JP2014169981A - 表面汚染測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】検出器を対象表面に向けるだけで表面汚染密度を測定する。
【解決手段】表面汚染測定装置１は、測定対象物９の表面の放射能汚染を検出する表面汚染検出ヘッド５と、測定対象物９の表面の放射能汚染を評価する汚染評価処理部２２とを備えている。表面汚染検出ヘッド５は、長手方向の一端にコリメータ５７ａ，５７ｂが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている中空の放射線の遮蔽体５５と、遮蔽体５５内部の長手方向の各位置に於いて放射線を検出するγ線検出器５１ａ〜５１ｃと、測定対象物９との距離センサ５２とを備えている。汚染評価処理部２２は、遮蔽体５５内部の長手方向の各位置に於ける各線量率、これら線量率を検出した長手方向の各位置と測定対象物９との距離から、測定対象物９の表面の放射能汚染を評価する。
【選択図】図１

Description

本発明は、原子力プラントなどの高汚染区域で汚染量を測定する表面汚染測定装置に関する。

人間が近づけないほど高い放射能によって汚染された区域に於いて、測定対象物の表面汚染を迅速かつ高精度に測定することが喫緊の課題となっている。従来の放射線管理区域内で、放射能による表面汚染密度を測定する場合には、スミヤ法、ダイレクト法、サンプル法などが行われていた（非特許文献１参照）。
スミヤ法とは、対象物の表面の所定面積（通常１００平方センチメートル）を、濾紙や化学雑巾などで拭き取り、この濾紙や化学雑巾などに付着した放射性物質の量を測定して間接的に非固定性の表面汚染を評価（測定）する方法である。ここで、非固定性の表面汚染とは、容易に表面から剥離して空気汚染などに移行可能なものである。
ダイレクト法とは、対象物表面を直接に汚染検査用サーベイメータで走査しながら測定する方法である。ダイレクト法によれば、非固定性汚染量と固定性汚染量との和、すなわち全汚染量を測定することができる。
サンプル法とは、対象物をサンプルとして採取して、このサンプルの放射性物質の量を測定する方法である。非固定性の表面汚染と固定性の表面汚染の両方を評価することができる。

財団法人原子力安全技術センター、「放射線施設のしゃへい計算実務マニュアル（２００７年度版）」、双文社、２００７年、１−６〜１−９頁

しかし、人間が近づけないような高汚染区域に於いて、ロボットを用いて測定対象物の表面汚染を測定するには、前記したスミヤ法、サンプル法、ダイレクト法は、以下のような問題を有しており、実用的ではない。
スミヤ法は、濾紙などで表面を拭き取って別室で計測するという２段階処理であり、時間が掛かる欠点がある。更に人間が近づけないような高汚染区域では、ロボットがアームによって測定対象物の表面を濾紙で拭き取ることが必要となり、複雑な構造を有する高機能なロボットが必要である。更にスミヤ法は、対象表面内に浸みこんだ汚染までは測定できない欠点を有している。
ダイレクト法は、一般的にバックグラウンド放射線の低い場所で用いられるものであり、高汚染区域では様々な影響因子からの影響を受けるため、対象物表面の線量率だけを評価することが困難という欠点がある。また、仮にバックグラウンド放射線の影響が評価できたとしても、対象物の表面汚染と、対象物の表面より奥からの放射線とを区別することはできない。
サンプル法は、スミヤ法と同様にサンプルを取得して別室で計測するという二段階処理であり、時間が掛かるという欠点がある。人間が近づけないような高汚染区域では、ロボットがアームによって測定対象物を削り取ることが必要となり、スミヤ法に適用するロボットよりも更に複雑な構造を有する高機能なロボットが必要である。
そこで、本発明は、検出器を対象表面に向けると表面汚染を測定することができる表面汚染測定装置を提供することを課題とする。

前記した課題を解決するため、請求項１に記載の発明では、測定対象物の表面の放射能汚染を検出する表面汚染検出ヘッドと、前記測定対象物の表面の放射能汚染を評価する汚染評価処理部と、を備え、前記表面汚染検出ヘッドは、長手方向の一端にコリメータが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている中空の放射線の遮蔽体と、前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於いて放射線を検出する放射線検出器と、前記測定対象物との距離測定手段とを備え、前記汚染評価処理部は、前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於ける各線量率、前記線量率を検出した長手方向の各位置と前記測定対象物との距離から、前記測定対象物の表面の放射能汚染を評価する、ことを特徴とする表面汚染測定装置とした。
その他の手段については、発明を実施するための形態のなかで説明する。

本発明によれば、検出器を対象表面に向けると表面汚染密度が測定できる表面汚染測定装置を提供することができる。

第１の実施形態に於ける表面汚染測定装置を示す概略の構成図である。 第１の実施形態に於ける表面汚染密度評価の概要を示す図である。 第１の実施形態に於ける線量測定処理を示すフローチャートである。 第１の実施形態に於ける汚染評価処理を示すフローチャートである。 第１の実施形態に於ける表面汚染測定装置の出力結果を示す図である。 第２の実施形態に於ける表面汚染測定装置を示す概略の構成図である。 第２の実施形態に於ける線量測定処理を示すフローチャートである。 第３の実施形態に於ける線量測定器と線量測定回路を示す概略の構成図である。

以降、本発明を実施するための形態を、各図を参照して詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に於ける表面汚染測定装置１を示す概略の構成図である。
表面汚染測定装置１は、表面汚染評価装置２と、表面汚染検出ヘッド５と、線量率を測定する線量測定回路４とを備えている。表面汚染評価装置２には、プリンタ３が接続されている。
表面汚染検出ヘッド５は、図示しないロボットのロボットアーム６に把持されて、測定対象物９の表面９１の汚染と奥部９２の汚染とを検出するものである。表面汚染検出ヘッド５は、γ線を検出して電気信号に変換する３個のγ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃ（放射線検出器）と、距離を測定する距離センサ５２（距離測定手段）と、γ線を遮蔽する単一の中空の遮蔽体５５と、物理的な衝撃を和らげる緩衝材５６と、γ線の入射方向を規制するコリメータ５７ａ，５７ｂとを備えている。表面汚染検出ヘッド５は、遮蔽体５５の内部の長手方向の少なくとも３箇所に於ける線量率を測定するものである。距離センサ５２は、レーザ光を照射して測定対象物９との距離を測定するレーザ距離センサである。以下、各γ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃを特に区別しないときには、単にγ線検出器５１と記載する。

中空の遮蔽体５５は、長手方向の一端の開口部にコリメータ５７ｂが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている。この長手方向の一端の開口部には更に、距離センサ５２と、緩衝材５６とが設けられている。緩衝材５６には更に、コリメータ５７ａが設けられている。距離センサ５２（距離測定手段）は、線量測定部４１に接続されており、測定対象物９の表面からの距離を電気信号に変換するものである。緩衝材５６は、この表面汚染検出ヘッド５の開口部への物理的衝撃を和らげるものである。

中空の遮蔽体５５は更に、内部に３個のγ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃが設けられており、線量測定部４１に接続されている。γ線検出器５１ａは、コリメータ５７ｂの開口部の近傍、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄａに設置されている。γ線検出器５１ｂは、中空の遮蔽体５５の長手方向の中央部、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄｂに設置されている。γ線検出器５１ｃは、コリメータ５７ａの開口部の反対側、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄｃに設置されている。コリメータ５７ａ，５７ｂは、表面９１に於ける放射線および奥部９２に於ける放射線を通過させて、中空の遮蔽体５５の内部に導くものである。

線量測定回路４は、表面汚染検出ヘッド５によって、線量率を測定するものである。線量測定回路４は、線量測定部４１と、測定データ記録部４２と、電波によって情報を送受信する無線通信部４３とを備えている。
線量測定部４１は、γ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃと、距離センサ５２とが接続されている。線量測定部４１は、測定対象物９からコリメータ５７ａまでの距離ｒ０を測定し、測定対象物９からγ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃまでの各距離ｒａ，ｒｂ，ｒｃを算出する。線量測定部４１は更に、γ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃによって各距離に於ける線量率を測定する。
測定データ記録部４２は、例えばフラッシュメモリなどであり、表面汚染検出ヘッド５によって測定した各種データを格納（記録）するものである。格納した各種データは、事後的に解析することが可能である。
無線通信部４３は、線量測定部４１が測定した距離と線量率の組合せの情報と、ロボットから取得した移動量の情報とを、電波によって表面汚染評価装置２に送信するものである。

表面汚染評価装置２は、電波によって前記した無線通信部４３が送信した情報を送受信する無線通信部２１と、測定対象物９の汚染を評価する汚染評価処理部２２と、情報を記憶（格納）する記憶部２３と、文字や図形や画像などを表示する表示部２４（表示手段）とを備えている。表面汚染評価装置２は、表面汚染検出ヘッド５によって測定した各種データに基づいて、表面汚染などを評価するものである。
汚染評価処理部２２は、測定対象物９の表面からγ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃまでの距離と、γ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃが検出した線量率から、測定対象物９の表面汚染などを演算するものである。
記憶部２３は、例えばフラッシュメモリやＨＤＤ（Hard Disk Drive）などであり、測定対象物９の表面汚染などの評価結果などを記憶するものである。表示部２４は、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬ（Organic Electro-Luminescence）ディスプレイなどであり、測定対象物９の表面汚染などの評価結果などを表示する表示手段である。
表面汚染評価装置２に接続されているプリンタ３は、測定対象物９の表面汚染などの評価結果などを紙媒体に印刷するものである。

図示しないロボットは、ロボットアーム６を備え、このロボットアーム６によって表面汚染検出ヘッド５を把持して測定対象物９の表面に翳す。この状態で、線量測定回路４は、γ線検出器５１ａ，５１ｂ，５１ｃによって、γ線の線量率を計測する。表面汚染評価装置２は、得られた３つのγ線線量率データに、３つの検出器の対象表面からの距離情報を加味することにより、表面汚染密度を評価（測定）することができる。
更に、図示しないロボットは、自らが移動することにより表面汚染検出ヘッド５を、対象表面に沿って動かして、連続的に表面汚染を測定することができる。線量測定回路４は、図示しないロボットから、表面汚染検出ヘッド５の短手方向の移動量を取得することができる。

図２は、第１の実施形態に於ける表面汚染密度評価の概要を示すグラフである。
図２の縦軸は、線量率Ｅ（mSv/h）を対数で示している。図２の横軸は、測定表面からの距離ｒ（ｍ）を示している。
一点鎖線は、表面汚染による線量率Ｅ１と距離ｒとの関係を示している。この線量率Ｅ１と距離ｒとの関係は、以下の（１）式で示される。ここで、Ｓ１は、表面汚染密度であり、Ｃ１は定数である。

二点鎖線は、表面より奥の汚染による線量率Ｅ２と距離ｒとの関係を示している。線量率Ｅ２と距離ｒとの関係は、以下の（２）式で示される。ここで、Ｓ２は、表面よりも距離Ｒだけ奥である奥部９２の汚染密度であり、Ｃ２は定数である。

破線は、バックグラウンド（ＢＧ）の線量率Ｅ３と距離ｒとの関係を示している。バックグラウンド（ＢＧ）の線量率Ｅ３は、距離ｒに関わらず所定の値である。以下、図面に於いて、バックグラウンドの線量のことを、単に「ＢＧ」と記載している場合がある。
実線は、上記の合計値Ｅと距離ｒとの関係を示している。このとき、合計値Ｅは、以下の（３）式によって示される。

よって、測定対象から各γ線測定器までの距離を求める、各γ線測定器によって各距離に於ける線量率を測定することにより、表面汚染密度Ｓ１と、表面より奥の汚染による影響と、バックグラウンドの線量率Ｅ３とを求めることができる。

図３は、第１の実施形態に於ける線量測定処理を示すフローチャートである。
線量測定回路４は、電源オンによって、線量測定処理を開始する。
ステップＳ１０に於いて、線量測定部４１は、所定時間が経過したか否かを判断する。線量測定部４１は、当該判断条件が成立しなかったならば（Ｎｏ）、ステップＳ１０の処理を繰り返し、当該判断条件が成立したならば（Ｙｅｓ）、ステップＳ１１の処理を行う。
ステップＳ１１に於いて、線量測定部４１は、距離センサ５２により、測定対象物９からの距離ｒ０を測定する。
ステップＳ１２に於いて、線量測定部４１は、各γ線検出器５１ａ〜５１ｃによって、各位置に於ける各線量Ｅａ〜Ｅｃを測定する。
ステップＳ１３に於いて、線量測定部４１は、測定対象物９から各γ線検出器５１ａ〜５１ｃまでの距離ｒａ〜ｒｃを算出する。線量測定部４１は、距離ｒ０を距離ｄａ〜ｄｃに加算することによって、距離ｒａ〜ｒｃを算出する。
ステップＳ１４に於いて、線量測定部４１は、移動量データを、図示しないロボットから取得する。
ステップＳ１５に於いて、線量測定部４１は、各測定データを測定データ記録部４２に格納する。
ステップＳ１６に於いて、無線通信部４３は、各測定データを無線で送信し、ステップＳ１０の処理に戻る。以降、線量測定回路４は、所定時間ごとにステップＳ１１〜Ｓ１６の処理を繰り返して測定対象物９の汚染を測定する。

図４は、第１の実施形態に於ける汚染評価処理を示すフローチャートである。
表面汚染評価装置２は、電源オンによって、汚染評価処理を開始する。
ステップＳ２０に於いて、汚染評価処理部２２は、データ受信を待つ。汚染評価処理部２２は、線量計のデータを受信したならば、ステップＳ２１の処理を行い、それ以外のデータを受信したならば、ステップＳ２０の処理を繰り返す。
ステップＳ２１に於いて、汚染評価処理部２２は、開口部のγ線検出器５１ａの線量率から中央部のγ線検出器５１ｂの線量率を減算し、第１の勾配を計算する。
ステップＳ２２に於いて、汚染評価処理部２２は、中央部のγ線検出器５１ｂの線量率から最奥部のγ線検出器５１ｃの線量率を減算し、第２の勾配を計算する。
ステップＳ２３に於いて、汚染評価処理部２２は、表面の汚染密度と、表面より奥の汚染と、バックグラウンドの線量率とを算出する。
ステップＳ２４に於いて、汚染評価処理部２２は、線量率の勾配が正常であるか否かを判断する。ここで、線量率の勾配が正常である場合とは、第１の勾配よりも第２の勾配の方が緩やかである（小さい）ことをいう。汚染評価処理部２２は、当該判断条件が成立したならば（Ｙｅｓ）、ステップＳ２５の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならば（Ｎｏ）、ステップＳ２８の処理を行う。
ステップＳ２５に於いて、汚染評価処理部２２は、算出結果である表面の汚染密度と、表面より奥の汚染と、バックグラウンド（ＢＧ）の線量率と、ロボットの移動量データとを記憶部２３に格納する。
ステップＳ２６に於いて、汚染評価処理部２２は、新たな移動量に係る汚染密度グラフをプロットし、表示部２４に表示する。
ステップＳ２７に於いて、汚染評価処理部２２は、表面から所定距離に規格化した線量率のグラフをプロットして表示部２４に表示し、ステップＳ２０の処理に戻る。
ステップＳ２８に於いて、汚染評価処理部２２は、算出結果と移動量と、異常が発生した旨を記憶部２３に格納する。
ステップＳ２９に於いて、汚染評価処理部２２は、異常発生を表示部２４に表示し、ステップＳ２０の処理に戻る。

図５（ａ），（ｂ）は、第１の実施形態に於ける表面汚染測定装置１の出力結果を示す図である。
図５（ａ）は、汚染密度（Bq/cm²）と移動量（ｍ）との関係を示すグラフである。縦軸は、汚染密度（Bq/cm²）を示している。横軸は、移動量（ｍ）を示している。実線は、測定対象物９の汚染密度を示している。
図５（ｂ）は、線量率（mSv/h）と移動量（ｍ）との関係を示すグラフである。縦軸は、線量率（mSv/h）を示している。横軸は、移動量（ｍ）を示している。
実線は、表面汚染の線量率を示している。破線は、バックグラウンド（ＢＧ）の線量率を示している。一点鎖線は、表面より奥の線量率を示している。表面汚染測定装置１は、測定した汚染密度を、汚染の要因ごとに分けて示すことができる。

（第１の実施形態の効果）
以上説明した第１の実施形態では、次の（Ａ）〜（Ｆ）のような効果がある。

（Ａ） 表面汚染測定装置１は、測定対象物９の表面に表面汚染検出ヘッド５を翳すだけで表面の放射能汚染を測定可能である。これにより、人間が近づけないほど高い放射能によって汚染された区域であっても、表面汚染検出ヘッド５を把持した自走ロボットにより、各部の表面汚染を測定（評価）することができる。

（Ｂ） 表面汚染測定装置１は更に、測定対象物９の表面に表面汚染検出ヘッド５を翳すだけで、測定対象物９の表面からの線量と、バックグラウンドの影響による線量とを区別して測定（評価）することができる。

（Ｃ） 表面汚染測定装置１は更に、測定対象物９の表面よりも奥からの汚染の影響を算出することができる。これにより、表面汚染測定装置１は、隣室からの影響に関する情報や、高線量タンクの内壁に高汚染物質が付着しているか否かの情報を取得することができ、よって、施設を安全に解体できるか否かを判断することができる。

（Ｄ） 表面汚染検出ヘッド５は、複数のγ線検出器５１ａ〜５１ｃによって、中空の放射線の遮蔽体５５の内部の長手方向の各位置に於ける線量率を検出している。表面汚染検出ヘッド５は、定期的なメンテナンスを要する可動部分を備えていないので、故障率を低くすることができる。

（Ｅ） 表面汚染測定装置１は、線量率の勾配が異常ならば、その旨を表示部２４に表示している。これにより、γ線検出器５１が故障した場合や、極めて高い線量によってγ線検出器５１が飽和した場合などを検知することができ、測定結果の信頼性が向上する。

（Ｆ） 汚染評価処理部２２は、移動量と測定対象物９の表面の放射能汚染との関係、移動量と測定対象物９の表面より奥の放射能汚染との関係、および、移動量とバックグラウンドの線量率との関係のうち１つ以上の関係を表示している。これにより、単なる線量率にとどまらず、汚染の詳細な状況を容易に把握することができる。

（第２の実施形態）
図６は、第２の実施形態に於ける表面汚染測定装置１ａを示す概略の構成図である。図１に示す第１の実施形態の表面汚染測定装置１と同一の要素には同一の符号を付与している。
表面汚染測定装置１ａは、第１の実施形態とは異なる線量測定装置４ａと、表面汚染検出ヘッド５ａとを備えている。線量測定装置４ａは、第１の実施形態の線量測定装置４に加えて更に、検出器駆動部４４を備えている。検出器駆動部４４は、アクチュエータ５８によりγ線検出器５１を任意の位置に駆動制御するものである。
表面汚染検出ヘッド５ａは、第１の実施形態とは異なり、単一のγ線検出器５１と、アクチュエータ５８（駆動手段）とを備えている。表面汚染検出ヘッド５ａは、遮蔽体５５の内部の長手方向の少なくとも３箇所に於ける線量率を測定するものである。アクチュエータ５８は、γ線検出器５１を長手方向の任意に位置に駆動する駆動手段である。
距離ｄａは、コリメータ５７ａから開口部までの距離を示している。距離ｄｂは、コリメータ５７ａから中央部までの距離を示している。距離ｄｃは、コリメータ５７ａから最奥部までの距離を示している。

図７は、第２の実施形態に於ける線量測定処理を示すフローチャートである。
線量測定回路４ａは、電源オンによって、線量測定処理を開始する。
ステップＳ４０に於いて、検出器駆動部４４は、γ線検出器５１を開口部に移動させる。開口部とコリメータ５７ａとの間は、距離ｄａである。
ステップＳ４１に於いて、線量測定部４１は、所定時間が経過したか否かを判断する。線量測定部４１は、当該判断条件が成立しなかったならば（Ｎｏ）、ステップＳ４１の処理を繰り返し、当該判断条件が成立したならば（Ｙｅｓ）、ステップＳ４２の処理を行う。
ステップＳ４２に於いて、線量測定部４１は、距離センサ５２により、測定対象物９からの距離ｒ０を測定する。
ステップＳ４３に於いて、線量測定部４１は、γ線検出器５１によって開口部の線量率Ｅａを測定する。
ステップＳ４４に於いて、検出器駆動部４４は、γ線検出器５１を中央部に移動させる。中央部とコリメータ５７ａとの間は、距離ｄｂである。
ステップＳ４５に於いて、線量測定部４１は、γ線検出器５１によって中央部の線量率Ｅｂを測定する。
ステップＳ４６に於いて、検出器駆動部４４は、γ線検出器５１を最奥部に移動させる。最奥部とコリメータ５７ａとの間は、距離ｄｃである。

ステップＳ４７に於いて、線量測定部４１は、γ線検出器５１によって最奥部の線量率Ｅｃを測定する。
ステップＳ４８に於いて、線量測定部４１は、開口部、中央部、最奥部から測定対象物９までの各距離ｒａ，ｒｂ，ｒｃを算出する。
ステップＳ４９に於いて、線量測定部４１は、移動量データを図示しないロボットから取得する。
ステップＳ５０に於いて、線量測定部４１は、各測定データを測定データ記録部４２に格納する。
ステップＳ５１に於いて、線量測定部４１は、無線通信部４３によって、各測定データを送信し、ステップＳ４０の処理に戻る。以降、線量測定回路４は、所定時間ごとにステップＳ４２〜Ｓ５１の処理を繰り返して測定対象物９の汚染を測定する。

（第２の実施形態の効果）
以上説明した第２の実施形態では、次の（Ｇ），（Ｈ）のような効果がある。

（Ｇ） 遮蔽体５５の中には、単一のγ線検出器５１のみが配置されており、他のγ線検出器５１による到達線量の減少が無い。これにより、表面汚染測定装置１ａは、各位置と線量との関係を更に正確に求めることができる。

（Ｈ） 表面汚染検出ヘッド５ａは、アクチュエータ５８によってγ線検出器５１を駆動しており、任意の位置に於ける線量を測定できる。表面汚染測定装置１ａは、固定した数点に限定されず、多くの測定点で線量を測定できるので、更に正確に各汚染を測定（評価）することができる。

（第３の実施形態）
図８は、第３の実施形態に於ける表面汚染検出ヘッド５ｂを示す概略の構成図である。図１に示す第１の実施形態の表面汚染検出ヘッド５と同一の要素には同一の符号を付与している。
表面汚染検出ヘッド５ｂは、γ線を遮蔽する中空の遮蔽体５５−１〜５５−３を備えている。各遮蔽体５５−１〜５５−３は、それぞれγ線検出器５１−１〜５１−３を中空部の長手方向の各位置に備え、物理的な衝撃を和らげる緩衝材５６と、γ線の入射方向を規制するコリメータ５７ａ，５７ｂとを備えている。遮蔽体５５−２は更に、長手方向の一端の開口部に、距離を測定する距離センサ５２を備えている。

各遮蔽体５５−１〜５５−３は、長手方向の一端の開口部にコリメータ５７ａが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている。この長手方向の一端の開口部には更に、緩衝材５６が設けられている。距離センサ５２（距離測定手段）は、線量測定部４１に接続されており、測定対象物９の表面からの距離を電気信号に変換するものである。緩衝材５６は、この表面汚染検出ヘッド５ｂの開口部への物理的衝撃を和らげるものである。
遮蔽体５５−１は更に、内部に１個のγ線検出器５１−１が設けられており、線量測定部４１に接続されている。γ線検出器５１−１は、コリメータ５７ｂの開口部の近傍、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄａに設置されている。
遮蔽体５５−２は更に、内部に１個のγ線検出器５１−２が設けられており、線量測定部４１に接続されている。γ線検出器５１−２は、中空の遮蔽体５５の長手方向の中央部、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄｂに設置されている。
遮蔽体５５−３は更に、内部に１個のγ線検出器５１−３が設けられており、線量測定部４１に接続されている。γ線検出器５１−３は、コリメータ５７ａの開口部の反対側、かつ、コリメータ５７ａの開口部から距離ｄｃに設置されている。
第３の実施形態の表面汚染検出ヘッド５ｂによる線量測定処理は、図３に示す第１の実施形態の線量測定処理と同様である。

（第３の実施形態の効果）
以上説明した第３の実施形態では、次の（Ｉ），（Ｊ）のような効果がある。

（Ｉ） 遮蔽体５５−１〜５５−３の中には、それぞれ単一のγ線検出器５１のみが配置されている。これにより、他のγ線検出器５１による到達線量の減少が無いので、各位置と線量との関係を更に正確に求めることができる。

（Ｊ） 表面汚染検出ヘッド５ｂは、アクチュエータ５８などの可動部を備えていないので、可動部分のメンテナンスが不要となり、かつ、故障率を低くすることができる。

（変形例）
本発明は、上記実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、変更実施が可能であり、例えば、次の（ａ）〜（ｄ）のようなものがある。

（ａ） 第１の実施形態に於いて、γ線検出器５１の数は３個に限られず、２個以上の任意の数でよい。同様に、第２の実施形態に於いて、γ線検出器５１の測定点は３点に限られず、２点以上の任意の数でもよい。これにより、例えばバックグラウンドの影響が無視し得るほど小さい場合などにはγ線検出器５１の数を２個に省略することができる。更に、４点以上の多くの測定点で測定することにより、多くの汚染源（放射線源）の影響を更に正確に求めることができる。

（ｂ） 第１〜第３の実施形態に於いて、線量測定回路４は、無線でデータを送信している。しかし、これに限られず、線量測定回路４は、測定データ記録部４２に記録して、事後的に測定したデータを処理して、放射能汚染の要因を算出してもよい。

（ｃ） 第１〜第３の実施形態の表面汚染検出ヘッド５，５ａ，５ｂに、移動量測定センサを設け、短手方向の移動量と表面汚染との関係を直接に測定するように構成してもよい。

（ｄ） 第１の実施形態の距離センサ５２は、レーザ光を照射して測定対象物９との距離を測定するレーザ距離センサである。しかし、これに限られず、表面汚染検出ヘッド５に、カメラを設け、撮影した画像を処理することによって、測定対象物９との距離や、表面汚染検出ヘッド５の短手方向の移動量などを測定するように構成してもよい。

１，１ａ 表面汚染測定装置
２ 表面汚染評価装置
２１ 無線通信部
２２ 汚染評価処理部
２３ 記憶部
２４ 表示部 （表示手段）
３ プリンタ
４ 線量測定回路
４１ 線量測定部
４２ 測定データ記録部
４３ 無線通信部
４４ 検出器駆動部
５，５ａ，５ｂ 表面汚染検出ヘッド
５１，５１ａ〜５１ｃ γ線検出器 （放射線検出器）
５２ 距離センサ （距離測定手段）
５５ 遮蔽体
５６ 緩衝材
５７ａ，５７ｂ コリメータ
５８ アクチュエータ （駆動手段）
６ ロボットアーム
９ 測定対象物

Claims (8)

1. 測定対象物の表面の放射能汚染を検出する表面汚染検出ヘッドと、
   前記測定対象物の表面の放射能汚染を評価する汚染評価処理部と、
   を備え、
   前記表面汚染検出ヘッドは、
   長手方向の一端にコリメータが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている中空の放射線の遮蔽体と、
   前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於いて放射線を検出する放射線検出器と、
   前記測定対象物との距離測定手段とを備え、
   前記汚染評価処理部は、
   前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於ける各線量率、前記線量率を検出した長手方向の各位置と前記測定対象物との距離から、前記測定対象物の表面の放射能汚染を測定する、
   ことを特徴とする表面汚染測定装置。
2. 前記遮蔽体は単一であり、
   前記放射線検出器は複数であり、前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に設置される、
   ことを特徴とする請求項１に記載の表面汚染測定装置。
3. 前記表面汚染検出ヘッドは更に、単一の前記放射線検出器を、前記遮蔽体の長手方向の各位置に駆動する駆動手段を備える、
   ことを特徴とする請求項１に記載の表面汚染測定装置。
4. 前記遮蔽体は複数であり、かつ、各前記遮蔽体の長手方向の一端は同一方向に向いており、
   前記放射線検出器は複数であり、かつ、各前記遮蔽体内部の長手方向の各位置にそれぞれ設置される、
   ことを特徴とする請求項１に記載の表面汚染測定装置。
5. 前記表面汚染検出ヘッドは、前記遮蔽体内部の長手方向の少なくとも３箇所に於ける各前記線量率を測定する、
   ことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の表面汚染測定装置。
6. 前記汚染評価処理部は、各前記線量率および前記線量率を検出した長手方向の各位置を評価し、異常を検知したならば、所定の警告表示を表示手段に出力する、
   ことを特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の表面汚染測定装置。
7. 前記汚染評価処理部は、いずれかの短手方向の移動量と、前記測定対象物の表面の放射能汚染との関係を前記表示手段に表示する、
   ことを特徴とする請求項６に記載の表面汚染測定装置。
8. 前記汚染評価処理部は、
   前記移動量と前記測定対象物の表面の放射能汚染との関係、前記移動量と前記測定対象物の表面より奥の放射能汚染との関係、および、前記移動量とバックグラウンドの線量率との関係のうち１つ以上の関係を表示する、
   ことを特徴とする請求項７に記載の表面汚染測定装置。

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