JP2014192657A - Device and method for testing transmission line failure - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、伝送路障害試験装置及び伝送路の障害試験方法に関する。 The present invention relates to a transmission path fault test apparatus and a transmission path fault test method.
光ファイバによる情報の高速転送を実現するインターフェイスとしては、ＦＣ（Fibre Channel）インターフェイス（以下、ＦＣ‐ＩＦという）が知られている。ＦＣ―ＩＦを用いて情報を伝送するときには、複数の情報処理機器の間で伝送路を介してパケットを送受信することによって情報を伝達する。ここで、ＦＣ−ＩＦを用いた情報伝達に使用する伝送路の光減衰によって伝送路障害が生じたときには、情報の受け取り側の情報処理機器がリトライ動作として、パケットの再送を要求する。このために、情報処理端末は、リトライ動作が正しく実行されるように構成されている必要がある。また、伝送路障害が定常的に発生すると、リトライ動作が多発する。この動作に起因して情報処理機器がビジー状態になると、システムパニックに陥る可能性がある。 An FC (Fibre Channel) interface (hereinafter referred to as FC-IF) is known as an interface for realizing high-speed transfer of information using an optical fiber. When information is transmitted using the FC-IF, information is transmitted by transmitting and receiving packets between a plurality of information processing devices via a transmission path. Here, when a transmission path failure occurs due to optical attenuation of the transmission path used for information transmission using the FC-IF, the information processing device on the information receiving side requests retransmission of the packet as a retry operation. For this reason, the information processing terminal needs to be configured so that the retry operation is correctly executed. In addition, when a transmission path failure occurs regularly, retry operations occur frequently. If the information processing device becomes busy due to this operation, a system panic may occur.
このために、ＦＣ―ＩＦを用いた情報伝達システムでは、情報処理機器が伝送路障害に正しく対応できることを予め試験することが重要である。ＦＣ−ＩＦで伝送路障害を試験する場合には、ＦＣ―ＩＦの伝送路を介して複数の情報処理機器の間でパケットを転送しているときに、伝送路上で擬似的に障害を起こす。そして、擬似的な伝送路の障害に伴って発生したエラーに対する情報処理機器のリトライ動作を検証する。 For this reason, in an information transmission system using FC-IF, it is important to test in advance that the information processing device can correctly cope with a transmission path failure. When testing a transmission path failure with the FC-IF, a pseudo failure occurs on the transmission path when a packet is transferred between a plurality of information processing devices via the FC-IF transmission path. Then, the retry operation of the information processing device for the error that has occurred due to the pseudo transmission path failure is verified.
従来の伝送路障害試験では、情報処理機器を繋ぐ伝送中に所定の測定器を挿入し、伝送路で送信される多数のパケットの中から特定のパケットを選び、そのパケットにＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check：巡回冗長検査）エラーを発生させていた。 In the conventional transmission path failure test, a predetermined measuring device is inserted during transmission connecting information processing equipment, a specific packet is selected from a large number of packets transmitted on the transmission path, and a CRC (Cyclic Redundancy Check) is added to the packet. : Cyclic redundancy check) error.
ここで、伝送路障害の多くは、伝送路の光減衰による通信品質劣化であると考えられる。このために、伝送路の通信品質劣化が疑似的に発生するような環境で伝送路障害を試験する必要がある。しかしながら、従来の手法では、指定した特定パケットのみにしかＣＲＣエラーを発生できないという問題があり、フィールドで発生しているような状況を疑似することできなかった。 Here, most of the transmission path failures are considered to be communication quality deterioration due to optical attenuation of the transmission path. For this reason, it is necessary to test a transmission path failure in an environment where communication quality degradation of the transmission path occurs in a pseudo manner. However, in the conventional method, there is a problem that a CRC error can be generated only in a specified specific packet, and it is not possible to simulate a situation that occurs in the field.
例えば、ＦＣ‐ＩＦの伝送路障害試験において、フィールドで発生しているような状況を再現するためには、ＣＲＣエラーが多発する領域を特定し、その状態を維持する必要がある。これを実現する手段として、２つの情報処理機器の間で通信している光を光調節器で減衰させることによってＣＲＣエラーを発生させ、疑似的に通信品質劣化状態を作り出す方法が考えられる。ところが、この方法では、ＣＲＣエラーが定常的に発生する特定の光減衰量に正確に設定しなければならない。しかしながら、従来の情報処理機器では、このような機能が搭載されていないので、光減衰量を精度良く調べることが困難であった。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、伝送路の障害試験が可能な環境を効率良く提供できるようにすることを目的とする。
For example, in the FC-IF transmission path failure test, in order to reproduce a situation that occurs in the field, it is necessary to specify an area where CRC errors frequently occur and maintain the state. As a means for realizing this, there can be considered a method of artificially creating a communication quality degradation state by generating a CRC error by attenuating light communicating between two information processing devices with an optical modulator. However, in this method, it is necessary to accurately set a specific light attenuation amount at which a CRC error is constantly generated. However, since the conventional information processing apparatus is not equipped with such a function, it is difficult to accurately check the amount of light attenuation.
This invention is made in view of such a situation, and it aims at enabling it to provide efficiently the environment which can perform the failure test of a transmission line.
実施形態の一観点によれば、複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置が提供される。 According to one embodiment of the present invention, an optical controller provided in a transmission path used for optical communication between a plurality of information processing devices and capable of adjusting the light level of the transmission path, and the information processing device Based on the output communication state information of the transmission path, the optical attenuation of the optical adjuster is increased until a link failure of the transmission path occurs, and the light with the largest CRC (Cyclic Redundancy Check) error is generated. And a control device that determines an attenuation amount as an optical attenuation amount for a failure test of the transmission line.
また、実施形態の別の観点によれば、複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路の光レベルを減衰させ、前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法が提供される。 According to another aspect of the embodiment, the optical level of a transmission line used for optical communication between a plurality of information processing devices is attenuated and output from the information processing device connected to the transmission line. The communication path information is checked, the occurrence of link failure in the transmission path and the number of occurrences of CRC (Cyclic Redundancy Check) errors are examined, and the optical attenuation that causes the most CRC errors is determined as a fault test for the transmission path. A transmission path failure test method is provided, characterized in that the optical attenuation amount is determined to be used.
伝送路の光減衰量を変化させながらＣＲＣエラーの発生回数が調べることによって、伝送路の障害試験に適した光減衰量を確実に検出することが可能になる。 By checking the number of occurrences of CRC errors while changing the optical attenuation of the transmission line, it is possible to reliably detect the optical attenuation suitable for the transmission line failure test.
発明の目的及び利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素及び組み合わせによって実現され達成される。
前述の一般的な説明及び以下の詳細な説明は、典型例及び説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない。
The objects and advantages of the invention will be realized and attained by means of the elements and combinations particularly pointed out in the appended claims.
The foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory only and are not intended to limit the invention.
伝送路障害試験装置１は、第１の情報処理機器２と、第２の情報処理機器３とを接続する伝送路５，６に接続されている。伝送路５，６は、光ファイバを用いて形成されている。
ここで、情報処理機器２，３は、互いにパケットの送受信が可能に構成されている。第１の情報処理機器２は、伝送路５を使用して第２の情報処理機器３にデータを送信するデータ送信部１１と、データ送信するデータを処理する処理部１２と、第２の情報処理機器３から伝送路６を通してデータを取得するデータ受信部１３とを有する。
同様に、第２の情報処理機器３は、伝送路５を通して第１の情報処理機器２からのデータを取得するデータ受信部１４と、データ処理を行う処理部１５と、伝送路６を使用して第１の情報処理機器２にデータを送信するデータ送信部１６を有する。
The transmission path
Here, the
Similarly, the second information processing device 3 uses the
これら情報処理機器２，３としては、例えば、ＦＣ−ＳＷ（Fibre Channel SWitch）や、ＨＢＡ（Host Bus Adapter）があげられる。そして、情報処理機器２，３と伝送路５，６とを用いてＦＣが構築される。また、情報処理機器２，３は、ＨＢＡを搭載したサーバ装置や、ストレージ装置、その他のコンピュータであっても良い。
Examples of the
伝送路障害試験装置１は、ＲＬＳ（Read Link Status）送信器２１と、光調節器２２と、ＬＥＳＢ（Link Error Status Block）受信器２３と、全体の処理を統制する制御装置２４とを含んで構成されている。ＲＬＳ送信器２１及び光調節器２２は、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器２に送信されるパケットの伝送路５上に順番に配置される。一方、ＬＥＳＢ受信器２３は、第２の情報処理機器２から第１の情報処理機器２に送信されるパケットの伝送路６上に配置される。
The transmission path
ＲＬＳ送信器２１は、制御装置２４からのＲＬＳ送信命令を受けて、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器３に送信されるデータストリーム中にＲＬＳフレームを多重化する機能を有する。ＲＬＳは、ＡＮＳＩ（American National Standards Institute）によって規格化されたコマンドである。
光調節器２２は、光伝送路５上で、ＲＬＳ送信器２１より第２の情報処理機器２側に配置される。光調節器２２は、伝送路５を伝送される光を減衰させたり、遮断させたりする機能を有する。この伝送路障害試験装置１では、光調節器２２は、制御装置２４からの減衰命令に従って光レベル（光パワー）の減衰量を制御可能に構成されている。例えば、光調節器２２は、伝送路の光カップリングの間隔を変化したり、光ファイバの光軸をずらしたりすることで光レベルを減衰可能に構成されている。
The
The
ＬＥＳＢ受信器２３は、伝送路６上に配置され、第２の情報処理機器２から第１の情報処理機器２に送信されるデータのパケットを受信する受信部２５を有する。さらに、ＬＥＳＢ受信器２３は、第２の情報処理機器３から送信されるＡＣＣフレームを識別する判別部２６を有する。さらに、判別部２６は、ＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを取得し、制御装置２４に送信するように構成されている。
The LESB
ここで、ＡＣＣフレームは、ＲＬＳフレームを受信した情報処理機器２，３が出力するデータである。図２に示すように、ＡＣＣフレーム３１は、ヘッダ３２と、ペイロード３３とを有し、ペイロード３３にＬＥＳＢが格納される。ＬＥＳＢは、Link Failure Count（リンクフェイルの発生回数：ＬＦｃｎｔ）と、Loss of Synchronization Count（リンクフェイルに伴い欠落した文字数）と、Loss of Signal Count（リンクフェイルに伴い欠落した信号数）と、Primitive Sequence Protocol Error（プリミティブシーケンスの手順エラー）、Invalid Transmission Word（定義されていない文字列）、Invalid CRC count（ＣＲＣエラーの発生回数：ＣＲＣｃｎｔ）の情報を含んで構成されている。
Here, the ACC frame is data output from the
また、図３に示す伝送路障害試験装置１の制御装置１４は、コンピュータにプログラムを実行させることによって、光レベル調節部４１と、カウント部４２と、テーブル作成部４３と、リンクステータステーブル記憶部４４Ａと、光レベル決定部４５とに機能分割される。
Also, the
光レベル調節部４１は、伝送路５，６の通信状態の情報に基づいて、光調節器２２における光レベルを変化させる。例えば、光調節器２２が光レベルの減衰度を光カップリングの間隔で制御可能に構成されている場合には、制御値として、光カップリングの間隔を指定する信号を作成する。また、光調節器２２が光の減衰量を直接変化可能に構成されている場合には、制御値として、光レベルの減衰量を指令する信号を作成する。
カウント部４２は、第２の情報処理機器３が伝送路５で送信されたデータの同期が取れなくなったときに発生させるＣＲＣエラーの発生回数をカウントしたり、リンクフェイルの発生回数をカウントしたりする。
テーブル作成部４３は、リンクフェイル時の光レベルと、リンクフェイル回数と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けてリンクステータステーブル４４を作成する。
リンクステータステーブル記憶部４４Ａは、リンクステータステーブル４４を記憶する機能を有する。
光レベル決定部４５は、リンクステータステーブル４４を検索し、ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光レベルを決定する。光レベル決定部４５で決定したリンクフェイル時の光レベルは、伝送路障害試験に適した光減衰量である。
The
The
The
The link status
The light
図４に一例を示すように、リンクステータステーブル４４は、光レベルの減衰量と、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔの増加分と、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔの増加分とを関連付けた構成を有する。例えば、リンクステータステーブル４４の３列目のデータは、光の減衰量が「２００」のときに、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔの増加分が「１」回で、かつＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔの増加分が「２０」回であることを示している。このデータは、光調節器２２の光の減衰量を「２００」に設定したときに、リンクフェイル発生回数ＬＦｃｎｔが１回発生すると共に、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔが２０回発生したことを示している。
As shown in FIG. 4, the link status table 44 has a configuration in which an optical level attenuation amount, an increase in the number of link failure occurrences LFcnt, and an increase in the number of occurrences of CRC errors CRCcnt are associated with each other. For example, the data in the third column of the link status table 44 indicates that when the amount of light attenuation is “200”, the increase in the number of link failure occurrences LFcnt is “1” and the number of occurrences of CRC errors CRCcnt is increased. This indicates that the minute is “20” times. This data indicates that when the light attenuation amount of the
ここで、図５に伝送路５，６における光レベルと障害の発生状態の関係と、障害の概略の一例を示す。
例えば、第１の情報処理機器２から第２の情報処理機器３に情報を伝送する場合、伝送路５で伝送される光の光レベルが高いと、正常な動作、即ち正常な光通信が行える。これに対して、光レベルが低くなると、伝送路５を介して第２の情報処理機器３が受け取る情報のうち、一部のキャラクタが壊れ始める。このとき、第２の情報処理機器３でＣＲＣエラーが発生する。さらに、光レベルが低下して連続してキャラクタが壊れるようになると、これに少し遅れてリンクフェイル状態なる。そして光レベルがさらに低下して光同期ができなくなると、リンクダウン状態になる。
Here, FIG. 5 shows an example of the relationship between the light level and the failure occurrence state in the
For example, when information is transmitted from the first
ＦＣ−ＩＦの伝送路障害試験を行うためには、定常的にＣＲＣエラーを発生させる必要がある。このために、伝送路障害試験装置１は、ＣＲＣエラーが定常的に発生する特定の光減衰量の領域（光減衰量息）に光調節器２２を制御する必要がある。特定の光減衰領域は、例えば、リンクフェイル信号が発生するポイントの少し前に、１％未満の狭い幅を有する領域として現れる。このようにＣＲＣエラーが多発する光減衰領域を特定するには、ＣＲＣエラー情報とリンクフェイルの情報とを確認するための統計情報を、常に確認しながら光減衰量を調節する必要がある。従って、伝送路障害試験装置１は、以下に示す処理を実行することで、伝送路５の光減衰量を制御しながら、ＣＲＣエラーの発生回数と、リンクフェイルの発生回数を調べ、自動処理によって伝送路５，６の障害試験に最適な光減衰量又は光レベルを決定する。
In order to perform an FC-IF transmission path failure test, it is necessary to generate a CRC error constantly. For this reason, the transmission path
最初に、リンクフェイル位置の検出処理について説明する。伝送路障害試験装置１は、最初に光減衰量を大きく変化させてリンクフェイル位置を大まかに特定し、その後、光減衰量の変化量を徐々に小さくしながら、リンクフェイル位置を精度良く検出する。
First, the link fail position detection process will be described. The transmission path
例えば、図４に示すリンクステータステーブル４４に示すように、最初の領域ＡＲ１では、光減衰量を１００刻みで変化させて、リンクフェイルが発生位置を調べる。この後、２つ目の領域ＡＲ２に示すように、光減衰量をより小さい変化幅の１０刻みで変化させ、リンクフェイルの発生位置の検出精度を高める。さらに、３つ目の領域ＡＲ３に示すように、１刻みでリンクフェイルの発生位置をさらに精度良く調べる。 For example, as shown in the link status table 44 shown in FIG. 4, in the first area AR1, the light attenuation amount is changed in increments of 100 to check the occurrence position of the link failure. Thereafter, as shown in the second area AR2, the light attenuation amount is changed in increments of 10 with a smaller change width to improve the detection accuracy of the link fail occurrence position. Further, as shown in the third area AR3, the occurrence position of the link failure is checked with higher accuracy in increments of one.
以下、図６Ａ及び図６Ｂのフローチャートを主に参照しながら、リンクフェイル位置の検出処理の詳細について説明する。
まず、ステップＳ１０１でパラメータの初期化処理を実行する。伝送路障害試験装置１が使用するパラメータと、パラメータの初期値の一例を図７に示す。例えば、試験開始地点の光減衰量Ｐｓｔは、ＣＲＣエラーやリンクフェイルが発生しない光レベルとし、具体的にはＰｓｔ＝０に設定する。また、光減衰度Ｐｃｕｒは、Ｐｃｕｒ＝０に設定し、リンクダウン地点の光減衰量Ｐｅｄは、Ｐｅｄ＝８００に設定する。ここで、光減衰量Ｐｅｄの初期値は、必ずリンクダウンが発生する値である。
Details of the link fail position detection process will be described below with reference mainly to the flowcharts of FIGS. 6A and 6B.
First, in step S101, parameter initialization processing is executed. An example of parameters used by the transmission path
また、開始時の光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲｃｎｔ＝０、リンクフェイル（ＬＦ）発生回数ＬＦｃｎｔ＝０に設定する。さらに、最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢ＝０、ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢ＝０、最新のＣＲＣエラーのステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰ＝１０に設定する。そして、ＬＦポイントＰｌｆ＝Ｐｅｄ、ＣＲＣエラーの発生回数の最大減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘ＝０に設定する。 Also, the light level drop width Pin = 100 at the start, CRC error occurrence count CRcnt = 0, and link fail (LF) occurrence count LFcnt = 0. Further, the last received LESB value Last_LESB = 0, LESB initialization Init_LESB = 0, and the latest CRC error step Last_STEP = 10 are set. Then, the LF point Plf = Ped and the maximum attenuation Pcrc_max = 0 of the CRC error occurrence count are set.
次に、図６ＡのステップＳ１０２で、光レベル調節部４１が光調節器２２の光減衰量をＰｃｕｒに設定する。初期段階では、Ｐｃｕｒ＝０なので、光レベル調節部４１は、光減衰量＝０に設定する。この結果、光調節器２２は、光レベルを減衰させずにＣＲＣエラーの発生回数とリンクフェイルの発生回数をカウントする。光レベルの減衰量を設定したら、ステップＳ１０３でリンクの確認用に所定時間、例えば１秒待機する。所定時間は、リンクフェイルを検出できる時間であれば良く、１秒に限定されない。光レベルを減衰させることによって、第１の情報処理機器２から伝送路５を通して第２の情報処理機器３に送信される情報に通信エラーが発生した場合には、第２の情報処理機器２でＣＲＣエラーやリンクフェイルがカウントされる。
Next, in step S102 of FIG. 6A, the light
続いて、ステップＳ１０４では、光レベル調節部４１が光調節器２２に対して光減衰量をＰｓｔに設定するように指示する。この結果、例えば、ステップＳ１０２で光減衰量が大きくなってリンクフェイル状態になった場合でも、伝送路５，６の通信状態が回復する。伝送路５，６を用いたパケット送信が可能になるので、ステップＳ１０５でカウント部４２がＲＬＳ送信器２１に対してＲＬＳ送信命令を出力する。ＲＬＳ送信器２１から伝送路５を通して第２の情報処理機器３にＲＬＳフレームが送信されると、第２の情報処理機器３が伝送路６を使って第１の情報処理機器２に対してＡＣＣフレームを出力する。従って、ステップＳ１０６でＬＥＳＢ受信器２３の受信部２５がＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを受信するまで待機する。
Subsequently, in step S104, the
ＬＥＳＢ受信器２３の判別部２６は、第２の情報処理機器３から伝送路５を通して第１の情報処理機器２に送信されるパケットを調べ、ＡＣＣフレームと判定されたパケットのペイロードからＬＥＳＢを抽出し、制御装置２４に送信する。
The
伝送路障害試験装置１が伝送路６からＬＥＳＢを受信した場合、ステップＳ１０７でＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢ＝１であるか調べる。ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢが「０」、即ち、ＬＥＳＢの初期化が１回目であれば、ステップＳ１０８でＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢを「１」にしてステップＳ１１１に進む。一方、ＬＥＳＢ初期化Ｉｎｉｔ＿ＬＥＳＢが「１」の場合は、ステップＳ１０９に進む。
When the transmission path
ステップＳ１０９では、カウント部４２がＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出する。具体的には、受信したＬＥＳＢのＣＲＣエラーの発生回数から、前回のＣＲＣエラーの発生回数を引き算することによってＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出し、この値をＣＲＣエラーの発生回数の今回値としてＣＲＣｃｎｔに格納する。初回の計算では、前回のＣＲＣエラーの発生回数は、初期化処理で設定した値、ＣＲＣｃｎｔ＝０が使用される。ＣＲＣエラーの発生回数の増分を算出するのは、ＬＥＳＢ内のＣＲＣエラーの発生回数は累積値なので、今回値を計算するために増分を算出する必要があるためである。
In step S109, the
また、ステップＳ１１０で、カウント部４２がリンクフェイルの発生回数の増分を算出する。具体的には、受信したＬＥＳＢのリンクフェイルの発生回数から、前回のリンクフェイルの発生回数を引いて、増分を算出し、この値をリンクフェイルの発生回数の今回値としてＬＦｃｎｔに格納する。初回の計算では、前回のリンクフェイルの発生回数は、初期化処理で設定した値、ＬＦｃｎｔ＝０が使用される。リンクフェイルの発生回数の増分を算出するのは、ＬＥＳＢ内のリンクフェイルの発生回数は累積値なので、今回値を計算するために増分を算出する必要があるためである。
In step S110, the
次に、ステップＳ１１１で、カウント部４２が最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢに受信したＬＥＳＢの値を入れる。２回目以降の処理では、ここに格納されたＣＲＣエラーの発生回数の累積値や、リンクフェイルの発生回数の累積値を基準にして、それぞれの今回値（増分）を算出する。そして、この後、端子Ａから進む図６ＢのステップＳ１１３を実行する。
Next, in step S111, the
ステップＳ１１２では、テーブル作成部４３がリンクステータステーブル記憶部４４Ａのリンクステータステーブル４４に光減衰量の設定値Ｐｃｕｒと、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔと、リンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔを格納する。
In step S112, the
そして、ステップＳ１１３でリンクフェイルが発生していた場合、即ちリンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔが０であった場合には、ステップＳ１１４に進み、光レベル調節部４１が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを増加させる。具体的には、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光レベルの落とし幅Ｐｉｎを加算し、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒとする。例えば、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝１００、光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００のときには、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝１００＋１００＝２００になる。即ち、次回の試験は、１回目の試験に比べ、光レベルを１００だけ減衰させて試験を実施することになる。このように、リンクフェイルが発生していないときは、光レベルの落とし幅Ｐｉｎずつ、光レベルを減衰させながら前記の処理を繰り返し、ＣＲＣエラーの発生回数を調べる。
If a link failure has occurred in step S113, that is, if the number of occurrences of link failure LFcnt is 0, the process proceeds to step S114, where the light
一方、ステップＳ１１３でリンクフェイルが発生している場合、即ちリンクフェイルの発生回数ＬＦｃｎｔが０より大きい場合には、ステップＳ１１５に進み、ＬＦポイントＰｌｆに現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを代入する。続いて、ステップＳ１１６で、光レベル調節部４１が光の減衰量Ｐｃｕｒを新しい値に設定する。具体的には、新しい光の減衰量Ｐｃｕｒは、
[現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ]−[光レベルの落とし幅Ｐｉｎ]＋[光レベルの落とし幅Ｐｉｎ]×０．１
で算出する。例えば、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝２００、光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００の場合、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝２００−１００＋１００×０．１＝１１０になる。
On the other hand, if a link failure has occurred in step S113, that is, if the number of occurrences of link failure LFcnt is greater than 0, the process proceeds to step S115, and the current optical attenuation setting value Pcur is substituted into the LF point Plf. . Subsequently, in step S116, the light
[Current optical attenuation setting value Pcur]-[Light level drop width Pin] + [Light level drop width Pin] × 0.1
Calculate with For example, when the current light attenuation setting value Pcur = 200 and the light level drop width Pin = 100, the new light attenuation amount setting value Pcur = 200−100 + 100 × 0.1 = 110.
さらに、ステップＳ１１７では、光レベル調節部４１が新しい光レベルの落とし幅Ｐｉｎとして、現在の光レベルの落とし幅Ｐｉｎを１／１０倍した値を代入する。例えば、現在の光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００の場合、新しい光レベルの落とし幅Ｐｉｎ＝１００×０．１＝１０になる。
In step S117, the light
ステップＳ１０３及びステップＳ１０４は、リンクフェイルが発生したときに実行される処理である。即ち、リンクフェイルがカウントされた場合は、光レベルの減衰量をリンクフェイルが発生する前の減衰量に戻し、かつ光レベルの落とし幅を０．１倍した値に変更する。そして、リンクフェイルがカウントされる前よりも、光レベルの減衰量の変化幅を小さくして前記の処理を繰り返し、ＣＲＣエラーの発生回数を再び調べる。 Steps S103 and S104 are processes executed when a link failure occurs. That is, when the link failure is counted, the attenuation amount of the light level is returned to the attenuation amount before the occurrence of the link failure, and is changed to a value obtained by multiplying the drop amount of the light level by 0.1. Then, the above process is repeated with the change amount of the attenuation amount of the light level smaller than before the link failure is counted, and the number of occurrences of the CRC error is checked again.
この後、ステップＳ１１８で、光レベルの落とし幅Ｐｉｎが０．１であれば、ここでの処理を終了する。これは、光レベルの減衰量の変化の最小単位である「１」以下にならないようにするためである。なお、光レベルの落とし幅Ｐｉｎの最小単位は、「１」に限定されない。
一方、ステップＳ１１８で、光レベルの落とし幅Ｐｉｎが０．１まで減少していなければ、ステップＳ１２１に進む。また、前記のステップＳ１１４が実行されたときにもステップＳ１２１が実行される。
Thereafter, if the light level drop width Pin is 0.1 in step S118, the process ends here. This is to prevent the light level attenuation amount from becoming “1” or less, which is the minimum unit of the change in the attenuation amount of the light level. The minimum unit of the light level drop width Pin is not limited to “1”.
On the other hand, if the light level drop width Pin has not decreased to 0.1 in step S118, the process proceeds to step S121. Step S121 is also executed when step S114 is executed.
ステップＳ１２１及びステップＳ１２２では、光レベル調節部４１が新しく設定された光減衰量が検査範囲外にないことを確認する。即ち、ステップＳ１２１で、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒがリングダウン地点の光減衰量Ｐｅｄ以下で、かつステップＳ１２２において光減衰量の設定値Ｐｃｕｒが０より大きい場合には、新しく設定した光減衰量を使用した試験が可能である。従って、端子ＢからステップＳ１０２に戻る。
一方、ステップＳ１２１で光減衰量の設定値Ｐｃｕｒがリングダウン地点の光減衰量Ｐｅｄ以上の場合には、光を減衰させ過ぎなので、ステップＳ１２３で光レベル調節部４１がエラーを通知した後、エラーとして処理を停止させる。同様に、ステップＳ１２２で光減衰量の設定値Ｐｃｕｒが０であった場合も、ステップＳ１２３でエラーを通知した後、エラーとして処理を停止させる。
In step S121 and step S122, the light
On the other hand, if the set value Pcur of the light attenuation amount is greater than or equal to the light attenuation amount Ped at the ring-down point in step S121, the light is excessively attenuated. Therefore, after the light
図６Ａ及び図６Ｂの処理では、１回目のリンクフェイルが検出されるまで、光減衰量１００ずつ減少させて試験を行う。図４のリンクステータステーブル４４の例では、２回目の試験、即ち光減衰量が２００のときに、リンクフェイルが検出されたので、ステップＳ１１５〜ステップＳ１１７が実行され、リンクフェイルが検出される直前の光減衰量１００から、細かいステップ（１０ステップ刻み）でリンクフェイルを調べる。すると、光減衰量が１５０のときに、リンクフェイルが検出されたので、再びステップＳ１１５〜ステップＳ１１７が実行され、リンクフェイルが検出される直前の光減衰量１４０から、さらに細かいステップ（１刻ステップみ）でリンクフェイルを調べる。そして、ステップを１以下にはしないので、ここでの処理を終了する。
In the processing of FIGS. 6A and 6B, the test is performed while decreasing the optical attenuation amount by 100 until the first link failure is detected. In the example of the link status table 44 in FIG. 4, since the link failure is detected when the second test, that is, the optical attenuation is 200, steps S115 to S117 are executed and immediately before the link failure is detected. From the light attenuation amount of 100, the link failure is examined in fine steps (steps of 10 steps). Then, since the link failure is detected when the optical attenuation amount is 150, steps S115 to S117 are executed again, and the
このリンクステータステーブル４４では、１００刻みでリンクフェイルを調べたときには、光減衰量が２００というデータが得られたのに対し、１０刻みでリンクフェイルを調べたときには、光減衰量が１５０というデータが得られた。さらに、１刻みでリンクフェイルを調べると、光減衰量が１４７というデータが得られた。即ち、光減衰量の変化量を細かくすることによって、リンクレイルの発生位置をより高い精度で検出することが可能になる。 In this link status table 44, when the link failure is checked in increments of 100, data with an optical attenuation of 200 is obtained, whereas when the link fail is examined in increments of 10, the data with an optical attenuation of 150 is obtained. Obtained. Further, when the link failure was examined in increments of 1, data with an optical attenuation of 147 was obtained. That is, it is possible to detect the occurrence position of the link rail with higher accuracy by reducing the amount of change in the optical attenuation.
次に、ＣＲＣエラーの発生位置検出処理について説明する。経験的には、リンクフェイルの直前で、光減衰量にして１１ステップ手前までの領域でＣＲＣエラーの最大発生ポイントがあると考えられる。従って、リンクフェイルがカウントされた光減衰量から−１１だけ戻した光減衰量から−１の位置までの間で、試験時間を長く設定した上で、ＣＲＣエラーの発生回数を調べ、その最大値が検出されたときの光減衰量を伝送路の障害試験に最適な光減衰量に決定する。この処理は、図６Ａ及び図６Ｂに示す処理でリンクフェイル位置を検出した後に実行される。以下、図８Ａ及び図８Ｂのフローチャートを参照して、ＣＲＣエラーの発生位置検出処理の詳細について説明する。 Next, CRC error occurrence position detection processing will be described. From experience, it is considered that there is a maximum occurrence point of CRC error in the region up to 11 steps before the optical attenuation just before the link failure. Accordingly, the test time is set long between the light attenuation amount returned by -11 from the light attenuation amount counted by the link failure and the position of −1, the number of occurrences of CRC errors is examined, and the maximum value is obtained. The optical attenuation when the signal is detected is determined to be the optimal optical attenuation for the transmission line fault test. This process is executed after the link fail position is detected by the process shown in FIGS. 6A and 6B. Details of the CRC error occurrence position detection process will be described below with reference to the flowcharts of FIGS. 8A and 8B.
ステップＳ２０１で、光レベル調節部４１が各パラメータの初期値を設定する。例えば、最後のＣＲＣエラーのステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰ＝１０、光レベルの落とし量Ｐｉｎ＝１、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒ＝Ｐｌｆ−Ｌａｓｔ＿ＳＴＥＰ−１とする。即ち、ここでの処理の初期値は、光減衰量の設定値Ｐｃｕｒは、リンクフェイル位置の１１ポイント前の値に設定される。
In step S201, the light
続くステップＳ２０２では、光レベル調節部４１が光調節器２２に対して光レベルの減衰を光減衰量の設定値Ｐｃｕｒにするように指示する。この後、ステップＳ２０３で所定時間待機する。この待機処理は、フレーム送信でＣＲＣエラー後のリカバリー時間を考慮したもので、待機時間は例えば、３００秒とする。ここでの待機時間は、ＣＲＣエラーの最大値を発見するのに十分な時間であり、図６ＡのステップＳ１０３の待機時間より長くなっている。光レベルを減衰させることによって、第１の情報処理機器２から伝送路５を通して第２の情報処理機器３に送信される情報に通信エラーが発生した場合には、第２の情報処理機器２でＣＲＣエラーやリンクフェイルがカウントされる。
In the subsequent step S202, the
待機時間が終了したら、ステップＳ２０４において、光レベル調節部４１が、光調節器２２に対して光の減衰を試験開始時点での光減衰量Ｐｓｔに設定するように指示する。これによって、リンクフェイルが解消されるので、ステップＳ２０５で、カウント部４２がＲＬＳ送信器２１に対してＲＬＳ送信命令を出力する。この後、ステップＳ１０４と同様に、ステップＳ２０６でＬＥＳＢ受信器２３の受信部２５がＡＣＣフレームに含まれるＬＥＳＢを受信するまで待機する。
When the standby time ends, in step S204, the light
ＬＥＳＢを受信したら、ステップＳ２０７に進み、カウント部４２がＣＲＣエラーの増分を算出し、ＣＲＣエラーの発生回数の今回値を取得する。この処理は、ステップＳ１０９と同様である。続く、ステップＳ２０８では、カウント部４２がリンクフェイルの発生回数の増分を算出し、リンクフェイルの発生回数の今回値を取得する。この処理は、ステップＳ１１０と同様である。
If the LESB is received, the process proceeds to step S207, where the
続いて、ステップＳ２０９で、最後に受信したＬＥＳＢ値Ｌａｓｔ＿ＬＥＳＢに受信したＬＥＳＢを代入する。さらに、端子Ｃから進む図８ＢのステップＳ２１０で、テーブル作成部４３がリンクステータステーブル４４に現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒと、ＬＦ発生回数と、ＣＲＣエラーの発生回数を関連付けて格納する。この処理では、図４のリンクステータステーブル４４の４つ目の領域ＡＲ４に相当するデータが作成される。
Subsequently, in step S209, the received LESB is substituted for the last received LESB value Last_LESB. Further, in step S210 of FIG. 8B proceeding from the terminal C, the
ここで、ステップＳ２１１でＬＦ発生回数が「０」より大きければ、ステップＳ２１５に進む。リンクフェイルが発生した場合には、１１ステップ分の試験が終了する前であっても試験を終了させる。
一方、ステップＳ２１１でＬＦ発生回数が「０」であれば、リンクフェイルが発生していないので、ステップＳ２１２に進み、光レベル調節部４１が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒを調整する。具体的には、現在の光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光レベルの落とし幅Ｐｉｎを加算し、新しい光減衰量の設定値Ｐｃｕｒとする。さらに、ステップＳ２１３では、光レベル調節部４１が最新のＣＲＣエラー検出用の光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰを１つ減少させる。そして、ステップＳ２１４で、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロになるまで、ステップＳ２０２からステップＳ２１３の処理を繰り返す。
If the number of LF occurrences is larger than “0” in step S211, the process proceeds to step S215. When a link failure occurs, the test is ended even before the test for 11 steps is completed.
On the other hand, if the number of LF occurrences is “0” in step S211, no link failure has occurred, so the process proceeds to step S212, and the light
ステップＳ２１４で光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロになったら、ステップＳ２１５に進み、光レベル決定部４５がＣＲＣエラーの発生回数が最大となる光減衰量を抽出する。具体的には、光レベル決定部４５がリンクステータステーブル４４をＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔでソートし、ＣＲＣエラーの発生回数ＣＲＣｃｎｔが最大となるときの光減衰量の設定値ＰｃｕｒをＣＲＣエラーが最大値となるときの光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘとする。
そして、ステップＳ２１６で、光レベル決定部４５が光減衰量の設定値Ｐｃｕｒに光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘを代入し、ここでの処理を終了する。
一方、ステップＳ２１４で、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロでなければ、端子Ｄから図８ＡのステップＳ２０２に戻り、光減衰のステップＬａｓｔ＿ＳＴＥＰがゼロ、即ち、１１ステップ分の光減衰量の試験が終了するまで、前記の処理を繰り返す。
When the light attenuation step Last_STEP becomes zero in step S214, the process proceeds to step S215, and the light
In step S216, the light
On the other hand, if the light attenuation step Last_STEP is not zero in step S214, the process returns from the terminal D to step S202 in FIG. 8A, and the light attenuation step Last_STEP is zero, that is, the light attenuation test for 11 steps is completed. Until the above process is repeated.
図８Ａ及び図８Ｂの処理では、リンクフェイル位置から１１ステップ手前からリンクフェイルとＣＲＣエラーの発生回数を１ステップ刻みで調べる。図４のリンクステータステーブル４４の例では、３つ目の領域ＡＲ３で決定したリンクフェイル時の光減衰量である１４７から、１１ステップ手前の１３６から、１ステップ手前の１４６までの範囲で、１ステップ刻みで試験する。そして、各光減衰量に対するＣＲＣエラーの発生回数が最も多い光減衰量である１４６を、光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘとする。これによって、伝送路５，６の障害試験に最適な領域として、リンクフェイル状態にはならないが、ＣＲＣエラーが多発する光減衰量を決定することができる。
In the process of FIGS. 8A and 8B, the number of occurrences of link failure and CRC error is checked in steps of 11 steps before the link fail position. In the example of the link status table 44 in FIG. 4, the light attenuation amount at the time of link failure determined in the third area AR3 is from 147 to 136 before 11 steps to 146 before 1 step. Test in steps. Then, the light attenuation amount Pcrc_max is set to 146, which is the light attenuation amount with the largest number of occurrences of CRC errors for each light attenuation amount. As a result, it is possible to determine an optical attenuation amount in which a CRC error occurs frequently, although the link failure state does not occur as an optimum region for the failure test of the
ここまでの処理で、ＣＲＣエラーが多発する光減衰量Ｐｃｒｃ＿ｍａｘを決定することができたので、そのような光減衰量が維持されるように光レベル調節部４１で光調節器２２を制御する。この状態で、情報処理機器２，３のリトライ動作を実行させ、リトライ動作の正当性を確認する試験を行う。
Since the optical attenuation amount Pcrc_max at which CRC errors frequently occur can be determined by the processing so far, the
以上、説明したように、伝送路障害試験装置１は、光減衰量を変化させながらＲＬＳフレームを出力し、これに応じて出力されるＡＣＣフレームに含まれる通信状態の情報（ＬＥＳＢ）を取得するようにしたので、光通信に使用する伝送路５，６の障害試験を行うための光減衰量を決定することが可能になる。
As described above, the transmission path
光減衰量の制御は、光レベルで指定しても良いし、光カップリングの距離や、光軸のずれ量で指定しても良い。
また、伝送路障害試験に最適な光減衰量を決定する代わりに、試験に最適な光レベルを決定しても良い。
さらに、各処理における光減衰量の設定値や、光減衰量の変化のステップは、前記の数値に限定されない。
The control of the light attenuation amount may be specified by the light level, or may be specified by the optical coupling distance or the optical axis deviation amount.
Further, instead of determining the optimum optical attenuation for the transmission path failure test, the optimum optical level for the test may be determined.
Furthermore, the set value of the light attenuation amount and the step of changing the light attenuation amount in each process are not limited to the above numerical values.
ここで挙げた全ての例及び条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明及び概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例及び条件に限定することなく解釈するものであり、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換及び変形を施すことができる。 All examples and conditional expressions given here are intended to help the reader understand the inventions and concepts that have contributed to the promotion of technology, and such examples and It is to be construed without being limited to the conditions, and the organization of such examples in the specification is not related to showing the superiority or inferiority of the present invention. While embodiments of the present invention have been described in detail, various changes, substitutions and variations can be made thereto without departing from the spirit and scope of the present invention.
以下に、前記の実施の形態の特徴を付記する。
（付記１） 複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置。
（付記２） 前記制御装置は、前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記光調節器における光レベルを変化する光レベル調節部と、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、その光減衰量で発生するＣＲＣエラーの発生回数をカウントするカウント部と、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けて格納する記憶部と、ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する光レベル決定部と、を含むことを特徴とする付記１に記載の伝送路障害試験装置。
（付記３） 前記光レベル調節部は、光減衰量を変化させるステップ幅を変化可能で、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量が検出される度に、前記ステップ幅を減少させるように構成されていることを特徴とする付記２に記載の伝送路障害試験装置。
（付記４） 光レベル調節部は、前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量より光レベルの減衰量が少ない領域において、最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定するように構成されていることを特徴とする付記２又は付記３に記載に伝送路障害試験装置。
（付記５） 複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路の光レベルを減衰させ、前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法。
（付記６） 前記伝送路のリンクフェイルが発生する度に、光減衰量を変化させるステップ幅を減少させ、リンクレイルが発生した光減衰量より少ない光減衰量から再び前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣエラーの発生回数とを調べることを特徴とする付記５に記載の伝送路の障害試験方法。
（付記７） 前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量より光レベルの減衰量が少ない領域で、最もＣＲＣエラーの発生回数が多い光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする付記５又は付記６に記載の伝送路の障害試験方法。
The features of the above embodiment will be added below.
(Additional remark 1) The optical regulator which is provided in the transmission line used for the optical communication between several information processing apparatus and can adjust the optical level of the said transmission line, and the said transmission output from the said information processing apparatus Based on the information on the communication state of the path, the optical attenuation amount of the optical adjuster is increased until a link failure of the transmission path occurs, and the optical attenuation amount causing the largest CRC (Cyclic Redundancy Check) error is transmitted. A transmission path fault testing apparatus, comprising: a control apparatus that determines an optical attenuation amount for a path fault test.
(Additional remark 2) The said control apparatus is based on the information of the communication state of the said transmission path output from the said information processing apparatus, The optical level adjustment part which changes the optical level in the said optical regulator, The link of the said transmission path An optical attenuation amount at the time of failure, a count unit that counts the number of occurrences of a CRC error caused by the optical attenuation amount, an optical attenuation amount at the time of link failure of the transmission line, and the occurrence number of CRC errors are stored in association with each other. And an optical level determination unit that determines an optical attenuation amount at which the number of occurrences of a CRC error is a maximum value as an optical attenuation amount for a failure test of the transmission path. Transmission path failure test equipment.
(Additional remark 3) The said optical level adjustment part can change the step width which changes an optical attenuation amount, and whenever the optical attenuation amount at the time of the link failure of the said transmission path is detected, it reduces the said step width. The transmission path failure test apparatus according to
(Additional remark 4) The optical level adjustment unit determines the optical attenuation amount with the highest occurrence of CRC error in the region where the optical level attenuation amount is smaller than the optical attenuation amount at the time of link failure of the transmission line. 4. The transmission path failure test apparatus according to
(Supplementary Note 5) Attenuate the optical level of a transmission line used for optical communication between a plurality of information processing devices, and refer to the communication state information output from the information processing device connected to the transmission line Then, the occurrence of link failure in the transmission line and the number of occurrences of CRC (Cyclic Redundancy Check) errors are examined, and the optical attenuation amount causing the largest CRC error is determined as the optical attenuation amount for the failure test of the transmission line. A failure test method for a transmission line, characterized in that
(Supplementary Note 6) Each time a link failure occurs in the transmission path, the step width for changing the optical attenuation is decreased, and the link attenuation of the transmission path is reduced again from an optical attenuation less than the optical attenuation generated by the link rail. 6. The transmission path failure test method according to
(Supplementary note 7) In a region where the optical level attenuation amount is smaller than the optical attenuation amount at the time of link failure of the transmission path, the optical attenuation level with the highest number of occurrences of CRC errors is used as the optical attenuation level for the transmission path fault test. The transmission path failure test method according to
１ 伝送路障害試験装置
２ 第１の情報処理機器
３ 第２の情報処理機器
５，６ 伝送路
２２ 光調節器
２４ 制御装置
４１ 光レベル調節部
４２ カウント部
４４Ａ リンクステータステーブル記憶部
４５ 光レベル決定部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、
を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置。 An optical regulator provided in a transmission path used for optical communication between a plurality of information processing devices, and capable of adjusting an optical level of the transmission path;
Based on the communication state information of the transmission path output from the information processing device, the optical attenuation of the optical adjuster is increased until a link failure of the transmission path occurs, and a CRC (Cyclic Redundancy Check) error occurs. A control device that determines the optical attenuation that occurs most frequently as an optical attenuation for the failure test of the transmission line;
A transmission path failure test apparatus comprising:
前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記光調節器における光レベルを変化する光レベル調節部と、
前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、その光減衰量で発生するＣＲＣエラーの発生回数をカウントするカウント部と、
前記伝送路のリンクフェイル時の光減衰量と、ＣＲＣエラーの発生回数とを関連付けて格納する記憶部と、
ＣＲＣエラーの発生回数が最大値となる光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する光レベル決定部と、
を含むことを特徴とする請求項１に記載の伝送路障害試験装置。 The controller is
Based on information on the communication state of the transmission path output from the information processing device, a light level adjusting unit that changes a light level in the light adjuster;
An optical attenuation amount at the time of link failure of the transmission line, and a counting unit that counts the number of occurrences of CRC errors generated by the optical attenuation amount;
A storage unit for storing the optical attenuation amount at the time of link failure of the transmission path and the number of occurrences of CRC errors in association with each other;
An optical level determination unit that determines an optical attenuation amount at which the number of occurrences of a CRC error is a maximum value as an optical attenuation amount for a failure test of the transmission path;
The transmission path failure test apparatus according to claim 1, comprising:
前記伝送路に接続されている前記情報処理機器から出力される通信状態の情報を参照し、前記伝送路のリンクフェイルの発生と、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）エラーの発生回数とを調べ、
ＣＲＣエラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定することを特徴とする伝送路の障害試験方法。 Attenuates the optical level of the transmission path used for optical communication between multiple information processing devices,
Referring to information on the communication state output from the information processing device connected to the transmission path, check the occurrence of link failure in the transmission path and the number of occurrences of CRC (Cyclic Redundancy Check) errors,
A transmission line failure test method, wherein an optical attenuation amount in which a CRC error occurs most frequently is determined as an optical attenuation amount for the transmission line failure test.
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