JP2014170222A - Measuring apparatus of liquid crystal characteristics, measuring method of liquid crystal characteristics, and liquid crystal display panel - Google Patents

Measuring apparatus of liquid crystal characteristics, measuring method of liquid crystal characteristics, and liquid crystal display panel Download PDF

Info

Publication number
JP2014170222A
JP2014170222A JP2014016192A JP2014016192A JP2014170222A JP 2014170222 A JP2014170222 A JP 2014170222A JP 2014016192 A JP2014016192 A JP 2014016192A JP 2014016192 A JP2014016192 A JP 2014016192A JP 2014170222 A JP2014170222 A JP 2014170222A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
substrate
voltage
display panel
pixel electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014016192A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6332984B2 (en
Inventor
Michiaki Sakamoto
道昭 坂本
Takeyuki Tsuruma
建行 鶴間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Original Assignee
Japan Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Display Inc filed Critical Japan Display Inc
Priority to JP2014016192A priority Critical patent/JP6332984B2/en
Publication of JP2014170222A publication Critical patent/JP2014170222A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6332984B2 publication Critical patent/JP6332984B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring apparatus of liquid crystal characteristics, a measuring method of the liquid crystal characteristics and a liquid crystal display panel, capable of improving detection sensitivity of a transient current flowing into liquid crystal molecules by a lateral electric field.SOLUTION: A measuring apparatus of liquid crystal characteristics includes: a first substrate; a second substrate arranged oppositely to the first substrate; a liquid crystal layer arranged between the first substrate and the second substrate; a plurality of switching elements arranged in a matrix on a surface of the first substrate; pixel electrodes connected to the switching elements; a common electrode insulated from the pixel electrodes by an insulating film; and a measuring circuit for applying a predetermined varying voltage from the outside of a liquid crystal display panel to the pixel electrodes connected to partial switching elements and outputting a transient current allowed to flow into the pixel electrode different from the pixel electrodes to which the varying voltage is applied to the outside of the liquid crystal display panel. Further the measuring apparatus for measuring the liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer includes: a voltage generation part for applying a voltage to the liquid crystal display panel in which orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field through the measuring circuit; and a current measuring part for measuring a transient current.

Description

本発明は、液晶を備える液晶表示パネルに関する。また、本発明は、液晶特性の測定装置及び液晶特性の測定方法に関する。   The present invention relates to a liquid crystal display panel including a liquid crystal. The present invention also relates to a liquid crystal characteristic measuring apparatus and a liquid crystal characteristic measuring method.

現在、携帯電話機、ＰＤＡ（Personal Digital Assistant：携帯情報端末機）等といった電子機器に表示パネルが広く用いられている。例えば、電子機器に関する各種情報を表示する表示エリア部として液晶パネルが用いられている。この液晶表示パネルとして、従来、ＴＮ（Twisted Nematic）液晶を用いた液晶装置に代表される縦電界型の液晶装置が知られている。この液晶装置では、基板に対して直角方向に電界を形成することにより液晶分子を基板に対して直角方向に立たせる状態で液晶分子の配向制御を行い、その液晶分子の配向制御に対応した光透過率変化を利用して表示が行われる。   Currently, display panels are widely used in electronic devices such as mobile phones and PDAs (Personal Digital Assistants). For example, a liquid crystal panel is used as a display area unit for displaying various information related to electronic devices. As this liquid crystal display panel, a vertical electric field type liquid crystal device represented by a liquid crystal device using a TN (Twisted Nematic) liquid crystal has been known. In this liquid crystal device, by controlling the orientation of the liquid crystal molecules in a state where the liquid crystal molecules stand in a direction perpendicular to the substrate by forming an electric field in a direction perpendicular to the substrate, light corresponding to the alignment control of the liquid crystal molecules is performed. Display is performed using the change in transmittance.

このような縦電界型の液晶装置では、液晶層の液晶分子の挙動（液晶特性）について測定する技術がある。例えば特許文献１に記載の技術では、液晶セルの液晶層を挟む電極間に所定の変化する電圧を印加し、前記液晶層の過渡的誘電率を測定することにより、前記電極間に所定の電圧を印加した状態で液晶分子の挙動を観測することを特徴とする液晶セルの特性測定方法が記載されている。   In such a vertical electric field type liquid crystal device, there is a technique for measuring the behavior (liquid crystal characteristics) of liquid crystal molecules in a liquid crystal layer. For example, in the technique described in Patent Document 1, a predetermined voltage is applied between electrodes sandwiching a liquid crystal layer of a liquid crystal cell, and a predetermined voltage is applied between the electrodes by measuring a transient dielectric constant of the liquid crystal layer. A method for measuring the characteristics of a liquid crystal cell is described, in which the behavior of liquid crystal molecules is observed in a state where is applied.

上述した縦電界型の液晶装置においては、液晶分子を基板面に対して直角方向に駆動するため、液晶装置の表示面を見る角度に応じて液晶分子を違う方向から見ることになり、視野角が狭い傾向にある。この視野角度を向上させた液晶装置として、横電界型の液晶装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。   In the above-described vertical electric field type liquid crystal device, since the liquid crystal molecules are driven in a direction perpendicular to the substrate surface, the liquid crystal molecules are viewed from different directions depending on the viewing angle of the display surface of the liquid crystal device. Tend to be narrow. As a liquid crystal device with an improved viewing angle, a horizontal electric field type liquid crystal device is known (see, for example, Patent Document 2).

横電界型の液晶装置では、基板に対して平行方向に電界を形成することにより液晶分子を基板面と平行な面内で回転させ、その液晶分子の回転に対応した光透過率変化を利用して表示が行われる。この横電界型の液晶装置においては、液晶装置の表示面を見る角度が変わっても、液晶分子を見る方向は同じであるので、視野角が広くなるという長所を有している。   In a horizontal electric field type liquid crystal device, liquid crystal molecules are rotated in a plane parallel to the substrate surface by forming an electric field in a direction parallel to the substrate, and a light transmittance change corresponding to the rotation of the liquid crystal molecules is used. Is displayed. This lateral electric field type liquid crystal device has an advantage that the viewing angle is wide since the viewing direction of the liquid crystal molecules is the same even when the viewing angle of the liquid crystal device is changed.

特開平６−０８２８３５号公報JP-A-6-082835 特開２００８−５２１６１号公報JP 2008-52161 A

特許文献１に記載の液晶特性の測定方法は、液晶表示パネルの信頼性に重要な役割を果たす、液晶層に含まれる不純物イオンの挙動について測定する技術であり、液晶層を挟む電極間に所定の変化する電圧を印加した状態で液晶層に含まれる不純物イオンの挙動を過渡電流の測定で観測する。しかしながら、特許文献１に記載の液晶特性の測定方法は、横電界によって液晶分子の配向を制御する液晶表示パネルに適用する場合、横電界によって液晶に流れる不純物イオンの過渡電流の測定については考慮していない。   The method for measuring liquid crystal characteristics described in Patent Document 1 is a technique for measuring the behavior of impurity ions contained in a liquid crystal layer, which plays an important role in the reliability of a liquid crystal display panel. The behavior of the impurity ions contained in the liquid crystal layer is observed by measuring the transient current in the state where the voltage changing is applied. However, when the method for measuring liquid crystal characteristics described in Patent Document 1 is applied to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules is controlled by a lateral electric field, measurement of transient currents of impurity ions flowing in the liquid crystal by the lateral electric field is taken into consideration. Not.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、横電界によって液晶分子に流れる過渡電流の検出感度を高める、液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネルを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a liquid crystal characteristic measuring device, a liquid crystal characteristic measuring method, and a liquid crystal display panel, which increase the detection sensitivity of a transient current flowing in liquid crystal molecules due to a transverse electric field. There is to do.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定装置は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加し、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、前記測定用回路を介して、前記電圧を印加する電圧生成部と、前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える。   An apparatus for measuring liquid crystal characteristics according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film A voltage that changes in a predetermined manner from the outside of the liquid crystal display panel is applied to an electrode and a pixel electrode connected to a part of the plurality of switching elements, and is different from the pixel electrode to which the voltage is applied A measuring circuit that outputs a transient current flowing through the pixel electrode to the outside of the liquid crystal display panel is provided, and the liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer are measured for a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer changes due to a lateral electric field A measuring apparatus, comprising through the measuring circuit, and a voltage generator for applying the voltage, and a current measuring unit for measuring the transient current.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定装置は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して所定の変化する電圧を印加する電圧生成部と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を計測する電流測定部と、を備える。   An apparatus for measuring liquid crystal characteristics according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film And a measuring device for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field, and a plurality of the switching elements, A voltage generation unit that applies a predetermined voltage to pixel electrodes connected to some of the switching elements; and a current measurement unit that measures a transient current flowing in a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied; , Be prepared That.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定装置は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性の測定装置であって、前記スイッチング素子に接続される画素電極に、前記液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加する電圧生成部と、前記極性を変化する場合、前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える。   An apparatus for measuring liquid crystal characteristics according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film An apparatus for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field, and a pixel electrode connected to the switching element. The rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in the plane and the voltage whose polarity is less than the threshold voltage of the liquid crystal with a period larger than that of the rectangular wave are superimposed and applied. Voltage generator and front If changing the polarity, and a current measuring unit for measuring the transient current.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定装置は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性の測定装置であって、前記スイッチング素子に接続される画素電極に、前記液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加する電圧生成部と、前記極性が変化する場合、前記液晶層の輝度変化を計測する。   An apparatus for measuring liquid crystal characteristics according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film An apparatus for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field, and a pixel electrode connected to the switching element. The rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in the plane and the voltage whose polarity is less than the threshold voltage of the liquid crystal with a period larger than that of the rectangular wave are superimposed and applied. Voltage generator and front When the polarity is changed, to measure the luminance change of the liquid crystal layer.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定装置は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極と、所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部と、前記イオン掃引電圧が印加された画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、前記イオン掃引電圧入力端部を介して、前記イオン掃引電圧を印加する第１電圧生成部と、前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える。   An apparatus for measuring liquid crystal characteristics according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film An electrode, a translucent electrode which is provided on the second substrate side of the liquid crystal layer, and which opposes at least the pixel electrode, and an ion for applying an ion sweep voltage changing a predetermined voltage to the translucent electrode A sweep voltage input end, and a measurement circuit for outputting a transient current flowing between the pixel electrode to which the ion sweep voltage is applied and the common electrode to the outside of the liquid crystal display panel, and a lateral electric field of the liquid crystal layer. The alignment of the liquid crystal molecules changes A measuring device for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to the liquid crystal display panel, wherein the first voltage generating unit applies the ion sweep voltage via the ion sweep voltage input end; and the transient A current measuring unit that measures current.

望ましい一態様として、前記液晶表示パネルは、前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加するコネクティング信号電圧端子を備え、前記電流測定部は、前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる前記過渡電流を計測する、液晶特性の測定装置であってもよい。   As a desirable aspect, the liquid crystal display panel includes a connecting signal voltage terminal that applies a predetermined connecting signal voltage from outside the liquid crystal display panel to the pixel electrode or the common electrode, and the current measuring unit includes It may be a liquid crystal characteristic measuring device that measures the transient current flowing in the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrode or the common electrode to which the connecting signal voltage is applied.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定方法は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する前記液晶層の特性を測定する液晶特性の測定方法であって、複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して所定の変化する電圧を印加するステップと、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を計測する電流測定のステップと、を備える。   A liquid crystal characteristic measuring method according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film A liquid crystal characteristic measuring method for measuring a characteristic of the liquid crystal layer, wherein an orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field, wherein a part of the switching elements is a switching element A step of applying a predetermined changing voltage to a pixel electrode connected to the pixel electrode, and a step of measuring a current flowing in a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied.

本発明の一態様に係る液晶特性の測定方法は、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する前記液晶層の特性を測定する液晶特性の測定方法であって、所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するイオン掃引電圧ステップと、前記画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を計測する電流測定の電流測定ステップと、を備える。   A liquid crystal characteristic measuring method according to one embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal disposed between the first substrate and the second substrate. A layer, a plurality of switching elements arranged in a matrix on the surface of the first substrate, a pixel electrode connected to the switching element, and a common insulated from the pixel electrode through an insulating film An electrode and a translucent electrode provided on the second substrate side of the liquid crystal layer and facing at least the pixel electrode, the orientation of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer being changed by a lateral electric field. A liquid crystal characteristic measuring method for measuring a characteristic, wherein an ion sweep voltage step for applying an ion sweep voltage with a predetermined voltage change to the translucent electrode, and a transient current flowing between the pixel electrode and the common electrode Measure current It comprises a constant current measuring step.

望ましい一態様として、イオン掃引電圧印加ステップにおいて、イオン掃引電圧を前記透光性電極に印加する間に、前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加し、電流測定ステップにおいて、前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる前記過渡電流を計測する、液晶特性の測定方法であってもよい。   As a desirable mode, in the ion sweep voltage application step, a connecting signal voltage that changes from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode or the common electrode is applied to the pixel electrode or the common electrode while the ion sweep voltage is applied to the translucent electrode. In the method for measuring liquid crystal characteristics, the transient current flowing in the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrode or the common electrode to which the connecting signal voltage is applied is measured in the applied current measurement step. May be.

本発明の一態様に係る液晶表示パネルは、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加し、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路を備える。   A liquid crystal display panel according to an aspect of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate. A plurality of switching elements on the surface of the first substrate and arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film; A liquid crystal display panel in which the orientation of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a horizontal electric field, and the liquid crystal display panel is connected to a pixel electrode connected to some of the switching elements. A measurement circuit is provided that applies a predetermined voltage change from the outside and outputs a transient current flowing through a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied to the outside of the liquid crystal display panel.

本発明の一態様に係る液晶表示パネルは、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加する配線の端部と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を測定のために液晶表示パネル外へ出力する配線の端部とを備える。   A liquid crystal display panel according to an aspect of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate. A plurality of switching elements on the surface of the first substrate and arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film; A liquid crystal display panel in which the orientation of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a horizontal electric field, and the liquid crystal display panel is connected to a pixel electrode connected to some of the switching elements. An end portion of a wiring for applying a predetermined changing voltage from the outside, and an end portion of a wiring for outputting a transient current flowing in a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied to the outside of the liquid crystal display panel for measurement. Prepare

望ましい一態様として、前記電圧が印加された画素電極と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極とは、隣り合う画素にある、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, the pixel electrode to which the voltage is applied and the pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied may be a liquid crystal display panel in an adjacent pixel.

望ましい一態様として、前記電圧がされた画素電極に接続されたスイッチング素子と行が隣り合うスイッチング素子は、接続する画素電極の電位を固定しない、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, the switching element connected to the pixel electrode to which the voltage is applied may be a liquid crystal display panel in which the potential of the connected pixel electrode is not fixed.

望ましい一態様として、前記共通電極の電位が固定されている、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, a liquid crystal display panel in which the potential of the common electrode is fixed may be used.

望ましい一態様として、前記共通電極の電位が固定されていない、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, a liquid crystal display panel in which the potential of the common electrode is not fixed may be used.

望ましい一態様として、前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示される場合、前記電圧が印加された画素電極と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極とは、複数の前記画素に跨がって隣り合う、液晶表示パネルであってもよい。   As one desirable mode, when one pixel is displayed by combining a plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected, the pixel electrode to which the voltage is applied is different from the pixel electrode to which the voltage is applied. The pixel electrode may be a liquid crystal display panel that is adjacent to the plurality of pixels.

望ましい一態様として、前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示される場合、前記画素のうちの一部の画素電極の電位が固定されていない、液晶表示パネルであってもよい。   As one desirable mode, when one pixel is displayed by combining a plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected, the liquid crystal display in which the potential of some of the pixel electrodes is not fixed A panel may be sufficient.

望ましい一態様として、前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示され、前記画素が複数組み合わされて表示エリア部となり、前記測定用回路は、前記表示エリア部の一部にのみ前記電圧を印加する、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, one pixel is displayed by combining a plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected, and a plurality of the pixels are combined to form a display area unit, and the measurement circuit includes the display area unit. It may be a liquid crystal display panel in which the voltage is applied only to a part of the liquid crystal display panel.

望ましい一態様として、前記電圧は、液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加される電圧である、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable aspect, the polarity of the voltage is less than the threshold voltage of the liquid crystal in a rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in the plane, and in a cycle larger than the rectangular wave. It may be a liquid crystal display panel that is a voltage applied by superimposing voltages.

望ましい一態様として、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極をさらに有し、前記電圧とは異なる電圧であって、液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部を備える、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable mode, the liquid crystal layer further includes a translucent electrode that is provided on the second substrate side with respect to the pixel electrode, and is at a voltage different from the voltage, and is from outside the liquid crystal display panel. It may be a liquid crystal display panel provided with an ion sweep voltage input end for applying an ion sweep voltage that is supplied and changes at a predetermined voltage to the translucent electrode.

本発明の一態様に係る液晶表示パネルは、第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部と、前記画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する端子を備える測定用回路とを備える。   A liquid crystal display panel according to an aspect of the present invention includes a first substrate, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate. A plurality of switching elements on the surface of the first substrate and arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film; A liquid crystal display panel that is provided closer to the second substrate than the liquid crystal layer, includes at least a light-transmitting electrode facing the pixel electrode, and changes the orientation of liquid crystal molecules in the liquid crystal layer by a lateral electric field. A transient current that flows between the pixel electrode and the common electrode, and an ion sweep voltage input terminal for applying an ion sweep voltage that is supplied from outside the liquid crystal display panel and changes a predetermined voltage to the translucent electrode LCD display And a measuring circuit comprising a terminal for outputting to the outside Le.

望ましい一態様として、前記測定用回路は、前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加するコネクティング信号電圧端子を備え、前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する、液晶表示パネルであってもよい。   As a desirable aspect, the measuring circuit includes a connecting signal voltage terminal for applying a predetermined changing connecting signal voltage from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode or the common electrode, and the connecting signal voltage is applied thereto. It may be a liquid crystal display panel that outputs a transient current flowing to the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrodes or the common electrode to the outside of the liquid crystal display panel.

本発明による液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネルによれば、横電界によって液晶分子に流れる過渡電流の検出感度を高めることができる。   According to the liquid crystal characteristic measuring apparatus, the liquid crystal characteristic measuring method, and the liquid crystal display panel according to the present invention, it is possible to increase the detection sensitivity of the transient current flowing in the liquid crystal molecules due to the transverse electric field.

図１は、実施形態１に係る液晶表示パネルの一例を表す説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an example of a liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図２は、図１の液晶表示パネルのシステムの一例を表すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of the system of the liquid crystal display panel of FIG. 図３は、画素を駆動する駆動回路の一例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an example of a drive circuit for driving a pixel. 図４は、実施形態１に係る液晶表示パネルの画素電極を説明するための模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining pixel electrodes of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図５は、実施形態１に係る液晶表示パネルの断面を説明するための模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a cross section of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図６は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧無印加時における液晶分子の配向を説明するための模式図である。FIG. 6 is a schematic view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when no voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図７は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧無印加時における液晶分子の配向を説明するための断面模式図である。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when no voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図８は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧印加時における液晶分子の配向を説明するための模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram for explaining the alignment of liquid crystal molecules when a voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図９は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧印加時における液晶分子の配向を説明するための断面模式図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when a voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１０は、液晶特性の測定システムを説明するための説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining a measurement system for liquid crystal characteristics. 図１１は、実施形態１に係る液晶表示パネルの液晶特性の測定を説明するための等価回路図である。FIG. 11 is an equivalent circuit diagram for explaining measurement of liquid crystal characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１２は、実施形態１に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the first embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. 図１３は、実施形態１に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 1 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. 図１４は、実施形態１に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１５は、実施形態１に係る液晶表示パネルの液晶特性の測定方法を説明するフローチャートである。FIG. 15 is a flowchart illustrating a method for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１６は、実施形態１に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。FIG. 16 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１７は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. 図１８は、実施形態１の変形例に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する検査波形の一例を説明する説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram illustrating an example of an inspection waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the modification of the first embodiment. 図１９は、実施形態２に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the second embodiment. 図２０は、実施形態２の変形例に係る液晶表示パネルの表示エリア部の駆動領域の一例を示す図である。FIG. 20 is a diagram illustrating an example of a drive region of a display area unit of a liquid crystal display panel according to a modification of the second embodiment. 図２１は、実施形態３に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。FIG. 21 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the third embodiment. 図２２は、実施形態４に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。FIG. 22 is an explanatory diagram for explaining a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fourth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. 図２３は、実施形態４に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。FIG. 23 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 4 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. 図２４は、実施形態４に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する波形の一例を説明する説明図である。FIG. 24 is an explanatory diagram illustrating an example of a waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment. 図２５は、実施形態４に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。FIG. 25 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment. 図２６は、実施形態４に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する波形の一例を説明する説明図である。FIG. 26 is an explanatory diagram illustrating an example of a waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment. 図２７は、実施形態５に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。FIG. 27 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fifth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. 図２８は、実施形態５に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。FIG. 28 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 5 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. 図２９は、実施形態５に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。FIG. 29 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. 図３０は、実施形態５に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。FIG. 30 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. 図３１は、実施形態５に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。FIG. 31 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. 図３２は、実施形態５に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。FIG. 32 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fifth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. 図３３は、実施形態５に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。FIG. 33 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 5 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. 図３４は、実施形態６に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。FIG. 34 is an explanatory diagram for explaining a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the sixth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. 図３５は、実施形態６に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。FIG. 35 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 6 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. 図３６は、実施形態１から６に係る液晶表示パネル製造工程における、液晶セルイオン密度調査を液晶特性の測定システムがインライン工程で行うフローチャートの一例である。FIG. 36 is an example of a flowchart in which the liquid crystal cell ion density survey is performed in the inline process by the liquid crystal cell ion density survey in the liquid crystal display panel manufacturing process according to the first to sixth embodiments.

発明を実施するための形態（実施形態）につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。   EMBODIMENT OF THE INVENTION About the form (embodiment) for inventing, it demonstrates in detail, referring drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. The constituent elements described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the constituent elements described below can be appropriately combined. It should be noted that the disclosure is merely an example, and those skilled in the art can easily conceive of appropriate modifications while maintaining the gist of the invention are naturally included in the scope of the present invention. In addition, the drawings may be schematically represented with respect to the width, thickness, shape, and the like of each part in comparison with actual aspects for the sake of clarity of explanation, but are merely examples, and the interpretation of the present invention is not limited. It is not limited. In addition, in the present specification and each drawing, elements similar to those described above with reference to the previous drawings are denoted by the same reference numerals, and detailed description may be omitted as appropriate.

＜１．実施形態１（液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネル）＞
図１は、実施形態１に係る液晶表示パネルの一例を表す説明図である。図２は、図１の液晶表示パネルのシステムの一例を表すブロック図である。図１は模式的に表したものであり、実際の寸法、形状と同一とは限らない。なお、表示装置１が「液晶表示パネル」の一具体例に相当する。 <1. Embodiment 1 (Liquid Crystal Characteristics Measuring Device, Liquid Crystal Characteristics Measuring Method, and Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating an example of a liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing an example of the system of the liquid crystal display panel of FIG. FIG. 1 is a schematic representation and is not necessarily the same as the actual size and shape. The display device 1 corresponds to a specific example of “liquid crystal display panel”.

（液晶表示パネル）
表示装置１は、透過型、又は半透過型の表示装置であり、液晶表示パネル２と、ドライバＩＣ３と、バックライト６と、を備えている。表示装置１は、ＣＯＧ入力信号用電極パッドＴｉｃと、後述する液晶特性の測定装置と接続するテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔとを備えている。ドライバＩＣ３は、ＣＯＧ（Chip On Glass）と呼ばれる、基板上に設けられた集積回路である。表示装置１は、バックライト６を備えない、反射型の表示装置であってもよい。図示しないフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ（Flexible Printed Circuits））は、ＣＯＧ入力信号用電極パッドＴｉｃを介してドライバＩＣ３の外部信号又はドライバＩＣ３を駆動する駆動電力を伝送する。液晶表示パネル２は、透光性絶縁基板、例えばガラス基板１１と、ガラス基板１１の表面にあり、液晶セルを含む画素がマトリクス状（行列状）に多数配置されてなる表示エリア部２１と、水平ドライバ（水平駆動回路）２３と、垂直ドライバ（垂直駆動回路）２２Ａ、２２Ｂと、を備えている。垂直ドライバ（垂直駆動回路）２２Ａ、２２Ｂは、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂとして、表示エリア部２１を挟むように配置されている。ガラス基板１１は、スイッチング素子（例えば、トランジスタ）を含む多数の画素回路がマトリクス状に配置形成される第１基板と、この第１基板と所定の間隙をもって対向して配置される第２基板とを含む。そして、ガラス基板１１は、第１基板、第２基板の間に液晶が封入される液晶層を有する。 (LCD panel)
The display device 1 is a transmissive or transflective display device, and includes a liquid crystal display panel 2, a driver IC 3, and a backlight 6. The display device 1 includes a COG input signal electrode pad Tic and a test signal electrode pad Ttest connected to a liquid crystal characteristic measuring device described later. The driver IC 3 is an integrated circuit called COG (Chip On Glass) provided on the substrate. The display device 1 may be a reflective display device that does not include the backlight 6. A flexible printed circuit board (FPC (Flexible Printed Circuits)) (not shown) transmits an external signal of the driver IC 3 or driving power for driving the driver IC 3 through the electrode pad Tic for COG input signal. The liquid crystal display panel 2 includes a translucent insulating substrate, for example, a glass substrate 11, a display area unit 21 that is provided on the surface of the glass substrate 11, and includes a large number of pixels including liquid crystal cells arranged in a matrix (matrix), A horizontal driver (horizontal drive circuit) 23 and vertical drivers (vertical drive circuits) 22A and 22B are provided. The vertical drivers (vertical drive circuits) 22A and 22B are arranged so as to sandwich the display area portion 21 as the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B. The glass substrate 11 includes a first substrate on which a large number of pixel circuits including switching elements (for example, transistors) are arranged and formed in a matrix, and a second substrate arranged to face the first substrate with a predetermined gap. including. The glass substrate 11 has a liquid crystal layer in which liquid crystal is sealed between the first substrate and the second substrate.

液晶表示パネル２の額縁１１ｇｒ、１１ｇｌは、ガラス基板１１の表面にあり、液晶セルを含む画素がマトリクス状（行列状）に多数配置されてなる表示エリア部２１がない、非表示領域である。垂直ドライバ２２Ａ、２２Ｂは、額縁１１ｇｒ、１１ｇｌに配置されている。   The picture frames 11gr and 11gl of the liquid crystal display panel 2 are non-display areas on the surface of the glass substrate 11 and without the display area portion 21 in which a large number of pixels including liquid crystal cells are arranged in a matrix (matrix). The vertical drivers 22A and 22B are arranged on the frames 11gr and 11gl.

バックライト６は、液晶表示パネル２の裏面側（画像を表示する面とは反対側の面）に配置されている。バックライト６は、液晶表示パネル２に向けて光を照射し、表示エリア部２１の全面に光を入射させる。バックライト６は、例えば光源と、光源から出力された光を導いて、液晶表示パネル２の裏面に向けて出射させる導光板と、を含む。   The backlight 6 is disposed on the back side of the liquid crystal display panel 2 (the surface on the side opposite to the surface on which images are displayed). The backlight 6 irradiates the liquid crystal display panel 2 with light and makes the light incident on the entire surface of the display area 21. The backlight 6 includes, for example, a light source and a light guide plate that guides light output from the light source and emits the light toward the back surface of the liquid crystal display panel 2.

（表示装置のシステム構成例）
液晶表示パネル２は、ガラス基板１１上に、表示エリア部２１と、インタフェース（Ｉ／Ｆ）及びタイミングジェネレータの機能を備えるドライバＩＣ３と、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂ及び水平ドライバ２３とを備えている。 (Example of system configuration of display device)
The liquid crystal display panel 2 includes a display area unit 21, a driver IC 3 having functions of an interface (I / F) and a timing generator, a first vertical driver 22A, a second vertical driver 22B, and a horizontal driver 23 on a glass substrate 11. And.

表示エリア部２１は、液晶層を含む副画素Ｓｐｉｘが、表示上の１画素を構成するユニットがｍ行×ｎ列に配置されたマトリクス（行列状）構造を有している。なお、この明細書において、行とは、一方向に配列されるｎ個の副画素Ｓｐｉｘを有する画素行をいう。また、列とは、行が配列される方向と直交する方向に配列されるｍ個の副画素Ｓｐｉｘを有する画素列をいう。そして、ｍとｎとの値は、垂直方向の表示解像度と水平方向の表示解像度に応じて定まる。表示エリア部２１は、副画素Ｓｐｉｘのｍ行ｎ列の配列に対して行毎に走査線２４１、２４２、２４３・・・２４ｍが配線され、列毎に信号線２５１、２５２、２５３・・・２５ｎが配線されている。例えば、各副画素Ｓｐｉｘにはそれぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の異なる色領域を１組として対応付けられて、複数の副画素Ｓｐｉｘが画素Ｐｉｘとなっている。以後、本実施形態においては、走査線２４１、２４２、２４３・・・２４ｍを代表して走査線２４又は走査線２４ｍのように表記し、信号線２５１、２５２、２５３・・・２５ｎを代表して信号線２５又は信号線２５ｎのように表記することがある。また、本実施形態においては、走査線２４１、２４２、２４３・・・２４ｍを代表して走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・のように表記し、信号線２５１、２５２、２５３・・・２５ｎを代表して信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３・・・のように表記することもある。表示エリア部２１は、正面に直交する方向から見た場合、走査線２４と信号線２５がカラーフィルタのブラックマトリクスと重なる領域に配置されている。また、表示エリア部２１は、ブラックマトリクスが配置されていない領域が開口部となる。 The display area unit 21 has a matrix (matrix) structure in which sub-pixels Spix including a liquid crystal layer are arranged in m rows × n columns of units constituting one pixel on the display. In this specification, a row refers to a pixel row having n subpixels Spix arranged in one direction. A column refers to a pixel column having m subpixels Spix arranged in a direction orthogonal to the direction in which the rows are arranged. The values of m and n are determined according to the vertical display resolution and the horizontal display resolution. In the display area unit 21, scanning lines 24 1 , 24 2 , 24 3 ... 24 m are wired for each row with respect to an array of m rows and n columns of subpixels Spix, and signal lines 25 1 , 25 are provided for each column. 2 , 25 3 ... 25 n are wired. For example, each sub-pixel Spix is associated with a different color region of three colors of red (R), green (G), and blue (B) as a set, and the plurality of sub-pixels Spix become pixels Pix. Yes. Hereinafter, in the present embodiment, the scanning lines 24 1 , 24 2 , 24 3 ... 24 m are represented as scanning lines 24 or scanning lines 24 m , and signal lines 25 1 , 25 2 , 25 are represented. 3 ... 25 n may be represented as a signal line 25 or a signal line 25 n . In the present embodiment, the scanning lines 24 1, 24 2, 24 3 ··· 24 m and on behalf expressed as scanning lines 24 m + 1, 24 m + 2, 24 m + 3 ···, the signal lines 25 1 25 2 , 25 3 ... 25 n may be represented as signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 , 25 n + 3 . The display area 21 is arranged in a region where the scanning lines 24 and the signal lines 25 overlap with the black matrix of the color filter when viewed from the direction orthogonal to the front. In addition, the display area portion 21 has an opening in a region where no black matrix is arranged.

液晶表示パネル２には、外部から外部信号である、マスタークロック、水平同期信号及び垂直同期信号が入力され、ドライバＩＣ３に与えられる。ドライバＩＣ３は、外部電源の電圧振幅のマスタークロック、水平同期信号及び垂直同期信号を、液晶の駆動に必要な内部電源の電圧振幅にレベル変換（昇圧）し、マスタークロック、水平同期信号及び垂直同期信号を生成する。ドライバＩＣ３は、生成したマスタークロック、水平同期信号及び垂直同期信号をそれぞれ第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂ及び水平ドライバ２３に与える。ドライバＩＣ３は、副画素Ｓｐｉｘ毎の画素電極に対して各画素共通に与えるコモン電位（対向電極電位）Ｖｃｏｍを生成して表示エリア部２１に与える。   The liquid crystal display panel 2 is supplied with a master clock, a horizontal synchronizing signal, and a vertical synchronizing signal, which are external signals from the outside, and are supplied to the driver IC 3. The driver IC 3 converts (boosts) the level of the master clock, the horizontal synchronization signal, and the vertical synchronization signal of the voltage amplitude of the external power source into the voltage amplitude of the internal power source necessary for driving the liquid crystal, and the master clock, the horizontal synchronization signal, and the vertical synchronization signal. Generate a signal. The driver IC 3 supplies the generated master clock, horizontal synchronization signal, and vertical synchronization signal to the first vertical driver 22A, the second vertical driver 22B, and the horizontal driver 23, respectively. The driver IC 3 generates a common potential (counter electrode potential) Vcom that is commonly applied to each pixel with respect to the pixel electrode for each subpixel Spix, and supplies the common potential to the display area unit 21.

第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、後述するシフトレジスタを含み、さらにラッチ回路等を含む。第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、ラッチ回路が、垂直クロックパルスに同期してドライバＩＣ３から出力される表示データを１水平期間で順次サンプリングしラッチする。第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、ラッチ回路においてラッチされた１ライン分のデジタルデータを垂直走査パルスとして順に出力し、表示エリア部２１の走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・に与えることによって副画素Ｓｐｉｘを行単位で順次選択する。第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・の延在方向に走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・を挟むように配置されている。第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、例えば、走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・の表示エリア部２１の上寄り、垂直走査上方向から、表示エリア部２１の下寄り、垂直走査下方向へ順にデジタルデータを出力する。また、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３・・・の表示エリア部２１の下寄り、垂直走査下方向から、表示エリア部２１の上寄り、垂直走査上方向へ順にデジタルデータを出力することもできる。 The first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B include a shift register described later, and further include a latch circuit and the like. In the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B, the latch circuit sequentially samples and latches display data output from the driver IC 3 in one horizontal period in synchronization with the vertical clock pulse. The first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B sequentially output the digital data for one line latched in the latch circuit as vertical scanning pulses, and scan lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , 24 m + 3. .. Are sequentially selected in units of rows. The first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B are arranged so as to sandwich the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , 24 m + 3 ... In the extending direction of the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , 24 m + 3. ing. For example, the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B are located above the display area 21 of the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , 24 m + 3. The digital data is output in order in the vertical scanning downward direction. Further, the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B are located below the display area 21 of the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , 24 m + 3. The digital data can also be output in order in the vertical scanning upward direction.

水平ドライバ２３には、例えば６ビットのＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）のデジタル映像データである画像信号Ｖｓｉｇが与えられる。水平ドライバ２３は、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂによる垂直走査によって選択された行の各副画素Ｓｐｉｘに対して、画素毎に、もしくは複数画素毎に、あるいは全画素一斉に、信号線２５を介して表示データを書き込む。   For example, the horizontal driver 23 is supplied with an image signal Vsig which is 6-bit digital video data of R (red), G (green), and B (blue). The horizontal driver 23 outputs a signal to each sub-pixel Spix in the row selected by the vertical scanning by the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B for each pixel, for every plurality of pixels, or for all the pixels at once. Display data is written through line 25.

（液晶表示パネルの通常駆動方式）
図３は、画素を駆動する駆動回路の一例を示す回路図である。表示エリア部２１には、図３に示す各副画素Ｓｐｉｘの薄膜トランジスタ（ＴＦＴ；Thin Film Transistor）Ｔｒに表示データとして画素信号を供給する信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３、各薄膜トランジスタＴｒを駆動する走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３等の配線が形成されている。薄膜トランジスタＴｒは、液晶素子ＬＣを駆動するスイッチング素子である。このように、信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３は、上述したガラス基板１１の表面と平行な平面に延在し、副画素Ｓｐｉｘに画像を表示するための画素信号を供給する。副画素Ｓｐｉｘは、薄膜トランジスタＴｒ及び液晶素子ＬＣを備えている。薄膜トランジスタＴｒは、この例では、ｎチャネルのＭＯＳ（Metal Oxide Semiconductor）型のＴＦＴで構成されている。薄膜トランジスタＴｒのソース及びドレインのうち一方は信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３に接続され、ゲートは走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３に接続され、ソース及びドレインのうち他方は液晶素子ＬＣの一端に接続されている。液晶素子ＬＣは、一端が薄膜トランジスタＴｒに接続され、他端が共通電極ｃｏｍのコモン電位Ｖｃｏｍに接続されている。 (Normal driving method of liquid crystal display panel)
FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an example of a drive circuit for driving a pixel. In the display area unit 21, signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 , 25 n + 3 for supplying pixel signals as display data to the thin film transistors (TFTs) of the sub-pixels Spix shown in FIG. 3 are driven. Wiring lines such as scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , and 24 m + 3 are formed. The thin film transistor Tr is a switching element that drives the liquid crystal element LC. As described above, the signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 , and 25 n + 3 extend in a plane parallel to the surface of the glass substrate 11 described above, and supply pixel signals for displaying an image to the sub-pixel Spix. The subpixel Spix includes a thin film transistor Tr and a liquid crystal element LC. In this example, the thin film transistor Tr is composed of an n-channel MOS (Metal Oxide Semiconductor) TFT. One of the source and drain of the thin film transistor Tr is connected to the signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 and 25 n + 3 , the gate is connected to the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 and 24 m + 3 , and the other of the source and drain is the liquid crystal element LC. It is connected to one end. The liquid crystal element LC has one end connected to the thin film transistor Tr and the other end connected to the common potential Vcom of the common electrode com.

副画素Ｓｐｉｘは、走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３により、表示エリア部２１の同じ行に属する他の副画素Ｓｐｉｘと互いに接続されている。走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３は、第１垂直ドライバ２２Ａと接続され、第１垂直ドライバ２２Ａから走査信号の垂直走査パルスが供給される。走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３は、第２垂直ドライバ２２Ｂと接続され、第２垂直ドライバ２２Ｂから、走査信号の垂直走査パルスが供給される。このように、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、走査方向の走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３に垂直走査パルスを印加する。また、副画素Ｓｐｉｘは、信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３により、表示エリア部２１の同じ列に属する他の副画素Ｓｐｉｘと互いに接続されている。信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３は、水平ドライバ２３と接続され、水平ドライバ２３より画素信号が供給される。共通電極ｃｏｍのコモン電位Ｖｃｏｍは、不図示の駆動電極ドライバと接続され、駆動電極ドライバより電圧が供給される。さらに、副画素Ｓｐｉｘは、共通電極ｃｏｍのコモン電位Ｖｃｏｍにより、表示エリア部２１の同じ列に属する他の副画素Ｓｐｉｘと互いに接続されている。 The sub-pixel Spix is connected to other sub-pixels Spix belonging to the same row of the display area unit 21 by scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 and 24 m + 3 . The scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 and 24 m + 3 are connected to the first vertical driver 22A, and a vertical scanning pulse of a scanning signal is supplied from the first vertical driver 22A. The scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 and 24 m + 3 are connected to the second vertical driver 22B, and a vertical scanning pulse of a scanning signal is supplied from the second vertical driver 22B. As described above, the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B apply vertical scanning pulses to the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , and 24 m + 3 in the scanning direction. The sub-pixel Spix is connected to other sub-pixels Spix belonging to the same column of the display area unit 21 by signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 and 25 n + 3 . The signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 , 25 n + 3 are connected to the horizontal driver 23, and pixel signals are supplied from the horizontal driver 23. The common potential Vcom of the common electrode com is connected to a drive electrode driver (not shown), and a voltage is supplied from the drive electrode driver. Further, the sub-pixel Spix is connected to other sub-pixels Spix belonging to the same column of the display area unit 21 by the common potential Vcom of the common electrode com.

図１及び図２に示す第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂは、垂直走査パルスＶｇａｔｅを、図３に示す走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３を介して、副画素Ｓｐｉｘの薄膜トランジスタＴｒのゲートに印加することにより、表示エリア部２１にマトリクス状に形成されている副画素Ｓｐｉｘのうちの１行（１水平ライン）を表示駆動の対象として順次選択する。図１及び図２に示す水平ドライバ２３は、画素信号を、図３に示す信号線２５ｎ＋１、２５ｎ＋２、２５ｎ＋３を介して、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂにより順次選択される１水平ラインを含む各副画素Ｓｐｉｘにそれぞれ供給する。そして、これらの副画素Ｓｐｉｘでは、供給される画素信号に応じて、１水平ラインの表示が行われるようになっている。 The first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B shown in FIGS. 1 and 2 send the vertical scanning pulse Vgate to the thin film transistor Tr of the sub-pixel Spix via the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 and 24 m + 3 shown in FIG. By applying the voltage to the gate, one row (one horizontal line) of the subpixels Spix formed in a matrix in the display area portion 21 is sequentially selected as a display driving target. The horizontal driver 23 shown in FIGS. 1 and 2 sequentially selects pixel signals by the first vertical driver 22A and the second vertical driver 22B via the signal lines 25 n + 1 , 25 n + 2 and 25 n + 3 shown in FIG. Each sub-pixel Spix including one horizontal line is supplied. In these sub-pixels Spix, one horizontal line is displayed in accordance with the supplied pixel signal.

上述したように、表示装置１は、第１垂直ドライバ２２Ａ、第２垂直ドライバ２２Ｂが走査線２４ｍ＋１、２４ｍ＋２、２４ｍ＋３を順次走査するように駆動することにより、１水平ラインが順次選択される。また、表示装置１は、１水平ラインに属する副画素Ｓｐｉｘに対して、水平ドライバ２３が画素信号を供給することにより、１水平ラインずつ表示が行われる。この表示動作を行う際、駆動電極ドライバは、その１水平ラインに対応する共通電極ｃｏｍのコモン電位Ｖｃｏｍを印加するようになっている。 As described above, in the display device 1, one horizontal line is sequentially selected by driving the first vertical driver 22 </ b > A and the second vertical driver 22 </ b > B so that the scanning lines 24 m + 1 , 24 m + 2 , and 24 m + 3 are sequentially scanned. The In the display device 1, the horizontal driver 23 supplies pixel signals to the sub-pixels Spix belonging to one horizontal line, whereby display is performed for each horizontal line. When performing this display operation, the drive electrode driver applies the common potential Vcom of the common electrode com corresponding to the one horizontal line.

表示装置１は、液晶素子ＬＣに同極性の直流電圧が印加され続けることによって液晶の比抵抗（物質固有の抵抗値）等が劣化する可能性がある。表示装置１は、液晶の比抵抗（物質固有の抵抗値）等の劣化を防ぐため、駆動信号のコモン電位Ｖｃｏｍを基準として映像信号の極性を所定の周期で反転させる駆動方式が採られる。   In the display device 1, there is a possibility that the specific resistance (resistance value specific to the substance) of the liquid crystal and the like deteriorate due to the continuous application of the DC voltage of the same polarity to the liquid crystal element LC. The display device 1 employs a driving method in which the polarity of the video signal is inverted at a predetermined period with reference to the common potential Vcom of the driving signal in order to prevent deterioration of the specific resistance (substance specific to the substance) of the liquid crystal.

この液晶表示パネルの駆動方式として、カラム反転、ライン反転、ドット反転、フレーム反転などの駆動方式が知られている。カラム反転は、１カラム（１画素列）に相当する１Ｖ（Ｖは垂直期間）の時間周期で映像信号の極性を反転させる駆動方式である。ライン反転は、１ライン（１画素行）に相当する１Ｈ（Ｈは水平期間）の時間周期で映像信号の極性を反転させる駆動方式である。ドット反転は、互いに隣接する上下左右の画素毎に映像信号の極性を交互に反転させる駆動方式である。フレーム反転は、１画面に相当する１フレーム毎に全画素に書き込む映像信号を一度に同じ極性で反転させる駆動方式である。表示装置１は、上記の各駆動方式のいずれを採用することも可能である。   As driving methods for this liquid crystal display panel, driving methods such as column inversion, line inversion, dot inversion, and frame inversion are known. Column inversion is a driving method in which the polarity of a video signal is inverted in a time period of 1 V (V is a vertical period) corresponding to one column (one pixel column). Line inversion is a driving method in which the polarity of a video signal is inverted at a time period of 1H (H is a horizontal period) corresponding to one line (one pixel row). The dot inversion is a driving method in which the polarity of the video signal is alternately inverted for each of the upper, lower, left and right adjacent pixels. Frame inversion is a driving method that inverts video signals to be written to all pixels for each frame corresponding to one screen at the same polarity. The display device 1 can employ any of the above driving methods.

（表示エリア部）
次に、表示エリア部２１の構成を詳細に説明する。図４は、実施形態１に係る液晶表示パネルの画素電極を説明するための模式図である。図５は、実施形態１に係る液晶表示パネルの断面を説明するための模式図である。図６は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧無印加時における液晶分子の配向を説明するための模式図である。図７は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧無印加時における液晶分子の配向を説明するための断面模式図である。図８は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧印加時における液晶分子の配向を説明するための模式図である。図９は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧印加時における液晶分子の配向を説明するための断面模式図である。図４に示す隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２は、走査線２４ｍに選択される、隣り合う薄膜トランジスタＴｒが、走査線２５ｎ＋１を挟んだ位置に配置される。隣り合う画素電極７２間の間には、容量Ｃｐｐが作用しており、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間には容量Ｃｓｔｒが作用している。 (Display area)
Next, the configuration of the display area unit 21 will be described in detail. FIG. 4 is a schematic diagram for explaining pixel electrodes of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a cross section of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 6 is a schematic view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when no voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when no voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 8 is a schematic diagram for explaining the alignment of liquid crystal molecules when a voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining the alignment of liquid crystal molecules when a voltage is applied to the liquid crystal display panel according to the first embodiment. Subpixel Spix1 and subpixel Spix2 adjacent shown in Figure 4, is selected in the scanning line 24 m, adjacent thin film transistor Tr is disposed across the scan line 25 n + 1 position. A capacitor Cpp acts between the adjacent pixel electrodes 72, and a capacitor Cstr acts between the pixel electrode 72 and the common electrode com.

表示エリア部２１は、図５に示すように、画素基板７０Ａと、この画素基板７０Ａの表面に垂直な方向に対向して配置された対向基板７０Ｂと、画素基板７０Ａと対向基板７０Ｂとの間に挟まれた液晶層７０Ｃとを備えている。なお、画素基板７０Ａは、液晶層７０Ｃとは反対側の面に、バックライト６が配置されている。   As shown in FIG. 5, the display area unit 21 includes a pixel substrate 70A, a counter substrate 70B disposed in a direction perpendicular to the surface of the pixel substrate 70A, and the pixel substrate 70A and the counter substrate 70B. And a liquid crystal layer 70C sandwiched between the two. In the pixel substrate 70A, the backlight 6 is disposed on the surface opposite to the liquid crystal layer 70C.

液晶層７０Ｃは、電界の状態に応じてそこを通過する光を変調するものであり、ＦＦＳ（フリンジフィールドスイッチング）又はＩＰＳ（インプレーンスイッチング）等の横電界モードの液晶を用いた液晶表示デバイスが用いられる。なお、図５に示すように、液晶層７０Ｃと画素基板７０Ａとの間、及び液晶層７０Ｃと対向基板７０Ｂとの間には、それぞれ配向膜が備えられてもよい。以下の液晶表示パネル２は、ＦＦＳモードの液晶を例に説明する。   The liquid crystal layer 70C modulates light passing therethrough according to the state of the electric field, and a liquid crystal display device using a liquid crystal in a transverse electric field mode such as FFS (fringe field switching) or IPS (in-plane switching). Used. As shown in FIG. 5, an alignment film may be provided between the liquid crystal layer 70C and the pixel substrate 70A and between the liquid crystal layer 70C and the counter substrate 70B. The following liquid crystal display panel 2 will be described using an FFS mode liquid crystal as an example.

対向基板７０Ｂは、ガラス基板７８と、このガラス基板７８の一方の面に形成されたカラーフィルタ７６を含む。カラーフィルタ７６は、例えば、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色に着色された色領域を含む。カラーフィルタ７６は、開口部７６ｂに例えば赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色に着色された色領域を周期的に配列して、図３に示す各副画素ＳｐｉｘにＲ、Ｇ、Ｂの３色の色領域が１組として画素Ｐｉｘとして対応付けられている。カラーフィルタ７６は、ＴＦＴ基板７１と垂直な方向において、液晶層７０Ｃと対向する。なお、カラーフィルタ７６は、異なる色に着色されていれば、他の色の組み合わせであってもよい。一般に、カラーフィルタ７６は、緑（Ｇ）の色領域の輝度が、赤（Ｒ）の色領域及び青（Ｂ）の色領域の輝度よりも高い。なお、ブラックマトリクス７６ａが図３に示す副画素Ｓｐｉｘの外周を覆うように形成されていてもよい。このブラックマトリクス７６ａは、二次元配置された副画素Ｓｐｉｘと副画素Ｓｐｉｘとの境界に配置されることで、格子形状となる。そして、ブラックマトリクス７６ａは、光の吸収率が高い材料で形成される。   The counter substrate 70 </ b> B includes a glass substrate 78 and a color filter 76 formed on one surface of the glass substrate 78. The color filter 76 includes, for example, a color region colored in three colors of red (R), green (G), and blue (B). The color filter 76 periodically arranges, for example, color regions colored in three colors of red (R), green (G), and blue (B) in the opening 76b to each sub-pixel Spix shown in FIG. The color areas of three colors R, G, and B are associated with each other as a pixel Pix. The color filter 76 faces the liquid crystal layer 70 </ b> C in a direction perpendicular to the TFT substrate 71. The color filter 76 may be a combination of other colors as long as it is colored in a different color. In general, in the color filter 76, the luminance of the green (G) color region is higher than the luminance of the red (R) color region and the blue (B) color region. The black matrix 76a may be formed so as to cover the outer periphery of the subpixel Spix shown in FIG. The black matrix 76a has a lattice shape by being arranged at the boundary between the two-dimensionally arranged subpixel Spix and the subpixel Spix. The black matrix 76a is formed of a material having a high light absorption rate.

画素基板７０Ａは、回路基板としてのＴＦＴ基板７１と、このＴＦＴ基板７１上にマトリクス状に配設された複数の画素電極７２と、ＴＦＴ基板７１及び画素電極７２の間に形成された共通電極ｃｏｍと、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとを絶縁する絶縁層７４と、絶縁層７３とを含む。画素電極７２及び共通電極ｃｏｍは、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）等の透光性導電材料（透光性導電酸化物）で形成される透光性電極である。   The pixel substrate 70A includes a TFT substrate 71 as a circuit substrate, a plurality of pixel electrodes 72 arranged in a matrix on the TFT substrate 71, and a common electrode com formed between the TFT substrate 71 and the pixel electrode 72. And an insulating layer 74 that insulates the pixel electrode 72 from the common electrode com, and an insulating layer 73. The pixel electrode 72 and the common electrode com are translucent electrodes formed of a translucent conductive material (translucent conductive oxide) such as ITO (Indium Tin Oxide).

ＴＦＴ基板７１には、図示は省略するが、上述した各副画素Ｓｐｉｘの薄膜トランジスタＴｒが形成された半導体層、画素信号を供給する信号線、薄膜トランジスタＴｒを駆動する走査線２４等の配線が絶縁層７３、７４を介して積層されている。絶縁層７３は、例えば、走査線２４と半導体層との間の絶縁膜と、半導体層と信号線２５との間の絶縁膜と、信号線２５と共通電極ｃｏｍとの間の絶縁膜とを含む。絶縁層７４は、共通電極ｃｏｍと画素電極７２との間の絶縁をしている。実施形態１に係る画素基板７０Ａは、絶縁層７３、共通電極ｃｏｍ、絶縁層７４、画素電極７２の順に積層されている。例えば変形例として、実施形態１に係る画素基板７０Ａは、絶縁層７３、画素電極７２、絶縁層７４、共通電極ｃｏｍの順に積層されていてもよい。   Although not shown in the figure, the TFT substrate 71 includes a semiconductor layer in which the thin film transistor Tr of each subpixel Spix is formed, a signal line for supplying a pixel signal, and a wiring such as a scanning line 24 for driving the thin film transistor Tr. 73 and 74 are stacked. The insulating layer 73 includes, for example, an insulating film between the scanning line 24 and the semiconductor layer, an insulating film between the semiconductor layer and the signal line 25, and an insulating film between the signal line 25 and the common electrode com. Including. The insulating layer 74 insulates between the common electrode com and the pixel electrode 72. In the pixel substrate 70A according to the first embodiment, the insulating layer 73, the common electrode com, the insulating layer 74, and the pixel electrode 72 are stacked in this order. For example, as a modification, the pixel substrate 70A according to the first embodiment may be laminated in the order of the insulating layer 73, the pixel electrode 72, the insulating layer 74, and the common electrode com.

画素基板７０Ａは、液晶層７０Ｃ側に配向膜７５を備えている。同様に、対向基板７０Ｂは、液晶層７０Ｃ側に配向膜７７を備えている。ＦＦＳモードの表示装置１（液晶表示パネル２）は、画素基板７０Ａに形成された共通電極ｃｏｍの上に、上述した絶縁層７４を介して、パターニングされた画素電極７２が配置され、これを覆うように配向膜７５が形成される。図６に示すように、配向膜７５と、対向基板７０Ａ側の配向膜７７との間に、液晶層７０Ｃの液晶素子ＬＣが挟持される。２枚の偏光板８１、８２は、クロスニコルの状態で配置される。２枚の配向膜７５、７７のラビング方向は、２枚の偏光板８１、８２の一方の透過軸と一致している。図６に示す配向膜７５及び配向膜７７の矢印が示すラビング方向は、出射側の偏光板８２の透過軸を示す矢印と方向が一致している。さらに、２枚の配向膜７５、７７のラビング方向及び偏光板８２の透過軸の方向は、液晶分子が回転する方向が規定される範囲で、画素電極７２の延設方向とほぼ平行に設定されている。   The pixel substrate 70A includes an alignment film 75 on the liquid crystal layer 70C side. Similarly, the counter substrate 70B includes an alignment film 77 on the liquid crystal layer 70C side. In the display device 1 (liquid crystal display panel 2) in the FFS mode, the patterned pixel electrode 72 is disposed on and covers the common electrode com formed on the pixel substrate 70A via the insulating layer 74 described above. Thus, the alignment film 75 is formed. As shown in FIG. 6, the liquid crystal element LC of the liquid crystal layer 70C is sandwiched between the alignment film 75 and the alignment film 77 on the counter substrate 70A side. The two polarizing plates 81 and 82 are arranged in a crossed Nicols state. The rubbing direction of the two alignment films 75 and 77 coincides with one transmission axis of the two polarizing plates 81 and 82. The rubbing direction indicated by the arrows of the alignment film 75 and the alignment film 77 shown in FIG. 6 coincides with the arrow indicating the transmission axis of the polarizing plate 82 on the emission side. Further, the rubbing direction of the two alignment films 75 and 77 and the direction of the transmission axis of the polarizing plate 82 are set substantially parallel to the extending direction of the pixel electrode 72 within a range in which the direction in which the liquid crystal molecules rotate is defined. ing.

ＦＦＳモードにおいて液晶素子ＬＣの液晶分子は、図７に示すように、ラビング方向に沿って電界非印加時に並んでいる。図６及び図７に示すように、液晶層７０Ｃは、共通電極ｃｏｍと画素電極７２との間に電圧を印加していない状態において、液晶層７０Ｃの液晶分子の軸が、入射側の偏光板８１の透過軸と直交し、かつ、出射側の偏光板８２の透過軸と平行な状態となる。このため、入射側の偏光板８１を透過した入射光ｈは、液晶層７０Ｃ内において位相差を生じることなく出射側の偏光板８２に達し、ここで吸収されるため、黒表示となる。   In the FFS mode, the liquid crystal molecules of the liquid crystal element LC are aligned along the rubbing direction when no electric field is applied, as shown in FIG. As shown in FIGS. 6 and 7, in the liquid crystal layer 70C, in the state where no voltage is applied between the common electrode com and the pixel electrode 72, the axis of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer 70C is the polarizing plate on the incident side. It becomes a state orthogonal to the transmission axis of 81 and parallel to the transmission axis of the polarizing plate 82 on the exit side. For this reason, the incident light h transmitted through the incident-side polarizing plate 81 reaches the output-side polarizing plate 82 without causing a phase difference in the liquid crystal layer 70C, and is absorbed here, resulting in black display.

一方、図８及び図９に示すように、共通電極ｃｏｍと画素電極７２との間に電圧を印加した状態において、液晶層７０Ｃは、液晶分子の配向方向が、共通電極ｃｏｍと画素電極７２との間に生じる横電界Ｅ（図９参照）により、画素電極７２の延設方向に対して斜め方向に回転する。この際、液晶層７０Ｃの厚み方向の中央に位置する液晶分子が約４５度回転するように白表示時の電界強度を最適化する。これにより、入射側の偏光板８１を透過した入射光ｈには、液晶層７０Ｃ内を透過する間に位相差が生じ、９０度回転した直線偏光となり、出射側の偏光板８２を通過するため、白表示となる。なお、共通電極ｃｏｍは、表示エリア部２１の略全面と同じ面積を有している。画素電極７２と、共通電極ｃｏｍとの間にある絶縁膜７４は、例えばシリコン窒化膜（ＳｉＮ）などの無機材料である。絶縁膜７４の厚みは、０．２μｍ程度であり、液晶層７０Ｃの厚み、例えば３μｍと比較すると小さい。このため、図４に示す、実施形態１に係る容量Ｃｓｔｒは、絶縁膜７４を介して作用する成分が支配的になり、縦方向電界駆動と呼ばれる液晶の画素電極と共通電極（対向電極）との容量に比べて１０倍程度大きくなる。ここで、縦方向電界駆動の液晶表示パネルは、画素電極と共通電極（対向電極）とで液晶層を挟み、液晶を基板面に対して直角方向に駆動する液晶表示パネルである。縦方向電界駆動の液晶表示パネルは、例えば、ＴＮ（Twisted Nematic：ツイステッドネマティック）、ＶＡ（Vertical Alignment：垂直配向）等がある。   On the other hand, as shown in FIGS. 8 and 9, in a state where a voltage is applied between the common electrode com and the pixel electrode 72, the liquid crystal layer 70 </ b> C has the alignment direction of the liquid crystal molecules such that the common electrode com and the pixel electrode 72 are aligned. Rotate in an oblique direction with respect to the extending direction of the pixel electrode 72 by a lateral electric field E (see FIG. 9) generated during At this time, the electric field strength at the time of white display is optimized so that the liquid crystal molecules located at the center in the thickness direction of the liquid crystal layer 70C rotate about 45 degrees. As a result, the incident light h transmitted through the incident-side polarizing plate 81 has a phase difference during transmission through the liquid crystal layer 70C, becomes linearly polarized light rotated by 90 degrees, and passes through the output-side polarizing plate 82. White display. Note that the common electrode com has the same area as the substantially entire surface of the display area portion 21. The insulating film 74 between the pixel electrode 72 and the common electrode com is an inorganic material such as a silicon nitride film (SiN). The thickness of the insulating film 74 is about 0.2 μm, which is smaller than the thickness of the liquid crystal layer 70C, for example, 3 μm. Therefore, in the capacitor Cstr according to the first embodiment shown in FIG. 4, the component acting through the insulating film 74 is dominant, and the pixel electrode and the common electrode (counter electrode) of the liquid crystal called vertical electric field drive It is about 10 times larger than the capacity. Here, the vertical electric field drive liquid crystal display panel is a liquid crystal display panel in which a liquid crystal layer is sandwiched between a pixel electrode and a common electrode (counter electrode) and the liquid crystal is driven in a direction perpendicular to the substrate surface. Examples of the vertical electric field drive liquid crystal display panel include TN (Twisted Nematic) and VA (Vertical Alignment).

共通電極ｃｏｍは表示エリア部２１内でベタ膜として形成され、横方向（面内方向）に一様である。このため、横電界Ｅによる液晶分子のイオンｉｔの変位は、イオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙが比較的作用しやすく、容量Ｃｓｔｒを介して誘起される共通電極ｃｏｍの電荷ｅ−が、横方向の変位Δｘでは誘起されない。これにより、共通電極ｃｏｍにより、検出されるイオン起因の過渡電流は、イオンｉｔの縦方向の変位Δｙに起因する電荷ｅ−が主となり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が、ほとんど作用しない。横方向電界駆動の場合は、縦方向電界駆動に比べて、液晶にかかる電界Ｅは横方向が支配的であるので、縦成分Ｉ（ｉｏｎ＿ｙ）も、例えば１／１０程度となり、小さくなる。   The common electrode com is formed as a solid film in the display area portion 21 and is uniform in the horizontal direction (in-plane direction). For this reason, the displacement of the ions it of the liquid crystal molecules due to the transverse electric field E is relatively easily affected by the longitudinal displacement Δy of the displacements q (Δx, Δy) of the ions it, and the common electrode is induced via the capacitance Cstr. The charge e− of the com is not induced by the lateral displacement Δx. Thereby, the transient current caused by the ions detected by the common electrode com is mainly the charge e− caused by the longitudinal displacement Δy of the ions it, and the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it. However, it hardly works. In the case of the horizontal electric field drive, the electric field E applied to the liquid crystal is dominant in the horizontal direction as compared with the vertical electric field drive, so that the vertical component I (ion_y) becomes, for example, about 1/10, which is small.

（液晶特性の測定システム）
図１０は、液晶特性の測定システムを説明するための説明図である。液晶特性の測定システム１００は、測定装置１１０と、コンピュータ１２０と、表示装置１３０と、プローブＰＴＳＩＧ１、ＰＴＳＩＧ２及びＰｃｏｍを含む。 (Measurement system for liquid crystal properties)
FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining a measurement system for liquid crystal characteristics. The liquid crystal characteristic measurement system 100 includes a measurement device 110, a computer 120, a display device 130, and probes PTSIG1, PTSIG2, and Pcom.

コンピュータ１２０は、演算手段としてＣＰＵ（中央演算処理装置：Central Processing Unit）１２１と、ＲＡＭ（Random Access Memory）１２２と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disc Drive）などの記憶部１２３と、Ｉ／Ｏインタフェース１２４、１２５と、を備えている。   The computer 120 includes a CPU (Central Processing Unit) 121, a RAM (Random Access Memory) 122, a storage unit 123 such as a hard disk drive (HDD), and an I / O interface as arithmetic means. 124, 125.

ＲＡＭ１２２は、プログラム及びデータの記録及び読み出しができるメインメモリであり、作業エリアを提供すると共に、液晶特性の測定システム１００を制御するための複数のプログラムが格納されている。   The RAM 122 is a main memory capable of recording and reading programs and data. The RAM 122 provides a work area and stores a plurality of programs for controlling the liquid crystal characteristic measurement system 100.

ＣＰＵ１２１は、Ｉ／Ｏインタフェース１２４から入力された信号等に基づいて、ＲＡＭ１２２に格納されたプログラムを読み出して実行し、演算結果を記憶部１２３又はＩ／Ｏインタフェース１２５へ出力する。   The CPU 121 reads out and executes the program stored in the RAM 122 based on the signal input from the I / O interface 124 and outputs the calculation result to the storage unit 123 or the I / O interface 125.

表示装置１３０は、Ｉ／Ｏインタフェース１２５から入力された信号等に基づいて、グラフィクスの表示に必要な演算処理を行い、表示部１３１で表示する。   The display device 130 performs arithmetic processing necessary for displaying graphics based on a signal or the like input from the I / O interface 125 and displays it on the display unit 131.

Ｉ／Ｏインタフェース１２４は、通信インタフェース規格に合致した入出力インタフェース等である。   The I / O interface 124 is an input / output interface that conforms to the communication interface standard.

図１１は、実施形態１に係る液晶表示パネルの液晶特性の測定を説明するための等価回路図である。図１２は、実施形態１に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。測定装置１１０は、図１１及び図１２に示すように、電圧生成部１１１を備えている。   FIG. 11 is an equivalent circuit diagram for explaining measurement of liquid crystal characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 12 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the first embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. The measurement apparatus 110 includes a voltage generation unit 111 as illustrated in FIGS. 11 and 12.

図１１に示す等価回路は、図１２に示す電圧生成部１１１とテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔとの接続状態により、電圧生成部１１１が図１３に示す画素電極７２へ電圧を印加している。図１１に示す等価回路において、容量Ｃｐｐは、図４に示す隣り合う画素電極７２間の間に作用する容量成分である。また、図１１に示す等価回路において、容量Ｃｓｔｒは、図４に示す画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間に作用する容量成分である。なお、図１１に示す抵抗Ｒｐｐは、隣り合う画素電極７２間の間にある抵抗成分である。図１１に示す抵抗Ｒｓｔは、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間にある抵抗成分である。電圧生成部１１１とテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔとの接続については、図１２を参照して詳述する。   In the equivalent circuit shown in FIG. 11, the voltage generator 111 applies a voltage to the pixel electrode 72 shown in FIG. 13 according to the connection state between the voltage generator 111 shown in FIG. 12 and the test signal electrode pad Ttest. In the equivalent circuit shown in FIG. 11, the capacitance Cpp is a capacitance component that acts between the adjacent pixel electrodes 72 shown in FIG. In the equivalent circuit shown in FIG. 11, the capacitor Cstr is a capacitor component that acts between the pixel electrode 72 and the common electrode com shown in FIG. Note that the resistor Rpp shown in FIG. 11 is a resistance component between the adjacent pixel electrodes 72. A resistance Rst shown in FIG. 11 is a resistance component between the pixel electrode 72 and the common electrode com. The connection between the voltage generator 111 and the test signal electrode pad Ttest will be described in detail with reference to FIG.

図１２に示すように、測定装置１１０は、電圧生成部１１１と、検出駆動選択部１１２と、信号線選択制御部１１３と、走査線選択制御部１１４と、第１の電流測定部ＡＭ１と、第２の電流測定部ＡＭ２とを備えている。測定装置１１０は、第２の電流測定部ＡＭ２への接続と、電位を固定しないフローティング状態にするフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを選択する選択スイッチＴＳＷｍを備えている。   As shown in FIG. 12, the measuring apparatus 110 includes a voltage generation unit 111, a detection drive selection unit 112, a signal line selection control unit 113, a scanning line selection control unit 114, a first current measurement unit AM1, And a second current measurement unit AM2. The measurement apparatus 110 includes a selection switch TSWm that selects connection to the second current measurement unit AM2 and floating terminal floating that sets the potential in a floating state.

電圧生成部１１１は、例えば時間に対する電圧が上下に変化し、縦軸を電圧及び横軸を時間として三角形状となる三角波の電圧波形を生成する。電圧生成部１１１は、上述したプローブＰＴＳＩＧ１を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ１配線の端部へ三角波信号（所定の変化する電圧）を供給する。   For example, the voltage generation unit 111 generates a voltage waveform of a triangular wave having a triangular shape with the voltage with respect to time changing up and down, the voltage on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The voltage generation unit 111 supplies a triangular wave signal (a predetermined changing voltage) to the end of the tsig1 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the probe PTSIG1.

検出駆動選択部１１２は、後述する測定用回路を動作させる信号をテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｓＴＳＷ配線へ供給する。   The detection drive selection unit 112 supplies a signal for operating a later-described measurement circuit to the sTSW wiring of the test signal electrode pad Ttest.

信号線選択制御部１１３は、後述する測定用回路から駆動する副画素Ｓｐｉｘの信号線２５を選択動作させる信号をテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｓＳＥＬ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）配線へ供給する。   The signal line selection control unit 113 supplies a signal for selecting the signal line 25 of the sub-pixel Spix driven from the measurement circuit described later to the sSEL-R (G, B) wiring of the test signal electrode pad Ttest.

走査線選択制御部１１４は、表示エリア部２１内の全画素Ｐｉｘの走査線２４を全部オンし、全画素Ｐｉｘにおける画素電極７２を動作させる信号をテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｘｄｉｓｃ配線へ供給する。   The scanning line selection control unit 114 turns on all the scanning lines 24 of all the pixels Pix in the display area unit 21 and supplies a signal for operating the pixel electrodes 72 in all the pixels Pix to the xdisc wiring of the test signal electrode pad Ttest. .

第１の電流測定部ＡＭ１は、上述したプローブＰＴＳＩＧ２を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ２配線の端部に接続し、ｔｓｉｇ２配線に流れる電流を計測することができる。   The first current measuring unit AM1 is connected to the end of the tsig2 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the probe PTSIG2 described above, and can measure the current flowing through the tsig2 wiring.

選択スイッチＴＳＷｍは、上述したプローブＰｃｏｍを介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線の端部に接続されている。このように、選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線と第２の電流測定部ＡＭ２とを接続している場合、共通電極ｃｏｍに流れる電流を計測することができる。第２の電流測定部ＡＭ２は共通電極ｃｏｍに流れる電流を計測するために、共通電極ｃｏｍを所定の電位で固定している。選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線とフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続している場合、共通電極ｃｏｍの電位を固定しない。   The selection switch TSWm is connected to the end of the wiring that supplies the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest via the probe Pcom described above. Thus, the selection switch TSWm can measure the current flowing through the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the second current measuring unit AM2 are connected. it can. The second current measuring unit AM2 fixes the common electrode com at a predetermined potential in order to measure the current flowing through the common electrode com. The selection switch TSWm does not fix the potential of the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the floating terminal floating are connected.

図１３は、実施形態１に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。電圧生成部１１１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、一方の副画素Ｓｐｉｘ１の画素電極７２に、所定（例えば、三角波）の変化する電圧を印加する。第１の電流測定部ＡＭ１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、他方の副画素Ｓｐｉｘ２の画素電極７２に流れる電流を検出する。第２の電流測定部ＡＭ２は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。第２の電流測定部ＡＭ２は、選択スイッチＴＳＷｍにより共通電極ｃｏｍに接続された場合、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。第２の電流測定部ＡＭ２は、選択スイッチＴＳＷｍにより共通電極ｃｏｍがｆｌｏａｔｉｎｇ端子と接続している場合、何も行わない。   FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 1 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. The voltage generation unit 111 applies a predetermined (for example, triangular wave) varying voltage to the pixel electrode 72 of one of the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. The first current measurement unit AM1 detects a current flowing through the pixel electrode 72 of the other subpixel Spix2 among the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. The second current measurement unit AM2 detects a current flowing through the common electrode com. The second current measurement unit AM2 detects the current flowing through the common electrode com when connected to the common electrode com by the selection switch TSWm. The second current measurement unit AM2 does nothing when the common electrode com is connected to the floating terminal by the selection switch TSWm.

ここで、実施形態１に係る液晶特性の測定方法は、横電界によって液晶分子の配向を制御する液晶表示パネルの液晶を流れる過渡電流を、特許文献１に記載の液晶特性の測定方法と比較して、高精度で検出できる理由について説明する。特許文献１に記載の液晶特性の測定方法は、画素電極が液晶層を介して共通電極ｃｏｍと対向している縦電界によって液晶分子の配向を制御する場合、有効に液晶を流れる過渡電流を検出できる。しかしながら、特許文献１に記載の液晶特性の測定方法は、横電界によって液晶分子の配向を制御する液晶表示パネルに適用する場合、電圧生成部１１１は、対象となる副画素Ｓｐｉｘ１の画素電極７２に、所定（例えば、三角波）の変化する電圧を印加する。そして、第２の電流測定部ＡＭ２は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。この場合、液晶分子のイオンｉｔは、横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙにより、容量Ｃｓｔｒを介して共通電極ｃｏｍに電荷ｅ−が誘起される。これにより、第２の電流測定部ＡＭ２が検出する電流は、イオンｉｔの縦方向の変位Δｙに起因する電荷ｅ−が主となり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が、例えば１／１０程度しか作用しない。   Here, the liquid crystal characteristic measurement method according to Embodiment 1 compares the transient current flowing in the liquid crystal of the liquid crystal display panel that controls the alignment of liquid crystal molecules by a lateral electric field with the liquid crystal characteristic measurement method described in Patent Document 1. The reason why it can be detected with high accuracy will be described. The method for measuring liquid crystal characteristics described in Patent Document 1 detects a transient current that effectively flows through liquid crystal when the orientation of liquid crystal molecules is controlled by a vertical electric field in which the pixel electrode faces the common electrode com through the liquid crystal layer. it can. However, when the method for measuring liquid crystal characteristics described in Patent Document 1 is applied to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules is controlled by a lateral electric field, the voltage generation unit 111 applies the pixel electrode 72 of the target subpixel Spix1. A voltage that changes in a predetermined manner (for example, a triangular wave) is applied. Then, the second current measuring unit AM2 detects a current flowing through the common electrode com. In this case, in the ions it of the liquid crystal molecules, a charge e− is induced on the common electrode com through the capacitance Cstr by the vertical displacement Δy of the displacements q (Δx, Δy) of the ions it by the horizontal electric field E. Thereby, the current detected by the second current measuring unit AM2 is mainly the charge e− due to the vertical displacement Δy of the ion it, and the charge e− due to the lateral displacement Δx of the ion it is For example, it works only about 1/10.

これに対して、実施形態１に係る液晶特性の測定方法は、図１３に示すように、電圧生成部１１１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、一方の副画素Ｓｐｉｘ１の画素電極７２に、所定（例えば、三角波）の変化する電圧を印加する。第１の電流測定部ＡＭ１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、他方の副画素Ｓｐｉｘ２の画素電極７２に流れる電流を検出する。第２の電流測定部ＡＭ２は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。図１３に示すように、液晶分子のイオンｉｔは、横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙにより、容量Ｃｓｔｒを介して共通電極ｃｏｍに電荷ｅ−が誘起される。横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち横方向の変位Δｘにより、容量Ｃｐｐを介して副画素Ｓｐｉｘ２に電荷ｅ−が誘起される。   In contrast, in the method for measuring liquid crystal characteristics according to the first embodiment, as illustrated in FIG. 13, the voltage generation unit 111 uses the pixel electrode of one of the subpixels Spix1 out of the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. A predetermined voltage (for example, a triangular wave) is applied to 72. The first current measurement unit AM1 detects a current flowing through the pixel electrode 72 of the other subpixel Spix2 among the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. The second current measurement unit AM2 detects a current flowing through the common electrode com. As shown in FIG. 13, the ions it of the liquid crystal molecules are charged by the common electrode com via the capacitor Cstr due to the displacement Δy in the vertical direction among the displacements q (Δx, Δy) of the ions it due to the horizontal electric field E. Induced. A charge e− is induced in the sub-pixel Spix2 by the lateral electric field E due to the lateral displacement Δx of the displacement q (Δx, Δy) of the ions it.

また、一般的に容量Ｃｓｔｒは、容量Ｃｐｐの容量成分より、例えば百倍程度大きい。このため、第１の電流測定部ＡＭ１は、第２の電流測定部ＡＭ２よりも１００倍程度多く過渡電流が流れるため、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−の検出感度が１００倍程度向上する。以上説明したように、実施形態１に記載の液晶特性の測定方法は、第１の電流測定部ＡＭ１が過渡電流Ｉｐｉｘを検出し、第２の電流測定部ＡＭ２が過渡電流Ｉｃｏｍを検出するので、過渡電流Ｉｐｉｘと過渡電流Ｉｃｏｍとを分離して検出できる。なお、第２の電流測定部ＡＭ２が過渡電流Ｉｃｏｍを検出するために印加するコモン電位Ｖｃｏｍは、電圧生成部１１１が印加する最大電圧の絶対値より小さくかつ接地電圧（ＧＮＤ）以上であることが好ましい。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１は、過渡電流Ｉｐｉｘと過渡電流Ｉｃｏｍとをより分離して検出できる。   In general, the capacitance Cstr is, for example, about 100 times larger than the capacitance component of the capacitance Cpp. For this reason, the first current measurement unit AM1 has a transient current flowing about 100 times more than the second current measurement unit AM2, so that the detection sensitivity of the charge e− due to the lateral displacement Δx of the ions it is 100. It improves about twice. As described above, in the method for measuring liquid crystal characteristics described in the first embodiment, the first current measurement unit AM1 detects the transient current Ipix and the second current measurement unit AM2 detects the transient current Icom. The transient current Ipix and the transient current Icom can be detected separately. Note that the common potential Vcom applied for the second current measurement unit AM2 to detect the transient current Icom is smaller than the absolute value of the maximum voltage applied by the voltage generation unit 111 and equal to or higher than the ground voltage (GND). preferable. Thereby, the first current measurement unit AM1 can detect the transient current Ipix and the transient current Icom more separately.

選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線とフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続している場合、共通電極ｃｏｍの電位を固定しない。この場合、共通電極ｃｏｍの電位が浮いており、容量Ｃｓｔｒを介して誘起される電荷ｅ−が共通電極ｃｏｍよりも、副画素Ｓｐｉｘ２の画素電極７２に誘起されやすい。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１は、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−の検出感度が向上する。   The selection switch TSWm does not fix the potential of the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the floating terminal floating are connected. In this case, the potential of the common electrode com is floating, and the charge e− induced through the capacitor Cstr is more easily induced in the pixel electrode 72 of the sub-pixel Spix2 than in the common electrode com. As a result, the first current measuring unit AM1 improves the sensitivity of detecting the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it.

図１４は、実施形態１に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。上述したように、ドライバＩＣ３は、ＣＯＧ入力用信号電極パッドＴｉｃに接続されている。図１４に示す画素Ｐｉｘは、図３に示す各副画素Ｓｐｉｘに赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の異なる色領域に対応付けられて、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ及びＳｐｉｘＢを１組とした列として、順に並べている。副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ及びＳｐｉｘＢは、上述したように、薄膜トランジスタＴｒと、薄膜トランジスタＴｒ及び共通電極ｃｏｍとの間に上述した容量Ｃｐｐ及び容量Ｃｓｔｒを含む容量Ｃｌｃと、を含む。共通電極ｃｏｍには、通常駆動の場合には、ドライバＩＣ３から、コモン電位Ｖｃｏｍが印加される。また、共通電極ｃｏｍは、図１２に示す選択スイッチＴＳＷｍが接続されているテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線にも接続されている。   FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. As described above, the driver IC 3 is connected to the COG input signal electrode pad Tic. A pixel Pix shown in FIG. 14 is associated with each of the sub-pixels Spix shown in FIG. 3 in different color regions of three colors of red (R), green (G), and blue (B), and the sub-pixels SpixR, SpixG and SpixB is arranged in order as a set of columns. As described above, the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB include the thin film transistor Tr, and the capacitance Clc including the capacitance Cpp and the capacitance Cstr described above between the thin film transistor Tr and the common electrode com. In the case of normal driving, the common potential Vcom is applied to the common electrode com from the driver IC 3. The common electrode com is also connected to a wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest to which the selection switch TSWm shown in FIG. 12 is connected.

水平ドライバ２３は、例えば、３つのスイッチａｓｗＲ、ａｓｗＧ、ａｓｗＢを備え、３つのスイッチａｓｗＲ、ａｓｗＧ、ａｓｗＢの各一端は互いに接続されドライバＩＣ３から画像信号Ｖｓｉｇが供給される。３つのスイッチａｓｗＲ、ａｓｗＧ、ａｓｗＢの各他端は液晶表示パネル２の信号線２５ｎ＋１・・・２５ｎ＋６を介して、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ接続されている。３つのスイッチａｓｗＲ、ａｓｗＧ、ａｓｗＢは、ドライバＩＣ３から供給されたセレクタスイッチ制御信号ｓＡＳＷ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）（ｓＡＳＷ−Ｒ、ｓＡＳＷ−Ｇ、ｓＡＳＷ−Ｂ）によってそれぞれ開閉制御される。この構成により、水平ドライバ２３は、セレクタスイッチ制御信号ｓＡＳＷ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）に応じて、スイッチａｓｗＲ、ａｓｗＧ、ａｓｗＢを時分割的に順次切り替えてオン（ＯＮ）状態にすることができる。これにより、水平ドライバ２３は、多重化された３つの副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ供給する画素信号を画像信号Ｖｓｉｇから分離する。そして、水平ドライバ２３は、画素信号を、３つの副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ供給する。 The horizontal driver 23 includes, for example, three switches aswR, aswG, and aswB. One ends of the three switches aswR, aswG, and aswB are connected to each other, and the image signal Vsig is supplied from the driver IC3. The other ends of the three switches aswR, aswG, and aswB are connected to the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB via signal lines 25 n + 1 ... 25 n + 6 of the liquid crystal display panel 2, respectively. The three switches aswR, aswG, and aswB are controlled to be opened and closed by selector switch control signals sASW-R (G, B) (sASW-R, sASW-G, sASW-B) supplied from the driver IC3. According to this configuration, the horizontal driver 23 can sequentially switch the switches aswR, aswG, and aswB in a time-division manner according to the selector switch control signal sASW-R (G, B). Thereby, the horizontal driver 23 separates the pixel signals supplied to the three multiplexed subpixels SpixR, SpixG, and SpixB from the image signal Vsig. Then, the horizontal driver 23 supplies the pixel signal to the three subpixels SpixR, SpixG, and SpixB.

図１４において、図２に示す垂直ドライバ（垂直駆動回路）２２Ａ、２２Ｂは、同じ回路構成であるので垂直ドライバ２２として、説明する。垂直ドライバ２２は、転送回路２２ｓと、論理回路２２ｃと、バッファー回路２２ｂとを含む。通常駆動であれば、転送回路２２ｓは、内蔵するシフトレジスタが上述したドライバＩＣ３からの垂直スタートパルスｖｓｔに応答して動作を開始し、転送され、垂直クロックパルスｃｌｋに同期して、走査線２４ｍが順次垂直走査方向に選択され、各バッファー回路２２ｂに垂直選択パルスを順次出力する。バッファー回路２２ｂは、垂直選択パルスを受けて、上位レベルの電位と下位レベルの電位とから、走査線２４ｍを駆動するのに十分な電流を供給する。論理回路２２ｃは、転送回路２２ｓとは無関係に、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔからｘｄｉｓｃ配線を介した、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートを全てオープンにする。これにより、走査線２４ｍに駆動される薄膜トランジスタＴｒのスイッチング素子の機能は、画素電極７２と副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ接続されている信号線２５ｎ＋１・・・２５ｎ＋６とが繋がった状態になる。 In FIG. 14, the vertical drivers (vertical drive circuits) 22A and 22B shown in FIG. The vertical driver 22 includes a transfer circuit 22s, a logic circuit 22c, and a buffer circuit 22b. In the case of normal driving, the transfer circuit 22 s starts the operation of the built-in shift register in response to the vertical start pulse vst from the driver IC 3 described above, transferred, and in synchronization with the vertical clock pulse clk, the scanning line 24 s. m are sequentially selected in the vertical scanning direction, and a vertical selection pulse is sequentially output to each buffer circuit 22b. Buffer circuit 22b receives the vertical selection pulse, and a higher-level potential and low level potential, supplying sufficient current to drive the scanning lines 24 m. Regardless of the transfer circuit 22s, the logic circuit 22c opens all the gates of the thin film transistors Tr according to the signal of the scanning line selection control unit 114 from the test signal electrode pad Ttest through the xdisc wiring. As a result, the function of the switching element of the thin film transistor Tr driven by the scanning line 24 m is connected to the pixel electrode 72 and the signal lines 25 n + 1 to 25 n + 6 connected to the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB, respectively. It becomes a state.

図１４に示すように、測定用回路ＴＣは、検出駆動選択スイッチＴＳＷ１、ＴＳＷ２と、検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢと、を含む。検出駆動選択スイッチＴＳＷ１は、検出駆動選択スイッチＴＳＷ１の一端が、ｔｓｉｇ１配線に接続されており、他端が検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢの一端に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ１に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＲは、他端が奇数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ１に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＧは、他端が偶数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ１に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＢは、他端が奇数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）に接続されている。 As shown in FIG. 14, the measurement circuit TC includes detection drive selection switches TSW1 and TSW2, and detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB. The detection drive selection switch TSW1 has one end of the detection drive selection switch TSW1 connected to the tsig1 wiring and the other end connected to one end of the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB. The detection signal line selection switch SELR having one end connected to the detection drive selection switch TSW1 is connected to the signal line 25 n + 1 (SigRodd) of the pixel Pix in the odd column. The detection signal line selection switch SELG having one end connected to the detection drive selection switch TSW1 is connected to the signal line 25 n + 5 (SigGeven) of the pixel Pix in the even column. The detection signal line selection switch SELB whose one end is connected to the detection drive selection switch TSW1 is connected to the signal line 25 n + 3 (SigBodd) of the pixel Pix in the odd-numbered column at the other end.

検出駆動選択スイッチＴＳＷ２は、検出駆動選択スイッチＴＳＷ２の一端が、ｔｓｉｇ２配線に接続されており、他端が検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢの一端に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ２に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＲは、他端が偶数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ２に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＧは、他端が奇数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）に接続されている。一端が検出駆動選択スイッチＴＳＷ２に接続された検出信号線選択スイッチＳＥＬＢは、他端が偶数列の画素Ｐｉｘの信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）に接続されている。 The detection drive selection switch TSW2 has one end of the detection drive selection switch TSW2 connected to the tsig2 wiring and the other end connected to one end of the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB. The detection signal line selection switch SELR having one end connected to the detection drive selection switch TSW2 is connected to the signal line 25 n + 4 (SigReven) of the pixel Pix in the even column. The detection signal line selection switch SELG having one end connected to the detection drive selection switch TSW2 has the other end connected to the signal line 25 n + 2 (SigGodd) of the pixel Pix in the odd column. The detection signal line selection switch SELB having one end connected to the detection drive selection switch TSW2 has the other end connected to the signal line 25 n + 6 (SigBeven) of the pixel Pix in the even-numbered column.

図１５は、実施形態１に係る液晶表示パネルの液晶特性の測定方法を説明するフローチャートである。図１６は、実施形態１に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。図１６において、通常駆動とあるのは、上述した液晶表示パネルの通常駆動方式における動作している信号を示している。通常駆動において、セレクタスイッチ制御信号ｓＡＳＷ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）（ｓＡＳＷ−Ｒ、ｓＡＳＷ−Ｇ、ｓＡＳＷ−Ｂ）は、印加されている（ＯＮ）が、実施形態１に係るイオン検出駆動において無関係である。通常駆動において、画像信号Ｖｓｉｇは、印加されている（画像信号）が、実施形態１に係るイオン検出駆動において無関係である。通常駆動において、垂直スタートパルスｖｓｔは、印加されている（ＯＮ）が、実施形態１に係るイオン検出駆動において無関係である。通常駆動において、垂直クロックパルスｃｌｋは、印加されている（ＯＮ）が、実施形態１に係るイオン検出駆動において無関係である。通常駆動において、コモン電位Ｖｃｏｍは、印加されている（Ｖｃｏｍ信号）が、実施形態１に係るイオン検出駆動において電位が固定されていない又は第２の電流測定部ＡＭ２から電位が供給され固定電位（電流検出）の状態である。通常駆動において、ｓＳＥＬ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）配線の信号は、印加されていない（ＯＦＦ）であるが、実施形態１に係るイオン検出駆動において電位が印加されている（ＯＮ）の状態である。通常駆動において、ｔｓｉｇ１配線及びｔｓｉｇ２配線の信号は、無関係であるが、実施形態１に係るイオン検出駆動において後述する状態である。通常駆動において、ｘｄｉｓｃ配線の信号は、印加されていない（ＯＦＦ）であるが、実施形態１に係るイオン検出駆動において後述する状態である。以下、通常駆動の信号を示している場合、説明を省略する。   FIG. 15 is a flowchart illustrating a method for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. FIG. 16 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. In FIG. 16, “normal drive” indicates a signal that is operating in the above-described normal drive method of the liquid crystal display panel. In normal driving, the selector switch control signal sASW-R (G, B) (sASW-R, sASW-G, sASW-B) is applied (ON), but is irrelevant in the ion detection driving according to the first embodiment. It is. In normal driving, the image signal Vsig is applied (image signal), but is irrelevant in the ion detection driving according to the first embodiment. In normal driving, the vertical start pulse vst is applied (ON), but is irrelevant in the ion detection driving according to the first embodiment. In the normal driving, the vertical clock pulse clk is applied (ON), but is irrelevant in the ion detection driving according to the first embodiment. In the normal driving, the common potential Vcom is applied (Vcom signal), but the potential is not fixed in the ion detection driving according to the first embodiment, or the potential is supplied from the second current measurement unit AM2, and the fixed potential ( Current detection). In the normal drive, the signal of the sSEL-R (G, B) wiring is not applied (OFF), but the potential is applied (ON) in the ion detection drive according to the first embodiment. . In normal driving, the signals of the tsig1 wiring and the tsig2 wiring are irrelevant, but are in the state described later in the ion detection driving according to the first embodiment. In normal driving, the signal of the xdisc wiring is not applied (OFF), but is in the state described later in the ion detection driving according to the first embodiment. Hereinafter, when a normal drive signal is shown, the description is omitted.

まず、液晶特性の測定システム１００は、図１５に示すように、測定装置１１０のプローブＰＴＳＩＧ１、ＰＴＳＩＧ２及びＰｃｏｍがテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔに接続される（ステップＳ１１）。   First, in the liquid crystal characteristic measurement system 100, as shown in FIG. 15, the probes PTSIG1, PTSIG2, and Pcom of the measurement apparatus 110 are connected to the test signal electrode pad Ttest (step S11).

次に、測定装置１１０は、検出駆動選択部１１２が供給する測定用回路ＴＣを動作させる信号を供給し、イオン検出駆動に切り換える（ステップＳ１２）。例えば、図１６に示すように、検出駆動選択部１１２がｓＴＳＷ配線の信号がオン（ＯＮ）を供給すると、検出駆動選択スイッチＴＳＷ１、ＴＳＷ２が動作する。これにより、ｔｓｉｇ１配線と検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢの一端が導通する。   Next, the measurement apparatus 110 supplies a signal for operating the measurement circuit TC supplied by the detection drive selection unit 112, and switches to ion detection drive (step S12). For example, as shown in FIG. 16, when the detection drive selection unit 112 supplies the sTSW wiring signal ON (ON), the detection drive selection switches TSW1 and TSW2 operate. Thereby, one end of the tsig1 wiring and the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB are conducted.

次に、測定装置１１０は、測定対象の画素Ｐｉｘを選択する（ステップＳ１３）。または、測定装置１１０は、測定対象の副画素Ｓｐｉｘ（ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢ）を選択する。例えば、図１６に示すように、走査線選択制御部１１４が走査線２４ｍを全て動作させる信号ｄｉｓｃをｘｄｉｓｃ配線へ供給する。走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートを全てオープンになる。そして、信号線選択制御部１１３は、ｓＳＥＬ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）配線の信号としてオン（ＯＮ）を供給すると、検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢが動作する。これにより、ｔｓｉｇ１配線と信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）が導通する。またｔｓｉｇ２配線と信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）が導通する。 Next, the measuring apparatus 110 selects a pixel Pix to be measured (Step S13). Alternatively, the measuring apparatus 110 selects the subpixel Spix (SpixR, SpixG, SpixB) to be measured. For example, as shown in FIG. 16, and supplies a signal disc scanning line selection control section 114 to operate all scan lines 24 m to xdisc wiring. All the gates of the thin film transistors Tr are opened in response to a signal from the scanning line selection control unit 114. When the signal line selection control unit 113 supplies ON (ON) as a signal of the sSEL-R (G, B) wiring, the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB operate. As a result, the tsig1 wiring is electrically connected to the signal line 25 n + 1 (SigRodd), the signal line 25 n + 5 (SigGeven), and the signal line 25 n + 3 (SigBodd). Further, the tsig2 wiring is electrically connected to the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven).

次に、測定装置１１０は、電圧生成部１１１が三角波の電圧波形（三角波信号）を生成し、液晶表示パネル外からｔｓｉｇ１配線へ測定用電圧として三角波信号（所定の変化する電圧）を印加する（ステップＳ１４）。三角波信号は、ｔｓｉｇ１配線と導通する信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）に供給される。そして、三角波信号は、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートが全てオープンになっているので、薄膜トランジスタＴｒ(スイッチング素子)を介して、副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢの各列の上述した画素電極７２に印加される。これにより、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）の各列の副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢは、画素電極７２に三角波信号が印加されている状態になる。 Next, in the measuring apparatus 110, the voltage generation unit 111 generates a triangular wave voltage waveform (triangular wave signal), and applies a triangular wave signal (predetermined changing voltage) as a measurement voltage to the tsig1 wiring from outside the liquid crystal display panel ( Step S14). The triangular wave signal is supplied to the signal line 25 n + 1 (SigRodd), the signal line 25 n + 5 (SigGeven), and the signal line 25 n + 3 (SigBodd) that are electrically connected to the tsig1 wiring. In addition, since all of the gates of the thin film transistors Tr are open according to the signal of the scanning line selection control unit 114, the triangular wave signal has the subpixel SpixR, the subpixel SpixG and the subpixel SpixG via the thin film transistor Tr (switching element). The voltage is applied to the pixel electrode 72 described above in each column of the pixel SpixB. As a result, the sub-pixel SpixR, the sub-pixel SpixG, and the sub-pixel SpixB in each column of the signal line 25 n + 5 (SigGeven) and the signal line 25 n + 3 (SigBodd) are in a state where a triangular wave signal is applied to the pixel electrode 72.

次に、測定装置１１０は、第１の電流測定部ＡＭ１が、ｔｓｉｇ２配線と信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）が導通するｔｓｉｇ２配線に流れる電流を測定する（ステップＳ１５）。走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートが全てオープンになっているので、薄膜トランジスタＴｒ(スイッチング素子)を介して、副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢの各列の上述した画素電極７２に流れる電流がｔｓｉｇ２配線に流れる。信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）の各列の副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢは、画素電極７２に過渡電流が流れ、この過渡電流がｔｓｉｇ２配線を介して、液晶表示パネル外へ出力される。このように、液晶特性の測定方法は、複数の薄膜トランジスタＴｒ（スイッチング素子）のうち、一部の薄膜トランジスタＴｒ（スイッチング素子）に接続される画素電極７２に対して所定の変化する電圧を印加するステップＳ１４と、電圧が印加された画素電極７２と異なる画素電極７２に流れる過渡電流を計測する電流測定のステップＳ１５と、を含む。これにより、測定用回路ＴＣは、隣り合う薄膜トランジスタＴｒのうち、一方の薄膜トランジスタＴｒに接続される画素電極７２に、液晶表示パネル外から所定の変化する電圧、つまり三角波信号を印加し、電圧に応じて他方のスイッチング素子に接続される画素電極７２の過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する。実施形態１において、信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）に接続する薄膜トランジスタＴｒを有する、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢの画素電極７２には、三角波信号が供給される。つまり、表示エリア部２１にある複数の薄膜トランジスタＴｒのうちの一部の薄膜トランジスタＴｒを有する、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢの画素電極７２には、三角波信号が供給される。三角波信号が供給される副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢに隣り合い、かつ信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）に接続する薄膜トランジスタＴｒを有する、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢの画素電極７２に流れる過渡電流が第１の電流測定部ＡＭ１で検出される。そして、測定用回路ＴＣは、複数の画素Ｐｉｘに跨がって隣り合う薄膜トランジスタＴｒのうち一部の薄膜トランジスタＴｒに接続される画素電極７２に、液晶表示パネル外から三角波信号を印加し、三角波信号の電圧が印加された画素電極７２と異なる画素電極７２に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１は、過渡電流を多く検出できる。 Next, in the measuring apparatus 110, the first current measuring unit AM1 flows through the tsig2 wiring where the tsig2 wiring and the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven) are conducted. Current is measured (step S15). Since all the gates of the thin film transistors Tr are open according to the signal of the scanning line selection control unit 114, each column of the sub-pixel SpixR, the sub-pixel SpixG, and the sub-pixel SpixB is connected via the thin film transistor Tr (switching element). The current flowing through the pixel electrode 72 described above flows through the tsig2 wiring. The sub-pixel SpixR, the sub-pixel SpixG, and the sub-pixel SpixB of each column of the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven) flow through the pixel electrode 72. The transient current is output to the outside of the liquid crystal display panel through the tsig2 wiring. As described above, in the method for measuring liquid crystal characteristics, a predetermined changing voltage is applied to the pixel electrodes 72 connected to some of the thin film transistors Tr (switching elements) among the plurality of thin film transistors Tr (switching elements). S14 and a current measurement step S15 for measuring a transient current flowing in a pixel electrode 72 different from the pixel electrode 72 to which a voltage is applied. Thereby, the measurement circuit TC applies a predetermined voltage, that is, a triangular wave signal from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode 72 connected to one of the thin film transistors Tr among the adjacent thin film transistors Tr, and according to the voltage. The transient current of the pixel electrode 72 connected to the other switching element is output to the outside of the liquid crystal display panel. In the first embodiment, the pixel electrodes 72 of the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB having the thin film transistors Tr connected to the signal line 25 n + 1 (SigRodd), the signal line 25 n + 5 (SigGeven), and the signal line 25 n + 3 (SigBodd) A triangular wave signal is supplied. That is, the triangular wave signal is supplied to the pixel electrodes 72 of the sub-pixels SpixR, SpixG, and SpixB, which have some thin film transistors Tr among the plurality of thin film transistors Tr in the display area unit 21. A sub-pixel having a thin film transistor Tr adjacent to the sub-pixels SpixR, SpixG, and SpixB to which a triangular wave signal is supplied and connected to the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven). The transient current that flows through the pixel electrodes 72 of the pixels SpixR, SpixG, and SpixB is detected by the first current measurement unit AM1. Then, the measurement circuit TC applies a triangular wave signal from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode 72 connected to a part of the thin film transistors Tr among adjacent thin film transistors Tr straddling the plurality of pixels Pix, and the triangular wave signal. The transient current that flows in the pixel electrode 72 different from the pixel electrode 72 to which the voltage is applied is output to the outside of the liquid crystal display panel. Thereby, the first current measuring unit AM1 can detect a large amount of transient current.

次に、測定装置１１０は、第２の電流測定部ＡＭ２が、共通電極ｃｏｍに固定電位を与え、過渡電流Ｉｃｏｍの電流検出をしてもよい。測定装置１１０は、共通電極ｃｏｍと電位を固定しないフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続し、第２の電流測定部ＡＭ２の電流測定を省略してもよい。これにより、共通電極ｃｏｍの電荷ｅ−が、横方向の変位Δｘでは誘起されにくくなり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が増加する。その結果、測定装置１１０及び液晶表示パネル２は、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−の検出能力を向上させることができる。   Next, in the measurement apparatus 110, the second current measurement unit AM2 may apply a fixed potential to the common electrode com to detect the transient current Icom. The measuring apparatus 110 may connect the common electrode com and the floating terminal floating that does not fix the potential, and omit the current measurement of the second current measurement unit AM2. As a result, the charge e− of the common electrode com is hardly induced by the lateral displacement Δx, and the charge e− due to the lateral displacement Δx of the ions it increases. As a result, the measuring apparatus 110 and the liquid crystal display panel 2 can improve the detection capability of the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it.

次に、液晶特性の測定システム１００は、液晶の測定物性を算出する（ステップＳ１６）。例えば、Ｉ／Ｏインタフェース１２４を介してコンピュータ１２０は、ステップＳ１５において測定した測定データを入手する。ＣＰＵ１２１は、電圧生成部１１１が生成する電圧Ｖと、測定データの過渡電流Ｉｐｉｘとの関係を演算する。   Next, the liquid crystal characteristic measuring system 100 calculates the measured physical properties of the liquid crystal (step S16). For example, the computer 120 obtains the measurement data measured in step S15 via the I / O interface 124. The CPU 121 calculates the relationship between the voltage V generated by the voltage generator 111 and the transient current Ipix of the measurement data.

コンピュータ１２０は、演算結果をＩ／Ｏインタフェース１２５を介して表示装置１３０の表示部１３１に表示させる。図１７は、実施形態１に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。例えば、図１７に示す、電圧Ｖの軸に対する傾きＱ１は、測定した液晶の抵抗値を示している。図１７に示す、過渡電流Ｉｐｉｘの軸における最小幅Ｑ２１は、液晶の閾値電圧以下の電気容量を示している。過渡電流Ｉｐｉｘの軸に平行な最大幅Ｑ２２は、液晶の閾値電圧以上の電気容量を示している。液晶の閾値電圧とは、液晶分子が面内で回転する電圧をいう。第１の突起Ｑ３の最大電流値は、液晶分子群の回転に伴うスイッチング電流を示している。第２の突起Ｑ４の面先は、液晶層７０Ｃの不純物イオンの電荷量を示している。例えば、ｄは、液晶層７０Ｃの厚みである。ｔは第２の突起Ｑ４の頂点における時間である。電圧Ｖは、第２の突起Ｑ４の頂点における電圧値（Ｖ）である。上述したように、共通電極ｃｏｍに流れる過渡電流をＩｃｏｍとした場合、過渡電流Ｉｃｏｍは、式（１）で示される。   The computer 120 displays the calculation result on the display unit 131 of the display device 130 via the I / O interface 125. FIG. 17 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the first embodiment. For example, the gradient Q1 with respect to the axis of the voltage V shown in FIG. 17 indicates the measured resistance value of the liquid crystal. A minimum width Q21 on the axis of the transient current Ipix shown in FIG. 17 indicates an electric capacity equal to or lower than the threshold voltage of the liquid crystal. A maximum width Q22 parallel to the axis of the transient current Ipix indicates an electric capacity equal to or higher than the threshold voltage of the liquid crystal. The threshold voltage of liquid crystal refers to a voltage at which liquid crystal molecules rotate in a plane. The maximum current value of the first protrusion Q3 indicates a switching current accompanying the rotation of the liquid crystal molecule group. The surface tip of the second protrusion Q4 indicates the amount of charges of impurity ions in the liquid crystal layer 70C. For example, d is the thickness of the liquid crystal layer 70C. t is the time at the apex of the second protrusion Q4. The voltage V is a voltage value (V) at the apex of the second protrusion Q4. As described above, when the transient current flowing through the common electrode com is Icom, the transient current Icom is expressed by Expression (1).

Figure 2014170222
Figure 2014170222

式（１）に示すＩ（ｉｏｎ＿ｙ）は、主に不純物イオンに起因する過渡電流である。Ｃｓｔｒ×ｄｖ／ｄｔは、共通電極ｃｏｍと画素電極７２との間の容量Ｃｓｔｒに起因する過渡電流である。そして、ＣＰＵ１２１は、液晶中の不純物イオンの検出性能ＳＮを、下記式（２）で演算することができる。   I (ion_y) shown in Expression (1) is a transient current mainly caused by impurity ions. Cstr × dv / dt is a transient current caused by the capacitance Cstr between the common electrode com and the pixel electrode 72. Then, the CPU 121 can calculate the detection performance SN of impurity ions in the liquid crystal by the following formula (2).

Figure 2014170222
Figure 2014170222

そして、液晶層７０Ｃの不純物イオンの電荷量Ｑ４は、縦方向電界駆動と呼ばれる液晶であれば、上記式（２）で演算できる。しかしながら、実施形態１に係る液晶表示パネル２は、横電界によって液晶の配向を制御する。上述したように、実施形態１に係る容量Ｃｓｔｒは、縦方向電界駆動と呼ばれる液晶の容量に比べて１０倍程度大きくなる。このため、実施形態１に係る液晶特性の測定方法は、図１３に示すように、電圧生成部１１１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、一方の副画素Ｓｐｉｘ１の画素電極７２に、所定（例えば、三角波）の変化する電圧を印加する。第１の電流測定部ＡＭ１は、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２のうち、他方の副画素Ｓｐｉｘ２の画素電極７２に流れる電流を検出する。第２の電流測定部ＡＭ２は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。他方の副画素Ｓｐｉｘ２の画素電極７２に流れる過渡電流をＩｐｉｘとする場合、過渡電流Ｉｐｉｘは、式（３）で示される。   The charge amount Q4 of the impurity ions in the liquid crystal layer 70C can be calculated by the above formula (2) if the liquid crystal is called longitudinal electric field driving. However, the liquid crystal display panel 2 according to Embodiment 1 controls the alignment of the liquid crystal by a lateral electric field. As described above, the capacity Cstr according to the first embodiment is about 10 times larger than the capacity of the liquid crystal called vertical electric field driving. For this reason, in the method for measuring liquid crystal characteristics according to the first embodiment, as illustrated in FIG. 13, the voltage generation unit 111 applies the pixel electrode 72 of one subpixel Spix1 out of the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. A voltage that changes in a predetermined manner (for example, a triangular wave) is applied. The first current measurement unit AM1 detects a current flowing through the pixel electrode 72 of the other subpixel Spix2 among the adjacent subpixels Spix1 and Spix2. The second current measurement unit AM2 detects a current flowing through the common electrode com. When the transient current flowing through the pixel electrode 72 of the other subpixel Spix2 is Ipix, the transient current Ipix is expressed by Expression (3).

Figure 2014170222
Figure 2014170222

式（３）に示すＩ（ｉｏｎ＿ｘ）は、主に不純物イオンに起因する過渡電流である。Ｃｐｐ×ｄｖ／ｄｔは、副画素Ｓｐｉｘ１と副画素Ｓｐｉｘ２との間の容量Ｃｐｐに起因する過渡電流である。そして、ＣＰＵ１２１は、液晶中の不純物イオンの検出性能ＳＮを、下記式（４）で演算することができる。   I (ion_x) shown in Expression (3) is a transient current mainly caused by impurity ions. Cpp × dv / dt is a transient current caused by the capacitance Cpp between the subpixel Spix1 and the subpixel Spix2. Then, the CPU 121 can calculate the detection performance SN of impurity ions in the liquid crystal by the following formula (4).

Figure 2014170222
Figure 2014170222

実施形態１に記載の液晶特性の測定方法は、第１の電流測定部ＡＭ１が過渡電流Ｉｐｉｘを検出し、第２の電流測定部ＡＭ２が過渡電流Ｉｃｏｍを検出する。ＣＰＵ１２１は、液晶層７０Ｃの不純物イオンの電荷量Ｑ４を上記式（４）で演算できる。実施形態１に記載の液晶特性の測定方法は、横方向電界駆動の液晶表示パネルに対し、例えば特許文献１の測定方法に比べて、上記式（４）を演算することで、液晶のイオンに起因する過渡電流が１００倍以上高精度に検出できる。なお、第２の電流測定部ＡＭ２は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出せず、共通電極ｃｏｍをフローティング状態とよばれる、電位を固定しない状態にしてもよい。   In the liquid crystal characteristic measuring method described in the first embodiment, the first current measuring unit AM1 detects the transient current Ipix, and the second current measuring unit AM2 detects the transient current Icom. The CPU 121 can calculate the charge amount Q4 of impurity ions in the liquid crystal layer 70C by the above equation (4). The method for measuring liquid crystal characteristics described in the first embodiment is obtained by calculating the above formula (4) for a liquid crystal display panel driven by a lateral electric field, for example, by calculating the above formula (4). The resulting transient current can be detected with a precision of 100 times or more. Note that the second current measurement unit AM2 may not detect the current flowing through the common electrode com, and may place the common electrode com in a state called a floating state in which the potential is not fixed.

なお、上述した実施形態１の説明において、測定装置１１０は、第１の電流測定部ＡＭ１が、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１と副画素Ｓｐｉｘ２との間での過渡電流Ｉｐｉｘを検出している。実施形態１に係る測定装置は、測定する副画素Ｓｐｉｘ１及び副画素Ｓｐｉｘ２は隣合っておらず、異なっていればよい。   In the description of the first embodiment described above, in the measurement apparatus 110, the first current measurement unit AM1 detects the transient current Ipix between the adjacent subpixel Spix1 and the subpixel Spix2. In the measurement apparatus according to the first embodiment, the sub-pixel Spix1 and the sub-pixel Spix2 to be measured are not adjacent to each other and may be different from each other.

以上説明したように、実施形態１に係る液晶表示パネルは、液晶表示パネル外からｔｓｉｇ１配線へ測定用電圧として三角波信号（所定の変化する電圧）を印加する。   As described above, the liquid crystal display panel according to the first embodiment applies a triangular wave signal (a predetermined changing voltage) as a measurement voltage from the outside of the liquid crystal display panel to the tsig1 wiring.

（実施形態１の変形例）
図１８は、実施形態１の変形例に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する波形の一例を説明する説明図である。上述した実施形態１で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 (Modification of Embodiment 1)
FIG. 18 is an explanatory diagram illustrating an example of a waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the modification of the first embodiment. The same components as those described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

実施形態１の変形例に係る電圧生成部１１１は、液晶素子ＬＣを駆動する矩形波ＡＣＷと、上述した三角波ＴＣＷの波形を重ね合わせた合成波ＤＣＷを生成する。矩形波ＡＣＷの１波長の周期（例えば６０Ｈｚ）は、三角波ＴＣＷの１波長の周期よりも短い周期（例えば０．１Ｈｚ以上１Ｈｚ以下）で繰り返し生成される。三角波ＴＣＷの最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧以下である、例えば、１００ｍＶである。矩形波ＡＣＷの最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧より大きい、例えば２．５Ｖである。測定装置１１０は、液晶表示パネル２に合成波ＤＣＷを印加した場合、第１の電流測定部ＡＭ１が、隣り合う副画素Ｓｐｉｘ１と副画素Ｓｐｉｘ２との間での過渡電流Ｉｐｉｘを検出できる。   The voltage generation unit 111 according to the modification of the first embodiment generates a combined wave DCW obtained by superimposing the rectangular wave ACW for driving the liquid crystal element LC and the above-described triangular wave TCW waveform. The period of one wavelength (for example, 60 Hz) of the rectangular wave ACW is repeatedly generated at a period (for example, 0.1 Hz to 1 Hz) that is shorter than the period of one wavelength of the triangular wave TCW. The absolute value of the maximum voltage of the triangular wave TCW is equal to or lower than the liquid crystal threshold voltage, for example, 100 mV. The absolute value of the maximum voltage of the rectangular wave ACW is larger than the liquid crystal threshold voltage, for example, 2.5V. When the composite wave DCW is applied to the liquid crystal display panel 2, the measuring device 110 can detect the transient current Ipix between the adjacent subpixel Spix1 and the subpixel Spix2 by the first current measuring unit AM1.

＜２．実施形態２（液晶表示パネル）＞
図１９は、実施形態２に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。上述した実施形態１で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 <2. Second Embodiment (Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 19 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the second embodiment. The same components as those described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

測定装置１１０は、測定対象の副画素Ｓｐｉｘ（ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢ）を選択する。例えば、図１９に示すように、走査線選択制御部１１４が走査線２４ｍを選択動作させる信号ｄｉｓｃをｘｄｉｓｃ配線へ供給する。そして、信号線選択制御部１１３は、ｓＳＥＬ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）配線の信号のうち、ｓＳＥＬ−Ｒ配線の信号をオン（ＯＮ）及びｓＳＥＬ−Ｇ及びｓＳＥＬ−Ｂ配線の信号をオフ（ＯＦＦ）すると、検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢが動作する。これにより、ｔｓｉｇ１配線と信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）が導通する。またｔｓｉｇ２配線と信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）が導通する。信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）は、電位が固定されていない。 The measuring apparatus 110 selects the subpixel Spix (SpixR, SpixG, SpixB) to be measured. For example, as shown in FIG. 19, and supplies a signal disc scanning line selection control unit 114 causes the selected operation of the scanning line 24 m to xdisc wiring. The signal line selection control unit 113 turns on the signal of the sSEL-R wiring among the signals of the sSEL-R (G, B) wiring, and turns off the signal of the sSEL-G and sSEL-B wiring. ), The detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB operate. Thereby, the tsig1 wiring and the signal line 25 n + 1 (SigRodd) are conducted. Further, the tsig2 wiring and the signal line 25 n + 4 (SigReven) are conducted. The signal lines 25 n + 5 (SigGeven), the signal lines 25 n + 3 (SigBodd), the signal lines 25 n + 2 (SigGodd), and the signal lines 25 n + 6 (SigBeven) are not fixed in potential.

次に、測定装置１１０は、電圧生成部１１１が三角波の電圧波形（三角波信号）を生成し、ｔｓｉｇ１配線へ測定用電圧として三角波信号（所定の変化する電圧）を印加する。   Next, in the measuring apparatus 110, the voltage generation unit 111 generates a triangular wave voltage waveform (triangular wave signal), and applies a triangular wave signal (predetermined changing voltage) as a measurement voltage to the tsig1 wiring.

次に、測定装置１１０は、第１の電流測定部ＡＭ１が、ｔｓｉｇ２配線と信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）が導通するｔｓｉｇ２配線に流れる電流を測定する。これにより、測定用回路ＴＣは、隣り合う画素Ｐｉｘのうち、一方の副画素ＳｐｉｘＲの画素電極７２に、液晶表示パネル外から所定の変化する電圧、つまり三角波信号を印加する。三角波信号の電圧が印加されていない他方の副画素ＳｐｉｘＲの画素電極７２には、上述した過渡電流Ｉｐｉｘが作用し、測定用回路ＴＣは、過渡電流Ｉｐｉｘを液晶表示パネル外へ出力する。液晶素子ＬＣのイオンｉｔは、隣り合う画素Ｐｉｘにある副画素ＳｐｉｘＲの画素電極７２間を移動し、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＧの画素電極７２の上のイオンｉｔの変位も、第１の電流測定部ＡＭ１が検出する過渡電流に加算される。実施形態２に係る容量Ｃｓｔｒに起因する過渡電流は、実施形態１に係る容量Ｃｓｔｒに起因する過渡電流よりも、例えば画素Ｐｉｘが含む副画素Ｓｐｉｘの数の逆数、例えば１／３程度低減できる。 Next, in the measuring apparatus 110, the first current measurement unit AM1 measures the current flowing through the tsig2 wiring where the tsig2 wiring and the signal line 25 n + 4 (SigReven) are conducted. Thereby, the measurement circuit TC applies a predetermined voltage, that is, a triangular wave signal, from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode 72 of one of the subpixels SpixR among the adjacent pixels Pix. The transient current Ipix acts on the pixel electrode 72 of the other subpixel SpixR to which the voltage of the triangular wave signal is not applied, and the measuring circuit TC outputs the transient current Ipix to the outside of the liquid crystal display panel. The ions it of the liquid crystal element LC move between the pixel electrodes 72 of the subpixel SpixR in the adjacent pixels Pix, and the displacement of the ions it on the pixel electrodes 72 of the subpixel SpixG and the subpixel SpixG is also the first current. It is added to the transient current detected by the measuring unit AM1. The transient current caused by the capacitor Cstr according to the second embodiment can be reduced by, for example, about 1/3 of the reciprocal of the number of subpixels Spix included in the pixel Pix, for example, than the transient current caused by the capacitor Cstr according to the first embodiment.

（実施形態２の変形例）
図２０は、実施形態２の変形例に係る液晶表示パネルの表示エリア部の駆動領域の一例を示す図である。上述したように表示エリア部２１は、画素Ｐｉｘがマトリクス状に複数組み合わされている。上述した実施形態１及び実施形態２に係る液晶表示パネルでは、副画素Ｓｐｉｘの一列ごとに液晶表示パネル外から所定の変化する電圧、つまり三角波信号を印加する。実施形態２の変形例に係る液晶表示パネルでは、測定用回路ＴＣが副画素Ｓｐｉｘの複数の列ごとに液晶表示パネル外から所定の変化する電圧、つまり三角波信号を印加する。そして、測定用回路ＴＣが電圧が印加された副画素Ｓｐｉｘの複数列にある、画素電極と異なる、副画素Ｓｐｉｘの一列又は複数列にある、画素電極に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する。 (Modification of Embodiment 2)
FIG. 20 is a diagram illustrating an example of a drive region of a display area unit of a liquid crystal display panel according to a modification of the second embodiment. As described above, the display area unit 21 includes a plurality of pixels Pix combined in a matrix. In the liquid crystal display panels according to the first and second embodiments described above, a predetermined voltage, that is, a triangular wave signal is applied from the outside of the liquid crystal display panel for each column of the sub-pixel Spix. In the liquid crystal display panel according to the modification of the second embodiment, the measurement circuit TC applies a predetermined voltage, that is, a triangular wave signal, from the outside of the liquid crystal display panel for each of the plurality of columns of the subpixels Spix. Then, the measurement circuit TC outputs a transient current flowing in the pixel electrode in one or more columns of the subpixel Spix that is different from the pixel electrode in the plurality of columns of the subpixel Spix to which the voltage is applied to the outside of the liquid crystal display panel. To do.

例えば、図２０に示すように、上述した測定装置１１０は、測定用回路ＴＣを介して、表示エリア部２１の一部のウィンドウ領域Ｗｉｎ（Ｗｉｎｄｏｗ内）にのみ液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加し、ウィンドウ領域Ｗｉｎ以外のＷｉｎｄｏｗ外領域Ｗｏｕｔに、液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加しない場合でも、上述した実施形態１及び実施形態２に係る液晶表示パネル２の効果と同様の効果を得ることができる。   For example, as shown in FIG. 20, the measuring apparatus 110 described above changes from the outside of the liquid crystal display panel only to a part of the window area Win (inside the window) of the display area 21 via the measurement circuit TC. Even when a voltage is applied and a predetermined changing voltage is not applied from outside the liquid crystal display panel to the outside window area Wout other than the window area Win, the effects of the liquid crystal display panel 2 according to the first and second embodiments described above can be obtained. Similar effects can be obtained.

＜３．実施形態３（液晶表示パネル）＞
図２１は、実施形態３に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。上述した本実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。実施形態３に係る走査線選択制御部１１４は、測定用回路ＴＣから複数の走査線２４を選択動作させる信号をテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｘｄｉｓｃ１配線及びｘｄｉｓｃ２配線へ供給することができる。 <3. Embodiment 3 (Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 21 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the third embodiment. The same components as those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. The scanning line selection control unit 114 according to the third embodiment can supply signals for selecting the plurality of scanning lines 24 from the measurement circuit TC to the xdisc1 wiring and the xdisc2 wiring of the test signal electrode pad Ttest.

論理回路２２Ｃは、転送回路２２ｓとは無関係に、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔからｘｄｉｓｃ１配線を介した、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートを全てオープンにする。これにより、走査線２４ｍに駆動される薄膜トランジスタＴｒのスイッチング素子の機能は、画素電極７２と副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ接続されている信号線２５ｎ＋１・・・２５ｎ＋６とが繋がった状態になる。 Regardless of the transfer circuit 22s, the logic circuit 22C opens all the gates of the thin film transistors Tr according to the signal of the scanning line selection control unit 114 from the test signal electrode pad Ttest through the xdisc1 wiring. As a result, the function of the switching element of the thin film transistor Tr driven by the scanning line 24 m is connected to the pixel electrode 72 and the signal lines 25 n + 1 to 25 n + 6 connected to the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB, respectively. It becomes a state.

次の行の論理回路２２Ｃは、転送回路２２ｓとは無関係に、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔからｘｄｉｓｃ２配線を介した、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートをクローズにする。これにより、走査線２４ｍ＋１に駆動される薄膜トランジスタＴｒのスイッチング素子の機能は、画素電極７２と副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢにそれぞれ接続されている信号線２５ｎ＋１・・・２５ｎ＋６とが繋がらず、画素電極７２がフローティング状態になり電位が固定されていない状態になる。 The logic circuit 22C in the next row closes the gate of the thin film transistor Tr in accordance with the signal of the scanning line selection control unit 114 from the test signal electrode pad Ttest through the xdisc2 wiring regardless of the transfer circuit 22s. . Accordingly, the function of the switching element of the thin film transistor Tr driven by the scanning line 24 m + 1 is not connected to the signal line 25 n + 1 ... 25 n + 6 connected to the pixel electrode 72 and the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB. The pixel electrode 72 is in a floating state and the potential is not fixed.

測定装置１１０は、電圧生成部１１１が三角波の電圧波形（三角波信号）を生成し、液晶表示パネル外からｔｓｉｇ１配線へ測定用電圧として三角波信号（所定の変化する電圧）を印加する。三角波信号は、ｔｓｉｇ１配線と導通する信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）に供給される。そして、三角波信号は、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートが行毎にオープンとクローズとを繰り返すようになっている。三角波信号は、薄膜トランジスタＴｒのゲートがオープンになっている薄膜トランジスタＴｒ(スイッチング素子)を介して、副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢの各列の上述した画素電極７２に印加される。これにより、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）の各列の副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢは、画素電極７２に三角波信号が印加されている状態になる。 In the measuring apparatus 110, the voltage generation unit 111 generates a triangular wave voltage waveform (triangular wave signal), and applies a triangular wave signal (predetermined changing voltage) as a measurement voltage to the tsig 1 wiring from outside the liquid crystal display panel. The triangular wave signal is supplied to the signal line 25 n + 1 (SigRodd), the signal line 25 n + 5 (SigGeven), and the signal line 25 n + 3 (SigBodd) that are electrically connected to the tsig1 wiring. The triangular wave signal is configured such that the gate of the thin film transistor Tr repeats opening and closing for each row in accordance with a signal from the scanning line selection control unit 114. The triangular wave signal is applied to the above-described pixel electrode 72 in each column of the subpixel SpixR, the subpixel SpixG, and the subpixel SpixB via the thin film transistor Tr (switching element) in which the gate of the thin film transistor Tr is open. As a result, the sub-pixel SpixR, the sub-pixel SpixG, and the sub-pixel SpixB in each column of the signal line 25 n + 5 (SigGeven) and the signal line 25 n + 3 (SigBodd) are in a state where a triangular wave signal is applied to the pixel electrode 72.

このように、実施形態３に係る、電圧がされた画素電極７２に接続されたスイッチング素子と行が隣り合うスイッチング素子は、接続する画素電極７２の電位を固定しない。そして、走査線選択制御部１１４の信号に応じて、ゲートがオープンになっている薄膜トランジスタＴｒ(スイッチング素子)を介して、副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢの各列の上述した画素電極７２に流れる電流がｔｓｉｇ２配線に流れる。信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）の各列の副画素ＳｐｉｘＲ、副画素ＳｐｉｘＧ及び副画素ＳｐｉｘＢは、画素電極７２に過渡電流が流れ、この過渡電流がｔｓｉｇ２配線を介して、液晶表示パネル外へ出力される。これにより、測定用電圧として三角波信号（所定の変化する電圧）を印加する、例えば副画素ＳｐｉｘＲの周囲であって、隣り合う行に位置し、電位が固定されていない副画素ＳｐｉｘＲがあることになり、実施形態３に係る容量Ｃｓｔｒに起因する過渡電流は、実施形態１に係る容量Ｃｓｔｒに起因する過渡電流よりも、低減できる。 As described above, the switching element connected to the pixel electrode 72 to which voltage is applied according to the third embodiment does not fix the potential of the pixel electrode 72 to be connected. Then, according to the signal of the scanning line selection control unit 114, the pixel electrodes described above in each column of the subpixel SpixR, the subpixel SpixG, and the subpixel SpixB through the thin film transistor Tr (switching element) whose gate is open. A current flowing through 72 flows through the tsig2 wiring. The sub-pixel SpixR, the sub-pixel SpixG, and the sub-pixel SpixB of each column of the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven) flow through the pixel electrode 72. The transient current is output to the outside of the liquid crystal display panel through the tsig2 wiring. Thereby, a triangular wave signal (predetermined changing voltage) is applied as a measurement voltage. For example, there is a subpixel SpixR that is located around the subpixel SpixR and is located in an adjacent row and whose potential is not fixed. Thus, the transient current caused by the capacitor Cstr according to the third embodiment can be reduced more than the transient current caused by the capacitor Cstr according to the first embodiment.

＜４．実施形態４（液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネル）＞
図２２は、実施形態４に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。図２３は、実施形態４に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。図２６は、実施形態４に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する波形の一例を説明する説明図である。上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 <4. Embodiment 4 (Liquid Crystal Characteristic Measuring Device, Liquid Crystal Characteristic Measuring Method, and Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 22 is an explanatory diagram for explaining a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fourth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. FIG. 23 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 4 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. FIG. 26 is an explanatory diagram illustrating an example of a waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment. The same components as those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図２２に示すように、第１の電流測定部ＡＭ１は、上述したプローブＰｃｏｍを介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線に接続されている。   As shown in FIG. 22, the first current measurement unit AM1 is connected to the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest via the probe Pcom described above.

選択スイッチＴＳＷｍは、上述したプローブＰＴＳＩＧ２を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ２配線に接続し、第２の電流測定部ＡＭ２がｔｓｉｇ２配線に流れる電流を計測することができる。このように、選択スイッチＴＳＷｍは、ｔｓｉｇ２配線と第２の電流測定部ＡＭ２とを接続している場合、第２の電流測定部ＡＭ２が測定電圧を印加していない画素電極７２に流れる電流を計測することができる。選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線とフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続している場合、共通電極ｃｏｍの電位を固定しない。   The selection switch TSWm is connected to the tsig2 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the above-described probe PTSIG2, and the second current measurement unit AM2 can measure the current flowing through the tsig2 wiring. As described above, when the selection switch TSWm connects the tsig2 wiring and the second current measuring unit AM2, the second current measuring unit AM2 measures the current flowing through the pixel electrode 72 to which the measurement voltage is not applied. can do. The selection switch TSWm does not fix the potential of the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the floating terminal floating are connected.

電圧生成部１１１は、対象となる副画素Ｓｐｉｘ１の画素電極７２に、所定（例えば、三角波）の変化する電圧を印加する。そして、第１の電流測定部ＡＭ１は、共通電極ｃｏｍに流れる電流を検出する。この場合、液晶分子のイオンｉｔは、横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙにより、容量Ｃｓｔｒを介して共通電極ｃｏｍに電荷ｅ−が誘起される。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１が検出する電流は、イオンｉｔの縦方向の変位Δｙに起因する電荷ｅ−が主となり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が、例えば１／１０程度しか作用しない。実施形態４に係る測定装置１１０は、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−を、図２４に示す波形の所定の変化する電圧を印加することで、検出することができる。   The voltage generator 111 applies a predetermined (for example, triangular wave) varying voltage to the pixel electrode 72 of the target subpixel Spix1. Then, the first current measuring unit AM1 detects a current flowing through the common electrode com. In this case, in the ions it of the liquid crystal molecules, a charge e− is induced on the common electrode com through the capacitance Cstr by the vertical displacement Δy of the displacements q (Δx, Δy) of the ions it by the horizontal electric field E. Thereby, the current detected by the first current measuring unit AM1 is mainly the charge e− caused by the longitudinal displacement Δy of the ion it, and the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ion it is For example, it works only about 1/10. The measurement apparatus 110 according to the fourth embodiment can detect the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it by applying a predetermined voltage having a waveform shown in FIG.

図２４は、実施形態４に係る液晶表示パネルの液晶を駆動する波形の一例を説明する説明図である。図２５は、実施形態４に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。   FIG. 24 is an explanatory diagram illustrating an example of a waveform for driving the liquid crystal of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment. FIG. 25 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the fourth embodiment.

実施形態４に係る電圧生成部１１１は、液晶素子ＬＣを駆動する矩形波ＡＣＷと、上述した三角波ＴＣＷの波形を重ね合わせた合成波ＤＣＷを生成する。矩形波ＡＣＷの１波長の周期（例えば６０Ｈｚ）は、三角波ＴＣＷの１波長の周期よりも短い周期（例えば０．１Ｈｚ以上１Ｈｚ以下）で繰り返し生成される。三角波ＴＣＷの最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧以下である、例えば、１００ｍＶである。矩形波ＡＣＷの最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧より大きい、例えば２．５Ｖである。測定装置１１０は、液晶表示パネル２に合成波ＤＣＷを印加した場合、第１の電流測定部ＡＭ１は、図２５に示すように、容量Ｃｓｔｒ起因の過渡電流ｉｔｃｓと、イオンｉｔ起因の過渡電流ｉｔｃｉとを検出する。第１の電流測定部ＡＭ１は、イオンｉｔ起因の過渡電流ｉｔｃｉは、合成波ＤＣＷの電圧がプラスからマイナスへ、又はマイナスからプラスへ極性が変わる時間で測定することができる。   The voltage generation unit 111 according to the fourth embodiment generates a combined wave DCW obtained by superimposing the rectangular wave ACW for driving the liquid crystal element LC and the above-described triangular wave TCW waveform. The period of one wavelength (for example, 60 Hz) of the rectangular wave ACW is repeatedly generated at a period (for example, 0.1 Hz to 1 Hz) that is shorter than the period of one wavelength of the triangular wave TCW. The absolute value of the maximum voltage of the triangular wave TCW is equal to or lower than the liquid crystal threshold voltage, for example, 100 mV. The absolute value of the maximum voltage of the rectangular wave ACW is larger than the liquid crystal threshold voltage, for example, 2.5V. When the synthetic device DCW is applied to the liquid crystal display panel 2 in the measuring apparatus 110, the first current measuring unit AM1 performs the transient current itcs caused by the capacitance Cstr and the transient current itci caused by the ion it as shown in FIG. And detect. The first current measuring unit AM1 can measure the transient current itci due to the ions it at the time when the voltage of the composite wave DCW changes in polarity from plus to minus or from minus to plus.

上述した容量Ｃｓｔｒ及び容量Ｃｐｐへの充足電流と、イオン不純物の変位に起因する過渡電流の位相が異なるため、第１の電流測定部ＡＭ１は、合成波ＤＣＷの電圧の極性が変わる時間で過渡電流ｉｔｃｉを測定することで、検出効率を高めることができる。   Since the phase of the transient current caused by the displacement of the ionic impurities is different from the charging current to the capacitance Cstr and the capacitance Cpp described above, the first current measurement unit AM1 performs the transient current at the time when the polarity of the voltage of the composite wave DCW changes. By measuring itci, detection efficiency can be increased.

（実施形態４の変形例）
上述した測定装置１１０は、上述した液晶表示パネル２の透過率又は輝度変化を検出する顕微鏡１１５を備えてもいてもよい。測定装置１１０は、顕微鏡１１５によって輝度を計測する。測定装置１１０は、顕微鏡１１５で観測する透過光は電気信号に変換されてオシロスコープを介して印加電圧に対する光透過率の変化又は輝度変化を測定する。 (Modification of Embodiment 4)
The measuring apparatus 110 described above may include a microscope 115 that detects a change in transmittance or luminance of the liquid crystal display panel 2 described above. The measuring device 110 measures the luminance with the microscope 115. The measuring device 110 converts the transmitted light observed by the microscope 115 into an electrical signal and measures a change in light transmittance or a change in luminance with respect to an applied voltage via an oscilloscope.

実施形態４の変形例に係る電圧生成部１１１は、実施形態４と同様に、液晶素子ＬＣを駆動する矩形波と、上述した三角波の波形を重ね合わせた合成波を生成する。矩形波の１波長の周期は、三角波の１波長の周期よりも短い周期で繰り返し生成される。三角波の最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧以下である。矩形波の最大電圧の絶対値は、液晶閾値電圧より大きい。測定装置１１０は、液晶表示パネル２に合成波を印加した場合、顕微鏡１１５は、図２６に示すように、イオンｉｔ起因の輝度変化ΔＴを検出する。顕微鏡１１５は、イオンｉｔ起因の過渡電流が、合成波の電圧がプラスからマイナスへ、又はマイナスからプラスへ極性が変わる時間で測定することができる。   Similar to the fourth embodiment, the voltage generation unit 111 according to the modification of the fourth embodiment generates a composite wave in which the rectangular wave that drives the liquid crystal element LC and the above-described triangular wave waveform are superimposed. The period of one wavelength of the rectangular wave is repeatedly generated with a period shorter than the period of one wavelength of the triangular wave. The absolute value of the maximum voltage of the triangular wave is less than or equal to the liquid crystal threshold voltage. The absolute value of the maximum voltage of the rectangular wave is larger than the liquid crystal threshold voltage. When the measuring apparatus 110 applies a synthetic wave to the liquid crystal display panel 2, the microscope 115 detects a luminance change ΔT caused by the ion it as shown in FIG. The microscope 115 can measure the transient current caused by the ion it at the time when the voltage of the synthesized wave changes in polarity from plus to minus or from minus to plus.

輝度変化ΔＴは、コンピュータ１２０に入力される。コンピュータ１２０は、記憶部１２３に液晶の電圧−輝度変化のデータベース又はマップ（曲線）を予め記憶している。データベース又はマップ（曲線）は、輝度変化ΔＴと、過渡電流Ｉとの関係をあらかじめ測定して求めたデータである。コンピュータ１２０は、ＣＰＵ１２１が顕微鏡１１５により得られた輝度変化ΔＴをデータベース又はマップ（曲線）に与え、イオン濃度に起因する過渡電流を算出する。   The luminance change ΔT is input to the computer 120. The computer 120 stores a voltage-brightness change database or map (curve) of the liquid crystal in the storage unit 123 in advance. The database or map (curve) is data obtained by measuring in advance the relationship between the luminance change ΔT and the transient current I. The computer 120 gives the luminance change ΔT obtained by the CPU 121 with the microscope 115 to a database or a map (curve), and calculates a transient current due to the ion concentration.

＜５．実施形態５（液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネル）＞
図２７は、実施形態５に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。図２８は、実施形態５に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。図２９は、実施形態５に係る液晶表示パネルの測定用回路を説明する説明図である。図３０は、実施形態５に係る液晶表示パネルのイオン検出駆動を説明するための説明図である。図３１は、実施形態５に係る液晶表示パネルの電圧電流特性の一例を示す図である。上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 <5. Embodiment 5 (Liquid Crystal Characteristic Measuring Device, Liquid Crystal Characteristic Measuring Method, and Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 27 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fifth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. FIG. 28 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 5 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. FIG. 29 is an explanatory diagram for explaining a measurement circuit of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. FIG. 30 is an explanatory diagram for explaining ion detection driving of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. FIG. 31 is a diagram illustrating an example of voltage-current characteristics of the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment. The same components as those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図２７に示すように、実施形態５に係る測定装置１１０は、第１電圧生成部１１７と、第２電圧生成部１１６と、検出駆動選択部１１２と、信号線選択制御部１１３と、走査線選択制御部１１４と、電流測定部ＡＭと、を備えている。実施形態５に係る測定装置１１０は、上述した実施形態１に係る第２の電流測定部ＡＭ２と同様に、電流測定部ＡＭへの接続と、電位を固定しないフローティング状態にするフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを選択する選択スイッチＴＳＷｍを備えている。   As illustrated in FIG. 27, the measurement apparatus 110 according to the fifth embodiment includes a first voltage generation unit 117, a second voltage generation unit 116, a detection drive selection unit 112, a signal line selection control unit 113, and a scanning line. A selection control unit 114 and a current measurement unit AM are provided. The measurement apparatus 110 according to the fifth embodiment, like the second current measurement unit AM2 according to the first embodiment described above, has a connection to the current measurement unit AM and a floating terminal floating that sets the potential in a floating state. A selection switch TSWm for selection is provided.

実施形態５に係る表示エリア部２１は、図２８に示すように、画素基板７０Ａと、この画素基板７０Ａの表面に垂直な方向に対向して配置された対向基板７０Ｂと、画素基板７０Ａと対向基板７０Ｂとの間に挟まれた液晶層７０Ｃとを備えている。なお、画素基板７０Ａは、液晶層７０Ｃとは反対側の面に、上述したバックライト６が配置されている。   As shown in FIG. 28, the display area unit 21 according to the fifth embodiment is opposed to the pixel substrate 70A, a counter substrate 70B disposed in a direction perpendicular to the surface of the pixel substrate 70A, and the pixel substrate 70A. And a liquid crystal layer 70C sandwiched between the substrate 70B. In the pixel substrate 70A, the above-described backlight 6 is disposed on the surface opposite to the liquid crystal layer 70C.

液晶層７０Ｃは、実施形態１と同様に、電界の状態に応じてそこを通過する光を変調するものであり、ＦＦＳ（フリンジフィールドスイッチング）又はＩＰＳ（インプレーンスイッチング）等の横電界モードの液晶を用いている。なお、図２８に示すように、液晶層７０Ｃと画素基板７０Ａとの間、及び液晶層７０Ｃと対向基板７０Ｂとの間には、それぞれ配向膜が備えられてもよい。以下の液晶表示パネル２は、ＦＦＳモードの液晶を例に説明する。   Similarly to the first embodiment, the liquid crystal layer 70C modulates light passing therethrough according to the state of the electric field, and is a liquid crystal in a transverse electric field mode such as FFS (fringe field switching) or IPS (in-plane switching). Is used. As shown in FIG. 28, an alignment film may be provided between the liquid crystal layer 70C and the pixel substrate 70A and between the liquid crystal layer 70C and the counter substrate 70B. The following liquid crystal display panel 2 will be described using an FFS mode liquid crystal as an example.

対向基板７０Ｂは、ガラス基板７８と、このガラス基板７８の一方の面に形成されたカラーフィルタ７６と、カラーフィルタ７６の帯電防止層である透光性電極ＳＩＴＯを含む。透光性電極ＳＩＴＯは、カラーフィルタ７６に対向して設けられると共に、副画素Ｓｐｉｘの画素電極７２にも対向するように配置されている。透光性電極ＳＩＴＯは、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）等の透光性導電材料（透光性導電酸化物）で形成され、導電性を有する。透光性電極ＳＩＴＯは、副画素Ｓｐｉｘの画素電極７２に対向する位置にあるように所定の形状にパターニングされている。透光性電極ＳＩＴＯは、副画素Ｓｐｉｘの画素電極７２に対向する位置にあれば、対向基板７０Ｂの液晶層７０Ｃとは反対側（裏面側）でなく、対向基板７０Ｂの液晶層７０Ｃ側（液晶面側）にあってもよい。対向基板７０Ｂの裏面側に、さらにガラス基板によるカバー基板、タッチパネルの基板等がある場合、カバー基板、タッチパネルの基板に備えられていてもよい。このように、透光性電極ＳＩＴＯは、液晶層７０Ｃよりも第２基板側に備えられ、少なくとも画素電極と対向していればよい。このため、透光性電極ＳＩＴＯ、液晶層７０Ｃ、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）の順となり、液晶層７０Ｃは、透光性電極ＳＩＴＯと、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）とに挟まれる。   The counter substrate 70 </ b> B includes a glass substrate 78, a color filter 76 formed on one surface of the glass substrate 78, and a translucent electrode SITO which is an antistatic layer of the color filter 76. The translucent electrode SITO is provided to face the color filter 76 and is also arranged to face the pixel electrode 72 of the sub-pixel Spix. The translucent electrode SITO is formed of a translucent conductive material (translucent conductive oxide) such as ITO (Indium Tin Oxide) and has conductivity. The translucent electrode SITO is patterned into a predetermined shape so as to be in a position facing the pixel electrode 72 of the sub-pixel Spix. If the translucent electrode SITO is at a position facing the pixel electrode 72 of the sub-pixel Spix, it is not on the side opposite to the liquid crystal layer 70C (back side) of the counter substrate 70B but on the liquid crystal layer 70C side (liquid crystal) of the counter substrate 70B. May be on the surface side). When there is a cover substrate made of a glass substrate, a touch panel substrate, or the like on the back side of the counter substrate 70B, the cover substrate and the touch panel substrate may be provided. As described above, the translucent electrode SITO is provided on the second substrate side with respect to the liquid crystal layer 70 </ b> C, and may be at least opposed to the pixel electrode. Therefore, the transparent electrode SITO, the liquid crystal layer 70C, and the pixel electrode 72 (or common electrode com) are arranged in this order, and the liquid crystal layer 70C is sandwiched between the transparent electrode SITO and the pixel electrode 72 (or common electrode com). It is.

透光性電極ＳＩＴＯは、帯電防止できれば、ベタ膜であってもよい。透光性電極ＳＩＴＯは、液晶特性の測定装置と接続するテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔの後述するイオン掃引電圧入力端部ｔｓｉｔｏに電気的に接続されている。透光性電極ＳＩＴＯは、帯電防止層に限られず、いわゆるタッチパネルと呼ばれる、外部から接近する物体を対象物として検出可能なタッチ検出装置の一部であってもよい。例えば、透光性電極ＳＩＴＯは、受信側であるタッチ検出電極又は送信側である駆動電極のどちらかの機能を有することになる。   The translucent electrode SITO may be a solid film as long as it can be prevented from being charged. The translucent electrode SITO is electrically connected to an ion sweep voltage input end tsito (to be described later) of a test signal electrode pad Ttest connected to a liquid crystal characteristic measuring device. The translucent electrode SITO is not limited to the antistatic layer, but may be a part of a touch detection device called a so-called touch panel that can detect an object approaching from the outside as a target. For example, the translucent electrode SITO has a function of either a touch detection electrode on the reception side or a drive electrode on the transmission side.

図２９に示す画素Ｐｉｘは、図３に示す各副画素Ｓｐｉｘに赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の異なる色領域に対応付けられて、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ及びＳｐｉｘＢを１組とした列として、順に並べている。副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ及びＳｐｉｘＢは、上述したように、薄膜トランジスタＴｒと、薄膜トランジスタＴｒ及び共通電極ｃｏｍとの間に上述した容量Ｃｐｐ及び容量Ｃｓｔｒを含む容量Ｃｌｃと、を含む。共通電極ｃｏｍには、通常駆動の場合には、ドライバＩＣ３から、コモン電位Ｖｃｏｍが印加される。また、共通電極ｃｏｍは、図２７に示す選択スイッチＴＳＷｍが接続されているテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線にも接続されている。透光性電極ＳＩＴＯは、図２９に示すイオン掃引電圧Ｖｓｉｔｏを容量Ｃｌｃに印加するため、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのイオン掃引電圧Ｖｓｉｔｏを供給する配線にも接続されている。   A pixel Pix shown in FIG. 29 is associated with each of the sub-pixels Spix shown in FIG. 3 in different color regions of three colors of red (R), green (G), and blue (B), and the sub-pixels SpixR, SpixG and SpixB is arranged in order as a set of columns. As described above, the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB include the thin film transistor Tr, and the capacitance Clc including the capacitance Cpp and the capacitance Cstr described above between the thin film transistor Tr and the common electrode com. In the case of normal driving, the common potential Vcom is applied to the common electrode com from the driver IC 3. The common electrode com is also connected to a wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest to which the selection switch TSWm shown in FIG. 27 is connected. The translucent electrode SITO is also connected to a wiring for supplying the ion sweep voltage Vsito of the test signal electrode pad Ttest in order to apply the ion sweep voltage Vsito shown in FIG. 29 to the capacitor Clc.

実施形態５に係る第２電圧生成部１１６は、液晶素子ＬＣのイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙを生じさせる三角波ＴＣＷ２の波形を生成する。イオン掃引電圧は、この三角波ＴＣＷ２の波形を含む所定の電圧変化を生じさせた電圧である。イオン掃引電圧は、不純物イオンの可動する周期、例えば１Ｈｚ以上１００Ｈｚ以下で、振幅は、イオンｉｔを対向基板７０Ｂを介して液晶中を動かすのに十分な電圧であって１０Ｖ以上５００Ｖ以下の電圧、例えば１００Ｖに設定される。   The second voltage generation unit 116 according to the fifth embodiment generates a waveform of the triangular wave TCW2 that causes the vertical displacement Δy among the displacements q (Δx, Δy) of the ions it of the liquid crystal element LC. The ion sweep voltage is a voltage that causes a predetermined voltage change including the waveform of the triangular wave TCW2. The ion sweep voltage is a period in which impurity ions move, for example, 1 Hz to 100 Hz, and the amplitude is a voltage sufficient to move the ions it through the liquid crystal via the counter substrate 70B, and a voltage of 10 V to 500 V, For example, it is set to 100V.

第１電圧生成部１１７は、図３１に示すように、例えば時間に対する電圧が上下に変化し、縦軸を電圧及び横軸を時間として矩形波の電圧波形のコネクティング信号ＴＣＮを生成する。第１電圧生成部１１７は、上述したプローブＰＴＳＩＧ１及びプローブＰＴＳＩＧ２を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ１配線及びｔｓｉｇ２配線の端部へコネクティング信号（所定の変化する電圧）を供給する（図３０参照）。コネクティング信号ＴＣＮは、電流検出ができればよく、信号自体が液晶表示パネルをチャージアップさせないことが望ましいので、例えば周期が０．１Ｈｚ以上１Ｈｚかつ振幅が１００ｍＶ以上１Ｖ以下程度に設定すればよい。   As shown in FIG. 31, the first voltage generator 117 generates a connecting signal TCN having a rectangular wave waveform, for example, the voltage with respect to time changes up and down, with the vertical axis representing voltage and the horizontal axis representing time. The first voltage generator 117 supplies a connecting signal (predetermined voltage) to the ends of the tsig1 wiring and the tsig2 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the probe PTSIG1 and the probe PTSIG2 (FIG. 30). reference). The connecting signal TCN only needs to be able to detect current, and it is desirable that the signal itself does not charge up the liquid crystal display panel. Therefore, for example, the period may be set to 0.1 Hz to 1 Hz and the amplitude may be set to about 100 mV to 1 V.

図１５を参照すると、液晶特性の測定システム１００は、測定装置１１０のプローブＰＴＳＩＧ１、ＰＴＳＩＧ２、ＰＴＳＩＴＯ及びＰｃｏｍがテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔに接続される（ステップＳ１１）。   Referring to FIG. 15, in the liquid crystal characteristic measurement system 100, the probes PTSIG1, PTSIG2, PSTITO, and Pcom of the measurement apparatus 110 are connected to the test signal electrode pad Ttest (step S11).

次に、測定装置１１０は、検出駆動選択部１１２が供給する測定用回路ＴＣを動作させる信号を供給し、イオン検出駆動に切り換える（ステップＳ１２）。例えば、図３０に示すように、検出駆動選択部１１２がｓＴＳＷ配線の信号がオン（ＯＮ）を供給すると、検出駆動選択スイッチＴＳＷ１、ＴＳＷ２が動作する。これにより、ｔｓｉｇ１配線と検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢの一端が導通する。   Next, the measurement apparatus 110 supplies a signal for operating the measurement circuit TC supplied by the detection drive selection unit 112, and switches to ion detection drive (step S12). For example, as shown in FIG. 30, when the detection drive selection unit 112 supplies the signal of the sTSW wiring to ON (ON), the detection drive selection switches TSW1 and TSW2 operate. Thereby, one end of the tsig1 wiring and the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB are conducted.

次に、測定装置１１０は、測定対象の画素Ｐｉｘを選択する（ステップＳ１３）。または、測定装置１１０は、測定対象の副画素Ｓｐｉｘ（ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢ）を選択する。例えば、図３０に示すように、走査線選択制御部１１４が走査線２４ｍを全て動作させる信号ｄｉｓｃをｘｄｉｓｃ配線へ供給する。走査線選択制御部１１４の信号に応じて、薄膜トランジスタＴｒのゲートを全てオープンになる。そして、信号線選択制御部１１３は、ｓＳＥＬ−Ｒ（Ｇ，Ｂ）配線の信号としてオン（ＯＮ）を供給すると、検出信号線選択スイッチＳＥＬＲ、ＳＥＬＧ、ＳＥＬＢが動作する。これにより、ｔｓｉｇ１配線と信号線２５ｎ＋１（ＳｉｇＲｏｄｄ）、信号線２５ｎ＋５（ＳｉｇＧｅｖｅｎ）及び信号線２５ｎ＋３（ＳｉｇＢｏｄｄ）が導通する。またｔｓｉｇ２配線と信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）が導通する。 Next, the measuring apparatus 110 selects a pixel Pix to be measured (Step S13). Alternatively, the measuring apparatus 110 selects the subpixel Spix (SpixR, SpixG, SpixB) to be measured. For example, as shown in FIG. 30, and supplies a signal disc scanning line selection control section 114 to operate all scan lines 24 m to xdisc wiring. All the gates of the thin film transistors Tr are opened in response to a signal from the scanning line selection control unit 114. When the signal line selection control unit 113 supplies ON (ON) as a signal of the sSEL-R (G, B) wiring, the detection signal line selection switches SELR, SELG, and SELB operate. As a result, the tsig1 wiring is electrically connected to the signal line 25 n + 1 (SigRodd), the signal line 25 n + 5 (SigGeven), and the signal line 25 n + 3 (SigBodd). Further, the tsig2 wiring is electrically connected to the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven).

次に、測定装置１１０は、第２電圧生成部１１６がイオン掃引電圧ＴＣＷ２を生成し、液晶表示パネル外からプローブＰＴＳＩＴＯを介してｔｓｉｔｏ配線へ印加する（ステップＳ１４）。さらに、測定装置１１０は、第１電圧生成部１１７がコネクティング信号電圧ＴＣＮを生成し、液晶表示パネル外からプローブＰＴＳＩＧ１及びＰＴＳＩＧ２を介してｔｓｉｇ１及びｔｓｉｇ２配線へ印加する。   Next, in the measurement apparatus 110, the second voltage generation unit 116 generates the ion sweep voltage TCW2 and applies the ion sweep voltage TCW2 from outside the liquid crystal display panel to the tsito wiring via the probe PSTITO (step S14). Further, in the measuring apparatus 110, the first voltage generation unit 117 generates the connecting signal voltage TCN and applies it to the tsig1 and tsig2 wirings from outside the liquid crystal display panel via the probes PTSIG1 and PTSIG2.

このように、実施形態５に係る液晶特性の測定方法は、所定の電圧変化するイオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加するイオン掃引電圧ステップ（ステップＳ１４）と、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測する電流測定の電流測定ステップ（ステップＳ１５）と、を含む。イオン掃引電圧印加ステップ（ステップＳ１４）において、イオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加する間に、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧ＴＣＮを印加し、電流測定ステップ（ステップＳ１５）において、コネクティング信号電圧ＴＣＮが印加された画素電極７２又は共通電極ｃｏｍのうちの一方と異なる画素電極７２又は共通電極ｃｏｍの他方、実施形態５においては共通電極ｃｏｍに流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測する。図３１に示すように、イオンｉｔ起因の過渡電流ｉｔｃｉ２は、イオン掃引電圧ＴＣＷ２の電圧がプラスからマイナスへ、又はマイナスからプラスへ極性が変わる場合に電流測定部ＡＭで測定することができる（ステップＳ１５）。   As described above, the method for measuring liquid crystal characteristics according to the fifth embodiment includes an ion sweep voltage step (step S14) in which the ion sweep voltage TCW2 that changes a predetermined voltage is applied to the translucent electrode SITO, the pixel electrode 72, and the common electrode. com, a current measurement step (step S15) of current measurement for measuring the transient current itci2 flowing between the current and the current com. In the ion sweep voltage application step (step S14), while the ion sweep voltage TCW2 is applied to the translucent electrode SITO, a connecting signal that changes from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode 72 (or the common electrode com). The voltage TCN is applied, and in the current measurement step (step S15), the pixel electrode 72 or the common electrode com different from one of the pixel electrode 72 or the common electrode com to which the connecting signal voltage TCN is applied, in the fifth embodiment. Measures the transient current itci2 flowing in the common electrode com. As shown in FIG. 31, the transient current itci2 caused by the ions it can be measured by the current measuring unit AM when the polarity of the ion sweep voltage TCW2 changes from plus to minus or from minus to plus (step). S15).

以上説明したように、実施形態５に係る液晶表示パネルは、液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加するためのイオン掃引電圧入力端部ｔｓｉｔｏと、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を液晶表示パネル外へ出力する端子を備える測定用回路とを備える。
上述したように、共通電極ｃｏｍは表示エリア部２１内でベタ膜として形成され、横方向（面内方向）に一様である。このため、横電界Ｅのみによる液晶分子のイオンｉｔの変位は、イオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙが比較的作用しやすく、容量Ｃｓｔｒを介して誘起される共通電極ｃｏｍの電荷ｅ−が、横方向の変位Δｘでは誘起されない。これにより、共通電極ｃｏｍにより、検出されるイオン起因の過渡電流は、イオンｉｔの縦方向の変位Δｙに起因する電荷ｅ−が主となり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が、ほとんど作用しない。横方向電界駆動の場合は、縦方向電界駆動に比べて、液晶にかかる電界Ｅは横方向が支配的であるので、縦成分Ｉ（ｉｏｎ＿ｙ）も、例えば１／１０程度となり、小さくなる。これに対して、本実施形態５に係る液晶表示パネルは、透光性電極ＳＩＴＯは、液晶層７０Ｃよりも第２基板側に備えられ、少なくとも画素電極７２と対向している。このため、透光性電極ＳＩＴＯ、液晶層７０Ｃ、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）の順となり、液晶層７０Ｃは、透光性電極ＳＩＴＯと、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）とに挟まれる。透光性電極ＳＩＴＯにイオン掃引電圧ＴＣＷ２を印加すると、液晶層７０Ｃにとっては縦方向電界が印加されることになり、イオンの縦方向の変位量Δｙに比例した、イオン起因の過渡電流を電流測定部ＡＭが測定することが可能となる。このため、実施形態１に比べて、さらに１００倍程度、イオン電流が大きくなり、検出効率が改善する。その結果、横方向電界駆動であっても、イオン掃引電圧ＴＣＷ２で誘起された縦方向電界との相乗作用により、横電界Ｅによる液晶分子のイオンｉｔの変位を検出しやすくなる。 As described above, the liquid crystal display panel according to Embodiment 5 has an ion sweep voltage input end for applying the ion sweep voltage TCW2 supplied from outside the liquid crystal display panel and changing a predetermined voltage to the translucent electrode SITO. tsito and a measurement circuit including a terminal for outputting a transient current itci2 flowing between the pixel electrode 72 and the common electrode com to the outside of the liquid crystal display panel.
As described above, the common electrode com is formed as a solid film in the display area portion 21 and is uniform in the horizontal direction (in-plane direction). For this reason, the displacement of the ions it of the liquid crystal molecules only by the transverse electric field E is relatively easily affected by the longitudinal displacement Δy of the displacements q (Δx, Δy) of the ions it, and is commonly induced through the capacitance Cstr. The charge e− of the electrode com is not induced by the lateral displacement Δx. Thereby, the transient current caused by the ions detected by the common electrode com is mainly the charge e− caused by the longitudinal displacement Δy of the ions it, and the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it. However, it hardly works. In the case of the horizontal electric field drive, the electric field E applied to the liquid crystal is dominant in the horizontal direction as compared with the vertical electric field drive, so that the vertical component I (ion_y) becomes, for example, about 1/10, which is small. In contrast, in the liquid crystal display panel according to the fifth embodiment, the translucent electrode SITO is provided on the second substrate side with respect to the liquid crystal layer 70 </ b> C, and at least faces the pixel electrode 72. Therefore, the transparent electrode SITO, the liquid crystal layer 70C, and the pixel electrode 72 (or common electrode com) are arranged in this order, and the liquid crystal layer 70C is sandwiched between the transparent electrode SITO and the pixel electrode 72 (or common electrode com). It is. When an ion sweep voltage TCW2 is applied to the translucent electrode SITO, a longitudinal electric field is applied to the liquid crystal layer 70C, and a transient current caused by ions proportional to the longitudinal displacement Δy of the ions is measured. The part AM can be measured. For this reason, the ion current is increased by about 100 times compared to the first embodiment, and the detection efficiency is improved. As a result, even in the case of lateral electric field driving, the displacement of the ions it of the liquid crystal molecules due to the horizontal electric field E can be easily detected due to the synergistic effect with the vertical electric field induced by the ion sweep voltage TCW2.

図３２は、実施形態５に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。図３３は、実施形態５に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。図３２及び図３３に示すように、液晶特性の測定システム１００は、共通電極ｃｏｍにコネクティング信号電圧ＴＣＮが印加されるようにし、電流測定部ＡＭが画素電極７２に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測するようにしてもよい。液晶特性の測定システム１００は、画素電極７２にコネクティング信号電圧ＴＣＮが印加されるようにし、電流測定部ＡＭが共通電極ｃｏｍに流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測する場合と、共通電極ｃｏｍにコネクティング信号電圧ＴＣＮが印加されるようにし、電流測定部ＡＭが画素電極７２に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測する場合とを切り替えて、界面へのイオンの偏在も測定することができる。   FIG. 32 is an explanatory diagram illustrating a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the fifth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. FIG. 33 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 5 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. As shown in FIGS. 32 and 33, the liquid crystal characteristic measurement system 100 causes the connecting signal voltage TCN to be applied to the common electrode com, and the current measurement unit AM measures the transient current itci2 flowing through the pixel electrode 72. It may be. In the liquid crystal characteristic measuring system 100, the connecting signal voltage TCN is applied to the pixel electrode 72 and the current measuring unit AM measures the transient current itci2 flowing through the common electrode com, and the connecting signal voltage TCN is applied to the common electrode com. Is switched, and the case where the current measuring unit AM measures the transient current itci2 flowing through the pixel electrode 72 can also be used to measure the uneven distribution of ions at the interface.

＜６．実施形態６（液晶特性の測定装置、液晶特性の測定方法及び液晶表示パネル）＞
図３４は、実施形態６に係る液晶特性の測定装置と液晶表示パネルのテスト信号用電極パッドとの接続状態を説明する説明図である。図３５は、実施形態６に係る液晶表示パネルの画素電極及び共通電極と、液晶特性の測定装置との関係を説明するための模式図である。上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 <6. Embodiment 6 (Liquid Crystal Characteristics Measuring Device, Liquid Crystal Characteristics Measuring Method, and Liquid Crystal Display Panel)>
FIG. 34 is an explanatory diagram for explaining a connection state between the liquid crystal characteristic measuring apparatus according to the sixth embodiment and the test signal electrode pads of the liquid crystal display panel. FIG. 35 is a schematic diagram for explaining a relationship between a pixel electrode and a common electrode of the liquid crystal display panel according to Embodiment 6 and a liquid crystal characteristic measuring apparatus. The same components as those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図３４に示すように、実施形態６に係る測定装置１１０は、第１電圧生成部１１７と、第２電圧生成部１１６と、検出駆動選択部１１２と、信号線選択制御部１１３と、走査線選択制御部１１４と、第１の電流測定部ＡＭ１と、第２の電流測定部ＡＭ２とを備えている。測定装置１１０は、第２の電流測定部ＡＭ２への接続と、電位を固定しないフローティング状態にするフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを選択する選択スイッチＴＳＷｍを備えている。選択スイッチＴＳＷｍは、上述したプローブＰｃｏｍを介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線の端部に接続されている。このように、選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線と第２の電流測定部ＡＭ２とを接続している場合、共通電極ｃｏｍに流れる電流を計測することができる。第２の電流測定部ＡＭ２は共通電極ｃｏｍに流れる電流を計測するために、共通電極ｃｏｍを所定の電位で固定している。選択スイッチＴＳＷｍは、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのコモン電位Ｖｃｏｍを供給する配線とフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続している場合、共通電極ｃｏｍの電位を固定しない。   As illustrated in FIG. 34, the measurement apparatus 110 according to the sixth embodiment includes a first voltage generation unit 117, a second voltage generation unit 116, a detection drive selection unit 112, a signal line selection control unit 113, and a scanning line. A selection control unit 114, a first current measurement unit AM1, and a second current measurement unit AM2 are provided. The measurement apparatus 110 includes a selection switch TSWm that selects connection to the second current measurement unit AM2 and floating terminal floating that sets the potential in a floating state. The selection switch TSWm is connected to the end of the wiring that supplies the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest via the probe Pcom described above. Thus, the selection switch TSWm can measure the current flowing through the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the second current measuring unit AM2 are connected. it can. The second current measuring unit AM2 fixes the common electrode com at a predetermined potential in order to measure the current flowing through the common electrode com. The selection switch TSWm does not fix the potential of the common electrode com when the wiring for supplying the common potential Vcom of the test signal electrode pad Ttest and the floating terminal floating are connected.

第１の電流測定部ＡＭ１は、上述したプローブＰＴＳＩＧ２を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ２配線の端部に接続し、ｔｓｉｇ２配線に流れる電流を計測することができる。   The first current measuring unit AM1 is connected to the end of the tsig2 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the probe PTSIG2 described above, and can measure the current flowing through the tsig2 wiring.

図３５に示すように、実施形態６に係る対向基板７０Ｂは、ガラス基板７８と、このガラス基板７８の一方の面に形成されたカラーフィルタ７６と、カラーフィルタ７６の帯電防止層である透光性電極ＳＩＴＯを含む。そして、図３５に示す第２電圧生成部１１６は、液晶素子ＬＣのイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙを生じさせる三角波ＴＣＷ２の波形を生成する。測定装置１１０は、第２電圧生成部１１６がイオン掃引電圧ＴＣＷ２を生成し、液晶表示パネル外からプローブＰＴＳＩＴＯを介してｔｓｉｔｏ配線へ印加する。   As illustrated in FIG. 35, the counter substrate 70 </ b> B according to the sixth embodiment includes a glass substrate 78, a color filter 76 formed on one surface of the glass substrate 78, and a light-transmitting layer that is an antistatic layer of the color filter 76. A conductive electrode SITO. Then, the second voltage generator 116 shown in FIG. 35 generates a waveform of the triangular wave TCW2 that causes the vertical displacement Δy among the displacements q (Δx, Δy) of the ions it of the liquid crystal element LC. In the measuring apparatus 110, the second voltage generation unit 116 generates the ion sweep voltage TCW2 and applies the ion sweep voltage TCW2 from the outside of the liquid crystal display panel to the tsito wiring via the probe PTSITO.

第１電圧生成部１１７は、図３１に示すように、例えば時間に対する電圧が上下に変化し、縦軸を電圧及び横軸を時間として矩形波の電圧波形のコネクティング信号ＴＣＮを生成する。第１電圧生成部１１７は、上述したプローブＰＴＳＩＧ１を介して、テスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔのｔｓｉｇ１配線の端部へコネクティング信号（所定の変化する電圧）を供給する（図３４参照）。   As shown in FIG. 31, the first voltage generator 117 generates a connecting signal TCN having a rectangular wave waveform, for example, the voltage with respect to time changes up and down, with the vertical axis representing voltage and the horizontal axis representing time. The first voltage generator 117 supplies a connecting signal (a predetermined changing voltage) to the end of the tsig1 wiring of the test signal electrode pad Ttest via the probe PTSIG1 (see FIG. 34).

測定装置１１０は、第２電圧生成部１１６がイオン掃引電圧ＴＣＷ２を生成し、液晶表示パネル外からプローブＰＴＳＩＴＯを介してｔｓｉｔｏ配線へ印加する（ステップＳ１４）。さらに、測定装置１１０は、第１電圧生成部１１７がコネクティング信号電圧ＴＣＮを生成し、液晶表示パネル外からプローブＰＴＳＩＧ１を介してｔｓｉｇ１配線へ印加する。   In the measuring apparatus 110, the second voltage generation unit 116 generates the ion sweep voltage TCW2 and applies the ion sweep voltage TCW2 from the outside of the liquid crystal display panel to the tsito wiring via the probe PSTITO (step S14). Further, in the measuring apparatus 110, the first voltage generator 117 generates the connecting signal voltage TCN and applies it to the tsig1 wiring from outside the liquid crystal display panel via the probe PTSIG1.

このように、実施形態６に係る液晶特性の測定方法は、所定の電圧変化するイオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加するイオン掃引電圧ステップ（ステップＳ１４）と、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を計測する電流測定の電流測定ステップ（ステップＳ１５）と、を含む。イオン掃引電圧印加ステップ（ステップＳ１４）において、イオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加する間に、表示エリア部２１にある複数の薄膜トランジスタＴｒのうちの一部の薄膜トランジスタＴｒを有する、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢの画素電極７２には、コネクティング信号電圧ＴＣＮが供給される。コネクティング信号電圧ＴＣＮが供給される副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢに隣り合い、かつ信号線２５ｎ＋４（ＳｉｇＲｅｖｅｎ）、信号線２５ｎ＋２（ＳｉｇＧｏｄｄ）及び信号線２５ｎ＋６（ＳｉｇＢｅｖｅｎ）副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢに接続する薄膜トランジスタＴｒを有する、副画素ＳｐｉｘＲ、ＳｐｉｘＧ、ＳｐｉｘＢの画素電極７２に流れる過渡電流が第１の電流測定部ＡＭ１で検出される。そして、測定用回路ＴＣは、複数の画素Ｐｉｘに跨がって隣り合う薄膜トランジスタＴｒのうち一部の薄膜トランジスタＴｒに接続される画素電極７２に、液晶表示パネル外から三角波信号を印加し、三角波信号の電圧が印加された画素電極７２と異なる画素電極７２に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１は、過渡電流を多く検出できる（ステップＳ１５）。 As described above, the liquid crystal characteristic measurement method according to the sixth embodiment includes an ion sweep voltage step (step S14) in which the ion sweep voltage TCW2 that changes a predetermined voltage is applied to the translucent electrode SITO, the pixel electrode 72, and the common electrode. com, a current measurement step (step S15) of current measurement for measuring the transient current itci2 flowing between the current and the current com. In the ion sweep voltage application step (step S14), a subpixel having a part of the thin film transistors Tr of the plurality of thin film transistors Tr in the display area unit 21 while the ion sweep voltage TCW2 is applied to the translucent electrode SITO. The connecting signal voltage TCN is supplied to the pixel electrodes 72 of SpixR, SpixG, and SpixB. Adjacent to the subpixels SpixR, SpixG, SpixB to which the connecting signal voltage TCN is supplied, and the signal line 25 n + 4 (SigReven), the signal line 25 n + 2 (SigGodd), and the signal line 25 n + 6 (SigBeven) subpixel SpixR, SpixG, SpxG The first current measuring unit AM1 detects a transient current that flows through the pixel electrodes 72 of the subpixels SpixR, SpixG, and SpixB having the thin film transistor Tr connected to the subpixel. Then, the measurement circuit TC applies a triangular wave signal from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode 72 connected to a part of the thin film transistors Tr among adjacent thin film transistors Tr straddling the plurality of pixels Pix, and the triangular wave signal. The transient current that flows in the pixel electrode 72 different from the pixel electrode 72 to which the voltage is applied is output to the outside of the liquid crystal display panel. Thereby, the first current measuring unit AM1 can detect a large amount of transient current (step S15).

次に、測定装置１１０は、第２の電流測定部ＡＭ２が、共通電極ｃｏｍに固定電位を与え、過渡電流Ｉｃｏｍの電流検出をしてもよい。測定装置１１０は、共通電極ｃｏｍと電位を固定しないフローティング端子ｆｌｏａｔｉｎｇとを接続し、第２の電流測定部ＡＭ２の電流測定を省略してもよい。これにより、共通電極ｃｏｍの電荷ｅ−が、横方向の変位Δｘでは誘起されにくくなり、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−が増加する。その結果、測定装置１１０及び液晶表示パネル２は、イオンｉｔの横方向の変位Δｘに起因する電荷ｅ−の検出能力を向上させることができる。   Next, in the measurement apparatus 110, the second current measurement unit AM2 may apply a fixed potential to the common electrode com to detect the transient current Icom. The measuring apparatus 110 may connect the common electrode com and the floating terminal floating that does not fix the potential, and omit the current measurement of the second current measurement unit AM2. As a result, the charge e− of the common electrode com is hardly induced by the lateral displacement Δx, and the charge e− due to the lateral displacement Δx of the ions it increases. As a result, the measuring apparatus 110 and the liquid crystal display panel 2 can improve the detection capability of the charge e− caused by the lateral displacement Δx of the ions it.

以上説明したように、実施形態６に係る液晶表示パネルは、液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧ＴＣＷ２を透光性電極ＳＩＴＯに印加するためのイオン掃引電圧入力端部ｔｓｉｔｏと、画素電極７２と共通電極ｃｏｍとの間に流れる過渡電流ｉｔｃｉ２を液晶表示パネル外へ出力する端子を備える測定用回路とを備える。本実施形態６に係る液晶表示パネル２は、透光性電極ＳＩＴＯは、液晶層７０Ｃよりも第２基板側に備えられ、少なくとも画素電極７２と対向している。このため、透光性電極ＳＩＴＯ、液晶層７０Ｃ、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）の順となり、液晶層７０Ｃは、透光性電極ＳＩＴＯと、画素電極７２（又は共通電極ｃｏｍ）とに挟まれる。透光性電極ＳＩＴＯにイオン掃引電圧ＴＣＷ２を印加すると、液晶層７０Ｃにとっては縦方向電界が印加されることになり、イオンの縦方向の変位量Δｙに比例した、イオン起因の過渡電流を測定することが可能となる。液晶分子のイオンｉｔは、横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち縦方向の変位Δｙにより、容量Ｃｓｔｒを介して共通電極ｃｏｍに電荷ｅ−が誘起される。横電界Ｅによってイオンｉｔの変位ｑ（Δｘ、Δｙ）のうち横方向の変位Δｘにより、容量Ｃｐｐを介して副画素Ｓｐｉｘ２に電荷ｅ−が誘起される。そして、実施形態６に記載の液晶特性の測定方法は、第１の電流測定部ＡＭ１が過渡電流Ｉｐｉｘを検出し、第２の電流測定部ＡＭ２が過渡電流Ｉｃｏｍを検出するので、過渡電流Ｉｐｉｘと過渡電流Ｉｃｏｍとを分離して検出できる。なお、第２の電流測定部ＡＭ２が過渡電流Ｉｃｏｍを検出するために印加するコモン電位Ｖｃｏｍは、電圧生成部１１１が印加する最大電圧の絶対値より小さくかつ接地電圧（ＧＮＤ）以上であることが好ましい。これにより、第１の電流測定部ＡＭ１は、過渡電流Ｉｐｉｘと過渡電流Ｉｃｏｍとをより分離して検出できる。このため、実施形態１に比べて、さらに１００倍程度、イオン電流が大きくなり、検出効率が改善する。その結果、横方向電界駆動であっても、イオン掃引電圧ＴＣＷ２で誘起された縦方向電界との相乗作用により、横電界Ｅによる液晶分子のイオンｉｔの変位を検出しやすくなる。   As described above, the liquid crystal display panel according to Embodiment 6 has an ion sweep voltage input end for applying the ion sweep voltage TCW2 supplied from outside the liquid crystal display panel and changing a predetermined voltage to the translucent electrode SITO. tsito and a measurement circuit including a terminal for outputting a transient current itci2 flowing between the pixel electrode 72 and the common electrode com to the outside of the liquid crystal display panel. In the liquid crystal display panel 2 according to the sixth embodiment, the translucent electrode SITO is provided on the second substrate side with respect to the liquid crystal layer 70 </ b> C, and at least faces the pixel electrode 72. Therefore, the transparent electrode SITO, the liquid crystal layer 70C, and the pixel electrode 72 (or common electrode com) are arranged in this order, and the liquid crystal layer 70C is sandwiched between the transparent electrode SITO and the pixel electrode 72 (or common electrode com). It is. When the ion sweep voltage TCW2 is applied to the translucent electrode SITO, a vertical electric field is applied to the liquid crystal layer 70C, and an ion-induced transient current proportional to the vertical displacement amount Δy of the ions is measured. It becomes possible. In the ions it of the liquid crystal molecules, a charge e− is induced on the common electrode com through the capacitance Cstr by the vertical displacement Δy of the displacements q (Δx, Δy) of the ions it by the horizontal electric field E. A charge e− is induced in the sub-pixel Spix2 by the lateral electric field E due to the lateral displacement Δx of the displacement q (Δx, Δy) of the ions it. In the liquid crystal characteristic measuring method described in the sixth embodiment, since the first current measuring unit AM1 detects the transient current Ipix and the second current measuring unit AM2 detects the transient current Icom, the transient current Ipix and The transient current Icom can be detected separately. Note that the common potential Vcom applied for the second current measurement unit AM2 to detect the transient current Icom is smaller than the absolute value of the maximum voltage applied by the voltage generation unit 111 and equal to or higher than the ground voltage (GND). preferable. Thereby, the first current measurement unit AM1 can detect the transient current Ipix and the transient current Icom more separately. For this reason, the ion current is increased by about 100 times compared to the first embodiment, and the detection efficiency is improved. As a result, even in the case of lateral electric field driving, the displacement of the ions it of the liquid crystal molecules due to the horizontal electric field E can be easily detected due to the synergistic effect with the vertical electric field induced by the ion sweep voltage TCW2.

＜７．製造工程の一例（液晶表示パネルの製造方法）＞
図３６は、実施形態１から６に係る液晶表示パネルの製造工程における、液晶セルイオン密度調査を液晶特性の測定システムがインライン工程で行うフローチャートの一例である。図３６に示すように、製造装置は、対向基板７０Ｂと、画素基板７０Ａと対向基板７０Ｂとの間に挟まれた液晶層７０Ｃとを備えた基板を切断する（ステップＳ２１）。 <7. Example of manufacturing process (method for manufacturing a liquid crystal display panel)>
FIG. 36 is an example of a flowchart in which the liquid crystal characteristic measurement system performs the liquid crystal cell ion density survey in the in-line process in the manufacturing process of the liquid crystal display panel according to the first to sixth embodiments. As shown in FIG. 36, the manufacturing apparatus cuts the substrate including the counter substrate 70B and the liquid crystal layer 70C sandwiched between the pixel substrate 70A and the counter substrate 70B (step S21).

次に、製造装置は、ステップＳ２１で切断されたモジュール基板に上述した偏光板８１、８２を貼り付ける（ステップＳ２２）。次に、検査装置は、液晶セル動作検査を行う（ステップＳ２３）。次に、上述した液晶特性の測定システム１００は、液晶セルイオン密度調査を行う（ステップＳ２４）。例えば液晶特性の測定システム１００は、図１５に示す手順で液晶セルイオン密度調査を行う。   Next, the manufacturing apparatus attaches the polarizing plates 81 and 82 described above to the module substrate cut in step S21 (step S22). Next, the inspection apparatus performs a liquid crystal cell operation inspection (step S23). Next, the liquid crystal characteristic measurement system 100 described above conducts a liquid crystal cell ion density survey (step S24). For example, the liquid crystal characteristic measurement system 100 performs a liquid crystal cell ion density survey according to the procedure shown in FIG.

次に、製造装置は、基板上にドライバＩＣ３をＣＯＧとしてマウントする（ステップＳ２５）。次に検査装置、液晶表示パネル２の外観等の検査を行うモジュール検査を行う（ステップＳ２６）。以上説明したように、液晶特性の測定装置１１０と接続するテスト信号用電極パッドＴｔｅｓｔとを備えているので、基板上にドライバＩＣ３をＣＯＧとしてマウントする（ステップＳ２５）前に、液晶中や配向膜中のイオン性の不純物を測定することができる。このため、液晶中や配向膜中のイオン性の不純物が検出された場合には、ドライバＩＣなどの廃棄を抑制し、製造コストを抑制するとともに、液晶表示パネルの品質を高めることができる。   Next, the manufacturing apparatus mounts the driver IC 3 as a COG on the substrate (step S25). Next, a module inspection for inspecting the appearance and the like of the inspection apparatus and the liquid crystal display panel 2 is performed (step S26). As described above, since the test signal electrode pad Ttest connected to the liquid crystal characteristic measuring device 110 is provided, the driver IC 3 is mounted as COG on the substrate (step S25). The ionic impurities in it can be measured. For this reason, when an ionic impurity is detected in the liquid crystal or the alignment film, the disposal of the driver IC and the like can be suppressed, the manufacturing cost can be reduced, and the quality of the liquid crystal display panel can be improved.

なお、以上説明した実施形態１、２、３、４、５、６及びこれらの変形例に係る表示装置１は、テレビジョン装置、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話等の携帯端末装置あるいはビデオカメラなどのあらゆる分野の電子機器に適用することが可能である。言い換えると、上述した実施形態に係る表示装置１は、外部から入力された映像信号あるいは内部で生成した映像信号を、画像あるいは映像として表示するあらゆる分野の電子機器に適用することが可能である。電子機器は、液晶表示パネルに映像信号を供給し、液晶表示パネルの動作を制御する制御装置を備える。   Note that the display device 1 according to the first, second, third, fourth, fifth, and sixth embodiments described above is a portable terminal device such as a television device, a digital camera, a notebook personal computer, a mobile phone, or the like. It can be applied to electronic devices in various fields such as video cameras. In other words, the display device 1 according to the above-described embodiment can be applied to electronic devices in various fields that display an externally input video signal or an internally generated video signal as an image or video. The electronic device includes a control device that supplies a video signal to the liquid crystal display panel and controls the operation of the liquid crystal display panel.

本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。例えば、前述の各実施形態に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除若しくは設計変更を行ったものは、又は、工程の追加、省略若しくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。また、本実施形態において述べた態様によりもたらされる他の作用効果について本明細書記載から明らかなもの、又は当業者において適宜想到し得るものついては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。   In the scope of the idea of the present invention, those skilled in the art can conceive various changes and modifications, and it is understood that these changes and modifications also belong to the scope of the present invention. For example, those in which the person skilled in the art appropriately added, deleted, or changed the design of each of the above-described embodiments, or those in which a process was added, omitted, or changed in conditions are also included in the present invention. As long as the gist is provided, it is included in the scope of the present invention. In addition, it is understood that other functions and effects brought about by the aspects described in the present embodiment are apparent from the description of the present specification or can be appropriately conceived by those skilled in the art to be brought about by the present invention.

１ 表示装置
２ 液晶表示パネル
６ バックライト
１００ 測定システム
１１０ 測定装置
１１１ 電圧生成部
１１２ 検出駆動選択部
１１３ 信号線選択制御部
１１４ 走査線選択制御部
１１５ 顕微鏡
１２０ コンピュータ
１３０ 表示装置
１３１ 表示部
ＴＣ 測定用回路
Ｔｉｃ 入力信号用電極パッド
Ｔｒ 薄膜トランジスタ(スイッチング素子)
ＴＳＷ１、ＴＳＷ２ 検出駆動選択スイッチ
Ｔｔｅｓｔ テスト信号用電極パッド DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Display apparatus 2 Liquid crystal display panel 6 Backlight 100 Measuring system 110 Measuring apparatus 111 Voltage generation part 112 Detection drive selection part 113 Signal line selection control part 114 Scan line selection control part 115 Microscope 120 Computer 130 Display apparatus 131 Display part TC For measurement Circuit Tic Input signal electrode pad Tr Thin film transistor (switching element)
TSW1, TSW2 Detection drive selection switch Ttest Test signal electrode pad

Claims (22)

第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加し、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、
前記測定用回路を介して、前記電圧を印加する電圧生成部と、
前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える、
液晶特性の測定装置。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a part of the plurality of switching elements Applying a predetermined changing voltage from the outside of the liquid crystal display panel to the pixel electrode connected to the switching element, and outputting a transient current flowing through the pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied to the outside of the liquid crystal display panel A liquid crystal display panel having a measurement circuit and measuring the liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field,
A voltage generator for applying the voltage via the measurement circuit;
A current measuring unit for measuring the transient current,
Measuring device for liquid crystal properties. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、
複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して所定の変化する電圧を印加する電圧生成部と、
前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を計測する電流測定部と、を備える、
液晶特性の測定装置。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A measuring device for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which molecular orientation changes,
A voltage generator that applies a predetermined voltage to pixel electrodes connected to some of the plurality of switching elements;
A current measuring unit that measures a transient current flowing in a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied, and
Measuring device for liquid crystal properties. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性の測定装置であって、
前記スイッチング素子に接続される画素電極に、前記液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加する電圧生成部と、
前記極性を変化する場合、前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える、
液晶特性の測定装置。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A device for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which molecular orientation changes,
The pixel electrode connected to the switching element has a rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in a plane, and a polarity equal to or lower than the threshold voltage of the liquid crystal with a period larger than the rectangular wave. A voltage generation unit that applies and applies a voltage that changes,
A current measuring unit that measures the transient current when changing the polarity; and
Measuring device for liquid crystal properties. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性の測定装置であって、
前記スイッチング素子に接続される画素電極に、前記液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加する電圧生成部と、
前記極性が変化する場合、前記液晶層の輝度変化を計測する、
液晶特性の測定装置。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A device for measuring liquid crystal characteristics of the liquid crystal layer with respect to a liquid crystal display panel in which molecular orientation changes,
The pixel electrode connected to the switching element has a rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in a plane, and a polarity equal to or lower than the threshold voltage of the liquid crystal with a period larger than the rectangular wave. A voltage generation unit that applies and applies a voltage that changes,
When the polarity changes, the luminance change of the liquid crystal layer is measured.
Measuring device for liquid crystal properties. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極と、所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部と、前記イオン掃引電圧が印加された画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルに対して、前記液晶層の液晶特性を計測する測定装置であって、
前記イオン掃引電圧入力端部を介して、前記イオン掃引電圧を印加する第１電圧生成部と、
前記過渡電流を計測する電流測定部と、を備える、
液晶特性の測定装置。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and closer to the second substrate than the liquid crystal layer A translucent electrode facing at least the pixel electrode, an ion sweep voltage input end for applying an ion sweep voltage changing a predetermined voltage to the translucent electrode, and the ion sweep voltage being applied A measurement circuit that outputs a transient current flowing between the pixel electrode and the common electrode to the outside of the liquid crystal display panel, and for a liquid crystal display panel in which the orientation of liquid crystal molecules in the liquid crystal layer changes due to a lateral electric field, Of the liquid crystal layer A measuring device for measuring the crystallization characteristics,
A first voltage generator for applying the ion sweep voltage via the ion sweep voltage input end;
A current measuring unit for measuring the transient current,
Measuring device for liquid crystal properties. 前記液晶表示パネルは、
前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加するコネクティング信号電圧端子を備え、
前記電流測定部は、
前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる前記過渡電流を計測する、請求項５に記載の液晶特性の測定装置。 The liquid crystal display panel is
A connecting signal voltage terminal for applying a predetermined changing connecting signal voltage from outside the liquid crystal display panel to the pixel electrode or the common electrode;
The current measuring unit includes:
The liquid crystal characteristic measuring apparatus according to claim 5, wherein the transient current flowing in the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrode or the common electrode to which the connecting signal voltage is applied is measured. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する前記液晶層の特性を測定する液晶特性の測定方法であって、
複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して所定の変化する電圧を印加するステップと、
前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を計測する電流測定のステップと、を備える、
液晶特性の測定方法。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A method for measuring liquid crystal properties for measuring the properties of the liquid crystal layer in which molecular orientation changes,
Applying a predetermined varying voltage to a pixel electrode connected to a part of the plurality of switching elements;
A current measurement step of measuring a transient current flowing in a pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied,
Method for measuring liquid crystal characteristics. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する前記液晶層の特性を測定する液晶特性の測定方法であって、
所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するイオン掃引電圧ステップと、
前記画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を計測する電流測定の電流測定ステップと、を備える、
液晶特性の測定方法。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and closer to the second substrate than the liquid crystal layer A liquid crystal property measuring method, comprising: a translucent electrode facing at least the pixel electrode; and measuring a property of the liquid crystal layer in which an orientation of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field,
An ion sweep voltage step of applying a predetermined voltage changing ion sweep voltage to the translucent electrode;
A current measurement step of current measurement for measuring a transient current flowing between the pixel electrode and the common electrode,
Method for measuring liquid crystal characteristics. イオン掃引電圧印加ステップにおいて、イオン掃引電圧を前記透光性電極に印加する間に、前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加し、
電流測定ステップにおいて、前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる前記過渡電流を計測する、請求項８に記載の液晶特性の測定方法。 In the ion sweep voltage application step, while applying an ion sweep voltage to the translucent electrode, a connecting signal voltage changing from outside the liquid crystal display panel is applied to the pixel electrode or the common electrode,
The liquid crystal characteristic measurement according to claim 8, wherein in the current measurement step, the transient current flowing in the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrode or the common electrode to which the connecting signal voltage is applied is measured. Method. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、
複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加し、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する測定用回路を備える、液晶表示パネル。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A liquid crystal display panel in which the orientation of molecules changes,
A voltage that changes from outside the liquid crystal display panel is applied to pixel electrodes connected to some of the switching elements, and flows to a pixel electrode that is different from the pixel electrode to which the voltage is applied. A liquid crystal display panel comprising a measurement circuit for outputting a transient current to the outside of the liquid crystal display panel. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、を備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、
複数の前記スイッチング素子のうち、一部のスイッチング素子に接続される画素電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化する電圧を印加する配線の端部と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極に流れる過渡電流を測定のために液晶表示パネル外へ出力する配線の端部とを備える、液晶表示パネル。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, and a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and a liquid crystal of the liquid crystal layer by a lateral electric field A liquid crystal display panel in which the orientation of molecules changes,
Of the plurality of switching elements, an end of a wiring that applies a predetermined voltage to the pixel electrodes connected to some of the switching elements from the outside of the liquid crystal display panel, and a pixel electrode to which the voltage is applied A liquid crystal display panel comprising: an end portion of a wiring for outputting a transient current flowing through different pixel electrodes to the outside of the liquid crystal display panel for measurement. 前記電圧が印加された画素電極と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極とは、隣り合う画素にある、請求項１０又は１１に記載の液晶表示パネル。   The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein the pixel electrode to which the voltage is applied and the pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied are in adjacent pixels. 前記電圧がされた画素電極に接続されたスイッチング素子と行が隣り合うスイッチング素子は、接続する画素電極の電位を固定しない、請求項１０から１２のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein a switching element connected to the pixel electrode to which the voltage is applied and a switching element whose row is adjacent do not fix a potential of the pixel electrode to be connected. 前記共通電極の電位が固定されている、請求項１０から１３のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein a potential of the common electrode is fixed. 前記共通電極の電位が固定されていない、請求項１０から１３のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein a potential of the common electrode is not fixed. 前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示される場合、前記電圧が印加された画素電極と、前記電圧が印加された画素電極と異なる画素電極とは、複数の前記画素に跨がって隣り合う、請求項１０から１５のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   When one pixel is displayed by combining a plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected, the pixel electrode to which the voltage is applied and the pixel electrode different from the pixel electrode to which the voltage is applied are: The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein the liquid crystal display panel is adjacent to the plurality of pixels. 前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示される場合、前記画素のうちの一部の画素電極の電位が固定されていない、請求項１０から１６のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   17. The device according to claim 10, wherein when one pixel is displayed by combining a plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected, the potential of some of the pixel electrodes of the pixels is not fixed. 2. A liquid crystal display panel according to item 1. 前記スイッチング素子が接続される各前記画素電極が複数組み合わされて１つの画素が表示され、前記画素が複数組み合わされて表示エリア部となり、
前記測定用回路は、前記表示エリア部の一部にのみ前記電圧を印加する、請求項１０から１７のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。 A plurality of the pixel electrodes to which the switching element is connected are combined to display one pixel, and a plurality of the pixels are combined to form a display area part.
The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein the measurement circuit applies the voltage only to a part of the display area part. 前記電圧は、液晶層の液晶分子が面内で回転する液晶の閾値電圧よりも大きい電圧の矩形波と、矩形波よりも大きな周期で液晶の閾値電圧以下の極性が変化する電圧を重ね合わせて印加される電圧である、請求項１０から１８のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。   The voltage is obtained by superimposing a rectangular wave having a voltage larger than the threshold voltage of the liquid crystal in which the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer rotate in the plane and a voltage whose polarity is lower than the threshold voltage of the liquid crystal at a period larger than the rectangular wave. The liquid crystal display panel according to claim 10, wherein the liquid crystal display panel is an applied voltage. 前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極をさらに有し、
前記電圧とは異なる電圧であって、液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部を備える、請求項１０から１８のいずれか１項に記載の液晶表示パネル。 The liquid crystal layer further includes a translucent electrode provided on the second substrate side and facing at least the pixel electrode,
The apparatus further comprises an ion sweep voltage input end for applying an ion sweep voltage that is different from the voltage and is supplied from outside the liquid crystal display panel and changes a predetermined voltage to the translucent electrode. The liquid crystal display panel according to any one of 18. 第１基板と、前記第１基板に対向配置された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される液晶層と、前記第１基板の面上にあり、かつマトリクス状に配置された複数のスイッチング素子と、前記スイッチング素子と接続された画素電極と、絶縁膜を介して前記画素電極と絶縁された共通電極と、前記液晶層よりも前記第２基板側に備えられ、少なくとも前記画素電極と対向する透光性電極とを備え、横電界によって前記液晶層の液晶分子の配向が変化する液晶表示パネルであって、
液晶表示パネル外から供給されて所定の電圧変化するイオン掃引電圧を前記透光性電極に印加するためのイオン掃引電圧入力端部と、前記画素電極と前記共通電極との間に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する端子を備える測定用回路とを備える、液晶表示パネル。 A first substrate; a second substrate disposed opposite the first substrate; a liquid crystal layer disposed between the first substrate and the second substrate; and a surface of the first substrate; A plurality of switching elements arranged in a matrix, a pixel electrode connected to the switching element, a common electrode insulated from the pixel electrode through an insulating film, and closer to the second substrate than the liquid crystal layer A liquid crystal display panel comprising at least a light-transmitting electrode facing the pixel electrode, wherein the orientation of liquid crystal molecules in the liquid crystal layer is changed by a lateral electric field,
A transient current that flows between the pixel electrode and the common electrode, and an ion sweep voltage input terminal for applying an ion sweep voltage that is supplied from outside the liquid crystal display panel and changes a predetermined voltage to the translucent electrode. A liquid crystal display panel comprising a measurement circuit having a terminal for outputting to the outside of the liquid crystal display panel. 前記測定用回路は、前記画素電極又は前記共通電極に対して液晶表示パネル外から所定の変化するコネクティング信号電圧を印加するコネクティング信号電圧端子を備え、
前記コネクティング信号電圧が印加された画素電極又は共通電極のうちの一方と異なる画素電極又は共通電極の他方に流れる過渡電流を液晶表示パネル外へ出力する、請求項２１に記載の液晶表示パネル。 The measurement circuit includes a connecting signal voltage terminal that applies a predetermined connecting signal voltage from outside the liquid crystal display panel to the pixel electrode or the common electrode,
The liquid crystal display panel according to claim 21, wherein a transient current flowing in the other of the pixel electrode or the common electrode different from one of the pixel electrode or the common electrode to which the connecting signal voltage is applied is output to the outside of the liquid crystal display panel.
JP2014016192A 2013-02-08 2014-01-30 Liquid crystal characteristic measuring apparatus, liquid crystal characteristic measuring method, and liquid crystal display panel Expired - Fee Related JP6332984B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014016192A JP6332984B2 (en) 2013-02-08 2014-01-30 Liquid crystal characteristic measuring apparatus, liquid crystal characteristic measuring method, and liquid crystal display panel

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013023867 2013-02-08
JP2013023867 2013-02-08
JP2014016192A JP6332984B2 (en) 2013-02-08 2014-01-30 Liquid crystal characteristic measuring apparatus, liquid crystal characteristic measuring method, and liquid crystal display panel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014170222A true JP2014170222A (en) 2014-09-18
JP6332984B2 JP6332984B2 (en) 2018-05-30

Family

ID=51692613

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014016192A Expired - Fee Related JP6332984B2 (en) 2013-02-08 2014-01-30 Liquid crystal characteristic measuring apparatus, liquid crystal characteristic measuring method, and liquid crystal display panel

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6332984B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114063324A (en) * 2020-08-06 2022-02-18 成都天马微电子有限公司 Liquid crystal phase shifter and liquid crystal antenna testing method and testing device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001004971A (en) * 1999-04-22 2001-01-12 Nec Corp Method and device for measuring ion density in liquid crystal panel
JP2001109015A (en) * 1999-10-06 2001-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display panel
JP2001264805A (en) * 2000-03-16 2001-09-26 Nec Corp Method and device for measuring voltage retention rate of tft liquid crystal panel
JP2005091644A (en) * 2003-09-16 2005-04-07 Seiko Epson Corp Manufacturing method and inspection method for electrooptic device
WO2008090786A1 (en) * 2007-01-25 2008-07-31 Toyo Corporation Method of measuring physical property of tft liquid crystal panel, and device for measuring physical property of tft liquid crystal panel

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001004971A (en) * 1999-04-22 2001-01-12 Nec Corp Method and device for measuring ion density in liquid crystal panel
JP2001109015A (en) * 1999-10-06 2001-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display panel
JP2001264805A (en) * 2000-03-16 2001-09-26 Nec Corp Method and device for measuring voltage retention rate of tft liquid crystal panel
JP2005091644A (en) * 2003-09-16 2005-04-07 Seiko Epson Corp Manufacturing method and inspection method for electrooptic device
WO2008090786A1 (en) * 2007-01-25 2008-07-31 Toyo Corporation Method of measuring physical property of tft liquid crystal panel, and device for measuring physical property of tft liquid crystal panel

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114063324A (en) * 2020-08-06 2022-02-18 成都天马微电子有限公司 Liquid crystal phase shifter and liquid crystal antenna testing method and testing device
CN114063324B (en) * 2020-08-06 2024-01-16 成都天马微电子有限公司 Testing method and testing device for liquid crystal phase shifter and liquid crystal antenna

Also Published As

Publication number Publication date
JP6332984B2 (en) 2018-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10151952B2 (en) Display device and electronic apparatus
US10725349B2 (en) Liquid-crystal display device and electronic apparatus
KR101634854B1 (en) Liquid crystal display device and electronic apparatus
US10578932B2 (en) Liquid crystal display device and electronic apparatus
US10095078B2 (en) Liquid crystal display panel
JP2007127933A (en) Semi-transparent liquid crystal display
JP2013525832A (en) Common electrode driving method and circuit, and liquid crystal display
JP2008287108A (en) Liquid crystal display device and terminal device
US9188824B2 (en) Display device
US9891456B2 (en) Liquid crystal display device and electronic apparatus
GB2505330A (en) Method of driving a liquid crystal display device
JP6332984B2 (en) Liquid crystal characteristic measuring apparatus, liquid crystal characteristic measuring method, and liquid crystal display panel
JP2014149322A (en) Liquid crystal display panel and electronic apparatus
WO2016080255A1 (en) Display device
JP2014178629A (en) Liquid crystal display panel and electronic equipment
JP2007093845A (en) Electro-optic device and electronic equipment
CN104730787A (en) Electro-optical Apparatus And Electronic Equipment
JP5176220B2 (en) Liquid crystal display
KR20150036942A (en) Liquid crystal display device
JP2009075507A (en) Inspection method and manufacturing method for electro-optical device
KR20050053441A (en) Apparatus and method of testing liquid crystal display panel of horizontal electronic field applying type

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171026

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171031

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180403

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180424

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6332984

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees