JP2016198983A - Optical writing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光書き込み装置に関し、特に、感光体に光を照射する光書き込み装置に関する。 The present invention relates to an optical writing device, and more particularly to an optical writing device that irradiates light on a photoconductor.
一般的な光書き込み装置に関する発明としては、例えば、特許文献１に記載の有機エレクトロルミネセンス素子の駆動回路が知られている。該駆動回路は、有機エレクトロルミネセンス素子の使用時間及び周囲温度に基づいて、有機エレクトロルミネセンス素子の発光輝度がほぼ一定の値を維持するように、有機エレクトロルミネセンス素子に流す電流の電流値を調整する。これにより、経時変化や温度変化による有機エレクトロルミネセンス素子の発光輝度の低下を抑制できる。
As an invention related to a general optical writing device, for example, a drive circuit for an organic electroluminescence element described in
しかしながら、特許文献１に記載の有機エレクトロルミネセンス素子では、電流値の調整を精度よく行うことが困難である。図５は、周囲温度と補正係数との関係を示したグラフである。
However, in the organic electroluminescent element described in
有機エレクトロルミネセンス素子では、例えば、周囲温度が上昇すると、発光輝度が低下する。したがって、駆動回路は、周囲温度が上昇した場合には、より大きな電流値の電流を流す必要がある。すなわち、特許文献１には詳述されていないが、駆動回路は、周囲温度が上昇した場合には、より大きな補正係数を電流値にかけることにより電流値を調整する。そこで、特許文献１には詳述されていないが、記憶部は、例えば、周囲温度Ａ１〜Ａ９と補正係数Ｂ１〜Ｂ９との関係を示したテーブルを記憶している。周囲温度Ａ１〜Ａ９の間隔は等間隔である。
In the organic electroluminescence element, for example, when the ambient temperature increases, the light emission luminance decreases. Therefore, the drive circuit needs to pass a current having a larger current value when the ambient temperature rises. That is, although not described in detail in
ここで、図５に示すように、駆動回路が取得した周囲温度Ａに一致する周囲温度がテーブルに存在しない場合がある。例えば、周囲温度Ａが周囲温度Ａ８と周囲温度Ａ９との間に位置している場合について説明する。この場合には、駆動回路は、例えば、図５に示すように、周囲温度Ａ８，Ａ９及び補正係数Ｂ８，Ｂ９を用いて、線形補間により補正係数Ｂを決定する。 Here, as shown in FIG. 5, there may be cases where the table does not have an ambient temperature that matches the ambient temperature A acquired by the drive circuit. For example, the case where the ambient temperature A is located between the ambient temperature A8 and the ambient temperature A9 will be described. In this case, for example, as shown in FIG. 5, the drive circuit determines the correction coefficient B by linear interpolation using the ambient temperatures A8, A9 and the correction coefficients B8, B9.
ただし、図５に示すように、周囲温度が高くなるにしたがって、補正係数の傾きが大きくなる。一方、周囲温度Ａ１〜Ａ９の間隔は等間隔である。そのため、補正係数Ｂ８と補正係数Ｂ９との差が比較的に大きくなる。これにより、（Ａ８，Ｂ８）と（Ａ９，Ｂ９）とを結んで得られる直線と、（Ａ８，Ｂ８）と（Ａ９，Ｂ９）とを結ぶカーブとが大きくずれる。したがって、駆動回路が取得した周囲温度Ａが高い場合には、線形補間により得られる補正係数Ｂと、実際の補正係数Ｂ'との間にずれが生じるおそれがある。その結果、特許文献１に記載の駆動回路では、電流値の調整を精度よく行うことが困難である。このような問題は、周囲温度以外にも、使用時間やその他のパラメータ等においても生じる。
However, as shown in FIG. 5, the inclination of the correction coefficient increases as the ambient temperature increases. On the other hand, the intervals between the ambient temperatures A1 to A9 are equal. Therefore, the difference between the correction coefficient B8 and the correction coefficient B9 is relatively large. As a result, the straight line obtained by connecting (A8, B8) and (A9, B9) and the curve connecting (A8, B8) and (A9, B9) are greatly shifted. Therefore, when the ambient temperature A acquired by the drive circuit is high, there is a possibility that a deviation occurs between the correction coefficient B obtained by linear interpolation and the actual correction coefficient B ′. As a result, in the drive circuit described in
そこで、本発明の目的は、電流値の調整を精度よく行うことができる光書き込み装置を提供することである。 Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical writing device capable of adjusting the current value with high accuracy.
本発明の一形態に係る光書き込み装置は、
感光体に光を照射する光書き込み装置であって、
駆動電流の供給を受けて発光する少なくとも１以上の発光部と、
前記発光部の発光条件に関するパラメータと補正係数との関係を示したテーブルを記憶する記憶部と、
前記パラメータを取得し、取得した該パラメータに対応する前記補正係数を前記テーブルに基づいて決定すると共に、決定した該補正係数に基づいて、前記駆動電流を決定する制御部と、
を備えており、
前記パラメータに対する前記補正係数の絶対値の増加率は、該パラメータの増加に伴って増加しており、
前記パラメータが所定値以上の範囲における前記パラメータの間隔は、前記パラメータが所定値以下の範囲における前記パラメータの間隔よりも小さいこと、
を特徴とする。
An optical writing device according to an aspect of the present invention includes:
An optical writing device for irradiating a photoconductor with light,
At least one light emitting unit that emits light upon receiving a drive current; and
A storage unit for storing a table showing a relationship between a parameter relating to the light emission condition of the light emitting unit and a correction coefficient;
A controller that acquires the parameter, determines the correction coefficient corresponding to the acquired parameter based on the table, and determines the drive current based on the determined correction coefficient;
With
The rate of increase in the absolute value of the correction coefficient with respect to the parameter increases as the parameter increases,
The interval of the parameter in a range where the parameter is equal to or greater than a predetermined value is smaller than the interval of the parameter in a range where the parameter is equal to or less than a predetermined value;
It is characterized by.
本発明によれば、電流値の調整を精度よく行うことができる。 According to the present invention, the current value can be adjusted with high accuracy.
以下、図面を参照して、本発明の各実施形態に係る光書き込み装置が用いられた画像形成装置について詳説する。該光書き込み装置は、感光体ドラムに対して光を照射する装置である。 Hereinafter, an image forming apparatus using an optical writing device according to each embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The optical writing device is a device that irradiates light to the photosensitive drum.
まず、図中のｘ軸、ｙ軸及びｚ軸について説明する。本実施形態では、説明の便宜のため、ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸はそれぞれ、画像形成装置の左右方向（換言すると横方向）、前後方向（換言すると奥行き方向）及び上下方向（換言すると高さ方向）とする。また、図中、いくつかの構成には、参照番号の右側に添え字ａ，ｂ，ｃ，ｄが付加されるものがある。ａ，ｂ，ｃ，ｄは、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｂｋ）を意味する。例えば、作像手段２９ａは、イエローの作像手段を意味する。 First, the x-axis, y-axis, and z-axis in the figure will be described. In the present embodiment, for convenience of explanation, the x axis, the y axis, and the z axis are respectively the left and right direction (in other words, the horizontal direction), the front and rear direction (in other words, the depth direction), and the up and down direction (in other words, the high direction) Direction). In addition, some configurations in the figure have subscripts a, b, c, and d added to the right side of the reference numbers. a, b, c, and d mean yellow (Y), magenta (M), cyan (C), and black (Bk). For example, the image forming means 29a means a yellow image forming means.
（画像形成装置の構成・動作）
まず、画像形成装置の構成について説明する。図１は、画像形成装置１の構成図である。図２は、図１のＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａの縦断面図である。図３は、図１のＯＬＥＤ基板５２ａを平面視した図である。
(Configuration and operation of image forming apparatus)
First, the configuration of the image forming apparatus will be described. FIG. 1 is a configuration diagram of the
画像形成装置１は、例えばＭＦＰ(Multifunction Peripheral)であって、各色用の感光体ドラム３１ａ〜３１ｄを用いて各色のトナー像を形成して合成した後、合成トナー像をシートＳ（印刷媒体）に印刷（形成）する。そのために、画像形成装置１は、図１に示すように、大略的に、供給ユニット３、タイミングローラ対５、プロセスユニット７、定着手段９、排出ローラ対１１、排出トレイ１３、制御部３７及び記憶部３８を備えている。
The
供給ユニット３は、供給トレイ１５及び供給ローラ１６を含む。供給トレイ１５には未印刷のシートＳが複数積載される。供給ローラ１６は、積載されたシートＳを上から１枚ずつ取り出し、搬送経路Ｒに送り出す。このシートＳは、直ぐ下流のタイミングローラ対５に向けて搬送される。
The
タイミングローラ対５は、搬送経路Ｒ上で互いに当接する二個一対のローラを含んでおり、制御部３７による制御の下で回転し停止する。シートＳの送出時を除き、各ローラは停止している。よって、搬送されてきたシートＳは、まずローラ同士の当接部分に突き当たり、一旦停止する。タイミングローラ対５は、所定タイミングで回転を開始して、シートＳを二次転写領域（詳細は後述）に向けて送り出す。
The timing roller pair 5 includes a pair of rollers that are in contact with each other on the transport path R, and rotates and stops under the control of the
プロセスユニット７は、ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａ〜１７ｄ、転写手段１９ａ〜１９ｄ、中間転写ベルト２１、駆動ローラ２３、従動ローラ２５、二次転写ローラ２７及び作像手段２９ａ〜２９ｄを含む。作像手段２９ａ〜２９ｄはそれぞれ、大略的には、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄと、その周面に沿って配置された帯電手段３３ａ〜３３ｄ及び現像手段３５ａ〜３５ｄと、を有する。
The process unit 7 includes OLED-PHs 17a to 17d, transfer units 19a to 19d, an
感光体ドラム３１ａ〜３１ｄは、ｙ軸方向に延在している。感光体ドラム３１ａ〜３１ｄは、ｘ軸方向に並ぶように配列される。感光体ドラム３１ａ〜３１ｄはそれぞれ、図示しないモータからの駆動力により、ｙ軸に平行な軸を中心として、ｚｘ面内で反時計回り（矢印ＣＷで示す）に回転する。
The photoconductor drums 31a to 31d extend in the y-axis direction. The photoconductor drums 31a to 31d are arranged so as to be aligned in the x-axis direction. Each of the
帯電手段３３ａ〜３３ｄはそれぞれ、ｙ軸方向に延在しており、対応する感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面を帯電させる。帯電手段３３ａ〜３３ｄとしては、コロトロン、スコロトロンまたは帯電ローラが典型的である。
Each of the charging units 33a to 33d extends in the y-axis direction and charges the peripheral surfaces of the corresponding
ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａ〜１７ｄはそれぞれ、光書き込み装置の一例であり、対応色の帯電手段３３ａ〜３３ｄを基準として、対応色の感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの回転方向ＣＷの直ぐ下流側に、対応色の感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面近傍に配置される。以下では、ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａを例に挙げて説明する。
Each of the OLED-PHs 17a to 17d is an example of an optical writing device. The corresponding color charging units 33a to 33d are used as a reference, and the corresponding color of the corresponding
ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａは、図２及び図３に示すように、ホルダ５１ａ、ＯＬＥＤ基板５２ａ、ＡＳＩＣ６０ａ、フレキシブル配線６２ａ、ソースＩＣ６４ａ及びレンズアレイ５３ａを備えている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the OLED-PH 17a includes a holder 51a, an OLED substrate 52a, an
ホルダ５１ａは、感光体ドラム３１ａと平行に延在しており、感光体ドラム３１ａの周面における光Ｂａの照射位置と対向するように設けられている。
The holder 51a extends in parallel with the
ＯＬＥＤ基板５２ａは、図２及び図３に示すように、ｙ軸方向の１ラインのドット数分（例えば一万数千個）の発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・を備えている。また、ＯＬＥＤ基板５２ａには、図示しないドライバＩＣが実装されている。ドライバＩＣは、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の温度を測定する温度センサを内蔵している。ただし、温度センサは、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の温度を測定できる場所に配置されていればよく、ＯＬＥＤ基板５２ａに配置されていてもよく、その他の場所に配置されていてもよい。 As shown in FIGS. 2 and 3, the OLED substrate 52a has light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Corresponding to the number of dots in one line in the y-axis direction (for example, ten thousand). It has. A driver IC (not shown) is mounted on the OLED substrate 52a. The driver IC has a built-in temperature sensor that measures the temperature of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. However, the temperature sensor should just be arrange | positioned in the place which can measure the temperature of the light emission points 54-1, 54-2, 54-3 ..., and may be arrange | positioned at the OLED board | substrate 52a, and other places. May be arranged.
発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・は、ＯＬＥＤ（有機発光ダイオード）であり、ｙ軸方向にライン状に、かつ対応色の感光体ドラム３１ａの周面に対向するように、ＯＬＥＤ基板５２ａに千鳥配置されている。発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の間隔ｄは、書き込み解像度が６００ｄｐｉの場合に、４２．３３μｍであり、書き込み解像度が１２００ｄｐｉの場合に、２１．１７μｍである。発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・は、入力駆動電流の供給を受けて、該入力駆動電流に応じた光量で発光する。各発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・において、入力駆動電流に対する出力光量は略リニアな関係になっている。
The light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Are OLEDs (organic light emitting diodes), which are lined in the y-axis direction and face the peripheral surface of the corresponding
ここで、各発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・は同一のＯＬＥＤ基板５２ａに設けられている。これにより、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の製造工程を同一にできるため、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の入出力特性にバラツキは発生しにくい。 Here, the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Are provided on the same OLED substrate 52a. As a result, the manufacturing process of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Can be made the same, so that the input / output characteristics of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. Is unlikely to occur.
また、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・は個別的には点光源であるが、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・全体では、感光体ドラム３１ａの周面に光Ｂａを走査可能に構成されている。
The light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Are individually point light sources, but the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. The peripheral surface of the
ホルダ５１ａには、上記発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の光軸方向に対向するようにレンズアレイ５３ａが設けられている。レンズアレイ５３ａは、マイクロレンズアレイ(MLA: Micro Lens Array)や集光性光伝送体アレイである。マイクロレンズや集光性光伝送体は両端が平面なロッドレンズ（グリンレンズ）とすることができる。これにより加工が容易となるため、ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａの量産が容易となる。このレンズアレイ５３ａは、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・からの光Ｂａを、対応色の感光体ドラム３１ａの周面に集光する。
The holder 51a is provided with a lens array 53a so as to oppose the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. The lens array 53a is a micro lens array (MLA) or a condensing light transmitter array. The microlens or the condensing light transmission body can be a rod lens (green lens) having flat ends. This facilitates processing, and thus facilitates mass production of the OLED-PH 17a. This lens array 53a condenses the light Ba from the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... On the peripheral surface of the corresponding
ＡＳＩＣ６０ａは、所定の情報を記憶する記憶回路及び後述するソースＩＣ６４ａを制御するための制御回路を内蔵する半導体集積回路である。ソースＩＣ６４ａは、ＯＬＥＤ基板５２ａに実装されている半導体集積回路であり、ＡＳＩＣ６０ａの制御に基づいて、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・に電流を流して発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・を発光させる。フレキシブル配線６２ａは、ＡＳＩＣ６０ａとソースＩＣ６４ａとを接続する可撓性を有する配線である。ＡＳＩＣ６０ａ及びソースＩＣ６４ａは、制御部として機能している。また、ＡＳＩＣ６０ａは、記憶部としても機能している。
The
以上の構成により、ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａは、感光体ドラム３１ａの周面を、対応色の光Ｂａで主走査方向（つまり、ｙ軸方向）に走査することが可能となり、これによって、各感光体ドラム３１ａの周面には、対応色の静電潜像が形成される。
With the above configuration, the OLED-PH 17a can scan the peripheral surface of the
現像手段３５ａ〜３５ｄはそれぞれ、ｙ軸方向に延在する現像ローラを有する。現像ローラはそれぞれ、光Ｂａ，Ｂｂ，Ｂｃ，Ｂｄの照射位置の直ぐ下流で、対応色の感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面と対向配置される。現像手段３５ａ〜３５ｄには、例えば、対応色の二成分現像剤が収容される。現像手段３５ａ〜３５ｄはそれぞれ、内蔵の現像ローラを用いて、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面上にトナーを供給する。これによって、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面上で、静電潜像は現像され、対応色（単色）のトナー像が形成される。
Each of the developing means 35a to 35d has a developing roller extending in the y-axis direction. Each of the developing rollers is disposed to face the peripheral surfaces of the corresponding
上記現像プロセスの結果、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄはトナー像を周面上に担持する。また、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄは、自身の回転により、担持しているトナー像を回転方向ＣＷの下流へと搬送する。
As a result of the development process, the
転写手段１９ａ〜１９ｄはそれぞれ、ｙ軸方向に延在しており、対応色の現像手段３５ａ〜３５ｄの直ぐ下流側に、対応色の感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面と、下記の中間転写ベルト２１を挟んで対向するよう配置されている。
Each of the transfer means 19a to 19d extends in the y-axis direction, and immediately below the corresponding color developing means 35a to 35d, the peripheral surface of the corresponding color
中間転写ベルト２１は無端状のベルトである。この中間転写ベルト２１は、転写手段１９ａ〜１９ｄ及び感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの間に介在し、駆動ローラ２３及び従動ローラ２５の間に張り渡される。この中間転写ベルト２１は、転写手段１９ａ〜１９ｄによって、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄに圧接される。以下、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄと中間転写ベルト２１との圧接部分を一次転写領域という。駆動ローラ２３は、図示しないモータから与えられた駆動力によって回転する。従動ローラ２５は、駆動ローラ２３の回転によって従動して回転する。これによって、中間転写ベルト２１は、時計回り（矢印αの方向）に回転する。
The
転写手段１９ａ〜１９ｄには一次転写バイアス電圧が印加され、これによって、転写手段１９ａ〜１９ｄが中間転写ベルト２１と接触する部分周辺がトナー像と逆極性に帯電する。その結果、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄにより搬送されてくるトナー像が一次転写領域に到達すると、トナー像が中間転写ベルト２１の外周面に移動する。換言すると、中間転写ベルト２１には、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄに形成されているトナー像が転写される。以下、中間転写ベルト２１へのトナー像の転写を一次転写という。
A primary transfer bias voltage is applied to the transfer units 19a to 19d, whereby the periphery of the portion where the transfer units 19a to 19d are in contact with the
ここで、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄのそれぞれに担持されているトナー像は、中間転写ベルト２１の表面における同一エリアに順次転写される。このような一次転写の結果、中間転写ベルト２１には、各色のトナー像が重なり合った合成トナー像が形成される。中間転写ベルト２１は、合成トナー像を自身の外周面に担持しながら、回転することにより二次転写ローラ２７に向けて合成トナー像を搬送する。
Here, the toner images carried on the
二次転写ローラ２７は、中間転写ベルト２１を挟んで駆動ローラ２３と対向配置されており、中間転写ベルト２１に押圧される。この中間転写ベルト２１と二次転写ローラ２７との当接部分を、以下、二次転写領域という。上記の通り、この二次転写領域には、シートＳが送り込まれ通過すると共に、回転する中間転写ベルト２１に担持された合成トナー像が搬送されてくる。また、二次転写ローラ２７には、二次転写バイアス電圧が印加され、これにより、二次転写ローラ２７は、シートＳの非転写面側で合成トナー像と逆極性に帯電する。その結果、中間転写ベルト２１の表面からシートＳの表面へと合成トナー像が移動する。換言すると、シートＳには、中間転写ベルト２１に担持された合成トナー像が転写される。以下、シートＳへの転写を、二次転写という。
The
トナー像が転写されたシートＳは、定着手段９に導入される。定着手段９は、シートＳを加熱・加圧することで、合成トナー像をシートＳに定着させる。定着プロセス済みのシートＳは、排出ローラ対１１から排出トレイ１３に印刷物として排出され載置される。
The sheet S on which the toner image is transferred is introduced into the fixing
上記各部は、画像形成装置１の本体に内蔵された制御部３７により制御される。この制御部３７は、ＣＰＵやメインメモリ等からなり、予め準備されたプログラムに従って動作し、画像形成装置１全体を制御する。記憶部３８は、例えば、不揮発性メモリにより構成され、所定の情報を記憶する。
The above units are controlled by a
（発光点に供給する電流の電流値の決定）
次に、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・に供給する電流の電流値Ｉの決定の仕方について説明する。以下では、発光点５４−１を例に挙げて説明する。図４は、発光点温度と補正係数との関係を示したグラフである。なお、比較の容易のために、図４のグラフのカーブと図５のグラフのカーブとは一致させてある。また、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率は、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の発光領域の面積に対する該発光領域において発光しない面積の比の値である。
(Determination of the current value of the current supplied to the light emitting point)
Next, how to determine the current value I of the current supplied to the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. Hereinafter, the light emitting point 54-1 will be described as an example. FIG. 4 is a graph showing the relationship between the emission point temperature and the correction coefficient. For easy comparison, the curve of the graph of FIG. 4 is matched with the curve of the graph of FIG. Further, the area defect rate of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Is in the light emitting region with respect to the area of the light emitting region of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. It is the value of the ratio of the area that does not emit light.
ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａでは、発光点５４−１の発光条件に基づいて電流値Ｉを決定する必要がある。ＡＳＩＣ６０ａは、発光点５４−１に対して基準電流値Ｉ０の基準電流をソースＩＣ６４ａが流すように設定されている。ただし、発光点５４−１に基準電流値Ｉ０の基準電流が流れた場合であっても、発光点５４−１の温度（以下、発光点温度Ｔ１と呼ぶ）、発光点５４−１の累積発光時間（以下、累積発光時間Ｔ２と呼ぶ）、及び、発光点５４−１の面積欠損率（以下、面積欠損率Ｌと呼ぶ）が変動すると、発光点５４−１の発光量が変動する。
In the OLED-PH 17a, it is necessary to determine the current value I based on the light emission condition of the light emission point 54-1. The
具体的には、基準電流値Ｉ０の基準電流が発光点５４−１に流れている状態で、発光点温度Ｔ１が上昇すると、発光点５４−１の発光量が減少する。そして、発光点温度Ｔ１が上昇するにしたがって、発光点５４−１の発光量の減少率が大きくなる。 Specifically, when the light emission point temperature T1 rises while the reference current having the reference current value I0 flows to the light emission point 54-1, the light emission amount at the light emission point 54-1 decreases. As the light emitting point temperature T1 increases, the rate of decrease in the light emission amount at the light emitting point 54-1 increases.
また、発光点５４−１は、累積発光時間Ｔ２が長くなると、劣化する。そのため、基準電流値Ｉ０の基準電流が発光点５４−１に流れている状態で、累積発光時間Ｔ２が長くなると、発光点５４−１の発光量が減少する。そして、累積発光時間Ｔ２が長くなるにしたがって、発光点５４−１の発光量の減少率が大きくなる。 Further, the light emitting point 54-1 is deteriorated as the cumulative light emission time T2 becomes longer. For this reason, when the accumulated light emission time T2 becomes longer in a state where the reference current having the reference current value I0 flows to the light emission point 54-1, the light emission amount of the light emission point 54-1 decreases. Then, as the cumulative light emission time T2 becomes longer, the decrease rate of the light emission amount at the light emission point 54-1 becomes larger.
また、発光点５４−１のサイズのばらつきは、有機膜の加工精度に大きく依存する。有機膜はウェットエッチング加工により加工されるので、有機膜の加工精度は比較的に低い。したがって、発光点５４−１のサイズにばらつきが生じやすい。すなわち、発光点５４−１の面積欠損率Ｌにばらつきが生じる。更に、発光点５４−１の吸湿によってエッジグロースが発生し、発光点５４−１の面積欠損率Ｌが時間経過に伴って増加する。基準電流値Ｉ０の基準電流が発光点５４−１に流れている状態で、発光点５４−１の面積欠損率Ｌが増加すると、発光点５４−１の発光量が減少する。そして、面積欠損率Ｌが増加するにしたがって、発光点５４−１の発光量の減少率が大きくなる。 In addition, the variation in the size of the light emitting point 54-1 greatly depends on the processing accuracy of the organic film. Since the organic film is processed by wet etching, the processing accuracy of the organic film is relatively low. Therefore, the size of the light emitting point 54-1 tends to vary. That is, variation occurs in the area defect rate L of the light emitting point 54-1. Furthermore, edge growth occurs due to moisture absorption of the light emitting point 54-1, and the area defect rate L of the light emitting point 54-1 increases with time. When the area defect rate L of the light emitting point 54-1 increases while the reference current having the reference current value I0 flows to the light emitting point 54-1, the light emission amount of the light emitting point 54-1 decreases. As the area defect rate L increases, the decrease rate of the light emission amount of the light emission point 54-1 increases.
以上より、発光点温度Ｔ１、累積発光時間Ｔ２及び面積欠損率Ｌに応じて、発光点５４−１に流す基準電流値Ｉ０を補正する必要がある。
From the above, it is necessary to correct the reference current value I0 that flows to the light emission point 54-1 according to the light emission
また、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・とロッドレンズとの結合効率も均一ではない。したがって、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・が均一な発光量で光を出射しても、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの周面への露光量は均一ではない。したがって、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・毎に結合効率に応じた発光量を決定する必要がある。加えて、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの劣化等により、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの露光量が一定であったとしても、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの露光された部分の電位にばらつきが発生する。そのため、ＡＳＩＣ６０ａは、制御部３７が行う画像安定化動作等により、感光体ドラム３１ａ〜３１ｄの露光された部分の電位が均一となるように、発光点５４−１の最適な発光量Ｐを決定している。そして、発光量Ｐに応じて、発光点５４−１に流す基準電流値Ｉ０を補正する必要がある。
Further, the coupling efficiency between the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... And the rod lens is not uniform. Therefore, even if the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Emit light with a uniform light emission amount, the exposure amounts on the peripheral surfaces of the
そこで、ＡＳＩＣ６０ａは、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータとして、発光点５４−１の面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１及び累積発光時間Ｔ２を取得する。発光量Ｐの取得は、画像安定化処理により行われる。発光点温度Ｔ１の取得は、温度センサにより行われる。累積発光時間Ｔ２は、ＡＳＩＣ６０ａにおいて記憶されている。面積欠損率Ｌは、ＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａの組み立て前に測定されて、ＡＳＩＣ６０ａに記憶されている。また、面積欠損率Ｌの取得は、感光体ドラム３１ａ上のビーム径をカメラ等により定期的に撮影及び測定した値をＯＬＥＤ−ＰＨ１７ａの組み立て前に測定したビーム径で割ることによって行われてもよい。
Therefore, the
ＡＳＩＣ６０ａは、面積欠損率Ｌと補正係数αとの関係を示した第１のテーブル（表１）、発光量Ｐと補正係数βとの関係を示した第２のテーブル（表２）、発光点温度Ｔ１と補正係数γとの関係を示した第３のテーブル（表３）、及び、累積発光時間Ｔ２と補正係数δとの関係を示した第４のテーブル（表４）を記憶している。
The
表１の第１のテーブルでは、α１≦α２≦α３≦α４≦α５≦α６≦α７≦α８の関係が成立している。また、面積欠損率Ｌに対する補正係数αの増加率は、面積欠損率Ｌの増加に伴って増加している。すなわち、面積欠損率Ｌが大きくなると、補正係数αの傾きが大きくなる。 In the first table of Table 1, the relationship of α1 ≦ α2 ≦ α3 ≦ α4 ≦ α5 ≦ α6 ≦ α7 ≦ α8 is established. Further, the increase rate of the correction coefficient α with respect to the area defect rate L increases as the area defect rate L increases. That is, as the area defect rate L increases, the inclination of the correction coefficient α increases.
更に、面積欠損率Ｌの間隔は、面積欠損率Ｌが大きくなるにしたがって小さくなっている。具体的には、面積欠損率Ｌの間隔は、２．０−１.５−１．１−０．９−０．６−０．５−０．３と減少している。 Further, the interval of the area defect rate L decreases as the area defect rate L increases. Specifically, the interval of the area defect rate L is reduced to 2.0-1.5-1.1-0.9-0.6-0.5-0.3.
表２の第２のテーブルでは、β１≦β２≦β３≦β４≦β５≦β６≦β７≦β８の関係が成立している。また、発光量Ｐに対する補正係数βの増加率は、発光量Ｐの増加に伴って増加している。すなわち、発光量Ｐが大きくなると、補正係数βの傾きが大きくなる。 In the second table of Table 2, the relationship of β1 ≦ β2 ≦ β3 ≦ β4 ≦ β5 ≦ β6 ≦ β7 ≦ β8 is established. Further, the increase rate of the correction coefficient β with respect to the light emission amount P increases as the light emission amount P increases. That is, as the light emission amount P increases, the inclination of the correction coefficient β increases.
更に、発光量Ｐの間隔は、面積欠損率Ｌが大きくなるにしたがって小さくなっている。具体的には、発光量Ｐの間隔は、１５０−１１３−８４−６３−４８−３５−２７と減少している。 Furthermore, the interval between the light emission amounts P decreases as the area defect rate L increases. Specifically, the interval of the light emission amount P is reduced to 150-113-84-63-48-35-27.
表３の第３のテーブルでは、γ１≦γ２≦γ３≦γ４≦γ５≦γ６≦γ７≦γ８の関係が成立している。また、発光点温度Ｔ１に対する補正係数γの増加率は、発光点温度Ｔ１の増加に伴って増加している。すなわち、発光点温度Ｔ１が大きくなると、補正係数γの傾きが大きくなる。 In the third table of Table 3, the relationship of γ1 ≦ γ2 ≦ γ3 ≦ γ4 ≦ γ5 ≦ γ6 ≦ γ7 ≦ γ8 is established. Further, the increasing rate of the correction coefficient γ with respect to the light emitting point temperature T1 increases as the light emitting point temperature T1 increases. That is, as the light emitting point temperature T1 increases, the inclination of the correction coefficient γ increases.
更に、発光点温度Ｔ１の間隔は、発光点温度Ｔ１が大きくなるにしたがって小さくなっている。具体的には、発光点温度Ｔ１の間隔は、１５−１１−９−６−５−３−３と減少している。 Further, the interval between the light emitting point temperatures T1 decreases as the light emitting point temperature T1 increases. Specifically, the interval between the light emitting point temperatures T1 is reduced to 15-11-9-6-5-3-3.
表４の第４のテーブルでは、δ１≦δ２≦δ３≦δ４≦δ５≦δ６≦δ７≦δ８の関係が成立している。また、累積発光時間Ｔ２に対する補正係数δの増加率は、図４に示すように、累積発光時間Ｔ２の増加に伴って増加している。すなわち、累積発光時間Ｔ２が大きくなると、補正係数δの傾きが大きくなる。 In the fourth table of Table 4, the relationship of δ1 ≦ δ2 ≦ δ3 ≦ δ4 ≦ δ5 ≦ δ6 ≦ δ7 ≦ δ8 is established. Further, as shown in FIG. 4, the increasing rate of the correction coefficient δ with respect to the cumulative light emission time T2 increases as the cumulative light emission time T2 increases. That is, as the cumulative light emission time T2 increases, the inclination of the correction coefficient δ increases.
更に、累積発光時間Ｔ２の間隔は、累積発光時間Ｔ２が大きくなるにしたがって小さくなっている。具体的には、累積発光時間Ｔ２の間隔は、１１３−８４−６３−４８−３５−２７−２０と減少している。 Further, the interval of the cumulative light emission time T2 becomes smaller as the cumulative light emission time T2 increases. Specifically, the interval of the cumulative light emission time T2 is reduced to 113-84-63-48-35-27-20.
ＡＳＩＣ６０ａは、取得した発光点５４−１の面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１及び累積発光時間Ｔ２に対応する補正係数α〜δを第１のテーブルないし第４のテーブルに基づいて決定すると共に、決定した補正係数α〜δに基づいて、発光点５４−１に流すべき駆動電流の電流値Ｉを決定する。具体的には、以下の式（１）を用いて、ＡＳＩＣ６０ａは、電流値Ｉを決定する。
The
Ｉ＝α×β×γ×δ×Ｉ０ ・・・（１） I = α × β × γ × δ × I0 (1)
ところで、ＡＳＩＣ６０ａ及びソースＩＣ６４ａは、取得した発光点５４−１の面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１及び累積発光時間Ｔ２と一致する面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１及び累積発光時間Ｔ２が第１のテーブルないし第４のテーブルに記録されていない場合には、補間により取得した面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１及び累積発光時間Ｔ２に対応する補正係数α〜δを決定する。本実施形態では、ＡＳＩＣ６０ａは、線形補間により補正係数α〜δを決定する。以下に、補正係数δの決定を例に挙げて表３及び図４を参照しながら説明する。
By the way, the
ＡＳＩＣ６０ａは、発光点温度Ｔ１として７０℃を取得した場合には、７０℃と一致する発光点温度Ｔ１が第３のテーブルに存在するか否かを判定する。そして、ＡＳＩＣ６０ａは、７０℃と一致する発光点温度Ｔ１が第３のテーブルに存在しないと判定し、式（２）を用いた線形補間により補正係数γを決定する。具体的には、ＡＳＩＣ６０ａは、７０℃より低い発光点温度Ｔ１の内の７０℃に最も近い６９℃、７０℃より高い発光点温度Ｔ１の内の７０℃に最も近い７２℃、６９℃に対応する補正係数γ８、及び、７２℃に対応する補正係数γ９を用いて、補正係数γを算出する。
When the
γ＝γ８＋（７０−６９）×（γ９−γ８）／（７２−６９）・・・（２） γ = γ8 + (70−69) × (γ9−γ8) / (72−69) (2)
これにより、補正係数γが決定される。なお、同じ演算により、補正係数α，β，δが決定される。 Thereby, the correction coefficient γ is determined. The correction coefficients α, β, and δ are determined by the same calculation.
（効果）
本実施形態に係る光書き込み装置によれば、電流値の調整を精度よく行うことができる。より詳細には、特許文献１に記載の駆動回路では、図５に示すように、周囲温度Ａ８，Ａ９及び補正係数Ｂ８，Ｂ９を用いて、線形補間により補正係数Ｂを決定する。ただし、図５に示すように、周囲温度が高くなるにしたがって、補正係数の傾きが大きくなる。一方、周囲温度Ａ１〜Ａ９の間隔は等間隔である。そのため、補正係数Ｂ８と補正係数Ｂ９との差が比較的に大きくなる。これにより、（Ａ８，Ｂ８）と（Ａ９，Ｂ９）とを結んで得られる直線と、（Ａ８，Ｂ８）と（Ａ９，Ｂ９）とを結ぶカーブとが大きくずれる。したがって、駆動回路が取得した周囲温度Ａが高い場合には、線形補間により得られる補正係数Ｂと、実際の補正係数Ｂ'との間にずれが生じるおそれがある。
(effect)
With the optical writing device according to the present embodiment, the current value can be adjusted with high accuracy. More specifically, in the drive circuit described in
一方、本実施形態に係る光書き込み装置では、図４に示すように、発光点温度Ｔ１の間隔は、発光点温度Ｔ１が大きくなるにしたがって小さくなっている。具体的には、発光点温度Ｔ１の間隔は、１５−１１−９−６−５−３−３と減少している。そのため、補正係数γ８と補正係数γ９との差は、補正係数Ｂ８と補正係数Ｂ９との差よりも小さくなる。これにより、（６９，γ８）と（７２，γ９）とを結んで得られる直線と、（６９，γ８）と（７２，γ９）とを結ぶカーブとがずれにくい。したがって、ＡＳＩＣ６０ａが取得した発光点温度Ｔ１が高い場合であっても、線形補間により得られる補正係数γと、実際の補正係数γｒとの間にずれが生じにくい。その結果、本実施形態に係る光書き込み装置によれば、電流値の調整を精度よく行うことができる。
On the other hand, in the optical writing device according to the present embodiment, as shown in FIG. 4, the interval between the light emitting point temperatures T1 decreases as the light emitting point temperature T1 increases. Specifically, the interval between the light emitting point temperatures T1 is reduced to 15-11-9-6-5-3-3. Therefore, the difference between the correction coefficient γ8 and the correction coefficient γ9 is smaller than the difference between the correction coefficient B8 and the correction coefficient B9. As a result, the straight line obtained by connecting (69, γ8) and (72, γ9) and the curve connecting (69, γ8) and (72, γ9) are unlikely to shift. Therefore, even when the light emitting point temperature T1 acquired by the
また、本実施形態に係る光書き込み装置では、特許文献１に記載の駆動回路と比較して、例えば、第３のテーブルに記録されている発光点温度Ｔ１及び補正係数δの数が変化していない。よって、該光書き込み装置では、ＡＳＩＣ６０ａの記憶容量を増加させることなく、電流値の調整の精度を向上させることができる。
Further, in the optical writing device according to the present embodiment, for example, the number of emission point temperatures T1 and correction coefficients δ recorded in the third table is changed as compared with the drive circuit described in
（変形例）
以下に、変形例に係る光書き込み装置について説明する。加工誤差に起因する発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・のサイズのばらつきは、エッジグロースに起因する発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・のサイズのばらつきよりも大きい。そして、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・のサイズがばらつくと、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の温度変化もばらつく。すなわち、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌがばらつくと、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の温度変化もばらつく。例えば、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌが大きくなると、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の発光点温度Ｔ１が高くなりやすい。そこで、表５ないし表７に示すように、ＡＳＩＣ６０ａは、面積欠損率Ｌに対応する複数種類（３種類）の第３テーブルを記憶している。
(Modification)
Hereinafter, an optical writing device according to a modification will be described. The variation in the size of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Due to the processing error is the size of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. It is larger than the variation. When the sizes of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Vary, the temperature changes of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. That is, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Varies, the temperature change of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. For example, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Increases, the light emitting point temperature T1 of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. Prone. Therefore, as shown in Tables 5 to 7, the
表５は、面積欠損率Ｌが相対的に小さい場合に用いられる第３のテーブルである。表６は、面積欠損率Ｌが中程度である場合に用いられる第３のテーブルである。表７は、面積欠損率Ｌが相対的に大きい場合に用いられる第３のテーブルである。各第３のテーブルに記録されている発光点温度Ｔ１の上限値は、面積欠損率Ｌが大きくなるにしたがって、高くなっている。 Table 5 is a third table used when the area defect rate L is relatively small. Table 6 is a third table used when the area defect rate L is medium. Table 7 is a third table used when the area defect rate L is relatively large. The upper limit value of the light emitting point temperature T1 recorded in each third table increases as the area defect rate L increases.
以上のような光書き込み装置では、電流値の調整をより精度よく行うことができる。より詳細には、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌが相対的に小さい場合には、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の発光点温度Ｔ１が高くなりにくい。すなわち、高い発光点温度Ｔ１に対応する補正係数γが殆ど使用されない。そこで、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌが相対的に小さい場合には、第３のテーブルの発光点温度Ｔ１の上限値を相対的に低くする。これにより、第３のテーブルの発光点温度Ｔ１の間隔が全体的に小さくなるので、線形補間により得られる補正係数γと実際の補正係数γｒとの間にずれが生じにくくなる。 In the optical writing apparatus as described above, the current value can be adjusted more accurately. More specifically, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Is relatively small, the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. The light emitting point temperature T1 is difficult to increase. That is, the correction coefficient γ corresponding to the high emission point temperature T1 is hardly used. Therefore, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Is relatively small, the upper limit value of the light emitting point temperature T1 of the third table is relatively lowered. . As a result, the interval between the light emitting point temperatures T1 of the third table is reduced as a whole, so that it is difficult for a deviation to occur between the correction coefficient γ obtained by linear interpolation and the actual correction coefficient γr.
一方、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌが相対的に大きい場合には、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の発光点温度Ｔ１が高くなりやすい。すなわち、高い発光点温度Ｔ１に対応する補正係数γが使用されやすい。そこで、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・の面積欠損率Ｌが相対的に大きい場合には、第３のテーブルの発光点温度Ｔ１の上限値を相対的に高くする。 On the other hand, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Is relatively large, the light emission of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,. The point temperature T1 tends to increase. That is, the correction coefficient γ corresponding to the high light emitting point temperature T1 is likely to be used. Therefore, when the area defect rate L of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Is relatively large, the upper limit value of the light emitting point temperature T1 of the third table is relatively increased. .
また、３種類の第３のテーブルに記録されている発光点温度Ｔ１の数は等しい。これにより、ＡＳＩＣ６０ａの記憶容量が少なくて済む。
Further, the numbers of the light emitting point temperatures T1 recorded in the three types of third tables are equal. As a result, the storage capacity of the
なお、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・のサイズは、加工誤差に起因してばらつく。そして、発光点５４−１，５４−２，５４−３・・・のサイズがばらつくと、電流に対する発光効率にばらつきが発生したり、劣化速度にばらつきが発生したり、温度変化に対する発光効率の変化にばらつきが発生したりする。そこで、ＡＳＩＣ６０ａは、面積欠損率Ｌに対応する複数種類の第１のテーブル又は第２のテーブルを記憶していてもよい。
Note that the sizes of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Vary due to processing errors. When the sizes of the light emitting points 54-1, 54-2, 54-3,... Vary, the light emission efficiency with respect to the current varies, the deterioration rate varies, and the light emission efficiency with respect to temperature changes. Variations may occur in changes. Therefore, the
（その他の実施形態）
本発明に係る光書き込み装置は、前記実施形態及び変形例に係る光書き込み装置に限らず、その要旨の範囲内において変更可能である。
(Other embodiments)
The optical writing device according to the present invention is not limited to the optical writing device according to the embodiment and the modification, and can be changed within the scope of the gist thereof.
なお、実施形態に係る光書き込み装置と変形例に係る光書き込み装置の構成を任意に組み合わせてもよい。 The configurations of the optical writing device according to the embodiment and the optical writing device according to the modification may be arbitrarily combined.
なお、発光部は、少なくとも１以上あればよい。 In addition, the light emission part should just be at least 1 or more.
なお、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータは、発光点５４−１の面積欠損率Ｌ、発光量Ｐ、発光点温度Ｔ１又は累積発光時間Ｔ２の少なくとも１つであればよい。すなわち、ＡＳＩＣ６０ａは、補正係数α〜δの少なくとも１つを用いて基準電流値Ｉ０を補正すればよい。
In addition, the parameter regarding the light emission condition of the light emission point 54-1 may be at least one of the area defect rate L, the light emission amount P, the light emission point temperature T1, or the cumulative light emission time T2 of the light emission point 54-1. That is, the
なお、ＡＳＩＣ６０ａは、線形補間以外の補間方法によって補正係数α〜δを決定してもよい。
Note that the
なお、前記実施形態及び変形例に係る光書き込み装置では、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータに対する補正係数の増加率は、パラメータの増加に伴って増加している。しかしながら、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータに対する補正係数の減少率は、パラメータの増加に伴って増加してもよい。すなわち、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータに対する補正係数の絶対値の増加率は、パラメータの増加に伴って増加していればよい。 In the optical writing device according to the embodiment and the modification, the increase rate of the correction coefficient with respect to the parameter relating to the light emission condition of the light emitting point 54-1 increases with the increase of the parameter. However, the decrease rate of the correction coefficient for the parameter related to the light emission condition of the light emitting point 54-1 may increase as the parameter increases. That is, the increase rate of the absolute value of the correction coefficient with respect to the parameter relating to the light emission condition of the light emitting point 54-1 only needs to increase as the parameter increases.
また、発光点５４−１の発光条件に関するパラメータの間隔は、該パラメータが大きくなるにしたがって小さくなっている。しかしながら、パラメータが所定値以上の範囲におけるパラメータの間隔は、パラメータが所定値以下の範囲におけるパラメータの間隔よりも小さければよい。すなわち、パラメータの間隔は、相対的に大きい間隔と相対的に小さい間隔の２種類であってもよい。 Further, the parameter interval related to the light emission condition of the light emitting point 54-1 decreases as the parameter increases. However, the parameter interval in the range where the parameter is equal to or larger than the predetermined value may be smaller than the parameter interval in the range where the parameter is equal to or smaller than the predetermined value. That is, there may be two types of parameter intervals, a relatively large interval and a relatively small interval.
本発明は、光書き込み装置に有用であり、特に、電流値の調整を精度よく行うことができる点において優れている。 The present invention is useful for an optical writing device, and is particularly excellent in that the current value can be adjusted with high accuracy.
１：画像形成装置
３７：制御部
３８：記憶部
５４−１，５４−２，５４−３・・・：発光点
６０ａ：ＡＳＩＣ
６４ａ：ソースＩＣ
1: Image forming apparatus 37: Control unit 38: Storage units 54-1, 54-2, 54-3 ...:
64a: Source IC
Claims (7)
駆動電流の供給を受けて発光する少なくとも１以上の発光部と、
前記発光部の発光条件に関するパラメータと補正係数との関係を示したテーブルを記憶する記憶部と、
前記パラメータを取得し、取得した該パラメータに対応する前記補正係数を前記テーブルに基づいて決定すると共に、決定した該補正係数に基づいて、前記駆動電流を決定する制御部と、
を備えており、
前記パラメータに対する前記補正係数の絶対値の増加率は、該パラメータの増加に伴って増加しており、
前記パラメータが所定値以上の範囲における前記パラメータの間隔は、前記パラメータが所定値以下の範囲における前記パラメータの間隔よりも小さいこと、
を特徴とする光書き込み装置。 An optical writing device for irradiating a photoconductor with light,
At least one light emitting unit that emits light upon receiving a drive current; and
A storage unit for storing a table showing a relationship between a parameter relating to the light emission condition of the light emitting unit and a correction coefficient;
A controller that acquires the parameter, determines the correction coefficient corresponding to the acquired parameter based on the table, and determines the drive current based on the determined correction coefficient;
With
The rate of increase in the absolute value of the correction coefficient with respect to the parameter increases as the parameter increases,
The interval of the parameter in a range where the parameter is equal to or greater than a predetermined value is smaller than the interval of the parameter in a range where the parameter is equal to or less than a predetermined value;
An optical writing device.
を特徴とする請求項１に記載の光書き込み装置。 The interval between the parameters decreases as the parameter increases;
The optical writing device according to claim 1.
を特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載の光書き込み装置。 The control unit determines the correction coefficient corresponding to the parameter acquired by interpolation when the parameter that matches the acquired parameter is not recorded in the table;
The optical writing device according to claim 1, wherein:
を特徴とする請求項３に記載の光書き込み装置。 The interpolation is linear interpolation;
The optical writing device according to claim 3.
前記発光部の面積欠損率は、該発光部の発光領域の面積に対する該発光領域において発光しない面積の比の値であること、
を特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の光書き込み装置。 The parameter is a light amount of the light emitting unit, a temperature of the light emitting unit, a cumulative light emission time of the light emitting unit, or an area loss rate of the light emitting unit,
The area defect rate of the light emitting part is a value of the ratio of the area that does not emit light in the light emitting region to the area of the light emitting region of the light emitting part,
The optical writing device according to claim 1, wherein:
前記記憶部は、前記発光部の発光領域の面積に対する該発光領域において発光しない面積の比の値である該発光部の面積欠損率に対応する複数の前記テーブルを記憶しており、
各前記テーブルに記録されている前記発光部の温度の上限値は、前記発光領域の面積欠損率が大きくなるにしたがって、高くなっていること、
を特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の光書き込み装置。 The parameter is the temperature of the light emitting unit,
The storage unit stores a plurality of the tables corresponding to an area defect rate of the light emitting unit that is a value of a ratio of an area that does not emit light in the light emitting region to an area of the light emitting region of the light emitting unit,
The upper limit value of the temperature of the light emitting portion recorded in each table is higher as the area defect rate of the light emitting region is larger,
The optical writing device according to claim 1, wherein:
を特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の光書き込み装置。 The light emitting unit is an organic light emitting diode;
The optical writing device according to claim 1, wherein:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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