JP2014078622A - Printed wiring board, manufacturing method of the same, and thermosetting resin composition - Google Patents

Printed wiring board, manufacturing method of the same, and thermosetting resin composition Download PDF

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Kunpei Yamada
薫平 山田
Toshimasa Nagoshi
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for efficiently manufacturing a printed wiring board which has fine vias on an interlayer insulation layer and achieves excellent reliability.SOLUTION: A manufacturing method of a printed wiring board includes the steps of: forming a seed layer; forming a first pattern formed by a first photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the seed layer; forming a first wiring pattern by an electrolytic plating method and then peeling the first pattern by peeling treatment; forming a second pattern formed by a second photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the first wiring pattern; forming second wiring patterns 6a, 6b by the electrolytic plating method and then peeling the second pattern by the peeling treatment; removing the seed layer; forming a third layer formed by a thermosetting resin composition so as to cover at least parts of the first and second wiring patterns; thermally curing the third layer; and grinding the third layer to expose at least a part of the second wiring pattern.

Description

本発明は、プリント配線板及びその製造方法並びに熱硬化性樹脂組成物に関する。より詳しくは、微細化及び高密度化の要求が高いフリップチップ実装用プリント配線板を充分に効率よく、層間接続を行うことができる製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board, a method for producing the same, and a thermosetting resin composition. More particularly, the present invention relates to a manufacturing method capable of performing interlayer connection sufficiently efficiently and efficiently for a printed wiring board for flip chip mounting which is highly demanded for miniaturization and high density.

プリント配線板は、コアとなる銅張積層体、層間絶縁材及びソルダーレジストの積層体からなる。プリント配線板上には、通常、ダイボンディング材やアンダーフィル材を介して半導体素子が実装され、必要に応じて、トランスファー封止材によって全面封止される場合や、放熱性の向上を目的とした金属キャップ(蓋)が装着される場合がある。近年、半導体装置の軽薄短小化は留まるところを知らず、半導体素子や多層プリント配線板の高密度化が進んでいる。また、半導体装置の上に半導体装置を積むパッケージ・オン・パッケージといった実装形態も盛んに行われており、今後、ますます半導体装置の実装密度は高くなると予想される。   The printed wiring board is made of a copper clad laminate, an interlayer insulating material, and a solder resist laminate that are cores. A semiconductor element is usually mounted on a printed wiring board via a die bonding material or an underfill material, and if necessary, the entire surface is sealed with a transfer sealing material, or for the purpose of improving heat dissipation. A metal cap (lid) may be attached. In recent years, the miniaturization of semiconductor devices is unknown, and the density of semiconductor elements and multilayer printed wiring boards is increasing. In addition, mounting forms such as a package-on-package in which a semiconductor device is stacked on a semiconductor device are actively performed, and it is expected that the mounting density of the semiconductor device will increase further in the future.

ところで、プリント配線板の層間絶縁材には、上下層の電気的な接続を行うためのビアを設ける必要がある。従って、プリント配線板上に実装されるフリップチップのピン数が増加すれば、それに対応可能なビアを設ける必要があるが、従来のプリント配線板は実装密度が低く、また、実装する半導体素子のピン数も数千ピンから一万ピン前後の粗い設計となっているため、小径で狭ピッチなビアを設ける必要がなかった。   By the way, it is necessary to provide vias for electrical connection between the upper and lower layers in the interlayer insulating material of the printed wiring board. Therefore, if the number of flip chip pins mounted on the printed wiring board increases, it is necessary to provide vias that can cope with it. However, the conventional printed wiring board has a low mounting density, and the semiconductor element to be mounted Since the number of pins is roughly designed from several thousand pins to about 10,000 pins, it is not necessary to provide vias with a small diameter and a narrow pitch.

しかしながら、半導体素子の微細化が進展し,ピン数が数万ピンから数十万ピンに増加するに従って、プリント配線板の層間絶縁材のビアも半導体素子のピン数に合わせて、狭小化する必要性が高まっている。最近では、熱硬化性樹脂材料を用いて、レーザーによりビアを設けるプリント配線板の開発が進められている(例えば特許文献1〜4参照)。   However, as miniaturization of semiconductor elements progresses and the number of pins increases from tens of thousands to hundreds of thousands of pins, it is necessary to narrow the vias of the interlayer insulating material of the printed wiring board in accordance with the number of pins of the semiconductor elements. The nature is increasing. Recently, development of a printed wiring board in which a via is provided by a laser using a thermosetting resin material has been advanced (see, for example, Patent Documents 1 to 4).

特開平08−279678号公報JP 08-279678 A 特開平11−054913号公報JP-A-11-054913 特開2001−217543号公報JP 2001-217543 A 特開2003−017848号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-017848

特許文献1〜4に記載されているプリント配線板は、熱硬化性樹脂材料を用いてレーザーによりビアを設けるため、半導体素子のバンプ径やピッチが狭小化した場合においても良好なビアを得ることができる。   Since the printed wiring boards described in Patent Documents 1 to 4 provide vias with a laser using a thermosetting resin material, good vias can be obtained even when the bump diameter and pitch of the semiconductor element are narrowed. Can do.

図12は、従来の多層プリント配線板の製造方法を示す図である。図12(f)に示す多層プリント配線板100Aは表面及び内部に配線パターンを有する。多層プリント配線板100Aは、銅張積層体、層間絶縁材及び金属箔等を積層するとともにエッチング法やセミアディティブ法によって配線パターンを適宜形成することによって得られる。   FIG. 12 is a diagram illustrating a conventional method for manufacturing a multilayer printed wiring board. The multilayer printed wiring board 100A shown in FIG. 12F has a wiring pattern on the surface and inside. The multilayer printed wiring board 100A is obtained by laminating a copper clad laminate, an interlayer insulating material, a metal foil, and the like and appropriately forming a wiring pattern by an etching method or a semi-additive method.

多層プリント配線板100Aは、まず、表面に配線パターン102を有する銅張積層体101の両面に層間絶縁層103を形成する(図12(a)参照)。層間絶縁層103は、熱硬化性組成物をスクリーン印刷機やロールコータを用いて印刷してもよいし、熱硬化性組成物からなるフィルムを予め準備し、ラミネーターを用いて、このフィルムをプリント配線板の表面に貼り付けることもできる。次いで、外部と電気的に接続することが必要な箇所を、YAGレーザーや炭酸ガスレーザーを用いて開口部104を形成し、開口部104周辺のスミア(残渣)をデスミア処理により除去する(図12(b)参照)。次いで、無電解めっき法によりシード層105を形成する(図12(c)参照)。上記シード層105上に感光性樹脂組成物をラミネートし、所定の箇所を露光、現像処理して配線パターン106を形成する(図12(d)参照)。次いで、電解めっき法により配線パターン107を形成し、はく離液により感光性樹脂組成物の硬化物を除去した後、上記シード層105をエッチングにより除去する(図12(e)参照)。以上を繰り返し行い、最表面にソルダーレジスト108を形成することで多層プリント配線板100Aを作製することができる(図12(f)参照)。   In the multilayer printed wiring board 100A, first, an interlayer insulating layer 103 is formed on both surfaces of a copper-clad laminate 101 having a wiring pattern 102 on the surface (see FIG. 12A). The interlayer insulating layer 103 may be printed with a thermosetting composition using a screen printer or a roll coater, or a film made of the thermosetting composition is prepared in advance, and this film is printed using a laminator. It can also be attached to the surface of the wiring board. Next, an opening 104 is formed using a YAG laser or a carbon dioxide gas laser at a portion that needs to be electrically connected to the outside, and smear (residue) around the opening 104 is removed by a desmear process (FIG. 12). (See (b)). Next, a seed layer 105 is formed by an electroless plating method (see FIG. 12C). A photosensitive resin composition is laminated on the seed layer 105, and a predetermined portion is exposed and developed to form a wiring pattern 106 (see FIG. 12D). Next, a wiring pattern 107 is formed by an electrolytic plating method, and after removing the cured product of the photosensitive resin composition by a peeling solution, the seed layer 105 is removed by etching (see FIG. 12E). The multilayer printed wiring board 100A can be manufactured by repeating the above and forming the solder resist 108 on the outermost surface (see FIG. 12F).

このようにして得られた多層プリント配線板100Aは、対応する箇所に半導体素子が実装され、電気的な接続を確保することが可能である。しかしながら、このような方法で製造された多層プリント配線板100Aは、レーザー等の新規な設備導入が必要であること、60μm以下の微小なビアを設けることが困難であること、開口径に合わせて使用するレーザーを使い分ける必要があること、比較的大きな開口や特殊な開口を設けることが困難であること、半導体素子のピン数が増加した場合に膨大な数のビアを設ける必要がありビア形成に時間を要すること等の問題があった。   In the multilayer printed wiring board 100A thus obtained, semiconductor elements are mounted at corresponding locations, and electrical connection can be ensured. However, the multilayer printed wiring board 100A manufactured by such a method requires introduction of new equipment such as a laser, it is difficult to provide a micro via of 60 μm or less, and the opening diameter is adjusted. It is necessary to use different lasers, it is difficult to provide relatively large openings and special openings, and it is necessary to provide a huge number of vias when the number of pins of semiconductor elements increases. There were problems such as taking time.

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、層間絶縁層に微細なビアを有し且つ優れた信頼性を有するプリント配線板を充分に効率的に製造する方法を提供することを目的とする。また、本発明は上記方法によって製造されたプリント配線板、並びに、プリント配線板を製造するのに適した熱硬化性樹脂組成物を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a method for sufficiently efficiently producing a printed wiring board having fine vias in an interlayer insulating layer and having excellent reliability. And Another object of the present invention is to provide a printed wiring board manufactured by the above method and a thermosetting resin composition suitable for manufacturing the printed wiring board.

本発明のプリント配線板の製造方法は、
(I)シード層を形成する工程と、
(II)シード層の少なくとも一部を覆うように、第一の感光性樹脂組成物からなる第一の層を形成後、前記第一の層に対して露光処理及び現像処理を施して第一のパターンを形成する工程と、
(III)電解めっき法により第一の配線パターンを形成後、はく離処理により第一のパターンをはく離する工程と、
(IV)第一の配線パターンの少なくとも一部を覆うように、第二の感光性樹脂組成物からなる第二の層を形成後、前記第二の層に対して露光処理及び現像処理を施して第二のパターンを形成する工程と、
(V)電解めっき法により第二の配線パターンを形成後、はく離処理により第二のパターンをはく離する工程と、
(VI)シード層を除去する工程と、
(VII)第一及び第二の配線パターンの少なくとも一部を覆うように、熱硬化性樹脂組成物からなる第三の層を形成する工程と、
(VIII)第三の層を熱硬化する工程と、
(IX)(VIII)における処理が施された第三の層を研削して第二の配線パターンの少なくとも一部を露出させる工程と、を備える。
The method for producing a printed wiring board according to the present invention includes:
(I) forming a seed layer;
(II) After forming the first layer made of the first photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the seed layer, the first layer is subjected to an exposure process and a development process. Forming a pattern of
(III) After forming the first wiring pattern by the electrolytic plating method, peeling the first pattern by a peeling treatment;
(IV) After forming the second layer made of the second photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the first wiring pattern, the second layer is subjected to exposure processing and development processing. Forming a second pattern
(V) after forming the second wiring pattern by the electrolytic plating method, peeling the second pattern by a peeling treatment;
(VI) removing the seed layer;
(VII) forming a third layer made of a thermosetting resin composition so as to cover at least a part of the first and second wiring patterns;
(VIII) a step of thermosetting the third layer;
(IX) and (VIII) grinding the third layer subjected to the processing to expose at least a part of the second wiring pattern.

上記方法の特徴は、層間接続用の導体(第二の配線パターン)をドライフィルムレジストとして機能する感光性樹脂組成物を利用して形成し、その後に熱硬化性樹脂組成物を用いて層間絶縁材を形成し、化学研磨等の手法を用いて研削することで、一括で層間絶縁層に微細なビアを形成するところにある。かかる方法によれば、図12に示したような、従来のプリント配線板の製造方法と比較して、プリント配線板を充分に効率的に形成できる。なお、本発明で層間絶縁層の形成に用いる層間絶縁材は、液状及びフィルム状のいずれも適用可能であるが、導体回路上の層間絶縁層の厚さを精度良く制御するには、予め厚さを管理しているフィルム状層間絶縁材が好適である。また、このようにして製造されたプリント配線板は、プリント配線板に一般的に行われている各種加工処理、例えば、表面配線パターン上のニッケル/金めっきやはんだ処理等を施すことができる。   A feature of the above method is that a conductor (second wiring pattern) for interlayer connection is formed using a photosensitive resin composition that functions as a dry film resist, and then interlayer insulation is performed using a thermosetting resin composition. By forming a material and grinding it using a method such as chemical polishing, a fine via is formed in the interlayer insulating layer at once. According to this method, the printed wiring board can be formed sufficiently efficiently as compared with the conventional method for manufacturing a printed wiring board as shown in FIG. The interlayer insulating material used for forming the interlayer insulating layer in the present invention can be either liquid or film-like. However, in order to accurately control the thickness of the interlayer insulating layer on the conductor circuit, the interlayer insulating material is previously thick. A film-like interlayer insulating material whose thickness is controlled is suitable. In addition, the printed wiring board manufactured in this way can be subjected to various processing processes generally performed on the printed wiring board, such as nickel / gold plating or soldering treatment on the surface wiring pattern.

上記方法において、上記(III)における感光性樹脂組成物(第一のパターン)の除去は、(V)における感光性樹脂組成物(第二のパターン)の除去と一括して行ってもよい。   In the above method, the removal of the photosensitive resin composition (first pattern) in (III) may be performed together with the removal of the photosensitive resin composition (second pattern) in (V).

上記方法において、上記(VIII)における硬化温度は、150℃〜250℃であり、且つ加熱時間が30分〜300分であることが好ましい。   In the said method, it is preferable that the curing temperature in said (VIII) is 150 to 250 degreeC, and heating time is 30 minutes to 300 minutes.

また、上記(VIII)工程における熱硬化処理は、不活性ガスの雰囲気で行われることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the thermosetting process in the said (VIII) process is performed in the atmosphere of an inert gas.

上記方法において、第一の配線パターン上の第二の配線パターンの厚さTは2μm〜100μmであることが好ましく、第一の配線パターン上の第三の層(熱硬化性樹脂組成物)の厚さTは2μm〜100μmであることが好ましい。また、第一の層の厚さTに対する第二の層の厚さTの比(T/T)は1.0〜2.0であることが好ましい。 In the above method, the thickness T 1 of the second wiring pattern on the first wiring pattern is preferably 2 μm to 100 μm, and the third layer (thermosetting resin composition) on the first wiring pattern. The thickness T2 is preferably 2 μm to 100 μm. In addition, the ratio (T 2 / T 1 ) of the thickness T 2 of the second layer to the thickness T 1 of the first layer is preferably 1.0 to 2.0.

本発明は、上記方法によって製造されたプリント配線板であって、第三の層が有する第二の配線パターンの直径が60μm以下であるプリント配線板に関する。また、このプリント配線板は、第二の配線パターンの厚さTに対する第三の層の厚さTの比(T/T)が、1.0〜2.0であることが好ましい。また、このプリント配線板は、第三の層が有する第二の配線パターンの最小直径Rminに対する前記第二配線パターンの高さHの比(H/Rmin)が0.1〜2.0であることが好ましい。 The present invention relates to a printed wiring board produced by the above method, wherein the second wiring pattern of the third layer has a diameter of 60 μm or less. In the printed wiring board, the ratio (T 2 / T 1 ) of the thickness T 2 of the third layer to the thickness T 1 of the second wiring pattern is 1.0 to 2.0. preferable. In the printed wiring board, the ratio (H / R min ) of the height H of the second wiring pattern to the minimum diameter R min of the second wiring pattern of the third layer is 0.1 to 2.0. It is preferable that

また本発明は、上記方法において使用される熱硬化性樹脂組成物であって、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリアミドイミド樹脂及び熱硬化性ポリイミド樹脂からなる群より選択される少なくとも一種を含む樹脂組成物と、最大粒径が5μm以下であり且つ平均粒径が1μm以下である無機フィラーとを含有する熱硬化性樹脂組成物に関する。   Further, the present invention is a thermosetting resin composition used in the above method, which includes at least one selected from the group consisting of an epoxy resin, a phenol resin, a polyamideimide resin, and a thermosetting polyimide resin. And a thermosetting resin composition containing an inorganic filler having a maximum particle size of 5 μm or less and an average particle size of 1 μm or less.

なお、ここでいう無機フィラーの最大粒径及び平均粒径は日機装株式会社製の動的光散乱式ナノトラック粒度分布計「UPA−EX150」(日機装株式会社製)又はレーザ回折散乱式マイクロトラック粒度分布計「MT−3100」(日機装株式会社製)を用いて測定した値を意味する。   The maximum particle size and the average particle size of the inorganic filler here are the dynamic light scattering nanotrack particle size distribution meter “UPA-EX150” (manufactured by Nikkiso Co., Ltd.) manufactured by Nikkiso Co., Ltd. or the laser diffraction scattering microtrack particle size. It means a value measured using a distribution meter “MT-3100” (manufactured by Nikkiso Co., Ltd.).

本発明によれば、層間絶縁層に微細なビアを有し且つ優れた信頼性を有するプリント配線板を充分に効率的に製造できる。   According to the present invention, a printed wiring board having fine vias in an interlayer insulating layer and having excellent reliability can be manufactured sufficiently efficiently.

プリント配線板の両表面にシード層を形成した状態を模式的に示す端面図である。It is an end view which shows typically the state where the seed layer was formed in both surfaces of a printed wiring board. プリント配線板の両表面に第一の感光性樹脂組成物からなる第一の層を形成し、露光及び現像処理した状態を模式的に示す端面図である。It is an end view which shows typically the state where the 1st layer which consists of the 1st photosensitive resin composition was formed in both surfaces of a printed wiring board, and it exposed and developed. プリント配線板の両表面に第一の配線パターンを形成した状態を模式的に示す端面図である。It is an end view which shows typically the state where the 1st wiring pattern was formed in both surfaces of a printed wiring board. 第一の感光性樹脂組成物からなる第一の層をはく離した状態を模式的に示す端面図である。It is an end elevation which shows typically the state where the 1st layer which consists of the 1st photosensitive resin composition was exfoliated. プリント配線板の両表面に第二の感光性樹脂組成物からなる第二の層を形成し、露光及び現像処理した状態を模式的に示す端面図である。It is an end elevation which shows typically the state where the 2nd layer which consists of the 2nd photosensitive resin composition was formed in both surfaces of a printed wiring board, and it exposed and developed. プリント配線板の両表面に第二の配線パターンを形成した状態を模式的に示す端面図である。It is an end elevation which shows typically the state where the 2nd wiring pattern was formed in both surfaces of a printed wiring board. 第二の感光性樹脂組成物からなる第二の層をはく離した状態を模式的に示す端面図である。It is an end elevation which shows typically the state where the 2nd layer which consists of the 2nd photosensitive resin composition was exfoliated. プリント配線板の両表面のシード層を除去した状態を模式的に示す端面図である。It is an end view which shows typically the state which removed the seed layer of both surfaces of a printed wiring board. プリント配線板の両表面に熱硬化性樹脂組成物からなる第三の層を形成した状態を模式的に示す端面図である。It is an end elevation which shows typically the state where the 3rd layer which consists of a thermosetting resin composition was formed in both surfaces of a printed wiring board. 図9に示すプリント配線板にデスミア処理を施して第二の配線パターン(層間接続用の導体)の一部を露出させた状態を模式的に示す端面図である。FIG. 10 is an end view schematically showing a state where a part of the second wiring pattern (interlayer connection conductor) is exposed by performing a desmear process on the printed wiring board shown in FIG. 9. 図1から図10を繰り返し、両表面にソルダーレジスト及びニッケル/金層を有する多層プリント配線板を模式的に示す端面図である。FIG. 11 is an end view schematically showing a multilayer printed wiring board having a solder resist and a nickel / gold layer on both surfaces by repeating FIGS. 1 to 10. 従来の多層プリント配線板の製造方法を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing method of the conventional multilayer printed wiring board.

以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。以下の説明では、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。更に、図面の寸法比率は図示の比率に限られるものではない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, the positional relationship such as up, down, left and right is based on the positional relationship shown in the drawings unless otherwise specified. Further, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the illustrated ratios.

ここでは、図1に示す態様のプリント配線板(内層基板)10から、図11に示す層間絶縁材に微細なビアを設けた多層プリント配線板200を製造する方法について説明する。なお、本発明のプリント配線板の製造方法は、微細化が進むフリップチップ型の半導体素子を実装する形態において特に好適である。また、実装される半導体素子のサイズが大きく、エリアアレイで数万バンプの電気的な接続を必要とするプリント配線板で特に好適である。   Here, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board 200 in which fine vias are provided in the interlayer insulating material shown in FIG. 11 from the printed wiring board (inner layer substrate) 10 shown in FIG. 1 will be described. Note that the method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention is particularly suitable in the form of mounting a flip-chip type semiconductor element that is increasingly miniaturized. In addition, the semiconductor device to be mounted is large in size, and is particularly suitable for a printed wiring board that requires electrical connection of tens of thousands of bumps in an area array.

図1を参照しながら、プリント配線板(内層基板)10の製造方法について説明する。まず、表面に銅箔を有する積層体1を準備する。銅張積層体の銅箔を全面エッチングにより除去して、デスミア等の粗化処理を施した後、無電解めっきやスパッタ処理によりシード層2を形成し、プリント配線板10を得る((I)工程)。
なお、シード層2とは、一般的に、薄い金属性の皮膜であり、銅、錫、ニッケル、パラジウム等が挙げられるが、銅が好ましい。前記シード層2の厚さは特に制限はないが、0.1μm〜1.0μmが好ましい。配線パターンを形成する前にシード層2を形成することにより、電解銅めっき法が可能となり、選択的に配線パターンを形成することができる。なお、回路の材質は、銅に限定されない。積層体1は銅箔が張り付けられていないものを予め準備しても構わない。また、シード層を形成する前に、積層体1にドリル加工を施し、スルーホールを形成しても構わない。プリント配線板10の準備については、既知の方法を用いることができる。
A method for manufacturing the printed wiring board (inner layer substrate) 10 will be described with reference to FIG. First, the laminated body 1 which has a copper foil on the surface is prepared. After removing the copper foil of the copper-clad laminate by etching on the entire surface and applying a roughening treatment such as desmear, the seed layer 2 is formed by electroless plating or sputtering treatment to obtain the printed wiring board 10 ((I) Process).
The seed layer 2 is generally a thin metallic film, such as copper, tin, nickel, palladium, etc., but copper is preferred. The thickness of the seed layer 2 is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm to 1.0 μm. By forming the seed layer 2 before forming the wiring pattern, an electrolytic copper plating method can be performed, and the wiring pattern can be selectively formed. The material of the circuit is not limited to copper. The laminate 1 may be prepared in advance without a copper foil attached thereto. Further, before the seed layer is formed, the laminated body 1 may be drilled to form a through hole. A known method can be used for the preparation of the printed wiring board 10.

次いで、図2(a)に示すように、プリント配線板10の両面に後述する感光性樹脂組成物からなる第一の層3を形成し、マスクパターンを通して活性光線を照射することにより、第一の層3の所定部分を露光し、露光部の第一の層を光硬化させる((II)工程の露光処理)。活性光線の光源としては、公知の光源を用いることができるが、例えば、カーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、キセノンランプ等の紫外線を有効に放射するものを使用できる。また、直接描画方式のダイレクトレーザ露光を用いてもよい。露光量は使用する装置や感光性樹脂組成物の組成によって異なるが、好ましくは10mJ/cm〜600mJ/cmであり、より好ましくは20mJ/cm〜400mJ/cmである。露光量が10mJ/cm未満であると光硬化が不充分となりやすく、他方、600mJ/cmを超えると光硬化が過剰となり、第一の層3の開口形状を安定して得ることが困難となる傾向となる。 Next, as shown in FIG. 2 (a), the first layer 3 made of a photosensitive resin composition described later is formed on both surfaces of the printed wiring board 10 and irradiated with actinic rays through a mask pattern. A predetermined portion of the layer 3 is exposed and the first layer of the exposed portion is photocured (exposure process in step (II)). A known light source can be used as the actinic ray light source. For example, a light source that effectively emits ultraviolet rays, such as a carbon arc lamp, a mercury vapor arc lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, and a xenon lamp can be used. Further, direct drawing direct laser exposure may be used. Although exposure amount varies depending on the composition of the device or a photosensitive resin composition to be used, preferably 10mJ / cm 2 ~600mJ / cm 2 , more preferably 20mJ / cm 2 ~400mJ / cm 2 . If the exposure amount is less than 10 mJ / cm 2 , the photocuring tends to be insufficient, and if it exceeds 600 mJ / cm 2 , the photocuring becomes excessive and it is difficult to stably obtain the opening shape of the first layer 3. It becomes the tendency to become.

次いで、現像により露光部以外の第一の層3の両表面を除去することで、図2(b)に示すようにプリント配線板の両面に第一のパターン3a,3bを形成する((II)工程の現像処理)。このときに用いる現像液としては、例えば、20℃〜50℃の炭酸ナトリウムの希薄溶液(1〜5質量%水溶液)等のアルカリ現像液が用いられ、スプレー、揺動浸漬、ブラッシング及びスクラッピング等の公知の方法により現像する。これにより所定の第一のパターン3a,3bが形成される。   Next, by removing both surfaces of the first layer 3 other than the exposed portion by development, first patterns 3a and 3b are formed on both surfaces of the printed wiring board as shown in FIG. 2B ((II ) Process development process). As the developer used at this time, for example, an alkali developer such as a dilute solution of sodium carbonate (1 to 5% by mass aqueous solution) at 20 ° C. to 50 ° C. is used, and spraying, rocking immersion, brushing, scraping, etc. Development is performed by a known method. Thus, predetermined first patterns 3a and 3b are formed.

次いで、図3に示すように、銅電解めっき等の電解めっき法により第一の配線パターン4a,4bを形成する((III)工程のめっき処理)。第一の配線パターン4a,4bの厚さは、特に限定するものではないが、1μm〜20μmが好ましい。   Next, as shown in FIG. 3, first wiring patterns 4a and 4b are formed by an electrolytic plating method such as copper electrolytic plating (plating treatment in step (III)). The thickness of the first wiring patterns 4a and 4b is not particularly limited, but is preferably 1 μm to 20 μm.

次いで、図4に示すように、はく離液により、第一のパターン3a,3bをはく離する((III)工程のはく離処理)。   Next, as shown in FIG. 4, the first patterns 3a and 3b are peeled off by a peeling liquid (peeling process in the step (III)).

次いで、図5(a)に示すように、感光性樹脂組成物からなる第二の層5を形成し、マスクパターンを通して活性光線を照射することにより、第二の層5の所定部分を露光し、露光部の第二の層を光硬化させる((IV)工程の露光処理)。   Next, as shown in FIG. 5A, a second layer 5 made of a photosensitive resin composition is formed, and a predetermined portion of the second layer 5 is exposed by irradiating actinic rays through a mask pattern. Then, the second layer of the exposure part is photocured (exposure process in step (IV)).

次いで、現像により露光部以外の第二の層5の両表面を除去することで、図5(b)に示すようなプリント配線板の両面に第二のパターン5a,5bを形成する((IV)工程の現像処理)。   Next, by removing both surfaces of the second layer 5 other than the exposed portion by development, second patterns 5a and 5b are formed on both surfaces of the printed wiring board as shown in FIG. 5B ((IV ) Process development process).

次いで、図6に示すように、銅電解めっき等の電解めっき法により第二の配線パターン6a,6bを形成する((V)工程のめっき処理)。   Next, as shown in FIG. 6, second wiring patterns 6a and 6b are formed by an electrolytic plating method such as copper electrolytic plating (plating process in step (V)).

次いで、図7に示すように、はく離液により、第二のパターン5a,5bをはく離する((V)工程のはく離処理)。   Next, as shown in FIG. 7, the second patterns 5a and 5b are peeled off by the peeling liquid (peeling process in step (V)).

第二の配線パターン6a,6bの厚さTは、好ましくは2μm〜100μmであり、より好ましくは5μm〜50μmである。第二の配線パターン6a,6bの厚さTが100μmより厚い場合、微細なパターンを形成することが困難となる傾向がある。他方、厚さが2μm未満の配線パターンは作製しにくいという事情がある。第二の配線パターン6a,6bの厚さTは、図7に示す通り、第一の配線パターン4a,4b上の第二の配線パターン6a,6bの厚さをいう。 The thickness T 1 of the second wiring patterns 6a and 6b is preferably 2 μm to 100 μm, and more preferably 5 μm to 50 μm. Second wiring patterns 6a, when the thickness T 1 of the 6b is larger than 100 [mu] m, tend to be difficult to form a fine pattern. On the other hand, there is a situation that it is difficult to produce a wiring pattern having a thickness of less than 2 μm. Second wiring patterns 6a, the thickness T 1 of 6b, as shown in FIG. 7, the first wiring pattern 4a, on 4b second wiring patterns 6a, refers to the thickness of 6b.

次いで、図8に示すようにエッチング液を用いてシード層2を除去する((VI)工程)。   Next, as shown in FIG. 8, the seed layer 2 is removed using an etching solution (step (VI)).

次いで、図9に示すように、プリント配線板の両面(第一及び第二の配線パターン4a,4b、6a,6b)を覆うように、後述する熱硬化性樹脂組成物からなる第三の層7を形成する((VII)工程)。第三の層7を形成する工程では、液状の場合は公知のスクリーン印刷、ロールコータにより塗布する工程、フィルム状の場合は真空ラミネート等により貼り付ける工程を経ることにより、第三の層7をプリント配線板上に形成させる。次いで、形成した第三の層7を熱硬化させる((VIII)工程)。熱硬化性樹脂組成物としては、液状及びフィルム状のいずれも適用可能であるが、第三の層7の厚さを精度良く制御するには、予め厚さを管理しているフィルム状のものを好適に用いることができる。   Next, as shown in FIG. 9, a third layer made of a thermosetting resin composition to be described later so as to cover both surfaces (first and second wiring patterns 4a, 4b, 6a, 6b) of the printed wiring board. 7 is formed (step (VII)). In the step of forming the third layer 7, in the case of liquid, a known screen printing, a step of applying by a roll coater, and in the case of a film form, a step of applying by vacuum laminating or the like, the third layer 7 is formed. It is formed on a printed wiring board. Next, the formed third layer 7 is thermally cured (step (VIII)). As the thermosetting resin composition, both liquid and film can be applied. However, in order to control the thickness of the third layer 7 with high accuracy, the thickness is controlled in advance. Can be suitably used.

第三の層7の厚さTは、好ましくは2μm〜100μmであり、より好ましくは5μm〜50μmである。第三の層7の厚さTが100μmより厚い場合、微細なパターンを埋め込むことが困難となる傾向がある。他方、熱硬化性樹脂組成物からなる厚さ2μm未満のフィルムは作製しにくいという事情がある。第三の層7の厚さTは、図9に示す通り、第一の配線パターン4a,4b上の第三の層7の厚さをいう。また、第二の配線パターン6a,6bの厚さTと第三の層7の厚さTは同じ厚さであることが好ましい。 The thickness T2 of the third layer 7 is preferably 2 μm to 100 μm, more preferably 5 μm to 50 μm. When the thickness T 2 of the third layer 7 is thicker than 100 [mu] m, there is a tendency that it is difficult to embed a fine pattern. On the other hand, there is a situation that a film having a thickness of less than 2 μm made of a thermosetting resin composition is difficult to produce. The thickness T 2 of the third layer 7, as shown in FIG. 9, the first wiring pattern 4a, refers to the thickness of the third layer 7 on 4b. Further, it is preferable that the second wiring pattern 6a, the thickness of 6b T 1 and the thickness T 2 of the third layer 7 are the same thickness.

上記製造方法において、第二の配線パターン6a,6bの厚さTに対する第三の層7の厚さTの比(T/T)は、好ましくは1.0〜2.0であり、より好ましくは、1.0〜1.5である。T/Tが1.0より小さい場合、第一及び第二の配線パターン4a,4b、6a,6bを熱硬化性樹脂組成物(第三の層7)で埋め込むことができないためである。逆に、T/Tが2.0より大きい場合、第二の配線パターン6a,6b上の第三の層7が厚くなり、その結果、第三の層7が熱硬化してなる層に対してデスミア処理等を施して第二の配線パターン6a,6bを露出させるのに時間が掛かるだけでなく、デスミア液の劣化の原因となりやすい。 In the above manufacturing method, the ratio (T 2 / T 1 ) of the thickness T 2 of the third layer 7 to the thickness T 1 of the second wiring patterns 6a and 6b is preferably 1.0 to 2.0. Yes, more preferably 1.0 to 1.5. This is because when T 2 / T 1 is smaller than 1.0, the first and second wiring patterns 4a, 4b, 6a, and 6b cannot be embedded with the thermosetting resin composition (third layer 7). . On the other hand, when T 2 / T 1 is larger than 2.0, the third layer 7 on the second wiring patterns 6a and 6b becomes thick, and as a result, the third layer 7 is thermally cured. However, it takes time to expose the second wiring patterns 6a and 6b by applying a desmear process or the like, and tends to cause deterioration of the desmear liquid.

熱硬化性樹脂組成物の熱硬化処理では、熱硬化温度が150℃〜250℃であり、硬化時間が30分〜300分であることが好ましい。また、より好ましくは硬化温度が160℃〜200℃であり、硬化時間が30分〜120分である。硬化温度が150℃より低く、硬化時間が30分より短いと、熱硬化が不十分となり、その後のデスミア処理で研削及びはく離され易くなり樹脂が劣化し易くなる。一方、硬化温度が250℃より高く、硬化時間が300分より長いと、銅表面の酸化が進み、銅界面ではく離が発生し易くなるためである。熱硬化には、クリーンオーブンが一般的に用いられ、銅の酸化を抑制するため、窒素等の不活性ガスの雰囲気中で硬化を行っても良い。   In the thermosetting treatment of the thermosetting resin composition, the thermosetting temperature is preferably 150 ° C. to 250 ° C., and the curing time is preferably 30 minutes to 300 minutes. More preferably, the curing temperature is 160 ° C. to 200 ° C., and the curing time is 30 minutes to 120 minutes. When the curing temperature is lower than 150 ° C. and the curing time is shorter than 30 minutes, the thermal curing becomes insufficient, and the resin is easily deteriorated by being easily ground and peeled by the subsequent desmear treatment. On the other hand, if the curing temperature is higher than 250 ° C. and the curing time is longer than 300 minutes, the oxidation of the copper surface proceeds, and peeling easily occurs at the copper interface. A clean oven is generally used for heat curing, and curing may be performed in an atmosphere of an inert gas such as nitrogen in order to suppress copper oxidation.

次いで、図10に示すように、熱硬化処理後の第三の層7の表面を研削して第二の配線パターン6a,6bを露出させる((IV)工程)。第二の配線パターン6a,6bの露出は、後述のデスミア処理によって実施してもよいし、第三の層7が厚い場合には研磨(機械研磨や化学機械研磨(CMP)等)によって実施してもよい。
研磨処理を実施する場合、具体的には、研磨機やバックグラインダー等の装置を用いて、紙や布等に研磨材を接着した研磨布紙やサンドペーパーで研削する。特に、研磨材は限定するものではないが、溶融アルミナ、炭化ケイ素等の人造研磨材やガーネットやエメリー等の天然研磨材が利用される。特に、砥粒の粒度は限定するものではないが、表面に傷が残らないように、最後には#1500以上で研削するのが望ましい。更に、この研磨工程と後述のデスミア工程は各々個別の装置で行っても良いし、これら工程を一連の工程として組み込んだ装置で行っても良い。しかしながら、機械的研磨を行ってもその後のデスミア処理はめっき銅との密着性向上を図る上で必要となることから、デスミア処理等で研削することが好ましい。
また、前記研磨処理を実施する場合、プリント配線板の片面毎でもよいが、両面同時に行うことが、生産性の点から好ましい。さらに、デスミア処理による研削が、生産性の点からより好ましい。
Next, as shown in FIG. 10, the surface of the third layer 7 after the thermosetting treatment is ground to expose the second wiring patterns 6a and 6b (step (IV)). The exposure of the second wiring patterns 6a and 6b may be performed by a desmear process which will be described later. When the third layer 7 is thick, it is performed by polishing (mechanical polishing, chemical mechanical polishing (CMP) or the like). May be.
When carrying out the polishing treatment, specifically, grinding is performed with abrasive cloth paper or sandpaper obtained by adhering an abrasive to paper or cloth using an apparatus such as a grinder or a back grinder. In particular, the abrasive is not limited, but artificial abrasives such as fused alumina and silicon carbide, and natural abrasives such as garnet and emery are used. In particular, the grain size of the abrasive grains is not limited, but it is desirable to grind with # 1500 or more at the end so as not to leave scratches on the surface. Furthermore, this polishing process and the desmear process described later may be performed by individual apparatuses, or may be performed by an apparatus incorporating these processes as a series of processes. However, even if mechanical polishing is performed, the subsequent desmear treatment is necessary for improving the adhesion with the plated copper, and therefore it is preferable to perform grinding by desmear treatment or the like.
Moreover, when implementing the said grinding | polishing process, although it may be for every single side | surface of a printed wiring board, it is preferable from a point of productivity to perform both surfaces simultaneously. Furthermore, grinding by desmear treatment is more preferable from the viewpoint of productivity.

上記デスミア処理は、例えば、過マンガン酸ナトリウム液、水酸化ナトリウム液、過マンガン酸カリウム液、クロム液、硫酸等の混合液に被処理基板を浸漬することによって実施できる。具体的には、熱湯や所定の膨潤液を用いて被処理基板を膨潤処理した後、過マンガン酸ナトリウム液等で第三の層7の表層を研削し、還元(中和)を行った後、水洗、湯洗、乾燥を行う。1回の処理を行っても研削が不充分な場合は複数回処理を行ってもよい。なお、デスミア処理は上記のものに限定されない。また、デスミア処理後に、再度、第三の層7の熱硬化を行ってもよい。用いる熱硬化性樹脂によっても効果は異なるが、熱硬化させること、ガラス転移温度を上げることができるだけでなく、低熱膨張化を図ることができるからである。   The desmear treatment can be performed, for example, by immersing the substrate to be treated in a mixed solution of sodium permanganate solution, sodium hydroxide solution, potassium permanganate solution, chromium solution, sulfuric acid, or the like. Specifically, after the substrate to be treated is swelled with hot water or a predetermined swelling liquid, the surface layer of the third layer 7 is ground with a sodium permanganate solution or the like, and reduced (neutralized). Wash, wash, and dry. If grinding is insufficient even after performing the process once, the process may be performed multiple times. The desmear process is not limited to the above. Further, after the desmear treatment, the third layer 7 may be thermally cured again. Although the effect varies depending on the thermosetting resin to be used, it is possible not only to perform thermosetting and raise the glass transition temperature, but also to achieve low thermal expansion.

次いで、図11に示すように、(I)工程から(IV)工程を多層プリント配線板100の表裏の両面ともに数回繰り返した後、最外層にソルダーレジスト8を形成し、市販の無電解ニッケル/金めっき液等を用いてめっき処理を施すことによりニッケル/金層9を形成することで、多層プリント配線板200を得ることができる。   Next, as shown in FIG. 11, after repeating the steps (I) to (IV) several times on both the front and back surfaces of the multilayer printed wiring board 100, a solder resist 8 is formed on the outermost layer, and a commercially available electroless nickel The multilayer printed wiring board 200 can be obtained by forming the nickel / gold layer 9 by performing a plating process using a / gold plating solution or the like.

第三の層7が有する層間接続用の導体の直径(図10に示すR)は、好ましくは60μm以下である。また、第三の層7が有する最小直径Rminに対する当該導体の高さHの比(H/Rmin)は、好ましくは0.1〜2.0であり、より好ましくは0.2〜1.0である。D/Rminが0.1未満である場合、径の小さい開口部を設ける際に第三の層7が薄くなり過ぎて安定した第三の層7を得ることが難しくなるためである。逆に、D/Rminが2.0を超える場合、細長い層間接続用の導体を形成することになり、第三の層7を形成する際に、層間接続用の導体が倒れるなどの不具合が発生し易くなるためである。開口の形状は、円形状であるが、楕円形等であってもよい。なお、開口の形成が円以外の場合、直径Rは、円相当直径を用いればよい。 The diameter of the conductor for interlayer connection (R shown in FIG. 10) of the third layer 7 is preferably 60 μm or less. Further, the ratio (H / R min ) of the height H of the conductor to the minimum diameter R min of the third layer 7 is preferably 0.1 to 2.0, more preferably 0.2 to 1. .0. This is because, when D / R min is less than 0.1, it is difficult to obtain a stable third layer 7 because the third layer 7 becomes too thin when an opening having a small diameter is provided. On the contrary, when D / R min exceeds 2.0, a long and thin interlayer connection conductor is formed, and when the third layer 7 is formed, there is a problem that the interlayer connection conductor collapses. It is because it becomes easy to generate | occur | produce. The shape of the opening is circular, but may be elliptical or the like. When the opening is formed other than a circle, the diameter R may be a circle equivalent diameter.

上記の多層プリント配線板100,200は微細化及び高密度化が進むフリップチップ型の半導体素子を実装する形態において特に好適である。また、実装される半導体素子のサイズが大きく、エリアアレイで数万から数十万バンプの電気的な接続を必要とするプリント配線板で特に好適である。   The multilayer printed wiring boards 100 and 200 are particularly suitable in the form of mounting a flip chip type semiconductor element whose miniaturization and density increase. Further, it is particularly suitable for a printed wiring board in which the size of a semiconductor element to be mounted is large and electrical connection of tens of thousands to hundreds of thousands of bumps is required in an area array.

次に、上述の多層プリント配線板100,200の製造に用いられる感光性樹脂組成物及び熱硬化性樹脂組成物について詳細に説明するが、本発明はこれらの樹脂組成に限定されるものではない。   Next, although the photosensitive resin composition and thermosetting resin composition used for manufacture of the above-mentioned multilayer printed wiring boards 100 and 200 will be described in detail, the present invention is not limited to these resin compositions. .

多層プリント配線板100,200の製造に用いる感光性樹脂組成物は、特に限定するものではないが、以下のものが好適である。すなわち、感光性樹脂層の形成に好適な感光性樹脂組成物は、(a)バインダーポリマーと、(b)エチレン性不飽和結合を少なくとも1つ有する光重合性化合物と、(c)光重合開始剤とを含有する、ことが好ましい。これは、第一の感光性樹脂組成物及び第二の感光性樹脂組成物のいずれにも該当する。   Although the photosensitive resin composition used for manufacture of the multilayer printed wiring boards 100 and 200 is not specifically limited, The following are suitable. That is, a photosensitive resin composition suitable for forming a photosensitive resin layer includes (a) a binder polymer, (b) a photopolymerizable compound having at least one ethylenically unsaturated bond, and (c) initiation of photopolymerization. It is preferable to contain an agent. This corresponds to both the first photosensitive resin composition and the second photosensitive resin composition.

感光性樹脂組成物は、(d)無機フィラーを含まないことが好ましい。この場合、現像後の解像度が向上し、微細なパターンを形成でき、デスミア処理ではく離した後の開口部側面が平滑になる傾向にある。なお、感光性樹脂組成物に、(d)無機フィラーを含む場合は、最大粒径が5μm以下、平均粒径が1μm以下であることが好ましい。   It is preferable that the photosensitive resin composition does not contain (d) an inorganic filler. In this case, the resolution after development is improved, a fine pattern can be formed, and the side surface of the opening after being peeled by the desmear process tends to be smooth. In addition, when (d) an inorganic filler is included in the photosensitive resin composition, it is preferable that a maximum particle diameter is 5 micrometers or less and an average particle diameter is 1 micrometer or less.

上記(a)バインダーポリマー(以下、便宜的に「(a)成分」という場合がある)としては、例えば、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、エポキシ系樹脂、アミド系樹脂、アミドエポキシ系樹脂、アルキド系樹脂、及びフェノール系樹脂等が挙げられる。アルカリ現像性の観点からは、アクリル系樹脂が好ましい。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。(a)バインダーポリマーは、例えば、重合性単量体をラジカル重合させることにより製造することができる。   Examples of the (a) binder polymer (hereinafter sometimes referred to as “component (a)” for the sake of convenience) include, for example, acrylic resins, styrene resins, epoxy resins, amide resins, amide epoxy resins, alkyds. Resin, phenol resin and the like. An acrylic resin is preferable from the viewpoint of alkali developability. These can be used alone or in combination of two or more. (A) The binder polymer can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer.

上記重合性単量体としては、例えば、スチレン、ビニルトルエン、及びα−メチルスチレン等のα−位若しくは芳香族環において置換されている重合可能なスチレン誘導体、ジアセトンアクリルアミド等のアクリルアミド、アクリロニトリル及びビニル−n−ブチルエーテル等のビニルアルコールのエステル類、(メタ)アクリル酸アルキルエステル、(メタ)アクリル酸ベンジルエステル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸グリシジルエステル、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸、α−ブロモ(メタ)アクリル酸、α−クロル(メタ)アクリル酸、β−フリル(メタ)アクリル酸、β−スチリル(メタ)アクリル酸、マレイン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、マレイン酸モノイソプロピル等のマレイン酸モノエステル、フマール酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸等が挙げられる。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of the polymerizable monomer include polymerizable styrene derivatives substituted at the α-position or aromatic ring such as styrene, vinyltoluene, and α-methylstyrene, acrylamide such as diacetone acrylamide, acrylonitrile, and the like. Esters of vinyl alcohol such as vinyl-n-butyl ether, (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid benzyl ester, (meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, (meth) acrylic acid dimethylaminoethyl ester, ( (Meth) acrylic acid diethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid glycidyl ester, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid, α-Bromo (meth) acrylic acid, α-chloro (meth) acrylic acid, β-furyl (meth) acrylic acid, β-styryl (meth) acrylic acid, maleic acid, maleic anhydride, monomethyl maleate, maleic acid Examples thereof include maleic acid monoesters such as monoethyl and monoisopropyl maleate, fumaric acid, cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid and propiolic acid. These can be used alone or in combination of two or more.

また、(a)バインダーポリマーは、アルカリ現像性の見地から、カルボキシル基を含有させることが好ましく、例えば、カルボキシル基を有する重合性単量体とその他の重合性単量体をラジカル重合させることにより製造することができる。上記カルボキシル基を有する重合性単量体としては、(メタ)アクリル酸が好ましく、中でもメタクリル酸がより好ましい。   Further, (a) the binder polymer preferably contains a carboxyl group from the viewpoint of alkali developability, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer having a carboxyl group and another polymerizable monomer. Can be manufactured. As the polymerizable monomer having a carboxyl group, (meth) acrylic acid is preferable, and methacrylic acid is more preferable.

上記(a)バインダーポリマーのカルボキシル基含有量(使用する全重合性単量体に対するカルボキシル基を有する重合性単量体の割合)は、アルカリ現像性とアルカリ耐性のバランスの見地から、好ましくは12〜50質量%であり、より好ましくは12〜40質量%であり、更に好ましくは15〜30質量%であり、特に好ましくは15〜25質量%である。このカルボキシル基含有量が12質量%未満では、アルカリ現像性が劣る傾向があり、50質量%を超えるとアルカリ耐性が劣る傾向がある。   The carboxyl group content (a) of the binder polymer (the ratio of the polymerizable monomer having a carboxyl group to the total polymerizable monomer used) is preferably 12 from the viewpoint of the balance between alkali developability and alkali resistance. It is -50 mass%, More preferably, it is 12-40 mass%, More preferably, it is 15-30 mass%, Most preferably, it is 15-25 mass%. When the carboxyl group content is less than 12% by mass, alkali developability tends to be inferior, and when it exceeds 50% by mass, alkali resistance tends to be inferior.

(a)バインダーポリマーの重量平均分子量は、機械強度及びアルカリ現像性のバランスの見地から、好ましくは20,000〜300,000であり、より好ましくは40,000〜150,000であり、更に好ましくは50,000〜120,000である。重量平均分子量が、20,000未満では耐現像液性が低下する傾向があり、300,000を超えると現像時間が長くなる傾向がある。なお、本実施形態において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法により測定され、標準ポリスチレンを用いて作成した検量線により換算された値でとする。   (A) The weight average molecular weight of the binder polymer is preferably 20,000 to 300,000, more preferably 40,000 to 150,000, and still more preferably, from the viewpoint of the balance between mechanical strength and alkali developability. Is 50,000 to 120,000. When the weight average molecular weight is less than 20,000, the developer resistance tends to decrease, and when it exceeds 300,000, the development time tends to be long. In the present embodiment, the weight average molecular weight is a value measured by a gel permeation chromatography method and converted by a calibration curve created using standard polystyrene.

(b)エチレン性不飽和結合を少なくとも1つ有する光重合性化合物(以下、便宜的に「(b)成分」という)としては、例えば、多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物、グリシジル基含有化合物にα、β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、ウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物等のウレタンモノマー、ノニルフェノキシブタエチレンオキシ(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシオクタエチレンオキシ(メタ)アクリレート、γ−クロロ−β−ヒドロキシプロピル−β´−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキシエチル−β´−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキシプロピル−β´−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、(メタ)アクリル酸アルキルエステル等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   (B) As a photopolymerizable compound having at least one ethylenically unsaturated bond (hereinafter referred to as “component (b)” for convenience), for example, polyhydric alcohol is reacted with α, β-unsaturated carboxylic acid. Urethane monomers such as (meth) acrylate compounds having a urethane bond, compounds obtained by reacting α, β-unsaturated carboxylic acids with bisphenol A-based (meth) acrylate compounds, glycidyl group-containing compounds, Nonylphenoxybutaethyleneoxy (meth) acrylate, nonylphenoxyoctaethyleneoxy (meth) acrylate, γ-chloro-β-hydroxypropyl-β ′-(meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyethyl-β ′ -(Meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxy Propyl -Beta'- (meth) acryloyloxyethyl -o- phthalate, and (meth) acrylic acid alkyl ester. These may be used alone or in combination of two or more.

(b)成分の含有量は、光感度及び解像性のバランスの見地から、(a)成分及び(b)成分の総量100質量部に対して、好ましくは10〜40質量部であり、より好ましくは20〜30質量部である。   The content of the component (b) is preferably 10 to 40 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (a) and (b) from the viewpoint of the balance between photosensitivity and resolution. Preferably it is 20-30 mass parts.

上記(c)成分の光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、N,N´−テトラメチル−4,4´−ジアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、N,N´−テトラエチル−4,4´−ジアミノベンゾフェノン、4−メトキシ−4´−ジメチルアミノベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、及び2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン、2−エチルアントラキノン、フェナントレンキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3ーベンズアントラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,3−ジフェニルアントラキノン、1ークロロアントラキノン、2−メチルアントラキノン、1,4−ナフトキノン、9,10−フェナンタラキノン、2−メチル1,4−ナフトキノン、及び2,3−ジメチルアントラキノン等のキノン類、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、及びベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル化合物、ベンゾイン、メチルベンゾイン、及びエチルベンゾイン等のベンゾイン化合物、ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体、9,10−ジメトキシアントラセン、9,10−ジエトキシアントラセン、9,10−ジプロポキシアントラセン、9,10−ジブトキシアントラセン、及び9,10−ジペントキシアントラセン等の置換アントラセン類、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、及び2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体、クマリン系化合物、オキサゾール系化合物、ピラゾリン系化合物等が挙げられる。ここで、2つの2,4,5−トリアリールイミダゾールのアリール基の置換基は同一で対象な化合物を与えてもよいし、相違して非対称な化合物を与えてもよい。また、ジエチルチオキサントンとジメチルアミノ安息香酸の組み合わせのように、チオキサントン系化合物と3級アミン化合物とを組み合わせてもよい。また、密着性及び感度のバランスの見地から、2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体がより好ましい。これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the photopolymerization initiator of the component (c) include benzophenone, N, N′-tetramethyl-4,4′-diaminobenzophenone (Michler ketone), N, N′-tetraethyl-4,4′-diaminobenzophenone. 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1, and 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl]- Aromatic ketones such as 2-morpholino-propanone-1, 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, 2-tert-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone 2,3-diphenylanthraquinone, 1-chloro Quinones such as loanthraquinone, 2-methylanthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenantharaquinone, 2-methyl-1,4-naphthoquinone, and 2,3-dimethylanthraquinone, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether And benzoin ether compounds such as benzoin phenyl ether, benzoin compounds such as benzoin, methylbenzoin, and ethylbenzoin, benzyl derivatives such as benzyldimethyl ketal, 9,10-dimethoxyanthracene, 9,10-diethoxyanthracene, 9,10 -Substituted anthracenes such as dipropoxyanthracene, 9,10-dibutoxyanthracene, and 9,10-dipentoxyanthracene, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) 2,4,5-diphenylimidazole dimer, 2,4,5-triarylimidazole dimer such as 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, coumarin compound, oxazole Compounds, pyrazoline compounds, and the like. Here, the substituents of the aryl groups of two 2,4,5-triarylimidazoles may be the same and give the target compound, or differently give the asymmetric compound. Moreover, you may combine a thioxanthone type compound and a tertiary amine compound like the combination of diethyl thioxanthone and dimethylaminobenzoic acid. In addition, 2,4,5-triarylimidazole dimer is more preferable from the viewpoint of balance between adhesion and sensitivity. These are used alone or in combination of two or more.

上記(a)バインダーポリマーの含有量は、(a)成分及び(b)成分の総量100質量部に対して、好ましくは30〜80質量部であり、より好ましくは40〜75質量部であり、更に好ましくは50〜70質量部である。(a)成分の含有量がこの範囲であると、感光性樹脂組成物の塗膜性及び光硬化物の強度がより良好となる。上記(b)エチレン性不飽和結合を少なくとも1つ有する光重合性化合物の含有量は、(a)成分及び(b)成分の総量100質量部に対して、好ましくは20〜60質量部であり、より好ましくは30〜55質量部であり、更に好ましくは35〜50質量部である。(b)成分の含有量がこの範囲であると、感光性樹脂組成物の光感度及び塗膜性がより良好となる。   The content of the (a) binder polymer is preferably 30 to 80 parts by mass, more preferably 40 to 75 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (a) and (b). More preferably, it is 50-70 mass parts. When the content of the component (a) is within this range, the coating properties of the photosensitive resin composition and the strength of the photocured product become better. The content of the photopolymerizable compound (b) having at least one ethylenically unsaturated bond is preferably 20 to 60 parts by mass with respect to 100 parts by mass as a total of the components (a) and (b). More preferably, it is 30-55 mass parts, More preferably, it is 35-50 mass parts. When the content of the component (b) is within this range, the photosensitivity and coating property of the photosensitive resin composition become better.

上記(c)光重合開始剤の含有量は、(a)成分及び(b)成分の総量100質量部に対して、好ましくは0.01〜30質量部であり、より好ましくは0.1〜20質量部であり、更に好ましくは0.2〜10質量部である。(c)成分の含有量がこの範囲であると、感光性樹脂組成物の光感度及び内部の光硬化性がより良好となる。   The content of the (c) photopolymerization initiator is preferably 0.01 to 30 parts by mass, more preferably 0.1 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (a) and (b). 20 parts by mass, more preferably 0.2 to 10 parts by mass. When the content of the component (c) is within this range, the photosensitivity and the internal photocurability of the photosensitive resin composition become better.

感光性樹脂組成物は、(d)無機フィラーを充填しないフィラーレスであることが好ましいが、少量であれば充填しても構わない。(d)無機フィラーを少量充填することで、収縮量が小さくなるとともに、剛性が高くなり、厚さ寸法精度を向上させることができる。しかしながら、感光性樹脂組成物の総量100質量部に対して5質量%を超えて充填した場合、解像性が著しく低下するため、(d)無機フィラーを充填する場合は、充填量が感光性樹脂組成物の総量100質量部に対して5質量%未満とすることが好ましい。   Although it is preferable that the photosensitive resin composition is (d) filler-less without filling with an inorganic filler, it may be filled with a small amount. (D) By filling a small amount of the inorganic filler, the shrinkage amount becomes small, the rigidity becomes high, and the thickness dimensional accuracy can be improved. However, when the amount exceeds 5% by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the photosensitive resin composition, the resolution is remarkably lowered. Therefore, when (d) an inorganic filler is filled, the filling amount is photosensitive. It is preferable to make it less than 5 mass% with respect to 100 mass parts of total amounts of a resin composition.

(d)無機フィラーとしては、例えば、硫酸バリウム、チタン酸バリウム、粉状酸化珪素、無定形シリカ、タルク、クレー、焼成カオリン、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、雲母粉等の無機充填剤が使用できる。特に好ましくは、シリカフィラーで一次粒径のまま、凝集することなく樹脂中に分散させるために、シランカップリング剤を用いたものが望ましい。(d)無機フィラーの最大粒径は、好ましくは5μm以下であり、より好ましくは1μm以下である。また、(d)無機フィラーの平均粒径は、解像度の観点から、好ましくは1μm以下であり、より好ましくは800nm以下である。   (D) Examples of inorganic fillers include barium sulfate, barium titanate, powdered silicon oxide, amorphous silica, talc, clay, calcined kaolin, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, and mica powder. Inorganic fillers can be used. In particular, it is desirable to use a silane coupling agent in order to disperse the silica particle in the resin without agglomeration with the primary particle size. (D) The maximum particle size of the inorganic filler is preferably 5 μm or less, more preferably 1 μm or less. Further, (d) the average particle diameter of the inorganic filler is preferably 1 μm or less, more preferably 800 nm or less, from the viewpoint of resolution.

また、感光性樹脂組成物には、必要に応じて、マラカイトグリーン、ビクトリアピュアブルー、ブリリアントグリーン、及びメチルバイオレット等の染料、トリブロモフェニルスルホン、ロイコクリスタルバイオレット、ジフェニルアミン、ベンジルアミン、トリフェニルアミン、ジエチルアニリン、o−クロロアニリン及びターシャリブチルカテコール等の光発色剤、熱発色防止剤、p−トルエンスルホンアミド等の可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、イメージング剤、熱架橋剤、重合禁止剤等を(a)成分及び(b)成分の総量100質量部に対して各々0.01〜20質量部含有することができる。これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   In addition, the photosensitive resin composition includes, if necessary, dyes such as malachite green, Victoria pure blue, brilliant green, and methyl violet, tribromophenyl sulfone, leuco crystal violet, diphenylamine, benzylamine, triphenylamine, Photochromic agents such as diethylaniline, o-chloroaniline and tertiary butyl catechol, thermochromic inhibitors, plasticizers such as p-toluenesulfonamide, pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, adhesion-imparting agents, 0.01 to 20 parts by mass of a leveling agent, a peeling accelerator, an antioxidant, a fragrance, an imaging agent, a thermal crosslinking agent, a polymerization inhibitor and the like with respect to 100 parts by mass of the total amount of the component (a) and the component (b) Can be contained. These are used alone or in combination of two or more.

感光性樹脂組成物には、必要に応じて、メタノール、エタノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、トルエン、N,N−ジメチルホルムアミド、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の溶剤又はこれらの混合溶剤に溶解して固形分30〜60質量%の溶液として塗布することができる。これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   If necessary, the photosensitive resin composition is dissolved in a solvent such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, or a mixed solvent thereof. And can be applied as a solution having a solid content of 30 to 60% by mass. These are used alone or in combination of two or more.

感光性樹脂組成物には、特に制限はないが、金属面、例えば、銅、銅系合金、ニッケル、クロム、鉄、ステンレス等の鉄系合金、好ましくは銅、銅系合金、鉄系合金の表面上に、液状レジストとして塗布して乾燥後、必要に応じて保護フィルムを被覆して用いるか、感光性エレメントの形態で用いられることが好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular in the photosensitive resin composition, Metal surfaces, for example, iron-type alloys, such as copper, a copper-type alloy, nickel, chromium, iron, stainless steel, Preferably copper, a copper-type alloy, and an iron-type alloy It is preferable that the surface is applied as a liquid resist and dried, and then coated with a protective film, if necessary, or used in the form of a photosensitive element.

感光性エレメントの形態とは、支持体と、該支持体上に上記感光性樹脂組成物の溶液を均一に塗布、乾燥して形成された感光性樹脂組成物層(樹脂層)とを備えるものであり、感光性樹脂組成物の層上にはそれを被覆する保護フィルムをさらに備えていてもよい。支持体としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、及びポリエステル等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルム上に感光性樹脂組成物を塗布、乾燥することにより得られる。透明性の見地からは、ポリエチレンテレフタレートフィルムを用いることが好ましい。   The form of the photosensitive element includes a support and a photosensitive resin composition layer (resin layer) formed by uniformly applying and drying the solution of the photosensitive resin composition on the support. In addition, a protective film for coating the photosensitive resin composition layer may be further provided. The support can be obtained, for example, by applying and drying a photosensitive resin composition on a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyethylene terephthalate, polypropylene, polyethylene, and polyester. From the viewpoint of transparency, it is preferable to use a polyethylene terephthalate film.

多層プリント配線板100,200の製造に用いる熱硬化性樹脂組成物は、特に限定するものではないが、以下のものが好適である。すなわち、第三の層7の形成に好適な熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリアミドイミド樹脂、熱硬化性ポリイミド樹脂からなる群より選択される少なくとも一種を含む樹脂組成物と、最大粒径が5μm以下であり且つ平均粒径が1μm以下である無機フィラーと、を含むことが好ましい。   Although the thermosetting resin composition used for manufacture of the multilayer printed wiring boards 100 and 200 is not specifically limited, The following are suitable. That is, the thermosetting resin composition suitable for forming the third layer 7 is a resin composition containing at least one selected from the group consisting of epoxy resins, phenol resins, polyamideimide resins, and thermosetting polyimide resins. And an inorganic filler having a maximum particle size of 5 μm or less and an average particle size of 1 μm or less.

エポキシ樹脂としては、分子内に1つ以上のグリシジル基を有するエポキシ樹脂が好ましい。無機フィラーの充填量は、好ましくは0〜90質量%の範囲、より好ましくは20〜70質量%の範囲、更に好ましくは30〜60質量%である。   The epoxy resin is preferably an epoxy resin having one or more glycidyl groups in the molecule. The filling amount of the inorganic filler is preferably in the range of 0 to 90% by mass, more preferably in the range of 20 to 70% by mass, and still more preferably 30 to 60% by mass.

エポキシ樹脂は、2個以上のグリシジル基を持つエポキシ樹脂ならば、すべて使用することができるが、好適には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラックフェノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビスフェノールSジグリシジルエーテル等のビスフェノールS型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ビキシレノールジグリシジルエーテル等のビキシレノール型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールAグリシジルエーテル等の水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂及び、それらの二塩基酸変性ジグリシジルエーテル型エポキシ樹脂等であり、単独、又は2種以上組み合わせて用いることができる。   Any epoxy resin having two or more glycidyl groups can be used as the epoxy resin, but bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolak phenol type epoxy resin, biphenyl type epoxy are preferable. Bisphenol S type epoxy resin such as resin, bisphenol S diglycidyl ether, naphthalene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin such as bixylenol diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A glycidyl ether, etc. Bisphenol A-type epoxy resins and dibasic acid-modified diglycidyl ether-type epoxy resins thereof can be used alone or in combination of two or more.

市販のエポキシ樹脂としては、DIC株式会社製EXA4700(4官能ナフタレン型エポキシ樹脂)、日本化薬株式会社製NC−7000(ナフタレン骨格含有多官能固形エポキシ樹脂)等のナフタレン型エポキシ樹脂;日本化薬株式会社EPPN−502H(トリスフェノールエポキシ樹脂)等のフェノール類とフェノール性水酸基を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物(トリスフェノール型エポキシ樹脂);DIC株式会社製エピクロンHP−7200H(ジシクロペンタジエン骨格含有多官能固形エポキシ樹脂)等のジシクロペンタジエンアラルキル型エポキシ樹脂;日本化薬株式会社製NC−3000H(ビフェニル骨格含有多官能固形エポキシ樹脂)等のビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂;DIC株式会社製エピクロンN660、エピクロンN690、日本化薬株式会社製EOCN−104S等のノボラック型エポキシ樹脂;日産化学工業株式会社製TEPIC等のトリス(2,3−エポキシプロピル)イソシアヌレート、DIC株式会社製エピクロン860、エピクロン900−IM、エピクロンEXA―4816、エピクロンEXA−4822、旭チバ株式会社製アラルダイトAER280、東都化成株式会社製エポトートYD−134、ジャパンエポキシレジン株式会社製JER834、JER872、住友化学工業株式会社製ELA−134等のビスフェノールA型エポキシ樹脂;DIC株式会社製エピクロンHP−4032等のナフタレン型エポキシ樹脂;DIC株式会社製エピクロンN−740等のフェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールとサリチルアルデヒドの縮合物のエポキシ樹脂;日本化薬株式会社製EPPN−500シリーズ等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂は各々単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。   Commercially available epoxy resins include naphthalene type epoxy resins such as EXA4700 (tetrafunctional naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, NC-7000 (polyfunctional solid epoxy resin containing naphthalene skeleton) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd .; Nippon Kayaku Epoxidized product of a condensation product of phenols such as EPPN-502H (trisphenol epoxy resin) and an aromatic aldehyde having a phenolic hydroxyl group (trisphenol type epoxy resin); Epicron HP-7200H (dicyclo) Dicyclopentadiene aralkyl epoxy resin such as pentadiene skeleton-containing polyfunctional solid epoxy resin); biphenyl aralkyl epoxy resin such as NC-3000H (biphenyl skeleton-containing polyfunctional solid epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd .; manufactured by DIC Corporation Novolak type epoxy resins such as Piclone N660, Epicron N690, Nippon Kayaku Co., Ltd. EOCN-104S; Tris (2,3-epoxypropyl) isocyanurate such as TEPIC made by Nissan Chemical Industries, Epicron 860 made by DIC Corporation, Epicron 900-IM, Epicron EXA-4816, Epicron EXA-4822, Araldite AER280 manufactured by Asahi Ciba Co., Ltd., Epototo YD-134 manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., JER834 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., JER872, ELA manufactured by Sumitomo Chemical Industries Bisphenol A type epoxy resin such as -134; naphthalene type epoxy resin such as Epicron HP-4032 manufactured by DIC Corporation; phenol novolac type epoxy tree such as Epicron N-740 manufactured by DIC Corporation , The epoxy resin of a condensate of phenol with salicylaldehyde; Nippon Kayaku Co., Ltd. EPPN-500 series, and the like. These epoxy resins may be used alone or in combination of two or more.

上記エポキシ樹脂の中でも、銅との密着性や絶縁性に優れる点で、日本化薬株式会社製NC−3000H(ビフェニル骨格含有多官能固形エポキシ樹脂)等のビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂が好ましく、また、架橋密度が高く、高Tgが得られる点で、日本化薬株式会社製EPPN−500シリーズを用いることがより好ましい。   Among the above epoxy resins, biphenyl aralkyl type epoxy resins such as NC-3000H (biphenyl skeleton-containing polyfunctional solid epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. are preferable in terms of excellent adhesion and insulation with copper, It is more preferable to use Nippon Kayaku Co., Ltd. EPPN-500 series in terms of high crosslinking density and high Tg.

上記エポキシ樹脂の含有量は、無機フィラー成分を除く樹脂成分100重量部に対して、30〜90質量部であることが好ましく、40〜80質量部であることがより好ましい。   The content of the epoxy resin is preferably 30 to 90 parts by weight, and more preferably 40 to 80 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the resin component excluding the inorganic filler component.

エポキシ樹脂と組み合わせる硬化剤としては、従来公知の各種エポキシ樹脂硬化剤もしくはエポキシ樹脂硬化促進剤を配合することができる。例えば、フェノール樹脂、イミダゾール化合物、酸無水物、脂肪族アミン、脂環族ポリアミン、芳香族ポリアミン、第3級アミン、ジシアンジアミド、グアニジン類、又はこれらのエポキシアダクトやマイクロカプセル化したもののほか、トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスフォニウム、テトラフェニルボレート等の有機ホスフィン系化合物、DBU(1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7)もしくはその誘導体等、硬化剤もしくは硬化促進剤の如何に拘らず、公知慣用のものを単独であるいは2種以上組み合わせて使用することができる。エポキシ樹脂の硬化を進行させれば特に限定されないが、具体的には、4,4´−ジアミノジフェニルスルフォン、4,4´−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、トリメチレンビス(4−アミノベンゾエート)、3,3´−ジメチル−4,4´−ジアミノビフェニル、2,2´−ジメチル−4,4´−ジアミノビフェニル、4,4´−ジアミノジフェニルエーテル、3,4´−ジアミノジフェニルエーテル、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、9,9´−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン等を例示でき、単独、又は2種以上組み合わせて用いることができる。   As the curing agent combined with the epoxy resin, various conventionally known epoxy resin curing agents or epoxy resin curing accelerators can be blended. For example, phenol resins, imidazole compounds, acid anhydrides, aliphatic amines, alicyclic polyamines, aromatic polyamines, tertiary amines, dicyandiamide, guanidines, or epoxy adducts or microencapsulated products thereof, triphenyl What are the curing agents or curing accelerators, such as organic phosphine compounds such as phosphine, tetraphenylphosphonium, tetraphenylborate, DBU (1,8-diazabicyclo [5.4.0] undecene-7) or derivatives thereof, etc. Regardless, known and commonly used ones can be used alone or in combination of two or more. Although it will not specifically limit if hardening of an epoxy resin is advanced, Specifically, 4, 4'- diamino diphenyl sulfone, 4, 4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2, 2-bis [4- (4-Aminophenoxy) phenyl] propane, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, trimethylenebis (4-aminobenzoate), 3,3 ′ -Dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, bis [4- (4-amino Phenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 9,9′-bis (4-aminopheny) ) Fluorene, 2,2-bis can be exemplified [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane and the like, may be used alone, or two or more.

本発明の熱硬化性樹脂組成物は、分子構造中に少なくとも2個の不飽和N−置換マレイミド基を有するマレイミド化合物を含有することが好ましい。具体的には、例えば、N,N´−エチレンビスマレイミド、N,N´−ヘキサメチレンビスマレイミド、N,N´−(1,3−フェニレン)ビスマレイミド、N,N´−[1,3−(2−メチルフェニレン)]ビスマレイミド、N,N´−[1,3−(4−メチルフェニレン)]ビスマレイミド、N,N´−(1,4−フェニレン)ビスマレイミド、ビス(4−マレイミドフェニル)メタン、ビス(3−メチル−4−マレイミドフェニル)メタン、3,3−ジメチル−5,5−ジエチル−4,4−ジフェニルメタンビスマレイミド、ビス(4−マレイミドフェニル)エーテル、ビス(4−マレイミドフェニル)スルホン、ビス(4−マレイミドフェニル)スルフィド、ビス(4−マレイミドフェニル)ケトン、ビス(4−マレイミドシクロヘキシル)メタン、1,4−ビス(4−マレイミドフェニル)シクロヘキサン、1,4−ビス(マレイミドメチル)シクロヘキサン、1,4−ビス(マレイミドメチル)ベンゼン、1,3−ビス(4−マレイミドフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−マレイミドフェノキシ)ベンゼン、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]メタン、1,1−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]エタン、1,1−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]エタン、1,2−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]エタン、1,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]エタン、2,2−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル] −1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、4,4−ビス(3−マレイミドフェノキシ)ビフェニル、4,4−ビス(4−マレイミドフェノキシ)ビフェニル、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]ケトン、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]ケトン、2,2´−ビス(4−マレイミドフェニル)ジスルフィド、ビス(4−マレイミドフェニル)ジスルフィド、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルホキシド、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルホキシド、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル]エーテル、ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]エーテル、1,4−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,4−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,4−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)−3,5−ジメチル−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)−3,5−ジメチル−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,4−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)−3,5−ジメチル−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3−ビス[4−(3−マレイミドフェノキシ)−3,5−ジメチル−α,α−ジメチルベンジル]ベンゼン、ポリフェニルメタンマレイミド等が挙げられ、これらのマレイミド化合物は、単独で用いても2種類以上を混合して用いてもよい。   The thermosetting resin composition of the present invention preferably contains a maleimide compound having at least two unsaturated N-substituted maleimide groups in the molecular structure. Specifically, for example, N, N′-ethylene bismaleimide, N, N′-hexamethylene bismaleimide, N, N ′-(1,3-phenylene) bismaleimide, N, N ′-[1,3 -(2-methylphenylene)] bismaleimide, N, N '-[1,3- (4-methylphenylene)] bismaleimide, N, N'-(1,4-phenylene) bismaleimide, bis (4- Maleimidophenyl) methane, bis (3-methyl-4-maleimidophenyl) methane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethane bismaleimide, bis (4-maleimidophenyl) ether, bis (4 -Maleimidophenyl) sulfone, bis (4-maleimidophenyl) sulfide, bis (4-maleimidophenyl) ketone, bis (4-maleimidocyclohexyl) ) Methane, 1,4-bis (4-maleimidophenyl) cyclohexane, 1,4-bis (maleimidomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (maleimidomethyl) benzene, 1,3-bis (4-maleimidophenoxy) benzene 1,3-bis (3-maleimidophenoxy) benzene, bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] methane, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] methane, 1,1-bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] ethane, 1,1-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] ethane, 1,2-bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] ethane, 1,2- Bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] ethane, 2,2-bis [4- (3-maleimidophenoxy) ) Phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] butane, 2,2-bis [4- ( 4-maleimidophenoxy) phenyl] butane, 2,2-bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 4,4-bis (3-maleimidophenoxy) biphenyl, 4,4-bis (4-maleimidophenoxy) biphenyl Bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] ketone, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] ketone, 2,2′-bis (4- Reimidophenyl) disulfide, bis (4-maleimidophenyl) disulfide, bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] sulfide, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] sulfide, bis [4- (3- Maleimidophenoxy) phenyl] sulfoxide, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] sulfoxide, bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-maleimidophenoxy) phenyl] ether, bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] ether, 1,4-bis [4- (4-maleimidophenoxy) -α, α-dimethylbenzyl] benzene 1,3-bis [4- (4-male Dophenoxy) -α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,4-bis [4- (3-maleimidophenoxy) -α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,3-bis [4- (3-maleimidophenoxy) ) -Α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,4-bis [4- (4-maleimidophenoxy) -3,5-dimethyl-α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,3-bis [4- ( 4-maleimidophenoxy) -3,5-dimethyl-α, α-dimethylbenzyl] benzene, 1,4-bis [4- (3-maleimidophenoxy) -3,5-dimethyl-α, α-dimethylbenzyl] benzene 1,3-bis [4- (3-maleimidophenoxy) -3,5-dimethyl-α, α-dimethylbenzyl] benzene, polyphenylmethanemaleimide, and the like. Maleimide compounds of may be used as a mixture of two or more may be used alone.

また、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂や各種カルボン酸含有樹脂をエポキシ樹脂と反応させる別な樹脂として使用しても良い。ポリアミドイミド樹脂としては、東洋紡の「バイロマックスHR11NN」、「バイロマックスHR12N2」、「バイロマックスHR16NN」(「バイロマックス」は登録商標)等が挙げられる。カルボン酸含有樹脂としては、アクリル樹脂や酸変性エポキシアクリレート、酸含有ウレタン樹脂等が挙げられる。   Moreover, you may use a polyimide resin, a polyamidoimide resin, and various carboxylic acid containing resin as another resin with which an epoxy resin is made to react. Examples of the polyamide-imide resin include Toyobo's “Bilomax HR11NN”, “Bilomax HR12N2”, “Bilomax HR16NN” (“Bilomax” is a registered trademark), and the like. Examples of the carboxylic acid-containing resin include acrylic resins, acid-modified epoxy acrylates, and acid-containing urethane resins.

上記硬化剤の含有量は、無機フィラー成分を除く樹脂成分100重量部に対して、5〜50質量部であることが好ましく、10〜40質量部であることがより好ましい。   It is preferable that content of the said hardening | curing agent is 5-50 mass parts with respect to 100 weight part of resin components except an inorganic filler component, and it is more preferable that it is 10-40 mass parts.

無機フィラーとしては従来公知の全ての無機充填剤及び有機充填剤が使用でき、特定のものに限定されない。例えば、硫酸バリウム、チタン酸バリウム、無定形シリカ、結晶性シリカ、溶融シリカ、球状シリカ、タルク、クレー、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、窒化ケイ素、窒化アルミニウム等の体質顔料や、銅、錫、亜鉛、ニッケル、銀、パラジウム、アルミニウム、鉄、コバルト、金、白金等の金属粉体が挙げられる。   As the inorganic filler, all conventionally known inorganic fillers and organic fillers can be used, and are not limited to specific ones. For example, extender pigments such as barium sulfate, barium titanate, amorphous silica, crystalline silica, fused silica, spherical silica, talc, clay, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, silicon nitride, aluminum nitride, , Copper, tin, zinc, nickel, silver, palladium, aluminum, iron, cobalt, gold, platinum, and other metal powders.

シリカフィラーを用いる場合は、フィラーで一次粒径のまま、凝集することなく樹脂中に分散させるために、シランカップリング剤を用いたものが望ましい。最大粒径は5μm以下であることが好ましく、更に1μm以下であることが望ましい。シランカップリング剤としては、一般的に入手可能なものを用いることができ、例えば、アルキルシラン、アルコキシシラン、ビニルシラン、エポキシシラン、アミノシラン、アクリルシラン、メタクリルシラン、メルカプトシラン、スルフィドシラン、イソシアネートシラン、サルファーシラン、スチリルシラン、アルキルクロロシラン等が使用可能である。   In the case of using a silica filler, it is desirable to use a silane coupling agent in order to disperse the filler in the resin without agglomeration while maintaining the primary particle size. The maximum particle size is preferably 5 μm or less, and more preferably 1 μm or less. As the silane coupling agent, generally available ones can be used, for example, alkyl silane, alkoxy silane, vinyl silane, epoxy silane, amino silane, acrylic silane, methacryl silane, mercapto silane, sulfide silane, isocyanate silane, Sulfur silane, styryl silane, alkylchlorosilane, and the like can be used.

具体的な化合物名としては、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリフェノキシシラン、エチルトリメトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、ジイソプロピルジメトキシシラン、イソブチルトリメトキシシラン、ジイソブチルジメトキシシラン、イソブチルトリエトキシシラン、n−ヘキシルトリメトキシシラン、n−ヘキシルトリエトキシシラン、シクロヘキシルメチルジメトキシシラン、n−オクチルトリエトキシシラン、n−ドデシルメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、トリフェニルシラノール、メチルトリクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、n−オクチルジメチルクロロシラン、テトラエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラン、3−(2−アミノエチル)アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジキシシラン、ビス(3−(トリエトキシシリル)プロピル)ジスルフィド、ビス(3−(トリエトキシシリル)プロピル)テトラスルフィド、ビニルトリアセトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリイソプロポキシシラン、アリルトリメトキシシラン、ジアリルジメチルシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、N−(1,3−ジメチルブチルデン)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、アミノシラン等がある。   Specific compound names include methyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, trimethylmethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltriphenoxysilane, ethyltrimethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, diisopropyldimethoxysilane, isobutyltrimethoxy. Silane, diisobutyldimethoxysilane, isobutyltriethoxysilane, n-hexyltrimethoxysilane, n-hexyltriethoxysilane, cyclohexylmethyldimethoxysilane, n-octyltriethoxysilane, n-dodecylmethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, diphenyldimethoxy Silane, triphenylsilanol, methyltrichlorosilane, dimethyldichlorosilane, trimethylchlorosilane, n-octyldi Tylchlorosilane, tetraethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3- (2-aminoethyl) aminopropyltrimethoxysilane, 3- (2-aminoethyl) aminopropylmethyldimethoxysilane 3-phenylaminopropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldixysilane Bis (3- (triethoxysilyl) propyl) disulfide, bis (3- (triethoxysilyl) propyl) tetrasulfide, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyl Lyisopropoxysilane, allyltrimethoxysilane, diallyldimethylsilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3 -Mercaptopropylmethyldimethoxysilane, 3-mercaptopropyltriethoxysilane, N- (1,3-dimethylbutylden) -3-aminopropyltriethoxysilane, aminosilane and the like.

無機フィラーの平均粒径は、好ましくは1μm以下であり、より好ましくは800nm以下である。無機フィラーの平均粒径が小さいほど、デスミア処理後の表面が平滑となる傾向にある。無機フィラーの充填量は、好ましくは0〜90質量%であり、より好ましくは20〜70質量%であり、更に好ましくは30〜60質量%である。   The average particle size of the inorganic filler is preferably 1 μm or less, more preferably 800 nm or less. As the average particle size of the inorganic filler is smaller, the surface after desmear treatment tends to be smoother. The filling amount of the inorganic filler is preferably 0 to 90% by mass, more preferably 20 to 70% by mass, and further preferably 30 to 60% by mass.

以上、本発明に係るプリント配線板の製造方法及び熱硬化樹脂組成物の好適な実施形態について説明したが、本発明は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を行ってもよい。   As mentioned above, although the suitable embodiment of the manufacturing method of the printed wiring board and thermosetting resin composition concerning this invention was described, this invention is not necessarily limited to embodiment mentioned above, The range which does not deviate from the meaning May be changed as appropriate.

<プリント配線板の準備>
まず、厚さ12μmの銅箔が両面に張り付けられた積層体(日立化成工業株式会社製 MCL−E−679FG)を準備した。銅箔を除く積層体の厚さは400μmであった。銅箔を全面エッチングにより除去し、無電解銅めっき処理によりシード層2を形成した(図1参照)。シード層2の厚みは、0.2μmであった。
<Preparation of printed wiring board>
First, a laminate (MCL-E-679FG manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) in which a copper foil having a thickness of 12 μm was attached to both surfaces was prepared. The thickness of the laminate excluding the copper foil was 400 μm. The copper foil was removed by overall etching, and a seed layer 2 was formed by electroless copper plating (see FIG. 1). The thickness of the seed layer 2 was 0.2 μm.

<第一の層及び第一の配線パターンの形成>
次いで、感光性樹脂組成物としてドライフィルムレジスト(日立化成工業株式会社 Photec RY−3525)をロールラミネーターで両面に貼着し、パターンを形成したフォトツールを密着させ、株式会社オーク製作所製EXM‐1201型露光機を使用して、100mJ/cmのエネルギー量で露光を行った。次いで、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液で、90秒間スプレー現像を行い、感光性樹脂組成物を開口させて第一のパターン3a,3bを形成した(図2参照)。次いで、図3に示すように、電解銅めっき法により、厚さ10μmの銅めっきを形成し(図3参照)、次いで、はく離液により、第一のパターン3a,3bをはく離し、第一の配線パターン4a,4bを形成した(図4参照)。
<Formation of first layer and first wiring pattern>
Next, a dry film resist (Hitachi Chemical Industry Co., Ltd., Photoc RY-3525) as a photosensitive resin composition was attached to both sides with a roll laminator, and a photo tool with a pattern was brought into close contact therewith. Exposure was performed with an energy amount of 100 mJ / cm 2 using a mold exposure machine. Next, spray development was performed for 90 seconds with a 1 mass% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C., and the photosensitive resin composition was opened to form first patterns 3a and 3b (see FIG. 2). Next, as shown in FIG. 3, copper plating having a thickness of 10 μm is formed by an electrolytic copper plating method (see FIG. 3), and then the first patterns 3a and 3b are peeled off by a stripping solution. Wiring patterns 4a and 4b were formed (see FIG. 4).

<第二の層及び第二の配線パターンの形成>
次いで、図5(a)に示すように、感光性樹脂組成物としてドライフィルムレジスト(日立化成工業株式会社 Photec RY−3525)をロールラミネーターで両面に貼着し、パターンを形成したフォトツールを密着させ、株式会社オーク製作所製EXM‐1201型露光機を使用して、100mJ/cmのエネルギー量で露光を行った。次いで、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液で、90秒間スプレー現像を行い、感光性樹脂組成物を開口させて第二のパターン5a,5bを形成した(図5(b)参照)。次いで、電解銅めっき法により、所定厚さの銅めっき6を形成し(図6参照)、次いで、はく離液により、第二のパターン5a,5bをはく離し、第二の配線パターン6a,6bを形成した(図7参照)。次いで、シード層2をエッチング液より除去した(図8参照)。
<Formation of second layer and second wiring pattern>
Next, as shown in FIG. 5 (a), a dry film resist (Hitachi Chemical Industry Co., Ltd., Photoc RY-3525) as a photosensitive resin composition is attached to both sides with a roll laminator, and a photo tool having a pattern formed thereon is adhered. Then, the exposure was performed with an energy amount of 100 mJ / cm 2 using an EXM-1201 type exposure machine manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd. Next, spray development was performed for 90 seconds with a 1% by mass aqueous sodium carbonate solution at 30 ° C., and the photosensitive resin composition was opened to form second patterns 5a and 5b (see FIG. 5B). Next, a copper plating 6 having a predetermined thickness is formed by an electrolytic copper plating method (see FIG. 6). Next, the second patterns 5a and 5b are peeled off by a peeling solution, and the second wiring patterns 6a and 6b are peeled off. Formed (see FIG. 7). Next, the seed layer 2 was removed from the etching solution (see FIG. 8).

<フィルム状層間絶縁材の製造>
プリント配線板の層間絶縁材の形成に使用する熱硬化性樹脂組成物として、以下に示すものを調製した。
<Manufacture of film-like interlayer insulating material>
The following were prepared as thermosetting resin compositions used for forming an interlayer insulating material of a printed wiring board.

<熱硬化性樹脂組成物A>
エポキシ樹脂としては、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、製品名NC−3000H(日本化薬株式会社製)70質量部を用いた。
硬化剤の合成実施例1:温度計、攪拌装置、還流冷却管付き水分定量器の付いた加熱及び冷却可能な容積2リットルの反応容器に、ビス(4−アミノフェニル)スルホン:26.40gと、2,2´−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン:484.50gと、p−アミノ安息香酸:29.10g、及びジメチルアセトアミド:360.00gを入れ、140℃で5時間反応させて分子主鎖中にスルホン基を有し、酸性置換基と不飽和N−置換マレイミド基を有する硬化剤(A−1)の溶液を得た。本硬化剤を30質量部配合した。
<Thermosetting resin composition A>
As an epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, 70 mass parts of product name NC-3000H (made by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was used.
Synthesis of Curing Agent Example 1: Heat and coolable reaction vessel equipped with a thermometer, a stirrer, a moisture meter with a reflux condenser, and a volume of 2 liters, bis (4-aminophenyl) sulfone: 26.40 g , 2,2′-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane: 484.50 g, p-aminobenzoic acid: 29.10 g, and dimethylacetamide: 360.00 g, and at 140 ° C. for 5 hours. It was made to react and the solution of the hardening | curing agent (A-1) which has a sulfone group in a molecular principal chain, and has an acidic substituent and an unsaturated N-substituted maleimide group was obtained. 30 parts by mass of this curing agent was blended.

無機フィラー成分としては、平均粒径が500nm、ビニルシランでシランカップリング処理したシリカフィラーを用いた。なお、無機フィラー成分は、樹脂分に対し、30質量%になるように配合した。分散状態は、動的光散乱式ナノトラック粒度分布計「UPA−EX150」(日機装株式会社製)、及びレーザー回折散乱式マイクロトラック粒度分布計「MT−3100」(日機装株式会社製)を用いて測定し、最大粒径が5μm以下となっていることを確認した。   As the inorganic filler component, silica filler having an average particle size of 500 nm and silane coupling treatment with vinylsilane was used. In addition, the inorganic filler component was blended so as to be 30% by mass with respect to the resin content. The dispersion state was measured using a dynamic light scattering nanotrack particle size distribution analyzer “UPA-EX150” (manufactured by Nikkiso Co., Ltd.) and a laser diffraction scattering type microtrack particle size distribution analyzer “MT-3100” (manufactured by Nikkiso Co., Ltd.). Measurement was made and it was confirmed that the maximum particle size was 5 μm or less.

<熱硬化性樹脂組成物B>
エポキシ樹脂としては、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、製品名NC−3000H(日本化薬株式会社製)70質量部を用いた。
硬化剤の合成実施例2:ジアミン化合物としてワンダミンHM(WHM)〔(4,4´−ジアミノ)ジシクロヘキシルメタン、新日本理化株式会社製、商品名、「ワンダミン」は登録商標〕52.7g、反応性官能基を有するジアミンとして3,3´−ジヒドロキシ−4,4´−ジアミノビフェニル6g、トリカルボン酸無水物として無水トリメリット酸(TMA)108g及び非プロトン性極性溶媒としてN−メチル−2−ピロリドン(NMP)1281gを入れ、フラスコ内の温度を80℃に設定して30分間撹拌した。撹拌終了後、水と共沸可能な芳香族炭化水素としてトルエン192gをさらに添加し、フラスコ内の温度を160℃に昇温して2.5時間還流した。水分定量受器に理論量の水が貯留され、水の留出が見られなくなっていることを確認した後、水分定量受器中の水及びトルエンを除去しながら、フラスコ内の温度を180℃まで上昇させて反応溶液中のトルエンを除去した。フラスコ内の溶液を60℃まで冷却した後、長鎖炭化水素鎖骨格(炭素原子数約50)を有するジカルボン酸として水添α,ω−ポリブタジエンジカルボン酸(CI−1000、日本曹達株式会社製、商品名)309.5gを入れ、10分間撹拌した。撹拌終了後、ジイソシアネートとして4,4´−ジフェニルメタンジイソシアネート(MDI)119.7gを添加し、フラスコ内の温度を160℃に上昇させて2時間反応させ、樹脂溶液を得た。このポリアミドイミド樹脂溶液の重量平均分子量(Mw)をゲルパーミエーションクロマトグラフィーにより測定したところ47000であった。ポリアミドイミド1分子あたりの平均反応性官能基数Nは4.4であった。本硬化剤を30質量部配合した。無機フィラー成分としては、熱硬化性樹脂組成物Aと同様のものを用いた。
<Thermosetting resin composition B>
As an epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, 70 mass parts of product name NC-3000H (made by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was used.
Curing Agent Synthesis Example 2: Wandamine HM (WHM) [(4,4′-diamino) dicyclohexylmethane, trade name, “Wandamine” is a registered trademark] 52.7 g as a diamine compound, reaction 3,3′-dihydroxy-4,4′-diaminobiphenyl as a diamine having a functional functional group, 108 g of trimellitic anhydride (TMA) as a tricarboxylic anhydride, and N-methyl-2-pyrrolidone as an aprotic polar solvent (NMP) 1281 g was added, the temperature in the flask was set to 80 ° C., and the mixture was stirred for 30 minutes. After completion of the stirring, 192 g of toluene was further added as an aromatic hydrocarbon azeotropic with water, and the temperature in the flask was raised to 160 ° C. and refluxed for 2.5 hours. After confirming that the theoretical amount of water was stored in the moisture determination receiver and that no water distilling was observed, the temperature in the flask was adjusted to 180 ° C. while removing water and toluene in the moisture determination receiver. And toluene in the reaction solution was removed. After cooling the solution in the flask to 60 ° C., hydrogenated α, ω-polybutadiene dicarboxylic acid (CI-1000, manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) as a dicarboxylic acid having a long-chain hydrocarbon chain skeleton (about 50 carbon atoms), Product name) 309.5 g was added and stirred for 10 minutes. After the completion of stirring, 119.7 g of 4,4′-diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added as a diisocyanate, and the temperature in the flask was raised to 160 ° C. for reaction for 2 hours to obtain a resin solution. It was 47000 when the weight average molecular weight (Mw) of this polyamide-imide resin solution was measured by the gel permeation chromatography. The average reactive functional group number N per polyamideimide molecule was 4.4. 30 parts by mass of this curing agent was blended. As an inorganic filler component, the same thing as the thermosetting resin composition A was used.

<熱硬化性樹脂組成物C>
エポキシ樹脂としては、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、製品名エピクロンN660(DIC株式会社製)70質量部を用いた。
硬化剤として、フェノキシ樹脂YP−55(新日鉄化学株式会社製)、メラミン変性フェノールノボラック樹脂LA7054(DIC株式会社製)30質量部を用いた。無機フィラー成分としては、平均粒径が2μmの硫酸バリウムを、スターミルLMZ(アシザワファインテック株式会社製)で、直径1.0mmのジルコニアビーズを用い、周速12m/sにて3時間分散して調整した。分散状態を、樹脂Aと同様の方法で測定し、最大粒径が10μmであることを確認した。
<Thermosetting resin composition C>
As the epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, 70 parts by mass of the product name Epicron N660 (manufactured by DIC Corporation) was used.
As a curing agent, 30 parts by mass of phenoxy resin YP-55 (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) and melamine-modified phenol novolac resin LA7054 (manufactured by DIC Corporation) were used. As an inorganic filler component, barium sulfate having an average particle diameter of 2 μm is dispersed with Starmill LMZ (manufactured by Ashizawa Finetech Co., Ltd.) using zirconia beads having a diameter of 1.0 mm for 3 hours at a peripheral speed of 12 m / s. It was adjusted. The dispersion state was measured by the same method as for resin A, and it was confirmed that the maximum particle size was 10 μm.

上述のように得た各熱硬化性樹脂組成物の溶液を支持層である16μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルム(G2−16、帝人株式会社製、商品名)上に均一に塗布することにより熱硬化性樹脂組成物層を形成した。その後、熱風対流式乾燥機を用いて感光性樹脂組成物層を100℃で約10分間乾燥することによって支持層上にフィルム状の層間絶縁材を得た。フィルム状層間絶縁材の膜厚は10μm〜90μmのものを準備した。   Thermosetting is achieved by uniformly applying the solution of each thermosetting resin composition obtained as described above onto a polyethylene terephthalate film (G2-16, manufactured by Teijin Ltd.) having a thickness of 16 μm as a support layer. A resin composition layer was formed. Thereafter, the photosensitive resin composition layer was dried at 100 ° C. for about 10 minutes using a hot air convection dryer to obtain a film-like interlayer insulating material on the support layer. A film-like interlayer insulating material having a film thickness of 10 μm to 90 μm was prepared.

次いで、フィルム状層間絶縁材に埃等が付着しないように、支持層と接している側とは反対側の表面上にポリエチレンフィルム(NF−15、タマポリ株式会社製、商品名)を保護フィルムとして貼り合わせ、熱硬化性フィルムタイプの層間絶縁材を得た。   Next, a polyethylene film (NF-15, manufactured by Tamapoly Co., Ltd., trade name) is used as a protective film on the surface opposite to the side in contact with the support layer so that dust or the like does not adhere to the film-like interlayer insulating material. Lamination and a thermosetting film type interlayer insulating material were obtained.

得られた熱硬化性フィルムタイプの層間絶縁材を用いて、プリント配線板上に第三の層7を形成した(図9参照)。詳細には、まず、熱硬化性樹脂組成物A,B又はCからなるフィルム状層間絶縁材の保護フィルムのみを剥がし、プリント配線板の両面(第二の配線パターン上)にフィルム状層間絶縁材を載置した。プレス式真空ラミネータ(MVLP−500、株式会社名機製作所製、商品名)を用いてプリント配線板の表面にフィルム状層間絶縁材を積層した。プレス条件は、プレス熱板温度80℃、真空引き時間20秒、ラミネートプレス時間30秒、気圧4kPa以下、圧着圧力0.4MPaとした。次いで、クリーンオーブンで所定温度、所定時間で熱硬化して第三の層7を形成した。   A third layer 7 was formed on the printed wiring board using the obtained thermosetting film type interlayer insulating material (see FIG. 9). Specifically, first, only the protective film of the film-like interlayer insulating material made of the thermosetting resin composition A, B or C is peeled off, and the film-like interlayer insulating material is formed on both surfaces (on the second wiring pattern) of the printed wiring board. Was placed. A film-like interlayer insulating material was laminated on the surface of the printed wiring board using a press-type vacuum laminator (MVLP-500, manufactured by Meiki Seisakusho, trade name). The press conditions were as follows: hot plate temperature of 80 ° C., evacuation time of 20 seconds, laminating press time of 30 seconds, atmospheric pressure of 4 kPa or less, and pressing pressure of 0.4 MPa. Next, the third layer 7 was formed by heat curing in a clean oven at a predetermined temperature for a predetermined time.

その後、表1に示す工程に沿ってデスミア処理を行うことで、第三の層7を研削して第二の配線パターン6a,6bを露出させた(図10参照)。また、必要に応じてデスミア処理を繰り返し実施した。なお、表1において、室温とは、10〜30℃であり、「セキュリガント」は登録商標である。
実施例におけるプリント配線板の製造時におけるビア形成プロセス条件を表2及び表3にそれぞれ示す。
Then, by performing a desmear process along the process shown in Table 1, the 3rd layer 7 was ground and the 2nd wiring patterns 6a and 6b were exposed (refer FIG. 10). Moreover, the desmear process was repeatedly implemented as needed. In Table 1, room temperature is 10 to 30 ° C., and “Securigant” is a registered trademark.
Table 2 and Table 3 show the via formation process conditions during the production of the printed wiring board in the example.

Figure 2014078622
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その後、この工程を表裏ともに3回繰り返し、最外層にソルダーレジスト8を形成した後、市販の無電解ニッケル/金めっき液を用いて、ニッケルめっき厚5μm、金めっき厚0.1μmとなるようにめっき処理を行い、ニッケル/金層9を形成した。このようにして多層プリント配線板200を得た(図11参照)。   Thereafter, this process is repeated three times on both sides, and after forming the solder resist 8 on the outermost layer, using a commercially available electroless nickel / gold plating solution, the nickel plating thickness is 5 μm and the gold plating thickness is 0.1 μm. A nickel / gold layer 9 was formed by plating. In this way, a multilayer printed wiring board 200 was obtained (see FIG. 11).

多層プリント配線板200は、基板サイズが45mm×45mmであり、中心部20mm×20mmの範囲にエリアアレイ状に直径30μm、50μm、70μm及び90μmのビアをそれぞれ設けた。   The multilayer printed wiring board 200 has a board size of 45 mm × 45 mm, and vias having diameters of 30 μm, 50 μm, 70 μm, and 90 μm were provided in the form of an area array in the range of the central part 20 mm × 20 mm.

層間絶縁材の埋め込み性については、以下の基準に基づいて評価した。
○:空隙がなく埋め込みが良好なもの。
×:埋め込みが不充分なもの。
The embedding property of the interlayer insulating material was evaluated based on the following criteria.
○: No gap and good embedding.
X: Insufficient embedding.

層間絶縁材の耐薬品性については、目視で確認して以下の基準に基づいて評価した。
○:デスミア処理後に層間絶縁材がはく離しないもの。
×:デスミア処理後に層間絶縁材がはく離したもの。
The chemical resistance of the interlayer insulating material was visually confirmed and evaluated based on the following criteria.
○: Interlayer insulating material does not peel off after desmear treatment.
X: Interlayer insulating material peeled off after desmear treatment.

解像性(第二の配線パターン形成性)については、金属顕微鏡で観察して以下の基準に基づいて評価した。
◎:直径30μm以下で形成できたもの。
○:直径50μm以下で形成できたもの。
△:直径70μm以下で形成できたもの。
×:直径90μm以下で形成できたもの。
××:直径90μm以下で形成できないもの。
About resolution (2nd wiring pattern formation property), it observed with the metal microscope and evaluated based on the following references | standards.
(Double-circle): It was able to be formed with the diameter of 30 micrometers or less.
○: A film having a diameter of 50 μm or less.
(Triangle | delta): What was formed with the diameter of 70 micrometers or less.
X: It was able to be formed with a diameter of 90 μm or less.
XX: The diameter is 90 μm or less and cannot be formed.

層間絶縁材の表面平滑性については、電子顕微鏡で確認して以下の基準に基づいて評価した。
○:表面が平滑なもの。
×:表面にフィラーの欠落や段差があるもの。
About the surface smoothness of the interlayer insulation material, it confirmed with the electron microscope and evaluated based on the following references | standards.
○: The surface is smooth.
X: The surface has a missing filler or a step.

第二の配線パターンの露出性については、以下の基準に基づいて評価した。
○:第二の配線パターン上に熱硬化性樹脂組成物の残渣がなく、除去できているもの。
×:熱硬化性樹脂組成物の残渣があるもの。
About the exposure property of the 2nd wiring pattern, it evaluated based on the following references | standards.
◯: There is no residue of the thermosetting resin composition on the second wiring pattern and can be removed.
X: The thing with the residue of a thermosetting resin composition.

結果を表4及び5に示す。本処理はプリント配線板の層間接続に限定するものでなく、ウェハレベルパッケージの再配線プロセス等、微細かつ高密度な層間接続部を設けるもの全てに適用することができる。また、銅張積層体の銅箔を配線パターンとして利用する場合は、銅箔をエッチングした配線パターン上にシード層を形成し、その後、(IV)工程以降を行うこともできる。   The results are shown in Tables 4 and 5. This process is not limited to the interlayer connection of the printed wiring board, but can be applied to all devices that provide a fine and high-density interlayer connection part such as a wafer level package rewiring process. Moreover, when utilizing the copper foil of a copper clad laminated body as a wiring pattern, a seed layer can be formed on the wiring pattern which etched the copper foil, and the process (IV) or later can also be performed after that.

Figure 2014078622
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Figure 2014078622
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表4及び5に示したように、実施例1〜13のプリント配線板は、埋め込み性、耐薬品性、解像性、表面平滑性、露出性に優れており、また、熱硬化性樹脂組成物Cを使用した実施例14のプリント配線板は、表面平滑性がやや劣るが、埋め込み性、耐薬品性、解像性、露出性には優れている。
よって、本発明のプリント配線板の製造方法は、層間絶縁層に微細なビアを有し且つ優れた信頼性を有するプリント配線板を効率的に製造することが可能であることがわかる。
As shown in Tables 4 and 5, the printed wiring boards of Examples 1 to 13 are excellent in embedding property, chemical resistance, resolution, surface smoothness, and exposure property, and are thermosetting resin compositions. The printed wiring board of Example 14 using the material C is slightly inferior in surface smoothness, but is excellent in embedding property, chemical resistance, resolution, and exposure property.
Therefore, it can be seen that the printed wiring board manufacturing method of the present invention can efficiently manufacture a printed wiring board having fine vias in the interlayer insulating layer and having excellent reliability.

1…積層体、2…シード層、3…第一の層、3a,3b…第一のパターン、4a,4b…第一の配線パターン、5…第二の層、5a,5b…第二のパターン、6a,6b…第二の配線パターン、7…第三の層、8…ソルダーレジスト、9…ニッケル/金層、10…プリント配線板(内層基板)、100…多層プリント配線板、100A…多層プリント配線板、101…銅張積層体、102…配線パターン、103…層間絶縁層、104…開口部、105…シード層、106,107…配線パターン、108…ソルダーレジスト、200…ソルダーレジスト及びニッケル/金層を有する多層プリント配線板、R…層間接続用の導体の直径、T…第二の配線パターンの厚さ、T…第三の層の厚さ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Laminated body, 2 ... Seed layer, 3 ... 1st layer, 3a, 3b ... 1st pattern, 4a, 4b ... 1st wiring pattern, 5 ... 2nd layer, 5a, 5b ... 2nd 6a, 6b ... second wiring pattern, 7 ... third layer, 8 ... solder resist, 9 ... nickel / gold layer, 10 ... printed wiring board (inner layer substrate), 100 ... multilayer printed wiring board, 100A ... Multilayer printed wiring board, 101 ... copper clad laminate, 102 ... wiring pattern, 103 ... interlayer insulating layer, 104 ... opening, 105 ... seed layer, 106, 107 ... wiring pattern, 108 ... solder resist, 200 ... solder resist and A multilayer printed wiring board having a nickel / gold layer, R... Diameter of conductor for interlayer connection, T 1 ... Thickness of second wiring pattern, T 2 ... Thickness of third layer.

Claims (9)

(I)シード層を形成する工程と、
(II)シード層の少なくとも一部を覆うように、第一の感光性樹脂組成物からなる第一の層を形成後、前記第一の層に対して露光処理及び現像処理を施して第一のパターンを形成する工程と、
(III)電解めっき法により第一の配線パターンを形成後、はく離処理により第一のパターンをはく離する工程と、
(IV)第一の配線パターンの少なくとも一部を覆うように、第二の感光性樹脂組成物からなる第二の層を形成後、前記第二の層に対して露光処理及び現像処理を施して第二のパターンを形成する工程と、
(V)電解めっき法により第二の配線パターンを形成後、はく離処理により第二のパターンをはく離する工程と、
(VI)シード層を除去する工程と、
(VII)第一及び第二の配線パターンの少なくとも一部を覆うように、熱硬化性樹脂組成物からなる第三の層を形成する工程と、
(VIII)第三の層を熱硬化する工程と、
(IX)(VIII)における処理が施された第三の層を研削して第二の配線パターンの少なくとも一部を露出させる工程と、を備えるプリント配線板の製造方法。
(I) forming a seed layer;
(II) After forming the first layer made of the first photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the seed layer, the first layer is subjected to an exposure process and a development process. Forming a pattern of
(III) After forming the first wiring pattern by the electrolytic plating method, peeling the first pattern by a peeling treatment;
(IV) After forming the second layer made of the second photosensitive resin composition so as to cover at least a part of the first wiring pattern, the second layer is subjected to exposure processing and development processing. Forming a second pattern
(V) after forming the second wiring pattern by the electrolytic plating method, peeling the second pattern by a peeling treatment;
(VI) removing the seed layer;
(VII) forming a third layer made of a thermosetting resin composition so as to cover at least a part of the first and second wiring patterns;
(VIII) a step of thermosetting the third layer;
(IX) A method of manufacturing a printed wiring board comprising: a step of grinding the third layer subjected to the processing in (VIII) to expose at least a part of the second wiring pattern.
(VIII)における硬化温度が150℃〜250℃であり、且つ加熱時間が30分〜300分である請求項1に記載のプリント配線板の製造方法。   The method for producing a printed wiring board according to claim 1, wherein the curing temperature in (VIII) is 150C to 250C, and the heating time is 30 minutes to 300 minutes. (VIII)工程における熱硬化処理が、不活性ガスの雰囲気で行われる、請求項1又は2に記載のプリント配線板の製造方法。   The manufacturing method of the printed wiring board of Claim 1 or 2 with which the thermosetting process in a (VIII) process is performed in the atmosphere of an inert gas. 第二の配線パターンの厚さTが、2μm〜100μmである、請求項1〜3のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法。 The thickness T 1 of the second wiring pattern is a 2Myuemu~100myuemu, method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 3. 第三の層の厚さTが、2μm〜100μmである、請求項1〜4のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法。 The manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 1-4 whose thickness T2 of a 3rd layer is 2 micrometers-100 micrometers. 請求項1〜5のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法によって製造されたプリント配線板であって、第三の層が有する第二の配線パターンの直径が60μm以下である、プリント配線板。   It is a printed wiring board manufactured by the manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 1-5, Comprising: The diameter of the 2nd wiring pattern which a 3rd layer has is 60 micrometers or less. Wiring board. 第二の配線パターンの厚さTに対する第三の層の厚さTの比(T/T)が、1.0〜2.0である、請求項6に記載のプリント配線板。 Second ratio of the second thickness T 2 of the third layer to the thickness T 1 of the wiring pattern (T 2 / T 1) is 1.0 to 2.0, the printed wiring board according to claim 6 . 第三の層が有する第二の配線パターンの最小直径Rminに対する前記第二配線パターンの高さHの比(H/Rmin)が0.1〜2.0である、請求項6又は7に記載のプリント配線板。 The ratio (H / R min ) of the height H of the second wiring pattern to the minimum diameter R min of the second wiring pattern of the third layer is 0.1 to 2.0. Printed wiring board as described in 1. 請求項1〜5のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法において使用される熱硬化性樹脂組成物であって、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリアミドイミド樹脂及び熱硬化性ポリイミド樹脂からなる群より選択される少なくとも一種を含む樹脂組成物と、最大粒径が5μm以下であり且つ平均粒径が1μm以下である無機フィラーと、を含有する熱硬化性樹脂組成物。   It is a thermosetting resin composition used in the manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 1-5, Comprising: It consists of an epoxy resin, a phenol resin, a polyamide-imide resin, and a thermosetting polyimide resin. A thermosetting resin composition comprising: a resin composition containing at least one selected from the group; and an inorganic filler having a maximum particle size of 5 μm or less and an average particle size of 1 μm or less.
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