JP2015094737A - 光照射装置、粒子分析装置および光照射方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光照射された粒子から発せられる光に基づいて取得される信号のノイズを削減する光照射装置、粒子分析装置および光照射方法を提供する。
【解決手段】粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、前記光照射器の発光を制御する制御器と、を備え、前記制御器は、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする。
【選択図】図１

Description

本開示は、光照射装置、粒子分析装置および光照射方法に関する。より詳しくは、流路内を通流する粒子に光を照射する光照射装置、粒子分析装置および光照射方法に関する。

従来から、フローサイトメーターでは、流路内を通流する粒子に複数の光を照射する場合があった（例えば、特許文献１参照）。

特開平１１−２９５２０８号公報

複数の光を粒子に照射する場合に、各光が照射された粒子から発せられる光に基づいて取得される信号には、ノイズが可及的に含まれないことが望ましい。

本開示は、光照射された粒子から発せられる光に基づいて取得される信号のノイズを削減する光照射装置、粒子分析装置および光照射方法を提供する。

本開示に係る光照射装置は、粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、前記光照射器の発光を制御する制御器と、を備え、前記制御器は、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成である。
前記制御器は、前記第１の光の照射による信号の取得が開始される前から、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にしてもよい。この場合、前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の始期を変更可能であってもよい。
または、前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の終期を変更可能であってもよい。
あるいは、前記制御器は、前記第２の光の発光を禁止することで、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にしてもよい。
もしくは、前記第２の光は、前記第１の光よりも短波長の第２の光を含んでもよい。この場合、前記第２の光は、前記第１の光以外の全ての光であってもよい。
前記第１の光の照射による信号取得の際における前記第２の光の出力は、前記第１の光の出力未満であってもよい。
本開示に係る粒子分析装置は、粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、前記光照射器の発光を制御する制御器とを有する光照射装置と、前記粒子から発せられた光に基づいて信号を取得する信号取得器と、を備え、前記制御器は、前記粒子が第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成である。
本開示に係る光照射方法は、光照射装置から照射される複数の光にそれぞれ対応する複数の照射位置が設定された流路を通流する粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする。

本開示によれば、光照射された粒子から発せられる光に基づいて取得される信号のノイズを削減することができる。

本開示の第１の実施形態の粒子分析装置の構成例を模式的に示す図である。 本開示の第１の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第１の実施形態の比較例の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートである。 本開示の第１の実施形態の第１の変形例の粒子分析装置の構成例を模式的に示す図である。 本開示の第１の実施形態の第１の変形例の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第１の実施形態の第１の変形例の粒子分析装置の動作例の説明に用いるための流路散乱光の電気信号を示すタイムチャートである。 本開示の第１の実施形態の第２の変形例の粒子分析装置の構成例を模式的に示す図である。 本開示の第１の実施形態の第２の変形例の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第２の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第２の実施形態の第１の変形例の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第３の実施形態の粒子分析装置の構成例を模式的に示す図である。 本開示の第３の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートである。Ａは、第２の光の出力を第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の始期の変更前の状態を、Ｂは、第１の変更後の状態を、Ｃは、第２の変更後の状態を示すタイムチャートである。 本開示の第３の実施形態の第１の変形例の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートである。Ａは、第２の光の出力を第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の始期の変更前の状態を、Ｂは、第１の変更後の状態を、Ｃは、第２の変更後の状態を示す。 本開示の第４の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートである。Ａは、第２の光の出力を第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の終期の変更前の状態を、Ｂは、第１の変更後の状態を、Ｃは、第２の変更後の状態を示す。 本開示の第５の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第６の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すタイムチャートであり、Ａは、照射光の出力を示し、Ｂは、取得される信号を模式的に示すタイムチャートである。 本開示の第６の実施形態の粒子分析装置の動作例を示すフローチャートである。

以下、本開示を実施するための好適な形態について図面を参照しながら説明する。以下に説明する複数の実施形態は、本開示の代表的な実施形態の一例を示したものであり、これにより本開示の範囲が狭く解釈されることはない。また、各実施形態において、互いに対応する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明は省略する。説明は以下の順序で行う。

１．第１の実施形態
（第１の光による信号取得の際に第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする粒子分析装置の例）
２．第１の実施形態の第１の変形例
（蛍光信号を取得する粒子分析装置の例）
３．第１の実施形態の第２の変形例
（複数の第２の光が適用された粒子分析装置の例）
４．第２の実施形態
（第１の光による信号取得の開始前から第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする粒子分析装置の例）
５．第２の実施形態の第１の変形例
（第１の光の出力を緩やかに立ち上げる粒子分析装置の例）
６．第３の実施形態
（第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期が変更可能である粒子分析装置の例）
７．第３の実施形態の第１の変形例
（第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期の変更に応じて第１の光の出力の立ち上げ速度を変更する粒子分析装置の例）
８．第４の実施形態
（第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期が変更可能である粒子分析装置の例）
９．第５の実施形態
（第１の光による信号取得の際に第２の光の発光を禁止する粒子分析装置の例）
１０．第６の実施形態
（サンプル散乱光の検出信号をトリガとする粒子分析装置の例）

＜１．第１の実施形態＞
［装置の構成例］
図１は、本実施形態の粒子分析装置１００の構成例を模式的に示す図である。図１に示すように、粒子分析装置１００は、大別して、光照射装置１１０と、信号取得器１２０とを備える。

［光照射装置１１０］
光照射装置１１０は、本開示に係る光照射装置の一実施形態であり、光照射器１１１と制御器１１２とを備える。

［光照射器１１１］
図１に示すように、光照射器１１１は、粒子２が通流する流路３１の相互に異なる照射位置Ｐ１、Ｐ２に対して各照射位置Ｐ１、Ｐ２にそれぞれ対応する複数の光Ｌ１、Ｌ２を照射する構成である。各照射位置Ｐ１、Ｐ２は、粒子２の通流方向にずれている。光照射器１１１によって照射される光は、複数であれば図１のような２つには限定されない。以下、通流方向における上流側から数えてｎ番目（ｎは、１〜光の総数）の照射位置をｎ番目の照射位置と定義し、ｎ番目の照射位置に照射される光をｎ番目の光と定義する。

１番目および２番目の光Ｌ１、Ｌ２は、波長が異なる光であってもよい。１番目の光Ｌ１は、２番目の光Ｌ２より短波長の光であってもよい。各光Ｌ１、Ｌ２は、単色性、指向性および可干渉性に優れたコヒーレント光であってもよい。コヒーレント光は、レーザ光であってもよい。１番目および２番目の照射位置Ｐ１、Ｐ２は、１番目および２番目の光Ｌ１、Ｌ２のそれぞれの焦点であってもよい。

１番目および２番目の照射位置Ｐ１、Ｐ２を粒子２の通流方向にずらすための構成は限定されない。例えば、各光Ｌ１、Ｌ２の光源を通流方向に間隔を設けて配置してもよい。また、光照射器１１１が、各光Ｌ１、Ｌ２の照射位置Ｐ１、Ｐ２を調整する照射位置調整構造を含んでもよい。照射位置調整構造は、レンズやプリズム等の焦点調整用の光学系を含んでもよい。

各光Ｌ１、Ｌ２の光源は限定されず、例えば、半導体レーザすなわちレーザダイオード、固体レーザまたはガスレーザ等であってもよい。このうち、半導体レーザを用いることで、装置を小型かつ安価に構成することができる。

［制御器１１２］
制御器１１２すなわち光照射制御装置は、光照射器１１１の発光を制御する構成である。制御器１１２は、粒子が、第１の光の照射位置に到達して第１の光を照射されて粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする構成である。ここで、第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力とは、粒子が、第２の光の照射位置に到達して第２の光を照射されて粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際における第２の光の出力である。
本明細書において、第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力のことを、第２の光の信号取得時における出力と称する。

図１の例では、制御器１１２は、粒子２が、１番目の照射位置Ｐ１に到達して１番目の光Ｌ１を照射されて粒子２から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、２番目の光Ｌ２の出力を２番目の光Ｌ２の信号取得時における出力未満にする構成でもよい。また、制御器１１２は、粒子２が、２番目の照射位置Ｐ２に到達して２番目の光Ｌ２を照射されて粒子２から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、１番目の光Ｌ１の出力を１番目の光Ｌ１の信号取得時における出力未満にする構成でもよい。

制御器１１２は、粒子２から発せられる光に基づく信号の取得状態を示す外部信号が入力される構成でもよい。制御器１１２は、入力された外部信号を利用して光照射器１１１の発光を制御してもよい。

制御器１１２は、各光Ｌ１、Ｌ２の光源を例えば電気的に制御することで各光Ｌ１、Ｌ２の出力を制御してもよいが、これに限定されない。制御器１１２は、各光Ｌ１、Ｌ２の光源をそれぞれ独立して制御する光源ごとの制御器すなわち複数の制御器であってもよく、または、各光源に共通の制御器であってもよい。制御器１１２は、電子装置等によって構成してもよい。電子装置は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)やＭＰＵ(Micro-Processing Unit)等の演算処理装置およびＲＡＭ(Random Access Memory)やＲＯＭ(Read Only Memory)などの記憶装置等を備えてもよい。ＲＯＭには、制御器１１２の機能を実現するための光照射制御プログラムやデータを格納してもよい。演算処理装置は、ＲＯＭに格納されたプログラムを実行することで、制御器１１２の機能を実現してもよい。ＲＡＭは、演算処理装置の作業領域等として利用してもよい。ただし、制御器１１２は、かかる構成に限定されない。

［信号取得器１２０］
信号取得器１２０は、各光Ｌ１、Ｌ２の照射によって粒子２から発せられた光Ｌ（Ｌ１）、Ｌ（Ｌ２）（図２Ｂ参照）に基づいて信号を取得する構成である。粒子分析装置１００は、信号取得器１２０によって取得された信号を処理することで、粒子２の特性を分析する。

信号取得器１２０は、受光された光を電気信号に変換し、変換された電気信号から粒子２に該当する信号すなわち粒子２の特性分析に用いる信号を取得する構成でもよい。信号取得器１２０は、信号の取得状態を示す信号を光照射装置１１０に出力する構成でもよい。

［装置の動作例］
図２は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図２に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。ただし、本開示に係る光照射方法は、粒子分析装置１００以外の構成で具現化されてもよい。

図２における時刻ｔ１とｔ２との間の期間Ｔ１では、１番目の照射位置Ｐ１に到達した粒子２が１番目の光Ｌ１を照射される。そして、この光Ｌ１の照射によって粒子２から発せられた光Ｌ（Ｌ１）が、信号取得器１２０によって受光されて信号として取得される（図２Ｂ参照）。取得された信号は、粒子分析装置１００により、光Ｌ（Ｌ１）に対応する粒子２の特性の分析に用いられる。

ここで、期間Ｔ１において２番目の光Ｌ２の出力が高いと、この２番目の光Ｌ２が流路３１に照射されて発せられた光が、１番目の光Ｌ１に対応する光Ｌ（Ｌ１）の信号に大きなノイズとして反映されてしまうことがある。

そこで、制御器１１２は、期間Ｔ１では、１番目の光Ｌ１を第１の光として扱い、２番目の光Ｌ２を第２の光として扱う。すなわち、図２Ａに示すように、期間Ｔ１では、制御器１１２によって、２番目の光Ｌ２の出力が例えば後述の期間Ｔ２における出力の如き２番目の光Ｌ２の信号取得時における出力未満に制御される。期間Ｔ１では、２番目の光Ｌ２の出力が１番目の光Ｌ１の出力未満であってもよい。

次いで、図２における時刻ｔ３とｔ４との間の期間Ｔ２では、２番目の照射位置Ｐ２に到達した粒子２が２番目の光Ｌ２を照射される。そして、この光Ｌ２の照射によって粒子２から発せられた光Ｌ（Ｌ２）が、信号取得器１２０によって受光されて信号として取得される（図２Ｂ参照）。取得された信号は、粒子分析装置１００により、光Ｌ（Ｌ２）に対応する粒子２の特性の分析に用いられる。

ここで、期間Ｔ２において１番目の光Ｌ１の出力が高いと、この１番目の光Ｌ１が流路３１に照射されて発せられた光が、２番目の光Ｌ２に対応する光Ｌ（Ｌ２）の信号に大きなノイズとして反映されてしまうことがある。

そこで、制御器１１２は、期間Ｔ２では、２番目の光Ｌ２を第１の光として扱い、１番目の光Ｌ１を第２の光として扱う。すなわち、図２Ａに示すように、期間Ｔ２では、制御器１１２によって、１番目の光Ｌ１の出力が例えば期間Ｔ１における出力の如き１番目の光Ｌ１の信号取得時における出力未満に制御される。期間Ｔ２では、１番目の光Ｌ１の出力が２番目の光Ｌ２の出力未満であってもよい。なお、１番目の光Ｌ１の最大出力値と２番目の光Ｌ２の最大出力値との大小関係は、図２に示すように、２番目の光Ｌ２の方が１番目の光Ｌ１よりも大きいことに限定されない。１番目の光Ｌ１の最小出力値と２番目の光Ｌ２の最小出力値との大小関係も限定されない。１番目の光Ｌ１と２番目の光Ｌ２との間における最大出力値の大小関係および最小出力値の大小関係は、図２に示す関係から逆転してもよく、または、大小関係が存在しないすなわち同値であってもよい。

以上のように、本実施形態の粒子分析装置１００では、図２に示した如く、照射光の信号取得時における出力を照射光の信号非取得時における出力未満とすることで、信号取得に寄与しない光を起因としたノイズを削減することができる。これにより、Ｓ／Ｎ比(signal-noise ratio)を向上させることができ、これにともなって、従来よりも高精度な信号の取得が可能となり、粒子２の分析精度を向上させることも可能となる。

または、本実施形態の粒子分析装置１００によれば、図３のように、各光Ｌ１、Ｌ２の出力を常時立ち上がった状態すなわち高い状態とする場合に比べてデューティ比を低減させることができるので、製品寿命を向上させることも可能となる。第１の光による信号取得の際に第２の光の出力が第１の光の出力未満である場合等のように、第２の光の出力が小さければよりノイズが抑えられる。

＜２．第１の実施形態の第１の変形例＞
［装置の構成例］
図４は、本変形例の粒子分析装置１００の構成例を模式的に示す全体図である。本変形例の粒子分析装置１００は、信号取得器１２０が、レーザ光の照射によって粒子２から発せられた蛍光に基づいて信号を取得する構成である。以下、詳細に説明する。

［光照射装置１１０］
［光照射器１１１］
図４に示すように、本変形例の光照射器１１１は、１番目の光として１番目のレーザ光ＬＳ１を照射し、２番目の光として２番目のレーザ光ＬＳ２を照射する点で、図１の光照射器１１１よりも構成が特定されている。１番目のレーザ光ＬＳ１は、１番目のレーザ光源１１１ａによって照射される。２番目のレーザ光ＬＳ２は、２番目のレーザ光源１１１ｂによって照射される。レーザ光源１１１ａ、１１１ｂは、半導体レーザ等であってもよい。各レーザ光ＬＳ１、ＬＳ２の波長は限定されず、互いに異なる波長を適宜選択することができる。１番目のレーザ光ＬＳ１の波長は、青色の光に対応する４８８ｎｍ等であってもよく、２番目のレーザ光ＬＳ２の波長は、赤色の光に対応する６３８ｎｍ等であってもよいが、これらに限定されない。

［制御器１１２］
制御器１１２は、粒子２が１番目の照射位置Ｐ１に到達し１番目のレーザ光ＬＳ１を照射されて粒子２から発せられる蛍光に基づいて信号を取得される際に、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力を２番目のレーザ光ＬＳ２の信号取得時の出力未満にする構成でもよい。又、制御器１１２は、粒子２が２番目の照射位置Ｐ２に到達し２番目のレーザ光ＬＳ２を照射されて粒子２から発せられる蛍光に基づいて信号を取得される際に、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力を１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時の出力未満にする構成でもよい。

［粒子２］
本変形例の粒子分析装置１００によって分析される粒子２すなわち微小粒子は、細胞、微生物及びリボゾームなどの生体関連微小粒子、ラテックス粒子、ゲル粒子及び工業用粒子などの合成粒子等が広く含まれてもよい。

生体関連微小粒子には、各種細胞を構成する染色体、リボゾーム、ミトコンドリア及びオルガネラすなわち細胞小器官などが含まれてもよい。また、細胞には、植物細胞、動物細胞及び血球系細胞などが含まれてもよい。更に、微生物には、大腸菌などの細菌類、タバコモザイクウイルスなどのウイルス類及びイースト菌などの細菌等が含まれてもよい。生体関連微小粒子には、核酸や蛋白質及びこれらの複合体などの生体関連高分子も包含されてもよい。

工業用粒子は、有機高分子材料、無機材料又は金属材料などで形成された粒子でもよい。有機高分子材料としては、ポリスチレン、スチレン・ジビニルベンゼン及びポリメチルメタクリレートなどを使用してもよい。無機材料としては、ガラス、シリカ及び磁性材料などを使用してもよい。金属材料としては、例えば金コロイド及びアルミニウムなどを使用してもよい。微小粒子の形状は、球形または非球形であってもよく、大きさや質量も特に限定されない。

粒子２は、レーザ光が照射されることによって蛍光を発する態様であれば、具体的な態様は限定されない。例えば、粒子２は、各レーザ光ＬＳ１、ＬＳ２の波長にそれぞれ対応する励起波長の蛍光色素で多重染色されていてもよい。

［流路３１］
［マイクロチップ３０］
図４に示すように、流路３１は、マイクロチップ３０に設けられている。流路３１内には、粒子２を含むサンプル液が導入される。マイクロチップ３０は、ガラスや、ポリプロピレン、ポリカーボネート、シクロオレフィンポリマー及びポリジメチルシロキサンなどといった各種プラスチックによって形成してもよい。マイクロチップ３０の材質は特に限定されないが、好ましい態様の一例として、透光性を有する光学誤差が少ない材質を採用してもよい。

［信号取得器１２０］
信号取得器１２０は、各レーザ光ＬＳ１、ＬＳ２の照射によって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ１）、ＦＬ（ＬＳ２）（図５Ｂ参照）に基づいて信号を取得する構成である。信号取得器１２０の態様は限定されないが、好ましい態様の一例として、図４に示すように、信号取得器１２０は、光分離素子１２１、蛍光検出器１２２および信号処理器１２３を備えてもよい。更に、信号取得器１２０は、図４に示すように、０次光除去素子１２４を備えてもよい。

［光分離素子１２１］
光分離素子１２１は、１番目のレーザ光ＬＳ１の照射によって粒子２から発せられた光を、蛍光ＦＬ（ＬＳ１）と散乱光（以下、サンプル散乱光と称する）Ｓとに分離し、蛍光ＦＬ（ＬＳ１）を蛍光検出器１２２に導光する。光分離素子１２１は、蛍光ＦＬ（ＬＳ１）を透過させ、サンプル散乱光Ｓを反射させる構成でもよい。光分離素子１２１は、２番目のレーザ光ＬＳ２の照射によって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ２）を、サンプル散乱光と分離する構成でもよい。光分離素子１２１は、各レーザ光ＬＳ１、ＬＳ２にそれぞれ対応するように複数配置されていてもよい。

光分離素子１２１は、粒子２からの光の入射方向に対して傾きを有するように配置されていてもよい。光分離素子１２１は、特定の波長以上の波長の光を透過させ、特定の波長未満の波長の光を反射させる波長選択式のミラー等であってもよい。ミラーは、ダイクロイックミラー等であってもよい。

［蛍光検出器１２２］
蛍光検出器１２２は、光分離素子１２１に対して蛍光ＦＬ（ＬＳ１）、ＦＬ（ＬＳ２）の進行方向側に配置されている。蛍光検出器１２２には、蛍光ＦＬ（ＬＳ１）、ＦＬ（ＬＳ２）が入射する。蛍光検出器１２１は、入射した蛍光ＦＬ（ＬＳ１）、ＦＬ（ＬＳ２）を電気信号に変換して信号処理器１２３に出力する。蛍光検出器１２２は、ＰＭＴ(Photomultiplier Tube)等であってもよい。

［信号処理器１２３］
信号処理器１２３は、蛍光検出器１２２から入力された電気信号から、粒子２に該当する信号すなわち粒子２の特性分析に用いる信号を取得する。信号処理器１２３は、取得された信号を処理する。信号の処理には、信号の定量化、蛍光補正および画像の生成などといった粒子２の特性を分析するための各種の処理が含まれてもよいが、これらに限定されない。信号処理器１２３は、電子装置等によって構成してもよい。電子装置は、ＣＰＵやＭＰＵ等の演算処理装置およびＲＡＭやＲＯＭなどの記憶装置等を備えてもよい。ＲＯＭには、信号処理器１２３の機能を実現するためのプログラムやデータを格納してもよい。演算処理装置は、ＲＯＭに格納されたプログラムを実行することで、信号処理器１２３の機能を実現してもよい。ＲＡＭは、演算処理装置の作業領域等として利用してもよい。ただし、かかる構成に限定されない。

［０次光除去素子１２４］
０次光除去素子１２４は、散乱せずに直進してきたレーザ光ＬＳ１、ＬＳ２などの０次光ＺＬを遮断する。０次光除去素子１２４は、マスクや特定光を選択的に遮断する光学フィルタなどであってもよいが、これに限定されない。０次光除去素子１２４の配置位置も限定されず、蛍光検出器１２２の手前の好適な位置を選択してもよい。

［散乱光検出器１３０］
図４に示すように、本変形例の粒子分析装置１００は、光分離素子１２１に対してサンプル散乱光Ｓの進行方向側の位置に、散乱光検出器１３０を有する。散乱光検出器１３０には、光分離素子１２１によって分離されたサンプル散乱光Ｓが入射する。散乱光検出器１３０は、入射したサンプル散乱光Ｓを電気信号に変換して信号処理器１２３に出力する。信号処理器１２３は、散乱光検出器１３０から入力された電気信号を処理する。散乱光検出器１３０は、フォトディテクタ等であってもよい。

［装置の動作例］
図５は、本変形例の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図５に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

図５における時刻ｔ１とｔ２との間の期間Ｔ１では、１番目の照射位置Ｐ１に到達した粒子２が、１番目のレーザ光ＬＳ１を照射される。そして、このレーザ光ＬＳ１の照射によって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ１）が、信号処理器１２３によって信号として取得される（図５Ｂ参照）。

ここで、図６は、レーザ光が、粒子ではなく液流すなわち流路そのものに照射された場合のＰＭＴの出力の一例を示すタイムチャートである。図６に示すように、ＰＭＴの出力には、スパイク状のノイズが含まれていることが分かる。このノイズ（以下、散乱ノイズと称する）は、レーザ光が液流に照射されることによって引き起こされた散乱光（以下、流路散乱光と称する）がＰＭＴによって検出されたものである。複数のレーザ光を適用する場合、信号取得に寄与しないレーザ光が流路に照射されることで生じた流路散乱光が、信号取得に寄与するレーザ光が粒子に照射されることによって生じた蛍光に散乱ノイズとして含まれる虞がある。因みに、流路散乱光は、対応するレーザ光よりも長波長の光となるため、蛍光に対応するレーザ光の波長が長いほど、蛍光に含まれる他のレーザ光による流路散乱光は多くなる傾向にある。流路散乱光に基づく散乱ノイズは、蛍光信号の質を低下させ、評価値を悪化させる虞がある。

図５の例で言えば、期間Ｔ１において２番目のレーザ光ＬＳ２の出力が高いと、この２番目のレーザ光ＬＳ２によって生じた流路散乱光が、１番目のレーザ光ＬＳ１に対応する蛍光ＦＬ（ＬＳ１）の信号に、大きな散乱ノイズとして反映されてしまう虞がある。

そこで、制御器１１２は、期間Ｔ１では、１番目のレーザ光ＬＳ１を第１の光として扱い、２番目のレーザ光ＬＳ２を第２の光として扱う。すなわち、図５Ａに示すように、期間Ｔ１では、制御器１１２によって、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力が２番目のレーザ光ＬＳ２の信号取得時における出力未満に制御される。

次いで、図５における時刻ｔ３とｔ４との間の期間Ｔ２では、２番目の照射位置Ｐ２に到達した粒子２が２番目のレーザ光ＬＳ２を照射される。そして、このレーザ光ＬＳ２の照射によって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ２）が、信号処理器１２３によって信号として取得される（図５Ｂ参照）。

ここで、期間Ｔ２において１番目のレーザ光ＬＳ１の出力が高いと、この１番目のレーザ光ＬＳ１によって生じた流路散乱光が、２番目のレーザ光ＬＳ２に対応する蛍光ＦＬ（ＬＳ２）の信号に、大きな散乱ノイズとして反映されてしまう虞がある。

そこで、制御器１１２は、期間Ｔ２では、２番目のレーザ光ＬＳ２を第１の光として扱い、１番目のレーザ光ＬＳ１を第２の光として扱う。すなわち、図５Ａに示すように、期間Ｔ２では、制御器１１２によって、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力が１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満に制御される。

以上のように、本変形例の粒子分析装置１００では、図５に示した如く、レーザ光の信号取得時における出力をレーザ光の信号非取得時における出力未満とすることで、信号取得に寄与しないレーザ光に起因する散乱ノイズを削減することができる。これにより、蛍光信号の品質および評価値を向上させることができる。また、本変形例によれば、長波長側のレーザ光ＬＳ２による信号取得の際における短波長側のレーザ光ＬＳ１の出力を、短波長側のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満とすることもできる。これにより、短波長側のレーザ光が長波長になることによる散乱ノイズを有効に削減することもできる。さらに、信号取得に寄与しない全てのレーザ光の出力を各レーザ光の信号取得時における出力未満とすることで、散乱ノイズを更に有効に削減することができる。

＜３．第１の実施形態の第２の変形例＞
［装置の構成例］
図７は、本変形例の粒子分析装置１００の構成例を模式的に示す全体図である。本変形例の粒子分析装置１００は、図４の粒子分析装置１００に対して、光照射装置１１０が照射するレーザ光の数が相違する。これにともなって、本変形例の粒子分析装置１００は、図４の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の具体的な制御内容も相違する。以下、詳細に説明する。

［光照射装置１１０］
［光照射器１１１］
図７に示すように、本変形例の光照射器１１１は、１番目および２番目のレーザ光ＬＳ１、ＬＳ２に加えて、３番目のレーザ光ＬＳ３を照射する構成である。３番目のレーザ光ＬＳ３は、３番目のレーザ光源１１１ｃによって照射される。３番目のレーザ光ＬＳ３は、２番目の照射位置Ｐ２よりも下流の３番目の照射位置Ｐ３に照射される。３番目のレーザ光Ｌ３は、１番目および２番目のレーザ光ＬＳ１、ＬＳ２と波長が異なる。３番目のレーザ光Ｌ３は、１番目および２番目のレーザ光ＬＳ１、ＬＳ２よりも長波長のレーザ光であってもよいが、これに限定されない。

［制御器１１２］
制御器１１２は、粒子２が１番目の照射位置Ｐ１に到達し１番目のレーザ光ＬＳ１を照射されて粒子２の発する蛍光に基づき信号を取得される際に、２番、３番目のレーザ光ＬＳ２、３の出力を各レーザ光ＬＳ２、３の信号取得時における出力未満にしてもよい。亦、制御器１１２は、粒子２が２番目の照射位置Ｐ２に到達し２番目のレーザ光ＬＳ２を照射され粒子２の発する蛍光に基づいて信号を取得される際に、１番、３番目のレーザ光ＬＳ１、３の出力を各レーザ光ＬＳ１、３の信号取得時における出力未満にしてもよい。更に、制御器１１２は、粒子２が３番目の照射位置Ｐ３に到達し３番目のレーザ光ＬＳ３を照射され粒子２の発する蛍光に基づき信号を取得される際に、１番、２番目のレーザ光ＬＳ１、２の出力を各レーザ光ＬＳ１、２の信号取得時における出力未満にしてもよい。

［装置の動作例］
図８は、本変形例の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図８に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

図８における時刻ｔ１とｔ２との間の期間Ｔ１では、１番目の照射位置Ｐ１に到達した粒子２が、１番目のレーザ光ＬＳ１を照射され、これによって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ１）が、信号処理器１２３によって信号として取得される（図８Ｂ参照）。制御器１１２は、期間Ｔ１では、１番目のレーザ光ＬＳ１を第１の光として扱い、２番目および３番目のレーザ光ＬＳ２、ＬＳ３を第２の光として扱う。すなわち、図８Ａに示すように、期間Ｔ１では、制御器１１２によって、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力が、例えば後述の期間Ｔ２における出力の如き２番目のレーザ光ＬＳ２の信号取得時における出力未満に制御される。また、期間Ｔ１では、制御器１１２によって、３番目のレーザ光ＬＳ３の出力が、例えば後述の期間Ｔ３における出力の如き３番目のレーザ光ＬＳ３の信号取得時における出力未満に制御される。

次いで、図８における時刻ｔ３とｔ４との間の期間Ｔ２では、２番目の照射位置Ｐ２に到達した粒子２が２番目のレーザ光ＬＳ２を照射され、これによって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ２）が、信号処理器１２３によって信号として取得される（図８Ｂ参照）。制御器１１２は、期間Ｔ２では、２番目のレーザ光ＬＳ２を第１の光として扱い、１番目および３番目のレーザ光ＬＳ１、ＬＳ３を第２の光として扱う。すなわち、図８Ａに示すように、期間Ｔ２では、制御器１１２によって、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力が、例えば期間Ｔ１における出力の如き１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満に制御される。また、期間Ｔ２では、制御器１１２によって、３番目のレーザ光ＬＳ３の出力が、３番目のレーザ光ＬＳ３の信号取得時における出力未満に制御される。

次いで、図８における時刻ｔ５とｔ６との間の期間Ｔ３では、３番目の照射位置Ｐ３に到達した粒子２が３番目のレーザ光ＬＳ３を照射され、これによって粒子２から発せられた蛍光ＦＬ（ＬＳ３）が、信号処理器１２３によって信号として取得される（図８Ｂ参照）。制御器１１２は、期間Ｔ３では、３番目のレーザ光ＬＳ３を第１の光として扱い、１番目および２番目のレーザ光ＬＳ１、ＬＳ２を第２の光として扱う。すなわち、図８Ａに示すように、期間Ｔ３では、制御器１１２によって、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力が、１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満に制御される。また、期間Ｔ３では、制御器１１２によって、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力が、２番目のレーザ光ＬＳ２の信号取得時における出力未満に制御される。

本変形例の粒子分析装置１００によれば、図４の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができ、または、分析対象すなわち蛍光の数を、分析精度を高く維持しながら増加させることができる。

＜４．第２の実施形態＞
［装置の構成例］
本実施形態の粒子分析装置１００は、図４および図７の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成が相違する。

具体的には、本実施形態の制御器１１２は、信号取得器１２０による蛍光信号の取得が開始される前から、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする構成である。

［装置の動作例］
図９は、本変形例の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図９に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

図９のタイムチャートは、図５に対して、期間Ｔ１の開始前から２番目のレーザ光ＬＳ２の出力が２番目のレーザ光ＬＳ２の信号取得時における出力未満に制御されることが特定されている。また、図９は、図５に対して、期間Ｔ２の開始前かつ期間Ｔ１の終了以後から、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力が１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満に制御されることが特定されている。

本実施形態の粒子分析装置１００によれば、図４および図７の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができる。または、第１の光による信号の取得が開始された時点で既に第２の光の出力が下げられている状態にすることができるので、第１の光による信号の取得が開始されてから第２の光の出力を下げる場合に比較して、流路散乱ノイズを有効に抑制することができる。

＜５．第２の実施形態の第１の変形例＞
［装置の構成例］
本変形例の粒子分析装置１００は、図９で説明した粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成が相違する。

具体的には、本変形例の制御器１１２は、第１の光の出力の立ち上げすなわち上昇を緩やかに行う構成である。

［装置の動作例］
図１０は、本変形例の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１０に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

図１０のタイムチャートは、図９に対して、期間Ｔ２の開始前における２番目のレーザ光ＬＳ２の出力の立ち上げすなわち最小出力値から最大出力値への変化が、一定の時間をかけて緩やかに行われていることが特定されている。

本変形例の粒子分析装置１００によれば、図９の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができ、または、ＥＭＩ(Electro-Magnetic Interference)ノイズを削減することができる。

＜６．第３の実施形態＞
［装置の構成例］
図１１は、本実施形態の粒子分析装置１００の構成例を模式的に示す全体図である。本実施形態の粒子分析装置１００は、第２の実施形態の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成等が相違する。

具体的には、本実施形態の制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を変更可能な構成である。制御器１１２が第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を変更するための具体的な構成は限定されない。例えば、制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を、入力装置１４０からの入力信号に応じた値に制御してもよい。また、制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を設定するための設定画面を表示装置１５０に表示させて、入力装置１４０による入力を受け付けてもよい。あるいは、制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を自動的に設定してもよい。この自動的な設定は、サンプル液の流速等の既取得情報に基づいてもよく、また、公知のサンプル測定条件の自動セットアップ機能に追加された新機能として具現化されてもよいが、これらの態様に限定されない。

［装置の動作例］
図１２は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１２に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

先ず、図１２Ａは、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期が、基準時刻ｔ０から期間Ｔ１が経過した時刻ｔ１に設定されている場合の出力状態である。図１２では、第１の光を、２番目の照射位置Ｐ２を基準とした第１の光すなわち２番目のレーザ光ＬＳ２とし、第２の光を、２番目の照射位置Ｐ２を基準とした第２の光すなわち１番目のレーザ光ＬＳ１としている。つまり、図１２Ａは、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力を１番目のレーザ光ＬＳ１の信号取得時における出力未満にする期間の始期が、時刻ｔ１に設定されている場合の出力状態である。

基準時刻ｔ０の態様は限定されない。例えば、基準時刻ｔ０は、１番目のレーザ光ＬＳ１による信号の取得が開始された時刻すなわち第２の光による信号の取得が開始された時刻であってもよい。期間Ｔ１は、１番目のレーザ光ＬＳ１による信号の取得期間すなわち１番目のレーザ光ＬＳ１に対応するゲート期間であってもよいが、これに限定されない。また、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力の立下げは、図１２に示すように、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力の立ち上げと同時に行われてもよく、または、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力の立ち上げ前に行われてもよい。

次いで、制御器１２は、期間Ｔ１より大きい期間Ｔ２を指定する入力信号を検知した場合に、図１２Ｂに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ２が経過した時刻ｔ２に変更する。

また、制御器１２は、期間Ｔ２より大きい期間Ｔ３を指定する入力信号を検知した場合に、図１２Ｃに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ３が経過した時刻ｔ３に変更する。

このような始期を変更するための入力値Ｔ２、Ｔ３は、変更後の始期が信号取得期間に入らないように、下限および上限が設けられていることが望ましい。

本実施形態の粒子分析装置１００によれば、第２の実施形態の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができ、または、光の出力制御の態様の自由度を向上させることができる。

＜７．第３の実施形態の第１の変形例＞
［装置の構成例］
本変形例の粒子分析装置１００は、図１１の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成が相違する。

具体的には、本変形例の制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期の変更にともなって、第１の光の出力の立ち上げ速度を変更する構成である。

［装置の動作例］
図１３は、本変形例の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１３に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

先ず、図１３Ａは、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期が、基準時刻ｔ０から期間Ｔ３が経過した時刻ｔ３に設定されている場合の出力状態である。ここで、図１２と同様に、図１３では、第１の光を２番目のレーザ光ＬＳ２とし、第２の光を１番目のレーザ光ＬＳ１としている。図１３Ａの状態では、第１の光ＬＳ２の出力の立ち上げ速度が、制御器１１２によってある程度遅い速度に設定されている。すなわち、図１３Ａの状態では、第１の光ＬＳ２の出力の立ち上がり波形が、ある程度緩やかな波形に設定されている。緩やかな波形は、図１３Ａでは、時間経過にしたがって出力が漸増する傾斜状の波形であるが、これに限定されるものではない。

次いで、制御器１２は、期間Ｔ３より小さい即ち短い期間Ｔ２を指定する入力信号を検知した場合、図１３Ｂに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ２が経過した時刻ｔ２に変更する。このとき、制御器１２は、第１の光ＬＳ２の出力の立ち上げ速度を、図１３Ａの場合よりも更に遅い速度に変更する。

次いで、制御器１２は、期間Ｔ２より小さい期間Ｔ１を指定する入力信号を検知した場合に、図１３Ｃに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ１が経過した時刻ｔ１に変更する。このとき、制御器１２は、第１の光ＬＳ２の出力の立ち上げ速度を、図１３Ｂの場合よりも更に遅い速度に変更する。

本変形例の粒子分析装置１００によれば、第２の実施形態の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができ、または、ＥＭＩノイズの削減により適した出力制御を実現することができる。

＜８．第４の実施形態＞
［装置の構成例］
本実施形態の粒子分析装置１００は、第１〜第３の実施形態の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成が相違する。

具体的には、本実施形態の制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期を変更可能な構成である。制御器１１２が第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期を変更するための具体的な構成は限定されない。例えば、第３の実施形態では、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の始期を変更するための構成を例示したが、同様の構成を本実施形態で採用してもよい。

［装置の動作例］
図１４は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１４に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

先ず、図１４Ａは、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期が、基準時刻ｔ０から期間Ｔ１が経過した時刻ｔ１に設定されている場合の出力状態である。ここで、図１２と同様に、図１４では、第１の光を２番目のレーザ光ＬＳ２とし、第２の光を１番目のレーザ光ＬＳ１としている。基準時刻ｔ０は、２番目のレーザ光ＬＳ２による信号の取得が開始された時刻すなわち第１の光による信号の取得が開始された時刻であってもよい。期間Ｔ１は、２番目のレーザ光ＬＳ２による信号の取得期間すなわち２番目のレーザ光ＬＳ２に対応するゲート期間であってもよいが、これに限定されない。また、１番目のレーザ光ＬＳ１の出力の立上げは、図１４に示すように、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力の立ち下げと同時に行われてもよく、または、２番目のレーザ光ＬＳ２の出力の立ち下げ後に行われてもよい。

次いで、制御器１２は、期間Ｔ１より大きい期間Ｔ２を指定する入力信号を検知した場合に、図１４Ｂに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ２が経過した時刻ｔ２に変更する。

また、制御器１２は、期間Ｔ２より大きい期間Ｔ３を指定する入力信号を検知した場合に、図１４Ｃに示すように、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期を、基準時刻ｔ０から期間Ｔ３が経過した時刻ｔ３に変更する。

なお、制御器１１２は、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする期間の終期が遅くなるにしたがって、第１の光（図１４におけるＬＳ２）の立下げ速度が次第に遅くなるように第１の光の出力を制御してもよい。

本変形例によれば、第１〜第３の実施形態の粒子分析装置１００と同様の作用効果を奏することができ、または、信号取得後にもアボート処理等のためにレーザ光の出力を立ち上げておくことができるので、信号処理の自由度を向上させることができる。なお、信号取得後におけるレーザ光の出力の立ち上がり継続期間内に新たな信号が取得された場合、信号処理部１２３は、これらの前後する信号すなわちイベントの双方を削除してもよく、または、一方を削除してもよい。

＜９．第５の実施形態＞
［装置の構成例］
本実施形態の粒子分析装置１００は、第１〜第４の実施形態の粒子分析装置１００に対して、制御器１１２の構成が相違する。

具体的には、本実施形態の制御器１１２は、第２の光の発光を禁止することで、第２の光の出力を第２の光の信号取得時における出力未満にする構成である。

［装置の動作例］
図１５は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１５に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

図１５における時刻ｔ１とｔ２との間の期間Ｔ１では、１番目の照射位置Ｐ１に到達した粒子２が１番目の光Ｌ１を照射される。そして、この光Ｌ１の照射によって粒子２から発せられた光Ｌ（Ｌ１）が、信号取得器１２０によって受光されて信号として取得される。制御器１１２は、期間Ｔ１では、１番目の光Ｌ１を第１の光として扱い、２番目の光Ｌ２を第２の光として扱う。すなわち、図１５Ａに示すように、期間Ｔ１では、制御器１１２によって、２番目の光Ｌ２の発光が禁止される。

次いで、図１５における時刻ｔ３とｔ４との間の期間Ｔ２では、２番目の照射位置Ｐ２に到達した粒子２が２番目の光Ｌ２を照射される。そして、この光Ｌ２の照射によって粒子２から発せられた光Ｌ（Ｌ２）が、信号取得器１２０によって受光されて信号として取得される。制御器１１２は、期間Ｔ２では、２番目の光Ｌ２を第１の光として扱い、１番目の光Ｌ１を第２の光として扱う。すなわち、１５Ａに示すように、期間Ｔ２では、制御器１１２によって、１番目の光Ｌ１の発光が禁止される。

以上のように、本実施形態の粒子分析装置１００では、図１５に示した如く、信号取得に寄与しない照射光の発光を禁ずることで、信号取得に寄与しない照射光を起因としたノイズを更に有効に削減することができる。

＜１０．第６の実施形態＞
本実施形態の粒子分析装置１００は、図４の粒子分析装置１００に対して、光照射器１１１、信号取得器１２０および制御器１１２の構成が特定されている。

具体的には、本実施形態の光照射器１１１は、１番目のレーザ光として青色レーザ光を照射し、２番目のレーザ光として赤色レーザ光を照射する構成である。

また、信号取得器１２０は、散乱光検出器１３０によって検出される青色レーザ光に対応するサンプル散乱光の信号によって、蛍光信号の取得のためのトリガをかける構成である。

さらに、制御器１１２は、トリガを、レーザ光の出力制御の時間の基準に活用する構成である。制御器１１２は、信号取得器１２０すなわち信号処理器１２３から、トリガの検知を通知される構成でもよい。通知は、信号入力によって行われてもよい。信号処理器１２３および制御器１１２は、トリガの検知からの経過時間を計時する構成でもよい。かかる構成は、信号処理器１２３および制御器１１２にタイマ等の計時器を備えることで具現化してもよいが、これに限定されない。

［装置の動作例］
［タイムチャート］
図１６は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すタイムチャートである。図１６に示す動作例は、本開示に係る光照射方法の一実施形態を含む。

本実施形態では、図１６の左端に示すように、処理の開始当初から青色レーザ光ＬＳＢの出力を立ち上げ、赤色レーザ光ＬＳＲの出力を該レーザ光ＬＳＲの信号取得時における出力未満にしておくことで、青色レーザ光ＬＳＢの照射位置への粒子２の到達を待機する。このとき、赤色レーザ光ＬＳＲは、発光自体を禁止してもよい。

次いで、時刻ｔ０において粒子２が青色レーザ光ＬＳＢの照射位置に到達すると、青色レーザ光ＬＳＢが照射された粒子２から発せられたサンプル散乱光が、散乱光検出器１３０によって検出されて電気信号に変換される。この電気信号が信号処理器１２３によってトリガとして検知されることで、信号処理器１２３がゲートを開く。これにより、信号処理器１２３が、蛍光検出器１２２から入力される青色レーザ光ＬＳＢに対応する蛍光信号の取得すなわち特性分析に用いる信号の取得を開始する。

次いで、トリガが検知された時刻ｔ０から予め設定された期間Ｔ１が経過して時刻ｔ１になると、信号処理器１２３が、青色レーザ光ＬＳＢに基づく信号の取得を終了する。

次いで、時刻ｔ０から予め設定された期間Ｔ２が経過して時刻ｔ２になると、制御器１１２が、青色レーザ光ＬＳＢの出力を青色レーザ光ＬＳＢの信号取得時における出力未満に制御する。期間Ｔ２は、期間Ｔ１と同一であってもよい。

次いで、時刻ｔ０から予め設定された期間Ｔ３（＞Ｔ１、Ｔ２）が経過して時刻ｔ３になると、信号処理器１２３が、蛍光検出器１２２から入力される赤色レーザ光ＬＳＲに対応する蛍光信号の取得を開始する。

次いで、時刻ｔ０から予め設定された期間Ｔ４（＞Ｔ３）が経過して時刻ｔ４になると、信号処理器１２３が、赤色レーザ光ＬＳＲに基づく信号の取得を終了する。

次いで、時刻ｔ０から予め設定された期間Ｔ５が経過して時刻ｔ５になると、制御器１１２が、赤色レーザ光ＬＳＲの出力を赤色レーザ光ＬＳＲの信号取得時における出力未満に制御する。期間Ｔ５は、期間Ｔ４と同一であってもよい。

［フローチャート］
図１７は、本実施形態の粒子分析装置１００の動作例を示すフローチャートである。

図１７では、先ず、ステップ１（Ｓ１）において、制御器１１２により、赤色レーザ光の出力を赤色レーザ光の信号取得時における出力未満に制御する。

次いで、ステップ２（Ｓ２）において、信号処理器１２３により、青色レーザ光のサンプル散乱光に基づくトリガが検知されたか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ３（Ｓ３）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ２（Ｓ２）に戻る。

次いで、ステップ３（Ｓ３）において、信号処理器１２３により、青色レーザ光に基づく蛍光信号の取得を開始する。

次いで、ステップ４（Ｓ４）において、信号処理器１２３により、トリガ検知から第１の期間が経過したか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ５（Ｓ５）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ４（Ｓ４）に戻る。

次いで、ステップ５（Ｓ５）において、信号処理器１２３により、青色レーザ光に基づく蛍光信号の取得を終了する。

次いで、ステップ６（Ｓ６）において、信号処理器１２３により、トリガ検知から第２の期間が経過したか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ７（Ｓ７）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ６（Ｓ６）に戻る。

次いで、ステップ７（Ｓ７）において、制御器１１２により、青色レーザ光の出力を青色レーザ光の信号取得時における出力未満に制御する。

次いで、ステップ８（Ｓ８）において、信号処理器１２３により、トリガ検知から第３の期間が経過したか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ９（Ｓ９）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ８（Ｓ８）に戻る。

次いで、ステップ９（Ｓ９）において、信号処理器１２３により、赤色レーザ光に基づく蛍光信号の取得を開始する。

次いで、ステップ１０（Ｓ１０）において、信号処理器１２３により、トリガ検知から第４の期間が経過したか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ１１（Ｓ１１）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ１０（Ｓ１０）に戻る。

次いで、ステップ１１（Ｓ１１）において、信号処理器１２３により、赤色レーザ光に基づく蛍光信号の取得を終了する。

次いで、ステップ１２（Ｓ１２）において、信号処理器１２３により、トリガ検知から第５の期間が経過したか否かを判定する。そして、肯定的な判定結果が得られた場合には、ステップ１（Ｓ１）に進み、否定的な判定結果が得られた場合には、ステップ１２（Ｓ１２）に戻る。粒子分析装置１００は、上記一連の工程を、測定終了のトリガが検知されるまで繰り返してもよい。

本変形の粒子分析装置１００によれば、レーザ光の出力の制御と信号の取得とを共通の基準すなわちトリガに基づいて行うことができるので、制御を簡素化することができる。

上述の各実施形態および変形例は、これらを適宜組み合わせてもよい。

各実施形態および変形例に記載された作用効果はあくまで例示であって限定されるものでは無く、他の作用効果があってもよい。本開示は、各実施形態および変形例に記載された複数の作用効果のいずれか一つを奏すればよい。

また、本開示は、以下のような構成をとることもできる。
（１）粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、前記光照射器の発光を制御する制御器と、を備え、前記制御器は、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成の光照射装置。
（２）前記制御器は、前記第１の光の照射による信号の取得が開始される前から、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする構成の（１）記載の光照射装置。
（３）前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の始期を変更可能である（２）記載の光照射装置。
（４）前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の終期を変更可能である（１）〜（３）のいずれか記載の光照射装置。
（５）前記制御器は、前記第２の光の発光を禁止することで、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする構成の（１）〜（４）のいずれか記載の光照射装置。
（６）前記第２の光は、前記第１の光よりも短波長の光を含む（１）〜（５）のいずれか記載の光照射装置。
（７）前記第２の光は、前記第１の光以外の全ての光である（６）記載の光照射装置。
（８）前記第１の光の照射による信号取得の際における前記第２の光の出力は、前記第１の光の出力未満である（１）〜（７）のいずれか記載の光照射装置。
（９）粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器の発光を制御する構成で、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成の光照射制御装置。
（１０）コンピュータを、
粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器の発光を制御し、
前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする手段
として機能させる光照射制御プログラム。

１１０ 光照射装置
１１１ 光照射器
１１２ 制御器
２ 粒子
３１ 流路

Claims (10)

1. 粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、
   前記光照射器の発光を制御する制御器と、を備え、
   前記制御器は、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成の光照射装置。
2. 前記制御器は、前記第１の光の照射による信号の取得が開始される前から、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする構成の請求項１記載の光照射装置。
3. 前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の始期を変更可能である請求項２記載の光照射装置。
4. 前記制御器は、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする期間の終期を変更可能である請求項１記載の光照射装置。
5. 前記制御器は、前記第２の光の発光を禁止することで、前記第２の光の出力を前記第２の光の照射による信号取得の際における第２の光の出力未満にする構成の請求項１記載の光照射装置。
6. 前記第２の光は、前記第１の光よりも短波長の光を含む請求項１記載の光照射装置。
7. 前記第２の光は、前記第１の光以外の全ての光である請求項６記載の光照射装置。
8. 前記第１の光の照射による信号取得の際における前記第２の光の出力は、前記第１の光の出力未満である請求項１記載の光照射装置。
9. 粒子が通流する流路の相互に異なる照射位置に対して各照射位置にそれぞれ対応する複数の光を照射する光照射器と、前記光照射器の発光を制御する制御器とを有する光照射装置と、
   前記粒子から発せられた光に基づいて信号を取得する信号取得器と、を備え、
   前記制御器は、前記粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする構成の粒子分析装置。
10. 光照射装置から照射される複数の光にそれぞれ対応する複数の照射位置が設定された流路を通流する粒子が、第１の光の照射位置に到達して前記第１の光を照射されて前記粒子から発せられる光に基づいて信号を取得される際に、第２の光の出力を前記第２の光の照射による前記粒子からの信号取得の際における前記第２の光の出力未満にする光照射方法。

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