JP2014149175A - 光学測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】計測器22に設けられた計測用照明61の光をハーフミラー63を介して同軸落射照明テレセントリックレンズ71に送り、同軸落射照明テレセントリックレンズ71で平行光72として対象物2へ照射する。平行光72の一部は、対象物2で遮られミラー12に到達する。これにより、ミラー12には対象物2の影が映る。ミラー12より反射した反射光を、同軸落射照明テレセントリックレンズ71、ハーフミラー63、及び結像レンズ65を介して、カメラ42で撮像し、その撮像画像を制御部81で解析する。対象物2の影の像101から対象物2の各所の外径寸法等を計測することで検査を行うことができる。
【選択図】図2
Description
2 対象物
12 ミラー
31 下側
41 落射照明テレセントリック光学系
42 カメラ
51 落射照明
52 テレセントリック光学系
61 計測用照明
63 ハーフミラー
64 上側
71 同軸落射照明テレセントリックレンズ
72 平行光
81 制御部
91 外観検査用照明
121 カラーマップ
Claims (4)
- 対象物に光を当てて測定を行う光学測定装置において、
照明からの光をハーフミラーを介して一方側へ照射するとともに該一方側の像を前記ハーフミラーを介して他方側へ投影する落射照明、及び該落射照明から前記一方側へ向けて照射される光を平行光として前記対象物に照射するテレセントリック光学系を備えた落射照明テレセントリック光学系と、
前記対象物より前記一方側に設けられ、前記落射照明テレセントリック光学系からの光を当該落射照明テレセントリック光学系側へ反射する反射手段と、
該反射手段から前記落射照明テレセントリック光学系を介して前記他方側へ投影された像を撮像する撮像手段と、
を備えたことを特徴とする光学測定装置。 - 前記対象物に外観検査用の照明を照射する外観検査用照明をさらに備えたことを特徴とする請求項1記載の光学測定装置。
- 基準となるマスターにおける形状の計測データと検査する対象物とを比較して当該検査対象物の外観形状の状態をカラーマップとして表示するカラーマップ表示手段をさらに備えたことを特徴とする請求項2記載の光学測定装置。
- 前記撮像手段で取得した像を用いて前記対象物の終端部の検出を行うことを特徴とした請求項1、2又は3記載の光学測定装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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2013
- 2013-01-31 JP JP2013016862A patent/JP2014149175A/ja active Pending
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