JP2015076359A - X-ray tube apparatus - Google Patents

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阿武 秀郎
Hideo Abu
秀郎 阿武
智成 石原
Tomonari Ishihara
智成 石原
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray tube apparatus which increases an X-ray output regardless of a high voltage application method to the X-ray tube, and improves distortion of a focal point shape and uniformity of electron density distribution.SOLUTION: An X-ray tube apparatus 10 includes an X-ray tube 30 and a magnetic deflection unit 110. The X-ray tube 30 includes: a cathode 36 for radiating an electron beam in a first direction; an anode target 35 on which a focus F is formed to receive the electron beam from a second direction and to radiate an X-ray flux being used in a third direction; a convergence electrode 37 for converging the electron beam between the cathode 36 and the anode target 35; and a vacuum envelope 31 for accommodating these components. The magnetic deflection unit 110 forms a magnetic field Ha for changing an advancing direction of the electron beam from the first direction to the second direction. The first to third directions are directions parallel to a first plane. The first direction is a direction directed toward the anode target 35 and vertical to the third direction. An angle α made by a second plane contacting with a target surface on which the focus F is formed and the second direction is 0°<α≤40°.

Description

本発明の実施形態は、X線管装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to an X-ray tube apparatus.

X線管装置は、X線管を備えている。X線管は、陽極ターゲットに電子ビームを衝突させてX線を発生する構成になっている。このようなX線管装置は、医療用の診断装置あるいは工業用の非破壊検査装置や材料分析装置など、多くの用途に利用されている。   The X-ray tube apparatus includes an X-ray tube. The X-ray tube is configured to generate an X-ray by colliding an electron beam with an anode target. Such an X-ray tube apparatus is used in many applications such as a medical diagnostic apparatus, an industrial nondestructive inspection apparatus, and a material analysis apparatus.

X線管装置では、陰極から放射された電子ビームは、陰極と陽極ターゲット間の電位勾配により加速、集束され、典型的には20〜150keVのエネルギを持って、陽極ターゲットのターゲット面にほぼ垂直(90°±20°)に衝突してX線発生源となる焦点を形成する。焦点に高いエネルギを持った電子ビームが衝突すると、電子ビームはターゲット材により急速に減速されるためX線が放出される。X線に変換される割合は、陽極ターゲットに衝突する電子の運動エネルギの中の1%以下とわずかである。残りのエネルギは熱に変換される。   In an X-ray tube apparatus, an electron beam emitted from a cathode is accelerated and focused by a potential gradient between the cathode and the anode target, and typically has an energy of 20 to 150 keV and is substantially perpendicular to the target surface of the anode target. A focal point that forms an X-ray generation source by colliding with (90 ° ± 20 °) is formed. When an electron beam with high energy collides with the focal point, the electron beam is rapidly decelerated by the target material, so that X-rays are emitted. The rate of conversion to X-rays is as small as 1% or less of the kinetic energy of electrons that collide with the anode target. The remaining energy is converted to heat.

そこで、例えばX線管のX線出力を増大させる技術が開示されている。陽極ターゲットを接地し、ターゲット面に対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させて焦点を形成させることにより、X線放射窓から放出されるX線出力を増大させている。電子ビーム強度を同一とした条件において、従来のX線管に比べてX線出力を最大で1.5倍に増大させることができる。   Therefore, for example, a technique for increasing the X-ray output of the X-ray tube is disclosed. The X-ray output emitted from the X-ray emission window is increased by grounding the anode target and injecting an electron beam at a relatively shallow angle with respect to the target surface to form a focal point. Under the condition that the electron beam intensity is the same, the X-ray output can be increased up to 1.5 times compared to the conventional X-ray tube.

米国特許第3719846号明細書US Pat. No. 3719846 米国特許第4607380号明細書US Pat. No. 4,607,380 米国特許第5128977号明細書US Pat. No. 5,128,977 米国特許第5828727号明細書US Pat. No. 5,828,727 米国特許第7068749号明細書US Pat. No. 7068749

ところで、上記X線管装置によれば、以下に述べる問題がある。
X線放射窓は、陽極ターゲットと同電位である。X線放射窓方向に飛び出した反跳電子はX線放射窓を直撃するため、X線放射窓の加熱を低減させることは困難である。
However, the X-ray tube apparatus has the following problems.
The X-ray emission window is at the same potential as the anode target. The recoil electrons that jump out in the direction of the X-ray emission window directly hit the X-ray emission window, so it is difficult to reduce the heating of the X-ray emission window.

反跳電子は、焦点からX線放射窓に向かう方向に多くなるような角度分布をもって飛び出す。従って、反跳電子がX線放射窓を直撃することによるX線放射窓の加熱は、従来のX線管(ターゲット面にほぼ垂直に電子ビームを入射させるX線管)に比べてより深刻である。
上記したことが原因となって、X線出力を増大させることに限界が生じてしまうという問題がある。
Recoil electrons jump out with an angular distribution that increases in the direction from the focal point toward the X-ray emission window. Therefore, heating of the X-ray emission window due to recoil electrons directly hitting the X-ray emission window is more serious than a conventional X-ray tube (an X-ray tube in which an electron beam is incident substantially perpendicular to the target surface). is there.
Due to the above, there is a problem that there is a limit in increasing the X-ray output.

また、ターゲット面に対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させる手法を、陰極が接地されるX線管や、中性点接地のX線管に適用できないという問題がある。なお、陽極が接地されるX線管の場合、焦点付近の真空外囲器の金属部は陽極ターゲットと同電位であるため、浅い角度でターゲット面に向かって入射させた電子ビームは、電界による作用を受けず、角度がより深い向き(ターゲット面に垂直な向き)に変化することはない。   In addition, there is a problem that the method of injecting an electron beam at a relatively shallow angle with respect to the target surface cannot be applied to an X-ray tube with a cathode grounded or an X-ray tube with a neutral ground. In the case of an X-ray tube whose anode is grounded, the metal part of the vacuum envelope near the focal point is at the same potential as the anode target, so that the electron beam incident on the target surface at a shallow angle is caused by an electric field. It is not affected and the angle does not change to a deeper direction (a direction perpendicular to the target surface).

しかし、陰極が接地されるX線管や、中性点接地のX線管を利用した場合、電子ビームは、真空外囲器の接地される金属部と陽極ターゲットとの間に作用する電界の影響を強く受けることになる。このため、ターゲット面に向けて電子ビームを浅い角度で入射させようとしても、最終的にターゲット面に衝突入射される電子ビームの角度はより深い向きに変化してしまい、目的とする効果(X線出力の増大)が全く得られなくなってしまう。   However, when an X-ray tube having a cathode grounded or an X-ray tube having a neutral point ground is used, an electron beam is generated by an electric field acting between a metal part to be grounded of the vacuum envelope and the anode target. It will be strongly influenced. For this reason, even if an electron beam is incident on the target surface at a shallow angle, the angle of the electron beam finally incident on the target surface changes in a deeper direction, and the desired effect (X (Increase in line output) cannot be obtained at all.

また、陰極から出射する電子は、角度分布をもってターゲット面に向かうため、ターゲット面に形成される焦点に形状の歪みや電子密度分布の不均一が生じてしまう。   Further, since electrons emitted from the cathode are directed to the target surface with an angular distribution, shape distortion and non-uniform electron density distribution occur at the focal point formed on the target surface.

この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、X線管への高電圧印加方式の如何にかかわらずに浅い角度でターゲット面に向かって電子ビームを衝突させてX線出力を増大させるとともに、焦点の形状の歪みや電子密度分布の不均一性を改善することができるX線管装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to make an X-ray output by colliding an electron beam toward a target surface at a shallow angle regardless of the method of applying a high voltage to the X-ray tube. An object of the present invention is to provide an X-ray tube apparatus that can increase the distortion of the focal point shape and the non-uniformity of the electron density distribution.

一実施形態に係るX線管装置は、
第1方向に電子ビームを放出する電子放出源を有し接地される陰極と、第2方向から前記電子ビームが入射されることにより反跳電子が多く散乱する側となる第3方向に利用X線束を放出する焦点が形成されるターゲット面を有し正の高電圧が印加される陽極ターゲットと、前記陰極及び前記陽極ターゲットの間に配置され、前記正の高電圧よりも小さい正の集束電圧が印加されて前記電子ビームを集束させる集束電極と、前記陰極、前記陽極ターゲット及び前記集束電極を収容し内部が真空状態であり前記利用X線束を透過させるX線放射窓及び前記X線放射窓を含む領域の真空側の表面を形成し接地された表面部を有した真空外囲器と、を具備したX線管と、
前記電子ビームを偏向させ前記電子ビームの進行方向を前記第1方向から前記第2方向に連続的に変化させる磁場を前記陽極ターゲットの表面の近傍の空間につくる磁気偏向部と、を備え、
前記第1方向、第2方向及び第3方向は、第1平面に沿った方向であり、
前記第1方向は、前記陽極ターゲットに向かう方向であり前記第3方向に垂直な方向であり、
前記焦点が形成される位置の前記ターゲット面に接する第2平面から前記第2方向がなす角度は、0°より大きく40°以下であることを特徴としている。
An X-ray tube apparatus according to one embodiment
A cathode having an electron emission source emitting an electron beam in the first direction and grounded, and a third direction used as a side where a lot of recoil electrons are scattered when the electron beam is incident from the second direction X An anode target having a target surface on which a focal point that emits a bundle of rays is formed and a positive high voltage is applied, and a positive focusing voltage that is disposed between the cathode and the anode target and is smaller than the positive high voltage Is applied to the focusing electrode for focusing the electron beam, and the cathode, the anode target, and the focusing electrode are housed in a vacuum state and the X-ray radiation window and the X-ray radiation window allow the utilization X-ray flux to pass therethrough An X-ray tube comprising: a vacuum envelope having a grounded surface portion forming a vacuum side surface of a region including
A magnetic deflection unit that creates a magnetic field in the space near the surface of the anode target that deflects the electron beam and continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction to the second direction;
The first direction, the second direction, and the third direction are directions along the first plane;
The first direction is a direction toward the anode target and a direction perpendicular to the third direction,
An angle formed by the second direction from a second plane in contact with the target surface at a position where the focal point is formed is greater than 0 ° and not more than 40 °.

また、一実施形態に係るX線管装置は、
第1方向に電子ビームを放出する電子放出源を有し負の高電圧が印加される陰極と、第2方向から前記電子ビームが入射されることにより反跳電子が多く散乱する側となる第3方向に利用X線束を放出する焦点が形成されるターゲット面を有し接地され若しくは正の高電圧が印加される陽極ターゲットと、前記陰極及び前記陽極ターゲットの間に配置され、前記負の高電圧よりも大きくかつ前記陽極ターゲットに印加される電圧よりも小さい集束電圧が印加されて前記電子ビームを集束させる集束電極と、前記陰極、前記陽極ターゲット及び前記集束電極を収容し内部が真空状態であり前記利用X線束を透過させるX線放射窓及び前記X線放射窓を含む領域の真空側の表面を形成し接地された表面部を有した真空外囲器と、を具備したX線管と、
前記電子ビームを偏向させ前記電子ビームの進行方向を前記第1方向から前記第2方向に連続的に変化させる第1磁場を前記陽極ターゲットの表面の近傍の空間につくる第1磁気偏向部と、
前記焦点から前記X線放射窓に向かって放出される前記反跳電子を偏向させ前記X線放射窓から外れた前記表面部の反跳電子捕捉面に衝撃させる第2磁場をつくる第2磁気偏向部と、を備え、
前記第1方向、第2方向及び第3方向は、第1平面に沿った方向であり、
前記第1方向は、前記陽極ターゲットに向かう方向であり前記第3方向に垂直な方向であり、
前記焦点が形成される位置の前記ターゲット面に接する第2平面から前記第2方向がなす角度は、0°より大きく40°以下であることを特徴としている。
An X-ray tube device according to an embodiment
A cathode having an electron emission source that emits an electron beam in the first direction and a negative high voltage applied thereto, and a side that scatters a lot of recoil electrons when the electron beam is incident from the second direction. An anode target that has a target surface on which a focal point that emits a utilization X-ray flux in three directions is formed and is grounded or a positive high voltage is applied, and is disposed between the cathode and the anode target, and the negative high A focusing electrode that focuses the electron beam by applying a focusing voltage that is larger than the voltage and smaller than the voltage applied to the anode target; and accommodates the cathode, the anode target, and the focusing electrode, and the inside is in a vacuum state An X-ray tube comprising: an X-ray radiation window that transmits the utilized X-ray flux; and a vacuum envelope having a grounded surface portion that forms a vacuum-side surface of a region including the X-ray radiation window ,
A first magnetic deflection unit that creates a first magnetic field in a space near the surface of the anode target that deflects the electron beam and continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction to the second direction;
A second magnetic deflection that creates a second magnetic field that deflects the recoil electrons emitted from the focal point toward the X-ray emission window and impacts the recoil electron trapping surface of the surface portion outside the X-ray emission window. And comprising
The first direction, the second direction, and the third direction are directions along the first plane;
The first direction is a direction toward the anode target and a direction perpendicular to the third direction,
An angle formed by the second direction from a second plane in contact with the target surface at a position where the focal point is formed is greater than 0 ° and not more than 40 °.

図1は、第1の実施形態に係るX線管装置を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the X-ray tube apparatus according to the first embodiment, as viewed from the direction along the target surface. 図2は、上記第1の実施形態に係るX線管装置の変形例を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 2 is a schematic view showing a modification of the X-ray tube apparatus according to the first embodiment, and is a view seen from a direction along the target surface. 図3は、図2に示した陽極ターゲットを示す斜視図であり、電子ビームを偏向させることで、焦点がターゲット面上を移動する様子を示す図である。FIG. 3 is a perspective view showing the anode target shown in FIG. 2, and shows how the focal point moves on the target surface by deflecting the electron beam. 図4は、上記第1の実施形態に係るX線管装置の他の変形例を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 4 is a schematic view showing another modification of the X-ray tube apparatus according to the first embodiment, and is a view seen from a direction along the target surface. 図5は、第2の実施形態に係るX線管装置を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 5 is a schematic view showing the X-ray tube apparatus according to the second embodiment, as viewed from the direction along the target surface. 図6は、上記第2の実施形態に係るX線管装置の変形例を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 6 is a schematic view showing a modification of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment, and is a view seen from a direction along the target surface. 図7は、第3の実施形態に係るX線管装置を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。FIG. 7 is a schematic view showing the X-ray tube apparatus according to the third embodiment, as viewed from the direction along the target surface. 図8は、第4の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the fourth embodiment. 図9は、図8の線IX−IXに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。FIG. 9 is a cross-sectional view of the X-ray tube apparatus taken along line IX-IX in FIG. 8, and includes a part of the front view of the X-ray tube apparatus. 図10は、上記第4の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。FIG. 10 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the fourth embodiment, and shows a magnetic deflection unit. 図11は、集束電極の取り付け態様の一例を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing an example of an attachment mode of the focusing electrode. 図12は、上記第4の実施形態の変形例における集束電極の取り付け態様を示す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view showing how the focusing electrode is attached in a modification of the fourth embodiment. 図13は、上記第4の実施形態の他の変形例における集束電極を説明するための断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view for explaining a focusing electrode in another modification of the fourth embodiment. 図14は、第5の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。FIG. 14 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment. 図15は、図14の線XV−XVに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。FIG. 15 is a cross-sectional view of the X-ray tube device taken along line XV-XV in FIG. 14, and includes a part of the front view of the X-ray tube device. 図16は、上記第5の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。FIG. 16 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment, and shows a magnetic deflection unit. 図17は、上記第5の実施形態に係るX線管装置の変形例の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。FIG. 17 is a perspective view showing a part of a modification of the X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment, and shows a magnetic deflection unit. 図18は、第6の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。FIG. 18 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the sixth embodiment. 図19は、図18の線XIX−XIXに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。FIG. 19 is a cross-sectional view of the X-ray tube apparatus taken along line XIX-XIX in FIG. 18, and includes a part of the front view of the X-ray tube apparatus. 図20は、上記第6の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部、導入部及び排出部を示す図である。FIG. 20 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the sixth embodiment, and shows a magnetic deflection part, an introduction part, and a discharge part. 図21は、上記第6の実施形態に係るX線管装置の変形例の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。FIG. 21 is a perspective view showing a part of a modified example of the X-ray tube apparatus according to the sixth embodiment, and shows a magnetic deflection unit.

以下、図面を参照しながら第1の実施形態に係るX線管装置について詳細に説明する。第1の実施形態では、X線管装置の基本的な概念を説明する。図1は、第1の実施形態に係るX線管装置を示す模式図であり、ターゲット面に沿った方向から見た図である。   Hereinafter, the X-ray tube apparatus according to the first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. In the first embodiment, the basic concept of the X-ray tube apparatus will be described. FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the X-ray tube apparatus according to the first embodiment, as viewed from the direction along the target surface.

図1に示すように、X線管装置10は、X線管30と、高電圧電源15と、磁気偏向部110と、偏向電源115と、集束電源17とを備えている。X線管30は、陽極ターゲット35と、陰極36と、真空外囲器31と、集束電極37とを備えている。   As shown in FIG. 1, the X-ray tube device 10 includes an X-ray tube 30, a high voltage power supply 15, a magnetic deflection unit 110, a deflection power supply 115, and a focusing power supply 17. The X-ray tube 30 includes an anode target 35, a cathode 36, a vacuum envelope 31, and a focusing electrode 37.

陰極36は、電子放出源36aと、陰極カップ36bとを有している。電子放出源36aは、第1方向d1に電子ビームを放出する。電子放出源36aは、平板状又はコイル状のフィラメント等で形成されている。陰極カップ36bは、環状に形成され、電子放出源36aから陽極ターゲット35に向かう電子の軌道を囲んでいる。陰極カップ36bには、例えば数kVの電圧が印加される。陰極カップ36bは、電子ビームを集束し、電子ビーム(電子の分布形状)を整形(適正化)する。陰極カップ36bに与える電圧値を変更可能としてもよい。   The cathode 36 has an electron emission source 36a and a cathode cup 36b. The electron emission source 36a emits an electron beam in the first direction d1. The electron emission source 36a is formed of a flat or coil filament. The cathode cup 36 b is formed in an annular shape and surrounds an electron trajectory from the electron emission source 36 a toward the anode target 35. For example, a voltage of several kV is applied to the cathode cup 36b. The cathode cup 36b focuses the electron beam and shapes (optimizes) the electron beam (electron distribution shape). The voltage value applied to the cathode cup 36b may be changeable.

陰極36には、陽極ターゲット35に対して相対的に負の電圧が印加される。電子放出源36aには陰極36に印加される電圧及び電流が供給される。この実施形態において、陰極36(電子放出源36a)は接地(接地電位に設定)されている。   A negative voltage relative to the anode target 35 is applied to the cathode 36. A voltage and current applied to the cathode 36 are supplied to the electron emission source 36a. In this embodiment, the cathode 36 (electron emission source 36a) is grounded (set to the ground potential).

集束電極37は、陰極36と、陽極ターゲット35との間において、陰極36から放出される電子ビームを囲うように設けられる。この実施形態において、集束電極37は、陰極36から放出される電子ビームを通すための開口部37aを有する円環状を成す。開口部37aは、例えば陰極36側から陽極ターゲット35側に向けて径が拡大する。集束電極37には陰極36に対して相対的に正の電圧が印加される。   The focusing electrode 37 is provided between the cathode 36 and the anode target 35 so as to surround the electron beam emitted from the cathode 36. In this embodiment, the focusing electrode 37 has an annular shape having an opening 37a through which an electron beam emitted from the cathode 36 passes. The diameter of the opening 37a increases, for example, from the cathode 36 side toward the anode target 35 side. A positive voltage relative to the cathode 36 is applied to the focusing electrode 37.

陰極36から放出される電子ビームは、第1方向d1からずれた方向への成分を含む。この電子ビームが集束電極37の開口部37aを通ると、集束電極37の作用により電子ビームを構成する電子の方向が第1方向d1に揃い、電子ビームが集束する。   The electron beam emitted from the cathode 36 includes a component in a direction shifted from the first direction d1. When this electron beam passes through the opening 37a of the focusing electrode 37, the direction of electrons constituting the electron beam is aligned in the first direction d1 by the action of the focusing electrode 37, and the electron beam is focused.

集束電極37に与える電圧値を変更可能としてもよい。上記電圧値の変更により、電子ビームの形状を変更させ、後述する焦点Fのサイズを調整することができる。   The voltage value applied to the focusing electrode 37 may be changeable. By changing the voltage value, the shape of the electron beam can be changed, and the size of the focal point F to be described later can be adjusted.

陽極ターゲット35は、この陽極ターゲットの外面の一部に設けられたターゲット面35bを有している。ターゲット面35bには、第2方向d2から電子ビームが入射されることにより、反跳電子が多く散乱する側となる第3方向d3に利用X線束を放出する焦点Fが形成される。なお、第3方向d3は、X線の進行方向に平行な方向であり、利用X線束の中心を通る。   The anode target 35 has a target surface 35b provided on a part of the outer surface of the anode target. When the electron beam is incident from the second direction d2 on the target surface 35b, a focal point F for emitting the utilization X-ray flux in the third direction d3 on the side where many recoil electrons are scattered is formed. The third direction d3 is a direction parallel to the traveling direction of the X-ray and passes through the center of the used X-ray bundle.

ターゲット面35bは平面である。陽極ターゲット35は、モリブデンなどの金属で形成されている。ターゲット面35bは、タングステンやタングステン合金など陽極ターゲット35より融点の高い金属で形成されている。陽極ターゲット35は、反跳電子が衝撃される反跳電子捕捉面35dをさらに有している。陽極ターゲット35には、陰極36に対して相対的に正の電圧が印加される。この実施形態において、陽極ターゲット35には正の高電圧が印加される。   The target surface 35b is a flat surface. The anode target 35 is made of a metal such as molybdenum. The target surface 35b is formed of a metal having a melting point higher than that of the anode target 35, such as tungsten or a tungsten alloy. The anode target 35 further has a recoil electron capturing surface 35d on which recoil electrons are bombarded. A positive voltage is applied to the anode target 35 relative to the cathode 36. In this embodiment, a positive high voltage is applied to the anode target 35.

真空外囲器31は、陽極ターゲット35、陰極36及び集束電極37を収容している。真空外囲器31は、真空容器32、X線放射窓33及び表面部34を有している。真空外囲器31の内部は真空状態である。真空外囲器31の内部に後述する磁場Haの作用を許可するため、真空容器32(真空外囲器31)は、銅、ステンレス、アルミニウム等の非磁性の金属、及びガラス、セラミクス等の絶縁物で形成されている。この実施形態において、真空容器32は銅で形成されている。真空容器32は側壁32aを有している。   The vacuum envelope 31 contains an anode target 35, a cathode 36 and a focusing electrode 37. The vacuum envelope 31 has a vacuum vessel 32, an X-ray emission window 33, and a surface portion 34. The inside of the vacuum envelope 31 is in a vacuum state. In order to allow the action of the magnetic field Ha, which will be described later, inside the vacuum envelope 31, the vacuum container 32 (vacuum envelope 31) is made of nonmagnetic metal such as copper, stainless steel, and aluminum, and insulation such as glass and ceramics. It is formed of things. In this embodiment, the vacuum vessel 32 is made of copper. The vacuum vessel 32 has a side wall 32a.

X線放射窓33は、側壁32aの開口部に気密に設けられている。X線放射窓33は利用X線束を透過させるものである。この実施形態において、X線放射窓33は、ベリリウムで形成されている。X線放射窓33のX線透過方向の厚みは、0.1乃至3mmである。その他、X線放射窓33は、アルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つを主成分として形成することも可能である。上記のように、X線放射窓33を形成する材料は、ベリリウムより安価な材料に代替可能である。
表面部34は、X線放射窓33及び側壁32aを含む領域の真空側の表面を形成している。ここでは、表面部34は、金属で形成され接地されている。表面部34は、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を押し戻し反跳電子捕捉面35dに衝撃させる。
The X-ray radiation window 33 is airtightly provided in the opening of the side wall 32a. The X-ray radiation window 33 transmits the utilized X-ray flux. In this embodiment, the X-ray radiation window 33 is made of beryllium. The X-ray radiation window 33 has a thickness in the X-ray transmission direction of 0.1 to 3 mm. In addition, the X-ray radiation window 33 can be formed mainly of any one of ceramics such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, and alumina. As described above, the material forming the X-ray emission window 33 can be replaced with a material cheaper than beryllium.
The surface portion 34 forms a surface on the vacuum side of a region including the X-ray radiation window 33 and the side wall 32a. Here, the surface portion 34 is made of metal and grounded. The surface portion 34 pushes back recoil electrons emitted from the focal point F toward the X-ray emission window 33 and bombards the recoil electron capturing surface 35d.

磁気偏向部110は、真空外囲器31の外側に配置されている。磁気偏向部110は、集束電極37にて集束された電子ビームを偏向させ電子ビームの進行方向を第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化させる磁場Haを陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくる。この実施形態において、磁気偏向部110は、磁場Haを陽極ターゲット35の表面(ターゲット面35b)に平行で、かつ図1の紙面に垂直となる方向につくる。   The magnetic deflection unit 110 is disposed outside the vacuum envelope 31. The magnetic deflection section 110 deflects the electron beam focused by the focusing electrode 37 and changes the magnetic field Ha, which continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction d1 to the second direction d2, to the cathode 36 and the anode target surface 35b. It is made over the entire space between. In this embodiment, the magnetic deflection unit 110 creates the magnetic field Ha in a direction parallel to the surface of the anode target 35 (target surface 35b) and perpendicular to the paper surface of FIG.

磁気偏向部110は、図示しない2個の磁極と、磁極を接続したヨーク112と、ヨーク112に巻かれたコイル113とを有している。この実施形態において、磁気偏向部110は、電磁石を利用しているが、これに限定されるものではなく永久磁石を利用するものであってもよい。
偏向電源115は、磁気偏向部110のコイル113に電流を供給するものである。磁気偏向部110及び偏向電源115は、偏向磁場発生ユニットを形成している。
The magnetic deflection unit 110 has two magnetic poles (not shown), a yoke 112 connected to the magnetic poles, and a coil 113 wound around the yoke 112. In this embodiment, the magnetic deflection unit 110 uses an electromagnet, but is not limited thereto, and may use a permanent magnet.
The deflection power source 115 supplies current to the coil 113 of the magnetic deflection unit 110. The magnetic deflection unit 110 and the deflection power source 115 form a deflection magnetic field generation unit.

磁気偏向部110は、磁場Haにより電子ビームに作用するローレンツ力を利用するものである。電子ビームは磁場Haの影響を常に受けるため、電子ビームの進行方向は第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化し、電子ビームをターゲット面35bに対して浅い角度で入射させることができる。電子ビームの軌道は、サイクロイド曲線もしくはトロコイド曲線に近い曲線となる。一様電界と一様磁界とが直交する単純化した場合に電子ビームの軌道がサイクロイド曲線となることは、例えば下記の文献の第1章1.2節(電界と磁界のあるときの運動)に示されている。   The magnetic deflection unit 110 uses Lorentz force acting on the electron beam by the magnetic field Ha. Since the electron beam is always affected by the magnetic field Ha, the traveling direction of the electron beam continuously changes from the first direction d1 to the second direction d2, and the electron beam can be incident on the target surface 35b at a shallow angle. it can. The trajectory of the electron beam is a curve close to a cycloid curve or a trochoid curve. When the uniform electric field and the uniform magnetic field are orthogonalized, the trajectory of the electron beam becomes a cycloid curve. For example, Chapter 1 section 1.2 of the following document (movement in the presence of an electric field and a magnetic field) Is shown in

基礎電子管工学(山本賢三監訳、昭和41年廣川書店発行)
原著:Principles of Electron Tubes ( J.W.GEWARTOWSKI ,H.A.WATSON ,1965 , D.VAN NOSTRAND COMPANY,Inc.)
なお、ターゲット面35bへの電子ビームの入射角(第2方向d2の向き)は、磁場Haの大きさを調整することにより、目的とする角度(向き)に設定可能である。
Basic electron tube engineering (translated by Kenzo Yamamoto, published by Yodogawa Shoten in 1966)
Original: Principles of Electron Tubes (JWGEWARTOWSKI, HAWATSON, 1965, D.VAN NOSTRAND COMPANY, Inc.)
The angle of incidence of the electron beam on the target surface 35b (direction in the second direction d2) can be set to a target angle (direction) by adjusting the magnitude of the magnetic field Ha.

ここで、第1方向d1、第2方向d2及び第3方向d3は、第1平面S1に沿った方向である。第1方向d1は、陽極ターゲット35に向かう方向であり、第3方向d3に垂直な方向である。焦点Fが形成される位置のターゲット面35bに接する平面を第2平面S2とする。第2平面S2から第2方向d2がなす角度をαとする。第2平面S2から第3方向d3がなす角度をβとする。   Here, the first direction d1, the second direction d2, and the third direction d3 are directions along the first plane S1. The first direction d1 is a direction toward the anode target 35 and is a direction perpendicular to the third direction d3. A plane in contact with the target surface 35b at the position where the focal point F is formed is defined as a second plane S2. An angle formed by the second direction d2 from the second plane S2 is α. An angle formed by the third direction d3 from the second plane S2 is β.

角度αは、0°より大きく40°以下である(0°<α≦40°)。なお、この実施形態において、角度αは、第1方向d1の向き及び磁場Haの大きさに依存している。角度βは、特に限定されるものではないが、例えば、5°乃至25°の範囲内に設定されている。この実施形態において、角度αは20°であり、角度βは15°である。   The angle α is greater than 0 ° and not more than 40 ° (0 ° <α ≦ 40 °). In this embodiment, the angle α depends on the direction of the first direction d1 and the magnitude of the magnetic field Ha. The angle β is not particularly limited, but is set within a range of 5 ° to 25 °, for example. In this embodiment, the angle α is 20 ° and the angle β is 15 °.

第1方向d1及び第2方向d2が下方を示すようにX線放射窓33側から磁場Haに視点をおいた場合を仮定すると、磁気偏向部110は、第1平面S1に垂直な左向きの磁場Haを電子ビームに作用させる。   Assuming that the viewpoint is placed on the magnetic field Ha from the X-ray radiation window 33 side so that the first direction d1 and the second direction d2 are downward, the magnetic deflecting unit 110 has a leftward magnetic field perpendicular to the first plane S1. Ha acts on the electron beam.

高電圧電源15は、陰極36及び陽極ターゲット35間に高電圧を供給するためのものである。この実施形態において、高電圧電源15は、陽極ターゲット35にのみ高電圧(正の高電圧)を供給する。   The high voltage power supply 15 is for supplying a high voltage between the cathode 36 and the anode target 35. In this embodiment, the high voltage power supply 15 supplies a high voltage (positive high voltage) only to the anode target 35.

X線管30の陰極36及び陽極ターゲット35間に、管電圧Vが印加されている。陽極ターゲット35の電位をVA、陰極36の電位をVCとすると、管電圧Vは、VA−VCである。管電圧Vは、20kV乃至150kVである。   A tube voltage V is applied between the cathode 36 and the anode target 35 of the X-ray tube 30. When the potential of the anode target 35 is VA and the potential of the cathode 36 is VC, the tube voltage V is VA-VC. The tube voltage V is 20 kV to 150 kV.

この実施形態において、高電圧電源15は、陽極ターゲット35に+Vの電圧を供給している。陰極36、及びX線放射窓33を含む真空外囲器31の表面部34は接地されている(0V)。   In this embodiment, the high voltage power supply 15 supplies a voltage of + V to the anode target 35. The surface portion 34 of the vacuum envelope 31 including the cathode 36 and the X-ray emission window 33 is grounded (0 V).

集束電源17は、陰極36及び集束電極37間に集束電圧を供給するためのものである。集束電極37の電位をVFとすると、集束電圧は、VF−VCである。集束電圧は、陽極ターゲット35に印加される電圧よりも小さい。   The focusing power source 17 is for supplying a focusing voltage between the cathode 36 and the focusing electrode 37. When the potential of the focusing electrode 37 is VF, the focusing voltage is VF-VC. The focusing voltage is smaller than the voltage applied to the anode target 35.

このように構成されたX線管30では、例えば、陽極ターゲット35に+100kV以上の正の高電圧が印加される。陰極36及び真空外囲器31の表面部34は接地されている。陰極36の電子放出源36aには電流が与えられる。集束電極37には、例えば数kVの正の電圧が印加される。   In the X-ray tube 30 configured as described above, for example, a positive high voltage of +100 kV or more is applied to the anode target 35. The cathode 36 and the surface portion 34 of the vacuum envelope 31 are grounded. A current is applied to the electron emission source 36 a of the cathode 36. For example, a positive voltage of several kV is applied to the focusing electrode 37.

これにより陰極36から放出される電子ビームは、集束電極37により集束された後に磁気偏向部110により連続的に偏向され、陽極ターゲット35のターゲット面35bに入射される。そして、ターゲット面35bに形成される焦点FからX線が放射され、X線はX線放射窓33を透過して外部へ放射される。焦点Fから放出される反跳電子は反跳電子捕捉面35dに衝撃される。   As a result, the electron beam emitted from the cathode 36 is focused by the focusing electrode 37, continuously deflected by the magnetic deflection unit 110, and incident on the target surface 35 b of the anode target 35. Then, X-rays are emitted from the focal point F formed on the target surface 35b, and the X-rays are transmitted to the outside through the X-ray emission window 33. Recoil electrons emitted from the focal point F are struck by the recoil electron capture surface 35d.

上記のように構成された第1の実施形態に係るX線管装置10は、X線管30と、磁気偏向部110とを備えている。X線管30は、陽極ターゲット35と、陰極36と、集束電極37と、真空外囲器31とを備えている。陽極ターゲット35は正の高電位に設定され、陰極36と、X線放射窓33を含む真空外囲器31とは接地されている。集束電極37は上記正の高電位よりも小さい正の電位に設定される。   The X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment configured as described above includes an X-ray tube 30 and a magnetic deflection unit 110. The X-ray tube 30 includes an anode target 35, a cathode 36, a focusing electrode 37, and a vacuum envelope 31. The anode target 35 is set to a positive high potential, and the cathode 36 and the vacuum envelope 31 including the X-ray emission window 33 are grounded. The focusing electrode 37 is set to a positive potential smaller than the positive high potential.

第1方向d1は、ターゲット面35bにほぼ垂直であり、電子ビームは、真空外囲器31(表面部34)と陽極ターゲット35との間に作用する電界の影響を受ける。しかしながら、電子ビームには、磁気偏向部110によりターゲット面35bに平行で、かつ第1平面S1に垂直となる磁場Haを作用させることができる。しかも、磁場Haは、陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくることができる。これにより、角度αを20°とし、第2方向d2から電子ビームをターゲット面35bに入射させることができる。なお、磁場Haは管電圧Vに応じて値を設定する必要がある。管電圧を変える場合には、それに応じて磁場Haの値を変更する。   The first direction d1 is substantially perpendicular to the target surface 35b, and the electron beam is affected by an electric field acting between the vacuum envelope 31 (surface portion 34) and the anode target 35. However, a magnetic field Ha parallel to the target surface 35b and perpendicular to the first plane S1 can be applied to the electron beam by the magnetic deflection unit 110. Moreover, the magnetic field Ha can be generated over the entire space between the cathode 36 and the anode target surface 35b. Thereby, the angle α is set to 20 °, and the electron beam can be incident on the target surface 35b from the second direction d2. The magnetic field Ha needs to be set according to the tube voltage V. When changing the tube voltage, the value of the magnetic field Ha is changed accordingly.

電子放出源36aからの電子ビームは、磁場Haに突入する前に、集束電極37の作用によってその向きが揃えられる。したがって、ほぼ全ての電子の軌道が実質的に同一のトコロイド様曲線を磁場Haへの突入位置分だけ平行にずらしたものとなる。これにより、焦点Fの形状の歪みや焦点Fの電子密度分布の不均一性を小さくすることが可能となる。   The direction of the electron beam from the electron emission source 36a is aligned by the action of the focusing electrode 37 before entering the magnetic field Ha. Therefore, substantially the same orbits of almost all electrons are shifted in parallel by the amount corresponding to the entry position to the magnetic field Ha. Thereby, it becomes possible to reduce the distortion of the shape of the focus F and the non-uniformity of the electron density distribution of the focus F.

陰極接地管(陰極36が接地されるX線管30)であっても、ターゲット面35bに対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させて焦点Fを形成させることができるため、X線放射窓33から放出されるX線出力を増大させることができる。   Even in the case of a cathode grounded tube (X-ray tube 30 to which the cathode 36 is grounded), an electron beam can be incident on the target surface 35b at a relatively shallow angle to form the focal point F. The X-ray output emitted from the window 33 can be increased.

第2方向d2と、第3方向d3とは同一の第1平面S1に沿った方向である。このため、X線放射窓33から放出されるX線出力を一層増大させることができる。   The second direction d2 and the third direction d3 are directions along the same first plane S1. For this reason, the X-ray output emitted from the X-ray radiation window 33 can be further increased.

反跳電子は、入射電子があたかもターゲット面35bで鏡面反射する方向に最も多く散乱することから、焦点FからX線放射窓33に向かう方向に多くなるような角度分布をもって飛び出すことになる。ターゲット面35bの上方への反跳電子の散乱を低減できるため、焦点F近傍を含むターゲット面35bへの反跳電子の再衝突を抑制することができる。これにより、ターゲット面35b(焦点F)の温度上昇や、ターゲット面35bに引き起こされる荒れを抑制でき、放電の発生やX線の出力低下を抑制することができる。さらに、焦点F以外からのX線の放射を抑制できるため、X線画像の明瞭度の低下を抑制することができる。上記の効果は、角度αが0°より大きく40°以下の範囲内の何れかである場合(0°<α≦40°)に得ることができる。
上記の効果をより高めるためには、角度αが5°より大きく30°以下の範囲内の何れかである(5°<α≦30°)ことがより好ましい。
The recoil electrons are scattered with the angular distribution that increases in the direction from the focal point F toward the X-ray radiation window 33 because the incident electrons are most scattered in the direction of specular reflection at the target surface 35b. Since scattering of recoil electrons above the target surface 35b can be reduced, recoil electrons recoil on the target surface 35b including the vicinity of the focal point F can be suppressed. Thereby, the temperature rise of the target surface 35b (focal point F) and the roughness caused by the target surface 35b can be suppressed, and the occurrence of discharge and the decrease in the output of X-rays can be suppressed. Furthermore, since the emission of X-rays from other than the focal point F can be suppressed, it is possible to suppress a decrease in the clarity of the X-ray image. The above-described effect can be obtained when the angle α is in the range of 0 ° to 40 ° (0 ° <α ≦ 40 °).
In order to further enhance the above effect, it is more preferable that the angle α is in the range of more than 5 ° and 30 ° or less (5 ° <α ≦ 30 °).

X線放射窓33は、反跳電子が多く散乱する側に位置している。しかしながら、表面部34(X線放射窓33)は陰極36と同電位(接地電位)に設定されているため、表面部34付近の電界の影響により、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を押し戻し反跳電子捕捉面35dに衝撃させることができる。   The X-ray emission window 33 is located on the side where many recoil electrons are scattered. However, since the surface portion 34 (X-ray emission window 33) is set to the same potential (ground potential) as the cathode 36, it is directed from the focal point F toward the X-ray emission window 33 due to the influence of the electric field near the surface portion 34. The emitted recoil electrons can be pushed back and bombarded on the recoil electron capturing surface 35d.

これにより、X線放射窓33への反跳電子の直撃を防止することができ、X線放射窓33の加熱を抑制することができる。即ち、X線放射窓33の温度上昇を確実に低減することができる。そして、X線放射窓33の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   Thereby, the direct hit of the recoil electrons to the X-ray radiation window 33 can be prevented, and the heating of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. That is, the temperature rise of the X-ray radiation window 33 can be reliably reduced. Further, the X-ray radiation window 33 can be prevented from being damaged, and thus the vacuum envelope 31 can be prevented from being broken.

上記のことから、X線管30が陰極接地方式である場合においてもターゲット面35bに対する電子ビームの不所望な偏向を抑制しX線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置10を得ることができる。   From the above, even when the X-ray tube 30 is of the cathode grounding method, undesired deflection of the electron beam with respect to the target surface 35b can be suppressed and the X-ray output can be increased. An X-ray tube apparatus 10 that can suppress direct hit of jumping electrons can be obtained.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them.

次に、上記第1の実施形態に係るX線管装置10の磁気偏向部110の変形例について説明する。磁気偏向部110は、磁場Haを作用させたが、これに限定されるものではなく種々変形可能であり、陰極36から放出される電子ビームの向き(第1方向d1)に応じて1以上の磁場を作用させ、ターゲット面35bに第2方向d2から電子ビームを入射することができればよい。   Next, a modified example of the magnetic deflection unit 110 of the X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment will be described. Although the magnetic deflection unit 110 has applied the magnetic field Ha, the magnetic deflection unit 110 is not limited to this, and can be variously modified. Depending on the direction (first direction d1) of the electron beam emitted from the cathode 36, the magnetic deflection unit 110 can be modified in various ways. It suffices if an electron beam can be incident on the target surface 35b from the second direction d2 by applying a magnetic field.

次に、上記第1の実施形態に係るX線管装置10のターゲット面35bの変形例について説明する。ターゲット面35bは、平面に限らず、円錐面であってもよい。ターゲット面35bが円錐面の場合とは、例えば、X線管30が回転陽極型のX線管であり、陽極ターゲット35が円盤状に形成され、ターゲット面35bが、陽極ターゲット35の一端面を形成している場合が挙げられる。   Next, a modification of the target surface 35b of the X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment will be described. The target surface 35b is not limited to a flat surface, and may be a conical surface. The case where the target surface 35b is a conical surface is, for example, that the X-ray tube 30 is a rotary anode type X-ray tube, the anode target 35 is formed in a disc shape, and the target surface 35b covers one end surface of the anode target 35. The case where it forms is mentioned.

次に、上述した第1の実施形態に係るX線管装置10の変形例であり、ターゲット面35b上を焦点Fを移動させる場合ついて説明する。
X線管装置10は、焦点Fがターゲット面35b上を周期的に移動するように電子ビームを偏向させる交流磁場を発生させる偏向部をさらに備えていてもよい。上記偏向部は、焦点位置補正部として機能し、磁気偏向部110の磁場Haが作用する空間より陰極36に近い空間に直流磁場である補正磁場をつくることもできる。これにより、偏向部は、補正磁場を電子ビームに作用させ、電子ビームを偏向させ、焦点Fの位置を微調整することができる。
Next, a modified example of the X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment described above, a case where the focal point F is moved on the target surface 35b will be described.
The X-ray tube apparatus 10 may further include a deflection unit that generates an alternating magnetic field that deflects the electron beam so that the focal point F periodically moves on the target surface 35b. The deflection unit functions as a focal position correction unit, and can also generate a correction magnetic field that is a DC magnetic field in a space closer to the cathode 36 than a space in which the magnetic field Ha of the magnetic deflection unit 110 acts. Accordingly, the deflecting unit can cause the correction magnetic field to act on the electron beam, deflect the electron beam, and finely adjust the position of the focal point F.

図2は、上記第1の実施形態に係るX線管装置10の変形例を示す模式図であり、ターゲット面35bに沿った方向から見た図である。図3は、図2に示した陽極ターゲット35を示す斜視図であり、電子ビームを偏向させることで、焦点Fがターゲット面35b上を移動する様子を示す図である。   FIG. 2 is a schematic view showing a modification of the X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment, as seen from the direction along the target surface 35b. FIG. 3 is a perspective view showing the anode target 35 shown in FIG. 2, and shows how the focal point F moves on the target surface 35b by deflecting the electron beam.

例えば、図2に示すように、X線管装置10は、偏向電源105及び偏向電源制御部106をさらに備えている。X線管装置10は、焦点位置補正部としての偏向部100をさらに備えている。   For example, as shown in FIG. 2, the X-ray tube apparatus 10 further includes a deflection power source 105 and a deflection power source control unit 106. The X-ray tube apparatus 10 further includes a deflection unit 100 as a focal position correction unit.

偏向部100は、真空外囲器31の外側で、電子ビームの軌道を取り囲む位置に設けられている。偏向部100は、集束電極37よりも陰極36に近く、かつ磁場Haが作用する空間より狭い空間に磁場Hcを発生させる。偏向部100は、この磁場Hcを第1方向d1に向かう電子ビームに作用させ、図2に示す偏向角θが得られるよう、上記電子ビームを偏向させる。磁場Hcの向きは、第1平面S1に垂直な左向き又は右向きに調整可能である。   The deflecting unit 100 is provided outside the vacuum envelope 31 at a position surrounding the trajectory of the electron beam. The deflecting unit 100 generates the magnetic field Hc in a space closer to the cathode 36 than the focusing electrode 37 and narrower than the space where the magnetic field Ha acts. The deflecting unit 100 causes the magnetic field Hc to act on the electron beam traveling in the first direction d1, and deflects the electron beam so as to obtain the deflection angle θ shown in FIG. The direction of the magnetic field Hc can be adjusted leftward or rightward perpendicular to the first plane S1.

偏向電源105は偏向部100のコイルに電流を供給するものである。偏向電源制御部106は、偏向電源105が偏向部100に供給する電流を制御するものである。偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106は、焦点位置移動用の偏向磁場発生ユニットを構成している。   The deflection power source 105 supplies current to the coil of the deflection unit 100. The deflection power source control unit 106 controls the current supplied to the deflection unit 100 by the deflection power source 105. The deflection unit 100, the deflection power source 105, and the deflection power source control unit 106 constitute a deflection magnetic field generation unit for moving the focal position.

偏向電源制御部106は、焦点Fが連続的又は間欠的に移動するよう偏向電源105が偏向部100に供給する電流を制御することができる。偏向部100は、制御された電流が供給されることにより、陰極36から放出される電子ビームを第1平面S1に沿った方向に偏向させ、焦点Fの位置を第1平面S1に沿ったターゲット面35b上で移動させることができる。言い換えると、偏向部100は、電子ビームをターゲット面35b上を周期的(連続的又は間欠的)に走査させることができる。   The deflection power source control unit 106 can control the current that the deflection power source 105 supplies to the deflection unit 100 so that the focal point F moves continuously or intermittently. The deflection unit 100 is supplied with a controlled current to deflect the electron beam emitted from the cathode 36 in the direction along the first plane S1, and the position of the focal point F is changed to the target along the first plane S1. It can be moved on the surface 35b. In other words, the deflecting unit 100 can scan the electron beam on the target surface 35b periodically (continuously or intermittently).

また、X線管装置10をCT装置に搭載した場合、焦点位置を切り替えながらスキャンを行うことができるため、フライングフォーカス(焦点位置シフト)方式のCT装置に応用することができる。
さらに、電子ビームは、偏向部100によってターゲット面35bを十分速い速度で走査することにより、焦点F温度の上昇を軽減することができる。
In addition, when the X-ray tube apparatus 10 is mounted on a CT apparatus, scanning can be performed while switching the focal position, so that it can be applied to a flying focus (focal position shift) type CT apparatus.
Further, the electron beam can reduce the rise in the focus F temperature by scanning the target surface 35b at a sufficiently high speed by the deflecting unit 100.

角度αが90°付近(90°±20°)の場合、焦点Fの位置を移動させるため、電子ビームの偏向角θを比較的大きくする必要がある。このため、偏向電源105は偏向部100に比較的大きい電流を供給する必要がある。この場合、電子ビームをエネルギ効率よく偏向できるX線管装置10を実現することができない。   When the angle α is around 90 ° (90 ° ± 20 °), the deflection angle θ of the electron beam needs to be relatively large in order to move the position of the focal point F. For this reason, the deflection power source 105 needs to supply a relatively large current to the deflection unit 100. In this case, the X-ray tube apparatus 10 that can deflect the electron beam with high energy efficiency cannot be realized.

これに対し、0°<α≦40°である場合、角度αを90°付近とした場合に比べ、焦点Fを同じ距離だけ移動させるための電子ビームの偏向角θを小さくすることができる。すなわち、偏向電源105が偏向部100に供給する電流を小さくすることができる。言い換えると、焦点Fの移動(Z方向への実効焦点の移動、又はX方向への実焦点の移動)に必要な偏向パワーは少なくて済む。このため、電子ビームをエネルギ効率よく偏向することができる。ここで、第2平面S2はX−Y平面から傾斜している。焦点Fは、ターゲット面35b上をX方向に移動する。なお、偏向電源制御部106は、偏向電源105が偏向部100に一定の直流成分の電流を供給するように制御することにより、焦点Fの位置を微調整することも可能である。   On the other hand, when 0 ° <α ≦ 40 °, the deflection angle θ of the electron beam for moving the focal point F by the same distance can be made smaller than when the angle α is around 90 °. That is, the current supplied from the deflection power source 105 to the deflection unit 100 can be reduced. In other words, less deflection power is required for moving the focus F (moving the effective focus in the Z direction or moving the actual focus in the X direction). For this reason, an electron beam can be deflected with energy efficiency. Here, the second plane S2 is inclined from the XY plane. The focal point F moves in the X direction on the target surface 35b. The deflection power supply control unit 106 can also finely adjust the position of the focal point F by controlling the deflection power supply 105 to supply a current of a constant DC component to the deflection unit 100.

上記第1の実施形態に係るX線管装置10は、他の形態の焦点位置補正部を備えてもよい。例えば焦点位置補正部は、電場を利用して焦点Fの位置を微調整するものであってもよい。   The X-ray tube apparatus 10 according to the first embodiment may include another form of the focus position correction unit. For example, the focus position correction unit may finely adjust the position of the focus F using an electric field.

電場を利用して焦点Fの位置を微調整する場合の変形例について説明する。図4は、当該変形例を示す模式図であり、ターゲット面35bに沿った方向から見た図である。   A modification in the case of finely adjusting the position of the focus F using an electric field will be described. FIG. 4 is a schematic view showing the modification, and is a view seen from the direction along the target surface 35b.

図4に示すように、X線管装置10は、焦点位置補正部としての一対の電極161,162と、偏向電源163と、偏向電源制御部164とをさらに備えている。   As shown in FIG. 4, the X-ray tube apparatus 10 further includes a pair of electrodes 161 and 162 as a focus position correction unit, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164.

電極161,162は、真空外囲器31の内部において、陰極36と集束電極37との間に配置される。電極161,162は、集束電極37よりも陰極36に近い空間に電場Eを発生させる。電極161,162は、この電場Eを第1方向d1に向かう電子ビームに作用させ、偏向角θが得られるよう、上記電子ビームを偏向させる。   The electrodes 161 and 162 are disposed between the cathode 36 and the focusing electrode 37 inside the vacuum envelope 31. The electrodes 161 and 162 generate an electric field E in a space closer to the cathode 36 than the focusing electrode 37. The electrodes 161 and 162 cause the electric field E to act on the electron beam traveling in the first direction d1, and deflect the electron beam so that the deflection angle θ is obtained.

偏向電源163は、電極161,162に電圧を印加するものである。偏向電源制御部164は、偏向電源163が電極161,162に印加する電圧を制御するものである。電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164は、焦点位置移動用の偏向電場発生ユニットを構成している。   The deflection power source 163 applies a voltage to the electrodes 161 and 162. The deflection power supply control unit 164 controls the voltage applied to the electrodes 161 and 162 by the deflection power supply 163. The electrodes 161 and 162, the deflection power source 163, and the deflection power source control unit 164 constitute a deflection electric field generating unit for moving the focal position.

偏向電源制御部164は、焦点Fが連続的又は間欠的に移動するよう偏向電源163が電極161,162に印加する電圧を制御することができる。電極161,162に制御された電圧が印加されることにより、陰極36から放出される電子ビームを第1平面S1に沿った方向に偏向させ、図3に示したように焦点Fの位置を第1平面S1に沿ったターゲット面35b上で移動させることができる。   The deflection power supply control unit 164 can control the voltage applied to the electrodes 161 and 162 by the deflection power supply 163 so that the focal point F moves continuously or intermittently. By applying a controlled voltage to the electrodes 161 and 162, the electron beam emitted from the cathode 36 is deflected in the direction along the first plane S1, and the position of the focal point F is changed to the first position as shown in FIG. It can be moved on the target surface 35b along one plane S1.

次に、第2の実施形態に係るX線管装置について説明する。第2の実施形態では、X線管装置の基本的な他の概念を説明する。第2の実施形態の概念は、第1の実施形態の概念に類似したものである。この実施形態において、上記第1の実施形態と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図5は、第2の実施形態に係るX線管装置10を示す模式図であり、ターゲット面35bに沿った方向から見た図である。   Next, an X-ray tube apparatus according to the second embodiment will be described. In the second embodiment, another basic concept of the X-ray tube apparatus will be described. The concept of the second embodiment is similar to the concept of the first embodiment. In this embodiment, the same functional parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. FIG. 5 is a schematic diagram showing the X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment, as viewed from the direction along the target surface 35b.

図5に示すように、X線管装置10は、X線管30と、高電圧電源15と、集束電源17と、第1磁気偏向部としての磁気偏向部110と、偏向電源115とを備えている。X線管装置10は、さらに高電圧電源16と、第2磁気偏向部としての磁気偏向部120と、偏向電源125と、冷却器(クーラーユニット)3と、冷却液7とを備えている。   As shown in FIG. 5, the X-ray tube device 10 includes an X-ray tube 30, a high voltage power supply 15, a focusing power supply 17, a magnetic deflection unit 110 as a first magnetic deflection unit, and a deflection power supply 115. ing. The X-ray tube apparatus 10 further includes a high voltage power source 16, a magnetic deflection unit 120 as a second magnetic deflection unit, a deflection power source 125, a cooler (cooler unit) 3, and a coolant 7.

陰極36には負の高電圧が印加されている。電子放出源36aには陰極36に印加される電圧(負の高電圧)及び電流が供給される。陰極カップ36bには、陰極36に印加される電圧(負の高電圧)の他、電子ビームを整形するための例えば10kV以下の電圧が印加されている。陰極カップ36bに与える電圧値を変更可能としてもよい。
陽極ターゲット35には正の高電圧が印加される。
A negative high voltage is applied to the cathode 36. A voltage (negative high voltage) and current applied to the cathode 36 are supplied to the electron emission source 36a. In addition to the voltage (negative high voltage) applied to the cathode 36, a voltage of, for example, 10 kV or less for shaping the electron beam is applied to the cathode cup 36b. The voltage value applied to the cathode cup 36b may be changeable.
A positive high voltage is applied to the anode target 35.

真空外囲器31は、真空容器32、X線放射窓33及び表面部34を有している。真空外囲器31の内部に磁場Ha及び後述する磁場Hbの作用を許可するため、真空容器32(真空外囲器31)は、銅、ステンレス、アルミニウム等の非磁性の金属、及びガラス、セラミクス等の絶縁物で形成されている。この実施形態において、真空容器32は銅で形成されている。真空容器32は側壁32a及び上壁32bを有している。
この実施形態において、第3方向d3(利用X線束の中心)はX線放射窓33の平面に垂直な方向である。
The vacuum envelope 31 has a vacuum vessel 32, an X-ray emission window 33, and a surface portion 34. In order to permit the action of the magnetic field Ha and the magnetic field Hb described later in the vacuum envelope 31, the vacuum vessel 32 (vacuum envelope 31) is made of nonmagnetic metal such as copper, stainless steel, aluminum, glass, ceramics, and the like. Etc. are formed of an insulator. In this embodiment, the vacuum vessel 32 is made of copper. The vacuum vessel 32 has a side wall 32a and an upper wall 32b.
In this embodiment, the third direction d3 (the center of the utilized X-ray flux) is a direction perpendicular to the plane of the X-ray radiation window 33.

表面部34は、X線放射窓33、側壁32a及び上壁32bを含む領域の真空側の表面を形成している。ここでは、表面部34は、金属で形成され接地されている。表面部34(上壁32b)はX線放射窓33から外れた反跳電子捕捉面34aを有している。真空容器32(真空外囲器31)、特に反跳電子捕捉面34aを形成する材料としては、熱伝導性に優れ、かつ比較的安価な銅又は銅合金が好適である。   The surface portion 34 forms a vacuum-side surface of a region including the X-ray radiation window 33, the side wall 32a, and the upper wall 32b. Here, the surface portion 34 is made of metal and grounded. The surface portion 34 (upper wall 32 b) has a recoil electron capturing surface 34 a that is out of the X-ray emission window 33. As a material for forming the vacuum vessel 32 (vacuum envelope 31), particularly the recoil electron capturing surface 34a, copper or a copper alloy which is excellent in thermal conductivity and relatively inexpensive is suitable.

磁気偏向部110は、集束電極37にて集束された電子ビームを偏向させ電子ビームの進行方向を第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化させる磁場(第1磁場)Haを陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくる。この実施形態において、磁気偏向部110は、磁場Haを陽極ターゲット35の表面(ターゲット面35b)に平行で、かつ第1平面S1に垂直となるようにつくる。   The magnetic deflection unit 110 deflects the electron beam focused by the focusing electrode 37 and applies a magnetic field (first magnetic field) Ha that continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction d1 to the second direction d2. And over the entire space between the anode target surface 35b. In this embodiment, the magnetic deflection unit 110 creates the magnetic field Ha so as to be parallel to the surface of the anode target 35 (target surface 35b) and perpendicular to the first plane S1.

角度αは、0°より大きく40°以下である(0°<α≦40°)。なお、この実施形態において、角度αは、第1方向d1の向き及び磁場Haの大きさに依存している。角度βは、特に限定されるものではないが、例えば、5°乃至25°の範囲内に設定されている。この実施形態において、角度αは20°であり、角度βは15°である。   The angle α is greater than 0 ° and not more than 40 ° (0 ° <α ≦ 40 °). In this embodiment, the angle α depends on the direction of the first direction d1 and the magnitude of the magnetic field Ha. The angle β is not particularly limited, but is set within a range of 5 ° to 25 °, for example. In this embodiment, the angle α is 20 ° and the angle β is 15 °.

磁気偏向部120は、真空外囲器31の外側に配置されている。磁気偏向部120は、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を偏向させX線放射窓33から外れた上壁32bの反跳電子捕捉面34aに衝撃させる磁場(第2磁場)Hbをつくる。   The magnetic deflection unit 120 is disposed outside the vacuum envelope 31. The magnetic deflector 120 deflects recoil electrons emitted from the focal point F toward the X-ray emission window 33 and causes the recoil electrons to be bombarded on the recoil electron capturing surface 34a of the upper wall 32b that is off the X-ray emission window 33 (first magnetic field). 2 magnetic fields) Hb is created.

磁気偏向部120は、図示しない2個の磁極と、磁極を接続したヨーク122と、ヨーク122に巻かれたコイル123とを有している。この実施形態において、磁気偏向部120は、電磁石を利用しているが、これに限定されるものではなく永久磁石を利用するものであってもよい。
偏向電源125は、磁気偏向部120のコイル123に電流を供給するものである。磁気偏向部120及び偏向電源125は、偏向磁場発生ユニットを形成している。磁気偏向部120は、磁場Hbにより反跳電子に作用するローレンツ力を利用するものである。
The magnetic deflection unit 120 has two magnetic poles (not shown), a yoke 122 connected to the magnetic poles, and a coil 123 wound around the yoke 122. In this embodiment, the magnetic deflection unit 120 uses an electromagnet, but is not limited to this, and may use a permanent magnet.
The deflection power source 125 supplies current to the coil 123 of the magnetic deflection unit 120. The magnetic deflection unit 120 and the deflection power source 125 form a deflection magnetic field generation unit. The magnetic deflection unit 120 uses Lorentz force acting on recoil electrons by the magnetic field Hb.

第1方向d1及び第2方向d2が下方を示すようにX線放射窓33側から磁場Ha及び磁場Hbに視点をおいた場合を仮定すると、磁気偏向部110は第1平面S1に垂直な左向きの磁場Haを電子ビームに作用させ、磁気偏向部120は第1平面S1に垂直な左向きの磁場Hbを反跳電子に作用させる。   Assuming that the viewpoint is placed on the magnetic field Ha and the magnetic field Hb from the X-ray radiation window 33 side so that the first direction d1 and the second direction d2 are downward, the magnetic deflection unit 110 is directed to the left perpendicular to the first plane S1. The magnetic deflector 120 causes a leftward magnetic field Hb perpendicular to the first plane S1 to act on recoil electrons.

高電圧電源15、16は、陰極36及び陽極ターゲット35間に高電圧を供給するためのものである。この実施形態において、高電圧電源15は陽極ターゲット35に高電圧(正の高電圧)を供給し、高電圧電源16は陰極36に高電圧(負の高電圧)を供給する。   The high voltage power supplies 15 and 16 are for supplying a high voltage between the cathode 36 and the anode target 35. In this embodiment, the high voltage power supply 15 supplies a high voltage (positive high voltage) to the anode target 35, and the high voltage power supply 16 supplies a high voltage (negative high voltage) to the cathode 36.

冷却液7は、反跳電子捕捉面34aに重なった上壁32bの外面に位置した冷却路を流れる。冷却液7には、上壁32bに発生する熱の少なくとも一部が伝達される。この実施形態において、上壁32bを壁の一部とする熱伝導性に優れた容器130が取り付けられ、冷却路は容器130の内部に形成されている。   The coolant 7 flows through a cooling path located on the outer surface of the upper wall 32b that overlaps the recoil electron capturing surface 34a. At least a part of the heat generated in the upper wall 32 b is transmitted to the cooling liquid 7. In this embodiment, a container 130 having excellent thermal conductivity is attached with the upper wall 32b as a part of the wall, and the cooling path is formed inside the container 130.

冷却器3は、ホースなどの導管を介して容器130に連通されている。冷却器3は、容器130内の冷却液7を放熱及び循環させるものである。冷却器3は、ポンプ4及び熱交換器5を有している。ポンプ4は、容器130側から取り入れた冷却液7を熱交換器5に吐出し、容器130内の冷却液7を循環させる。熱交換器5は、供給される冷却液7を冷却する。   The cooler 3 communicates with the container 130 through a conduit such as a hose. The cooler 3 radiates and circulates the coolant 7 in the container 130. The cooler 3 has a pump 4 and a heat exchanger 5. The pump 4 discharges the coolant 7 taken from the container 130 side to the heat exchanger 5 and circulates the coolant 7 in the container 130. The heat exchanger 5 cools the supplied coolant 7.

反跳電子が反跳電子捕捉面34aを衝撃することにより、上壁32b(反跳電子捕捉面34a)に熱が発生するが、上壁32bに発生する熱の少なくとも一部は冷却液7に伝達され、冷却液7を介してX線管30の外部へ放出される。このため、真空容器32の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   When recoil electrons bombard the recoil electron capture surface 34a, heat is generated on the upper wall 32b (recoil electron capture surface 34a). At least a part of the heat generated on the upper wall 32b is transferred to the coolant 7. It is transmitted and discharged to the outside of the X-ray tube 30 through the coolant 7. For this reason, it is possible to prevent the vacuum container 32 from being damaged, and thus to prevent the vacuum envelope 31 from being broken.

この実施形態において、高電圧電源15は陽極ターゲット35に+V/2の電圧を供給し、高電圧電源16は陰極36に−V/2の電圧を供給している。X線放射窓33を含む真空外囲器31の表面部34は接地されている(0V)。   In this embodiment, the high voltage power supply 15 supplies a voltage of + V / 2 to the anode target 35, and the high voltage power supply 16 supplies a voltage of −V / 2 to the cathode 36. The surface portion 34 of the vacuum envelope 31 including the X-ray emission window 33 is grounded (0 V).

このように構成されたX線管30では、例えば、陽極ターゲット35に正の高電圧を印加し、陰極36に負の高電圧を印加する。真空外囲器31の表面部34は接地されている。陰極36の電子放出源36aには、電流が与えられる。集束電極37には、陰極36に印加される負の高電圧(−V/2)よりも大きく、かつ陽極ターゲット35に印加される正の高電圧(+V/2)よりも小さい集束電圧が印加される。   In the X-ray tube 30 configured as described above, for example, a positive high voltage is applied to the anode target 35 and a negative high voltage is applied to the cathode 36. The surface portion 34 of the vacuum envelope 31 is grounded. An electric current is applied to the electron emission source 36a of the cathode 36. A focusing voltage that is greater than the negative high voltage (−V / 2) applied to the cathode 36 and smaller than the positive high voltage (+ V / 2) applied to the anode target 35 is applied to the focusing electrode 37. Is done.

これにより陰極36から放出される電子ビームは、集束電極37により集束された後に磁気偏向部110により連続的に偏向され、陽極ターゲット35のターゲット面35bに入射される。そして、ターゲット面35bに形成される焦点FからX線が放射され、X線はX線放射窓33を透過して外部へ放射される。焦点Fから放出される反跳電子は、磁気偏向部120により連続的に偏向され、反跳電子捕捉面34aに衝撃される。   As a result, the electron beam emitted from the cathode 36 is focused by the focusing electrode 37, continuously deflected by the magnetic deflection unit 110, and incident on the target surface 35 b of the anode target 35. Then, X-rays are emitted from the focal point F formed on the target surface 35b, and the X-rays are transmitted to the outside through the X-ray emission window 33. Recoil electrons emitted from the focal point F are continuously deflected by the magnetic deflection unit 120 and are struck by the recoil electron capturing surface 34a.

上記のように構成された第2の実施形態に係るX線管装置10は、X線管30と、磁気偏向部110と、磁気偏向部120と、冷却器3と、冷却液7とを備えている。X線管30は、陽極ターゲット35と、陰極36と、集束電極37と、真空外囲器31とを備えている。陽極ターゲット35は正の高電位に設定され、陰極36は負の高電位に設定され、X線放射窓33を含む真空外囲器31は接地されている。集束電極37は上記負の高電位よりも大きく、かつ上記正の高電位よりも小さい電位に設定される。   The X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment configured as described above includes an X-ray tube 30, a magnetic deflection unit 110, a magnetic deflection unit 120, a cooler 3, and a coolant 7. ing. The X-ray tube 30 includes an anode target 35, a cathode 36, a focusing electrode 37, and a vacuum envelope 31. The anode target 35 is set to a positive high potential, the cathode 36 is set to a negative high potential, and the vacuum envelope 31 including the X-ray emission window 33 is grounded. The focusing electrode 37 is set to a potential larger than the negative high potential and smaller than the positive high potential.

電子ビームには、磁気偏向部110によりターゲット面35bに平行で、かつ第1平面S1に垂直となる磁場Haを作用させることができる。しかも、磁場Haは、陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくることができる。これにより、角度αを20°とし、第2方向d2から電子ビームをターゲット面35bに入射させることができる。   A magnetic field Ha parallel to the target surface 35b and perpendicular to the first plane S1 can be applied to the electron beam by the magnetic deflection unit 110. Moreover, the magnetic field Ha can be generated over the entire space between the cathode 36 and the anode target surface 35b. Thereby, the angle α is set to 20 °, and the electron beam can be incident on the target surface 35b from the second direction d2.

電子放出源36aからの電子ビームは、磁場Haに突入する前に、集束電極37の作用によってその向きが揃えられる。したがって、ほぼ全ての電子の軌道が実質的に同一のトコロイド曲線を磁場Haへの突入位置分だけ平行にずらしたものとなる。これにより、焦点Fの形状の歪みや焦点Fの電子密度分布の不均一性を小さくすることが可能となる。   The direction of the electron beam from the electron emission source 36a is aligned by the action of the focusing electrode 37 before entering the magnetic field Ha. Therefore, substantially the same trajectory of all electrons is shifted in parallel by the amount corresponding to the entry position to the magnetic field Ha. Thereby, it becomes possible to reduce the distortion of the shape of the focus F and the non-uniformity of the electron density distribution of the focus F.

中性点接地管(真空外囲器31が接地され、陰極36に−V/2の電圧が印加され、陽極ターゲット35に+V/2の電圧が印加されるX線管30)であっても、ターゲット面35bに対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させて焦点Fを形成させることができるため、X線放射窓33から放出されるX線出力を増大させることができる。   Even a neutral point grounding tube (X-ray tube 30 in which the vacuum envelope 31 is grounded, a voltage of −V / 2 is applied to the cathode 36, and a voltage of + V / 2 is applied to the anode target 35) Since the focal point F can be formed by making the electron beam incident on the target surface 35b at a relatively shallow angle, the X-ray output emitted from the X-ray emission window 33 can be increased.

第2方向d2と、第3方向d3とは同一の第1平面S1に沿った方向である。このため、X線放射窓33から放出されるX線出力を一層増大させることができる。   The second direction d2 and the third direction d3 are directions along the same first plane S1. For this reason, the X-ray output emitted from the X-ray radiation window 33 can be further increased.

反跳電子は、入射電子があたかもターゲット面35bで鏡面反射する方向に最も多く散乱することから、焦点FからX線放射窓33に向かう方向に多くなるような角度分布をもって飛び出すことになる。ターゲット面35bの上方への反跳電子の散乱を低減できるため、焦点F近傍を含むターゲット面35bへの反跳電子の再衝突を抑制することができる。これにより、ターゲット面35b(焦点F)の温度上昇や、ターゲット面35bに引き起こされる荒れを抑制でき、放電の発生やX線の出力低下を抑制することができる。さらに、焦点F以外からのX線の放射を抑制できるため、X線画像の明瞭度の低下を抑制することができる。上記の効果は、角度αが0°より大きく40°以下の範囲内の何れかである場合(0°<α≦40°)に得ることができる。
上記の効果をより高めるためには、角度αが5°より大きく30°以下の範囲内の何れかである(5°<α≦30°)ことがより好ましい。
The recoil electrons are scattered with the angular distribution that increases in the direction from the focal point F toward the X-ray radiation window 33 because the incident electrons are most scattered in the direction of specular reflection at the target surface 35b. Since scattering of recoil electrons above the target surface 35b can be reduced, recoil electrons recoil on the target surface 35b including the vicinity of the focal point F can be suppressed. Thereby, the temperature rise of the target surface 35b (focal point F) and the roughness caused by the target surface 35b can be suppressed, and the occurrence of discharge and the decrease in the output of X-rays can be suppressed. Furthermore, since the emission of X-rays from other than the focal point F can be suppressed, it is possible to suppress a decrease in the clarity of the X-ray image. The above-described effect can be obtained when the angle α is in the range of 0 ° to 40 ° (0 ° <α ≦ 40 °).
In order to further enhance the above effect, it is more preferable that the angle α is in the range of more than 5 ° and 30 ° or less (5 ° <α ≦ 30 °).

X線放射窓33は、反跳電子が多く散乱する側に位置している。しかも、陰極36は負の高電位に設定され、表面部34(X線放射窓33)は接地電位に設定されている。しかしながら、磁気偏向部120による磁場Hbの作用により、反跳電子を偏向させ、反跳電子を反跳電子捕捉面34aに衝撃させることができる。   The X-ray emission window 33 is located on the side where many recoil electrons are scattered. Moreover, the cathode 36 is set to a negative high potential, and the surface portion 34 (X-ray emission window 33) is set to the ground potential. However, the recoil electrons can be deflected by the action of the magnetic field Hb by the magnetic deflector 120, and the recoil electrons can be bombarded on the recoil electron capture surface 34a.

これにより、X線放射窓33への反跳電子の直撃を低減することができ、X線放射窓33の加熱を抑制することができる。X線放射窓33の温度上昇を低減することができる。そして、X線放射窓33の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   Thereby, the direct hit of the recoil electron to the X-ray radiation window 33 can be reduced, and the heating of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. The temperature rise of the X-ray radiation window 33 can be reduced. Further, the X-ray radiation window 33 can be prevented from being damaged, and thus the vacuum envelope 31 can be prevented from being broken.

反跳電子が反跳電子捕捉面34aを衝撃することにより、上壁32b(反跳電子捕捉面34a)に熱が発生するが、上壁32bに発生する熱の少なくとも一部を冷却液7に伝達することができる。このため、真空容器32の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   When recoil electrons bombard the recoil electron capture surface 34a, heat is generated on the upper wall 32b (recoil electron capture surface 34a). At least part of the heat generated on the upper wall 32b is transferred to the coolant 7. Can communicate. For this reason, it is possible to prevent the vacuum container 32 from being damaged, and thus to prevent the vacuum envelope 31 from being broken.

なお、磁場Haは管電圧Vに応じて値を設定する必要がある。管電圧を変える場合には、それに応じて磁場Haの値を変更する。また、磁場Hbも管電圧Vに応じて値を設定することが好ましい。管電圧を変える場合には、それに応じて磁場Hbの値を変更することが好ましい。   The magnetic field Ha needs to be set according to the tube voltage V. When changing the tube voltage, the value of the magnetic field Ha is changed accordingly. The magnetic field Hb is also preferably set according to the tube voltage V. When changing the tube voltage, it is preferable to change the value of the magnetic field Hb accordingly.

上記のことから、X線管30が中性点接地方式である場合においてもターゲット面35bに対する電子ビームの不所望な偏向を抑制しX線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置を得ることができる。   From the above, even when the X-ray tube 30 is of a neutral point grounding method, undesired deflection of the electron beam with respect to the target surface 35 b can be suppressed and the X-ray output can be increased. It is possible to obtain an X-ray tube apparatus that can suppress direct hit of recoil electrons.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them.

次に、上記第2の実施形態に係るX線管装置10の変形例について説明する。図6は、上記第2の実施形態に係るX線管装置10の変形例を示す模式図であり、ターゲット面35bに沿った方向から見た図である。   Next, a modification of the X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment will be described. FIG. 6 is a schematic view showing a modification of the X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment, and is a view seen from a direction along the target surface 35b.

図6に示すように、当該変形例に係るX線管装置10においては、集束電極37が真空外囲器31の表面部34に接続されている。すなわち、集束電極37は、表面部34と同じく接地されている。当該変形例に係るX線管装置10は、集束電源17を備えない。集束電極37が接地されているため、集束電極37に印加される集束電圧は、陰極36に印加される負の高電圧よりも大きく、かつ陽極ターゲット35に印加される正の高電圧よりも小さくなる。このような構成においても、集束電極37は電子ビームを集束させることができる。   As shown in FIG. 6, in the X-ray tube apparatus 10 according to the modification, the focusing electrode 37 is connected to the surface portion 34 of the vacuum envelope 31. That is, the focusing electrode 37 is grounded in the same manner as the surface portion 34. The X-ray tube apparatus 10 according to the modification does not include the focusing power source 17. Since the focusing electrode 37 is grounded, the focusing voltage applied to the focusing electrode 37 is larger than the negative high voltage applied to the cathode 36 and smaller than the positive high voltage applied to the anode target 35. Become. Even in such a configuration, the focusing electrode 37 can focus the electron beam.

第2の実施形態及び上記変形例に係るX線管装置10は、偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106を有した偏向磁場発生ユニットを備えていてもよい。また、第2の実施形態及び上記変形例に係るX線管装置10は、電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164を有した偏向電場発生ユニットを備えていてもよい。これらの場合、焦点Fの位置を補正することができる。   The X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment and the above modification may include a deflection magnetic field generation unit having a deflection unit 100, a deflection power source 105, and a deflection power source control unit 106. In addition, the X-ray tube apparatus 10 according to the second embodiment and the modified example may include a deflection electric field generation unit having electrodes 161 and 162, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164. In these cases, the position of the focal point F can be corrected.

次に、第3の実施形態に係るX線管装置について説明する。第3の実施形態では、X線管装置の基本的な他の概念を説明する。第3の実施形態の概念は、第2の実施形態の概念に類似したものである。この実施形態において、上記第1及び第2の実施形態と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図7は、第3の実施形態に係るX線管装置10を示す模式図であり、ターゲット面35bに沿った方向から見た図である。   Next, an X-ray tube apparatus according to a third embodiment will be described. In the third embodiment, another basic concept of the X-ray tube apparatus will be described. The concept of the third embodiment is similar to the concept of the second embodiment. In this embodiment, the same reference numerals are given to the same functional parts as those in the first and second embodiments, and detailed description thereof will be omitted. FIG. 7 is a schematic view showing the X-ray tube apparatus 10 according to the third embodiment, as seen from the direction along the target surface 35b.

図7に示すように、X線管装置10は、高電圧電源15無しに形成されている以外、図5を用いて説明した上記第2実施形態に係るX線管装置と同様に形成されている。X線管30は、陽極接地管(陽極ターゲット35が接地されるX線管)である。   As shown in FIG. 7, the X-ray tube device 10 is formed in the same manner as the X-ray tube device according to the second embodiment described with reference to FIG. 5 except that the X-ray tube device 10 is formed without the high voltage power supply 15. Yes. The X-ray tube 30 is an anode ground tube (an X-ray tube to which the anode target 35 is grounded).

高電圧電源16は、陰極36及び陽極ターゲット35間に高電圧を供給するためのものである。この実施形態において、高電圧電源16は陰極36に高電圧(負の高電圧)を供給する。陽極ターゲット35及び真空外囲器31(表面部34)は接地(接地電位に設定)されている。この実施形態において、高電圧電源16は陰極36に−Vの電圧を供給している。陽極ターゲット35及び真空外囲器31の表面部34は接地されている(0V)。   The high voltage power supply 16 is for supplying a high voltage between the cathode 36 and the anode target 35. In this embodiment, the high voltage power supply 16 supplies a high voltage (negative high voltage) to the cathode 36. The anode target 35 and the vacuum envelope 31 (surface portion 34) are grounded (set to the ground potential). In this embodiment, the high voltage power supply 16 supplies a voltage of −V to the cathode 36. The anode target 35 and the surface portion 34 of the vacuum envelope 31 are grounded (0 V).

このように構成されたX線管30では、例えば、陰極36に負の高電圧を印加する。陽極ターゲット35及び真空外囲器31の表面部34は接地されている。陰極36の電子放出源36aには、電流が与えられる。集束電極37には、陰極36に印加される負の高電圧(−V)よりも大きく、かつ陽極ターゲット35に印加される電圧(0V)よりも小さい集束電圧が印加される。   In the X-ray tube 30 configured as described above, for example, a negative high voltage is applied to the cathode 36. The anode target 35 and the surface portion 34 of the vacuum envelope 31 are grounded. An electric current is applied to the electron emission source 36a of the cathode 36. A focusing voltage that is larger than the negative high voltage (−V) applied to the cathode 36 and smaller than the voltage (0 V) applied to the anode target 35 is applied to the focusing electrode 37.

これにより陰極36から放出される電子ビームは、集束電極37により集束された後に磁気偏向部110により連続的に偏向され、陽極ターゲット35のターゲット面35bに入射される。そして、ターゲット面35bに形成される焦点FからX線が放射され、X線はX線放射窓33を透過して外部へ放射される。焦点Fから放出される反跳電子は、磁気偏向部120により連続的に偏向され、反跳電子捕捉面34aに衝撃される。   As a result, the electron beam emitted from the cathode 36 is focused by the focusing electrode 37, continuously deflected by the magnetic deflection unit 110, and incident on the target surface 35 b of the anode target 35. Then, X-rays are emitted from the focal point F formed on the target surface 35b, and the X-rays are transmitted to the outside through the X-ray emission window 33. Recoil electrons emitted from the focal point F are continuously deflected by the magnetic deflection unit 120 and are struck by the recoil electron capturing surface 34a.

上記のように構成された第3の実施形態に係るX線管装置10は、高電圧電源15無しに形成されている以外、上記第2実施形態に係るX線管装置と同様に形成されているため、上記第2実施形態と同様の効果を得ることができる。特に、X線放射窓33への反跳電子の直撃を低減する効果を得ることができる。なお、磁場Haは管電圧Vに応じて値を設定する必要がある。管電圧を変える場合には、それに応じて磁場Haの値を変更する。また、磁場Hbも管電圧Vに応じて値を設定することが好ましい。管電圧を変える場合には、それに応じて磁場Hbの値を変更することが好ましい。   The X-ray tube apparatus 10 according to the third embodiment configured as described above is formed in the same manner as the X-ray tube apparatus according to the second embodiment except that the X-ray tube apparatus 10 is formed without the high voltage power supply 15. Therefore, the same effect as the second embodiment can be obtained. In particular, the effect of reducing the direct hit of recoil electrons on the X-ray emission window 33 can be obtained. The magnetic field Ha needs to be set according to the tube voltage V. When changing the tube voltage, the value of the magnetic field Ha is changed accordingly. The magnetic field Hb is also preferably set according to the tube voltage V. When changing the tube voltage, it is preferable to change the value of the magnetic field Hb accordingly.

上記のことから、X線管30が陽極接地方式である場合においても、第1および第2の実施形態と同様にして、ターゲット面35bに対して浅い角度で電子ビームを入射させることにより、X線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置を得ることができる。   From the above, even when the X-ray tube 30 is of the anode grounding method, the X-ray tube 30 is irradiated with an electron beam at a shallow angle with respect to the target surface 35b as in the first and second embodiments. An X-ray tube device can be obtained in which the line output can be increased and the direct hit of recoil electrons to the X-ray emission window 33 can be suppressed.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them.

また、電子放出源36aからの電子ビームは、磁場Haに突入する前に、集束電極37の作用によってその向きが揃えられる。したがって、ほぼ全ての電子の軌道が実質的に同一のトコロイド様曲線を磁場Haへの突入位置分だけ平行にずらしたものとなる。これにより、焦点Fの形状の歪みや焦点Fの電子密度分布の不均一性を小さくすることが可能となる。   Also, the direction of the electron beam from the electron emission source 36a is aligned by the action of the focusing electrode 37 before entering the magnetic field Ha. Therefore, substantially the same orbits of almost all electrons are shifted in parallel by the amount corresponding to the entry position to the magnetic field Ha. Thereby, it becomes possible to reduce the distortion of the shape of the focus F and the non-uniformity of the electron density distribution of the focus F.

上記第3の実施形態に係るX線管装置10は、偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106を有した偏向磁場発生ユニットを備えていてもよい。また、上記第3の実施形態に係るX線管装置10は、電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164を有した偏向電場発生ユニットを備えていてもよい。これらの場合、焦点Fの位置を補正することができる。   The X-ray tube apparatus 10 according to the third embodiment may include a deflection magnetic field generation unit having a deflection unit 100, a deflection power source 105, and a deflection power source control unit 106. In addition, the X-ray tube apparatus 10 according to the third embodiment may include a deflection electric field generation unit having electrodes 161 and 162, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164. In these cases, the position of the focal point F can be corrected.

次に、第4の実施形態に係るX線管装置について説明する。この実施形態において、上記第1の実施形態と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。ここで、本実施形態に係るX線管装置は、上記第1の実施形態に係るX線管装置の実施例に相当する。   Next, an X-ray tube apparatus according to a fourth embodiment will be described. In this embodiment, the same functional parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. Here, the X-ray tube apparatus according to the present embodiment corresponds to an example of the X-ray tube apparatus according to the first embodiment.

図8は、第4の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。図9は、図8の線IX−IXに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。図10は、上記第4の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。   FIG. 8 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the fourth embodiment. FIG. 9 is a cross-sectional view of the X-ray tube apparatus taken along line IX-IX in FIG. 8, and includes a part of the front view of the X-ray tube apparatus. FIG. 10 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the fourth embodiment, and shows a magnetic deflection unit.

図8、図9及び図10に示すように、X線管装置10は、ハウジング20と、ハウジング20内に収納されたX線管30と、X線管30とハウジング20との間の空間に充填された冷却液6と、回転駆動装置としてのステータコイル910と、磁気偏向部110とを備えている。図示しないが、X線管装置10は、上記高電圧電源15と、集束電源17と、偏向電源115とをさらに備えている。   As shown in FIGS. 8, 9, and 10, the X-ray tube device 10 includes a housing 20, an X-ray tube 30 accommodated in the housing 20, and a space between the X-ray tube 30 and the housing 20. A filled coolant 6, a stator coil 910 as a rotation drive device, and a magnetic deflection unit 110 are provided. Although not shown, the X-ray tube apparatus 10 further includes the high voltage power supply 15, the focusing power supply 17, and the deflection power supply 115.

ハウジング20は、ハウジング本体20aと、蓋部20bとを有している。ハウジング本体20aの開口端の内縁側は、蓋部20bに対向し接触している。ハウジング本体20a及び蓋部20bは、図示しない締め具により締め付けられている。ハウジング本体20a及び蓋部20b間の隙間は、図示しないOリングにより液密にシールされている。上記Oリングは、ハウジング20外部への冷却液6の漏れを防止する機能を有している。   The housing 20 has a housing body 20a and a lid portion 20b. The inner edge side of the open end of the housing main body 20a is opposed to and in contact with the lid portion 20b. The housing main body 20a and the lid portion 20b are tightened by a fastener (not shown). The gap between the housing body 20a and the lid 20b is liquid-tightly sealed by an O-ring (not shown). The O-ring has a function of preventing leakage of the coolant 6 to the outside of the housing 20.

ハウジング20には、ゴムベローズ(ゴム膜)21が設けられ、冷却液6の圧力調整が行われている。この実施形態において、ゴムベローズ21は蓋部20bに設けられている。ハウジング20は、X線を透過しハウジング20外部に放射するX線放射窓24を有している。   The housing 20 is provided with a rubber bellows (rubber film) 21 to adjust the pressure of the coolant 6. In this embodiment, the rubber bellows 21 is provided on the lid portion 20b. The housing 20 has an X-ray emission window 24 that transmits X-rays and emits the X-rays to the outside.

X線管30は、真空外囲器31を備えている。真空外囲器31は、非磁性の金属で形成された真空容器32と、高電圧絶縁部材40と、絶縁部材38とを備えている。高電圧絶縁部材40には陽極ターゲット35が間接的に取り付けられ、絶縁部材38には陰極36が間接的に取り付けられている。   The X-ray tube 30 includes a vacuum envelope 31. The vacuum envelope 31 includes a vacuum container 32 made of a nonmagnetic metal, a high voltage insulating member 40, and an insulating member 38. An anode target 35 is indirectly attached to the high voltage insulating member 40, and a cathode 36 is indirectly attached to the insulating member 38.

陰極36には集束電極37が間接的に取り付けられている。図11は、集束電極37の取り付け態様の一例を示す断面図である。陰極36は、電子放出源36aと、陽極ターゲット35側を開放して電子放出源36aを収容する陰極カップ36bとを備えている。集束電極37は、絶縁部材51を介して陰極カップ36bに取り付けられている。絶縁部材51は、例えばセラミックなどの絶縁性の材料を環状に形成したものである。   A focusing electrode 37 is indirectly attached to the cathode 36. FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating an example of an attachment mode of the focusing electrode 37. The cathode 36 includes an electron emission source 36a and a cathode cup 36b that opens the anode target 35 side and accommodates the electron emission source 36a. The focusing electrode 37 is attached to the cathode cup 36 b via the insulating member 51. The insulating member 51 is formed by annularly forming an insulating material such as ceramic.

陽極ターゲット35、陰極36及び集束電極37は、真空外囲器31に収納されている。真空外囲器31の内部は真空状態である。X線放射窓33は、真空容器32(側壁32a)に気密に設けられている。表面部34は、真空側のX線放射窓33の表面側を含む真空容器32の内側に設けられ、陰極36と実質上同電位に設定されている。   The anode target 35, the cathode 36 and the focusing electrode 37 are accommodated in the vacuum envelope 31. The inside of the vacuum envelope 31 is in a vacuum state. The X-ray radiation window 33 is airtightly provided in the vacuum vessel 32 (side wall 32a). The surface portion 34 is provided inside the vacuum vessel 32 including the surface side of the X-ray emission window 33 on the vacuum side, and is set to substantially the same potential as the cathode 36.

陽極ターゲット35は、円環状に形成されている。陽極ターゲット35は、この陽極ターゲットの外面の一部に設けられたターゲット層35aを有している。ターゲット層35aには、第2方向d2から電子ビームが入射されることにより第3方向d3に利用X線束を放出する焦点Fが形成される(図1)。ターゲット層35aは、モリブデン、モリブデン合金、タングステン合金等の金属で形成されている。陽極ターゲット35は、管軸を中心に回転可能である。陽極ターゲット35には正の高電圧が印加される。   The anode target 35 is formed in an annular shape. The anode target 35 has a target layer 35a provided on a part of the outer surface of the anode target. The target layer 35a is formed with a focal point F that emits a utilization X-ray flux in the third direction d3 when an electron beam is incident from the second direction d2 (FIG. 1). The target layer 35a is formed of a metal such as molybdenum, a molybdenum alloy, or a tungsten alloy. The anode target 35 can rotate around the tube axis. A positive high voltage is applied to the anode target 35.

陰極36には電圧供給端子54が接続されている。電圧供給端子54は、陰極36を接地電位に設定する。また、電圧供給端子54は、集束電源17に接続されており、集束電極37に例えば数kVの正の電圧を印加する。   A voltage supply terminal 54 is connected to the cathode 36. The voltage supply terminal 54 sets the cathode 36 to the ground potential. The voltage supply terminal 54 is connected to the focusing power supply 17 and applies a positive voltage of, for example, several kV to the focusing electrode 37.

X線管30は、ロータ920、軸受け930、固定軸1及び回転体2を備えている。固定軸1は円柱状に形成され、高電圧絶縁部材40に固定されている。固定軸1は回転体2を回転可能に支持する。回転体2は筒状に形成され、固定軸1と同軸的に設けられている。回転体2の外面にロータ920が取り付けられている。回転体2及び陽極ターゲット35は、接続部35cを介して接合されている。回転体2は、陽極ターゲット35とともに回転可能に設けられている。   The X-ray tube 30 includes a rotor 920, a bearing 930, a fixed shaft 1, and a rotating body 2. The fixed shaft 1 is formed in a cylindrical shape and is fixed to the high voltage insulating member 40. The fixed shaft 1 supports the rotating body 2 to be rotatable. The rotating body 2 is formed in a cylindrical shape and is provided coaxially with the fixed shaft 1. A rotor 920 is attached to the outer surface of the rotating body 2. The rotating body 2 and the anode target 35 are joined via the connection part 35c. The rotating body 2 is provided so as to be rotatable together with the anode target 35.

高電圧絶縁部材40は、真空外囲器31の一部を形成している。高電圧絶縁部材40は、筒部46と、筒部46の一端側を閉塞した底部47とで形成されている。高電圧絶縁部材40は、ハウジング20の外部に露出した外部端面41を有している。この実施の形態において、外部端面41は平面である。   The high voltage insulating member 40 forms a part of the vacuum envelope 31. The high voltage insulating member 40 is formed by a cylindrical portion 46 and a bottom portion 47 that closes one end side of the cylindrical portion 46. The high voltage insulating member 40 has an external end face 41 exposed to the outside of the housing 20. In this embodiment, the outer end surface 41 is a flat surface.

外部端面41上には、電圧供給端子44が設けられている。電圧供給端子44は固定軸1に接続されている。この実施の形態において、電圧供給端子44は高電圧供給端子である。電圧供給端子44は、固定軸1等を介して陽極ターゲット35に高電圧を供給するものである。
支持部材25は、円環状に形成されている。支持部材25は、高電圧絶縁部材40をハウジング20に対し液密に支持するものである。
A voltage supply terminal 44 is provided on the external end face 41. The voltage supply terminal 44 is connected to the fixed shaft 1. In this embodiment, the voltage supply terminal 44 is a high voltage supply terminal. The voltage supply terminal 44 supplies a high voltage to the anode target 35 via the fixed shaft 1 or the like.
The support member 25 is formed in an annular shape. The support member 25 supports the high-voltage insulating member 40 in a liquid-tight manner with respect to the housing 20.

絶縁部材38は、真空外囲器31の一部を形成している。電圧供給端子54は、絶縁部材38を貫通して設けられている。真空外囲器31の外部に露出した電圧供給端子54は、モールド絶縁部39で覆われている。モールド絶縁部39は、ゴム材等のモールド絶縁材で形成されている。このため、電圧供給端子54は、防水が施され、電気的に絶縁されている。電圧供給端子54は低膨張合金であるKOV部材55で支持されている。KOV部材55及び陰極36間、並びにKOV部材55及び絶縁部材38間は、ろう付けされている。   The insulating member 38 forms a part of the vacuum envelope 31. The voltage supply terminal 54 is provided through the insulating member 38. The voltage supply terminal 54 exposed to the outside of the vacuum envelope 31 is covered with a mold insulating part 39. The mold insulating part 39 is formed of a mold insulating material such as a rubber material. For this reason, the voltage supply terminal 54 is waterproofed and electrically insulated. The voltage supply terminal 54 is supported by a KOV member 55 that is a low expansion alloy. Between the KOV member 55 and the cathode 36, and between the KOV member 55 and the insulating member 38 are brazed.

高電圧コネクタ300は、有底筒状のハウジング301と、ハウジング301内にその先端が挿入されたケーブル302と、ハウジング301内に充填され、ケーブル302の端子302aをハウジング301の開口部側に向けて固定するエポキシ樹脂材製の固定部303と、この固定部303と底部47の外部端面41との間に挿入されたシリコーン樹脂材製のシリコーンプレート304とを備えている。この実施の形態において、ケーブル302は、高電圧ケーブルである。固定部303は、電気絶縁材である。   The high-voltage connector 300 includes a bottomed cylindrical housing 301, a cable 302 having a distal end inserted into the housing 301, and the housing 301 filled with the terminal 302a of the cable 302 facing the opening side of the housing 301. And a fixing portion 303 made of an epoxy resin material and a silicone plate 304 made of a silicone resin material inserted between the fixing portion 303 and the outer end face 41 of the bottom portion 47. In this embodiment, the cable 302 is a high voltage cable. The fixing part 303 is an electrical insulating material.

この実施の形態において、高電圧コネクタ300の電気絶縁材としての固定部303は、底部47の外部端面41に間接的に密着されている。なお、固定部303は、外部端面41に直接密着されていても良い。高電圧コネクタ300は、電圧供給端子44に高電圧を与えるものである。   In this embodiment, the fixing portion 303 as an electrical insulating material of the high voltage connector 300 is in intimate contact with the external end surface 41 of the bottom portion 47. Note that the fixing portion 303 may be in direct contact with the outer end surface 41. The high voltage connector 300 applies a high voltage to the voltage supply terminal 44.

このように構成されたX線管装置10は、次のように用いられる。高電圧コネクタ300をハウジング20に取り付ける際に、シリコーンプレート304が、それぞれ固定部303と、高電圧絶縁部材40の外部端面41とに密着するように押圧する。この実施形態において、陽極ターゲット35自体がX線を遮蔽することができるため、高電圧コネクタ300はX線遮蔽キャップ(X線遮蔽部)で覆われていない。   The X-ray tube apparatus 10 configured as described above is used as follows. When the high voltage connector 300 is attached to the housing 20, the silicone plate 304 is pressed so as to be in close contact with the fixing portion 303 and the external end surface 41 of the high voltage insulating member 40. In this embodiment, since the anode target 35 itself can shield X-rays, the high-voltage connector 300 is not covered with an X-ray shielding cap (X-ray shielding part).

一方、ケーブル202は電圧供給端子54に接続されている。ケーブル202はハウジング20の外部に引き出されている。   On the other hand, the cable 202 is connected to the voltage supply terminal 54. The cable 202 is drawn out of the housing 20.

冷却液6は、X線管30とハウジング20との間の空間に充填されている。冷却液6としては、絶縁油又は水系冷却液を用いることができる。この実施の形態において、冷却液6として水系冷却液を用いている。   The cooling liquid 6 is filled in a space between the X-ray tube 30 and the housing 20. As the coolant 6, insulating oil or water-based coolant can be used. In this embodiment, an aqueous coolant is used as the coolant 6.

図10に示すように、磁気偏向部110は、真空外囲器31の外側に配置されている。磁気偏向部110は、電子ビームを偏向させ電子ビームの進行方向を第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化させる磁場Haを陽極ターゲット35の表面の近傍の空間につくる(図1)。   As shown in FIG. 10, the magnetic deflection unit 110 is disposed outside the vacuum envelope 31. The magnetic deflection unit 110 creates a magnetic field Ha that deflects the electron beam and continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction d1 to the second direction d2 in a space near the surface of the anode target 35 (FIG. 1). .

磁気偏向部110は、2個の磁極111と、磁極を接続したヨーク112と、ヨーク112に巻かれたコイル113とを有している。この実施形態において、磁気偏向部110は、電磁石を利用しているが、これに限定されるものではなく永久磁石を利用するものであってもよい。   The magnetic deflection unit 110 includes two magnetic poles 111, a yoke 112 that connects the magnetic poles, and a coil 113 that is wound around the yoke 112. In this embodiment, the magnetic deflection unit 110 uses an electromagnet, but is not limited thereto, and may use a permanent magnet.

磁極111は、真空外囲器31(陽極ターゲット35)と対向した側にテーパ面を有している。第1方向d1及び第2方向d2が下方を示し第3方向d3が上方を示すようにX線放射窓33側から磁気偏向部110に視点をおいた場合を仮定すると、左側の磁極111のテーパ面は右上がりであり、右側の磁極111のテーパ面は右下がりである。磁気偏向部110のコイル113には、図示しない偏向電源115から電流が与えられる(図1)。   The magnetic pole 111 has a tapered surface on the side facing the vacuum envelope 31 (anode target 35). Assuming that the magnetic deflection unit 110 is viewed from the X-ray emission window 33 side so that the first direction d1 and the second direction d2 are downward and the third direction d3 is upward, the taper of the left magnetic pole 111 is assumed. The surface is rising to the right, and the taper surface of the right magnetic pole 111 is falling to the right. A current is applied to the coil 113 of the magnetic deflection unit 110 from a deflection power source 115 (not shown) (FIG. 1).

このように構成されたX線管装置10では、ステータコイル910に所定の電流を印加することでロータ920が回転し、陽極ターゲット35が回転する。次に、高電圧電源15から高電圧コネクタ300、電圧供給端子44、固定軸1、軸受け930、回転体2及び接続部35cを介して陽極ターゲット35に正の高電圧を印加する。さらに、集束電源17から電圧供給端子54を介して集束電極37に例えば数kVの正の電圧を印加する。陰極36及びX線放射窓33を含む真空外囲器31は、接地されている。   In the X-ray tube apparatus 10 configured as described above, by applying a predetermined current to the stator coil 910, the rotor 920 rotates and the anode target 35 rotates. Next, a positive high voltage is applied from the high voltage power supply 15 to the anode target 35 through the high voltage connector 300, the voltage supply terminal 44, the fixed shaft 1, the bearing 930, the rotating body 2, and the connection portion 35c. Further, a positive voltage of, for example, several kV is applied from the focusing power supply 17 to the focusing electrode 37 via the voltage supply terminal 54. The vacuum envelope 31 including the cathode 36 and the X-ray emission window 33 is grounded.

これにより陰極36から放出される電子ビームは、集束電極37により集束された後に磁気偏向部110により連続的に偏向され、陽極ターゲット35のターゲット面35bに浅い角度で入射される。そして、ターゲット面35bに形成される焦点FからX線が放射され、X線はX線放射窓33及びX線放射窓24を透過して外部へ放射される。焦点Fから放出される反跳電子は反跳電子捕捉面35dに衝撃される。   As a result, the electron beam emitted from the cathode 36 is focused by the focusing electrode 37, continuously deflected by the magnetic deflecting unit 110, and incident on the target surface 35 b of the anode target 35 at a shallow angle. Then, X-rays are emitted from the focal point F formed on the target surface 35b, and the X-rays are emitted to the outside through the X-ray emission window 33 and the X-ray emission window 24. Recoil electrons emitted from the focal point F are struck by the recoil electron capture surface 35d.

次に、図1を参照しながら本実施形態に係るX線管装置10について説明する。
第1方向d1、第2方向d2及び第3方向d3は、第1平面S1に沿った方向である。第1方向d1は、陽極ターゲット35に向かう方向であり、第3方向d3に垂直な方向である。第2平面S2から第2方向d2がなす角度は、0°より大きく40°以下である。
Next, the X-ray tube apparatus 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
The first direction d1, the second direction d2, and the third direction d3 are directions along the first plane S1. The first direction d1 is a direction toward the anode target 35 and is a direction perpendicular to the third direction d3. The angle formed by the second direction d2 from the second plane S2 is greater than 0 ° and not greater than 40 °.

上記のように構成された第4の実施形態に係るX線管装置によれば、X線管装置10は、X線管30と、ハウジング20と、冷却液6と、磁気偏向部110とを備えている。X線管30は、陽極ターゲット35と、陰極36と、集束電極37と、真空外囲器31とを備えている。陽極ターゲット35は正の高電位に設定され、陰極36と、X線放射窓33を含む真空外囲器31とは接地されている。集束電極37は陽極ターゲット35に設定される上記正の高電位よりも低い正の電位に設定される。   According to the X-ray tube apparatus according to the fourth embodiment configured as described above, the X-ray tube apparatus 10 includes the X-ray tube 30, the housing 20, the coolant 6, and the magnetic deflection unit 110. I have. The X-ray tube 30 includes an anode target 35, a cathode 36, a focusing electrode 37, and a vacuum envelope 31. The anode target 35 is set to a positive high potential, and the cathode 36 and the vacuum envelope 31 including the X-ray emission window 33 are grounded. The focusing electrode 37 is set to a positive potential lower than the positive high potential set for the anode target 35.

第1方向d1は、ターゲット面35bにほぼ垂直であり、電子ビームは、真空外囲器31(表面部34)と陽極ターゲット35との間に作用する電界の影響を受ける。しかしながら、電子ビームには、磁気偏向部110によりターゲット面35bに平行で、かつ第1平面S1に垂直となる磁場Haを作用させることができる。しかも、磁場Haは、陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくることができる。これにより、0°<α≦40°とし、第2方向d2から電子ビームをターゲット面35bに入射させることができる。   The first direction d1 is substantially perpendicular to the target surface 35b, and the electron beam is affected by an electric field acting between the vacuum envelope 31 (surface portion 34) and the anode target 35. However, a magnetic field Ha parallel to the target surface 35b and perpendicular to the first plane S1 can be applied to the electron beam by the magnetic deflection unit 110. Moreover, the magnetic field Ha can be generated over the entire space between the cathode 36 and the anode target surface 35b. Thereby, 0 ° <α ≦ 40 °, and the electron beam can be incident on the target surface 35b from the second direction d2.

電子放出源36aからの電子ビームは、磁場Haに突入する前に、集束電極37の作用によってその向きが揃えられる。したがって、ほぼ全ての電子の軌道が実質的に同一のトコロイド曲線を磁場Haへの突入位置分だけ平行にずらしたものとなる。これにより、焦点Fの形状の歪みや焦点Fの電子密度分布の不均一性を小さくすることが可能となる。   The direction of the electron beam from the electron emission source 36a is aligned by the action of the focusing electrode 37 before entering the magnetic field Ha. Therefore, substantially the same trajectory of all electrons is shifted in parallel by the amount corresponding to the entry position to the magnetic field Ha. Thereby, it becomes possible to reduce the distortion of the shape of the focus F and the non-uniformity of the electron density distribution of the focus F.

陰極接地管であっても、ターゲット面35bに対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させて焦点Fを形成させることができるため、X線放射窓33から放出されるX線出力を増大させることができる。
第2方向d2と、第3方向d3とは同一の第1平面S1に沿った方向である。このため、X線放射窓33から放出されるX線出力を一層増大させることができる。
Even in the case of a cathode grounded tube, an electron beam can be made incident on the target surface 35b at a relatively shallow angle to form the focal point F, so that the X-ray output emitted from the X-ray emission window 33 is increased. be able to.
The second direction d2 and the third direction d3 are directions along the same first plane S1. For this reason, the X-ray output emitted from the X-ray radiation window 33 can be further increased.

反跳電子は、入射電子があたかもターゲット面35bで鏡面反射する方向に最も多く散乱することから、焦点FからX線放射窓33に向かう方向に多くなるような角度分布をもって飛び出すことになる。ターゲット面35bの上方への反跳電子の散乱を低減できるため、焦点F近傍を含むターゲット面35bへの反跳電子の再衝突を抑制することができる。これにより、ターゲット面35b(焦点F)の温度上昇や、ターゲット面35bに引き起こされる荒れを抑制でき、放電の発生やX線の出力低下を抑制することができる。さらに、焦点F以外からのX線の放射を抑制できるため、X線画像の明瞭度の低下を抑制することができる。   The recoil electrons are scattered with the angular distribution that increases in the direction from the focal point F toward the X-ray radiation window 33 because the incident electrons are most scattered in the direction of specular reflection at the target surface 35b. Since scattering of recoil electrons above the target surface 35b can be reduced, recoil electrons recoil on the target surface 35b including the vicinity of the focal point F can be suppressed. Thereby, the temperature rise of the target surface 35b (focal point F) and the roughness caused by the target surface 35b can be suppressed, and the occurrence of discharge and the decrease in the output of X-rays can be suppressed. Furthermore, since the emission of X-rays from other than the focal point F can be suppressed, it is possible to suppress a decrease in the clarity of the X-ray image.

上記の効果をより高めるためには、角度αが5°より大きく30°以下の範囲内の何れかである(5°<α≦30°)ことがより好ましい。   In order to further enhance the above effect, it is more preferable that the angle α is in the range of more than 5 ° and 30 ° or less (5 ° <α ≦ 30 °).

X線放射窓33は、反跳電子が多く散乱する側に位置している。しかしながら、表面部34(X線放射窓33)は陰極36と同電位(接地電位)に設定されているため、表面部34付近の電界の影響により、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を押し戻し反跳電子捕捉面35dに衝撃させることができる。   The X-ray emission window 33 is located on the side where many recoil electrons are scattered. However, since the surface portion 34 (X-ray emission window 33) is set to the same potential (ground potential) as the cathode 36, it is directed from the focal point F toward the X-ray emission window 33 due to the influence of the electric field near the surface portion 34. The emitted recoil electrons can be pushed back and bombarded on the recoil electron capturing surface 35d.

これにより、X線放射窓33への反跳電子の直撃を防止することができ、X線放射窓33の加熱を抑制することができる。即ち、X線放射窓33の温度上昇を確実に低減することができる。そして、X線放射窓33の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   Thereby, the direct hit of the recoil electrons to the X-ray radiation window 33 can be prevented, and the heating of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. That is, the temperature rise of the X-ray radiation window 33 can be reliably reduced. Further, the X-ray radiation window 33 can be prevented from being damaged, and thus the vacuum envelope 31 can be prevented from being broken.

さらに、X線放射窓33の加熱は抑制されるため、X線放射窓33付近の冷却液6の沸騰を抑制することができる。冷却液6の沸騰にともなうガスの発生を抑制でき、X線の透過率に悪影響はおよばないため、X線画像の明瞭度の低下を抑制することができる。   Furthermore, since heating of the X-ray radiation window 33 is suppressed, boiling of the coolant 6 in the vicinity of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. The generation of gas accompanying the boiling of the coolant 6 can be suppressed, and the X-ray transmittance is not adversely affected, so that a reduction in the clarity of the X-ray image can be suppressed.

冷却液6として、熱伝達率が最も高い、水を主成分とする水系冷却液を用いることができる。このため、冷却液6は、高電圧絶縁部材40に伝わる熱を最も有効に奪うことができる。また、水系冷却液は、絶縁油に比べて、比熱が大きい(絶縁油の約2倍)ため、X線管30の放熱による冷却液の温度上昇が低く抑えられる。   As the coolant 6, an aqueous coolant having the highest heat transfer coefficient and containing water as a main component can be used. For this reason, the coolant 6 can most effectively remove the heat transmitted to the high voltage insulating member 40. Further, since the water-based coolant has a larger specific heat than the insulating oil (about twice that of the insulating oil), the temperature rise of the coolant due to the heat radiation of the X-ray tube 30 is suppressed to a low level.

また、高電圧絶縁部材40は冷却液6に接するため、陽極ターゲット35からの熱を効果的に冷却液6に放散でき、高電圧絶縁部材40に接続された高電圧コネクタ300の温度を低くでき、長期にわたって高電圧コネクタ300の絶縁性を確保することができる。   Further, since the high voltage insulating member 40 is in contact with the coolant 6, heat from the anode target 35 can be effectively dissipated into the coolant 6, and the temperature of the high voltage connector 300 connected to the high voltage insulating member 40 can be lowered. Insulation of the high voltage connector 300 can be ensured over a long period of time.

上記のことから、X線管30が陰極接地方式である場合においてもターゲット面35bに対する電子ビームの不所望な偏向を抑制しX線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置10を得ることができる。   From the above, even when the X-ray tube 30 is of the cathode grounding method, undesired deflection of the electron beam with respect to the target surface 35b can be suppressed and the X-ray output can be increased. An X-ray tube apparatus 10 that can suppress direct hit of jumping electrons can be obtained.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。上記X線管装置は、特にマンモグラフィー用途のX線管装置として最適である。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them. The above X-ray tube device is particularly suitable as an X-ray tube device for mammography.

ここで、上記第4の実施形態に係るX線管装置10の変形例について説明する。
第4の実施形態に係るX線管装置10は、偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106を有する偏向磁場発生ユニットを備えていてもよい。
Here, a modified example of the X-ray tube apparatus 10 according to the fourth embodiment will be described.
The X-ray tube apparatus 10 according to the fourth embodiment may include a deflection magnetic field generation unit having a deflection unit 100, a deflection power source 105, and a deflection power source control unit 106.

また、第4の実施形態に係るX線管装置10は、電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164を有する偏向電場発生ユニットを備えていてもよい。この場合において、電極161,162は、例えば陰極36と集束電極37との間に介在させて取り付けてもよい。   Further, the X-ray tube apparatus 10 according to the fourth embodiment may include a deflection electric field generation unit having electrodes 161 and 162, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164. In this case, the electrodes 161 and 162 may be attached so as to be interposed between the cathode 36 and the focusing electrode 37, for example.

図12は、当該変形例に係るX線管装置10における集束電極37の取り付け態様を示す断面図である。この図に示す例において、電極161,162は、互いに離間した状態で、絶縁部材52を介して陰極カップ36bに取り付けられている。集束電極37は、絶縁部材52を介して電極161,162に取り付けられている。絶縁部材52,53は、例えばセラミックなどの絶縁性の材料を環状に形成したものである。電極161,162は、偏向電源163から電圧の印加を受けて、電子放出源36aから放出される電子ビームに作用する電場Eを発生させる。電極161,162に印加する電圧を制御することで電場Eを変化させ、電子ビームを選択的に偏向させることができる。   FIG. 12 is a cross-sectional view showing how the focusing electrode 37 is attached in the X-ray tube apparatus 10 according to the modification. In the example shown in this figure, the electrodes 161 and 162 are attached to the cathode cup 36b via the insulating member 52 in a state of being separated from each other. The focusing electrode 37 is attached to the electrodes 161 and 162 via the insulating member 52. The insulating members 52 and 53 are formed by annularly forming an insulating material such as ceramic. The electrodes 161 and 162 receive a voltage from the deflection power source 163 and generate an electric field E acting on the electron beam emitted from the electron emission source 36a. By controlling the voltage applied to the electrodes 161 and 162, the electric field E can be changed and the electron beam can be selectively deflected.

また、電極161,162の機能を集束電極37に持たせてもよい。図13は、電極161,162の機能を集束電極37に持たせる例を示す断面図である。図13には、集束電極37の上面図も併せて示し、この上面図において集束電極37を破線で示している。この図に示す例において、集束電極37は、電極161として機能する第1部分371と、電極162として機能する第2部分372とを備えている。第1部分371及び第2部分372は互いに離間している。集束電圧は、第1部分371及び第2部分372の双方に印加する。このとき、例えば第1部分371の電位を第2部分372の電位よりも僅かに高く設定することで、第1部分371及び第2部分372の間に電場Eが発生する。第1部分371及び第2部分372の少なくとも一方の電位を制御することで、電子放出源36aから放出される電子ビームに作用する電場Eを変化させ、電子ビームを選択的に偏向させることができる。   Further, the function of the electrodes 161 and 162 may be given to the focusing electrode 37. FIG. 13 is a cross-sectional view showing an example in which the focusing electrode 37 has the functions of the electrodes 161 and 162. FIG. 13 also shows a top view of the focusing electrode 37. In this top view, the focusing electrode 37 is indicated by a broken line. In the example shown in this figure, the focusing electrode 37 includes a first portion 371 that functions as the electrode 161 and a second portion 372 that functions as the electrode 162. The first portion 371 and the second portion 372 are separated from each other. The focused voltage is applied to both the first portion 371 and the second portion 372. At this time, for example, the electric field E is generated between the first portion 371 and the second portion 372 by setting the potential of the first portion 371 slightly higher than the potential of the second portion 372. By controlling the potential of at least one of the first portion 371 and the second portion 372, the electric field E acting on the electron beam emitted from the electron emission source 36a can be changed, and the electron beam can be selectively deflected. .

次に、第5の実施形態に係るX線管装置について説明する。この実施形態において、上記第4の実施形態と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。ここで、本実施形態に係るX線管装置は、上記第2の実施形態に係るX線管装置の実施例に相当する。   Next, an X-ray tube apparatus according to a fifth embodiment will be described. In this embodiment, the same functional parts as those in the fourth embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. Here, the X-ray tube apparatus according to the present embodiment corresponds to an example of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment.

図14は、第5の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。図15は、図14の線XV−XVに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。図16は、上記第5の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部を示す図である。   FIG. 14 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment. FIG. 15 is a cross-sectional view of the X-ray tube device taken along line XV-XV in FIG. 14, and includes a part of the front view of the X-ray tube device. FIG. 16 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment, and shows a magnetic deflection unit.

図14、図15及び図16に示すように、X線管装置10は、ハウジング20と、ハウジング20内に収納されたX線管30と、X線管30とハウジング20との間の空間に充填された冷却液6と、回転駆動装置としてのステータコイル910と、磁気偏向部110と、磁気偏向部120とを備えている。図示しないが、X線管装置10は、上記高電圧電源15と、偏向電源115と、高電圧電源16と、集束電源17と、偏向電源125とをさらに備えている。   As shown in FIGS. 14, 15, and 16, the X-ray tube device 10 includes a housing 20, an X-ray tube 30 accommodated in the housing 20, and a space between the X-ray tube 30 and the housing 20. A filled coolant 6, a stator coil 910 as a rotational drive device, a magnetic deflection unit 110, and a magnetic deflection unit 120 are provided. Although not shown, the X-ray tube apparatus 10 further includes the high voltage power supply 15, the deflection power supply 115, the high voltage power supply 16, the focusing power supply 17, and the deflection power supply 125.

X線管30は、真空外囲器31を備えている。真空外囲器31は、支持部材26と、非磁性の金属で形成された真空容器32と、高電圧絶縁部材40と、高電圧絶縁部材50とを備えている。高電圧絶縁部材40には陽極ターゲット35が間接的に取り付けられ、高電圧絶縁部材50には陰極36が間接的に取り付けられている。また、陰極36には、例えば図11に示す態様にて集束電極37が取り付けられている。真空外囲器31の内部は真空状態である。   The X-ray tube 30 includes a vacuum envelope 31. The vacuum envelope 31 includes a support member 26, a vacuum container 32 made of a nonmagnetic metal, a high voltage insulating member 40, and a high voltage insulating member 50. An anode target 35 is indirectly attached to the high voltage insulating member 40, and a cathode 36 is indirectly attached to the high voltage insulating member 50. Further, a focusing electrode 37 is attached to the cathode 36 in the manner shown in FIG. 11, for example. The inside of the vacuum envelope 31 is in a vacuum state.

この実施形態において、真空容器32の上壁32bに反跳電子の衝撃を受ける反跳電子捕捉面34aが形成されている。反跳電子捕捉面34aは、凹凸面である。凹凸面は、上壁32bの表面に形成された複数の突出部で形成されている。複数の突出部は、第1平面S1に沿った方向に並べられ、第1平面S1に垂直な方向に延出して形成されている。反跳電子捕捉面34aを凹凸面とすることにより、反跳電子捕捉面34aは、多重反射により、反跳電子をより多く捕捉することができる。   In this embodiment, a recoil electron capturing surface 34 a that receives impact of recoil electrons is formed on the upper wall 32 b of the vacuum container 32. The recoil electron capturing surface 34a is an uneven surface. The uneven surface is formed by a plurality of protrusions formed on the surface of the upper wall 32b. The plurality of protrusions are arranged in a direction along the first plane S1, and are formed to extend in a direction perpendicular to the first plane S1. By making the recoil electron capturing surface 34a an uneven surface, the recoil electron capturing surface 34a can capture more recoil electrons by multiple reflection.

X線放射窓33は、第1平面S1に直交する方向に長軸を持つ矩形の平板状に形成されている。X線放射窓33は、利用X線束を透過させる位置に配置されている。ここでは、X線放射窓33は、ベリリウムで形成されている。   The X-ray radiation window 33 is formed in a rectangular flat plate shape having a long axis in a direction orthogonal to the first plane S1. The X-ray radiation window 33 is disposed at a position that transmits the utilization X-ray flux. Here, the X-ray emission window 33 is made of beryllium.

この実施形態において、陽極ターゲット35が焦点Fから放出する利用X線束の形状はファンビーム形状である。利用X線束において、Z方向の長さはY方向(第1平面S1に垂直な方向)の長さより短い(図5)。   In this embodiment, the shape of the utilization X-ray bundle that the anode target 35 emits from the focal point F is a fan beam shape. In the used X-ray bundle, the length in the Z direction is shorter than the length in the Y direction (direction perpendicular to the first plane S1) (FIG. 5).

支持部材26は、円環状に形成され、高電圧絶縁部材50に気密に接着されている。なお、真空容器32も高電圧絶縁部材50に気密に接着されている。支持部材26は、蓋部20b(ハウジング20)の開口に対向している。なお、支持部材26と対向した側の蓋部20bには円環状の溝部が形成されている。支持部材26及び蓋部20b間の隙間は、上記溝部に設けられたOリングによりシールされている。上記Oリングは、支持部材26及び蓋部20b間の隙間から外部への冷却液6の漏れを防止する機能を有している。   The support member 26 is formed in an annular shape and is hermetically bonded to the high voltage insulating member 50. The vacuum vessel 32 is also hermetically bonded to the high voltage insulating member 50. The support member 26 faces the opening of the lid 20b (housing 20). An annular groove is formed in the lid 20b on the side facing the support member 26. A gap between the support member 26 and the lid portion 20b is sealed by an O-ring provided in the groove portion. The O-ring has a function of preventing leakage of the coolant 6 from the gap between the support member 26 and the lid portion 20b to the outside.

高電圧絶縁部材50は、ハウジング20の外部に露出した外部端面50Sを有している。この実施形態において、外部端面50Sは平面である。高電圧絶縁部材50の内部には電圧供給端子54が設けられている。電圧供給端子54は、外部端面50Sを貫通している。電圧供給端子54は、陰極36に接続されている。この実施形態において、電圧供給端子54は高電圧供給端子である。電圧供給端子54は、陰極36に負の高電圧を印加する。また、電圧供給端子54は、集束電源17に接続されており、例えば陰極36に印加される負の高電圧よりも大きく、かつ陽極ターゲット35に印加される正の高電圧よりも小さい電圧を集束電極37に印加する。   The high voltage insulating member 50 has an external end face 50 </ b> S exposed to the outside of the housing 20. In this embodiment, the outer end surface 50S is a flat surface. A voltage supply terminal 54 is provided inside the high voltage insulating member 50. The voltage supply terminal 54 passes through the external end face 50S. The voltage supply terminal 54 is connected to the cathode 36. In this embodiment, the voltage supply terminal 54 is a high voltage supply terminal. The voltage supply terminal 54 applies a negative high voltage to the cathode 36. Further, the voltage supply terminal 54 is connected to the focusing power supply 17, and for example, focuses a voltage larger than a negative high voltage applied to the cathode 36 and smaller than a positive high voltage applied to the anode target 35. Applied to the electrode 37.

高電圧コネクタ200は、有底筒状のハウジング201と、ハウジング201内にその先端が挿入されたケーブル202と、ハウジング201内に充填され、ケーブル202の端子をハウジング201の開口部側に向けて固定するエポキシ樹脂材製の固定部203と、この固定部203と高電圧絶縁部材50の外部端面50Sとの間に挿入されたシリコーン樹脂材製のシリコーンプレート204とを備えている。この実施形態において、ケーブル202は高電圧ケーブルである。固定部203は、電気絶縁材である。   The high-voltage connector 200 includes a bottomed cylindrical housing 201, a cable 202 having a tip inserted into the housing 201, and the housing 201 filled with the terminal of the cable 202 facing the opening of the housing 201. A fixing portion 203 made of an epoxy resin material to be fixed, and a silicone plate 204 made of a silicone resin material inserted between the fixing portion 203 and the outer end surface 50S of the high voltage insulating member 50 are provided. In this embodiment, cable 202 is a high voltage cable. The fixing part 203 is an electrical insulating material.

この実施形態において、高電圧コネクタ200の電気絶縁材としての固定部203は、高電圧絶縁部材50の外部端面50Sに間接的に密着されている。なお、固定部203は、外部端面50Sに直接密着されていても良い。高電圧コネクタ200は、電圧供給端子54に高電圧を与えるものである。   In this embodiment, the fixing portion 203 as an electrical insulating material of the high voltage connector 200 is in intimate contact with the outer end surface 50 </ b> S of the high voltage insulating member 50. Note that the fixing portion 203 may be in direct contact with the outer end surface 50S. The high voltage connector 200 applies a high voltage to the voltage supply terminal 54.

このように構成されたX線管装置10は、次のように用いられる。高電圧コネクタ200をハウジング20に取り付ける際に、シリコーンプレート204が、それぞれ固定部203と、高電圧絶縁部材50の外部端面50Sとに密着するように押圧する。   The X-ray tube apparatus 10 configured as described above is used as follows. When the high voltage connector 200 is attached to the housing 20, the silicone plates 204 are pressed so as to be in close contact with the fixing portion 203 and the outer end surface 50 </ b> S of the high voltage insulating member 50.

X線遮蔽部としてのX線遮蔽キャップ400は、高電圧コネクタ200を覆うようにハウジング20に着脱可能に取り付けられている。X線遮蔽キャップ400は、X線不透過材を含む材料で形成されている。   An X-ray shielding cap 400 as an X-ray shielding part is detachably attached to the housing 20 so as to cover the high voltage connector 200. The X-ray shielding cap 400 is made of a material containing an X-ray opaque material.

冷却液6は、ハウジング20内に充填されている。このため、上壁32bの外面に位置するように、ハウジング20内に冷却液6の流れる冷却路を形成することができる。冷却液6としては、絶縁油又は水系冷却液を用いることができる。ここでは、冷却液6として水系冷却液を用いている。   The cooling liquid 6 is filled in the housing 20. For this reason, the cooling path through which the coolant 6 flows can be formed in the housing 20 so as to be positioned on the outer surface of the upper wall 32b. As the coolant 6, insulating oil or water-based coolant can be used. Here, an aqueous coolant is used as the coolant 6.

ハウジング20には、冷却液6の導入部20i及び排出部20oが形成されている。導入部20iは、上壁32bに対向して位置している。ハウジング20の外部には、図5に示した冷却器3が設けられ、ハウジング20の導入部20i及び排出部20oに連結されている。このため、冷却液6は、導入部20iからハウジング20内に導入され、排出部20oからハウジング20外に排出される。   The housing 20 is formed with an introduction portion 20 i and a discharge portion 20 o for the coolant 6. The introduction part 20i is located facing the upper wall 32b. The cooler 3 shown in FIG. 5 is provided outside the housing 20, and is connected to the introduction part 20 i and the discharge part 20 o of the housing 20. For this reason, the coolant 6 is introduced into the housing 20 from the introduction portion 20 i and is discharged out of the housing 20 from the discharge portion 20 o.

冷却液6は、導入部20iから上壁32bの外面に噴出される。冷却液6は、上壁32bの外面に垂直な方向に噴出される。反跳電子が衝撃され、熱を発生する上壁32bの外面に衝突噴流を作用させることができるため、上壁32bを冷却し易くすることができる。   The coolant 6 is ejected from the introduction part 20i to the outer surface of the upper wall 32b. The coolant 6 is ejected in a direction perpendicular to the outer surface of the upper wall 32b. Since the recoil electrons are impacted and a collision jet can act on the outer surface of the upper wall 32b that generates heat, the upper wall 32b can be easily cooled.

磁気偏向部(第2磁気偏向部)120は、真空外囲器31の外側に配置されている。磁気偏向部110は磁場(第1磁場)Haをつくり、磁気偏向部120は、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を偏向させX線放射窓33から外れた表面部34の反跳電子捕捉面34aに衝撃させる磁場(第2磁場)Hbをつくる(図5)。   The magnetic deflection unit (second magnetic deflection unit) 120 is disposed outside the vacuum envelope 31. The magnetic deflecting unit 110 creates a magnetic field (first magnetic field) Ha, and the magnetic deflecting unit 120 deflects recoil electrons emitted from the focal point F toward the X-ray radiation window 33 so as to deviate from the X-ray radiation window 33. A magnetic field (second magnetic field) Hb to be bombarded on the recoil electron capturing surface 34a of the portion 34 is created (FIG. 5).

磁気偏向部120は、2個の磁極121と、磁極を接続したヨーク122と、ヨーク122に巻かれたコイル123とを有している。この実施形態において、磁気偏向部120は、電磁石を利用しているが、これに限定されるものではなく永久磁石を利用するものであってもよい。   The magnetic deflection unit 120 includes two magnetic poles 121, a yoke 122 that connects the magnetic poles, and a coil 123 that is wound around the yoke 122. In this embodiment, the magnetic deflection unit 120 uses an electromagnet, but is not limited to this, and may use a permanent magnet.

磁極121は、真空外囲器31(陽極ターゲット35)と対向した側にテーパ面を有している。第1方向d1及び第2方向d2が下方を示し第3方向d3が上方を示すようにX線放射窓33側から偏向部100に視点をおいた場合を仮定すると、左側の磁極121のテーパ面は右上がりであり、右側の磁極121のテーパ面は右下がりである。磁気偏向部120のコイル123には、図示しない偏向電源125から電流が与えられる(図5)。   The magnetic pole 121 has a tapered surface on the side facing the vacuum envelope 31 (anode target 35). Assuming that the viewpoint is placed on the deflection unit 100 from the X-ray radiation window 33 side so that the first direction d1 and the second direction d2 are downward and the third direction d3 is upward, the tapered surface of the left magnetic pole 121 is assumed. Is rising to the right, and the taper surface of the right magnetic pole 121 is falling to the right. A current is applied to the coil 123 of the magnetic deflection unit 120 from a deflection power source 125 (not shown) (FIG. 5).

このように構成されたX線管装置10では、ステータコイル910に所定の電流を印加することでロータ920が回転し、陽極ターゲット35が回転する。次に、高電圧電源16から高電圧コネクタ200に所定の高電圧を印加し、高電圧電源15から高電圧コネクタ300に所定の高電圧を印加する。さらに、集束電源17から電圧供給端子54を介して集束電極37に例えば数kVの正の電圧を印加する。   In the X-ray tube apparatus 10 configured as described above, by applying a predetermined current to the stator coil 910, the rotor 920 rotates and the anode target 35 rotates. Next, a predetermined high voltage is applied from the high voltage power supply 16 to the high voltage connector 200, and a predetermined high voltage is applied from the high voltage power supply 15 to the high voltage connector 300. Further, a positive voltage of, for example, several kV is applied from the focusing power supply 17 to the focusing electrode 37 via the voltage supply terminal 54.

高電圧コネクタ300に印加される高電圧は、電圧供給端子44、固定軸1、軸受け930、回転体2及び接続部35cを介して陽極ターゲット35に与えられる。陽極ターゲット35の電位は、+V/2に設定される。X線放射窓33を含む真空外囲器31は、接地されている。   The high voltage applied to the high voltage connector 300 is given to the anode target 35 through the voltage supply terminal 44, the fixed shaft 1, the bearing 930, the rotating body 2, and the connection portion 35c. The potential of the anode target 35 is set to + V / 2. The vacuum envelope 31 including the X-ray radiation window 33 is grounded.

これにより陰極36から放出される電子ビームは、集束電極37により集束された後に磁気偏向部110により連続的に偏向され、陽極ターゲット35のターゲット面35bに浅い角度で入射される。そして、ターゲット面35bに形成される焦点FからX線が放射され、X線はX線放射窓33及びX線放射窓24を透過して外部へ放射される。焦点Fから放出される反跳電子は、磁気偏向部120により連続的に偏向され、上壁32bの反跳電子捕捉面34aに衝撃される。   As a result, the electron beam emitted from the cathode 36 is focused by the focusing electrode 37, continuously deflected by the magnetic deflecting unit 110, and incident on the target surface 35 b of the anode target 35 at a shallow angle. Then, X-rays are emitted from the focal point F formed on the target surface 35b, and the X-rays are emitted to the outside through the X-ray emission window 33 and the X-ray emission window 24. Recoil electrons emitted from the focal point F are continuously deflected by the magnetic deflection unit 120 and are struck by the recoil electron capturing surface 34a of the upper wall 32b.

次に、図5を参照しながら本実施形態に係るX線管装置10について説明する。
第1方向d1、第2方向d2及び第3方向d3は、第1平面S1に沿った方向である。第1方向d1は、陽極ターゲット35に向かう方向であり、第3方向d3に垂直な方向である。第2平面S2から第2方向d2がなす角度は、0°より大きく40°以下である。
Next, the X-ray tube apparatus 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
The first direction d1, the second direction d2, and the third direction d3 are directions along the first plane S1. The first direction d1 is a direction toward the anode target 35 and is a direction perpendicular to the third direction d3. The angle formed by the second direction d2 from the second plane S2 is greater than 0 ° and not greater than 40 °.

上記のように構成された第5の実施形態に係るX線管装置によれば、X線管装置10は、X線管30と、ハウジング20と、冷却液6と、磁気偏向部110と、磁気偏向部120とを備えている。X線管30は、陽極ターゲット35と、陰極36と、集束電極37と、真空外囲器31とを備えている。陽極ターゲット35は正の高電位に設定され、陰極36は負の高電位に設定され、X線放射窓33を含む真空外囲器31は接地されている。集束電極37は陰極36に設定される負の高電位よりも大きく、かつ陽極ターゲット35に設定される正の高電位よりも小さい電位に設定される。   According to the X-ray tube apparatus according to the fifth embodiment configured as described above, the X-ray tube apparatus 10 includes the X-ray tube 30, the housing 20, the coolant 6, the magnetic deflection unit 110, And a magnetic deflection unit 120. The X-ray tube 30 includes an anode target 35, a cathode 36, a focusing electrode 37, and a vacuum envelope 31. The anode target 35 is set to a positive high potential, the cathode 36 is set to a negative high potential, and the vacuum envelope 31 including the X-ray emission window 33 is grounded. The focusing electrode 37 is set to a potential higher than the negative high potential set for the cathode 36 and smaller than the positive high potential set for the anode target 35.

第1方向d1は、ターゲット面35bにほぼ垂直であり、電子ビームは、真空外囲器31(表面部34)と陽極ターゲット35との間に作用する電界の影響を受ける。しかしながら、電子ビームには、磁気偏向部110によりターゲット面35bに平行で、かつ第1平面S1に垂直となる磁場Haを作用させることができる。しかも、磁場Haは、陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくることができる。これにより、0°<α≦40°とし、第2方向d2から電子ビームをターゲット面35bに入射させることができる。   The first direction d1 is substantially perpendicular to the target surface 35b, and the electron beam is affected by an electric field acting between the vacuum envelope 31 (surface portion 34) and the anode target 35. However, a magnetic field Ha parallel to the target surface 35b and perpendicular to the first plane S1 can be applied to the electron beam by the magnetic deflection unit 110. Moreover, the magnetic field Ha can be generated over the entire space between the cathode 36 and the anode target surface 35b. Thereby, 0 ° <α ≦ 40 °, and the electron beam can be incident on the target surface 35b from the second direction d2.

電子放出源36aからの電子ビームは、磁場Haに突入する前に、集束電極37の作用によってその向きが揃えられる。したがって、ほぼ全ての電子の軌道が実質的に同一のトコロイド様曲線を磁場Haへの突入位置分だけ平行にずらしたものとなる。これにより、焦点Fの形状の歪みや焦点Fの電子密度分布の不均一性を小さくすることが可能となる。   The direction of the electron beam from the electron emission source 36a is aligned by the action of the focusing electrode 37 before entering the magnetic field Ha. Therefore, substantially the same orbits of almost all electrons are shifted in parallel by the amount corresponding to the entry position to the magnetic field Ha. Thereby, it becomes possible to reduce the distortion of the shape of the focus F and the non-uniformity of the electron density distribution of the focus F.

中性点接地管であっても、ターゲット面35bに対して比較的浅い角度で電子ビームを入射させて焦点Fを形成させることができるため、X線放射窓33から放出されるX線出力を増大させることができる。
第2方向d2と、第3方向d3とは同一の第1平面S1に沿った方向である。このため、X線放射窓33から放出されるX線出力を一層増大させることができる。
Even in the case of a neutral point grounding tube, an electron beam can be made incident on the target surface 35b at a relatively shallow angle to form the focal point F, so that the X-ray output emitted from the X-ray emission window 33 can be obtained. Can be increased.
The second direction d2 and the third direction d3 are directions along the same first plane S1. For this reason, the X-ray output emitted from the X-ray radiation window 33 can be further increased.

反跳電子は、入射電子があたかもターゲット面35bで鏡面反射する方向に最も多く散乱することから、焦点FからX線放射窓33に向かう方向に多くなるような角度分布をもって飛び出すことになる。ターゲット面35bの上方への反跳電子の散乱を低減できるため、焦点F近傍を含むターゲット面35bへの反跳電子の再衝突を抑制することができる。これにより、ターゲット面35b(焦点F)の温度上昇や、ターゲット面35bに引き起こされる荒れを抑制でき、放電の発生やX線の出力低下を抑制することができる。   The recoil electrons are scattered with the angular distribution that increases in the direction from the focal point F toward the X-ray radiation window 33 because the incident electrons are most scattered in the direction of specular reflection at the target surface 35b. Since scattering of recoil electrons above the target surface 35b can be reduced, recoil electrons recoil on the target surface 35b including the vicinity of the focal point F can be suppressed. Thereby, the temperature rise of the target surface 35b (focal point F) and the roughness caused by the target surface 35b can be suppressed, and the occurrence of discharge and the decrease in the output of X-rays can be suppressed.

上記の効果をより高めるためには、角度αが5°より大きく30°以下の範囲内の何れかである(5°<α≦30°)ことがより好ましい。   In order to further enhance the above effect, it is more preferable that the angle α is in the range of more than 5 ° and 30 ° or less (5 ° <α ≦ 30 °).

X線放射窓33は、反跳電子が多く散乱する側に位置している。しかも、陰極36は負の高電位に設定され、表面部34(X線放射窓33)は接地電位に設定されている。しかしながら、磁気偏向部120による磁場Hbの作用により、反跳電子を連続的に偏向させ、反跳電子を反跳電子捕捉面34aに衝撃させることができる。   The X-ray emission window 33 is located on the side where many recoil electrons are scattered. Moreover, the cathode 36 is set to a negative high potential, and the surface portion 34 (X-ray emission window 33) is set to the ground potential. However, the recoil electrons can be continuously deflected by the action of the magnetic field Hb by the magnetic deflection unit 120, and the recoil electrons can be bombarded on the recoil electron capture surface 34a.

これにより、X線放射窓33への反跳電子の直撃を低減することができ、X線放射窓33の加熱を抑制することができる。X線放射窓33の温度上昇を低減することができる。そして、X線放射窓33の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   Thereby, the direct hit of the recoil electron to the X-ray radiation window 33 can be reduced, and the heating of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. The temperature rise of the X-ray radiation window 33 can be reduced. Further, the X-ray radiation window 33 can be prevented from being damaged, and thus the vacuum envelope 31 can be prevented from being broken.

磁極121はテーパ面を有しているため、磁場Hbを反跳電子により有効に作用させることができ、より多くの反跳電子を反跳電子捕捉面34aや、反跳電子捕捉面34aから外れた表面部34の内面に衝撃させることができる。   Since the magnetic pole 121 has a tapered surface, the magnetic field Hb can be effectively applied by recoil electrons, and more recoil electrons are separated from the recoil electron capture surface 34a and the recoil electron capture surface 34a. The inner surface of the surface portion 34 can be impacted.

さらに、X線放射窓33の加熱は抑制されるため、X線放射窓33付近の冷却液6の沸騰を抑制することができる。冷却液6の沸騰にともなうガスの発生を抑制でき、X線の透過率に悪影響はおよばないため、X線画像の明瞭度の低下を抑制することができる。   Furthermore, since heating of the X-ray radiation window 33 is suppressed, boiling of the coolant 6 in the vicinity of the X-ray radiation window 33 can be suppressed. The generation of gas accompanying the boiling of the coolant 6 can be suppressed, and the X-ray transmittance is not adversely affected, so that a reduction in the clarity of the X-ray image can be suppressed.

反跳電子が反跳電子捕捉面34aを衝撃することにより、特に上壁32bに熱が発生するが、上壁32bに発生する熱の少なくとも一部を冷却液6に伝達することができる。しかも、上壁32bに衝突噴流を作用させることができるため、上壁32bを冷却し易くすることができる。このため、真空容器32の破損を防止することができ、ひいては真空外囲器31の真空破壊を防止することができる。   When the recoil electrons impact the recoil electron capturing surface 34a, heat is generated particularly on the upper wall 32b, but at least a part of the heat generated on the upper wall 32b can be transmitted to the coolant 6. In addition, since the collision jet can act on the upper wall 32b, the upper wall 32b can be easily cooled. For this reason, it is possible to prevent the vacuum container 32 from being damaged, and thus to prevent the vacuum envelope 31 from being broken.

冷却液6として、熱伝達率が最も高い、水を主成分とする水系冷却液を用いることができる。このため、冷却液6は、高電圧絶縁部材40及び高電圧絶縁部材50に伝わる熱を最も有効に奪うことができる。また、水系冷却液は、絶縁油に比べて、比熱が大きい(絶縁油の約2倍)ため、X線管30の放熱による冷却液の温度上昇が低く抑えられる。   As the coolant 6, an aqueous coolant having the highest heat transfer coefficient and containing water as a main component can be used. For this reason, the coolant 6 can most effectively remove the heat transmitted to the high voltage insulating member 40 and the high voltage insulating member 50. Further, since the water-based coolant has a larger specific heat than the insulating oil (about twice that of the insulating oil), the temperature rise of the coolant due to the heat radiation of the X-ray tube 30 is suppressed to a low level.

また、高電圧絶縁部材40及び高電圧絶縁部材50は冷却液6に接するため、陽極ターゲット35からの熱及び陰極36からの熱を効果的に冷却液6に放散でき、高電圧絶縁部材40に接続された高電圧コネクタ300の温度や、高電圧絶縁部材50に接続された高電圧コネクタ200の温度を低くでき、長期にわたって高電圧コネクタ200、300の絶縁性を確保することができる。   In addition, since the high voltage insulating member 40 and the high voltage insulating member 50 are in contact with the coolant 6, the heat from the anode target 35 and the heat from the cathode 36 can be effectively dissipated into the coolant 6. The temperature of the connected high voltage connector 300 and the temperature of the high voltage connector 200 connected to the high voltage insulating member 50 can be lowered, and insulation of the high voltage connectors 200 and 300 can be ensured over a long period of time.

上記のことから、X線管30への高電圧印加方式の如何にかかわらずにターゲット面35bに対する電子ビームの不所望な偏向を抑制しX線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置を得ることができる。   From the above, regardless of the method of applying a high voltage to the X-ray tube 30, it is possible to suppress undesired deflection of the electron beam with respect to the target surface 35b and increase the X-ray output. It is possible to obtain an X-ray tube apparatus that can suppress direct hit of recoil electrons.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。上記X線管装置は、特にCT用途のX線管装置として最適である。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them. The X-ray tube device is particularly suitable as an X-ray tube device for CT use.

ここで、上記第5の実施形態に係るX線管装置10の変形例について説明する。図17は、上記第5の実施形態に係るX線管装置10の変形例の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部140を示す図である。   Here, a modified example of the X-ray tube apparatus 10 according to the fifth embodiment will be described. FIG. 17 is a perspective view showing a part of a modification of the X-ray tube apparatus 10 according to the fifth embodiment, and shows a magnetic deflection unit 140.

図17に示すように、図16に示した磁気偏向部110及び磁気偏向部120は共用されていてもよい。磁気偏向部140は、上記磁気偏向部110及び磁気偏向部120の機能を兼ねている。磁気偏向部140がつくる磁場は、電子ビームの進行方向を第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化させ、かつ、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を偏向させ反跳電子捕捉面34aに衝撃させる。   As shown in FIG. 17, the magnetic deflection unit 110 and the magnetic deflection unit 120 shown in FIG. 16 may be shared. The magnetic deflection unit 140 also functions as the magnetic deflection unit 110 and the magnetic deflection unit 120. The magnetic field generated by the magnetic deflection unit 140 continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction d1 to the second direction d2, and recoils electrons emitted from the focal point F toward the X-ray emission window 33. Is deflected and bombarded on the recoil electron capturing surface 34a.

また、第2の実施形態において図6を用いて説明したように、集束電極37を真空外囲器31の表面部34に接続してもよい。   Further, as described with reference to FIG. 6 in the second embodiment, the focusing electrode 37 may be connected to the surface portion 34 of the vacuum envelope 31.

また、上記第5の実施形態に係るX線管装置10は、偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106を有する偏向磁場発生ユニットを備えていてもよい。   The X-ray tube apparatus 10 according to the fifth embodiment may include a deflection magnetic field generation unit having the deflection unit 100, the deflection power source 105, and the deflection power source control unit 106.

また、上記第5の実施形態に係るX線管装置10は、電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164を有する偏向電場発生ユニットを備えていてもよい。この場合において、電極161,162は、第4の実施形態において図12を用いて説明したように陰極36と集束電極37との間に絶縁部材52,53を介して取り付けてもよい。また、第4の実施形態において図13を用いて説明したように、電極161,162の機能を集束電極37に持たせてもよい。   In addition, the X-ray tube apparatus 10 according to the fifth embodiment may include a deflection electric field generation unit having electrodes 161 and 162, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164. In this case, the electrodes 161 and 162 may be attached via the insulating members 52 and 53 between the cathode 36 and the focusing electrode 37 as described with reference to FIG. 12 in the fourth embodiment. In addition, as described with reference to FIG. 13 in the fourth embodiment, the function of the electrodes 161 and 162 may be provided to the focusing electrode 37.

次に、第6の実施形態に係るX線管装置について説明する。この実施形態において、上記第5の実施形態と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。ここで、本実施形態に係るX線管装置は、上記第2の実施形態に係るX線管装置の他の実施例に相当する。   Next, an X-ray tube apparatus according to a sixth embodiment will be described. In this embodiment, the same reference numerals are given to the same functional parts as those in the fifth embodiment, and detailed description thereof will be omitted. Here, the X-ray tube apparatus according to the present embodiment corresponds to another example of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment.

図18は、第6の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。図19は、図18の線XIX−XIXに沿ったX線管装置の断面図であり、一部にX線管装置の正面図を含んでいる図である。図20は、上記第6の実施形態に係るX線管装置の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部、導入部及び排出部を示す図である。   FIG. 18 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to the sixth embodiment. FIG. 19 is a cross-sectional view of the X-ray tube apparatus taken along line XIX-XIX in FIG. 18, and includes a part of the front view of the X-ray tube apparatus. FIG. 20 is a perspective view showing a part of the X-ray tube apparatus according to the sixth embodiment, and shows a magnetic deflection part, an introduction part, and a discharge part.

この実施形態においては、冷却液6に絶縁油を使用している。X線管装置10は、容器130を備えている。この実施形態において、上壁32bを壁の一部とする熱伝導性に優れた容器130が取り付けられ、冷却路は容器130の内部に形成されている。   In this embodiment, insulating oil is used for the coolant 6. The X-ray tube apparatus 10 includes a container 130. In this embodiment, a container 130 having excellent thermal conductivity is attached with the upper wall 32b as a part of the wall, and the cooling path is formed inside the container 130.

冷却器3は、ホースなどの導管を介して容器130に連通されている(図7)。冷却器3は、容器130内の冷却液7を放熱及び循環させるものである。この実施形態においては、冷却液7に水系冷却液を使用している。冷却器3は、排出部20oから取り入れた冷却液7を冷却し、導入部20iから容器130内に吐出する。   The cooler 3 is communicated with the container 130 through a conduit such as a hose (FIG. 7). The cooler 3 radiates and circulates the coolant 7 in the container 130. In this embodiment, an aqueous coolant is used as the coolant 7. The cooler 3 cools the coolant 7 taken in from the discharge part 20o and discharges it into the container 130 from the introduction part 20i.

上記のように構成された第6の実施形態に係るX線管装置10によれば、上壁32bを冷却する構成以外、上記第5実施形態に係るX線管装置10と同様に形成されているため、上記第5実施形態と同様の効果を得ることができる。   According to the X-ray tube apparatus 10 according to the sixth embodiment configured as described above, the X-ray tube apparatus 10 is formed in the same manner as the X-ray tube apparatus 10 according to the fifth embodiment except for the configuration for cooling the upper wall 32b. Therefore, the same effect as the fifth embodiment can be obtained.

また、容器130を利用することにより、上壁32bを冷却液7(絶縁油)ではなく、冷却液6(水系冷却液)で冷却することができるため、上壁32bを冷却し易くすることができる。   Further, by using the container 130, the upper wall 32b can be cooled not by the coolant 7 (insulating oil) but by the coolant 6 (aqueous coolant), so that the upper wall 32b can be easily cooled. it can.

上記のことから、X線管30への高電圧印加方式の如何にかかわらずにターゲット面35bに対する電子ビームの不所望な偏向を抑制しX線出力を増大させることができ、X線放射窓33への反跳電子の直撃を抑制することができるX線管装置10を得ることができる。   From the above, regardless of the method of applying a high voltage to the X-ray tube 30, it is possible to suppress undesired deflection of the electron beam with respect to the target surface 35b and increase the X-ray output. The X-ray tube apparatus 10 that can suppress the direct hit of recoil electrons to the can be obtained.

また、より頻繁にX線を放出させたり、より長時間に亘ってX線を連続的に放出させたりすることが可能となる。さらに、X線放射窓33の厚みを減少させたり、X線放射窓33を形成する材料を、より安価なアルミニウム、チタン、ニッケル、ステンレス鋼、クロム鋼、鉄合金、ガラス、アルミナ等のセラミクスのうちの何れか1つに代替したりすることが可能となる。   In addition, X-rays can be emitted more frequently or X-rays can be continuously emitted for a longer time. Further, the thickness of the X-ray radiation window 33 is reduced, or the material forming the X-ray radiation window 33 is made of a ceramic such as aluminum, titanium, nickel, stainless steel, chromium steel, iron alloy, glass, alumina, etc., which is less expensive. It becomes possible to substitute any one of them.

ここで、上記第6の実施形態に係るX線管装置10の変形例について説明する。図21は、上記第6の実施形態に係るX線管装置10の変形例の一部を示す斜視図であり、磁気偏向部140を示す図である。   Here, a modified example of the X-ray tube apparatus 10 according to the sixth embodiment will be described. FIG. 21 is a perspective view showing a part of a modified example of the X-ray tube apparatus 10 according to the sixth embodiment, and shows a magnetic deflection unit 140.

図21に示すように、図20に示した磁気偏向部110及び磁気偏向部120は共用されていてもよい。磁気偏向部140は、上記磁気偏向部110及び磁気偏向部120の機能を兼ねている。磁気偏向部140がつくる磁場は、集束電極37により集束された電子ビームの進行方向を第1方向d1から第2方向d2に連続的に変化させ、かつ、焦点FからX線放射窓33に向かって放出される反跳電子を連続的に偏向させ反跳電子捕捉面34aに衝撃させる。   As shown in FIG. 21, the magnetic deflection unit 110 and the magnetic deflection unit 120 shown in FIG. 20 may be shared. The magnetic deflection unit 140 also functions as the magnetic deflection unit 110 and the magnetic deflection unit 120. The magnetic field generated by the magnetic deflection unit 140 continuously changes the traveling direction of the electron beam focused by the focusing electrode 37 from the first direction d1 to the second direction d2, and from the focus F toward the X-ray emission window 33. The recoil electrons emitted in this manner are continuously deflected and bombarded on the recoil electron capture surface 34a.

また、第2の実施形態において図6を用いて説明したように、集束電極37を真空外囲器31の表面部34に接続してもよい。   Further, as described with reference to FIG. 6 in the second embodiment, the focusing electrode 37 may be connected to the surface portion 34 of the vacuum envelope 31.

また、第6の実施形態に係るX線管装置10は、偏向部100、偏向電源105及び偏向電源制御部106を有する偏向磁場発生ユニットを備えていてもよい。   Further, the X-ray tube apparatus 10 according to the sixth embodiment may include a deflection magnetic field generation unit having the deflection unit 100, the deflection power source 105, and the deflection power source control unit 106.

また、第6の実施形態に係るX線管装置10は、電極161,162、偏向電源163及び偏向電源制御部164を有する偏向電場発生ユニットを備えていてもよい。この場合において、電極161,162は、第4の実施形態において図12を用いて説明したように陰極36と集束電極37との間に絶縁部材52,53を介して取り付けてもよい。介在させて取り付けてもよい。また、第4の実施形態において図13を用いて説明したように、電極161,162の機能を集束電極37に持たせてもよい。   In addition, the X-ray tube apparatus 10 according to the sixth embodiment may include a deflection electric field generation unit having electrodes 161 and 162, a deflection power source 163, and a deflection power source control unit 164. In this case, the electrodes 161 and 162 may be attached via the insulating members 52 and 53 between the cathode 36 and the focusing electrode 37 as described with reference to FIG. 12 in the fourth embodiment. It may be interposed and attached. In addition, as described with reference to FIG. 13 in the fourth embodiment, the function of the electrodes 161 and 162 may be provided to the focusing electrode 37.

ここで、上記した第1乃至第6の実施形態およびその変形例において共通であるが、焦点Fの形状および電子放出源36aの形状の関係について、図3を使って説明する。電子放出源36aは平面S1に平行となる方向に長手方向を有している。このような矩形もしくは長円形状の電子放出源36aとしては、例えばコイルフィラメントや平板フィラメントなどを使用することができる。磁場Haが全く作用しない場合には、図示しないが、通常のX線管と同様、電子放出源36aの直下のターゲット面35b上に矩形もしくは長円形状の焦点F0が形成される。この焦点F0の形状は、図3の焦点Fと類似の矩形もしくは長円形状である。磁場Haが作用すると、焦点F0と類似形状で、かつ焦点F0よりもX線放射窓33側に近づく位置に焦点Fが形成される。電子放出源の形状を矩形もしくは長円形状とすることで電子放出量が大きくなり、高い管電流を得る上で有利である。   Here, although common to the first to sixth embodiments and the modifications thereof, the relationship between the shape of the focal point F and the shape of the electron emission source 36a will be described with reference to FIG. The electron emission source 36a has a longitudinal direction in a direction parallel to the plane S1. As such a rectangular or oval electron emission source 36a, for example, a coil filament or a flat filament can be used. When the magnetic field Ha does not act at all, although not shown, a rectangular or oval focal point F0 is formed on the target surface 35b immediately below the electron emission source 36a, as in a normal X-ray tube. The shape of the focal point F0 is a rectangular or oval shape similar to the focal point F of FIG. When the magnetic field Ha acts, the focal point F is formed at a position having a shape similar to the focal point F0 and closer to the X-ray radiation window 33 side than the focal point F0. Making the shape of the electron emission source rectangular or oval increases the amount of electron emission, which is advantageous for obtaining a high tube current.

なお、電子放出源36aは、平面S1に平行となる方向に長手方向を有する複数の焦点を配置し、それらを交互に、又は同時に動作させることもできる。   In addition, the electron emission source 36a can arrange | position the some focus which has a longitudinal direction in the direction parallel to plane S1, and can also operate them alternately or simultaneously.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

例えば、上記で説明した実施形態では磁場Haは陰極36と陽極ターゲット面35bとの間の空間全域に亙ってつくられているが、磁場Haは少なくとも陽極ターゲット面35bを含み、その近傍の空間につくられていればよい。   For example, in the embodiment described above, the magnetic field Ha is generated over the entire space between the cathode 36 and the anode target surface 35b, but the magnetic field Ha includes at least the anode target surface 35b and the space in the vicinity thereof. If it is made in.

また例えば、X線管装置10は、閉塞機構をさらに備えていてもよい。閉塞機構は、X線放射窓33がハウジング20の開口部を通ってハウジング20の外部に露出した状態で、上記開口部及び真空外囲器31間を液密に閉塞する。X線放射窓33の過熱を防止することができるため、X線放射窓33を冷却液6に浸漬されないように構成することも可能である。上記のような構造のメリットを次に挙げる。   For example, the X-ray tube apparatus 10 may further include a closing mechanism. The closing mechanism liquid-tightly closes the opening and the vacuum envelope 31 in a state where the X-ray radiation window 33 is exposed to the outside of the housing 20 through the opening of the housing 20. Since the X-ray radiation window 33 can be prevented from being overheated, the X-ray radiation window 33 can be configured not to be immersed in the coolant 6. The advantages of the above structure are as follows.

(冷却液6が水系の場合):冷却液6に溶け出した金属がX線放射窓33に堆積してX線透過を低下させる不具合や、冷却液6中に発生した気泡がX線放射窓33の表面に集まってX線透過を局部的に増加させたりすることによるX線画像異常の発生を防止できる。   (When the cooling liquid 6 is an aqueous system): The metal which melted into the cooling liquid 6 accumulates on the X-ray emission window 33 and the X-ray transmission is lowered, and the bubbles generated in the cooling liquid 6 are X-ray emission windows. It is possible to prevent the occurrence of X-ray image abnormality caused by gathering on the surface 33 and locally increasing X-ray transmission.

(冷却液6が絶縁油の場合):X線放射窓33の表面での冷却液6の炭化物の堆積や、冷却液6に溶け出したX線遮蔽材料である鉛のX線放射窓33の表面への堆積によりX線透過を低下させる不具合の発生を防止できる。
本発明の実施形態は、上述したX線管装置10に限定されるものではなく、固定陽極型X線管を備えたX線管装置など、各種のX線管装置に適用可能である。
(When the coolant 6 is an insulating oil): The carbide of the coolant 6 on the surface of the X-ray radiation window 33 and the X-ray radiation window 33 of lead that is an X-ray shielding material dissolved in the coolant 6 It is possible to prevent the occurrence of defects that reduce X-ray transmission due to deposition on the surface.
Embodiments of the present invention are not limited to the X-ray tube device 10 described above, and can be applied to various X-ray tube devices such as an X-ray tube device including a fixed anode type X-ray tube.

3…冷却器、4…ポンプ、5…熱交換器、6,7…冷却液、9…集束電極、10…X線管装置、15,16…高電圧電源、17…集束電源、20…ハウジング、24…X線放射窓、30…X線管、31…真空外囲器、32…真空容器、32a…側壁、32b…上壁、33…X線放射窓、34…表面部、34a…反跳電子捕捉面、35…陽極ターゲット、35a…ターゲット層、35b…ターゲット面、35d…反跳電子捕捉面、36…陰極、36a…電子放出源、36b…陰極カップ、40,50…高電圧絶縁部材、100,110,120,140…磁気偏向部、130…容器、F…焦点、d1…第1方向、d2…第2方向、d3…第3方向、Ha,Hb,Hc…磁場、S1…第1平面、S2…第2平面、α…角度、β…角度。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Cooler, 4 ... Pump, 5 ... Heat exchanger, 6, 7 ... Coolant, 9 ... Focusing electrode, 10 ... X-ray tube apparatus, 15, 16 ... High voltage power supply, 17 ... Focusing power supply, 20 ... Housing 24 ... X-ray emission window, 30 ... X-ray tube, 31 ... Vacuum envelope, 32 ... Vacuum container, 32a ... Side wall, 32b ... Upper wall, 33 ... X-ray emission window, 34 ... Surface part, 34a ... Anti Electron capture surface, 35 ... anode target, 35a ... target layer, 35b ... target surface, 35d ... recoil electron capture surface, 36 ... cathode, 36a ... electron emission source, 36b ... cathode cup, 40, 50 ... high voltage insulation Member, 100, 110, 120, 140 ... Magnetic deflection part, 130 ... Container, F ... Focus, d1 ... First direction, d2 ... Second direction, d3 ... Third direction, Ha, Hb, Hc ... Magnetic field, S1 ... First plane, S2 ... second plane, α ... angle, β ... angle.

Claims (18)

第1方向に電子ビームを放出する電子放出源を有し接地される陰極と、第2方向から前記電子ビームが入射されることにより反跳電子が多く散乱する側となる第3方向に利用X線束を放出する焦点が形成されるターゲット面を有し正の高電圧が印加される陽極ターゲットと、前記陰極及び前記陽極ターゲットの間に配置され、前記正の高電圧よりも小さい正の集束電圧が印加されて前記電子ビームを集束させる集束電極と、前記陰極、前記陽極ターゲット及び前記集束電極を収容し内部が真空状態であり前記利用X線束を透過させるX線放射窓及び前記X線放射窓を含む領域の真空側の表面を形成し接地された表面部を有した真空外囲器と、を具備したX線管と、
前記電子ビームを偏向させ前記電子ビームの進行方向を前記第1方向から前記第2方向に連続的に変化させる磁場を前記陽極ターゲットの表面の近傍の空間につくる磁気偏向部と、を備え、
前記第1方向、第2方向及び第3方向は、第1平面に沿った方向であり、
前記第1方向は、前記陽極ターゲットに向かう方向であり前記第3方向に垂直な方向であり、
前記焦点が形成される位置の前記ターゲット面に接する第2平面から前記第2方向がなす角度は、0°より大きく40°以下であることを特徴とするX線管装置。
A cathode having an electron emission source emitting an electron beam in the first direction and grounded, and a third direction used as a side where a lot of recoil electrons are scattered when the electron beam is incident from the second direction X An anode target having a target surface on which a focal point that emits a bundle of rays is formed and a positive high voltage is applied, and a positive focusing voltage that is disposed between the cathode and the anode target and is smaller than the positive high voltage Is applied to the focusing electrode for focusing the electron beam, and the cathode, the anode target, and the focusing electrode are housed in a vacuum state and the X-ray radiation window and the X-ray radiation window allow the utilization X-ray flux to pass therethrough An X-ray tube comprising: a vacuum envelope having a grounded surface portion forming a vacuum side surface of a region including
A magnetic deflection unit that creates a magnetic field in the space near the surface of the anode target that deflects the electron beam and continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction to the second direction;
The first direction, the second direction, and the third direction are directions along the first plane;
The first direction is a direction toward the anode target and a direction perpendicular to the third direction,
An X-ray tube apparatus characterized in that an angle formed by the second direction from a second plane in contact with the target surface at a position where the focal point is formed is greater than 0 ° and not greater than 40 °.
前記焦点及び前記電子放出源は、前記第1平面に平行な方向を長手方向とする矩形若しくは長円形状であることを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。   2. The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the focal point and the electron emission source have a rectangular or oval shape whose longitudinal direction is a direction parallel to the first plane. 前記第1方向及び第2方向が下方を示すように前記X線放射窓側から前記磁場に視点をおいた場合を仮定すると、前記磁気偏向部は、前記第1平面に垂直な左向きの前記磁場を前記電子ビームに作用させることを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。   Assuming that the magnetic field is viewed from the X-ray emission window side so that the first direction and the second direction are downward, the magnetic deflection unit applies the left magnetic field perpendicular to the first plane. The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the X-ray tube apparatus operates on the electron beam. 前記磁気偏向部は、前記磁場を前記陽極ターゲットの表面に接する空間につくることを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。   The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the magnetic deflection unit creates the magnetic field in a space in contact with the surface of the anode target. 前記陽極ターゲットは、前記反跳電子が衝撃される反跳電子捕捉面をさらに有し、
前記表面部は、前記焦点から前記X線放射窓に向かって放出される前記反跳電子を押し戻し前記反跳電子捕捉面に衝撃させることを特徴とする請求項1に記載のX線管装置。
The anode target further has a recoil electron capture surface on which the recoil electrons are bombarded,
2. The X-ray tube apparatus according to claim 1, wherein the surface portion pushes back the recoil electrons emitted toward the X-ray emission window from the focal point and bombards the recoil electron capturing surface.
前記磁場より前記陰極に近い空間に補正磁場をつくり前記補正磁場を前記電子ビームに作用させ前記焦点の位置を微調整する焦点位置補正部をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のX線管装置。   6. A focus position correction unit that generates a correction magnetic field in a space closer to the cathode than the magnetic field and finely adjusts the position of the focus by causing the correction magnetic field to act on the electron beam. The X-ray tube apparatus according to any one of the above. 前記磁場より前記陰極に近い空間に補正電場をつくり前記補正電場を前記電子ビームに作用させ前記焦点の位置を微調整する焦点位置補正部をさらに備えていることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のX線管装置。   6. A focal position correction unit that generates a correction electric field in a space closer to the cathode than the magnetic field and finely adjusts the position of the focal point by causing the correction electric field to act on the electron beam. The X-ray tube apparatus according to any one of the above. 第1方向に電子ビームを放出する電子放出源を有し負の高電圧が印加される陰極と、第2方向から前記電子ビームが入射されることにより反跳電子が多く散乱する側となる第3方向に利用X線束を放出する焦点が形成されるターゲット面を有し接地され若しくは正の高電圧が印加される陽極ターゲットと、前記陰極及び前記陽極ターゲットの間に配置され、前記負の高電圧よりも大きくかつ前記陽極ターゲットに印加される電圧よりも小さい集束電圧が印加されて前記電子ビームを集束させる集束電極と、前記陰極、前記陽極ターゲット及び前記集束電極を収容し内部が真空状態であり前記利用X線束を透過させるX線放射窓及び前記X線放射窓を含む領域の真空側の表面を形成し接地された表面部を有した真空外囲器と、を具備したX線管と、
前記電子ビームを偏向させ前記電子ビームの進行方向を前記第1方向から前記第2方向に連続的に変化させる第1磁場を前記陽極ターゲットの表面の近傍の空間につくる第1磁気偏向部と、
前記焦点から前記X線放射窓に向かって放出される前記反跳電子を偏向させ前記X線放射窓から外れた前記表面部の反跳電子捕捉面に衝撃させる第2磁場をつくる第2磁気偏向部と、を備え、
前記第1方向、第2方向及び第3方向は、第1平面に沿った方向であり、
前記第1方向は、前記陽極ターゲットに向かう方向であり前記第3方向に垂直な方向であり、
前記焦点が形成される位置の前記ターゲット面に接する第2平面から前記第2方向がなす角度は、0°より大きく40°以下であることを特徴とするX線管装置。
A cathode having an electron emission source that emits an electron beam in the first direction and a negative high voltage applied thereto, and a side that scatters a lot of recoil electrons when the electron beam is incident from the second direction. An anode target that has a target surface on which a focal point that emits a utilization X-ray flux in three directions is formed and is grounded or a positive high voltage is applied, and is disposed between the cathode and the anode target, and the negative high A focusing electrode that focuses the electron beam by applying a focusing voltage that is larger than the voltage and smaller than the voltage applied to the anode target; and accommodates the cathode, the anode target, and the focusing electrode, and the inside is in a vacuum state An X-ray tube comprising: an X-ray radiation window that transmits the utilized X-ray flux; and a vacuum envelope having a grounded surface portion that forms a vacuum-side surface of a region including the X-ray radiation window ,
A first magnetic deflection unit that creates a first magnetic field in a space near the surface of the anode target that deflects the electron beam and continuously changes the traveling direction of the electron beam from the first direction to the second direction;
A second magnetic deflection that creates a second magnetic field that deflects the recoil electrons emitted from the focal point toward the X-ray emission window and impacts the recoil electron trapping surface of the surface portion outside the X-ray emission window. And comprising
The first direction, the second direction, and the third direction are directions along the first plane;
The first direction is a direction toward the anode target and a direction perpendicular to the third direction,
An X-ray tube apparatus characterized in that an angle formed by the second direction from a second plane in contact with the target surface at a position where the focal point is formed is greater than 0 ° and not greater than 40 °.
前記焦点及び前記電子放出源は、前記第1平面に平行な方向を長手方向とする矩形若しくは長円形状であることを特徴とする請求項8に記載のX線管装置。   9. The X-ray tube apparatus according to claim 8, wherein the focal point and the electron emission source have a rectangular or oval shape whose longitudinal direction is parallel to the first plane. 前記反跳電子捕捉面に重なった前記真空外囲器の外面に位置した冷却路を流れ前記真空外囲器に発生する熱の少なくとも一部が伝達される冷却液をさらに備えることを特徴とする請求項8に記載のX線管装置。   It further comprises a coolant that flows through a cooling path located on the outer surface of the vacuum envelope that overlaps the recoil electron trapping surface and that transmits at least a part of heat generated in the vacuum envelope. The X-ray tube apparatus according to claim 8. 前記第1方向及び第2方向が下方を示すように前記X線放射窓側から前記第1磁場及び第2磁場に視点をおいた場合を仮定すると、前記第1磁気偏向部は前記第1平面に垂直な左向きの前記第1磁場を前記電子ビームに作用させ、前記第2磁気偏向部は前記第1平面に垂直な左向きの前記第2磁場を前記反跳電子に作用させることを特徴とする請求項8に記載のX線管装置。   Assuming that the first magnetic field and the second magnetic field are viewed from the X-ray emission window side so that the first direction and the second direction are downward, the first magnetic deflection unit is located on the first plane. The vertical leftward first magnetic field acts on the electron beam, and the second magnetic deflection unit causes the leftward second magnetic field perpendicular to the first plane to act on the recoil electrons. Item 9. The X-ray tube device according to Item 8. 前記第1磁気偏向部は、前記第1磁場を前記陽極ターゲットの表面に接する空間につくることを特徴とする請求項8に記載のX線管装置。   The X-ray tube apparatus according to claim 8, wherein the first magnetic deflection unit creates the first magnetic field in a space in contact with the surface of the anode target. 前記第1磁気偏向部及び第2磁気偏向部は共用されていることを特徴とする請求項8乃至12の何れか1項に記載のX線管装置。   The X-ray tube apparatus according to claim 8, wherein the first magnetic deflection unit and the second magnetic deflection unit are shared. 前記第1磁場が作用する空間より前記陰極に近い空間に補正磁場をつくり前記補正磁場を前記電子ビームに作用させ前記焦点の位置を微調整する焦点位置補正部をさらに備えていることを特徴とする請求項8乃至13の何れか1項に記載のX線管装置。   And a focus position correction unit that generates a correction magnetic field in a space closer to the cathode than a space in which the first magnetic field acts, and finely adjusts the position of the focus by applying the correction magnetic field to the electron beam. The X-ray tube apparatus according to any one of claims 8 to 13. 前記第1磁場が作用する空間より前記陰極に近い空間に補正電場をつくり前記補正電場を前記電子ビームに作用させ前記焦点の位置を微調整する焦点位置補正部をさらに備えていることを特徴とする請求項8乃至13の何れか1項に記載のX線管装置。   And a focus position correction unit that generates a correction electric field in a space closer to the cathode than a space in which the first magnetic field acts, and finely adjusts the position of the focus by applying the correction electric field to the electron beam. The X-ray tube apparatus according to any one of claims 8 to 13. 前記X線管は、回転陽極型X線管であることを特徴とする請求項1乃至15の何れか1項に記載のX線管装置。   The X-ray tube device according to any one of claims 1 to 15, wherein the X-ray tube is a rotary anode type X-ray tube. 前記X線管は、固定陽極型X線管であることを特徴とする請求項1乃至15の何れか1項に記載のX線管装置。   The X-ray tube device according to any one of claims 1 to 15, wherein the X-ray tube is a fixed anode type X-ray tube. 開口部を有し前記X線管を収納したハウジングと、
前記X線管と前記ハウジングとの間の空間に充填された冷却液と、
前記X線放射窓が前記開口部を通って前記ハウジングの外部に露出した状態で、前記開口部及び真空外囲器間を液密に閉塞する閉塞機構と、をさらに備えていることを特徴とする請求項1又は8に記載のX線管装置。
A housing having an opening and containing the X-ray tube;
A coolant filled in a space between the X-ray tube and the housing;
A closing mechanism that liquid-tightly seals between the opening and the vacuum envelope in a state where the X-ray radiation window is exposed to the outside of the housing through the opening. The X-ray tube apparatus according to claim 1 or 8.
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