JP2017045491A - 半導体メモリ、メモリシステム - Google Patents
半導体メモリ、メモリシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017045491A JP2017045491A JP2015166486A JP2015166486A JP2017045491A JP 2017045491 A JP2017045491 A JP 2017045491A JP 2015166486 A JP2015166486 A JP 2015166486A JP 2015166486 A JP2015166486 A JP 2015166486A JP 2017045491 A JP2017045491 A JP 2017045491A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- data
- output terminal
- command
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1006—Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1084—Data input buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/105—Aspects related to pads, pins or terminals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
【解決手段】実施の形態に係る半導体メモリは、データを双方向に伝送可能なコモン入出力端子と、データを入力するための入力専用端子とデータを出力するための出力専用端子とからなるセパレート入出力端子と、に切替え可能な入出力端子と、メモリセルに対する読出し又は書込みを制御するアクセスコマンド毎に入力される入出力端子設定情報に基づいて、当該アクセスコマンドに応じた前記メモリセルの読出し又は書込みのデータを前記コモン入出力端子又は前記セパレート入出力端子のいずれを用いて伝送するかを切り替える制御回路とを備える。
【選択図】図1
Description
<実施の形態1>
実施の形態1に係る半導体メモリについて、図1を参照して説明する。図1は、実施の形態1に係る半導体メモリ10の構成を示す図である。図1に示すように、半導体メモリ10は、アドレスレジスタ11、レジスタ12、ロジック回路13、ロウデコーダ14、メモリセルコア15、センスアンプ16、カラムデコーダ17、レジスタ18、I/F回路20を備えている。
前述の実施の形態1では、図6に示したように、SIOモード時にCIOモードに対し入出力データのビット幅が半分になってしまい、SIOモード時のデータバス効率を50%以上にすることができない。実施の形態2では、SIOモード時のデータバス効率を改善する例を示す。
上述の実施の形態の半導体メモリ10を用いたメモリシステムについて説明する。図11は、実施の形態3に係るメモリシステム100の構成を示す図である。図11は、半導体メモリ10をネットワークスイッチに適用した例である。図11に示すように、メモリシステム100は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)40、バッファメモリ50、検索用メモリ51を備える。ASIC40と、バッファメモリ50、検索用メモリ51とは、それぞれバス60を介して接続されている。
11 アドレスレジスタ
12 レジスタ
13 ロジック回路
14 ロウデコーダ
15 メモリセルコア
16 センスアンプ
17 カラムデコーダ
18 レジスタ
20 I/F回路
21 データ変換回路
22 データ変換回路
30 トライステートバッファ回路
31 トライステートバッファ
31a レシーバ回路
31b バッファ回路
32 トライステートバッファ
32a レシーバ回路
32b バッファ回路
40 ASIC
41 メモリコントローラ
42 FIFO
43 コマンド監視回路
44 メモリ制御論理回路
45 PHY
46 内部バス
50 バッファメモリ
51 検索用メモリ
60 バス
100 メモリシステム
211 ラッチ回路
212 ラッチ回路
21A データ変換回路
211A ラッチ回路
212A ラッチ回路
213A マルチプレクサ
21B データ変換回路
211B ラッチ回路
212B ラッチ回路
213B マルチプレクサ
Claims (10)
- データを双方向に伝送可能なコモン入出力端子と、データを入力するための入力専用端子とデータを出力するための出力専用端子とからなるセパレート入出力端子と、に切替え可能な入出力端子と、
メモリセルに対する読出し又は書込みを制御するアクセスコマンド毎に入力される入出力端子設定情報に基づいて、当該アクセスコマンドに応じた前記メモリセルの読出し又は書込みのデータを前記コモン入出力端子又は前記セパレート入出力端子のいずれを用いて伝送するかを切り替える制御回路と、
を備える半導体メモリ。 - 前記入出力端子設定情報は、前記アクセスコマンドが入力された以降、前記アクセスコマンドに応じたデータが入出力される前までに入力される、
請求項1に記載の半導体メモリ。 - 前記入出力端子設定情報は、前記アクセスコマンドの入力と同時に入力される、
請求項1に記載の半導体メモリ。 - 前記セパレート入出力端子が選択された場合に入出力されるデータのバースト長は、前記コモン入出力端子が選択された場合に入出力されるデータのバースト長よりも長い、
請求項1に記載の半導体メモリ。 - 前記セパレート入出力端子が選択された場合に入出力されるデータのバースト長は、前記コモン入出力端子が選択された場合に入出力されるデータのバースト長の2倍である、
請求項1に記載の半導体メモリ。 - データの読出し時にパラレルシリアル変換し、データ書込み時にシリアルパラレル変換するデータ変換回路をさらに備え、
前記データ変換回路は、
前記コモン入出力端子を介して入出力される第1データを第1バースト長で保持する第1ラッチ回路と、
前記セパレート入出力端子を介して入出力される第2データを第1バースト長の2倍の長さの第2バースト長で保持する第2ラッチ回路と、
を有する、
請求項1に記載の半導体メモリ。 - 前記第1ラッチ回路と前記第2ラッチ回路とで、前記第2バースト長の前記第2データを保持する、
請求項6に記載の半導体メモリ。 - 前記入出力端子設定情報に基づいて前記第1データと前記第2データのいずれかを選択し、前記第1ラッチ回路に入力する選択回路をさらに備える、
請求項7に記載の半導体メモリ。 - メモリセルに対する読出し又は書込みを制御するアクセスコマンド毎に入出力端子設定情報を生成するメモリコントローラと、
データを双方向に伝送可能なコモン入出力端子と、データを入力するための入力専用端子とデータを出力するための出力専用端子とからなるセパレート入出力端子と、に切替え可能な入出力端子と、
前記入出力端子設定情報に基づいて、当該アクセスコマンドに応じた前記メモリセルの読出し又は書込みのデータを前記コモン入出力端子又は前記セパレート入出力端子のいずれを用いて伝送するかを切り替える制御回路と、
を備える、
メモリシステム。 - 前記メモリコントローラは、
同一の前記アクセスコマンドが連続する場合前記コモン入出力端子を選択し、所定の間隔で前記アクセスコマンドが切り替わる場合前記セパレート入出力端子を選択するコマンド監視部をさらに備える、
請求項9に記載のメモリシステム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015166486A JP6468971B2 (ja) | 2015-08-26 | 2015-08-26 | 半導体メモリ、メモリシステム |
US15/168,030 US9613668B2 (en) | 2015-08-26 | 2016-05-28 | Semiconductor memory and memory system |
US15/462,137 US9741406B2 (en) | 2015-08-26 | 2017-03-17 | Semiconductor memory and memory system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015166486A JP6468971B2 (ja) | 2015-08-26 | 2015-08-26 | 半導体メモリ、メモリシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017045491A true JP2017045491A (ja) | 2017-03-02 |
JP6468971B2 JP6468971B2 (ja) | 2019-02-13 |
Family
ID=58096062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015166486A Active JP6468971B2 (ja) | 2015-08-26 | 2015-08-26 | 半導体メモリ、メモリシステム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9613668B2 (ja) |
JP (1) | JP6468971B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200012346A (ko) * | 2018-07-27 | 2020-02-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 데이터 처리 시스템 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6468971B2 (ja) * | 2015-08-26 | 2019-02-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体メモリ、メモリシステム |
US11586882B2 (en) * | 2018-01-24 | 2023-02-21 | International Business Machines Corporation | Synapse memory |
WO2020117700A1 (en) | 2018-12-03 | 2020-06-11 | Rambus Inc. | Dram interface mode with improved channel integrity and efficiency at high signaling rates |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050054A (ja) * | 1996-07-30 | 1998-02-20 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005235248A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置、及びそれを内蔵する半導体集積回路 |
JP2010033659A (ja) * | 2008-07-29 | 2010-02-12 | Hitachi Ltd | 情報処理システムおよび半導体記憶装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61239491A (ja) * | 1985-04-13 | 1986-10-24 | Fujitsu Ltd | 電子装置 |
US7558900B2 (en) * | 2004-09-27 | 2009-07-07 | Winbound Electronics Corporation | Serial flash semiconductor memory |
KR100735527B1 (ko) * | 2006-02-13 | 2007-07-04 | 삼성전자주식회사 | 2개의 패드 행을 포함하는 반도체 메모리 장치 |
US20090187680A1 (en) * | 2008-01-21 | 2009-07-23 | Shih-Chieh Liao | Controller System With Programmable Bi-directional Terminals |
JP5314612B2 (ja) * | 2010-02-04 | 2013-10-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP6468971B2 (ja) * | 2015-08-26 | 2019-02-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体メモリ、メモリシステム |
-
2015
- 2015-08-26 JP JP2015166486A patent/JP6468971B2/ja active Active
-
2016
- 2016-05-28 US US15/168,030 patent/US9613668B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-03-17 US US15/462,137 patent/US9741406B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050054A (ja) * | 1996-07-30 | 1998-02-20 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005235248A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置、及びそれを内蔵する半導体集積回路 |
JP2010033659A (ja) * | 2008-07-29 | 2010-02-12 | Hitachi Ltd | 情報処理システムおよび半導体記憶装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200012346A (ko) * | 2018-07-27 | 2020-02-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 데이터 처리 시스템 |
KR102605637B1 (ko) | 2018-07-27 | 2023-11-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 데이터 처리 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20170194042A1 (en) | 2017-07-06 |
JP6468971B2 (ja) | 2019-02-13 |
US9741406B2 (en) | 2017-08-22 |
US9613668B2 (en) | 2017-04-04 |
US20170062026A1 (en) | 2017-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7447805B2 (en) | Buffer chip and method for controlling one or more memory arrangements | |
US9773531B2 (en) | Accessing memory | |
KR100588599B1 (ko) | 메모리 모듈 및 메모리 시스템 | |
JP4199658B2 (ja) | 読出及び書込動作でバースト順序が異なるアドレッシングを行うメモリデバイス | |
US7773448B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US10628348B2 (en) | Memory module with reduced read/write turnaround overhead | |
JP6468971B2 (ja) | 半導体メモリ、メモリシステム | |
US20050265086A1 (en) | Semiconductor storage device | |
US7054202B2 (en) | High burst rate write data paths for integrated circuit memory devices and methods of operating same | |
JP5038657B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP6072449B2 (ja) | 半導体記憶回路及びその動作方法 | |
US20090010092A1 (en) | Address counter, semiconductor memory device having the same, and data processing system | |
JP2011048876A (ja) | 半導体記憶装置及びその制御方法 | |
JP2011018427A (ja) | 半導体記憶装置 | |
CN107093447B (zh) | 存储器装置 | |
JP4819325B2 (ja) | 集積回路装置及びその動作方法 | |
JP2002197858A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP4824180B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2004127305A (ja) | メモリ制御装置 | |
US10545822B2 (en) | Semiconductor device | |
US8074096B2 (en) | Semiconductor integrated circuit, memory system, memory controller and memory control method | |
US20130097388A1 (en) | Device and data processing system | |
US7230858B2 (en) | Dual frequency first-in-first-out structure | |
KR20040104286A (ko) | N 비트 프리패치 구조로 2n 비트 프리패치 스킴을구현하는 메모리 장치 및 이 메모리 장치의 2n 비트프리패치 방법 및 자동 프리차아지 방법 | |
JP2002245776A (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180511 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180928 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181016 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181211 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6468971 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |