JP2016050842A - 印刷物の検査方法、印刷物の製造方法及び印刷物の検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】検査対象インキの種類を高精度に特定する。【解決手段】印刷物の検査方法は、検査対象インキ５，６が付着した印刷物Ｐ１を撮影し、撮影された検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得する第１工程と、第１分光反射スペクトルと基準インキ７の第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する第２工程と、類似度に基づいて、検査対象インキ５，６が基準インキ７と同じであるか否か判定する第３工程と、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、分光反射スペクトルを用いた印刷物の検査方法、印刷物の製造方法及び印刷物の検査装置に関する。

印刷物の製造工程において、インキの飛びやハネ（以下、インキの飛びと称す）が印刷物上に付着して、印刷不良が発生する場合がある。この場合、印刷物を検査して、インキの飛びがどのような種類のインキであるか特定できれば、印刷不良が発生した工程を特定して、当該工程を改善することができる。印刷物の製造工程においては、複数種類のインキが用いられるため、高精度にインキの種類を特定する必要がある。

印刷物を検査する技術としては、印刷物を撮影して得られた画像データを正常な画像データと比較して、インキの飛びが存在するか否かを判定する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。

特許第５３９３０９９号公報

しかしながら、上記特許文献１の技術では、インキの飛びの位置を把握することはできるが、そのインキの種類を高精度に特定することまではできない。特に、インキの飛びと似た色の部分や基材の汚れなどが印刷物に存在する場合、又は、インキの飛びがかすれた色になっている場合には、インキの種類を特定することは不可能である。

本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、検査対象インキの種類を高精度に特定することができる印刷物の検査方法、印刷物の製造方法及び印刷物の検査装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様に係る印刷物の検査方法は、
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得する第１工程と、
前記第１分光反射スペクトルと基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する第２工程と、
前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する第３工程と、
を備える。

前記印刷物の検査方法において、
前記第１工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第１分光反射スペクトルを取得し、
前記第２工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第２分光反射スペクトルとの間の前記類似度を算出し、前記複数の画素について前記類似度を階調表示して、前記類似度の分布を表す類似度画像を表示し、
前記第３工程において、前記類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定してもよい。

前記印刷物の検査方法において、
前記第１工程の前に、前記基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第１工程において、前記印刷物及び前記基材上の前記基準インキを撮影し、前記第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第２分光反射スペクトルを得てもよい。

前記印刷物の検査方法において、
前記第２工程において、コサイン距離解析により前記類似度を算出し、
前記第３工程において、前記類似度が予め定められたしきい値以上の場合、前記検査対象インキは前記基準インキと同じであると判定してもよい。

本発明の他の一態様に係る印刷物の検査方法は、
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得する第１工程と、
前記第１分光反射スペクトルと第１基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出する第２工程と、
前記第１分光反射スペクトルと、第２基準インキの第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する第３工程と、
前記第１類似度が前記第２類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第１基準インキと同じであると判定し、前記第２類似度が前記第１類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第２基準インキと同じであると判定する第４工程と、
を備える。

前記印刷物の検査方法において、
前記第１工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第１分光反射スペクトルを取得し、
前記第２工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第２分光反射スペクトルとの間の前記第１類似度を算出し、前記複数の画素について前記第１類似度を階調表示して、前記第１類似度の分布を表す第１類似度画像を表示し、
前記第３工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第３分光反射スペクトルとの間の前記第２類似度を算出し、前記複数の画素について前記第２類似度を階調表示して、前記第２類似度の分布を表す第２類似度画像を表示し、
前記第４工程において、前記第１類似度画像および前記第２類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記第１基準インキと前記第２基準インキとの何れと同じであるか判定してもよい。

前記印刷物の検査方法において、
前記第１工程の前に、前記第１基準インキ及び前記第２基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第１工程において、前記印刷物と、前記基材上の前記第１基準インキ及び前記第２基準インキとを撮影し、前記第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記第１基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第２分光反射スペクトルを得て、撮影された前記第２基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第３分光反射スペクトルを得てもよい。

前記印刷物の検査方法において、
前記第２工程において、コサイン距離解析により前記第１類似度を算出し、
前記第３工程において、コサイン距離解析により前記第２類似度を算出してもよい。

前記印刷物の検査方法において、
前記第１工程において、分光イメージングカメラによって分光反射スペクトルを取得してもよい。

本発明の一態様に係る印刷物の製造方法は、
基材を準備する工程と、
インキを準備する工程と、
前記基材に前記インキを印刷して印刷物を得る工程と、
前記印刷物の検査方法で前記印刷物を検査する工程と、
を備える。

本発明の一態様に係る印刷物の検査装置は、
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記第１分光反射スペクトルと基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する演算部と、
前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する判定部と、
を備える。

本発明の他の一態様に係る印刷物の検査装置は、
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記第１分光反射スペクトルと第１基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出し、前記第１分光反射スペクトルと、第２基準インキの第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する演算部と、
前記第１類似度が前記第２類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第１基準インキと同じであると判定し、前記第２類似度が前記第１類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第２基準インキと同じであると判定する判定部と、
を備える。

前記印刷物の検査装置において、
前記スペクトル取得部は分光イメージングカメラであってもよい。

本発明によれば、検査対象インキの種類を高精度に特定することができる。

第１の実施形態に係る印刷物の検査装置の概略的な構成を示す図である。 第１の実施形態に係る印刷物の検査方法の各工程を示すフローチャートである。 （ａ）は、印刷物の一部と比較用検体とを概略的に示す平面図であり、（ｂ）は、印刷物の検査方法により求められた図３（ａ）の印刷物の類似度画像である。 第２の実施形態に係る印刷物の検査方法の各工程を示すフローチャートである。 印刷物の一部と比較用検体とを概略的に示す平面図である。

以下、図面を参照して本発明の各実施形態について説明する。なお、本明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺および縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る印刷物の検査装置１００の概略的な構成を示す図である。図１に示すように、印刷物の検査装置１００は、光源１０と、分光イメージングカメラ（スペクトル取得部）２０と、演算部３０と、判定部４０と、を備える。

検査対象の印刷物Ｐ１は、基材上にインキを印刷して文字やパターン等の印刷層を形成した物である。インキは印刷に用いられるものであれば特に限定されない。基材の材質は、例えば、紙、ポリエチレンテレフタレートのフィルム、ガラス等であり、特に限定されない。印刷物Ｐ１は、プリンタブルエレクトロニクス又はプリンテッドエレクトロニクスと呼ばれる分野における、フィルムやガラス基材上に導電性インキを印刷して電極等を形成した物であってもよい。

光源１０は、検査対象の印刷物Ｐ１に可視光を含む照明光Ｌ１を照射する。例えば、照明光Ｌ１の波長は、３５０〜１０５０ｎｍである。照明光Ｌ１の強度の波長依存性は、低い方が好ましい。

分光イメージングカメラ２０は、照明された印刷物Ｐ１からの反射光Ｌ２を検出することで、印刷物Ｐ１を撮影する。この時、分光イメージングカメラ２０は、撮影された画像の各画素において、第１分光反射スペクトル（分光イメージングデータ）を取得する。分光イメージングカメラ２０は、例えば、３５０〜１０５０ｎｍの波長の範囲で、５ｎｍ間隔で分光して第１分光反射スペクトルを取得する。言い換えれば、分光イメージングカメラ２０は、各画素について第１分光反射スペクトルを合成することにより、カラー画像を取得できる。分光イメージングカメラ２０は、例えば、ハイパースペクトルカメラ ＮＨシリーズ（エバ・ジャパン株式会社製）等を用いてもよい。

なお、分光イメージングカメラ２０は、撮影された画像の全画素において分光反射スペクトルを測定できなくてもよい。

演算部３０は、分光イメージングカメラ２０で取得された印刷物Ｐ１の第１分光反射スペクトルと基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する。

判定部４０は、算出された類似度に基づいて、検査対象インキが基準インキと同じであるか否か判定する。演算部３０と判定部４０の具体的な機能は、図２のフローチャートを参照して以下に説明する。演算部３０と判定部４０は、例えば、コンピュータなどである。ここで、検査対象インキが基準インキと同じであるとは、基準インキを基に設定した基準を満たしていることをいい、具体的には、後述のように、類似度がしきい値以上の場合等をいう。

図２は、第１の実施形態に係る印刷物Ｐ１の検査方法の各工程を示すフローチャートである。

まず、図３（ａ）に示す検査対象の印刷物Ｐ１と比較用検体Ｃ１とを準備する（ステップＳ１）。

図３（ａ）は、印刷物Ｐ１の一部と比較用検体Ｃ１とを概略的に示す平面図である。図３（ａ）に示すように、印刷物Ｐ１は、基材１と、基材１上の一部に少なくとも１種類の印刷インキで印刷された印刷層２と、を備える。印刷層２が設けられていない領域３における基材１の縁には、目印となるマーカ線４が付されている。このマーカ線４は、印刷物Ｐ１の製造工程でマーカーペン等により付されたものである。図示する例では、印刷不良が発生しているので、領域３の基材１上に２つの検査対象インキ５，６が付着している。検査対象インキ５，６は、印刷物Ｐ１の製造工程において、印刷インキ、又は、マーカ線４を付けるために用いたインキの飛びにより付着したものである。印刷不良が発生していない場合には、印刷物Ｐ１の領域３の基材１上には検査対象インキ５，６が付着していない。なお、本実施形態において、検査対象インキ５，６は乾燥していない状態および乾燥した状態を含んでいる。

ステップＳ１において、比較用検体Ｃ１は、基準インキ７を基材１ａ上に塗布して作製する。基準インキ７としては、検査対象インキ５又は検査対象インキ６と同じである可能性があるインキを用いる。つまり、基準インキ７として、印刷物Ｐ１の製造に用いられた何れかの印刷インキ、又は、マーカ線４を付けるために用いられたインキを用いる。この例では、基準インキ７は、マーカ線４を付けるために用いられたインキである。

基準インキ７は、信頼性が高く且つ低ノイズの第２分光反射スペクトルが得られる程度の厚みで塗布することが好ましい。

印刷物Ｐ１と比較用検体Ｃ１は、１つの画像に収まるよう、並べて配置することが好ましい。これにより、撮影回数を減らすことができる。なお、基準インキ７を印刷物Ｐ１の領域３に塗布すれば、比較用検体Ｃ１を用いなくてもよい。また、第２分光反射スペクトルは、比較用検体Ｃ１を用いて予め取得しておき、図示しない記憶部に記憶しておいてもよい。

次に、分光イメージングカメラ２０により、照明光Ｌ１で照明された印刷物Ｐ１及び比較用検体Ｃ１の基材１ａ上の基準インキ７を撮影する（ステップＳ２：第１工程）。

この時、前述のように、撮影された画像の検査対象インキ５，６を含む範囲内の各画素において第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された基準インキ７の画像の少なくとも一部の各画素において分光反射スペクトルを取得する。そして、演算部３０により、基準インキ７の画像から取得された複数の分光反射スペクトルを平均して第２分光反射スペクトルを得る。これにより、信頼性が高く且つ低ノイズの第２分光反射スペクトルを得ることができる。基準インキ７の画像における分光反射スペクトルを取得する領域の指定は、操作者が行えばよい。

このステップＳ２の処理に先立ち、分光イメージングカメラ２０により、印刷物Ｐ１が存在しない状態で、照明光Ｌ１で照明された白板等を撮影して、補正用の分光反射スペクトルを取得してもよい。このような補正用の分光反射スペクトルを用いて、ステップＳ２で取得された第１分光反射スペクトル及び第２分光反射スペクトルを補正することにより、照明光Ｌ１の強度の波長依存性の影響を除去して、第１分光反射スペクトル及び第２分光反射スペクトルをより正確に取得できる。

次に、演算部３０により、画素毎に第１分光反射スペクトルと第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出し、各画素について類似度を階調表示して、類似度の分布を表す類似度画像を表示する（ステップＳ３：第２工程）。類似度画像は、図示しない表示部に表示される。

本実施形態では、周知のコサイン距離解析により類似度（コサイン類似度）を算出する。コサイン距離解析の詳細な説明は省略するが、概略的には、基準となる第２分光反射スペクトルを基準ベクトルとして表し、比較対象の第１分光反射スペクトルを比較対象ベクトルとして表し、比較対象ベクトルが基準ベクトルにどの程度近いかを類似度として表すものである。類似度は、０から１の範囲の値であり、類似度が１に近い程、第１分光反射スペクトルと第２分光反射スペクトルとが類似していることを表す。つまり、演算部３０は、第１分光反射スペクトルが第２分光反射スペクトルに類似している程、高い類似度を算出する。

次に、判定部４０により、類似度に基づいて、検査対象インキ５，６が基準インキ７と同じであるか否か判定する。具体的には、類似度画像に基づいて、検査対象インキ５，６が基準インキ７と同じであるか否か判定する（ステップＳ４：第３工程）。

本実施形態では、類似度が予め定められたしきい値以上の場合、検査対象インキ５，６は基準インキ７と同じであると判定する。しきい値は、検査環境やノイズの影響などを考慮して適宜設定すればよいが、例えば、０．８以上の値に設定してもよい。判定部４０を用いずに、表示部に表示された類似度画像に基づき、操作者が判定してもよい。

図３（ｂ）は、上記検査方法により求められた図３（ａ）の印刷物Ｐ１の類似度画像である。図３（ｂ）に示すように、類似度画像において、図３（ａ）のマーカ線４、検査対象インキ５、検査対象インキ６及び基準インキ７に対応する位置の類似度が、他の部分よりも高く表示されている。即ち、検査対象インキ５と基準インキ７との間の類似度、検査対象インキ６と基準インキ７との間の類似度、及び、マーカ線４と基準インキ７との間の類似度は、約０．９以上となっており、他の部分よりも大幅に高い。従って、検査対象インキ５と、検査対象インキ６と、マーカ線４のインキとは、同一のインキであることが特定できる。なお、基準インキ７に対応する位置の類似度は、ほぼ１である。

これにより、検査対象インキ５，６は、マーカ線４を付けるために用いたインキの飛びにより付着したものであることが分かる。従って、マーカ線４を付ける工程を改善してインキが飛ばないようにすることで、印刷物Ｐ１の印刷不良が発生しないようにできる。

一方、図３（ａ）に示すように、肉眼で観察した場合には、印刷物Ｐ１の検査対象インキ５と検査対象インキ６は、互いに異なる色に観察される。また、検査対象インキ５と検査対象インキ６がマーカ線４の色と同じか否かは、判断できない。このことは、前述した特許文献１に記載の画像処理技術を用いた場合にも同様である。

このように、肉眼や周知の画像処理技術では、検査対象インキ５，６及びマーカ線４が同じインキであるか否か判断することは現実的に不可能である。しかし、本実施形態で算出された類似度は、検査対象インキ５，６及びマーカ線４において他の部分よりも明確に高くなっている。そのため、類似度を用いれば、印刷物Ｐ１のどの部分に基準インキ７と同じインキが存在しているか判断できる。

このような印刷物Ｐ１の検査方法の各工程は、印刷物Ｐ１の製造工程の一部として実行されてもよい。つまり、図２のステップＳ１の前に、基材１を準備する工程と、印刷インキを準備する工程と、基材１に印刷インキを印刷して印刷物Ｐ１を得る工程と、を備えてもよい。

以上では類似度画像を表示する一例について説明したが、検査対象インキ５，６が比較的濃く、その位置が明確な場合などには、類似度画像は表示しなくてもよい。これにより、演算部３０の処理を簡略化できる。

この場合、ステップＳ２において、検査対象インキ５，６が付着した印刷物Ｐ１を撮影し、撮影された検査対象インキ５，６の画像の少なくとも１つの画素において第１分光反射スペクトルを取得する。第１分光反射スペクトルを取得する画素は、操作者が、撮影された画像を見て指定すればよい。検査対象インキ５，６が比較的濃い場合には、肉眼であっても容易に位置を指定できる。

そして、ステップＳ３において、第１分光反射スペクトルと基準インキ７の第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する。ステップＳ２で複数の第１分光反射スペクトルを取得した場合には、複数の類似度を算出する。

そして、ステップＳ４において、類似度に基づいて、検査対象インキ５，６が基準インキ７と同じであるか否か判定する。類似度が数値で表示されるようにしておき、操作者が判定してもよい。

以上で説明したように、本実施形態によれば、検査対象インキ５，６の第１分光反射スペクトルと基準インキ７の第２分光反射スペクトルとの間の類似度に基づいて、検査対象インキ５，６が基準インキ７と同じであるか否か判定している。分光反射スペクトルは、撮影対象物を反映した複数の波長のスペクトル情報を含んでいるため、同じインキであれば良く似た形状の分光反射スペクトルが得られ、異なるインキであれば異なる形状の分光反射スペクトルが得られる。従って、インキの飛びと似た色や基材１の汚れなどが印刷物Ｐ１に存在する場合、又は、インキの飛びがかすれた色になっている場合にも、検査対象インキの種類を高精度に特定することができる。

また、類似度の分布を表す類似度画像を表示するようにしている。これにより、インキの飛びがかすれた色になっている場合など、肉眼ではインキの飛びの場所を特定し難い場合であっても、基準インキと同じである場合には、インキの飛びの部分は類似度が高い画素として周囲とは異なって表示される。従って、肉眼では確認し難いインキの飛びであっても、検査対象インキの種類を高精度に特定できる。

また、光源１０は、可視光を含む照明光Ｌ１を照射できればよいため、特殊な光源を必要としない。従って、印刷物の検査装置１００を簡単な構成で実現できる。
（第２の実施形態）
第２の実施形態では、印刷物の検査装置１００の演算部３０と判定部４０の機能が、第１の実施形態と異なる。

即ち、演算部３０は、第１分光反射スペクトルと第１基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出し、第１分光反射スペクトルと第２基準インキの第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する。

判定部４０は、第１類似度が第２類似度より大きい場合、検査対象インキは第１基準インキと同じであると判定し、第２類似度が第１類似度より大きい場合、検査対象インキは第２基準インキと同じであると判定する。

図４は、第２の実施形態に係る印刷物の検査方法の各工程を示すフローチャートである。

まず、図５に示す検査対象の印刷物Ｐ１と比較用検体Ｃ２とを準備する（ステップＳ１１）。

図５は、印刷物Ｐ１の一部と比較用検体Ｃ２とを概略的に示す平面図である。印刷物Ｐ１は、図３（ａ）の第１の実施形態と同一である。

ステップＳ１１において、比較用検体Ｃ２は、第１基準インキ７と第２基準インキ８とを基材１ａ上に塗布して作製する。第１基準インキ７は、第１の実施形態の基準インキ７と同様に、マーカ線４を付けるために用いられたインキである。第２基準インキ８は、印刷物Ｐ１の製造に用いられた何れかの印刷インキである。第１基準インキ７も、印刷インキとしてもよい。

第１基準インキ７と第２基準インキ８は、信頼性が高く且つ低ノイズの第２分光反射スペクトル及び第３分光反射スペクトルが得られるように、ある程度の厚みで塗布することが好ましい。

なお、第１の実施形態と同様に、第１基準インキ７と第２基準インキ８を印刷物Ｐ１の領域３に塗布すれば、比較用検体Ｃ２を用いなくてもよい。また、第２分光反射スペクトル及び第３の分光反射スペクトルは、比較用検体Ｃ２を用いて予め取得しておいてもよい。

次に、分光イメージングカメラ２０により、照明光Ｌ１で照明された印刷物Ｐ１と、比較用検体Ｃ２の基材１ａ上の第１基準インキ７及び第２基準インキ８と、を撮影する（ステップＳ１２：第１工程）。

この時、撮影された画像の検査対象インキ５，６を含む範囲内の各画素において第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された第１基準インキ７の画像の少なくとも一部の各画素において分光反射スペクトルを取得し、撮影された第２基準インキ８の画像の少なくとも一部の各画素において分光反射スペクトルを取得する。そして、演算部３０により、第１基準インキ７の画像から取得された複数の分光反射スペクトルを平均して第２分光反射スペクトルを得て、第２基準インキ８の画像から取得された複数の分光反射スペクトルを平均して第３分光反射スペクトルを得る。これにより、信頼性が高く且つ低ノイズの第２分光反射スペクトル及び第３分光反射スペクトルを得ることができる。第１基準インキ７及び第２基準インキ８の画像における分光反射スペクトルを取得する領域の指定は、操作者が行えばよい。

次に、演算部３０により、画素毎に第１分光反射スペクトルと第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出し、各画素について第１類似度を階調表示して、第１類似度の分布を表す第１類似度画像を表示する（ステップＳ１３：第２工程）。

次に、演算部３０により、画素毎に第１分光反射スペクトルと第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出し、各画素について第２類似度を階調表示して、第２類似度の分布を表す第２類似度画像を表示する（ステップＳ１４：第３工程）。第１類似度画像と第２類似度画像は、図示しない表示部に並んで表示されることが好ましい。これにより、２つの画像を容易に比較できる。

次に、判定部４０により、第１類似度画像および第２類似度画像に基づいて、検査対象インキが第１基準インキ７と第２基準インキ８との何れと同じであるか判定する（ステップＳ１５：第４工程）。

具体的には、第１類似度が第２類似度より大きい場合、検査対象インキは第１基準インキ７と同じであると判定し、第２類似度が第１類似度より大きい場合、検査対象インキは第２基準インキ８と同じであると判定する。判定部４０を用いずに、表示部に表示された類似度画像に基づき、操作者が判定してもよい。

ここでは、第１類似度画像は、図３（ｂ）と同じ画像が得られるとする。一方、第２類似度画像は、図３（ｂ）より低い類似度を全体的に示す画像であるとする。従って、マーカ線４、検査対象インキ５、検査対象インキ６及び基準インキ７に対応する位置において、第１類似度が第２類似度より大きいため、検査対象インキ５，６は第１基準インキ７と同じであると判定する。これにより、検査対象インキ５と検査対象インキ６は、マーカ線４のインキと同一のインキであり、印刷インキとは異なるインキであることが特定できる。

全ての第１類似度と第２類似度がしきい値より低い場合には、検査対象インキが第１基準インキ７と第２基準インキ８の両者と異なると判定してもよい。

また、第１の実施形態と同様に、類似度画像は表示しなくてもよい。これにより、演算部３０の処理を簡略化できる。

この場合、ステップＳ１２において、第１の実施形態と同様に、検査対象インキ５，６が付着した印刷物Ｐ１を撮影し、撮影された検査対象インキ５，６の画像の少なくとも１つの画素において第１分光反射スペクトルを取得する。

そして、ステップＳ１３において、第１分光反射スペクトルと第１基準インキ７の第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出する。ステップＳ１２で複数の第１分光反射スペクトルを取得した場合には、複数の第１類似度を算出する。

そして、ステップＳ１４において、第１分光反射スペクトルと第２基準インキ８の第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する。ステップＳ１２で複数の第１分光反射スペクトルを取得した場合には、複数の第２類似度を算出する。

そして、ステップＳ１５において、第１類似度が第２類似度より大きい場合、検査対象インキ５，６は第１基準インキ７と同じであると判定し、第２類似度が第１類似度より大きい場合、検査対象インキ５，６は第２基準インキ８と同じであると判定する。第１類似度及び第２類似度が数値で表示されるようにしておき、操作者が判定してもよい。

このように、本実施形態によれば、第１の実施形態と同様の効果が得られる。

（変形例）
以上の各実施形態では、類似度を求めるためにコサイン距離解析を行う一例について説明したが、これに限らず、他の解析方法を用いて類似度を求めてもよい。

また、以上の説明では、分光イメージングカメラ（スペクトル取得部）２０としてハイパースペクトルカメラを用いる一例について説明したが、これに限らない。分光イメージングカメラ２０として、撮影された画像の予め定められた範囲内の各画素において分光反射スペクトルを取得できる装置であれば、どのような呼称の装置を用いてもよい。例えば、ハイパースペクトルカメラに代えて、マルチスペクトルカメラを用いても良い。マルチスペクトルカメラとは、スペクトル分解能がハイパースペクトルカメラより大きい装置である。つまり、分光イメージングカメラ２０は、反射画像や分光反射スペクトルが得られるCCD（Charge Coupled Device）、CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）などの受光センサを有する装置であれば良い。
また、光源１０として、少なくとも可視光を含む照明光Ｌ１を照射できれば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）等の光源を用いてもよい。

上述した実施形態で説明した印刷物の検査装置１００の演算部３０及び判定部４０の少なくとも一部は、ハードウェアで構成してもよいし、ソフトウェアで構成してもよい。ソフトウェアで構成する場合には、演算部３０及び判定部４０の少なくとも一部の機能を実現するプログラムをフレキシブルディスクやＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に収納し、コンピュータに読み込ませて実行させてもよい。記録媒体は、磁気ディスクや光ディスク等の着脱可能なものに限定されず、ハードディスク装置やメモリなどの固定型の記録媒体でもよい。

また、演算部３０及び判定部４０の少なくとも一部の機能を実現するプログラムを、インターネット等の通信回線（無線通信も含む）を介して頒布してもよい。さらに、同プログラムを暗号化したり、変調をかけたり、圧縮した状態で、インターネット等の有線回線や無線回線を介して、あるいは記録媒体に収納して頒布してもよい。

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１０ 光源
２０ 分光イメージングカメラ（スペクトル取得部）
３０ 演算部
４０ 判定部
１００ 印刷物の検査装置
Ｐ１ 印刷物

Claims (13)

1. 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得する第１工程と、
   前記第１分光反射スペクトルと基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する第２工程と、
   前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する第３工程と、
   を備える印刷物の検査方法。
2. 前記第１工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第１分光反射スペクトルを取得し、
   前記第２工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第２分光反射スペクトルとの間の前記類似度を算出し、前記複数の画素について前記類似度を階調表示して、前記類似度の分布を表す類似度画像を表示し、
   前記第３工程において、前記類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する、請求項１に記載の印刷物の検査方法。
3. 前記第１工程の前に、前記基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
   前記第１工程において、前記印刷物及び前記基材上の前記基準インキを撮影し、前記第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第２分光反射スペクトルを得る、請求項１又は請求項２に記載の印刷物の検査方法。
4. 前記第２工程において、コサイン距離解析により前記類似度を算出し、
   前記第３工程において、前記類似度が予め定められたしきい値以上の場合、前記検査対象インキは前記基準インキと同じであると判定する、請求項１から請求項３の何れかに記載の印刷物の検査方法。
5. 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得する第１工程と、
   前記第１分光反射スペクトルと第１基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出する第２工程と、
   前記第１分光反射スペクトルと、第２基準インキの第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する第３工程と、
   前記第１類似度が前記第２類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第１基準インキと同じであると判定し、前記第２類似度が前記第１類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第２基準インキと同じであると判定する第４工程と、
   を備える印刷物の検査方法。
6. 前記第１工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第１分光反射スペクトルを取得し、
   前記第２工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第２分光反射スペクトルとの間の前記第１類似度を算出し、前記複数の画素について前記第１類似度を階調表示して、前記第１類似度の分布を表す第１類似度画像を表示し、
   前記第３工程において、前記画素毎に前記第１分光反射スペクトルと前記第３分光反射スペクトルとの間の前記第２類似度を算出し、前記複数の画素について前記第２類似度を階調表示して、前記第２類似度の分布を表す第２類似度画像を表示し、
   前記第４工程において、前記第１類似度画像および前記第２類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記第１基準インキと前記第２基準インキとの何れと同じであるか判定する、請求項５に記載の印刷物の検査方法。
7. 前記第１工程の前に、前記第１基準インキ及び前記第２基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
   前記第１工程において、前記印刷物と、前記基材上の前記第１基準インキ及び前記第２基準インキとを撮影し、前記第１分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記第１基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第２分光反射スペクトルを得て、撮影された前記第２基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第３分光反射スペクトルを得る、請求項５又は請求項６に記載の印刷物の検査方法。
8. 前記第２工程において、コサイン距離解析により前記第１類似度を算出し、
   前記第３工程において、コサイン距離解析により前記第２類似度を算出する、請求項５から請求項７の何れかに記載の印刷物の検査方法。
9. 前記第１工程において、分光イメージングカメラによって分光反射スペクトルを取得する、請求項１から請求項８の何れかに記載の印刷物の検査方法。
10. 基材を準備する工程と、
    インキを準備する工程と、
    前記基材に前記インキを印刷して印刷物を得る工程と、
    請求項１から請求項９の何れかに記載の印刷物の検査方法で前記印刷物を検査する工程と、
    を備える印刷物の製造方法。
11. 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
    前記第１分光反射スペクトルと基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する演算部と、
    前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する判定部と、
    を備える印刷物の検査装置。
12. 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第１分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
    前記第１分光反射スペクトルと第１基準インキの第２分光反射スペクトルとの間の第１類似度を算出し、前記第１分光反射スペクトルと、第２基準インキの第３分光反射スペクトルとの間の第２類似度を算出する演算部と、
    前記第１類似度が前記第２類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第１基準インキと同じであると判定し、前記第２類似度が前記第１類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第２基準インキと同じであると判定する判定部と、
    を備える印刷物の検査装置。
13. 前記スペクトル取得部は分光イメージングカメラである、請求項１１または請求項１２に記載の印刷物の検査装置。