JP2014175428A - Bonding method, electronic element, oscillator, electronic apparatus and mobile - Google Patents

Bonding method, electronic element, oscillator, electronic apparatus and mobile Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bonding method for bonding two members by a bonding film having suitable melting point and characteristics, and to provide an electronic element, an oscillator, an electronic apparatus and a mobile manufactured using this bonding method.SOLUTION: A bonding method includes a first step for arranging, between a base substrate 2 and a first lid 31, a metal film 90 including a first metal layer 91 composed of a first metal 910, and a second metal layer 92 provided in contact with the first metal layer 91, and composed of a second metal 920 that can be alloyed with the first metal 910 and has a melting point higher than that of the first metal 910, and a second step for alloying the first metal 910 and second metal 920, by heating and melting the metal film 90. In the first step, the first and second metal layers 91, 92 are arranged side by side in the in-plane direction of the metal film 90.

Description

本発明は、接合方法、電子素子、発振器、電子機器および移動体に関するものである。   The present invention relates to a bonding method, an electronic element, an oscillator, an electronic device, and a moving body.

ATカット水晶振動子は、励振する主振動の振動モードが厚みすべり振動であり、小型化、高周波数化に適し、且つ周波数温度特性が優れた三次曲線を呈するので、圧電発振器、電子機器等の多方面で使用されている。このようなATカット水晶振動子として、振動素子をパッケージに収容したものが広く知られている。また、振動素子を収容するパッケージとしては、箱状のベースとベースの開口を覆うリッドとを気密的に接合した構成が広く用いられている(例えば、特許文献1、2参照)。
特許文献1では、半田を用いてベースとリッドとを接合している。しかしながら、半田は、その種類によって融点や特性が定まっているため、製造者は、適した融点や特性を有する半田を選択して使用しなければならない。半田の種類には限りがあるため、適した融点および特性を有する半田が存在しない場合や製造者が備えていない場合もある。
AT-cut quartz resonators have thickness shear vibration as the main vibration mode to be excited, and are suitable for miniaturization and higher frequency, and exhibit a cubic curve with excellent frequency temperature characteristics. Used in many ways. As such an AT-cut quartz crystal resonator, one in which a resonator element is housed in a package is widely known. Moreover, as a package for accommodating the vibration element, a configuration in which a box-shaped base and a lid covering the opening of the base are hermetically joined is widely used (see, for example, Patent Documents 1 and 2).
In Patent Document 1, the base and the lid are joined using solder. However, since the melting point and characteristics of the solder are determined depending on the type, the manufacturer must select and use a solder having an appropriate melting point and characteristics. Since the types of solder are limited, there are cases where there is no solder having a suitable melting point and characteristics, or there are cases where the manufacturer does not have.

特開平11−214944号公報JP 11-214944 A 特開2003−133465号公報JP 2003-133465 A

本発明の目的は、適した融点および特性を有する接合膜で2つの部材を接合することのできる接合方法、並びに、この接合方法を用いて製造された電子素子、発振器、電子機器および移動体を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a bonding method capable of bonding two members with a bonding film having a suitable melting point and characteristics, and an electronic element, an oscillator, an electronic device, and a moving body manufactured by using this bonding method. It is to provide.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の適用例として実現することが可能である。
[適用例1]
本発明の接合方法は、第1の部材と第2の部材の間に、第1の金属により構成された第1の金属層と、前記第1の金属層と接触して設けられ、前記第1の金属と合金化可能であって前記第1の金属よりも高い融点を有する第2の金属により構成された第2の金属層とを含む金属膜を配置する第1工程と、
前記金属膜を加熱して溶融することによって、前記第1の金属および前記第2の金属を合金化する第2工程と、を含み、
第1工程では、前記第1の金属層と前記第2の金属層が前記金属膜の面内方向に並んで配置されることを特徴とする。
このような接合方法によれば、第1の金属と第2の金属の種類や配合比等を適宜設定することによって、第1、第2の部材を適した条件で接合することができる。
SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following application examples.
[Application Example 1]
The bonding method of the present invention is provided between the first member and the second member, in contact with the first metal layer made of the first metal and the first metal layer. A first step of disposing a metal film comprising a second metal layer that can be alloyed with one metal and has a higher melting point than the first metal;
A second step of alloying the first metal and the second metal by heating and melting the metal film,
In the first step, the first metal layer and the second metal layer are arranged in an in-plane direction of the metal film.
According to such a joining method, it is possible to join the first and second members under suitable conditions by appropriately setting the type and blending ratio of the first metal and the second metal.

[適用例2]
本発明の接合方法では、前記金属膜は、帯状をなしており、その幅方向に沿って、前記第1の金属層と前記第2の金属層が並んでいるのが好ましい。
これにより、第1、第2の金属層をより均質に合金化させることができる。
[適用例3]
本発明の接合方法では、前記金属膜は、帯状をなしており、その延在方向に沿って、前記第1の金属層と前記第2の金属層が並んでいるのが好ましい。
これにより、第1、第2の金属層をより確実に合金化することができる。
[Application Example 2]
In the bonding method of the present invention, it is preferable that the metal film has a strip shape, and the first metal layer and the second metal layer are arranged in the width direction.
Thereby, the first and second metal layers can be alloyed more uniformly.
[Application Example 3]
In the bonding method of the present invention, it is preferable that the metal film has a band shape, and the first metal layer and the second metal layer are arranged along the extending direction.
Thereby, the first and second metal layers can be alloyed more reliably.

[適用例4]
本発明の接合方法では、前記第1の金属は、錫であるのが好ましい。
これにより、第2工程を比較的低い温度で行うことができ、例えば、周囲の電子部品等への熱ダメージを低減することができる。
[適用例5]
本発明の接合方法では、前記第2の金属は、金、銀または銅であるのが好ましい。
これにより、機械的特性に優れた合金が得られる。
[Application Example 4]
In the bonding method of the present invention, it is preferable that the first metal is tin.
Thereby, a 2nd process can be performed at comparatively low temperature, for example, the thermal damage to the surrounding electronic components etc. can be reduced.
[Application Example 5]
In the bonding method of the present invention, the second metal is preferably gold, silver or copper.
As a result, an alloy having excellent mechanical properties can be obtained.

[適用例6]
本発明の接合方法では、前記金属膜は、さらに、前記第1の金属層と接触して設けられ、前記第1の金属と合金化可能であって前記第2の金属よりも高い融点を有する第3の金属により構成された第3の金属層を含んでいるのが好ましい。
これにより、第1、第2の金属のみの場合と比較して、接合条件の選択肢が増え、第1、第2の部材をより適した条件で接合することができる。
[Application Example 6]
In the bonding method of the present invention, the metal film is further provided in contact with the first metal layer, can be alloyed with the first metal, and has a higher melting point than the second metal. It is preferable to include a third metal layer composed of a third metal.
Thereby, compared with the case of only the 1st, 2nd metal, the choice of joining conditions increases and the 1st, 2nd member can be joined on more suitable conditions.

[適用例7]
本発明の接合方法では、前記第1の金属層は、前記第2の金属層と前記第3の金属層との間に位置しているのが好ましい。
これにより、第1、第2、第3の金属をより確実に合金化することができる。
[適用例8]
本発明の接合方法では、前記第3の金属は、ゲルマニウムであるのが好ましい。
これにより、機械的特性に優れた合金が得られる。
[Application Example 7]
In the bonding method according to the aspect of the invention, it is preferable that the first metal layer is located between the second metal layer and the third metal layer.
Thereby, the first, second, and third metals can be alloyed more reliably.
[Application Example 8]
In the bonding method of the present invention, the third metal is preferably germanium.
As a result, an alloy having excellent mechanical properties can be obtained.

[適用例9]
本発明の接合方法では、前記第1の部材は、第1の面と前記第1の面から立設する第2の面とを有し、
前記第2の部材は、板状をなし、一方の主面が前記第1の面に面するとともに、側面が前記第2の面に面し、
前記第1の工程では、前記金属膜が前記第1の面と前記主面との間および前記第2の面と前記側面との間に跨って配置されるのが好ましい。
これにより、金属膜と第1、第2の部材との接触面積が増えるため、より強固に第1の部材と第2の部材とを接合することができる。
[Application Example 9]
In the bonding method of the present invention, the first member has a first surface and a second surface standing from the first surface,
The second member has a plate shape, one main surface faces the first surface, and a side surface faces the second surface,
In the first step, it is preferable that the metal film is disposed between the first surface and the main surface and between the second surface and the side surface.
As a result, the contact area between the metal film and the first and second members increases, so that the first member and the second member can be joined more firmly.

[適用例10]
本発明の電子素子は、第1の部材と第2の部材とが合金層を介して接合され、
前記合金層は、Au−Sn−Ge系合金またはAg−Sn−Ge系合金からなることを特徴とする。
これにより、Au、Sn、Ge(または、Ag、Sn、Ge)の配合比を適宜設定することによって、第1、第2の部材を適した条件で接合することができる。特に、Au(Ag)とGeとの合金は、これらの配合量によって合金の融点を広い範囲で調節できる点で優れている。
[Application Example 10]
In the electronic device of the present invention, the first member and the second member are joined via an alloy layer,
The alloy layer is made of an Au—Sn—Ge alloy or an Ag—Sn—Ge alloy.
Thereby, the 1st, 2nd member can be joined on the suitable conditions by setting the compounding ratio of Au, Sn, Ge (or Ag, Sn, Ge) suitably. In particular, an alloy of Au (Ag) and Ge is excellent in that the melting point of the alloy can be adjusted in a wide range depending on the blending amount thereof.

[適用例11]
本発明の電子素子では、前記第1の部材がベース基板であり、
前記第2の部材が蓋体であり、
前記ベース基板に振動素子が搭載されているのが好ましい。
これにより、信頼性の高い電子素子を簡単に製造することができる。
[Application Example 11]
In the electronic device of the present invention, the first member is a base substrate,
The second member is a lid;
It is preferable that a vibration element is mounted on the base substrate.
Thereby, a highly reliable electronic device can be easily manufactured.

[適用例12]
本発明の発振器は、本発明の電子素子と、
前記振動素子に接続された発振回路と、を備えていることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い発振器が得られる。
[適用例13]
本発明の電子機器は、本発明の電子素子を備えていることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い電子機器が得られる。
[適用例14]
本発明の移動体は、本発明の電子素子を備えていることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い移動体が得られる。
[Application Example 12]
The oscillator of the present invention includes the electronic device of the present invention,
And an oscillation circuit connected to the vibration element.
Thereby, a highly reliable oscillator can be obtained.
[Application Example 13]
An electronic apparatus according to the present invention includes the electronic element according to the present invention.
As a result, a highly reliable electronic device can be obtained.
[Application Example 14]
The moving body of the present invention includes the electronic device of the present invention.
Thereby, a mobile body with high reliability is obtained.

本発明の第1実施形態にかかる電子素子の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device concerning 1st Embodiment of this invention. ATカット水晶基板と結晶軸との関係を説明する図である。It is a figure explaining the relationship between an AT cut quartz substrate and a crystal axis. 図1に示す電子素子が有する基板の上面図である。It is a top view of the board | substrate which the electronic element shown in FIG. 1 has. 図1に示す電子素子が有する基板の下面図である。It is a bottom view of the board | substrate which the electronic element shown in FIG. 1 has. ベース基板と第1の蓋体との接合方法を説明するための図であり、(a)がベース基板の平面図(上面図)、(b)が同図(a)中のA−A線断面図である。It is a figure for demonstrating the joining method of a base substrate and a 1st cover body, (a) is a top view (top view) of a base substrate, (b) is the AA line in the figure (a). It is sectional drawing. ベース基板と第1の蓋体との接合方法を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the joining method of a base substrate and a 1st cover body. Au−Ge合金の配合比と融点との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the compounding ratio of Au-Ge alloy, and melting | fusing point. 本発明の第2実施形態にかかる接合方法を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the joining method concerning 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態にかかる接合方法を説明するためのベース基板の上面図である。It is a top view of the base substrate for demonstrating the joining method concerning 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態にかかる接合方法を説明するためのベース基板の上面図である。It is a top view of the base substrate for demonstrating the joining method concerning 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態にかかる電子素子の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device concerning 5th Embodiment of this invention. 図11に示す電子素子が備える振動素子の平面図であり、(a)が上方から見た平面図、(b)が上方から見た透過図である。12A is a plan view of a vibration element included in the electronic element shown in FIG. 11, and FIG. 12A is a plan view seen from above, and FIG. 本発明の発振器の好適な実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows suitable embodiment of the oscillator of this invention. 本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピューターの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view illustrating a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which an electronic apparatus of the present invention is applied. 本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the mobile telephone (PHS is also included) to which the electronic device of this invention is applied. 本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the digital still camera to which the electronic device of this invention is applied. 本発明の移動体の一例としての自動車を概略的に示す斜視図である。1 is a perspective view schematically showing an automobile as an example of a moving object of the present invention.

以下、本発明の接合方法、電子素子、発振器、電子機器および移動体を図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
<第1実施形態>
まず、本発明の接合方法および電子素子の第1実施形態について説明する。
図1は、本発明の第1実施形態にかかる電子素子の断面図、図2は、ATカット水晶基板と結晶軸との関係を説明する図、図3は、図1に示す電子素子が有する基板の上面図、図4は、図1に示す電子素子が有する基板の下面図である。なお、以下では、説明の便宜上、図1中の上側を「上」と言い、下側を「下」と言い、右側を「右」と言い、左側を「左」と言う。
Hereinafter, a bonding method, an electronic element, an oscillator, an electronic device, and a moving body according to the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the drawings.
<First Embodiment>
First, the bonding method and the first embodiment of the electronic device of the present invention will be described.
1 is a cross-sectional view of an electronic device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the relationship between an AT-cut quartz substrate and a crystal axis, and FIG. 3 is included in the electronic device shown in FIG. FIG. 4 is a bottom view of the substrate included in the electronic device shown in FIG. In the following, for convenience of explanation, the upper side in FIG. 1 is referred to as “upper”, the lower side is referred to as “lower”, the right side is referred to as “right”, and the left side is referred to as “left”.

1.電子素子
図1に示す電子素子1は、振動子である。この電子素子1は、ベース基板(第1の部材)2と、第1の蓋体(第2の部材)31と、第2の蓋体(第2の部材)32と、第1のモールド材41、第2のモールド材42、電極5、6とを有している。
(ベース基板)
ベース基板2は、水晶基板である。ここで、ベース基板2の材料である水晶は、三方晶系に属しており、図2に示すように互いに直交する結晶軸X、Y、Zを有している。X軸、Y軸、Z軸は、それぞれ、電気軸、機械軸、光学軸と呼称される。本実施形態のベース基板2は、XZ面をX軸の回りに所定の角度θ(θ=35°15’)だけ回転させた平面に沿って切り出されたATカット水晶基板からなる。
1. Electronic Element An electronic element 1 shown in FIG. 1 is a vibrator. The electronic element 1 includes a base substrate (first member) 2, a first lid (second member) 31, a second lid (second member) 32, and a first molding material. 41, a second molding material 42, and electrodes 5 and 6.
(Base substrate)
The base substrate 2 is a quartz substrate. Here, the crystal that is the material of the base substrate 2 belongs to the trigonal system, and has crystal axes X, Y, and Z orthogonal to each other as shown in FIG. The X axis, the Y axis, and the Z axis are referred to as an electric axis, a mechanical axis, and an optical axis, respectively. The base substrate 2 of the present embodiment is composed of an AT cut quartz crystal substrate cut out along a plane obtained by rotating the XZ plane around the X axis by a predetermined angle θ (θ = 35 ° 15 ′).

図1、図3および図4に示すように、ベース基板2は、板状(ブロック状)をなしており、その上面(一方の主面)に設けられた第1の凹部21と、下面(他方の主面)に設けられた第2の凹部22と、第1、第2の凹部21、22の底面同士を貫通する貫通孔23と、貫通孔23内に配置された振動基板24と、振動基板24と貫通孔23の内壁とを連結する4つの梁部251、252、253、254と、を有している。このような形状のベース基板2は、板状の水晶基板をフォトリソグラフィー技法およびエッチング技法を用いてパターニングすることによって簡単に形成することができる。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the base substrate 2 has a plate shape (block shape), and includes a first recess 21 provided on the upper surface (one main surface) and a lower surface ( A second recess 22 provided on the other main surface), a through hole 23 penetrating the bottom surfaces of the first and second recesses 21 and 22, a vibration substrate 24 disposed in the through hole 23, There are four beam portions 251, 252, 253, and 254 that connect the vibration substrate 24 and the inner wall of the through hole 23. The base substrate 2 having such a shape can be easily formed by patterning a plate-shaped quartz substrate using a photolithography technique and an etching technique.

第1の凹部21は、ベース基板2の上面の縁部を除く中央部に設けられている。また、第1の凹部21は、ベース基板2の輪郭形状に対応するように長方形の輪郭形状を有している。したがって、ベース基板2の上面は、内外の輪郭が共に長方形である枠状をなしている。一方、第2の凹部22は、ベース基板2の下面の縁部を除く中央部に設けられている。また、第2の凹部22は、ベース基板2の輪郭形状に対応するように長方形の輪郭形状を有している。したがって、ベース基板2の下面は、内外の輪郭が共に長方形である枠状をなしている。第1、第2の凹部21、22は、ベース基板2の中心に対して対称的に形成されている。   The first concave portion 21 is provided in the central portion excluding the edge portion on the upper surface of the base substrate 2. The first recess 21 has a rectangular contour shape so as to correspond to the contour shape of the base substrate 2. Therefore, the upper surface of the base substrate 2 has a frame shape in which the inner and outer contours are both rectangular. On the other hand, the second recess 22 is provided in the central portion excluding the edge portion of the lower surface of the base substrate 2. The second recess 22 has a rectangular contour shape so as to correspond to the contour shape of the base substrate 2. Therefore, the lower surface of the base substrate 2 has a frame shape in which the inner and outer contours are both rectangular. The first and second recesses 21 and 22 are formed symmetrically with respect to the center of the base substrate 2.

貫通孔23は、第1の凹部21の底面211の縁部を除く中央部と、第2の凹部22の底面221の縁部を除く中央部とを貫通して形成されている。また、貫通孔23は、第1、第2の凹部21、22の輪郭形状に対応するように長方形の輪郭形状を有している。したがって、第1、第2の凹部21、22の底面211、221は、それぞれ、内外の輪郭が共に長方形である枠状をなしている。このように、底面211、221の縁部の全周を除くようにして貫通孔23を形成することにより、後述するように、簡単に、第1、第2の蓋体31、32によって、貫通孔23を気密的に封止することができる。   The through hole 23 is formed so as to penetrate the central portion excluding the edge portion of the bottom surface 211 of the first recess 21 and the central portion excluding the edge portion of the bottom surface 221 of the second recess 22. The through-hole 23 has a rectangular contour shape so as to correspond to the contour shape of the first and second recesses 21 and 22. Therefore, the bottom surfaces 211 and 221 of the first and second recesses 21 and 22 each have a frame shape in which the inner and outer contours are both rectangular. In this way, by forming the through hole 23 so as to exclude the entire circumference of the edges of the bottom surfaces 211 and 221, as will be described later, the first and second lids 31 and 32 can easily pass through. The hole 23 can be hermetically sealed.

振動基板24は、その平面視にて、長方形(矩形)の輪郭形状を有している。ここで、振動基板24の長手方向は、水晶のX軸またはZ軸と一致しているが、特に、X軸と一致するのが好ましい。これにより、電子素子1は、より優れた振動特性を発揮することができる。
また、振動基板24は、貫通孔23の内部に貫通孔23の内周面と離間して配置されている。また、振動基板24は、貫通孔23の高さよりも薄く、貫通孔23の高さ方向のほぼ中心に配置されている。言い換えると、振動基板24の上面は、貫通孔23の上側開口よりも下側に位置し、振動基板24の下面は、貫通孔23の下側開口よりも上側に位置している。振動基板24をこのように配置することにより、振動基板24と第1、第2の蓋体31、32との接触を防止することができる。
The vibration substrate 24 has a rectangular (rectangular) outline shape in plan view. Here, the longitudinal direction of the vibration substrate 24 coincides with the X-axis or Z-axis of the crystal, but it is particularly preferable to coincide with the X-axis. Thereby, the electronic element 1 can exhibit more excellent vibration characteristics.
In addition, the vibration substrate 24 is disposed inside the through hole 23 so as to be separated from the inner peripheral surface of the through hole 23. The vibration substrate 24 is thinner than the height of the through hole 23, and is disposed substantially at the center of the through hole 23 in the height direction. In other words, the upper surface of the vibration substrate 24 is located below the upper opening of the through hole 23, and the lower surface of the vibration substrate 24 is located above the lower opening of the through hole 23. By disposing the vibration substrate 24 in this way, contact between the vibration substrate 24 and the first and second lid bodies 31 and 32 can be prevented.

4つの梁部251〜254のうちの梁部251、252は、振動基板24の長手方向の一端にて振動基板24と貫通孔23の内周面とを連結し、残りの梁部253、254は、振動基板24の長手方向の他端にて振動基板24と貫通孔23の内周面とを連結している。このように、4つの梁部251〜254によって、振動基板24を両持ち支持することによって、機械的強度の高いベース基板2となる。また、梁部251〜254によって、振動基板24を貫通孔23の内周面に連結することによって、振動基板24(振動素子8)の振動漏れを効果的に抑制することができる。   Of the four beam portions 251 to 254, the beam portions 251 and 252 connect the vibration substrate 24 and the inner peripheral surface of the through hole 23 at one end in the longitudinal direction of the vibration substrate 24, and the remaining beam portions 253 and 254. Connects the vibration substrate 24 and the inner peripheral surface of the through hole 23 at the other end in the longitudinal direction of the vibration substrate 24. In this way, the base substrate 2 with high mechanical strength is obtained by supporting the vibration substrate 24 by both the beam portions 251 to 254. Further, by connecting the vibration substrate 24 to the inner peripheral surface of the through hole 23 by the beam portions 251 to 254, vibration leakage of the vibration substrate 24 (the vibration element 8) can be effectively suppressed.

また、梁部251〜254は、それぞれ、振動基板24と同じ厚さであり、振動基板24と同じ面に配置されている。なお、梁部の数は、振動基板24を貫通孔23の内周面に連結・固定することができれば、特に限定されない。例えば、梁部253、254を省略したような構成であってもよいし、梁部251、252を省略したような構成であってもよいし、梁部252〜254を省略したような構成であってもよい。
このようなベース基板2の外周部(振動基板24の周囲を囲む部分)26は、パッケージ7の一部(側壁)を構成する。
In addition, the beam portions 251 to 254 have the same thickness as the vibration substrate 24 and are disposed on the same surface as the vibration substrate 24. The number of beam portions is not particularly limited as long as the vibration substrate 24 can be connected and fixed to the inner peripheral surface of the through hole 23. For example, the beam portions 253 and 254 may be omitted, the beam portions 251 and 252 may be omitted, or the beam portions 252 to 254 may be omitted. There may be.
Such an outer peripheral portion (portion surrounding the periphery of the vibration substrate 24) 26 of the base substrate 2 constitutes a part (side wall) of the package 7.

(電極5、6)
ベース基板2の表面には、電極5、6が形成されている。
電極5は、振動基板24の上面に形成された励振電極51と、第1の凹部21の底面211のほぼ全面に枠状に形成された枠状電極(導電層)52と、梁部251、252の上面を介して励振電極51と枠状電極52とを電気的に接続する配線電極53と、枠状電極52を第1の凹部21の側面およびベース基板2の上面を介してベース基板2の図1中左側の外側面261に引き出す引出電極54とを有している。
(Electrodes 5, 6)
Electrodes 5 and 6 are formed on the surface of the base substrate 2.
The electrode 5 includes an excitation electrode 51 formed on the upper surface of the vibration substrate 24, a frame-shaped electrode (conductive layer) 52 formed in a frame shape on almost the entire bottom surface 211 of the first recess 21, a beam portion 251, A wiring electrode 53 that electrically connects the excitation electrode 51 and the frame-like electrode 52 via the upper surface of 252, and the base substrate 2 via the side surface of the first recess 21 and the upper surface of the base substrate 2. 1 has an extraction electrode 54 drawn out to the outer side surface 261 on the left side in FIG.

一方、電極6は、振動基板24の下面に形成された励振電極61と、第2の凹部22の底面221のほぼ全面に枠状に形成された枠状電極(導電層)62と、梁部253、254の下面を介して励振電極61と枠状電極62とを電気的に接続する配線電極63と、枠状電極62を第2の凹部22の側面およびベース基板2の下面を介してベース基板2の図1中右側の外側面262に引き出す引出電極64とを有している。   On the other hand, the electrode 6 includes an excitation electrode 61 formed on the lower surface of the vibration substrate 24, a frame-shaped electrode (conductive layer) 62 formed in a frame shape on almost the entire bottom surface 221 of the second recess 22, and a beam portion. The wiring electrode 63 that electrically connects the excitation electrode 61 and the frame-shaped electrode 62 via the lower surfaces of 253 and 254, and the frame-shaped electrode 62 as a base via the side surface of the second recess 22 and the lower surface of the base substrate 2. An extraction electrode 64 is provided on the outer surface 262 on the right side of the substrate 2 in FIG.

このように、電極5をベース基板2の表面のうちの上側を向く面を介して外側面261まで引き出し、電極6をベース基板2の表面のうちの下側を向く面を介して外側面262まで引き出すことにより、電極5、6の接触を簡単かつ確実に防止することができる。特に、本実施形態では、前述したように、配線電極53、63が異なる梁部に形成されているため、この部位(電極5、6が接触するおそれが高い箇所)での電極5、6の接触を確実に防止することができる。   In this way, the electrode 5 is drawn out to the outer surface 261 through the surface of the base substrate 2 facing upward, and the electrode 6 is pulled out of the surface of the base substrate 2 through the surface facing downward. By pulling out, the contact of the electrodes 5 and 6 can be prevented easily and reliably. In particular, in the present embodiment, since the wiring electrodes 53 and 63 are formed in different beam portions as described above, the electrodes 5 and 6 at this portion (where the electrodes 5 and 6 are likely to come into contact) are formed. Contact can be reliably prevented.

励振電極51、61は、振動基板24を介して対向して形成されており、これら励振電極51、61間に交番電圧を印加すると、振動基板24が所定の周波数で振動(厚み滑り振動)する。すなわち、電子素子1では、振動基板24と一対の励振電極51、61とによって振動素子8が構成されていると言える。
このような電極5、6の構成としては、それぞれ、導電性を有していれば、特に限定されないが、例えば、クロム、タングステンなどのメタライズ層(下地層)に、ニッケル、金、銀、銅などの各被膜を積層した金属被膜で構成することができる。
The excitation electrodes 51 and 61 are formed to face each other via the vibration substrate 24. When an alternating voltage is applied between the excitation electrodes 51 and 61, the vibration substrate 24 vibrates at a predetermined frequency (thickness shear vibration). . That is, in the electronic element 1, it can be said that the vibration element 8 is configured by the vibration substrate 24 and the pair of excitation electrodes 51 and 61.
The configuration of the electrodes 5 and 6 is not particularly limited as long as it has conductivity. For example, nickel, gold, silver, copper, or the like is formed on a metallized layer (underlayer) such as chromium or tungsten. It can comprise with the metal film which laminated | stacked each film, such as.

(第1、第2の蓋体)
第1の蓋体31は、板状をなしており、第1の凹部21内に配置された状態にてベース基板2に接合されている。一方、第2の蓋体32は、板状を成しており、第2の凹部22内の配置された状態にてベース基板2に接合されている。第1、第2の蓋体31、32は、それぞれ、合金層9を介して接合されている。
(First and second lids)
The first lid 31 has a plate shape and is joined to the base substrate 2 in a state of being disposed in the first recess 21. On the other hand, the second lid 32 has a plate shape and is joined to the base substrate 2 in a state of being disposed in the second recess 22. The first and second lid bodies 31 and 32 are joined via the alloy layer 9, respectively.

合金層9は、底面211、221の全周にわたって設けられており、貫通孔23が第1、第2の蓋体31、32によって気密的に封止されている。これにより、貫通孔23の内部空間Sが安定し、振動素子8の振動特性が安定する。なお、内部空間Sは、減圧状態(好ましくは真空状態)としてもよいし、アルゴン、ヘリウム等の不活性ガスを充填したガス充填状態としてもよい。内部空間Sをこのような環境とすることにより、振動素子8の振動特性が向上する。   The alloy layer 9 is provided over the entire circumference of the bottom surfaces 211 and 221, and the through hole 23 is hermetically sealed by the first and second lid bodies 31 and 32. Thereby, the internal space S of the through-hole 23 is stabilized, and the vibration characteristic of the vibration element 8 is stabilized. The internal space S may be in a reduced pressure state (preferably in a vacuum state) or may be in a gas filled state filled with an inert gas such as argon or helium. By setting the internal space S to such an environment, the vibration characteristics of the vibration element 8 are improved.

合金層9としては、第1、第2の蓋体31、32とベース基板2とを接合することができれば、特に限定されないが、Au−Sn−Ge系合金またはAg−Sn−Ge系合金であるのが好ましい。これら合金によれば、第1、第2の蓋体31、32とベース基板2との接合強度を十分に高くすることができる。そのため、信頼性の高い電子素子1が得られる。また、Au、Sn、Ge(または、Ag、Sn、Ge)の配合比を適宜設定することによって、第1、第2の蓋体31、32とベース基板2との接合に適した合金を形成することができる。なお、Au−Sn−Ge系合金およびAg−Sn−Ge系合金には、それぞれ、鉄(Fe)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、クロム(Cr)等の他の金属が含有されていてもよい。
本実施形態では、前述したように、底面211、221に枠状電極52、62が形成されている。これら枠状電極52、62は、ベース基板2(水晶)と比較して合金層9との接合性に優れるため、より強固に第1、第2の蓋体31、32をベース基板2に接合することができ、また、より確実に貫通孔23を気密的に封止することができる。
The alloy layer 9 is not particularly limited as long as the first and second lids 31 and 32 and the base substrate 2 can be joined. However, the alloy layer 9 is made of an Au—Sn—Ge alloy or an Ag—Sn—Ge alloy. Preferably there is. According to these alloys, the bonding strength between the first and second lids 31 and 32 and the base substrate 2 can be sufficiently increased. Therefore, the highly reliable electronic device 1 is obtained. In addition, an alloy suitable for joining the first and second lid bodies 31 and 32 and the base substrate 2 is formed by appropriately setting the compounding ratio of Au, Sn, and Ge (or Ag, Sn, and Ge). can do. The Au—Sn—Ge alloy and the Ag—Sn—Ge alloy contain other metals such as iron (Fe), cobalt (Co), nickel (Ni), and chromium (Cr), respectively. May be.
In the present embodiment, as described above, the frame-shaped electrodes 52 and 62 are formed on the bottom surfaces 211 and 221. Since these frame-shaped electrodes 52 and 62 are superior in bondability to the alloy layer 9 compared to the base substrate 2 (quartz), the first and second lid bodies 31 and 32 are more firmly bonded to the base substrate 2. In addition, the through-hole 23 can be hermetically sealed more reliably.

第1の蓋体31の厚さは、第1の凹部21の深さよりも薄く、ベース基板2に接合された状態にて、ベース基板2の上面から突出していない(内側へ退避している)。同様に、第2の蓋体32の厚さは、第2の凹部22の深さよりも薄く、ベース基板2に接合された状態にて、ベース基板2の下面から突出していない(内側へ退避している)。このように、第1の蓋体31のベース基板2の上面からの突出および第2の蓋体32のベース基板2の下面からの突出を防止することにより、電子素子1の小型化を図ることができる。   The thickness of the first lid 31 is thinner than the depth of the first recess 21, and does not protrude from the upper surface of the base substrate 2 (retracted inward) when joined to the base substrate 2. . Similarly, the thickness of the second lid 32 is thinner than the depth of the second recess 22, and does not protrude from the lower surface of the base substrate 2 when it is joined to the base substrate 2 (retracts inward). ing). Thus, the electronic device 1 can be reduced in size by preventing the first lid 31 from protruding from the upper surface of the base substrate 2 and the second lid 32 from protruding from the lower surface of the base substrate 2. Can do.

第1、第2の蓋体31、32の構成材料としては、特に限定されず、例えば、水晶、各種ガラス材料、鉄、銅、ニッケル、コバルト、アルミニウム、マグネシウム等の各種金属材料(これらのうちの少なくとも1種を含む合金、金属間化合物を含む)、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミド、アクリル系樹脂等の各種樹脂材料を用いることができる。例えば、一例として、第1、第2の蓋体31、32は、ステンレス鋼のコア材の表面にNiメッキを施したものや、鉄のコア材の表面にNiメッキを施したものにより構成することができる。このような例のように、第1、第2の蓋体31、32を金属材料により構成することによって、安価でかつ対候性(耐腐食性)の高い第1、第2の蓋体31、32が得られる。
以上、第1、第2の蓋体31、32について説明した。電子素子1では、これら第1、第2の蓋体31、32とベース基板2の外周部26とによって、振動素子8を収容するパッケージ7が構成されているとも言える。
It does not specifically limit as a constituent material of the 1st, 2nd cover bodies 31 and 32, For example, various metal materials, such as quartz, various glass materials, iron, copper, nickel, cobalt, aluminum, magnesium (among these) And various resin materials such as polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polyamide, polyimide, acrylic resin, and the like. For example, as an example, the first and second lids 31 and 32 are constituted by a surface of a stainless steel core material plated with Ni or a surface of an iron core material plated with Ni. be able to. As in such an example, the first and second lids 31 and 32 are made of a metal material, so that the first and second lids 31 are inexpensive and have high weather resistance (corrosion resistance). , 32 is obtained.
The first and second lid bodies 31 and 32 have been described above. In the electronic element 1, it can be said that the first and second lid bodies 31 and 32 and the outer peripheral portion 26 of the base substrate 2 constitute a package 7 that houses the vibration element 8.

(第1、第2のモールド材)
図1に示すように、第1のモールド材41は、第1の凹部21を埋めるようにして設けられている。一方、第2のモールド材42は、第2の凹部22を埋めるようにして設けられている。このような第1、第2のモールド材41、42を設けることにより、合金層9を封止することができ、例えば、合金層9の経年劣化を効果的に抑制することができる。また、貫通孔23の気密性をより向上させることがでる。なお、第1、第2のモールド材41、42としては、特に限定されず、例えば、各種樹脂材料で構成された公知のものを用いることができる。
(First and second mold materials)
As shown in FIG. 1, the first mold material 41 is provided so as to fill the first recess 21. On the other hand, the second molding material 42 is provided so as to fill the second recess 22. By providing the first and second molding materials 41 and 42 as described above, the alloy layer 9 can be sealed, and for example, aging of the alloy layer 9 can be effectively suppressed. In addition, the airtightness of the through hole 23 can be further improved. In addition, it does not specifically limit as the 1st, 2nd molding materials 41 and 42, For example, the well-known thing comprised with various resin materials can be used.

以上、電子素子1について詳細に説明した。電子素子1は、従来の振動子と比較して部品点数が少ないため、その分、小型化を図ることができる。
また、電子素子1によれば、振動基板24と、パッケージ7の側壁部をなす外周部26とを一体にベース基板2に作り込むため、従来のようなパッケージと振動素子との位置決めを必要としない。従来では、振動素子の位置決めの際のずれを考慮して、パッケージを若干大きめに製造していたが、電子素子1では前述のような位置ずれの心配がないため、パッケージ7を従来よりも小さく設計することができる。この点からも、電子素子1の小型化を図ることができる。
The electronic device 1 has been described in detail above. Since the electronic element 1 has a smaller number of parts than a conventional vibrator, the electronic element 1 can be downsized accordingly.
Further, according to the electronic element 1, since the vibration substrate 24 and the outer peripheral portion 26 forming the side wall portion of the package 7 are integrally formed in the base substrate 2, the conventional positioning of the package and the vibration element is required. do not do. Conventionally, the package has been manufactured slightly larger in consideration of the displacement at the time of positioning of the vibration element. However, since the electronic element 1 has no fear of the above-described displacement, the package 7 is made smaller than the conventional package. Can be designed. Also from this point, the electronic device 1 can be downsized.

また、従来では、振動素子をパッケージに固定するために接着剤を用いていたため、接着剤から発生するガス(アウトガス)によって気密空間内が汚染される問題があったが、電子素子1では、このような問題が発生しない。したがって、電子素子1は、安定した振動特性を長期間発揮することができる。
また、電子素子1によれば、引出電極54、64が共にパッケージ7(外周部26)の側面に引き出されているため、外部部品(例えば、後述する発振器100のICチップ110)との電気的接続を容易に行うことができる。
Conventionally, since an adhesive is used to fix the vibration element to the package, there is a problem that the inside of the hermetic space is contaminated by a gas (outgas) generated from the adhesive. Such a problem does not occur. Therefore, the electronic element 1 can exhibit stable vibration characteristics for a long time.
Further, according to the electronic element 1, since both the extraction electrodes 54 and 64 are extracted to the side surface of the package 7 (the outer peripheral portion 26), the electrical connection with an external component (for example, the IC chip 110 of the oscillator 100 described later) is performed. Connection can be made easily.

2.接合方法
次に、ベース基板2と第1、第2の蓋体31、32との接合方法(本発明の接合方法)を説明する。なお、ベース基板2と第1の蓋体31との接合方法と、ベース基板2と第2の蓋体32との接合方法とは、同様であるため、以下では、ベース基板2と第1の蓋体31との接合方法を代表して説明する。また、本明細書の「合金」には、固溶体、共晶、金属間化合物が含まれる。
2. Bonding Method Next, a bonding method (the bonding method of the present invention) between the base substrate 2 and the first and second lid bodies 31 and 32 will be described. In addition, since the joining method of the base substrate 2 and the first lid 31 and the joining method of the base substrate 2 and the second lid 32 are the same, hereinafter, the base substrate 2 and the first lid 31 are the same. The joining method with the lid 31 will be described as a representative. The “alloy” in the present specification includes solid solutions, eutectics, and intermetallic compounds.

図5は、ベース基板と第1の蓋体との接合方法を説明するための図であり、(a)がベース基板の平面図(上面図)、(b)が同図(a)中のA−A線断面図、図6は、ベース基板と第1の蓋体との接合方法を説明するための断面図、図7は、Au−Ge合金の配合比と融点との関係を示すグラフである。なお、図5および図6では、説明の便宜上、電極5、6の図示を省略している。   5A and 5B are diagrams for explaining a method of joining the base substrate and the first lid, in which FIG. 5A is a plan view (top view) of the base substrate, and FIG. 5B is a diagram in FIG. AA line sectional view, FIG. 6 is a sectional view for explaining a joining method of the base substrate and the first lid, and FIG. 7 is a graph showing the relationship between the compounding ratio of the Au—Ge alloy and the melting point. It is. 5 and 6, the electrodes 5 and 6 are not shown for convenience of explanation.

ベース基板2と第1の蓋体31との接合方法は、ベース基板2と第1の蓋体31の間に、第1の金属910からなる第1の金属層91と第2の金属920からなる第2の金属層92と第3の金属930からかる第3の金属層93とを有する金属膜90を形成する第1工程と、金属膜90を加熱して溶融することによって、第1、第2、第3の金属910、920、930を合金化する第2工程とを有している。   The method for joining the base substrate 2 and the first lid 31 is that the first metal layer 91 made of the first metal 910 and the second metal 920 are interposed between the base substrate 2 and the first lid 31. A first step of forming a metal film 90 having a second metal layer 92 and a third metal layer 93 made of a third metal 930; and heating and melting the metal film 90 to form a first, And a second step of alloying the second and third metals 910, 920, and 930.

(第1工程)
まず、図5(a)、(b)に示すように、ベース基板2の底面211に第1の金属層91と、第2の金属層92と、第3の金属層93とを成膜して枠状(両端が連結した帯状)の金属膜90を形成する。第1、第2、第3の金属層91、92、93は、それぞれ、枠状をなしており、第2の金属層92が内側に位置し、第3の金属層93が外側に位置し、第1の金属層91が中央に位置している。すなわち、第1、第2、第3の金属層91、92、93が金属膜90の幅方向(面内方向)に沿って並んで配置され、第1の金属層91が、第2、第3の金属層92、93の間に位置している。また、第1の金属層91と第2の金属層92とが接触し、第1の金属層91と第3の金属層93とが接触している。このような配置とすることにより、第2工程にて、第1、第2、第3の金属910、920、930の合金化を円滑に行うことができる。なお、第1、第2、第3の金属層91、92、93の配置は、これに限定されず、例えば、第2の金属層92と第3の金属層93の配置を逆にしてもよい。
(First step)
First, as shown in FIGS. 5A and 5B, a first metal layer 91, a second metal layer 92, and a third metal layer 93 are formed on the bottom surface 211 of the base substrate 2. A metal film 90 having a frame shape (a strip shape in which both ends are connected) is formed. The first, second, and third metal layers 91, 92, and 93 each have a frame shape, and the second metal layer 92 is located on the inner side and the third metal layer 93 is located on the outer side. The first metal layer 91 is located at the center. That is, the first, second, and third metal layers 91, 92, and 93 are arranged along the width direction (in-plane direction) of the metal film 90, and the first metal layer 91 includes the second, second, 3 metal layers 92, 93. Further, the first metal layer 91 and the second metal layer 92 are in contact with each other, and the first metal layer 91 and the third metal layer 93 are in contact with each other. With such an arrangement, the first, second, and third metals 910, 920, and 930 can be smoothly alloyed in the second step. The arrangement of the first, second, and third metal layers 91, 92, and 93 is not limited to this. For example, the arrangement of the second metal layer 92 and the third metal layer 93 may be reversed. Good.

第1の金属層91を構成する第1の金属910は、錫(Sn)である。このように、第1の金属910を錫とすることによって、合金層9に優れた接合性を付与することができる。ただし、第1の金属910としては、錫に限定されず、鉄、ニッケル、コバルト、金、白金、銀、銅、マンガン、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、鉛、チタン、タングステン等であってもよい。   The first metal 910 constituting the first metal layer 91 is tin (Sn). Thus, the joining property which was excellent in the alloy layer 9 can be provided by making the 1st metal 910 into tin. However, the first metal 910 is not limited to tin, and may be iron, nickel, cobalt, gold, platinum, silver, copper, manganese, aluminum, magnesium, zinc, lead, titanium, tungsten, or the like.

また、第2の金属層92を構成する第2の金属920は、第1の金属910と合金化可能であって、第1の金属910よりも高い融点を有しており、具体的には金(Au)である。金は、第1の金属910である錫と容易に合金化可能な材料である。Sn−Au合金が十分に高い融点を有し、優れた対候性を有し、優れた接合性を有している点でも好ましい。なお、第2の金属920を金に替えて銀(Ag)または銅(Cu)としても、金を用いた場合と同等の効果を得ることができる。ただし、第2の金属920としては、第1の金属910と合金化可能であって、第1の金属910よりも高い融点を有していれば、金、銀、銅に限定されず、例えば、鉄、ニッケル、コバルト、マンガン、アルミニウム、マグネシウム、亜鉛、鉛、錫、チタン、タングステン等であってもよい。   In addition, the second metal 920 constituting the second metal layer 92 can be alloyed with the first metal 910 and has a higher melting point than the first metal 910. Specifically, Gold (Au). Gold is a material that can be easily alloyed with tin, which is the first metal 910. The Sn—Au alloy is also preferable in that it has a sufficiently high melting point, excellent weather resistance, and excellent bondability. Note that even when the second metal 920 is replaced with gold and silver (Ag) or copper (Cu) is used, an effect equivalent to that obtained when gold is used can be obtained. However, the second metal 920 is not limited to gold, silver, and copper as long as it can be alloyed with the first metal 910 and has a higher melting point than the first metal 910. For example, , Iron, nickel, cobalt, manganese, aluminum, magnesium, zinc, lead, tin, titanium, tungsten, and the like.

また、第3の金属層93を構成する第3の金属930は、第1の金属910と合金化可能であって、第1の金属910よりも高い融点を有しており、具体的にはゲルマニウム(Ge)である。図7に示すように、ゲルマニウムは、第2の金属920である金との配合比を変化させることによって、得られる合金(Au−Ge合金)の融点を広い範囲で調整することができる。そのため、比較的簡単に、目的(ベース基板2と第1の蓋体31との接合)に適した特性を有する合金層9を得ることができる。   The third metal 930 constituting the third metal layer 93 can be alloyed with the first metal 910 and has a higher melting point than the first metal 910. Specifically, Germanium (Ge). As shown in FIG. 7, germanium can adjust the melting point of the obtained alloy (Au—Ge alloy) in a wide range by changing the compounding ratio with gold which is the second metal 920. Therefore, the alloy layer 9 having characteristics suitable for the purpose (joining of the base substrate 2 and the first lid 31) can be obtained relatively easily.

(第2工程)
まず、図6(a)に示すように、ベース基板2の第1の凹部21に第1の蓋体31を配置し、ベース基板2と第1の蓋体31との間に金属膜90が介在した状態とする。次に、例えば、炉への投入、レーザー照射等によって、金属膜90を加熱する。金属膜90を加熱していくと、第1の金属910である錫が溶け始め、第2の金属層92と接触している部分から第2の金属920である金との合金化(Au−Sn合金の形成)が進み、さらに、第3の金属層93と接触している部分から第3の金属930であるゲルマニウムとの合金化(Ge−Sn合金の形成)が進む。そして、最終的に、第1、第2、第3の金属910、920、930が均質に合金化され、図6(b)に示すように、Au−Sn−Ge合金で構成された合金層9が得られる。そして、このような合金層9によってベース基板2と第1の蓋体31とが接合される。
Au−Sn−Ge合金の配合としては、特に限定されないが、例えば、融点を250〜400℃程度としたいときは、60mol%≦Au≦90mol%、0mol%≦Sn≦30mol%、0mol%≦Ge≦60mol%程度であるのが好ましい。
(Second step)
First, as shown in FIG. 6A, the first lid 31 is disposed in the first recess 21 of the base substrate 2, and the metal film 90 is interposed between the base substrate 2 and the first lid 31. Intervene. Next, the metal film 90 is heated by, for example, charging into a furnace or laser irradiation. When the metal film 90 is heated, tin that is the first metal 910 starts to melt, and alloyed with gold that is the second metal 920 from the portion in contact with the second metal layer 92 (Au- Sn alloy formation) proceeds, and further, alloying with germanium as the third metal 930 (formation of Ge—Sn alloy) proceeds from the portion in contact with the third metal layer 93. Finally, the first, second, and third metals 910, 920, and 930 are homogeneously alloyed, and as shown in FIG. 6B, an alloy layer composed of an Au—Sn—Ge alloy. 9 is obtained. Then, the base substrate 2 and the first lid 31 are joined by such an alloy layer 9.
The composition of the Au—Sn—Ge alloy is not particularly limited. For example, when the melting point is about 250 to 400 ° C., 60 mol% ≦ Au ≦ 90 mol%, 0 mol% ≦ Sn ≦ 30 mol%, 0 mol% ≦ Ge. ≦ 60 mol% is preferable.

以上、ベース基板2と第1の蓋体31との接合方法について説明した。このような接合方法によれば、ベース基板2と第1の蓋体31とを強固に接合することができる。また、第1、第2、第3の金属層91、92、93の配合比(体積比)を適宜設定することにより、目的に適した特性(特に融点)を有する合金層9を簡単に形成することができる。ここで、従来のように、ベース基板2と第1の蓋体31とを半田(合金)を用いて接合する場合は、種類の異なる半田を多数在庫しておき、その中から適した半田を選んで用いたり、在庫がない場合には、新たに半田を製造したりする必要があり、製造にコスト(特に在庫コスト)および手間がかかるという問題があった。これに対して、本願発明の接合方法によれば、多数の半田を在庫しておくことや、半田を製造する必要がなく、ベース基板2と第1の蓋体31との接合を安価にかつ少ない工程で接合することができる。   The bonding method between the base substrate 2 and the first lid 31 has been described above. According to such a joining method, the base substrate 2 and the first lid 31 can be firmly joined. Further, by appropriately setting the compounding ratio (volume ratio) of the first, second, and third metal layers 91, 92, and 93, the alloy layer 9 having characteristics (particularly the melting point) suitable for the purpose can be easily formed. can do. Here, when joining the base substrate 2 and the first lid 31 using solder (alloy) as in the prior art, a large number of different types of solder are stocked, and suitable solder is selected from them. When it is selected and used or when there is no inventory, it is necessary to newly manufacture solder, and there is a problem that manufacturing (in particular, inventory cost) and labor are required. On the other hand, according to the joining method of the present invention, there is no need to stock a large number of solders or manufacture solder, and the joining of the base substrate 2 and the first lid 31 can be performed at low cost. Bonding can be performed with few steps.

ここで、合金層9は、均質(錫、金、ゲルマニウムが均一に分散した構成)であるのが好ましい。これにより、上記効果をより効果的に発揮することができる。ただし、合金層9は、不均質であってもよい。例えば、金の含有量が合金層9の内周部で高く、外周部で低くなっていてもよいし、ゲルマニウムの含有量が合金層9の外周部で高く、内周部で低くなっていてもよいし、錫の含有量が金属層の中央部で高く、外周部および内周部で低くなっていてもよい。   Here, the alloy layer 9 is preferably homogeneous (a configuration in which tin, gold, and germanium are uniformly dispersed). Thereby, the said effect can be exhibited more effectively. However, the alloy layer 9 may be heterogeneous. For example, the gold content may be high at the inner peripheral portion of the alloy layer 9 and may be low at the outer peripheral portion, or the germanium content may be high at the outer peripheral portion of the alloy layer 9 and low at the inner peripheral portion. Alternatively, the tin content may be high in the central portion of the metal layer and low in the outer peripheral portion and the inner peripheral portion.

なお、本実施形態では、第2の金属920が金(Au)であるが、第2の金属920を銀(Ag)にしてもよい。この場合は、第2工程にて、Ag−Sn−Ge合金で構成された合金層9が得られ、この合金層9によって、ベース基板2と第1の蓋体31とが接合される。このような構成の合金層9によっても、第2の金属920が金(Au)の場合と同等の効果を発揮することができる。   In the present embodiment, the second metal 920 is gold (Au), but the second metal 920 may be silver (Ag). In this case, in the second step, an alloy layer 9 made of an Ag—Sn—Ge alloy is obtained, and the base substrate 2 and the first lid 31 are joined by the alloy layer 9. Also with the alloy layer 9 having such a configuration, an effect equivalent to that in the case where the second metal 920 is gold (Au) can be exhibited.

<第2実施形態>
次に、本発明の接合方法および電子素子の第2実施形態について説明する。
図8は、本発明の第2実施形態にかかる接合方法を説明する断面図である。
以下、第2実施形態の接合方法について、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
本発明の第2実施形態にかかる接合方法は、金属膜の形成領域が異なる以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。
Second Embodiment
Next, a second embodiment of the bonding method and electronic device of the present invention will be described.
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a joining method according to the second embodiment of the present invention.
Hereinafter, the bonding method according to the second embodiment will be described with a focus on differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.
The bonding method according to the second embodiment of the present invention is the same as that of the first embodiment described above except that the formation region of the metal film is different. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to 1st Embodiment mentioned above.

本実施形態の接合方法では、図8(a)に示すように、まず、第1の凹部21の底面(第1の面)211および側面(第1の面から立設する第2の面)212に跨って金属膜90を形成し、第1の蓋体31を第1の凹部21に配置する。この状態では、第1の蓋体31の下面(主面)311が底面211に面するとともに、側面312が側面212に面しており、金属膜90が底面211と下面311との間および側面212と側面312との間に跨って配置されている。次に、図8(b)に示すように、金属膜90を加熱、溶融させて合金層9を形成し、この合金層9によってベース基板2と第1の蓋体31とを接合する。ベース基板2と第2の蓋体32との接合も同様にして行う。   In the joining method of the present embodiment, as shown in FIG. 8A, first, the bottom surface (first surface) 211 and the side surface (second surface erected from the first surface) of the first recess 21. A metal film 90 is formed across 212, and the first lid 31 is disposed in the first recess 21. In this state, the lower surface (main surface) 311 of the first lid 31 faces the bottom surface 211, the side surface 312 faces the side surface 212, and the metal film 90 is between the bottom surface 211 and the lower surface 311 and the side surface. It is disposed between 212 and the side surface 312. Next, as shown in FIG. 8B, the metal film 90 is heated and melted to form the alloy layer 9, and the base substrate 2 and the first lid body 31 are joined by the alloy layer 9. The base substrate 2 and the second lid 32 are joined in the same manner.

このような接合方法によれば、前述した第1実施形態と比較して、合金層9をより広く形成することができるため、ベース基板2と第1の蓋体31との接合強度が増すとともに、貫通孔23の気密性が向上する。
このような第2実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
According to such a joining method, since the alloy layer 9 can be formed more widely than in the first embodiment described above, the joining strength between the base substrate 2 and the first lid 31 is increased. The airtightness of the through hole 23 is improved.
Also according to the second embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be exhibited.

<第3実施形態>
次に、本発明の接合方法および電子素子の第3実施形態について説明する。
図9は、本発明の第3実施形態にかかる接合方法を説明するためのベース基板の上面図である。
以下、第3実施形態の接合方法および電子素子について、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
本発明の第3実施形態にかかる接合方法および電子素子は、金属膜の構成が異なる以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。
<Third Embodiment>
Next, a bonding method and an electronic device according to a third embodiment of the present invention will be described.
FIG. 9 is a top view of the base substrate for explaining the bonding method according to the third embodiment of the present invention.
Hereinafter, the bonding method and the electronic device according to the third embodiment will be described with a focus on differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.
The bonding method and electronic device according to the third embodiment of the present invention are the same as those of the first embodiment described above except that the configuration of the metal film is different. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to 1st Embodiment mentioned above.

図9に示すように、第1工程にて形成される金属膜90は、その幅方向および周方向(延在方向)に沿って、第1、第2、第3の金属層91、92、93が順に繰り返して並んでいる。また、第2、第3の金属層92、93は、幅方向および周方向の少なくとも一方の方向にて第1の金属層91と隣り合っている(接触している)。金属膜90をこのような構成とすることによって、より均質な合金層9を形成することができる。
このような第3実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
As shown in FIG. 9, the metal film 90 formed in the first step has first, second, and third metal layers 91, 92, along the width direction and the circumferential direction (extending direction). 93 are arranged repeatedly in order. The second and third metal layers 92 and 93 are adjacent to (in contact with) the first metal layer 91 in at least one of the width direction and the circumferential direction. With the metal film 90 having such a configuration, a more homogeneous alloy layer 9 can be formed.
Also according to the third embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be exhibited.

<第4実施形態>
次に、本発明の接合方法および電子素子の第4実施形態について説明する。
図10は、本発明の第4実施形態にかかる接合方法を説明するためのベース基板の上面図である。
以下、第4実施形態の接合方法および電子素子について、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
本発明の第4実施形態にかかる接合方法および電子素子は、金属膜の構成が異なる以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。
<Fourth embodiment>
Next, a bonding method and an electronic device according to a fourth embodiment of the present invention will be described.
FIG. 10 is a top view of the base substrate for explaining the bonding method according to the fourth embodiment of the present invention.
Hereinafter, the bonding method and the electronic device according to the fourth embodiment will be described focusing on the differences from the first embodiment described above, and description of similar matters will be omitted.
The bonding method and electronic device according to the fourth embodiment of the present invention are the same as those of the first embodiment described above except that the configuration of the metal film is different. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to 1st Embodiment mentioned above.

図10に示すように、第1工程にて形成される金属膜90は、錫(Sn)で構成された第1の金属層91と、金(Au)で構成された第2の金属層92とを有している。すなわち、本実施形態の金属膜90は、前述した第1実施形態の金属膜から第3の金属層を省略した構成となっている。そのため、金属膜90は、第2工程にてAg−Sn合金からなる合金層9となり、この合金層9によって、ベース基板2と第1、第2の蓋体31、32とが接合される。
このような第4実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
なお、第2の金属層92を、銀(Ag)や銅(Cu)で構成しても、本実施形態と同等の効果を発揮することができる。
As shown in FIG. 10, the metal film 90 formed in the first step includes a first metal layer 91 made of tin (Sn) and a second metal layer 92 made of gold (Au). And have. That is, the metal film 90 of the present embodiment has a configuration in which the third metal layer is omitted from the metal film of the first embodiment described above. Therefore, the metal film 90 becomes the alloy layer 9 made of an Ag—Sn alloy in the second step, and the base substrate 2 and the first and second lid bodies 31 and 32 are joined by the alloy layer 9.
According to the fourth embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be exhibited.
Even if the second metal layer 92 is made of silver (Ag) or copper (Cu), the same effect as that of the present embodiment can be exhibited.

<第5実施形態>
次に、本発明の接合方法および電子素子の第5実施形態について説明する。
図11は、本発明の第5実施形態にかかる電子素子の断面図、図12は、図11に示す電子素子が備える振動素子の平面図であり、(a)が上方から見た平面図、(b)が上方から見た透過図である。
<Fifth Embodiment>
Next, a bonding method and an electronic device according to a fifth embodiment of the present invention will be described.
11 is a cross-sectional view of an electronic device according to a fifth embodiment of the present invention, FIG. 12 is a plan view of a vibration element included in the electronic device shown in FIG. 11, and (a) is a plan view seen from above. (B) is the permeation | transmission figure seen from upper direction.

以下、第5実施形態の接合方法および電子素子について、前述した第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
本発明の第5実施形態にかかる接合方法および電子素子は、電子素子の構成が異なる以外は、前述した第1実施形態と同様である。なお、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。
図11に示す電子素子1Aは、パッケージ7Aと、パッケージ7Aに収容された振動素子8Aとを有している。
Hereinafter, the bonding method and the electronic device according to the fifth embodiment will be described with a focus on differences from the first embodiment described above, and descriptions of similar matters will be omitted.
The bonding method and electronic device according to the fifth embodiment of the present invention are the same as those of the first embodiment described above except that the configuration of the electronic device is different. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to 1st Embodiment mentioned above.
An electronic element 1A illustrated in FIG. 11 includes a package 7A and a vibration element 8A accommodated in the package 7A.

(パッケージ)
パッケージ7Aは、上面に開放する凹部711を有する箱状のベース基板(第1の部材)71と、凹部711の開口を塞いでベース基板71に接合された板状の蓋体(第2の部材)蓋体72とを有している。そして、凹部711が蓋体72によって塞がれることにより形成された収容空間に振動素子8Aが収容されている。収容空間は、減圧(真空)状態となっていてもよいし、窒素、ヘリウム、アルゴン等の不活性ガスが封入されていてもよい。
(package)
The package 7A includes a box-shaped base substrate (first member) 71 having a recess 711 opened on the upper surface, and a plate-shaped lid (second member) that is bonded to the base substrate 71 by closing the opening of the recess 711. ) A lid 72. Then, the vibration element 8 </ b> A is accommodated in an accommodation space formed by closing the recess 711 with the lid 72. The housing space may be in a reduced pressure (vacuum) state or may be filled with an inert gas such as nitrogen, helium, or argon.

ベース基板71の構成材料としては、特に限定されないが、酸化アルミニウム等の各種セラミックスを用いることができる。また、蓋体72の構成材料としては、特に限定されないが、ベース基板71の構成材料と線膨張係数が近似する部材であると良い。例えば、ベース基板71の構成材料を前述のようなセラミックスとした場合には、コバール等の合金とするのが好ましい。
ベース基板71と蓋体72は、合金層9を介して接合されている。なお、合金層9の構成およびベース基板71と蓋体72との接合方法は、前述した第1実施形態と同様である。
The constituent material of the base substrate 71 is not particularly limited, but various ceramics such as aluminum oxide can be used. The constituent material of the lid 72 is not particularly limited, but may be a member whose linear expansion coefficient approximates that of the constituent material of the base substrate 71. For example, when the constituent material of the base substrate 71 is ceramic as described above, an alloy such as Kovar is preferable.
The base substrate 71 and the lid 72 are joined via the alloy layer 9. The configuration of the alloy layer 9 and the method for joining the base substrate 71 and the lid 72 are the same as in the first embodiment described above.

凹部711の底面には、接続端子751、761が形成されている。また、ベース基板71の下面には、外部実装端子752、762が形成されている。接続端子751は、ベース基板71に形成された貫通電極753を介して外部実装端子752と電気的に接続されており、接続端子761は、ベース基板71に形成された貫通電極763を介して外部実装端子762と電気的に接続されている。   Connection terminals 751 and 761 are formed on the bottom surface of the recess 711. External mounting terminals 752 and 762 are formed on the lower surface of the base substrate 71. The connection terminal 751 is electrically connected to the external mounting terminal 752 through the through electrode 753 formed on the base substrate 71, and the connection terminal 761 is externally connected through the through electrode 763 formed on the base substrate 71. The mounting terminal 762 is electrically connected.

接続端子751、761、外部実装端子752、762および貫通電極753、763の構成としては、それぞれ、導電性を有していれば、特に限定されないが、例えば、Cr(クロム)、W(タングステン)などのメタライズ層(下地層)に、Ni(ニッケル)、Au(金)、Ag(銀)、Cu(銅)などの各被膜を積層した金属被膜で構成することができる。   The configuration of the connection terminals 751 and 761, the external mounting terminals 752 and 762, and the through electrodes 753 and 763 is not particularly limited as long as it has conductivity. For example, Cr (chrome), W (tungsten) It can comprise by the metal film which laminated | stacked each film | membrane, such as Ni (nickel), Au (gold), Ag (silver), Cu (copper), to the metallization layer (underlayer).

(振動素子)
図12(a)、(b)に示すように、振動素子8Aは、平面視形状が長方形(矩形)の板状をなす振動基板81と、振動基板81の表面に形成された一対の電極82、83とを有している。
振動基板81は、主として厚み滑り振動をする水晶素板である。本実施形態では、振動基板81としてATカット水晶素板を用いている。また、振動基板81の長手方向が水晶の結晶軸であるX軸またはZ軸と一致している。
(Vibration element)
As illustrated in FIGS. 12A and 12B, the vibration element 8 </ b> A includes a vibration substrate 81 having a rectangular plate shape in plan view, and a pair of electrodes 82 formed on the surface of the vibration substrate 81. , 83.
The vibration substrate 81 is a quartz base plate that mainly performs thickness shear vibration. In the present embodiment, an AT-cut quartz element plate is used as the vibration substrate 81. Further, the longitudinal direction of the vibration substrate 81 coincides with the X axis or the Z axis, which is the crystal axis of quartz.

電極82は、振動基板81の上面に形成された励振電極821と、振動基板81の下面に形成された接続電極822と、励振電極821と接続電極822とを電気的に接続する配線電極823とを有している。一方、電極83は、振動基板81の下面に形成された励振電極831と、振動基板81の下面に形成された接続電極832と、励振電極831および接続電極832を電気的に接続する配線電極833とを有している。
このような振動素子8Aは、一対の導電性接着剤78、79を介してベース基板71に固定(搭載)されている。導電性接着剤78は、接続電極822と接続端子751とに接触し、これらを電気的に接続している。一方、導電性接着剤79は、接続電極832と接続端子761とに接触し、これらを電気的に接続している。
The electrode 82 includes an excitation electrode 821 formed on the upper surface of the vibration substrate 81, a connection electrode 822 formed on the lower surface of the vibration substrate 81, and a wiring electrode 823 that electrically connects the excitation electrode 821 and the connection electrode 822. have. On the other hand, the electrode 83 includes an excitation electrode 831 formed on the lower surface of the vibration substrate 81, a connection electrode 832 formed on the lower surface of the vibration substrate 81, and a wiring electrode 833 that electrically connects the excitation electrode 831 and the connection electrode 832. And have.
Such a vibration element 8A is fixed (mounted) to the base substrate 71 via a pair of conductive adhesives 78 and 79. The conductive adhesive 78 contacts the connection electrode 822 and the connection terminal 751 and electrically connects them. On the other hand, the conductive adhesive 79 is in contact with the connection electrode 832 and the connection terminal 761 to electrically connect them.

以上、電子素子1Aについて説明したが、振動素子8Aの構成としては、特に限定されず、例えば、基部から複数の振動腕が延出した形状の振動素子(音叉型の振動素子、双音叉型の振動素子等)、ジャイロセンサー等であってもよい。
このような第5実施形態によっても、前述した第1実施形態と同様の効果を発揮することができる。
The electronic element 1A has been described above, but the configuration of the vibration element 8A is not particularly limited. For example, a vibration element having a shape in which a plurality of vibration arms extend from a base (a tuning fork type vibration element or a double tuning fork type) Vibration element or the like), gyro sensor or the like.
According to the fifth embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be exhibited.

≪発振器≫
次に、本発明の電子素子を適用した発振器(本発明の発振器)について説明する。
図13は、本発明の発振器の好適な実施形態を示す断面図である。
図13に示す発振器100は、電子素子1Aと、振動素子8Aを駆動するためのICチップ110とを有している。以下、発振器100について、前述した振動素子との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
≪Oscillator≫
Next, an oscillator to which the electronic element of the present invention is applied (the oscillator of the present invention) will be described.
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a preferred embodiment of the oscillator of the present invention.
An oscillator 100 shown in FIG. 13 includes an electronic element 1A and an IC chip 110 for driving the vibration element 8A. Hereinafter, the oscillator 100 will be described with a focus on differences from the above-described resonator element, and description of similar matters will be omitted.

図13に示すように、発振器100では、ベース基板71の凹部711にICチップ110が固定されている。ICチップ110は、凹部711の底面に形成された複数の内部端子120と電気的に接続されている。複数の内部端子120には、接続端子751、761と接続されているものと、外部実装端子752、762と接続されているものがある。ICチップ110は、電子素子1A(振動素子8A)の駆動を制御するための発振回路を有している。ICチップ110によって電子素子1Aを駆動すると、所定の周波数の信号を取り出すことができる。   As shown in FIG. 13, in the oscillator 100, the IC chip 110 is fixed to the recess 711 of the base substrate 71. The IC chip 110 is electrically connected to a plurality of internal terminals 120 formed on the bottom surface of the recess 711. The plurality of internal terminals 120 include those connected to the connection terminals 751 and 761 and those connected to the external mounting terminals 752 and 762. The IC chip 110 has an oscillation circuit for controlling driving of the electronic element 1A (vibration element 8A). When the electronic element 1A is driven by the IC chip 110, a signal having a predetermined frequency can be extracted.

≪電子機器≫
次に、本発明の電子素子を適用した電子機器(本発明の電子機器)について説明する。
図14は、本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピューターの構成を示す斜視図である。この図において、パーソナルコンピューター1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示部2000を備えた表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。このようなパーソナルコンピューター1100には、フィルター、共振器、基準クロック等として機能する電子素子1が内蔵されている。
≪Electronic equipment≫
Next, an electronic apparatus to which the electronic element of the present invention is applied (electronic apparatus of the present invention) will be described.
FIG. 14 is a perspective view showing the configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which the electronic apparatus of the present invention is applied. In this figure, a personal computer 1100 includes a main body portion 1104 provided with a keyboard 1102 and a display unit 1106 provided with a display portion 2000. The display unit 1106 rotates with respect to the main body portion 1104 via a hinge structure portion. It is supported movably. Such a personal computer 1100 incorporates an electronic element 1 that functions as a filter, a resonator, a reference clock, and the like.

図15は、本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206を備え、操作ボタン1202と受話口1204との間には、表示部2000が配置されている。このような携帯電話機1200には、フィルター、共振器等として機能する電子素子1が内蔵されている。   FIG. 15 is a perspective view showing a configuration of a mobile phone (including PHS) to which the electronic apparatus of the invention is applied. In this figure, a cellular phone 1200 includes a plurality of operation buttons 1202, a earpiece 1204, and a mouthpiece 1206, and a display unit 2000 is disposed between the operation buttons 1202 and the earpiece 1204. Such a cellular phone 1200 incorporates an electronic element 1 that functions as a filter, a resonator, or the like.

図16は、本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。ここで、通常のカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。   FIG. 16 is a perspective view showing a configuration of a digital still camera to which the electronic apparatus of the present invention is applied. In this figure, connection with an external device is also simply shown. Here, an ordinary camera sensitizes a silver halide photographic film with a light image of a subject, whereas a digital still camera 1300 photoelectrically converts a light image of a subject with an imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device). An imaging signal (image signal) is generated.

ディジタルスチルカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、表示部は、被写体を電子画像として表示するファインダーとして機能する。また、ケース1302の正面側(図中裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCDなどを含む受光ユニット1304が設けられている。   A display unit is provided on the back of a case (body) 1302 in the digital still camera 1300, and is configured to perform display based on an imaging signal from the CCD. The display unit is a finder that displays an object as an electronic image. Function. A light receiving unit 1304 including an optical lens (imaging optical system), a CCD, and the like is provided on the front side (the back side in the drawing) of the case 1302.

撮影者が表示部に表示された被写体像を確認し、シャッターボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、メモリー1308に転送・格納される。また、このディジタルスチルカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示されるように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニター1430が、データ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピューター1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、メモリー1308に格納された撮像信号が、テレビモニター1430や、パーソナルコンピューター1440に出力される構成になっている。このようなディジタルスチルカメラ1300には、フィルター、共振器等として機能する電子素子1が内蔵されている。   When the photographer confirms the subject image displayed on the display unit and presses the shutter button 1306, the CCD image pickup signal at that time is transferred and stored in the memory 1308. In the digital still camera 1300, a video signal output terminal 1312 and an input / output terminal 1314 for data communication are provided on the side surface of the case 1302. As shown in the figure, a television monitor 1430 is connected to the video signal output terminal 1312 and a personal computer 1440 is connected to the input / output terminal 1314 for data communication as necessary. Further, the imaging signal stored in the memory 1308 is output to the television monitor 1430 or the personal computer 1440 by a predetermined operation. Such a digital still camera 1300 incorporates an electronic element 1 that functions as a filter, a resonator, or the like.

なお、本発明の電子素子を備える電子機器は、図14のパーソナルコンピューター(モバイル型パーソナルコンピューター)、図15の携帯電話機、図16のディジタルスチルカメラの他にも、例えば、インクジェット式吐出装置(例えばインクジェットプリンター)、ラップトップ型パーソナルコンピューター、テレビ、ビデオカメラ、ビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS端末、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシュミレーター等に適用することができる。   In addition to the personal computer (mobile personal computer) shown in FIG. 14, the mobile phone shown in FIG. 15, and the digital still camera shown in FIG. Inkjet printers), laptop personal computers, televisions, video cameras, video tape recorders, car navigation devices, pagers, electronic notebooks (including those with communication functions), electronic dictionaries, calculators, electronic game devices, word processors, workstations, televisions Telephone, crime prevention TV monitor, electronic binoculars, POS terminal, medical equipment (for example, electronic thermometer, blood pressure monitor, blood glucose meter, electrocardiogram measuring device, ultrasonic diagnostic device, electronic endoscope), fish detector, various measuring devices, instruments Class (eg, vehicle, aircraft) Gauges of a ship), can be applied to a flight simulator or the like.

≪移動体≫
次に、本発明の電子素子を適用した移動体(本発明の移動体)について説明する。
図17は、本発明の移動体の一例としての自動車を概略的に示す斜視図である。自動車1500には、電子素子1が搭載されている。電子素子1は、キーレスエントリー、イモビライザー、カーナビゲーションシステム、カーエアコン、アンチロックブレーキシステム(ABS)、エアバック、タイヤ・プレッシャー・モニタリング・システム(TPMS:Tire Pressure Monitoring System)、エンジンコントロール、ハイブリッド自動車や電気自動車の電池モニター、車体姿勢制御システム、等の電子制御ユニット(ECU:electronic control unit)に広く適用できる。
≪Moving object≫
Next, the moving body (the moving body of the present invention) to which the electronic element of the present invention is applied will be described.
FIG. 17 is a perspective view schematically showing an automobile as an example of the moving object of the present invention. The electronic device 1 is mounted on the automobile 1500. Electronic element 1 is keyless entry, immobilizer, car navigation system, car air conditioner, anti-lock brake system (ABS), air bag, tire pressure monitoring system (TPMS), engine control, hybrid car, The present invention can be widely applied to electronic control units (ECUs) such as battery monitors for electric vehicles, vehicle body posture control systems, and the like.

以上、本発明の接合方法、電子素子、発振器、電子機器および移動体について、図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物が付加されていてもよい。また、前述した各実施形態を適宜組み合わせてもよい。
また、前述した実施形態では、基板として水晶基板を用いているが、これに替えて、例えば、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム等の各種振動基板を用いてもよい。
The bonding method, the electronic element, the oscillator, the electronic device, and the moving body of the present invention have been described based on the illustrated embodiment. However, the present invention is not limited to this, and the configuration of each part is the same. It can be replaced with any configuration having the above function. In addition, any other component may be added to the present invention. Moreover, you may combine each embodiment mentioned above suitably.
In the above-described embodiment, the quartz substrate is used as the substrate. However, instead of this, various vibrating substrates such as lithium niobate and lithium tantalate may be used.

1、1A…電子素子 2…ベース基板 21…第1の凹部 211…底面 212…側面 22…第2の凹部 221…底面 23…貫通孔 24…振動基板 251、252、253、254…梁部 26…外周部 261、262…外側面 31…第1の蓋体 311…下面 312…側面 32…第2の蓋体 41…第1のモールド材 42…第2のモールド材 5…電極 51…励振電極 52…枠状電極 53…配線電極 54…引出電極 6…電極 61…励振電極 62…枠状電極 63…配線電極 64…引出電極 7、7A…パッケージ 71…ベース基板 711…凹部 72…蓋体 751、761…接続端子 752、762…外部実装端子 753、763…貫通電極 78、79…導電性接着剤 8、8A…振動素子 81…振動基板 82、83…電極 821、831…励振電極 822、832…接続電極 823、833…配線電極 9…合金層 90…金属膜 91…第1の金属層 910…第1の金属 92…第2の金属層 920…第2の金属 93…第3の金属層 930…第3の金属 100…発振器 110…ICチップ 120…内部端子 1100…パーソナルコンピューター 1102…キーボード 1104…本体部 1106…表示ユニット 1200…携帯電話機 1202…操作ボタン 1204…受話口 1206…送話口 1300…ディジタルスチルカメラ 1302…ケース 1304…受光ユニット 1306…シャッターボタン 1308…メモリー 1312…ビデオ信号出力端子 1314…入出力端子 1430…テレビモニター 1440…パーソナルコンピューター 1500…自動車 2000…表示部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1A ... Electronic element 2 ... Base board | substrate 21 ... 1st recessed part 211 ... Bottom face 212 ... Side surface 22 ... 2nd recessed part 221 ... Bottom face 23 ... Through-hole 24 ... Vibration board 251, 252, 253, 254 ... Beam part 26 ... outer peripheral part 261, 262 ... outer surface 31 ... first lid 311 ... lower surface 312 ... side 32 ... second lid 41 ... first molding material 42 ... second molding material 5 ... electrode 51 ... excitation electrode 52 ... Frame electrode 53 ... Wiring electrode 54 ... Lead electrode 6 ... Electrode 61 ... Excitation electrode 62 ... Frame electrode 63 ... Wiring electrode 64 ... Lead electrode 7, 7A ... Package 71 ... Base substrate 711 ... Recess 72 ... Lid 751 , 761... Connection terminals 752 and 762. External mounting terminals 753 and 763. Through electrodes 78 and 79... Conductive adhesive 8 and 8 A. Vibration element 81. DESCRIPTION OF SYMBOLS 2, 83 ... Electrode 821, 831 ... Excitation electrode 822, 832 ... Connection electrode 823, 833 ... Wiring electrode 9 ... Alloy layer 90 ... Metal film 91 ... 1st metal layer 910 ... 1st metal 92 ... 2nd metal Layer 920: second metal 93 ... third metal layer 930 ... third metal 100 ... oscillator 110 ... IC chip 120 ... internal terminal 1100 ... personal computer 1102 ... keyboard 1104 ... main body 1106 ... display unit 1200 ... mobile phone 1202 ... Operation buttons 1204 ... Earpiece 1206 ... Mouthpiece 1300 ... Digital still camera 1302 ... Case 1304 ... Light receiving unit 1306 ... Shutter button 1308 ... Memory 1312 ... Video signal output terminal 1314 ... Input / output terminal 1430 ... Television monitor 1440 ... Over coarsely braided computer 1500 ... automobile 2000 ... the display unit

Claims (14)

第1の部材と第2の部材の間に、第1の金属により構成された第1の金属層と、前記第1の金属層と接触して設けられ、前記第1の金属と合金化可能であって前記第1の金属よりも高い融点を有する第2の金属により構成された第2の金属層とを含む金属膜を配置する第1工程と、
前記金属膜を加熱して溶融することによって、前記第1の金属および前記第2の金属を合金化する第2工程と、を含み、
第1工程では、前記第1の金属層と前記第2の金属層が前記金属膜の面内方向に並んで配置されることを特徴とする接合方法。
Provided between the first member and the second member in contact with the first metal layer made of the first metal and the first metal layer, and can be alloyed with the first metal. A first step of disposing a metal film including a second metal layer composed of a second metal having a melting point higher than that of the first metal;
A second step of alloying the first metal and the second metal by heating and melting the metal film,
In the first step, the first metal layer and the second metal layer are arranged side by side in an in-plane direction of the metal film.
前記金属膜は、帯状をなしており、その幅方向に沿って、前記第1の金属層と前記第2の金属層が並んでいる請求項1に記載の接合方法。   The bonding method according to claim 1, wherein the metal film has a strip shape, and the first metal layer and the second metal layer are arranged along a width direction thereof. 前記金属膜は、帯状をなしており、その延在方向に沿って、前記第1の金属層と前記第2の金属層が並んでいる請求項1または2に記載の接合方法。   The bonding method according to claim 1, wherein the metal film has a strip shape, and the first metal layer and the second metal layer are arranged along an extending direction thereof. 前記第1の金属は、錫である請求項1ないし3のいずれか1項に記載の接合方法。   The joining method according to claim 1, wherein the first metal is tin. 前記第2の金属は、金、銀または銅である請求項1ないし4のいずれか1項に記載の接合方法。   The joining method according to claim 1, wherein the second metal is gold, silver, or copper. 前記金属膜は、さらに、前記第1の金属層と接触して設けられ、前記第1の金属と合金化可能であって前記第2の金属よりも高い融点を有する第3の金属により構成された第3の金属層を含んでいる請求項1ないし5のいずれか1項に記載の接合方法。   The metal film is further formed of a third metal that is provided in contact with the first metal layer, can be alloyed with the first metal, and has a melting point higher than that of the second metal. The bonding method according to claim 1, further comprising a third metal layer. 前記第1の金属層は、前記第2の金属層と前記第3の金属層との間に位置している請求項6に記載の接合方法。   The bonding method according to claim 6, wherein the first metal layer is located between the second metal layer and the third metal layer. 前記第3の金属は、ゲルマニウムである請求項7に記載の接合方法。   The joining method according to claim 7, wherein the third metal is germanium. 前記第1の部材は、第1の面と前記第1の面から立設する第2の面とを有し、
前記第2の部材は、板状をなし、一方の主面が前記第1の面に面するとともに、側面が前記第2の面に面し、
前記第1の工程では、前記金属膜が前記第1の面と前記主面との間および前記第2の面と前記側面との間に跨って配置される請求項1ないし8のいずれか1項に記載の接合方法。
The first member has a first surface and a second surface erected from the first surface;
The second member has a plate shape, one main surface faces the first surface, and a side surface faces the second surface,
The said 1st process WHEREIN: The said metal film is arrange | positioned ranging over between the said 1st surface and the said main surface, and between the said 2nd surface and the said side surface. The joining method according to item.
第1の部材と第2の部材とが合金層を介して接合され、
前記合金層は、Au−Sn−Ge系合金またはAg−Sn−Ge系合金からなることを特徴とする電子素子。
The first member and the second member are joined via the alloy layer,
The alloy layer is made of an Au—Sn—Ge alloy or an Ag—Sn—Ge alloy.
前記第1の部材がベース基板であり、
前記第2の部材が蓋体であり、
前記ベース基板に振動素子が搭載されている請求項10に記載の電子素子。
The first member is a base substrate;
The second member is a lid;
The electronic device according to claim 10, wherein a vibration element is mounted on the base substrate.
請求項10または11に記載の電子素子と、
前記振動素子に接続された発振回路と、を備えていることを特徴とする発振器。
An electronic device according to claim 10 or 11,
And an oscillation circuit connected to the vibration element.
請求項10または11に記載の電子素子を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic device comprising the electronic device according to claim 10. 請求項10または11に記載の電子素子を備えていることを特徴とする移動体。   A moving body comprising the electronic device according to claim 10.
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WO2019127421A1 (en) * 2017-12-29 2019-07-04 深圳市锐明技术股份有限公司 Drive recorder

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109842396A (en) * 2017-11-29 2019-06-04 精工爱普生株式会社 Vibration device, electronic equipment and moving body
CN109842396B (en) * 2017-11-29 2024-01-12 精工爱普生株式会社 Vibration device, electronic apparatus, and moving object
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