JP2017129291A - 乾燥機及び乾燥機用測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】穀物の水分量を測定するのに穀物ロスのない水分量測定をすることができるようにする。また、穀物の水分量を測定する測定間隔を短くすることができ、高頻度で穀物の水分量を測定することができるようにする。また、乾燥機内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができるようにする。【解決手段】乾燥機は、穀物を乾燥させる乾燥部と、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置と、を備えている。【選択図】図１

Description

本発明は、例えば、籾（米）、麦、粟、稗、そば、豆類等の収穫した穀物を乾燥させる乾燥機及び乾燥機用測定装置に関する。

籾や麦などの穀物は、コンバイン等の農業機械で収穫され、収穫した穀物は運搬車に移した後、ライスセンターやカントリーエレベータなどの処理設備へ運搬して、当該処理設備で出荷のために処理される。処理設備においては、穀物を乾燥する処理等が行われる。乾燥機の技術として特許文献１に示すものがある。
特許文献１に開示された乾燥機は、穀物を乾燥させる乾燥部と、乾燥部を通過した穀物の水分量を測定する水分計とを備えている。

水分計は、回転により穀物を圧砕し、圧砕する時における電気抵抗値を検出する２つの電極ロールを有する。検出した電気抵抗値における水分値を演算することにより穀物の水分量が測定される。水分量が測定された後の穀物は廃棄される。

特開２００７−２１２０８６号公報

従来の乾燥機では、乾燥部を通過した穀物の水分量を測定するのに、サンプリングした穀物を２つの電極ロール間で圧砕（破壊）することにより行う破壊式の水分計を用いている。これにより、以下の問題がある。
上述したように、穀物を２つの電極ロール間で圧砕すると、穀物の水分量を測定する度に、穀物のロス（屑）が生じる。また、つぶした穀物が電極ロールに付着するので、付着することにより、測定精度が落ちる可能性がある。

また、穀物をつぶすことによって穀物の水分量を測定する方法では、穀物をつぶして当該穀物の水分を測定してから、次に穀物の水分を測定するまでの間に、電極ロールに付着した穀物を除去するクリーニング等が必要である。そのため、測定間隔を短くするのに限界がある。したがって、従来の乾燥機では、高頻度で穀物の水分量を測定するのが難しい。特に、高水分域では、頻度を上げるのが難しい。

測定間隔が長い（測定回数が少ない）と、乾燥機内の穀物の水分量のばらつき（乾燥ムラ）を正確に把握するのが難しい。また、測定回数が少ないと、水分量が極端に高い穀物、或いは、水分量が極端に低い穀物が存在している場合、これらの穀物の水分量が、乾燥している穀物の水分量の代表値になってしまうため、適正に乾燥することができない場合がある。

穀物の乾燥機では、穀物の水分量の測定結果を基に乾減率の制御（乾燥速度の制御）を行っている。また、穀物を乾燥させる熱源となるバーナーを制御することで目標の乾減率を確保する。したがって、乾燥機内の穀物の水分量のばらつき（乾燥ムラ）を正確に把握できないと、バーナー制御の基となる正確な乾減率を把握できない。また、乾減率及び乾燥機内の穀物の平均水分量を、正確に把握するのが困難であると、乾燥機を終了させる予想時刻の精度が悪くなる。

そこで、本発明は、従来の穀物の乾燥に関する問題を解決することができる乾燥機及び乾燥機用測定装置を提供することを目的とする。

前記技術的課題を解決するために本発明が講じた技術的手段は、以下に示す点を特徴とする。
本発明の乾燥機は、穀物を乾燥させる乾燥部と、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置と、を備えている。
前記非破壊測定装置は、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を分光分析により測定する分光分析装置である。

前記分光分析装置は、近赤外水分計である。
前記分光分析装置は、外気温よりも高い温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記分光分析装置は、６０°Ｃ以下の温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記分光分析装置は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度で穀物の水分量を測定する装置である。

前記分光分析装置は、穀物に含まれるデンプンがアルファ化しない温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記非破壊測定装置は、単一の装置であり、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定する装置である。
前記非破壊測定装置は、５分未満の測定間隔で穀物の水分量を測定する装置である。

本発明の乾燥機用測定装置は、乾燥機の乾燥部を通過した穀物の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置である。
前記非破壊測定装置は、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を分光分析により測定する分光分析装置である。
前記分光分析装置は、近赤外水分計である。

前記分光分析装置は、外気温よりも高い温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記分光分析装置は、６０°Ｃ以下の温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記分光分析装置は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度で穀物の水分量を測定する装置である。
前記分光分析装置は、穀物に含まれるデンプンがアルファ化しない温度で穀物の水分量を測定する装置である。

前記非破壊測定装置は、単一の装置であり、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定する装置である。
前記非破壊測定装置は、５分未満の測定間隔で穀物の水分量を測定する装置である。

本発明によれば、以下の効果を奏する。
穀物の水分量を非破壊で測定するので、水分を測定することによる穀物のロス（屑）が生じることを防止することが可能である。また、従来のように電極ロールに穀物が付着することが発生しないため、穀物の付着による測定精度が低下するといったこともなく、高精度の測定をすることができる。

また、穀物の水分量を測定する測定間隔を短くすることが可能である。測定間隔を短くした場合は、測定回数を多くすることができる。測定回数を多くすることにより、水分量が極端に高い穀物、又は、水分量が極端に低い穀物が存在していたとしても、これらの穀物の水分量のみが、従来のように乾燥している穀物の水分量の代表値になることを防止することができ、適正に乾燥することができる。

また、測定間隔を短くすることにより、所定時間当たりに数多くの穀物の水分量を取得することができる。そのため、乾燥機内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができ、乾燥を終わった後の穀物の水分量が、目標の水分量から大きくずれてしまうのを防止することができ、乾燥終了後に再乾燥が必要となるような事態を防止することができる。

また、乾燥機内の穀物の水分量のばらつき（乾燥機内における穀物の乾燥ムラ）を正確に把握することが可能なため、例えば、乾減率を正確に把握することができる。高い精度で乾減率の制御をすることができる。また、高い精度で乾減率の制御をすることができるので、乾燥終了の予測時刻の精度が向上する。
また、乾燥機内の穀物の水分量のばらつき（乾燥機内における穀物の乾燥ムラ）を正確に把握できるため、乾燥ムラを少なくするための処理がしやすい。

また、高頻度で穀物の水分量を測定でき、且つ、短い測定間隔で穀物の水分量を測定することができる。例えば、５分未満の測定間隔、好ましくは６０秒以下の測定間隔で穀物の水分量を高精度で測定することができる。また、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定することにより、乾燥機内の穀物の水分量のばらつきを、より正確に把握することができる。また、穀物の水分量を非破壊で測定するので、高水分量でも高頻度で測定することができる。

また、非破壊測定装置として、分光分析装置を用いるのがよい。さらに、分光分析装置として、近赤外水分計を用いるのがよい。
分光分析装置（近赤外水分計）は、外気温よりも高い温度で穀物の水分量を精度よく測定することができる。また、分光分析装置（近赤外水分計）は、６０°Ｃ以下の温度で穀物の水分量を精度よく測定することができる。また、分光分析装置（近赤外水分計）は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度で穀物の水分量を精度よく測定することができる。また、分光分析装置（近赤外水分計）は、穀物に含まれるデンプンがアルファ化しない温度で穀物の水分量を精度よく測定することができる。

乾燥機の概略構成を示す正面図である。 乾燥機の概略構成を示す側面図である。 貯留部、乾燥部及び集穀部の概略構成を示す正面図である。 縦送り部の下部の側面断面図であって、測定装置の取付例１を示す概略図である。 測定装置の取付例２を示す概略図である。 測定装置の取付例３を示す概略図である。 測定装置の取付例４を示す概略図である。 測定装置の取付例４を示す概略図である。 測定装置の取付例５を示す概略図である。 測定装置の取付例６を示す概略図である。 測定装置の取付例７を示す概略図である。 測定装置の取付例８を示す概略図である。 測定装置の取付例９を示す概略図である。 測定装置の取付例１０を示す概略図である。 測定装置の取付例１１及び取付例１２を示す概略図である。 処理設備及び作物管理システムを示す図である。 水分量の傾向及び近似直線を示す図である。 単位時間当たりの水分量の傾向及び近似直線を示す図である。 表示装置に水分量を表示した図である。 表示装置に乾減率を表示した図である。 表示装置に水分ムラを表示した図である。 表示装置に経過時間を表示した図である。 所定時間での予測水分を求め方を説明する説明図である。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図１及び図２は、例えば、籾（米）、麦、粟、稗、そば、豆類等の穀物を乾燥する乾燥機１を示している。図１は、乾燥機１の概略構成を示す正面図である。図２は、乾燥機１の概略構成を示す側面図である。以下の説明において、前方とは、乾燥機１の背面から正面に向かう方向であり、後方は、前方の反対の方向である。また、右側とは、乾燥機１の正面に向かって右側であり、左側とは、乾燥機１の正面に向かって左側である。

まず、乾燥機の全体構成から説明する。
乾燥機１は、投入部２と、貯留部３と、乾燥部４と、集穀部５と、縦送り部６と、第１横送り部７と、第２横送り部８と、測定装置９とを備えている。
投入部２は、乾燥する穀物を投入する投入口２Ａを有していて、ホッパー等で構成されている。貯留部３、乾燥部４及び集穀部５は、箱型に形成された乾燥槽１０に設けられている。貯留部３は、乾燥する穀物を貯留する部屋であって、乾燥槽１０の上部に設けられている。乾燥部４は、穀物を熱や温風等によって乾燥する装置であって、貯留部３の下方の乾燥槽１０内に設けられている。貯留部３と乾燥部４とは連通していて、貯留部３で貯留した穀物が乾燥部４へ流れるようになっている。

図１〜図３に示すように、乾燥部４は、正面壁４Ａと、背面壁４Ｂと、複数の給風胴４Ｃと、複数の排風胴４Ｄとを有する。複数の給風胴４Ｃと複数の排風胴４Ｄとは、正面壁４Ａと背面壁４Ｂとの間に設けられている。また、複数の給風胴４Ｃと複数の排風胴４Ｄとは、左から右に向けて交互に並べて設けられている。給風胴４Ｃと排風胴４Ｄとの間が、貯留部３の穀物が流れ込む乾燥路４Ｅとされている。給風胴４Ｃと排風胴４Ｄとは、多孔板によって形成され、通気可能である。給風胴４Ｃには、熱風が供給される。供給された熱風は、給風胴４Ｃから乾燥路４Ｅに排出される。乾燥路４Ｅに排出された熱風は、排風胴４Ｄから排出される。これによって、乾燥路４Ｅ中の穀物が乾燥される。

集穀部５は、乾燥部４の下方の乾燥槽１０内に設けられている。乾燥部４と集穀部５とは連通していて、乾燥部４内の穀物が集穀部５へ流れるようになっている。集穀部５は、集穀部材１１と、樋部１２と、複数のガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃと、複数の繰出しロール１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄとを有する。集穀部材１１は、乾燥部４の正面壁４Ａに連続する正面板１１Ａと、乾燥部４の背面壁４Ｂに連続する背面板１１Ｂとを有する。集穀部材１１の下部は、正面板１１Ａと背面板１１Ｂとの間隔が下方に行くに従って漸次狭くなるように形成されている。

樋部１２は、底板１２Ａと、底板１２Ａの前端と正面板１１Ａの下端とを接続する前板１２Ｂと、底板１２Ａの後端と背面板１１Ｂの下端とを接続する後板１２Ｃとを有している。樋部１２は、上方開放状に形成されていて、集穀部材１１内に連通している。
複数のガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃは、集穀部材１１の上部で且つ乾燥部４の下方に設けられている。また、複数のガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃは、集穀部材１１の正面板１１Ａと背面板１１Ｂとの間に前後に並べて設けられている。この複数のガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃは、乾燥部４から流下する穀物を、集穀部材１１の正面板１１Ａと背面板１１Ｂとの上面に案内する。複数の繰出しロール１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄは、ガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃの下部に設けられていて、回転することで、ガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃの下部の穀物を下方へと繰り出す。複数の繰出しロール１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄから繰り出された穀物は、集穀部５の下部の樋部１２へと集められる。

集穀部５の下部であって、樋部１２とガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃとの間で且つ正面板１１Ａと背面板１１Ｂとの間には、バーナーで加熱される遠赤放射体１８が設けられている。
縦送り部６は、投入部２に投入された穀物及び第１横送り部７で送られる穀物を上方に搬送する装置であって、乾燥槽１０の側方に設けられている。縦送り部６は、上下に長い箱型のケーシング１６と、ケーシング１６の内部に設けられた運搬部１７とを備えている。運搬部１７は、ケーシング１６の上部に配置された上スプロケット１７Ａと、ケーシング１６の下部に配置された下スプロケット１７Ｂと、上下のスプロケット１７Ａ，１７Ｂに巻き掛けられたベルト１７Ｃと、ベルト１７Ｃに設けられたバケット１７Ｄとを有している。運搬部１７は、前部が下降側とされ、後部が上昇側とされている。運搬部１７は、図示省略の駆動モータ等によって上スプロケット１７Ａ又は下スプロケット１７Ｂを回転させてベルト１７Ｃを動かすことにより、ケーシング１６の下部の穀物をバケット１７Ｄで掬ってケーシング１６の上部に運搬する。

ケーシング１６は、運搬部１７の正面側を覆う第１壁１６Ａと、運搬部１７の背面側を覆う第２壁１６Ｂと、運搬部１７の乾燥槽１０側の側面を覆う第３壁１６Ｃと、運搬部１７の乾燥槽１０側とは反対側の側面を覆う第４壁１６Ｄと、運搬部１７の上方を覆う第５壁１６Ｅと、運搬部１７の下方を覆う第６壁１６Ｆと、運搬部１７の上部の前方側に設けられた排出部１９とを有する。第１壁１６Ａの上端と第５壁１６Ｅとの間には、間隔が設けられている。

排出部１９は、後部が開放状とされていて、運搬部１７の収容空間の上部と連通している。したがって、バケット１７Ｄによってケーシング１６の上部に運搬された穀物は、バケット１７Ｄが反転する際に、排出部１９へと放擲される。
排出部１９は、上部壁１９Ａと、当接壁１９Ｂと、第１側部壁１９Ｃと、第２側部壁１９Ｄと、案内壁１９Ｅとを有する。上部壁１９Ａは、第５壁１６Ｅから前方に延出している。当接壁１９Ｂは、上部壁１９Ａの前端から下方側に延出している。当接壁１９Ｂの上部は下方に行くに従って前方に移行する傾斜状とされている。当接壁１９Ｂの下部は、鉛直方向に沿って形成されている。第１側部壁１９Ｃは、第３壁１６Ｃの上部から前方に延出している。第２側壁は、第４壁１６Ｄの上部から前方に延出している。案内壁１９Ｅは、第１壁１６Ａの上端から前方に行くに従って下方に移行する傾斜方向に延出している。案内壁１９Ｅの下端と、当接壁１９Ｂの下端との間には、間隔が設けられていて、排出部１９の前部下端が下方に向けて開放状とされた排出口１９Ｆとされている。したがって、運搬部１７から排出部１９へと放擲された穀物は、主として、当接壁１９Ｂに接当して落下し、排出口１９Ｆから排出される。また、一部の穀物は、直接又は案内壁１９Ｅ上を滑り落ちて、排出口１９Ｆから排出される。

第１横送り部７は、集穀部５の下部に集められた穀物を縦送り部６の下部へと横送りする装置である。第１横送り部７は、穀物を横送り可能なスクリュ（第１スクリュという）２０と、第１スクリュ２０で横送りされた穀物を縦送り部６に流す流通路２１とを有する。第１スクリュ２０の左部は、樋部１２内に配置され且つ樋部１２に沿って設けられている。第１スクリュ２０右部は、樋部１２から突出して縦送り部６の下部の前方側にまで設けられている。

流通路２１は、乾燥槽１０の下部とケーシング１６とを繋ぐものである。具体的には、流通路２１は、樋部１２とケーシング１６の第１壁１６Ａの下部とを繋ぐ通路である。この流通路２１は、第１スクリュ２０の樋部１２から突出する部分を収容している。第１スクリュ２０は、駆動モータ等の駆動力によって回転することによって樋部１２内の穀物を流通路２１に向けて送ることが可能である。

流通路２１は、ケーシング１６の下部に連通するシュート部２２と、樋部１２とシュート部２２とを連通（接続）する連通部２３とを有する。したがって、第１スクリュ２０で送られる穀物は、連通部２３を通ってシュート部２２に至り、該シュート部２２からケーシング１６の下部に供給される。また、シュート部２２には、投入部２が接続されていて、投入部２に投入された穀物がシュート部２２からケーシング１６の下部に供給される。

図４に示すように、シュート部２２は、上壁２２Ａと、縦壁２２Ｂと、底壁２２Ｃとを有する。また、シュート部２２の左側面は、左側壁２２Ｄによって塞がれている。シュート部２２の右側面は、右側壁２２Ｅによって塞がれている（図１参照）。シュート部２２の後部は、後方開放状とされている。この後方開放部分が、穀物を排出する排出開口２２Ｆとされている。ケーシング１６の第１壁１６Ａの下部には、穀物を受け入れる受入口２４が形成されている。この受入口２４は、排出開口２２Ｆに連通している。上壁２２Ａは、受入口２４の上縁から前方に突出している。縦壁２２Ｂは、上壁２２Ａの前端から下方に延出している。底壁２２Ｃは、縦壁２２Ｂの下端から後方に延出する延出部２２Ｃａと、延出部２２Ｃａの後端から受入口２４の下縁にわたって延出する傾斜部２２Ｃｂとを有する。傾斜部２２Ｃｂは、第１壁１６Ａに近づくにしたがって下方に移行する傾斜状となっている。つまり、流通路２１は、ケーシング１６に近づくにしたがって下方に移行する傾斜面２２Ｇを有している。傾斜面２２Ｇの端部は、受入口２４の下縁に接続されている。傾斜面２２Ｇの幅は、ケーシング１６の下部の幅と略同じに設定されている。したがって、流通路２１を流れる穀物が傾斜面２２Ｇに達すると、当該穀物は傾斜面２２Ｇを滑りながらケーシング１６の下部に落下する。それゆえ、傾斜面２２Ｇにおいては、穀物は一様に広がり易く、穀物の運搬時における穀物層の厚みは、傾斜面２２Ｇでは薄くなり易い箇所である。

図１、図４に示すように、連通部２３は、第１スクリュ２０の上方、下方、前方及び後方を覆う筒状に形成されている。連通部２３は、左方及び右方に開放状とされている。連通部２３の左端は、樋部１２に連通している。連通部２３の右端は、シュート部２２の左側壁２２Ｄに形成された開口部２６を介して、シュート部２２内に連通している。
図１、図２に示すように、第２横送り部８は、縦送り部６の上部で排出された穀物を貯留部３の上部に運搬する装置である。第２横送り部８は、スクリュ（第２スクリュという）２７と、第２スクリュ２７を収容するスクリュケース２８とを有する。スクリュケース２８は、縦送り部６の排出部１９から貯留部３の中途部にまで設けられている。スクリュケース２８の右側は、縦送り部６の排出口１９Ｆに接続され且つ連通していて、排出口１９Ｆから排出された穀物がスクリュケース２８内に供給される。このスクリュケース２８に供給された穀物は第２スクリュ２７によって貯留部３へと運搬される。第２スクリュ２７によって貯留部３に運搬された穀物は、スクリュケース２８の底部２８Ａの中途部に形成された第１開口３６及びスクリュケース２８の左端に形成された第２開口３７から貯留部３へと排出される。

穀物は、貯留部３から乾燥部４、集穀部５、第１横送り部７、縦送り部６、第２横送り部８を経て貯留部３へと循環する。この循環は、穀物の水分量が目標の水分量となるまで、繰り返し行われる。
乾燥後の穀物を横送りする第１横送り部７と、第１横送り部７で送られた穀物を上方へ送る縦送り部６と、縦送り部６の上部に送られた穀物を貯留部３に送る第２横送り部８とから循環部が構成されている。この循環部は、穀物を循環させる装置であって、乾燥部４で乾燥した穀物を貯留部３に送ったり、投入部２に投入された穀物を貯留部３に送る装置である。

測定装置（乾燥機用測定装置）９は、少なくとも乾燥部４によって乾燥する穀物（乾燥部４を通過した穀物）の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置９である。なお、測定装置９は、少なくとも穀物の水分量を測定する装置であればよく、穀物の水分量と共に水分以外の穀物の特性を測定する装置であってもよい。
非破壊によって測定するとは、穀物を破壊することなく（穀物をつぶすことなく）穀物の水分量を測定することである。従来では、例えば、電極ロールで穀物をつぶす破壊式であったため、電極ロールに付着した穀物を除去するクリーニングが必要であったが、本発明の非破壊測定装置９（非破壊式）では、穀物をつぶすことがないため、当該非破壊測定装置９の測定間隔は、クリーニングによる影響を受けず、短い間隔に設定することができる。

非破壊測定装置９としては、例えば、分光分析装置、電気容量式水分計、マイクロ波式水分計、中性子式水分計などがあげられる。なお、非破壊で穀物の水分量を測定できる装置であれば、測定装置９としては、例示したもの以外の装置であってもよい。
分光分析装置は、分光分析により穀物の水分量を測定する装置であって、穀物が放射または吸収する光のスペクトルを調べて穀物の水分量を測定する装置である。電気容量式水分計は、穀物に交流の電気を流し、その電気容量の変化（キャパシタンス）を水分値に置き換えて表示する水分計である。マイクロ波式水分計は、マイクロ波の水分による減衰など電気的変化量を水分値に置き換えて表示する水分計である。中性子式水分計は、放射線の一種である中性子を利用した水分計である。

破壊式の水分計で穀物の水分量を測定する従来の乾燥機では、測定間隔を短くするのに限界がある。測定間隔が長い（測定回数が少ない）と、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつき（ムラ）を正確に把握するのが難しい。
また、本実施形態では、穀物の水分量を非破壊で測定するので、穀物の水分量の測定間隔を短くすることができる。また、測定間隔を短くすることで、測定回数を多くすることができる。これにより、複数の水分量を移動平均した水分量を得ることによって、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができる。

本実施形態では、高頻度で穀物の水分量を測定することができ、短い測定間隔で穀物の水分量を測定することができる。本実施形態の測定装置９は、短い測定間隔で穀物の水分量を測定する装置である。「短い測定間隔」とは、１回の水分測定において、従来技術の穀物破壊と破壊された穀物の水分測定とにかかる時間よりも短い時間間隔を言う。なお、市場に流通している乾燥機では、破壊式の水分計で穀物の水分量を測定するものであり、測定間隔は、数十分間隔のものが一般的である。本実施形態の乾燥機１では、例えば、１０分以下の測定間隔で穀物の水分量を測定することが可能であり、好ましくは５分未満、さらに好ましくは６０秒以下の測定間隔での測定が可能である。

また、本実施形態では、測定装置９は、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定する装置である。なお、連続的に測定するとは、所定の時間幅（所定の間隔）で繰り返し測定することであり、例えば、所定のサンプリング周波数を定めておき、サンプリング周波数の間隔で測定する。なお、穀物の水分量を測定する全体をみた場合、一部に測定が行っていない間欠区間があったとしても、間欠区間以外の所定の区間において、所定の時間幅で繰り返し測定している場合は、連続的に測定していることになる。短い測定間隔とは、測定してから次に測定するまでの間隔が１秒以下の間隔であることは当然に含まれるが、数秒〜数十秒でも短い測定間隔であり、数分の間隔でもよい。したがって、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定することにより、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつきを、より正確に把握することができる。また、乾燥機１では、目標水分量を設定することが好ましく、実際に乾燥を終了したときの実際の穀物の水分量（実水分量）が、予め定められた目標水分量と一致することが望ましい。測定装置９は、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定するため、実水分量を目標水分量に一致させやすい。

また、測定装置９は、単一の装置であることが好ましい。単一の装置とは、投受光部（後述する投受光部）に着目した場合、測定装置９に設けた投受光部が同じ時間（タイミング）で穀物を測定する装置のことである。なお、測定装置９が有する投受光部の数は限定されない。例えば、測定装置９が複数の投受光部を有している場合であっても、当該複数の投受光部が同一のタイミングで穀物の水分を測定する装置であれば、単一の装置といえる。

また、破壊式の水分計で穀物の水分量を測定する従来の乾燥機では、高頻度で穀物の水分量を測定するのが難しく、特に、高水分域では、頻度を上げるのが難しい。これに対し、本実施形態の乾燥機１では、穀物の水分量を非破壊で測定するので、高水分量でも高頻度で測定することができる。
また、非破壊での測定によって測定回数を多くすることができるので、水分量が極端に高い穀物、又は、水分量が極端に低い穀物が存在していたとしても、これらの穀物の水分量のみが、従来のように乾燥している穀物の水分量の代表値になることを防止することができ、適正に乾燥することができる。また、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができるので、乾燥を終わった後の穀物の水分量（実水分量）が、目標の水分量から大きくずれてしまうのを防止することができる。これによって、乾燥終了後に再乾燥するという事態を防止することができる。籾を乾燥する場合、乾燥機１での乾燥を終えた後の籾摺り後に、玄米の水分量が目標水分量を超えていると乾燥機１に再度回す必要がある。この場合、籾が無い状態で乾燥するので、玄米がダメージを受けやすい。本実施形態では、非破壊による測定装置９で穀物の水分量を測定することで、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができるので、籾すり後の再乾燥という事態を回避することができる。

また、非破壊での測定によって測定回数を多くすることができ、その結果、乾燥機１内の穀物の水分量のばらつきを正確に把握することができるので、乾減率を正確に把握することができる。そのため、高い精度で乾減率の制御をすることができる。また、高い精度で乾減率の制御をすることができるので、乾燥終了の予測時刻の精度が向上する。
また、穀物の水分量を非破壊で測定することによって乾燥機１内の穀物の水分量のムラを正確に把握することができるので、穀物の水分量のムラを少なくするための処理がしやすい。例えば、放冷タンクを利用し、穀物の水分量のムラを少なくする処理がしやすい。放冷タンクは、乾燥機１で乾燥した穀物を所定時間貯留することで放冷するタンクである。

また、穀物を電極ロール間で圧砕する破壊式の水分計では、穀物の水分量を測定する度に、穀物のロス（屑）が生じる。また、つぶした穀物が電極ロールに付着するので、その分、測定精度が落ちる可能性がある。
本実施形態では、穀物の水分量を非破壊で測定するので、水分量の測定をする際に穀物のロスがなく、また、測定精度が低下することなく、高精度の測定をすることができる。

本実施形態では、上述した非破壊測定装置９として、分光分析装置が採用される（非破壊測定装置９は、乾燥部４を通過した穀物の水分量を分光分析により測定する装置である）。分光分析装置は、少なくとも光（測定するための測定光）を照射する投光部と、投光部から照射した光（測定光）を受光するための受光部とを有している。言い換えれば、分光分析装置は、穀物の水分を測定するための投受光部（投光部及び受光部）を有している。分光分析装置は、例えば、近赤外水分計、中赤外分光光度計、紫外可視分光光度計、ラマン分光装置などがあげられる。なお、分光分析装置としては、分光分析により穀物の水分量を測定することができるものであれば、例示したもの以外の装置であってもよい。

近赤外水分計は、近赤外分光法により穀物の水分を測定する装置であって、近赤外線を含む光を穀物に照射してその反射率を測定することで穀物の特性の１つである水分（水分量）を測定する装置である。中赤外分光光度計は、中赤外領域の赤外光を用いて分光分析により穀物の水分量を測定する装置である。紫外可視分光光度計は、紫外領域と可視領域の光の領域を用いて分光分析により穀物の水分量を測定する装置である。ラマン分光装置は、穀物にレーザーを照射して、発生したラマン散乱光から穀物の水分量を測定する装置である。本実施形態では、この分光分析装置として、近赤外水分計を採用している（分光分析装置は、近赤外水分計である）。近赤外水分計では、穀物の水分量を（数十秒間隔）で測定することが可能である（連続でも測定可能である）。また、近赤外水分計は、穀物が流動している状態で、水分量を精度よく測定することができる。また、近赤外水分計は、一回の測定で多量の穀物の水分量を測定することができる。また、近赤外水分計で測定する水分量は、質量に対する割合（水分含有量％）である。

また、電気容量式水分計では、高水分の穀物の水分量を測定する場合と、低水分の穀物の水分量を測定する場合とで、穀物に流す周波数を変えなければならない。このため、測定精度を高くするのが難しい。これに対して、近赤外水分計では、高水分であっても、低水分であっても穀物の水分量を精度よく測定することができる検量線を使用することで、穀物の水分量が変わっても穀物の水分量を精度よく測定することができる。

さて、乾燥機１では、上述したように熱や温風等によって穀物の乾燥を行うことから、乾燥機１内は、比較的厳しい温度環境である。即ち、乾燥機１内の穀物は、乾燥前のコンテナやグレンタンク等に収容された比較的温度環境が安定した状況と比べ、温度環境が変化しやすい状況下に置かれることになる。そのため、乾燥機１における穀物の温度（穀物温度）は、場所によって、時間によって変化する。また、乾燥機１における雰囲気温度も、場所によって、時間によって変化する。

本実施形態では、温度（穀物温度、雰囲気温度）が違った場合にでも同じ値がでるように温度補正をする検量線を使用している。言い換えると、穀物温度が変わっても正しい水分量を測定することができる検量線を使用している。特に、乾燥機用測定装置９に適用した分光分析装置（近赤外水分計）では、温度変化による補正を検量線に織り込んでおり、温度測定を行わなくても、精度よく、穀物の水分量を測定することができ、従来の近赤外水分計とは異なっている。従来の分光分析装置（近赤外水分計）では、温度が変化した場合、センサ等で測定した温度に基づき、補正を行わなければならず、温度測定が必須である。

即ち、本発明の分光分析装置（近赤外水分計）では、温度変化による補正を検量線に織り込んでいるため、温度測定を行わなくても低温から高温まで測定することができる。言い換えれば、分光分析装置（近赤外水分計）は、温度補正が織り込まれた検量線を有しているため、温度測定を行わなくても穀物の水分量を測定することが可能である。なお、分光分析装置（近赤外水分計）は、低温から高温までの補正が織り込まれた検量線を有していてもよい。

乾燥機用測定装置（分光分析装置）９は、穀物を乾燥する乾燥機１において適正に穀物の水分量を測定できるように、乾燥機１における乾燥に対応（適合）した装置である。即ち、乾燥機用測定装置（分光分析装置）９は、乾燥機１のように温度（穀物温度又は雰囲気温度）が変化しやすい状況下でも適正に穀物温度の測定が行える装置である。
具体的には、乾燥機１の特有の温度環境を考慮して、分光分析装置（近赤外水分計）９は、例えば、１０°Ｃ〜５０°Ｃの雰囲気温度で、穀物の水分量を正確に測定することができる。雰囲気温度とは、例えば、穀物が投受部を通過する場所の温度であり、少なくとも、分光分析装置９で穀物を測定する周囲の温度である。言い換えれば、分光分析装置（近赤外水分計）９の検量線は、乾燥機１の温度環境に対応した設定がなされていて、例えば、穀物自体の温度（穀物温度）が、１０°Ｃ〜５０°Ｃで穀物の水分量を正確に測定する設定がなされている。

したがって、本実施形態の近赤外水分計（分光分析装置）は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度（穀物温度又は雰囲気温度）で穀物の水分量を測定することができる。さらに言い換えると、乾燥機１における温度環境を考慮し、温度の下限値を１０℃、上限値を５０℃であるとしたうえで、近赤外水分計（分光分析装置）は、特に、温度（穀物温度又は雰囲気温度）が下限値（１０℃）であっても、上限値（５０℃）であっても、温度変化による補正が織り込まれた１つの検量線（１０℃〜５０℃までの温度に対応する１本の検量線）によって、穀物の水分量を正確に検出することができる。近赤外水分計（分光分析装置）は、温度が１０℃〜５０℃の場合に、検量線によって、当該穀物の水分量を正確に測定することができる。近赤外水分計（分光分析装置）では、特に、穀物温度が４０℃を超え、穀物温度が２０℃を下回る場合でも、穀物温度を適正に測定することができる。

また、本実施形態では、近赤外水分計（分光分析装置）は、外気温よりも高い雰囲気温度で穀物の水分量を正確に測定することが可能である。外気温とは、乾燥機１の外部（周囲）の環境温度のことを言う。例えば、自然の外気温（１０°Ｃ〜３０°Ｃ）である。
また、穀物に含まれるデンプンは６０°Ｃを超えるとアルファ化するおそれがある。乾燥機１では、アルファ化に考慮して乾燥の温度の設定がなされている。そこで、近赤外水分計（分光分析装置）も、乾燥機１の特有の環境を考慮し、６０°Ｃ以下の温度（穀物温度又は雰囲気温度）で適正に穀物の水分量を測定することができるよう検量線等の設定なされていることが好ましい。言い換えると、近赤外水分計（分光分析装置）は、デンプンがアルファ化しない穀物温度で、穀物の水分量を測定する装置であるのがよい。したがって、近赤外水分計（分光分析装置）では、穀物温度が４０℃超〜６０℃以下の範囲で穀物温度を適正に測定することができる。

図４に示すように、測定装置９（近赤外水分計）は、乾燥後の穀物を横送りする第１横送り部７に設けられている。第１横送り部７に測定装置９を設けることによって、乾燥後に横に送り出される穀物の水分量を正確に測定する。
詳しくは、測定装置９は、第１横送り部７の流通路２１内であって、底壁２２Ｃに設けられている。底壁２２Ｃの傾斜部２２Ｃｂには、窓２９が形成され、傾斜部２２Ｃｂの一部を構成する窓２９の外側（傾斜部２２Ｃｂの下面側）に測定装置９が装着されている。測定装置９の光軸（近赤外線を含む光を照射する光軸）は、窓２９に向けられていて、当該測定装置９によって傾斜部２２Ｃｂ（窓）を流れる穀物の水分量を測定する。これによれば、一様に広がりながら傾斜部２２Ｃｂを流れる穀物の水分量を測定装置９によって測定することができる。即ち、乾燥後に循環する大多数の穀物における水分量を測定装置９によって測定することができる。この実施形態では、測定装置９を流通路２１の傾斜部２２Ｃｂに装着することによって、傾斜部２２Ｃｂを流れる穀物の水分量を測定していたが、測定装置９を、傾斜部２２Ｃｂの上方に装着して、当該測定装置９の光軸を傾斜部２２Ｃｂに向けることによって、傾斜部２２Ｃｂを流れる穀物の水分量を測定してもよい。

図４に示すように、投入部２（ホッパー）の下端部は、傾斜部２２Ｃｂの上方に設けられている。ホッパーの下端部は、傾斜部２２Ｃｂと対向する上壁２２Ａに接続されている。ホッパーが傾斜部２２Ｃｂの上方に設けられ、測定装置９が傾斜部２２Ｃｂに設けられているため、ホッパーの投入直後の穀物（乾燥前の穀物）の水分量を測定装置９で測定できると共に、乾燥後に傾斜部２２Ｃｂを流れる穀物の水分量を測定することができる。

次に、測定装置９を取り付けるための概念的な取付場所（穀物を測定する測定場所）について説明する。
取り付けられた測定装置９の周囲の構造からみた取付場所として、下記に示す第１の取付場所、第２の取付場所及び第３の取付場所が考えられる。
第１の取付場所は、測定装置９を取り付ける部位が、穀物が搬送される搬送面であって、該搬送面が平面（平坦）な場所である。この場合、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、平坦であるのがよい。また、搬送面上の測定される穀物の状態は、密状態であっても、粗状態であってもよい。密状態とは、穀物間にすき間がないほど穀物が集まっている状態（過密な状態）をいう。粗状態とは、穀物間に密状態よりも大きなすき間がある状態で穀物が集まっている状態（過疎な状態）をいう。この第１の取付場所では、穀物を循環させながら連続的に効率よく水分量を測定することができる。また、バッチ式に比べて、測定する穀物の量を増加させることができる。また、平面上の穀物を測定するので、穀物の水分量の測定精度を向上させることができる。

第２の取付場所は、測定装置９を取り付ける部位が、穀物が通過する面（搬送面）である。この場合、搬送面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、必ずしも平坦である必要はない。また、搬送面上の測定される穀物の状態は、密状態であっても、粗状態であってもよい。この第２の取付場所においても、穀物を循環させながら連続的に効率よく水分量を測定することができる。また、バッチ式に比べて、測定する穀物の量を増加させることができる。

第３の取付場所は、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面が平坦であり、この平坦な投受光面上を、穀物を通過させることができる場所である。この場合、投受光面が平坦であれば、穀物が通過する面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定される穀物の状態は、密状態であっても、粗状態であってもよい。この第３の取付場所では、平坦な投受光面上を穀物が通過するので、穀物の水分量の測定精度を向上させることができる。

次に、測定装置９が取り付けられる場所の穀物の状態に着目した取付場所として、下記に示す第４の取付場所、第５の取付場所及び第６の取付場所が考えられる。
第４の取付場所は、穀物の状態が密状態となる場所である。この場合、穀物を測定する面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、必ずしも平坦である必要はない。この第４の取付場所では、一度により多くの穀物の水分を測定することができる。

第５の取付場所は、温度が安定している場所である。穀物が搬送される搬送面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、必ずしも平坦である必要はない。また、搬送面上の測定される穀物の状態は、密状態であっても、粗状態であってもよい。この第５の取付場所では、測定装置９に作用する温度の影響を排除できるので、測定精度を向上させることができる。

第６の取付場所は、穀物が一定の層になっている場所である（穀物が循環する経路以外の場所に溜まり部分を作ることも含む）。穀物が搬送される搬送面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、必ずしも平坦である必要はない。また、測定される穀物の状態は、密状態である。この第６の取付場所では、一度により多くの穀物の水分量を測定することができる。また、離れた箇所からでも測定することが可能である。

次に、乾燥ルートからみた第７の取付場所として、乾燥機１における穀物の通常の乾燥ルート（循環ルート）から外れた場所に測定場所を作ることが考えられる。この第７の取付場所は、別途設けた測定場所に穀物を導入し、この測定場所に導入した穀物の水分量を測定し、測定した後は、穀物を測定場所から通常の循環ルートに戻す。この第７の取付場所において、測定時に、測定場所に穀物が留まっているか、測定場所を穀物が動いて通るかは問わない。また、測定場所は、囲まれていても、囲まれていなくてもよい。また、この第７の取付場所では、穀物が搬送される搬送面は、平面（平坦）であるか凹部があるかは問わない。また、測定装置９（近赤外水分計）の投受光面は、平坦であるか否かは問わない。また、測定される穀物の状態は、密状態であっても、粗状態であってもよい。この第７の取付場所では、取付場所の自由度を向上させることができる。

次に、図４〜図１５を参照して測定装置９の具体的な取付例を説明する。
図４は、取付例１を示している。この取付例１については、上述した通りである。
図５は、取付例２を示している。この取付例２は、測定装置９を、流通路２１の連通部２３に取り付けた例を示している。具体的には、測定装置９は、連通部２３の下壁２３Ａの下面に設けられている。

図６は、取付例３を示している。この取付例３は、測定装置９を、集穀部５の樋部１２の底板１２Ａの下面に取り付けた例を示している。
図７、図８は、取付例４を示している。この取付例４では、ケーシング１６の下部に一時貯留部３１を設け、この一時貯留部３１に測定装置９を取り付けている。一時貯留部３１は、穀物を一時貯留する装置である。一時貯留部３１は、ケーシング１６の第２壁１６Ｂの背面に設けられた貯留ケース３２と、貯留ケース３２の内部の上下中途部に設けられたシャッタ３３とを有する。第２壁１６Ｂには、貯留ケース３２の上部に連通する取入口３４と、貯留ケース３２の下部に連通する戻し口３５とが形成されている。ケーシング１６の下部の穀物は、バケット１７Ｄが穀物を掬う際にはねとばされることにより、また、貯留ケース３２の上方側に位置するバケット１７Ｄから穀物がこぼれ落ちることにより、取入口３４から貯留ケース３２内に取り入れられる。シャッタ３３は、取入口３４と戻し口３５との間に位置し、上下に揺動することで開閉動作する。シャッタ３３を閉じることにより、貯留ケース３２内のシャッタ３３上方に穀物を貯めることができる。この貯留ケース３２内に貯められた穀物の水分量を測定装置９で測定する。水分測定後、貯留ケース３２内に貯められた穀物は、シャッタ３３を下方に揺動して開くことにより、戻し口３５からケーシング１６の下部に戻される。

なお、図８に仮想線で示すように、一時貯留部３１を、ケーシング１６の第３壁１６Ｃ又は第４壁１６Ｄに設けてもよい。この場合、一時貯留部３１は、運搬部１７の上昇側寄りに設けられるのがよい。また、一時貯留部３１を、ケーシング１６の第１壁１６Ａに取り付けてもよい。
図９は、取付例５を示している。この取付例５は、測定装置９を、排出部１９の当接壁１９Ｂに取り付けた例を示している。

図１０は、取付例６を示している。この取付例６は、測定装置９を、排出部１９の案内壁１９Ｅに取り付けた例を示している。
図１１は、取付例７を示している。この取付例７では、排出部１９の当接壁１９Ｂに一時貯留部３１を設け、この一時貯留部３１に測定装置９を取り付けている。一時貯留部３１に関する構造は、取付例４と同様であるので説明を省略する。

図１２は、取付例８を示している。この取付例８は、測定装置９を、第２横送り部８のスクリュケース２８に取り付けた例を示している。詳しくは、スクリュケース２８の排出口１９Ｆとの接続部分に対応する部分に取り付けている。
図１３は、取付例９を示している。この取付例９は、測定装置９を、貯留部３における乾燥槽１０に取り付けた例を示している。この場合、測定装置９を、貯留部３の下部に設けるのが好ましい。

図１４は、取付例１０を示している。この取付例１０では、貯留部３における乾燥槽１０に一時貯留部３１を設け、この一時貯留部３１に測定装置９を取り付けている。一時貯留部３１に関する構造は、取付例４と同様であるので説明を省略する。
図１５は、取付例１１を実線で示し、取付例１２を仮想線で示している。取付例１１は、測定装置９を、乾燥部４に取り付けた例を示している。図例では、測定装置９を、乾燥部４の背面壁４Ｂに取り付けている。なお、測定装置９を、乾燥部４の正面壁４Ａに取り付けてもよい。取付例１２は、測定装置９を、集穀部５に取り付けた例を示している。図例では、測定装置９を、集穀部材１１、及び／又は、ガイド部材１３ａ，１３ｂ，１３ｃに取り付けている。

なお、測定装置９は、各取付例で示す場所に複数設けてもよい。また、複数の取付例を採用してもよい。縦送り部６は、バケットコンベヤタイプの搬送装置を例示したが、縦送り部６として、スクリュコンベヤタイプの搬送装置を採用してもよい。この場合、ケーシング１６の下部又は上部の米溜まり部分の穀物の水分量を測定装置９によって直接測定することができる。

取付例１、取付例２、取付例３及び取付例１２は、第１の取付場所、第２の取付場所及び第３の取付場所の例を示している。
取付例１、取付例２、取付例３、取付例７、取付例９、取付例１１、取付例１２及び取付例１４は、第４の取付場所の例を示している。
取付例５、取付例６、取付例７及び取付例８は、第５の取付場所の例を示している。

取付例９、取付例１０、取付例１１及び取付例１２は、第６の取付場所の例を示している。
取付例４、取付例１１及び取付例１４は、第７の取付場所の例を示している。
図１６に示すように、乾燥機１は、ＣＰＵ等から構成された第１制御部（第１コントローラ）８０Ａと、様々な表示を行う表示装置６８とを備えている。

第１コントローラ８０Ａには、測定装置９が接続されている。この第１コントローラ８０Ａは、測定装置９で測定した水分量に基づいて、乾燥機１に関する様々な演算を行う。
第１コントローラ８０Ａによる演算について説明する。
第１コントローラ８０Ａには、測定装置９が接続されている。この第１コントローラ８０Ａは、測定装置９で測定した水分量に基づいて、乾燥機１に関する様々な演算を行う。

第１コントローラ８０Ａによる演算について説明する。
第１コントローラ８０Ａは、乾減率演算部９０を備えている。乾減率演算部９０は、第１コントローラ８０Ａに格納されたプログラム、電子・電気回路等から構成されている。乾減率演算部９０は、測定装置９（近赤外水分計）９で測定した水分量に基づいて単位時間当たりの水分の減少量である乾減率を演算する。説明の便宜上、測定装置９（近赤外水分計）９で測定した水分量のことを、「測定水分量」という。

乾燥機１による乾燥が開始後、乾減率演算部９０は、所定時間毎（例えば、３０秒〜６０秒毎）に測定水分量を取得する。そして、乾減率演算部９０は、所定以上の測定水分量、例えば、測定水分量の数が５以上となった時点で、図１７Ａに示すように、測定した全ての測定水分量を用いて最小二乗法により、測定水分量の減少率を示す減少近似線Ｌ１（切片、傾き）を求める。そして、乾減率演算部９０は、測定水分量の測定間隔と、減少近似線Ｌ１を示すパラメータとに基づいて、図１７Ｂに示すように、減少近似線Ｌ１を単位時間当たりの減少近似線Ｌ２（切片、傾き）に換算する。減少近似線Ｌ２の傾きが乾減率である。乾減率演算部９０は、例えば、乾減率演算部９０は、１分（６０秒）当たりの乾減率を求める。乾減率演算部９０は、測定水分量を測定する毎に、既に測定した測定水分量を用いて、乾減率である減少近似線Ｌ２の傾きを求める。なお、上述した実施形態では、減少近似線Ｌ１（切片、傾き）を求めた後、減少近似線Ｌ１を単位時間当たりの減少近似線Ｌ２（切片、傾き）に換算しているが、減少近似線Ｌ１の計算を省略して、減少近似線Ｌ２の傾き（乾減率）を求めてもよい。

第１コントローラ８０Ａは、水分ムラ演算部９１を備えている。水分ムラ演算部９１は、第１コントローラ８０Ａに格納されたプログラム、電子・電気回路等から構成されている。水分ムラ演算部９１は、測定装置９（近赤外水分計）９で測定した水分量に基づいて、水分量の最大値と最小値との差である水分ムラを演算する。
水分ムラ演算部９１は、乾減率演算部９０が減少近似線Ｌ２の傾き（乾減率）を求めた後、当該乾減率と、乾燥を開始してからの経過した時間（経過時間）とに基づいて、測定水分値を補正する。具体的には、水分ムラ演算部９１は、「補正水分量＝測定水分値×経過時間（測定水分値を測定した時点での経過時間）」により、補正水分量を求める。図１７Ｂで示した減少近似線Ｌ２に対応して、補正水分量を求めると、補正水分量を補正後の補正線Ｌ３は、図１７Ｂに示すようになる。

水分ムラ演算部９１は、補正水分量に基づいて、補正水分量の最大値と、補正水分量の最小値との差（水分量の最大値と最小値との差）を求め、求めた差を水分ムラとする。図１７Ｂの補正線Ｌ３の場合、補正水分量の最大値は、１５．９１％であり、補正水分量の最小値は、１５．７４％であるため、水分ムラは、０．２％である。
なお、上述した実施形態では、水分ムラ演算部９１は、乾減率と経過時間とに基づいて測定水分量を補正し、補正後の補正水分量の最大値と最小値との差を水分ムラとしていたが、測定水分量のそのものを用いて、水分ムラを求めてもよい。つまり、水分ムラ演算部９１は、実測値である測定水分量の最大値と最小値との差から水分ムラを求めてもよい。

第１コントローラ８０Ａは、目標取得部９２と、時間演算部９３と、を備えている。目標取得部９２及び時間演算部９３は、第１コントローラ８０Ａに格納されたプログラム、電子・電気回路等から構成されている。
目標取得部９２は、乾燥機１で乾燥後の穀物の目標の水分量である目標水分量を取得するものである。目標取得部９２は、乾燥機１の表示装置６８から目標水分量を取得したり、或いは、後述する作物管理コンピュータから目標水分量を取得する。

具体的には、表示装置６８や作物管理コンピュータでは、例えば、当該表示装置６８や作物管理コンピュータに設けられた入力インターフェースによって、所定の乾燥処理に対する目標水分量が設定可能である。目標取得部９２は、所定の乾燥処理に対する目標水分量を表示装置６８や作物管理コンピュータに要求して、表示装置６８や作物管理コンピュータから送信された目標水分量を取得する。なお、目標取得部９２は、必ずしも表示装置６８や作物管理コンピュータに対して目標水分量の要求をしなくても、表示装置６８や作物管理コンピュータから送信された目標水分量を自動的に取得してもよい。

時間演算部９３は、測定装置９（近赤外水分計）９で測定水分量及び目標水分量に基づいて、目標水分量に到達する到達時間を算出する。具体的には、時間演算部９３は、乾燥機１で乾燥開始時の測定水分量と、目標水分量と、乾減率演算部９０が求めた乾減率とを用いて、目標水分量に到達する到達時間を算出する。時間演算部９３は、「到達時間＝（乾燥開始時の測定水分量−目標水分量）／乾減率」により、到達時間を求める。時間演算部９３による到達時間の算出は、上述した実施形態に限定されない。例えば、時間演算部９３は、測定水分量を測定する毎に、「到達時間＝（現在の測定水分量−目標水分量）／乾減率」により到達時間を求めてもよいし、実際の測定水分量が目標水分量に近くなった段階での測定水分量及び乾減率を用いて到達時間を求めてもよい。

以上のように、第１コントローラ８０Ａは、乾減率演算部９０、水分ムラ演算部９１、時間演算部９３を備えているため、測定水分量に基づいて、乾減率、水分ムラ、到達時間を測定水分量によって求めることができる。
なお、上述した実施形態では、第１コントローラ８０Ａは、乾減率演算部９０、水分ムラ演算部９１及び時間演算部９３の全てを備えているが、これに代え、乾減率演算部９０、水分ムラ演算部９１及び時間演算部９３のいずれかを備えていてもよい。

第１コントローラ８０Ａは、実際に到達時間に達した際に、測定装置９によって穀物の水分量を測定し、測定した水分量を乾燥機１の乾燥終了後の代表水分量としてもよい。また、乾燥機１において、測定装置９において穀物の水分量を測定したタイミングでは、測定した水分量と目標水分量とが一致することもあるが、測定した水分量が、目標水分量を若干下回ることがある。つまり、測定装置９において、例えば、３０回目では目標水分量を上回っており、３１回目では目標水分量を下回った場合、第１コントローラ８０Ａは、３１回目の測定結果（測定した水分量）を、乾燥機１の乾燥終了後の代表水分量とする。即ち、第１コントローラ８０Ａは、測定装置９で測定した水分量を監視して、目標水分量未満で且つ目標水分量に最も近い測定値を、乾燥終了後の代表水分量とする。

表示装置６８は、上述した測定水分量、乾減率、水分ムラ、到達時間を表示する。例えば、表示装置６８の入力インターフェースによって、「水分表示」、「乾減率表示」、「水分ムラ表示」、「経過時間表示」のモードが選択可能である。「水分表示」が選択された場合、図１８Ａに示すように、表示装置６８は、液晶等の表示部６８Ａに、測定点に対応する測定水分量の推移を折れ線グラフ等により表示する。「乾減率表示」が選択された場合、図１８Ｂに示すように、表示装置６８は、表示部６８Ａに減少近似線Ｌ２及び乾減率を表示する。

また、「水分ムラ表示」が選択された場合、図１８Ｃに示すように、表示装置６８は、表示部６８Ａに、測定点に対応する補正水分量の推移を折れ線グラフ等により表示すると共に、補正水分量の最大値及び最小値を表示する。なお、「水分ムラ表示」が選択された場合は、補正水分量に代えて、実測値である測定水分量の推移、測定水分量の最大値及び最小値を表示してもよい。

さらに、「経過時間表示」が選択された場合、図１８Ｄに示すように、表示装置６８は、表示部６８Ａに、経過時間に対応する減少近似線Ｌ２及び到達時間を表示する。なお、到達時間の表示は、目標水分量に到達する時刻（乾燥終了時間）で表してもよいし、現在の時刻から目標水分量に到達するまでの残り時間（例えば、１５分）で表してもよいし、乾燥処理を開始してから目標水分量に到達するまでのトータル長さ（例えば、３００分）で表してもよいし、その他の表示であってもよい。

なお、上述した実施形態では、表示装置６８は、測定水分量、乾減率、水分ムラ、経過時間の全てを表示する構成となっているが、これに代え、測定水分量、乾減率、水分ムラ、経過時間のいずれかを表示する装置であってもよい。
さて、第１コントローラ８０Ａは、測定水分量に基づいて乾燥機１の制御を行う。第１コントローラ８０Ａは、例えば、乾減率に基づく制御である「乾減率制御」、水分ムラに基づく制御である「ムラ取り制御」を行う。

第１コントローラ８０Ａは、「乾減率制御」を行う乾減制御部９５を備えている。乾減制御部９５は、第１コントローラ８０Ａに格納されたプログラム、電子・電気回路等から構成されている。
乾減制御部９５は、乾減率演算部９０で求めた乾減率に基づいて、乾燥部４を制御する。乾減制御部９５は、例えば、図１９に示すように、乾減率演算部９０が算出した現在の乾減率（現在算出乾減率）に基づいて、現在から所定時間後である所定時点Ｐ１における水分量を予測する。即ち、乾減制御部９５は、現在算出乾減率を用いて、所定時点Ｐ１での予測水分量を求める。そして、乾減制御部９５は、所定時点Ｐ１での予測水分量と測定水分量との差（予測水分量−測定水分＝乾減率差）を求め、乾減率差がマイナスの場合は、乾燥が進んでいないとして、乾燥部４で出力するバーナーの出力を乾減率差に応じて上げる。一方、乾減制御部９５は、乾減率差がプラスの場合は、乾燥が進み過ぎているとして、乾燥部４で出力するバーナーの出力を乾減率差に応じて下げる。

なお、上述した実施形態では、乾減制御部９５は、乾減率差がプラスであるかマイナスであるかに基づいて、バーナーの出力を変更しているが、乾減率差が予め定められた閾値（判定値）以上であるか否かを判断し、閾値以上である場合には、閾値の大きさに応じてバーナーの出力を変更する制御を行ってもよい。乾減率差が閾値以上プラス、或いは、マイナスにならない場合は、バーナーの出力の変更はしない。

また、乾減制御部９５は、例えば、現在の乾減率（現在算出乾減率）と予め定められた乾減率（設定乾減率）とに基づいて、乾減率制御を行ってもよい。例えば、乾減制御部９５は、現在算出乾減率が設定乾減率よりも大きい場合は、乾燥が進み過ぎているとして、乾燥部４で出力するバーナーの出力を現在算出乾減率と設定乾減率との差に応じて下げる。一方、乾減制御部９５は、現在算出乾減率が設定乾減率よりも小さい場合は、乾燥が進んでいないとして、乾燥部４で出力するバーナーの出力を現在算出乾減率と設定乾減率との差に応じて上げる。また、乾減制御部９５は、上述した設定乾減率の代わりに、過去に求めた乾減率（過去算出乾減率）を用いて、乾減率制御を行ってもよい。この場合は、上述した「設定乾減率」を「過去算出乾減率」に読み替えればよい。

第１コントローラ８０Ａは、「ムラ取り制御」を行うムラ取り制御部９６を備えている。ムラ取り制御部９６は、第１コントローラ８０Ａに格納されたプログラム、電子・電気回路等から構成されている。
ムラ取り制御部９６は、水分ムラ演算部９１で求めた水分ムラに基づいて、乾燥部４を制御する。ムラ取り制御部９６は、水分ムラ演算部９１で求めた水分ムラ（現在水分ムラ）が予め定められた値（水分ムラ設定値）よりも大きい場合に、水分ムラを小さくする制御を行う。具体的には、ムラ取り制御部９６は、現在水分ムラが水分ムラ設定値よりも大きい場合、乾燥部４のバーナーの出力を停止する一方で、横送り機構６５Ａ及び縦送り機構６５Ｂの駆動モータを駆動させて、穀物を乾燥機１内（貯留部３、乾燥部４、循環部）で循環させる。つまり、ムラ取り制御部９６は、穀物を乾燥機１内で循環させることで、穀物の温度を下げて、穀物の温度のバラツキを小さくする。なお、ムラ取り制御部９６は、乾燥機１（乾燥槽１０）に通風を行う通風装置を駆動させながら、穀物の循環をすることによって、ムラ取り制御を行ってもよい。このように、穀物を循環させながら穀物の温度等を下げることによって、乾燥時の水分ムラを小さくすることができる。

以上、本発明について説明したが、今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
また、本実施形態では、乾燥機１として、穀物を循環させながら乾燥を行う循環式乾燥機を例示したが循環は連続でも間欠でもよい、即ち、連続循環式の乾燥機であっても、間欠式の乾燥機であってもよい。また、穀物を循環させずに乾燥を行う乾燥機、即ち、穀物を所定の位置に静置した状態で乾燥を行う静置式乾燥機であってもよい。

１ 乾燥機
４ 乾燥部
９ 非破壊測定装置（分光分析装置、近赤外水分計）

Claims (18)

1. 穀物を乾燥させる乾燥部と、
   前記乾燥部を通過した穀物の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置と、
   を備えた乾燥機。
2. 前記非破壊測定装置は、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を分光分析により測定する分光分析装置である請求項１に記載の乾燥機。
3. 前記分光分析装置は、近赤外水分計である請求項２に記載の乾燥機。
4. 前記分光分析装置は、外気温よりも高い温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項２又は３に記載の乾燥機。
5. 前記分光分析装置は、６０°Ｃ以下の温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項２又は３に記載の乾燥機。
6. 前記分光分析装置は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項２又は３に記載の乾燥機。
7. 前記分光分析装置は、穀物に含まれるデンプンがアルファ化しない温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項２又は３に記載の乾燥機。
8. 前記非破壊測定装置は、単一の装置であり、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定する装置である請求項１〜７のいずれか１項に記載の乾燥機。
9. 前記非破壊測定装置は、５分未満の測定間隔で穀物の水分量を測定する装置である請求項１〜８のいずれか１項に記載の乾燥機。
10. 乾燥機の乾燥部を通過した穀物の水分量を非破壊で測定する非破壊測定装置である乾燥機用測定装置。
11. 前記非破壊測定装置は、前記乾燥部を通過した穀物の水分量を分光分析により測定する分光分析装置である請求項１０に記載の乾燥機用測定装置。
12. 前記分光分析装置は、近赤外水分計である請求項１１に記載の乾燥機用測定装置。
13. 前記分光分析装置は、外気温よりも高い温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項１０又は１１に記載の乾燥機用測定装置。
14. 前記分光分析装置は、６０°Ｃ以下の温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項１１又は１２に記載の乾燥機用測定装置。
15. 前記分光分析装置は、１０°Ｃ〜５０°Ｃの温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項１１又は１２に記載の乾燥機用測定装置。
16. 前記分光分析装置は、穀物に含まれるデンプンがアルファ化しない温度で穀物の水分量を測定する装置である請求項１１又は１２に記載の乾燥機用測定装置。
17. 前記非破壊測定装置は、単一の装置であり、短い測定間隔で連続的に穀物の水分量を測定する装置である請求項１０〜１６のいずれか１項に記載の乾燥機用測定装置。
18. 前記非破壊測定装置は、５分未満の測定間隔で穀物の水分量を測定する装置である請求項１０〜１７のいずれか１項に記載の乾燥機用測定装置。