JP2014132662A - 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 - Google Patents

記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014132662A
JP2014132662A JP2014010031A JP2014010031A JP2014132662A JP 2014132662 A JP2014132662 A JP 2014132662A JP 2014010031 A JP2014010031 A JP 2014010031A JP 2014010031 A JP2014010031 A JP 2014010031A JP 2014132662 A JP2014132662 A JP 2014132662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
passive
modules
daisy chain
module
ports
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014010031A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5745730B2 (ja
Inventor
Rey H Bruce
ブルース、レイ、エイチ.
Ricardo H Bruce
ブルース、リカルド、エイチ.
Patrick Digamon Bugayong
ブガヨング、パトリック、ディガモン
Joel Alonzo Baylon
ベイロン、ジョエル、アロンゾ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BiTMICRO Networks Inc
Original Assignee
BiTMICRO Networks Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=38218893&utm_source=***_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2014132662(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by BiTMICRO Networks Inc filed Critical BiTMICRO Networks Inc
Publication of JP2014132662A publication Critical patent/JP2014132662A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5745730B2 publication Critical patent/JP5745730B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0655Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1017All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
    • H01L2225/1023All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being an insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1047Details of electrical connections between containers
    • H01L2225/1058Bump or bump-like electrical connections, e.g. balls, pillars, posts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/1533Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15331Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/162Disposition
    • H01L2924/1627Disposition stacked type assemblies, e.g. stacked multi-cavities

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

【課題】チップモジュールおよびパッケージを戦略的に積層して垂直および水平方向の両方における小型化およびメモリー拡張性を実現する。
【解決手段】積層SDRAMモジュールを有するコントローラモジュールがコントローラパッケージ1103の役割を果たす。積層フラッシュモジュールを有するメモリーモジュールがメモリーパッケージ1104の役割を果たす。互いに積層された4個のメモリーパッケージがメモリー群1105を形成する。コントローラパッケージが単一または複数のメモリー群と積層されているとき、垂直拡張が起き、メモリー群に対してPCB上の異なる場所に位置しているとき、水平拡張が起こる。また複数のメモリー群がPCB上の異なる場所に位置することもできる。
【選択図】図11

Description

本出願は、2005年12月29日付けで出願された「Multiple Chip Module and Package Stacking Method for Storage Devices」と題する米国特許非仮出願第11/322,442号に対して優先権を主張するものである。
分野
本発明はコンピュータシステムに関する。特に、本発明は、フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブ、および小型化およびメモリー拡張性を支持するための複数チップモジュール(multiple chip module:MCM)およびパッケージ積層技術の使用方法に関する。
関連技術の説明
フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブは一般に、そのインターフェースコントローラ、そのDMAコントローラ、およびそのプロセッサのための別個のパッケージと、そのフラッシュ素子、そのFPROM、およびそのRAMのための別個のパッケージとを使用する。この現行の方法では、前記記憶装置全体の小型化に限界がある。前記小型化を達成するためには、チップモジュールおよびパッケージを積層する必要がある。チップモジュールおよびパッケージのレベルでの積層により限られた面積における容量が最大化され、前記記憶装置全体の小型化が実現される。従って、チップモジュールおよびパッケージを戦略的に積層して垂直および水平方向の両方における小型化およびメモリー拡張性を支持する技術を提案する。
本発明の実施例に図示される積層技術において、半導体ダイはモジュール内に搭載され、その基本構成要素としての役割を果たすMCMとなる。基板内にこれらモジュールおよびダイを組み合わせることで、特定の機能または様々なメモリー容量を有するパッケージが作られる。これらパッケージが積層されて容量を増加し、または機能を追加する。フリップチップ、ワイヤーボンド、MCM、モジュール積層、先進パッケージングなどの異なる既存技術の組み合わせを使用して、高信頼性のモジュール間およびパッケージ間の相互接続および拡張性が達成される。使用される前記ダイのメモリー容量および前記パッケージ内で積層されるモジュールの数により、単一のパッケージが様々な容量を有することができる。前記提案のパッケージ積層技術において、パッケージ内で積層されたモジュールが前記パッケージレベルの積層の構成要素としての役割を果たす。複数のパッケージを積層して所望のメモリー容量が作られ、異なるパッケージを積層して所望の機能が作られる。前記水平および垂直方向の両方への拡張が可能である。前記技術はピンの割り当てにある。容量の小さな小型記憶装置には前記垂直拡張を使用でき、より大きな形状の大容量装置には垂直および水平拡張の両方を使用して容量を最大化することができる。この技術を使用することにより、小さなパッケージ装置内に大容量記憶装置が実施され、より大きな形状でより大きなメモリー容量が達成される。
本発明は、前記モジュールおよびパッケージレベルの両方において前記既存の積層技術を活用する。これにより、小面積における容量が最大化され、前記小型化が実現される。最終パッケージングの前に個別に試験でき容易に交換できる基本構成要素の製作にモジュール方式を使用することで、前記技術の信頼性が高まりかつ経済的となる。ダイ容量を変え、モジュールおよび/またはパッケージを積層することにより様々な容量を構成できる。基板面積および所望の容量に応じて、垂直および水平双方向への拡張が実施される。
上述した本発明の特徴、利点、および目的が達成され、詳細に理解できるように、付属の図面に図示された本発明の実施形態の参照により、上記に簡単に要約したそのより具体的な説明を得ることができる。
但し、本発明はその他の等しく効果的な実施形態を認めることから、前記付属の図面はこの発明の一般的な実施形態のみを図示し、従ってその範囲を制限すると考えるべきものではないことに留意すべきである。
図1aは、本発明の実施例に従った高性能、大容量装置のための積層可能なシステムのブロック図を示す。 図1bは、本発明の実施例に従ったより低性能、より小容量装置の積層可能なシステムのブロック図を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図4aおよび図4bは、本発明の実施例に従った第1のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図4aおよび図4bは、本発明の実施例に従った第1のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図5aおよび図5bは、本発明の実施例に従ったメモリーモジュールの上面図および底面図を示す。 図5aおよび図5bは、本発明の実施例に従ったメモリーモジュールの上面図および底面図を示す。 図6aおよび図6bは、本発明の実施例に従った第1のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図6aおよび図6bは、本発明の実施例に従った第1のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図7aおよび図7bは、本発明の実施例に従った第2のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図7aおよび図7bは、本発明の実施例に従った第2のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図8aおよび図8bは、本発明の実施例に従った第2のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図8aおよび図8bは、本発明の実施例に従った第2のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図9は、本発明の実施例に従ったコントローラモジュール上にさらに積層された積層SDRAMモジュールを示す。この構成はハイエンド用途に使用される。図はまた、ボールがそれらに対応するモジュール間接続用のパッドを有する様子を示す。 図10は、本発明の実施例に従ったメモリーモジュール上にさらに積層された積層フラッシュモジュールを示す。図はまた、ボールがそれらに対応するモジュール間接続用のパッドを有する様子を示す。 図11は、本発明の実施例に従った第1の高性能コントローラモジュールおよびメモリーモジュールのために考え得る積層の選択肢を示す。基板インターフェースは、1群の積層モジュールを別の群の積層モジュールに結合させるために使用される。 図12aは、図11に提示された、本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解図である。この図面には、複数の同一の積層は含まれていない。 図12bは、ボール・グリッド・アレイ(ball grid array:BGA)ではなくピン・グリッド・アレイ(pin grid array:PGA)を使用した、本発明の実施例に従った別のパッケージ積層技術である。これは、容易な交換および拡張のために使用される。 図13は、本発明の実施例に従った積層フラッシュモジュールを有するローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図14は、図11に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図15aおよび図15bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のハイエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図15aおよび図15bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のハイエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図16は、図14に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図17aおよび図17bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図17aおよび図17bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図18は、図17に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図19は、本発明の実施例に従った複数積層モジュール内の特定の層を選択可能なピン割り当ておよび接続技術を示す。 図20aは、回転積層配置を使用して異なるバスインターフェースに相当する4個の同一のモジュールの積層を可能とする、本発明の実施例に従った別のピン割り当て技術を示す。 図20bは、本発明の実施例により、回転積層技術による4個の積層モジュールの断面表示、およびそれらピンの結合の様子を示す。 図21aは、本発明の実施例により、積層内の複数モジュールからの直列チェーン配線を接続可能とする別のピン割り当ておよび接続技術を示す。 図21bは、本発明の実施例により、直列チェーン接続が1つの積層位置から別の積層位置まで配線され、垂直および水平両方の拡張の適用を独立して、または同時に可能とする様子を示す。
図1aは、本発明の第1の実施例によるフラッシュ記憶システムのブロック図である。前記ブロック図は、前記技術の所望の機能を達成するためにモジュール化し、積層し、パッケージングしたハイエンドのシステムの全体を示す。前記システムの中心は、そのフラッシュメモリー、そのフラッシュPROM、およびそのSDRAMメモリーの各ブロックとインターフェースするその主コントローラプロセッサ101である。前記SDRAMは、その所望の容量により単一バンク102から最大4バンクまでで構成される。102などの各バンクが3個のSDRAMを含む。107などの前記フラッシュ装置は、105のような、そのフラッシュ用インターフェースコントローラにより制御される。各コントローラはフラッシュバスA11、106などの4個のフラッシュバスを支持し、各フラッシュバスは最大8個のフラッシュ装置を支持する。前記主コントローラプロセッサは、Bバス104などの4個の異なるバスを通じて4個のフラッシュ用インターフェースコントローラを支持する。前記4個のフラッシュ用インターフェースコントローラとそれらに対応するフラッシュ装置はそのメモリー群108を有する。前記主コントローラプロセッサは、1個のメモリー群から最大15個のメモリー群までを支持できる。これは最大1,920個のフラッシュ装置を支持することになる。
図1bは、本発明の第2の実施例によるフラッシュ記憶システムのブロック図である。前記ブロック図は、前記技術の所望の機能を達成するためにモジュール化し、積層し、パッケージングしたローエンドのシステムの全体を示す。ローエンドのシステムは大きなメモリー容量を必要としないので、SDRAMは1個のバンク109であってよく、または一切なくてもよく、前記支持されたフラッシュ装置もまた最小限から2組のフラッシュ用バスのみである。1組のフラッシュ用バス110は、フラッシュ用バス当たり8個のフラッシュ装置が支持された4個のフラッシュ用バスで構成される。
前記基本ダイから、本発明において提示される前記積層技術の基本構成要素となるSDRAMと、FPROMと、フラッシュメモリーと、フラッシュ用インターフェースコントローラと、前記主コントローラプロセッサと、単一および複数チップモジュールが作られる。SDRAMモジュールの上面図である図2aを参照して、単一の基板203内に、前記基本構成要素の1つである前記SDRAMモジュールとなる3個のSDRAMダイ201が配置されている。前記SDRAMモジュールは、前記SDRAMインターフェース103に接続されたSDRAM00と、SDRAM01と、SDRAM02とからなる単一のバンク102として図1内に表示されている。前記コントローラモジュールおよびその他SDRAMモジュールとインターフェースするために必要な全ての信号は、底部ボール204および上部パッド202の両方にそれぞれ割り当てられる。底部ボール204は前記SDRAMモジュールの底面図である図2bに示され、前記SDRAMのダイのパッド取り付け部位の下に底部ワイヤーボンディングを収容するための3個のスロット205が作られている。図2cは前記積層モジュールの断面表示である。上部パッド202および底部ボール204は、全てのSDRAMモジュール間の、および前記コントローラモジュールとの垂直相互接続の役割を果たす。前記製品用途に応じて、前記SDRAMのダイ容量および前記積層数を変えることにより、SDRAMの全体容量が大きく変わる。前記SDRAM装置の構成、容量、およびバンク制限は、前記主コントローラプロセッサのSDRAMインターフェース仕様により定義される。本発明のこの実施例に使用する目的の前記主コントローラプロセッサは、32ビット幅、最大4バンクのSDRAM構成を支持する。
図3aは、これもまた基本構成要素である前記フラッシュモジュールとなる単一基板303内の4個のフラッシュダイ301を示す上面図である。前記メモリーモジュールおよびその他のフラッシュモジュールとインターフェースする必要のある全ての信号は、前記底部ボール304および前記上部パッド302の両方にそれぞれ割り当てられる。図3cにおいて、前記フラッシュモジュールが積層されている。最大積層数は、前記フラッシュ用インターフェースコントローラの仕様による。上部パッド302および底部ボール304は、積層フラッシュモジュール間の、および前記メモリーモジュールへの垂直相互接続子の役割を果たす。前記製品用途および必要容量に応じて、前記フラッシュのダイ容量および前記積層数を変えることにより、フラッシュの全体容量が大きく変わる。前記フラッシュ装置の構成および容量制限は、前記フラッシュ用インターフェースコントローラの仕様により定義される。本発明のこの実施例に使用する目的の前記フラッシュ用インターフェースコントローラは、フラッシュ用バス当たり8個のフラッシュ装置を支持するので、最大8個のフラッシュモジュールの積層が可能である。
図4aは、第1のハイエンドのコントローラモジュールの構成に図示された本発明の第1の実施例の上面図を示す。単一のFPROMのダイ401が前記基板404の中央に配置されている。パッドは、1つは402として示された前記SDRAMモジュール用インターフェース、もう1つは403として示された前記メモリーモジュール用インターフェースである、2つの部分からなる。この技術は、単一パッケージ内でのSDRAMモジュールおよびメモリーモジュールの両方の複数の積層を可能とする。図4bは、前記コントローラモジュールの底面図を示す。単一の主コントローラプロセッサのダイ406がその基板の中央に配置されている。前記コントローラモジュールがそのパッケージの基本モジュールとなる。一般にプリント回路基板(printed circuit board:PCB)である前記主基板との接続のために、前記ボール405が使用される。
図5aは、これもまた基本構成要素である前記メモリーモジュールの上面図を示す。前記基板504の中央に単一のフラッシュ用インターフェースコントローラのダイ501が配置されている。パッドは、1つは502として示された前記フラッシュモジュール用インターフェースであり、もう1つは503として示された前記その他のメモリーモジュール用インターフェースである、2つの部分からなる。この技術は、単一のパッケージ内でのフラッシュモジュールおよびメモリーモジュールの複数積層を可能にする。前記メモリーモジュールは前記パッケージの基本モジュールとなる。図5bは、前記メモリーモジュールの底面図を示す。所望の構成の種類に応じて、前記主基板PCB、前記コントローラモジュール、または前記その他のメモリーモジュールに接続するために、前記メモリーモジュール用ボール505が使用される。
図6aは、第1のローエンドのコントローラモジュールの構成に図示された本発明の第2の実施例の上面図を示す。前記モジュールの2個のSDRAM601と単一のFPROM602とが配置されている。この構成には自由度がある。前記SDRAMは、低性能用途においては実装しなくてもよい。前記主コントローラプロセッサ内の内部SRAMが前記SDRAMの機能を肩代わりする。前記主コントローラプロセッサ605は前記モジュールの底部に配置されている。この構成では、低容量用途には必要のない前記SDRAMの積層ができない。フラッシュモジュールは上部に積層され、前記パッド603とインターフェースする。前記基板604は前記フラッシュモジュールと同じ大きさであり、その最終パッケージをより小さくする。前記主PCBとインターフェースするために前記底部ボール606が使用される。
図7aは、4個のメモリーモジュール701を別個の位置に相互に隣接して搭載できる、第2のハイエンドのコントローラモジュールの構成に図示された、本発明の第1の実施例の上面図を示す。メモリーモジュール用インターフェースパッド704が、複数積層構成のために割り当てられている。前記メモリーモジュール用インターフェースパッドの中央に、3個のSDRAMダイ702が搭載されている。各部位が1個のSDRAMバンク703に相当し、前記パッケージ内には合計で最大4個のSDRAMバンクとなる。図7bには、前記主コントローラプロセッサのダイ705と前記FPROMのダイ706とが隣接して搭載された底面図が提示されている。前記主PCBとの外部インターフェースのために、前記モジュールのボール707が使用される。
図8aは、2個のメモリーモジュール801のみが隣接して搭載可能な第2のローエンドのコントローラモジュールの構成に図示された本発明の第2の実施例の上面図を示す。メモリーモジュール用インターフェースパッド802が複数積層構成のために割り当てられている。前記メモリーモジュール用インターフェースパッドの中央に、3個のSDRAMダイ803が搭載されている。各部位が1個のSDRAMバンク804に対応し、パッケージ内に合計で最大2個のSDRAMバンクのみとなる。その用途次第で、前記SDRAMは搭載してもしなくてもよい。また、前記SDRAMの代わりに、内部SRAMを使用してもよい。前記積層メモリーモジュールは、内部および外部両方のフラッシュ用インターフェースコントローラの用途を支持するように構成することもできる。図8bには、前記主コントローラプロセッサのダイ805と前記FPROMのダイ806とが隣接して搭載された底面図が提示されている。前記主PCBとの外部インターフェースのために、前記モジュール用ボール807が使用されている。
図9は、SDRAMモジュール901とコントローラモジュール902との積層を示す。単一の、または積層されたSDRAMモジュールをコントローラモジュールの上に配置することができる。前記SDRAMモジュール用インターフェースのパッド903は前記SDRAMモジュール用ボール904と位置合わせされなければならない。最下層のSDRAMモジュール905がバンク0としての役割を果たし、最上層のモジュール906がバンク3としての役割を果たす。低容量SDRAMの要求に対しては、単一または2連のバンクで十分である。大容量装置は前記最大SDRAM容量を有する必要があるので、最大4個のモジュールを積層する。前記外側パッド907は前記メモリーモジュール用インターフェース用である。
図10は、フラッシュモジュール1001とメモリーモジュール1002との積層を示す。メモリーモジュールの上に、4層または8層フラッシュモジュールが配置されている。前記フラッシュモジュール用インターフェースのパッド1003が前記フラッシュモジ
ュール用ボール1004と位置合わせされなければならない。前記外側パッド1005はその他のメモリーモジュール用インターフェース用である。本発明のこの実施例に使用する目的の前記フラッシュ用インターフェースコントローラは、最大4個のフラッシュ用バスを支持し、各フラッシュ用バスは最大8個のフラッシュ装置を支持する。最下層のフラッシュモジュール1006は前記4個のフラッシュ用バスのフラッシュ00装置を含み、最上層モジュール1007は前記4個のフラッシュ用バスのフラッシュ07装置を含む。
図11は、水平方向、垂直方向、またはその組み合わせの拡張により構成できる最大化された積層技術のサンプルを示す。複数積層により前記モジュールの全体高さが増加するので、2個の積層モジュールを物理的に相互接続するためのフィラー1101が必要である。適用される積層数に依存する前記モジュール間の高さの差によってはより薄いフィラー1102を使用できる。前記積層SDRAMモジュールを有するコントローラモジュールが前記コントローラパッケージ1103の役割を果たす。積層フラッシュモジュールを有するメモリーモジュールが前記メモリーパッケージ1104の役割を果たす。互いに積層された4個のメモリーパッケージが前記メモリー群1105を形成する。前記コントローラパッケージが単一または複数のメモリー群と積層されているとき、垂直拡張が起こる。前記図は、前記コントローラパッケージに積層されるべき単一のメモリー群を示す。前記コントローラパッケージが前記メモリー群に対して前記PCB上の異なる場所に位置しているとき、水平拡張が起こる。また、複数のメモリー群がPCB上の異なる場所に位置することもできる。垂直および水平両方の拡張技術が同時に実施されているとき、組み合わせ拡張が起こる。前記所望のメモリー容量、主PCBのサイズ制限、さらに高さ制限に応じて、前記拡張技術は大きな自由度を有する。
図12は、前記第1のハイエンドのコントローラの構成のための前記積層技術の等角投影分解図を示す。ピンが戦略的に割り当てられ、パッケージ内のシステム全体の小型化を可能とするように、モジュールが積層されている。
1201−フラッシュモジュール
1202−フラッシュダイ
1203−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1204−フラッシュモジュール用半田ボール
1205−メモリーモジュール
1206−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1207−フラッシュモジュール用のメモリーモジュール用パッドインターフェース
1208−その他のメモリーモジュール用のメモリーモジュール用パッドインターフェース
1209−メモリーモジュール用半田ボール
1210−SDRAMモジュール
1211−SDRAMダイ
1212−その他のSDRAMモジュールとのSDRAMモジュール用パッドインターフェース
1213−SDRAMモジュール用半田ボール
1214−コントローラモジュール
1215−上側のFPROMダイおよび底側の主コントローラプロセッサのダイ
1216−SDRAMモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1217−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1218−コントローラモジュール用半田ボール
図12は、この発明に使用される、交換を容易にし、拡張を容易にする別の技術である。ボール・グリッド・アレイ(ball grid array:BGA)の代わりにピン・グリッド・アレイ(pin grid array:PGA)1219が使用される。この方法は、一切の組立工程を必要とせずに交換を迅速に終える、この技術に固有の特徴故に、より自由度が高い。この技術は水平拡張においてもまた有利である。前記図は、例としてその積層メモリーモジュールを示す。前記メモリーモジュールは前記PGA技術を使用してパッケージングされ、前記パッケージの上部がそのソケット1220となり、その底部がそのピンアレイ1219となる。そのフィラー1221が前記パッケージの上部ソケットとなり、前記BGA1223を介してその基底モジュール1222内部とインターフェースする。前記基底モジュールは、PGAを使用して前記底部パッケージまたはその主基板1224とインターフェースする。また、フィラー1225も前記主基板内に搭載され、前記積層メモリーモジュールとインターフェースする。
図13は、そのフラッシュモジュール1301の積層と、その第1のローエンドのコントローラモジュール1302とを示す。前記コントローラモジュールの上には単一または積層されたフラッシュモジュールを配置することができる。前記フラッシュモジュール用インターフェースのパッド1303は、前記フラッシュモジュール用ボール1304と位置合わせされなければならない。この構成は低容量、低性能用途向けである。積層されるべきフラッシュモジュールの数はその所望の容量に依存し、その主コントローラプロセッサの支持された機能に制限される。前記主コントローラプロセッサのフラッシュ用インターフェースは、最大8個のバスおよびバス当たり最大8個のフラッシュ装置を支持できる。
図14は、前記第1のローエンドのコントローラの構成のための積層技術の等角投影分解図を示す。ピンが戦略的に割り当てられ、モジュールがパッケージ内のシステム全体の小型化を可能にするように積層されている。
1401−フラッシュモジュール
1402−フラッシュダイ
1403−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1404−フラッシュモジュール用半田ボール
1405−コントローラモジュール
1406−底部のFPROMダイおよび主コントローラプロセッサのダイ
1407−SDRAMダイ
1408−フラッシュモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1409−コントローラモジュール用半田ボール
図15aは、前記第2のハイエンドのコントローラの構成のための積層技術を示す。前記積層フラッシュモジュール1501は、前記メモリーモジュール1502の上にさらに積層され、次にそれらが前記コントローラモジュール1503の異なる4箇所に搭載される。4個のメモリーモジュールを前記コントローラモジュール上の異なる4箇所に搭載してメモリー群を作ることができる。より多くのメモリー群を積層することによりその総容量が増加する。図15bには前記積層技術の断面表示が示されている。前記メモリーモジュール用ボール1504は、前記コントローラモジュール上の前記パッドインターフェース1505と位置合わせされなければならない。図11において前述したように、2個の連続して積層されたモジュールを物理的に接続するためにフィラーが使用される。前記コントローラ用ボール1506が前記主基板の外部インターフェースとなる。その最終パッケージは前記第1のハイエンドのオプションよりも4倍大きくなる。
図16は、図15において説明した前記積層技術の等角投影分解図を示す。ピンが戦略的に割り当てられ、前記最大積層数およびモジュール間の相互接続を可能とするようにモジュールが積層されている。図11において前述したように、2個の連続して積層されたモジュールを物理的に接続するためにフィラーが使用される。
1601−フラッシュモジュール
1602−フラッシュダイ
1603−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1604−フラッシュモジュール用半田ボール
1605−メモリーモジュール
1606−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1607−フラッシュモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1608−その他のメモリーモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1609−メモリーモジュール用半田ボール
1610−コントローラモジュール
1611−上側のSDRAMダイおよび底側のFPROMおよび主コントローラプロセッサ
1612−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1613−コントローラモジュール用半田ボール
図17aは前記第2のローエンドの構成のための積層技術を示す。前記積層フラッシュモジュール1701は、前記メモリーモジュール1702の上にさらに積層され、次にこれらが前記コントローラモジュール1703上の異なる2箇所に搭載される。この技術は、内部および外部両方のフラッシュ用インターフェースコントローラの構成を使用することで、この技術に自由度を持たせることができる。図17bにその断面図を示す。前記メモリーモジュール用ボール1704は、前記コントローラモジュール上の前記パッドインターフェース1705と位置合わせされなければならない。前記コントローラ用ボール1706が前記主基板との外部インターフェースとなる。その最終パッケージは前記第1のハイエンドの選択肢の2倍のサイズとなる。
図18は、図17において説明した前記積層技術の等角投影分解図を示す。ピンが戦略的に割り当てられ、前記最大積層数およびモジュール間の相互接続を可能とするようにモジュールが積層されている。図11において前述したように、2個の連続的に積層されたモジュールを物理的に接続するためにフィラーが使用される。
1801−フラッシュモジュール
1802−フラッシュダイ
1803−その他のフラッシュモジュールとのフラッシュモジュール用パッドインターフェース
1804−フラッシュモジュール用半田ボール
1805−メモリーモジュール
1806−フラッシュ用インターフェースコントローラのダイ
1807−フラッシュモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1808−その他のメモリーモジュールとのメモリーモジュール用パッドインターフェース
1809−メモリーモジュール用半田ボール
1810−コントローラモジュール
1811−上側のSDRAMダイおよび底側のFPROMおよび主コントローラプロセッサ
1812−メモリーモジュールとのコントローラモジュール用パッドインターフェース
1813−コントローラモジュール用半田ボール
以下の段落では、前記積層において、ピンの割り当て方および異なる方向へのモジュールの配置の仕方に関するより詳細な技術を説明する。
図19は、複数のモジュール積層内の特定のモジュールの選択を可能とする第1のピン割り当ておよび接続技術を示す。前記図は例としてそのコントローラとSDRAMモジュールとを図示している。1907のような前記SDRAMモジュールのボールは大きな矩形によって表示されており、1908のようなパッドは小さな矩形によって表示されている。パッドとボール間の接続は1906のような長方形によって表示されている。前記コントローラモジュールは、1901のような4個の前記SDRAMモジュールに各々1個ずつ、1904のような4個の動的パッドを有する。前記コントローラモジュールのパッド00、1904がSDRAMモジュール0のX0ボール1903に接続され、パッド01がSDRAMモジュール1のX0ボール1902に接続され、というように続く。前記X0ボールは前記SDRAMモジュールのアクティブボールである。全てのSDRAMモジュールは同一であり、X1ボールがX1パッドに接続され、X2ボールがX2パッドに接続され、というように続く接続を含む。前記技術は、前記積層モジュール上に1905のような梯子状の配線を必要とする。この技術により、前記コントローラモジュールの動的パッドを前記積層内の所望の特定モジュールに配線することが可能となる。図19に図示された実施例は、前記ボールおよびパッド用の反復パターンを有する。パッシブボールは、各モジュール内で前記反復パターンの1周期の距離に等しいズレ量を伴ってパッシブパッドに接続される。反復パターンを使用し、各モジュール内のパッシブパッドまで前記パッシブボールをずらす手法が重要であり、本発明のその他の実施形態において他のズレ量を使用することもでき、例えば前記反復パターンの周期的距離の2または任意の倍数のズレ量を使用してもよい。前記実施例は、本発明の範囲を制限しない。
この発明において紹介されるピン割り当て、接続、および積層の組み合わせのもう1つの方法が、回転積層法である。図20aは、一定の基底モジュールのためのパッド相互接続を示し、戦略的番号付けが割り当てられている。番号1〜4を付けられたパッドはその異なる4群の信号を表す。5番を付けられたパッドは、その垂直積層IOのために使用される(さらなる詳細は図21に図示されている)。6番を付けられたパッドは、前記積層内の全てのモジュールに共通の電源およびグラウンド用に確保されている。前記積層されたモジュールは同一であるので、回転積層を使用して1モジュールを1群の信号に接続し、次の回転した積層モジュールを別の群の信号に接続し、というように続けることができる。このようにして、4個の同一のモジュールを一般的にはコントローラである前記基底モジュールからの異なる4群の信号に確実に積層して接続することができる。前記基板が時計方向に90度回転した時に、パッド1、2001は、一般的にコントローラである前記基底基板のような回転していない基板に対してパッド2、2002の位置を占める。同様に、前記基板が時計方向にそれぞれ180度および270度回転した時に、パッド1、2001は、パッド3、2003の位置に位置することができ、次にパッド4、2004の位置に位置することができる。図20bは、前記基底モジュール上に積層された4個のこのようなモジュールの断面図を示す。例としてメモリーおよびコントローラモジュールを使用する。2005のような、前記積層モジュール上のピン1のみが前記モジュールのアクティブ信号ピンである。残り(2番〜4番)のピン2006はそれらの下のボールに直接接続されているが、それ以外の接続は一切ない。こうすることで、底部から上部まで接続が続く。前記第1のモジュール2008の動的ピン2007が前記基底モジュール上のピン1のパッド2009と位置合わせされ、前記第2のモジュールの動的ピン2010が第2のモジュールが時計方向に90度回転している前記基底モジュールの要素番号2011として示されたピン2上に位置合わせされる。前記第1のモジュール上に要素番号2012として示されたピン2がその下のボールに直接接続されるので、前記第2のモジュール上のピン1、2013を前記基底モジュールのピン2、2011に接続することが可能となる。次の積層モジュールをさらに90度回転させることにより、その動的ピンが前記基底モジュールのピン3に位置合わせされ、第4の回転までこれが継続する。
前記積層内の全てのモジュールの直列配線のために最後の接続法を使用して、それらをPCB上での水平拡張のために外部アクセス可能とする。図21aは、前記積層方法にこの技術が実施された様子を示す。前記主基板2101はその入力信号2102を含み、次にその基底モジュール2103のINボール2104に接続される。前記基底モジュールのOUTパッド2105はその第1の積層モジュール2106のINボール2107に接続され、以下同様に続く。その上部モジュール2108は前記上部パッド2109への信号を終端し、接続2112によって前記信号をその下の前記ボール2113に直接接続された別のパッド2110に内部的に配線する。前記モジュールは同一であるので、この配線された信号は、前記主基板の外部アクセス用のOUTパッド2114に達するまで前記積層のパッドおよびボール2111を通る。図21bには、前記上部モジュールが前記直列チェーンを終端し、その他のパッドに分岐する様子が示されている。全てのモジュールが、ローに落とされたときに前記入力を3値状態とする、選択可能なバッファー2115を有する。前記INボール2116からの信号がその内部回路2117に入り、そのOUTパッド2118に接続された回路から出る。そのバッファーの2115制御線が内部的に弱く引き上げられる。その「StkLow」用ボールはGND2119に内部的に接続されているので、モジュールがその上に積層されているときは前記バッファー制御線をローに落とし、その真上にモジュールが積層されていないときはハイに引き上げる。前記バッファーがハイに引き上げられると、前記入力信号がその他のパッドに分岐2120し、従ってそのトレースが前記基底モジュールの半田ボールに折り返すことを可能とする。モジュールの上にモジュールが積層されると、前記バッファー制御信号がローに落とされ、前記入力信号を3値状態にして前記分岐効果を阻止する。この技術により、前記信号が前記基底モジュールの外部ボールにアクセス可能となり、従って直列信号のための水平拡張が達成可能となる。次に、前記ボールは、接続2121によってその他の位置のその他のモジュール2122に配線される。前記「StkLow」上にパッケージが検出されないとき、前記主基板2123について同一の技術が使用され、前記バッファーは、前記入力が前記その他の位置の指定されたパッドに接続することを可能とする。前記3値状態のバッファー技術は、全ての位置において同様である。例としてJTAG TDI−TDO信号がある。その駆動回路2125は前記パッドにTDI信号を送り、その閉鎖TDO信号2124が前記駆動回路に折り返す。
これら積層、ピン割り当て、および接続技術の組み合わせにより、並列および直列信号の両方を有するモジュール間の相互接続の垂直および水平拡張が可能となる。前記技術は前記特定の用途、容量、基板サイズおよび高さ制限に応じて、自由度が非常に高い。
関連技術の説明
フラッシュメモリー型半導体ディスクドライブは一般に、そのインターフェースコントローラ、そのDMAコントローラ、およびそのプロセッサのための別個のパッケージと、そのフラッシュ素子、そのFPROM、およびそのRAMのための別個のパッケージとを使用する。この現行の方法では、前記記憶装置全体の小型化に限界がある。前記小型化を達成するためには、チップモジュールおよびパッケージを積層する必要がある。チップモジュールおよびパッケージのレベルでの積層により限られた面積における容量が最大化され、前記記憶装置全体の小型化が実現される。従って、チップモジュールおよびパッケージを戦略的に積層して垂直および水平方向の両方における小型化およびメモリー拡張性を支持する技術を提案する。
この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、以下のものがある(国際出願日以降国際段階で引用された文献及び他国に国内移行した際に引用された文献を含む)。
米国特許第6,172,874号明細書 米国特許第6,900,528号明細書 国際公開第1994/006210号パンフレット
但し、本発明はその他の等しく効果的な実施形態を認めることから、前記付属の図面はこの発明の一般的な実施形態のみを図示し、従ってその範囲を制限すると考えるべきものではないことに留意すべきである。
図1aは、本発明の実施例に従った高性能、大容量装置のための積層可能なシステムのブロック図を示す。 図1bは、本発明の実施例に従ったより低性能、より小容量装置の積層可能なシステムのブロック図を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図2a〜図2cは、本発明の実施例に従った、SDRAMモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のSDRAMモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図3a〜図3cは、本発明の実施例に従った、フラッシュモジュールの上面図および底面図、および積層された複数のフラッシュモジュールの断面表示を示す。 図4aおよび図4bは、本発明の実施例に従った第1のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図4aおよび図4bは、本発明の実施例に従った第1のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図5aおよび図5bは、本発明の実施例に従ったメモリーモジュールの上面図および底面図を示す。 図5aおよび図5bは、本発明の実施例に従ったメモリーモジュールの上面図および底面図を示す。 図6aおよび図6bは、本発明の実施例に従った第1のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図6aおよび図6bは、本発明の実施例に従った第1のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図7aおよび図7bは、本発明の実施例に従った第2のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図7aおよび図7bは、本発明の実施例に従った第2のハイエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図8aおよび図8bは、本発明の実施例に従った第2のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図8aおよび図8bは、本発明の実施例に従った第2のローエンドのコントローラモジュールの上面図および底面図を示す。 図9は、本発明の実施例に従ったコントローラモジュール上にさらに積層された積層SDRAMモジュールを示す。この構成はハイエンド用途に使用される。図はまた、ボールがそれらに対応するモジュール間接続用のパッドを有する様子を示す。 図10は、本発明の実施例に従ったメモリーモジュール上にさらに積層された積層フラッシュモジュールを示す。図はまた、ボールがそれらに対応するモジュール間接続用のパッドを有する様子を示す。 図11は、本発明の実施例に従った第1の高性能コントローラモジュールおよびメモリーモジュールのために考え得る積層の選択肢を示す。基板インターフェースは、1群の積層モジュールを別の群の積層モジュールに結合させるために使用される。 図12aは、図11に提示された、本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解図である。この図面には、複数の同一の積層は含まれていない。 図12bは、ボール・グリッド・アレイ(ball grid array:BGA)ではなくピン・グリッド・アレイ(pin grid array:PGA)を使用した、本発明の実施例に従った別のパッケージ積層技術である。これは、容易な交換および拡張のために使用される。 図13は、本発明の実施例に従った積層フラッシュモジュールを有するローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図14は、図11に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図15aおよび図15bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のハイエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図15aおよび図15bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のハイエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図16は、図14に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図17aおよび図17bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図17aおよび図17bは、本発明の実施例に従った積層メモリーモジュールを有する第2のローエンドのコントローラモジュールの構成を示す。また、図はボールがそれらに対応するモジュール間接続用パッドを有する様子をも示す。 図18は、図17に提示した本発明の実施例に従った積層技術の等角投影分解版である。 図19は、本発明の実施例に従った複数積層モジュール内の特定の層を選択可能なピン割り当ておよび接続技術を示す。 図20aは、回転積層配置を使用して異なるバスインターフェースに相当する4個の同一のモジュールの積層を可能とする、本発明の実施例に従った別のピン割り当て技術を示す。 図20bは、本発明の実施例により、回転積層技術による4個の積層モジュールの断面表示、およびそれらピンの結合の様子を示す。 図21aは、本発明の別の実施例により、一組の直列チェーン接続により積層内の複数モジュールを介して直列チェーン配線を生成する別のピン割り当ておよび接続技術を示す。 図21bは、本発明の実施例により、直列チェーン接続が1つの積層位置から別の積層位置まで配線され、垂直および水平両方の拡張の適用を独立して、または同時に可能とする様子を示す。
図19は、複数のモジュール積層内の特定のモジュールの選択を可能とする第1のピン割り当ておよび接続技術を示す。前記図は例としてそのコントローラとSDRAMモジュールとを図示している。1907のような前記SDRAMモジュールのボールは大きな長円形によって表示されており、1908のようなパッドは小さな長円形によって表示されている。パッドとボール間の接続は1906のような長方形によって表示されている。前記コントローラモジュールは、1901のような4個の前記SDRAMモジュールに各々1個ずつ、1904のような4個のアクティブパッドを有する。アクティブパッドは本明細書では以下「アクティブポート」といいます。前記コントローラモジュールのアクティブパッド001904)は最終的にSDRAMモジュール0のX0ボール1903に接続され、アクティブパッド01がSDRAMモジュール1のボール1902に接続され、というように続く。前記X0ボールは前記SDRAMモジュールのアクティブボールである。このように、図19に示すように、XOのようにアクティブボール毎に1つのアクティブボールがあり、最終的にモジュール毎に1つのアクティブパッドに結合している。
全てのSDRAMモジュールは同一であり、図19に示してある実施例にあるように、X1パッシブボールがX1パッシブパッドに接続され、X2パッシブボールがX2パッシブパッドに接続され、というように続く接続を含む。図19のX1パッシブボールとX1パッシブボールの接続のような、SDRAMモジュールの1つの表面にあるパッシブボールと同一のSDRAMモジュールの別の表面にあるパッシブボールとの間の接続は「パッシブポート」と呼ばれ、これは例えば図19に示したパッシブポート1909です。前記技術は、前記積層モジュール上に1905のような梯子状の配線パスの使用含む。この技術により、前記コントローラモジュールのアクティブパッドを前記積層内の所望の特定モジュールに配線することが可能となる。コントローラモジュール1910の参照番号1904と共に示された例えばアクティブパッド02のようなアクティブパッドに適用されるアクティブ信号は、例えばパッシブボールX2をパッシブパッドX2に接続し、パッシブボールX1をパッシブパッドX2にそれぞれ接続するパッシブポートのように、パッシブボールとパッシブパッドに接続する少なくとも1つのパッシブポートを介して配線され、これにより、当該アクティブ信号は最終的に図19に示すX0ボールSDRAMモジュール2のようなアクティブボールに到達する。図19に図示された実施例は、前記ボールおよびパッド用の反復パターンを有する。パッシブボールは、各モジュール内で前記反復パターンの1周期の距離に等しいズレ量を伴ってパッシブパッドに接続される。例えば、図19において、X1パッシブボールはX1パッシブパッドに、X2パッシブボールはX2パッシブパッドというように接続される。反復パターンを使用し、各モジュール内のパッシブパッドまで前記パッシブボールをずらす手法により、他のズレ量が本発明の別の実施形態において使用できる。例えば、別の実施形態は前記反復パターンの周期的距離の2または任意の倍数のズレ量を使用しいるこの別の実施形態は、決して本発明の範囲を限定することを意味するものではない
この発明において紹介されるピン割り当て、接続、および積層の組み合わせのもう1つの方法が、回転積層法である。図20aは、一定の基底モジュールのためのパッド相互接続を示し、戦略的番号付けが割り当てられている。番号1〜4を付けられたパッドはその異なる4群の信号を表す。5番を付けられたパッドは、その垂直積層IOのために使用される(さらなる詳細は図21に図示されている)。6番を付けられたパッドは、前記積層内の全てのモジュールに共通の電源およびグラウンド用に確保されている。前記積層されたモジュールは同一であるので、回転積層を使用して1モジュールを1群の信号に接続し、次の回転した積層モジュールを別の群の信号に接続し、というように続けることができる。このようにして、4個の同一のモジュールを一般的にはコントローラである前記基底モジュールからの異なる4群の信号に確実に積層して接続することができる。前記基板が時計方向に90度回転した時に、パッド1、2001は、一般的にコントローラである前記基底基板のような回転していない基板に対してパッド2、2002の位置を占める。同様に、前記基板が時計方向にそれぞれ180度および270度回転した時に、パッド1、2001は、パッド3、2003の位置に位置することができ、次にパッド4、2004の位置に位置することができる。
図20bは、前記基底モジュール上に積層された4個のこのようなモジュールの断面図を示す。例としてメモリーおよびコントローラモジュールを使用する。2005のような、前記積層モジュール上のピン1のみが前記モジュールのアクティブ信号ピンである。残り(2番〜4番)のピン2006はそれらの下のボールに直接接続されているが、それ以外の接続は一切ない。こうすることで、底部から上部まで接続が続く。前記第1のモジュール2008のアクティブピン2007が前記基底モジュール上のピン1のパッド2009と位置合わせされ、前記第2のモジュールのアクティブピン2010が第2のモジュールが時計方向に90度回転している前記基底モジュールの要素番号2011として示されたピン2上に位置合わせされる。前記第1のモジュール上に要素番号2012として示されたピン2がその下のボールに直接接続されるので、前記第2のモジュール上のピン1、2013を前記基底モジュールのピン2、2011に接続することが可能となる。次の積層モジュールをさらに90度回転させることにより、そのアクティブピンが前記基底モジュールのピン3に位置合わせされ、第4の回転までこれが継続する。
前記積層内の全てのモジュールの直列配線のために最後の接続法を使用して、それらを主基板のようなPCB上での水平拡張のために外部アクセス可能とする。図21aは、前記積層方法にこの技術が実施された様子を示す。前記主基板2101はその入力信号2102を含み、次にその基底モジュール2103のINボール2104に接続される。基底モジュール2103、積層モジュール2106および2130、および上部モジュール2108のような終端モジュールを含む前記モジュールは、それぞれが直列チェーン回路により結合されたボールおよびパッドを有する。例えば、基底モジュール2103は、INボール2104をOUTパッド2105と結合する直列チェーン回路2127、およびOUTパッド2137をOUTボール2138と結合する直列チェーン回路2136を有し、モジュール2106はINボール2107をOUTパッド2129と結合する直列チェーン回路2128、およびOUTパッド2140をOUTボール2141と結合する直列チェーン回路2139を有し、モジュール2130はINボール2132をOUTパッド2133と結合する直列チェーン回路2131、およびOUTパッド2143をOUTボール2144と結合する直列チェーン回路2142を有し、上部モジュール2108はINボール2135をOUTパッド2109と結合する直列チェーン回路2134、およびOUTパッド2110をOUTボール2113と結合する直列チェーン回路2145を有する。このように、前記基底モジュールのOUTパッド2105はその第1の積層モジュール2106のINボール2107に接続され、以下同様に続く。
ボールとパッドを結合する直列チェーン回路を含む信号ルートは本明細書では以下「直列チェーン接続」と言い、少なくとも2つの直列チェーン接続が直列で接続されているものは「直接チェーン配線」と言う(例えば、直列チェーン配線2146または2111など)。その上部モジュール2108は前記上部パッド2109への信号を終端し、接続2112によって前記信号をその下のOUTボール2113のようなボールに直接接続された別のパッド2110に内部的に配線する。前記モジュールは同一であるので、この配線された信号は、前記主基板の外部アクセス用のOUTパッド2114に達するまで例えば前記積層の直列チェーン配線2111のような別の直列チェーン配線を有する一組の直列チェーン接続を通る。直列チェーン接続は直列チェーン入力および直列チェーン出力を有する。直列チェーン入力は、直列チェーン出力が信号を提供するように配置されているとき当該信号を受け取るように配置される。例えば、図21aでは、INボール2104、2107、2132、および2135、およびOUTパッド2110、2143、および2140はそれぞれ直列チェーン入力である。OUTパッド2105、2129、2133、および2109、およびOUTボール2113、2144、2141、および2138はそれぞれ直列チェーン出力である。アクティブパッド2101に適用された信号2102のようなアクティブ信号は個々のボールおよびパッドに結合する一連の直列チェーン回路を通して配線できるので、それぞれのチェーン回路に結合するボールおよびパッドの少なくとも1つは、それぞれパッシブボールおよびパッシブパッドの形式である。実際、これらの直列チェーン回路はパッシブポートとして機能します。しかしながら、直列チェーン回路は、直列チェーン配線2146のような直列チェーン配線を終端することもでき、この直列チェーン配線を以下で更に説明するように例えば直列チェーン配線2111のような別の直列チェーン配線の直列チェーン入力として機能する別のパッドに分岐する又は配線することもできる。
図21bには、前記上部モジュールにおいて前記直列チェーンを終端し、その他のパッドに分岐する様子が示されている。全てのモジュール、ロー(low)に落とされたときに前記入力を3値状態とする、選択可能なバッファー2115を含む制御回路を有する。前記INボール2116からの信号がその内部回路2117に入り、そのOUTパッド2118に接続された回路から出る。そのバッファーの2115制御線が内部的に弱く引き上げられる。その「StkLow」用ボールはGND2119に内部的に接続されているので、モジュールがその上に積層されているときは前記バッファー制御線をローに落とし、その真上にモジュールが積層されていないときはハイ(high)に引き上げる。前記バッファー制御線がハイに引き上げられると、前記入力信号がその他のパッドに分岐2120し、このようにして前記基底モジュールの半田ボールに折り返す接続配線またはトレースを生成する。上述したような方法で選択可能バッファー2115と共に配置されたモジュールの上にモジュールが積層されると、前記バッファー制御信号がローに落とされ、前記入力信号を3値状態にして前記分岐効果を阻止する。この技術により、前記信号が前記基底モジュールの外部ボールにアクセス可能となり、従って直列信号のための水平拡張が達成可能となる。次に、前記ボールは、接続2121によってその他の位置のその他のモジュール2122に配線される。前記「StkLow」上にパッケージが検出されないとき、前記主基板2123について同一の技術が使用され、前記バッファーは、前記入力が前記その他の位置の指定されたパッドに接続することを可能とする。前記3値状態のバッファー技術は、全ての位置において同様である。例としてJTAG TDI−TDO信号がある。その駆動回路2125は前記パッドにTDI信号を送り、その閉鎖TDO信号2124が前記駆動回路に折り返す。

Claims (26)

  1. 複数のモジュールを積層する方法であって、
    1若しくはそれ以上のアクティブ信号を伝送する前記複数のモジュール上に1若しくはそれ以上のアクティブポートを提供する工程と、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブ信号を通過させる、前記複数のモジュール上の1若しくはそれ以上のパッシブポートを提供する工程と、
    前記複数のモジュールを積層する工程と
    を有する方法。
  2. 請求項1記載の方法において、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは梯子状のルーティングパスを形成するものである。
  3. 請求項1記載の方法において、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは積層する前に回転され、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは回転ルーティングパスを形成するものである。
  4. 請求項1記載の方法において、この方法は、さらに、
    第1のデイジーチェーン接続を形成する、1若しくはそれ以上の対のデイジーチェーン入力ポートおよびデイジーチェーン出力ポートを提供する工程を有し、前記デイジーチェーン入力ポートおよび前記デイジーチェーン出力ポートの各対はデイジーチェーン回路により接続されるものである。
  5. 請求項4記載の方法において、この方法は、さらに、
    終端モジュール内の前記第1のデイジーチェーン接続を延伸するルーティングパスを動作可能にする、1若しくはそれ以上の制御ポートを提供する工程を有するものである。
  6. 請求項5記載の方法において、前記終端モジュール内の前記ルーティングパスは第2のデイジーチェーン接続に接続されたものである。
  7. 請求項1記載の方法において、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは主基板である。
  8. 請求項7記載の方法において、1若しくはそれ以上の垂直積層モジュールは前記主基板に接続されたものである。
  9. 請求項2記載の方法において、
    前記複数のモジュールの各々は第1の側部と第2の側部を有し、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
    前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上の前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで相互に所定の距離をおいて位置し、前記所定の距離は、前記反復パターンの周期的距離の倍数に等しく、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記梯子状ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
    前記梯子状ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび1若しくはそれ以上のパッシブパッドを有するものである。
  10. 請求項3記載の方法において、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部を有し、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
    前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよびその前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記回転ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記回転ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。
  11. 請求項4記載の方法において、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有する。
  12. 請求項5記載の方法において、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
    前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有するものである。
  13. 請求項6記載の方法において、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
    前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有し、
    1若しくはそれ以上のデイジーチェーン接続は、主基板に接続された1若しくはそれ以上の垂直積層モジュールを介して延伸するものである。
  14. 複数のモジュールを有する積層モジュールであって、各モジュールが、
    1若しくはそれ以上のアクティブ信号を伝送する1若しくはそれ以上のアクティブポートと、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブ信号を通過させる1若しくはそれ以上のパッシブポートと
    を有する積層モジュール。
  15. 請求項14記載の積層モジュールにおいて、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは梯子状のルーティングパスを形成するものである。
  16. 請求項14記載の積層モジュールにおいて、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは積層する前に回転され、前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは回転ルーティングパスを形成するものである。
  17. 請求項1記載の積層モジュールにおいて、この積層モジュールは、さらに、
    第1のデイジーチェーン接続を形成する1若しくはそれ以上の対のデイジーチェーン入力ポートおよびデイジーチェーン出力ポートを有し、前記デイジーチェーン入力ポートおよび前記デイジーチェーン出力ポートの各対は、デイジーチェーン回路により接続されるものである。
  18. 請求項17記載の積層モジュールにおいて、この積層モジュールは、さらに、
    終端モジュール内で前記第1のデイジーチェーン接続を延伸するルーティングパスを動作可能にする1若しくはそれ以上の制御ポートを有するものである。
  19. 請求項18記載の積層モジュールにおいて、前記終端モジュール内の前記ルーティングパスは、第2のデイジーチェーン接続に接続されるものである。
  20. 請求項14記載の積層モジュールにおいて、1若しくはそれ以上の前記複数のモジュールは、主基板である。
  21. 請求項20記載の方法において、1若しくはそれ以上の垂直に積層されたモジュールは、前記主基板に接続されるものである。
  22. 請求項15記載の積層モジュールにおいて、前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のボールに接続され、
    前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで相互に所定の距離をおいて位置し、前記所定の距離は、前記反復パターンの周期的距離の倍数に等しく、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記梯子状ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュールの同一の位置に配線され、
    前記梯子状ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。
  23. 請求項16記載の積層モジュールにおいて、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のアクティブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のアクティブボールに接続され、
    前記1若しくはそれ以上のパッシブポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールおよび前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のパッシブポートに接続された前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、反復パターンで向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記回転ルーティングパスを介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記回転ルーティングパスは、1若しくはそれ以上のパッシブボールと1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。
  24. 請求項17記載の積層モジュールにおいて、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有するものである。
  25. 請求項18記載の積層モジュールにおいて、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
    前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有するものである。
  26. 請求項19記載の積層モジュールにおいて、
    前記複数のモジュールの各々は、第1の側部と第2の側部とを有し、
    前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン入力ポートは、対応する1若しくはそれ以上のモジュールの前記第1の側部の1若しくはそれ以上のパッシブボールに接続され、前記1若しくはそれ以上のデイジーチェーン出力ポートは、前記第2の側部の1若しくはそれ以上のパッシブパッドに接続され、
    同一のデイジーチェーン用ポートに対応する前記1若しくはそれ以上のパッシブボールの各々および前記1若しくはそれ以上のパッシブパッドの各々は、向かい合って位置し、
    基底モジュールの1若しくはそれ以上のアクティブポートは、前記デイジーチェーン接続を介して1若しくはそれ以上のモジュール上の同一の位置に配線され、
    前記デイジーチェーン接続は、1若しくはそれ以上のデイジーチェーン回路と、1若しくはそれ以上のパッシブボールと、1若しくはそれ以上のパッシブパッドとを有し、
    前記ルーティングパスは、前記1若しくはそれ以上の制御ポートにより制御される1若しくはそれ以上の3ステートドライバを有し、
    1若しくはそれ以上のデイジーチェーン接続は、主基板に接続された1若しくはそれ以上の垂直に積層されたモジュールを介して延伸するものである。
JP2014010031A 2005-12-29 2014-01-23 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法 Expired - Fee Related JP5745730B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/322,442 2005-12-29
US11/322,442 US7826243B2 (en) 2005-12-29 2005-12-29 Multiple chip module and package stacking for storage devices

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008548872A Division JP5859181B2 (ja) 2005-12-29 2006-12-29 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014132662A true JP2014132662A (ja) 2014-07-17
JP5745730B2 JP5745730B2 (ja) 2015-07-08

Family

ID=38218893

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008548872A Active JP5859181B2 (ja) 2005-12-29 2006-12-29 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法
JP2014010031A Expired - Fee Related JP5745730B2 (ja) 2005-12-29 2014-01-23 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008548872A Active JP5859181B2 (ja) 2005-12-29 2006-12-29 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7826243B2 (ja)
JP (2) JP5859181B2 (ja)
KR (1) KR101391068B1 (ja)
CN (1) CN101375391B (ja)
TW (1) TWI332701B (ja)
WO (1) WO2007076546A2 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7352602B2 (en) * 2005-12-30 2008-04-01 Micron Technology, Inc. Configurable inputs and outputs for memory stacking system and method
US7835158B2 (en) * 2005-12-30 2010-11-16 Micron Technology, Inc. Connection verification technique
US8399973B2 (en) * 2007-12-20 2013-03-19 Mosaid Technologies Incorporated Data storage and stackable configurations
JP5372382B2 (ja) * 2008-01-09 2013-12-18 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体装置
US8151038B2 (en) * 2008-05-27 2012-04-03 Initio Corporation SSD with a channel multiplier
US8285919B2 (en) * 2008-05-27 2012-10-09 Initio Corporation SSD with improved bad block management
US8244961B2 (en) * 2008-05-27 2012-08-14 Initio Corporation SSD with distributed processors
US8665601B1 (en) 2009-09-04 2014-03-04 Bitmicro Networks, Inc. Solid state drive with improved enclosure assembly
US8560804B2 (en) * 2009-09-14 2013-10-15 Bitmicro Networks, Inc. Reducing erase cycles in an electronic storage device that uses at least one erase-limited memory device
CN102439718B (zh) * 2010-06-25 2015-07-01 新普力科技有限公司 数据存储装置
US8437164B1 (en) * 2011-07-27 2013-05-07 Apple Inc. Stacked memory device for a configurable bandwidth memory interface
TWI473244B (zh) * 2011-10-05 2015-02-11 Chipsip Technology Co Ltd 堆疊式半導體封裝結構
JP5684161B2 (ja) * 2012-01-26 2015-03-11 株式会社東芝 半導体装置
KR101320934B1 (ko) * 2012-01-31 2013-10-23 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 디바이스 및 그 제작 방법
US9043669B1 (en) 2012-05-18 2015-05-26 Bitmicro Networks, Inc. Distributed ECC engine for storage media
CN102800644B (zh) * 2012-09-05 2014-12-24 无锡江南计算技术研究所 Ddr信号布线封装基板以及ddr信号布线封装方法
US9298654B2 (en) * 2013-03-15 2016-03-29 International Business Machines Corporation Local bypass in memory computing
TWI539565B (zh) * 2014-01-29 2016-06-21 森富科技股份有限公司 記憶體與記憶體球位焊墊之佈局方法
KR101530185B1 (ko) * 2014-11-05 2015-06-19 김민규 기능모듈 착탈식 제어장치
US10552050B1 (en) * 2017-04-07 2020-02-04 Bitmicro Llc Multi-dimensional computer storage system
JP7242634B2 (ja) * 2017-07-30 2023-03-20 ニューロブレード リミテッド メモリチップ

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06132476A (ja) * 1992-10-21 1994-05-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路装置
JPH11135711A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Nec Corp スタックモジュール用インターポーザとスタックモジュール
US6381141B2 (en) * 1998-10-15 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Integrated device and method for routing a signal through the device
JP2003100947A (ja) * 2001-09-20 2003-04-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及び半導体装置モジュール
JP2003264260A (ja) * 2002-03-08 2003-09-19 Toshiba Corp 半導体チップ搭載基板、半導体装置、半導体モジュール及び半導体装置実装基板

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2561192A (en) 1992-08-28 1994-03-29 Prabhakar Goel Multichip ic design using tdm
US6172874B1 (en) * 1998-04-06 2001-01-09 Silicon Graphics, Inc. System for stacking of integrated circuit packages
US5854507A (en) * 1998-07-21 1998-12-29 Hewlett-Packard Company Multiple chip assembly
US6392896B1 (en) * 1999-12-22 2002-05-21 International Business Machines Corporation Semiconductor package containing multiple memory units
JP3779524B2 (ja) * 2000-04-20 2006-05-31 株式会社東芝 マルチチップ半導体装置及びメモリカード
US6720643B1 (en) * 2001-02-22 2004-04-13 Rambus, Inc. Stacked semiconductor module
US6469375B2 (en) * 2001-02-28 2002-10-22 William F. Beausoleil High bandwidth 3D memory packaging technique
US6900528B2 (en) * 2001-06-21 2005-05-31 Micron Technology, Inc. Stacked mass storage flash memory package
US6620638B1 (en) * 2002-06-05 2003-09-16 Micron Technology, Inc. Testing of multi-chip electronic modules
US7098541B2 (en) * 2003-05-19 2006-08-29 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Interconnect method for directly connected stacked integrated circuits
JP4399777B2 (ja) * 2004-01-21 2010-01-20 セイコーエプソン株式会社 半導体記憶装置、半導体装置、及び電子機器
US6991947B1 (en) * 2004-03-22 2006-01-31 Tushar Gheewala Hybrid semiconductor circuit with programmable intraconnectivity
US7352602B2 (en) * 2005-12-30 2008-04-01 Micron Technology, Inc. Configurable inputs and outputs for memory stacking system and method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06132476A (ja) * 1992-10-21 1994-05-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路装置
JPH11135711A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Nec Corp スタックモジュール用インターポーザとスタックモジュール
US6381141B2 (en) * 1998-10-15 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Integrated device and method for routing a signal through the device
JP2003100947A (ja) * 2001-09-20 2003-04-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及び半導体装置モジュール
JP2003264260A (ja) * 2002-03-08 2003-09-19 Toshiba Corp 半導体チップ搭載基板、半導体装置、半導体モジュール及び半導体装置実装基板

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007076546A3 (en) 2008-08-21
JP2009522791A (ja) 2009-06-11
KR20080080356A (ko) 2008-09-03
JP5745730B2 (ja) 2015-07-08
WO2007076546A2 (en) 2007-07-05
US7826243B2 (en) 2010-11-02
TWI332701B (en) 2010-11-01
US20110038127A1 (en) 2011-02-17
TW200733344A (en) 2007-09-01
KR101391068B1 (ko) 2014-04-30
CN101375391B (zh) 2011-05-04
US8093103B2 (en) 2012-01-10
US20070158808A1 (en) 2007-07-12
JP5859181B2 (ja) 2016-02-10
CN101375391A (zh) 2009-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5745730B2 (ja) 記憶装置用の複数チップモジュールおよびパッケージの積層方法
US11693801B2 (en) Stacked semiconductor device assembly in computer system
US7772708B2 (en) Stacking integrated circuit dies
US7834450B2 (en) Semiconductor package having memory devices stacked on logic device
JP4078332B2 (ja) 集積回路の相互接続方法
US8324725B2 (en) Stacked die module
US7777348B2 (en) Semiconductor device
US9368477B2 (en) Co-support circuit panel and microelectronic packages
JP6058336B2 (ja) 半導体装置
US9356000B2 (en) Semiconductor integrated circuit and semiconductor system with the same
JP6185995B2 (ja) 共通サポートシステム及び超小型電子アセンブリ
KR20180126769A (ko) 반도체 메모리 칩, 반도체 메모리 패키지, 및 이를 이용한 전자 시스템
KR20210107454A (ko) 인터포즈 브리지 및 반도체 다이들을 포함한 스택 모듈들이 스택된 반도체 패키지
US20110034045A1 (en) Stacking Technique for Circuit Devices
WO1998038680A1 (fr) Module memoire

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150223

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150407

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150506

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5745730

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees