JP2014132662A - 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 - Google Patents
記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014132662A JP2014132662A JP2014010031A JP2014010031A JP2014132662A JP 2014132662 A JP2014132662 A JP 2014132662A JP 2014010031 A JP2014010031 A JP 2014010031A JP 2014010031 A JP2014010031 A JP 2014010031A JP 2014132662 A JP2014132662 A JP 2014132662A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- passive
- modules
- daisy chain
- module
- ports
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/10—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
- H01L25/105—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0655—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1017—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
- H01L2225/1023—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being an insulating substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1047—Details of electrical connections between containers
- H01L2225/1058—Bump or bump-like electrical connections, e.g. balls, pillars, posts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L24/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1532—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
- H01L2924/1533—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
- H01L2924/15331—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/162—Disposition
- H01L2924/1627—Disposition stacked type assemblies, e.g. stacked multi-cavities
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】積層SDRAMモジュールを有するコントローラモジュールがコントローラパッケージ1103の役割を果たす。積層フラッシュモジュールを有するメモリーモジュールがメモリーパッケージ1104の役割を果たす。互いに積層された4個のメモリーパッケージがメモリー群1105を形成する。コントローラパッケージが単一または複数のメモリー群と積層されているとき、垂直拡張が起き、メモリー群に対してPCB上の異なる場所に位置しているとき、水平拡張が起こる。また複数のメモリー群がPCB上の異なる場所に位置することもできる。
【選択図】図11
Description
本発明はコンピュータシステムに関する。特に、本発明は、フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブ、および小型化およびメモリー拡張性を支持するための複数チップモジュール(multiple chip module:MCM)およびパッケージ積層技術の使用方法に関する。
フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブは一般に、そのインターフェースコントローラ、そのDMAコントローラ、およびそのプロセッサのための別個のパッケージと、そのフラッシュ素子、そのFPROM、およびそのRAMのための別個のパッケージとを使用する。この現行の方法では、前記記憶装置全体の小型化に限界がある。前記小型化を達成するためには、チップモジュールおよびパッケージを積層する必要がある。チップモジュールおよびパッケージのレベルでの積層により限られた面積における容量が最大化され、前記記憶装置全体の小型化が実現される。従って、チップモジュールおよびパッケージを戦略的に積層して垂直および水平方向の両方における小型化およびメモリー拡張性を支持する技術を提案する。
ュール用ボール1004と位置合わせされなければならない。前記外側パッド1005はその他のメモリーモジュール用インターフェース用である。本発明のこの実施例に使用する目的の前記フラッシュ用インターフェースコントローラは、最大4個のフラッシュ用バスを支持し、各フラッシュ用バスは最大8個のフラッシュ装置を支持する。最下層のフラッシュモジュール1006は前記4個のフラッシュ用バスのフラッシュ00装置を含み、最上層モジュール1007は前記4個のフラッシュ用バスのフラッシュ07装置を含む。
1202−フラッシュダイ
1203−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1204−フラッシュモジュール用半田ボール
1205−メモリーモジュール
1206−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1207−フラッシュモジュール用のメモリーモジュール用パッドインターフェース
1208−その他のメモリーモジュール用のメモリーモジュール用パッドインターフェース
1209−メモリーモジュール用半田ボール
1210−SDRAMモジュール
1211−SDRAMダイ
1212−その他のSDRAMモジュールとのSDRAMモジュール用パッドインターフェース
1213−SDRAMモジュール用半田ボール
1214−コントローラモジュール
1215−上側のFPROMダイおよび底側の主コントローラプロセッサのダイ
1216−SDRAMモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1217−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1218−コントローラモジュール用半田ボール
1402−フラッシュダイ
1403−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1404−フラッシュモジュール用半田ボール
1405−コントローラモジュール
1406−底部のFPROMダイおよび主コントローラプロセッサのダイ
1407−SDRAMダイ
1408−フラッシュモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1409−コントローラモジュール用半田ボール
1602−フラッシュダイ
1603−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1604−フラッシュモジュール用半田ボール
1605−メモリーモジュール
1606−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1607−フラッシュモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1608−その他のメモリーモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1609−メモリーモジュール用半田ボール
1610−コントローラモジュール
1611−上側のSDRAMダイおよび底側のFPROMおよび主コントローラプロセッサ
1612−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1613−コントローラモジュール用半田ボール
1802−フラッシュダイ
1803−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1804−フラッシュモジュール用半田ボール
1805−メモリーモジュール
1806−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1807−フラッシュモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1808−その他のメモリーモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1809−メモリーモジュール用半田ボール
1810−コントローラモジュール
1811−上側のSDRAMダイおよび底側のFPROMおよび主コントローラプロセッサ
1812−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1813−コントローラモジュール用半田ボール
フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブは一般に、そのインターフェースコントローラ、そのDMAコントローラ、およびそのプロセッサのための別個のパッケージと、そのフラッシュ素子、そのFPROM、およびそのRAMのための別個のパッケージとを使用する。この現行の方法では、前記記憶装置全体の小型化に限界がある。前記小型化を達成するためには、チップモジュールおよびパッケージを積層する必要がある。チップモジュールおよびパッケージのレベルでの積層により限られた面積における容量が最大化され、前記記憶装置全体の小型化が実現される。従って、チップモジュールおよびパッケージを戦略的に積層して垂直および水平方向の両方における小型化およびメモリー拡張性を支持する技術を提案する。
この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、以下のものがある(国際出願日以降国際段階で引用された文献及び他国に国内移行した際に引用された文献を含む)。
全てのSDRAMモジュールは同一であり、図19に示してある実施例にあるように、X1パッシブボールがX1パッシブパッドに接続され、X2パッシブボールがX2パッシブパッドに接続され、というように続く接続を含む。図19のX1パッシブボールとX1パッシブボールの接続のような、SDRAMモジュールの1つの表面にあるパッシブボールと同一のSDRAMモジュールの別の表面にあるパッシブボールとの間の接続は「パッシブポート」と呼ばれ、これは例えば図19に示したパッシブポート1909です。前記技術は、前記積層モジュール上に1905のような梯子状の配線パスの使用を含む。この技術により、前記コントローラモジュールのアクティブパッドを前記積層内の所望の特定モジュールに配線することが可能となる。コントローラモジュール1910の参照番号1904と共に示された例えばアクティブパッド02のようなアクティブパッドに適用されるアクティブ信号は、例えばパッシブボールX2をパッシブパッドX2に接続し、パッシブボールX1をパッシブパッドX2にそれぞれ接続するパッシブポートのように、パッシブボールとパッシブパッドに接続する少なくとも1つのパッシブポートを介して配線され、これにより、当該アクティブ信号は最終的に図19に示すX0ボールSDRAMモジュール2のようなアクティブボールに到達する。図19に図示された実施例は、前記ボールおよびパッド用の反復パターンを有する。パッシブボールは、各モジュール内で前記反復パターンの1周期の距離に等しいズレ量を伴ってパッシブパッドに接続される。例えば、図19において、X1パッシブボールはX1パッシブパッドに、X2パッシブボールはX2パッシブパッドというように接続される。反復パターンを使用し、各モジュール内のパッシブパッドまで前記パッシブボールをずらす手法により、他のズレ量が本発明の別の実施形態において使用できる。例えば、別の実施形態は前記反復パターンの周期的距離の2または任意の倍数のズレ量を使用しいる。この別の実施形態は、決して本発明の範囲を限定することを意味するものではない。
図20bは、前記基底モジュール上に積層された4個のこのようなモジュールの断面図を示す。例としてメモリーおよびコントローラモジュールを使用する。2005のような、前記積層モジュール上のピン1のみが前記モジュールのアクティブ信号ピンである。残り(2番〜4番)のピン2006はそれらの下のボールに直接接続されているが、それ以外の接続は一切ない。こうすることで、底部から上部まで接続が続く。前記第1のモジュール2008のアクティブピン2007が前記基底モジュール上のピン1のパッド2009と位置合わせされ、前記第2のモジュールのアクティブピン2010が第2のモジュールが時計方向に90度回転している前記基底モジュールの要素番号2011として示されたピン2上に位置合わせされる。前記第1のモジュール上に要素番号2012として示されたピン2がその下のボールに直接接続されるので、前記第2のモジュール上のピン1、2013を前記基底モジュールのピン2、2011に接続することが可能となる。次の積層モジュールをさらに90度回転させることにより、そのアクティブピンが前記基底モジュールのピン3に位置合わせされ、第4の回転までこれが継続する。
ボールとパッドを結合する直列チェーン回路を含む信号ルートは本明細書では以下「直列チェーン接続」と言い、少なくとも2つの直列チェーン接続が直列で接続されているものは「直接チェーン配線」と言う(例えば、直列チェーン配線2146または2111など)。その上部モジュール2108は前記上部パッド2109への信号を終端し、接続2112によって前記信号をその下のOUTボール2113のようなボールに直接接続された別のパッド2110に内部的に配線する。前記モジュールは同一であるので、この配線された信号は、前記主基板の外部アクセス用のOUTパッド2114に達するまで例えば前記積層の直列チェーン配線2111のような別の直列チェーン配線を有する一組の直列チェーン接続を通る。直列チェーン接続は直列チェーン入力および直列チェーン出力を有する。直列チェーン入力は、直列チェーン出力が信号を提供するように配置されているとき当該信号を受け取るように配置される。例えば、図21aでは、INボール2104、2107、2132、および2135、およびOUTパッド2110、2143、および2140はそれぞれ直列チェーン入力である。OUTパッド2105、2129、2133、および2109、およびOUTボール2113、2144、2141、および2138はそれぞれ直列チェーン出力である。アクティブパッド2101に適用された信号2102のようなアクティブ信号は個々のボールおよびパッドに結合する一連の直列チェーン回路を通して配線できるので、それぞれのチェーン回路に結合するボールおよびパッドの少なくとも1つは、それぞれパッシブボールおよびパッシブパッドの形式である。実際、これらの直列チェーン回路はパッシブポートとして機能します。しかしながら、直列チェーン回路は、直列チェーン配線2146のような直列チェーン配線を終端することもでき、この直列チェーン配線を以下で更に説明するように例えば直列チェーン配線2111のような別の直列チェーン配線の直列チェーン入力として機能する別のパッドに分岐する又は配線することもできる。
図21bには、前記上部モジュールにおいて前記直列チェーンを終端し、その他のパッドに分岐する様子が示されている。全てのモジュールは、ロー(low)に落とされたときに前記入力を3値状態とする、選択可能なバッファー2115を含む制御回路を有する。前記INボール2116からの信号がその内部回路2117に入り、そのOUTパッド2118に接続された回路から出る。そのバッファーの2115制御線が内部的に弱く引き上げられる。その「StkLow」用ボールはGND2119に内部的に接続されているので、モジュールがその上に積層されているときは前記バッファー制御線をローに落とし、その真上にモジュールが積層されていないときはハイ(high)に引き上げる。前記バッファー制御線がハイに引き上げられると、前記入力信号がその他のパッドに分岐2120し、このようにして前記基底モジュールの半田ボールに折り返す接続配線またはトレースを生成する。上述したような方法で選択可能バッファー2115と共に配置されたモジュールの上にモジュールが積層されると、前記バッファー制御信号がローに落とされ、前記入力信号を3値状態にして前記分岐効果を阻止する。この技術により、前記信号が前記基底モジュールの外部ボールにアクセス可能となり、従って直列信号のための水平拡張が達成可能となる。次に、前記ボールは、接続2121によってその他の位置のその他のモジュール2122に配線される。前記「StkLow」上にパッケージが検出されないとき、前記主基板2123について同一の技術が使用され、前記バッファーは、前記入力が前記その他の位置の指定されたパッドに接続することを可能とする。前記3値状態のバッファー技術は、全ての位置において同様である。例としてJTAG TDI−TDO信号がある。その駆動回路2125は前記パッドにTDI信号を送り、その閉鎖TDO信号2124が前記駆動回路に折り返す。
Claims (26)
- 複数のモジュールを積層する方法であって、
1若しくはそれ以上のアクティブ信号を伝送する前記複数のモジュール上に1若しくはそれ以上のアクティブポートを提供する工程と、
前記1若しくはそれ以上のアクティブ信号を通過させる、前記複数のモジュール上の1若しくはそれ以上のパッシブポートを提供する工程と、
前記複数のモジュールを積層する工程と
を有する方法。 - 請求項1記載の方法において、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは梯子状のルーティングパスを形成するものである。
- 請求項1記載の方法において、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは積層する前に回転され、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは回転ルーティングパスを形成するものである。
- 請求項1記載の方法において、この方法は、さらに、
第1のデイジーチェーン接続を形成する、1若しくはそれ以上の対のデイジーチェーン入力ポートおよびデイジーチェーン出力ポートを提供する工程を有し、前記デイジーチェーン入力ポートおよび前記デイジーチェーン出力ポートの各対はデイジーチェーン回路により接続されるものである。 - 請求項4記載の方法において、この方法は、さらに、
終端モジュール内の前記第1のデイジーチェーン接続を延伸するルーティングパスを動作可能にする、1若しくはそれ以上の制御ポートを提供する工程を有するものである。 - 請求項5記載の方法において、前記終端モジュール内の前記ルーティングパスは第2のデイジーチェーン接続に接続されたものである。
- 請求項1記載の方法において、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは主基板である。
- 請求項7記載の方法において、1若しくはそれ以上の垂直積層モジュールは前記主基板に接続されたものである。
- 請求項2記載の方法において、
前記複数のモジュールの各々は第1の側部と第2の側部を有し、
前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上の前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで相互に所定の距離をおいて位置し、前記所定の距離は、前記反復パターンの周期的距離の倍数に等しく、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記梯子状ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
前記梯子状ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび1若しくはそれ以上のパッシブパッドを有するものである。 - 請求項3記載の方法において、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部を有し、
前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよびその前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記回転ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記回転ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。 - 請求項4記載の方法において、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有する。 - 請求項5記載の方法において、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有するものである。 - 請求項6記載の方法において、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有し、
1若しくはそれ以上のデイジーチェーン接続は、主基板に接続された1若しくはそれ以上の垂直積層モジュールを介して延伸するものである。 - 複数のモジュールを有する積層モジュールであって、各モジュールが、
1若しくはそれ以上のアクティブ信号を伝送する1若しくはそれ以上のアクティブポートと、
前記1若しくはそれ以上のアクティブ信号を通過させる1若しくはそれ以上のパッシブポートと
を有する積層モジュール。 - 請求項14記載の積層モジュールにおいて、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは梯子状のルーティングパスを形成するものである。
- 請求項14記載の積層モジュールにおいて、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは積層する前に回転され、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは回転ルーティングパスを形成するものである。
- 請求項1記載の積層モジュールにおいて、この積層モジュールは、さらに、
第1のデイジーチェーン接続を形成する1若しくはそれ以上の対のデイジーチェーン入力ポートおよびデイジーチェーン出力ポートを有し、前記デイジーチェーン入力ポートおよび前記デイジーチェーン出力ポートの各対は、デイジーチェーン回路により接続されるものである。 - 請求項17記載の積層モジュールにおいて、この積層モジュールは、さらに、
終端モジュール内で前記第1のデイジーチェーン接続を延伸するルーティングパスを動作可能にする1若しくはそれ以上の制御ポートを有するものである。 - 請求項18記載の積層モジュールにおいて、前記終端モジュール内の前記ルーティングパスは、第2のデイジーチェーン接続に接続されるものである。
- 請求項14記載の積層モジュールにおいて、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは、主基板である。
- 請求項20記載の方法において、1若しくはそれ以上の垂直に積層されたモジュールは、前記主基板に接続されるものである。
- 請求項15記載の積層モジュールにおいて、前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のボールに接続され、
前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで相互に所定の距離をおいて位置し、前記所定の距離は、前記反復パターンの周期的距離の倍数に等しく、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記梯子状ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
前記梯子状ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。 - 請求項16記載の積層モジュールにおいて、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記回転ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記回転ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。 - 請求項17記載の積層モジュールにおいて、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。 - 請求項18記載の積層モジュールにおいて、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有するものである。 - 請求項19記載の積層モジュールにおいて、
前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有し、
1若しくはそれ以上のデイジーチェーン接続は、主基板に接続された1若しくはそれ以上の垂直に積層されたモジュールを介して延伸するものである。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/322,442 | 2005-12-29 | ||
US11/322,442 US7826243B2 (en) | 2005-12-29 | 2005-12-29 | Multiple chip module and package stacking for storage devices |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008548872A Division JP5859181B2 (ja) | 2005-12-29 | 2006-12-29 | 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014132662A true JP2014132662A (ja) | 2014-07-17 |
JP5745730B2 JP5745730B2 (ja) | 2015-07-08 |
Family
ID=38218893
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008548872A Active JP5859181B2 (ja) | 2005-12-29 | 2006-12-29 | 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 |
JP2014010031A Expired - Fee Related JP5745730B2 (ja) | 2005-12-29 | 2014-01-23 | 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008548872A Active JP5859181B2 (ja) | 2005-12-29 | 2006-12-29 | 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7826243B2 (ja) |
JP (2) | JP5859181B2 (ja) |
KR (1) | KR101391068B1 (ja) |
CN (1) | CN101375391B (ja) |
TW (1) | TWI332701B (ja) |
WO (1) | WO2007076546A2 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7352602B2 (en) * | 2005-12-30 | 2008-04-01 | Micron Technology, Inc. | Configurable inputs and outputs for memory stacking system and method |
US7835158B2 (en) * | 2005-12-30 | 2010-11-16 | Micron Technology, Inc. | Connection verification technique |
US8399973B2 (en) * | 2007-12-20 | 2013-03-19 | Mosaid Technologies Incorporated | Data storage and stackable configurations |
JP5372382B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2013-12-18 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 半導体装置 |
US8151038B2 (en) * | 2008-05-27 | 2012-04-03 | Initio Corporation | SSD with a channel multiplier |
US8285919B2 (en) * | 2008-05-27 | 2012-10-09 | Initio Corporation | SSD with improved bad block management |
US8244961B2 (en) * | 2008-05-27 | 2012-08-14 | Initio Corporation | SSD with distributed processors |
US8665601B1 (en) | 2009-09-04 | 2014-03-04 | Bitmicro Networks, Inc. | Solid state drive with improved enclosure assembly |
US8560804B2 (en) * | 2009-09-14 | 2013-10-15 | Bitmicro Networks, Inc. | Reducing erase cycles in an electronic storage device that uses at least one erase-limited memory device |
CN102439718B (zh) * | 2010-06-25 | 2015-07-01 | 新普力科技有限公司 | 数据存储装置 |
US8437164B1 (en) * | 2011-07-27 | 2013-05-07 | Apple Inc. | Stacked memory device for a configurable bandwidth memory interface |
TWI473244B (zh) * | 2011-10-05 | 2015-02-11 | Chipsip Technology Co Ltd | 堆疊式半導體封裝結構 |
JP5684161B2 (ja) * | 2012-01-26 | 2015-03-11 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
KR101320934B1 (ko) * | 2012-01-31 | 2013-10-23 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 디바이스 및 그 제작 방법 |
US9043669B1 (en) | 2012-05-18 | 2015-05-26 | Bitmicro Networks, Inc. | Distributed ECC engine for storage media |
CN102800644B (zh) * | 2012-09-05 | 2014-12-24 | 无锡江南计算技术研究所 | Ddr信号布线封装基板以及ddr信号布线封装方法 |
US9298654B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-03-29 | International Business Machines Corporation | Local bypass in memory computing |
TWI539565B (zh) * | 2014-01-29 | 2016-06-21 | 森富科技股份有限公司 | 記憶體與記憶體球位焊墊之佈局方法 |
KR101530185B1 (ko) * | 2014-11-05 | 2015-06-19 | 김민규 | 기능모듈 착탈식 제어장치 |
US10552050B1 (en) * | 2017-04-07 | 2020-02-04 | Bitmicro Llc | Multi-dimensional computer storage system |
JP7242634B2 (ja) * | 2017-07-30 | 2023-03-20 | ニューロブレード リミテッド | メモリチップ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06132476A (ja) * | 1992-10-21 | 1994-05-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 集積回路装置 |
JPH11135711A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Nec Corp | スタックモジュール用インターポーザとスタックモジュール |
US6381141B2 (en) * | 1998-10-15 | 2002-04-30 | Micron Technology, Inc. | Integrated device and method for routing a signal through the device |
JP2003100947A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及び半導体装置モジュール |
JP2003264260A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Toshiba Corp | 半導体チップ搭載基板、半導体装置、半導体モジュール及び半導体装置実装基板 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2561192A (en) | 1992-08-28 | 1994-03-29 | Prabhakar Goel | Multichip ic design using tdm |
US6172874B1 (en) * | 1998-04-06 | 2001-01-09 | Silicon Graphics, Inc. | System for stacking of integrated circuit packages |
US5854507A (en) * | 1998-07-21 | 1998-12-29 | Hewlett-Packard Company | Multiple chip assembly |
US6392896B1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-05-21 | International Business Machines Corporation | Semiconductor package containing multiple memory units |
JP3779524B2 (ja) * | 2000-04-20 | 2006-05-31 | 株式会社東芝 | マルチチップ半導体装置及びメモリカード |
US6720643B1 (en) * | 2001-02-22 | 2004-04-13 | Rambus, Inc. | Stacked semiconductor module |
US6469375B2 (en) * | 2001-02-28 | 2002-10-22 | William F. Beausoleil | High bandwidth 3D memory packaging technique |
US6900528B2 (en) * | 2001-06-21 | 2005-05-31 | Micron Technology, Inc. | Stacked mass storage flash memory package |
US6620638B1 (en) * | 2002-06-05 | 2003-09-16 | Micron Technology, Inc. | Testing of multi-chip electronic modules |
US7098541B2 (en) * | 2003-05-19 | 2006-08-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Interconnect method for directly connected stacked integrated circuits |
JP4399777B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-01-20 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体記憶装置、半導体装置、及び電子機器 |
US6991947B1 (en) * | 2004-03-22 | 2006-01-31 | Tushar Gheewala | Hybrid semiconductor circuit with programmable intraconnectivity |
US7352602B2 (en) * | 2005-12-30 | 2008-04-01 | Micron Technology, Inc. | Configurable inputs and outputs for memory stacking system and method |
-
2005
- 2005-12-29 US US11/322,442 patent/US7826243B2/en active Active
-
2006
- 2006-12-08 TW TW095145998A patent/TWI332701B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-12-29 KR KR1020087016194A patent/KR101391068B1/ko active IP Right Grant
- 2006-12-29 JP JP2008548872A patent/JP5859181B2/ja active Active
- 2006-12-29 CN CN2006800496265A patent/CN101375391B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-12-29 WO PCT/US2006/062747 patent/WO2007076546A2/en active Application Filing
-
2010
- 2010-10-18 US US12/907,023 patent/US8093103B2/en active Active
-
2014
- 2014-01-23 JP JP2014010031A patent/JP5745730B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06132476A (ja) * | 1992-10-21 | 1994-05-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 集積回路装置 |
JPH11135711A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Nec Corp | スタックモジュール用インターポーザとスタックモジュール |
US6381141B2 (en) * | 1998-10-15 | 2002-04-30 | Micron Technology, Inc. | Integrated device and method for routing a signal through the device |
JP2003100947A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及び半導体装置モジュール |
JP2003264260A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Toshiba Corp | 半導体チップ搭載基板、半導体装置、半導体モジュール及び半導体装置実装基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007076546A3 (en) | 2008-08-21 |
JP2009522791A (ja) | 2009-06-11 |
KR20080080356A (ko) | 2008-09-03 |
JP5745730B2 (ja) | 2015-07-08 |
WO2007076546A2 (en) | 2007-07-05 |
US7826243B2 (en) | 2010-11-02 |
TWI332701B (en) | 2010-11-01 |
US20110038127A1 (en) | 2011-02-17 |
TW200733344A (en) | 2007-09-01 |
KR101391068B1 (ko) | 2014-04-30 |
CN101375391B (zh) | 2011-05-04 |
US8093103B2 (en) | 2012-01-10 |
US20070158808A1 (en) | 2007-07-12 |
JP5859181B2 (ja) | 2016-02-10 |
CN101375391A (zh) | 2009-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5745730B2 (ja) | 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 | |
US11693801B2 (en) | Stacked semiconductor device assembly in computer system | |
US7772708B2 (en) | Stacking integrated circuit dies | |
US7834450B2 (en) | Semiconductor package having memory devices stacked on logic device | |
JP4078332B2 (ja) | 集積回路の相互接続方法 | |
US8324725B2 (en) | Stacked die module | |
US7777348B2 (en) | Semiconductor device | |
US9368477B2 (en) | Co-support circuit panel and microelectronic packages | |
JP6058336B2 (ja) | 半導体装置 | |
US9356000B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and semiconductor system with the same | |
JP6185995B2 (ja) | 共通サポートシステム及び超小型電子アセンブリ | |
KR20180126769A (ko) | 반도체 메모리 칩, 반도체 메모리 패키지, 및 이를 이용한 전자 시스템 | |
KR20210107454A (ko) | 인터포즈 브리지 및 반도체 다이들을 포함한 스택 모듈들이 스택된 반도체 패키지 | |
US20110034045A1 (en) | Stacking Technique for Circuit Devices | |
WO1998038680A1 (fr) | Module memoire |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150223 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150407 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150506 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5745730 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |