JP2014079860A - Processing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ウエーハ等の被加工物を加工する切削装置等の加工装置に関する。 The present invention relates to a processing apparatus such as a cutting apparatus that processes a workpiece such as a wafer.
IC、LSI等の数多くのデバイスが表面に形成され、且つ個々のデバイスが分割予定ライン(ストリート)によって区画された半導体ウエーハは、研削装置によって裏面が研削されて所定の厚みに加工された後、切削装置によって分割予定ラインを切削して個々のデバイスに分割され、分割されたデバイスは携帯電話、パソコン等の各種電気機器に広く利用されている。 A semiconductor wafer in which a number of devices such as IC and LSI are formed on the surface, and each device is partitioned by a line to be divided (street), the back surface is ground by a grinding machine and processed to a predetermined thickness. A dividing line is cut by a cutting device to be divided into individual devices, and the divided devices are widely used in various electric devices such as mobile phones and personal computers.
半導体ウエーハ等の円形被加工物を分割予定ラインに沿って切削すると、円形被加工物の外周部分に切れ端である所謂三角チップが形成される。 When a circular workpiece such as a semiconductor wafer is cut along a predetermined division line, a so-called triangular chip that is a cut end is formed on the outer peripheral portion of the circular workpiece.
また、CSP(Chip Size Package)基板やQFN(Quad Flat Non−leaded Package)基板と呼ばれるパッケージ基板は、例えば特開2012−51081号公報に開示されるような切削装置で切削されて、個々の半導体デバイスパッケージに分割される。パッケージ基板は外周に余剰領域を有し、パッケージ基板が分割されると複数の半導体デバイスパッケージと共に余剰領域が分割された端材が発生する。 Further, a package substrate called a CSP (Chip Size Package) substrate or a QFN (Quad Flat Non-Leaded Package) substrate is cut by a cutting apparatus as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-51081, and individual semiconductors. Divided into device packages. The package substrate has a surplus region on the outer periphery, and when the package substrate is divided, an end material in which the surplus region is divided is generated together with a plurality of semiconductor device packages.
一方、電気機器の軽量化又は小型化を達成するために、ウエーハの厚さをより薄く、例えば50μm程度にすることが要求されている。このように薄く研削されたウエーハは取扱いが困難になり、搬送等において破損する恐れがある。 On the other hand, in order to achieve weight reduction or miniaturization of electrical equipment, it is required that the thickness of the wafer be made thinner, for example, about 50 μm. Such thinly ground wafers are difficult to handle and may be damaged during transportation.
そこで、ウエーハのデバイス領域に対応する裏面のみを研削して円形凹部を形成し、デバイス領域を囲繞する外周余剰領域に対応するウエーハの裏面にリング状補強部を形成する研削方法が提案されている。 Therefore, a grinding method has been proposed in which only the back surface corresponding to the device region of the wafer is ground to form a circular recess, and a ring-shaped reinforcing portion is formed on the back surface of the wafer corresponding to the outer peripheral surplus region surrounding the device region. .
このように、裏面の外周にリング状補強部が形成されたウエーハは、リング状補強部が例えば特開2011−61137号公報に開示されるようなリング除去装置により除去された後、ウエーハの表面側から分割予定ラインに沿って分割される。 As described above, the wafer having the ring-shaped reinforcing portion formed on the outer periphery of the back surface is obtained after the ring-shaped reinforcing portion is removed by a ring removing device as disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2011-61137. It is divided along the line to be divided from the side.
ウエーハ等の円形被加工物を切削すると外周領域に端材である所謂三角チップが形成されるが、三角チップが切削加工中や洗浄中に大量に飛散すると切削装置の排水管を詰まらせてしまう恐れがある。ウエーハの破片が大量に発生しても同様の問題を生じさせる恐れがある。 When a circular workpiece such as a wafer is cut, a so-called triangular tip, which is an end material, is formed in the outer peripheral region. However, if a large amount of triangular tip is scattered during cutting or cleaning, the drain pipe of the cutting device is clogged. There is a fear. Large amounts of wafer debris can cause similar problems.
また、パッケージ基板を切削するための切削装置やリング除去装置では、パッケージ基板の端材やリング状補強部を回収する回収ボックスを有するが、頻繁に回収ボックスに溜まった端材やリング状補強部を廃棄する必要があり、非常に手間であるという問題がある。 In addition, a cutting device or a ring removing device for cutting a package substrate has a recovery box for recovering the end material and ring-shaped reinforcing portion of the package substrate, but the end material and ring-shaped reinforcing portion frequently collected in the recovery box. There is a problem that it is very troublesome.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、三角チップや被加工物の破片、端材、リング等の被加工物の一部を含む加工屑による排水管のつまりや加工屑の廃棄の手間を低減しうる加工装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above points, and the object of the present invention is to drain waste from processing scraps including part of a workpiece such as a triangular tip, a piece of workpiece, a scrap, a ring, or the like. It is an object of the present invention to provide a processing apparatus that can reduce the trouble of clogging pipes and disposal of processing waste.
本発明によると、加工装置であって、被加工物を保持する保持手段と、該保持手段で保持された被加工物に加工を施す加工手段と、該保持手段で保持された被加工物を該加工手段で加工して発生した加工屑を粉砕する粉砕手段と、を具備したことを特徴とする加工装置が提供される。 According to the present invention, there is provided a processing device, the holding means for holding the workpiece, the processing means for processing the workpiece held by the holding means, and the workpiece held by the holding means. There is provided a processing apparatus comprising: a pulverizing unit that pulverizes processing waste generated by processing by the processing unit.
好ましくは、加工装置は、粉砕手段で該加工屑を粉砕して形成された粉砕屑を回収する回収手段を更に具備している。好ましくは、加工装置は、加工屑を受ける受け部と、受け部で受けた加工屑を加工装置外に排出する排出路とを更に備え、粉砕手段は排出路に配設されている。 Preferably, the processing apparatus further includes a recovery unit that recovers the pulverized waste formed by pulverizing the processed waste with the pulverizing unit. Preferably, the processing device further includes a receiving portion that receives the processing waste, and a discharge path that discharges the processing waste received by the receiving portion to the outside of the processing device, and the pulverizing unit is disposed in the discharge path.
本発明の加工装置は、加工屑を粉砕する粉砕手段を有するため、加工屑によって排水管が詰まる恐れを低減できる上、粉砕手段によって加工屑の嵩を低減できるため、回収ボックスで回収できる加工屑の量が増え、廃棄の手間を低減できる。 Since the processing apparatus of the present invention has a pulverizing means for pulverizing the processing waste, it can reduce the risk of the drain pipe being clogged with the processing waste and can reduce the bulk of the processing waste by the pulverizing means, so that the processing waste that can be collected in the recovery box The amount of waste can be increased and the time and effort for disposal can be reduced.
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係る加工装置の一種である切削装置2の外観斜視図が示されている。切削装置2は、二つの切削ユニット(切削手段)8A,8Bを有するデュアルカット方式の切削装置であり、特にパッケージ基板4の切削に適している。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, an external perspective view of a cutting device 2 that is a kind of processing device according to an embodiment of the present invention is shown. The cutting device 2 is a dual-cut type cutting device having two cutting units (cutting means) 8A and 8B, and is particularly suitable for cutting the package substrate 4.
即ち、この切削装置2では、保持テーブル6上にパッケージ基板4を吸引保持し、第1切削ユニット8A及び第2切削ユニット8Bでパッケージ基板4の2本の分割予定ラインの同時切削が可能である。
That is, in this cutting device 2, the package substrate 4 is sucked and held on the holding table 6, and the two division lines of the package substrate 4 can be simultaneously cut by the
10は切削すべき領域を撮像するCCDカメラ等を備えた撮像ユニットであり、撮像ユニット10で撮像した画像に基づいてパターンマッチング等の手法により第1切削ユニット8A及び/又は第2切削ユニット8Bで切削すべき領域を検出する。保持テーブル6のX軸方向(加工送り方向)の上流側には、図示しない加工送り手段を保護するための蛇腹カバー12が配設されており、下流側には板状カバー14が配設されている。
保持テーブル6は加工送り手段によりX軸方向(加工送り方向)に移動可能に構成されているとともに、回転可能に構成されている。本実施形態の切削装置2は加工送り手段の全体を覆うように配設されたウォーターケース16を備えている。
The holding table 6 is configured to be movable in the X-axis direction (machining feed direction) by the machining feed means, and is configured to be rotatable. The cutting device 2 according to the present embodiment includes a
20は保持テーブル6の回転機構を覆う防水ケースであり、蛇腹12の一端が防水ケース20に連結されるとともに、板状カバー14の一端部も防水ケース20に連結されている。
22は端材受けプレートであり、その一端がテーパ状に絞り込んだ開口22aを有する塵取り形状に形成されている。端材受けプレート22の開口22a側が下流側の板状カバー14上に所定寸法オーバーラップするように配設されている。
Reference numeral 22 denotes an end material receiving plate, one end of which is formed in a dust removal shape having an opening 22a narrowed in a tapered shape. The end material receiving plate 22 is disposed so that the opening 22a side overlaps the
板状カバー14は、加工送り方向であるX軸方向の中心から両側の図示しない排水路側に向けて低くなるように傾斜させた傾斜面14aを両側に有する屋根型形状に形成されている。更に、板状カバー14の両側面14cは、排水路上に垂下するように形成されている。板状カバー14の下流側は端部壁14bを有する自由端とされており、端部壁14bにはブラシユニット24が取り付けられている。
The plate-
保持テーブル6が往復動するパッケージ基板4の切削加工時には、供給される切削水が切削ブレード9のR方向の回転につれ回り、主に下流側に位置する板状カバー14側に飛散する。よって、デバイスが形成されていない外周部分の切削加工時に生じる端材等の比較的大きな加工屑も、下流側に位置する板状カバー14側に飛散する。
During cutting of the package substrate 4 in which the holding table 6 reciprocates, the supplied cutting water rotates as the cutting blade 9 rotates in the R direction and scatters mainly to the plate-
このような比較的大きな加工屑が飛散する板状カバー14は、金属製で十分大きな強度を有するので、比較的大きな加工屑が飛散しても損傷しにくい。板状カバー14上に飛散した端材等の比較的大きな加工屑は傾斜面14aを滑ってウォーターケース16の排水路中に落下する。
Since the plate-
排水路には端材洗い流し用の噴出水を流れているので、加工屑はこの噴出水により洗い流されるとともに、ブラシユニット24により下流側に吐き出されて加工屑回収ボックス18内に回収される。
Since the effluent for washing off the edge material flows through the drainage channel, the machining waste is washed away by this ejection water and discharged to the downstream side by the
図3に最もよく示されるように、加工屑回収ボックス18内には下方に傾斜した一対の傾斜面26が形成されており、この傾斜面26の下に一対の粉砕ローラ28a,28bからなる粉砕手段28が配設されている。
As best shown in FIG. 3, a pair of
ブラシユニット24により下流側に吐き出されて切削屑回収ボックス18内に落下した加工屑30は傾斜面26を滑って粉砕手段28に供給される。一対の粉砕ローラ28a,28bからなる粉砕手段28により粉砕された加工屑30は細かな粉砕屑32となり切削屑回収ボックス18内に堆積する。
The
本実施形態の切削装置2では、加工屑を粉砕する粉砕手段28を有するため、加工屑によって排水管が詰まる恐れを低減できる上、粉砕手段28によって加工屑の嵩を低減できるため、回収ボックス18で回収できる加工屑の量が増え、廃棄の手間を低減することができる。
Since the cutting device 2 of the present embodiment includes the crushing means 28 for crushing the processing waste, the possibility of clogging the drain pipe due to the processing waste can be reduced, and the bulk of the processing waste can be reduced by the
図4を参照すると、加工装置の他の例である本発明第2実施形態のスピンナ洗浄装置40の一部破断斜視図が示されている。スピンナ洗浄装置40は、例えば切削装置により切削されたウエーハの洗浄に使用される。
Referring to FIG. 4, a partially broken perspective view of a
スピンナ洗浄装置40は、スピンナテーブル機構42と、スピンナテーブル機構42を包囲して配設された洗浄水受け機構44を具備している。スピンナテーブル機構42は、スピンナテーブル46と、スピンナテーブル46を回転駆動する電動モータ48と、電動モータ48を上下方向に移動可能に支持する支持機構50とから構成される。
The
スピンナテーブル46は多孔性材料から形成された吸引保持部46a具備しており、吸引保持部46aが図示しない吸引手段に選択的に連通される。従って、スピンナテーブル46は、吸引保持部46aにウエーハを載置し図示しない吸引手段により負圧を作用させることにより、吸引保持部46a上にウエーハを吸引保持する。
The spinner table 46 includes a
スピンナテーブル46は、電動モータ48の出力軸48aに連結されている。支持機構50は、複数の(本実施形態においては3本)の支持脚52と、支持脚52にそれぞれ連結され電動モータ48に取り付けられた複数(本実施形態においては3本)のエアシリンダ54とから構成される。
The spinner table 46 is connected to the
このように構成された支持機構50は、エアシリンダ54を作動することにより、電動モータ48及びスピンナテーブル46を上昇位置であるウエーハ搬入・搬出位置と、下降位置であるウエーハを洗浄する作業位置(洗浄位置)に位置付け可能である。
The
洗浄水受け機構44は、洗浄水受け容器56と、洗浄水受け容器56を支持する3本(図4には2本のみ図示)の支持脚58と、電動モータ48の出力軸48aに装着されたカバー部材60とから構成される。
The cleaning
スピンナテーブル46の外周部にはクランプ47が配設されている。洗浄水受け容器56の底壁56aには排液口58が形成されており、この排液口58に連通するように粉砕ユニット80が洗浄水受け容器56の底壁56aに装着されている。
A
図5及び図6を参照して、粉砕ユニット80について詳細に説明する。粉砕ユニット80は円筒状ハウジング82を有しており、円筒状ハウジング82が浄水受け容器56の底壁56aに取り付けられている。円筒状ハウジング82の内周には環状の固定刃84が配設されている。
With reference to FIG.5 and FIG.6, the crushing
円筒状ハウジング82内には回転プレート86が収容されており、回転プレート86はモータ88の出力軸90に連結されている。回転プレート86には2個の可動刃92が軸94回りに回転可能に取り付けられている。円筒状ハウジング82の側壁下端部に形成された排出口95には排出路としてのホース96が接続されている、
スピンナ洗浄装置40は、スピンナテーブル46に保持された切削加工後のウエーハWを洗浄するための洗浄水供給手段64及び洗浄後のウエーハWを乾燥するエア供給手段70を具備している。
A
The
洗浄水供給手段64は、スピンナテーブル46に保持された切削加工後のウエーハに向けて洗浄水を噴出する洗浄水ノズル66と、洗浄水ノズル66を支持するアーム68と、アーム68に支持された洗浄水ノズル66を揺動する正転・逆転可能な図示しないモータとから構成される。洗浄水ノズル66はアーム68を介して図示しない洗浄水供給源に接続されている。
The cleaning water supply means 64 is supported by the cleaning
エア供給手段70は、スピンナテーブル46に保持された洗浄後のウエーハWに向けてエア噴出するエアノズル72と、エアノズル72を支持するアーム74と、アーム74に支持されたエアノズル72を揺動する正転・逆転可能なモータとを備えている。エアノズル72はアーム74を介して図示しないエア供給源に接続されている。
The air supply means 70 includes an
ダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された切削加工後のウエーハWは、ウエーハ搬入・搬出位置に上昇されたスピンナテーブル46上に搬入されてから、エアシリンダ54を作動して下降位置である作業位置(洗浄位置)に位置付けられる。
The wafer W after cutting supported by the annular frame F via the dicing tape T is loaded onto the spinner table 46 that has been lifted to the wafer loading / unloading position, and then the
洗浄水供給源に接続された洗浄水ノズル66から洗浄水を噴射しながらスピンナテーブル46を高速で回転させる。これにより、クランプ47が遠心力により環状フレームFをクランプしながら、ウエーハWのスピン洗浄が実施される。
The spinner table 46 is rotated at high speed while spraying cleaning water from a cleaning
洗浄終了後、エアノズル72の噴出口をスピンナテーブル46上に保持されたウエーハWの上方に位置付け、スピンナテーブル46を高速で回転しつつエアノズル72からスピンナテーブル46に保持されているウエーハWに向けてエアを噴出し、ウエーハWの表面を乾燥する。
After completion of the cleaning, the
洗浄工程又は乾燥工程中に飛散した三角チップ等の加工屑は洗浄水受け容器56中に落下し、更に洗浄水受け容器56の底壁56aに形成された排液口58から粉砕ユニット80内に落下する。
The processing chips such as triangular chips scattered during the cleaning process or the drying process fall into the cleaning
モータ88を駆動すると回転プレート86が回転され、回転プレート86の回転に伴って切削屑が固定刃84側に押し付けられる。そして、可動刃92が軸94を中心に回転しながら加工屑を固定刃84に向かって叩き付け、加工屑は可動刃92と固定刃84によって粉砕される。形成された粉砕屑は、回転プレート86と固定刃84との隙間から落下し、排出口95を介してホース96へと排出される。
When the
本実施形態によると、スピンナ洗浄装置40は固定刃84と可動刃92とからなる粉砕手段を備えた粉砕ユニット60を有しているため、細かく粉砕された加工屑が排水路としてのホース96に排出されるので、切削屑によってホース96が詰まる恐れを低減できる。
According to the present embodiment, the
上述した実施形態では本発明を切削装置2及びスピンナ洗浄装置40に適用した例について説明したが、本発明は研削装置、リング除去装置等の他の加工装置にも同様に適用することができる。
In the above-described embodiment, the example in which the present invention is applied to the cutting apparatus 2 and the
2 切削装置
6 保持テーブル
8a,8b 切削ユニット
14 板状カバー
18 加工屑回収ボックス
22 端材受けプレート
28 粉砕手段
28a,28b 粉砕ロール
40 スピンナ洗浄装置
46 スピンナテーブル
66 洗浄水ノズル
72 エアノズル
80 粉砕ユニット
84 固定刃
86 回転プレート
88 モータ
92 可動刃
94 軸
96 ホース
2 Cutting
Claims (3)
被加工物を保持する保持手段と、
該保持手段で保持された被加工物に加工を施す加工手段と、
該保持手段で保持された被加工物を該加工手段で加工して発生した加工屑を粉砕する粉砕手段と、
を具備したことを特徴とする加工装置。 A processing device,
Holding means for holding the workpiece;
Processing means for processing the workpiece held by the holding means;
Pulverizing means for pulverizing processing waste generated by processing the workpiece held by the holding means by the processing means;
A processing apparatus comprising:
該受け部で受けた加工屑を該加工装置外に排出する排出路とを更に具備し、
前記粉砕手段は、該排出路に配設される請求項1記載の加工装置。 A receiving part for receiving the processing waste;
A discharge path for discharging the processing waste received by the receiving portion to the outside of the processing apparatus;
The processing apparatus according to claim 1, wherein the crushing means is disposed in the discharge path.
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106299043A (en) * | 2016-09-05 | 2017-01-04 | 合肥钰芹信息科技有限公司 | A kind of LED wafer cleaning drying device |
KR20190122549A (en) * | 2018-04-20 | 2019-10-30 | 가부시기가이샤 디스코 | Cutting apparatus |
JP2019192846A (en) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 株式会社ディスコ | Cutting device |
WO2020246214A1 (en) * | 2019-06-04 | 2020-12-10 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing device and substrate processing method |
JP2022174036A (en) * | 2018-11-21 | 2022-11-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0516055A (en) * | 1990-02-06 | 1993-01-26 | Sierra Machinery Inc | Processing device provided with chip crusher |
JP2006150247A (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | San-Ai Eco System Co Ltd | Volume reducing apparatus and machine tool having volume reducing apparatus |
-
2012
- 2012-10-17 JP JP2012230050A patent/JP2014079860A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0516055A (en) * | 1990-02-06 | 1993-01-26 | Sierra Machinery Inc | Processing device provided with chip crusher |
JP2006150247A (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | San-Ai Eco System Co Ltd | Volume reducing apparatus and machine tool having volume reducing apparatus |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106299043A (en) * | 2016-09-05 | 2017-01-04 | 合肥钰芹信息科技有限公司 | A kind of LED wafer cleaning drying device |
KR20190122549A (en) * | 2018-04-20 | 2019-10-30 | 가부시기가이샤 디스코 | Cutting apparatus |
JP2019192713A (en) * | 2018-04-20 | 2019-10-31 | 株式会社ディスコ | Cutting device |
JP7075808B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-05-26 | 株式会社ディスコ | Cutting equipment |
KR102658944B1 (en) * | 2018-04-20 | 2024-04-18 | 가부시기가이샤 디스코 | Cutting apparatus |
JP2019192846A (en) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 株式会社ディスコ | Cutting device |
JP2022174036A (en) * | 2018-11-21 | 2022-11-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP7361846B2 (en) | 2018-11-21 | 2023-10-16 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing equipment and substrate processing method |
WO2020246214A1 (en) * | 2019-06-04 | 2020-12-10 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing device and substrate processing method |
JPWO2020246214A1 (en) * | 2019-06-04 | 2020-12-10 | ||
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