JP2017067719A - 光学測定器 - Google Patents
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Abstract
Description
このような蛍光測定器には、例えば親子鑑定、細菌やウイルスなどのDNAの測定にPCR法(ポリメラーゼ連鎖反応)を用いる場合に、液体状の測定試料を一定の温度に加熱する、あるいは、周期的な温度パターンで繰り返し加熱する目的で、測定試料が収容されたPCRチューブを加熱するヒーターが設けられている。
測定試料を加熱する場合、PCRチューブの例えば下部のみを加熱すると、測定試料中の水分が蒸発して当該PCRチューブ内の天井面に結露してしまい、その結果、測定試料中の目的物質の濃度が変化してしまう。
このような濃度の変化を防止するため、PCRチューブの上部および下部の両方を加熱することが行われている。
このような要請に応えるために、特許文献1に開示された蛍光測定器は、筺体全体を樹脂によって一体に成型することにより小型化を図っている。
前記測定部に配置された試料容器を加熱する加熱機構を備え、
当該加熱機構または前記試料容器と、前記光源および受光部の少なくとも一方との間における前記導光路上以外の領域に、断熱層が設けられていることを特徴とする。
<第1の実施の形態>
図1は、本発明の第1の実施の形態の光学測定器の構成の一例を示す平面図、図2は、図1の光学測定器の正面図、図3は、図1におけるA−A線断面図、図4は、図1におけるB−B線断面図、図5は、図2におけるC−C線断面図、図6は、図1の光学測定器における光学測定機構に試料チューブが装着された状態を模式的に示す断面図である。
この光学測定器10は、測定試料における測定対象物質の濃度などを吸光度として測定するためなどに用いられるものであり、測定対象物質は、例えば大腸菌、タンパク質、ポリメラーゼ連鎖反応(PCR)によって増幅されて得られたDNAや、色素などである。
第1の導光路21Hおよび第2の導光路26Hは、各々直線状に伸びる円柱状の貫通孔よりなり、第1の導光路21Hおよび第2の導光路26Hが互いに同軸上に位置される状態に、第1の導光路形成体21および第2の導光路形成体26が配置されている。
光源24が第1の導光路21Hに嵌入された状態で保持されることによって、光源24の光軸を概ね当該第1の導光路21Hの軸と並行に設定することが容易となり、従って、受光部28の方向に光束を高い効率で配光することができる。
光源24側の第1の導光路21Hの径は、受光部28側の第2の導光路26Hの径と同じであってもよく、異なっていてもよいが、不必要な散乱光、反射光、迷光を低減させる観点から、受光部28側の第2の導光路26Hの径が光源24側の第1の導光路21Hの径よりも小さいことが好ましい。
光吸収性の弾性体としては、具体的には、カーボンブラックやカーボンナノチューブなどが分散された、黒色のポリジメチルシロキサン(PDMS)などのシリコーン樹脂を好ましく用いることができる。
試料チューブ受容穴29は、PCRチューブ、または、試料チューブ、例えば1.5mLの試料チューブ若しくは2.0mLの試料チューブに対応する形状および大きさとすることができる。
試料ブラケット25は、外部からの迷光の入射を抑止する観点から、黒色であることが好ましい。
例えば波長560nm付近の光の吸光度からBCA法によって、あるいは、波長600〜700nm付近の光の吸光度からブラッドフォード法によって、たんぱく質の濃度を定量することができる。
上部ヒーター部材30Aおよび下部ヒーター部材30Bとしては、各々、ポリイミドフィルム中にステンレス製の抵抗線によるパターンが貼り付けられてなるシート状ヒーターを用いることができる。
上部ヒーター部材30Aおよび下部ヒーター部材30Bによる加熱温度としては、試料チューブWの天井面における結露を防止する観点から、上部ヒーター部材30Aによる温度が下部ヒーター部材30Bによる温度よりも高いことが好ましい。
具体的には、断熱層は、試料ブラケット25と第1の導光路形成体21との間にこれらと接触して配置された第1の断熱層32A、および、試料ブラケット25と第2の導光路形成体26との間にこれらと接触して配置された第2の断熱層32Bよりなる。
第1の断熱層32Aおよび第2の断熱層32Bの、第1の導光路形成体21および第2の導光路形成体26における第1の導光路21Hおよび第2の導光路26Hに対向する位置には、光が通過する光通過穴38A,38Bがそれぞれ形成されている。
第1の断熱層32Aおよび第2の断熱層32Bの厚みは、例えば10〜3000μmであることが好ましい。
この光学測定器10において、上部ヒーター部材30Aおよび下部ヒーター部材30Bの少なくとも一方によって加熱処理が行われると、試料チューブWの温度が上昇して熱を発する。この試料チューブWから発された熱は、試料ブラケット25と、第1の断熱層32Aおよび第2の断熱層32Bにおいて遮断される。
例えば、加熱機構として上部ヒーター部材30Aおよび下部ヒーター部材30Bの一方が設けられた構成のものであっても、上記の効果が得られる。
本発明の第2の実施の形態の光学測定器は、断熱層が空気層により構成されていること以外は、第1の実施の形態に係る光学測定器と同様の構成を有する。
空気層は、例えば略均一の厚みを有する板状の空隙とすることができ、空気層の厚みは、例えば100〜3000μm程度であることが好ましい。
例えば、空気層の形状は、試料ブラケットと導光路形成体との接触面積が小さく抑制された構成であればよく、略均一の厚みを有する板状の連続的なものに限定されない。具体的には、空気層は、例えば試料ブラケットおよび導光路形成体にそれぞれ条溝が形成され、試料ブラケットおよび導光路形成体が互いに線接触することによって区画される形状の断続的な空隙とすることができる。
本発明の第3の実施の形態の光学測定器は、試料ブラケットが断熱性を有する材料からなり、第1の断熱層および第2の断熱層が設けられていないこと以外は、当該第1の実施の形態に係る光学測定器と同様の構成を有する。
具体的には、試料ブラケットと第1の導光路形成体および第2の導光路形成体とが直接接触して配置されており、断熱層が試料ブラケットのみによって構成されている。
11 筺体
12 蓋
16 操作部
17 支持脚
18 光学測定機構
19 電池室
20 測定部
21 第1の導光路形成体
21H 第1の導光路
23A,23B 収容用凹所
24 光源
25 試料ブラケット
26 第2の導光路形成体
26H 第2の導光路
27A,27B 光通過穴
28 受光部
29 試料チューブ受容穴
30A 上部ヒーター部材
30B 下部ヒーター部材
32A 第1の断熱層
32B 第2の断熱層
38A,38B 光通過穴
W 試料チューブ
Claims (4)
- 測定試料が収容された試料容器が配置される測定部に導光路を介して測定用光を入射させる光源と、前記測定部から出射される検出用光を、導光路を介して受光する受光部とを有する光学測定器であって、
前記測定部に配置された試料容器を加熱する加熱機構を備え、
当該加熱機構または前記試料容器と、前記光源および受光部の少なくとも一方との間における前記導光路上以外の領域に、断熱層が設けられていることを特徴とする光学測定器。 - 前記加熱機構は、前記測定部に配置された試料容器の上部を加熱するヒーターおよび下部を加熱するヒーターの少なくとも一方を有することを特徴とする請求項1に記載の光学測定器。
- 前記断熱層が、樹脂部材、断熱シートまたは空気層により形成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光学測定器。
- 前記断熱層が、前記試料容器の外表面に接触する樹脂部材により形成されていることを特徴とする請求項3に記載の光学測定器。
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