JP2014170782A - Substrate processing apparatus - Google Patents

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JP2014170782A JP2013040577A JP2013040577A JP2014170782A JP 2014170782 A JP2014170782 A JP 2014170782A JP 2013040577 A JP2013040577 A JP 2013040577A JP 2013040577 A JP2013040577 A JP 2013040577A JP 2014170782 A JP2014170782 A JP 2014170782A
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Shuji Nagara
修治 長良
Takashi Nishimura
高志 西村
Masahiro Arioka
昌宏 有岡
Naozumi Fujiwara
直澄 藤原
Hiroyuki Araki
浩之 荒木
Kazuhiro Honsho
一大 本庄
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing apparatus that is able to reduce maintenance frequency of a circulation filter resulting from fragments of a film.SOLUTION: A control part 29 discharges a peeling liquid, stored in a processing tank 3, into a recovery tank 7 via a capture member 8, so that fragments of a photo-resist film peeled from a substrate W is captured by the capture member 8. Additionally, the control part 29 causes a supply pipe 21 to supply peeling liquid stored in the recovery tank 7, and thereby circulates the peeling liquid from the processing tank 3 to a supply tank 5. The peeling liquid supplied to the supply pipe 21 contains the fragments of the photo-resist film captured by the capture member 8. Accordingly, a circulation filter 27 is prevented from being clogged by the fragments of the photo-resist film. Therefore, the maintenance frequency of the circulation filter 27, resulting from the fragments of the photo-resist film, can be reduced.

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、プラズマディスプレイ用基板、有機EL用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板(以下、単に基板と称する)を処理する基板処理装置に係り、特に、基板から剥離された被膜の破片を回収する技術に関する。   The present invention relates to a semiconductor wafer, a liquid crystal display substrate, a plasma display substrate, an organic EL substrate, an FED (Field Emission Display) substrate, an optical display substrate, a magnetic disk substrate, a magneto-optical disk substrate, and a photomask substrate. The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate and a solar cell substrate (hereinafter simply referred to as a substrate), and more particularly, to a technique for recovering fragments of a film peeled off from the substrate.

従来、この種の装置として、処理液を貯留する内槽と、内槽から溢れた処理液を回収する外槽と、外槽と内槽とを連通接続し、処理液を循環させるための循環ラインと、循環ラインに配設された循環フィルタと、内槽の処理液を排出する排液バルブと、内槽の下方に配置され、排液バルブから排液される内槽の処理液を回収する下部タンクと、下部タンクに貯留する処理液を循環ラインにおける循環フィルタの上流側に戻す帰還ラインとを備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, as this type of device, an inner tank for storing the processing liquid, an outer tank for recovering the processing liquid overflowing from the inner tank, and a circulation for circulating the processing liquid by connecting the outer tank and the inner tank in communication. Line, a circulation filter arranged in the circulation line, a drain valve for discharging the processing liquid in the inner tank, and a processing liquid in the inner tank which is disposed below the inner tank and drained from the drain valve And a return line for returning the processing liquid stored in the lower tank to the upstream side of the circulation filter in the circulation line (for example, see Patent Document 1).

このように構成された装置は、循環ラインにより内槽に処理液を循環供給させて、内槽に収容した基板に対する洗浄処理を行う。基板の洗浄処理が終わった後、排液バルブを開放させて内槽に貯留する処理液を下部タンクに排出させる。この下部タンクに排出された処理液には、基板から離脱したパーティクルなどの汚染物質のうち、内槽から外槽への処理液の流れに乗らずに外槽へ排出されなかったものが含まれている。そこで、その処理液を、帰還ラインを介して下部タンクから循環ラインの循環フィルタよりも上流に戻すことにより、処理液に含まれる汚染物質を循環フィルタによって除去させる。したがって、先に処理した基板から離脱し、内槽の処理液中に残留した汚染物質により後続の基板が汚染されることを防止できる。   The apparatus configured as described above circulates and supplies the processing liquid to the inner tank through the circulation line, and performs a cleaning process on the substrate accommodated in the inner tank. After the substrate cleaning process is completed, the drain valve is opened to discharge the processing liquid stored in the inner tank to the lower tank. The processing liquid discharged to the lower tank includes contaminants such as particles detached from the substrate that were not discharged to the outer tank without riding on the flow of the processing liquid from the inner tank to the outer tank. ing. Accordingly, the processing liquid is returned from the lower tank to the upstream side of the circulation filter in the circulation line via the return line, so that the contaminant contained in the processing liquid is removed by the circulation filter. Therefore, it is possible to prevent the subsequent substrate from being contaminated by the contaminants that are detached from the previously processed substrate and remain in the processing liquid in the inner tank.

特開2010−225832号公報JP 2010-225832 A

しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、汚染物質がパーティクルなどの微少なサイズである場合には有効であるが、基板に被着されたフォトレジスト被膜を剥離する剥離処理の際には、フォトレジスト被膜の破片が生じるが、これはパーティクルに比較して極めて大きい。そのため、循環ラインの循環フィルタに生じる目詰まり度合いが非常に大きくなるので、メンテナンスの頻度が大きくなるという問題がある。
However, the conventional example having such a configuration has the following problems.
That is, the conventional apparatus is effective when the contaminant is a very small size such as particles, but in the stripping process for stripping the photoresist film deposited on the substrate, fragments of the photoresist film are used. However, this is extremely large compared to particles. For this reason, the degree of clogging generated in the circulation filter of the circulation line becomes very large, and there is a problem that the frequency of maintenance increases.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、被膜の破片に起因する循環フィルタのメンテナンス頻度を低減することができる基板処理装置を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the substrate processing apparatus which can reduce the maintenance frequency of the circulation filter resulting from the fragment of a film.

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置において、剥離液を貯留し、基板を浸漬させて処理するための処理槽と、前記処理槽の上縁周囲に配置され、前記処理槽の上縁を越えて前記処理槽へ剥離液を供給する供給槽と、前記処理槽の下方に配置された回収槽と、前記処理槽と前記回収槽とを連通接続した回収配管と、前記回収槽と前記供給槽とを連通接続し、前記回収槽内の剥離液を前記供給槽へ供給する供給配管と、前記回収槽から供給配管を介して前記供給槽に供給される剥離液中のパーティクルを捕捉する循環フィルタと、前記処理槽から前記回収配管を介して前記回収槽に排出される剥離液中の被膜の破片を捕捉する捕捉手段と、前記処理槽に貯留する剥離液を、前記捕捉手段を介して前記回収槽に排出させ、前記回収槽に貯留した剥離液を前記供給配管により供給させて、前記処理槽から前記供給槽へ剥離液を循環させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention according to claim 1 is a substrate processing apparatus for performing a peeling process on a coating film deposited on a substrate with a peeling liquid, storing a peeling liquid, and immersing the substrate for processing. A supply tank that is disposed around the upper edge of the processing tank, supplies the stripping solution to the processing tank beyond the upper edge of the processing tank, a recovery tank that is disposed below the processing tank, the processing tank, and the A recovery pipe that is connected to a recovery tank, a connection pipe that connects the recovery tank and the supply tank, a supply pipe that supplies the stripping liquid in the recovery tank to the supply tank, and a supply pipe from the recovery tank via the supply pipe A circulating filter that captures particles in the stripping solution supplied to the supply tank, and a capturing unit that captures fragments of the coating in the stripping liquid discharged from the processing tank to the recovery tank through the recovery pipe; The stripping solution stored in the treatment tank Control means for circulating the stripping liquid from the processing tank to the supply tank by discharging the stripping liquid stored in the recovery tank through the means and supplying the stripping liquid stored in the recovery tank through the supply pipe. It is characterized by.

[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、制御手段は、処理槽に貯留する剥離液を、捕捉手段を介して回収槽に排出させるので、基板から剥離した被膜の破片が捕捉手段で捕捉される。また、制御手段は、回収槽に貯留した剥離液を供給配管により供給させて、処理槽から供給槽へ剥離液を循環させる。供給配管に供給される剥離液は、捕捉手段により被膜の破片が捕捉されたものであるので、被膜の破片により循環フィルタに目詰まりが生じることを抑制できる。したがって、被膜の破片に起因する循環フィルタのメンテナンス頻度を低減することができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, since the control means discharges the stripping solution stored in the processing tank to the collection tank through the capturing means, the fragments of the coating film peeled off from the substrate are captured. Captured by means. Further, the control means causes the stripping solution stored in the recovery tank to be supplied through the supply pipe, and circulates the stripping liquid from the processing tank to the supply tank. Since the stripping solution supplied to the supply pipe is obtained by capturing the fragments of the film by the capturing means, it is possible to suppress clogging of the circulation filter due to the fragments of the film. Therefore, it is possible to reduce the maintenance frequency of the circulation filter due to the fragments of the coating.

また、本発明において、前記捕捉手段は、前記回収槽に備えられ、前記回収配管の開口面積より大面積の網状部材を備えていることが好ましい(請求項2)。   Moreover, in this invention, it is preferable that the said capture | acquisition means is provided in the said collection tank, and is equipped with the net-like member larger than the opening area of the said collection piping (Claim 2).

回収槽に大面積の網状部材を備えるので、被膜の破片が多い場合であっても、網状部材の交換頻度を低減できる。   Since the collection tank is provided with a mesh member having a large area, the frequency of replacing the mesh member can be reduced even when there are many pieces of coating.

また本発明において、前記捕捉手段は、前記回収配管に備えられた網状部材収納容器と、前記網状部材収納容器内に設けられ、剥離液中の被膜の破片を捕捉する回収配管内網状部材を備えていることが好ましい(請求項3)。   In the present invention, the capturing means includes a mesh member storage container provided in the recovery pipe, and a mesh member in the recovery pipe that is provided in the mesh member storage container and captures fragments of the coating in the stripping solution. (Claim 3).

回収配管において網状部材を設けて捕捉することができる。   A net-like member can be provided and collected in the recovery pipe.

また本発明において、前記網状部材収納容器は、前記回収配管内網状部材により捕捉された被膜の破片を排出する廃棄配管と、前記回収配管内網状部材を通過した剥離液が流通する通常配管とを備えていることが好ましい(請求項4)。   In the present invention, the mesh member storage container includes a waste pipe that discharges the fragments of the film captured by the mesh member in the recovery pipe, and a normal pipe through which the stripping solution that has passed through the mesh member in the recovery pipe flows. It is preferable to provide (Claim 4).

捕捉した被膜の破片を、剥離液とは別に排出することができる。   The captured film fragments can be discharged separately from the stripping solution.

また本発明において、前記回収配管内網状部材は、前記網状部材収納容器内に固定的に設けられており、前記廃棄配管は前記網状部材収納容器内の網状部材の上方の空間に連通し、前記通常配管は前記網状部材収納容器内の網状部材の下方の空間に連通していることが好ましい(請求項5)。   In the present invention, the network member in the recovery pipe is fixedly provided in the mesh member storage container, and the waste pipe communicates with a space above the mesh member in the mesh member storage container, It is preferable that the normal pipe communicates with a space below the mesh member in the mesh member storage container.

捕捉した被膜の破片を、容易に剥離液と区別して排出することができる。   The captured film fragments can be easily distinguished from the stripping solution and discharged.

また、本発明において、前記回収配管内網状部材は、剥離液中の被膜の破片を捕捉する捕捉姿勢と、捕捉した被膜の破片を廃棄する廃棄姿勢とにわたって姿勢を変位可能に設けられることが好ましい(請求項6)。   Further, in the present invention, the network member in the recovery pipe is preferably provided so that the posture can be displaced over a capturing posture for capturing the fragments of the coating in the stripping solution and a discarding posture for discarding the captured fragments of the coating. (Claim 6).

回収配管内網状部材が捕捉姿勢で被膜の破片を捕捉し、廃棄姿勢で捕捉した被膜の破片を廃棄するので、メンテナンスが容易にできる。   The network member in the recovery pipe captures the film fragments in the capturing posture and discards the film fragments captured in the discarding posture, so that maintenance can be easily performed.

また、本発明において、前記回収槽に剥離液を排出する通常配管と、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を排出する廃棄配管とは切り替え可能に設けられ、前記制御手段は、前記処理槽に貯留する剥離液を前記回収槽に排出させる際には、前記回収配管内網状部材を捕捉姿勢にさせるとともに、前記網状部材収納容器の流路を前記通常配管に切り替えさせ、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、前記回収配管内網状部材を廃棄姿勢にさせるとともに、前記網状部材収納容器の流路を前記廃棄配管に切り替えさせることが好ましい(請求項7)。   Further, in the present invention, a normal pipe for discharging the stripping liquid to the recovery tank and a waste pipe for discharging the fragments of the film trapped by the network member in the recovery pipe are provided to be switchable, and the control means is When the stripping solution stored in the processing tank is discharged to the recovery tank, the network member in the recovery pipe is brought into a capturing posture, and the flow path of the mesh member storage container is switched to the normal pipe, and the recovery is performed. When discarding the fragments of the film trapped by the mesh member in the pipe, it is preferable to cause the mesh member in the recovery pipe to be in a disposal posture and to switch the flow path of the mesh member storage container to the discard pipe ( Claim 7).

制御手段は、処理槽に貯留する剥離液を回収槽に排出させる際には、回収配管内網状部材を捕捉姿勢にさせるとともに、網状部材収納容器の流路を通常配管に切り替えさせる。これにより、回収槽に排出される剥離液の被膜の破片を回収配管内網状部材で捕捉させることができる。さらに、回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、回収配管内網状部材を廃棄姿勢にさせるとともに、網状部材収納容器の流路を廃棄配管に切り替えさせる。これにより、回収配管内網状部材で捕捉された被膜の破片を回収槽の網状部材で回収させることができるので、回収配管内網状部材のメンテナンスを容易に行うことができる。   When discharging the stripping solution stored in the processing tank to the recovery tank, the control means causes the net member in the recovery pipe to be in the capturing posture and switches the flow path of the net member storage container to the normal pipe. Thereby, the debris of the coating film of the stripping solution discharged into the recovery tank can be captured by the net member in the recovery pipe. Furthermore, when discarding the fragments of the film captured by the net member in the recovery pipe, the net member in the recovery pipe is set to the discarding posture, and the flow path of the net member storage container is switched to the waste pipe. Thereby, since the fragments of the film captured by the net member in the recovery pipe can be recovered by the net member of the recovery tank, maintenance of the net member in the recovery pipe can be easily performed.

また、本発明において、前記回収配管に設けられ、前記回収配管内網状部材を内蔵し、前記網状部材を介して前記回収槽に剥離液を排出する通常配管と、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄する廃棄配管とを備えた網状部材収納容器と、前記廃棄配管から前記網状部材収納容器内を吸引する吸引手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記処理槽に貯留する剥離液を前記回収槽に排出させる際には、前記回収配管内網状部材を捕捉姿勢にさせ、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、前記回収配管内網状部材を廃棄姿勢にさせるとともに、前記吸引手段を作動させることが好ましい(請求項8)。   Further, in the present invention, a normal pipe provided in the recovery pipe, including the network member in the recovery pipe, and discharging the stripping liquid to the recovery tank via the mesh member, and captured by the network member in the recovery pipe A mesh member storage container provided with a disposal pipe for discarding the fragments of the coated film; and suction means for sucking the inside of the mesh member storage container from the disposal pipe, and the control means is provided in the treatment tank. When draining the stored stripping solution to the recovery tank, the recovery pipe inner net member is set to the capturing posture, and when the coating piece captured by the recovery pipe inner net member is discarded, the recovery pipe It is preferable that the inner net-like member is placed in a disposal posture and the suction means is operated.

制御手段は、処理槽に貯留する剥離液を回収槽に排出させる際には、回収配管内網状部材を捕捉姿勢にさせる。これにより、回収槽に排出される剥離液の被膜の破片を回収配管内網状部材で捕捉させることができる。さらに、回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、回収配管内網状部材を廃棄姿勢にさせるとともに、吸引手段を作動させる。これにより、回収配管内網状部材で捕捉された被膜の破片を吸引手段で回収させることができるので、回収配管内網状部材のメンテナンスを容易に行うことができる。   The control means causes the net member in the recovery pipe to be in the capturing posture when the stripping solution stored in the processing tank is discharged to the recovery tank. Thereby, the debris of the coating film of the stripping solution discharged into the recovery tank can be captured by the net member in the recovery pipe. Furthermore, when discarding the fragments of the film trapped by the net member in the recovery pipe, the net member in the recovery pipe is put into the discarding posture and the suction means is operated. Thereby, since the fragments of the film captured by the net member in the recovery pipe can be recovered by the suction means, the maintenance of the net member in the recovery pipe can be easily performed.

また、本発明において、前記回収配管のうち、前記捕捉手段よりも前記処理槽側に設けられた制御弁と、前記処理槽に貯留する剥離液の液面を加圧する加圧手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記処理槽に貯留する剥離液を前記回収槽に排出させる際には、前記制御弁を閉止させた状態で前記加圧手段による加圧を行わせた後、前記制御弁を開放させて剥離液を加圧排液させることが好ましい(請求項9)。   In the present invention, the recovery pipe further includes a control valve provided closer to the processing tank than the capturing unit, and a pressurizing unit that pressurizes the liquid level of the stripping solution stored in the processing tank. And the control means, when discharging the stripping solution stored in the processing tank to the recovery tank, pressurizing by the pressurizing means with the control valve closed, and then performing the control It is preferable to open the valve and discharge the stripping solution under pressure (claim 9).

制御手段は、処理槽に貯留する剥離液を回収槽に排出させる際には、制御弁を閉止させた状態で加圧手段による加圧を行わせた後、制御弁を開放させて剥離液を加圧排液させる。したがって、被膜の破片が大量にあって回収配管を剥離液が流れにくい場合であっても、円滑に剥離液を回収槽に排出させることができる。   When discharging the stripping solution stored in the treatment tank to the recovery tank, the control means performs pressurization by the pressurizing means with the control valve closed, and then opens the control valve to remove the stripping liquid. Drain under pressure. Therefore, even if there is a large amount of coating fragments and it is difficult for the stripping liquid to flow through the recovery pipe, the stripping liquid can be smoothly discharged to the recovery tank.

また、本発明において、前記回収配管は、前記網状部材側に位置する側が複数本に分岐され、それぞれが離間して前記網状部材に臨むように配置されていることが好ましい(請求項10)。   Moreover, in this invention, it is preferable that the said collection | recovery piping is arrange | positioned so that the side located in the said mesh member side may be branched into two, and each may be spaced apart and face the said mesh member.

被膜の破片が複数箇所に分散して排出されるので、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。   Since the fragments of the coating are dispersed and discharged at a plurality of locations, the maintenance frequency of the mesh member can be reduced.

また、本発明において、前記網状部材を面方向に移動させる面方向駆動手段をさらに備え、前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記面方向駆動手段を操作することが好ましい(請求項11)。   In the present invention, it is further provided with a surface direction driving means for moving the mesh member in the surface direction, and the control means can operate the surface direction driving means so that fragments of the coating are dispersed on the mesh member. Preferred (claim 11).

制御手段は、面方向駆動手段により網状部材を面方向に移動させるので、被膜の破片が網状部材の一箇所に集中することなく分散させることができる。したがって、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。   Since the control means moves the mesh member in the surface direction by the surface direction driving means, the pieces of the coating can be dispersed without concentrating on one place of the mesh member. Therefore, the maintenance frequency of the mesh member can be reduced.

また、本発明において、前記網状部材は、無端状に形成されており、前記網状部材の内周面側に当接して配置され、前記網状部材を駆動する駆動手段と、前記網状部材に当接して、前記網状部材の移動を案内する案内部材とをさらに備え、前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記駆動手段を操作することが好ましい(請求項12)。   In the present invention, the mesh member is formed in an endless shape, is disposed in contact with an inner peripheral surface side of the mesh member, and is in contact with a driving means for driving the mesh member, and the mesh member. And a guide member for guiding the movement of the mesh member, and the control means preferably operates the driving means so that the fragments of the film are dispersed in the mesh member.

制御手段は、駆動手段により無端状の網状部材を案内部材に沿って移動させるので、被膜の破片を分散させることができる。したがって、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。   Since the control means moves the endless net-like member along the guide member by the driving means, the pieces of the coating can be dispersed. Therefore, the maintenance frequency of the mesh member can be reduced.

また、本発明において、前記網状部材は、その端部が前記回収槽から外れた位置に延出されており、前記網状部材の延出された部分において、その内周側に配置され、前記網状部材の内面から外面に向かって洗浄液を噴射する洗浄手段をさらに備えていることが好ましい(請求項13)。   Further, in the present invention, the mesh member is extended at a position where an end of the mesh member is removed from the collection tank, and is disposed on the inner peripheral side in the extended portion of the mesh member. It is preferable to further include a cleaning means for injecting the cleaning liquid from the inner surface to the outer surface of the member (claim 13).

網状部材に対して、回収槽から外れた位置において洗浄手段により内面から外面に向かって洗浄液を供給することができる。したがって、網状部材に堆積した被膜の破片を除去することができるので、メンテナンス頻度を低減できる。   The cleaning liquid can be supplied from the inner surface toward the outer surface by the cleaning means at a position away from the collection tank with respect to the net member. Therefore, since the fragments of the film deposited on the mesh member can be removed, the maintenance frequency can be reduced.

また本発明において、前記回収配管から分岐した真空配管と、前記真空配管に接続された真空タンクと、前記真空タンク内を減圧する減圧機構とをさらに備えていることが好ましい(請求項14)。   Moreover, in this invention, it is preferable to further provide the vacuum piping branched from the said collection piping, the vacuum tank connected to the said vacuum piping, and the pressure reduction mechanism which decompresses the inside of the said vacuum tank (Claim 14).

予め減圧した真空タンクを前記処理槽に連通させることにより、皮膜の破片を含んだ処理槽内の剥離液を強力に吸引排出できる。   By connecting a vacuum tank that has been depressurized in advance to the treatment tank, it is possible to strongly suck and discharge the stripping solution in the treatment tank containing the film fragments.

本発明に係る基板処理装置によれば、制御手段は、処理槽に貯留する剥離液を、捕捉手段を介して回収槽に排出させるので、基板から剥離した被膜の破片が捕捉手段で捕捉される。また、制御手段は、回収槽に貯留した剥離液を供給配管により供給させて、処理槽から供給槽へ剥離液を循環させる。供給配管に供給される剥離液は、捕捉手段により被膜の破片が捕捉されたものであるので、被膜の破片により循環フィルタに目詰まりが生じることを抑制できる。したがって、被膜の破片に起因する循環フィルタのメンテナンス頻度を低減することができる。   According to the substrate processing apparatus of the present invention, the control means discharges the stripping solution stored in the processing tank to the collection tank via the capturing means, so that the fragments of the coating film peeled off from the substrate are captured by the capturing means. . Further, the control means causes the stripping solution stored in the recovery tank to be supplied through the supply pipe, and circulates the stripping liquid from the processing tank to the supply tank. Since the stripping solution supplied to the supply pipe is obtained by capturing the fragments of the film by the capturing means, it is possible to suppress clogging of the circulation filter due to the fragments of the film. Therefore, it is possible to reduce the maintenance frequency of the circulation filter due to the fragments of the coating.

実施例1に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。1 is an overall view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to Embodiment 1. FIG. 剥離処理の状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state of a peeling process. 実施例2に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。6 is an overall view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to Embodiment 2. FIG. 捕捉姿勢とされた状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state made into the capture attitude | position. 廃棄姿勢とされた状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state made into the discard attitude | position. 実施例3に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。10 is an overall view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to Embodiment 3. FIG. 処理中にフォトレジストの被膜を捕捉している状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state which is capturing the photoresist film during a process. 処理後にフォトレジストの被膜を廃棄している状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state which has discarded the photoresist film after a process. 実施例4に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。FIG. 10 is an overall view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to a fourth embodiment. 実施例5に係る基板処理装置の要部を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a main part of a substrate processing apparatus according to a fifth embodiment. 実施例6に係る基板処理装置の要部を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a main part of a substrate processing apparatus according to a sixth embodiment. 実施例7に係る基板処理装置の要部を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a main part of a substrate processing apparatus according to a seventh embodiment. 実施例8に係る基板処理装置の要部を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a main part of a substrate processing apparatus according to an eighth embodiment.

本発明に係る種々の実施例について以下に説明する。   Various embodiments according to the present invention will be described below.

以下、図面を参照して本発明の実施例1を説明する。
図1は、実施例1に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。
Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is an overall view illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the first embodiment.

本実施例に係る基板処理装置は、基板Wに被着された被膜を剥離液によって剥離処理する。以下の説明においては、被膜としてフォトレジスト被膜を例にとって説明するが、本発明における被膜としては、例えばパッシベーション(Passivation)膜などの被膜であってもよい。   The substrate processing apparatus according to the present embodiment performs a peeling process on the film deposited on the substrate W with a peeling liquid. In the following description, a photoresist film will be described as an example of the film, but the film in the present invention may be a film such as a passivation film, for example.

本実施例の基板処理装置は、複数枚の基板Wを一括して剥離処理するための処理部1を備えている。処理部1は、純水や剥離液などの処理液を貯留し、複数枚の基板Wを収容可能な大きさを有する処理槽3と、処理槽3の上縁周囲に配置され、処理槽3の上縁を越えて処理液を供給する供給槽5と、処理槽3の下方に配置された回収槽7とを備えている。回収槽7には、その開口部を覆うように捕捉部材8が着脱自在に取り付けられている。この捕捉部材8は、後述するフォトレジスト被膜の破片を捕捉するが、処理液を通過させる網状の素材により形成した「網状部材」である。また回収槽7には、処理液の交換時などに処理液を排出するためのドレン配管(開閉のためのバルブを含む)(図示せず)が取り付けられている。   The substrate processing apparatus according to the present embodiment includes a processing unit 1 for performing a separation process on a plurality of substrates W at once. The processing unit 1 stores processing liquids such as pure water and stripping liquid, and is disposed around the upper edge of the processing tank 3 and the processing tank 3 having a size capable of accommodating a plurality of substrates W. The processing tank 3 A supply tank 5 for supplying the processing liquid beyond the upper edge of the tank and a recovery tank 7 disposed below the processing tank 3 are provided. A capture member 8 is detachably attached to the collection tank 7 so as to cover the opening. The capturing member 8 is a “net member” formed of a net material that captures fragments of a photoresist film, which will be described later, but allows the processing liquid to pass therethrough. The recovery tank 7 is provided with a drain pipe (including a valve for opening and closing) (not shown) for discharging the processing liquid when the processing liquid is exchanged.

なお、上述した捕捉部材8が本発明における「捕捉手段」に相当する。   The capturing member 8 described above corresponds to the “capturing means” in the present invention.

処理部1の近くには、リフタ9が設けられている。このリフタ9は、高さ方向において処理槽3の上方にあたる「待機位置」(図1の二点鎖線)と、処理槽3の内部にあたる「処理位置」(図1の実線)とにわたって昇降可能に構成されている。リフタ9は、処理槽3の側壁に沿って延出された背板11と、背板11の下部にて水平方向(紙面の奥手前方向)に延出された3本の支持部13とを備えている。   A lifter 9 is provided near the processing unit 1. The lifter 9 can be moved up and down over the “standby position” (the two-dot chain line in FIG. 1) that is above the processing tank 3 in the height direction and the “processing position” (the solid line in FIG. 1) that is inside the processing tank 3. It is configured. The lifter 9 includes a back plate 11 that extends along the side wall of the treatment tank 3, and three support portions 13 that extend in the horizontal direction (the front side of the paper) at the bottom of the back plate 11. I have.

処理槽3の底部には、排出口15が形成されている。排出口15と回収槽7とは、回収配管17によって連通接続されている。回収配管17は、処理槽3に貯留している処理液を急速排水するためのQDR弁19が取り付けられている。回収配管17の回収槽7側の開口部は、捕捉部材8よりも上方に位置している。また、捕捉部材8は、回収配管17の開口面積に比較して大面積である。   A discharge port 15 is formed at the bottom of the treatment tank 3. The discharge port 15 and the collection tank 7 are connected in communication by a collection pipe 17. The recovery pipe 17 is provided with a QDR valve 19 for quickly draining the processing liquid stored in the processing tank 3. The opening on the recovery tank 7 side of the recovery pipe 17 is located above the capturing member 8. Further, the capturing member 8 has a large area compared to the opening area of the recovery pipe 17.

回収槽7と供給槽5とは、供給配管21で連通接続されている。供給配管21の供給槽5側は、供給槽5の上縁を越えて供給槽5の底面に向けられている。また、供給配管21の回収槽9側は、開口部が捕捉部材8よりも回収槽7の底面に近くに位置している。供給配管21は、回収槽7側から順に、循環ポンプ23と、インラインヒータ25と、循環フィルタ27と、弁19Bとを設けられている。循環ポンプ23は、回収槽7に貯留する処理液を吸い上げて供給配管21に流通させる。インラインヒータ25は、供給配管21を流通する処理液に温調を行う。循環フィルタ27は、供給配管21を流通する処理液に含まれるパーティクルなどの微少な汚染物質を捕捉する。また供給配管21は、循環フィルタ27の下流側でスプレー配管21Sが分岐している。スプレー配管21Sは、弁19Sを介して処理槽3の上方に設置された複数のスプレーノズルSに接続される。スプレーノズルSはその吐出口を処理槽3方向に向けて設置され、処理槽3内でリフタ9により支持された基板Wに対して処理液をスプレー状にして供給する。   The collection tank 7 and the supply tank 5 are connected in communication by a supply pipe 21. The supply tank 21 side of the supply pipe 21 is directed to the bottom surface of the supply tank 5 beyond the upper edge of the supply tank 5. Further, the opening of the supply pipe 21 on the side of the recovery tank 9 is located closer to the bottom surface of the recovery tank 7 than the capturing member 8. The supply pipe 21 is provided with a circulation pump 23, an in-line heater 25, a circulation filter 27, and a valve 19B in order from the collection tank 7 side. The circulation pump 23 sucks up the processing liquid stored in the collection tank 7 and distributes it to the supply pipe 21. The in-line heater 25 controls the temperature of the processing liquid flowing through the supply pipe 21. The circulation filter 27 captures minute contaminants such as particles contained in the processing liquid flowing through the supply pipe 21. The supply pipe 21 has a spray pipe 21 </ b> S branched on the downstream side of the circulation filter 27. The spray pipe 21S is connected to a plurality of spray nozzles S installed above the processing tank 3 through a valve 19S. The spray nozzle S is installed with its discharge port directed toward the processing tank 3, and supplies the processing liquid in a spray form to the substrate W supported by the lifter 9 in the processing tank 3.

上述したリフタ9の昇降動作、QDR弁19、弁19B、弁19Sの開閉動作、循環ポンプ23の作動、インラインヒータ25の温調動作などは、制御部29によって統括的に制御される。制御部29は、CPUやメモリなどで構成されている。また、制御部29は、図示しない処理液供給系による処理液の供給も制御する。本実施例における処理液は、基板Wに被着されたフォトレジスト被膜を熔解除去するための剥離液である。   The above-described lifting / lowering operation of the lifter 9, the opening / closing operation of the QDR valve 19, the valve 19 </ b> B, and the valve 19 </ b> S, the operation of the circulation pump 23, the temperature adjustment operation of the in-line heater 25, etc. The control unit 29 includes a CPU, a memory, and the like. The control unit 29 also controls the supply of processing liquid by a processing liquid supply system (not shown). The processing liquid in this embodiment is a stripping liquid for melting and removing the photoresist film deposited on the substrate W.

なお、上述した制御部29が本発明における「制御手段」に相当する。   The control unit 29 described above corresponds to the “control unit” in the present invention.

次に、図2を参照して、上述した基板処理装置の動作について説明する。なお、図2は、剥離処理の状態を示す模式図である。   Next, the operation of the above-described substrate processing apparatus will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a schematic diagram showing the state of the peeling process.

処理槽3は、既に処理温度に温調された剥離液を貯留し、フォトレジスト被膜が被着された複数枚の基板Wがリフタ9とともに処理位置に位置されているものとする。   It is assumed that the processing tank 3 stores a stripping solution that has already been adjusted to the processing temperature, and a plurality of substrates W to which a photoresist film is applied are positioned together with the lifter 9 at the processing position.

まず、制御部29がQDR弁19と弁19Bを開き弁19Sを閉じて、循環ポンプ23を作動させると、回収槽7に貯留している剥離液が供給配管21から供給槽5に供給される。供給槽5に供給された剥離液は、処理槽3の上縁を越えて処理槽3に供給される。処理槽3では、剥離液は基板Wの上方から剥離液が底面に向かって下降し、排出口15から回収配管17を経て回収槽7に排出される。この排出される剥離液には、基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片が混入している。回収槽7に排出された剥離液は、捕捉部材8を経て回収槽7に回収される。このとき、剥離液に混入しているフォトレジスト被膜の破片ffは、捕捉部材8によって捕捉されるので、回収槽7の剥離液とは分離される。回収槽7の下部に貯留するフォトレジスト被膜の破片ffが混入していない剥離液は、供給配管21によって吸い上げられ、パーティクルなどの微少な汚染物質が循環フィルタ27で捕捉された後、再び供給槽5に供給される。   First, when the control unit 29 opens the QDR valve 19 and the valve 19B, closes the valve 19S and operates the circulation pump 23, the stripping solution stored in the recovery tank 7 is supplied from the supply pipe 21 to the supply tank 5. . The stripping solution supplied to the supply tank 5 is supplied to the processing tank 3 beyond the upper edge of the processing tank 3. In the processing tank 3, the peeling liquid descends from above the substrate W toward the bottom surface and is discharged from the discharge port 15 to the collection tank 7 through the collection pipe 17. The discharged stripping solution is mixed with fragments of the photoresist film stripped from the substrate W. The stripping solution discharged to the collection tank 7 is collected in the collection tank 7 through the capturing member 8. At this time, the debris ff of the photoresist film mixed in the stripping solution is captured by the capturing member 8 and thus separated from the stripping solution in the collection tank 7. The stripping solution that is not mixed with the photoresist coating fragments ff stored in the lower part of the recovery tank 7 is sucked up by the supply pipe 21 and fine contaminants such as particles are captured by the circulation filter 27 and then supplied again. 5 is supplied.

続いて、制御部29がQDR弁19を開き、弁19Sと弁19Bを閉じて、循環ポンプ23を停止させ、処理槽3内の剥離液を排出する。処理槽3内の剥離液がほぼ全て排出したとき、あるいはその直前であって基板Wが漬からない程度に処理槽3内に剥離液が残っている状態で、制御部29がQDR弁19を開き、弁19Bを閉じた状態で弁19Sを開き、循環ポンプ23を作動させると、回収槽7に貯留している剥離液が供給配管21からスプレー配管21Sを通じてスプレーノズルSに供給されて、スプレーノズルSからスプレー状の剥離液がリフタ9およびそのリフタ9に収納されている基板Wに吹き付けられる。このスプレー状の剥離液が基板Wに対して衝撃力を与え、フォトレジスト被膜の剥離をさらに促進する。また、このとき剥離液は、基板Wに供給された後には、上述と同様に処理槽3の底面に向かって下降し、基板Wおよびリフタ9に付着したフォトレジスト被膜の破片を下方に洗い流し、排出口15から回収配管17を経て回収槽7に排出される。この排出される剥離液には、基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片が混入している。回収槽7に排出された剥離液は、捕捉部材8を経て回収槽7に回収される。このとき、剥離液に混入しているフォトレジスト被膜の破片ffは、捕捉部材8によって捕捉されるので、回収槽7の剥離液とは分離される。回収槽7の下部に貯留するフォトレジスト被膜の破片ffが混入していない剥離液は、供給配管21によって吸い上げられ、パーティクルなどの微少な汚染物質まで循環フィルタ27で捕捉された後、再び供給槽5に供給される。   Subsequently, the control unit 29 opens the QDR valve 19, closes the valves 19 </ b> S and 19 </ b> B, stops the circulation pump 23, and discharges the stripping solution in the processing tank 3. When almost all of the stripping solution in the processing tank 3 has been discharged, or just before that, the control unit 29 turns off the QDR valve 19 in a state where the stripping liquid remains in the processing tank 3 to such an extent that the substrate W is not immersed. When the valve 19S is opened with the valve 19B closed and the circulation pump 23 is operated, the stripping solution stored in the recovery tank 7 is supplied from the supply pipe 21 to the spray nozzle S through the spray pipe 21S, and sprayed. A spray-like stripping solution is sprayed from the nozzle S to the lifter 9 and the substrate W accommodated in the lifter 9. This spray-like stripping solution gives an impact force to the substrate W and further promotes the stripping of the photoresist film. Further, at this time, after the peeling solution is supplied to the substrate W, it is lowered toward the bottom surface of the processing tank 3 in the same manner as described above, and the fragments of the photoresist film adhering to the substrate W and the lifter 9 are washed downward. It is discharged from the discharge port 15 through the recovery pipe 17 to the recovery tank 7. The discharged stripping solution is mixed with fragments of the photoresist film stripped from the substrate W. The stripping solution discharged to the collection tank 7 is collected in the collection tank 7 through the capturing member 8. At this time, the debris ff of the photoresist film mixed in the stripping solution is captured by the capturing member 8 and thus separated from the stripping solution in the collection tank 7. The stripping solution in which the debris ff of the photoresist film stored in the lower part of the recovery tank 7 is not mixed is sucked up by the supply pipe 21 and captured by the circulation filter 27 to minute contaminants such as particles, and then supplied again. 5 is supplied.

本実施例によると、制御部29は、処理槽3に貯留する剥離液を、捕捉部材8を介して回収槽7に排出させるので、基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片ffが捕捉部材8で捕捉される。また、制御部29は、回収槽7に貯留した剥離液を供給配管21により供給させて、処理槽3から供給槽5へ剥離液を循環させる。供給配管21に供給される剥離液は、捕捉部材8によりフォトレジスト被膜の破片ffが捕捉されたものであるので、フォトレジスト被膜の破片ffにより循環フィルタ27に目詰まりが生じることを抑制できる。したがって、フォトレジスト被膜の破片に起因する循環フィルタ27のメンテナンス頻度を低減することができる。また、供給槽5から処理槽3の上縁を越えて処理槽3の上部に供給された剥離液は、基板Wの上方から底面に向かって下降し、基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片はこの下降する流れに乗って下方の排出口15から円滑に排出される。   According to the present embodiment, the control unit 29 discharges the stripping solution stored in the processing tank 3 to the collection tank 7 through the capturing member 8, so that the pieces of photoresist film peeled off from the substrate W are captured by the capturing member 8. Captured. Further, the control unit 29 causes the stripping solution stored in the recovery tank 7 to be supplied through the supply pipe 21 and circulates the stripping liquid from the processing tank 3 to the supply tank 5. Since the stripping solution supplied to the supply pipe 21 is obtained by capturing the fragments ff of the photoresist film by the capturing member 8, it is possible to suppress clogging of the circulation filter 27 due to the fragments ff of the photoresist film. Therefore, it is possible to reduce the maintenance frequency of the circulation filter 27 caused by the fragments of the photoresist film. The stripping solution supplied from the supply tank 5 to the upper part of the processing tank 3 beyond the upper edge of the processing tank 3 descends from the upper side to the bottom surface of the substrate W, and fragments of the photoresist film peeled from the substrate W. Is smoothly discharged from the lower discharge port 15 on this descending flow.

また、回収槽7に大面積の捕捉部材8を備えるので、フォトレジスト被膜の破片が多い場合であっても、捕捉部材8の交換頻度を低減できる。   Moreover, since the collection tank 7 includes the large area capture member 8, the frequency of replacement of the capture member 8 can be reduced even when there are many pieces of photoresist coating.

なお、上記実施形態では、処理槽3への剥離液の供給は、供給槽5を介して行っていたが、これに代えて、スプレー配管21Sを通じてスプレーノズルSから行ってもよい。この場合、処理槽3に剥離液が満たされるまではQDR弁19を閉じておき、処理槽3に剥離液が満たされたときにQDR弁19を開き、スプレーノズルSからの剥離液の供給により剥離液を循環させることができ、この場合も、スプレーノズルSからの剥離液は処理槽3の上部に供給されるので、処理槽3内で基板Wの上方から底面に向かって下降し、基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片はこの下降する流れに乗って下方の排出口15から円滑に排出される。   In the above embodiment, the supply of the stripping solution to the treatment tank 3 is performed via the supply tank 5, but instead, it may be performed from the spray nozzle S through the spray pipe 21 </ b> S. In this case, the QDR valve 19 is closed until the processing tank 3 is filled with the stripping solution, and the QDR valve 19 is opened when the processing tank 3 is filled with the stripping liquid, and the stripping liquid is supplied from the spray nozzle S. The stripping solution can be circulated, and in this case, the stripping solution from the spray nozzle S is supplied to the upper portion of the processing tank 3, so that the substrate moves down from the upper side of the substrate W toward the bottom surface in the processing bath 3. The fragments of the photoresist film peeled from W are smoothly discharged from the lower discharge port 15 on this descending flow.

次に、図面を参照して本発明の実施例2を説明する。
図3は、実施例2に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。なお、上述した実施例1と同様の構成については同符号を付すことにより詳細な説明については省略する。
Next, Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is an overall view illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the second embodiment. In addition, about the structure similar to Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting a same sign.

本実施例は、処理部1Aが回収配管17に網状部材収納容器31を備えている点において大きく相違する。網状部材収納容器31は、回収配管17におけるQDR弁19より下流側に設けられている。   The present embodiment is greatly different in that the processing unit 1A includes a mesh member storage container 31 in the recovery pipe 17. The mesh member storage container 31 is provided downstream of the QDR valve 19 in the recovery pipe 17.

網状部材収納容器31は、下部に通常配管33と廃棄配管35とを備えている。通常配管33は、網状部材収納容器31の底面に一端側が連通接続され、他端側が捕捉部材8を介さずに回収槽7の底面に連通接続されている。また、廃棄配管35は、網状部材収納容器31の底面に一端側が連通接続され、他端側が回収槽7の捕捉部材8上面に連通接続されている。通常配管33は、処理液の流通を制御する制御弁37が設けられ、廃棄配管35は、処理液の流通を制御する制御弁39が設けられている。   The net-like member storage container 31 includes a normal pipe 33 and a disposal pipe 35 at the lower part. One end side of the normal pipe 33 is connected to the bottom surface of the mesh member storage container 31, and the other end side is connected to the bottom surface of the collection tank 7 without using the capture member 8. The disposal pipe 35 has one end connected to the bottom surface of the mesh member storage container 31 and the other end connected to the upper surface of the capture member 8 of the collection tank 7. The normal pipe 33 is provided with a control valve 37 that controls the flow of the processing liquid, and the disposal pipe 35 is provided with a control valve 39 that controls the flow of the processing liquid.

網状部材収納容器31は、回収配管内網状部材41を内部に設けられている。回収配管内網状部材41は、回収配管17を流下してくる処理液がほぼ垂直方向から当たる「捕捉姿勢」と「廃棄姿勢」の二つの姿勢をとる。捕捉姿勢は、例えば、剥離処理中や剥離処理終了後にフォトレジスト被膜の破片を含む剥離液が回収配管17に流通されている際に、回収配管17の上流側に一方面43が向けられた姿勢である。また、廃棄姿勢は、例えば、剥離処理終了後に、フォトレジスト被膜の破片を含まない剥離液や洗浄液、または、フォトレジスト被膜の破片を含む剥離液が回収配管17に流通されている際に、回収配管17の下流側に一方面43が向けられた姿勢である。   The mesh member storage container 31 is provided with a mesh member 41 in the recovery pipe. The net member 41 in the recovery pipe takes two postures of “capturing posture” and “discarding posture” where the processing liquid flowing down the recovery pipe 17 hits from a substantially vertical direction. The trapping posture is, for example, a posture in which one surface 43 is directed to the upstream side of the recovery pipe 17 when a stripping solution containing fragments of the photoresist film is circulated through the recovery pipe 17 during or after the stripping process. It is. In addition, the disposal posture is, for example, recovered when a stripping solution or cleaning solution that does not include photoresist coating fragments or a stripping solution that includes photoresist coating fragments is distributed to the recovery pipe 17 after the stripping process is completed. In this posture, the one surface 43 is directed to the downstream side of the pipe 17.

網状部材収納容器31は、駆動部47を備えている。この駆動部47は、回収配管内網状部材41を回転駆動するものであり、上述した二つの姿勢に回収配管内網状部材41を駆動する。この駆動部47は、制御部29によって操作される。   The mesh member storage container 31 includes a drive unit 47. The drive unit 47 drives the mesh member 41 in the recovery pipe to rotate, and drives the mesh member 41 in the recovery pipe in the two positions described above. The drive unit 47 is operated by the control unit 29.

ここで図4及び図5を参照して、上述した装置の動作について説明する。図4は、捕捉姿勢とされた状態を示す縦断面図であり、図5は、廃棄姿勢とされた状態を示す縦断面図である。なお、既にリフタ9が複数枚の基板Wとともに処理位置に位置しており、回収配管内網状部材41の一方面43が上流側に向けられた捕捉姿勢とされているものとする。また、制御弁37は開放され、制御弁39は閉止されているものとする。   Here, with reference to FIG.4 and FIG.5, the operation | movement of the apparatus mentioned above is demonstrated. FIG. 4 is a longitudinal sectional view showing a state in which the capturing posture is set, and FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a state in which the holding posture is set. It is assumed that the lifter 9 is already positioned at the processing position together with the plurality of substrates W, and the one surface 43 of the net member 41 in the recovery pipe is in the capturing posture directed toward the upstream side. Further, it is assumed that the control valve 37 is opened and the control valve 39 is closed.

この状態では、処理槽3の基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片ffが剥離液とともに回収配管17に排出されている(図4)。剥離液中のフォトレジスト被膜の破片ffは、回収配管内網状部材41の一方面43に捕捉され、回収槽7には排出されない。回収槽7に排出された、フォトレジスト被膜の破片ffを含まない剥離液は、循環ポンプ23で吸い上げられて供給槽5に再び供給される。   In this state, the fragments ff of the photoresist film peeled from the substrate W in the processing tank 3 are discharged to the recovery pipe 17 together with the stripping solution (FIG. 4). Fragments ff of the photoresist film in the stripping solution are captured by one surface 43 of the net member 41 in the recovery pipe and are not discharged to the recovery tank 7. The stripping solution that does not contain the photoresist coating fragments ff discharged to the collection tank 7 is sucked up by the circulation pump 23 and supplied to the supply tank 5 again.

剥離処理を終えた後、リフタ9を待機位置に上昇させ、次の複数枚の基板Wとリフタ9に保持させる。そして、次の複数枚の基板Wをリフタ9とともに処理位置に位置させるまでに、制御部29は、駆動部47を操作して回収配管内網状部材41を回転させて廃棄姿勢にさせる。そして、制御弁37を閉止させ制御弁39を開放させた後、循環ポンプ23を作動させて剥離液を回収配管17に剥離液を流通させる(図5)。これにより、回収配管内網状部材41の一方面43に捕捉されていたフォトレジスト被膜の破片ffが回収槽7に排出される。回収槽7は、捕捉部材8を備えているので、そのフォトレジスト被膜の破片ffは回収槽7の剥離液には混入しない。   After the peeling process is finished, the lifter 9 is raised to the standby position and held on the next plurality of substrates W and the lifter 9. Then, until the next plurality of substrates W are positioned at the processing position together with the lifter 9, the control unit 29 operates the driving unit 47 to rotate the net member 41 in the recovery pipe to the disposal posture. Then, after closing the control valve 37 and opening the control valve 39, the circulating pump 23 is operated to allow the stripping liquid to flow through the recovery pipe 17 (FIG. 5). As a result, the fragments ff of the photoresist film captured on the one surface 43 of the net member 41 in the recovery pipe are discharged to the recovery tank 7. Since the collection tank 7 includes the capture member 8, the photoresist coating fragments ff are not mixed into the stripping solution in the collection tank 7.

回収配管内網状部材41のフォトレジスト被膜の破片ffが廃棄された後、制御弁37を開放させ、制御弁39を閉止させて次の複数枚の基板Wに対して剥離処理を行わせる(図4)。   After the fragments ff of the photoresist coating on the net member 41 in the recovery pipe are discarded, the control valve 37 is opened and the control valve 39 is closed to perform the peeling process on the next plurality of substrates W (FIG. 4).

本実施例によると、制御部29は、処理槽3に貯留する剥離液を回収槽7に排出させる際には、回収配管内網状部材41を捕捉姿勢にさせるとともに、網状部材収納容器31の流路を通常配管33に切り替えさせる。これにより、回収槽7に排出される剥離液のフォトレジスト被膜の破片を回収配管内網状部材41で捕捉させることができる。さらに、回収配管内網状部材41に捕捉されたフォトレジスト被膜の破片を廃棄させる際には、回収配管内網状部材41を廃棄姿勢にさせるとともに、網状部材収納容器31の流路を廃棄配管35に切り替えさせる。これにより、回収配管内網状部材41で捕捉されたフォトレジスト被膜の破片を回収槽7の捕捉部材8で回収させることができるので、回収配管内網状部材41のメンテナンスを容易に行うことができる。   According to the present embodiment, when the controller 29 discharges the stripping solution stored in the processing tank 3 to the recovery tank 7, the control unit 29 brings the net member 41 in the recovery pipe into the capturing posture and the flow of the net member storage container 31. The road is switched to the normal pipe 33. Thereby, the debris of the photoresist film of the stripping solution discharged into the collection tank 7 can be captured by the net member 41 in the collection pipe. Further, when discarding fragments of the photoresist film captured by the net member 41 in the recovery pipe, the net member 41 in the recovery pipe is set to the discarding posture, and the flow path of the net member storage container 31 is connected to the waste pipe 35. Let them switch. Thereby, the fragments of the photoresist film captured by the collection pipe net member 41 can be collected by the collection member 8 of the collection tank 7, so that the maintenance of the collection pipe net member 41 can be easily performed.

なお、この実施形態においては、捕捉部材8とともに、上述した網状部材収納容器31内の回収配管内網状部材41が本発明における「捕捉手段」に相当するが、必ずしもこのように2種の捕捉手段を設ける必要はない。   In this embodiment, the net member 41 in the collection pipe in the above-described mesh member storage container 31 together with the capturing member 8 corresponds to the “capturing unit” in the present invention. There is no need to provide.

すなわち、フォトレジスト被膜の破片は、網状部材収納容器31内の回収配管内網状部材41によって捕捉されているのであるから、廃棄配管35を回収槽7へ接続するのではなく、フォトレジスト被膜の破片を回収廃棄するための機構、例えばフォトレジスト被膜回収専用の廃棄容器(図示せず)を設けて接続することもできる。このようにすれば、比較的小さい回収配管内網状部材41を設けてメンテナンスを行うことで、回収槽7の開口部に比較的大きな捕捉部材8を取り付ける必要がなくなる。このようにした場合には、網状部材収納容器31内の回収配管内網状部材41が本発明における「捕捉手段」に相当する。   That is, since the debris of the photoresist film is captured by the net member 41 in the collection pipe in the net-like member storage container 31, the debris of the photoresist film is not connected to the collection tank 7 but the waste pipe 35 is connected. It is also possible to provide and connect a mechanism for recovering and discarding the film, for example, a waste container (not shown) dedicated to recovering the photoresist film. In this way, it is not necessary to attach a relatively large capture member 8 to the opening of the collection tank 7 by providing a relatively small collection pipe inner net member 41 and performing maintenance. In such a case, the net member 41 in the recovery pipe in the net member storage container 31 corresponds to the “capturing means” in the present invention.

次に、図面を参照して本発明の実施例3を説明する。
図6は、実施例3に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。なお、上述した実施例1,2と同様の構成については同符号を付すことにより詳細な説明については省略する。なお、この実施例3においても、スプレーノズルSおよびそれに付随する配管等は設けられていないが、実施例1、2と同様にスプレーノズルSを設けてもよい。
Next, Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 6 is an overall view illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the third embodiment. In addition, about the structure similar to Example 1, 2 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting a same sign. In the third embodiment, the spray nozzle S and the piping associated therewith are not provided, but the spray nozzle S may be provided as in the first and second embodiments.

処理部1Bは、回収配管17に回収配管内収納容器31Aを備えている。この回収配管内収納容器31Aは、下部に通常配管33を備え、側面に廃棄配管35を備えている。通常配管33は、網状部材収納容器31の底面に一端側が連通接続され、他端側が回収槽7の底部近傍に連通接続されている。また、廃棄配管35は、網状部材収納容器31Aの側面に一端側が開口し、他端側が真空ポンプ49に連通接続されている。廃棄配管35は、真空吸引を操作する制御弁39を設けられている。また、通常配管33は、制御弁37の上流側に三方弁51が設けられている。三方弁51は、回収槽7側と大気開放側とを切り替える。大気開放側の配管はバルブ19よりも上方まで延びている。   The processing unit 1B includes a collection pipe storage container 31A in the collection pipe 17. The collection pipe storage container 31A includes a normal pipe 33 at a lower portion and a disposal pipe 35 on a side surface. The normal pipe 33 has one end connected to the bottom surface of the mesh member storage container 31 and the other end connected to the vicinity of the bottom of the collection tank 7. The disposal pipe 35 has one end opened on the side surface of the mesh member storage container 31 </ b> A and the other end connected to the vacuum pump 49. The disposal pipe 35 is provided with a control valve 39 for operating vacuum suction. Further, the normal pipe 33 is provided with a three-way valve 51 on the upstream side of the control valve 37. The three-way valve 51 switches between the collection tank 7 side and the atmosphere release side. The piping on the atmosphere opening side extends to above the valve 19.

なお、上述した真空ポンプ49が本発明における「吸引手段」に相当する。   The vacuum pump 49 described above corresponds to the “suction unit” in the present invention.

網状部材収納容器31Aは、回収配管内網状部材41Aが内部に設けられている。回収配管内網状部材41Aは、その一端側が低くなるように傾斜させて設けられ、当該一端側が廃棄配管35の下端部に位置するように取り付け固定されている。その一端側が低くなるように傾斜させて設けられ、当該一端側が廃棄配管35の下端部に位置するように取り付け固定されている。   The net-like member storage container 31A is provided with a net-like member 41A within the recovery pipe. The collection pipe inner net member 41A is provided to be inclined so that one end side thereof is lowered, and is attached and fixed so that the one end side is located at the lower end portion of the disposal pipe 35. The one end side is provided so as to be lowered, and the one end side is attached and fixed so as to be located at the lower end portion of the disposal pipe 35.

ここで図7及び図8を参照して、上述した装置の動作について説明する。図7は、処理中にフォトレジストの被膜を捕捉している状態を示す縦断面図であり、図8は、処理後にフォトレジストの被膜を廃棄している状態を示す縦断面図である。なお、既にリフタ9が複数枚の基板Wとともに処理位置に位置しているものとする。また、制御弁37は開放され、三方弁51は回収槽7側に開放されているものとする。   Here, the operation of the above-described apparatus will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a longitudinal sectional view showing a state where a photoresist film is captured during processing, and FIG. 8 is a longitudinal sectional view showing a state where the photoresist film is discarded after processing. It is assumed that the lifter 9 is already positioned at the processing position together with the plurality of substrates W. Further, it is assumed that the control valve 37 is opened and the three-way valve 51 is opened to the collection tank 7 side.

この実施例では、剥離液を循環させると、処理槽3の基板Wから剥離したフォトレジスト被膜の破片ffが剥離液とともに回収配管17に排出されている(図7)。剥離液中のフォトレジスト被膜の破片ffは、回収配管内網状部材41Aの上面で捕捉され、回収槽7には排出されない。すなわち、回収配管内網状部材41Aが本発明における「捕捉手段」に相当する。回収配管内網状部材41Aの上面でフォトレジスト被膜の破片ffが除去された剥離液は、回収配管内網状部材41Aを通過して回収槽7に排出される。回収槽7に排出された、フォトレジスト被膜の破片ffを含まない剥離液は、循環ポンプ23で吸い上げられて供給槽5に再び供給される。   In this embodiment, when the stripping solution is circulated, the fragments ff of the photoresist film stripped from the substrate W in the processing tank 3 are discharged together with the stripping solution to the recovery pipe 17 (FIG. 7). Fragments ff of the photoresist film in the stripping solution are captured on the upper surface of the net member 41 </ b> A in the recovery pipe and are not discharged to the recovery tank 7. That is, the net member 41A in the recovery pipe corresponds to the “capturing means” in the present invention. The stripping solution from which the debris ff of the photoresist film has been removed on the upper surface of the collection pipe net member 41A passes through the collection pipe net member 41A and is discharged to the collection tank 7. The stripping solution that does not contain the photoresist coating fragments ff discharged to the collection tank 7 is sucked up by the circulation pump 23 and supplied to the supply tank 5 again.

剥離処理を終えた後、リフタ9を待機位置に上昇させ、次の複数枚の基板Wをリフタ9に保持させる。そして、次の複数枚の基板Wをリフタ9とともに処理位置に位置させるまでに、制御部29は、QDR弁19と制御弁37を閉止させる。そして、三方弁51を大気開放側にさせた後、制御弁39を開放させるとともに真空ポンプ49を作動させる(図8)。これにより、回収配管内網状部材41Aの上面に捕捉されていたフォトレジスト被膜の破片ffが廃棄配管35を介して真空吸引されて排出される。回収配管内網状部材41Aの上面で捕捉されたフォトレジスト被膜の破片ffは、回収配管内網状部材41Aが傾斜して設けられているために、真空吸引がされる以前からその傾斜にそって廃棄配管35側に集まりやすくなっており、円滑に排出される。   After finishing the peeling process, the lifter 9 is raised to the standby position, and the next plurality of substrates W are held on the lifter 9. Then, the controller 29 closes the QDR valve 19 and the control valve 37 until the next plurality of substrates W are positioned in the processing position together with the lifter 9. Then, after making the three-way valve 51 open to the atmosphere, the control valve 39 is opened and the vacuum pump 49 is operated (FIG. 8). As a result, the fragments ff of the photoresist film captured on the upper surface of the net member 41 </ b> A in the recovery pipe are vacuumed and discharged through the waste pipe 35. Photoresist film fragments ff captured on the upper surface of the collection pipe inner net member 41A are disposed along the inclination before vacuum suction since the collection pipe inner net member 41A is inclined. It is easy to gather on the pipe 35 side and is smoothly discharged.

回収配管内網状部材41Aのフォトレジスト被膜の破片ffが除去された後、三方弁51を回収槽7側にさせるとともに制御弁37を開放させ、次の複数枚の基板Wに対して剥離処理を行わせる(図7)。   After the debris ff of the photoresist coating on the collection pipe net member 41A is removed, the three-way valve 51 is moved to the collection tank 7 side and the control valve 37 is opened, and the next plurality of substrates W are peeled off. Perform (FIG. 7).

本実施例によると、制御部29は、処理槽3に貯留する剥離液を回収槽7に排出させる際には、回収配管内網状部材41Aを捕捉姿勢にさせる。これにより、回収槽7に排出される剥離液中のフォトレジスト被膜の破片ffを回収配管内網状部材41Aで捕捉させることができる。さらに、回収配管内網状部41Aに捕捉されたフォトレジスト被膜の破片ffを廃棄させる際には、回収配管内網状部材41Aを廃棄姿勢にさせるとともに、真空ポンプ49を作動させる。これにより、回収配管内網状部材41Aで捕捉されたフォトレジスト被膜の破片ffを真空ポンプ49で回収させることができるので、回収配管内網状部材41Aのメンテナンスを容易に行うことができる。   According to the present embodiment, when the controller 29 discharges the stripping solution stored in the processing tank 3 to the recovery tank 7, the controller 29 brings the net member 41 </ b> A in the recovery pipe into the capturing posture. Thereby, the debris ff of the photoresist film in the stripping solution discharged to the collection tank 7 can be captured by the collection pipe net member 41A. Furthermore, when discarding the fragments ff of the photoresist film captured by the net part 41A in the recovery pipe, the net member 41A in the recovery pipe is put into the discarding posture and the vacuum pump 49 is operated. Thereby, the fragments ff of the photoresist film captured by the net member 41A in the recovery pipe can be recovered by the vacuum pump 49, so that the maintenance of the net member 41A in the recovery pipe can be easily performed.

なお、この実施例では回収配管内網状部材41Aを固定的に設けているが、実施例2のように回収配管内網状部材41Aに対して実施例2と同様に駆動部を設けて、回動可能に設けて、制御部により制御してもよい。この場合、回収配管17を流下してくる処理液がほぼ垂直方向から当たる「捕捉姿勢」と、捕捉姿勢から廃棄配管35側に傾斜して廃棄配管35と連通する「廃棄姿勢」の二つの姿勢をとるように制御すればよい。   In this embodiment, the net member 41A in the recovery pipe is fixedly provided. However, as in the second embodiment, the drive member is provided on the net member 41A in the recovery pipe in the same manner as in the second embodiment, so that it can be rotated. It may be provided and controlled by the control unit. In this case, there are two postures: a “capturing posture” in which the processing liquid flowing down the recovery pipe 17 hits from a substantially vertical direction, and a “discarding posture” that is inclined from the capturing posture toward the disposal piping 35 and communicates with the disposal piping 35. It may be controlled to take.

次に、図面を参照して本発明の実施例4を説明する。
図9は、実施例4に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。なお、上述した実施例1と同様の構成については同符号を付すことにより詳細な説明については省略する。
Next, Embodiment 4 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 9 is an overall view illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the fourth embodiment. In addition, about the structure similar to Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting a same sign.

本実施例の処理部1Cは、処理槽3の上部に開閉自在の加圧機構53を備えている。この加圧機構53は、処理槽3の上縁に密着して処理槽3の内部を閉塞する閉塞蓋55と、閉塞蓋55に取り付けられた開閉アーム57と、開閉アーム57を揺動駆動する駆動部59と、閉塞蓋55と処理槽3の液面間を加圧するための窒素ガスを供給する加圧ノズル61と、加圧ノズル61に加圧された窒素ガスを供給するガス供給管63と、ガス供給管63のガス供給を操作する制御弁65とを備えている。   The processing unit 1 </ b> C of the present embodiment includes a pressurizing mechanism 53 that can be opened and closed at the top of the processing tank 3. The pressurizing mechanism 53 is in close contact with the upper edge of the processing tank 3 to close the inside of the processing tank 3, the open / close arm 57 attached to the close lid 55, and the open / close arm 57. A driving unit 59, a pressurizing nozzle 61 for supplying nitrogen gas for pressurizing the liquid level between the closing lid 55 and the processing tank 3, and a gas supply pipe 63 for supplying nitrogen gas pressurized to the pressurizing nozzle 61. And a control valve 65 for operating the gas supply of the gas supply pipe 63.

閉塞蓋55は、開閉アーム57の一端側が上面に連結されている。開閉アーム57の他端側は、駆動部59に取り付けられている。駆動部59は、制御部29により操作される。駆動部59が閉止動作されると、図9に実線で示すように閉塞蓋55が加圧位置に移動され、処理槽3の上縁に密着される。一方、駆動部59が開放動作されると、図9に二点鎖線で示すように閉塞蓋55が待避位置に移動され、処理槽3の上縁から大きく離間して、昇降するリフタ9と干渉しない位置にまで待避する。制御弁65が開放されると、加圧された窒素ガスがガス供給管63を介して加圧ノズル61に供給される。加圧ノズル61は、閉塞蓋55の下面から処理槽3の液面に向かって、加圧された窒素ガスを供給する。   The closing lid 55 has one end of an opening / closing arm 57 connected to the upper surface. The other end side of the opening / closing arm 57 is attached to the drive unit 59. The drive unit 59 is operated by the control unit 29. When the drive unit 59 is closed, the closing lid 55 is moved to the pressurizing position as shown by a solid line in FIG. On the other hand, when the drive unit 59 is opened, the closing lid 55 is moved to the retracted position as shown by a two-dot chain line in FIG. 9 and is greatly separated from the upper edge of the processing tank 3 and interferes with the lifter 9 that moves up and down. Retreat to the position where you do not. When the control valve 65 is opened, pressurized nitrogen gas is supplied to the pressurizing nozzle 61 via the gas supply pipe 63. The pressurizing nozzle 61 supplies pressurized nitrogen gas from the lower surface of the closing lid 55 toward the liquid surface of the processing tank 3.

なお、上述した加圧機構53が本発明における「加圧手段」に相当する。   The pressurizing mechanism 53 described above corresponds to the “pressurizing means” in the present invention.

この実施例では、剥離処理中には閉塞蓋55を待避位置に移動させておき、リフタ9を処理位置に移動させて剥離処理を行わせる。そして、その際に剥離液に混入したフォトレジスト被膜の破片は、回収槽7の捕捉部材8によって捕捉される。剥離処理を終え、リフタ9を待機位置に上昇させた後、処理槽3に滞留する剥離液を回収槽7に排出させる。その際には、処理槽3の底部にフォトレジスト被膜の破片が堆積している恐れがある。したがって剥離液の排出が円滑に行われない場合がある。そこで、一旦QDR弁19を閉止させ、閉塞蓋55を加圧位置に移動させ、制御弁65を開放させて加圧ノズル61から窒素ガスを供給させる。そして、所定時間が経過して処理槽3内の圧力が所定値以上になった時点で、QDR弁19を開放させる。これにより処理槽3内の剥離液が加圧排液されるので、フォトレジスト被膜の破片が処理槽3内に大量に残留していたとしても、円滑に剥離液を回収槽7に排出させることができる。   In this embodiment, during the peeling process, the closing lid 55 is moved to the retracted position, and the lifter 9 is moved to the processing position to perform the peeling process. At this time, fragments of the photoresist film mixed in the stripping solution are captured by the capturing member 8 of the recovery tank 7. After the stripping process is completed and the lifter 9 is raised to the standby position, the stripping liquid staying in the processing tank 3 is discharged to the collection tank 7. At that time, there is a possibility that fragments of the photoresist film are deposited on the bottom of the processing tank 3. Therefore, the stripping solution may not be discharged smoothly. Therefore, the QDR valve 19 is once closed, the closing lid 55 is moved to the pressurizing position, the control valve 65 is opened, and nitrogen gas is supplied from the pressurizing nozzle 61. Then, when the predetermined time elapses and the pressure in the processing tank 3 becomes a predetermined value or more, the QDR valve 19 is opened. As a result, the stripping solution in the processing tank 3 is discharged under pressure, so that even if a large amount of fragments of the photoresist film remain in the processing tank 3, the stripping solution can be smoothly discharged to the recovery tank 7. it can.

なお、上述した処理部1Cの全体を囲うチャンバを備え、上述した閉塞蓋55でチャンバの上部を閉塞し、供給槽5を含む処理槽3の全体を加圧するように構成してもよい。   In addition, the chamber which surrounds the whole process part 1C mentioned above may be provided, the upper part of a chamber may be obstruct | occluded with the closure lid | cover 55 mentioned above, and the whole process tank 3 containing the supply tank 5 may be pressurized.

次に、図面を参照して本発明の実施例5を説明する。
図10は、実施例5に係る基板処理装置の要部を示す図である。なお、以下の説明においては回収配管17Aの下部の構成のみを説明する。その他の構成は、例えば実施例1と同様である。
Next, Embodiment 5 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 10 is a diagram illustrating a main part of the substrate processing apparatus according to the fifth embodiment. In the following description, only the configuration of the lower part of the recovery pipe 17A will be described. Other configurations are the same as those of the first embodiment, for example.

本実施例は、回収配管17Aが上述した各実施例と相違する。具体的には、回収配管17Aは、回収槽7側の端部が例えば3本に分岐されている。つまり、第1の回収配管67と、第2の回収配管68と、第3の回収配管69とに分岐され、網状部材8の面方向にそれぞれ離間して配置されている。各回収配管67〜69は、それぞれ制御弁71〜73を設けられている。各制御弁71〜73は、第1の回収配管67〜第3の回収配管69における処理液の流通を制御する。   In the present embodiment, the recovery pipe 17A is different from the above-described embodiments. Specifically, the recovery pipe 17A has, for example, three branches on the recovery tank 7 side. That is, the first recovery pipe 67, the second recovery pipe 68, and the third recovery pipe 69 are branched and arranged separately in the surface direction of the mesh member 8. Each recovery pipe 67-69 is provided with control valves 71-73, respectively. Each control valve 71 to 73 controls the flow of the processing liquid in the first recovery pipe 67 to the third recovery pipe 69.

上記の構成によると、図10に示すように、フォトレジスト被膜の破片ffが捕捉部材8の複数箇所に分散して排出されるので、捕捉部材8のメンテナンス頻度を低減できる。   According to the above configuration, as shown in FIG. 10, the fragments of the photoresist film ff are dispersed and discharged at a plurality of locations on the capturing member 8, so that the maintenance frequency of the capturing member 8 can be reduced.

上述した実施例では、回収配管71Aを3本に分岐させているが、少なくとも2本の分岐であってもよい。また、4本以上の分岐としてもよい。   In the embodiment described above, the recovery pipe 71A is branched into three, but may be at least two branches. Moreover, it is good also as four or more branches.

次に、図面を参照して本発明の実施例6を説明する。
図11は、実施例6に係る基板処理装置の要部を示す図である。なお、以下の説明においては回収槽7Aの構成のみを説明する。そのほかの構成は、例えば実施例1と同様である。
Next, Embodiment 6 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 11 is a diagram illustrating a main part of the substrate processing apparatus according to the sixth embodiment. In the following description, only the configuration of the collection tank 7A will be described. Other configurations are the same as those of the first embodiment, for example.

本実施例は、回収槽7Aが上述した各実施例と相違する。具体的には、捕捉部材8Aが回収槽7Aにおいて水平方向に移動可能に構成されている。回収槽7Aは、捕捉部材8Aを回収槽7Aの開口部内で水平方向に案内させるガイド部75と、捕捉部材8Aの縁部に連結され、捕捉部材8Aを水平方向に進退させる駆動部77とを備えている。駆動部77は、電動モータ79と、ボールねじ81とを備えている。この駆動部77は、制御部29によって操作される。   This embodiment is different from each embodiment described above with respect to the recovery tank 7A. Specifically, the capturing member 8A is configured to be movable in the horizontal direction in the collection tank 7A. The collection tank 7A includes a guide part 75 that guides the capture member 8A in the horizontal direction within the opening of the collection tank 7A, and a drive part 77 that is connected to the edge of the capture member 8A and advances and retracts the capture member 8A in the horizontal direction. I have. The drive unit 77 includes an electric motor 79 and a ball screw 81. The drive unit 77 is operated by the control unit 29.

なお、上述した駆動部77が本発明における「面方向駆動手段」に相当する。   The driving unit 77 described above corresponds to the “surface direction driving unit” in the present invention.

本実施例によると、制御部29は、駆動部77により捕捉部材8Aを面方向に移動させるので、フォトレジスト被膜の破片ffが捕捉部材8Aの一箇所に集中することなく分散させることができる。したがって、捕捉部材8Aのメンテナンス頻度を低減できる。   According to the present embodiment, the control unit 29 moves the capturing member 8A in the surface direction by the driving unit 77, so that the fragments ff of the photoresist film can be dispersed without concentrating on one portion of the capturing member 8A. Therefore, the maintenance frequency of the capturing member 8A can be reduced.

上述した実施例では、駆動部77を電動モータ79とボールねじ81とで構成しているが、本発明の面方向駆動手段はこのような構成に限定されない。例えば、無端ベルトの一部位を捕捉部材8Aに係止させ、主動プーリで無端ベルトを回転させることにより、捕捉部材8Aを移動させるようにしてもよい。   In the embodiment described above, the drive unit 77 is constituted by the electric motor 79 and the ball screw 81, but the surface direction drive means of the present invention is not limited to such a configuration. For example, one part of the endless belt may be locked to the capturing member 8A, and the capturing member 8A may be moved by rotating the endless belt with the main pulley.

次に、図面を参照して本発明の実施例7を説明する。
図12は、実施例7に係る基板処理装置の要部を示す図である。
Next, Embodiment 7 of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 12 is a diagram illustrating a main part of the substrate processing apparatus according to the seventh embodiment.

本実施例は、回収槽7Bが上述した各実施例と相違する。具体的には、回収槽7Bは、回収槽7Bに隣接した位置に洗浄部85を備え、その境界に仕切り部材87を備えている。洗浄部85は、捕捉部材8Bで捕捉されたフォトレジスト被膜の破片ffを洗浄除去する。   This embodiment is different from the above-described embodiments in which the collection tank 7B is described above. Specifically, the collection tank 7B includes a cleaning unit 85 at a position adjacent to the collection tank 7B, and a partition member 87 at the boundary thereof. The cleaning unit 85 cleans and removes the fragments ff of the photoresist film captured by the capturing member 8B.

捕捉部材8Bは、無端状に形成されている。捕捉部材8Bは、回収槽7Bから洗浄部85にわたって延出されている。捕捉部材8Bのうち、洗浄部85に位置する上部内周面には、主動プーリ89が配置されている。また、主動プーリ89の下方には、内周面に当接する従動プーリ91が配置され、仕切り部材87の上部には、捕捉部材8Bの外周面に当接する従動プーリ93が配置され、主動プーリ89とほぼ同じ高さ位置であって供給配管21側には、従動プーリ95が配置されている。回収配管17の下方では、捕捉部材8Bが水平姿勢となっている。この構成により、主動プーリ89を駆動すると、捕捉部材8Bが反時計回りに回転される。主動プーリ89の回転は、制御部29によって操作される。   The capturing member 8B is formed in an endless shape. The capturing member 8B extends from the recovery tank 7B over the cleaning unit 85. A main driving pulley 89 is disposed on the upper inner peripheral surface of the capturing member 8B located in the cleaning unit 85. A driven pulley 91 that contacts the inner peripheral surface is disposed below the main driving pulley 89, and a driven pulley 93 that contacts the outer peripheral surface of the capturing member 8 </ b> B is disposed above the partition member 87. A driven pulley 95 is disposed on the supply pipe 21 side at substantially the same height position as in FIG. Below the recovery pipe 17, the capture member 8B is in a horizontal posture. With this configuration, when the main driving pulley 89 is driven, the capturing member 8B is rotated counterclockwise. The rotation of the main pulley 89 is operated by the control unit 29.

また、洗浄部85は、従動プーリ91と従動プーリ93との間にあたる内周側に、シャワーノズル97を備えている。このシャワーノズル97は、捕捉部材8Bの内周面から外周面に向かって洗浄液を噴射する。このシャワーノズル97による洗浄液の噴射は、制御部29によって制御される。   In addition, the cleaning unit 85 includes a shower nozzle 97 on the inner peripheral side between the driven pulley 91 and the driven pulley 93. The shower nozzle 97 injects the cleaning liquid from the inner peripheral surface of the capturing member 8B toward the outer peripheral surface. The spray of the cleaning liquid by the shower nozzle 97 is controlled by the control unit 29.

なお、上述した主動プーリ89が本発明における「駆動手段」に相当し、従動プーリ91,93,95が本発明における「案内部材」に相当する。また、シャワーノズル97が本発明における「洗浄手段」に相当する。   The above-described main driving pulley 89 corresponds to “driving means” in the present invention, and the driven pulleys 91, 93, and 95 correspond to “guide members” in the present invention. The shower nozzle 97 corresponds to the “cleaning means” in the present invention.

制御部29は、主動プーリ89により捕捉部材8Bを従動プーリ91,93,95に沿って移動させるので、回収配管17から排出されたフォトレジスト被膜の破片被膜の破片ffを分散させることができる。したがって、捕捉部材8Bのメンテナンス頻度を低減できる。   Since the control unit 29 moves the capturing member 8B along the driven pulleys 91, 93, and 95 by the main pulley 89, the debris ff of the debris film of the photoresist film discharged from the recovery pipe 17 can be dispersed. Therefore, the maintenance frequency of the capture member 8B can be reduced.

また、捕捉部材8Bに対して、回収槽7Bから外れた洗浄部85においてシャワーノズル97により内面から外面に向かって洗浄液を供給することができる。したがって、捕捉部材8Bに堆積したフォトレジスト被膜の破片ffを除去することができるので、メンテナンス頻度を低減できる。   In addition, the cleaning liquid can be supplied from the inner surface toward the outer surface by the shower nozzle 97 in the cleaning unit 85 detached from the collection tank 7B. Therefore, since the fragments ff of the photoresist film deposited on the capturing member 8B can be removed, the maintenance frequency can be reduced.

次に、図面を参照して本発明の実施例8を説明する。
図13は、実施例8に係る基板処理装置の概略構成を示す全体図である。なお、上述した実施例1と同様の構成については同符号を付すことにより詳細な説明については省略する。
Next, an eighth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 13 is an overall view illustrating a schematic configuration of the substrate processing apparatus according to the eighth embodiment. In addition, about the structure similar to Example 1 mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting a same sign.

本実施例は、処理部1AがスプレーノズルSおよびそれに付随する配管等を備えていない点、および、真空タンクVTおよびそれに付随する配管等を備えている点において大きく相違する。   The present embodiment is greatly different in that the processing unit 1A is not provided with the spray nozzle S and piping associated therewith, and the vacuum tank VT and piping associated therewith are provided.

排出口15から回収配管17と分岐した真空配管17Vには、弁19V、真空タンクVT、弁39Vがこの順序で接続されており、真空配管17Vの先端は、回収配管17の先端と同様に、回収槽7の開口を覆う捕捉部材8の上に位置して開口している。また真空タンクVTには一端が開放された配管100が接続され、真空タンクVTから弁101、真空ポンプ102がこの順序で接続されている。各弁19V、39V、101や真空ポンプ102の動作は制御部29により制御される。   A valve 19V, a vacuum tank VT, and a valve 39V are connected in this order to the vacuum pipe 17V branched from the discharge port 15 to the recovery pipe 17, and the tip of the vacuum pipe 17V is the same as the tip of the recovery pipe 17, An opening is located on the capturing member 8 that covers the opening of the collection tank 7. A pipe 100 having one end opened is connected to the vacuum tank VT, and a valve 101 and a vacuum pump 102 are connected in this order from the vacuum tank VT. The operations of the valves 19V, 39V, 101 and the vacuum pump 102 are controlled by the control unit 29.

ここで図13を参照して、上述した装置の動作について説明する。剥離処理中においては弁19V、弁39V、弁101は閉じており、弁19が開放されて、実施例と同様に剥離液が循環している。このとき、剥離液に混入しているフォトレジスト被膜の破片ffは、捕捉部材8によって捕捉される。そして、剥離処理中の適当なタイミングで弁101が開かれるとともに、真空ポンプ102が駆動され、真空タンクVTの内部を所定の圧力まで減圧する。真空タンクVT内の圧力が所定の圧力まで減圧されると、弁101が閉じられる。そして、剥離処理が終了すると、弁19が閉じられて弁19Vが開かれる。このとき、真空タンクVT内部は減圧されているので、処理槽3内の剥離液は、自重に加えて真空タンクVT内の減圧状態によって、真空タンクVT内に高速で吸引され流れ込む。このような剥離液の高速の流れによる排出によって、処理槽3の剥離液に混在しているフォトレジストの被膜の破片を強力に吸引排出し、より良好に排出できる。そして次回の処理を行う際には、処理槽3内に残留するフォトレジスト被膜の量を減少させて、より良好に処理することができる。   Here, the operation of the above-described apparatus will be described with reference to FIG. During the peeling process, the valve 19V, the valve 39V, and the valve 101 are closed, the valve 19 is opened, and the peeling liquid is circulated as in the embodiment. At this time, the fragments ff of the photoresist film mixed in the stripping solution are captured by the capturing member 8. Then, the valve 101 is opened at an appropriate timing during the peeling process, and the vacuum pump 102 is driven to depressurize the inside of the vacuum tank VT to a predetermined pressure. When the pressure in the vacuum tank VT is reduced to a predetermined pressure, the valve 101 is closed. When the peeling process ends, the valve 19 is closed and the valve 19V is opened. At this time, since the inside of the vacuum tank VT is depressurized, the stripping solution in the processing tank 3 is sucked and flows into the vacuum tank VT at a high speed due to the reduced pressure state in the vacuum tank VT in addition to its own weight. By such discharge of the stripping solution due to the high-speed flow, fragments of the photoresist film mixed in the stripping solution of the processing tank 3 can be strongly sucked and discharged, and can be discharged better. And when performing the next process, the quantity of the photoresist film which remains in the processing tank 3 can be reduced, and it can process more favorably.

なお、この実施例8は上述した実施例1に真空タンクVTおよびそれに付随する配管等を付加して構成したが、上述した他の実施例2から7に同様に適用することもできる。例えば実施例4に対しては、排出口15以下の配管系をこの実施例8と同様に構成すればよく、また実施例2に対しては排出口15と弁19の間の配管系をこの実施例8と同様に構成すればよい。また、上述した実施例2から実施例8においてはスプレーノズルSおよびそれに付随する配管等は設けられていないが、実施例1と同様にスプレーノズルSを設けてもよい。   Although the eighth embodiment is configured by adding the vacuum tank VT and the piping accompanying the same to the first embodiment described above, it can be similarly applied to the second to seventh embodiments described above. For example, for Example 4, the piping system below the outlet 15 may be configured in the same manner as in Example 8, and for Example 2, the piping system between the outlet 15 and the valve 19 may be configured as follows. What is necessary is just to comprise similarly to Example 8. Further, in the above-described second to eighth embodiments, the spray nozzle S and the pipes associated therewith are not provided, but the spray nozzle S may be provided as in the first embodiment.

W … 基板
1 … 処理部
3 … 処理槽
5 … 供給槽
7 … 回収槽
9 … リフタ
15 … 排出口
17 … 回収配管
19 … QDR弁
21 … 供給配管
23 … 循環ポンプ
29 … 制御部
W ... Substrate 1 ... Processing section 3 ... Processing tank 5 ... Supply tank 7 ... Recovery tank 9 ... Lifter 15 ... Discharge port 17 ... Recovery pipe 19 ... QDR valve 21 ... Supply pipe 23 ... Circulation pump 29 ... Control section

Claims (14)

基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置において、
剥離液を貯留し、基板を浸漬させて処理するための処理槽と、
前記処理槽の上縁周囲に配置され、前記処理槽の上縁を越えて前記処理槽へ剥離液を供給する供給槽と、
前記処理槽の下方に配置された回収槽と、
前記処理槽と前記回収槽とを連通接続した回収配管と、
前記回収槽と前記供給槽とを連通接続し、前記回収槽内の剥離液を前記供給槽へ供給する供給配管と、
前記回収槽から供給配管を介して前記供給槽に供給される剥離液中のパーティクルを捕捉する循環フィルタと、
前記処理槽から前記回収配管を介して前記回収槽に排出される剥離液中の被膜の破片を捕捉する捕捉手段と、
前記処理槽に貯留する剥離液を、前記捕捉手段を介して前記回収槽に排出させ、前記回収槽に貯留した剥離液を前記供給配管により供給させて、前記処理槽から前記供給槽へ剥離液を循環させる制御手段と、
を備えていることを特徴とする基板処理装置。
In a substrate processing apparatus for performing a peeling process on a film attached to a substrate with a peeling liquid
A treatment tank for storing the stripping solution and immersing the substrate for processing,
A supply tank that is disposed around the upper edge of the processing tank and supplies the stripping solution to the processing tank beyond the upper edge of the processing tank;
A collection tank disposed below the treatment tank;
A recovery pipe connecting the processing tank and the recovery tank in communication;
A supply pipe for connecting the recovery tank and the supply tank in communication, and supplying the stripping solution in the recovery tank to the supply tank;
A circulation filter for capturing particles in the stripping solution supplied from the recovery tank to the supply tank via a supply pipe;
Capture means for capturing fragments of the coating in the stripping solution discharged from the treatment tank to the recovery tank via the recovery pipe;
The stripping liquid stored in the processing tank is discharged to the recovery tank through the capturing means, and the stripping liquid stored in the recovery tank is supplied by the supply pipe, and the stripping liquid is transferred from the processing tank to the supply tank. Control means for circulating
A substrate processing apparatus comprising:
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記捕捉手段は、前記回収槽に備えられ、前記回収配管の開口面積より大面積の網状部材を備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
The substrate processing apparatus, wherein the capturing means is provided in the recovery tank and includes a net-like member having an area larger than an opening area of the recovery pipe.
請求項1または2に記載の基板処理装置において、
前記捕捉手段は、前記回収配管に備えられた網状部材収納容器と、前記網状部材収納容器内に設けられ、剥離液中の被膜の破片を捕捉する回収配管内網状部材を備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1 or 2,
The capturing means includes a mesh member storage container provided in the recovery pipe, and a network member in the recovery pipe that is provided in the mesh member storage container and captures the fragments of the coating in the stripping solution. A substrate processing apparatus.
請求項3に記載の基板処理装置において、
前記網状部材収納容器は、前記回収配管内網状部材により捕捉された被膜の破片を排出する廃棄配管と、前記回収配管内網状部材を通過した剥離液が流通する通常配管とを備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 3,
The mesh member storage container includes a waste pipe that discharges the fragments of the film captured by the mesh member in the recovery pipe, and a normal pipe through which the stripping solution that has passed through the mesh member in the recovery pipe flows. A substrate processing apparatus.
請求項4に記載の基板処理装置において、
前記回収配管内網状部材は、前記網状部材収納容器内に固定的に設けられており、前記廃棄配管は前記網状部材収納容器内の網状部材の上方の空間に連通し、前記通常配管は前記網状部材収納容器内の網状部材の下方の空間に連通していることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 4,
The mesh member in the recovery pipe is fixedly provided in the mesh member storage container, the waste pipe communicates with a space above the mesh member in the mesh member storage container, and the normal pipe is the mesh A substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus communicates with a space below a mesh member in a member storage container.
請求項4に記載の基板処理装置において、
前記回収配管内網状部材は、前記剥離液中の被膜の破片を捕捉する捕捉姿勢と、捕捉した被膜の破片を廃棄する廃棄姿勢とにわたって姿勢を変位可能に設けられたことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 4,
The network member in the recovery pipe is provided so that the posture can be displaced over a capturing posture for capturing the fragments of the coating in the stripping solution and a discarding posture for discarding the captured fragments of the coating. apparatus.
請求項6に記載の基板処理装置において、
前記回収槽に剥離液を排出する前記通常配管と、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を排出する廃棄配管とは切り替え可能に設けられ、
前記制御手段は、前記処理槽に貯留する剥離液を前記回収槽に排出させる際には、前記回収配管内網状部材を捕捉姿勢にさせるとともに、前記網状部材収納容器の流路を前記通常配管に切り替えさせ、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、前記回収配管内網状部材を廃棄姿勢にさせるとともに、前記網状部材収納容器の流路を前記廃棄配管に切り替えさせることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 6,
The normal pipe for discharging the stripping liquid to the recovery tank and the waste pipe for discharging the fragments of the film captured by the net member in the recovery pipe are provided to be switchable,
The control means, when discharging the stripping solution stored in the processing tank to the recovery tank, causes the mesh member in the recovery pipe to be in a capturing posture and the flow path of the mesh member storage container to the normal pipe. When switching and discarding the fragments of the film trapped by the mesh member in the recovery pipe, the network member in the recovery pipe is set to the disposal posture and the flow path of the mesh member storage container is switched to the waste pipe. A substrate processing apparatus.
請求項4から7のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記廃棄配管から前記網状部材収納容器内を吸引する吸引手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記回収配管内網状部材に捕捉された被膜の破片を廃棄させる際には、前記吸引手段を作動させることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 4 to 7,
A suction means for sucking the inside of the mesh member storage container from the waste pipe;
The substrate processing apparatus is characterized in that the control means operates the suction means when discarding the fragments of the film trapped by the mesh member in the recovery pipe.
請求項1から8のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記回収配管のうち、前記捕捉手段よりも前記処理槽側に設けられた制御弁と、
前記処理槽に貯留する剥離液の液面を加圧する加圧手段と、をさらに備え、
前記制御手段は、前記処理槽に貯留する剥離液を前記回収槽に排出させる際には、前記制御弁を閉止させた状態で前記加圧手段による加圧を行わせた後、前記制御弁を開放させて剥離液を加圧排液させることを特徴とする基板処理装置。
In the substrate processing apparatus according to claim 1,
Among the recovery pipes, a control valve provided on the processing tank side with respect to the capturing means,
Pressurizing means for pressurizing the liquid level of the stripping solution stored in the treatment tank,
When the control means discharges the stripping solution stored in the processing tank to the recovery tank, after the pressurizing means performs pressurization with the control valve closed, the control valve is A substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus is opened to discharge the stripping liquid under pressure.
請求項2から9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記回収配管は、前記網状部材側に位置する側が複数本に分岐され、それぞれが離間して前記網状部材に臨むように配置されていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 9,
The substrate processing apparatus, wherein the recovery pipe is arranged so that a side located on the mesh member side is branched into a plurality, and each is separated from the mesh member to face the mesh member.
請求項2から9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記網状部材を面方向に移動させる面方向駆動手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記面方向駆動手段を操作することを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 9,
It further comprises surface direction driving means for moving the mesh member in the surface direction,
The substrate processing apparatus, wherein the control means operates the surface direction driving means so that fragments of the coating are dispersed on the mesh member.
請求項2から9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記網状部材は、無端状に形成されており、
前記網状部材の内周面側に当接して配置され、前記網状部材を駆動する駆動手段と、前記網状部材に当接して、前記網状部材の移動を案内する案内部材とをさらに備え、
前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記駆動手段を操作することを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 9,
The mesh member is formed in an endless shape,
A driving means that is arranged in contact with the inner peripheral surface side of the mesh member and drives the mesh member; and a guide member that contacts the mesh member and guides the movement of the mesh member;
The substrate processing apparatus, wherein the control means operates the driving means so that the fragments of the coating are dispersed on the mesh member.
請求項12に記載の基板処理装置において、
前記網状部材は、その端部が前記回収槽から外れた位置に延出されており、
前記網状部材の延出された部分において、その内周側に配置され、前記網状部材の内面から外面に向かって洗浄液を噴射する洗浄手段をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 12, wherein
The net-like member is extended to a position where the end is removed from the collection tank,
A substrate processing apparatus, further comprising: a cleaning unit that is disposed on an inner peripheral side of the extended portion of the mesh member and injects a cleaning liquid from the inner surface to the outer surface of the mesh member.
請求項1から13のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記回収配管から分岐した真空配管と、
前記真空配管に接続された真空タンクと、
前記真空タンク内を減圧する減圧機構と、をさらに備え、
予め減圧した真空タンクを前記処理槽に連通させて処理槽内の剥離液を吸引排出することを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 13,
A vacuum pipe branched from the recovery pipe;
A vacuum tank connected to the vacuum pipe;
A pressure reducing mechanism for reducing the pressure in the vacuum tank,
A substrate processing apparatus, wherein a vacuum tank depressurized in advance is communicated with the processing tank and the stripping solution in the processing tank is sucked and discharged.
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