JP2016135555A - Optical writing device, image formation device and manufacturing method of optical writing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光書き込み装置、画像形成装置及び光書き込み装置の製造方法に関し、OLEDの劣化に起因する発光量のバラツキを抑制する技術に関する。 The present invention relates to an optical writing device, an image forming apparatus, and a manufacturing method of the optical writing device, and relates to a technique for suppressing variation in the amount of light emission caused by deterioration of an OLED.
近年、発光素子として注目されているOLED(Organic Light Emitting Diode)は、有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)素子とも呼ばれ、有機発光層に通電することにより発光する。
OLEDは、積算発光時間が長くなると有機発光層が劣化して発光効率が低下する。従って、劣化に依らず一定の光量を得るためには、通電量を増加させなければならない。
In recent years, OLED (Organic Light Emitting Diode) attracting attention as a light emitting element is also called an organic electroluminescence (organic EL) element, and emits light when an organic light emitting layer is energized.
In the OLED, when the accumulated light emission time becomes longer, the organic light emitting layer is deteriorated and the light emission efficiency is lowered. Therefore, in order to obtain a constant light amount regardless of deterioration, the energization amount must be increased.
このようなOLEDを画像形成装置に搭載された光書込み装置に適用しようとすると、形成すべき画像に応じてOELD毎に積算発光時間が異なり得るので、OLED毎に劣化度が異なってしまう。このため、光書込み装置に実装されたすべてのOLEDの通電量を一律に増加させると、OLEDの発光量にバラつきが生じてしまう。
具体的には、劣化が進んでいないOLEDは発光量が多くなり、劣化の進んだOLEDは発光量が少なくなるので、露光ムラが発生して画質が低下してしまう。
If such an OLED is to be applied to an optical writing device mounted on an image forming apparatus, the accumulated light emission time may be different for each OELD depending on the image to be formed, and therefore the degree of deterioration will be different for each OLED. For this reason, if the energization amount of all the OLEDs mounted on the optical writing device is uniformly increased, the light emission amount of the OLED will vary.
Specifically, an OLED that has not deteriorated has a large amount of emitted light, and an OLED that has deteriorated has a small amount of emitted light, so that uneven exposure occurs and the image quality deteriorates.
このような問題に対して、例えば、OLED毎の積算発光時間に応じて通電量を加減する技術が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。このような技術によれば、積算発光時間が短いOLEDは通電量を少なくし、積算発光時間が長いOLEDは通電量を多くすることによって、劣化による発光量のバラツキを抑制することができる。 For such a problem, for example, a technique has been proposed in which the amount of energization is adjusted according to the accumulated light emission time for each OLED (see, for example, Patent Document 1). According to such a technique, it is possible to suppress variations in the amount of light emission due to deterioration by reducing the amount of energization of an OLED having a short accumulated light emission time and increasing the amount of energization of an OLED having a long accumulated light emission time.
しかしながら、OLEDを実装したOLEDパネルは、マザーガラス上に有機発光層や電極層などを順次積層することによって複数個がまとめて製造されるところ(図16)、近年、製造コストの削減を目的として、従来よりも大型のマザーガラスを用いて、より多くのOLEDパネルをまとめて製造するようになると、上記の従来技術では劣化による発光量のバラツキを十分に抑制することができなくなってきている(図17)。 However, OLED panels mounted with OLEDs are manufactured together by sequentially laminating organic light emitting layers and electrode layers on a mother glass (FIG. 16). Recently, for the purpose of reducing manufacturing costs. When a larger mother glass than the conventional one is used to manufacture a larger number of OLED panels, the above prior art cannot sufficiently suppress the variation in the amount of light emission due to deterioration ( FIG. 17).
本発明は、上述のような問題に鑑みて為されたものであって、大型のマザーガラスを用いた場合であっても、OLEDの劣化に起因する発光量のバラツキを精度よく補正することができる光書込み装置、画像形成装置及び光書き込み装置の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and even when a large mother glass is used, it is possible to accurately correct the variation in the light emission amount caused by the deterioration of the OLED. It is an object of the present invention to provide an optical writing device, an image forming apparatus, and a method for manufacturing the optical writing device.
上記目的を達成するため、本発明に係る光書込み装置は、マザーガラスから切り出されたOLEDパネルに形成された複数のOLEDを発光させることによって光書込みを行う光書込み装置であって、前記マザーガラスから前記OLEDパネルを切り出す以前における、当該マザーガラス上でのOLEDの位置を示す位置情報を記憶する位置情報記憶手段と、OLED毎の積算発光時間を記憶する積算発光時間記憶手段と、OLED毎の駆動電流量を、前記位置情報と当該OLEDの積算発光時間とに応じて補正する駆動電流量補正手段と、備えることを特徴とする。 To achieve the above object, an optical writing device according to the present invention is an optical writing device that performs optical writing by causing a plurality of OLEDs formed on an OLED panel cut out from a mother glass to emit light, and the mother glass The position information storage means for storing the position information indicating the position of the OLED on the mother glass before the OLED panel is cut out, the integrated light emission time storage means for storing the integrated light emission time for each OLED, and each OLED Drive current amount correction means for correcting the drive current amount according to the position information and the accumulated light emission time of the OLED is provided.
このようにすれば、大型のマザーガラスを用いた場合であっても、マザーガラス上でのOLEDの位置に応じて駆動電流量を補正するので、OLEDの劣化に起因する発光量のバラツキを精度よく補正することができる。 In this way, even when a large mother glass is used, the amount of drive current is corrected according to the position of the OLED on the mother glass, so the variation in the amount of light emission due to the deterioration of the OLED is accurate. It can be corrected well.
以下、本発明に係る、画像形成装置及び光書き込み装置の製造方法の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
[1]画像形成装置の構成
図1は、本実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成を示す図である。図1に示されるように、画像形成装置1は、所謂タンデム型のカラープリンターである。画像形成装置1が備える作像部101Y〜101Kは、制御部102の制御の下、Y(イエロー)、M(マゼンタ)、C(シアン)、K(ブラック)各色のトナー像を形成する。
Embodiments of an image forming apparatus and an optical writing apparatus manufacturing method according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
[1] Configuration of Image Forming Apparatus FIG. 1 is a diagram illustrating a main configuration of an image forming apparatus according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the
例えば、作像部101Yにおいて、帯電装置111は感光体ドラム110の外周面を一様に帯電させる。光書込み装置100は、後述のように、主走査方向にライン状に配列された発光素子(OLED)を備えており、制御部102が生成したデジタル輝度信号に従って各OLEDを発光させる。これによって、感光体ドラム110の外周面に光書込みが行われ、静電潜像が形成される。
For example, in the
現像装置112は、感光体ドラム110の外周面にトナーを供給して、静電潜像を現像(顕像化)する。1次転写ローラー113は、感光体ドラム110から中間転写ベルト103へトナー像を静電転写(1次転写)する。
この様にして、作像部101Y〜101Kが形成したYMCK各色のトナー像が互いに重なり合うように中間転写ベルト103上に1次転写されカラートナー像となる。中間転写ベルト103がカラートナー像を2次転写ローラー対104まで搬送するのに合わせて、給紙カセット105から供給された記録シートSも2次転写ローラー対104まで搬送される。
The developing
In this way, the YMCK toner images formed by the
2次転写ローラー対104は、中間転写ベルト103上のトナー像を記録シートS上に静電転写(2次転写)する。トナー像を転写された記録シートSは、定着装置106でトナー像を熱定着された後、機外に排出される。
[2]光書込み装置100の構成
次に、光書込み装置100の構成について説明する。
The secondary
[2] Configuration of
図2に示されるように、光書込み装置100は、OLEDパネル200とロッドレンズアレイ(SLA: Selfoc Lens Array)202をホルダー203に収容したものであって、OLEDパネル200にはOLED201が実装されている。OLED201が出射した光ビームBは、ロッドレンズアレイ202によって感光体ドラム110の外周面上に集光される。
As shown in FIG. 2, the
図3は、OLEDパネル200の概略平面図であり、併せてA−A´線における断面図とC−C´線における断面図も示されている。また、概略平面図部分は後述する封止板301を取り外した状態を示している。
図3に示されるように、OLEDパネル200は、TFT(Thin Film Transistor)基板300、封止板301及びドライバーIC(Integrated Circuit)302等を備えている。TFT基板300には、多数のOLED201が主走査方向に沿ってライン状に配列されている。これらのOLED201は、一列に配列されていても良いし、千鳥配置にされていても良い。
FIG. 3 is a schematic plan view of the
As shown in FIG. 3, the
また、TFT基板300のOLED201が配設された基板面は封止領域となっており、スペーサー枠体303を挟んで封止板301が取着されている。これによって、封止領域が、外気に触れないように乾燥窒素等を封入した状態で、封止される。なお、吸湿のため、封止領域内に吸湿剤を併せて封入しても良い。また、封止板301は、例えば、封止ガラスであっても良いし、ガラス以外の材料からなっていても良い。
The substrate surface of the
TFT基板300の封止領域外にはドライバーIC302が実装されている。制御部102はフレキシブルワイヤー310を介してドライバーIC302にデジタル輝度信号を入力する。制御部102は、デジタル輝度信号を生成するために専用のASIC(Application Specific Integrated Circuit)を内蔵しても良い。
ドライバーIC302はデジタル輝度信号をアナログ輝度信号(以下、単に「輝度信号」という。)に変換してOLED201毎の駆動回路に入力する。駆動回路は輝度信号に応じてOLED201の駆動電流を生成する。輝度信号は、電流信号であってもよいし電圧信号であってもよい。また、ドライバーIC302には、OLED201の環境温度を検出する温度センサー320と不揮発性メモリ321も内蔵されている。
A driver IC 302 is mounted outside the sealing region of the
The driver IC 302 converts the digital luminance signal into an analog luminance signal (hereinafter simply referred to as “luminance signal”) and inputs it to the driving circuit for each OLED 201. The drive circuit generates a drive current for the
[3]光書き込み装置100の製造方法
次に、光書き込み装置100の製造方法について説明する。
光書き込み装置100を構成するOLEDパネル200は、マザーガラスを用いて製造される。マザーガラスは、マザーガラス基板とも呼ばれ、生産性向上のため、マザーガラス上に複数のTFT基板300が製膜された後、個別に切り出され、OLEDパネル200となる。マザーガラスとしては、高温処理に耐える石英ガラスや無アクリルガラスを用いることができる。
[3] Manufacturing Method of
The
OLED201を含むTFT基板300は、複数の薄膜を積層することによって製造される。薄膜は化学気相成長法(CVD: Chemical Vapor Deposition)や物理気相成長法(PVD: Physical Vapor Deposition)を用いて製膜される。
例えば、化学気相成長法の一つである蒸着法では、図4に示されるように、製膜物質401を熱源402上に載置し、熱源402の上方にマザーガラス400を配置する。このとき、マザーガラス400は、成膜面400aを下方に向けるように設置される。マザーガラス400と熱源402との間にはマスク403と呼ばれる金属板が配置される。マスク403は製膜パターンに合わせて切り抜かれている。
The
For example, in a vapor deposition method which is one of chemical vapor deposition methods, as shown in FIG. 4, a film forming material 401 is placed on a
熱源402を用いて製膜物質401を加熱すると、製膜物質401が蒸発して原料ガスが拡散する。原料ガスの一部は、マスク403を通過してマザーガラス400上に付着して、製膜される。このような製膜を繰り返すことによって、OLED201を構成する薄膜層404が積層される。
マザーガラス表面における原料ガスの濃度は、熱源402から近い位置ほど濃く、熱源402から遠ざかるにつれて薄くなる。また、熱源402からの距離に関係なく蒸着時間はマザーガラス400全体で一定であるので、製膜される膜厚は熱源402に近いほど厚く、熱源402から遠ざかるにつれて薄くなる。
When the film-forming substance 401 is heated using the
The concentration of the source gas on the surface of the mother glass is higher as the position is closer to the
図5に示されるように、OLED201は、マザーガラス400上に陽極層501、有機発光層502及び陰極層503等を順次積層させて形成される。陽極層501は、酸化インジウム(ITO: Indium Titan Oxide)等からなる透明電極である。有機発光層502は、少なくとも1層からなっており、層厚が厚いほど劣化し難い。陰極層503はアルミニウム等の金属からなる。この陽極層501と陰極層502との間に電流を流すと有機発光層502が発光し、陽極層503とガラス基板(マザーガラス400)とを通して光が取り出される。
As shown in FIG. 5, the
本実施の形態においては、金属層(例えば、陰極503)を製膜するためのマスク403に、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置を示す位置表示(マーキング)を製膜により記録するためのパターンが切り抜かれている。これによって、マザーガラス400上に金属材料(陰極材料)でマーキングが蒸着される。
図6に、マーキングを蒸着するためのマスク403と(図6(a))、マーキングを蒸着されたマザーガラス400と(図6(b))を例示した。図6に示されるように、マスク403にはパターン601が設けられており、マーキング600がOLEDパネル200に1対1に対応するように蒸着される。
In the present embodiment, a position indication (marking) indicating the position of the
FIG. 6 illustrates a mask 403 for depositing the marking (FIG. 6A) and a
マザーガラス400上での製膜プロセスが完了すると、当該マザーガラス400から各OLEDパネル200が切り出される。この場合において、OLEDパネル200毎にマーキング600が1つずつ残るように切り出しが行われるので、切り出し後のOLEDパネル200はマーキング600を参照することによって、マザーガラス400上のどの位置から切り出されたかが識別される。
When the film forming process on the
切り出されたOLEDパネル200は、それぞれFPC(Flexible Print Circuit)やドライバーIC302等が実装された後、ロッドレンズアレイ202と共にホルダー203に取着される。このようにして、光書き込み装置100が組み立てられる。
その後、OLEDパネル200上のマーキング600をカメラ又は目視により読み取って、マザーガラス400上での当該OLEDパネル200の位置情報Pを抽出し、不揮発性メモリ321に記憶させる。また、感光体ドラム110上での露光量がOLED201間で等しくなるように、OLED201毎の設定光量が特定され、不揮発性メモリ321に記憶される。その後、光書き込み装置100は画像形成装置1に取り付けられる。
The cut-out
Thereafter, the marking 600 on the
[4]ドライバーIC302の構成
次に、ドライバーIC302の構成について説明する。
上述のように、ドライバーIC302の不揮発性メモリ321には、マザーガラス400上での当該OLEDパネル200の位置が記録されている。また、OLEDパネル200上でのOLED201の位置もまた分かっている。従って、これらの情報から、マザーガラス400上でのOLED201の位置を知ることができる。
[4] Configuration of
As described above, the position of the
製膜時におけるマザーガラス400と熱源402との位置関係は通常一定であるので、マザーガラス400上でのOLED201の位置が分かれば、有機発光層502を製膜したときの熱源402からOLED201までの距離を知ることができる。また、OLED201は、熱源402からの距離に応じて有機発光層502の層厚が変化し、有機発光層502の層厚に応じて劣化特性が変化する。
Since the positional relationship between the
従って、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置、OLEDパネル200上でのOLED201及び当該OLED201の積算発光時間から当該OLED201の劣化度を推定して駆動電流を増加させれば、OLED201の経時劣化による発光量の低下を精度良く補正することができる。このため、ドライバーIC302は以下のような構成を備えている。
Therefore, if the degree of deterioration of the
図7は、ドライバーIC302の主要な機能構成を示すブロック図である。ドライバーIC302が備える設定光量記憶部701は、OLED201毎の設定光量Lを識別する識別子(以下、「設定光量識別子」という。)を記憶する。図8は、設定光量記憶部701が記憶する設定光量Lを例示するテーブルである。
上述のように、光書込み装置100においては、ロッドレンズアレイ202を用いてOLED201の出射光を感光体ドラム110の外周面上に集光する。このロッドレンズアレイ202は、円柱状のロッドレンズを集積した構造を有している。ロッドレンズアレイ202を構成する円柱状のロッドレンズと個々のOLED201との位置関係はさまざまであり、OLED201の出射光の主光線は必ずしも円柱状のロッドレンズの光軸に一致せず、ロッドレンズアレイ202の結像効率がOLED201毎に変動する。
FIG. 7 is a block diagram illustrating a main functional configuration of the
As described above, in the
このため、すべてのOLED201に同一の駆動電流を供給すると露光量にバラつきが生じる。すべてのOLED201で露光量を揃えるためには、OLED201毎に発光量を調整する必要がある。初期状態においてOLED201間で露光量が揃うように設定されたOLED201毎の発光量が設定光量Lである。ロッドレンズアレイ202の結像効率が低いOLED201ほど設定光量Lが多くなる。
For this reason, if the same drive current is supplied to all the
図8の例では、OLED番号1のOLED201については設定光量識別子L1が記憶され、OLED番号2のOLED201については設定光量識別子L2が記憶されている。
設定電流量記憶部702は、経時劣化前の初期状態かつ所定の環境温度(例えば、日本工業規格JIS Z 8703で定める標準状態の温度20℃、23℃又は25℃の何れか。)においてOLED201を設定光量Lで発光させるための駆動電流量(以下、「設定電流量」という。)を設定光量識別子毎に記憶する。図9は、設定電流量記憶部702が記憶する設定光量Lを例示するテーブルである。図9の例では、設定光量識別子L1、L2にそれぞれ対応する駆動電流量I1、I2が記憶されている。
In the example of FIG. 8, the set light quantity identifier L1 is stored for the
The set current
位置情報記憶部703は、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置を表す位置情報Pを不揮発性メモリ321上で記憶すると共に、OLED201の位置毎に膜厚範囲Rを記憶する。上述のように、当該位置情報PはOLEDパネル200の製造時に不揮発性メモリ321に書き込まれる。また、膜厚範囲Rは、例えば、100ナノメートル以上200ナノメートル未満や、200ナノメートル以上300ナノメートル未満のように定められる。
The position
図10は、位置情報PとOLED201毎の膜厚Rとを記憶する膜厚テーブルを例示する。図10では、位置情報Pが記憶されると共に、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置とOLED番号(OLEDパネル200上でのOLED201の位置)とに対応する膜厚Rが記憶される。後述のように、劣化度算出部707は位置情報Pを参照してパネル位置を特定し、更にOLED番号から当該OLED201の膜厚が含まれる膜厚範囲Rを特定する。
FIG. 10 illustrates a film thickness table that stores the position information P and the film thickness R for each
積算発光時間記憶部704は、OLED201毎に、発光時の素子温度の温度範囲RTと駆動電流量の範囲RIとの組み合わせ毎の積算発光時間Hを記憶する。図11は、OLED番号nのOLED201の積算発光時間Hを記憶する積算発光時間テーブルを例示している。例えば、OLED番号nのOLED201の素子温度が温度範囲RT3内であって、かつ、駆動電流量が範囲RI3内であったときの積算発光時間が112時間になっている。
The accumulated light emission
劣化係数テーブル705は、OLED201の有機発光層502の膜厚の範囲毎に、発光時の素子温度の範囲と駆動電流量の範囲との組み合わせ毎の劣化係数(劣化速度)δを記憶する。図12は、膜厚が範囲R1内にあるOLED201の劣化係数δを発光時の素子温度の範囲と駆動電流量の範囲との組み合わせ毎に記憶する劣化係数テーブルを例示している。例えば、膜厚が範囲R1内にあるOLED201の素子温度が温度範囲RT2内であって、かつ、駆動電流量が範囲RI2内であるときの劣化係数δが1.06になっている。
The deterioration coefficient table 705 stores a deterioration coefficient (deterioration speed) δ for each combination of the element temperature range and the drive current amount range during light emission for each film thickness range of the organic light emitting layer 502 of the
図13は、OLED201の劣化特性を例示するグラフである。図13(a)に示されるように、OLED201は、素子温度が高いほど速く劣化して、発光量が減少する。また、図13(b)に示されるように、OLED201は、駆動電流量が多いほど速く劣化し、図13(c)に示されるように、有機発光層502の膜厚が薄いほど速く劣化する。劣化係数テーブル705が記憶する劣化係数δは以上のような特性を反映している。
FIG. 13 is a graph illustrating the deterioration characteristics of the
劣化度算出部707は、OLED201毎に、劣化係数δと積算発光時間Hとを用いて劣化度Dを算出する。具体的には、発光時の素子温度の範囲と駆動電流量の範囲との組み合わせ毎に積算発光時間Hと劣化係数δと乗算し、その総和を求めることによって、劣化度Dが算出される。
補正係数テーブル706は、OLED201の劣化度Dの範囲RD毎に、素子温度の温度範囲RTと設定光量Lの組み合わせ毎の補正係数γを記憶する。図14は、補正係数テーブルを例示する。図14においては、例えば、素子温度が温度範囲RT1内にあって、かつ、設定光量識別子がL1であるときの補正係数γは1.011である。
The deterioration
The correction coefficient table 706 stores a correction coefficient γ for each combination of the temperature range RT of the element temperature and the set light amount L for each range RD of the deterioration degree D of the
駆動電流量算出部708は、OLED201毎の設定電流量に補正係数γを乗算することによって駆動電流量を算出する。
温度センサー320は、OLED201の素子温度を指標する情報として、ドライバーIC302の素子温度を検出する。OLED201とドライバーIC302とは同じTFT基板300上に実装されているので、TFT基板300を介した熱伝導によって互いに素子温度が近くなっていると考えられる。
The drive current
The
[5]劣化時の発光量補正
次に、OLED201の劣化時の発光量補正について説明する。
ドライバーIC302は、OLED201を発光させるのに先立って、図15に示されるように、温度センサー320を参照して、自らの素子温度をOLED201の素子温度として取得する(S1501)。その後、OLED201毎にステップS1502からS1510までの処理を繰り返す。
[5] Light emission amount correction at the time of deterioration Next, light emission amount correction at the time of deterioration of the
Prior to causing the
まず、劣化度算出部707にて、積算発光時間記憶部704を参照して、発光時の素子温度の温度範囲RTと駆動電流量の範囲RIとの組み合わせ毎の積算発光時間Hを取得する(S1502)。次に、位置情報記憶部703を参照して、当該OLED201の膜厚が属する膜厚範囲Rを特定する(S1503)。更に、劣化係数テーブル705を参照して、発光時の素子温度の温度範囲RTと駆動電流量の範囲RIとの組み合わせ毎の劣化係数δを取得する(S1504)。
First, the deterioration
そして、積算発光時間Hと劣化係数δとから劣化度Dを算出する(S1505)。発光時の素子温度のi番目の温度範囲RTiと、駆動電流量のj番目の範囲RIjとにそれぞれ対応する積算発光時間Hijと劣化係数δijを用いて、劣化度Dが次式により算出される。 Then, the deterioration degree D is calculated from the accumulated light emission time H and the deterioration coefficient δ (S1505). Degradation degree D is calculated by the following equation using integrated light emission time H ij and deterioration coefficient δ ij corresponding to i-th temperature range RTi of element temperature during light emission and j-th range RIj of drive current amount, respectively. Is done.
駆動電流量算出部708は、補正係数γと設定電流量Inとを次式のように乗算することによって駆動電流量Iを算出する(S1509)。
The drive current
その後、ドライバーIC302は、次のOLED201について上記と同様に駆動電流量Iを算出し、すべてのOLED201について駆動電流量Iを算出したら、OLED201を発光させる。
このようにすれば、OLED201毎の膜厚に応じた劣化係数δを用いて駆動電流量Iを算出するので、マザーガラス400上での位置の違いから生じる劣化特性の違いに起因する発光量のムラを補正することができる。
Thereafter, the
In this way, since the drive current amount I is calculated using the deterioration coefficient δ corresponding to the film thickness for each
[6]変形例
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明が上述の実施の形態に限定されないのは勿論であり、以下のような変形例を実施することができる。
(1)上記実施の形態においては、OLED201の位置毎に有機発光層502の膜厚の範囲を記憶して、劣化係数δに反映させる場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしても良い。
[6] Modifications As described above, the present invention has been described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the following modifications can be implemented. .
(1) In the above embodiment, the case where the range of the film thickness of the organic light emitting layer 502 is stored for each position of the
すなわち、同じOLEDパネル200に実装されたOLED201どうしで膜厚の差が小さく、従って劣化特性の差が無視できる程度である場合には、位置情報記憶部703は、OLEDパネル200の位置情報ごとに膜厚範囲Rを記憶してもよい。この場合においては、OLED201の膜厚が属する膜厚範囲Rを特定するステップS1503は、OLED201毎のループ処理よりも前に実行しても良い。
That is, when the difference in film thickness between the
このようにしても、本発明の効果を得ることができる。また、位置情報記憶部703が必要とする記憶容量を削減することができる。
(2)上記実施の形態においては、OLED201の有機発光層502の膜厚以外に、OLED201の素子温度や駆動電流量を勘案して劣化度Dを算出する場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、発光時の素子温度や駆動電流量の一方または双方が劣化度Dに与える影響が無視できる程度である場合には、当該因子を除外して劣化度Dを算出してもよい。
Even if it does in this way, the effect of the present invention can be acquired. In addition, the storage capacity required by the position
(2) In the above embodiment, the case where the deterioration degree D is calculated in consideration of the element temperature of the
例えば、発光時の素子温度と駆動電流量の双方が無視できる場合には、図10のテーブルで膜厚の範囲を記憶するのに代えて、劣化係数δを記憶させてもよい。また、何れか一方のみを採用する場合には、図11や図12のテーブルが採用する方の因子のみを用いたテーブルになる。
何れの場合にも、マザーガラス400上でのOLEDパネル200やOLED201の位置を考慮した劣化係数δが用いられるので、本発明の効果を得ることができる。
For example, when both the element temperature and the drive current amount during light emission are negligible, the deterioration coefficient δ may be stored instead of storing the film thickness range in the table of FIG. When only one of them is adopted, the table shown in FIG. 11 or 12 is a table using only the factor adopted.
In any case, since the degradation coefficient δ considering the position of the
(3)上記実施の形態において説明したように、本発明に係る光書込み装置100は、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置を考慮して発光量の劣化補正を行うために、光書込み装置100の製造過程において当該位置を表す位置情報を当該光書込み装置100に記憶させることを特徴とする。
すなわち、マザーガラス400上にOLED201を形成する際に、個々のOLEDパネル200に対応する領域毎に、当該OLEDパネル200のマザーガラス400上での位置を示すマーキング600を記録しておき、マザーガラス400から切り出されたOLEDパネル200からマーキング600を読み取って位置情報Pを生成する。そして、生成された位置情報Pを、当該OLEDパネル200を搭載した光書込み装置100の位置情報記憶部703に記憶させる。
(3) As described in the above embodiment, the
That is, when the
このような製造方法によって、光書込み装置100を製造すれば、上述のような効果を得ることができる。
(4)上記実施の形態においては、図6に示されるように、マーキング600としてアルファベット文字が用いる場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、撮像若しくは目視によって識別することができるパターンであれば、バーコード等、アルファベット文字以外のパターンをマーキング600として用いてもよい
また、マザーガラス400上でのOLEDパネル200の位置を識別するための回路を、各OLEDパネル200のTFT基板300上に実装してもよい。例えば、OLEDパネル200の位置毎に導通する経路が異なる回路を用いれば、当該経路の導通の有無によってOLEDパネル位置を識別することができる。
If the
(4) In the above embodiment, as illustrated in FIG. 6, the case where alphabetic characters are used as the marking 600 has been described as an example. However, it goes without saying that the present invention is not limited to this, and is identified by imaging or visual observation. Any pattern other than alphabetic characters, such as a barcode, may be used as the marking 600 as long as it is a pattern that can be printed. A circuit for identifying the position of the
(5)上記実施の形態においては、画像形成装置1がタンデム型のカラープリンターである場合について説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、タンデム型以外のカラープリンターに本発明を適用してもよいし、モノクロプリンターに適用してもよい。また、スキャナーを備えた複写装置や、更に通信機能を備えたファクシミリ装置、或いはこれらの機能を兼ね備えた複合機(MFP: Multi-Function Peripheral)に本発明を適用しても同様の効果を得ることができる。
(5) In the above embodiment, the case where the
本発明に係る光書き込み装置、画像形成装置及び光書き込み装置の製造方法は、OLEDの劣化に起因する発光量のバラツキを抑制する技術として有用である。 The optical writing device, the image forming apparatus, and the manufacturing method of the optical writing device according to the present invention are useful as a technique for suppressing variations in the light emission amount caused by the deterioration of the OLED.
1………画像形成装置
100…光書込み装置
200…OLEDパネル
201…OLED
302…ドライバーIC
400…マザーガラス
502…有機発光層
600…マーキング
321…不揮発性メモリ
703…位置情報記憶部
705…劣化係数テーブル
706…補正係数テーブル
707…劣化度算出部
708…駆動電流量算出部
DESCRIPTION OF
302 ... Driver IC
400 ... Mother glass 502 ... Organic
Claims (8)
前記マザーガラスから前記OLEDパネルを切り出す以前における、当該マザーガラス上でのOLEDの位置を示す位置情報を記憶する位置情報記憶手段と、
OLED毎の積算発光時間を記憶する積算発光時間記憶手段と、
OLED毎の駆動電流量を、前記位置情報と当該OLEDの積算発光時間とに応じて補正する駆動電流量補正手段と、備える
ことを特徴とする光書込み装置。 An optical writing device that performs optical writing by causing a plurality of OLEDs formed on an OLED panel cut out from a mother glass to emit light,
Position information storage means for storing position information indicating the position of the OLED on the mother glass before cutting out the OLED panel from the mother glass;
Accumulated light emission time storage means for storing the accumulated light emission time for each OLED;
An optical writing apparatus comprising: a drive current amount correcting unit that corrects a drive current amount for each OLED in accordance with the position information and an accumulated light emission time of the OLED.
ことを特徴とする請求項1に記載の光書込み装置。 The position information storage means stores, as position information indicating the position of the OLED, the position of the OLED panel on which the OLED is formed on the mother glass before the OLED panel is cut out from the mother glass. The optical writing device according to claim 1.
ことを特徴とする請求項1に記載の光書込み装置。 The position information storage means stores, as position information indicating the position of the OLED, a position of each OLED on the mother glass before cutting out the OLED panel from the mother glass. The optical writing device according to 1.
OLED毎に、当該OLEDを発光させたときに検出された温度情報を記憶する温度情報記憶手段と、を備え、
前記駆動電流量算出手段は、前記位置情報に加えて、更に、当該OLEDに関して記憶されている温度情報も用いて前記駆動電流量を算出する
ことを特徴とする請求項1から3の何れかに記載の光書込み装置。 Temperature information acquisition means for acquiring temperature information indicating the element temperature of the OLED;
Temperature information storage means for storing temperature information detected when the OLED is caused to emit light for each OLED;
4. The drive current amount calculation unit calculates the drive current amount using temperature information stored with respect to the OLED in addition to the position information. 5. The optical writing device described.
前記駆動電流量算出手段は、更に、OLED毎の設定光量も用いて前記駆動電流量を算出する
ことを特徴とする請求項1から4の何れかに記載の光書込み装置。 A set light quantity storage means for storing a set light quantity for causing the OLED in the initial state to emit light without uneven exposure to the optical writing target,
5. The optical writing device according to claim 1, wherein the drive current amount calculation unit further calculates the drive current amount using a set light amount for each OLED.
ことを特徴とする画像形成装置。 An image forming apparatus comprising the optical writing device according to claim 1.
マザーガラス上に複数のOLEDを形成するOLED形成ステップと、
個々のOLEDパネルに対応する領域毎に、当該OLEDパネルのマザーガラス上での位置を示す位置表示を記録する位置記録ステップと、
マザーガラスから切り出されたOLEDパネルから位置表示を読み取って位置情報を生成する位置情報生成ステップと、
生成された位置情報を、当該OLEDパネルを搭載した光書込み装置の前記位置情報記憶手段に記憶させる位置情報記憶ステップと、を含む
ことを特徴とする光書込み装置の製造方法。 A method of manufacturing an optical writing device having position information storage means for storing position information indicating the position of an OLED panel on a mother glass,
An OLED forming step of forming a plurality of OLEDs on the mother glass;
For each region corresponding to each OLED panel, a position recording step for recording a position display indicating the position of the OLED panel on the mother glass;
A position information generation step of reading position display from the OLED panel cut out from the mother glass and generating position information;
And a position information storing step of storing the generated position information in the position information storing means of the optical writing apparatus on which the OLED panel is mounted.
ことを特徴とする請求項7に記載の光書込み装置の製造方法。 8. The method of manufacturing an optical writing device according to claim 7, wherein, in the position recording step, a position display is recorded using a material of the electrode when the electrode of the OLED is formed.
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