JP2016181151A - Voltage division circuit and mass analysis device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電圧分割回路および質量分析装置に関する。 The present invention relates to a voltage dividing circuit and a mass spectrometer.
電圧分割回路として、複数の固定抵抗素子を直列に接続した回路が知られている。このような電圧分割回路では、固定抵抗素子の抵抗分割電圧をそのまま出力する。 As a voltage dividing circuit, a circuit in which a plurality of fixed resistance elements are connected in series is known. In such a voltage dividing circuit, the resistance dividing voltage of the fixed resistance element is output as it is.
また、特許文献1には、正負両極性の入力電圧を任意の電圧に分割する機能を有する電圧分割回路が開示されている。特許文献1の電圧分割回路では、電源ラインに複数の直列抵抗からなる分圧回路を接続して正または負の電圧源を切り替えて供給し、分圧比を設定電圧に従って変えて分圧回路の抵抗の直列接続点から出力電圧を取り出す。そして、印加するバイアスにより抵抗値が変化する可変抵抗素子と逆流素子との2組の直列回路を相互に逆方向にして分圧回路を構成する抵抗の一部に並列接続し、出力電圧をモニターして設定電圧と比較し比較誤差信号により可変抵抗素子のバイアスを制御する。これにより、正負両極性の入力電圧を任意の電圧に分割することができる。 Patent Document 1 discloses a voltage divider circuit having a function of dividing a positive and negative input voltage into an arbitrary voltage. In the voltage dividing circuit of Patent Document 1, a voltage dividing circuit composed of a plurality of series resistors is connected to a power supply line, and a positive or negative voltage source is switched and supplied. The output voltage is taken out from the series connection point. Then, two sets of series circuits of a variable resistance element and a backflow element whose resistance value changes depending on the applied bias are connected in parallel to a part of the resistors constituting the voltage dividing circuit, and the output voltage is monitored. Then, the bias of the variable resistance element is controlled by the comparison error signal in comparison with the set voltage. Thereby, the input voltage of both positive and negative polarities can be divided into arbitrary voltages.
このような電圧分割回路は、例えば、分析対象である試料中の分子をイオン化し、電場や磁場を利用して質量分離し、分離されたイオンを検出器で検出する質量分析装置の電源として用いられる。 Such a voltage divider circuit is used, for example, as a power source for a mass spectrometer that ionizes molecules in a sample to be analyzed, performs mass separation using an electric field or magnetic field, and detects the separated ions with a detector. It is done.
しかしながら、上述した複数の固定抵抗素子を直列に接続した電圧分割回路を用いる場合、出力に接続された負荷が不定、もしくは負荷が変動する場合には、出力電圧が任意に定まらないという問題がある。これは、出力に接続されている負荷のインピーダンスの影響を受けて、抵抗素子と負荷による並列インピーダンスが変動してしまうためである。 However, in the case of using the voltage dividing circuit in which the plurality of fixed resistance elements described above are connected in series, there is a problem that the output voltage is not arbitrarily determined when the load connected to the output is indefinite or the load fluctuates. . This is because the parallel impedance due to the resistance element and the load varies under the influence of the impedance of the load connected to the output.
また、複数の固定抵抗素子を直列に接続した電圧分割回路では、出力に接続された負荷が容量性負荷の場合、電圧の立ち上がりの速度、および立ち下がりの速度が極端に低下する場合がある。これは、電圧分割回路と負荷の容量により構成されるRC回路の時定数によって、立ち上がり速度、および立ち下がりの速度が制限されるためである。 Further, in a voltage dividing circuit in which a plurality of fixed resistance elements are connected in series, when the load connected to the output is a capacitive load, the rising speed and falling speed of the voltage may be extremely reduced. This is because the rising speed and the falling speed are limited by the time constant of the RC circuit configured by the voltage dividing circuit and the load capacitance.
また、特許文献1に開示された電圧分割回路では、コンピューター制御が必要無い場合や、入力電圧を可変することで出力電圧を制御するような場合においても、抵抗素子間の電圧を、別途、モニターする必要があるため、回路が複雑化する。また、比較器等として市販されている一般的な電源電圧で使用するOPアンプやコンパレーターを使用した場合には、高電圧回路とのアイソレーションが必要となり、コストがかかってしまう。また、出力電圧を高速でスキャンして使用する場合において、可変抵抗素子の応答特性の他に、誤差信号作成回路等の応答特性を考慮する必要がある。 Further, in the voltage dividing circuit disclosed in Patent Document 1, the voltage between the resistive elements is separately monitored even when the computer control is not necessary or the output voltage is controlled by varying the input voltage. This complicates the circuit. In addition, when an OP amplifier or a comparator that is used with a general power supply voltage that is commercially available as a comparator or the like is used, isolation from a high voltage circuit is required, which increases costs. When the output voltage is scanned at high speed and used, in addition to the response characteristics of the variable resistance element, it is necessary to consider the response characteristics of an error signal generation circuit or the like.
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、正負どちらの極性の入力電圧であっても使用可能であって、優れた過渡応答特性を有する電圧分割回路を提供することにある。また、本発明のいくつかの態
様に係る目的の1つは、上記電圧分割回路を含む質量分析装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and one of the objects according to some aspects of the present invention is that it can be used with input voltages of either positive or negative polarity. Another object of the present invention is to provide a voltage divider circuit having excellent transient response characteristics. Another object of some aspects of the present invention is to provide a mass spectrometer including the voltage dividing circuit.
(1)本発明に係る電圧分割回路は、
入力端子間に印加される入力電圧を分圧して分圧出力電圧を出力する電圧分割回路であって、
前記入力端子間に直列に接続された複数の基準抵抗素子を有し、各前記基準抵抗素子の両端からそれぞれ基準電圧が取り出される基準電圧用分圧回路と、
前記入力端子間に複数の前記基準抵抗素子に対応して直列に接続された複数の可変抵抗回路を有し、前記可変抵抗回路の各直列接続点から前記分圧出力電圧が取り出される分圧出力用分圧回路と、
を含み、
各前記可変抵抗回路は、
互いに極性が逆方向になるように直列に接続された第1可変抵抗素子および第2可変抵抗素子と、
前記第1可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第1ダイオードと、
前記第2可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第2ダイオードと、
を備え、
各前記可変抵抗回路において、
前記第1可変抵抗素子の抵抗値は、対応する前記基準抵抗素子の一端から取り出される基準電圧と、前記可変抵抗回路の一方側の前記直列接続点から取り出される前記分圧出力電圧との差に基づいて制御され、
前記第2可変抵抗素子の抵抗値は、対応する前記基準抵抗素子の他端から取り出される基準電圧と、前記可変抵抗回路の他方側の前記直列接続点から取り出される前記分圧出力電圧との差に基づいて制御される。
(1) The voltage divider circuit according to the present invention is:
A voltage dividing circuit that divides an input voltage applied between input terminals and outputs a divided output voltage,
A reference voltage dividing circuit having a plurality of reference resistance elements connected in series between the input terminals, each of which takes out a reference voltage from both ends of each of the reference resistance elements;
A divided voltage output having a plurality of variable resistance circuits connected in series corresponding to the plurality of reference resistance elements between the input terminals, and the divided output voltage is taken out from each series connection point of the variable resistance circuit Voltage divider circuit,
Including
Each of the variable resistance circuits is
A first variable resistance element and a second variable resistance element connected in series so that their polarities are opposite to each other;
A first diode connected in parallel with the first variable resistance element so that the polarity is opposite;
A second diode connected in parallel with the second variable resistance element so that the polarity is opposite;
With
In each of the variable resistance circuits,
The resistance value of the first variable resistance element is a difference between a reference voltage extracted from one end of the corresponding reference resistance element and the divided output voltage extracted from the series connection point on one side of the variable resistance circuit. Controlled based on
The resistance value of the second variable resistance element is the difference between the reference voltage extracted from the other end of the corresponding reference resistance element and the divided output voltage extracted from the series connection point on the other side of the variable resistance circuit. Controlled based on
このような電圧分割回路では、可変抵抗回路が互いの極性が逆方向となるように直列に接続された第1可変抵抗素子および第2可変抵抗素子と、第1可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第1ダイオードと、第2可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第2ダイオードと、を備えているため、正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を実現することができる。 In such a voltage dividing circuit, the first variable resistance element and the second variable resistance element connected in series so that the polarities of the variable resistance circuits are opposite to each other, and the polarity of the first variable resistance element are opposite to each other And a second diode connected in parallel so that the polarity is opposite to that of the second variable resistance element, so that a voltage input with both positive and negative polarities is provided. A voltage dividing function corresponding to the above can be realized.
また、このような電圧分割回路では、基準抵抗素子による基準電圧用分圧回路に流れる電流と負荷に供給される電流の経路とが分離されている。そのため、負荷条件による出力電圧の変化を小さくすることができる。さらに、このような電圧分割回路では、基準電圧用分圧回路に流れる電流と負荷に供給される電流の経路とが分離されているため、後述するように、優れた過渡応答特性を有することができる。 Further, in such a voltage dividing circuit, the current flowing through the reference voltage dividing circuit by the reference resistance element and the path of the current supplied to the load are separated. Therefore, the change in the output voltage due to the load condition can be reduced. Further, in such a voltage dividing circuit, since the current flowing through the reference voltage dividing circuit and the path of the current supplied to the load are separated, as described later, the voltage dividing circuit may have excellent transient response characteristics. it can.
(2)本発明に係る電圧分割回路において、
前記第1可変抵抗素子は、第1電界効果トランジスターであり、
前記第2可変抵抗素子は、第2電界効果トランジスターであってもよい。
(2) In the voltage divider circuit according to the present invention,
The first variable resistance element is a first field effect transistor;
The second variable resistance element may be a second field effect transistor.
(3)本発明に係る電圧分割回路において、
前記第1ダイオードは、前記第1電界効果トランジスターのボディーダイオードであり、
前記第2ダイオードは、前記第2電界効果トランジスターのボディーダイオードであってもよい。
(3) In the voltage divider circuit according to the present invention,
The first diode is a body diode of the first field effect transistor;
The second diode may be a body diode of the second field effect transistor.
このような電圧分割回路では、電界効果トランジスターのボディーダイオードによる電流バイパス経路を利用して、正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を実現することができる。 In such a voltage dividing circuit, a voltage dividing function corresponding to voltage input of both positive and negative polarities can be realized by using a current bypass path by a body diode of a field effect transistor.
(4)本発明に係る電圧分割回路において、
前記第1電界効果トランジスターと前記第2電界効果トランジスターとは、互いに極性が逆方向となるように直列に接続されていてもよい。
(4) In the voltage divider circuit according to the present invention,
The first field effect transistor and the second field effect transistor may be connected in series so that their polarities are opposite to each other.
(5)本発明に係る質量分析装置は、
本発明に係る電圧分割回路を含む。
(5) A mass spectrometer according to the present invention comprises:
A voltage divider circuit according to the present invention is included.
このような質量分析装置では、電圧分割回路が正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を有しているため、例えば、質量分析装置において、加速電圧の極性が正の場合と負の場合の両方に対応することができる。 In such a mass spectrometer, the voltage dividing circuit has a voltage dividing function corresponding to both positive and negative voltage inputs. For example, in the mass spectrometer, when the polarity of the acceleration voltage is positive and negative Both can be accommodated.
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The embodiments described below do not unduly limit the contents of the present invention described in the claims. In addition, not all of the configurations described below are essential constituent requirements of the present invention.
1. 電圧分割回路
まず、本実施形態に係る電圧分割回路について図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る電圧分割回路100の構成を示す図である。
1. Voltage Dividing Circuit First, the voltage dividing circuit according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a voltage dividing circuit 100 according to the present embodiment.
電圧分割回路100は、図1に示すように、電圧分割回路部10と、電流制限素子20a,20b,22a,22bと、を含む。 As shown in FIG. 1, the voltage dividing circuit 100 includes a voltage dividing circuit unit 10 and current limiting elements 20a, 20b, 22a, and 22b.
電圧分割回路100では、第1入力端子30は正の高電圧源2に接続され、第2入力端子32は、グランドに接続される。なお、第1入力端子30は負の高電圧源2に接続されてもよい。すなわち、電圧分割回路100では、第2入力端子32をグランドとし、第1入力端子30に高電圧(+HVもしくは−HV)が印加される。 In the voltage dividing circuit 100, the first input terminal 30 is connected to the positive high voltage source 2, and the second input terminal 32 is connected to the ground. The first input terminal 30 may be connected to the negative high voltage source 2. That is, in the voltage dividing circuit 100, the second input terminal 32 is grounded, and a high voltage (+ HV or -HV) is applied to the first input terminal 30.
電圧分割の対象となる高電圧+HV(もしくは−HV)は、電流制限素子20a,20b,22a,22bを介して電圧分割回路部10に印加される。そして、電圧分割回路部10に印加された電圧は、電圧分割回路部10において電圧分割され、出力端子34に分圧出力電圧が印加される。出力端子34には、例えば、負荷4が接続されている。 The high voltage + HV (or -HV) to be voltage-divided is applied to the voltage dividing circuit unit 10 through the current limiting elements 20a, 20b, 22a, and 22b. The voltage applied to the voltage divider circuit unit 10 is voltage-divided by the voltage divider circuit unit 10, and the divided output voltage is applied to the output terminal 34. For example, a load 4 is connected to the output terminal 34.
なお、図1に示す例では、電圧分割回路100の出力端子34は1つであるが、出力端子34の数は特に限定されない。電圧分割回路100では、後述する単位ブロック1を複数段接続することにより、複数の出力端子34を有することができる。 In the example shown in FIG. 1, the voltage dividing circuit 100 has one output terminal 34, but the number of output terminals 34 is not particularly limited. The voltage dividing circuit 100 can have a plurality of output terminals 34 by connecting a plurality of unit blocks 1 described later in a plurality of stages.
図2は、電圧分割回路部10の構成を示す回路図である。 FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of the voltage dividing circuit unit 10.
電圧分割回路部10は、図2に示す単位ブロック1を直列に2段以上接続したものである。図2に示す例では、単位ブロック1を2段接続した状態を図示している。なお、電圧分割回路部10における単位ブロック1の段数は、作成したい分圧電圧間隔によって決定され、任意に設定可能である。 The voltage dividing circuit unit 10 is obtained by connecting two or more stages of unit blocks 1 shown in FIG. 2 in series. In the example shown in FIG. 2, the unit block 1 is connected in two stages. Note that the number of stages of the unit block 1 in the voltage dividing circuit unit 10 is determined by the divided voltage interval to be created and can be arbitrarily set.
単位ブロック1を多段に接続する場合には、接続部11bに別の単位ブロック1の接続部11aを接続し、接続部11dに別の単位ブロック1の接続部11cを接続する。 When connecting the unit blocks 1 in multiple stages, the connection unit 11a of another unit block 1 is connected to the connection unit 11b, and the connection unit 11c of another unit block 1 is connected to the connection unit 11d.
なお、最上段(最も第1入力端子30側)の単位ブロック1では、接続部11aは電流制限素子20aを介して第1入力端子30に接続され、接続部11cは電流制限素子20bを介して第1入力端子30に接続されている。また、最下段(最も第2入力端子32側)の単位ブロック1では、接続部11bは電流制限素子22aを介して第2入力端子32に接続され、接続部11dは電流制限素子22bを介して第2入力端子32に接続されている。図示の例では、各単位ブロック1は、抵抗素子12と、可変抵抗回路14と、電圧制限ダイオード18と、で構成されている。 In the uppermost unit block 1 (most side of the first input terminal 30), the connecting portion 11a is connected to the first input terminal 30 via the current limiting element 20a, and the connecting portion 11c is connected via the current limiting element 20b. The first input terminal 30 is connected. In the unit block 1 at the lowest level (most side of the second input terminal 32), the connecting portion 11b is connected to the second input terminal 32 via the current limiting element 22a, and the connecting portion 11d is connected via the current limiting element 22b. The second input terminal 32 is connected. In the illustrated example, each unit block 1 includes a resistance element 12, a variable resistance circuit 14, and a voltage limiting diode 18.
電圧分割回路部10は、図2に示すように、基準電圧用分圧回路10aと、分圧出力用分圧回路10bと、を含んで構成されている。 As shown in FIG. 2, the voltage divider circuit unit 10 includes a reference voltage dividing circuit 10a and a divided output voltage dividing circuit 10b.
基準電圧用分圧回路10aは、入力端子30,32間に直列に接続された複数(N個、N≧2)の抵抗素子(基準抵抗素子)12を有している。図示の例では、隣り合う単位ブロック1の接続部11aと接続部11bとが接続されることにより、複数の抵抗素子12が直列に接続されている。基準電圧用分圧回路10aにおいて、直列に接続された複数の抵抗素子12は、固定抵抗による電圧分割部(基準電圧作成部)を構成している。したがって、各抵抗素子12の両端の電圧(分圧電圧)は、電圧分割回路部10に印加された電圧全体を、各抵抗素子12の抵抗値の比率で割り振ったものとなる。 The reference voltage dividing circuit 10 a includes a plurality (N, N ≧ 2) of resistance elements (reference resistance elements) 12 connected in series between the input terminals 30 and 32. In the illustrated example, a plurality of resistance elements 12 are connected in series by connecting the connecting portions 11a and 11b of adjacent unit blocks 1 to each other. In the reference voltage dividing circuit 10a, the plurality of resistance elements 12 connected in series constitute a voltage dividing unit (reference voltage creating unit) using a fixed resistor. Therefore, the voltage (divided voltage) at both ends of each resistance element 12 is obtained by allocating the entire voltage applied to the voltage dividing circuit unit 10 by the ratio of the resistance values of the resistance elements 12.
分圧出力用分圧回路10bは、入力端子30,32間に複数(N個)の抵抗素子12に1対1に対応して直列に接続された複数(N個)の可変抵抗回路14を有している。図示の例では、隣り合う単位ブロック1の接続部11cと接続部11dとが接続されることにより、複数の可変抵抗回路14が直列に接続されている。直列に接続された複数の可変抵抗回路14において、可変抵抗回路14間の直列接続点13に出力端子34が接続されている。 The voltage dividing output voltage dividing circuit 10b includes a plurality (N) of variable resistance circuits 14 connected in series corresponding to a plurality of (N) resistance elements 12 between input terminals 30 and 32 in a one-to-one correspondence. Have. In the illustrated example, a plurality of variable resistance circuits 14 are connected in series by connecting the connecting portions 11c and 11d of adjacent unit blocks 1 to each other. In a plurality of variable resistance circuits 14 connected in series, an output terminal 34 is connected to a series connection point 13 between the variable resistance circuits 14.
直列に接続された複数の抵抗素子12と、直列に接続された複数の可変抵抗回路14とは、並列に接続されている。 The plurality of resistance elements 12 connected in series and the plurality of variable resistance circuits 14 connected in series are connected in parallel.
可変抵抗回路14は、第1可変抵抗素子15aと、第2可変抵抗素子15bと、第1ダイオード16aと、第2ダイオード16bと、を含んで構成されている。 The variable resistance circuit 14 includes a first variable resistance element 15a, a second variable resistance element 15b, a first diode 16a, and a second diode 16b.
第1可変抵抗素子15aの抵抗値は、対応する抵抗素子12の一端(接続部11a側の端)から取り出される基準電圧と、可変抵抗回路14の一方側(接続部11c側)の直列接続点13から取り出される分圧出力電圧との差に基づいて制御される。第1可変抵抗素子15aは、例えば、電解効果トランジスター(Field effect transistor:FET)である。第1可変抵抗素子15aとしてのFETは、ソースが可変抵抗回路14の一方側(接続部11c側)の直列接続点13に接続され、ドレインが第2可変抵抗素子15bのドレインに接続され、ゲートが抵抗素子12の一端(接続部11a
側の端)に接続されている。第1可変抵抗素子15aは、ゲート・ソース間の電圧に応じて抵抗値が制御される。
The resistance value of the first variable resistance element 15a is the reference voltage taken out from one end (the end on the connection part 11a side) of the corresponding resistance element 12 and the series connection point on one side (the connection part 11c side) of the variable resistance circuit 14. 13 is controlled based on the difference from the divided output voltage taken out from 13. The first variable resistance element 15a is, for example, a field effect transistor (FET). The FET as the first variable resistance element 15a has a source connected to the series connection point 13 on one side (connecting part 11c side) of the variable resistance circuit 14, a drain connected to the drain of the second variable resistance element 15b, and a gate. Is one end of the resistance element 12 (connection portion 11a
Side end). The resistance value of the first variable resistance element 15a is controlled according to the voltage between the gate and the source.
第2可変抵抗素子15bの抵抗値は、対応する抵抗素子12の他端(接続部11b側の端)から取り出される基準電圧と、可変抵抗回路14の他方側(接続部11d側)の直列接続点13から取り出される分圧出力電圧との差に基づいて制御される。第2可変抵抗素子15bは、例えば、電解効果トランジスターである。第2可変抵抗素子15bとしてのFETは、ソースが可変抵抗回路14の他方側(接続部11d側)の直列接続点13に接続され、ドレインが第1可変抵抗素子15aのドレインに接続され、ゲートが抵抗素子12の他端(接続部11b側の端)に接続されている。第2可変抵抗素子15bは、ゲート・ソース間の電圧に応じて抵抗値が制御される。 The resistance value of the second variable resistance element 15b is a series connection between the reference voltage extracted from the other end (end on the connection portion 11b side) of the corresponding resistance element 12 and the other side (connection portion 11d side) of the variable resistance circuit 14. Control is based on the difference from the divided output voltage extracted from the point 13. The second variable resistance element 15b is, for example, a field effect transistor. The FET as the second variable resistance element 15b has a source connected to the series connection point 13 on the other side (connecting part 11d side) of the variable resistance circuit 14, a drain connected to the drain of the first variable resistance element 15a, and a gate. Is connected to the other end of the resistance element 12 (the end on the connection portion 11b side). The resistance value of the second variable resistance element 15b is controlled according to the voltage between the gate and the source.
第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bは、例えば、N型のFETである。以下、第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bがN型のFETである例について説明する。 The first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are, for example, N-type FETs. Hereinafter, an example in which the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are N-type FETs will be described.
ここで、図2に示すn番目(1≦n≦N)の単位ブロック1の可変抵抗回路14(Kn)における第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bについて説明する。 Here, the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b in the variable resistance circuit 14 (K n ) of the nth (1 ≦ n ≦ N) unit block 1 shown in FIG. 2 will be described.
第1可変抵抗素子15a(F1)は、対応する抵抗素子12(Rn)の一端から取り出される基準電圧Vnと、可変抵抗回路14(Kn)の一端(接続部11c)側の直列接続点13から取り出される分圧出力電圧Vn´との差に基づいて、その抵抗値が制御される。また、第2可変抵抗素子15b(F2)は、対応する抵抗素子12(Rn)の他端から取り出される基準電圧Vnと、可変抵抗回路14(Kn)の他端(接続部11d)側の直列接続点13から取り出される分圧出力電圧Vn+1´との差に基づいて、その抵抗値が制御される。 The first variable resistance element 15a (F1) is connected in series to the reference voltage V n extracted from one end of the corresponding resistance element 12 (R n ) and one end (connection portion 11c) side of the variable resistance circuit 14 (K n ). The resistance value is controlled based on the difference from the divided output voltage V n ′ taken out from the point 13. The second variable resistance element 15b (F2) includes a reference voltage V n extracted from the other end of the corresponding resistance element 12 (R n ) and the other end (connection portion 11d) of the variable resistance circuit 14 (K n ). The resistance value is controlled based on the difference from the divided output voltage V n + 1 ′ taken out from the side series connection point 13.
第1ダイオード16aは、第1可変抵抗素子15aと極性が逆方向になるように並列に接続されている。第1可変抵抗素子15aとしてFETを用いた場合、第1ダイオード16aとして、第1可変抵抗素子(FET)15aのボディーダイオードを利用することができる。具体的には、第1可変抵抗素子15aとしてのFETには、ソースとドレインとの間に、ソース側がアノード、ドレイン側がカソードとなる(ソースからドレインへの向きを順方向とする)第1ダイオード(ボディーダイオード)16aが形成されている。 The first diode 16a is connected in parallel with the first variable resistance element 15a so that the polarity is opposite. When an FET is used as the first variable resistance element 15a, the body diode of the first variable resistance element (FET) 15a can be used as the first diode 16a. Specifically, the FET as the first variable resistance element 15a includes a first diode between the source and the drain, the anode on the source side and the cathode on the drain side (the direction from the source to the drain is the forward direction). A (body diode) 16a is formed.
第2ダイオード16bは、第2可変抵抗素子15bと極性が逆方向になるように並列に接続されている。第2可変抵抗素子15bとしてFETを用いた場合、第2ダイオード16bとして、第2可変抵抗素子(FET)15bのボディーダイオードを利用することができる。具体的には、第2可変抵抗素子15bとしてのFETには、ソースとドレインとの間に、ソース側がアノード、ドレイン側がカソードとなる第2ダイオード(ボディーダイオード)16bが形成されている。 The second diode 16b is connected in parallel with the second variable resistance element 15b so that the polarity is opposite. When an FET is used as the second variable resistance element 15b, a body diode of the second variable resistance element (FET) 15b can be used as the second diode 16b. Specifically, in the FET as the second variable resistance element 15b, a second diode (body diode) 16b having an anode on the source side and a cathode on the drain side is formed between the source and the drain.
第1可変抵抗素子15aと第2可変抵抗素子15bとは、互いに極性が逆方向となるように直列に接続されている。図示の例では、上述したように第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bはFETであり、第1可変抵抗素子15aのドレインと第2可変抵抗素子15bのドレインとが接続されている。また、第1ダイオード16aと第2ダイオード16bとは、互いに極性が逆方向となるように直列に接続されている。図示の例では、第1ダイオード16aのカソードと第2ダイオード16bのカソードとが接続されている。 The first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are connected in series so that their polarities are opposite to each other. In the illustrated example, as described above, the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are FETs, and the drain of the first variable resistance element 15a and the drain of the second variable resistance element 15b are connected. . The first diode 16a and the second diode 16b are connected in series so that their polarities are opposite to each other. In the illustrated example, the cathode of the first diode 16a and the cathode of the second diode 16b are connected.
電圧制限ダイオード18は、電圧の立ち上がり、および立ち下がり時に、可変抵抗素子
(FET)15a,15bのゲート・ソース間に過剰な電圧が印加されないように保護する。電圧制限ダイオード18は、例えば、第1可変抵抗素子15aのゲートが接続された抵抗素子12の一端と、第1可変抵抗素子15aのソースが接続された直列接続点13と、の間に設けられている。
The voltage limiting diode 18 protects an excessive voltage from being applied between the gate and source of the variable resistance elements (FETs) 15a and 15b at the time of rising and falling of the voltage. The voltage limiting diode 18 is provided, for example, between one end of the resistance element 12 to which the gate of the first variable resistance element 15a is connected and the series connection point 13 to which the source of the first variable resistance element 15a is connected. ing.
図1に示す電流制限素子20a,20b,22a,22bは、抵抗である。電流制限素子20a,22aの抵抗値は、例えば、電流制限素子20b、22bの抵抗値よりも大きい。例えば、電流制限素子20a,22aの抵抗値は10kΩ程度であり、電流制限素子20b,22bの抵抗値は1kΩである。 The current limiting elements 20a, 20b, 22a, and 22b shown in FIG. 1 are resistors. The resistance values of the current limiting elements 20a and 22a are larger than the resistance values of the current limiting elements 20b and 22b, for example. For example, the resistance value of the current limiting elements 20a and 22a is about 10 kΩ, and the resistance value of the current limiting elements 20b and 22b is 1 kΩ.
次に、電圧分割回路100の動作について説明する。 Next, the operation of the voltage dividing circuit 100 will be described.
以下、可変抵抗素子15a,15bとしてFETを使用し、抵抗素子12は各段すべて同じ抵抗値に設定した場合について説明する。 Hereinafter, a case will be described in which FETs are used as the variable resistance elements 15a and 15b, and the resistance elements 12 are set to the same resistance value in each stage.
まず、電圧分割回路100の定常状態の動作について説明する。 First, the steady state operation of the voltage divider circuit 100 will be described.
図1および図2に示すように、電圧分割回路100では、高電圧源2(+HVもしくは−HV)に接続された第1入力端子30と、グランドに接続された第2入力端子32と、の間に、抵抗素子12が直列に多段接続された状態となっている。これにより、各可変抵抗素子15a,15bのゲート・ソース間にはすべて同電位が印加され、接続部11cから接続部11dまでのインピーダンスが各段同じとなる。そのため、抵抗による電圧分割回路と同様に、各段均等に電圧が分割される。これは、単純に、可変抵抗素子15a,15bにばらつきが無い場合であるが、各単位ブロック1に係る電圧が可変抵抗素子15a,15bのばらつきにより偏った場合にも、「抵抗素子12を多段に接続することによって各段の抵抗素子12に発生している電位」と「各単位ブロック1の可変抵抗素子15a,15b」との間の差電圧(ゲート・ソース間電圧)が偏りに応じて上昇・減少することとなる。そのため、抵抗による電圧分割回路と同様に、各段均等に電圧が分割されることとなる。つまり、抵抗素子12の電圧分割比と同じ精度で出力端子34に電圧が出力されることとなる。 As shown in FIGS. 1 and 2, in the voltage dividing circuit 100, a first input terminal 30 connected to the high voltage source 2 (+ HV or −HV) and a second input terminal 32 connected to the ground are provided. Between them, the resistance elements 12 are connected in multiple stages in series. As a result, the same potential is applied between the gates and sources of the variable resistance elements 15a and 15b, and the impedance from the connection portion 11c to the connection portion 11d is the same in each stage. Therefore, the voltage is equally divided at each stage, as in the voltage dividing circuit using resistors. This is simply a case where there is no variation in the variable resistance elements 15a and 15b. However, even when the voltage applied to each unit block 1 is biased due to the variation in the variable resistance elements 15a and 15b, “the resistance element 12 is multi-staged. The difference voltage (gate-source voltage) between the “potential generated in the resistance element 12 of each stage by connecting to” and the “variable resistance elements 15a and 15b of each unit block 1” corresponds to the bias. It will rise and fall. Therefore, the voltage is equally divided at each stage, as in the voltage dividing circuit using resistors. That is, a voltage is output to the output terminal 34 with the same accuracy as the voltage division ratio of the resistance element 12.
次に、出力端子34に負荷4が接続された場合の過渡応答動作について説明する。特に負荷4が大きな容量性負荷である場合について説明する。 Next, the transient response operation when the load 4 is connected to the output terminal 34 will be described. In particular, the case where the load 4 is a large capacitive load will be described.
大きな容量性負荷が接続された出力端子34の電圧を高速で立ち上げるためには、容量に対して十分な電流を流しこんでやる必要がある。つまり、電圧分割回路100を疑似的に抵抗Rとみなすと、この出力インピーダンスRと負荷容量Cによる時定数を小さくしてやる必要がある。そのためには、一時的に電圧分割回路100の出力インピーダンスRを減少させればよい。電圧分割回路100では、立ち上がりが遅い場合には、各段の抵抗素子12に発生している電位と出力端子34の電位に大きな電圧差が発生することになるため、結果として、可変抵抗素子15a,15bの抵抗値が減少する方向に動作する。これにより、可変抵抗素子15a,15b経由で電流が供給されることとなり、出力端子34の電圧を高速で立ち上げることができる。 In order to raise the voltage of the output terminal 34 to which a large capacitive load is connected at a high speed, it is necessary to supply a sufficient current to the capacitor. That is, when the voltage dividing circuit 100 is regarded as a resistance R in a pseudo manner, it is necessary to reduce the time constant due to the output impedance R and the load capacitance C. For this purpose, the output impedance R of the voltage dividing circuit 100 may be temporarily reduced. In the voltage dividing circuit 100, when the rise is slow, a large voltage difference is generated between the potential generated in the resistance element 12 of each stage and the potential of the output terminal 34. As a result, the variable resistance element 15a , 15b operate in a direction in which the resistance value decreases. As a result, current is supplied via the variable resistance elements 15a and 15b, and the voltage of the output terminal 34 can be raised at high speed.
次に、電圧分割回路100において、第1入力端子30と第2入力端子32との間の電位差が正負どちらの極性であっても使用可能であることについて説明する。すなわち、高電圧源2が高電圧+HVを供給する場合でも、高電圧−HVを供給する場合であっても、電圧分割回路100が使用可能であることについて説明する。 Next, it will be described that the voltage dividing circuit 100 can be used regardless of whether the potential difference between the first input terminal 30 and the second input terminal 32 is positive or negative. That is, it will be described that the voltage dividing circuit 100 can be used regardless of whether the high voltage source 2 supplies the high voltage + HV or the high voltage −HV.
図2に示す単位ブロック1をみると、第1可変抵抗素子(FET)15aと、第1可変
抵抗素子(FET)15aを逆向きにした第2可変抵抗素子(FET)15bとを直列に接続した構成となっている。これらは対称構造となっており正負両極性に対して同じ挙動を示すことになる。
In the unit block 1 shown in FIG. 2, a first variable resistance element (FET) 15a and a second variable resistance element (FET) 15b in which the first variable resistance element (FET) 15a is reversed are connected in series. It has become the composition. These have a symmetric structure and exhibit the same behavior with respect to both positive and negative polarities.
また、一方の可変抵抗素子(例えば第1可変抵抗素子15a)の抵抗値が制御されているとき、他方の可変抵抗素子(例えば第2可変抵抗素子15b)も、他方の可変抵抗素子のゲート・ソース間に印加される電圧に応じたドレイン・ソース間の抵抗値を有する。 When the resistance value of one variable resistance element (for example, the first variable resistance element 15a) is controlled, the other variable resistance element (for example, the second variable resistance element 15b) is also connected to the gate of the other variable resistance element. It has a drain-source resistance value corresponding to the voltage applied between the sources.
しかしながら、この状態においては、他方の可変抵抗素子に存在するボディーダイオードが導通する方向となるため、ボディーダイオードを経由して電流が流れることになる(ただし、ボディーダイオードを有さないものや、不十分なものに関しては、別途、並列にダイオードを追加する必要がある)。そのため、電圧分割回路100では、正、負いずれの極性の入力電圧であっても、負荷4に対して十分な電流を、「抵抗値が低くなった可変抵抗素子」と「ダイオード(ボディーダイオード)」を通じて供給することが可能となっている。 However, in this state, since the body diode existing in the other variable resistance element is in a conducting direction, a current flows through the body diode (however, the body diode does not have a body diode or is not For those that are sufficient, it is necessary to add a diode in parallel separately). Therefore, in the voltage dividing circuit 100, even if the input voltage has a positive or negative polarity, sufficient current is supplied to the load 4 by “a variable resistance element having a low resistance value” and “diode (body diode)”. Can be supplied through.
図2に示す電圧制限ダイオード18は、電圧の立ち上がり、および立ち下がり時に、可変抵抗素子(FET)15a,15bのゲート・ソース間に過剰な電圧が印加されないように保護する役割を持つ。 The voltage limiting diode 18 shown in FIG. 2 has a role of protecting an excessive voltage from being applied between the gate and source of the variable resistance elements (FETs) 15a and 15b at the time of rising and falling of the voltage.
また、図1に示す電流制限素子20a,22aの抵抗値は、例えば、電流制限素子20b、22bの抵抗値よりも大きい。これにより、可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合、電流制限素子20b,22bに接続されているON状態の可変抵抗素子(FET)15aまたは15bのゲート・ソース間には、常に正の電圧が印加されるため、出力端子34の電圧を高速に立ち下げることが可能である。 Moreover, the resistance values of the current limiting elements 20a and 22a shown in FIG. 1 are larger than the resistance values of the current limiting elements 20b and 22b, for example. Thus, when the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs, the ON / OFF state of the variable resistance elements (FETs) 15a or 15b connected to the current limiting elements 20b and 22b is always between the gate and the source. Since a positive voltage is applied, the voltage at the output terminal 34 can be lowered at high speed.
本実施形態に係る電圧分割回路100は、例えば、以下の特徴を有する。 The voltage dividing circuit 100 according to the present embodiment has the following features, for example.
電圧分割回路100では、可変抵抗回路14が互いの極性が逆方向となるように直列に接続された第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bと、第1可変抵抗素子15aと極性が逆方向になるように並列に接続される第1ダイオード16aと、第2可変抵抗素子15bと極性が逆方向になるように並列に接続される第2ダイオード16bと、を備えている。そのため、電圧分割回路100によれば、正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を実現することができる。 In the voltage divider circuit 100, the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are connected in series so that the polarities of the variable resistance circuits 14 are opposite to each other, and the first variable resistance element 15a has a polarity. The first diode 16a is connected in parallel so as to be in the reverse direction, and the second diode 16b is connected in parallel so that the polarity is opposite to that of the second variable resistance element 15b. Therefore, according to the voltage dividing circuit 100, it is possible to realize a voltage dividing function corresponding to positive and negative voltage inputs.
また、電圧分割回路100では、抵抗素子12による基準電圧用分圧回路10aに流れる電流と負荷4に供給される電流の経路とが分離されている。そのため、電圧分割回路100では、負荷条件による出力電圧の変化を小さくすることができる。 In the voltage dividing circuit 100, the current flowing through the reference voltage dividing circuit 10a by the resistance element 12 and the path of the current supplied to the load 4 are separated. Therefore, in the voltage dividing circuit 100, the change in the output voltage due to the load condition can be reduced.
また、電圧分割回路100では、上述したように、電流を供給・引き抜く経路を作成したことにより、可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合、入力電圧を高速で立ち上げた場合における出力の追従速度が向上する。したがって、電圧分割回路100は、優れた過渡応答特性を有することができる。 Further, in the voltage divider circuit 100, as described above, by creating a path for supplying and extracting current, when the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs, the input voltage is raised at a high speed. The output tracking speed is improved. Therefore, the voltage divider circuit 100 can have excellent transient response characteristics.
電圧分割回路100では、可変抵抗素子15a,15bは電界効果トランジスターであり、ダイオード16a,16bは該電界効果トランジスターのボディーダイオードである。そのため、電圧分割回路100では、FETのボディーダイオードによる電流バイパス経路を利用して、正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を実現することができる。 In the voltage dividing circuit 100, the variable resistance elements 15a and 15b are field effect transistors, and the diodes 16a and 16b are body diodes of the field effect transistors. Therefore, in the voltage dividing circuit 100, a voltage dividing function corresponding to voltage input of both positive and negative polarity can be realized by using a current bypass path by the body diode of the FET.
なお、ここでは、第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bがN型のFETである場合について説明したが、第1可変抵抗素子15aおよび第2可変抵抗素子15bは、P型のFETであってもよい。可変抵抗素子15a,15bがP型のFETである場合、N型のFETとは、ボディーダイオードの向きが逆になる。すなわち、第1可変抵抗素子15aがP型のFETである場合、第1可変抵抗素子15aには、ソースとドレインとの間に、ソース側がカソード、ドレイン側がアノードとなる(ドレインからソースへの向きを順方向とする)第1ダイオード(ボディーダイオード)16aが形成される。また、第2可変抵抗素子15bがP型のFETである場合、ソースとドレインとの間に、ソース側がカソード、ドレイン側がアノードとなる第2ダイオード(ボディーダイオード)16bが形成される。 Here, the case where the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are N-type FETs has been described, but the first variable resistance element 15a and the second variable resistance element 15b are P-type FETs. It may be. When the variable resistance elements 15a and 15b are P-type FETs, the direction of the body diode is reversed from that of the N-type FET. That is, when the first variable resistance element 15a is a P-type FET, the first variable resistance element 15a has a source side cathode and a drain side anode between the source and the drain (the direction from the drain to the source). The first diode (body diode) 16a is formed. When the second variable resistance element 15b is a P-type FET, a second diode (body diode) 16b having a cathode on the source side and an anode on the drain side is formed between the source and the drain.
また、上述したように可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合、電流を供給・引き抜く経路を作成したことにより、入力電圧を高速で立ち上げた場合における出力の追従速度を向上させることができたが、第2可変抵抗素子15bがP型のFETである場合、電流を供給・引き抜く経路を作成したことにより入力電圧を高速で立ち下げた場合における出力の追従速度を向上させることができる。 Further, as described above, when the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs, the output follow-up speed when the input voltage is raised at high speed is improved by creating a path for supplying and extracting current. However, when the second variable resistance element 15b is a P-type FET, the output follow-up speed when the input voltage is lowered at a high speed is improved by creating a path for supplying and extracting current. Can do.
また、上述したように可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合、電流制限素子20a,20b,22a,22bの抵抗値を調整して、電流制限素子20b,22bに接続されているON状態の可変抵抗素子(FET)15aまたは15bのゲート・ソース間に常に正の電圧を印加することにより出力端子34の電圧を高速に立ち下げることが可能であったが、可変抵抗素子15a,15bがP型のFETである場合、電流制限素子20a,20b,22a,22bの抵抗値を調整して、電流制限素子20b,22bに接続されているON状態の可変抵抗素子(FET)15aまたは15bのゲート・ソース間に常に負の電圧を印加することにより出力端子34の電圧を高速に立ち上げることが可能である。 As described above, when the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs, the resistance values of the current limiting elements 20a, 20b, 22a, and 22b are adjusted and connected to the current limiting elements 20b and 22b. Although the positive voltage can always be applied between the gate and the source of the variable resistance element (FET) 15a or 15b in the ON state, the voltage of the output terminal 34 can be quickly lowered. When 15b is a P-type FET, the resistance values of the current limiting elements 20a, 20b, 22a, and 22b are adjusted, and the variable resistance element (FET) 15a in the ON state connected to the current limiting elements 20b and 22b or By constantly applying a negative voltage between the gate and source of 15b, the voltage of the output terminal 34 can be raised at high speed.
2. シミュレーション
次に、シミュレーションを用いて、本実施形態に係る電圧分割回路の効果を説明する。回路シミュレーターには、SPICE(Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis)を用いた。
2. Simulation Next, the effect of the voltage dividing circuit according to the present embodiment will be described using simulation. SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) was used as the circuit simulator.
図3は、シミュレーションに用いた、比較例に係る電圧分割回路101Mを示す回路図である。 FIG. 3 is a circuit diagram showing a voltage dividing circuit 101M according to a comparative example used for the simulation.
電圧分割回路101Mは抵抗R1〜R8で構成され、直列に接続された抵抗R2〜R7によって電圧が分割される。分割された電圧を取り出す出力部には、それぞれ負荷C1〜C5が接続されている。なお、抵抗R1は10kΩ、抵抗R2〜R7は1MΩ、抵抗R8は10kΩである。 The voltage dividing circuit 101M includes resistors R1 to R8, and the voltage is divided by resistors R2 to R7 connected in series. Loads C <b> 1 to C <b> 5 are connected to the output units that extract the divided voltages, respectively. The resistor R1 is 10 kΩ, the resistors R2 to R7 are 1 MΩ, and the resistor R8 is 10 kΩ.
図4は、シミュレーションに用いた本実施例に係る電圧分割回路100Mを示す回路図である。 FIG. 4 is a circuit diagram showing the voltage dividing circuit 100M according to the present embodiment used for the simulation.
図4に示す電圧分割回路100Mは、本実施形態に係る電圧分割回路100をモデル化したものである。 A voltage divider circuit 100M shown in FIG. 4 is a model of the voltage divider circuit 100 according to the present embodiment.
具体的には、図4に示す電圧分割回路100Mの抵抗R11〜R16は、図2に示す抵抗素子12に対応している。同様に、電界効果トランジスターM1,M3,M5,M7,M9,M11は第1可変抵抗素子15aおよび第1ダイオード16aに対応し、電界効果トランジスターM2,M4,M6,M8,M10,M12は第2可変抵抗素子15bおよ
び第2ダイオード16bに対応している。また、電圧制限ダイオードD1〜D7は、電圧制限ダイオード18に対応している。また、抵抗R10、R17は、図1に示す電流制限素子20a,20bに対応し、抵抗R18,R19は電流制限素子22a,22bに対応している。
Specifically, the resistors R11 to R16 of the voltage divider circuit 100M illustrated in FIG. 4 correspond to the resistor element 12 illustrated in FIG. Similarly, the field effect transistors M1, M3, M5, M7, M9, and M11 correspond to the first variable resistance element 15a and the first diode 16a, and the field effect transistors M2, M4, M6, M8, M10, and M12 are the second ones. This corresponds to the variable resistance element 15b and the second diode 16b. The voltage limiting diodes D1 to D7 correspond to the voltage limiting diode 18. The resistors R10 and R17 correspond to the current limiting elements 20a and 20b shown in FIG. 1, and the resistors R18 and R19 correspond to the current limiting elements 22a and 22b.
なお、抵抗R10は10kΩであり、抵抗R11〜R16は1MΩであり、抵抗R17は1kΩであり、抵抗R18は10kΩであり、抵抗R19は1kΩである。また、出力端子に接続されている負荷C6〜C10は、10nFである。 The resistor R10 is 10 kΩ, the resistors R11 to R16 are 1 MΩ, the resistor R17 is 1 kΩ, the resistor R18 is 10 kΩ, and the resistor R19 is 1 kΩ. Further, the loads C6 to C10 connected to the output terminal are 10 nF.
電圧分割回路100Mでは、単位ブロックを6段接続している。 In the voltage dividing circuit 100M, six unit blocks are connected.
図5および図6は、シミュレーションの結果を示すグラフである。なお、図5に示すグラフは、入力電圧VINを−4kV〜−8kVの範囲でスキャンした結果を示す。また、図6に示すグラフは、入力電圧VINを+4kV〜+8kVの範囲でスキャンした結果を示す。なお、図5および図6に示すグラフは、VINにおける電圧波形、図3に示すVOUT1における電圧波形、図4に示すVOUT2における電圧波形を示している。 5 and 6 are graphs showing the results of the simulation. The graph shown in FIG. 5 shows the result of scanning the input voltage VIN in the range of −4 kV to −8 kV. The graph shown in FIG. 6 shows the result of scanning the input voltage VIN in the range of +4 kV to +8 kV. The graphs shown in FIGS. 5 and 6 show the voltage waveform at VIN, the voltage waveform at VOUT1 shown in FIG. 3, and the voltage waveform at VOUT2 shown in FIG.
まず、図5に示すシミュレーション結果について説明する。 First, the simulation result shown in FIG. 5 will be described.
立ち上がり特性(90ms〜190ms)をみると、単純な抵抗による電圧分割回路101Mの出力波形VOUT1は、波形がなまっている。また、100ms経過しても電圧が目標の電位に到達してない。これに対して、電圧分割回路100Mの出力波形VOUT2は、波形のなまりがなく、直線的に立ち上がっていることがわかる。また、10ms程度の短い時間で目標の電位に到達している。 Looking at the rising characteristics (90 ms to 190 ms), the waveform of the output waveform VOUT1 of the voltage dividing circuit 101M using a simple resistor is rounded. In addition, the voltage does not reach the target potential even after 100 ms elapses. On the other hand, it can be seen that the output waveform VOUT2 of the voltage dividing circuit 100M has no waveform rounding and rises linearly. In addition, the target potential is reached in a short time of about 10 ms.
また、立ち下がり特性(190ms〜290ms)をみると、立ち上がり特性と同様に、単純な抵抗による電圧分割回路101Mの出力波形VOUT1は、波形がなまっており、100ms経過しても電圧が目標の電位に到達してない。これに対して、電圧分割回路100Mの出力波形VOUT2は、波形のなまりがなく直線的に立ち下がっており、10ms程度の短い時間で目標の電位に到達している。 Further, when looking at the falling characteristics (190 ms to 290 ms), the output waveform VOUT1 of the voltage dividing circuit 101M by a simple resistor is rounded like the rising characteristics, and the voltage remains at the target potential even after 100 ms. Not reached. On the other hand, the output waveform VOUT2 of the voltage divider circuit 100M falls linearly with no waveform rounding, and reaches the target potential in a short time of about 10 ms.
また、図6に示すシミュレーション結果についても、図5に示すシミュレーション結果と同様の結果が得られた。この結果から、電圧分割回路100Mは、正負両極性の入力に対して、良好な立ち上がり特性および立ち下がり特性(すなわち優れた過渡応答特性)を有していることがわかった。 In addition, the simulation results shown in FIG. 6 were similar to the simulation results shown in FIG. From this result, it was found that the voltage dividing circuit 100M has good rising characteristics and falling characteristics (that is, excellent transient response characteristics) with respect to inputs of both positive and negative polarities.
3. 質量分析装置
次に、本実施形態に係る質量分析装置について、図面を参照しながら説明する。図7は、本実施形態に係る質量分析装置1000の構成を模式的に示す図である。
3. Mass Spectrometer Next, the mass spectrometer according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 7 is a diagram schematically showing the configuration of the mass spectrometer 1000 according to the present embodiment.
質量分析装置1000は、本発明に係る電圧分割回路を含んで構成されている。ここでは、質量分析装置1000が電圧分割回路100を含む例について説明する。 The mass spectrometer 1000 includes a voltage dividing circuit according to the present invention. Here, an example in which the mass spectrometer 1000 includes the voltage dividing circuit 100 will be described.
質量分析装置1000は、図7に示すように、さらに、イオン化部1002と、フォーカスレンズ部1004と、磁場印加部1006と、電場印加部1008と、イオン検出部1010と、高圧電源回路1012と、電圧調整回路1014と、を含んで構成されている。質量分析装置1000は、例えば、磁場型の質量分析装置である。 As shown in FIG. 7, the mass spectrometer 1000 further includes an ionization unit 1002, a focus lens unit 1004, a magnetic field application unit 1006, an electric field application unit 1008, an ion detection unit 1010, a high-voltage power supply circuit 1012, A voltage adjusting circuit 1014. The mass spectrometer 1000 is, for example, a magnetic field type mass spectrometer.
イオン化部1002は、試料のイオン化を行う。フォーカスレンズ部1004は、イオン化部1002で試料がイオン化されて生成されたイオンビームの収束・調整を行う。磁
場印加部1006は磁場を印加する。磁場印加部1006が発生させた磁場中をイオンが通過することにより、質量が分離される。また、電場印加部1008は、電場を印加する。電場印加部1008が発生させた電場中をイオンが通過することにより、質量が分離される。イオン検出部1010は、質量分離されたイオンを検出する。
The ionization unit 1002 performs ionization of the sample. The focus lens unit 1004 performs convergence / adjustment of the ion beam generated by ionizing the sample by the ionization unit 1002. The magnetic field application unit 1006 applies a magnetic field. As ions pass through the magnetic field generated by the magnetic field application unit 1006, the mass is separated. The electric field applying unit 1008 applies an electric field. When ions pass through the electric field generated by the electric field applying unit 1008, the mass is separated. The ion detection unit 1010 detects mass-separated ions.
高圧電源回路1012は、高電圧を供給する。電圧分割回路100には、高圧電源回路1012から出力された高電圧が入力される。これにより、電圧分割回路100から、高圧電源回路1012からの印加電圧に同期して、印加電圧に比例した電圧が複数出力される。電圧分割回路100から出力された電圧は、電圧調整回路1014を介してフォーカスレンズ部1004に入力される。 The high voltage power supply circuit 1012 supplies a high voltage. The high voltage output from the high voltage power supply circuit 1012 is input to the voltage dividing circuit 100. Accordingly, a plurality of voltages proportional to the applied voltage are output from the voltage dividing circuit 100 in synchronization with the applied voltage from the high voltage power supply circuit 1012. The voltage output from the voltage dividing circuit 100 is input to the focus lens unit 1004 via the voltage adjustment circuit 1014.
次に、質量分析装置1000の動作について説明する。 Next, the operation of the mass spectrometer 1000 will be described.
質量分析装置1000において、例えば、磁場を固定し、電場をスキャンして質量分析を実施する場合には、イオン化部1002への加速電圧、電場印加部1008への電圧、フォーカスレンズ部1004への電圧を同期させる必要がある。 In the mass spectrometer 1000, for example, when performing mass analysis by fixing the magnetic field and scanning the electric field, the acceleration voltage to the ionization unit 1002, the voltage to the electric field application unit 1008, the voltage to the focus lens unit 1004 Need to be synchronized.
そのため、フォーカスレンズ部1004には、加速電圧(イオン化部1002への電圧)と同期した高電圧が必要となる。質量分析装置1000では、高圧電源回路1012から出力された電圧を電圧分割回路100に入力することで、高圧電源回路1012からの印加電圧に同期して、印加電圧に比例した電圧を複数出力することができる。電圧分割回路100は、上述したように、優れた過渡応答特性を有しているため、電圧分割回路100の出力電圧を、加速電圧に十分に追従させることができる。 Therefore, the focus lens unit 1004 requires a high voltage synchronized with the acceleration voltage (voltage to the ionization unit 1002). The mass spectrometer 1000 outputs a plurality of voltages proportional to the applied voltage in synchronization with the applied voltage from the high voltage power supply circuit 1012 by inputting the voltage output from the high voltage power supply circuit 1012 to the voltage dividing circuit 100. Can do. Since the voltage divider circuit 100 has excellent transient response characteristics as described above, the output voltage of the voltage divider circuit 100 can sufficiently follow the acceleration voltage.
また、質量分析装置1000では、測定イオンの極性によって、加速電圧の極性が正の場合と負の場合とがある。電圧分割回路100は、上述したように、正負両極性の電圧入力に対応した電圧分割機能を有しているため、加速電圧の極性が正の場合(高圧電源回路1012から正の印加電圧が印加される場合)と負の場合(高圧電源回路1012から負の印加電圧が印加される場合)の両方に対応することができる。 In the mass spectrometer 1000, the polarity of the acceleration voltage may be positive or negative depending on the polarity of the measured ions. As described above, the voltage dividing circuit 100 has a voltage dividing function corresponding to both positive and negative voltage inputs. Therefore, when the polarity of the acceleration voltage is positive (a positive applied voltage is applied from the high-voltage power supply circuit 1012). And a negative case (when a negative applied voltage is applied from the high-voltage power supply circuit 1012).
4. 電圧分割回路の変形例
次に、本実施形態の変形例に係る電圧分割回路について、図面を参照しながら説明する。図8は、本実施形態の変形例に係る電圧分割回路200の構成を示す図である。以下、本実施形態の変形例に係る電圧分割回路200において、上述した本実施形態に係る電圧分割回路100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
4). Modified Example of Voltage Dividing Circuit Next, a voltage dividing circuit according to a modified example of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a voltage dividing circuit 200 according to a modification of the present embodiment. Hereinafter, in the voltage dividing circuit 200 according to the modified example of the present embodiment, members having the same functions as those of the components of the voltage dividing circuit 100 according to the present embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is provided. Is omitted.
上述した電圧分割回路100では、図1に示すように、第1入力端子30には、高電圧+HV(もしくは−HV)が印加され、第2入力端子32は、グランド電位が印加されていた。 In the voltage dividing circuit 100 described above, as shown in FIG. 1, a high voltage + HV (or −HV) is applied to the first input terminal 30, and a ground potential is applied to the second input terminal 32.
これに対して、電圧分割回路200では、図8に示すように、グランド電位に対して、正負逆極性の電圧を加えたプッシュプル方式である。すなわち、電圧分割回路200では、2つのFET(可変抵抗素子15a,15b)を正負対称に接続して、それぞれ一方の極性の信号のみを増幅する方式とした。図8に示す例では、第1入力端子30には、高電圧源2から高電圧+HVが印加され、第2入力端子32には、高電圧源6から高電圧−HVが印加されている。 On the other hand, as shown in FIG. 8, the voltage dividing circuit 200 is a push-pull method in which a voltage having positive and negative polarities is added to the ground potential. That is, in the voltage dividing circuit 200, two FETs (variable resistance elements 15a and 15b) are connected in a positive and negative symmetric manner to amplify only a signal having one polarity. In the example shown in FIG. 8, a high voltage + HV is applied to the first input terminal 30 from the high voltage source 2, and a high voltage −HV is applied to the second input terminal 32 from the high voltage source 6.
電圧分割回路200は、電圧分割回路100と入力電圧の供給方法が異なる点を除いて同様の構成を有している。 The voltage divider circuit 200 has the same configuration as that of the voltage divider circuit 100 except that the input voltage supply method is different.
電圧分割回路200では、入力電圧がプッシュプル方式であるため、プッシュプル方式でない場合と比べて、可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合には、負荷4から電流を引き抜く能力を向上させることができ、立ち下がり特性を向上させることができる。また、可変抵抗素子15a,15bがP型のFETである場合には、負荷4から電流を押し出す能力を向上させることができ、立ち上がり特性を向上させることができる。このように電圧分割回路200では、プッシュプル方式であるため、可変抵抗素子15a,15bがN型のFETである場合、P型のFETである場合のいずれの場合でも、立ち上がり特性および立ち下がり特性の両方の特性を向上させることができる。 In the voltage dividing circuit 200, since the input voltage is a push-pull method, the variable resistance elements 15a and 15b have an ability to draw a current from the load 4 when the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs, compared to the case where the input voltage is not a push-pull method. The fall characteristics can be improved. Further, when the variable resistance elements 15a and 15b are P-type FETs, the ability to push out current from the load 4 can be improved, and the rising characteristics can be improved. As described above, since the voltage dividing circuit 200 is a push-pull method, the rising characteristics and the falling characteristics are obtained regardless of whether the variable resistance elements 15a and 15b are N-type FETs or P-type FETs. Both characteristics can be improved.
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。 The present invention includes configurations that are substantially the same as the configurations described in the embodiments (for example, configurations that have the same functions, methods, and results, or configurations that have the same objects and effects). In addition, the invention includes a configuration in which a non-essential part of the configuration described in the embodiment is replaced. In addition, the present invention includes a configuration that exhibits the same operational effects as the configuration described in the embodiment or a configuration that can achieve the same object. Further, the invention includes a configuration in which a known technique is added to the configuration described in the embodiment.
1…単位ブロック、2…高電圧源、4…負荷、6…高電圧源、10…電圧分割回路部、10a…基準電圧用分圧回路、10b…分圧出力用分圧回路、11a,11b,11c,11d…接続部、12…抵抗素子、14…可変抵抗回路、15a…第1可変抵抗素子、15b…第2可変抵抗素子、16a…第1ダイオード、16b…第2ダイオード、18…電圧制限ダイオード、20a,20b,22a,22b…電流制限素子、30…第1入力端子、32…第2入力端子、34…出力端子、100,200…電圧分割回路,100M,101M…電圧分割回路、1000…質量分析装置、1002…イオン化部、1004…フォーカスレンズ部、1006…磁場印加部、1008…電場印加部、1010…イオン検出部、1012…高圧電源回路、1014…電圧調整回路、C1〜C10…負荷、D1〜D7…電圧制限ダイオード、M1〜M12…電界効果トランジスター、R1〜R19…抵抗 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Unit block, 2 ... High voltage source, 4 ... Load, 6 ... High voltage source, 10 ... Voltage division circuit part, 10a ... Voltage dividing circuit for reference voltage, 10b ... Voltage dividing circuit for voltage division output, 11a, 11b , 11c, 11d: connection portion, 12: resistance element, 14: variable resistance circuit, 15a: first variable resistance element, 15b: second variable resistance element, 16a: first diode, 16b: second diode, 18: voltage Limiting diode, 20a, 20b, 22a, 22b ... current limiting element, 30 ... first input terminal, 32 ... second input terminal, 34 ... output terminal, 100, 200 ... voltage divider circuit, 100M, 101M ... voltage divider circuit, DESCRIPTION OF SYMBOLS 1000 ... Mass spectrometer, 1002 ... Ionization part, 1004 ... Focus lens part, 1006 ... Magnetic field application part, 1008 ... Electric field application part, 1010 ... Ion detection part, 1012 ... High voltage power supply circuit , 1014 ... voltage adjustment circuit, C1 -C10 ... load, D1 to D7 ... voltage limiting diode, M1 to M12 ... FET, r1-r19 ... resistance
Claims (5)
前記入力端子間に直列に接続された複数の基準抵抗素子を有し、各前記基準抵抗素子の両端からそれぞれ基準電圧が取り出される基準電圧用分圧回路と、
前記入力端子間に複数の前記基準抵抗素子に対応して直列に接続された複数の可変抵抗回路を有し、前記可変抵抗回路の各直列接続点から前記分圧出力電圧が取り出される分圧出力用分圧回路と、
を含み、
各前記可変抵抗回路は、
互いに極性が逆方向になるように直列に接続された第1可変抵抗素子および第2可変抵抗素子と、
前記第1可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第1ダイオードと、
前記第2可変抵抗素子と極性が逆方向になるように並列に接続された第2ダイオードと、
を備え、
各前記可変抵抗回路において、
前記第1可変抵抗素子の抵抗値は、対応する前記基準抵抗素子の一端から取り出される基準電圧と、前記可変抵抗回路の一方側の前記直列接続点から取り出される前記分圧出力電圧との差に基づいて制御され、
前記第2可変抵抗素子の抵抗値は、対応する前記基準抵抗素子の他端から取り出される基準電圧と、前記可変抵抗回路の他方側の前記直列接続点から取り出される前記分圧出力電圧との差に基づいて制御される、電圧分割回路。 A voltage dividing circuit that divides an input voltage applied between input terminals and outputs a divided output voltage,
A reference voltage dividing circuit having a plurality of reference resistance elements connected in series between the input terminals, each of which takes out a reference voltage from both ends of each of the reference resistance elements;
A divided voltage output having a plurality of variable resistance circuits connected in series corresponding to the plurality of reference resistance elements between the input terminals, and the divided output voltage is taken out from each series connection point of the variable resistance circuit Voltage divider circuit,
Including
Each of the variable resistance circuits is
A first variable resistance element and a second variable resistance element connected in series so that their polarities are opposite to each other;
A first diode connected in parallel with the first variable resistance element so that the polarity is opposite;
A second diode connected in parallel with the second variable resistance element so that the polarity is opposite;
With
In each of the variable resistance circuits,
The resistance value of the first variable resistance element is a difference between a reference voltage extracted from one end of the corresponding reference resistance element and the divided output voltage extracted from the series connection point on one side of the variable resistance circuit. Controlled based on
The resistance value of the second variable resistance element is the difference between the reference voltage extracted from the other end of the corresponding reference resistance element and the divided output voltage extracted from the series connection point on the other side of the variable resistance circuit. A voltage divider circuit controlled on the basis of
前記第1可変抵抗素子は、第1電界効果トランジスターであり、
前記第2可変抵抗素子は、第2電界効果トランジスターである、電圧分割回路。 In claim 1,
The first variable resistance element is a first field effect transistor;
The voltage dividing circuit, wherein the second variable resistance element is a second field effect transistor.
前記第1ダイオードは、前記第1電界効果トランジスターのボディーダイオードであり、
前記第2ダイオードは、前記第2電界効果トランジスターのボディーダイオードである、電圧分割回路。 In claim 2,
The first diode is a body diode of the first field effect transistor;
The voltage dividing circuit, wherein the second diode is a body diode of the second field effect transistor.
前記第1電界効果トランジスターと前記第2電界効果トランジスターとは、互いに極性が逆方向となるように直列に接続されている、電圧分割回路。 In claim 3,
The voltage dividing circuit, wherein the first field effect transistor and the second field effect transistor are connected in series so that their polarities are opposite to each other.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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Family
ID=57132756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015061339A Pending JP2016181151A (en) | 2015-03-24 | 2015-03-24 | Voltage division circuit and mass analysis device |
Country Status (1)
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- 2015-03-24 JP JP2015061339A patent/JP2016181151A/en active Pending
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