JP2014077739A - 透明度測定装置 - Google Patents

透明度測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014077739A
JP2014077739A JP2012226427A JP2012226427A JP2014077739A JP 2014077739 A JP2014077739 A JP 2014077739A JP 2012226427 A JP2012226427 A JP 2012226427A JP 2012226427 A JP2012226427 A JP 2012226427A JP 2014077739 A JP2014077739 A JP 2014077739A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measurement object
transparency
scattered light
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012226427A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6054130B2 (ja
Inventor
Seiya Koshino
誠也 越野
Sadashige Takada
定樹 高田
Jun Yamada
山田  純
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shiseido Co Ltd
Shibaura Institute of Technology
Original Assignee
Shiseido Co Ltd
Shibaura Institute of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shiseido Co Ltd, Shibaura Institute of Technology filed Critical Shiseido Co Ltd
Priority to JP2012226427A priority Critical patent/JP6054130B2/ja
Publication of JP2014077739A publication Critical patent/JP2014077739A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6054130B2 publication Critical patent/JP6054130B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)

Abstract

【課題】計測対象物に接触させることなく、計測対象物の透明度を測定することができる透明度測定装置を提供すること。
【解決手段】測定対象物に光を照射するための光照射手段と、前記光照射手段と前記測定対象物との間に配置されたスリットマスクと、前記光照射手段が照射する前記光の正反射の方向以外の方向に配置され、前記測定対象物から放射された散乱光を受光する、受光手段と、受光した前記散乱光に基づいて、前記測定対象物の透明度を算出する、算出手段と、を含む、透明度測定装置。
【選択図】図1

Description

本発明は透明度測定装置に関する。
従来、物体の透明度を測定する装置として、特許文献1に開示されている装置が知られている。具体的には、光源から計測対象物の表面に投光し、計測対象物内で散乱した散乱光を受光し、解析することにより、計測対象物の透明度を測定する。
特開2009−240644号公報
しかしながら、特許文献1などの方法では、透明度を測定する装置を計測対象物の表面に接触させる必要があった。計測対象物に接触させて応力がかかると、計測対象物が変形し、反射光の強度が変わるため、正確な透明度を測定することが困難であった。また、計測対象物の表面が平滑でない場合、測定装置と計測対象物を密着させることが出来ないため、正確な計測が出来なかった。
そのため、本発明は、計測対象物に接触させることなく、計測対象物の透明度を測定することができる透明度測定装置を提供することを目的とする。
測定対象物に光を照射するための光照射手段と、
前記光照射手段と前記測定対象物との間に配置されたスリットマスクと、
前記光照射手段が照射する前記光の正反射の方向以外の方向に配置され、前記測定対象物から放射された散乱光を受光する、受光手段と、
受光した前記散乱光に基づいて、前記測定対象物の透明度を算出する、算出手段と、
を含む、透明度測定装置が提供される。
本発明によれば、以下の効果を奏する。
計測対象物に接触させることなく、計測対象物の透明度を測定することができる透明度測定装置を提供できる。
図1は、本実施形態の透明度測定装置の例の概略図である。 図2は、測定対象物周辺での、入射光及び散乱光の様子の例を説明するための、概略図である。 図3は、受光素子により受光した散乱光の例を説明するための概略図である。 図4は、本実施形態の透明度測定装置の計測例を説明するための概略図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。
[透明度測定装置]
図1に、本実施形態の透明度測定装置の例の概略図を示す。
本発明の透明度測定装置1は、主に、投射光学系2及び撮像光学系3を含む。
(投射光学系)
投射光学系2は、測定対象物に光を投射するための光学系であり、通常、光源4(光照射手段)を含む。また、投射光学系2は、光源4から測定対象物Oに発せられた入射光L1が、測定対象物表面の測定領域において明部(光照射部)及び暗部(光非照射部)を形成するように構成された、スリットマスク5を含む。これにより、後述する方法により、計測対象物に接触させることなく、計測対象物の透明度を測定することができる。
投射光学系2の光源4としては、特に制限はないが、例えば、ハロゲンランプ、メタルハロゲンランプ、キセノンランプ、LEDランプ、白熱球、レーザー光源、紫外線ランプなどを使用することができる。
また、投射光学系2は、その他の構成要素を含んでも良い。具体的には、投射光学系2は、光源4とスリットマスク5との間に配置され、光源4から発せられた光をスリットマスク5へと集光させるための、図示しない集光レンズを含んでも良い。また、投射光学系2は、スリットマスク5と計測対象物Oとの間に配置され、スリットマスクを拡大投射するための、図示しない拡大投影用レンズを含んでも良い。さらに、光源4と計測対象物Oとの間にフィルターなどを配置して、特定の波長域を有する光だけが投光されるように構成しても良い。
光源4から発せられた入射光の投光角αは、特に制限されず、計測測定物の屈折率などに応じて、当業者が適宜選択することができる。
スリットマスク5のスリット形状は、通常、四辺形であり、好ましくは矩形である。また、スリットマスク5のスリット幅は、特に制限はなく、測定対象物における、所望の測定領域幅、計測対象物の材質などに応じて、適宜選択することができる。さらに、スリットマスク5のスリット数は、特に制限はなく、通常、1個以上である。
(撮像光学系)
撮像光学系3は、計測対象物Oに入射した光が測定対象物内部で散乱した、散乱光L2を撮像するための光学系であり、通常、受光素子6(受光手段)を含む。なお、散乱光を受光する方向は、入射光が正反射する方向以外の方向とすることが好ましい。散乱光を受光する方向が、入射光が正反射する方向と同じである場合、受光する光が、計測測定物の表面で正反射した光の影響を大きく受けるため、正確な透明度を測定できない場合がある。
また、撮像光学系3は、計測対象物Oと受光素子6との間に、分光光学素子7を含むことが好ましい。分光光学素子7とは、光を、特定の波長毎に分光することができる素子であり、撮像光学系3が分光光学素子7を含むことにより、透明度の分光特性を計測することができる。
受光素子6としては、計測対象物Oに入射した光が測定対象物内部で散乱した、散乱光L2を受光、結合することができれば特に制限はなく、例えば、CCDカメラ、CMOSカメラなどを使用することができる。
受光素子6は、通常、図示しない処理装置(算出手段)に接続されている。処理装置は、受光素子6が受光した光を、後述する方法などで解析することにより、透明度を算出する演算機能を有する。
分光光学素子7としては、散乱光L2を波長毎に分光することができれば特に制限はなく、例えば、透過型回折格子、反射型回折格子などを使用することができる。
撮像光学系3は、その他の構成を有しても良く、例えば、図示しない集光レンズ、アパーチャ、絞り及び/又はコリメータ、リレーレンズなどを含む構成であっても良い。
[透明度]
本実施形態における透明度について、図を参照して説明する。
図2に、測定対象物周辺での、入射光及び散乱光の様子の例を説明するための、概略図を示す。また、図3に、受光素子により受光した散乱光の例を説明するための概略図を示す。
図2に示すように、測定対象物に入射される入射光L1は、測定対象物内部で散乱して、光が照射された位置とは異なる位置から放射される。このとき、本実施形態では、入射光L1を、スリットマスクを介して、明部(光照射部)及び暗部(光非照射部)を形成させる。測定対象物内部で散乱して放射された散乱光L2は、測定対象物の透明度に応じて、光照射部由来の光が、光非照射部に染み出す。本実施形態では、光照射部由来の散乱光量と光非照射部由来の散乱光量とのコントラスト比から、透明度を算出した。
より具体的な例として、図3(a)に透明度が0%である測定対象物の、散乱光の例を示すが、透明度が0%である測定対象物では、光非照射部の散乱光量は0となる。一方、図3(b)に透明度が55%である測定対象物の、散乱光の例を示す。透明度が55%である測定対象物では、光照射部の光が、光非照射部に染み出すため、図3(a)の場合と比較して、コントラスト比が小さくなる。
本実施形態では、散乱光を解析して透明度を算出する方法として、光照射部と光非照射部とのコントラスト比を利用する例について説明したが、本発明はこの例に限定されない。他にも、散乱光の減衰を利用して透明度を測定する方法、を利用して透明度を測定する方法などが知られており、本発明ではこれらの方法を利用して透明度を測定しても良い。
[第1の実施形態]
次に、上述した実施形態の透明度測定装置を使用して、測定対象物の透明度を測定した実施形態について説明する。なお、上述した実施形態の透明度測定装置における、測定対象物は、測定対象物の相状態に依存されず、固体、液体又は気体のいずれの相状態のものでも測定することができる。具体的には、例えば、皮膚(地肌)、化粧後の皮膚、人口皮膚などの生体材料、樹脂材料、陶器、ガラス、車のボディ、粉末材料などの固体や、化粧料などの液体、更には気体の透明度を測定することができる。
また、本実施形態の透明度測定装置における、測定対象物の表面性状は、平滑であっても良く、平滑でなくても良い。
測定対象物として、男性パネルの腕及び顔、並びに、人工皮膚(ビューラックス社製)の透明度を、透明度測定装置1を使用して測定した。
図4に、本実施形態の透明度測定装置の計測結果の例を説明するための概略図を示す。図4の縦軸は透明度であり、横軸は光の波長である。
図4より明らかであるように、本実施形態の透明度測定装置を使用することにより、測定対象物に接触させることなく、波長毎に、測定対象物の透明度を測定することができる。
1 透明度測定装置
2 投射光学系
3 撮像光学系
4 光源
5 スリットマスク
6 受光素子
7 分光光学素子
L1 入射光
L2 散乱光
O 計測対象物

Claims (7)

  1. 測定対象物に光を照射するための光照射手段と、
    前記光照射手段と前記測定対象物との間に配置されたスリットマスクと、
    前記光照射手段が照射する前記光の正反射の方向以外の方向に配置され、前記測定対象物から放射された散乱光を受光する、受光手段と、
    受光した前記散乱光に基づいて、前記測定対象物の透明度を算出する、算出手段と、
    を含む、透明度測定装置。
  2. 前記受光手段と前記測定対象物との間に配置された分光光学素子を更に含む、
    請求項1に記載の透明度測定装置。
  3. 前記受光手段はCCDカメラである、請求項1又は2に記載の透明度測定装置。
  4. 前記分光光学素子は、透過型回折格子又は反射型回折格子である、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の透明度測定装置。
  5. 前記スリットマスクと前記計測対象物との間には、前記スリットマスクを通過した前記光を、前記計測対象物へと拡大投影するためのレンズを更に含む、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の透明度測定装置。
  6. 光をスリット状に測定対象物へと照射するステップと、
    前記測定対象物から放射された散乱光を受光するステップと、
    受光した前記散乱光に基づいて、前記測定対象物の透明度を算出するステップと、
    を有する、測定対象物の透明度を測定する方法。
  7. 前記受光するステップの前に、前記散乱光を分光するステップを更に有する、
    請求項6に記載の測定対象物の透明度を測定する方法。
JP2012226427A 2012-10-11 2012-10-11 透明度測定装置 Active JP6054130B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012226427A JP6054130B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 透明度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012226427A JP6054130B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 透明度測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014077739A true JP2014077739A (ja) 2014-05-01
JP6054130B2 JP6054130B2 (ja) 2016-12-27

Family

ID=50783132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012226427A Active JP6054130B2 (ja) 2012-10-11 2012-10-11 透明度測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6054130B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021149445A1 (ja) * 2020-01-23 2021-07-29 コニカミノルタ株式会社 光学特性評価装置
KR20230044663A (ko) * 2021-09-27 2023-04-04 윤숙현 세라믹 바인더를 이용한 불연바닥제 제조방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6423141A (en) * 1987-07-20 1989-01-25 Kao Corp Transparency measuring method
JPH07198598A (ja) * 1993-12-28 1995-08-01 Rikagaku Kenkyusho 光の透過度、散乱度の簡易測定方法および該簡易測定方法に使用する測定装置
JPH09309819A (ja) * 1996-05-20 1997-12-02 Shiseido Co Ltd 日焼け肌用化粧料
JP2004305558A (ja) * 2003-04-09 2004-11-04 Kao Corp 肌の透明性の評価方法
JP2009240644A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Shiseido Co Ltd 透明度測定装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6423141A (en) * 1987-07-20 1989-01-25 Kao Corp Transparency measuring method
JPH07198598A (ja) * 1993-12-28 1995-08-01 Rikagaku Kenkyusho 光の透過度、散乱度の簡易測定方法および該簡易測定方法に使用する測定装置
JPH09309819A (ja) * 1996-05-20 1997-12-02 Shiseido Co Ltd 日焼け肌用化粧料
JP2004305558A (ja) * 2003-04-09 2004-11-04 Kao Corp 肌の透明性の評価方法
JP2009240644A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Shiseido Co Ltd 透明度測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021149445A1 (ja) * 2020-01-23 2021-07-29 コニカミノルタ株式会社 光学特性評価装置
KR20230044663A (ko) * 2021-09-27 2023-04-04 윤숙현 세라믹 바인더를 이용한 불연바닥제 제조방법
KR102617792B1 (ko) 2021-09-27 2024-01-03 주식회사 지노랩 세라믹 바인더를 이용한 불연바닥제 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP6054130B2 (ja) 2016-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5107921B2 (ja) 散乱計用の二重のビームのセットアップ
JP6529830B2 (ja) 傾斜面又は曲面を持つ透明立体の高さマップの計算方法
EP2813808A3 (en) Three-dimensional optical shape measuring apparatus
US20130258324A1 (en) Surface defect detecting apparatus and method of controlling the same
EP3199911B1 (en) System comprising a three-dimensional measuring apparatus
JP2017513041A (ja) コヒーレント回折イメージング方法と、マイクロピンホール及びアパーチャシステムとを使用した、反射モードにおけるイメージングシステム
JP7451687B2 (ja) オーバレイ計測用格子ターゲット構造の暗視野イメージング
JP6546172B2 (ja) 反射光学素子、特にマイクロリソグラフィの光学特性を測定する測定構成体
JP2002181698A (ja) 分光反射率測定装置および分光反射率測定方法
Bernad et al. Upgrade of goniospectrophtometer GEFE for near-field scattering and fluorescence radiance measurements
CN105424312A (zh) 同轴抛物面的反射式纹影仪光学***
JP6054130B2 (ja) 透明度測定装置
JP5820729B2 (ja) 光束分岐素子、およびマスク欠陥検査装置
US9250186B2 (en) Profilometry systems and methods based on absorption and optical frequency conversion
JP2009240644A (ja) 透明度測定装置
JP5648372B2 (ja) 光源装置
EP3144641B1 (en) Photoelectric encoder
KR101436403B1 (ko) 정현파 격자를 이용한 섀도우모아레 방법 및 이를 이용한 측정 장치
Meyer Visual inspection of transparent objects physical basics, existing methods and novel ideas
US20050151979A1 (en) Optical measuring device and optical measuring method
JP4232648B2 (ja) 反射光測定装置
JP6300158B2 (ja) 検査用照明方法、及び、検査用照明装置
US7164470B2 (en) Depth of field enhancement for optical comparator
JP6130805B2 (ja) 距離測定装置および方法
JP2006071510A (ja) 反射率測定方法及び反射率測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20151002

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161003

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161130

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6054130

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250