JP2015080399A - 太陽電池モジュールの劣化判別方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 太陽電池ストリングに太陽電池モジュールを接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュールを特定する。【解決手段】 複数の太陽電池モジュール1が直列に接続された太陽電池ストリング2に負荷抵抗4を接続し、負荷抵抗4の両端に発生するストリング電圧を電圧計5で測定することにより、複数の太陽電池モジュール1のうちから、劣化した太陽電池モジュール1を特定する太陽電池モジュール1の劣化判別方法であって、複数の太陽電池モジュール1から選択された1つの太陽電池モジュール1を遮光し、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を特定する。【選択図】 図1
Description
本発明は、太陽電池パネルをパワーコンディショナにより電力系統と連系させた太陽光発電システムにおいて、太陽電池パネルを構成する複数の太陽電池モジュールのうち、劣化した太陽電池モジュールを特定する太陽電池モジュールの劣化判別方法に関する。
近年、環境保護の観点からクリーンな自然エネルギーの一つとして太陽光を利用した太陽光発電システムが注目されている。この太陽光発電システムは、インバータからなるパワーコンディショナ(電力変換装置)により太陽電池パネルを商用電源などの電力系統と連系させた構成を具備する。
太陽電池パネルは、複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングを一単位として、複数組の太陽電池ストリングで構成されている。この太陽電池パネルは、複数組の太陽電池ストリングごとに1つの接続箱に接続され、その接続箱を介してパワーコンディショナに接続されている。
この種の太陽光発電システムにおいては、長期使用などにより太陽電池モジュールが劣化すると、太陽電池パネルの出力電力が低下することになる。そのため、太陽電池モジュールの劣化を検出する手段が必要とされている。従来、この太陽電池モジュールの劣化を検出する手段として、劣化した太陽電池モジュールを含む太陽電池ストリングを特定する太陽電池ストリング検査装置がある(例えば、特許文献1参照)。
この太陽電池ストリング検査装置は、検査対象となる太陽電池ストリングの出力電力からI−V特性を測定する特性測定手段と、その特性測定手段で測定した特性から指標を演算する信号処理手段と、演算された指標と予め設定した閾値とを比較する比較監視手段と、指標と閾値との比較結果を表示記録する表示記録手段とで構成されている。
ところで、前述の特許文献1に開示された太陽電池ストリング検査装置では、太陽電池モジュールの劣化により出力が低下した太陽電池パネルにおいて、経時的データによらずに異常のある太陽電池ストリングを特定することができる。
しかしながら、特許文献1の太陽電池ストリング検査装置では、太陽電池ストリングを構成する複数の太陽電池モジュールのうち、劣化した太陽電池モジュールを特定することができないというのが現状であった。
また、特許文献1の太陽電池ストリング検査装置以外の他の検査装置を用いる場合であっても、複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングから各太陽電池モジュールを切り離し、個々の太陽電池モジュールについてI−V特性の測定などによる検査を行わなければならず、太陽電池モジュールの特定作業が煩雑であった。
そこで、本発明は、前述の問題点に鑑みて提案されたもので、その目的とするところは、太陽電池ストリングに太陽電池モジュールを接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュールを特定し得る太陽電池モジュールの劣化判別方法を提供することにある。
前述の目的を達成するための技術的手段として、本発明は、複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングに負荷抵抗を接続し、負荷抵抗の両端に発生するストリング電圧を電圧計で測定することにより、複数の太陽電池モジュールのうちから、劣化した太陽電池モジュールを特定する太陽電池モジュールの劣化判別方法であって、複数の太陽電池モジュールから選択された1つの太陽電池モジュールを遮光し、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュールを特定することを特徴とする。
本発明では、負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差と近似する場合には、劣化した太陽電池モジュールが電圧低下型であると判定することが可能である。ここで、「電圧低下型」とは、負荷抵抗を可変させても、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が略一定であり、クラスタの劣化などにより、遮光時のストリング電圧と非遮光時のストリング電圧との電位差が低下するモードを意味する。なお、「負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差と近似する」とは、負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差と略同一かあるいは許容誤差範囲内にあることを意味する。
本発明では、複数の太陽電池モジュールのうち、劣化した太陽電池モジュール以外の正常な太陽電池モジュールについては、いずれの太陽電池モジュールを遮光しても、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、それら正常な太陽電池モジュールについて同一であり、この時の電位差を基準値とする。一方、劣化した太陽電池モジュールを遮光した場合、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は前述の基準値よりも小さくなる。このように、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差と基準値とを比較することにより、太陽電池ストリングに太陽電池モジュールを接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュールを特定することができる。
本発明における太陽電池モジュールは複数のクラスタで構成され、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差の大きさにより、劣化したクラスタ数を特定することができる。つまり、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、遮光対象となる太陽電池モジュールにおける非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧との電位差に相当する。
ここで、太陽電池モジュールを構成するクラスタ数をm、劣化したクラスタ数をnとすると、劣化した太陽電池モジュールを遮光した場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、正常な太陽電池モジュールを遮光した場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差の(m−n)/mとなる。このように、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差の大きさから、劣化したクラスタ数を特定することができる。
本発明において、劣化したクラスタ数を特定する判定式に、太陽電池モジュールの入出力間に接続されたバイパスダイオードの順方向電圧降下分を含めることが望ましい。このようにすれば、劣化したクラスタ数をより一層精度よく特定することができる。なお、そのバイパスダイオードの順方向電圧降下分は、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて算出することができる。つまり、遮光されていない太陽電池モジュールではバイパスダイオードに電流が流れず、遮光した太陽電池モジュールではバイパスダイオードに電流が流れる。
非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、バイパスダイオードの順方向電圧降下分を含めた1つの太陽電池モジュールの出力電圧に相当する。一方、非遮光時のストリング電圧を太陽電池モジュールの数で除算した値は、バイパスダイオードの順方向電圧降下分を含まない1つの太陽電池モジュールの出力電圧に相当する。従って、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差から、非遮光時のストリング電圧を太陽電池モジュールの数で除算した値を減算すれば、バイパスダイオードの順方向電圧降下分を算出することができる。
本発明において、太陽電池ストリングのI−V特性における最大動作電圧をVm、最大動作電流をImとし、太陽電池モジュールの劣化により発生した電流低下分をΔIとした時、太陽電池ストリングに接続された負荷抵抗Rを、Vm/(Im−ΔI)≫R≧Vm/Imの条件を満足するように設定することが望ましい。
このような範囲に負荷抵抗の値を設定すれば、遮光時の太陽電池モジュールのバイパスダイオードに確実に電流が流れることから、遮光時のストリング電圧を精度よく測定することができる。なお、負荷抵抗の値が上記範囲を逸脱する場合、遮光時の太陽電池モジュールのバイパスダイオードに電流が流れず、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が発生しない可能性がある。
一方、本発明では、負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差よりも大きい場合には、劣化した太陽電池モジュールが電流低下型であると判定することも可能である。ここで、「電流低下型」とは、パネル表面の劣化などにより、日射量が増加しても出力電流が増加し難い状態にあり、負荷抵抗を可変させた場合、その負荷抵抗の低下によりストリング電流が大きくなればなるほど、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が小さくなるモードを意味する。なお、「負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差よりも大きい」とは、負荷抵抗の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差から許容誤差範囲を超えることを意味する。
本発明によれば、複数の太陽電池モジュールから選択された1つの太陽電池モジュールを遮光し、非遮光時のストリング電圧および遮光時のストリング電圧を電圧計により測定し、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差を算出し、その電位差と基準値との比較に基づいて、劣化した太陽電池モジュールを特定することにより、太陽電池ストリングに太陽電池モジュールを接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュールを簡易な作業でもって特定することができる。
太陽電池パネルをパワーコンディショナにより電力系統と連系させた太陽光発電システムにおける太陽電池パネルは、複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングを一単位として、複数組の太陽電池ストリングで構成されている。この太陽電池パネルは、複数組の太陽電池ストリングごとに1つの接続箱に接続され、その接続箱を介してパワーコンディショナに接続されている。
以下の実施形態では、図1に示すように、複数(例えば15枚)の太陽電池モジュール1(PV1〜PV15)が直列に接続された1つの太陽電池ストリング2を1つの接続箱3に接続した構成を例示する。なお、太陽電池ストリング2を構成する太陽電池モジュール1は15枚に限らず、その数は任意である。また、1つの接続箱3に接続される太陽電池ストリング2は1つに限らず、その数は2以上であってもよい。
この太陽光発電システムにおいて、長期間使用などにより太陽電池モジュール1が劣化すると、太陽電池パネルの出力電圧が低下することから、太陽電池モジュール1の劣化を検出する手段が必要であり、その太陽電池モジュール1の劣化を検出する手段として、太陽電池ストリング2に太陽電池モジュール1を接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュール1を特定する方法を以下に詳述する。
図1に示すように、太陽電池ストリング2の入出力間に負荷抵抗4を接続し、その負荷抵抗4の両端に発生する電圧、つまり、ストリング電圧を測定する電圧計5を負荷抵抗4の両端に接続する。具体的には、接続箱3の断路器6を開放した上で、その断路器6の太陽電池側に負荷抵抗4と電圧計5を接続する。この方法では、15枚の太陽電池モジュール1から選択された1枚の太陽電池モジュール1を遮光し、非遮光時のストリング電圧および遮光時のストリング電圧を電圧計5でそれぞれ測定し、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差を算出し、その電位差と基準値との比較に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を特定する。
図1は、1つの太陽電池ストリング2を構成する15枚の太陽電池モジュール1のうち、全ての太陽電池モジュール1が正常である場合を例示する。この場合、1枚の太陽電池モジュール1の出力電圧が30Vであるとすると、電圧計5で測定される非遮光時のストリング電圧は、30V×15=450Vとなる。
次に、図2に示すように、1枚の太陽電池モジュール1(PV1)を遮光板7(図中斜線部分)により遮光すると、遮光された太陽電池モジュール1の出力電圧は0Vとなる。その結果、電圧計5で測定される遮光時のストリング電圧は、30V×14+0V×1=420Vとなる。非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、450V−420V=30Vとなる。この電位差は他の太陽電池モジュール1(PV2〜PV15)を遮光した場合についても同一の値となる。
図3は、1つの太陽電池ストリング2を構成する15枚の太陽電池モジュール1のうち、1枚の太陽電池モジュール1(PV2)が劣化している場合を例示する。なお、太陽電池モジュール1は3つのクラスタ(各クラスタの出力電圧が10V)で構成され、1つのクラスタが劣化することにより、劣化した太陽電池モジュール1の出力電圧が20Vに低下している場合を例示する。この場合、電圧計5で測定される非遮光時のストリング電圧は、30V×14+20V×1=440Vとなる。
次に、図4(A)に示すように、劣化した太陽電池モジュール1(PV2)以外の正常な太陽電池モジュール1(PV1)を遮光板7により遮光した場合、遮光された太陽電池モジュール1の出力電圧は0Vとなる。その結果、電圧計5で測定される遮光時のストリング電圧は、30V×13+20V×1+0V×1=410Vとなる。非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、440V−410V=30Vとなる。この電位差は他の正常な太陽電池モジュール1(PV3〜PV15)を遮光した場合についても同一の値となる。この電位差(30V)を基準値とする。
一方、図4(B)に示すように、劣化した太陽電池モジュール1(PV2)を遮光板7により遮光した場合、遮光された太陽電池モジュール1の出力電圧は0Vとなる。その結果、電圧計5で測定される遮光時のストリング電圧は、30V×14+0V×1=420Vとなる。非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、440V−420V=20Vとなり、前述の基準値(30V)よりも小さくなる。
このようにして、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差と基準値とを比較することにより、その電位差が基準値よりも小さくなる時は、その時に遮光した太陽電池モジュール1(PV2)が劣化していると判別でき、太陽電池ストリング2に太陽電池モジュール1を接続したままの状態で、劣化した太陽電池モジュール1を特定することができる。
以上のようにして、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差と基準値との比較により、劣化した太陽電池モジュール1を特定する以外に、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が基準値よりも小さい場合にその電位差の大きさにより、劣化したクラスタ数を特定することができる。非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、遮光対象となる太陽電池モジュール1における非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧との電位差に相当する。
ここで、太陽電池モジュール1を構成するクラスタ数をm、劣化したクラスタ数をnとすると、劣化した太陽電池モジュール1を遮光した場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、正常の太陽電池モジュール1を遮光した場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差の(m−n)/mとなる。以下の説明では、図5に示すように、太陽電池モジュール1のクラスタ数をm=3とした場合を例示する。1つのクラスタ8の出力電圧を10Vとすると、正常な太陽電池モジュール1の出力電圧は30Vとなる。
例えば、図6(A)に示すように、遮光対象となる太陽電池モジュール1において、1つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時の出力電圧は20Vとなり、図6(B)に示すように、遮光時の出力電圧は0Vとなる。その結果、非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧の電位差は、20V−0V=20Vとなる。従って、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が20Vであれば、遮光対象となっている太陽電池モジュール1において、1つのクラスタが劣化していると判定することができる。
また、図7(A)に示すように、遮光対象となる太陽電池モジュール1において、2つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時の出力電圧は10Vとなり、図7(B)に示すように、遮光時の出力電圧は0Vとなる。その結果、非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧の電位差は、10V−0V=10Vとなる。従って、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が10Vであれば、遮光対象となっている太陽電池モジュール1において、2つのクラスタ8が劣化していると判定することができる。
さらに、図8(A)に示すように、遮光対象となる太陽電池モジュール1において、3つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時の出力電圧は0Vとなり、図8(B)に示すように、遮光時の出力電圧は0Vとなる。その結果、非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧の電位差は、0V−0V=0Vとなる。従って、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が0Vであれば、遮光対象となっている太陽電池モジュール1において、3つのクラスタ8が劣化していると判定することができる。
ここで、太陽電池モジュール1が劣化した場合であっても、太陽電池ストリング2の出力電圧が得られるように、バイパス電流を流すためのバイパスダイオード9が太陽電池モジュール1の入出力間に接続されている(図9および図10参照)。前述のように、劣化したクラスタ数を特定するに際して、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が、遮光対象となる太陽電池モジュール1における非遮光時の出力電圧と遮光時の出力電圧の電位差に相当することから、劣化したクラスタ数をより一層精度よく特定するため、劣化した太陽電池モジュール1の出力電圧に含まれるバイパスダイオード9の順方向電圧降下分を考慮する必要がある。
そこで、太陽電池モジュール1におけるクラスタ8の出力電圧をVC、クラスタ数をC、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分をVD、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差をΔVとすると、以下の判定式に基づいて、劣化したクラスタ数を特定する。
つまり、(C−1)×VC+VD−(VC/2)<ΔV≦(C−1)×VC+VD+(VC/2)の条件を満足する時、1つのクラスタ8が劣化していると判定する。また、(C−2)×VC+VD−(VC/2)<ΔV≦(C−2)×VC+VD+(VC/2)の条件を満足する時、2つのクラスタ8が劣化していると判定する。さらに、(C−3)×VC+VD−(VC/2)<ΔV≦(C−3)×VC+VD+(VC/2)の条件を満足する時、3つのクラスタ8が劣化していると判定する。なお、正常な太陽電池モジュール1では、C×VC+VD−(VC/2)<ΔV≦C×VC+VD+(VC/2)の条件を満足することになる。
このように、劣化したクラスタ数を特定する判定式では、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分VDを含めると共に、±(VC/2)を許容誤差としている。なお、非遮光時のストリング電圧には、太陽電池モジュール1を遮光する前のストリング電圧と、太陽電池モジュール1を遮光した後にその遮光板7を取り外した時のストリング電圧とがある。この太陽電池モジュール1の遮光前と遮光板取り外し時とで、太陽電池モジュール1に対する日射量の変化により電圧値が異なる。そこで、太陽電池ストリング2のI−V特性においてストリング電流を正規化している。このストリング電流の正規化により、ストリング電圧を遮光前と遮光板取り外し時の2回測定する必要がなくなり、遮光する太陽電池モジュール1を順次ずらして効率よく測定することができる。
前述の判定式に含めるバイパスダイオード9の順方向電圧降下分が既知の場合には、その値を判定式に適用すればよいが、通常、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分は未知であることが多い。その場合、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分を、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、以下の要領でもって算出する。なお、図9および図10に示す太陽電池モジュール1は、簡略化のため、1つのクラスタ8で構成され、1つのバイパスダイオード9を具備する構造を例示する。
まず、非遮光時のストリング電圧を電圧計5により測定する。この非遮光時に太陽電池ストリング2に流れる電流を図9の破線で示す。つまり、遮光されていない太陽電池モジュール1ではバイパスダイオード9に電流が流れないことから、測定されたストリング電圧には、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分が含まれない。この非遮光時のストリング電圧を太陽電池モジュール1の数で除算した値は、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分を含まない1枚の太陽電池モジュール1の出力電圧に相当する。
次に、遮光時のストリング電圧を電圧計5により測定する。この遮光時に太陽電池ストリング2に流れる電流を図10の破線で示す。つまり、遮光した太陽電池モジュール1ではバイパスダイオード9に電流が流れることから、測定されたストリング電圧は、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分が含まれる。その結果、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差は、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分を含めた1枚の太陽電池モジュール1の出力電圧に相当する。
従って、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差から、非遮光時のストリング電圧を太陽電池モジュール1の数で除算した値を減算することにより、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分を算出することができる。このようにして得られたバイパスダイオード9の順方向電圧降下分を前述の判定式に含めることにより、劣化したクラスタ数をより一層精度よく特定することができる。
ここで、非遮光時のストリング電圧および遮光時のストリング電圧を測定するために太陽電池ストリング2に接続された負荷抵抗4は、劣化した太陽電池モジュール1を確実に特定することができるように、以下の条件を満足するように設定する必要がある。なお、図12は正常な太陽電池モジュール1を備えた太陽電池ストリング2のI−V特性を示し、図13は太陽電池モジュール1の劣化が発生した太陽電池ストリング2のI−V特性を示す。
図12および図13に示すように、太陽電池ストリング2のI−V特性における最大動作電圧をVm、最大動作電流をImとし、太陽電池モジュール1の劣化により発生した電流低下分をΔIとした時、太陽電池ストリング2に接続された負荷抵抗4の抵抗値Rを、Vm/(Im−ΔI)≫R≧Vm/Imの条件を満足するように設定する。つまり、図13に示すように、負荷抵抗4の抵抗値Rを、図中の直線X(=Vm/Im)と直線Y(=Vm/(Im−ΔI))とを境界とする範囲内となるように設定する。
このような範囲に負荷抵抗4の抵抗値Rを設定することにより、図10に示すように、遮光時の太陽電池モジュール1のバイパスダイオード9に確実に電流が流れることから、遮光時のストリング電圧を精度よく測定することができる。その結果、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を確実に特定することができる。
なお、負荷抵抗4の抵抗値Rが上記範囲を逸脱する場合、図11に示すように、遮光時の太陽電池モジュール1のバイパスダイオード9に電流が流れず、太陽電池モジュール1のセルに電流が流れることから、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が発生しないことになる。その結果、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を特定することが困難となる。
以上で説明した太陽電池モジュール1は、クラスタ8の劣化による電圧低下型と称するタイプのものである。この電圧低下型と称する太陽電池モジュール1の場合、前述したように、負荷抵抗4の抵抗値を固定値としている。一方、図14に示すように、負荷抵抗4を可変させてストリング電流を変動させた場合、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が略一定である。なお、負荷抵抗4を可変とする手段には、MOSFET等の半導体スイッチング素子を使用すればよい。その他、可変抵抗などを使用することも可能である。
遮光対象となる太陽電池モジュール1が正常であれば、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が30Vで一定となる。その太陽電池モジュール1において1つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が20Vで一定となる。また、その太陽電池モジュール1において2つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が10Vで一定となる。さらに、その太陽電池モジュール1において3つのクラスタ8が劣化している場合、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が0Vで一定となる。
このように、負荷抵抗4を可変させてストリング電流を変動させた時、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が略一定、つまり、負荷抵抗4の抵抗値が大きい時(ストリング電流が小さい時)の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時(ストリング電流が大きい時)の電位差と近似する場合には、遮光した太陽電池モジュール1が電圧低下型で劣化していると判定することができる。ここで、「負荷抵抗4の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時の電位差と近似する」とは、負荷抵抗4の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時の電位差と略同一かあるいは許容誤差範囲内にあることを意味する。
以上で説明した電圧低下型の太陽電池モジュール1以外に、他の劣化タイプとして、パネル表面の劣化による電流低下型と称するタイプのものもある。このパネル表面の劣化は、前述したクラスタ8の劣化と異なり、例えば、異物がパネル表面に衝突することによりそのパネル表面に広がったクラックに基づくものであり、日射量が少ない時にはその日射量に応じた出力電圧が得られるが、日射量が多くなってもその日射量に応じた出力電圧が得られずに出力電圧が不足する状態をいう。
従って、前述した電圧低下型の太陽電池モジュール1では、負荷抵抗4を可変しても、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が略一定であったのに対して、この電流低下型の太陽電池モジュール1の場合、図14に示すように、負荷抵抗4を可変させてストリング電流を変動させると、その負荷抵抗4の低下によりストリング電流が大きくなればなるほど、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が小さくなる。
図15は、電流低下型の太陽電池モジュール1が含まれる場合の太陽電池ストリング2のI−V特性を示す。同図に示すように、負荷抵抗4が小さくてストリング電流が大きい時には、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が小さいため、その太陽電池モジュール1が劣化していると判定するが、負荷抵抗4が大きくてストリング電流が小さい時には、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が大きいため、その太陽電池モジュール1が正常であると判定してしまう。
そこで、負荷抵抗4を可変させてストリング電流を変動させた時、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差が変動する場合、つまり、負荷抵抗4の抵抗値が大きい時(ストリング電流が小さい時)の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時(ストリング電流が大きい時)の電位差よりも大きい場合には、劣化した太陽電池モジュール1が電流低下型であると判定することができる。ここで、「負荷抵抗4の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時の電位差よりも大きい」とは、負荷抵抗4の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時の電位差から許容誤差範囲を超えることを意味する。
この電流低下型の太陽電池モジュール1の場合も、劣化した太陽電池モジュール1を特定する要領については、前述した電圧低下型の太陽電池モジュール1の場合と同様で、複数枚の太陽電池モジュール1について順次遮光していき、負荷抵抗4の抵抗値が大きい時の電位差が、負荷抵抗4の抵抗値が小さい時の電位差よりも大きい場合、その時に遮光した太陽電池モジュール1が電流低下型で劣化していると特定することができる。
なお、劣化した太陽電池モジュールが電圧低下型であるか、あるいは電流低下型であるかの判定は、負荷抵抗の抵抗値が大きい時と小さい時の2点での電位差に基づいて行っているが、2点以上の抵抗値での電位差に基づいて判定することも可能である。
本発明は前述した実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、さらに種々なる形態で実施し得ることは勿論のことであり、本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲に記載の均等の意味、および範囲内のすべての変更を含む。
1 太陽電池モジュール
2 太陽電池ストリング
4 負荷抵抗
5 電圧計
8 クラスタ
9 バイパスダイオード
2 太陽電池ストリング
4 負荷抵抗
5 電圧計
8 クラスタ
9 バイパスダイオード
前述の目的を達成するための技術的手段として、本発明は、複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングに負荷抵抗を接続し、負荷抵抗の両端に発生するストリング電圧を電圧計で測定することにより、複数の太陽電池モジュールのうちから、劣化した太陽電池モジュールを特定する太陽電池モジュールの劣化判別方法であって、複数の太陽電池モジュールから選択された1つの太陽電池モジュールを遮光し、ストリング電流の正規化により得られた日射による非遮光時のストリング電圧と、遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、使用による出力電圧の低下で劣化した太陽電池モジュールを特定することを特徴とする。
本発明において、劣化したクラスタ数を特定する判定式に、太陽電池モジュールの入出力間に接続されたバイパスダイオードの順方向電圧降下分を含めることが望ましい。このようにすれば、劣化したクラスタ数をより一層精度よく特定することができる。なお、そのバイパスダイオードの順方向電圧降下分は、全ての太陽電池モジュールが正常である場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて算出することができる。つまり、遮光されていない太陽電池モジュールではバイパスダイオードに電流が流れず、遮光した太陽電池モジュールではバイパスダイオードに電流が流れる。
前述の判定式に含めるバイパスダイオード9の順方向電圧降下分が既知の場合には、その値を判定式に適用すればよいが、通常、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分は未知であることが多い。その場合、バイパスダイオード9の順方向電圧降下分を、全ての太陽電池モジュール1が正常である場合における非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、以下の要領でもって算出する。なお、図9および図10に示す太陽電池モジュール1は、簡略化のため、1つのクラスタ8で構成され、1つのバイパスダイオード9を具備する構造を例示する。
このような範囲に負荷抵抗4の抵抗値Rを設定することにより、図10に示す遮光対象となっていた太陽電池モジュール1(PV1)が劣化している場合、遮光板7を取り外して非遮光状態にしても、その劣化した太陽電池モジュール1(PV1)のバイパスダイオード9に確実に電流が流れることから、遮光時のストリング電圧を精度よく測定することができる。その結果、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を確実に特定することができる。
なお、負荷抵抗4の抵抗値Rが上記範囲を逸脱する場合、図11に示す遮光対象となっていた太陽電池モジュール1(PV1)が劣化している場合、遮光板7を取り外して非遮光状態にすると、その劣化した太陽電池モジュール1(PV1)のバイパスダイオード9に電流が流れず、太陽電池モジュール1のセルに電流が流れることから、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差を精度よく測定することができない。その結果、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュール1を特定することが困難となる。
Claims (6)
- 複数の太陽電池モジュールが直列に接続された太陽電池ストリングに負荷抵抗を接続し、前記負荷抵抗の両端に発生するストリング電圧を電圧計で測定することにより、複数の太陽電池モジュールのうちから、劣化した太陽電池モジュールを特定する太陽電池モジュールの劣化判別方法であって、
複数の太陽電池モジュールから選択された1つの太陽電池モジュールを遮光し、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて、劣化した太陽電池モジュールを特定することを特徴とする太陽電池モジュールの劣化判別方法。 - 前記負荷抵抗の抵抗値が大きい時の前記電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差と近似する場合に、劣化した太陽電池モジュールが電圧低下型であると判定する請求項1に記載の太陽電池モジュールの劣化判別方法。
- 前記負荷抵抗の抵抗値が大きい時の前記電位差が、負荷抵抗の抵抗値が小さい時の電位差よりも大きい場合に、劣化した太陽電池モジュールが電流低下型であると判定する請求項1に記載の太陽電池モジュールの劣化判別方法。
- 前記太陽電池モジュールは複数のクラスタで構成され、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差の大きさに基づいて、劣化したクラスタ数を特定する請求項2に記載の太陽電池モジュールの劣化判別方法。
- 劣化したクラスタ数を特定する判定式に、前記太陽電池モジュールの入出力間に接続されたバイパスダイオードの順方向電圧降下分を含め、その順方向電圧降下分は、非遮光時のストリング電圧と遮光時のストリング電圧との電位差に基づいて算出する請求項4に記載の太陽電池モジュールの劣化判別方法。
- 前記太陽電池ストリングのI−V特性における最大動作電圧をVm、最大動作電流をImとし、前記太陽電池モジュールの劣化により発生した電流低下分をΔIとした時、前記太陽電池ストリングに接続された負荷抵抗Rを、Vm/(Im−ΔI)≫R≧Vm/Imの条件を満足するように設定する請求項2、4、5のいずれか一項に記載の太陽電池モジュールの劣化判別方法。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017009892A1 (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-19 | 株式会社日立システムズ | 太陽光発電検査システムおよび太陽光発電検査方法 |
JP2017135957A (ja) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池パネル検査システム |
JP2017208980A (ja) * | 2016-05-20 | 2017-11-24 | 太陽誘電株式会社 | 故障診断システム、及び故障診断方法 |
KR20180013269A (ko) * | 2016-07-29 | 2018-02-07 | 전자부품연구원 | 태양전지스트링의 열화태양전지모듈시험방법 및 시험장치 |
JP2019201533A (ja) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | 株式会社ミライト | 太陽電池モジュールの劣化判別方法及び劣化判別装置 |
JP2020022365A (ja) * | 2019-11-07 | 2020-02-06 | 株式会社ミライト | 太陽電池モジュールの劣化判別方法及び劣化判別装置 |
JP7077453B1 (ja) * | 2021-05-10 | 2022-05-30 | 株式会社ミライト | 異常太陽電池モジュールの探索方法及び異常太陽電池モジュールの探索装置 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940588A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-06 | Toshiba Corp | 異常太陽電池素子の検出装置 |
JPH05122760A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-05-18 | Nec Corp | 電源監視システム |
JPH0943303A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Canon Inc | 電池電源装置特性測定装置および測定方法 |
JPH1131829A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Canon Inc | 太陽電池の良否判定方法 |
JP2001352693A (ja) * | 2000-06-09 | 2001-12-21 | Sharp Corp | 太陽光発電装置およびその管理システム |
JP2006229063A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Canon Inc | 光電変換素子の電流電圧特性測定結果の補正方法および予測方法、光電変換素子の測定方法および装置、光電変換素子の製造方法および装置 |
JP2007311487A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Eko Instruments Trading Co Ltd | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2012169531A (ja) * | 2011-02-16 | 2012-09-06 | Toshiba Corp | 太陽電池ストリング検査装置 |
JP2013138133A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Sharp Corp | 太陽電池モジュールの検査方法および検査装置 |
JP2013236503A (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | East Nippon Expressway Co Ltd | 太陽電池モジュールの取付構造及び太陽光発電装置 |
-
2014
- 2014-09-08 JP JP2014182134A patent/JP2015080399A/ja active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940588A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-06 | Toshiba Corp | 異常太陽電池素子の検出装置 |
JPH05122760A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-05-18 | Nec Corp | 電源監視システム |
JPH0943303A (ja) * | 1995-07-26 | 1997-02-14 | Canon Inc | 電池電源装置特性測定装置および測定方法 |
JPH1131829A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Canon Inc | 太陽電池の良否判定方法 |
JP2001352693A (ja) * | 2000-06-09 | 2001-12-21 | Sharp Corp | 太陽光発電装置およびその管理システム |
JP2006229063A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Canon Inc | 光電変換素子の電流電圧特性測定結果の補正方法および予測方法、光電変換素子の測定方法および装置、光電変換素子の製造方法および装置 |
JP2007311487A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Eko Instruments Trading Co Ltd | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2012169531A (ja) * | 2011-02-16 | 2012-09-06 | Toshiba Corp | 太陽電池ストリング検査装置 |
JP2013138133A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Sharp Corp | 太陽電池モジュールの検査方法および検査装置 |
JP2013236503A (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | East Nippon Expressway Co Ltd | 太陽電池モジュールの取付構造及び太陽光発電装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017009892A1 (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-19 | 株式会社日立システムズ | 太陽光発電検査システムおよび太陽光発電検査方法 |
JPWO2017009892A1 (ja) * | 2015-07-10 | 2018-04-19 | 株式会社日立システムズ | 太陽光発電検査システムおよび太陽光発電検査方法 |
US10491154B2 (en) | 2015-07-10 | 2019-11-26 | Hitachi Systems, Ltd | Solar power generation examination system and solar power generation examination method |
JP2017135957A (ja) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池パネル検査システム |
JP2017208980A (ja) * | 2016-05-20 | 2017-11-24 | 太陽誘電株式会社 | 故障診断システム、及び故障診断方法 |
KR20180013269A (ko) * | 2016-07-29 | 2018-02-07 | 전자부품연구원 | 태양전지스트링의 열화태양전지모듈시험방법 및 시험장치 |
KR102254824B1 (ko) * | 2016-07-29 | 2021-05-24 | 한국전자기술연구원 | 태양전지스트링의 열화태양전지모듈시험방법 및 시험장치 |
JP2019201533A (ja) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | 株式会社ミライト | 太陽電池モジュールの劣化判別方法及び劣化判別装置 |
JP2020022365A (ja) * | 2019-11-07 | 2020-02-06 | 株式会社ミライト | 太陽電池モジュールの劣化判別方法及び劣化判別装置 |
JP7077453B1 (ja) * | 2021-05-10 | 2022-05-30 | 株式会社ミライト | 異常太陽電池モジュールの探索方法及び異常太陽電池モジュールの探索装置 |
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