JP2014502727A - Oct撮像に用いられる統合化された増幅器付き平衡光検出器システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、光源光信号を試料に伝送する第1の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、光源光信号のうちの試料から反射した第1偏光成分を、第1の光検出器ペアに伝送する第1の試料アーム偏光ビームスプリッタと、光源光信号を試料に伝送する第2の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、光源光信号のうちの試料から反射した第2偏光成分を、第2の光検出器ペアに伝送する第2の試料アーム偏光ビームスプリッタと、第1の試料アーム偏光ビームスプリッタと第2の試料アーム偏光ビームスプリッタとの間に位置する非相反性の測定波偏光方向回転システムとを備える。
【選択図】図3
Description
Claims (17)
- 光電子部品用筐体と、
前記光電子部品用筐体内に装着された光学ベンチと、
前記光学ベンチに設けられ、光干渉信号を受信する少なくとも2つの光検出器を含むバランスド検出器システムと、
前記光電子部品用の筐体内に装着され、前記少なくとも2つの光検出器の出力を増幅する電子増幅器システムとを備えた、光検出器システム。 - 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、前記電子増幅器システムが前記光学ベンチに設けられている、光検出器システム。
- 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、前記光電子部品用筐体が、第1光信号および第2光信号を受信する2つのファイバフィードスルーを含む、光検出器システム。
- 請求項3に記載の光検出器システムにおいて、前記第1光信号および前記第2光信号が、光ファイバコンバイナによって生成された前記光干渉信号である、光検出器システム。
- 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、前記バランスド検出器システムが、前記光検出器を少なくとも4つ含み、
当該光検出器システムが、さらに、
2つの偏光ビームスプリッタを備え、この2つの偏光ビームスプリッタが、第1偏光成分の前記光干渉信号を、前記光検出器のうちの第1の光検出器ペアに送出し、第2偏光成分の前記光干渉信号を、前記光検出器のうちの第2の光検出器ペアに送出する、光検出器システム。 - 請求項5に記載の光検出器システムにおいて、前記電子増幅器システムが、前記第1の光検出器ペアの出力を増幅する第1の電子増幅器と、前記第2の光検出器ペアの出力を増幅する第2の電子増幅器とを含む、光検出器システム。
- 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、前記バランスド検出器システムが、前記光検出器を少なくとも4つ含み、
当該光検出器システムが、さらに、
2つの分波ビームスプリッタを備え、この2つの分波ビームスプリッタが、第1波長帯域内の前記光干渉信号を前記光検出器のうちの第1の光検出器ペアに送出し、第2波長帯域内の前記光干渉信号を前記光検出器のうちの第2の光検出器ペアに送出する、光検出器システム。 - 請求項7に記載の光検出器システムにおいて、前記電子増幅器システムが、前記第1の光検出器ペアの出力を増幅する第1の電子増幅器と、前記第2の光検出器ペアの出力を増幅する第2の電子増幅器とを含む、光検出器システム。
- 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、さらに、
前記光学ベンチに設けられ、付帯的な光信号を受信する付帯的な検出器を備えた、光検出器システム。 - 請求項1に記載の光検出器システムにおいて、前記付帯的な検出器が、試料のスペクトル応答を計測するのに用いられる、光検出器システム。
- 光学ベンチと、
前記光学ベンチに設けられ、試料アームからの試料光信号と参照アームからの参照光信号とで構成される光干渉信号を生成する、少なくとも1つのビームスプリッタ/コンバイナと、
前記光学ベンチに設けられ、前記光干渉信号を受信する少なくとも2つの光検出器を含むバランスド検出器システムと、
前記光学ベンチに設けられ、前記少なくとも2つの光検出器の出力を増幅する電子増幅器システムとを備えた、光検出器システム。 - 請求項11に記載の光検出器システムにおいて、前記光学ベンチが、密閉された光電子部品用筐体内に装着され、当該密閉された光電子部品用筐体は、前記試料光信号および前記参照光信号を受信する2つのファイバフィードスルーを含む、光検出器システム。
- 請求項11に記載の光検出器システムにおいて、前記バランスド検出器システムが、前記光検出器を少なくとも4つ含み、
当該光検出器システムが、さらに、
前記光干渉信号を第1偏光成分および第2偏光成分に分割する第1の偏光ビームスプリッタと、
前記光干渉信号を第1偏光成分および第2偏光成分に分割する第2の偏光ビームスプリッタと、
前記第1偏光成分の前記光干渉信号を検出する、前記光検出器のうちの第1の光検出器ペアと、
前記第2偏光成分の前記光干渉信号を検出する、前記光検出器のうちの第2の光検出器ペアとを備えた、光検出器システム。 - 請求項13に記載の光検出器システムにおいて、前記電子増幅器システムが、前記第1の光検出器ペアの出力を増幅する第1の電子増幅器と、前記第2の光検出器ペアの出力を増幅する第2の電子増幅器とを含み、当該電子増幅器システムが、前記筐体内に含まれている、光検出器システム。
- 光電子部品用筐体内に装着された光学ベンチと、
前記光学ベンチに設けられた、第1の光検出器ペアと、
前記光学ベンチに設けられた、第2の光検出器ペアと、
2つの偏光ビームスプリッタであって、第1偏光成分の光干渉信号を前記第1の光検出器ペアに送出し、第2偏光成分の前記光干渉信号を前記第2の光検出器ペアに送出する、2つの偏光ビームスプリッタとを備えた、光検出器システム。 - 請求項15に記載の光検出器システムにおいて、さらに、
前記光学ベンチに設けられ、前記光干渉信号を生成するビームスプリッタ/コンバイナを備えた、光検出器システム。 - 光電子部品用筐体と、
前記光電子部品用筐体内に装着された光学ベンチと、
前記光学ベンチに設けられ、光干渉信号を受信する少なくとも2つの光検出器を含むバランスド検出器システムと、
前記光電子部品用筐体内に装着され、試料からの光信号を検出する、スペクトル解析用検出器とを備えた、光検出器システム。
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