JP2015146568A - 自己回復アレイシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
自己回復アレイ内の不具合に対処する方法であって、
不具合のある素子の特性を監視することによって、自己回復アレイの不具合のある素子を検出することを含む、方法。
不具合のある素子の特性を監視することは、不具合のある素子の増幅器モジュールを監視することを含む、条項1に記載の方法。
不具合のある素子の特性を監視することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの直流電流を監視することを含む、条項1に記載の方法。
不具合のある素子の特性を監視することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの温度を監視することを含む、条項1に記載の方法。
不具合のある素子の特性を監視することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの出力位相を監視することを含む、条項1に記載の方法。
不具合のある素子の特性を監視することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの出力電力を監視することを含む、条項1に記載の方法。
自己回復アレイ内の不具合に対処する方法であって、
不具合になりつつある、不具合のある素子の一部を補償するために、不具合のある素子の特性を調整することによって、自己回復アレイの不具合のある素子を自動補正することを含む、方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールを調整することを含む、条項7に記載の方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの直流電流を調整することを含む、条項7に記載の方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの少なくとも1つの減衰器を調整することを含む、条項7に記載の方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの少なくとも1つの位相調整器を調整することを含む、条項7に記載の方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの温度を調整することを含む、条項7に記載の方法。
不具合のある素子の特性を調整することは、不具合のある素子の増幅器モジュールの入力信号を調整することを含む、条項7に記載の方法。
自己回復アレイ内の不具合に対処する方法であって、
自己回復アレイの一又は複数の素子が不具合になる場合、不具合になった自己回復アレイの当該一又は複数の素子の、自己回復アレイのパフォーマンスに対する影響を、検出及びモデル化することにより、自己回復アレイのパフォーマンスを補正することを含む、方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイのオンライン再設定を実行することを含む、条項14に記載の方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイのクリップルモード再設定を実行することを含む、条項14に記載の方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイのオフライン再設定を実行することを含む、条項14に記載の方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイの少なくとも1つの減衰器を調整することを含む、条項14に記載の方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイの少なくとも1つの位相調整器を調整することを含む、条項14に記載の方法。
不具合になった自己回復アレイの一又は複数の素子の影響を検出及びモデル化することは、自己回復アレイの少なくとも1つの入力信号を調整することを含む、条項14に記載の方法。
12 自己回復アレイ
14、16 素子
18 プロセッサ
20 メモリ
22 プログラミングコード
24 アンテナ
26 増幅器モジュール
28 ドライバモジュール
30 キャリブレーションポート
32 増幅器モジュール
34 ドライバモジュール
40 アレイシステム
42 アレイ制御
44 診断
46 自動補正
48 アレイ再設定
Claims (14)
- 自己回復アレイ内の不具合に対処する方法(60)であって、
不具合になりつつある、不具合のある素子の一部を補償するために、前記不具合のある素子の特性を調整することによって、前記自己回復アレイの前記不具合のある素子を自動補正すること(62)を含む、方法。 - 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールを調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールの直流電流を調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールの少なくとも1つの減衰器を調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールの少なくとも1つの位相調整器を調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールの温度を調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記不具合のある素子の前記特性を前記調整することは、前記不具合のある素子の増幅器モジュールの入力信号を調整することを含む、請求項1に記載の方法。
- 自己回復アレイ内の不具合に対処する方法(70)であって、
前記自己回復アレイの一又は複数の素子が不具合になる場合、不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の、前記自己回復アレイのパフォーマンスに対する影響を、検出及びモデル化することにより、前記自己回復アレイの前記パフォーマンスを補正すること(72)を含む、方法。 - 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイのオンライン再設定を実行することを含む、請求項8に記載の方法。
- 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイのクリップルモード再設定を実行することを含む、請求項8に記載の方法。
- 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイのオフライン再設定を実行することを含む、請求項8に記載の方法。
- 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイの少なくとも1つの減衰器を調整することを含む、請求項8に記載の方法。
- 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイの少なくとも1つの位相調整器を調整することを含む、請求項8に記載の方法。
- 不具合になった前記自己回復アレイの前記一又は複数の素子の前記影響を前記検出及びモデル化することは、前記自己回復アレイの少なくとも1つの入力信号を調整することを含む、請求項8に記載の方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018046451A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社東芝 | アレイアンテナ装置、およびアレイアンテナシステム |
JP2018046462A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社東芝 | アレイアンテナ装置 |
US10698396B2 (en) | 2017-11-17 | 2020-06-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing apparatus, information processing method, and recording medium |
JP2022525016A (ja) * | 2019-03-05 | 2022-05-11 | ノキア テクノロジーズ オサケユイチア | 方法および装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10148367B1 (en) * | 2017-12-22 | 2018-12-04 | Raytheon Company | Built-in-test (BIT) for assignment-based AESA systems |
US10425172B2 (en) | 2017-12-22 | 2019-09-24 | Raytheon Company | Clutter rejecting built in test for assignment-based AESA systems |
CN114002543B (zh) * | 2021-09-27 | 2024-01-05 | 中盈优创资讯科技有限公司 | 一种stn中继质差电路自治方法及装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09138270A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-05-27 | Toshiba Corp | フェーズドアレイアンテナ装置 |
US20050275585A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-15 | Fujitsu Ten Limited | Radar apparatus |
WO2005124388A1 (ja) * | 2004-06-21 | 2005-12-29 | Fujitsu Ten Limited | レーダ装置 |
JP2006108731A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 送信装置、受信装置、基地局装置、送信方法及び受信方法 |
JP2006352525A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 通信装置及び補正テーブル作成方法 |
JP2008292244A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ装置 |
JP2011097514A (ja) * | 2009-11-02 | 2011-05-12 | Seiko Epson Corp | 受信回路、集積回路装置及び電子機器 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5682165A (en) | 1996-05-02 | 1997-10-28 | Hughes Electronics | Active array self calibration |
US6084541A (en) | 1998-07-13 | 2000-07-04 | Comsat Corporation | Self diagnosis and self healing scheme for digital beam-forming |
US6806772B2 (en) * | 2002-11-06 | 2004-10-19 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Power transistor array temperature control system |
EP1618694A4 (en) * | 2003-04-29 | 2012-01-18 | Sandwave Ip Llc | NETWORK WITH DISTRIBUTED GAIN |
US7324042B2 (en) | 2005-11-15 | 2008-01-29 | The Boeing Company | Monostatic radar beam optimization |
US7423488B2 (en) | 2005-12-05 | 2008-09-09 | Honeywell International Inc. | System and method for compensating for the effects of aging and temperature on transistor performance |
US7471237B2 (en) | 2006-03-22 | 2008-12-30 | The Boeing Company | Built-in missile RADAR calibration verification |
US7522096B2 (en) | 2007-04-09 | 2009-04-21 | Honeywell International Inc | Method for phase calibrating antennas in a radar system |
US7728764B2 (en) | 2007-10-19 | 2010-06-01 | Raytheon Company | Sidelobe blanking characterizer system and method |
US7714775B2 (en) * | 2007-12-17 | 2010-05-11 | The Boeing Company | Method for accurate auto-calibration of phased array antennas |
GB2458900A (en) | 2008-03-31 | 2009-10-07 | Ubidyne Inc | Method and apparatus for suppression of sidelobes in antenna arrays |
US7768453B2 (en) | 2008-08-08 | 2010-08-03 | Raytheon Company | Dynamically correcting the calibration of a phased array antenna system in real time to compensate for changes of array temperature |
US20110057712A1 (en) * | 2009-09-08 | 2011-03-10 | California Institute Of Technology | Self-healing technique for high frequency circuits |
US8354960B2 (en) | 2010-04-01 | 2013-01-15 | Massachusetts Institute Of Technology | Method for low sidelobe operation of a phased array antenna having failed antenna elements |
US9819096B2 (en) | 2011-06-30 | 2017-11-14 | Commscope Technologies Llc | Active antenna sub-array structures |
-
2014
- 2014-01-15 US US14/155,612 patent/US9702928B2/en active Active
- 2014-10-30 CA CA2869346A patent/CA2869346C/en active Active
- 2014-11-05 KR KR1020140152534A patent/KR102281056B1/ko active IP Right Grant
- 2014-11-17 CN CN201410655555.XA patent/CN104777463B/zh active Active
- 2014-12-15 EP EP14197847.8A patent/EP2897223B1/en active Active
-
2015
- 2015-01-08 JP JP2015002056A patent/JP6905792B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09138270A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-05-27 | Toshiba Corp | フェーズドアレイアンテナ装置 |
US5767806A (en) * | 1995-11-16 | 1998-06-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Phased-array antenna apparatus |
US20050275585A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-15 | Fujitsu Ten Limited | Radar apparatus |
JP2006003097A (ja) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Fujitsu Ten Ltd | レーダ装置 |
WO2005124388A1 (ja) * | 2004-06-21 | 2005-12-29 | Fujitsu Ten Limited | レーダ装置 |
JP2006108731A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 送信装置、受信装置、基地局装置、送信方法及び受信方法 |
JP2006352525A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 通信装置及び補正テーブル作成方法 |
JP2008292244A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ装置 |
JP2011097514A (ja) * | 2009-11-02 | 2011-05-12 | Seiko Epson Corp | 受信回路、集積回路装置及び電子機器 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018046451A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社東芝 | アレイアンテナ装置、およびアレイアンテナシステム |
JP2018046462A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社東芝 | アレイアンテナ装置 |
US10698396B2 (en) | 2017-11-17 | 2020-06-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing apparatus, information processing method, and recording medium |
JP2022525016A (ja) * | 2019-03-05 | 2022-05-11 | ノキア テクノロジーズ オサケユイチア | 方法および装置 |
JP7277601B2 (ja) | 2019-03-05 | 2023-05-19 | ノキア テクノロジーズ オサケユイチア | 方法および装置 |
US11888573B2 (en) | 2019-03-05 | 2024-01-30 | Nokia Technologies Oy | Methods and apparatus |
Also Published As
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---|---|
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