JP2017138393A - Liquid crystal display device and inspection method of the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液晶表示装置及びその検査方法に関する。 The present invention relates to a liquid crystal display device and an inspection method thereof.
例えば液晶表示装置にＬＳＩ（large-scale integrated circuit）を接合する前に、液晶表示装置の検査が行われる。画像表示領域外に一括点灯用トランジスタを配置し、数本の電気的接続で、白、黒、赤、緑、青、黄、シアン、マゼンダの８色が表示可能となる一括点灯検査方法が提案されている（特許文献１）。 For example, an inspection of the liquid crystal display device is performed before bonding a large-scale integrated circuit (LSI) to the liquid crystal display device. A collective lighting inspection method is proposed in which eight transistors (white, black, red, green, blue, yellow, cyan, and magenta) can be displayed with a few electrical connections by arranging transistors for batch lighting outside the image display area. (Patent Document 1).
液晶表示装置には、様々な種類の駆動方式が適用可能である。最終製品と同じ駆動方式を用いて検査を行うことで、不良検出率を向上させることができる。 Various types of driving methods can be applied to the liquid crystal display device. By performing the inspection using the same driving method as the final product, the defect detection rate can be improved.
本発明は、不良検出率を向上させることが可能な液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 The present invention provides a liquid crystal display device capable of improving a defect detection rate and an inspection method thereof.
本発明の一態様に係る液晶表示装置の検査方法において、前記液晶表示装置は、行方向に順に配列された第１乃至第６列ラインを有し、前記第１乃至第６列ラインの各々は、列方向に配列された複数の画素からなり、前記第１及び第４列ラインは、第１色を表示可能であり、前記第２及び第５列ラインは、第２色を表示可能であり、前記第３及び第６列ラインは、第３色を表示可能である、画素アレイと、前記第１乃至第６列ラインにそれぞれ接続された第１乃至第６信号線と、前記画素アレイの奇数行ラインに接続された第１走査線と、前記画素アレイの偶数行ラインに接続された第２走査線と、前記第１乃至第６信号線にそれぞれ接続された第１端子を有する第１乃至第６トランジスタと、前記第１乃至第６トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第１乃至第６配線と、前記第１及び第２走査線にそれぞれ接続された第１端子を有する第７及び第８トランジスタと、前記第７及び第８トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第７及び第８配線と、前記第１乃至第８トランジスタのゲートに共通接続された第９配線とを具備する。前記検査方法は、前記第７及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に第１電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に第２電圧を印加する工程と、前記第８及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に前記第１電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に前記第２電圧を印加する工程とを具備する。 In the inspection method for a liquid crystal display device according to one aspect of the present invention, the liquid crystal display device includes first to sixth column lines arranged in order in a row direction, and each of the first to sixth column lines is The first and fourth column lines can display a first color, and the second and fifth column lines can display a second color. The third and sixth column lines are capable of displaying a third color, the pixel array, the first to sixth signal lines connected to the first to sixth column lines, respectively, and the pixel array A first scan line connected to an odd-numbered row line; a second scan line connected to an even-numbered row line of the pixel array; and a first terminal connected to each of the first to sixth signal lines. To the sixth transistor and the second terminals of the first to sixth transistors. First to sixth wirings connected to each other, seventh and eighth transistors each having a first terminal connected to each of the first and second scanning lines, and second terminals of the seventh and eighth transistors. And a seventh wiring connected to the gates of the first to eighth transistors, and a ninth wiring connected to the gates of the first to eighth transistors. In the inspection method, a first voltage is applied to the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring in a state where an on-voltage is applied to the seventh and ninth wirings, and the second wiring, Applying the second voltage to the fourth wiring and the sixth wiring; and applying the on-voltage to the eighth and ninth wirings, the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring. Applying the first voltage to the second wiring, the fourth wiring, and the sixth wiring.
本発明の一態様に係る液晶表示装置は、行方向に順に配列された第１乃至第６列ラインを有し、前記第１乃至第６列ラインの各々は、列方向に配列された複数の画素からなり、前記第１及び第４列ラインは、第１色を表示可能であり、前記第２及び第５列ラインは、第２色を表示可能であり、前記第３及び第６列ラインは、第３色を表示可能である、画素アレイと、前記第１乃至第６列ラインにそれぞれ接続された第１乃至第６信号線と、前記画素アレイの奇数行ラインに接続された第１走査線と、前記画素アレイの偶数行ラインに接続された第２走査線と、前記第１乃至第６信号線にそれぞれ接続された第１端子を有する第１乃至第６トランジスタと、前記第１乃至第６トランジスタの第２端子にそれぞれ接続され、互いに異なる検査用の電圧が印加可能である第１乃至第６配線と、前記第１及び第２走査線にそれぞれ接続された第１端子を有する第７及び第８トランジスタと、前記第７及び第８トランジスタの第２端子にそれぞれ接続され、検査用の電圧が印加される第７及び第８配線と、前記第１乃至第８トランジスタのゲートに共通接続され、検査用の電圧が印加される第９配線とを具備する。 The liquid crystal display device according to one embodiment of the present invention includes first to sixth column lines arranged in order in the row direction, and each of the first to sixth column lines includes a plurality of columns arranged in the column direction. The first and fourth column lines can display a first color; the second and fifth column lines can display a second color; and the third and sixth column lines Is capable of displaying a third color, a pixel array, first to sixth signal lines connected to the first to sixth column lines, respectively, and a first connected to odd row lines of the pixel array. A first scanning line; a second scanning line connected to an even-numbered line of the pixel array; first to sixth transistors each having a first terminal connected to each of the first to sixth signal lines; To the second terminals of the sixth transistors, respectively, for different inspections. First to sixth wirings to which pressure can be applied, seventh and eighth transistors having first terminals connected to the first and second scan lines, respectively, and second of the seventh and eighth transistors. Seventh and eighth wirings connected to the terminals and applied with a test voltage, and a ninth wiring connected in common to the gates of the first to eighth transistors and applied with a test voltage. To do.
本発明によれば、不良検出率を向上させることが可能な液晶表示装置及びその検査方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the liquid crystal display device which can improve a defect detection rate, and its inspection method can be provided.
以下、実施形態について図面を参照して説明する。ただし、図面は模式的または概念的なものであり、各図面の寸法および比率等は必ずしも現実のものと同一とは限らないことに留意すべきである。また、図面の相互間で同じ部分を表す場合においても、互いの寸法の関係や比率が異なって表される場合もある。特に、以下に示す幾つかの実施形態は、本発明の技術思想を具体化するための装置および方法を例示したものであって、構成部品の形状、構造、配置等によって、本発明の技術思想が特定されるものではない。なお、以下の説明において、同一の機能及び構成を有する要素については同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. However, it should be noted that the drawings are schematic or conceptual, and the dimensions and ratios of the drawings are not necessarily the same as the actual ones. Further, even when the same portion is represented between the drawings, the dimensional relationship and ratio may be represented differently. In particular, the following embodiments exemplify an apparatus and a method for embodying the technical idea of the present invention, and the technical idea of the present invention depends on the shape, structure, arrangement, etc. of components. Is not specified. In the following description, elements having the same function and configuration are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be given only when necessary.
［１］ 液晶表示装置の構成
図１は、本実施形態に係る液晶表示装置１０の概略的な平面図及び側面図である。図１の左側が平面図、図１の右側が側面図である。
[1] Configuration of Liquid Crystal Display Device FIG. 1 is a schematic plan view and side view of a liquid crystal display device 10 according to the present embodiment. The left side of FIG. 1 is a plan view, and the right side of FIG. 1 is a side view.
液晶表示装置１０は、２つの基板２１、２２と、基板２１及び基板２２間に挟持された液晶層２３と、液晶層２３を封止するシール材２４とを備える。基板２１と基板２２とが重なる領域には、画素アレイが配置される。また、基板２１上には、複数の画素を駆動するドライバ１１と、複数の端子を有する端子部１２と、検査用に使用される端子Ｔ１〜Ｔ１０とが設けられる。 The liquid crystal display device 10 includes two substrates 21 and 22, a liquid crystal layer 23 sandwiched between the substrates 21 and 22, and a sealing material 24 that seals the liquid crystal layer 23. A pixel array is disposed in a region where the substrate 21 and the substrate 22 overlap. On the substrate 21, a driver 11 for driving a plurality of pixels, a terminal portion 12 having a plurality of terminals, and terminals T1 to T10 used for inspection are provided.
図２は、液晶表示装置１０の断面図である。
液晶表示装置１０は、スイッチング素子（ＴＦＴ）及び画素電極等が形成されるＴＦＴ基板２１と、カラーフィルター及び共通電極等が形成されかつＴＦＴ基板２１に対向配置されるカラーフィルター基板（ＣＦ基板）２２と、ＴＦＴ基板２１及びＣＦ基板２２間に挟持された液晶層２３とを備える。ＴＦＴ基板２１及びＣＦ基板２２の各々は、透明基板（例えば、ガラス基板）から構成される。ＣＦ基板２２は、バックライト（図示せず）に対向配置され、バックライトからの照明光は、ＣＦ基板２２側から液晶表示装置１０に入射する。ＴＦＴ基板２１のバックライトとは反対側の面が液晶表示装置１０の表示面である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device 10.
The liquid crystal display device 10 includes a TFT substrate 21 on which switching elements (TFTs), pixel electrodes, and the like are formed, and a color filter substrate (CF substrate) 22 on which color filters, common electrodes, and the like are formed and are opposed to the TFT substrate 21. And a liquid crystal layer 23 sandwiched between the TFT substrate 21 and the CF substrate 22. Each of the TFT substrate 21 and the CF substrate 22 is composed of a transparent substrate (for example, a glass substrate). The CF substrate 22 is disposed so as to face a backlight (not shown), and illumination light from the backlight enters the liquid crystal display device 10 from the CF substrate 22 side. The surface of the TFT substrate 21 opposite to the backlight is the display surface of the liquid crystal display device 10.
液晶層２３は、ＴＦＴ基板２１及びＣＦ基板２２間を貼り合わせるシール材２４によって封入された液晶材料により構成される。液晶材料は、ＴＦＴ基板２１及びＣＦ基板２２間に印加された電界に応じて液晶分子の配向が操作されて光学特性が変化する。液晶モードとしては、ＶＡ（Vertical Alignment）モード、ＴＮ（Twisted Nematic）モード、及びホモジニアスモードなど種々の液晶モードを用いることができる。シール材２４は、例えば、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂、又は紫外線・熱併用型硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてＴＦＴ基板２１又はＣＦ基板２２に塗布された後、紫外線照射、又は加熱等により硬化させられる。 The liquid crystal layer 23 is composed of a liquid crystal material sealed with a sealing material 24 that bonds the TFT substrate 21 and the CF substrate 22 together. In the liquid crystal material, the alignment of liquid crystal molecules is manipulated according to the electric field applied between the TFT substrate 21 and the CF substrate 22, and the optical characteristics change. As the liquid crystal mode, various liquid crystal modes such as a VA (Vertical Alignment) mode, a TN (Twisted Nematic) mode, and a homogeneous mode can be used. The sealing material 24 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or an ultraviolet / heat combination type curable resin, and is applied to the TFT substrate 21 or the CF substrate 22 in the manufacturing process, and then irradiated with ultraviolet rays or heated. Cured.
ＴＦＴ基板２１の液晶層２３側には、複数のスイッチング素子（アクティブ素子）２５が設けられる。スイッチング素子２５としては、例えばＴＦＴ（Thin Film Transistor）が用いられ、またｎチャネルＴＦＴが用いられる。ＴＦＴ２５は、走査線ＧＬに電気的に接続されるゲート電極と、ゲート電極上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に設けられた半導体層（例えばアモルファスシリコン層）と、半導体層上に離間して設けられたソース電極及びドレイン電極とを備える。ソース電極は、信号線ＳＬに電気的に接続される。 A plurality of switching elements (active elements) 25 are provided on the liquid crystal layer 23 side of the TFT substrate 21. As the switching element 25, for example, a TFT (Thin Film Transistor) is used, and an n-channel TFT is used. The TFT 25 includes a gate electrode electrically connected to the scanning line GL, a gate insulating film provided on the gate electrode, a semiconductor layer (for example, an amorphous silicon layer) provided on the gate insulating film, And a source electrode and a drain electrode provided separately from each other. The source electrode is electrically connected to the signal line SL.
ＴＦＴ２５上には、絶縁層２６が設けられる。絶縁層２６上には、複数の画素電極２７が設けられる。絶縁層２６内かつＴＦＴ２５のドレイン電極上には、画素電極２７に電気的に接続されたコンタクトプラグ２８が設けられる。 An insulating layer 26 is provided on the TFT 25. A plurality of pixel electrodes 27 are provided on the insulating layer 26. A contact plug 28 electrically connected to the pixel electrode 27 is provided in the insulating layer 26 and on the drain electrode of the TFT 25.
ＣＦ基板２２の液晶層２３側には、カラーフィルター２９が設けられる。カラーフィルター２９は、複数の着色フィルター（着色部材）を備え、具体的には、複数の赤フィルター２９−Ｒ、複数の緑フィルター２９−Ｇ、及び複数の青フィルター２９−Ｂを備える。一般的なカラーフィルターは光の三原色である赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）で構成される。隣接したＲ、Ｇ、Ｂの三色のセットが表示の単位（画素）となっており、１つの画素中のＲ、Ｇ、Ｂのいずれか単色の部分はサブピクセル（サブ画素）と呼ばれる最小駆動単位である。ＴＦＴ２５及び画素電極２７は、サブピクセルごとに設けられる。以下の説明では、画素とサブ画素との区別が特に必要な場合を除き、サブ画素を画素と呼ぶものとする。 A color filter 29 is provided on the liquid crystal layer 23 side of the CF substrate 22. The color filter 29 includes a plurality of coloring filters (coloring members), and specifically includes a plurality of red filters 29-R, a plurality of green filters 29-G, and a plurality of blue filters 29-B. A general color filter is composed of three primary colors of light, red (R), green (G), and blue (B). A set of three colors R, G, and B adjacent to each other is a display unit (pixel), and any single color portion of R, G, B in one pixel is a minimum called a subpixel (subpixel). It is a drive unit. The TFT 25 and the pixel electrode 27 are provided for each subpixel. In the following description, a subpixel is referred to as a pixel unless it is particularly necessary to distinguish between a pixel and a subpixel.
赤フィルター２９−Ｒ、緑フィルター２９−Ｇ、及び青フィルター２９−Ｂの境界部分、及び画素（サブピクセル）の境界部分には、遮光用のブラックマトリクス（遮光膜）３０が設けられる。すなわち、ブラックマトリクス３０は、網目状に形成される。ブラックマトリクス３０は、例えば、着色部材間の不要な光を遮蔽し、コントラストを向上させるために設けられる。 A black matrix (light-shielding film) 30 for light shielding is provided at the boundary between the red filter 29-R, the green filter 29-G, and the blue filter 29-B, and the boundary between the pixels (sub-pixels). That is, the black matrix 30 is formed in a mesh shape. The black matrix 30 is provided, for example, to shield unnecessary light between coloring members and improve contrast.
カラーフィルター２９及びブラックマトリクス３０上には、共通電極３１が設けられる。共通電極３１は、液晶表示装置１０の表示領域全体に平面状に形成される。 A common electrode 31 is provided on the color filter 29 and the black matrix 30. The common electrode 31 is formed in a planar shape over the entire display area of the liquid crystal display device 10.
円偏光板３２、３３は、ＴＦＴ基板２１及びＣＦ基板２２を挟むように設けられる。円偏光板３２、３３の各々は、直線偏光子と１／４波長板とから構成される。 The circularly polarizing plates 32 and 33 are provided so as to sandwich the TFT substrate 21 and the CF substrate 22. Each of the circularly polarizing plates 32 and 33 includes a linear polarizer and a quarter wave plate.
画素電極２７、コンタクトプラグ２８、及び共通電極３１は、透明電極から構成され、例えばＩＴＯ（インジウム錫酸化物）が用いられる。絶縁層２６としては、透明な絶縁材料が用いられ、例えば、シリコン窒化物（ＳｉＮ）が用いられる。 The pixel electrode 27, the contact plug 28, and the common electrode 31 are made of transparent electrodes, and for example, ITO (indium tin oxide) is used. As the insulating layer 26, a transparent insulating material is used, for example, silicon nitride (SiN).
次に、液晶表示装置１０の回路構成について説明する。図３は、液晶表示装置１０の回路である。 Next, the circuit configuration of the liquid crystal display device 10 will be described. FIG. 3 shows a circuit of the liquid crystal display device 10.
液晶表示装置１０は、複数の画素４０がマトリクス状に配列された画素アレイと、走査ドライバ（走査線駆動回路）４１と、信号ドライバ（信号線駆動回路）４２と、共通電圧供給回路４３とを備える。図３では、図面の簡略化のために、４つの画素４０を抽出して示している。走査ドライバ４１、信号ドライバ４２、及び共通電圧供給回路４３は、図１のドライバ１１に含まれる。 The liquid crystal display device 10 includes a pixel array in which a plurality of pixels 40 are arranged in a matrix, a scanning driver (scanning line driving circuit) 41, a signal driver (signal line driving circuit) 42, and a common voltage supply circuit 43. Prepare. In FIG. 3, for simplification of the drawing, four pixels 40 are extracted and shown. The scanning driver 41, the signal driver 42, and the common voltage supply circuit 43 are included in the driver 11 of FIG.
液晶表示装置１０には、それぞれがロウ方向（Ｘ方向）に延びる複数の走査線ＧＬと、それぞれがカラム方向（Ｙ方向）に延びる複数の信号線ＳＬとが配設される。走査線ＧＬと信号線ＳＬとの交差領域には、画素４０が配置される。 In the liquid crystal display device 10, a plurality of scanning lines GL each extending in the row direction (X direction) and a plurality of signal lines SL each extending in the column direction (Y direction) are arranged. Pixels 40 are arranged in the intersection region between the scanning lines GL and the signal lines SL.
画素４０は、ＴＦＴ２５、液晶容量（液晶素子）Ｃｌｃ、及び蓄積容量Ｃｓを備える。ＴＦＴ２５のソースは、信号線ＳＬに電気的に接続される。ＴＦＴ２５のゲートは、走査線ＧＬに電気的に接続される。ＴＦＴ２５のドレインは、液晶容量Ｃｌｃに電気的に接続される。液晶素子としての液晶容量Ｃｌｃは、画素電極と、共通電極と、これらに挟まれた液晶層とにより構成される。 The pixel 40 includes a TFT 25, a liquid crystal capacitor (liquid crystal element) Clc, and a storage capacitor Cs. The source of the TFT 25 is electrically connected to the signal line SL. The gate of the TFT 25 is electrically connected to the scanning line GL. The drain of the TFT 25 is electrically connected to the liquid crystal capacitor Clc. The liquid crystal capacitance Clc as a liquid crystal element is composed of a pixel electrode, a common electrode, and a liquid crystal layer sandwiched between them.
蓄積容量Ｃｓは、液晶容量Ｃｌｃに並列接続される。蓄積容量Ｃｓは、画素電極に生じる電位変動を抑制するとともに、画素電極に印加された駆動電圧を次の信号に対応する駆動電圧が印加されるまでの間保持する機能を有する。蓄積容量Ｃｓは、画素電極と、蓄積電極（蓄積容量線）と、これらに挟まれた絶縁膜とにより構成される。共通電極及び蓄積電極は、信号線ＣＯＭを介して共通電圧供給回路４３に接続される。また、図３の信号線ＣＯＭは、図１の端子Ｔ１０にも接続される。 The storage capacitor Cs is connected in parallel to the liquid crystal capacitor Clc. The storage capacitor Cs has a function of suppressing the potential fluctuation generated in the pixel electrode and holding the drive voltage applied to the pixel electrode until the drive voltage corresponding to the next signal is applied. The storage capacitor Cs includes a pixel electrode, a storage electrode (storage capacitor line), and an insulating film sandwiched between them. The common electrode and the storage electrode are connected to the common voltage supply circuit 43 through the signal line COM. The signal line COM in FIG. 3 is also connected to the terminal T10 in FIG.
走査ドライバ４１は、複数の走査線ＧＬに接続される。走査ドライバ４１は、制御回路（図示せず）から送られる垂直制御信号に基づいて、ＴＦＴ２５をオン／オフするための走査信号を画素アレイに送る。 The scan driver 41 is connected to a plurality of scan lines GL. The scanning driver 41 sends a scanning signal for turning on / off the TFT 25 to the pixel array based on a vertical control signal sent from a control circuit (not shown).
信号ドライバ４２は、複数の信号線ＳＬに接続される。信号ドライバ４２は、制御回路から水平制御信号、及び表示データを受ける。信号ドライバ４２は、水平制御信号に基づいて、表示データに対応する階調信号（駆動電圧）を画素アレイに送る。 The signal driver 42 is connected to a plurality of signal lines SL. The signal driver 42 receives a horizontal control signal and display data from the control circuit. The signal driver 42 sends a gradation signal (drive voltage) corresponding to the display data to the pixel array based on the horizontal control signal.
共通電圧供給回路４３は、共通電圧Ｖｃｏｍを生成してこれを画素アレイに供給する。 The common voltage supply circuit 43 generates a common voltage Vcom and supplies it to the pixel array.
（検査用回路）
次に、液晶表示装置１０の検査用回路について説明する。図４は、液晶表示装置１０の検査に使用される回路構成を説明する図である。図４に示すように、本実施形態では、同じ色の画素（具体的にはカラーフィルター）がＹ方向に並んだストライプ配列が適用される。赤、緑、青の列ラインがＸ方向に順に繰り返されてストライプ配列が構成される。図４では、１２列ラインを抽出して示している。
(Inspection circuit)
Next, an inspection circuit of the liquid crystal display device 10 will be described. FIG. 4 is a diagram for explaining a circuit configuration used for the inspection of the liquid crystal display device 10. As shown in FIG. 4, in this embodiment, a stripe arrangement in which pixels of the same color (specifically, color filters) are arranged in the Y direction is applied. Red, green, and blue column lines are sequentially repeated in the X direction to form a stripe arrangement. In FIG. 4, 12 column lines are extracted and shown.
液晶表示装置１０は、複数の列ラインに接続されたスイッチング素子群５０と、複数の行ラインのうち奇数行ラインに接続されたスイッチング素子群５１と、複数の行ラインのうち偶数行ラインに接続されたスイッチング素子群５２とを備える。スイッチング群素子５０、５１、５２は、例えばｎチャネルＴＦＴから構成される。 The liquid crystal display device 10 includes a switching element group 50 connected to a plurality of column lines, a switching element group 51 connected to an odd-numbered row line among the plurality of row lines, and an even-numbered row line among the plurality of row lines. The switching element group 52 is provided. The switching group elements 50, 51, 52 are composed of, for example, n-channel TFTs.
スイッチング素子群５０、スイッチング素子群５１、及びスイッチング素子群５２の全てのゲートには、信号線Ｔ_ＡＬＬが接続される。図１に示すように、信号線Ｔ_ＡＬＬは、端子Ｔ９に接続される。 A signal line T_ALL is connected to all gates of the switching element group 50, the switching element group 51, and the switching element group 52. As shown in FIG. 1, the signal line T_ALL is connected to the terminal T9.
スイッチング素子群５０は、そのソースが対応するソース線ＳＬに接続される。スイッチング素子群５０は、赤色画素（赤色列ライン）に接続されたトランジスタ５０_Ｒ１〜５０_Ｒ４と、緑色画素（緑色列ライン）に接続されたトランジスタ５０_Ｇ１〜５０_Ｇ４と、青色画素（青色列ライン）に接続されたトランジスタ５０_Ｂ１〜５０_Ｂ４とを備える。 Switching element group 50 has its source connected to corresponding source line SL. The switching element group 50 is connected to transistors 50_R1 to 50_R4 connected to red pixels (red column lines), transistors 50_G1 to 50_G4 connected to green pixels (green column lines), and blue pixels (blue column lines). Transistors 50_B1 to 50_B4.
本実施形態では、複数の赤色列ラインのうち奇数番目と偶数番目とを分けて制御可能であり、複数の緑色列ラインのうち奇数番目と偶数番目とを分けて制御可能であり、複数の青色列ラインのうち奇数番目と偶数番目とを分けて制御可能である。このため、複数の赤色列ラインにおいて、奇数番目のトランジスタ５０_Ｒ１、５０_Ｒ３は、そのドレインが信号線Ｒ_ＯＤＤに接続され、偶数番目のトランジスタ５０_Ｒ２、５０_Ｒ４は、そのドレインが信号線Ｒ_ＥＶＥＮに接続される。 In this embodiment, the odd-numbered and even-numbered among the plurality of red column lines can be controlled separately, and the odd-numbered and even-numbered among the plurality of green column lines can be controlled separately. It is possible to control the odd-numbered and even-numbered column lines separately. For this reason, in the plurality of red color column lines, the drains of the odd-numbered transistors 50_R1 and 50_R3 are connected to the signal line R_ODD, and the drains of the even-numbered transistors 50_R2 and 50_R4 are connected to the signal line R_EVEN.
同様に、複数の緑色列ラインにおいて、奇数番目のトランジスタ５０_Ｇ１、５０_Ｇ３は、そのドレインが信号線Ｇ_ＯＤＤに接続され、偶数番目のトランジスタ５０_Ｇ２、５０_Ｇ４は、そのドレインが信号線Ｇ_ＥＶＥＮに接続される。複数の青色列ラインにおいて、奇数番目のトランジスタ５０_Ｂ１、５０_Ｂ３は、そのドレインが信号線Ｂ_ＯＤＤに接続され、偶数番目のトランジスタ５０_Ｂ２、５０_Ｂ４は、そのドレインが信号線Ｂ_ＥＶＥＮに接続される。図１に示すように、信号線Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮはそれぞれ、端子Ｔ１〜Ｔ６に接続される。 Similarly, in the plurality of green column lines, the odd-numbered transistors 50_G1 and 50_G3 have drains connected to the signal line G_ODD, and the even-numbered transistors 50_G2 and 50_G4 have drains connected to the signal line G_EVEN. In the plurality of blue column lines, the odd-numbered transistors 50_B1 and 50_B3 have drains connected to the signal line B_ODD, and the even-numbered transistors 50_B2 and 50_B4 have drains connected to the signal line B_EVEN. As shown in FIG. 1, the signal lines R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are connected to terminals T1 to T6, respectively.
スイッチング素子群５１は、奇数番目の走査線ＧＬに対応した数のトランジスタを備える。スイッチング素子群５１のソースは、対応する奇数番目の走査線ＧＬに接続される。スイッチング素子群５１のドレインは、信号線Ｔ_ＯＤＤに接続される。図１に示すように、信号線Ｔ_ＯＤＤは、端子Ｔ８に接続される。 The switching element group 51 includes a number of transistors corresponding to the odd-numbered scanning lines GL. The source of the switching element group 51 is connected to the corresponding odd-numbered scanning line GL. The drain of the switching element group 51 is connected to the signal line T_ODD. As shown in FIG. 1, the signal line T_ODD is connected to the terminal T8.
スイッチング素子群５２は、偶数番目の走査線ＧＬに対応する数のトランジスタを備える。スイッチング素子群５２のソースは、対応する偶数番目の走査線ＧＬに接続される。スイッチング素子群５２のドレインは、信号線Ｔ_ＥＶＥＮに接続される。図１に示すように、信号線Ｔ_ＥＶＥＮは、端子Ｔ７に接続される。 The switching element group 52 includes a number of transistors corresponding to the even-numbered scanning lines GL. The source of the switching element group 52 is connected to the corresponding even-numbered scanning line GL. The drain of the switching element group 52 is connected to the signal line T_EVEN. As shown in FIG. 1, the signal line T_EVEN is connected to the terminal T7.
検査用に使用される信号線ＣＯＭは、端子Ｔ１０に接続される。共通電圧Ｖｃｏｍは、端子Ｔ１０及び信号線ＣＯＭを介して画素（具体的には、共通電極及び蓄積電極）に供給される。 The signal line COM used for inspection is connected to the terminal T10. The common voltage Vcom is supplied to the pixels (specifically, the common electrode and the storage electrode) via the terminal T10 and the signal line COM.
（駆動方式）
次に、液晶表示装置１０が動作可能な駆動方式について説明する。図５は、複数の駆動方式を説明する図である。図５において、プラス（＋）の表記は、共通電圧Ｖｃｏｍより高い電圧が画素（具体的には、画素電極）に印加される状態を示しており、マイナス（−）の表記は、共通電圧Ｖｃｏｍより低い電圧が画素（具体的には、画素電極）に印加される状態を示している。また、図５において、画素の色をハッチングを変えて示している。
(Drive system)
Next, a driving method in which the liquid crystal display device 10 can operate will be described. FIG. 5 is a diagram illustrating a plurality of driving methods. In FIG. 5, the notation of plus (+) indicates a state in which a voltage higher than the common voltage Vcom is applied to the pixel (specifically, the pixel electrode), and the notation of minus (−) indicates the common voltage Vcom. This shows a state in which a lower voltage is applied to a pixel (specifically, a pixel electrode). Further, in FIG. 5, the color of the pixel is shown by changing the hatching.
図５（ａ）は、フレーム反転駆動方式を説明する図である。フレームとは、１つの画像を表示するために全走査線ＧＬを順番に１回走査する期間である。フレーム反転駆動方式では、奇数フレームと偶数フレームとで、全画素に印加される電圧の極性が反転される。フレーム反転は、フィールド反転とも呼ばれる。 FIG. 5A illustrates a frame inversion driving method. A frame is a period in which all the scanning lines GL are sequentially scanned once in order to display one image. In the frame inversion driving method, the polarity of the voltage applied to all the pixels is inverted between the odd frame and the even frame. Frame inversion is also called field inversion.
図５（ｂ）は、行ライン反転駆動方式を説明する図である。行ラインは、走査線ＧＬが延びる方向に対応する。行ライン反転駆動方式では、奇数行ラインと偶数行ラインとで、印加される電圧の極性が反転される。 FIG. 5B is a diagram for explaining the row line inversion driving method. The row line corresponds to the direction in which the scanning line GL extends. In the row line inversion driving method, the polarity of the applied voltage is inverted between the odd and even row lines.
図５（ｃ）は、列ライン反転駆動方式（カラム反転駆動方式ともいう）を説明する図である。列ラインは、信号線ＳＬが延びる方向に対応する。列ライン反転駆動方式では、奇数列ラインと偶数列ラインとで、印加される電圧の極性が反転される。 FIG. 5C illustrates a column line inversion driving method (also referred to as a column inversion driving method). The column line corresponds to the direction in which the signal line SL extends. In the column line inversion driving method, the polarity of the applied voltage is inverted between the odd and even column lines.
図５（ｄ）は、ドット反転駆動方式を説明する図である。ドットは、画素に対応する。ドット反転駆動方式では、Ｘ方向に隣接する２つの画素で印加される電圧の極性が反転され、さらに、Ｙ方向に隣接する２つの画素で印加される電圧の極性が反転される。 FIG. 5D illustrates the dot inversion driving method. A dot corresponds to a pixel. In the dot inversion driving method, the polarity of the voltage applied at two pixels adjacent in the X direction is inverted, and further, the polarity of the voltage applied at two pixels adjacent in the Y direction is inverted.
［２］ 検査方法
次に、上記のように構成された液晶表示装置１０の検査方法について説明する。図６は、液晶表示装置１０の検査の様子を説明する図である。液晶表示装置１０の検査は、製品出荷前に行われる。
[2] Inspection Method Next, an inspection method for the liquid crystal display device 10 configured as described above will be described. FIG. 6 is a diagram for explaining an inspection state of the liquid crystal display device 10. The liquid crystal display device 10 is inspected before product shipment.
検査工程では、複数のプローブ６１を備えた検査機器６０が準備される。１０個のプローブ６１はそれぞれ、液晶表示装置１０の端子Ｔ１〜Ｔ１０に接続される。検査機器６０は、プローブ６１に各種電圧を印加可能であり、端子Ｔ１〜Ｔ１０を介して、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、Ｂ_ＥＶＥＮ、Ｔ_ＥＶＥＮ、Ｔ_ＯＤＤ、Ｔ_ＡＬＬ、及びＣＯＭの電圧を設定可能である。以下に説明する電圧波形は、検査機器６０によって設定される。 In the inspection process, an inspection device 60 including a plurality of probes 61 is prepared. The ten probes 61 are connected to the terminals T1 to T10 of the liquid crystal display device 10, respectively. The inspection device 60 can apply various voltages to the probe 61, and can set voltages of signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, B_EVEN, T_EVEN, T_ODD, T_ALL, and COM via terminals T1 to T10. It is. The voltage waveform described below is set by the inspection device 60.
以下に、カラム反転、ドット反転、フレーム反転、及び行ライン反転の順に、検査方法について説明する。 Hereinafter, the inspection method will be described in the order of column inversion, dot inversion, frame inversion, and row line inversion.
［２−１］ カラム反転
図７は、カラム反転駆動方式を用いた検査方法のタイミングチャートである。図８は、カラム反転駆動方式を用いた液晶表示装置１０の電圧状態を説明する図である。
[2-1] Column Inversion FIG. 7 is a timing chart of an inspection method using a column inversion driving method. FIG. 8 is a diagram for explaining the voltage state of the liquid crystal display device 10 using the column inversion driving method.
検査工程を実施している間、信号Ｔ_ＡＬＬがハイレベル（オン電圧）にされる。これにより、検査工程を実施している間、スイッチング素子群５０、スイッチング素子群５１、及びスイッチング素子群５２は、オンしている。また、検査工程を実施している間、信号ＣＯＭが共通電圧Ｖｃｏｍに設定され、これにより、共通電極及び蓄積電極が共通電圧Ｖｃｏｍに設定される。ここまでの検査工程は、カラム反転駆動方式以外の駆動方式でも共通である。信号Ｔ_ＯＤＤ、Ｔ_ＥＶＥＮは、０Ｖと正のオン電圧（ハイレベル電圧）とのいずれかに設定される。 While the inspection process is performed, the signal T_ALL is set to the high level (ON voltage). Thereby, the switching element group 50, the switching element group 51, and the switching element group 52 are on while the inspection process is performed. During the inspection process, the signal COM is set to the common voltage Vcom, whereby the common electrode and the storage electrode are set to the common voltage Vcom. The inspection process so far is common to drive systems other than the column inversion drive system. The signals T_ODD and T_EVEN are set to either 0 V or a positive on voltage (high level voltage).
時刻ｔ１から例えば奇数フレームが駆動される。時刻ｔ１において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより低い電圧Ｖ１に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより高い電圧Ｖ２に設定される。図８では、画素（具体的には画素電極）に電圧Ｖ１が印加された状態をマイナス（−）で表し、画素に電圧Ｖ２が印加された状態をプラス（＋）で表している。 For example, an odd frame is driven from time t1. At time t1, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V1 that is lower than the common voltage Vcom, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to a voltage V2 that is higher than the common voltage Vcom. In FIG. 8, the state in which the voltage V1 is applied to the pixel (specifically, the pixel electrode) is represented by minus (−), and the state in which the voltage V2 is applied to the pixel is represented by plus (+).
なお、Ｖｃｏｍ＝０Ｖの場合は、図７及び図８に示したプラス（＋）、及びマイナス（−）の表記は、そのまま正電圧、負電圧を意味する。勿論、共通電圧Ｖｃｏｍは０Ｖ以外の電圧でも構わない。共通電圧Ｖｃｏｍが０Ｖ以外の電圧（例えば正電圧）である場合、電圧Ｖ１、Ｖ２が共に正電圧になる場合もあり得る。 When Vcom = 0V, the notation of plus (+) and minus (−) shown in FIGS. 7 and 8 means a positive voltage and a negative voltage as they are. Of course, the common voltage Vcom may be a voltage other than 0V. When the common voltage Vcom is a voltage other than 0V (for example, a positive voltage), the voltages V1 and V2 may both be positive voltages.
続いて、時刻ｔ２において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数列ラインに電圧Ｖ２が印加される。続いて、時刻ｔ３において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数列ラインに電圧Ｖ１が印加される。この状態で、奇数フレームにおいて、カラム反転駆動が実現される。 Subsequently, at time t2, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the odd-numbered column lines. Subsequently, at time t3, the signal T_EVEN is changed to a pulsed on-voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the even column lines. In this state, column inversion driving is realized in odd frames.
続いて、時刻ｔ４から偶数フレームが駆動される。時刻ｔ４において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ２に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ１に設定される。 Subsequently, the even frame is driven from time t4. At time t4, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V2, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to the voltage V1.
続いて、時刻ｔ５において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数列ラインに電圧Ｖ１が印加される。続いて、時刻ｔ６において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数列ラインに電圧Ｖ２が印加される。この状態で、偶数フレームは、奇数フレームと極性が反転され、かつカラム反転駆動が実現される。その後、時刻ｔ７から奇数フレームの駆動が繰り返される。 Subsequently, at time t5, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the odd-numbered column lines. Subsequently, at time t6, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the even-numbered column lines. In this state, the polarity of the even frame is inverted from that of the odd frame, and column inversion driving is realized. Thereafter, the driving of odd frames is repeated from time t7.
なお、カラム反転駆動方式において、信号Ｔ_ＯＤＤ、Ｔ_ＥＶＥＮを同じタイミングでハイレベルにしてもよい。 In the column inversion driving method, the signals T_ODD and T_EVEN may be set to the high level at the same timing.
［２−２］ ドット反転
図９は、ドット反転駆動方式を用いた検査方法のタイミングチャートである。図１０は、ドット反転駆動方式を用いた液晶表示装置１０の電圧状態を説明する図である。
[2-2] Dot Inversion FIG. 9 is a timing chart of the inspection method using the dot inversion driving method. FIG. 10 is a diagram illustrating a voltage state of the liquid crystal display device 10 using the dot inversion driving method.
時刻ｔ１から例えば奇数フレームが駆動される。時刻ｔ１において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより低い電圧Ｖ１に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより高い電圧Ｖ２に設定される。 For example, an odd frame is driven from time t1. At time t1, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V1 that is lower than the common voltage Vcom, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to a voltage V2 that is higher than the common voltage Vcom.
続いて、時刻ｔ２において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインと奇数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ２が印加され、奇数行ラインと偶数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ１が印加される。 Subsequently, at time t2, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the pixel at the position where the odd row line and the odd column line intersect, and the voltage V1 is applied to the pixel at the position where the odd row line and the even column line intersect.
続いて、時刻ｔ３において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ２に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ１に設定される。 Subsequently, at time t3, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V2, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to the voltage V1.
続いて、時刻ｔ４において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインと奇数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ１が印加され、偶数行ラインと偶数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ２が印加される。この状態で、奇数フレームにおいて、ドット反転駆動が実現される。 Subsequently, at time t4, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the pixel at the position where the even-numbered line and the odd-numbered column line intersect, and the voltage V2 is applied to the pixel at the position where the even-numbered line and even-numbered column line intersect. In this state, dot inversion driving is realized in odd frames.
続いて、時刻ｔ５から偶数フレームが駆動される。時刻ｔ５において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ２に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ１に設定される。 Subsequently, the even frame is driven from time t5. At time t5, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V2, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to the voltage V1.
続いて、時刻ｔ６において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインと奇数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ１が印加され、奇数行ラインと偶数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ２が印加される。 Subsequently, at time t6, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the pixel at the position where the odd row line and the odd column line intersect, and the voltage V2 is applied to the pixel at the position where the odd row line and the even column line intersect.
続いて、時刻ｔ７において、信号Ｇ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ１に設定され、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、及びＧ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ２に設定される。 Subsequently, at time t7, the signals G_ODD, R_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V1, and the signals R_ODD, B_ODD, and G_EVEN are set to the voltage V2.
続いて、時刻ｔ８において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインと奇数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ２が印加され、偶数行ラインと偶数列ラインとが交差する位置の画素に電圧Ｖ１が印加される。この状態で、偶数フレームは、奇数フレームと極性が反転され、かつドット反転駆動が実現される。その後、時刻ｔ９から奇数フレームの駆動が繰り返される。 Subsequently, at time t8, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the pixel at the position where the even-numbered line and the odd-numbered column line intersect, and the voltage V1 is applied to the pixel at the position where the even-numbered line and even-numbered column line intersect. In this state, the polarity of the even frame is inverted from that of the odd frame, and dot inversion driving is realized. Thereafter, the driving of odd frames is repeated from time t9.
［２−３］ フレーム反転
図１１は、フレーム反転駆動方式を用いた検査方法のタイミングチャートである。図１２は、フレーム反転駆動方式を用いた液晶表示装置１０の電圧状態を説明する図である。
[2-3] Frame Inversion FIG. 11 is a timing chart of the inspection method using the frame inversion driving method. FIG. 12 is a diagram for explaining the voltage state of the liquid crystal display device 10 using the frame inversion driving method.
時刻ｔ１から例えば奇数フレームが駆動される。時刻ｔ１において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより高い電圧Ｖ２に設定される。 For example, an odd frame is driven from time t1. At time t1, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V2 that is higher than the common voltage Vcom.
続いて、時刻ｔ２において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインに電圧Ｖ２が印加される。続いて、時刻ｔ３において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインに電圧Ｖ２が印加される。この状態で、奇数フレームにおいて、全画素に電圧Ｖ２が印加される。 Subsequently, at time t2, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the odd-numbered line. Subsequently, at time t3, the signal T_EVEN is changed to a pulsed on-voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the even-numbered line. In this state, the voltage V2 is applied to all the pixels in the odd frame.
続いて、時刻ｔ４から偶数フレームが駆動される。時刻ｔ４において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより低い電圧Ｖ１に設定される。 Subsequently, the even frame is driven from time t4. At time t4, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V1 that is lower than the common voltage Vcom.
続いて、時刻ｔ５において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインに電圧Ｖ１が印加される。続いて、時刻ｔ６において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインに電圧Ｖ１が印加される。この状態で、偶数フレームは、奇数フレームと極性が反転され、かつフレーム反転駆動が実現される。その後、時刻ｔ７から奇数フレームの駆動が繰り返される。 Subsequently, at time t5, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the odd-numbered line. Subsequently, at time t6, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the even-numbered line. In this state, the polarity of the even frame is inverted from that of the odd frame, and frame inversion driving is realized. Thereafter, the driving of odd frames is repeated from time t7.
なお、フレーム反転駆動方式において、信号Ｔ_ＯＤＤ、Ｔ_ＥＶＥＮを同じタイミングでハイレベルにしてもよい。 In the frame inversion driving method, the signals T_ODD and T_EVEN may be set to the high level at the same timing.
［２−４］ 行ライン反転
図１３は、行ライン反転駆動方式を用いた検査方法のタイミングチャートである。図１４は、行ライン反転駆動方式を用いた液晶表示装置１０の電圧状態を説明する図である。
[2-4] Row Line Inversion FIG. 13 is a timing chart of the inspection method using the row line inversion driving method. FIG. 14 is a diagram for explaining the voltage state of the liquid crystal display device 10 using the row line inversion driving method.
時刻ｔ１から例えば奇数フレームが駆動される。時刻ｔ１において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより高い電圧Ｖ２に設定される。続いて、時刻ｔ２において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインに電圧Ｖ２が印加される。 For example, an odd frame is driven from time t1. At time t1, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V2 that is higher than the common voltage Vcom. Subsequently, at time t2, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the odd-numbered line.
続いて、時刻ｔ３において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、共通電圧Ｖｃｏｍより低い電圧Ｖ１に設定される。続いて、時刻ｔ４において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインに電圧Ｖ１が印加される。この状態で、奇数フレームにおいて、行ライン反転駆動が実現される。 Subsequently, at time t3, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to a voltage V1 that is lower than the common voltage Vcom. Subsequently, at time t4, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the even-numbered line. In this state, row line inversion driving is realized in odd frames.
続いて、時刻ｔ５から偶数フレームが駆動される。時刻ｔ５において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ１に設定される。続いて、時刻ｔ６において、信号Ｔ_ＯＤＤがパルス状のオン電圧にされる。これにより、奇数行ラインに電圧Ｖ１が印加される。 Subsequently, the even frame is driven from time t5. At time t5, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V1. Subsequently, at time t6, the signal T_ODD is set to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V1 is applied to the odd-numbered line.
続いて、時刻ｔ７において、信号Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮは、電圧Ｖ２に設定される。続いて、時刻ｔ８において、信号Ｔ_ＥＶＥＮがパルス状のオン電圧にされる。これにより、偶数行ラインに電圧Ｖ２が印加される。この状態で、偶数フレームは、奇数フレームと極性が反転され、かつ行ライン反転駆動が実現される。その後、時刻ｔ９から奇数フレームの駆動が繰り返される。 Subsequently, at time t7, the signals R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN are set to the voltage V2. Subsequently, at time t8, the signal T_EVEN is changed to a pulsed ON voltage. As a result, the voltage V2 is applied to the even-numbered line. In this state, the even frame is inverted in polarity from the odd frame, and row line inversion driving is realized. Thereafter, the driving of odd frames is repeated from time t9.
［３］ 効果
以上詳述したように本実施形態では、液晶表示装置１０は、ストライプ配列（縦ストライプ配列）された画素アレイを備える。ストライプ配列は、３種類の表示色（例えば、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ））の列ラインのセットが行方向に複数配置されて構成される。液晶表示装置１０は、画素アレイに配設された複数の信号線（ソース線）ＳＬに複数のトランジスタを介して接続された複数の検査信号線（Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮ）を備える。複数の検査信号線は、赤色の複数の列ラインのうち奇数列ラインに接続された信号線Ｒ_ＯＤＤと、赤色の複数の列ラインのうち偶数列ラインに接続された信号線Ｒ_ＥＶＥＮと、緑色の複数の列ラインのうち奇数列ラインに接続された信号線Ｇ_ＯＤＤと、緑色の複数の列ラインのうち偶数列ラインに接続された信号線Ｇ_ＥＶＥＮと、青色の複数の列ラインのうち奇数列ラインに接続された信号線Ｂ_ＯＤＤと、青色の複数の列ラインのうち偶数列ラインに接続された信号線Ｂ_ＥＶＥＮとを備える。そして、検査工程において、画素アレイの複数の列ラインに対して、隣接する列ラインで電圧の極性が反転するように、検査信号線（Ｒ_ＯＤＤ、Ｇ_ＯＤＤ、Ｂ_ＯＤＤ、Ｒ_ＥＶＥＮ、Ｇ_ＥＶＥＮ、及びＢ_ＥＶＥＮ）に所定の電圧を印加するようにしている。
[3] Effects As described in detail above, in the present embodiment, the liquid crystal display device 10 includes a pixel array having a stripe arrangement (vertical stripe arrangement). The stripe arrangement is configured by arranging a plurality of sets of column lines of three kinds of display colors (for example, red (R), green (G), and blue (B)) in the row direction. The liquid crystal display device 10 includes a plurality of inspection signal lines (R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN) connected to a plurality of signal lines (source lines) SL arranged in the pixel array via a plurality of transistors. ). The plurality of inspection signal lines include a signal line R_ODD connected to an odd-numbered column line among a plurality of red column lines, a signal line R_EVEN connected to an even-numbered column line among a plurality of red column lines, and a plurality of green The signal line G_ODD connected to the odd-numbered column line among the plurality of column lines, the signal line G_EVEN connected to the even-numbered column line among the plurality of green column lines, and the odd-numbered column line among the plurality of blue column lines Signal line B_ODD and a signal line B_EVEN connected to an even-numbered column line among a plurality of blue column lines. Then, in the inspection process, predetermined inspection signal lines (R_ODD, G_ODD, B_ODD, R_EVEN, G_EVEN, and B_EVEN) are predetermined so that the polarity of the voltage is inverted in adjacent column lines with respect to a plurality of column lines of the pixel array. The voltage is applied.
従って本実施形態によれば、製品出荷後を想定した実駆動により近い反転表示での検査を行うことができる。例えば、奇数の表示色を有する液晶表示装置１０において、検査工程時に、カラム反転駆動、及びドット反転駆動が実現できる。これにより、より精度の高い検査を行うことができる。特に、列方向に隣接する画素同士、及び行方向に隣接する画素同士でショートが発生しているのを検出できる。よって、ショート不良をより低減できる。 Therefore, according to the present embodiment, it is possible to perform an inspection with a reversal display that is closer to the actual driving that is assumed after product shipment. For example, in the liquid crystal display device 10 having an odd number of display colors, column inversion driving and dot inversion driving can be realized during the inspection process. Thereby, a test with higher accuracy can be performed. In particular, it is possible to detect occurrence of a short circuit between pixels adjacent in the column direction and pixels adjacent in the row direction. Therefore, short circuit defects can be further reduced.
また、カラム反転駆動、ドット反転駆動、フレーム反転駆動、及び行ライン反転駆動を実現できるため、表示品位の評価をより正確に行うことができる。特に、隣接する列ラインで極性反転できるため、不良検出率を向上させることができるとともに、検査時間を短縮することができる。 In addition, since column inversion driving, dot inversion driving, frame inversion driving, and row line inversion driving can be realized, display quality can be evaluated more accurately. In particular, since the polarity can be reversed between adjacent column lines, the defect detection rate can be improved and the inspection time can be shortened.
一般的には、表示色がＲ、Ｇ、Ｂの各々について表示状態を確認するため、赤色の複数の列ラインは、共通の赤色用検査信号線に接続され、緑色の複数の列ラインは、共通の緑色用検査信号線に接続され、青色の複数の列ラインは、共通の青色用検査信号線に接続される。この比較例の場合、全ての列ラインに接続される検査信号線の数は、３本で十分である。しかし、この比較例では、カラム反転駆動、及びドット反転駆動を実施することができない。よって、比較例では、不良検出率が低下してしまう。これに対して、本実施形態では、カラム反転駆動、及びドット反転駆動を実現できるため、比較例に比べて、より精度の高い検査を行うことができる。 Generally, in order to check the display state for each of the display colors R, G, and B, the plurality of red column lines are connected to the common red inspection signal line, and the plurality of green column lines are The plurality of blue column lines are connected to the common green inspection signal line, and the plurality of blue column lines are connected to the common blue inspection signal line. In the case of this comparative example, three inspection signal lines connected to all the column lines are sufficient. However, in this comparative example, column inversion driving and dot inversion driving cannot be performed. Therefore, in the comparative example, the defect detection rate decreases. On the other hand, in this embodiment, since column inversion driving and dot inversion driving can be realized, it is possible to perform inspection with higher accuracy than in the comparative example.
なお、上記各実施形態では、カラーフィルターの配列として、ストライプ配列を例に挙げて説明しているが、これに限定されるものではない。カラーフィルターの配列に関して、横ストライプ配列、デルタ配列、又はベイヤー配置など他の配列を用いてもよい。 In each of the above embodiments, the stripe arrangement is described as an example of the arrangement of the color filters, but is not limited to this. Regarding the arrangement of the color filters, other arrangements such as a horizontal stripe arrangement, a delta arrangement, or a Bayer arrangement may be used.
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で、構成要素を変形して具体化することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、１つの実施形態に開示される複数の構成要素の適宜な組み合わせ、若しくは異なる実施形態に開示される構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を構成することができる。例えば、実施形態に開示される全構成要素から幾つかの構成要素が削除されても、発明が解決しようとする課題が解決でき、発明の効果が得られる場合には、これらの構成要素が削除された実施形態が発明として抽出されうる。 The present invention is not limited to the above embodiment, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention. Further, the above embodiments include inventions at various stages, and are obtained by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in one embodiment or by appropriately combining constituent elements disclosed in different embodiments. Various inventions can be configured. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements disclosed in the embodiments, the problems to be solved by the invention can be solved and the effects of the invention can be obtained. Embodiments made can be extracted as inventions.
１０…液晶表示装置、１１…ドライバ、１２…端子部、２１，２２…基板、２３…液晶層、２４…シール材、２５…スイッチング素子、２６…絶縁層、２７…画素電極、２８…コンタクトプラグ、２９…カラーフィルター、３０…ブラックマトリクス、３１…共通電極、３２，３３…円偏光板、４０…画素、４１…走査ドライバ、４２…信号ドライバ、４３…共通電圧供給回路、５０，５１，５２…スイッチング群素子、６０…検査機器、６１…プローブ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Liquid crystal display device, 11 ... Driver, 12 ... Terminal part 21, 22 ... Board | substrate, 23 ... Liquid crystal layer, 24 ... Sealing material, 25 ... Switching element, 26 ... Insulating layer, 27 ... Pixel electrode, 28 ... Contact plug , 29 ... Color filter, 30 ... Black matrix, 31 ... Common electrode, 32, 33 ... Circularly polarizing plate, 40 ... Pixel, 41 ... Scan driver, 42 ... Signal driver, 43 ... Common voltage supply circuit, 50, 51, 52 ... Switching group element, 60 ... Inspection equipment, 61 ... Probe
Claims (6)
前記液晶表示装置は、
行方向に順に配列された第１乃至第６列ラインを有し、前記第１乃至第６列ラインの各々は、列方向に配列された複数の画素からなり、前記第１及び第４列ラインは、第１色を表示可能であり、前記第２及び第５列ラインは、第２色を表示可能であり、前記第３及び第６列ラインは、第３色を表示可能である、画素アレイと、
前記第１乃至第６列ラインにそれぞれ接続された第１乃至第６信号線と、
前記画素アレイの奇数行ラインに接続された第１走査線と、
前記画素アレイの偶数行ラインに接続された第２走査線と、
前記第１乃至第６信号線にそれぞれ接続された第１端子を有する第１乃至第６トランジスタと、
前記第１乃至第６トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第１乃至第６配線と、
前記第１及び第２走査線にそれぞれ接続された第１端子を有する第７及び第８トランジスタと、
前記第７及び第８トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第７及び第８配線と、
前記第１乃至第８トランジスタのゲートに共通接続された第９配線と
を具備し、
前記検査方法は、
前記第７及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に第１電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に第２電圧を印加する工程と、
前記第８及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に前記第１電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に前記第２電圧を印加する工程と
を具備することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。 An inspection method for a liquid crystal display device,
The liquid crystal display device
The first to sixth column lines are arranged in order in the row direction, and each of the first to sixth column lines includes a plurality of pixels arranged in the column direction, and the first and fourth column lines Can display a first color, the second and fifth column lines can display a second color, and the third and sixth column lines can display a third color. An array,
First to sixth signal lines respectively connected to the first to sixth column lines;
A first scan line connected to an odd row line of the pixel array;
A second scan line connected to an even row line of the pixel array;
First to sixth transistors having first terminals respectively connected to the first to sixth signal lines;
First to sixth wirings respectively connected to the second terminals of the first to sixth transistors;
Seventh and eighth transistors having first terminals respectively connected to the first and second scan lines;
Seventh and eighth wires respectively connected to the second terminals of the seventh and eighth transistors;
A ninth wiring commonly connected to the gates of the first to eighth transistors,
The inspection method is:
With a turn-on voltage applied to the seventh and ninth wirings, a first voltage is applied to the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring, and the second wiring, the fourth wiring, and Applying a second voltage to the sixth wiring;
With the on voltage applied to the eighth and ninth wirings, the first voltage is applied to the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring, and the second wiring, the fourth wiring, And applying the second voltage to the sixth wiring. A method for inspecting a liquid crystal display device, comprising:
前記液晶表示装置は、
行方向に順に配列された第１乃至第６列ラインを有し、前記第１乃至第６列ラインの各々は、列方向に配列された複数の画素からなり、前記第１及び第４列ラインは、第１色を表示可能であり、前記第２及び第５列ラインは、第２色を表示可能であり、前記第３及び第６列ラインは、第３色を表示可能である、画素アレイと、
前記第１乃至第６列ラインにそれぞれ接続された第１乃至第６信号線と、
前記画素アレイの奇数行ラインに接続された第１走査線と、
前記画素アレイの偶数行ラインに接続された第２走査線と、
前記第１乃至第６信号線にそれぞれ接続された第１端子を有する第１乃至第６トランジスタと、
前記第１乃至第６トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第１乃至第６配線と、
前記第１及び第２走査線にそれぞれ接続された第１端子を有する第７及び第８トランジスタと、
前記第７及び第８トランジスタの第２端子にそれぞれ接続された第７及び第８配線と、
前記第１乃至第８トランジスタのゲートに共通接続された第９配線と
を具備し、
前記検査方法は、
前記第７及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に第１電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に第２電圧を印加する工程と、
前記第８及び第９配線にオン電圧を印加した状態で、前記第１配線、前記第３配線、及び前記第５配線に前記第２電圧を印加し、前記第２配線、前記第４配線、及び前記第６配線に前記第１電圧を印加する工程と
を具備することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。 An inspection method for a liquid crystal display device,
The liquid crystal display device
The first to sixth column lines are arranged in order in the row direction, and each of the first to sixth column lines includes a plurality of pixels arranged in the column direction, and the first and fourth column lines Can display a first color, the second and fifth column lines can display a second color, and the third and sixth column lines can display a third color. An array,
First to sixth signal lines respectively connected to the first to sixth column lines;
A first scan line connected to an odd row line of the pixel array;
A second scan line connected to an even row line of the pixel array;
First to sixth transistors having first terminals respectively connected to the first to sixth signal lines;
First to sixth wirings respectively connected to the second terminals of the first to sixth transistors;
Seventh and eighth transistors having first terminals respectively connected to the first and second scan lines;
Seventh and eighth wires respectively connected to the second terminals of the seventh and eighth transistors;
A ninth wiring commonly connected to the gates of the first to eighth transistors,
The inspection method is:
With a turn-on voltage applied to the seventh and ninth wirings, a first voltage is applied to the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring, and the second wiring, the fourth wiring, and Applying a second voltage to the sixth wiring;
With the on-voltage applied to the eighth and ninth wirings, the second voltage is applied to the first wiring, the third wiring, and the fifth wiring, and the second wiring, the fourth wiring, And applying the first voltage to the sixth wiring. A method for inspecting a liquid crystal display device, comprising:
前記第１乃至第６列ラインにそれぞれ接続された第１乃至第６信号線と、
前記画素アレイの奇数行ラインに接続された第１走査線と、
前記画素アレイの偶数行ラインに接続された第２走査線と、
前記第１乃至第６信号線にそれぞれ接続された第１端子を有する第１乃至第６トランジスタと、
前記第１乃至第６トランジスタの第２端子にそれぞれ接続され、互いに異なる検査用の電圧が印加可能である第１乃至第６配線と、
前記第１及び第２走査線にそれぞれ接続された第１端子を有する第７及び第８トランジスタと、
前記第７及び第８トランジスタの第２端子にそれぞれ接続され、検査用の電圧が印加される第７及び第８配線と、
前記第１乃至第８トランジスタのゲートに共通接続され、検査用の電圧が印加される第９配線と
を具備することを特徴とする液晶表示装置。 The first to sixth column lines are arranged in order in the row direction, and each of the first to sixth column lines includes a plurality of pixels arranged in the column direction, and the first and fourth column lines Can display a first color, the second and fifth column lines can display a second color, and the third and sixth column lines can display a third color. An array,
First to sixth signal lines respectively connected to the first to sixth column lines;
A first scan line connected to an odd row line of the pixel array;
A second scan line connected to an even row line of the pixel array;
First to sixth transistors having first terminals respectively connected to the first to sixth signal lines;
First to sixth wirings connected to the second terminals of the first to sixth transistors, respectively, to which different test voltages can be applied;
Seventh and eighth transistors having first terminals respectively connected to the first and second scan lines;
Seventh and eighth wirings connected to the second terminals of the seventh and eighth transistors, respectively, to which a test voltage is applied;
And a ninth wiring connected in common to the gates of the first to eighth transistors to which a test voltage is applied.
前記第１乃至第６配線には、第１電圧及び第２電圧の１つが個別に印加され、
前記第１０配線には、前記第１電圧と前記第２電圧との間の第３電圧が印加されることを特徴とする請求項４に記載の液晶表示装置。 A tenth wiring commonly connected to the plurality of pixels;
One of a first voltage and a second voltage is individually applied to the first to sixth wirings,
The liquid crystal display device according to claim 4, wherein a third voltage between the first voltage and the second voltage is applied to the tenth wiring.
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