JP2014115080A - Physical quantity sensor - Google Patents

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JP2014115080A
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Naonobu Okawa
尚信 大川
Hisayuki Yazawa
久幸 矢澤
Katsuya Kikuiri
勝也 菊入
Toru Takahashi
亨 高橋
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Alps Alpine Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a physical quantity sensor capable of appropriately performing self-diagnosis while maintaining good sensitivity.SOLUTION: An interdigital electrode structure of a detection part 33 is patterned reversely to an interdigital electrode structure of an inspection part 34. The region of the detection part 33 is formed to be wider than the region of the inspection 34. When the gap between the tip of a first movable electrode and a first fixed support part that constitute the detection part 33 is regarded as a first front face gap FG1 and the gap between the tip of a second movable electrode and a second fixed support part that constitute the inspection part 34 is regarded as a second front face gap FG2, the second front face gap FG2 is made to be smaller than the first front face gap FG1 in a resting state of a movable part 22.

Description

本発明は、シリコン(Silicon)層を加工するなどして形成された静電容量型の物理量センサに係り、特に、電極構造に関する。   The present invention relates to a capacitance type physical quantity sensor formed by processing a silicon layer, and more particularly to an electrode structure.

特許文献1や特許文献2に示すように、静電容量型の物理量センサは、例えば櫛歯状の可動電極部及び固定電極部を有して構成される。例えば加速度が物理量センサに作用すると、可動電極部が移動し、櫛歯状の可動電極部と固定電極部との間で静電容量変化が生じる。この静電容量変化に基づいて加速度を検出することが可能である。   As shown in Patent Literature 1 and Patent Literature 2, a capacitance-type physical quantity sensor is configured to have, for example, a comb-like movable electrode portion and a fixed electrode portion. For example, when the acceleration acts on the physical quantity sensor, the movable electrode portion moves, and a capacitance change occurs between the comb-like movable electrode portion and the fixed electrode portion. It is possible to detect acceleration based on this change in capacitance.

特許文献3に記載されているように、物理量センサが正常に動作するか否かを検出するための自己診断時、可動電極部は片側にしか移動できないため、それとは反対方向への移動の検出ができない不具合があった(特許文献3の[0003]、[0004]参照)。   As described in Patent Document 3, during the self-diagnosis for detecting whether or not the physical quantity sensor operates normally, the movable electrode portion can move only to one side, so detection of movement in the opposite direction is detected. There is a problem that cannot be performed (see [0003] and [0004] of Patent Document 3).

特許文献4や特許文献5に記載された発明にはテスト電極についての記載がある。特許文献4に記載された発明では、通常の測定動作中も自己診断可能としている。また特許文献5に記載された発明では、質量体の測定方向と、セルフテスト方向とを直交させており、そのため測定用電極とテスト電極とを直交させている。   The inventions described in Patent Document 4 and Patent Document 5 have a description of test electrodes. In the invention described in Patent Document 4, self-diagnosis is possible even during a normal measurement operation. In the invention described in Patent Document 5, the measurement direction of the mass body and the self-test direction are orthogonal to each other, and therefore the measurement electrode and the test electrode are orthogonal to each other.

特表2010−513888号公報Special table 2010-513888 gazette 特開2003−166999号公報JP 2003-166999 A 特開2008−216118号公報JP 2008-216118 A 特開平8−110355号公報JP-A-8-110355 特表2005−504976号公報JP 2005-504976 Gazette

自己診断時、可動電極部を固定電極部に引きつける(引っ張る)方向にしか移動させることができず、引き離す方向の検査が行えない。   At the time of self-diagnosis, the movable electrode portion can be moved only in the direction of pulling (pulling) the fixed electrode portion, and the inspection in the direction of pulling away cannot be performed.

このため、検査用の櫛歯状電極部とは別に、引き離す方向の検査を可能とする別の櫛歯状電極部を設けることが必要となるが、引き離す方向の検査を可能とする別の櫛歯状電極部の構造について特許文献4や特許文献5には開示がなされていない。   For this reason, it is necessary to provide another comb-like electrode part that enables the inspection in the pulling direction apart from the comb-like electrode part for inspection, but another comb that enables the inspection in the pulling-off direction. Patent Document 4 and Patent Document 5 do not disclose the structure of the toothed electrode portion.

そこで本発明は上記従来の課題を解決するものであり、良好な感度を保ちながら適切に自己診断を行うことができる物理量センサを提供することを目的としている。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-described conventional problems, and an object of the present invention is to provide a physical quantity sensor that can appropriately perform self-diagnosis while maintaining good sensitivity.

本発明における物理量センサは、
検出部と検査部とを備え、前記検出部及び前記検査部は、それぞれ可動電極部および固定電極部を有する櫛歯状電極構造であり、
水平面内にて直交する2方向を第1の方向と第2の方向としたとき、前記第1の方向が前記可動電極部の移動方向であり、
前記可動電極部は、前記第1の方向に間隔を空けて配置され前記第2の方向に延出して形成された複数本の可動支持部と、前記第1の方向に向けて各可動支持部の側部から延出し、各可動支持部にて前記第2の方向に間隔を空けて配置された複数本の可動電極子と、を有し、
前記固定電極部は、前記第1の方向に間隔を空けて配置され基端側から先端側への延出方向が前記可動支持部とは逆方向である複数本の固定支持部と、各固定支持部の側部から前記可動電極子の延出方向とは逆方向に延出し、各固定支持部にて前記第2の方向に間隔を空けて配置された複数本の固定電極子と、を有し、
複数本の前記可動支持部と複数本の前記固定支持部とが前記第1の方向に間隔を空けて交互に配列されており、隣り合う前記可動支持部と前記固定支持部とが組にされて、各組の前記可動支持部と前記固定支持部との間にて複数本の前記可動電極子と複数本の前記固定電極子とが前記第2の方向に間隔を空けて交互に配列されており、
前記検出部では、前記可動支持部は第1の可動支持部、前記可動電極子は第1の可動電極子、前記固定支持部は第1の固定支持部、及び前記固定電極子は第1の固定電極子とされ、前記検査部では、前記可動支持部は第2の可動支持部、前記可動電極子は第2の可動電極子、前記固定支持部は第2の固定支持部、及び前記固定電極子は第2の固定電極子とされており、
前記組とされた前記第1の可動電極子の先端と前記第1の固定支持部との間の前記第1の方向への間隔が第1の正面ギャップFG1とされ、前記組とされた前記第2の可動電極子の先端と前記第2の固定支持部との間の前記第1の方向への間隔が第2の正面ギャップFG2とされており、
静止状態から前記可動電極部が移動して、前記第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも狭まるとき前記第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも広がり、前記第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも広がるとき前記第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも狭まるように、前記第1の可動電極子の前記第1の可動支持部からの延出方向と、前記第2の可動電極子の前記第2の可動支持部からの延出方向とが逆方向とされ、かつ前記第1の固定電極子の前記第1の固定支持部からの延出方向と、前記第2の固定電極子の前記第1の固定支持部からの延出方向とが逆方向とされており、
前記検出部の領域は、前記検査部の領域よりも広く形成されており、
前記静止状態において、前記第2の正面ギャップFG2は、前記第1の正面ギャップFG1よりも小さいことを特徴とするものである。
The physical quantity sensor in the present invention is
A detection unit and an inspection unit, wherein the detection unit and the inspection unit are each a comb-like electrode structure having a movable electrode unit and a fixed electrode unit;
When the two directions orthogonal to each other in the horizontal plane are defined as the first direction and the second direction, the first direction is the moving direction of the movable electrode part,
The movable electrode portion includes a plurality of movable support portions that are arranged with an interval in the first direction and extend in the second direction, and each movable support portion toward the first direction. A plurality of movable electrode elements extending from the side portions of the movable support portions and spaced from each other in the second direction at each movable support portion,
The fixed electrode portion is arranged with a gap in the first direction, and a plurality of fixed support portions whose extending direction from the proximal end side to the distal end side is opposite to the movable support portion; A plurality of fixed electrode elements extending in a direction opposite to the extending direction of the movable electrode element from a side part of the support part, and arranged at intervals in the second direction at each fixed support part; Have
A plurality of the movable support portions and a plurality of the fixed support portions are alternately arranged at intervals in the first direction, and the adjacent movable support portions and the fixed support portions are paired. Then, a plurality of the movable electrode elements and a plurality of the fixed electrode elements are alternately arranged in the second direction with an interval between each set of the movable support part and the fixed support part. And
In the detection unit, the movable support unit is a first movable support unit, the movable electrode unit is a first movable electrode unit, the fixed support unit is a first fixed support unit, and the fixed electrode unit is a first movable electrode unit. In the inspection unit, the movable support unit is a second movable support unit, the movable electrode unit is a second movable electrode unit, the fixed support unit is a second fixed support unit, and the fixed electrode unit. The electrode is a second fixed electrode,
An interval in the first direction between the tip of the first movable electrode element and the first fixed support portion is set as a first front gap FG1, and the set. The distance between the tip of the second movable electrode element and the second fixed support portion in the first direction is a second front gap FG2.
When the movable electrode part moves from the stationary state and the first front gap FG1 becomes narrower than the stationary state, the second front gap FG2 widens more than the stationary state, and the first front gap FG1 remains stationary. Extending direction of the first movable electrode element from the first movable support portion and the second movable electrode element so that the second front gap FG2 becomes narrower than the stationary state when the second front gap FG2 becomes wider. The extending direction from the second movable support part is opposite to the extending direction, and the extending direction of the first fixed electrode element from the first fixed support part and the second fixed electrode element The extending direction from the first fixed support portion is the opposite direction,
The region of the detection unit is formed wider than the region of the inspection unit,
In the stationary state, the second front gap FG2 is smaller than the first front gap FG1.

本発明では、静止状態から可動電極部が移動して、検出部の第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも狭まるとき検査部の第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも広がり、検出部の第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも広がるとき検査部の第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも狭まるように、検出部及び検査部を構成する櫛歯状電極構造を逆パターンで形成した。これにより、自己診断時において、第1の可動電極部が第1の固定電極部に引っ張られる方向の検査と、第1の可動電極部が第1の固定電極部から離れる方向の検査とを行うことができる。   In the present invention, when the movable electrode part moves from the stationary state and the first front gap FG1 of the detection unit becomes narrower than the stationary state, the second front gap FG2 of the inspection unit widens more than the stationary state, and the detection unit The comb-like electrode structure constituting the detection unit and the inspection unit is formed in a reverse pattern so that the second front gap FG2 of the inspection unit is narrower than the stationary state when the first front gap FG1 is wider than the stationary state. . Thereby, at the time of self-diagnosis, the inspection in the direction in which the first movable electrode portion is pulled by the first fixed electrode portion and the inspection in the direction in which the first movable electrode portion is separated from the first fixed electrode portion are performed. be able to.

ところで、本発明では検出部の領域を、検査部の領域よりも広く形成した。これにより検出部にて物理量変化を測定する際の感度を高めることができる。このように検出部の領域を大きく形成したので、自己診断時、検出部では、第1の可動電極部を第1の固定電極部に引きつける方向への駆動力は十分な大きさにできるが、検査部の領域は小さいため、検査部では、第2の可動電極部を第2の固定電極部に引きつける方向への駆動力が小さくなってしまい、これにより検査部を使って、第1の可動電極部を第1の固定電極部から引き離す方向への検査を適切に行うことができない。   By the way, in this invention, the area | region of the detection part was formed wider than the area | region of the test | inspection part. Thereby, the sensitivity at the time of measuring a physical quantity change in a detection part can be raised. Since the region of the detection unit is formed in this way, at the time of self-diagnosis, the detection unit can have a sufficient driving force in the direction of attracting the first movable electrode unit to the first fixed electrode unit. Since the area of the inspection part is small, the driving force in the direction in which the second movable electrode part is attracted to the second fixed electrode part is reduced in the inspection part. The inspection in the direction in which the electrode portion is separated from the first fixed electrode portion cannot be appropriately performed.

そこで本発明では、静止状態において、検査部の第2の正面ギャップFG2を、検出部の前記第1の正面ギャップFG1よりも小さくし、検査部にて第2の可動電極部が第2の固定電極部に引きつけられる方向への駆動力を大きくし、領域の大きい検出部にて第1の可動電極部が第1の固定電極部から離れる方向に低いバイアス電圧で素早く変位させることができるようにした。   Therefore, in the present invention, in the stationary state, the second front gap FG2 of the inspection unit is made smaller than the first front gap FG1 of the detection unit, and the second movable electrode unit is fixed to the second fixed position in the inspection unit. The driving force in the direction attracted to the electrode part is increased so that the first movable electrode part can be quickly displaced with a low bias voltage in the direction away from the first fixed electrode part in the detection part having a large area. did.

以上により、良好な感度を保ちながら、検出部の櫛歯状電極部が引き付けられる方向と引き離される方向の双方の検査を適切に行うことができる。また自己診断時のバイアス電圧を低くできる。   As described above, it is possible to appropriately perform inspection in both the direction in which the comb-like electrode portion of the detection unit is attracted and the direction in which the comb-shaped electrode portion is separated while maintaining good sensitivity. In addition, the bias voltage during self-diagnosis can be lowered.

本発明では、前記検出部において、隣り合う前記組の間の前記第1の方向への間隔を第1の背面ギャップBG1としたとき、静止状態において、第1の背面ギャップBG1は、前記第1の正面ギャップFG1よりも大きいことが好ましい。このとき、静止状態において、第1の背面ギャップBG1/第1の正面ギャップFG1は、1.2以上であることがより好ましい。これにより、良好な感度を維持しつつ高ダイナミックレンジに対応することができる。   In the present invention, when the interval between the adjacent sets in the first direction is the first back gap BG1 in the detection unit, in the stationary state, the first back gap BG1 is the first back gap BG1. Is preferably larger than the front gap FG1. At this time, in the stationary state, the first back gap BG1 / first front gap FG1 is more preferably 1.2 or more. Thereby, it is possible to cope with a high dynamic range while maintaining good sensitivity.

また本発明では、前記検査部において、隣り合う前記組の間の前記第1の方向への間隔を第2の背面ギャップBG2としたとき、静止状態において、前記第2の背面ギャップBG2は、前記第2の正面ギャップFG2よりも大きいことが好ましい。これにより、低いバイアス電圧で適切に自己診断を行うことができる。   In the present invention, in the inspection unit, when the interval between the adjacent groups in the first direction is the second back gap BG2, the second back gap BG2 is It is preferably larger than the second front gap FG2. Thereby, self-diagnosis can be appropriately performed with a low bias voltage.

また本発明では、前記検出部を構成する第1の可動電極部及び前記検査部を構成する第2の可動電極部は、可動部の一部とされており、
前記可動部は、ばねにより前記第1の方向に移動可能に支持されていることが好ましい。
In the present invention, the first movable electrode part constituting the detection part and the second movable electrode part constituting the inspection part are a part of the movable part,
The movable part is preferably supported by a spring so as to be movable in the first direction.

また本発明では、前記検出部は前記可動部の中央領域に設けられ、前記検査部は、前記中央領域の前記第1の方向の両側の領域にそれぞれ設けられており、各検査部の領域を足した合計領域は、前記検出部の領域よりも小さくされていることが好ましい。かかる場合、前記検査部は前記可動部の四隅に配置される構成にできる。これにより、検出部と検査部を可動部内にバランス良く配置でき、自己診断時に感度やダイナミックレンジの検査を精度よく行うことができる。   In the present invention, the detection unit is provided in a central region of the movable unit, and the inspection unit is provided in each region on both sides of the central region in the first direction. It is preferable that the added total area is smaller than the area of the detection unit. In such a case, the inspection part can be arranged at the four corners of the movable part. Thereby, a detection part and a test | inspection part can be arrange | positioned in a movable part with sufficient balance, and a sensitivity and a dynamic range test | inspection can be accurately performed at the time of self-diagnosis.

本発明の物理量センサによれば、良好な感度を保ちながら、検出部の櫛歯状電極部が引き付けられる方向と引き離される方向の双方の検査を適切に行うことができる。また自己診断時のバイアス電圧を低くできる。   According to the physical quantity sensor of the present invention, it is possible to appropriately perform inspection in both the direction in which the comb-shaped electrode portion of the detection unit is attracted and the direction in which the comb-shaped electrode portion is separated while maintaining good sensitivity. In addition, the bias voltage during self-diagnosis can be lowered.

図1は、本発明の第1の実施の形態の物理量センサの機能層を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing functional layers of the physical quantity sensor according to the first embodiment of this invention. 図2は、検出部の櫛歯状電極部の構造を説明するための部分拡大平面図である。FIG. 2 is a partially enlarged plan view for explaining the structure of the comb-like electrode portion of the detection portion. 図3は、図2を更に拡大して示した櫛歯状電極部の静止状態を示す部分拡大平面図である。FIG. 3 is a partially enlarged plan view showing a stationary state of the comb-like electrode portion shown in an enlarged manner in FIG. 図4(a)は、図3の静止状態から第1の可動電極部が第1の固定電極部に引きつけられた状態を示す部分拡大平面図であり、図4(b)は、図3の静止状態から第1の可動電極部が第1の固定電極部から引き離された状態を示す部分拡大平面図である。FIG. 4A is a partially enlarged plan view showing a state in which the first movable electrode portion is attracted to the first fixed electrode portion from the stationary state of FIG. 3, and FIG. It is the elements on larger scale which show the state where the 1st movable electrode part was pulled away from the 1st fixed electrode part from the stationary state. 図5は、検査部の櫛歯状電極部の構造を説明するための部分拡大平面図である。FIG. 5 is a partially enlarged plan view for explaining the structure of the comb-like electrode portion of the inspection portion. 図6は、図5を更に拡大して示した櫛歯状電極部の静止状態を示す部分拡大平面図である。FIG. 6 is a partially enlarged plan view showing a stationary state of the comb-like electrode portion shown further enlarged in FIG. 図7は、本発明の第2の実施の形態の物理量センサの機能層を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing a functional layer of the physical quantity sensor according to the second embodiment of this invention. 図8は、図7の物理量センサが動作している状態を示す斜視図である。FIG. 8 is a perspective view showing a state in which the physical quantity sensor of FIG. 7 is operating. 図9は、図8の物理量センサの正面図である。FIG. 9 is a front view of the physical quantity sensor of FIG. 図10は、第1の背面ギャップBG1を変化させて行った実験における、加速度と容量値C0との関係を示すグラフである。FIG. 10 is a graph showing the relationship between the acceleration and the capacitance value C0 in an experiment conducted by changing the first back gap BG1. 図11は、第1の背面ギャップBG1を変化させて行った実験における、加速度と感度との関係を示すグラフである。FIG. 11 is a graph showing the relationship between acceleration and sensitivity in an experiment conducted by changing the first back gap BG1. 図12は、第1の背面ギャップBG1/第1の正面ギャップFG1と感度比との関係を示すグラフである。FIG. 12 is a graph showing the relationship between the first back gap BG1 / first front gap FG1 and the sensitivity ratio. 図13は、第2の正面ギャップFG2を変化させて行った実験におけるバイアス電圧値と容量値Cとの関係を示すグラフである。FIG. 13 is a graph showing the relationship between the bias voltage value and the capacitance value C in an experiment conducted by changing the second front gap FG2. 図14は、第2の正面ギャップFG2/第2の背面ギャップBG2とストッパが利き始めるバイアス値との関係を示すグラフである。FIG. 14 is a graph showing the relationship between the second front gap FG2 / second rear gap BG2 and the bias value at which the stopper starts to work. 図15は、自己診断時に印加されるパルス電圧を示す波形図である。FIG. 15 is a waveform diagram showing a pulse voltage applied during self-diagnosis. 図16は、容量値C0を測定するための概要図である。FIG. 16 is a schematic diagram for measuring the capacitance value C0. 図17は、容量変化C1を測定するための概要図である。FIG. 17 is a schematic diagram for measuring the capacitance change C1.

図1は、本発明の第1の実施の形態の物理量センサの機能層を示す平面図であり、図2は、検出部の櫛歯状電極部の構造を説明するための部分拡大平面図であり、図3は、図2を更に拡大して示した櫛歯状電極部の静止状態を示す部分拡大平面図であり、図4(a)は、図3の静止状態から第1の可動電極部が第1の固定電極部に引きつけられた状態を示す部分拡大平面図であり、図4(b)は、図3の静止状態から第1の可動電極部が第1の固定電極部から引き離された状態を示す部分拡大平面図であり、図5は、検査部の櫛歯状電極部の構造を説明するための部分拡大平面図であり、図6は、図5を更に拡大して示した櫛歯状電極部の静止状態を示す部分拡大平面図である。   FIG. 1 is a plan view showing a functional layer of a physical quantity sensor according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a partially enlarged plan view for explaining the structure of a comb-like electrode part of a detection part. FIG. 3 is a partially enlarged plan view showing a stationary state of the comb-like electrode portion shown in FIG. 2 further enlarged, and FIG. 4 (a) shows the first movable electrode from the stationary state of FIG. FIG. 4B is a partially enlarged plan view showing a state in which the part is attracted to the first fixed electrode part, and FIG. 4B is a diagram illustrating the first movable electrode part being separated from the first fixed electrode part from the stationary state of FIG. FIG. 5 is a partially enlarged plan view for explaining the structure of the comb-like electrode portion of the inspection portion, and FIG. 6 is a further enlarged view of FIG. It is the elements on larger scale which show the stationary state of the comb-tooth-shaped electrode part.

図1に示すように、物理量センサS1は、例えばX1−X2方向(左右方向;第1の方向)が長辺でY1−Y2方向(前後方向;第2の方向)が短辺の長方形状である。図1に示す物理量センサSは、左右方向(X1−X2)に作用する加速度を検出するための一軸検出の加速度センサを構成している。   As shown in FIG. 1, the physical quantity sensor S1 has, for example, a rectangular shape in which the X1-X2 direction (left-right direction; first direction) is a long side and the Y1-Y2 direction (front-rear direction: second direction) is a short side. is there. The physical quantity sensor S shown in FIG. 1 constitutes an uniaxial detection acceleration sensor for detecting acceleration acting in the left-right direction (X1-X2).

図1に示す物理量センサS1は、例えばSOI基板により形成され、SOI基板を構成するシリコン基板で形成された機能層11を、ディープRIE(ディープ・リアクティブ・イオン・エッチング)などで図1のように微細加工して構成される。   The physical quantity sensor S1 shown in FIG. 1 is formed of, for example, an SOI substrate, and a functional layer 11 formed of a silicon substrate constituting the SOI substrate is formed by deep RIE (deep reactive ion etching) or the like as shown in FIG. It is constructed by fine processing.

図1に示すように機能層11には、左右方向(X1−X2)に移動可能に支持された可動部(錘部)22が形成されている。可動部22内には、検出部33と検査部34とが設けられている。   As shown in FIG. 1, the functional layer 11 has a movable portion (weight portion) 22 supported so as to be movable in the left-right direction (X1-X2). A detection unit 33 and an inspection unit 34 are provided in the movable unit 22.

検出部33は、櫛歯状の第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とを有して構成される。また、検査部34は、櫛歯状の第2の可動電極部82と第2の固定電極部83とを有して構成される。このうち、第1の可動電極部80及び第2の可動電極部82は可動部22に一体として形成される。   The detection unit 33 includes a comb-shaped first movable electrode unit 80 and a first fixed electrode unit 81. The inspection unit 34 includes a comb-shaped second movable electrode unit 82 and a second fixed electrode unit 83. Among these, the first movable electrode portion 80 and the second movable electrode portion 82 are formed integrally with the movable portion 22.

図1に示すように可動部22のY1側には、可動部22と分離して形成されたY1側アンカ部26が設けられている。Y1側アンカ部26は左右方向(X1−X2)に長い細長状で形成されている。Y1側アンカ部26は、図示しない固定部(支持基板)に絶縁層を介して固定支持されている。この固定部と絶縁層と機能層によりSOI基板が構成されている。   As shown in FIG. 1, a Y1 side anchor portion 26 formed separately from the movable portion 22 is provided on the Y1 side of the movable portion 22. The Y1-side anchor portion 26 is formed in a long and narrow shape in the left-right direction (X1-X2). The Y1-side anchor portion 26 is fixedly supported by an unillustrated fixing portion (supporting substrate) via an insulating layer. The fixed portion, the insulating layer, and the functional layer constitute an SOI substrate.

また図1に示すように、可動部22のY2側には、可動部22と分離して形成されたY2側アンカ部27が設けられている。Y2側アンカ部27は左右方向(X1−X2方向)に長い細長状で形成されている。Y2側アンカ部27は、図示しない固定部(支持基板)に絶縁層を介して固定支持されている。   As shown in FIG. 1, a Y2 side anchor portion 27 formed separately from the movable portion 22 is provided on the Y2 side of the movable portion 22. The Y2-side anchor portion 27 is formed in a long and narrow shape in the left-right direction (X1-X2 direction). The Y2 side anchor portion 27 is fixedly supported by an unillustrated fixing portion (support substrate) via an insulating layer.

図1に示すように、可動部22のX1側領域22aは、Y1側アンカ部26及びY2側アンカ部27よりも更にX1側に延びている。そしてX1側領域22aのY1側端部22a1と、Y1側アンカ部26との間には所定幅からなるギャップ(間隔)28が形成されている。また、X1側領域22aのY2側端部22a2と、Y2側アンカ部27との間には所定幅からなるギャップ29が形成されている。前記ギャップ28,29の左右方向(X1−X2)への幅寸法は同じ寸法であり、前記ギャップ28,29は、可動部22が図1の静止状態からX1方向へ移動可能な寸法を規制する。   As shown in FIG. 1, the X1 side region 22 a of the movable portion 22 extends further to the X1 side than the Y1 side anchor portion 26 and the Y2 side anchor portion 27. A gap (interval) 28 having a predetermined width is formed between the Y1 side end portion 22a1 of the X1 side region 22a and the Y1 side anchor portion 26. Further, a gap 29 having a predetermined width is formed between the Y2 side end portion 22a2 of the X1 side region 22a and the Y2 side anchor portion 27. The widths of the gaps 28 and 29 in the left-right direction (X1-X2) are the same, and the gaps 28 and 29 regulate the dimension by which the movable portion 22 can move in the X1 direction from the stationary state of FIG. .

また、図1に示すように、可動部22のX2側領域22cは、Y1側アンカ部26及びY2側アンカ部27よりも更にX2側に延びている。そしてX2側領域22cのY1側端部22c1と、Y1側アンカ部26との間には所定幅からなるギャップ30が形成されている。また、X2側領域22cのY2側端部22c2と、Y2側アンカ部27との間には所定幅からなるギャップ31が形成されている。前記ギャップ30,31の左右方向(X1−X2)への幅寸法は同じ寸法であり、前記ギャップ30,31は、可動部22が図1の静止状態からX2方向へ移動可能な寸法を規制する。   As shown in FIG. 1, the X2 side region 22c of the movable part 22 extends further to the X2 side than the Y1 side anchor part 26 and the Y2 side anchor part 27. A gap 30 having a predetermined width is formed between the Y1 side end portion 22c1 of the X2 side region 22c and the Y1 side anchor portion 26. Further, a gap 31 having a predetermined width is formed between the Y2 side end portion 22c2 of the X2 side region 22c and the Y2 side anchor portion 27. The width dimensions in the left-right direction (X1-X2) of the gaps 30 and 31 are the same, and the gaps 30 and 31 regulate the dimension that the movable part 22 can move in the X2 direction from the stationary state of FIG. .

また図1に示すように、可動部22のX1側領域22aには、各ギャップ28,29から前後方向(Y1−Y2)への内側に延び、各ギャップ28,29よりも幅寸法のやや広い空間部35,36が形成されている。また、可動部22のX2側領域22cには、各ギャップ30,31から前後方向(Y1−Y2)への内側に延び、各ギャップ30,31よりも幅寸法のやや広い空間部37,38が形成されている。   As shown in FIG. 1, the X1 side region 22a of the movable portion 22 extends inward in the front-rear direction (Y1-Y2) from the gaps 28 and 29, and is slightly wider in width than the gaps 28 and 29. Space portions 35 and 36 are formed. Further, in the X2 side region 22c of the movable portion 22, there are space portions 37 and 38 that extend inward in the front-rear direction (Y1-Y2) from the gaps 30 and 31 and have a slightly wider width than the gaps 30 and 31, respectively. Is formed.

そして各空間部35〜38では、各アンカ部26,27と可動部22とを繋げるばね部40〜43が形成されている。各ばね部40〜43は、シリコン基板を各アンカ部26,27及び可動部22と一体に切り出して左右方向(X1−X2)への弾性を持たせた箇所である。ばね部40〜43及び可動部22と支持基板(図示せず)との間に絶縁層は形成されていない。よって、加速度を受けると、可動部22はばね部40〜43の弾性変形により左右方向(X1−X2)へ移動できるようになっている。   And in each space part 35-38, the spring parts 40-43 which connect each anchor part 26 and 27 and the movable part 22 are formed. Each spring part 40-43 is the location which cut out the silicon substrate integrally with each anchor part 26 and 27, and the movable part 22, and gave the elasticity to the left-right direction (X1-X2). No insulating layer is formed between the spring portions 40 to 43 and the movable portion 22 and the support substrate (not shown). Therefore, when the acceleration is received, the movable portion 22 can move in the left-right direction (X1-X2) by elastic deformation of the spring portions 40-43.

図1に示すように各ばね部40〜43は前後方向(Y1−Y2)に長く形成されており、また各アンカ部26,27と可動部22との間で折り返して形成されている。これにより各ばね部40〜43は前後方向(Y1−Y2)へ剛性を持ち、可動部22の前後方向(Y1−Y2)への振動を抑制している。   As shown in FIG. 1, each spring part 40-43 is formed long in the front-back direction (Y1-Y2), and it is formed by folding between each anchor part 26,27 and the movable part 22. As shown in FIG. Thereby, each spring part 40-43 has rigidity to the front-back direction (Y1-Y2), and is suppressing the vibration to the front-back direction (Y1-Y2) of the movable part 22. FIG.

図1に示すように、可動部22と一体となって第1の可動電極部80及び第2の可動電極部82が形成されている。図2(図1の点線Aで囲んだ箇所を拡大して示した)に示すように、第1の可動電極部80には、左右方向(X1−X2)に間隔を空けて前後方向(Y1−Y2)に直線状に延出する複数本の第1の可動支持部50が設けられている。各第1の可動支持部50は可動部22のY1側領域22b(図1参照)及びY2側領域22dから内方向に向けて延出している。   As shown in FIG. 1, a first movable electrode portion 80 and a second movable electrode portion 82 are formed integrally with the movable portion 22. As shown in FIG. 2 (the portion surrounded by the dotted line A in FIG. 1 is shown in an enlarged manner), the first movable electrode unit 80 has a front-rear direction (Y1) with an interval in the left-right direction (X1-X2). -Y2) are provided with a plurality of first movable support portions 50 extending linearly. Each first movable support portion 50 extends inward from the Y1 side region 22b (see FIG. 1) and the Y2 side region 22d of the movable portion 22.

また、図1に示すように、第1の固定電極部81及び第2の固定電極部83は、検出部33及び検査部34の各領域内に形成された固定基部52に一体となって形成される。   As shown in FIG. 1, the first fixed electrode portion 81 and the second fixed electrode portion 83 are formed integrally with the fixed base portion 52 formed in each region of the detection portion 33 and the inspection portion 34. Is done.

検出部33の固定基部52には、図2に示すように、左右方向(X1−X2)に間隔を空けて配置され、前記固定基部52のY1側部及びY2側部から前後方向(Y1−Y2方向)に延出して形成された複数本の第1の固定支持部51が設けられている。図1,図2に示すように、第1の可動支持部50と第1の固定支持部51との延出方向は逆方向である。そして、複数本の可動支持部50と複数本の固定支持部51とが左右方向(X1−X2)に間隔を空けて交互に配列されている。   As shown in FIG. 2, the fixed base 52 of the detection unit 33 is arranged with an interval in the left-right direction (X1-X2), and extends from the Y1 side and the Y2 side of the fixed base 52 in the front-rear direction (Y1- A plurality of first fixed support portions 51 formed so as to extend in the Y2 direction) are provided. As shown in FIGS. 1 and 2, the extending direction of the first movable support portion 50 and the first fixed support portion 51 is opposite. A plurality of movable support portions 50 and a plurality of fixed support portions 51 are alternately arranged at intervals in the left-right direction (X1-X2).

固定基部52は図示しない固定部(支持基板)と絶縁層を介して固定されている。したがって固定基部52に支持された各第1の固定支持部51は、加速度を受けても左右方向(X1−X2)へ移動しない。   The fixed base 52 is fixed to a fixed portion (support substrate) (not shown) via an insulating layer. Accordingly, each first fixed support portion 51 supported by the fixed base portion 52 does not move in the left-right direction (X1-X2) even if it receives acceleration.

図2に示すように、各第1の可動支持部50のX2側部50aからX2方向に向けて複数の櫛歯状の第1の可動電極子60が前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて形成されている。また図2に示すように、各第1の固定支持部51のX1側端部51aからX1方向に向けて複数の櫛歯状の第1の固定電極子62が前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて形成されている。図2に示すように、各第1の可動電極子60と各第1の固定電極子62は前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて交互に配置されている。   As shown in FIG. 2, a plurality of comb-shaped first movable electrode elements 60 are spaced in the front-rear direction (Y1-Y2) from the X2 side portion 50a of each first movable support portion 50 in the X2 direction. It is formed to be empty. As shown in FIG. 2, a plurality of comb-shaped first fixed electrode elements 62 are arranged in the front-rear direction (Y1-Y2) from the X1-side end portion 51a of each first fixed support portion 51 in the X1 direction. It is formed at intervals. As shown in FIG. 2, the first movable electrode elements 60 and the first fixed electrode elements 62 are alternately arranged at intervals in the front-rear direction (Y1-Y2).

図2に示すように、左右方向(X1−X2)に交互に配列された各第1の可動支持部50と各第1の固定支持部51とが夫々一つずつ、組66にされて、各組66の第1の可動支持部50と第1の固定支持部51との間にて複数本の第1の可動電極子60と複数本の第1の固定電極子62とが前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて交互に配列されている。   As shown in FIG. 2, each of the first movable support portions 50 and each of the first fixed support portions 51 alternately arranged in the left-right direction (X1-X2) is made into a set 66, one by one. A plurality of first movable electrode elements 60 and a plurality of first fixed electrode elements 62 are arranged in the front-rear direction between the first movable support part 50 and the first fixed support part 51 of each set 66 ( Y1-Y2) are alternately arranged at intervals.

図3は、図2の一部を拡大した図である。図3に示すように、第1の可動電極子60の先端60aと、第1の固定支持部51のX1側端部51aとの間の左右方向(X1−X2)への間隔は第1の正面ギャップFG1として定義される。また、図3に示すように第1の可動電極子60と第1の固定電極子62は、左右方向(X1−X2)への重なり幅がT1となっている。また、隣り合う組66,66の間の左右方向(X1−X2)への間隔(隣り合う組66の第1の可動支持部50と第1の固定支持部51との間隔)は第1の背面ギャップBG1として定義される。   FIG. 3 is an enlarged view of a part of FIG. As shown in FIG. 3, the distance in the left-right direction (X1-X2) between the tip 60a of the first movable electrode 60 and the X1-side end 51a of the first fixed support 51 is the first Defined as front gap FG1. Further, as shown in FIG. 3, the first movable electrode 60 and the first fixed electrode 62 have an overlap width T1 in the left-right direction (X1-X2). Further, the distance between the adjacent sets 66, 66 in the left-right direction (X1-X2) (the distance between the first movable support portion 50 and the first fixed support portion 51 of the adjacent set 66) is the first. Defined as back gap BG1.

また図2、図3に示すように各第1の可動電極子60は、前後方向(Y1−Y2)の両側に位置する第1の固定電極子62,62の間の略中心に位置している。図3に示すように各電極子60,62の幅寸法はT3であり、前後方向(Y1−Y2)で隣り合う第1の可動電極子60と第1の固定電極子62との間の間隔はT4である。   As shown in FIGS. 2 and 3, each first movable electrode 60 is positioned substantially at the center between the first fixed electrodes 62, 62 located on both sides in the front-rear direction (Y1-Y2). Yes. As shown in FIG. 3, the width dimension of each electrode element 60 and 62 is T3, and the space | interval between the 1st movable electrode element 60 adjacent to the front-back direction (Y1-Y2) and the 1st fixed electrode element 62 is shown. Is T4.

図4(a)に示すように、物理量センサS1が加速度を受けて可動部22がX2方向に移動すると、第1の可動電極部80を構成する各第1の可動支持部50もX2方向に移動し、各組66における、各第1の可動電極子60と各第1の固定電極子62との間の対向面積(前後方向(Y1−Y2)にて対面する面積)は図2の静止状態よりも増し、さらに第1の正面ギャップFG1は狭まり、第1の可動電極子60と第1の固定電極子62との重なり幅T1及び第1の背面ギャップBG1は図3よりも大きくなる。   As shown in FIG. 4A, when the physical quantity sensor S1 receives acceleration and the movable part 22 moves in the X2 direction, each first movable support part 50 constituting the first movable electrode part 80 is also in the X2 direction. The opposing area (the area facing in the front-rear direction (Y1-Y2)) between each first movable electrode 60 and each first fixed electrode 62 in each set 66 is stationary in FIG. Further, the first front gap FG1 is narrowed, and the overlap width T1 between the first movable electrode 60 and the first fixed electrode 62 and the first back gap BG1 are larger than those in FIG.

また、図4(b)に示すように、物理量センサS1が加速度を受けて可動部22がX1方向に移動すると、第1の可動電極部80を構成する各第1の可動支持部50もX1方向に移動し、各組66における、各第1の可動電極子60と各第1の固定電極子62との間の対向面積は図2の静止状態よりも減少し、さらに第1の正面ギャップFG1は広がり、第1の可動電極子60と第1の固定電極子62との重なり幅T1及び第1の背面ギャップBG1は図2よりも小さくなる。   As shown in FIG. 4B, when the physical quantity sensor S1 receives the acceleration and the movable part 22 moves in the X1 direction, each first movable support part 50 constituting the first movable electrode part 80 is also X1. 2, the facing area between each first movable electrode element 60 and each first fixed electrode element 62 in each set 66 is smaller than that in the stationary state of FIG. 2, and the first front gap FG1 spreads, and the overlap width T1 and the first back gap BG1 between the first movable electrode 60 and the first fixed electrode 62 are smaller than those in FIG.

図5は、検査部34の櫛歯状電極構造であり図1の点線Bで囲んだ領域を拡大して示したものである。図5に示すように、第2の可動電極部82には、左右方向(X1−X2)に間隔を空けて前後方向(Y1−Y2)に直線状に延出する複数本の第2の可動支持部85が設けられている。各第2の可動支持部85は可動部22のY1側領域22b(図1参照)及びY2側領域22dから内方向に向けて延出している。   FIG. 5 shows a comb-like electrode structure of the inspection unit 34, and shows an enlarged region surrounded by a dotted line B in FIG. As shown in FIG. 5, the second movable electrode portion 82 includes a plurality of second movable electrodes that extend linearly in the front-rear direction (Y1-Y2) with an interval in the left-right direction (X1-X2). A support portion 85 is provided. Each of the second movable support portions 85 extends inward from the Y1 side region 22b (see FIG. 1) and the Y2 side region 22d of the movable portion 22.

また検査部34の固定基部52には、図5に示すように、左右方向(X1−X2)に間隔を空けて配置され、前記固定基部52のY1側部及びY2側部から前後方向(Y1−Y2方向)に延出して形成された複数本の第2の固定支持部86が設けられている。図5に示すように、第2の可動支持部85と第2の固定支持部86との延出方向は逆方向である。そして、複数本の第2の可動支持部85と複数本の第2の固定支持部86とが左右方向(X1−X2)に間隔を空けて交互に配列されている。   Further, as shown in FIG. 5, the fixed base 52 of the inspection unit 34 is arranged with an interval in the left-right direction (X1-X2), and is extended from the Y1 side and the Y2 side of the fixed base 52 in the front-rear direction (Y1 A plurality of second fixed support portions 86 formed so as to extend in the (Y2 direction) are provided. As shown in FIG. 5, the extending directions of the second movable support portion 85 and the second fixed support portion 86 are opposite directions. A plurality of second movable support portions 85 and a plurality of second fixed support portions 86 are alternately arranged at intervals in the left-right direction (X1-X2).

図5に示すように、各第2の可動支持部85のX1側部85aからX1方向に向けて複数の櫛歯状の第2の可動電極子87が前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて形成されている。また図5に示すように、各第2の固定支持部86のX2側端部86aからX2方向に向けて複数の櫛歯状の第2の固定電極子88が前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて形成されている。図5に示すように、各第2の可動電極子87と各第2の固定電極子88は前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて交互に配置されている。   As shown in FIG. 5, a plurality of comb-like second movable electrode elements 87 are spaced in the front-rear direction (Y1-Y2) from the X1 side portion 85a of each second movable support portion 85 in the X1 direction. It is formed to be empty. Further, as shown in FIG. 5, a plurality of comb-like second fixed electrode elements 88 are arranged in the front-rear direction (Y1-Y2) from the X2-side end portion 86a of each second fixed support portion 86 in the X2 direction. It is formed at intervals. As shown in FIG. 5, the second movable electrode elements 87 and the second fixed electrode elements 88 are alternately arranged at intervals in the front-rear direction (Y1-Y2).

図5に示すように、左右方向(X1−X2)に交互に配列された各第2の可動支持部85と各第2の固定支持部86とが夫々一つずつ、組89にされて、各組89の第2の可動支持部85と第2の固定支持部86との間にて複数本の第2の可動電極子87と複数本の第2の固定電極子88とが前後方向(Y1−Y2)に間隔を空けて交互に配列されている。   As shown in FIG. 5, the second movable support portions 85 and the second fixed support portions 86 that are alternately arranged in the left-right direction (X1-X2) are grouped 89 one by one, A plurality of second movable electrode elements 87 and a plurality of second fixed electrode elements 88 are arranged in the front-rear direction between the second movable support part 85 and the second fixed support part 86 of each set 89 ( Y1-Y2) are alternately arranged at intervals.

図6は、図5の一部を拡大した図である。図6に示すように、第2の可動電極子87の先端87aと、第2の固定支持部86のX2側端部86aとの間の左右方向(X1−X2)への間隔は第2の正面ギャップFG2として定義される。また、図6に示すように第2の可動電極子87と第2の固定電極子88は、左右方向(X1−X2)への重なり幅がT2となっている。また、隣り合う組89,89の第2の可動支持部85と第2の固定支持部86との左右方向(X1−X2)への間隔は第2の背面ギャップBG2として定義される。   FIG. 6 is an enlarged view of a part of FIG. As shown in FIG. 6, the distance in the left-right direction (X1-X2) between the tip 87a of the second movable electrode 87 and the X2-side end 86a of the second fixed support 86 is the second Defined as front gap FG2. As shown in FIG. 6, the second movable electrode element 87 and the second fixed electrode element 88 have an overlap width T2 in the left-right direction (X1-X2). Further, the distance in the left-right direction (X1-X2) between the second movable support portion 85 and the second fixed support portion 86 of the adjacent sets 89, 89 is defined as a second back surface gap BG2.

また図5、図6に示すように各第2の可動電極子87は、前後方向(Y1−Y2)の両側に位置する第2の固定電極子88,88の間の略中心に位置している。   Further, as shown in FIGS. 5 and 6, each second movable electrode element 87 is positioned substantially at the center between the second fixed electrode elements 88, 88 located on both sides in the front-rear direction (Y1-Y2). Yes.

また、各電極子87,88の幅寸法はT3で、前後方向(Y1−Y2)にて隣り合う第2の可動電極子87と第2の固定電極子88との間の間隔はT4であり、これらの値は、図3に示した検出部の場合と同じである。すなわち検出部33と検査部34では、各電極子が同ピッチで形成されている。また、電極子の左右方向(X1−X2)における長さ寸法は、検出部33ではL1であり、検査部34ではL2であるが、L1とL2は同じ長さでも異なる長さでもよく、後述する実施例ではL2をL1よりも短く設定した。   Moreover, the width dimension of each electrode element 87 and 88 is T3, and the space | interval between the 2nd movable electrode element 87 adjacent to the front-back direction (Y1-Y2) and the 2nd fixed electrode element 88 is T4. These values are the same as those in the detection unit shown in FIG. That is, in the detection unit 33 and the inspection unit 34, the electrodes are formed at the same pitch. The length dimension of the electrode element in the left-right direction (X1-X2) is L1 in the detection unit 33 and L2 in the inspection unit 34, but L1 and L2 may be the same length or different lengths. In this embodiment, L2 is set shorter than L1.

また静止状態での第1の背面ギャップBG1と第2の背面ギャップBG2とを同寸法に設定することもできる。   Further, the first back gap BG1 and the second back gap BG2 in a stationary state can be set to the same size.

図1,図5,図6に示すように検査部34では、第2の可動電極子87の第2の可動支持部85からの延出方向はX1方向であり、一方、図1、図2、図3に示すように検出部33では、第1の可動電極子60の第1の可動支持部50からの延出方向がX2方向であり、このように第1の可動電極子60と第2の可動電極子87とでは延出方向が互いに逆方向になっている。   As shown in FIGS. 1, 5 and 6, in the inspection section 34, the extending direction of the second movable electrode element 87 from the second movable support section 85 is the X1 direction, whereas FIGS. As shown in FIG. 3, in the detection unit 33, the extending direction of the first movable electrode 60 from the first movable support 50 is the X2 direction. Thus, the first movable electrode 60 and the first movable electrode 60 The extending directions of the second movable electrode 87 are opposite to each other.

また図1,図5,図6に示すように検査部34では、第2の固定電極子88の第2の固定支持部86からの延出方向はX2方向であり、一方、図1、図2、図3に示すように検出部33では、第1の固定電極子62の第1の固定支持部51からの延出方向がX1方向であり、このように第1の固定電極子62と第2の固定電極子88とでは延出方向が互いに逆方向になっている。   As shown in FIGS. 1, 5, and 6, in the inspection unit 34, the extending direction of the second fixed electrode 88 from the second fixed support portion 86 is the X2 direction, while FIGS. 2 and 3, in the detection unit 33, the extending direction of the first fixed electrode 62 from the first fixed support 51 is the X1 direction, and thus the first fixed electrode 62 and the first fixed electrode 62 The extending directions of the second fixed electrode 88 are opposite to each other.

このように検出部33と検査部34とでは櫛歯状電極構造が逆パターンとなっている。したがって可動部22がX1方向に移動して検出部33では図4(a)のように第1の可動電極子60が組66とされた第1の固定支持部51のX1側端部51aに近づくと、検査部34では、第2の可動電極子87が組89とされた第2の固定支持部86のX2側端部86aから離れる。一方、可動部22がX2方向に移動して検出部33では図4(b)のように第1の可動電極子60が組66とされた第1の固定支持部51のX1側端部51aから離れると、検査部34では、第2の可動電極子87が組89とされた第2の固定支持部86のX2側端部86aに近づく。   As described above, the detection unit 33 and the inspection unit 34 have a comb-like electrode structure having a reverse pattern. Therefore, the movable part 22 moves in the X1 direction, and the detection part 33 is moved to the X1 side end part 51a of the first fixed support part 51 in which the first movable electrode element 60 is set as a set 66 as shown in FIG. When approaching, in the inspection section 34, the second movable electrode 87 is separated from the X2 side end portion 86 a of the second fixed support portion 86 that is a set 89. On the other hand, the movable portion 22 moves in the X2 direction, and in the detection portion 33, the X1-side end portion 51a of the first fixed support portion 51 in which the first movable electrode element 60 is set 66 as shown in FIG. If it leaves | separates from, in the test | inspection part 34, the 2nd movable electrode element 87 will approach X2 side edge part 86a of the 2nd fixed support part 86 made into the set 89. FIG.

図1に示す物理量センサS1では、加速度などの物理量変化の測定は、検出部33で行う。すなわち検出部33にて得られた静電容量変化に基づいて加速度の大きさなどを検出している。   In the physical quantity sensor S <b> 1 shown in FIG. 1, measurement of changes in physical quantity such as acceleration is performed by the detection unit 33. That is, the magnitude of acceleration is detected based on the capacitance change obtained by the detection unit 33.

一方、検査部34は、自己診断の際に適切に感度及びダイナミックレンジを検査するために設けられた領域である。   On the other hand, the inspection unit 34 is an area provided for inspecting the sensitivity and dynamic range appropriately at the time of self-diagnosis.

検査部34がなく検出部33だけが設けられた形態について考察すると、自己診断時、検出部33の固定電極部にパルス電圧を印加するとクーロン力により、組66とされた櫛歯状電極同士が引っ張られて図3の静止状態から図4(a)に示す第1の可動電極子60が第1の固定支持部51に近づく状態に移行する。図1に示す物理量センサS1では、検出部33を構成する第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とがすべて図2の櫛歯状電極構造とされた単相型であるため(差動出力型ではない)、自己診断時に図4(b)の状態を作ることができない。   Considering a configuration in which only the detection unit 33 is provided without the inspection unit 34, when a pulse voltage is applied to the fixed electrode portion of the detection unit 33 during self-diagnosis, the comb-like electrodes formed into a pair 66 are formed by Coulomb force. When pulled, the first movable electrode 60 shown in FIG. 4A shifts from the stationary state of FIG. 3 to a state of approaching the first fixed support portion 51. In the physical quantity sensor S1 shown in FIG. 1, the first movable electrode part 80 and the first fixed electrode part 81 constituting the detection part 33 are all of the single-phase type having the comb-like electrode structure shown in FIG. (Not a differential output type), the state shown in FIG. 4B cannot be created during self-diagnosis.

このため検出部33だけでは適正に自己診断により感度及びダイナミックレンジを検査することができない。そこで本実施形態では、図1、図5に示すように櫛歯状電極構造が検出部33とは逆パターンとされた検査部34を設けたのである。このため自己診断時に、検査部34の第2の固定電極部にパルス電圧を印加して、組89とされた櫛歯状電極部同士を引きつけると、検出部33では、図4(b)のように第1の可動電極子60が第1の固定支持部51から引き離された状態を作ることができる。   Therefore, the sensitivity and dynamic range cannot be properly inspected by self-diagnosis with the detection unit 33 alone. Therefore, in the present embodiment, as shown in FIGS. 1 and 5, the inspection unit 34 in which the comb-like electrode structure has a reverse pattern to the detection unit 33 is provided. For this reason, at the time of self-diagnosis, when a pulse voltage is applied to the second fixed electrode part of the inspection part 34 and the comb-like electrode parts made into the set 89 are attracted, the detection part 33 in FIG. As described above, a state in which the first movable electrode 60 is separated from the first fixed support portion 51 can be created.

このように検出部33とは逆パターンの櫛歯状電極構造を備える検査部34を使うことで、検出部33にて櫛歯状電極部が引き付けられる方向での容量値C0と容量変化C1及び櫛歯状電極部が引き離される方向での容量値C0と容量変化C1の双方を測定することができ、感度及びダイナミックレンジを精度よく自己診断することが可能になる。   In this way, by using the inspection unit 34 having a comb-like electrode structure having a pattern opposite to that of the detection unit 33, the capacitance value C0 and the capacitance change C1 in the direction in which the detection unit 33 attracts the comb-teeth electrode unit. It is possible to measure both the capacitance value C0 and the capacitance change C1 in the direction in which the comb-shaped electrode portion is separated, and it is possible to perform self-diagnosis with high sensitivity and dynamic range.

ところで本実施形態では、検出感度を向上させるために、図1に示すように、検出部33の領域を検査部34の領域よりも大きく形成した。ここで検出部33の領域とは、すべての第1の可動電極部80及び第1の固定電極部81を含む領域であり、図1では、可動部2内にて切欠加工された外周面33a〜33dにより囲まれた内部領域が該当する。また検査部34の領域とは、すべての第2の可動電極部82及び第2の固定電極部83を含む領域であり、図1では、可動部2内にて切欠加工された外周面34a〜34dにより囲まれた内部領域が該当する。例えば、検査部34の領域の面積は、検出部33の領域の面積を1としたとき、0.2〜0.8程度であり、好ましくは約0.5以下である。   By the way, in this embodiment, in order to improve the detection sensitivity, the area of the detection unit 33 is formed larger than the area of the inspection unit 34 as shown in FIG. Here, the region of the detection unit 33 is a region including all of the first movable electrode unit 80 and the first fixed electrode unit 81. In FIG. 1, the outer peripheral surface 33a cut out in the movable unit 2 is used. This corresponds to the inner region surrounded by ~ 33d. Further, the region of the inspection unit 34 is a region including all the second movable electrode portions 82 and the second fixed electrode portions 83, and in FIG. This corresponds to the inner region surrounded by 34d. For example, the area of the inspection unit 34 is about 0.2 to 0.8, preferably about 0.5 or less, where the area of the detection unit 33 is 1.

上記したように検出部33と検査部34では電極ピッチが同じとされている。このとき図3に示す検出部33での第1の正面ギャップFG1と図6に示す検査部34での第2の正面ギャップFG2をも同じ大きさとすると、検査部34の領域は検出部33よりも小さいため、自己診断時に、パルス電圧を印加して静止状態から検査部34の櫛歯状電極部同士を引きつけたとき、検査部34全体で生じるクーロン力(駆動力)は、パルス電圧を印加して静止状態から検出部33の櫛歯状電極部同士を引きつけたとき、検出部33全体で生じるクーロン力(駆動力)よりも小さくなってしまう。したがって検出部33と検査部34とにそれぞれ同じパルス電圧を印加しても、可動部22のX1方向への移動量とX2方向への移動量とが異なり、精度よく感度及びダイナミックレンジを測定することができない。例えば、容量変化を測定するのに重要なバイアス電圧(パルス電圧の低電圧(Voltage Low))を大きくすれば、検査部34での駆動力を高めることができるが、パルス電圧の制御が必要となり、電圧制御が煩雑化する。   As described above, the detection unit 33 and the inspection unit 34 have the same electrode pitch. At this time, if the first front gap FG1 in the detection unit 33 shown in FIG. 3 and the second front gap FG2 in the inspection unit 34 shown in FIG. Therefore, during self-diagnosis, when a pulse voltage is applied and the comb-like electrode portions of the inspection unit 34 are attracted from a stationary state, the Coulomb force (driving force) generated in the entire inspection unit 34 is applied with the pulse voltage. When the comb-shaped electrode portions of the detection unit 33 are attracted to each other from a stationary state, the coulomb force (driving force) generated in the entire detection unit 33 becomes smaller. Therefore, even if the same pulse voltage is applied to each of the detection unit 33 and the inspection unit 34, the amount of movement of the movable unit 22 in the X1 direction and the amount of movement in the X2 direction are different, and the sensitivity and dynamic range are accurately measured. I can't. For example, increasing the bias voltage (Voltage Low), which is important for measuring the capacitance change, can increase the driving force in the inspection unit 34, but it is necessary to control the pulse voltage. The voltage control becomes complicated.

そこで本実施形態では、静止状態(物理量の作用していない状態)において、図6に示す検査部34での第2の正面ギャップFG2を図3に示す検出部33での第1の正面ギャップFG1より小さくした。これにより検査部34にて第2の可動電極部82が第2の固定電極部83に引きつけられる方向への駆動力を大きくし、領域の大きい検出部33にて第1の可動電極部80が第1の固定電極部81から離れる方向に低いバイアス電圧で素早く変位させることができるようにした。   Therefore, in the present embodiment, the second front gap FG2 in the inspection unit 34 shown in FIG. 6 is changed to the first front gap FG1 in the detection unit 33 shown in FIG. 3 in a stationary state (a state where no physical quantity is applied). Made smaller. As a result, the driving force in the direction in which the second movable electrode unit 82 is attracted to the second fixed electrode unit 83 is increased in the inspection unit 34, and the first movable electrode unit 80 is detected in the detection unit 33 having a large area. It is possible to quickly displace with a low bias voltage in a direction away from the first fixed electrode portion 81.

以上により、良好な感度を保ちながら、検出部33での櫛歯状電極部が引き付けられる方向と引き離される方向の双方の検査を適切に行うことができる。また自己診断時のバイアス電圧を低くできる。また検査部34の領域を小さく形成できるため、自己診断可能な物理量センサSの小型化に寄与できる。   As described above, it is possible to appropriately perform inspections in both the direction in which the comb-shaped electrode portion is attracted and the direction in which the comb-shaped electrode portion is separated in the detection unit 33 while maintaining good sensitivity. In addition, the bias voltage during self-diagnosis can be lowered. Moreover, since the area | region of the test | inspection part 34 can be formed small, it can contribute to size reduction of the physical quantity sensor S in which self-diagnosis is possible.

また検出部33の静止状態において、第1の背面ギャップBG1は、第1の正面ギャップFG1より大きいことが好ましい。また第1の背面ギャップBG1/第1の正面ギャップFG1を、1.2以上とすることがより好ましい。   In the stationary state of the detection unit 33, the first back gap BG1 is preferably larger than the first front gap FG1. The first back gap BG1 / first front gap FG1 is more preferably 1.2 or more.

本実施形態の構成にあっては、できる限り第1の背面ギャップBG1の位置で生じる容量成分の影響を小さくしたい。すなわち容量成分の増減は主として、同じ組66とされた第1の可動電極部80と第1の固定電極部81間で生じるようにすることで適切な感度及びダイナミックレンジを得ることができる。   In the configuration of the present embodiment, it is desired to reduce the influence of the capacitance component generated at the position of the first back gap BG1 as much as possible. That is, an increase or decrease in the capacitance component can be obtained mainly between the first movable electrode unit 80 and the first fixed electrode unit 81 in the same set 66, whereby an appropriate sensitivity and dynamic range can be obtained.

図3の静止状態から図4(a)に示すように第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とが近づいたとき、第1の正面ギャップFG1が図3の静止状態よりも狭くなり、さらに重なり幅T1が広くなるので容量成分は上昇する。一方、図3の静止状態から図4(b)に示すように第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とが離れるとき、第1の正面ギャップFG1が図3の静止状態よりも広くなり、さらに重なり幅T1が小さくなるので容量成分は低下する。しかしながら図4(b)では第1の背面ギャップBG1が図3の静止状態よりも狭くなるため、第1の背面ギャップBG1にて生じる容量成分が上昇する。このため、第1の背面ギャップBG1の影響を弱めるために静止状態での第1の背面ギャップBG1を、第1の正面ギャップFG1より大きくした。   When the first movable electrode portion 80 and the first fixed electrode portion 81 approach each other as shown in FIG. 4A from the stationary state of FIG. 3, the first front gap FG1 is larger than that of the stationary state of FIG. The capacitance component rises because it becomes narrower and the overlap width T1 becomes wider. On the other hand, when the first movable electrode portion 80 and the first fixed electrode portion 81 are separated from the stationary state of FIG. 3 as shown in FIG. 4B, the first front gap FG1 is larger than that of the stationary state of FIG. Since the overlap width T1 is further reduced, the capacitance component is reduced. However, in FIG. 4B, since the first back gap BG1 is narrower than that in the stationary state of FIG. 3, the capacitance component generated in the first back gap BG1 increases. For this reason, in order to weaken the influence of the first back gap BG1, the first back gap BG1 in a stationary state is made larger than the first front gap FG1.

また検査部34においても、同様に、第2の背面ギャップBG2を第2の正面ギャップFG2よりも大きくした。第2の背面ギャップBG2を第2の正面ギャップFG2よりも小さくすると背面ギャップBG2の影響が非常に強くなってしまい、ストッパが利き始めるバイアス電圧値を高くしなければならばくなる。したがって第2の背面ギャップBG2を第2の正面ギャップFG2よりも大きくすることで、低いバイアス電圧値で適切に自己診断が可能になる。   Similarly, in the inspection unit 34, the second back gap BG2 is made larger than the second front gap FG2. If the second back gap BG2 is made smaller than the second front gap FG2, the influence of the back gap BG2 becomes very strong, and the bias voltage value at which the stopper starts to work must be increased. Therefore, by making the second back gap BG2 larger than the second front gap FG2, self-diagnosis can be appropriately performed with a low bias voltage value.

図7は、本発明の第2の実施の形態の物理量センサの機能層を示す平面図であり、図8は、図7の物理量センサが動作している状態を示す斜視図であり、図9は、図8の物理量センサの正面図である。図7において図1と同じ部分については同じ符号を付した。   7 is a plan view showing a functional layer of the physical quantity sensor according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a perspective view showing a state in which the physical quantity sensor of FIG. 7 is operating. FIG. 9 is a front view of the physical quantity sensor of FIG. 8. In FIG. 7, the same parts as those in FIG.

図7に示す物理量センサS2には、可動部2の前後方向(Y1−Y2)の両側に第1のアンカ部6,6が配置されている。一対の第1のアンカ部6,6は前後方向で対向している(前後方向の線上に一致している)。また各第1のアンカ部6,6の左側(X1)には夫々、第2のアンカ部7,7が配置されている。一対の第2のアンカ部7,7は前後方向で対向している(前後方向の線上に一致している)。第1のアンカ部6及び第2のアンカ部7は物理量センサS2の左右方向(X1−X2)における略中央に配置される。   In the physical quantity sensor S2 shown in FIG. 7, first anchor portions 6 and 6 are arranged on both sides of the movable portion 2 in the front-rear direction (Y1-Y2). The pair of first anchor portions 6 and 6 face each other in the front-rear direction (coincides with the line in the front-rear direction). Further, second anchor portions 7 and 7 are arranged on the left side (X1) of the first anchor portions 6 and 6, respectively. The pair of second anchor portions 7 and 7 face each other in the front-rear direction (coincides with the line in the front-rear direction). The first anchor part 6 and the second anchor part 7 are arranged at substantially the center in the left-right direction (X1-X2) of the physical quantity sensor S2.

図7に示すように、一対の第1のアンカ部6,6には夫々、左右方向(X1−X2)に延出する第1の支持部3,4が第1のばね部8,8を介して回動自在に連結されている。ここで「左右方向に延出する」とは支持部3,4の基本的な延出方向を指し、第1の支持部4のように前後方向等に折り曲がる部分があってもよい。第1のアンカ部6,6には第1のばね部8の形成領域に切欠部が形成され、その切欠部内に前後方向(Y1−Y2)に直線状に延びる第1のばね部8が、第1のアンカ部6,6と第1の支持部3,4との間を連結している。第1のばね部8は、第1のアンカ部6,6及び第1の支持部3,4と一体で形成される。第1のばね部8は、第1の支持部3,4に比べて十分に狭い幅寸法で形成され、弾性変形可能な部分となっている。一方、第1の支持部3,4の剛性は高くなっている。   As shown in FIG. 7, a pair of first anchor portions 6, 6 has first support portions 3, 4 extending in the left-right direction (X 1 -X 2), respectively. It is connected via a pivot. Here, “extending in the left-right direction” refers to the basic extending direction of the support portions 3, 4, and there may be a portion that bends in the front-rear direction and the like like the first support portion 4. The first anchor portions 6, 6 are formed with a notch portion in the formation region of the first spring portion 8, and the first spring portion 8 extending linearly in the front-rear direction (Y 1 -Y 2) in the notch portion, The first anchor portions 6 and 6 are connected to the first support portions 3 and 4. The first spring portion 8 is formed integrally with the first anchor portions 6 and 6 and the first support portions 3 and 4. The first spring portion 8 is formed with a sufficiently narrow width as compared with the first support portions 3 and 4 and is a portion that can be elastically deformed. On the other hand, the rigidity of the 1st support parts 3 and 4 is high.

図7に示すように第1の支持部3,4の第1のアンカ部6よりも左方(X1)に第1の脚部3a,4aが設けられている。第1の脚部3a,4aは可動部2の高さ方向への変位を抑制する規制部として機能する。   As shown in FIG. 7, the first legs 3a and 4a are provided on the left side (X1) of the first anchor portions 6 of the first support portions 3 and 4. The first leg portions 3a and 4a function as restricting portions that suppress displacement of the movable portion 2 in the height direction.

図7に示すように、Y2側に位置する第1の支持部4は、第1のアンカ部6と可動部2との間を通るように折れ曲がりながら左右方向に延びて形成されている。またY1側に位置する第1の支持部3は、第1のアンカ部6の外側を通って左右方向に直線状(帯状)に形成される。   As shown in FIG. 7, the first support portion 4 positioned on the Y2 side is formed to extend in the left-right direction while being bent so as to pass between the first anchor portion 6 and the movable portion 2. The first support portion 3 located on the Y1 side passes through the outside of the first anchor portion 6 and is formed in a straight line shape (band shape) in the left-right direction.

図7に示すように一対の第1の支持部3,4は、可動部2の前方及び後方の各側方にて延在し、さらに可動部2の右側方(X2)にて前後方向(Y1−Y2)に延びる第1の連結部5(支持部の一部)に連結されて一体化している。   As shown in FIG. 7, the pair of first support portions 3, 4 extend on the front and rear sides of the movable portion 2, and further on the right side (X 2) of the movable portion 2 in the front-rear direction ( It is connected to and integrated with the first connecting part 5 (part of the supporting part) extending in Y1-Y2).

また図7に示すように一対の支持部3,4は夫々、可動部2と第2のばね部9,9を介して連結されている。第2のばね部9,9は、可動部2のY1側面のX2側、及びY2側面のX2側に夫々設けられている。   Further, as shown in FIG. 7, the pair of support portions 3 and 4 are connected to each other via the movable portion 2 and the second spring portions 9 and 9. The second spring portions 9, 9 are provided on the X2 side of the Y1 side surface and the X2 side of the Y2 side surface of the movable portion 2, respectively.

第2のばね部9は、可動部2に設けられた前後方向(Y1−Y2)に細長い溝内に配置され、可動部2と第1の支持部3との間を連結している。第2のばね部9は、前記溝内で前後方向(Y1−Y2)に直線状に長く形成され、また折り返されて、可動部2と第1の支持部3との間を連結している。第2のばね部9は、第1の支持部3に比べて幅寸法が十分小さく、第2のばね部9は、弾性変形可能とされている。第2のばね部9は、可動部2及び第1の支持部3,4と一体に形成される。   The second spring portion 9 is disposed in a groove elongated in the front-rear direction (Y 1 -Y 2) provided in the movable portion 2, and connects the movable portion 2 and the first support portion 3. The second spring portion 9 is linearly long in the front-rear direction (Y1-Y2) in the groove and is folded back to connect the movable portion 2 and the first support portion 3. . The second spring part 9 is sufficiently smaller in width than the first support part 3, and the second spring part 9 is elastically deformable. The second spring portion 9 is formed integrally with the movable portion 2 and the first support portions 3 and 4.

このように第1の支持部3,4は、可動部2と第1のアンカ部6とにばね部8,9を介して連結されている。ばね部8,9は捩れ変形可能とされており、これにより第1の支持部3,3を高さ方向に回動させることが可能となっている。   Thus, the first support parts 3 and 4 are connected to the movable part 2 and the first anchor part 6 via the spring parts 8 and 9. The spring portions 8 and 9 are torsionally deformable, whereby the first support portions 3 and 3 can be rotated in the height direction.

また、図7に示すように、一対の第2のアンカ部7,7には夫々、左右方向(X1−X2)に延びる第2の支持部13,14が第3のばね部15,15を介して回動自在に連結されている。第2のアンカ部7,7には第3のばね部15の形成領域に切欠部が形成され、その切欠部内に前後方向(Y1−Y2)に直線状に延びる第3のばね部15が、第2のアンカ部7と第2の支持部13,14との間を連結している。第3のばね部15は、第2のアンカ部7と第2の支持部13,14と一体で形成される。第3のばね部15は、第2の支持部13,14に比べて十分に狭い幅寸法で形成され、弾性変形可能な部分となっている。一方、第2の支持部13,14の剛性は高くなっている。   In addition, as shown in FIG. 7, the pair of second anchor portions 7, 7 has second support portions 13, 14 extending in the left-right direction (X 1 -X 2), and third spring portions 15, 15. It is connected via a pivot. In the second anchor portions 7 and 7, a notch is formed in the formation region of the third spring portion 15, and a third spring portion 15 extending linearly in the front-rear direction (Y1-Y2) is formed in the notch. The second anchor portion 7 is connected to the second support portions 13 and 14. The third spring portion 15 is formed integrally with the second anchor portion 7 and the second support portions 13 and 14. The third spring portion 15 is formed with a sufficiently narrow width dimension as compared with the second support portions 13 and 14, and is a portion that can be elastically deformed. On the other hand, the rigidity of the 2nd support parts 13 and 14 is high.

図7に示すように第2の支持部13,14には第2のアンカ部7,7よりも右方(X2)に第2の脚部13a,14aが設けられている。第2の脚部13a,14aは可動部2の高さ方向への変位を抑制する機能を備える。   As shown in FIG. 7, the second support portions 13 and 14 are provided with second leg portions 13a and 14a on the right side (X2) of the second anchor portions 7 and 7, respectively. The second leg portions 13a and 14a have a function of suppressing displacement of the movable portion 2 in the height direction.

図7に示すように、可動部2のY2側に位置する第2の支持部14は、第2のアンカ部7の外側を通って左右方向(X1−X2)に直線状(帯状)に延出している。   As shown in FIG. 7, the second support portion 14 located on the Y2 side of the movable portion 2 passes through the outside of the second anchor portion 7 and extends in a straight line (band shape) in the left-right direction (X1-X2). I'm out.

また、可動部2のY1側に位置する第2の支持部13は、第2のアンカ部7と可動部2との間を通るように折れ曲がりながら左右方向に延びて形成されている。   The second support portion 13 located on the Y1 side of the movable portion 2 is formed to extend in the left-right direction while being bent so as to pass between the second anchor portion 7 and the movable portion 2.

可動部2のY1側及びY2側の夫々に形成された第1の支持部3,4と第2の支持部13,14は、第1のアンカ部6及び第2のアンカ部7が介在する領域を除き、微小隙間を介して相対向した状態で左右方向に延びている。   The first support portions 3 and 4 and the second support portions 13 and 14 formed on the Y1 side and the Y2 side of the movable portion 2 are respectively provided with the first anchor portion 6 and the second anchor portion 7. Except for the region, it extends in the left-right direction while facing each other through a minute gap.

可動部2のY1側に配置された第1の支持部3及び第2の支持部13と、可動部2のY2側に配置された第1の支持部4及び第2の支持部14とは互いに、可動部2(シリコン基板)の中心(重心)Oを中心軸として180度回転させた形態と同じとなっている。このため図7に示すように、第1の支持部3は、第2の支持部14と可動部2の中心Oを中心軸として180度回転させた形態と同じとなっており、また、第1の支持部4は、第2の支持部13と可動部2の中心Oを中心軸として180度回転させた形態と同じとなっている。   The first support part 3 and the second support part 13 disposed on the Y1 side of the movable part 2, and the first support part 4 and the second support part 14 disposed on the Y2 side of the movable part 2 The configuration is the same as that of the embodiment in which the center (center of gravity) O of the movable part 2 (silicon substrate) is rotated 180 degrees around the center axis. For this reason, as shown in FIG. 7, the 1st support part 3 is the same as the form rotated 180 degree | times centering | focusing on the center O of the 2nd support part 14 and the movable part 2, and also the 1st The one support portion 4 has the same configuration as the first support portion 4 rotated 180 degrees around the center O of the second support portion 13 and the movable portion 2.

図7に示すように一対の第2の支持部13,14は、可動部2のY1側及びY2側の各側方にて左右方向に延在し、さらに可動部2の左側方(X1)にて前後方向(Y1−Y2)に延びる第2の連結部16(支持部の一部)に連結されて一体化している。   As shown in FIG. 7, the pair of second support portions 13 and 14 extend in the left-right direction on the Y1 side and the Y2 side of the movable portion 2, and further to the left side (X1) of the movable portion 2. Are connected to and integrated with a second connecting portion 16 (part of the supporting portion) extending in the front-rear direction (Y1-Y2).

また図7に示すように一対の第2の支持部13,14は夫々、可動部2と第4のばね部17,17を介して連結されている。第4のばね部17の形態は第2のばね部9と同様である。第4のばね部17,17は、可動部2のY1側面のX1側、及びY2側面のX1側に夫々設けられている。   Further, as shown in FIG. 7, the pair of second support portions 13 and 14 are connected to the movable portion 2 via the fourth spring portions 17 and 17, respectively. The form of the fourth spring portion 17 is the same as that of the second spring portion 9. The fourth spring portions 17 and 17 are provided on the X1 side of the Y1 side surface of the movable portion 2 and the X1 side of the Y2 side surface, respectively.

このように第2の支持部13,14は、可動部2と第2のアンカ部7とにばね部15,17を介して連結されている。ばね部15,17は捩れ変形可能とされており、これにより第2の支持部13,14を高さ方向に回動させることが可能となっている。   Thus, the second support parts 13 and 14 are connected to the movable part 2 and the second anchor part 7 via the spring parts 15 and 17. The spring portions 15 and 17 can be twisted and deformed, and thereby the second support portions 13 and 14 can be rotated in the height direction.

図7に示すように、第1のアンカ部6と第2のアンカ部7との間には左右方向(X1−X2)に間隔を空けて前後方向(Y1−Y2)に延びる隙間が形成され、この隙間内に、第1の支持部3と第2の支持部4との間を連結する連結ばね21が設けられている。   As shown in FIG. 7, a gap extending in the front-rear direction (Y1-Y2) is formed between the first anchor portion 6 and the second anchor portion 7 with a space in the left-right direction (X1-X2). In this gap, a connection spring 21 that connects the first support portion 3 and the second support portion 4 is provided.

図7に示すように、連結ばね21は、可動部2の中心(重心)Oを通る前後方向(Y1−Y2)の線上に位置している。また、図7に示すように連結ばね21と第1のばね部8との間の左右方向(X1−X2)の距離、及び連結ばね21と第3のばね部15との間の左右方向(X1−X2)の距離は同じとなっている。   As shown in FIG. 7, the connecting spring 21 is located on a line in the front-rear direction (Y1-Y2) passing through the center (center of gravity) O of the movable portion 2. Further, as shown in FIG. 7, the distance in the left-right direction (X1-X2) between the connection spring 21 and the first spring portion 8 and the left-right direction between the connection spring 21 and the third spring portion 15 ( The distance of X1-X2) is the same.

第1のアンカ部6及び第2のアンカ部7は、図9に示す固定部(支持基板)39に固定支持される。この固定部39は例えばシリコン基板であり、各アンカ部6、7と固定部39との間には図示しない酸化絶縁層(SiO層)が介在している。固定部39、酸化絶縁層、及び図1に示す可動部2、支持部3,4,13,14、アンカ部6,7及び各ばねを構成する機能層(シリコン基板)は、例えばSOI基板である。 The first anchor part 6 and the second anchor part 7 are fixedly supported by a fixing part (supporting substrate) 39 shown in FIG. The fixing portion 39 is, for example, a silicon substrate, and an oxide insulating layer (SiO 2 layer) (not shown) is interposed between the anchor portions 6 and 7 and the fixing portion 39. The fixed part 39, the oxide insulating layer, and the movable part 2, the support parts 3, 4, 13, and 14, the anchor parts 6 and 7, and the functional layers (silicon substrate) constituting each spring shown in FIG. is there.

図7に示す可動部2、各支持部3,4,13,14及び各アンカ部6,7は夫々分離して形成されている。このうち、各アンカ部6,7と固定部39との間には上記した酸化絶縁層が介在し、各アンカ部6,7が固定部39に固定支持された状態になっているが、可動部2及び各支持部3,4,13,14と、固定部39との間には酸化絶縁層は存在せず、可動部2及び各支持部3,4,13,14と固定部39との間は空間となっている。   The movable part 2, the support parts 3, 4, 13, 14 and the anchor parts 6 and 7 shown in FIG. 7 are formed separately from each other. Among them, the above-described oxide insulating layer is interposed between the anchor portions 6 and 7 and the fixed portion 39, and the anchor portions 6 and 7 are fixedly supported by the fixed portion 39. There is no oxide insulating layer between the part 2 and the support parts 3, 4, 13, 14 and the fixed part 39, and the movable part 2 and the support parts 3, 4, 13, 14 and the fixed part 39 The space is between.

図9に示すように、物理量センサS2には、可動部2と高さ方向にて離れた一方に固定部39と他方に対向部44が設けられる。対向部44の表面44aには固定電極45が設けられる。固定電極45と可動部2とは高さ方向(Z)にて相対向している。可動部2と固定電極45とでZ方向検知部を構成している。   As shown in FIG. 9, the physical quantity sensor S <b> 2 is provided with a fixed portion 39 on one side separated from the movable portion 2 in the height direction and an opposing portion 44 on the other side. A fixed electrode 45 is provided on the surface 44 a of the facing portion 44. The fixed electrode 45 and the movable part 2 are opposed to each other in the height direction (Z). The movable part 2 and the fixed electrode 45 constitute a Z direction detection part.

対向部44は例えばシリコン基板であり、固定電極45は、対向部44の表面44aに絶縁層を介して導電性金属材料をスパッタしまたはメッキすることで形成されている。   The facing portion 44 is, for example, a silicon substrate, and the fixed electrode 45 is formed by sputtering or plating a conductive metal material on the surface 44a of the facing portion 44 via an insulating layer.

また、可動部2の表面(下面)2aには、固定電極41に対面する可動電極(図示しない)が絶縁層を介してスパッタやメッキ工程で形成されている。あるいは、可動部2が、低抵抗シリコン基板などの導電性材料で形成されている場合には、可動部2それ自体を可動電極として使用することが可能である。   A movable electrode (not shown) facing the fixed electrode 41 is formed on the surface (lower surface) 2a of the movable part 2 through an insulating layer by sputtering or plating. Alternatively, when the movable portion 2 is formed of a conductive material such as a low resistance silicon substrate, the movable portion 2 itself can be used as a movable electrode.

図7に示すように可動部2には、左右方向(X1−X2)に向けて梁部24が設けられている。梁部24は、可動部2の中心Oを通る帯状で形成される。また梁部24の左右方向(X1−X2)の外側には、梁部24よりも前後方向(Y1−Y2)の幅寸法が大きい錘部32a,32bが梁部24と一体となって形成されている。   As shown in FIG. 7, the movable part 2 is provided with a beam part 24 in the left-right direction (X1-X2). The beam portion 24 is formed in a belt shape that passes through the center O of the movable portion 2. Further, on the outside of the beam portion 24 in the left-right direction (X1-X2), weight portions 32a, 32b having a width dimension in the front-rear direction (Y1-Y2) larger than that of the beam portion 24 are formed integrally with the beam portion 24. ing.

図7に示すように、梁部24と錘部32a,32bの間にて、第2のばね部9及び第4のばね部17と連結している。   As shown in FIG. 7, it connects with the 2nd spring part 9 and the 4th spring part 17 between the beam part 24 and the weight parts 32a and 32b.

また図7に示すように可動部2には、梁部24の前後方向(Y1−Y2)の両側にX方向の検出部91,92が形成されている。また、錘部32a,32bの前後方向(Y1−Y2)の両側にそれぞれ、検査部53〜56が形成されている。   Further, as shown in FIG. 7, X-direction detection units 91 and 92 are formed on the movable unit 2 on both sides of the beam unit 24 in the front-rear direction (Y1-Y2). In addition, inspection portions 53 to 56 are formed on both sides of the weight portions 32a and 32b in the front-rear direction (Y1-Y2), respectively.

図7に示すように検出部91,92は、複数の第1の可動支持部50と、各第1の可動支持部50に形成された複数の櫛歯状の第1の可動電極子60と、複数の第1の固定支持部51と、各第1の固定支持部51に形成された複数の櫛歯状の第1の固定電極子62とを有してなる第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とで構成される。詳しくは図2、図3を参照されたい。ただし、検出部91,92では、第1の可動電極部80と第1の固定電極部81とが図2,図3に対して逆向きとなっている。各第1の可動支持部50は、梁部24に一体となっている。また、第1の固定支持部51は、アンカ部52に固定支持されている。   As shown in FIG. 7, the detection units 91 and 92 include a plurality of first movable support portions 50 and a plurality of comb-shaped first movable electrode elements 60 formed on each first movable support portion 50. A first movable electrode portion 80 having a plurality of first fixed support portions 51 and a plurality of comb-shaped first fixed electrode elements 62 formed on each first fixed support portion 51. And the first fixed electrode portion 81. Refer to FIG. 2 and FIG. 3 for details. However, in the detection units 91 and 92, the first movable electrode unit 80 and the first fixed electrode unit 81 are opposite to those in FIGS. Each first movable support portion 50 is integrated with the beam portion 24. Further, the first fixed support portion 51 is fixedly supported by the anchor portion 52.

図7に示すように検査部53〜56は、複数の第2の可動支持部85と、各第2の可動支持部85に形成された複数の櫛歯状の第2の可動電極子87と、第2の固定支持部86と、各第2の固定支持部86に形成された複数の櫛歯状の第2の固定電極子88とを有してなる第2の可動電極部82と第2の固定電極部83とで構成される。詳しくは図5、図6を参照されたい。ただし検査部53〜56では、第2の可動電極部82と第2の固定電極部83とが図5、図6に対して逆向きになっている。各第2の固定支持部86は、アンカ部52に固定支持されている。   As shown in FIG. 7, the inspection units 53 to 56 include a plurality of second movable support portions 85 and a plurality of comb-shaped second movable electrode elements 87 formed on the second movable support portions 85. A second movable electrode portion 82 having a second fixed support portion 86 and a plurality of comb-shaped second fixed electrode elements 88 formed on each second fixed support portion 86; 2 fixed electrode portions 83. Refer to FIGS. 5 and 6 for details. However, in the inspection parts 53 to 56, the second movable electrode part 82 and the second fixed electrode part 83 are opposite to those in FIGS. Each second fixed support portion 86 is fixedly supported by the anchor portion 52.

図7に示すように、検出部91,92は、可動部2の左右方向(X1−X2)の中央部に設けられ、その両側に各検査部53〜56が設けられる。図7の実施形態では、各検査部53〜56が可動部2の四隅に配置されている。   As shown in FIG. 7, the detection units 91 and 92 are provided at the central portion of the movable unit 2 in the left-right direction (X1-X2), and the inspection units 53 to 56 are provided on both sides thereof. In the embodiment of FIG. 7, the inspection parts 53 to 56 are arranged at the four corners of the movable part 2.

可動部2が左右方向(X1−X2)に移動することで、検出部91,92の第1の可動電極部80も左右方向(X1−X2)に移動する。これにより第1の可動電極部80と第1の固定電極部81との間の静電容量が変化し、静電容量変化に基づいて左右方向(X1−X2)に生じた加速度等を検出することができる。   As the movable unit 2 moves in the left-right direction (X1-X2), the first movable electrode unit 80 of the detection units 91, 92 also moves in the left-right direction (X1-X2). As a result, the capacitance between the first movable electrode portion 80 and the first fixed electrode portion 81 changes, and an acceleration or the like generated in the left-right direction (X1-X2) is detected based on the capacitance change. be able to.

図7に示す実施形態においても図1と同様に検出部91,92を構成する櫛歯状電極構造と、検査部53〜56を構成する櫛歯状電極構造とは逆パターンとなっており、かつ、静止状態において第2の正面ギャップFG2が第1の正面ギャップFG1よりも狭くなっている(図3、図6参照)。   In the embodiment shown in FIG. 7 as well, the comb-like electrode structure that constitutes the detection units 91 and 92 and the comb-like electrode structure that constitutes the inspection units 53 to 56 have a reverse pattern as in FIG. In addition, in the stationary state, the second front gap FG2 is narrower than the first front gap FG1 (see FIGS. 3 and 6).

図7に示す実施形態では、可動部2が左右方向(X1−X2)のみならず高さ方向にも変位可能に支持されている。   In the embodiment shown in FIG. 7, the movable part 2 is supported so as to be displaceable not only in the left-right direction (X1-X2) but also in the height direction.

物理量センサが静止状態のとき、表面全体と裏面全体が夫々、同一面上に位置しており、表面及び裏面から突出する部分がない。本実施形態の物理量センサS2は、外部から力(加速度等)が作用していないときに、ばね部の弾性復元力により、全ての部分の表面が同一平面となった状態を維持している。静止状態において可動部2と固定部39(図9参照)との間の間隔は、例えば、1〜5μm程度である。また、可動部2と対向部44との間の間隔は、可動部2と固定部39との間の間隔と同程度かあるいはそれよりも狭く設定される。   When the physical quantity sensor is in a stationary state, the entire front surface and the entire back surface are located on the same surface, and there is no portion protruding from the front surface and the back surface. The physical quantity sensor S2 of the present embodiment maintains a state in which the surfaces of all the portions are in the same plane by the elastic restoring force of the spring portion when no force (acceleration or the like) is applied from the outside. The distance between the movable part 2 and the fixed part 39 (see FIG. 9) in the stationary state is, for example, about 1 to 5 μm. The interval between the movable portion 2 and the facing portion 44 is set to be approximately the same as or narrower than the interval between the movable portion 2 and the fixed portion 39.

図8は物理量センサS2に高さ方向への加速度が作用した際の動作状態における斜視図である。   FIG. 8 is a perspective view in an operation state when acceleration in the height direction acts on the physical quantity sensor S2.

物理量センサS2に外部から例えば加速度が高さ方向に与えられると、加速度は、可動部2及び各アンカ部6,7に作用する。このとき、可動部2は慣性力によって絶対空間内で留まろうとし、その結果、各アンカ部6,7に対して可動部2が加速度の作用方向と逆の方向へ相対的に移動する。   For example, when acceleration is applied to the physical quantity sensor S2 from the outside in the height direction, the acceleration acts on the movable portion 2 and the anchor portions 6 and 7. At this time, the movable part 2 tries to stay in the absolute space by the inertial force, and as a result, the movable part 2 moves relative to the anchor parts 6 and 7 in the direction opposite to the direction in which the acceleration acts.

図8は、アンカ部6,7、固定部39及び対向部44に対して下向きの加速度が作用したときの動作を示している。このとき、可動部2は慣性力により静止状態の位置から上方向へ向けて変位すべく、第1支持部3,4及び第2支持部13,14が高さ方向に回動する。この回動動作時、各ばね部が捩れ変形する。   FIG. 8 shows an operation when downward acceleration is applied to the anchor portions 6 and 7, the fixed portion 39, and the facing portion 44. At this time, the first support parts 3 and 4 and the second support parts 13 and 14 rotate in the height direction so that the movable part 2 is displaced upward from the position of the stationary state by inertial force. During this rotation operation, each spring portion is twisted and deformed.

図8に示すように、各支持部3,4,13,14の脚部3a,4a,13a,14aは下方に変位し(図8には、脚部4a,14aのみが図示されている)、各脚部3a,4a,13a,14aの先端は可動部2よりも下方に突出する。   As shown in FIG. 8, the legs 3a, 4a, 13a, and 14a of the support parts 3, 4, 13, and 14 are displaced downward (only the legs 4a and 14a are shown in FIG. 8). The tips of the leg portions 3a, 4a, 13a, and 14a protrude downward from the movable portion 2.

脚部3a,4a,13a,14aの突出量が大きくなると、図9に示すように、可動部2が固定部39の表面39aに当接するよりも先に、脚部3a,4a,13a,14a(図9には脚部4a,14aのみが図示されている)の先端部が対向部44の表面(ストッパ面)44aに当接し、可動部2が図9の状態よりもさらに上方に変位できなくなり、可動部2の変位が抑制される。このように各脚部3a,4a,13a,14aと対向部44の表面(ストッパ面)44aとで可動部2の変位を抑制するストッパ機構が構成されている。   When the protruding amount of the leg portions 3a, 4a, 13a, and 14a increases, the leg portions 3a, 4a, 13a, and 14a are moved before the movable portion 2 contacts the surface 39a of the fixed portion 39, as shown in FIG. (Only the legs 4a and 14a are shown in FIG. 9) the tip of the abutment comes into contact with the surface (stopper surface) 44a of the facing part 44, and the movable part 2 can be displaced further upward than the state of FIG. The displacement of the movable part 2 is suppressed. In this way, a stopper mechanism that suppresses the displacement of the movable portion 2 is configured by the leg portions 3a, 4a, 13a, and 14a and the surface (stopper surface) 44a of the facing portion 44.

図7に示す実施形態では、可動部(錘部)2が、X1−X2方向に移動することで検出部91,92における櫛歯状電極構造の静電容量変化に基づき物理量の変化を検出できる。また櫛歯状電極構造が逆パターンとされた検査部53〜56を有しているため、自己診断にて感度及びダイナミックレンジの検査を適切に行うことができる。   In the embodiment shown in FIG. 7, the change in the physical quantity can be detected based on the change in the capacitance of the comb-like electrode structure in the detection units 91 and 92 by moving the movable part (weight part) 2 in the X1-X2 direction. . In addition, since the comb-like electrode structure includes the inspection units 53 to 56 having a reverse pattern, the sensitivity and the dynamic range can be appropriately inspected by self-diagnosis.

また図7に示す実施形態では、高さ方向(Z)に変位する可動部2と、対向部44に設けられた固定電極45との間の静電容量変化により、高さ方向に生じた加速度等の物理量を検出することが可能となっている。   Further, in the embodiment shown in FIG. 7, the acceleration generated in the height direction due to the capacitance change between the movable portion 2 displaced in the height direction (Z) and the fixed electrode 45 provided in the facing portion 44. It is possible to detect physical quantities such as.

本実施形態では、検出部と検査部との配置について特に限定するものではない。ただし、検出部の領域の面積(検出部が複数に分離されている場合は、各検出部の面積の総和)が、検査部の領域の面積(検査部が複数に分離されている場合は、各検査部の面積の総和)よりも広くされる。   In the present embodiment, the arrangement of the detection unit and the inspection unit is not particularly limited. However, the area of the region of the detection unit (when the detection unit is separated into a plurality of areas, the sum of the areas of each detection unit) is the area of the region of the inspection unit (when the inspection unit is divided into a plurality of areas, The sum of the areas of each inspection section).

また可動部の中央部に検出部を配置し、その両側に検査部を配置することで、検出部と検査部とを可動部内にてバランスよく配置でき、自己診断時に感度やダイナミックレンジの検査を精度よく行うことができる。   In addition, by placing the detection unit in the center of the movable unit and the inspection units on both sides of the detection unit, the detection unit and the inspection unit can be arranged in a well-balanced manner within the movable unit. It can be performed with high accuracy.

本実施形態における物理量センサは、加速度センサ、角速度センサ、衝撃センサ等、物理量センサ全般に適用可能である。また図7に示す2軸検出が可能な物理量センサでは、例えば、Tire Pressure Monitoring System(タイヤ空気圧監視システム)における加速度センサとして用いることができる。   The physical quantity sensor in this embodiment is applicable to all physical quantity sensors such as an acceleration sensor, an angular velocity sensor, and an impact sensor. In addition, the physical quantity sensor capable of two-axis detection shown in FIG. 7 can be used as an acceleration sensor in a Tire Pressure Monitoring System (tire pressure monitoring system), for example.

図7に示す物理量センサS2を用いて以下の実験を行った。
以下、静止状態における図3、図6の寸法について説明する。
実験では、第1の正面ギャップFG1を5.5μm、第2の正面ギャップFG2を4.5μmに固定した。このように第2の正面ギャップFG2を第1の正面ギャップFG1よりも小さく設定した。また第2の背面ギャップBG2を6.8μmに固定した。
The following experiment was conducted using the physical quantity sensor S2 shown in FIG.
Hereinafter, the dimensions of FIGS. 3 and 6 in a stationary state will be described.
In the experiment, the first front gap FG1 was fixed to 5.5 μm, and the second front gap FG2 was fixed to 4.5 μm. In this way, the second front gap FG2 is set smaller than the first front gap FG1. The second back gap BG2 was fixed at 6.8 μm.

また、各櫛歯状電極子の幅寸法T3を、1.25μmとし、電極子間の間隔T4を、1.0μmにし、検出部における電極子の長さ寸法L1を、9.0μmとし、検査部における電極子の長さ寸法L2を7.5μmとした。また検出部における重なり幅T1を3.5μmとし、検査部における重なり幅T2を3.5μmとした。各寸法がどの部分を指しているかについては図3,図6を参照されたい。   Further, the width dimension T3 of each comb-shaped electrode element is set to 1.25 μm, the interval T4 between the electrode elements is set to 1.0 μm, and the length dimension L1 of the electrode element in the detection unit is set to 9.0 μm. The length L2 of the electrode in the part was 7.5 μm. In addition, the overlap width T1 in the detection unit was set to 3.5 μm, and the overlap width T2 in the inspection unit was set to 3.5 μm. Refer to FIG. 3 and FIG. 6 for which part each dimension indicates.

実験では、検出部の第1の背面ギャップBG1の寸法を4μm〜10μmまで1μm刻みで変化させて加速度と容量値C0との関係について求めた。なお実験における加速度とは静電力を指す。   In the experiment, the dimension of the first back gap BG1 of the detection unit was changed from 4 μm to 10 μm in 1 μm increments, and the relationship between the acceleration and the capacitance value C0 was obtained. The acceleration in the experiment refers to electrostatic force.

実験では、検出部の第1の固定電極部に図15に示すパルス電圧(低電圧値(Voltage Low)を0Vに設定)を印加して検出部を構成する櫛歯状電極部が引っ張られる方向での容量値C0を求めた。図15のパルス電圧の高電圧(Voltage High)と定電圧(Voltage Low)とを繰り返し、その間のチャージ(図16に示す容量値C0の測定の概要図を参照)の移動(Q)から静電容量(C=Q/V)を求めた。   In the experiment, the pulse voltage shown in FIG. 15 (low voltage value (Voltage Low) is set to 0V) is applied to the first fixed electrode portion of the detection portion, and the comb-shaped electrode portion constituting the detection portion is pulled. The capacitance value C0 was obtained. The high voltage (Voltage High) and the constant voltage (Voltage Low) of the pulse voltage in FIG. 15 are repeated, and the charge (see the schematic diagram of the measurement of the capacitance value C0 shown in FIG. 16) between them (Q) to electrostatic The capacity (C = Q / V) was determined.

また検査部の第2の固定電極部に図15に示すパルス電圧(低電圧値(Voltage Low)を0Vに設定)を印加して検出部を構成する櫛歯状電極部が離れる方向での容量値C0を求めた。   In addition, the pulse voltage (low voltage value (Voltage Low) is set to 0 V) shown in FIG. 15 is applied to the second fixed electrode portion of the inspection portion, and the capacitance in the direction in which the comb-like electrode portions constituting the detection portion are separated. The value C0 was determined.

図10に示すプラス(+)の加速度とは、検出部における櫛歯状電極部間が引っ張られる方向であり、マイナス(−)の加速度とは、検出部における櫛歯状電極部間が引き離される方向である。   The positive (+) acceleration shown in FIG. 10 is a direction in which the comb-shaped electrode portions in the detection unit are pulled, and the negative (−) acceleration is a separation between the comb-shaped electrode units in the detection unit. Direction.

図10に示すようにマイナスの加速度が作用した状態では、第1の背面ギャップBG1が小さいほど容量値が規定の範囲から外れ、加速度に対する容量値のリニアリティが悪化した。   As shown in FIG. 10, in a state where negative acceleration is applied, the capacitance value deviates from the specified range as the first back gap BG1 is small, and the linearity of the capacitance value with respect to acceleration is deteriorated.

これは、第1の背面ギャップBG1を小さくすればするほど、図4(b)に示すように、櫛歯状電極部が引き離される方向では、第1の背面ギャップBG1にて生じる容量成分の影響が大きくなるためであると考えられる。   This is because, as the first back gap BG1 is made smaller, as shown in FIG. 4B, in the direction in which the comb-shaped electrode portion is separated, the influence of the capacitance component generated in the first back gap BG1. This is thought to be due to an increase in.

続いて固定電極部にバイアス電圧(パルス電圧の低電圧値(Voltage Low=1Vに設定)に相当)を印加しながら容量測定することで可動部を適当な力で移動させたときの容量変化C1を測定した。図17に示す容量変化C1測定の概要図も参照されたい。   Subsequently, the capacitance change C1 when the movable portion is moved with an appropriate force by measuring the capacitance while applying a bias voltage (corresponding to a low voltage value of the pulse voltage (Voltage Low = 1V)) to the fixed electrode portion. Was measured. See also the schematic diagram of capacitance change C1 measurement shown in FIG.

そして容量値C0及び容量変化C1から感度ΔCを求めた。その実験結果が図11に示されている。   And sensitivity (DELTA) C was calculated | required from the capacitance value C0 and the capacitance change C1. The experimental results are shown in FIG.

図11に示す実験結果から、−150G/+150G感度比を求めたのが図12である。感度比は1に近いほどよい。図12に示す実験結果から、第1の背面ギャップBG1を第1の正面ギャップFG1よりも広くすることが好ましいとわかった。これにより感度を低下させることなくダイナミックレンジを広くとることができる。   FIG. 12 shows the -150G / + 150G sensitivity ratio obtained from the experimental results shown in FIG. The closer the sensitivity ratio is to 1, the better. From the experimental results shown in FIG. 12, it was found that it is preferable to make the first back gap BG1 wider than the first front gap FG1. As a result, the dynamic range can be widened without reducing the sensitivity.

また図12の実験結果から第1の背面ギャップBG1/第1の正面ギャップFG1を1.2以上に設定した。   Further, from the experimental results of FIG. 12, the first back gap BG1 / first front gap FG1 was set to 1.2 or more.

続いて、図7に示す物理量センサS2を用いて以下の実験を行った。
以下、静止状態における図3、図6の寸法について説明する。
実験では、第1の正面ギャップFG1を5.5μm、第1の背面ギャップBG1を6.8μm、第2の背面ギャップBG2を6.8μmに固定した。
Subsequently, the following experiment was performed using the physical quantity sensor S2 shown in FIG.
Hereinafter, the dimensions of FIGS. 3 and 6 in a stationary state will be described.
In the experiment, the first front gap FG1 was fixed to 5.5 μm, the first back gap BG1 was fixed to 6.8 μm, and the second back gap BG2 was fixed to 6.8 μm.

また、各櫛歯状電極子の幅寸法T3を、1.25μmとし、電極子間の間隔T4を、1.0μmにし、検出部における電極子の長さ寸法L1を、9.0μmとし、検査部における電極子の長さ寸法L2を7.5μmとした。また検出部における重なり幅T1を3.5μmとし、検査部における重なり幅T2を3.5μmとした。   Further, the width dimension T3 of each comb-shaped electrode element is set to 1.25 μm, the interval T4 between the electrode elements is set to 1.0 μm, and the length dimension L1 of the electrode element in the detection unit is set to 9.0 μm. The length L2 of the electrode in the part was 7.5 μm. In addition, the overlap width T1 in the detection unit was set to 3.5 μm, and the overlap width T2 in the inspection unit was set to 3.5 μm.

実験では、検査部の第2の正面ギャップFG2の寸法を3μm〜8μmまで1μm刻みで変化させてバイアス値(Voltage Low)と容量値Cとの関係について測定した。バイアス値を変化させたときの容量値は、「容量値C」と表記する。   In the experiment, the relationship between the bias value (Voltage Low) and the capacitance value C was measured by changing the size of the second front gap FG2 of the inspection unit in increments of 1 μm from 3 μm to 8 μm. The capacitance value when the bias value is changed is expressed as “capacitance value C”.

図13に示すように、第2の正面ギャップFG2を小さくすればするほどストッパの利きはじめるバイアス値を小さくできる。ストッパが利いている状態とは、バイアス値を上げても容量値Cが変化しない状態をいう。   As shown in FIG. 13, the smaller the second front gap FG2, the smaller the bias value at which the stopper starts to work. The state where the stopper works is a state where the capacitance value C does not change even if the bias value is increased.

図14は、横軸を第2の正面ギャップFG2/第2の背面ギャップBG2とし縦軸をストッパが利きはじめるバイアス値とした関係を示す。図14に示すように、第2の背面ギャップBG2を第2の正面ギャップFG2よりも大きくすれば、バイアス値を適切に低減できることがわかった。これは、第2の背面ギャップBG2を第2の正面ギャップFG2よりも大きくすることで第2の背面ギャップBG2の位置にて生じる容量成分影響を低減させることができるためであると考えられる。   FIG. 14 shows a relationship in which the horizontal axis is the second front gap FG2 / second back gap BG2, and the vertical axis is the bias value at which the stopper starts to work. As shown in FIG. 14, it was found that the bias value can be appropriately reduced by making the second back gap BG2 larger than the second front gap FG2. This is considered to be because the influence of the capacitance component generated at the position of the second back gap BG2 can be reduced by making the second back gap BG2 larger than the second front gap FG2.

BG1 第1の背面ギャップ
BG2 第2の背面ギャップ
FG1 第1の正面ギャップ
FG2 第2の正面ギャップ
S1、S2 物理量センサ
T1、T2 重なり幅
2、22 可動部
3、4、13、14 支持部
3a、4a、13a、14a 脚部
6、7、26、27 アンカ部
8、9、15、17、40〜43ばね部
21 連結ばね
24 梁部
33、91、92 検出部
34、53〜56 検査部
50 第1の可動支持部
51 第1の固定支持部
60 第1の可動電極子
62 第1の固定電極子
66、89 組
80 第1の可動電極部
81 第1の固定電極部
82 第2の可動電極部
83 第2の固定電極部
85 第2の可動支持部
86 第2の固定支持部
87 第2の可動電極子
88 第2の固定電極子
BG1 1st back gap BG2 2nd back gap FG1 1st front gap FG2 2nd front gap S1, S2 Physical quantity sensor T1, T2 Overlap width 2, 22 Movable part 3, 4, 13, 14 Support part 3a, 4a, 13a, 14a Leg part 6, 7, 26, 27 Anchor part 8, 9, 15, 17, 40-43 Spring part 21 Connection spring 24 Beam part 33, 91, 92 Detection part 34, 53-56 Inspection part 50 First movable support 51 First fixed support 60 First movable electrode 62 First fixed electrode 66, 89 Set 80 First movable electrode 81 First fixed electrode 82 Second movable Electrode part 83 Second fixed electrode part 85 Second movable support part 86 Second fixed support part 87 Second movable electrode element 88 Second fixed electrode element

Claims (7)

検出部と検査部とを備え、前記検出部及び前記検査部は、それぞれ可動電極部および固定電極部を有する櫛歯状電極構造であり、
水平面内にて直交する2方向を第1の方向と第2の方向としたとき、前記第1の方向が前記可動電極部の移動方向であり、
前記可動電極部は、前記第1の方向に間隔を空けて配置され前記第2の方向に延出して形成された複数本の可動支持部と、前記第1の方向に向けて各可動支持部の側部から延出し、各可動支持部にて前記第2の方向に間隔を空けて配置された複数本の可動電極子と、を有し、
前記固定電極部は、前記第1の方向に間隔を空けて配置され基端側から先端側への延出方向が前記可動支持部とは逆方向である複数本の固定支持部と、各固定支持部の側部から前記可動電極子の延出方向とは逆方向に延出し、各固定支持部にて前記第2の方向に間隔を空けて配置された複数本の固定電極子と、を有し、
複数本の前記可動支持部と複数本の前記固定支持部とが前記第1の方向に間隔を空けて交互に配列されており、隣り合う前記可動支持部と前記固定支持部とが組にされて、各組の前記可動支持部と前記固定支持部との間にて複数本の前記可動電極子と複数本の前記固定電極子とが前記第2の方向に間隔を空けて交互に配列されており、
前記検出部では、前記可動支持部は第1の可動支持部、前記可動電極子は第1の可動電極子、前記固定支持部は第1の固定支持部、及び前記固定電極子は第1の固定電極子とされ、前記検査部では、前記可動支持部は第2の可動支持部、前記可動電極子は第2の可動電極子、前記固定支持部は第2の固定支持部、及び前記固定電極子は第2の固定電極子とされており、
前記組とされた前記第1の可動電極子の先端と前記第1の固定支持部との間の前記第1の方向への間隔が第1の正面ギャップFG1とされ、前記組とされた前記第2の可動電極子の先端と前記第2の固定支持部との間の前記第1の方向への間隔が第2の正面ギャップFG2とされており、
静止状態から前記可動電極部が移動して、前記第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも狭まるとき前記第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも広がり、前記第1の正面ギャップFG1が静止状態よりも広がるとき前記第2の正面ギャップFG2が静止状態よりも狭まるように、前記第1の可動電極子の前記第1の可動支持部からの延出方向と、前記第2の可動電極子の前記第2の可動支持部からの延出方向とが逆方向とされ、かつ前記第1の固定電極子の前記第1の固定支持部からの延出方向と、前記第2の固定電極子の前記第1の固定支持部からの延出方向とが逆方向とされており、
前記検出部の領域は、前記検査部の領域よりも広く形成されており、
前記静止状態において、前記第2の正面ギャップFG2は、前記第1の正面ギャップFG1よりも小さいことを特徴とする物理量センサ。
A detection unit and an inspection unit, wherein the detection unit and the inspection unit are each a comb-like electrode structure having a movable electrode unit and a fixed electrode unit;
When the two directions orthogonal to each other in the horizontal plane are defined as the first direction and the second direction, the first direction is the moving direction of the movable electrode part,
The movable electrode portion includes a plurality of movable support portions that are arranged with an interval in the first direction and extend in the second direction, and each movable support portion toward the first direction. A plurality of movable electrode elements extending from the side portions of the movable support portions and spaced from each other in the second direction at each movable support portion,
The fixed electrode portion is arranged with a gap in the first direction, and a plurality of fixed support portions whose extending direction from the proximal end side to the distal end side is opposite to the movable support portion; A plurality of fixed electrode elements extending in a direction opposite to the extending direction of the movable electrode element from a side part of the support part, and arranged at intervals in the second direction at each fixed support part; Have
A plurality of the movable support portions and a plurality of the fixed support portions are alternately arranged at intervals in the first direction, and the adjacent movable support portions and the fixed support portions are paired. Then, a plurality of the movable electrode elements and a plurality of the fixed electrode elements are alternately arranged in the second direction with an interval between each set of the movable support part and the fixed support part. And
In the detection unit, the movable support unit is a first movable support unit, the movable electrode unit is a first movable electrode unit, the fixed support unit is a first fixed support unit, and the fixed electrode unit is a first movable electrode unit. In the inspection unit, the movable support unit is a second movable support unit, the movable electrode unit is a second movable electrode unit, the fixed support unit is a second fixed support unit, and the fixed electrode unit. The electrode is a second fixed electrode,
An interval in the first direction between the tip of the first movable electrode element and the first fixed support portion is set as a first front gap FG1, and the set. The distance between the tip of the second movable electrode element and the second fixed support portion in the first direction is a second front gap FG2.
When the movable electrode part moves from the stationary state and the first front gap FG1 becomes narrower than the stationary state, the second front gap FG2 widens more than the stationary state, and the first front gap FG1 remains stationary. Extending direction of the first movable electrode element from the first movable support portion and the second movable electrode element so that the second front gap FG2 becomes narrower than the stationary state when the second front gap FG2 becomes wider. The extending direction from the second movable support part is opposite to the extending direction, and the extending direction of the first fixed electrode element from the first fixed support part and the second fixed electrode element The extending direction from the first fixed support portion is the opposite direction,
The region of the detection unit is formed wider than the region of the inspection unit,
In the stationary state, the second front gap FG2 is smaller than the first front gap FG1.
前記検出部において、隣り合う前記組の間の前記第1の方向への間隔を第1の背面ギャップBG1としたとき、静止状態において、第1の背面ギャップBG1は、前記第1の正面ギャップFG1よりも大きい請求項1記載の物理量センサ。   In the detection unit, when the interval between the adjacent sets in the first direction is the first back gap BG1, in the stationary state, the first back gap BG1 is the first front gap FG1. The physical quantity sensor according to claim 1, which is larger than 1. 静止状態において、第1の背面ギャップBG1/第1の正面ギャップFG1は、1.2以上である請求項2記載の物理量センサ。   3. The physical quantity sensor according to claim 2, wherein in a stationary state, the first back gap BG1 / the first front gap FG1 is 1.2 or more. 前記検査部において、隣り合う前記組の間の前記第1の方向への間隔を第2の背面ギャップBG2としたとき、静止状態において、前記第2の背面ギャップBG2は、前記第2の正面ギャップFG2よりも大きい請求項1ないし3のいずれか1項に記載の物理量センサ。   In the inspection unit, when the interval between the adjacent groups in the first direction is the second back gap BG2, in the stationary state, the second back gap BG2 is the second front gap. The physical quantity sensor according to claim 1, wherein the physical quantity sensor is larger than FG2. 前記検出部を構成する第1の可動電極部及び前記検査部を構成する第2の可動電極部は、可動部の一部とされており、
前記可動部は、ばねにより前記第1の方向に移動可能に支持されている請求項1ないし4のいずれか1項に記載の物理量センサ。
The first movable electrode part constituting the detection part and the second movable electrode part constituting the inspection part are a part of the movable part,
The physical quantity sensor according to claim 1, wherein the movable portion is supported by a spring so as to be movable in the first direction.
前記検出部は前記可動部の中央領域に設けられ、前記検査部は、前記中央領域の前記第1の方向の両側の領域にそれぞれ設けられており、各検査部の領域を足した合計領域は、前記検出部の領域よりも小さくされている請求項5記載の物理量センサ。   The detection unit is provided in a central region of the movable unit, the inspection unit is provided in each region on both sides in the first direction of the central region, and a total region obtained by adding the regions of the inspection units is The physical quantity sensor according to claim 5, wherein the physical quantity sensor is smaller than a region of the detection unit. 前記検査部は前記可動部の四隅に配置される請求項6記載の物理量センサ。   The physical quantity sensor according to claim 6, wherein the inspection unit is disposed at four corners of the movable unit.
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