (the rotational axis direction of the fixing member and the pressure member).
本実施形態では、異物が付着しやすい第1センサ45Aを異常高温検知用センサとして、異物が付着しにくい第2センサ45Bを定着温度制御用として設置したものである。このような構成において、異物が付着しにくい第2センサ45Bの検知出力を基準の温度として用いて、第1センサ45Aの変化を(異物の付着状態を)確認することができる。
In the present embodiment, the
すなわち、図10に示すように、上記したシーケンス動作を行う際に、第2センサ45Bの検知温度と初期状態の第1センサ45Aの検知温度の差をT1、第2センサ45Bの検知温度と異物付着状態の第1センサ45Aの検知温度の差をT2、として、ΔT=T2−T1と計算する。
That is, as shown in FIG. 10, when performing the sequence operation described above, the difference between the detected temperature of the second sensor 45B and the detected temperature of the
ここで、T1は初期状態でのΔTであり、T2は経時でのΔTとなる。
なお、本実施形態の構成の場合、シーケンス動作は必ず定着部材40が回転している状態で行うものとする。
Here, T1 is ΔT in the initial state, and T2 is ΔT over time.
In the case of the configuration of the present embodiment, the sequence operation is always performed while the fixing
本実施形態では、異物が付着しにくい第2センサ45Bの検知出力を基準の温度として用いて、第1センサ45Aの変化を(異物の付着状態を)確認することができるため、より高精度に異物付着状態を確認でき、それにより最適な補正を実現できる。
In the present embodiment, the change in the
ここまで説明したように、本発明においては、所定間隔で加熱手段(定着ヒータ)または温度センサが備える熱源を発熱させるシーケンス動作を実施して温度センサの応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、定着制御パラメータ、あるいはセンサ出力を補正することにより、異物付着によるセンサ応答速度低下の影響を排除して適正な定着制御を行うことが可能となる。また、非接触温度センサの継続使用が可能となる。さらに、これらの効果を、清掃機構などといった付記的な構成を設けることなく実現できるため、コストの上昇を抑制することもできる。 As described above, in the present invention, the response speed of the temperature sensor is measured by performing a sequence operation for generating heat at a heating unit (fixing heater) or a temperature sensor at a predetermined interval, and the response measurement by the measurement is performed. By calculating the difference between the value and the reference value stored in advance, and correcting the fixing control parameter or sensor output in accordance with the calculated difference, the influence of sensor response speed reduction due to foreign matter adhesion is eliminated. Therefore, proper fixing control can be performed. Further, the non-contact temperature sensor can be continuously used. Furthermore, since these effects can be realized without providing an additional structure such as a cleaning mechanism, an increase in cost can be suppressed.
また、前記シーケンス動作は、加熱手段(定着ヒータ)または非接触温度センサに備わる熱源を所定時間発熱させて前記温度検知手段を加熱する動作であり、前記応答計測値および前記基準値は、前記温度検知手段の検出温度であることにより、立上げ動作による所定動作を行うことで応答速度の差を定量化できる。 The sequence operation is an operation in which a heat source provided in a heating unit (fixing heater) or a non-contact temperature sensor generates heat for a predetermined time to heat the temperature detection unit, and the response measurement value and the reference value are the temperature By using the detection temperature of the detection means, the difference in response speed can be quantified by performing a predetermined operation by the start-up operation.
また、温度検知手段を加熱する熱源として、温度検知手段内部に設けた電気抵抗を用いる熱源を用いることで、定着装置自体を加熱せずとも温度検知手段への異物付着を検知することができる。 Further, by using a heat source using an electrical resistance provided inside the temperature detection means as a heat source for heating the temperature detection means, it is possible to detect the adhesion of foreign matter to the temperature detection means without heating the fixing device itself.
また、温度検知手段の応答速度の低下が検出された場合に補正を実施することで、制御負荷の増大を抑制できる。また、温度検知手段に清掃機構を設けずとも使用し続けることができる。 In addition, an increase in control load can be suppressed by performing correction when a decrease in the response speed of the temperature detection means is detected. Further, the temperature detecting means can be used continuously without providing a cleaning mechanism.
また、シーケンス動作を行う所定間隔は、前回の定着動作終了後(画像形成装置における前回の印刷ジョブ終了後)からの所定の経過時間であることで、十分に長い経過時間を設けることで、シーケンス動作の初期状態を室温に揃えることができる。 In addition, the predetermined interval for performing the sequence operation is a predetermined elapsed time after the end of the previous fixing operation (after the end of the previous print job in the image forming apparatus), and by providing a sufficiently long elapsed time, The initial state of operation can be aligned at room temperature.
また、加熱手段または熱源に印加される電圧を検知する検知回路を設け、該検知回路で検知した電圧が予め設定した電圧に対して所定範囲内の差である場合のみ前記シーケンス動作を実施することで、加熱手段(定着ヒータ)または非接触温度センサに備わる熱源への印加電圧を一定にする(所定範囲内にする)ことで、シーケンス動作における誤差を低減できる。 Also, a detection circuit for detecting a voltage applied to the heating means or the heat source is provided, and the sequence operation is performed only when the voltage detected by the detection circuit is a difference within a predetermined range with respect to a preset voltage. Thus, by making the voltage applied to the heat source provided in the heating means (fixing heater) or the non-contact temperature sensor constant (within a predetermined range), errors in the sequence operation can be reduced.
また、2種類のシーケンス動作を設定して、異常が判断された場合に補正の実行を中止することで、間違った補正が行われることを防止できる。
また、異物が付着しやすい第1の温度検知手段と、異物が付着しにくい第2の温度検知手段を備えて、基準値を第2の温度検知手段で検地した値とし、応答計測値を第1の温度検知手段で検知した値とすることで、より高精度に異物付着による影響を確認することができる。その際、シーケンス動作を定着部材を回転させた状態で行うことによって、異物付着による影響を確実に確認することができる。
Further, by setting two types of sequence operations and stopping the execution of correction when an abnormality is determined, it is possible to prevent wrong correction from being performed.
In addition, the first temperature detection means that is liable to adhere foreign matter and the second temperature detection means that is difficult to adhere foreign matter are provided, the reference value is set to the value detected by the second temperature detection means, and the response measurement value is the first value. By using the value detected by the
以上、本発明を図示例に基づき説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の範囲内で適宜変更可能である。例えば、温度検知手段は適宜な構成を採用可能である。また、補正内容も適宜設定可能である。 Although the present invention has been described based on the illustrated examples, the present invention is not limited to this and can be appropriately changed within the scope of the present invention. For example, an appropriate configuration can be adopted for the temperature detection means. Further, the correction contents can be set as appropriate.
また、定着装置及び画像形成装置としては、本発明を適用可能であれば任意な構成を採用可能である。定着部材は定着ベルトに限らず、定着ローラであってもよい。定着部材を加熱する加熱手段も適宜な構成を採用可能である。画像形成装置としては複写機あるいはプリンタに限らず、ファクシミリや複数の機能を備える複合機であっても良い。 As the fixing device and the image forming apparatus, any configuration can be adopted as long as the present invention is applicable. The fixing member is not limited to the fixing belt but may be a fixing roller. The heating means for heating the fixing member can adopt an appropriate configuration. The image forming apparatus is not limited to a copying machine or a printer, but may be a facsimile machine or a multifunction machine having a plurality of functions.
20 記録媒体
22 定着装置
40 定着ベルト(定着部材)
41 加圧部材
42 定着ヒータ(加熱手段)
44 加圧ローラ
45 温度センサ(温度検知手段)
50 温度検知対象物
51 非接触温度センサ(温度検知手段)
52 吸収膜
53 検知素子
54 補償素子
56 CPU
57 異物
58 抵抗発熱体(熱源)
100 画像形成装置本体
200 画像読取装置
300 両面ユニット
IR 赤外線
20
41 Pressure member 42 Fixing heater (heating means)
44
50
52
57
100 Image forming
Claims (12)
所定間隔で前記加熱手段を発熱させるシーケンス動作を実施して前記温度検知手段の応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、前記定着部材の温度を制御する制御パラメータ、あるいは前記温度検知手段の出力を補正することを特徴とする定着装置。 In a fixing device comprising: a fixing member; a heating unit that heats the fixing member; and a non-contact temperature detecting unit that detects a temperature of the fixing member.
A sequence operation for causing the heating means to generate heat at a predetermined interval is performed to measure a response speed of the temperature detection means, and a difference between a response measurement value by the measurement and a reference value stored in advance is calculated, and the calculation is performed. A fixing device that corrects a control parameter for controlling a temperature of the fixing member or an output of the temperature detecting unit according to the difference.
前記温度検知手段を加熱する熱源を設け、
所定間隔で前記熱源を発熱させるシーケンス動作を実施して前記温度検知手段の応答速度を計測し、該計測による応答計測値と、予め記憶している基準値との差分を算出し、該算出した差分に応じて、前記定着部材の温度を制御する制御パラメータ、あるいは前記温度検知手段の出力を補正することを特徴とする定着装置。 In a fixing device comprising: a fixing member; a heating unit that heats the fixing member; and a non-contact temperature detecting unit that detects a temperature of the fixing member.
Providing a heat source for heating the temperature detecting means;
A sequence operation for generating heat at a predetermined interval is performed to measure the response speed of the temperature detection unit, and a difference between a response measurement value obtained by the measurement and a reference value stored in advance is calculated, and the calculation is performed. A fixing device that corrects a control parameter for controlling a temperature of the fixing member or an output of the temperature detecting unit according to the difference.
前記応答計測値および前記基準値は、前記温度検知手段の検出温度であることを特徴とする、請求項1又は2に記載の定着装置。 The sequence operation is an operation of heating the temperature detection unit by causing the heating unit or the heat source to generate heat for a predetermined time,
The fixing device according to claim 1, wherein the response measurement value and the reference value are temperatures detected by the temperature detection unit.
シーケンス動作1を実施した前記応答計測値からシーケンス動作2による前記応答計測値を予測した予測値を求めるとともに、
シーケンス動作2を実施して前記応答計測値である計測値2を実測し、該計測値2と前記予測値との差分を算出し、該算出した差分が所定値を超える場合は異常と判断し、前記補正の実行を中止することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか1項に記載の定着装置。 As the sequence operation, two types of sequence operations with different heating times or heat generation temperatures of the heating means or the heat source are set,
While obtaining the predicted value that predicted the response measurement value by the sequence operation 2 from the response measurement value that has performed the sequence operation 1,
The measured value 2 as the response measurement value is actually measured by performing the sequence operation 2, the difference between the measured value 2 and the predicted value is calculated, and if the calculated difference exceeds a predetermined value, it is determined as abnormal. The fixing device according to claim 1, wherein execution of the correction is stopped.
前記基準値は、前記第2の温度検知手段で検知した値であり、
前記応答計測値は、前記第1の温度検知手段で検知した値である
ことを特徴とする、請求項1〜8のいずれか1項に記載の定着装置。 As the temperature detection means, a first temperature detection means that the foreign material is likely to adhere to the same position in the rotational axis direction of the fixing member by shifting the position of the fixing member in the rotational direction; Temperature sensing means,
The reference value is a value detected by the second temperature detecting means,
The fixing device according to claim 1, wherein the response measurement value is a value detected by the first temperature detection unit.
An image forming apparatus comprising the fixing device according to claim 1.
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