JP2017058883A - 座標入力装置及びその制御方法、制御装置、コンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の指示部からの反射光が部分的に重複した場合であっても各指示具の入力座標を正確に取得することが可能な座標入力の技術を提供する。【解決手段】入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置は、入力面に対して光を投光する投光部と、入力面に指示された指示手段が投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットと、各センサユニットについて受光部における反射光の受光分布に基づき指示手段による指示の方向を検出し、当該方向に基づき指示位置を取得する取得手段とを備える。取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が受光部のいずれかにおいて重複した場合に、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する。【選択図】 図10
Description
本発明は座標入力装置及びその制御方法、制御装置、コンピュータプログラムに関し、特に、指示手段によって座標入力面に入力された座標位置を光学的に検出する技術に関する。
情報の入力や選択をするために指やスタイラス等の指示部によって座標入力面に入力された座標位置を検出する各種方式の座標入力装置(タッチパネルやデジタイザ)が提案、または製品化されている。例えば、特殊な器具等を用いずに、指で画面上をタッチすることで、PC(パーソナルコンピュータ)やタブレット端末、スマートフォン等の操作を簡単に行うことがきるタッチパネル等が広く用いられている。
座標入力の方式としては、抵抗膜方式、電磁誘導方式、静電誘導方式、光学方式等、種々のものがある。光学方式のうち、入力面への指示部の反射光により指示位置を求める直接反射光方式を採用した構成が特許文献1に記載されている。特許文献1の構成は、複数の投光部から投光された光が入力面上の指示部において反射すると、その反射光を複数の受光部で検出し、各受光部が入射光を検出した角度に基づき指示位置を特定する。
指示部からの反射光の性質は、指示部の反射表面状態に依存する。指示部として、指やペン等の反射表面が再帰反射特性を持たない場合、指示部からの反射光は拡散光となる。拡散光は、その光路長の増大に伴い広範囲に拡散する。したがって、指示部から受光部までの距離により、受光部による受光強度は大きく変動する。そこで、指示部からの反射光のみならず遮光情報を用いる方式を含めた光学方式の座標入力装置が知られている。
反射光や遮光情報を用いて座標を入力する構成においては、複数の指示部により複数の指示が同時に入力された場合、指示部の入力位置と受光部との位置関係によっては、指示部の入力位置を正しく特定することができない場合がある。そこで、複数の入力に対応するためには、実際に入力された指示部の数よりも多数の候補点から、実際に指示された位置を判別する虚実判定を行う必要がある。
特許文献2、特許文献3には、受光部で検出された受光情報の画素方向の幅を比較して虚実判定を行う構成が記載されている。
しかしながら、特許文献2、特許文献3の構成のように、受光部で検出された受光情報の画素方向の幅を比較して複数入力時の虚実判定を行う構成においては、予め指示位置の座標を求める必要がある。また、受光情報の一部が重複した場合に正確に指示位置を求めることが困難である。
本発明は、複数の指示具を用いて座標を入力した場合において、複数の指示部からの反射光が部分的に重複した場合であっても各指示具の入力座標を正確に取得することが可能な座標入力の技術を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明による座標入力装置は以下の構成を備える。即ち、
入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置であって、
前記入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットと、
前記第1、第2のセンサユニットの各々について前記受光部における前記反射光の受光分布に基づき前記指示手段による指示の方向を検出し、当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得手段と
を備え、
前記取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する。
入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置であって、
前記入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットと、
前記第1、第2のセンサユニットの各々について前記受光部における前記反射光の受光分布に基づき前記指示手段による指示の方向を検出し、当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得手段と
を備え、
前記取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する。
本発明によれば、複数の指示具を用いて座標を入力した場合において、複数の指示部からの反射光が部分的に重複した場合であっても各指示具の入力座標を正確に取得することが可能な座標入力の技術を提供することができる。
以下、添付の図面を参照して、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施形態において示す構成は一例に過ぎず、本発明は図示された構成に限定されるものではない。
<<実施形態1>>
(座標入力装置の構成)
まず、本発明の一実施形態(実施形態1)に係る座標入力装置の概略構成について図1を用いて説明する。図1において、1は、平面状の例えばホワイトボード等の座標入力面である。この座標入力面1に対して、指やペン等の指示部2により座標入力面1にタッチして指示を行い、座標入力を行う。図1においては、複数の指示部(ここでは2つの指示部2−1と2−2)で指示した場合を例示している。光学的な作用、動作に関しては後述する。
(座標入力装置の構成)
まず、本発明の一実施形態(実施形態1)に係る座標入力装置の概略構成について図1を用いて説明する。図1において、1は、平面状の例えばホワイトボード等の座標入力面である。この座標入力面1に対して、指やペン等の指示部2により座標入力面1にタッチして指示を行い、座標入力を行う。図1においては、複数の指示部(ここでは2つの指示部2−1と2−2)で指示した場合を例示している。光学的な作用、動作に関しては後述する。
もちろん、座標入力面1はホワイトボードの平面に限定されるものではなく、壁面等の通常は入力面として想定されない平面であってもよい。座標入力面1は、例えばフロントプロジェクターの投影スクリーンと兼用される。図1に示したような座標入力面1の周辺部、例えば、隅の領域に、本実施形態の座標入力装置3が装着される。座標入力装置3からは、指示部2で指示した位置の座標入力面1における座標情報が不図示のPC等に送信され、同じくPCに接続されたフロントプロジェクターを介して、指示位置の座標が座標入力面1に投射され表示される。したがって、あたかも紙に描くがごとく、あるいは、タッチパネルとして、座標入力面1を操作することができる。
座標入力装置3は、所定距離dを離して配置された2つのセンサユニット4−1と4−2、センサユニット4−1と4−2に接続された演算制御回路5、及び、不図示の外部PCとのインターフェースユニットを備える。座標入力装置3は前述のように座標入力面1の入力領域の周辺部、例えば、隅の領域に装着される。その場合の装着部として、座標入力面1が鉄板で構成される場合には、マグネット部が本実施形態の座標入力装置3の不図示筺体裏面に備えられる。センサユニット4−1と4−2は、それぞれ投光部と受光部により構成されているが、詳細は図2を参照して説明する。
図2は、座標入力面1に本実施形態の座標入力装置3を装着し、指示部2で指示した状態を側面から見た概略断面説明図である。センサユニット4内には、投光部と受光部が設けられている。投光部は、発光源を駆動する電気回路を備えた駆動部6と赤外LEDあるいは赤外レーザー等の発光源7を有する。受光部は、受光レンズ等の受光光学系8と、CCDあるいはCMOS等の撮像デバイス9と、これを実装するセンサ基板10とを備える。撮像デバイス9は1次元のライン状に配置された複数の画素から構成され、各画素が検出した光量の分布によって、センサユニット4から見た指示部2の方向が判定される。図2の例では、投光部と受光部は、座標入力面1上に形成される2次元座標系に対して垂直方向に上下に重ねて略同位置に配置されている。発光源7からは、座標入力面1に平行な2次元方向に扇状に広がった光線が投射される。扇型の投射範囲は、センサユニット4−1と4−2のいずれについても、想定する座標入力面1の入力領域をカバーするように設定される。本実施形態では、扇型の投射範囲の形成を、発光源7自体に投射指向性を持たせて実現する例を説明するが、発光源7の投射側に、別の投光レンズ等の光学系を設け実現してもよい。あるいは、扇型の投射範囲を形成するために、発光源7をレーザーとしてビーム光線を座標入力面1に平行で所定の角度範囲を走査させる構成としてもよい。センサユニット4−1、4−2は、それぞれ上記のような構成を備える。
図1及び図2に示されるように、指示部2で座標入力面1の入力領域が指示されると、発光源7からの光が指示部2表面で反射し反射光の一部が受光光学系8を経て撮像デバイス9で受光される。さらに撮像デバイス9で電気信号に変換され、センサ基板10を経て、演算制御回路5へ電気信号が送信される。この電気信号は、センサユニット4の撮像デバイス9における画素番号に対応した電気信号の電圧、つまり、光量レベルに対応した情報であり、いわゆる光量分布情報である。予めセンサユニット4に対する座標入力面1に平行方向の角度情報と撮像デバイス9の画素番号との対応関係にかかわるデータを取得しておけば、上記画素光量分布情報から指示部2からの反射光の角度情報を得ることができる。センサユニット4−1と4−2は既知の所定の距離dを隔てて配置されているので、演算制御回路5において、各センサユニット4−1と4−2から反射光の光量情報から求める各角度情報により、公知の三角測量の手法により、指示部2の座標が算出される。同等の作用・効果を得ることができれば、例えば光源の位置、センサユニットの数等を上記に限定するものではない。
図3は、本実施形態の座標入力装置3に含まれる電気回路の概略構成を示すブロック図である。本実施形態における制御装置としての演算制御回路5には、動作機能ブロックとして、更に、座標演算回路部11が設けられている。座標演算回路部11は、各センサユニット4−1、4−2において反射光を検出した画素情報から角度情報を算出し、指示部2の指示座標を算出する。更に、投光部の駆動部6を制御する投光駆動回路部12と、不図示のPC等へ算出した座標情報を送信するインターフェース回路部13とが設置される。
投光駆動回路部12から駆動部6に対して発光源7が発光する駆動電流あるいは駆動パルス幅を制御することにより、投光強度の制御を行う。以下では、駆動パルスを一定にして、駆動電流を制御する場合の例を説明するが、駆動パルスを制御してもよいし、両方制御してもよい。指示部2からの反射光の受光信号をセンサ基板10から受け取った座標演算回路部11は、前述の通り、反射光に関わる画素情報から角度情報を導出して、指示部2の指示座標を算出する。なお、回路ブロックの区分けは、動作機能により便宜的に示したものであり、実際の電気回路のハード構成の区分けを示すとは限らない。例えば、主な演算回路をFPGAとDSPにより構成したハードウェアにおいては、個別に機能を割り当てるのではなく、それぞれ、座標演算回路部11と投光駆動回路部12の両方の機能を跨って有する構成でもよい。なお、FPGAはField-Programmable Gate Arrayの略称であり、DSPはDigital Signal Processorの略称である。
(座標入力と受光分布)
次に、指示部2の指示位置と、各センサユニット4の撮像デバイス9における受光分布との関係について説明する。図4は、センサユニット4の投光部から発せられた光を指示部2が反射した反射光の、受光部における受光量分布を示す図である。図4(a)、図4(b)はそれぞれセンサユニット4−1、4−2における受光量分布を示しており、いずれも横軸は撮像デバイス9の画素番号、縦軸は受光レベルに対応した電圧を示している。
次に、指示部2の指示位置と、各センサユニット4の撮像デバイス9における受光分布との関係について説明する。図4は、センサユニット4の投光部から発せられた光を指示部2が反射した反射光の、受光部における受光量分布を示す図である。図4(a)、図4(b)はそれぞれセンサユニット4−1、4−2における受光量分布を示しており、いずれも横軸は撮像デバイス9の画素番号、縦軸は受光レベルに対応した電圧を示している。
図4の2−1、2−2は図1の対応する指示部を示す。ここでは、図1において示したように、2つの指示部2−1と2−2でそれぞれa、bに位置に指示した場合の受光量分布を各センサユニット4−1、4−2ごとに図4(a)、図4(b)に示す。図1で示した、2つの指示部2−1と2−2とセンサユニット4−1と4−2の位置関係により、受光量分布の図4(a)と図4(b)で示すように、センサユニット4−1、4−2における受光量分布は異なった状態となる。
まずセンサユニット4−2から見て図1の指示部2−1と2−2の位置a、bは距離は異なるが、検出角度が十分に離れた関係にある。したがって、センサユニット4−2の投光部からの光が指示部2−1と2−2で反射した反射光は、図4(b)に示すように、撮像デバイス9の画素番号軸上において離れて分離された受光分布となる。一方、センサユニット4−1から見て図1の指示部2−1と2−2の位置aとbの位置関係は距離が異なるとともに角度も近く、結果として重なった受光分布となる。その場合、センサユニット4−1に近い方のaに位置する指示部2−1に対しては、センサユニット4−1の投光部からの光がすべて反射して、受光される。しかし、センサユニット4−1から遠い方のbに位置する指示部2−2に対しては、センサユニット4−1の投光部からの光のうち、一部は、手前の指示部2−1に遮られて光は到達せず、遮られなかった残りの光のみが到達し反射して、受光される。したがって、指示部2−1と2−2で反射した反射光は、図4(a)に示すように、撮像デバイス9の画素番号軸上において重複した受光分布となる。図4(a)で示した破線の部分は、本来、指示部2−1が存在しなければ得られていたであろう光量分布であるが、この情報が得られない。
図5は、センサユニット4から指示部2までの距離と受光信号レベル(電圧)の関係を示した説明図である。背景技術で説明したように、指示部からの反射光は拡散光であり、その光路長の増大に伴い広範囲に散逸する。したがって、指示部2から受光部までの距離が増大するに従い、受光部における受光強度は大幅に低減する。その関係を示したのが図5である。したがって、図4の受光量分布において、光量レベルは、各センサユニット4−1と4−2から指示部2−1、2−2までの距離が反映されたものとなる。つまり、指示部2−1と2−2で反射した反射光が重複した受光分布となる図4(a)の光量分布においても、センサユニット4−1から指示部2−1と2−2までの距離の大小関係がそのまま光量レベルに表れるのは前述の通りである。この距離によるレベル差を利用した指示位置検出に関しては後述する。
(センサユニットの動作タイミング)
図6は、センサユニット4を動作させるために演算制御回路5が出力する制御信号、及びセンサユニット4の動作を示すタイミングチャートである。71、72、73は、演算制御回路5の特に座標演算回路部11による撮像デバイス制御用の制御信号である。71はシャッタ信号(SH信号)であり、SH信号の間隔により撮像デバイス9のシャッタ解放時間が決定される。72はセンサユニット4−1の撮像デバイス9へのゲート信号であり、ゲート信号72のトリガに応じて、撮像デバイス9内部の光電変換部の電荷の、読み出し部への転送が開始される。74はセンサユニット4−1の撮像デバイス9のシャッタ解放時間を示す信号である。73はセンサユニット4−2の撮像デバイス9へのゲート信号であり、75はセンサユニット4−2の撮像デバイス9のシャッタ解放時間を示す信号である。
図6は、センサユニット4を動作させるために演算制御回路5が出力する制御信号、及びセンサユニット4の動作を示すタイミングチャートである。71、72、73は、演算制御回路5の特に座標演算回路部11による撮像デバイス制御用の制御信号である。71はシャッタ信号(SH信号)であり、SH信号の間隔により撮像デバイス9のシャッタ解放時間が決定される。72はセンサユニット4−1の撮像デバイス9へのゲート信号であり、ゲート信号72のトリガに応じて、撮像デバイス9内部の光電変換部の電荷の、読み出し部への転送が開始される。74はセンサユニット4−1の撮像デバイス9のシャッタ解放時間を示す信号である。73はセンサユニット4−2の撮像デバイス9へのゲート信号であり、75はセンサユニット4−2の撮像デバイス9のシャッタ解放時間を示す信号である。
76、77は演算制御回路5の特に投光駆動回路部12によるセンサユニット4−1とセンサユニット4−2の各々の発光源7への駆動信号である。SH信号71の最初の周期でセンサユニット4−1の発光源7を点灯するために駆動信号76が各々の駆動部6を経て発光源7へ供給される。そして、SH信号71の次の周期でセンサユニット4−2の発光源7を点灯するために信号77が、生成・供給される。発光源7の駆動、及び撮像デバイス9のシャッタ開放が終了した後に、撮像デバイス9の受光信号が座標演算回路部11に読み出される。また、次に述べる手法で画素情報から角度情報を算出する。
(受光分布に基づく座標判定)
図7は、座標演算回路部11において、センサユニット4の指示部2からの反射光に関わる光量分布情報から指示位置に相当する画素情報つまり角度情報を算出する処理の説明図である。図7において、横軸は、撮像デバイス9の画素番号、縦軸は受光信号の電圧である。
図7は、座標演算回路部11において、センサユニット4の指示部2からの反射光に関わる光量分布情報から指示位置に相当する画素情報つまり角度情報を算出する処理の説明図である。図7において、横軸は、撮像デバイス9の画素番号、縦軸は受光信号の電圧である。
まず、得られた受光信号に対し、所定の検出閾値電圧V1でスライスした場合の光量分布信号の立ち上がりと立ち下がりにおける前後の互いに隣接する各2画素を求め、比例計算(線形補間)により、V1に相当する各画素Ns、Ntを算出する。更に、この立ち上がりと立ち下がりについて算出した2画素の中間画素Npvを指示部2の角度に相当する画素として導出する。
図7の例では、光量分布信号が立ち下がりにおいて検出閾値電圧V1を跨がる前後は、画素をNf-1、Nfであり、これらの画素の電圧はそれぞれLt-1、Ltである。ここで、画素番号Nf-1、Nfの画素間における光量分布信号を直線で近似すると、V1に相当する画素の画素番号Ntは次のようになる。
Nt=Nf-1+(Nf−Nf-1)・(Lt-1−V1)/(Lt-1−Lt)
同様にして、光量分布信号が立ち上がりにおいて検出閾値電圧V1を跨がる画素の画素番号Nsを求めることができる。そうすると、中間画素Npvは、NsとNtの平均値(Npv=(Ns+Nt)/2)として算出される。
同様にして、光量分布信号が立ち上がりにおいて検出閾値電圧V1を跨がる画素の画素番号Nsを求めることができる。そうすると、中間画素Npvは、NsとNtの平均値(Npv=(Ns+Nt)/2)として算出される。
この中間画素の画素情報をもとに、予め取得・設定していた画素と角度との関係を示す関数を用いて、指示位置の角度を求める。そして、センサユニット間の所定距離dと各センサユニットにおける指示部2に対応する角度により、指示部2の指示位置の座標を算出する。このように、一つの検出閾値における画素幅の中心値を基に座標を算出することができる。
この手法を、複数の指示部2により指示がなされる場合に適用して座標を算出する例を図8及び図9を参照して説明する。図8は、2つの指示部2−1、2−2により座標入力がなされている座標入力面1を示す図であり、図9は、センサユニット4−1、4−2における受光分布を示す図である。
図8の場合のセンサユニット4−1、4−2と指示部2−1、2−2との位置関係は、図4の場合と異なり、各センサユニット4−1、4−2いずれから見ても、指示部2−1、2−2がお互いに角度が離れている。したがって、受光量分布は、図9(a)、(b)に示すように、センサユニット4−1、4−2いずれにおいても、指示部2−1、2−2からの反射光の光量分布は分離している。この分離した光量分布に対して、検出閾値電圧V1でスライスして立ち上がりと立ち下がりにつき算出した2画素の中間画素を求め、そして前述の処理で角度を求めることができる。
センサユニット4−1、4−2いずれに対しても指示部2−1、2−2に相当する角度が2つ算出されるので、結果として、図8で示すように、a、b、a’、b’の4つの座標候補点が得られる。そして、このa、bか、a’、b’のいずれが実際に指示された位置なのかを更に判別する必要がある。これは、いわゆる虚実判定であり、例えば、4つの座標候補点の受光情報の画素方向の幅を比較する手法や、受光情報の光量レベルを比較する手法等により可能である。しかし、図4(a)のように、何れかのセンサユニット4における受光情報に部分的な重なりがある場合には、受光情報の画素方向の幅や光量レベルを単純に比較するだけでは、各受光情報を分離して中心画素の位置を求めることは困難である。したがって、このような場合には、更なるセンサユニットや、継承アルゴリズムを実装した装置等の追加的な構成を設けない限り、虚実判定は一般に困難であった。なお、複数の反射光の分布の中心画素が正確に一致した場合は、複数の指示具はいずれもその中心画素に対応する角度の方向に存在するため、各指示具の座標を正確に求めることができる。
(虚実判定処理)
本実施形態の構成においては、受光部において複数の光量分布の一部が重なった場合に、重なった光量分布の形状から、各光量分布を分離して、虚実判定を行う。具体的には、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する。このため、上記センサユニット4における指示部2からの反射光の受光情報に部分的な重なりがある場合においても、虚実判定を行うことができる。これに関して、図10のフローチャートを用いて説明する。以下の各ステップは、制御装置としての演算制御回路5の制御に基づき実行される。
本実施形態の構成においては、受光部において複数の光量分布の一部が重なった場合に、重なった光量分布の形状から、各光量分布を分離して、虚実判定を行う。具体的には、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する。このため、上記センサユニット4における指示部2からの反射光の受光情報に部分的な重なりがある場合においても、虚実判定を行うことができる。これに関して、図10のフローチャートを用いて説明する。以下の各ステップは、制御装置としての演算制御回路5の制御に基づき実行される。
まず、S101において、発光源7を駆動して発光させ、撮像デバイス9において指示部2からの反射光を受光する。そして、受光データを読み出して取得する。
次に、S102において、図4のように、相対的に低い所定の検出閾値V1で受光信号に対しスライスした場合の光量分布信号の立ち上がりと立ち下がりにおける前後各2画素を求める。検出閾値V1は、例えば、受光部から最も遠い座標入力面1内の位置に指示部2から指示がされた場合に、その指示部2からの反射光の受光レベルよりもやや小さい値とすることができる。更に、比例計算により、V1に相当する各画素を算出する。これは、図7を参照して説明した光量分布情報処理の初段の処理である。そして、立ち上がりと立ち下りを反射光の一つの組としてカウントし、各センサユニット4において受光した反射光信号が2つであるか、1つであるかの情報を得る。
次に、S103で、この各センサユニット4において受光した反射光信号数の組み合わせ(指示部2−1の受光数、指示部2−2の受光数)が、(2、1)かあるいは、(1、2)かどうかを判断する。この判断対象は、図1のようなセンサユニット4と指示部2との位置関係の場合であるかどうかである。つまり、図4に示したように、何れかのセンサユニット4の受光情報の数が2であるが、他方のセンサユニット4の受光情報に重複が発生して分離できず受光情報の数が1の場合であるかどうかである。前述のように、センサユニット4から見て指示部2−1、2−2からの受光分布の少なくとも一部が重なる位置関係にあるときは受光情報の数は1となり、重ならないときは2となる。受光した信号の数の組み合わせ(指示部2−1の受光数、指示部2−2の受光数)が、(2、1)かあるいは、(1、2)と判別された場合(S103でYES)には、S104へ進む。(1、1)又は(2、2)と判別された場合(S103でNO)には、S107へ進む。
S104で、検出された信号数が1となった受光情報に対し、次の処理を行う。検出閾値V1よりも相対的にレベルが高い検出閾値V2で再度受光信号に対しスライスした場合の光量分布信号の立ち上がりと立ち下がりにおける前後各2画素を求め比例計算により、V2に相当する上がりと立ち下がり各画素を算出する。図1に示すような一つのセンサユニット4に対する2つの指示部2までの距離の差で受光レベルの差が発生する。検出閾値V2は、この検出する受光レベルの差に対応した値に設定される。例えば、検出閾値V2は、図4(a)に示すように、指示部2−1に対し、想定される距離差の位置bの指示部2−2からの反射光レベルより高いレベルに設定される。このような検出閾値V2は、例えば、検出された信号数が2の受光部において検出された2つ受光分布のピークに対応する受光量の間の値とすることができる。したがって、S104では、検出閾値V2で、位置aの指示部2−1からの反射光の受光信号に対してのみスライスされた光量分布信号の立ち上がりと立ち下がり画素情報が得られる。
次に、S105で、検出閾値V1と検出閾値V2の二つの閾値に対応する光量分布信号の立ち上がりと立ち下がり画素情報から予め取得していた画素と角度の関数により対応する角度を算出する。検出閾値V1に関しては、検出された信号数が1となった受光情報のみでなく、検出された信号数が2となった他方のセンサユニット4−2の受光情報に対しても処理を行う。受光情報の数が2である他方のセンサユニット4−2に対しては、検出閾値V1でスライスされた指示部2−1、2−2それぞれの立ち上がりと立ち下がり角度計4個が算出される。一方、受光情報の数が1であるセンサユニット4−1に対しては、検出閾値V1でスライスされた立ち上がりと立ち下がりの2つの角度情報を算出する。この受光情報の数が1であるセンサユニット4−1の角度情報は、図1に示す指示部2−1、2−2の反射光が重複して一体となった角度の両端の範囲を示す。以上のセンサユニット4−2とセンサユニット4−1の角度情報との組み合わせにより、図1に示す、a、b、a’、b’の4つの座標候補点を算出する。この受光情報の端部角度により、交差する3直線の内接円を利用して指示位置候補を算出することができる。すなわち、センサユニット4−2において検出された2つの受光情報のそれぞれについて、
・両端部の角度に対応する2つの直線。
・センサユニット4−1において検出された受光情報の一方の端部の角度に対応する1つの直線。
の3直線に内接する4つの円が、座標候補点a、b、a’、b’にあたる。このa、bか、a’、b’のいずれが実際に指示された位置なのかを、S106において次に判別する。
・両端部の角度に対応する2つの直線。
・センサユニット4−1において検出された受光情報の一方の端部の角度に対応する1つの直線。
の3直線に内接する4つの円が、座標候補点a、b、a’、b’にあたる。このa、bか、a’、b’のいずれが実際に指示された位置なのかを、S106において次に判別する。
次に、S106で、検出閾値V1と検出閾値V2の二つの閾値に対応する光量分布信号の立ち上がりと立ち下がり画素情報の中間画素を算出する。そして、その中心画素を比較し、その比較結果により虚実判定を行う。検出閾値V1でスライスされた立ち上がりと立ち下がり画素情報は、図4(a)で示されるように、位置aの指示部2−1の反射光と位置bの指示部2−2の反射光が重なった受光情報によるものである。ここで、検出閾値V1による立ち上がりと立ち下がりで形成する画素幅をW1、中心画素をC1とする。一方、検出閾値V2でスライスされた立ち上がりと立ち下がり画素情報は、図4(a)で示されるように、位置aの指示部2−1の反射光のみの反射光の受光情報によるものである。位置aの指示部2−1からの反射光は、位置bの指示部2−2と比べて、センサユニット4−1からの距離が近いので、受光レベルが大きく、相対的に大きな検出閾値V2で検出される。ここで、検出閾値V2による立ち上がりと立ち下がりで形成する画素幅をW2、中心画素をC2とする。
ここで、中心画素C1とC2の画素番号を比較する。図1の位置関係の場合、図4(a)で示されるように、C2<C1であり、この情報により、角度が小さい側の位置aに指示部2−1が位置し、角度が大きく相対的に遠いbの位置に指示部2−2が位置していると判断される。したがって、a、bが実で、a’、b’が虚であると判断される。仮に、C2>C1となる場合、角度が大きい側の位置a’に指示部2−1が位置し、角度が小さく相対的に遠いb’の位置に指示部2−2が位置していると判断される。このようにして中心画素同士を比較した結果、実と判断された2つの座標を出力する。例えば、前述の4つの円のうち、実の指示位置に対応するa、bに対応する円の中心座標を出力する。
一方、S103で、この各センサユニット4において受光した信号の数の組み合わせ(指示部2−1の受光数、指示部2−2の受光数)が、(2、1)かあるいは、(1、2)でない場合(S103でNO)には、次のように処理する。すなわち、(1、1)の単数入力、あるいは、(2、2)の受光情報に重複のない複数入力の場合である。まず、S107で、センサユニット4−1、4−2何れの受光情報に対しても、検出閾値V1に対応する光量分布信号の立ち上がりと立ち下がり画素情報の中間画素を導出する。そして、予め取得していた画素と角度の関数により指示部2に相当する角度を算出し出力する。次に、S108で、(1、1)の場合には単数入力の座標を算出する。そして、(2、2)の場合には、図9を参照して説明したように、画素方向の幅を比較する手法、受光情報の光量レベルを比較する手法等を用いた処理により、4つの座標候補点に対し虚実判定を行い、実座標を算出し出力する。
以上のように、本実施形態においては、レベルの異なる複数の検出閾値における受光情報による立ち上がりと立ち下りによる中心画素を比較して虚実判定を行う。このため、センサユニットから重複した位置にある指示部の座標を正確に検出することができる。
なお、上記実施形態においては、S106において、異なるレベルの検出閾値に対応する中心画素比較手法を示した。しかし、センサユニット4からの距離が異なる指示位置2の異なる受光レベルの反射光をその光量レベルではなく対応する画素情報の差異により判別できる方式であればこれに限定されない。例えば、異なるレベルの検出閾値の立ち下り画素、立ち上がり画素同士を比較し、その差異を比較することにより虚実判定してもよい。
また、本実施形態では、座標入力装置を制御する制御装置を専用の演算制御回路5により実現する場合の例を説明したが、装置構成はこれに限られない。例えば、汎用の情報処理装置やプログラム可能な論理回路がコンピュータプログラムに基づき、座標入力装置の動作を制御するようにしてもよい。
<<実施形態2>>
次に、本発明の第二の実施形態(実施形態2)に係る座標入力装置について説明する。実施形態1においては、2入力時に一つのセンサユニットにおいて受光が重複した場合に、異なるレベルの検出閾値に対応する中心画素を比較して虚実判定を行う例を説明した。しかし、センサユニット4からの距離が異なる指示部2による異なる受光レベルの反射光を画素情報の差異により判別できる方式であれば、これに限定されない。例えば、実施形態1の検出閾値V1と同等レベルの検出閾値によりスライスされた立ち上がりと立ち下り画素の中心画素を求め、この中心画素と、受光レベルのピーク画素とを比較して虚実判定を行ってもよい。
次に、本発明の第二の実施形態(実施形態2)に係る座標入力装置について説明する。実施形態1においては、2入力時に一つのセンサユニットにおいて受光が重複した場合に、異なるレベルの検出閾値に対応する中心画素を比較して虚実判定を行う例を説明した。しかし、センサユニット4からの距離が異なる指示部2による異なる受光レベルの反射光を画素情報の差異により判別できる方式であれば、これに限定されない。例えば、実施形態1の検出閾値V1と同等レベルの検出閾値によりスライスされた立ち上がりと立ち下り画素の中心画素を求め、この中心画素と、受光レベルのピーク画素とを比較して虚実判定を行ってもよい。
図11は、本実施形態におこる虚実判定を説明する受光情報を示した図である。実施形態1とは異なり、本実施形態における処理においては、本実施形態の検出閾値V1は、実施形態1で用いた検出閾値V1と略同レベルの比較的低い値に設定される。更に、受光分布情報に対して、レベルが最大となるピーク位置Pの画素検出を行う。この処理は、図11(a)の距離が異なる指示部2の異なる反射光の受光情報が重複し信号数が1となった場合のみ適用される。
図12は本実施形態における虚実判定処理の処理手順を示すフローチャートである。図12において、実施形態1で参照したS106以外の処理は図6と同様であるため、S106に関してのみ説明を行う。例えば、図11(a)の距離が異なる指示部2の異なる反射光の受光情報が重複し信号数が1である場合、S106の処理が行われる。図12の各ステップも、演算制御回路5の制御に基づき実行される。
S106では、ピーク位置の画素Pと検出閾値V1における中心画素Cを比較し、その比較結果により虚実判定を行う。検出閾値V1でスライスされた立ち上がりと立ち下がり画素情報は、図11(a)で示されるように、位置aの指示部2−1の反射光と位置bの指示部2−2の反射光が重なった受光情報によるものである。ここで、上がりと立ち下がりで形成する画素幅はW、中心画素は前述の通りCである。一方、検出された受光レベルが最大となるピーク位置の画素Pは、図11(a)で示されるように、位置aの指示部2−1の反射光のみの反射光の受光情報によるものである。位置aの指示部2−1からの反射光は、位置bの指示部2−2と比べて、センサユニット4−1からの距離が近いので、受光レベルが大きい。したがって、受光レベル最大となるピーク位置の画素Pは位置aの指示部2−1からの反射光によるものとなる。
ここで、ピーク画素Pと中心画素Cの画素番号を比較する。図1の位置関係の場合、図4(a)で示されるように、P<Cであり、角度が小さい側の位置aに指示部2−1が位置し、角度が大きく相対的に遠いbの位置に指示部2−2が位置していると判断される。したがって、a、bが実で、a’、b’が虚であると判断される。仮に、P>Cとなる場合、図1の角度が大きい側で相対的に近い位置a’に指示部2−1が位置し、角度が小さく相対的に遠いb’の位置に指示部2−2が位置していると判断される。そして、ピーク画素と中心画素を比較した結果、実と判断された2つの座標を出力する。
上記のように本実施形態では、複数の指示部からの反射光が重複している受光分布のピークに対応する受光画素と、低い光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、虚実判定を行う。このため、受光部における受光分布が重複した場合であっても、特別な構成を設けることなく、それらを分離して適切に虚実を判定し、指示位置の座標を正確に取得することができる。したがって、単眼のシンプルな構成のセンサユニットで構成することができ、更に、事前の座標算出処理の負担なしに、受光情報が重複する状況においても正確に虚実判定ができ、高精度な座標検出が可能となる。
<<その他の実施形態>>
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
1:座標入力面、2:指示部、3:座標入力装置、4:センサユニット、5:演算制御回路、6:駆動部、7:発光源、8:受光光学系、9:撮像デバイス、10:センサ基板、11:座標演算回路部、12:投光駆動回路部、13:インターフェース回路部
Claims (12)
- 入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置であって、
前記入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットと、
前記第1、第2のセンサユニットの各々について前記受光部における前記反射光の受光分布に基づき前記指示手段による指示の方向を検出し、当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得手段と
を備え、
前記取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する
ことを特徴とする座標入力装置。 - 前記第2の光量レベルは前記第1の光量レベルよりも大きく、
前記第1の光量レベルに対応する受光画素の数に基づき、複数の指示手段からの反射光による受光分布が重複しているか否かを判別する判別手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項1に記載の座標入力装置。 - 互いに隣接する2つの受光画素であって、一方の受光画素の受光量は前記第1の光量レベルよりも小さく、他方の受光画素の受光量は前記第1の光量レベルよりも大きい受光画素に基づき、前記第1の光量レベルに対応する受光画素を特定する特定手段をさらに備えることを特徴とする請求項2に記載の座標入力装置。
- 前記受光部が有する複数の受光画素の各々は、当該受光部から見た角度に対応し、
前記取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部の一方において重複した場合に、当該受光部における前記第1の光量レベルに対応する2つの受光画素の一方の角度に対応する1つの直線と、他方の前記受光部における前記第1の光量レベルに対応する2つの受光画素の角度に対応する2つの直線と、に内接する円の中心を前記座標候補点として取得する
ことを特徴とする請求項3に記載の座標入力装置。 - 前記取得手段は、指示手段からの反射光による前記受光部における受光分布の中心に基づき、当該受光部から見た該指示手段の方向を検出することを特徴とする請求項3に記載の座標入力装置。
- 前記取得手段は、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部の一方において重複した場合に、他方の前記受光部における受光分布の受光レベルに基づいて前記複数の座標候補点の虚実を判別することを特徴とする請求項3から5のいずれか1項に記載の座標入力装置。
- 前記特定手段は、互いに隣接する2つの受光画素であって、一方の受光画素の受光量は前記第2の光量レベルよりも小さく、他方の受光画素の受光量は前記第2の光量レベルよりも大きい受光画素に基づき、前記第2の光量レベルに対応する受光画素をさらに特定することを特徴とする請求項3から6のいずれか1項に記載の座標入力装置。
- 前記第2の光量レベルは、前記複数の指示手段からの反射光が重複している受光分布のピークに相当する受光レベルであることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の座標入力装置。
- 入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置であって、
前記入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットと、
前記第1、第2のセンサユニットの各々について前記受光部における前記反射光の受光分布のピークに基づき前記指示手段による指示の方向を検出し、当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得手段と
を備え、
前記取得手段は、
複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、当該重複した受光分布の形状に基づき、該重複した受光分布を該複数の指示手段の各々からの反射光による受光分布に分離する分離手段と、
当該分離した受光分布に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する判別手段と
を有する
ことを特徴とする座標入力装置。 - 入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットを備えた、入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置を制御する制御装置であって、
前記第1、第2のセンサユニットの各々について前記受光部における前記反射光の受光分布に基づき前記指示手段による指示の方向を検出する検出手段と、
当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得手段と
を備え、
複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定し、当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する
ことを特徴とする制御装置。 - 入力面に対して光を投光する投光部と、前記入力面に指示された指示手段が前記投光を反射した反射光を受光する複数の受光画素を有する受光部とをそれぞれ備えた第1、第2のセンサユニットを備えた、入力面に対する指示位置を検出する座標入力装置を制御する制御方法であって、
検出手段が、前記第1、第2のセンサユニットの各々について、前記受光部における前記反射光の受光分布に基づき前記指示手段による指示の方向を検出する検出工程と、
取得手段が、当該方向に基づき前記指示手段による指示位置を取得する取得工程と
を備え、
前記取得工程においては、複数の指示手段からの反射光による受光分布が前記受光部のいずれかにおいて重複した場合に、
第1、第2の光量レベルに対応する受光画素を特定する特定工程と、
当該第1の光量レベルに対応する受光画素と、第2の光量レベルに対応する受光画素との位置関係に基づき、複数の座標候補点の虚実を判別する判別工程と
が含まれる
ことを特徴とする制御方法。 - コンピュータを請求項10に記載の制御装置が備える各手段として機能させるためのコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015182225A JP2017058883A (ja) | 2015-09-15 | 2015-09-15 | 座標入力装置及びその制御方法、制御装置、コンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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JP2015182225A Pending JP2017058883A (ja) | 2015-09-15 | 2015-09-15 | 座標入力装置及びその制御方法、制御装置、コンピュータプログラム |
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