JP2015505038A - 放射線を検出する検出装置 - Google Patents
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Abstract
Description
− 検出された放射線に応じてシンチレーション光を生成するGOS材料と、
− 当該シンチレーション光のうち、650nmより大きい波長を有する光成分の強度を低減させることによって当該シンチレーション光をフィルタリングする光フィルタと、
− 当該フィルタリングされたシンチレーション光を検出する検出ユニットとを備える。
− 物体を横切る放射線を生成する放射線発生源と、
− 請求項1に記載の検出装置であって、物体の画像を生成するために物体を横切った後の放射線を検出する検出装置とを備える。
− GOS材料によって、検出された放射線に応じてシンチレーション光を生成するステップと、
− 当該シンチレーション光のうち、650nmより大きい波長を有する光成分の強度を当該光フィルタが低減させることによって、当該シンチレーション光をフィルタリングするステップと、
− 検出ユニットによって、当該フィルタリングされたシンチレーション光を検出するステップとを含む。
− 物体の画像を生成するために前記物体を横切った後の前記放射線を検出するステップと、
− 放射線発生源によって、物体を横切る放射線を生成するステップと、
− 請求項14に記載された検出方法において、物体の画像を生成するために物体を横切った後の放射線を検出するステップとを含む。
Claims (15)
- 放射線を検出する検出装置であって、
前記検出された放射線に応じてシンチレーション光を生成するGOS材料と、
前記シンチレーション光のうち、650nmより大きい波長を有する光成分の強度を低減させることによって前記シンチレーション光をフィルタリングする光フィルタと、
前記フィルタリングされたシンチレーション光を検出する検出ユニットとを備える検出装置。 - 前記光フィルタが、前記GOS材料と前記検出ユニットとの間に配置される、請求項1に記載の検出装置。
- 前記光フィルタが非散乱フィルタである、請求項2に記載の検出装置。
- 前記光フィルタは帯域フィルタであり、前記帯域フィルタは、シンチレーション光の中で450〜650nmの範囲内の波長を有する光成分が前記光フィルタを透過するように適合されている、請求項1に記載の検出装置。
- 前記光フィルタが光吸収フィルタである、請求項1に記載の検出装置。
- 前記光フィルタが干渉フィルタである、請求項1に記載の検出装置。
- 前記光フィルタが、シンチレーション光の中で650nmより小さい波長を有する第1の光成分に対して反射性であり、650nmより大きい波長を有する第2の光成分を吸収するように適合され、前記第1の光成分が前記GOS材料内へ反射されるように前記光フィルタが配置される、請求項1に記載の検出装置。
- 前記検出装置が、検出画素のアレイを備え、各画素が、前記GOS材料および前記検出ユニットを備え、前記光フィルタが、前記GOS材料のうち、前記検出ユニットに面していない表面上に配置される、請求項7に記載の検出装置。
- 前記GOS材料が、放射線入射面と、前記検出ユニットに面するシンチレーション光出射面に加えて、前記放射線入射面および前記シンチレーション光出射面を接続する側面とを備え、
前記放射線入射面および側面の少なくとも1つの上に前記光フィルタが配置される、請求項7に記載の検出装置。 - 前記光フィルタが、前記放射線入射面およびすべての側面上に配置される、請求項9に記載の検出装置。
- 前記光フィルタが光吸収フィルタである、請求項7に記載の検出装置。
- 物体を撮像する撮像システムであって、
前記物体を横切る放射線を生成する放射線発生源と、
請求項1に記載の検出装置であって、前記物体の画像を生成するために前記物体を横切った後の前記放射線を検出する検出装置と、
を備える撮像システム。 - 前記検出された放射線に基づいて前記物体の画像を再構成する再構成ユニットをさらに備える、請求項12に記載の撮像システム。
- 放射線を検出する検出方法であって、
物体の画像を生成するために前記物体を横切った後の前記放射線を検出するステップと、
GOS材料によって、検出された放射線に応じてシンチレーション光を生成するステップと、
光フィルタによって、前記シンチレーション光のうち、650nmより大きい波長を有する光成分の強度を低減させることにより、前記シンチレーション光をフィルタリングするステップと、
検出ユニットによって、前記フィルタリングされたシンチレーション光を検出するステップとを含む検出方法。 - 物体を撮像する撮像方法であって、
放射線発生源によって、前記物体を横切る放射線を生成するステップと、
請求項14に記載の検出方法において、前記物体の画像を生成するために前記物体を横切った後の前記放射線を検出するステップとを含む撮像方法。
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WO2015028042A1 (en) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | Teledyne Dalsa B.V. | A radiation detector and a method thereof |
US20150092912A1 (en) * | 2013-10-02 | 2015-04-02 | General Electric Company | Systems and methods for filtering emissions from scintillators |
US11156727B2 (en) * | 2015-10-02 | 2021-10-26 | Varian Medical Systems, Inc. | High DQE imaging device |
CN111190216B (zh) * | 2020-01-23 | 2023-03-24 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种辐射流探测器阵列 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0545468A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-23 | Hitachi Ltd | 放射線検出器 |
JPH0784054A (ja) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Toshiba Corp | 放射線検出器および放射線測定装置 |
JPH0784053A (ja) * | 1993-09-20 | 1995-03-31 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線検出器およびその使用方法 |
JPH09152485A (ja) * | 1995-11-30 | 1997-06-10 | Hitachi Metals Ltd | 放射線検出器 |
JPH11202053A (ja) * | 1997-12-08 | 1999-07-30 | General Electric Co <Ge> | 放射線イメージング装置 |
JP2004061492A (ja) * | 2002-06-04 | 2004-02-26 | Hitachi Medical Corp | X線検出器用シンチレータ、その製造方法並びにそれを用いたx線検出器及びx線ct装置 |
JP2005127899A (ja) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Hitachi Medical Corp | 放射線検出器及びそれを用いた放射線画像診断装置 |
WO2010015955A2 (en) * | 2008-08-07 | 2010-02-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Scintillating material and related spectral filter |
US20100072376A1 (en) * | 2008-09-22 | 2010-03-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectral filter for use with lutetium-based scintillators |
JP2010515075A (ja) * | 2007-01-05 | 2010-05-06 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 高速放射線検出器 |
WO2012107870A2 (en) * | 2011-02-11 | 2012-08-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Detection apparatus for detecting radiation |
JP2013113685A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Canon Inc | 放射線検出装置及び放射線撮像システム |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995023348A1 (en) * | 1994-02-25 | 1995-08-31 | Massachusetts Institute Of Technology | Methods and apparatus for detecting and imaging particles |
EP1016881B1 (en) * | 1998-12-28 | 2005-12-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detecting apparatus |
JP4303393B2 (ja) | 2000-03-10 | 2009-07-29 | 富士通株式会社 | 分光強度分布測定方法および分光強度分布測定装置 |
US7138633B1 (en) * | 2004-01-23 | 2006-11-21 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Apparatus employing a filtered scintillator and method of using same |
US7388208B2 (en) | 2006-01-11 | 2008-06-17 | Ruvin Deych | Dual energy x-ray detector |
JP5045468B2 (ja) | 2008-02-01 | 2012-10-10 | 株式会社アドヴィックス | 制動制御装置 |
RU2407437C2 (ru) * | 2009-01-22 | 2010-12-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Унискан" | Способ регистрации рентгеновского изображения объекта в различных диапазонах спектра рентгеновского излучения |
US8363917B2 (en) | 2009-10-14 | 2013-01-29 | General Electric Company | System and method of image artifact reduction in fast kVp switching CT |
-
2012
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Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0545468A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-23 | Hitachi Ltd | 放射線検出器 |
JPH0784054A (ja) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Toshiba Corp | 放射線検出器および放射線測定装置 |
JPH0784053A (ja) * | 1993-09-20 | 1995-03-31 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線検出器およびその使用方法 |
JPH09152485A (ja) * | 1995-11-30 | 1997-06-10 | Hitachi Metals Ltd | 放射線検出器 |
JPH11202053A (ja) * | 1997-12-08 | 1999-07-30 | General Electric Co <Ge> | 放射線イメージング装置 |
JP2004061492A (ja) * | 2002-06-04 | 2004-02-26 | Hitachi Medical Corp | X線検出器用シンチレータ、その製造方法並びにそれを用いたx線検出器及びx線ct装置 |
JP2005127899A (ja) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Hitachi Medical Corp | 放射線検出器及びそれを用いた放射線画像診断装置 |
JP2010515075A (ja) * | 2007-01-05 | 2010-05-06 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 高速放射線検出器 |
WO2010015955A2 (en) * | 2008-08-07 | 2010-02-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Scintillating material and related spectral filter |
US20100072376A1 (en) * | 2008-09-22 | 2010-03-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectral filter for use with lutetium-based scintillators |
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