JP2017181116A - Automatic analyzer - Google Patents

Automatic analyzer Download PDF

Info

Publication number
JP2017181116A
JP2017181116A JP2016064719A JP2016064719A JP2017181116A JP 2017181116 A JP2017181116 A JP 2017181116A JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 2017181116 A JP2017181116 A JP 2017181116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
quality control
item
control sample
automatic analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016064719A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6647939B2 (en
Inventor
貴文 藤原
Takafumi Fujiwara
貴文 藤原
昌造 橋本
Shozo Hashimoto
昌造 橋本
健 金原
Takeshi Kanehara
健 金原
高志 吉村
Takashi Yoshimura
高志 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Medical Systems Corp
Priority to JP2016064719A priority Critical patent/JP6647939B2/en
Publication of JP2017181116A publication Critical patent/JP2017181116A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6647939B2 publication Critical patent/JP6647939B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analyzer with which it is possible to easily manage accuracy with regard to a measurement item for which a long period has elapsed since previous measurement.SOLUTION: The automatic analyzer 1 comprises a storage circuit 3, a calculation function 41, a determination function 42, and a display 5. The storage circuit 3 stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item. The calculation function 41 calculates, on the basis of the measurement history information, a measurement blank period from the previous measurement time with regard to a measurement item for which a measurement instruction is received. The determination function 42 determines, on the basis of the measurement blank period and a predetermined prescribed period, whether or not the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction is received is equal to or greater than the prescribed period. The display 5 displays accuracy management recommendation information for recommending measurement of an accuracy management sample pertaining to the measurement item when it is determined by the determination function 42 that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction is received is equal to or greater than the prescribed period.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to an automatic analyzer.

臨床検査は、被検者の状態を客観的に評価するために行われる。この臨床検査には臨床検査装置が主に用いられる。臨床検査装置の一例として、自動分析装置が挙げられる。   A clinical test is performed to objectively evaluate the condition of the subject. A clinical laboratory apparatus is mainly used for this clinical examination. An example of a clinical testing apparatus is an automatic analyzer.

自動分析装置は、反応管に血液や尿等の被検試料と試薬とを分注してこれらを混合して反応させた後、反応によって生じる色調や濁りの変化を測定（検査）する。それにより、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。   The automatic analyzer dispenses a test sample such as blood or urine and a reagent into a reaction tube, mixes and reacts them, and then measures (inspects) changes in color tone and turbidity caused by the reaction. Thereby, the concentration and activity of the substance to be measured (measurement item) in the test sample are measured.

自動分析装置は、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料（キャリブレーション試料）と当該試薬とによって求められている検量線に基づいて、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。   The automatic analyzer uses a calibration curve (calibration sample) in which the concentration and activity of the substance to be measured are known and a calibration curve obtained from the reagent to determine the substance to be measured (measurement item). ) Concentration and activity.

測定項目の中には、例えば、ＬＣＡＴ（Lecitin-cholesterol acyltransferase、レシチン-コレステロールアシルトランスフェラーゼ）、乳酸等をそれぞれ測定する項目のように、前回測定時からの期間が長く空いたものがある。この測定の前に、被測定物質の濃度や活性が既知である精度管理試料（コントロール試料）を測定し、検量線と照合することによって精度管理を行う（精度管理測定）。そして、十分な精度が得られると判断された場合に、被検試料の測定が行われる。なお、校正用試料及び精度管理試料は、被測定物質の濃度や活性が既知であることは共通しているが、その使用目的が異なる。従って、通常、校正用試料及び精度管理試料は、自動分析装置において互いに区別して管理される。   Among the measurement items, for example, there are items in which the period from the previous measurement is long, such as items for measuring LCAT (Lecitin-cholesterol acyltransferase), lactic acid, and the like. Prior to this measurement, a quality control sample (control sample) in which the concentration and activity of the substance to be measured is known is measured, and quality control is performed by collating with a calibration curve (quality control measurement). When it is determined that sufficient accuracy can be obtained, the test sample is measured. The calibration sample and the quality control sample are common in that the concentration and activity of the substance to be measured are known, but the purpose of use is different. Therefore, the calibration sample and the quality control sample are usually managed separately from each other in the automatic analyzer.

特許第４６１９８９２号Patent No. 4619892

従来、この精度管理測定の間、被検試料の測定が一時停止され、精度管理測定に問題がなければ被検試料の測定が開始される場合があった。この場合、被検試料が自動分析装置内に長時間放置されていた。精度管理測定の結果に問題があると判断された場合、被検試料が再測定されずに排出される場合があった。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費してしまう場合があった。   Conventionally, during the quality control measurement, the measurement of the test sample is temporarily stopped, and if there is no problem with the quality control measurement, the measurement of the test sample may be started. In this case, the test sample was left in the automatic analyzer for a long time. When it was determined that there was a problem with the results of quality control measurement, the test sample was sometimes discharged without being remeasured. In addition, quality control measurement is performed on measurement items that have a short period from the previous measurement, and a lot of quality control samples may be consumed.

本発明が解決しようとする課題は、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる自動分析装置を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide an automatic analyzer that can easily perform accuracy management for a measurement item that has a long period since the previous measurement.

実施形態の自動分析装置は、記憶部と、算出部と、判断部と、表示部とを有する。記憶部は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。算出部は、測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する。判断部は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。表示部は、判断部により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。   The automatic analyzer according to the embodiment includes a storage unit, a calculation unit, a determination unit, and a display unit. The storage unit stores measurement history information representing a measurement history for each measurement item. Based on the measurement history information, the calculation unit calculates a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item that has received the measurement instruction. The determination unit determines whether the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or greater than the predetermined period based on the measurement blank period and a predetermined period. When the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period, the display unit displays accuracy management recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. To do.

実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図。The block diagram which shows the function structure of the automatic analyzer which concerns on embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の分析モジュールの概略を表す模式図。The schematic diagram showing the outline of the analysis module of the automatic analyzer which concerns on embodiment. 実施形態に係るラックセットレイアウトの概略を示す模式図。The schematic diagram which shows the outline of the rack set layout which concerns on embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。The flowchart which shows operation | movement of the automatic analyzer which concerns on embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。The flowchart which shows operation | movement of the automatic analyzer which concerns on embodiment.

以下、実施形態に係る自動分析装置について図面を参照して説明する。   Hereinafter, an automatic analyzer according to an embodiment will be described with reference to the drawings.

図１は、実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。自動分析装置１は、分析モジュール２と、記憶回路３と、処理回路４と、ディスプレイ５と、入力回路６とを有する。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a functional configuration of an automatic analyzer 1 according to the embodiment. The automatic analyzer 1 includes an analysis module 2, a storage circuit 3, a processing circuit 4, a display 5, and an input circuit 6.

図２は、実施形態に係る自動分析装置１の分析モジュール２の概略を表す模式図である。分析モジュール２は、第１試薬ボトル２１ａ、第２試薬ボトル２１ｂ、第１試薬ラック２２ａ、第２試薬ラック２２ｂ、第１試薬庫２３ａ、第２試薬庫２３ｂ、反応管２４、反応ディスク２５、試料容器２６、ラック２７、第１分注アーム２８ａ、第２分注アーム２８ｂ、サンプリングアーム２９、攪拌ユニット３０、測光ユニット３１、及び洗浄ユニット３２を有する。   FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an outline of the analysis module 2 of the automatic analyzer 1 according to the embodiment. The analysis module 2 includes a first reagent bottle 21a, a second reagent bottle 21b, a first reagent rack 22a, a second reagent rack 22b, a first reagent storage 23a, a second reagent storage 23b, a reaction tube 24, a reaction disk 25, and a sample. A container 26, a rack 27, a first dispensing arm 28a, a second dispensing arm 28b, a sampling arm 29, a stirring unit 30, a photometric unit 31, and a washing unit 32 are provided.

第１試薬ボトル２１ａには、試料と反応する第１試薬が収容される。第２試薬ボトル２１ｂには、第１試薬と異なる種類の試薬である第２試薬が収容される。第１試薬ラック２２ａは、複数の第１試薬ボトル２１ａを収容した状態で第１試薬庫２３ａに設置される。第２試薬ラック２２ｂは複数の第２試薬ボトル２１ｂを収容した状態で第２試薬庫２３ｂに設置される。   The first reagent bottle 21a stores a first reagent that reacts with the sample. The second reagent bottle 21b contains a second reagent that is a different type of reagent from the first reagent. The 1st reagent rack 22a is installed in the 1st reagent storage 23a in the state where the some 1st reagent bottle 21a was accommodated. The 2nd reagent rack 22b is installed in the 2nd reagent storage 23b in the state where the several 2nd reagent bottle 21b was accommodated.

反応管２４は、試料と第１試薬及び第２試薬とを反応させる際に使用する容器である。反応ディスク２５には、複数の反応管２４が円状に配置される。   The reaction tube 24 is a container used when the sample is reacted with the first reagent and the second reagent. A plurality of reaction tubes 24 are arranged in a circle on the reaction disk 25.

試料容器２６は、試料が収められる容器である。１つの試料容器２６には、該試料として、血液や尿等の被検試料、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料又は精度管理試料が収められる。ラック２７には、複数の試料容器２６が配置される。ラック２７は、たとえば、一般的な搬送機構であるレールＲの上流側（図２の場合、レールＲの右側）に投入され、そして、下流側（図２の場合、レールＲの左側）へ搬送される。試料容器２６の一つ一つは、個別にバーコード等の識別符号が付帯され、個別に管理可能である。   The sample container 26 is a container in which a sample is stored. In one sample container 26, a test sample such as blood or urine, a calibration sample or a quality control sample whose concentration and activity are known are stored as the sample. A plurality of sample containers 26 are disposed on the rack 27. The rack 27 is loaded, for example, on the upstream side of the rail R (in the case of FIG. 2, the right side of the rail R) and transported to the downstream side (in the case of FIG. 2, the left side of the rail R). Is done. Each of the sample containers 26 is individually attached with an identification code such as a barcode and can be managed individually.

第１試薬は、第１分注アーム２８ａによって、試料が分注されている反応管２４内へ第１試薬ボトル２１ａ内から分注される。第２試薬は、第２分注アーム２８ｂによって、試料及び第１試薬が分注されている反応管２４内へ第２試薬ボトル２１ｂ内から分注される。   The first reagent is dispensed from the first reagent bottle 21a by the first dispensing arm 28a into the reaction tube 24 into which the sample is dispensed. The second reagent is dispensed from the second reagent bottle 21b by the second dispensing arm 28b into the reaction tube 24 into which the sample and the first reagent are dispensed.

試料と第１試薬とが分注された反応管２４、並びに、試料と第１試薬及び第２試薬とが分注された反応管２４は、反応ディスク２５の回動により、攪拌ユニット３０の位置まで移動される。攪拌ユニット３０は、反応管２４内の試料と第１試薬とを攪拌し、また、反応管２４内の試料と第１試薬及び第２試薬とを攪拌して、試料と第１試薬及び第２試薬とを混合させるユニットである。   The reaction tube 24 into which the sample and the first reagent are dispensed, and the reaction tube 24 into which the sample, the first reagent, and the second reagent are dispensed are positioned at the position of the stirring unit 30 by the rotation of the reaction disk 25. Moved to. The agitation unit 30 agitates the sample in the reaction tube 24 and the first reagent, and agitates the sample in the reaction tube 24, the first reagent and the second reagent, and thereby the sample, the first reagent and the second reagent. It is a unit that mixes reagents.

攪拌された試料と第１試薬及び第２試薬とを含む反応管２４は、反応ディスク２５の回動により、測光ユニット３１の位置まで移動される。測光ユニット３１は、反応管２４に対して光を照射し、試料と第１試薬及び第２試薬との混合液の吸光度変化等を測定する。   The reaction tube 24 containing the stirred sample, the first reagent, and the second reagent is moved to the position of the photometry unit 31 by the rotation of the reaction disk 25. The photometric unit 31 irradiates the reaction tube 24 with light, and measures a change in absorbance of the mixed solution of the sample, the first reagent, and the second reagent.

洗浄ユニット３２は、測定が完了した反応管２４内の混合液が廃棄された後、反応管２４内の洗浄を行う。以上で分析モジュール２の概要説明を終了する。   The cleaning unit 32 cleans the reaction tube 24 after the liquid mixture in the reaction tube 24 that has been measured is discarded. This is the end of the description of the outline of the analysis module 2.

図１に示す自動分析装置１では、構成要素、算出部・判断部にて行なわれる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路３へ記録されている。処理回路４は、プログラムをメモリから読み出し実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路４は、図１の処理回路４内に示された各機能を有することとなる。   In the automatic analyzer 1 shown in FIG. 1, each processing function performed by the constituent elements and the calculation unit / determination unit is recorded in the storage circuit 3 in the form of a program executable by a computer. The processing circuit 4 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading the program from the memory and executing it. In other words, the processing circuit 4 in the state in which each program is read has each function shown in the processing circuit 4 of FIG.

なお、ここでは、単一の処理回路４にて算出部・判断部にて行なわれる処理機能が実現されるものとして説明するが、複数の分離したプロセッサを組み合わせ、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。   Here, a description will be given assuming that the processing function performed by the calculation unit / determination unit is realized by a single processing circuit 4, but a combination of a plurality of separated processors and each processor executing a program. The function may be realized by the above.

本明細書における「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ） ａｒｉｔｈｍｅｔｉｃ ｃｉｒｃｕｉｔ（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）、或いは、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは、メモリに保存された、又はプロセッサの回路内に直接組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムを記憶するメモリは、プロセッサごとに個別に設けられるものであっても構わないし、或いは図１における記憶回路３が各プロセッサの機能に対応するプログラムを記憶するものであっても構わない。記憶回路３の構成には、例えば、一般的なＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）やＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｃ Ｄｒｉｖｅ）等の記憶装置が適用される。   In this specification, the term “processor” refers to, for example, a dedicated or general-purpose CPU (Central Processing Unit), an artificial circuit (Circuitry), or an application specific integrated circuit (AIC), for example. Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA) It refers to the circuit and the like. The processor realizes the function by reading and executing a program stored in the memory or directly incorporated in the circuit of the processor. The memory for storing the program may be provided individually for each processor, or the storage circuit 3 in FIG. 1 may store a program corresponding to the function of each processor. For example, a storage device such as a general RAM (Random Access Memory) or an HDD (Hard Disc Drive) is applied to the configuration of the storage circuit 3.

なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。   Note that each processor of the present embodiment is not limited to being configured as a single circuit for each processor, but may be configured as a single processor by combining a plurality of independent circuits to realize the function. Good. Furthermore, a plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize the function.

特許請求の範囲における記憶部の一例は、本実施形態における記憶回路３に対応する。特許請求の範囲における算出部の一例は、本実施形態における算出機能４１に対応する。特許請求の範囲における判断部の一例は、判断機能４２に対応する。   An example of the storage unit in the claims corresponds to the storage circuit 3 in the present embodiment. An example of the calculation unit in the claims corresponds to the calculation function 41 in the present embodiment. An example of the determination unit in the claims corresponds to the determination function 42.

入力回路６は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等に一般的に用いられる回路である。入力回路６は、処理回路４に通信可能に接続されている。入力回路６は、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路４へ出力する。   The input circuit 6 is a circuit generally used for a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, and the like. The input circuit 6 is communicably connected to the processing circuit 4. The input circuit 6 converts the input operation received from the operator into an electrical signal and outputs it to the processing circuit 4.

記憶回路３は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。例えば、記憶回路３は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前回測定時としての最新測定時刻を記憶する。記憶回路３は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目を表す電気信号を受けたときの時刻を測定項目ごとに記憶する。このとき、記憶回路３には一般的な計時機能が適用されればよく、時刻の計時方式は何ら限定されるものではない。また、時刻の記憶に関し、記憶回路３は、当該測定項目の最新時刻を測定履歴情報として記憶すればよい。従って、記憶回路３における記憶方式は、上書き記憶でもストック記憶でもどちらでもよい。   The storage circuit 3 stores measurement history information representing a measurement history for each measurement item. For example, the storage circuit 3 stores the latest measurement time as the previous measurement time for each measurement item as the measurement history information. The storage circuit 3 stores, for each measurement item, the time when the electrical signal representing the measurement item related to the measurement instruction input by the operator is received. At this time, a general clocking function may be applied to the memory circuit 3, and the clocking method of time is not limited at all. Further, regarding the storage of time, the storage circuit 3 may store the latest time of the measurement item as measurement history information. Therefore, the storage method in the storage circuit 3 may be either overwrite storage or stock storage.

処理回路４は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する（算出機能４１）。このとき、処理回路４は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。処理回路４は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目の最新測定時刻を記憶回路３から読み出す。処理回路４は、一般的な計時機能によって、測定指示時刻を特定する。処理回路４は、読み出した最新測定時刻と測定指示時刻との間の期間を測定空白期間として算出する。   The processing circuit 4 calculates a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item that has received the measurement instruction (calculation function 41). At this time, the processing circuit 4 calculates the measurement blank period based on the latest measurement time and the measurement instruction time that is the time when the measurement instruction is received. The processing circuit 4 reads the latest measurement time of the measurement item related to the measurement instruction input by the operator from the storage circuit 3. The processing circuit 4 specifies the measurement instruction time by a general time measuring function. The processing circuit 4 calculates a period between the read latest measurement time and the measurement instruction time as a measurement blank period.

処理回路４は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する（判断機能４２）。この所定期間は、例えば、操作者による入力操作によって測定項目ごとに予め入力され、記憶回路３に記憶される。処理回路４は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されることは、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであると判断されることに相当する。処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。   Based on the measurement blank period and a predetermined period, the processing circuit 4 determines whether or not the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or greater than the predetermined period (determination function 42). The predetermined period is input in advance for each measurement item by an input operation by an operator and stored in the storage circuit 3. The processing circuit 4 compares a predetermined period corresponding to the measurement item for which the measurement instruction has been received with the calculated measurement blank period. Accordingly, the processing circuit 4 determines whether or not the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than a predetermined period. The determination that the measurement blank period of the measurement item that received the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period corresponds to the determination that the measurement item has a long period from the previous measurement. When the processing circuit 4 determines that the measurement blank period of the measurement item receiving the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating this determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ５は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）や有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイ等の一般的な表示装置によって構成される。ディスプレイ５は、特許請求の範囲における表示部の一例に相当する。   The display 5 includes a general display device such as an LCD (Liquid Crystal Display) or an organic EL (Electroluminescence) display. The display 5 corresponds to an example of a display unit in the claims.

ディスプレイ５は、処理回路４により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、精度管理推奨情報を表示する。精度管理推奨情報は、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であることを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、精度管理推奨情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、精度管理推奨情報によって、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であること把握する。それにより、操作者は、入力回路６を操作して、精度管理測定を行うための操作入力を行うことができる。   When the processing circuit 4 determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period, the display 5 displays accuracy management recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. indicate. At this time, the display 5 displays the quality management recommendation information based on the control signal from the processing circuit 4. The accuracy management recommended information may be information that informs the operator that the measurement item has a long period since the previous measurement and is a measurement item that requires accuracy management measurement. If it is information indicating this content, the specific information format of the quality control recommendation information may be appropriately designed such as text information and image information. Based on the quality control recommendation information, the operator knows that the measurement item has a long period since the previous measurement and is a measurement item that requires quality control measurement. Accordingly, the operator can perform an operation input for performing quality control measurement by operating the input circuit 6.

なお、ディスプレイ５は、精度管理試料の投入を推奨する情報を精度管理推奨情報として表示してもよい。例えば、ディスプレイ５は、精度管理測定を行うための操作入力を受け、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示する。図３は、ラックセットレイアウトの概略を示す模式図である。枠線２７１は、ラック２７を模式的に示す。位置Ａ〜位置Ｅは、ラック２７において試料容器２６が設置される位置を示す。図３では、位置Ａ及び位置Ｂに精度管理試料を設置し、かつ、位置Ｃ、位置Ｄ、及び位置Ｅに被検試料を設置してラックを投入することを推奨する情報が表示されている例を示している。それにより、操作者は、この情報に基づいて、精度管理試料の設置位置を把握しながら精度管理試料を投入することができる。   Note that the display 5 may display information recommending the introduction of the quality control sample as the quality control recommendation information. For example, the display 5 receives an operation input for performing quality control measurement and displays information indicating a rack set layout for quality control measurement. FIG. 3 is a schematic diagram showing an outline of the rack set layout. A frame line 271 schematically shows the rack 27. Positions A to E indicate positions where the sample container 26 is installed in the rack 27. In FIG. 3, information recommending that a quality control sample is installed at position A and position B and that a test sample is installed at positions C, D, and E and a rack is loaded is displayed. An example is shown. Accordingly, the operator can input the quality control sample while grasping the installation position of the quality control sample based on this information.

また、処理回路４は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路４は、試料容器２６ごとに付帯されたバーコード等の識別符号を読み取る。処理回路４は、読み取った識別符号に基づいて、精度管理試料が収められた試料容器２６が投入されたか否かを判断する。処理回路４は、精度管理試料の投入が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。   Further, when the processing circuit 4 determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 may further determine whether or not the quality control sample has been loaded. For example, the processing circuit 4 reads an identification code such as a barcode attached to each sample container 26. Based on the read identification code, the processing circuit 4 determines whether or not the sample container 26 containing the quality control sample has been loaded. When the processing circuit 4 determines that the quality control sample is not loaded, it outputs a control signal indicating this determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ５は、処理回路４により、精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第１の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第１の警告情報を表示する。第１の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第１の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第１の警告情報によって、精度管理試料の投入が行われていないことを把握することができる。   When the processing circuit 4 determines that the quality control sample is not put in, the display 5 displays first warning information related to the measurement result of the measurement item. At this time, the display 5 displays the first warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The first warning information only needs to be information that tells the operator that the quality control sample has not been loaded. If it is information indicating this content, the specific information format of the first warning information may be appropriately designed such as text information and image information. The operator can grasp from the first warning information that the quality control sample has not been loaded.

また、処理回路４は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに精度管理試料の測定が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路４は、試料容器２６ごとに付帯された識別符号を読み取る。処理回路４は、読み取った識別符号に基づいて精度管理試料が収められた試料容器２６を特定し、該試料容器２６からサンプリングアーム２９によって分注された試料の測定結果（すなわち、精度管理測定の結果）を取得できたとき、精度管理試料の測定が行われたと判断する。処理回路４は、精度管理測定の結果を取得できないとき、精度管理試料の測定が行われていないと判断する。処理回路４は、精度管理試料の測定が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。   Further, when the processing circuit 4 determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 may further determine whether or not the quality control sample has been measured. For example, the processing circuit 4 reads an identification code attached to each sample container 26. The processing circuit 4 identifies the sample container 26 in which the quality control sample is stored based on the read identification code, and the measurement result of the sample dispensed from the sample container 26 by the sampling arm 29 (that is, the quality control measurement). Result), it is determined that the quality control sample has been measured. The processing circuit 4 determines that the quality control sample is not measured when the quality control measurement result cannot be obtained. When it is determined that the quality control sample is not measured, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating a control signal indicating this determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ５は、処理回路４により、精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第２の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第２の警告情報を表示する。第２の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第２の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第２の警告情報によって、精度管理試料の測定が行われていないことを把握することができる。   When the processing circuit 4 determines that the quality control sample is not measured, the display 5 displays second warning information related to the measurement result of the measurement item. At this time, the display 5 displays the second warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The second warning information only needs to be information that tells the operator that the quality control sample has not been measured. If it is information indicating this content, the specific information format of the second warning information may be appropriately designed such as text information or image information. The operator can grasp that the quality control sample is not measured by the second warning information.

また、処理回路４は、精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。例えば、処理回路４は、精度管理試料の測定結果（検量線との照合で得られた濃度や活性）と、当該精度管理試料の既知の値（既知の濃度や活性）とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。この許容範囲は、例えば操作者によって測定項目ごとに予め設定される。処理回路４は、この誤差が許容範囲内であるとき、精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路４は、測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断する。有効であるという判断がなされることは、実施形態の自動分析装置１において、被検試料中の被測定物質の濃度や活性が正常に測定されたと判断されることに相当する。処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。   Further, when it is determined that the quality control sample has been measured, the processing circuit 4 further determines whether or not the measurement result of the quality control sample is normal. For example, the processing circuit 4 compares the measurement result of the quality control sample (concentration and activity obtained by collation with the calibration curve) with the known value (known concentration and activity) of the quality control sample, and these It is determined whether or not the error is within an allowable range. This allowable range is preset for each measurement item by an operator, for example. When this error is within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample is normal. When the processing circuit 4 determines that the measurement result is normal, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the test sample is valid. The determination that it is effective corresponds to the determination that the concentration and activity of the substance to be measured in the test sample are normally measured in the automatic analyzer 1 of the embodiment. The processing circuit 4 attaches incidental information indicating that it is effective for the measurement result of the test sample.

処理回路４は、この誤差が許容範囲内でないとき、精度管理試料の測定結果が正常でないと判断する。処理回路４は、測定結果が正常でないと判断したとき、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。ブランク補正の処理内容には一般的な処理内容が適用されてよい。次に、処理回路４は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。このとき、処理回路４は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。処理回路４は、この誤差が許容範囲内であるとき、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路４は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果を補正処理後の検量線と照合して、被検試料中の被測定物質の濃度や活性を測定する。   When this error is not within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample is not normal. When the processing circuit 4 determines that the measurement result is not normal, the processing circuit 4 corrects the calibration curve of the measurement item. An example of this correction processing is blank correction. General processing contents may be applied to the blank correction processing contents. Next, the processing circuit 4 performs quality control measurement on the calibration curve after the correction process. At this time, the processing circuit 4 collates the measurement result obtained by collation with the calibration curve after correction processing and the known value of the quality control sample, and whether these errors are within an allowable range. Judging. When this error is within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample for the calibration curve after the correction process is normal. Then, the processing circuit 4 recalculates the measurement result of the test sample based on the calibration curve after the correction process. For example, the processing circuit 4 collates the measurement result of the test sample with the calibration curve after the correction process, and measures the concentration and activity of the test substance in the test sample.

処理回路４は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内でないとき、被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。また、処理回路４は、被検試料の測定結果が無効であることを示す制御信号をディスプレイ５へ出力する。ディスプレイ５は、測定結果が無効であることを示す情報を表示する。操作者は、被検試料の測定結果が無効であることを把握することができる。   The processing circuit 4 collates the measurement result obtained by collation with the calibration curve after correction processing and the known value of the quality control sample, and when these errors are not within the allowable range, the measurement of the test sample is performed. Invalidate the result. For example, the processing circuit 4 attaches incidental information indicating invalidity to the measurement result of the test sample. Further, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating that the measurement result of the test sample is invalid to the display 5. The display 5 displays information indicating that the measurement result is invalid. The operator can grasp that the measurement result of the test sample is invalid.

この場合、処理回路４は、分析モジュール２を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。検量線の再作成処理については、一般的な処理内容が適用されてよい。なお、このとき、図３の例と同様に、ディスプレイ５は、キャリブレーション試料の設置位置に係るラックレイアウトを表示してもよい。そして、自動分析装置１は、再作成した検量線に基づいて被検試料を再測定する。   In this case, the processing circuit 4 controls the analysis module 2 to perform measurement using the calibration sample, and re-creates a calibration curve. General processing content may be applied to the calibration curve re-creation processing. At this time, as in the example of FIG. 3, the display 5 may display a rack layout related to the installation position of the calibration sample. Then, the automatic analyzer 1 remeasures the test sample based on the re-created calibration curve.

図４Ａ及び図４Ｂは、実施形態の自動分析装置１の動作を示すフローチャートである。   4A and 4B are flowcharts illustrating the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment.

ステップＳ１０１：操作者は、入力回路６を介して測定項目を示す測定指示を処理回路４へ入力する。処理回路４は、この測定指示を受け付ける。   Step S101: The operator inputs a measurement instruction indicating a measurement item to the processing circuit 4 via the input circuit 6. The processing circuit 4 accepts this measurement instruction.

ステップＳ１０２：処理回路４は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの期間である測定空白期間を算出する。このとき、処理回路４は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。   Step S102: The processing circuit 4 calculates a measurement blank period that is a period from the previous measurement for the measurement item that has received the measurement instruction. At this time, the processing circuit 4 calculates the measurement blank period based on the latest measurement time and the measurement instruction time that is the time when the measurement instruction is received.

ステップＳ１０３：処理回路４は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路４は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上でないと判断されたとき（ステップＳ１０３；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０４へ進む。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０５へ進む。   Step S103: The processing circuit 4 compares a predetermined period corresponding to the measurement item for which the measurement instruction has been received with the calculated measurement blank period. Accordingly, the processing circuit 4 determines whether or not the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than a predetermined period. When it is determined that the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is not equal to or longer than the predetermined period (step S103; No), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S104. When it is determined that the measurement blank period of the measurement item receiving the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period (step S103; Yes), a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S105.

ステップＳ１０４：分析モジュール２は、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定する。なお、処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯してもよい。   Step S104: The analysis module 2 measures the concentration and activity of the substance to be measured (measurement item) in the test sample. Note that the processing circuit 4 may attach incidental information indicating that it is effective for the measurement result of the test sample.

ステップＳ１０５：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。   Step S105: The display 5 displays accuracy management recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item based on the control signal from the processing circuit 4.

ステップＳ１０６：操作者が精度管理測定を行う旨の操作入力を行ったとき（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０７へ進む。操作者が精度管理測定を行わない旨の操作入力を行ったとき（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０４へ進む。   Step S106: When the operator performs an operation input for performing quality control measurement (Step S106; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to Step S107. When the operator performs an operation input indicating that the quality control measurement is not performed (step S106; No), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S104.

ステップＳ１０７：処理回路４は、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断する。精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき（ステップＳ１０７；Ｎｏ）、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０８へ進む。精度管理試料の投入が行われたと判断されたとき（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１０９へ進む。   Step S107: The processing circuit 4 determines whether or not the quality control sample has been loaded. When it is determined that the quality control sample has not been loaded (step S107; No), a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S108. When it is determined that the quality control sample has been loaded (step S107; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S109.

ステップＳ１０８：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第１の警告情報を表示する。第１の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。   Step S108: The display 5 displays the first warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The first warning information only needs to be information that tells the operator that the quality control sample has not been loaded.

ステップＳ１０９：処理回路４は、精度管理試料の測定が行われたか否かを判断する。精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき（ステップＳ１０９；Ｎｏ）、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ５へ出力する。また、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１０へ進む。精度管理試料の測定が行われたと判断されたとき（ステップＳ１０９；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１１へ進む。   Step S109: The processing circuit 4 determines whether or not the quality control sample has been measured. When it is determined that the quality control sample is not measured (step S109; No), a control signal indicating a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S110. When it is determined that the quality control sample has been measured (step S109; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S111.

ステップＳ１１０：ディスプレイ５は、処理回路４からの制御信号に基づいて、第２の警告情報を表示する。第２の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。   Step S110: The display 5 displays the second warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The second warning information only needs to be information that tells the operator that the quality control sample has not been measured.

ステップＳ１１１：処理回路４は、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき（ステップＳ１１１；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１２へ進む。精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき（ステップＳ１１１；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１３へ進む。   Step S111: The processing circuit 4 determines whether or not the measurement result of the quality control sample is normal. When it is determined that the measurement result of the quality control sample is normal (step S111; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S112. When it is determined that the measurement result of the quality control sample is not normal (step S111; No), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S113.

ステップＳ１１２：処理回路４は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。なお、ステップＳ１０７からステップＳ１１２までの処理の間、分析モジュール２は、被検試料中の被測定物質（測定項目）の濃度や活性を測定している。この測定によって得られた値は、その有効・無効の判断が保留された状態（有効であることを示す付帯情報も無効あることを示す付帯情報も付帯されていない状態）で記憶回路３に記憶されている。   Step S112: The processing circuit 4 attaches incidental information indicating that it is effective for the measurement result of the test sample. During the processing from step S107 to step S112, the analysis module 2 measures the concentration and activity of the substance to be measured (measurement item) in the test sample. The value obtained by this measurement is stored in the storage circuit 3 in a state in which the determination of validity / invalidity is suspended (the incidental information indicating validity is not associated with the incidental information indicating invalidity). Has been.

ステップＳ１１３：処理回路４は、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。   Step S113: The processing circuit 4 performs a calibration process for the calibration curve of the measurement item. An example of this correction processing is blank correction.

ステップＳ１１４：処理回路４は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。   Step S114: The processing circuit 4 performs quality control measurement on the calibration curve after the correction process.

ステップＳ１１５：処理回路４は、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常か否かを判断する。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき（ステップＳ１１５；Ｙｅｓ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１６へ進む。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき（ステップＳ１１５；Ｎｏ）、実施形態の自動分析装置１の動作はステップＳ１１７へ進む。   Step S115: The processing circuit 4 determines whether or not the measurement result of the quality control sample for the calibration curve after the correction process is normal. When it is determined that the measurement result of the quality control sample for the calibration curve after the correction process is normal (step S115; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S116. When it is determined that the measurement result of the quality control sample for the calibration curve after the correction process is not normal (step S115; No), the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S117.

ステップＳ１１６：処理回路４は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。   Step S116: The processing circuit 4 recalculates the measurement result of the test sample based on the calibration curve after the correction process.

ステップＳ１１７：被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路４は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。   Step S117: Invalidate the measurement result of the test sample. For example, the processing circuit 4 attaches incidental information indicating invalidity to the measurement result of the test sample.

ステップＳ１１８：処理回路４は、分析モジュール２を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。   Step S118: The processing circuit 4 controls the analysis module 2, performs measurement using the calibration sample, and re-creates a calibration curve.

以上述べた実施形態の自動分析装置１によれば、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる。また、精度管理試料の測定結果が正常であることを判断した後で、既に測定された被検試料の測定結果を有効とするので、被検試料が測定されずに長時間放置されるケースや排出されるケースを低減することができる。また、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示することによって、被検試料専用のラック２７と精度管理試料専用のラック２７とを使い分ける手間を省くことができる。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費することの防止を図ることができる。   According to the automatic analyzer 1 of the embodiment described above, it is possible to easily perform accuracy management for a measurement item having a long period from the previous measurement. In addition, after determining that the measurement result of the quality control sample is normal, the measurement result of the test sample that has already been measured is validated. The number of cases that are discharged can be reduced. Further, by displaying information indicating the rack set layout for quality control measurement, it is possible to save time and labor for using the test sample dedicated rack 27 and the quality control sample dedicated rack 27 separately. In addition, it is possible to perform quality control measurement on a measurement item having a short period from the previous measurement, and to prevent consumption of a quality control sample.

本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Although an embodiment of the present invention has been described, this embodiment is presented as an example and is not intended to limit the scope of the invention. This embodiment can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. This embodiment and its modifications are included in the scope of the present invention and the gist thereof, and are also included in the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

１ 自動分析装置
２ 分析モジュール
３ 記憶回路
４ 処理回路
５ ディスプレイ
６ 入力回路
２１ａ 第１試薬ボトル
２１ｂ 第２試薬ボトル
２２ａ 第１試薬ラック
２２ｂ 第２試薬ラック
２３ａ 第１試薬庫
２３ｂ 第２試薬庫
２４ 反応管
２５ 反応ディスク
２６ 試料容器
２７ ラック
２８ａ 第１分注アーム
２８ｂ 第２分注アーム
２９ サンプリングアーム
３０ 攪拌ユニット
３１ 測光ユニット
３２ 洗浄ユニット
４１ 算出機能
４２ 判断機能 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Automatic analyzer 2 Analysis module 3 Memory circuit 4 Processing circuit 5 Display 6 Input circuit 21a 1st reagent bottle 21b 2nd reagent bottle 22a 1st reagent rack 22b 2nd reagent rack 23a 1st reagent storage 23b 2nd reagent storage 24 Reaction Tube 25 Reaction disk 26 Sample container 27 Rack 28a First dispensing arm 28b Second dispensing arm 29 Sampling arm 30 Stirring unit 31 Photometric unit 32 Washing unit 41 Calculation function 42 Judgment function

Claims (7)

測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する記憶部と、
前記測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた前記測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する算出部と、
前記測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上か否か判断する判断部と、
前記判断部により、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する表示部と、
を有する自動分析装置。 A storage unit for storing measurement history information representing a measurement history for each measurement item;
Based on the measurement history information, a calculation unit that calculates a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item that has received a measurement instruction;
A determination unit that determines whether the measurement blank period of the measurement item that has received a measurement instruction is equal to or greater than the predetermined period based on the measurement blank period and a predetermined period;
When the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item for which a measurement instruction has been received is equal to or longer than the predetermined period, it displays accuracy management recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. A display unit to
Automatic analyzer with 前記記憶部は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前記前回測定時としての最新測定時刻を記憶し、
前記算出部は、前記最新測定時刻と前記測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、前記測定空白期間を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。 The storage unit stores the latest measurement time as the previous measurement time for each measurement item as measurement history information,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the calculation unit calculates the measurement blank period based on the latest measurement time and a measurement instruction time that is a time when the measurement instruction is received. . 前記表示部は、前記精度管理試料の投入を推奨する情報を前記精度管理推奨情報として表示することを特徴とする請求項１又は２に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, wherein the display unit displays information recommending the introduction of the quality control sample as the quality control recommendation information. 前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の投入が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第１の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項３に記載の自動分析装置。 When the determination unit determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, the determination unit further determines whether or not the quality control sample has been loaded,
The said display part displays the 1st warning information which concerns on the measurement result of the said measurement item, when the said judgment part judges that the injection | pouring of the said quality control sample is not performed. 3. The automatic analyzer according to 3. 前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第２の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の自動分析装置。 When the determination unit determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, it further determines whether or not the quality control sample has been measured,
The said display part displays the 2nd warning information which concerns on the measurement result of the said measurement item, when the said judgment part judges that the measurement of the said quality control sample is not performed. The automatic analyzer according to 1 or 2. 前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、前記測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断することを特徴とする請求項５に記載の自動分析装置。   When the determination unit determines that the measurement of the quality control sample has been performed, further determines whether the measurement result of the quality control sample is normal, and determines that the measurement result is normal The automatic analyzer according to claim 5, wherein the measurement result of the test sample is determined to be valid. 前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、
前記算出部は、前記判断部により、前記測定結果が正常でないと判断されたとき、測定指示を受けた前記測定項目の検量線の補正処理を行い、前記補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する
ことを特徴とする請求項５に記載の自動分析装置。 When the determination unit determines that the measurement of the quality control sample has been performed, it further determines whether the measurement result of the quality control sample is normal,
When the determination unit determines that the measurement result is not normal, the calculation unit performs a correction process for the calibration curve of the measurement item for which a measurement instruction has been received, and performs calculation based on the calibration curve after the correction process. 6. The automatic analyzer according to claim 5, wherein the measurement result of the test sample is recalculated.
JP2016064719A 2016-03-28 2016-03-28 Automatic analyzer Active JP6647939B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016064719A JP6647939B2 (en) 2016-03-28 2016-03-28 Automatic analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016064719A JP6647939B2 (en) 2016-03-28 2016-03-28 Automatic analyzer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017181116A true JP2017181116A (en) 2017-10-05
JP6647939B2 JP6647939B2 (en) 2020-02-14

Family

ID=60004285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016064719A Active JP6647939B2 (en) 2016-03-28 2016-03-28 Automatic analyzer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6647939B2 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008170191A (en) * 2007-01-09 2008-07-24 Olympus Corp Analysis device
JP2008190957A (en) * 2007-02-02 2008-08-21 Olympus Corp Analyzer
JP2008209338A (en) * 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JP2008241410A (en) * 2007-03-27 2008-10-09 Tanita Corp Biochemical measurement instrument stand capable of displaying state of biochemical measurement instrument
JP2009270841A (en) * 2008-04-30 2009-11-19 Hitachi High-Technologies Corp Autoanalyzer
JP2011117981A (en) * 1997-04-10 2011-06-16 Hitachi Ltd Automatic analyzer and support system therefor
JP2014085270A (en) * 2012-10-25 2014-05-12 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011117981A (en) * 1997-04-10 2011-06-16 Hitachi Ltd Automatic analyzer and support system therefor
JP2008170191A (en) * 2007-01-09 2008-07-24 Olympus Corp Analysis device
JP2008190957A (en) * 2007-02-02 2008-08-21 Olympus Corp Analyzer
JP2008209338A (en) * 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JP2008241410A (en) * 2007-03-27 2008-10-09 Tanita Corp Biochemical measurement instrument stand capable of displaying state of biochemical measurement instrument
JP2009270841A (en) * 2008-04-30 2009-11-19 Hitachi High-Technologies Corp Autoanalyzer
JP2014085270A (en) * 2012-10-25 2014-05-12 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
JP6647939B2 (en) 2020-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7193564B2 (en) Automatic analysis device and automatic analysis method
CN108700603B (en) Automatic analyzer
JP4448769B2 (en) Automatic analyzer
US20080056944A1 (en) Automated analyzer
US20090214385A1 (en) Automatic analyzer
WO2015098473A1 (en) Automatic analysis device and analysis method
US11054433B2 (en) Automated analyzer and control method for same
US20170212138A1 (en) Automatic Analysis Apparatus
CN101452005A (en) Automatic analyzer
JP4734145B2 (en) Automatic analyzer
CN110325864A (en) Automatic analysing apparatus
JP2019045363A (en) Automatic analyzer
JP5452070B2 (en) Automatic analyzer
JP2008064680A (en) Autoanalyzer
JP5271929B2 (en) Automatic analyzer
US20220034923A1 (en) Automatic analyzer
JP6039940B2 (en) Automatic analyzer
JP2006292698A (en) Precision management method of autoanalyzer for clinical inspection, and the autoanalyzer
JP5264851B2 (en) Automatic analyzer and reagent management method
JP5992668B2 (en) Automatic analyzer
JP2010261823A (en) Automatic analyzer
JP6647939B2 (en) Automatic analyzer
JP5134452B2 (en) Automatic analyzer
JP2007322246A (en) Autoanalyzer
JP7350478B2 (en) automatic analyzer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191217

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20191213

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200115

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6647939

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150