JP2015068741A - Sign panel inspection system and sign panel inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、サインパネルの外観検査を行うサインパネル検査システム等に関する。 The present invention relates to a sign panel inspection system that performs an appearance inspection of a sign panel.
サインパネルの撮影画像を用いてサインパネルの欠陥検査を行う外観検査方法として、サインパネルに対して斜め方向から検査光を照射した状態で、上方の撮影装置でサインパネルの撮影を行う方法が知られている（例えば、特許文献１〜３）。 As a visual inspection method for inspecting a sign panel for defects using a photographed image of the sign panel, a method of photographing the sign panel with an upper photographing device in a state where the inspection panel is irradiated with inspection light from an oblique direction is known. (For example, Patent Documents 1 to 3).
例えば、図７に示すように、基材であるカード２のサインパネルを設けた面に、斜め上方のバー照明４５ａ、４５ｂから検査光を照射し、カード２から反射した検査光を上方の撮影装置５により受光して撮影を行う。この撮影画像に基づいて、サインパネルの欠陥を検出することができる。 For example, as shown in FIG. 7, the inspection light reflected from the card 2 is photographed upward by irradiating the surface with the sign panel of the card 2 as a base material with the inspection light from the diagonally upper bar illuminations 45a and 45b. The device 5 receives light and performs photographing. Based on this photographed image, a sign panel defect can be detected.
しかしながら、このような方法では、サインパネルと基材の色が類似している場合などで撮影画像におけるサインパネルと周囲の基材のコントラストが低く、エッジ検出等によってサインパネルの領域抽出を安定的に行うことが困難であった。これにより、サインパネルの検査領域を適切に設定できなかったり、欠陥の検出精度が落ちる問題があった。 However, in such a method, when the color of the sign panel and the base material is similar, the contrast between the sign panel and the surrounding base material in the captured image is low, and the extraction of the area of the sign panel is stable by edge detection etc. It was difficult to do. As a result, there is a problem that the inspection area of the sign panel cannot be set appropriately, and the defect detection accuracy is lowered.
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、好適に外観検査が可能なサインパネル検査システム等を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a sign panel inspection system and the like that can suitably perform an appearance inspection.
前述した目的を達成するための第１の発明は、基材に設けられたサインパネルの欠陥を検査するサインパネル検査システムであって、前記基材に検査光を照射する照明装置と、前記基材から反射した前記検査光を受光して撮影を行う撮影装置と、前記撮影装置で撮影を行った画像に基づき前記サインパネルの欠陥の検査を行う検査装置と、を備え、前記照明装置は、前記基材に対し、前記撮影装置の方向から検査光を照射する第１の照明と、前記基材に対し、前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向から検査光を照射する第２の照明と、を有し、前記検査装置は、前記第１の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、検査対象となる前記サインパネルの領域の抽出を行うことを特徴とするサインパネル検査システムである。 A first invention for achieving the above-described object is a sign panel inspection system for inspecting a defect of a sign panel provided on a base material, the illumination device for irradiating the base material with inspection light, and the base An imaging device that performs imaging by receiving the inspection light reflected from the material, and an inspection device that inspects defects of the sign panel based on an image captured by the imaging device, and the illumination device includes: A first illumination that irradiates the substrate with inspection light from the direction of the imaging device; and a second illumination that irradiates the substrate with inspection light from an oblique direction different from the direction of the imaging device. And the inspection apparatus extracts a region of the sign panel to be inspected from a photographed image obtained by photographing the base material under the first illumination. is there.
本発明では、撮影装置の方向から基材へ検査光を照射し、検査光の照射方向と基材からの検査光の反射方向が同軸となる同軸落射照明を用いて基材を撮影する。この画像では、サインパネルと基材の色が類似する場合でも、サインパネルと周囲の基材とのコントラストが大きくなるので、サインパネルの領域がエッジ部分までより正確に検出できる。また、本発明では基材に斜め方向から検査光を照射する斜光照明下でも基材を撮影する。この画像では、サインパネルが明るく現れるので、サインパネルの欠陥検査を好適に行える。 In the present invention, the substrate is irradiated with inspection light from the direction of the imaging device, and the substrate is imaged using coaxial epi-illumination in which the irradiation direction of the inspection light and the reflection direction of the inspection light from the substrate are coaxial. In this image, even when the colors of the sign panel and the base material are similar, the contrast between the sign panel and the surrounding base material is increased, so that the sign panel region can be detected more accurately up to the edge portion. In the present invention, the substrate is also photographed under oblique illumination in which the substrate is irradiated with inspection light from an oblique direction. In this image, since the sign panel appears brightly, the defect inspection of the sign panel can be suitably performed.
前記検査装置は、前記第２の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、前記サインパネルからの色調変化を伴う欠陥の検出を行うことが望ましい。
同軸落射照明下の撮影画像ではサインパネルの領域自体が暗く現れるので、色調変化を伴う欠陥を検出することが難しい。本発明では、前記したように、サインパネルが明るく現れる斜光照明下での撮影画像も用いて欠陥検査を行うので、このような欠陥についても検出可能である。
It is desirable that the inspection apparatus detect a defect accompanied by a color tone change from the sign panel from a photographed image obtained by photographing the base material under the second illumination.
In the photographed image under the coaxial epi-illumination, the sign panel area itself appears dark, so it is difficult to detect a defect accompanied by a color tone change. In the present invention, as described above, since the defect inspection is performed using the captured image under the oblique illumination where the sign panel appears brightly, such a defect can be detected.
前記照明装置は、前記基材に対し、前記撮影装置の方向に設けられるハーフミラーと、前記ハーフミラーを介して前記基材に検査光を照射する光源と、前記基材に対し、前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向に設けられた光源を有し、各光源の点灯、消灯が切り替え可能であることが望ましい。
これにより、１つの装置で前記した２種類の照明下で基材が撮影でき、ハーフミラーやカメラ等の部品を共用することによる省スペース化、コストダウン化ができる。また、基材を搬送してほぼ同じ位置で２種類の照明下で連続して撮影ができるため、欠陥を瞬時に判別して製造工程に早くフィードバックをかけることができ、適切な処置を素早く施すことで不良品を低減できる。
The illumination device includes a half mirror provided in the direction of the photographing device with respect to the base, a light source that irradiates the base with inspection light via the half mirror, and the photographing device for the base. It is desirable to have a light source provided in an oblique direction different from the above direction, and to switch on / off of each light source.
Thereby, the substrate can be photographed under the above-described two types of illumination with one apparatus, and space saving and cost reduction can be achieved by sharing parts such as a half mirror and a camera. In addition, since the substrate can be transported and photographed continuously under two types of illumination at approximately the same position, defects can be identified instantaneously and feedback can be quickly applied to the manufacturing process, and appropriate measures can be taken quickly. This can reduce defective products.
前記第１の照明は、前記検査光として平行光を前記基材に照射することが望ましい。
この場合、基材やサインパネルに絵柄が形成されていても、サインパネルの領域抽出等への影響が小さくなる。
It is desirable that the first illumination irradiates the base material with parallel light as the inspection light.
In this case, even if a pattern is formed on the base material or the sign panel, the influence on the area extraction of the sign panel is reduced.
第２の発明は、基材に設けられたサインパネルの欠陥を検査するサインパネル検査方法であって、照明装置により、前記基材に検査光を照射するステップと、撮影装置により、前記基材から反射した前記検査光を受光して撮影を行うステップと、検査装置により、前記撮影装置で撮影を行った画像に基づき前記サインパネルの欠陥の検査を行うステップと、を具備し、前記撮影装置は、前記照明装置の第１の照明によって前記撮影装置の方向から検査光が照射された前記基材の撮影を行うとともに、前記照明装置の第２の照明によって前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向から検査光が照射された前記基材の撮影を行い、前記検査装置は、前記第１の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、検査対象となる前記サインパネルの領域の抽出を行うことを特徴とするサインパネル検査方法である。 A second invention is a sign panel inspection method for inspecting a defect of a sign panel provided on a base material, the step of irradiating the base material with inspection light by an illumination device, and the photographing device, Receiving the inspection light reflected from the image, and performing an inspection by the inspection apparatus, and inspecting the defect of the sign panel based on an image captured by the imaging apparatus. Takes an image of the base material irradiated with inspection light from the direction of the imaging device by the first illumination of the illumination device, and obliquely differs from the direction of the imaging device by the second illumination of the illumination device The base material irradiated with inspection light from a direction is photographed, and the inspection device extracts an area of the sign panel to be inspected from a photographed image of the base material under the first illumination. A sign panel inspection method and performing.
本発明により、好適に外観検査が可能なサインパネル検査システム等を提供することが可能になる。 According to the present invention, it is possible to provide a sign panel inspection system and the like that can suitably perform an appearance inspection.
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
［第１の実施形態］
図１は、本発明の第１の実施形態に係るサインパネル検査システム１を示す図である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram showing a sign panel inspection system 1 according to the first embodiment of the present invention.
図に示すように、サインパネル検査システム１は、搬送台３、照明装置４、撮影装置５、検査装置６、制御装置７、トリガ発生装置８、検査情報表示装置９等で構成される。 As shown in the figure, the sign panel inspection system 1 includes a carriage 3, an illumination device 4, a photographing device 5, an inspection device 6, a control device 7, a trigger generation device 8, an inspection information display device 9, and the like.
搬送台３は例えばコンベアであり、サインパネルを設けた基材であるカード２を搬送するものである。 The conveyance stand 3 is a conveyor, for example, and conveys the card | curd 2 which is the base material which provided the sign panel.
図２はカード２の例を示す図である。このカード２は樹脂等で形成され、カード所有者が氏名等を筆記可能なサインパネル２１が、印刷や貼着等により表面に形成されている。サインパネル２１はインク等による筆記を可能にするため粗面を有しており、カード２のサインパネル２１を除いた周囲の部分は平滑面である。なお、カード２やサインパネル２１には、文字や記号、図形などの絵柄がインク等で形成される場合もある。 FIG. 2 is a diagram showing an example of the card 2. The card 2 is formed of a resin or the like, and a sign panel 21 on which a cardholder can write a name or the like is formed on the surface by printing or sticking. The sign panel 21 has a rough surface to enable writing with ink or the like, and the peripheral portion of the card 2 excluding the sign panel 21 is a smooth surface. In some cases, the card 2 or the sign panel 21 may be formed with characters, symbols, graphics, or other patterns such as ink.
図１の説明に戻る。サインパネル検査システム１では、図に示すカード２の検査位置にて、カード２の直上に照明装置４と撮影装置５が配置される。 Returning to the description of FIG. In the sign panel inspection system 1, the illumination device 4 and the photographing device 5 are arranged immediately above the card 2 at the inspection position of the card 2 shown in the drawing.
照明装置４は、同軸落射照明４０（第１の照明）と、１対のバー照明４５ａ、４５ｂ（第２の照明）を有する。 The illumination device 4 includes a coaxial epi-illumination 40 (first illumination) and a pair of bar illuminations 45a and 45b (second illumination).
同軸落射照明４０は、撮影装置５の方向から検査光をカード２へと照射するもので、検査光の照射方向と平行（同軸）方向にカード２から反射した検査光が、撮影装置５で受光される。 The coaxial epi-illumination 40 irradiates the inspection light onto the card 2 from the direction of the imaging device 5, and the inspection light reflected from the card 2 in a direction parallel (coaxial) to the irradiation direction of the inspection light is received by the imaging device 5. Is done.
本実施形態では、同軸落射照明４０は、面光源４１、ハーフミラー４３等を有する。 In the present embodiment, the coaxial epi-illumination 40 includes a surface light source 41, a half mirror 43, and the like.
面光源４１は、例えば、複数のＬＥＤ光源を２次元に配列し、光放射方向の前面に拡散板を設けて構成される。
ハーフミラー４３は、カード２に対して撮影装置５の方向に設けられ、面光源４１からの検査光（矢印ａで示す）を反射して撮影装置５の方向からカード２に照射する。また、カード２から反射して撮影装置５に向かう検査光（矢印ｃで示す）を透過させる。
The surface light source 41 is configured by, for example, arranging a plurality of LED light sources two-dimensionally and providing a diffusion plate on the front surface in the light emission direction.
The half mirror 43 is provided in the direction of the photographing device 5 with respect to the card 2, reflects the inspection light (indicated by an arrow a) from the surface light source 41 and irradiates the card 2 from the direction of the photographing device 5. Further, inspection light (indicated by an arrow c) reflected from the card 2 and directed to the photographing apparatus 5 is transmitted.
バー照明４５ａ、４５ｂは、カード２に対して撮影装置５の方向とは異なる斜め方向に設けられ、カード２の両側の斜め上方からカード２に検査光を照射する斜光照明である。 The bar illuminations 45 a and 45 b are oblique illuminations that are provided in an oblique direction different from the direction of the photographing device 5 with respect to the card 2 and irradiate the card 2 with inspection light from obliquely above both sides of the card 2.
バー照明４５ａ、４５ｂは、例えば、複数のＬＥＤ光源をライン状に配列し、光放射方向の前面に拡散板を設けて構成される。 The bar illuminations 45a and 45b are configured, for example, by arranging a plurality of LED light sources in a line and providing a diffusion plate on the front surface in the light emission direction.
バー照明４５ａ、４５ｂから照射された検査光（矢印ｂで示す）については、カード２から撮影装置５の方向へと直上に反射する成分のみが矢印ｃに示すようにハーフミラー４３を透過し、撮影装置５に向かう。このバー照明４５ａ、４５ｂおよび前記の同軸落射照明４０の光源は、点灯、消灯が切り替え可能である。 For the inspection light (indicated by arrow b) emitted from the bar lights 45a and 45b, only the component reflected directly upward from the card 2 in the direction of the photographing device 5 is transmitted through the half mirror 43 as indicated by the arrow c. Head to the imaging device 5. The light sources of the bar illuminations 45a and 45b and the coaxial epi-illumination 40 can be switched on and off.
撮影装置５は、カード２を反射した検査光を受光して撮影を行うもので、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラ、エリアセンサー、ラインセンサー等が用いられる。ただし、撮影装置５はこれに限らず、カード２の撮影ができればよい。 The imaging device 5 receives the inspection light reflected from the card 2 and performs imaging. For example, a CCD (Charge Coupled Device) camera, an area sensor, a line sensor, or the like is used. However, the photographing device 5 is not limited to this, and it is sufficient that the card 2 can be photographed.
検査装置６は、照明装置４、撮影装置５と接続し、これらの制御を行う。また、カード２の撮影画像に対し既知の画像処理手法を用いて後述するサインパネル２１の欠陥検査を行う。検査装置６は、例えば、制御部、記憶部等を有する一般的なコンピュータで実現できる。 The inspection device 6 is connected to the illumination device 4 and the imaging device 5 and controls them. Further, a defect inspection of the sign panel 21 described later is performed on the captured image of the card 2 using a known image processing method. The inspection device 6 can be realized by, for example, a general computer having a control unit, a storage unit, and the like.
制御装置７は、例えばＰＬＣ(Programmable Logic Controller)であり、検査装置６、トリガ発生装置８、検査情報表示装置９と接続される。制御装置７は、トリガ発生装置８から信号が入力されると、検査装置６に撮影信号を出力する。 The control device 7 is a PLC (Programmable Logic Controller), for example, and is connected to the inspection device 6, the trigger generation device 8, and the inspection information display device 9. When a signal is input from the trigger generation device 8, the control device 7 outputs an imaging signal to the inspection device 6.
トリガ発生装置８は、カード２の撮影を行う旨の信号を制御装置７に出力するもので、例えば搬送台３上の所定位置に設けた、カード２を検知するためのセンサである。この場合、センサでカード２を検知すると制御装置７に信号が出力され、カード２が検査位置へ搬送されるまでの時間を考慮してカード２が検査位置に存在するタイミングで撮影が行われるよう、制御装置７が検査装置６に撮影信号を出力する。 The trigger generation device 8 outputs a signal indicating that the card 2 is photographed to the control device 7, and is a sensor for detecting the card 2 provided at a predetermined position on the transport table 3, for example. In this case, when the card 2 is detected by the sensor, a signal is output to the control device 7 and the image is taken at the timing when the card 2 is present at the inspection position in consideration of the time until the card 2 is transported to the inspection position. The control device 7 outputs a photographing signal to the inspection device 6.
検査情報表示装置９は、カード２の撮影画像やサインパネル２１の検査結果などを表示するものであり、例えば液晶モニターなどが用いられる。 The inspection information display device 9 displays a photographed image of the card 2 and an inspection result of the sign panel 21. For example, a liquid crystal monitor is used.
（２．カード２の撮影画像）
前記した同軸落射照明４０下でカード２の撮影を行った撮影画像の例を、図３（ａ）に模式的に示す。図はサインパネル２１とその周囲のカード部分の境界付近を示し、下方がサインパネル２１、上方がサインパネル２１を除くカード部分である。また、左図はカード２が金属色の場合、右図はカード２が白色の場合であり、両方ともサインパネル２１は白色である。
(2. Photographed image of card 2)
An example of a photographed image obtained by photographing the card 2 under the coaxial incident illumination 40 is schematically shown in FIG. The figure shows the vicinity of the boundary between the sign panel 21 and the surrounding card part, the lower part is the sign panel 21 and the upper part is the card part excluding the sign panel 21. Moreover, the left figure is a case where the card 2 is a metal color, the right figure is a case where the card 2 is white, and the sign panel 21 is white in both cases.
同軸落射照明４０下で撮影を行った場合、サインパネル２１の周囲のカード部分では、平滑面で検査光が正反射して大部分が撮影装置５に入射する。一方、サインパネル２１の粗面では検査光が拡散反射して一部のみ撮影装置５に入射する。従って、撮影装置５で撮影した画像では、サインパネル２１の周囲のカード部分は明るく、サインパネル２１の部分はそれよりも暗く現れ、両部分のコントラストは大きい。 When photographing is performed under the coaxial epi-illumination 40, the inspection light is regularly reflected on the smooth surface of the card portion around the sign panel 21, and most of the light enters the photographing device 5. On the other hand, the inspection light is diffusely reflected on the rough surface of the sign panel 21 and only partially enters the imaging device 5. Therefore, in the image photographed by the photographing device 5, the card portion around the sign panel 21 appears bright, the sign panel 21 portion appears darker, and the contrast of both portions is large.
次に、前記したバー照明４５ａ、４５ｂ下でカード２の撮影を行った撮影画像の例を、図３（ｂ）に模式的に示す。前記と同じく、図はサインパネル２１とその周囲のカード部分の境界付近を示し、下方がサインパネル２１、上方がサインパネル２１を除くカード部分である。また、左図はカード２が金属色の場合、右図はカード２が白色の場合であり、両方ともサインパネル２１は白色である。 Next, an example of a photographed image obtained by photographing the card 2 under the bar illuminations 45a and 45b described above is schematically shown in FIG. Similarly to the above, the figure shows the vicinity of the boundary between the sign panel 21 and the surrounding card part, the lower part is the card part excluding the sign panel 21 and the upper part is the card part excluding the sign panel 21. Moreover, the left figure is a case where the card 2 is a metal color, the right figure is a case where the card 2 is white, and the sign panel 21 is white in both cases.
バー照明４５ａ、４５ｂ下で撮影を行った場合、サインパネル２１の粗面では、検査光が拡散反射して一部が撮影装置５で受光され、撮影画像中で明るく現れる。 When photographing is performed under the bar lights 45a and 45b, the inspection light is diffusely reflected on the rough surface of the sign panel 21, and a part of the inspection light is received by the photographing device 5, and appears bright in the photographed image.
一方、サインパネル２１の周囲のカード部分では平滑面で検査光が正反射し、その反射方向が撮影装置５の方向から外れるので、撮影画像中で暗く現れると考えられる。しかし、実際には、カード２が白色の場合にサインパネル２１を除くカード部分が明るく現れ、サインパネル２１とのコントラストが小さくなる。 On the other hand, in the card portion around the sign panel 21, the inspection light is regularly reflected on the smooth surface, and the reflection direction deviates from the direction of the photographing device 5. However, actually, when the card 2 is white, the card portion excluding the sign panel 21 appears bright, and the contrast with the sign panel 21 is reduced.
その理由について、一つには、カード部分も若干の拡散反射性を有し、そのためサインパネル２１とその周囲のカード部分が類似色の場合にコントラストが小さくなることが考えられる。 One reason for this is that the card portion also has some diffuse reflectivity, so that the contrast is reduced when the sign panel 21 and the surrounding card portion are similar in color.
（３．サインパネル検査方法）
次に、図４を参照しながら、サインパネル検査システム１におけるサインパネル検査方法の手順について説明する。図４はサインパネル検査方法の手順を示すフローチャートであり、図の各ステップは検査装置６が実行する処理である。
(3. Sign panel inspection method)
Next, the procedure of the sign panel inspection method in the sign panel inspection system 1 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of the sign panel inspection method. Each step in the figure is a process executed by the inspection device 6.
本実施形態では、前記したように、トリガ発生装置８が搬送台３上の所定位置にあるカード２を検知すると、制御装置７に信号を出力する。制御装置７はこの信号に応じて検査装置６に撮影信号を出力する。 In the present embodiment, as described above, when the trigger generating device 8 detects the card 2 at a predetermined position on the transport table 3, a signal is output to the control device 7. The control device 7 outputs a photographing signal to the inspection device 6 in response to this signal.
検査装置６はこの撮影信号に従って、カード２が検査位置に存在するタイミングで、カード２の撮影を同軸落射照明下で行うための制御信号を、照明装置４と撮影装置５に出力する（Ｓ１）。これにより、照明装置４の同軸落射照明４０を点灯して検査光をカード２に照射し、カード２から反射した検査光を撮影装置５で受光し、同軸落射照明４０下でのカード２の撮影を行う。 The inspection device 6 outputs a control signal for photographing the card 2 under coaxial epi-illumination to the illumination device 4 and the photographing device 5 at the timing when the card 2 is present at the inspection position in accordance with the photographing signal (S1). . Thereby, the coaxial epi-illumination 40 of the illuminating device 4 is turned on, the inspection light is irradiated onto the card 2, the inspection light reflected from the card 2 is received by the photographing device 5, and the card 2 is photographed under the coaxial epi-illumination 40. I do.
続いて、検査装置６は、カード２の撮影をバー照明下で行うための制御信号を照明装置４と撮影装置５に出力する（Ｓ２）。これにより、照明装置４の同軸落射照明４０を消灯してバー照明４５ａ、４５ｂを点灯し、検査光をカード２に照射してカード２から反射した検査光を撮影装置５で受光し、バー照明４５ａ、４５ｂ下でのカード２の撮影を行う。 Subsequently, the inspection device 6 outputs a control signal for photographing the card 2 under bar illumination to the illumination device 4 and the photographing device 5 (S2). As a result, the coaxial epi-illumination 40 of the illumination device 4 is turned off, the bar illuminations 45a and 45b are turned on, the inspection light reflected on the card 2 is received by the imaging device 5, and the bar illumination is received. The card 2 is photographed under 45a and 45b.
続いて、検査装置６は、サインパネル２１とその周囲のカード部分とのコントラストが明確な、同軸落射照明４０下での撮影画像（図３（ａ）参照）から、検査領域としてサインパネル２１の領域を抽出する（Ｓ３）。ここでは、例えば撮影画像を所定の閾値で二値化するなどして領域抽出が可能である。 Subsequently, the inspection apparatus 6 uses the photographed image under the coaxial incident illumination 40 (see FIG. 3A), where the contrast between the sign panel 21 and the surrounding card portion is clear, as an inspection area. An area is extracted (S3). Here, for example, the region can be extracted by binarizing the captured image with a predetermined threshold.
次に、検査装置６は、同軸落射照明４０下の撮影画像から抽出されたサインパネル２１の領域に関し、位置ずれ・サイズ不良・抜け（サインパネルの領域内でサインパネルが形成されない部分）・欠け（サインパネルが側方から欠けている部分）、キズの検出を行う（Ｓ４）。 Next, the inspection device 6 relates to the area of the sign panel 21 extracted from the photographed image under the coaxial incident illumination 40, and is misaligned, defective in size, missing (a part where the sign panel is not formed in the area of the sign panel), or missing. (A part where the sign panel is missing from the side), scratches are detected (S4).
本発明における欠陥とは、サインパネル２１の位置ずれ、サイズ不良、抜け、欠け、キズや、後述するサインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥を意味し、位置ずれやサイズの不良については、例えば予め定めた正常位置および正常サイズとの比較を行い、これと異なっていれば不良と判定することができる。また、抜けや欠けについては、地のカード部分が露出されることによりサインパネル２１の暗領域内で明るく現れるので、例えば閾値による二値化を行い明領域として検出可能である。なお、抜けや欠けと同じくサインパネル２１のキズなども検出可能である。 The defect in the present invention means a positional deviation, a size defect, a missing part, a chipping, a scratch of the sign panel 21 and a defect accompanied by a color change from the sign panel 21 to be described later. Comparison with a predetermined normal position and normal size is performed, and if it is different from this, it can be determined as defective. In addition, the omission and chipping appear bright in the dark area of the sign panel 21 by exposing the ground card portion, and therefore can be detected as a bright area by binarization using a threshold value, for example. Note that scratches and the like on the sign panel 21 can be detected as well as missing or missing parts.
続いて、検査装置６は、Ｓ３の領域検出で抽出されたサインパネル２１の領域の位置情報を用いて、サインパネル２１が明るく現れたバー照明４５ａ、４５ｂ下での撮影画像（図３（ｂ）参照）において、既知の画像処理手法を用いてサインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥の検査を行う（Ｓ５）。サインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥としては、例えば、汚れ、変色、インキ付着、異物付着、繊維付着等がある。 Subsequently, the inspection apparatus 6 uses the position information of the area of the sign panel 21 extracted in the area detection of S3, and the captured images under the bar illuminations 45a and 45b where the sign panel 21 appears brightly (FIG. 3B). In step S5), a defect with a change in color tone from the sign panel 21 is inspected using a known image processing method (S5). Examples of the defect accompanying the change in color tone from the sign panel 21 include dirt, discoloration, ink adhesion, foreign matter adhesion, and fiber adhesion.
バー照明４５ａ、４５ｂ下での撮影画像では、サインパネル２１の領域が明るく現れるので、例えば、サインパネル２１と色調が異なり反射率の低くなる汚れ等の部分が暗領域として現れる。従って、この部分は、例えば基準画像との比較により、反射率の違いに伴う所定の階調値の差が生じた部分として検出可能である。その他、この撮影画像では、サインパネル２１に反射率の低い絵柄等が形成されている場合に、その絵柄の種類や向きなどの検査も可能である。この検査も上記と同様、基準画像との比較により行うことができる。また、サインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥は、サインパネル２１との色の違い（例えばカラー画像を検査に用いる場合のＲＧＢ階調値などの違い）により検出することも可能である。このような検査は、サインパネル２１の領域自体が暗く現れる前記の同軸落射照明４０下の撮影画像では困難であるので、こうしてバー照明４５ａ、４５ｂ下の撮影画像を用いて検査を行う。 In the photographed images under the bar lights 45a and 45b, the area of the sign panel 21 appears brightly. For example, a portion such as a stain having a different color tone from the sign panel 21 and having a low reflectance appears as a dark area. Therefore, this portion can be detected as a portion where a difference in predetermined gradation value due to a difference in reflectance has occurred, for example, by comparison with a reference image. In addition, in this photographed image, when a pattern or the like having a low reflectance is formed on the sign panel 21, it is possible to inspect the type and orientation of the pattern. Similar to the above, this inspection can also be performed by comparison with a reference image. Further, a defect accompanied by a change in color tone from the sign panel 21 can be detected by a difference in color from the sign panel 21 (for example, a difference in RGB gradation values when a color image is used for inspection). Such an inspection is difficult for a photographed image under the coaxial epi-illumination 40 in which the area of the sign panel 21 appears dark, and thus the inspection is performed using the photographed images under the bar lights 45a and 45b.
以上のように、本実施形態では、撮影装置５の方向からカード２へ検査光を照射し、この照射方向とカード２からの検査光の反射方向が同軸上となる同軸落射照明を用いてカード２を撮影する。この撮影画像では、前記したように、サインパネル２１とカード２の色が類似する場合でも、サインパネル２１と周囲のカード部分とのコントラストが大きくなるので、サインパネル２１の領域がエッジ部分までより正確に検出できる。また、本実施形態ではカード２に斜め方向から検査光を照射するバー照明４５ａ、４５ｂ下でもカード２を撮影する。この撮影画像では、サインパネル２１が明るく現れるので、サインパネル２１の汚れ等、サインパネルからの色調変化を伴う欠陥の検査が好適に行える。 As described above, in the present embodiment, the card 2 is irradiated with the inspection light from the direction of the photographing device 5, and the card using the coaxial epi-illumination in which the irradiation direction and the reflection direction of the inspection light from the card 2 are coaxial. Take 2 In this photographed image, as described above, even when the sign panel 21 and the card 2 are similar in color, the contrast between the sign panel 21 and the surrounding card portion increases, so that the area of the sign panel 21 extends to the edge portion. It can be detected accurately. In the present embodiment, the card 2 is also photographed under the bar lights 45a and 45b that irradiate the card 2 with inspection light from an oblique direction. In the photographed image, the sign panel 21 appears brightly, so that it is possible to suitably inspect for defects accompanying color change from the sign panel, such as dirt on the sign panel 21.
また、本実施形態に係る照明装置４は、前記した光源やハーフミラーなどの構成により、同軸落射照明４０とバー照明４５の両方を備え、１つの撮影装置５により、同軸落射照明４０下及びバー照明４５ａ、４５ｂ下で順次撮影を行うことが可能である。従って、ハーフミラーやカメラ等の部品を共用することによる省スペース化、コストダウン化ができる。また、カード２を搬送してほぼ同じ位置で２種類の照明下で連続して撮影ができるため、欠陥を瞬時に判別して製造工程に早くフィードバックをかけることができ、例えば抜け・欠けならば印刷工程の条件調整、汚れならばラインの清掃など、適切な処置を素早く施すことができ不良品を低減できる。 Moreover, the illuminating device 4 according to the present embodiment includes both the coaxial epi-illumination 40 and the bar illumination 45 with the above-described configuration of the light source, the half mirror, and the like. It is possible to perform photographing sequentially under the illuminations 45a and 45b. Therefore, space saving and cost reduction can be achieved by sharing parts such as a half mirror and a camera. Further, since the card 2 can be conveyed and continuously photographed under two types of illumination at substantially the same position, defects can be instantly identified and feedback can be quickly applied to the manufacturing process. Appropriate measures such as adjusting the conditions of the printing process and cleaning the line if it is dirty can be quickly applied, and defective products can be reduced.
また、本実施形態では、同軸落射照明４０下での撮影画像から抜けや欠け、キズなどの検出を行い、バー照明４５ａ、４５ｂ下の撮影画像から汚れ等、サインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥の検出を行っているので、これら２種類の撮影画像のサインパネル２１の部分を検査情報表示装置９で切り替えて表示すれば、抜け・欠け、キズの画像と、サインパネル２１からの色調変化を伴う欠陥の画像が瞬時に切り替えて表示され、欠陥箇所があたかも点滅するような映像が得られ、オペレータの視認性が向上し検査の質が向上するという効果もある。 Further, in the present embodiment, omission, chipping, scratches, and the like are detected from the captured image under the coaxial epi-illumination 40, and a change in color tone from the sign panel 21 such as dirt is detected from the captured image under the bar illuminations 45a and 45b. Since defects are detected, if the portions of the sign panel 21 of these two types of captured images are switched and displayed on the inspection information display device 9, images of missing / scratched and scratched images and color tone changes from the sign panel 21 are displayed. An image of a defect accompanied with a defect is instantaneously switched and displayed, and an image in which the defective part blinks is obtained, which has an effect of improving the visibility of the operator and improving the inspection quality.
しかしながら、本発明が上記の実施形態に限ることはない。例えば本実施形態ではカード２を連続搬送しながら撮影を行う例を示したが、カード２の搬送と停止を繰り返し、間欠的に搬送を行ってもよい。この場合では搬送停止時にカード２を撮影するものとし、トリガ発生装置８を省略することも可能である。 However, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the present embodiment, an example is shown in which shooting is performed while the card 2 is continuously transported, but the transport and stop of the card 2 may be repeated and transported intermittently. In this case, the card 2 is photographed when the conveyance is stopped, and the trigger generator 8 can be omitted.
また、本実施形態では同軸落射照明４０下での撮影画像から抜けや欠け、キズの検出を行っているが、カード２とサインパネル２１の色が非類似の場合であれば、これらの欠陥の検出は、バー照明４５ａ、４５ｂ下の撮影画像でも可能である。例えばカード２の反射率がサインパネル２１より低い場合（図３（ｂ）左図参照）、汚れ等の他に抜けや欠け、キズの欠陥箇所が、サインパネル２１の明領域内の暗領域として現れる。 Further, in the present embodiment, omission, chipping, and scratches are detected from a photographed image under the coaxial epi-illumination 40. If the colors of the card 2 and the sign panel 21 are dissimilar, these defects are detected. The detection is also possible for the captured images under the bar lights 45a and 45b. For example, when the reflectance of the card 2 is lower than that of the sign panel 21 (see the left figure in FIG. 3B), a defect portion such as omission, chipping or scratches in addition to dirt is a dark area in the bright area of the sign panel 21. appear.
［第２の実施形態］
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。第２の実施形態は第１の実施形態と異なる点について主に説明し、同様の点については図等で同じ符号を付すなどして説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The second embodiment will mainly describe differences from the first embodiment, and the same points will be denoted by the same reference numerals in the drawings and the like, and description thereof will be omitted.
図５は第２の実施形態に係るサインパネル検査システム１ａを示す図である。このサインパネル検査システム１ａは、同軸落射照明４０ａの構成において第１の実施形態と異なる。 FIG. 5 is a diagram showing a sign panel inspection system 1a according to the second embodiment. The sign panel inspection system 1a is different from the first embodiment in the configuration of the coaxial incident illumination 40a.
同軸落射照明４０ａは、光源４８、ミラー４６、フレネルレンズ４７、ハーフミラー４３等で構成される。 The coaxial incident illumination 40a includes a light source 48, a mirror 46, a Fresnel lens 47, a half mirror 43, and the like.
光源４８は、例えば、複数のＬＥＤ光源を配列し、光放射方向の前面に拡散板を設けて構成される。
ミラー４６は、光源４８からの検査光（矢印ａで示す）をハーフミラー４３に向けて反射する。
フレネルレンズ４７は、ミラー４６とハーフミラー４３の間に設けられ、透過する検査光を平行光に変換する。
The light source 48 is configured, for example, by arranging a plurality of LED light sources and providing a diffusion plate on the front surface in the light emission direction.
The mirror 46 reflects the inspection light (indicated by the arrow a) from the light source 48 toward the half mirror 43.
The Fresnel lens 47 is provided between the mirror 46 and the half mirror 43 and converts the transmitted inspection light into parallel light.
本実施形態の同軸落射照明４０ａでは、フレネルレンズ４７によって平行光に変換された検査光を、前記と同様にハーフミラー４３で反射させカード２に照射する。撮影装置５は、前記と同様、カード２から反射した検査光を受光して撮影を行う。 In the coaxial incident illumination 40a of this embodiment, the inspection light converted into parallel light by the Fresnel lens 47 is reflected by the half mirror 43 and irradiated onto the card 2 in the same manner as described above. As described above, the imaging device 5 receives the inspection light reflected from the card 2 and performs imaging.
図６（ａ）は、この同軸落射照明４０ａ下でカード２の撮影を行った撮影画像の例を模式的に示したものである。また、図６（ｂ）に、第１の実施形態の同軸落射照明４０下での撮影画像の例を比較のため模式的に示した。図６（ａ）、（ｂ）はサインパネル２１とその周囲のカード部分を示し、カード２は金属色、サインパネル２１は白色である。また、カード２の一部分には、反射率の低い絵柄として文字２３が形成されている。 FIG. 6A schematically shows an example of a photographed image obtained by photographing the card 2 under the coaxial epi-illumination 40a. FIG. 6B schematically shows an example of a captured image under the coaxial epi-illumination 40 according to the first embodiment for comparison. FIGS. 6A and 6B show the sign panel 21 and the surrounding card portion. The card 2 is a metal color and the sign panel 21 is white. In addition, a character 23 is formed on a part of the card 2 as a pattern having a low reflectance.
図に示すように、第２の実施形態に係る同軸落射照明４０ａ下での撮影画像では、前記の同軸落射照明４０下での撮影画像に比べ、カード部分の文字２３のコントラストが低下し、より目立たなくなる。 As shown in the figure, in the photographed image under the coaxial epi-illumination 40a according to the second embodiment, the contrast of the characters 23 in the card portion is lower than in the photographed image under the coaxial epi-illumination 40, and more Disappears.
その理由について、一つには、同軸落射照明からの反射光には凹凸の可視化に適した正反射光と色調の可視化に適した拡散反射光が含まれるが、第１の実施形態のような同軸落射照明４０を用いた場合には検査光の若干の拡散があるため、正反射光に対する拡散反射光の反射比率が高まり、文字２３とカード部分にある程度のコントラストが生じる。一方、第２の実施形態のように平行光を用いた場合では拡散がなく、正反射光に対する拡散反射光の比率が低下するため、コントラストが減弱されることが考えられる。なお、上記の説明はカード２の文字の例であるが、サインパネル２１に絵柄が有る場合も同様である。 For the reason, for example, the reflected light from the coaxial incident illumination includes regular reflected light suitable for visualizing unevenness and diffuse reflected light suitable for visualizing color tone, as in the first embodiment. When the coaxial epi-illumination 40 is used, since the inspection light is slightly diffused, the reflection ratio of the diffuse reflection light to the regular reflection light is increased, and a certain degree of contrast is generated between the character 23 and the card portion. On the other hand, when parallel light is used as in the second embodiment, there is no diffusion, and the ratio of diffusely reflected light to regular reflected light is reduced, so that the contrast may be attenuated. The above description is an example of characters on the card 2, but the same applies when the sign panel 21 has a pattern.
この第２の実施形態のサインパネル検査システム１ａによるサインパネル検査方法は、第１の実施形態と同様であり、前記と同様の効果が得られる。また上記したように絵柄等の影響が低減されるので、サインパネル２１の領域抽出時や欠陥検出時に絵柄等の影響が少なく、正確性が増すという利点がある。ただし、第２の実施形態ではカード２の反りが撮影画像に影響を及ぼすのでカード反りの矯正機構が必要である。一方、第１の実施形態では、同軸落射照明４０の構成が安価で省スペースとなり、カード２の反り等に関わらず正確な検査が可能であるという利点がある。 The sign panel inspection method by the sign panel inspection system 1a of the second embodiment is the same as that of the first embodiment, and the same effect as described above can be obtained. Further, as described above, since the influence of the pattern or the like is reduced, there is an advantage that the influence of the pattern or the like is small when the area of the sign panel 21 is extracted or a defect is detected, and the accuracy is increased. However, in the second embodiment, since the warp of the card 2 affects the captured image, a card warp correction mechanism is necessary. On the other hand, the first embodiment has an advantage that the configuration of the coaxial epi-illumination 40 is inexpensive and space-saving, and an accurate inspection is possible regardless of the warp of the card 2 or the like.
以上、添付図を参照しながら、本発明の実施形態を説明したが、本発明の技術的範囲は、前述した実施形態に左右されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 As mentioned above, although embodiment of this invention was described referring an accompanying drawing, the technical scope of this invention is not influenced by embodiment mentioned above. It is obvious for those skilled in the art that various modifications or modifications can be conceived within the scope of the technical idea described in the claims. It is understood that it belongs.
１．１ａ………サインパネル検査システム
２………カード
３………搬送台
４………照明装置
５………撮影装置
６………検査装置
７………制御装置（ＰＬＣ）
８………トリガ発生装置
９………検査情報表示装置
２１………サインパネル
４０、４０ａ………同軸落射照明
４３………ハーフミラー
４６………ミラー
４７………フレネルレンズ
４５ａ、４５ｂ………バー照明
1.1a ... Sign panel inspection system 2 ... Card 3 ... Transfer 4 ... Lighting device 5 ... Photographing device 6 ... Inspection device 7 ... Control device (PLC)
8 ......... Trigger generating device 9 ......... Inspection information display device 21 ......... Signal panel 40, 40a ......... Coaxial epi-illumination 43 ......... Half mirror 46 ......... Mirror 47 ......... Fresnel lens 45a, 45b ……… Bar lighting
Claims (5)
前記基材に検査光を照射する照明装置と、
前記基材から反射した前記検査光を受光して撮影を行う撮影装置と、
前記撮影装置で撮影を行った画像に基づき前記サインパネルの欠陥の検査を行う検査装置と、
を備え、
前記照明装置は、
前記基材に対し、前記撮影装置の方向から検査光を照射する第１の照明と、
前記基材に対し、前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向から検査光を照射する第２の照明と、
を有し、
前記検査装置は、
前記第１の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、検査対象となる前記サインパネルの領域の抽出を行うことを特徴とするサインパネル検査システム。 A sign panel inspection system for inspecting a defect of a sign panel provided on a substrate,
An illumination device for irradiating the substrate with inspection light;
An imaging device that receives the inspection light reflected from the substrate and performs imaging;
An inspection device for inspecting a defect of the sign panel based on an image photographed by the photographing device;
With
The lighting device includes:
A first illumination that irradiates the substrate with inspection light from the direction of the imaging device;
A second illumination that irradiates the substrate with inspection light from an oblique direction different from the direction of the imaging device;
Have
The inspection device includes:
A sign panel inspection system for extracting an area of the sign panel to be inspected from a photographed image obtained by photographing the base material under the first illumination.
前記第２の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、前記サインパネルからの色調変化を伴う欠陥の検出を行うことを特徴とする請求項１記載のサインパネル検査システム。 The inspection device includes:
2. The sign panel inspection system according to claim 1, wherein a defect accompanied by a color tone change from the sign panel is detected from a photographed image obtained by photographing the base material under the second illumination.
前記基材に対し、前記撮影装置の方向に設けられるハーフミラーと、
前記ハーフミラーを介して前記基材に検査光を照射する光源と、
前記基材に対し、前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向に設けられた光源を有し、
各光源の点灯、消灯が切り替え可能であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のサインパネル検査システム。 The lighting device includes:
A half mirror provided in the direction of the photographing device with respect to the base material,
A light source that irradiates the substrate with inspection light through the half mirror;
With respect to the base material, a light source provided in an oblique direction different from the direction of the photographing apparatus,
The sign panel inspection system according to claim 1 or 2, wherein each light source can be switched on and off.
照明装置により、前記基材に検査光を照射するステップと、
撮影装置により、前記基材から反射した前記検査光を受光して撮影を行うステップと、
検査装置により、前記撮影装置で撮影を行った画像に基づき前記サインパネルの欠陥の検査を行うステップと、
を具備し、
前記撮影装置は、
前記照明装置の第１の照明によって前記撮影装置の方向から検査光が照射された前記基材の撮影を行うとともに、
前記照明装置の第２の照明によって前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向から検査光が照射された前記基材の撮影を行い、
前記検査装置は、
前記第１の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、検査対象となる前記サインパネルの領域の抽出を行うことを特徴とするサインパネル検査方法。 A sign panel inspection method for inspecting a defect of a sign panel provided on a substrate,
Illuminating the substrate with inspection light by an illumination device; and
Receiving an image of the inspection light reflected from the substrate by an imaging device, and performing imaging;
Inspecting the sign panel for defects based on an image photographed by the photographing device by an inspection device;
Comprising
The imaging device
While photographing the base material irradiated with inspection light from the direction of the photographing device by the first illumination of the lighting device,
Taking an image of the base material irradiated with inspection light from an oblique direction different from the direction of the imaging device by the second illumination of the illumination device,
The inspection device includes:
A sign panel inspection method, wherein a region of the sign panel to be inspected is extracted from a photographed image obtained by photographing the base material under the first illumination.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021183947A (en) * | 2020-05-22 | 2021-12-02 | 株式会社メック | Defect inspection device and defect inspection method |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275187A (en) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Dainippon Printing Co Ltd | Sign panel inspecting apparatus |
| JP2000329538A (en) * | 1999-05-24 | 2000-11-30 | Dainippon Printing Co Ltd | Surface-inspecting apparatus |
| JP2002181715A (en) * | 2000-12-14 | 2002-06-26 | Dainippon Printing Co Ltd | Method and apparatus for inspecting sign panel part of card |
| JP2004028729A (en) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Dainippon Printing Co Ltd | Signature panel inspection method for card |
| JP2005147739A (en) * | 2003-11-12 | 2005-06-09 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | Card material surface inspection device |
| US20080152874A1 (en) * | 2005-04-04 | 2008-06-26 | Simon Edward Philips | System And Method For Card Quality Assurance |
| JP2009270993A (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Toppan Printing Co Ltd | Inspection device and method for signature panel |
| JP2012026908A (en) * | 2010-07-26 | 2012-02-09 | Kyodo Printing Co Ltd | Defect inspection method and defect inspection device |
| JP2013168104A (en) * | 2012-02-17 | 2013-08-29 | Nec Computertechno Ltd | Dirt detection device, card reading device, automatic transaction device, and dirt detection method |
-
2013
- 2013-09-30 JP JP2013203831A patent/JP6260175B2/en active Active
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275187A (en) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Dainippon Printing Co Ltd | Sign panel inspecting apparatus |
| JP2000329538A (en) * | 1999-05-24 | 2000-11-30 | Dainippon Printing Co Ltd | Surface-inspecting apparatus |
| JP2002181715A (en) * | 2000-12-14 | 2002-06-26 | Dainippon Printing Co Ltd | Method and apparatus for inspecting sign panel part of card |
| JP2004028729A (en) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Dainippon Printing Co Ltd | Signature panel inspection method for card |
| JP2005147739A (en) * | 2003-11-12 | 2005-06-09 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | Card material surface inspection device |
| US20080152874A1 (en) * | 2005-04-04 | 2008-06-26 | Simon Edward Philips | System And Method For Card Quality Assurance |
| JP2009270993A (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Toppan Printing Co Ltd | Inspection device and method for signature panel |
| JP2012026908A (en) * | 2010-07-26 | 2012-02-09 | Kyodo Printing Co Ltd | Defect inspection method and defect inspection device |
| JP2013168104A (en) * | 2012-02-17 | 2013-08-29 | Nec Computertechno Ltd | Dirt detection device, card reading device, automatic transaction device, and dirt detection method |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021183947A (en) * | 2020-05-22 | 2021-12-02 | 株式会社メック | Defect inspection device and defect inspection method |
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| Publication number | Publication date |
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