JP2016526408A5

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Info

Publication number: JP2016526408A5
Application number: JP2016520541A
Authority: JP
Filing date: 2014-06-25
Publication date: 2017-08-03
Anticipated expiration: 2034-06-25

Claims

レーザ光を用いた皮膚特性の測定のための非侵襲的測定装置であって、前記装置は、プローブモジュールとイメージングモジュールとを有し、
前記プローブモジュールは、第１の光学系と、プローブ光ビームを生成するためのレーザ光源と、を有し、前記プローブモジュールは、使用中、前記プローブ光ビームがプローブ軸に沿って前記装置を出ていき、処理されるべき皮膚の外面に作用するように構成及び配置され、前記第１の光学系は、使用中、前記皮膚の内側のプローブ領域に前記プローブ光ビームを方向付けるように構成及び配置され、
前記イメージングモジュールは、第２の光学系と、光学検出器アレイと、を有し、前記光学検出器アレイは、前記第２の光学系のイメージ面に含まれる検出器軸に沿って配置され、前記第２の光学系は、使用中、前記プローブ領域内の前記プローブ軸に沿って分布される複数のプローブ位置の各々の前記光学検出器アレイに含まれる複数の光検出素子上にイメージを形成するように構成及び配置され、前記第２の光学系は、前記プローブ軸と交差するイメージング光学軸を持ち、
前記複数のプローブ位置は、前記第２の光学系のオブジェクト面に位置し、前記プローブ軸と前記イメージング光学軸との間の角度は、前記イメージング光学軸と前記検出器軸との間の角度と等しい、測定装置。
前記検出器軸は、前記プローブ軸と前記イメージング光学軸とを有する平面に含まれる、請求項１記載の測定装置。
前記プローブ軸と前記イメージング光学軸とがなす角度は、２０度から９０度の範囲にある、請求項１記載の測定装置。
前記測定装置の動作中、前記プローブ軸と前記皮膚の外面とがなす角度は、４５度から９０度の範囲にある、請求項１記載の測定装置。
前記検出器軸と前記プローブ軸とは、互いに平行であり、又は、前記検出器軸と前記イメージング光学軸とがなす角度は、シャインプルーフの原理に従って補正される、請求項１記載の測定装置。
前記光検出器アレイは、前記検出器軸に沿って延在するＹ個の光検出素子×前記検出器軸に対して垂直な他の軸に沿って延在するＸ個の光検出素子のマトリクスを有し、ＹのＸに対する比は、５：１より大きい、請求項１記載の測定装置。
電磁処理放射を用いた皮膚処理のための非侵襲的処理装置であって、前記装置は、請求項１乃至６のいずれか１項に記載の測定装置を有し、前記処理装置は、処理モジュールを更に有し、
前記処理モジュールは、処理放射ビームを供給するための処理放射源と、ビーム成形方向付けコンポーネントと、を有し、前記処理モジュールは、使用中、前記処理放射ビームが処理軸に沿って前記処理装置を出ていき、処理されるべき皮膚の外面に作用するように構成及び配置され、前記ビーム成形方向付けコンポーネントは、使用中、前記処理放射ビームを前記プローブ領域内に配置される処理位置に方向付けるように構成及び配置される、処理装置。
前記処理放射は、レーザ光であり、前記処理モジュールは、前記処理軸が前記プローブ軸と一致するように構成及び配置される、請求項７記載の処理装置。
レーザ光を生成する装置を用いて皮膚特性を非侵襲的に測定するための方法であって、前記装置は、プローブモジュールと、イメージングモジュールと、を有し、前記方法は、
第１の光学系とプローブ光ビームを生成するためのレーザ光源とを有するプローブモジュールを供給するステップと、
使用中、前記プローブ光ビームがプローブ軸に沿って前記装置を出ていき、処理されるべき皮膚の外面に作用するように、前記プローブモジュールを構成及び配置するステップと、
使用中、前記プローブ光ビームを前記皮膚の内側のプローブ領域に方向付けるように、前記第１の光学系を構成及び配置するステップと、
第２の光学系と前記第２の光学系のイメージ面に含まれる検出器軸に沿って配置される光検出器アレイとを有するイメージングモジュールを供給するステップと、
使用中、前記プローブ領域内の前記プローブ軸に沿って分布される複数のプローブ位置の各々の前記光学検出器アレイに含まれる複数の光検出素子上にイメージを形成するように、前記第２の光学系を構成及び配置するステップと、
を有し、
前記第２の光学系は、前記プローブ軸と交差するイメージング光学軸を持ち、
前記複数のプローブ位置は、前記第２の光学系のオブジェクト面に位置し、前記プローブ軸と前記イメージング光学軸との間の角度は、前記イメージング光学軸と前記検出器軸との間の角度と等しい、測定方法。
前記検出器軸は、前記プローブ軸及び前記イメージング光学軸を有する平面に含まれる、請求項９記載の測定方法。
前記方法は、
１又は複数の制御パラメータを生成するために、前記光検出器アレイによって検出された前記イメージを処理するステップと、
前記プローブ光源及び／又は前記第１の光学系の動作パラメータを決定するために、前記１又は複数の制御パラメータを適用するステップと、
を更に有する、請求項９記載の測定方法。