JP2015017969A - モーダルインパクト試験アセンブリ、システムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
条項1: モーダルインパクト試験アセンブリ(10)であり、
インパクトアセンブリ(16)、
インパクトアセンブリ(16)に連結されているサイクル制御要素(18)、および
インパクトアセンブリに対向して配置されている信号応答測定デバイス(20)
を含む、第1の構成要素セット(14)、ならびに
モーダルインパクト試験アセンブリのサイクル制御要素(18)に連結されている第1のコントローラ(30)、および
モーダルインパクト試験アセンブリの信号応答測定デバイス(20)に連結されている第2のコントローラ(34)
を含む、第1の構成要素セット(14)から切り離されている第2の構成要素セット(28)
を含む、モーダルインパクト試験アセンブリ(10)と、
インパクトアセンブリ(16)と信号応答測定デバイス(20)との間の位置合わせのために構成されている試験要素(46)であり、保持要素に固定されており、当該保持要素は回転要素に取り付けられており、モーダルインパクト試験アセンブリのインパクトアセンブリ(16)は、試験要素(46)が動作速度で回転している間に当該試験要素に衝撃を与えるように構成されている、試験要素(46)と、
モーダルインパクト試験アセンブリに連結されているデータ収集アセンブリ(36)と
を含む、モーダルインパクト試験システム(12)であって、
モーダルインパクト試験アセンブリ(10)、試験要素(46)、およびデータ収集アセンブリ(36)は共に、動作速度で回転している試験要素(46)のモーダルインパクト試験用のモーダルインパクト試験システム(12)を構成している、
モーダルインパクト試験システム(12)。
インパクト要素(22)であり、インパクト要素(22)が試験要素(46)に衝撃を与えたとき衝撃力出力を放出するように構成されているロードセル(50)を有する、インパクト要素(22)と、
インパクト要素(22)に取り付けられている弾性駆動要素(24)と、
インパクト要素(22)が試験要素(46)に衝撃を与えるように、インパクト要素(22)および弾性駆動要素(24)を作動させるように構成されている作動要素(26)と
を含む、条項1に記載のシステム(12)。
10a 固定モーダルインパクト試験アセンブリ
10b 可搬式モーダルインパクト試験アセンブリ
12 モーダルインパクト試験システム
12a 固定モーダルインパクト試験システム
12b 可搬式モーダルインパクト試験システム
14 第1の構成要素セット
16 インパクトアセンブリ
18 サイクル制御要素
18a トリガ回路デバイス
20 信号応答測定デバイス
20a レーザ干渉計デバイス
22 インパクト要素
22a インパクトハンマ
24 弾性駆動要素
24a 調整長板ばね
26 作動要素、アクチュエータ要素
26a 電磁ソレノイド
28 第2の構成要素セット
30 第1のコントローラ
32a、32b 有線接続要素
34 第2のコントローラ
36 データ収集アセンブリ
37a 第1の信号ケーブル接続要素
37b 第2の信号ケーブル接続要素
38 信号解析器
40 コンピュータ
42 コンピュータプロセッサ
44 電源
46 試験要素、回転試験要素
46a 試験ディスク
46b 試験バー
48 ハウジング構造物
48a 固定ハウジング構造物
48b 可搬式ハウジング構造物
50 ロードセル
52a (インパクト要素22の)第1の端部
52b (インパクト要素22の)第2の端部
54 (インパクト要素22の)本体部分
56 (インパクト要素22の第1の端部52aの)先端部
58 (試験要素46の)部分
60a (弾性駆動要素24の)第1の端部
60b (弾性駆動要素24の)第2の端部
62 (弾性駆動要素24の)細長い本体部分
64 (弾性駆動要素24の)基部
66 調節可能な要素
68、98、106 矢印
70 プラットホーム要素
72a (作動要素26の)第1の端部
72b (作動要素26の)第2の端部
74 (作動要素26の)本体部分
76 (作動要素26の第1の端部72aの)磁気先端部
78 (弾性駆動要素24の細長い本体部分62の)部分
80 直立スタンド
82 (直立スタンド80の)取付け部分
84a (サイクル制御要素18の)第1の端部
84b (サイクル制御要素18の)第2の端部
86 (サイクル制御要素18の)本体部分
88 コネクタ要素
88a ワイヤ
90a (信号応答測定デバイス20の)第1の端部
90b (信号応答測定デバイス20の)第2の端部
92 (信号応答測定デバイス20の)本体部分
94 (信号応答測定デバイス20の第1の端部90aの)信号応答測定部
96 レーザビーム
100 高さ調節要素
102 (高さ調節要素100の)細長い直立部
104 (高さ調節要素100の)開口部
108 (高さ調節要素100の)基部
110 (第1のコントローラ30の)アームトリガスイッチ
112 (第1のコントローラ30の)電力素子
114 (アームトリガスイッチ110の)アームスイッチ
116 (アームトリガスイッチ110の)トリガスイッチ
118 (電力素子112の)電池パック
120 レーザ干渉計コントローラ
122 (レーザ干渉計コントローラ120の)制御インターフェース部
124 保持要素
124a 工具ホルダ
126 回転要素
126a スピンドル、回転スピンドル
128 機械加工装置
130 第1の位置
132 第2の位置
134 第3の位置
136 第4の位置
138a (ハウジング構造物48の)第1のタワー部
138b (ハウジング構造物48の)第2のタワー部
140 (ハウジング構造物48の)基部
142 (第1のタワー部138aの)細長い切取り部
144 (第1のタワー部138aの)複数の細長いスロット
146 (第2のタワー部138bの)アクセス部
Claims (14)
- モーダルインパクト試験用アセンブリ(10)であって、
インパクトアセンブリ(16)、
前記インパクトアセンブリ(16)に連結されているサイクル制御要素(18)、および
前記インパクトアセンブリ(16)に対向して配置されている信号応答測定デバイス(20)
を含む、第1の構成要素セット(14)と、
前記サイクル制御要素(18)に連結されている第1のコントローラ(30)、および
前記信号応答測定デバイス(20)に連結されている第2のコントローラ(34)
を含む、前記第1の構成要素セット(14)から切り離されている第2の構成要素セット(28)と
を含み、
前記第1の構成要素セット(14)および前記第2の構成要素セット(28)は、モーダルインパクト試験用のモーダルインパクト試験アセンブリ(10)を構成しており、前記モーダルインパクト試験アセンブリ(10)の前記インパクトアセンブリ(16)は、動作速度で回転している試験要素(46)に衝撃を与えるように構成されている、
モーダルインパクト試験用アセンブリ(10)。 - 前記モーダルインパクト試験アセンブリは固定モーダルインパクト試験アセンブリ(10)であり、前記第1の構成要素セット(14)および前記試験要素(46)はハウジング構造物(48)の内部に含まれている、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 前記モーダルインパクト試験アセンブリ(10)は可搬式モーダルインパクト試験アセンブリ(10)であり、前記第1の構成要素セット(14)はハウジング構造物(48)の内部に実質的に含まれている、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 前記インパクトアセンブリ(16)は、
ロードセル(50)を有するインパクト要素(22)であり、前記ロードセル(50)は前記インパクト要素(22)が前記試験要素(46)に衝撃を与えたとき衝撃力出力を放出するように構成されている、インパクト要素(22)と、
前記インパクト要素(22)に取り付けられている弾性駆動要素(24)と、
前記インパクト要素(22)が前記試験要素(46)に衝撃を与えるように、前記インパクト要素(22)および前記弾性駆動要素(24)を作動させるように構成されている作動要素(26)と
を含む、請求項1に記載のアセンブリ(10)。 - 前記インパクト要素(22)は、前記試験要素(46)の一部分に衝撃を与えるように構成されている先端部(56)を有するインパクトハンマ(22a)を含み、
前記弾性駆動要素(24)は調整長板ばね(24a)を含み、
前記作動要素(26)は電磁ソレノイド(26a)を含む、
請求項4に記載のアセンブリ(10)。 - 前記サイクル制御要素(18)は、前記インパクトアセンブリ(16)を始動させて、前記試験要素(46)に衝撃を与えるように構成されているトリガ回路デバイス(18a)を含む、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 前記信号応答測定デバイス(20)は、前記インパクトアセンブリ(16)が前記試験要素(46)に衝撃を与えたとき信号応答を測定するように構成されているレーザ干渉計デバイス(20a)を含む、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 前記第1のコントローラ(30)はアームトリガスイッチ(110)と電力素子(112)とを含み、前記第1のコントローラ(30)は前記サイクル制御要素(18)を制御し、これに動力を供給するように構成されており、前記第1のコントローラ(30)は、有線接続要素(32a)を介して、または無線接続を介して、前記サイクル制御要素(18)に連結されている、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 前記第2のコントローラ(34)はレーザ干渉計コントローラ(120)を含み、前記第2のコントローラ(34)は前記信号応答測定デバイス(20)を制御し、これに動力を供給するように構成されており、前記第2のコントローラ(34)は、有線接続要素(32b)を介して、または無線接続を介して、前記信号応答測定デバイス(20)に連結されている、請求項1に記載のアセンブリ(10)。
- 試験要素(46)を保持要素に固定し、前記保持要素を回転要素に取り付けるステップと、
前記試験要素(46)をモーダルインパクト試験アセンブリ(10)のインパクトアセンブリ(16)と信号応答測定デバイス(20)との間に位置合わせすることにより、前記試験要素(46)を前記モーダルインパクト試験アセンブリに対して配置するステップと、
第1のコントローラ(30)を前記モーダルインパクト試験アセンブリ(10)のサイクル制御要素(18)に連結するステップと、
第2のコントローラ(34)を前記モーダルインパクト試験アセンブリ(10)の前記信号応答測定デバイス(20)に連結するステップと、
データ収集アセンブリ(36)を前記第1のコントローラ(30)および前記第2のコントローラ(34)に連結するステップと、
前記試験要素(46)を回転させて、初期回転速度を判定するステップと、
前記第1のコントローラ(30)を作動可能にするステップと、
前記第1のコントローラ(30)を始動させて、前記回転試験要素(46)のモーダルインパクト試験を開始するステップと、
前記データ収集アセンブリ(36)を用いて前記回転試験要素(46)の様々な回転速度でのデータを取得するステップと
を含む、モーダルインパクト試験のための方法(150)。 - 取得する前記ステップの後に、前記第1のコントローラ(30)を始動させて、前記回転試験要素(46)の前記モーダルインパクト試験を開始する前記ステップおよび前記データ収集アセンブリ(36)を用いて前記回転試験要素(46)の様々な回転速度でのデータを取得する前記ステップの両方を、1回または複数回繰り返すステップと、
繰り返す前記ステップの後に、前記回転試験要素(46)の動作速度範囲を判定するステップ、および機械加工装置の切断デバイスの動作パラメータまたは切断パラメータを定めるために、前記データ収集アセンブリ(36)を用いて前記データを解析するステップと
をさらに含み、
前記データを解析する前記ステップは、送り速度;前記切断デバイスの回転速度;前記切断デバイスの切断の配向および深さ;ならびに前記切断デバイスの切断要素の数、間隔および幾何学的形状のうちの1つまたは複数を含む動作パラメータまたは切断パラメータを定めることをさらに含む、
請求項10に記載の方法(150)。 - 前記試験要素(46)を前記インパクトアセンブリ(16)と前記信号応答測定デバイス(20)との間で位置合わせすることは、前記試験要素(46)に衝撃を与えるように構成されているインパクトハンマ(22a)と前記インパクトハンマ(22a)による衝撃後に前記試験要素(46)からの応答信号を測定するように構成されているレーザ干渉計デバイスとの間で、前記試験要素(46)を位置合わせすることを含む、請求項10に記載の方法(150)。
- 前記試験要素(46)を前記モーダルインパクト試験アセンブリ(10)内に配置する前記ステップは、固定モーダルインパクト試験アセンブリ(10)または可搬式モーダルインパクト試験アセンブリ(10)のどちらかに対して前記試験要素(46)を配置することを含む、請求項10に記載の方法(150)。
- 前記データ収集アセンブリ(36)を前記第1のコントローラ(30)および前記第2のコントローラ(34)に連結する前記ステップは、信号解析器(38)、コンピュータ(40)、コンピュータプロセッサ(42)、および電源(44)うちの1つまたは複数を含む前記データ収集アセンブリ(36)を、1つまたは複数の信号ケーブル接続要素(37a)を介して、または無線接続を介して、前記第1のコントローラ(30)および前記第2のコントローラ(34)に連結することを含む、請求項10に記載の方法(150)。
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