JP2014056264A - 波長可変フィルタ及び波長可変レーザモジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】プロセス誤差による特性変動の少ない同方向性光結合器型の波長可変フィルタ、および波長可変レーザを提供する。
【解決手段】半導体基板上に、第1のコア層をもつ第1の光導波路と第2のコア層をもつ第2の光導波路とが面内で平行に設けられ、それらの光導波路のうちで1つ以上の光導波路に回折格子が形成され、第1のコア層にはp型導電型の半導体とn型導電型の半導体が近接し電流注入または電圧印加可能な構造をもち、第2のコア層には一方の導電型の半導体のみが接しており、前記第2のコア層の上部には、前記第1のコア層への前記電流注入または前記電圧印加から電気的に分離させる半絶縁性半導体層が形成される。
【選択図】図4

Description

本発明は、波長可変レーザモジュール及び波長可変フィルタに関する。
光通信の伝送容量は年々急速に増加しており、これに応える安価で高速、大容量の技術として波長多重通信(WDM)が実用されている。WDMは周波数が50GHzや100GHzだけ異なる多数の単色光(数十〜100波長)を同時に用い、各波長で異なる信号を伝送する技術であり、ファイバ1本当りの伝送容量を数十倍以上にできるので、ファイバの敷設費用を著しく減らすことができる。
従来WDMの光源は、半導体レーザ素子が筐体に格納され、それを駆動する半導体ICや配線が接続されることでモジュール化された装置(以下、モジュールと略す)が波長毎に複数必要であった。
レーザを製造するには波長毎に結晶を作る必要があり、また、モジュールも波長ごとに製造しなければならなく、コストの点で問題があった。これに対して、波長を自由に変えられる波長可変モジュールが開発された。この波長可変モジュールは、光波長が40nm程度の範囲で可変であるため、半導体レーザの数を減らせるので、モジュールを安価に供することが出来るため、WDMの主要な光源となっている。
波長可変レーザとして様々な方式が検討されてきた。ひとつの例として、非特許文献1を参考にして、GCSR(Grating Assisted Codirectional coupler laser with rear Sampled grating Reflector)レーザについて説明する。図1にGCSRレーザの断面構造図を、図2にGCSRレーザの動作原理を示すスペクトルを示す。このレーザは、回折格子型反射鏡12、位相調整領域13、同方向性光結合器14、ゲイン領域15が光学的に接続されている。それぞれの領域は、電極12,13,14,15の間隔で区切られている。
n型InP基板1上の、回折格子型反射鏡12、位相調整領域13及び同方向性光結合器14にストライプ状の低屈折率光導波路層2が配置され、ゲイン領域15にストライプ状のゲイン層(発光層)4が配置されている。その上に、p型クラッド層を介して、回折格子型反射鏡12、位相調整領域13及び同方向性光結合器14に高屈折率光導波路層3が配置されている。さらに、その上に、p型クラッド層を介して、回折格子型反射鏡12に回折格子層5、位相調整領域13にp型クラッド層、同方向性光結合器14に長周期回折格子6が配置されている。さらに、その上に、p型クラッド層を介して、前述の通り、回折格子型反射鏡12、位相調整領域13及び同方向性光結合器14及びゲイン領域15の各領域毎に分離された電極7、8、9、10が形成されている。また、n型InP基板の下には、上記領域(回折格子型反射鏡12、位相調整領域13、同方向性光結合器14、ゲイン領域15)の全面に渡って共通電極11が配置されている。
なお、低屈折率光導波路2と高屈折率光導波路3とは同じ長さで構成され、ゲイン領域15まで(電極10端と重なる位置まで)配置されている。つまり、高屈折率光導波路層の開始点18と、低屈折率光導波路層の開始点19とは同じ位置にあり、長周期回折格子の開始点17が内側にある構造である。
図2に示す通り、同方向性光結合器の透過スペクトル31のピークと回折格子型反射鏡の反射スペクトル32が一致する波長付近の縦モード34でレーザ発振する。同方向性光結合器の透過スペクトル31、回折格子型反射鏡の反射スペクトル32はそれぞれ電流を注入することにより、調整することができ、その結果レーザ発振34の波長を変化させることができる。
このレーザには下記の問題があった。回折格子型反射鏡12、位相調整領域13及び同方向性光結合器14は回折格子を形成する層まで同一プロセスで構成することができるが、ゲイン領域15は全く別構造となるので、別プロセスで形成することになる。これは発光効率を優先するゲイン領域15と光閉じ込め効率を優先する光導波路の機能の違いである。このように、縦方向の構造が全く異なるために、ゲイン層4と低屈折率光導波路層2とを精度よく接続させることが困難であるという問題である。実際の膜厚を見てみると、n型InP16の厚さは0.9μm、高屈折率光導波路層2の厚さは0.34μm、低屈折率光導波路層3の厚さは0.2μmある。このため、ゲイン層4をまず成長し不要な部分を除去し、n型InP16、高屈折率光導波路層2、低屈折率光導波路層3を再成長すると、厚さの差が大きいため、低屈折率光導波路層2とゲイン層4が滑らかに接続されない。成長の順番が逆の場合でも同様である。
この問題を解決する波長可変フィルタが特許文献1に開示されている。この特許文献1に開示された波長可変フィルタの構造図(鳥瞰図)を図3に示す。基板平面上に平行に伸びる低屈折率光導波路層と高屈折率光導波路層が基板平面上に形成された構造となっている(ここでは、横方向結合型同方向性光結合器と称する。)。図3に示すように、基板41上に、左側光導波路層42と右側光導波路層43が形成され、基板面内平行に、左側光導波路44と長周期回折格子46が形成された右側光導波路45が形成されており、特定の波長λのみが左側光導波路層42と右側光導波路層43との間を移動し、波長選択フィルタとして動作する。このように波長選択フィルタを形成することにより、光導波路の段差は軽減され、ゲイン領域(図中には示されていない)との接続を滑らかに形成することが可能となる。
また、問題を解決する波長可変レーザが特許文献2に開示されている。この特許文献2に開示された波長可変レーザは、マッハツェンダ型干渉計フィルタとSSG-DBRフィルタでゲイン領域を挟んでいる。
特開2005-327881 特開2000-223774
IEEEPhotonics Technology Letters, VOL. 7, NO. 7, July 1995, P697-699
特許文献1の段落番号0039には、「左側光導波路705には、屈折率制御用電極140が備えられており、屈折率140を介して入力した電流がGaCC型波長可変フィルタ120の左側光導波路705に入力されるようになっている。」と記載されている。つまり、図3の左側光導波路44の上に屈折率制御用電極が形成されていることが開示されている。しかし、他に開示されている光導波路構造は、リッジ構造をハイメサ構造にすること(特許文献1の段落番号0040)や、2本の光導波路にグレーティングを設けること(特許文献1の段落番号0040)、2本の光導波路の中間層にグレーティングを設けること(特許文献1の段落番号0040)、2本の光導波路を構成するリッジ部の幅と高さを異ならせること(特許文献1の段落番号0037)、グレーティングを光導波路の上部表面に設けること(特許文献1の段落番号0040)、2本の光導波路の組成を同一にする又は異ならせること(特許文献1の段落番号0041)のみである。
つまり、特許文献1には、右側光導波路45自体の構造やその右側光導波路45上にはどのような構造が形成されるかは何ら開示されていない。
光導波路の組成を異ならせる最も一般的な方法は、バットジョイント接続により、異なる組成の結晶を接続することである。しかし、同方向性結合器が動作するためには左側光導波路44と右側光導波路45の間の距離が2μm以下である必要があるが、選択成長を用いるバットジョイント接続では、光導波路付近の組成の制御が難しい。更に、左側光導波路層と右側光導波路層との境界47、左側光導波路44、右側光導波路45の位置関係に依存して、フィルタ特性が変化してしまうという課題が発生する。
また、図1のGCSRレーザの同方向性光結合器14の別の課題として、微妙な構造の変化にしたがって同方向性光結合器の透過スペクトル特性が変化してしまうことがある。ゲイン領域15を通った光が同方向性結合器14に入射するとき、長周期回折格子の開始点17と高屈折率光導波路層の開始点18の位置が変動することにより同方向性結合器への入射光の位相が変化してしまうためである。特に、高屈折率光導波路層3が突然出現するため、その制御は大変難しくなっている。特許文献1中にはこれに対する解決法は記載されていない。
本発明の目的は、プロセス誤差による特性変動の少ない同方向性光結合器型の波長可変フィルタ、および波長可変レーザを提供することにある。
特許文献2のマッハツェンダ型干渉計では、波長可変範囲を広く取ろうとすると、フィルタ特性がなだらかになるという課題がある。このため、いわゆるCバンド帯(波長1530-1570nm)で波長変化し、かつシングルモード発振を実現することは難しい。
本願では、上記課題を解決する方法の一つとして、次の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの構造を開示している。
1つ目の課題(組成の異なる横方向結合型同方向性光結合器の形成方法)を解消する構造を図4の斜視図で示す。n型InP基板上に高屈折率光導波路60と低屈折率光導波路61を備えている。高屈折率光導波路60は、光導波路層A53、n型InP54、光導波路層B55、p型InP56が積層された構造である。一方、低屈折率光導波路61は、光導波路層A53、n型InP54、半絶縁InP52、p型InP56が積層された構造である。この構造は、選択成長によるバットジョイントを用いずにウエットエッチング工程を用いて異なる屈折率をもつ並行光導波路を形成するので、近接配置が可能である。そして、光導波路A53、n型InPの積層体を高屈折率光導波路60と低屈折率光導波路61の双方が備えているので、光導波路層A53からp型InP56まで連続成長させた後、低屈折率光導波路61を構成する光導波路層B55とp型InP56を選択的に除去することで形成でき、高屈折率光導波路60と低屈折率光導波路61との間に選択成長のバットジョイントがなくせるので、選択成長に起因する組成の制御性の低下を抑えることができる。従って、安定した特性をもつ波長可変フィルタを実現できる。
また、低屈折率光導波路61の上面が半絶縁InP52で覆われているために、長周期回折格子を備えた高屈折率光導波路への効率的な電流注入が可能となり、結果として電流注入による波長変化率が高くなる。
また、低屈折率光導波路61の上面を半絶縁InP52で覆うとともに、無機絶縁膜を配置しているので、電流が直接的に低屈折率光導波路61に流れることはないので、低屈折率光導波路61の上に電極が配置できている。このような電極の配置の自由度は、外部との電気的な接合をしやすくし、ジャンクダウン実装時における接合面積、光半導体素子の実装時における位置ズレを抑制できるというメリットを得ることができる。
2つ目の課題(同方向性光結合器の透過スペクトル特性が微妙な構造の変化にしたがって変化してしまうこと)を解決する構造の上面図を図5に示す。光が高屈折率光導波路の直線部72に入射する。このとき低屈折率光導波路は曲線の構造を持ち(曲線部74) 、高屈折率光導波路の直線部72から十分離れている。曲線構造により徐々に低屈折率光導波路が近づき、長周期回折格子77が形成される領域では、距離2μm以下、例えば、1μm程度まで近づき、同方向性光結合器を形成している。光出射付近では、高屈折率光導波路72が低屈折率光導波路75から徐々に離れ、光出射部分では、十分低屈折率光導波路75が高屈折率光導波路72から十分離れている。この構造により、GCSRレーザの同方向性光結合器で問題になっていた高屈折率光導波路層が突然出現することによる課題が解決される。更に、長周期回折格子77が、高屈折率光導波路72、低屈折率光導波路75と同じマスクで同時にパターン形成できるため、GCSRレーザの同方向性光結合器で問題になっていた長周期回折格子の開始点17と高屈折率光導波路層の開始点18の位置関係による特性の変動も抑制される。
本発明によれば、特性変動の少ない同方向性光結合器型の波長可変フィルタ、および波長可変レーザを提供できる。
図1は、従来の波長可変レーザの代表例(GCSRレーザ)の断面構造図である。 図2は、GCSRレーザの動作原理を示す図である。 図3は、従来の波長可変フィルタの構成図(鳥瞰図)である。 図4は、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタのの部分斜視図である。 図5は、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの上面構成図である。 図6Aは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図6Bは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図6Cは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図6Dは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図6Eは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図6Fは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製フロー図である。 図7Aは、本発明の波長可変レーザの構成図である。 図7Bは、本発明の波長可変レーザの構成図である。 図8Aは、本発明の波長可変変レーザのプロセスフロー図である。 図8Bは、本発明の波長可変変レーザのプロセスフロー図である。 図8Cは、本発明の波長可変変レーザのプロセスフロー図である。
(実施例1)
本発明の第1の実施例を、図4、図5、図6を用いて説明する。本実施例はInP基板上の1.55μm帯の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタである。本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの部分断面図を図4に、本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの上面構成図を図5に示す。以下、レイアウトを詳述する。
本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタは、高屈折率光導波路60、低屈折率光導波路61の2本の光導波路が面内に1μmのギャップを介して配置されている。高屈折率光導波路60及び低屈折率光導波路61は、図5の平面レイアウトで示すように、実質的に平行に、対向する辺の間を並行して伸びているメサストライプ形状の半導体で構成されている。
高屈折率光導波路60は、図4の部分断面図で示すように、n型InP51の左側の凸部上に、光導波路層A53、n型InP54、光導波路層B55、p型InP56が順に積層された積層体で構成されている。n型InP51の裏面には図示しないが裏面電極が形成されている。この高屈折率光導波路60は、n型InP51の左側の凸部、光導波路層A53、n型InP54、光導波路層B55の全層が長周期回折格子57となるように、導波方向に沿って、左右に、周期的な矩形の平面パターン(光導波路の幅が周期的に変わるパターン)を備えている。
高屈折率光導波路60は、図5の符号72、73で示すように、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの中央部(低屈折率光導波路61の中央部)は直線で、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの一方の端部(低屈折率光導波路61の端部)では低屈折率光導波路61から離れ、間隔が広がる方向に(中央に向って徐々に近づくように)湾曲した平面レイアウトになっている。この平面レイアウトを、図5では、高屈折率光導波路の直線部72、高屈折率光導波路の曲線部73として図示している。
低屈折率光導波路61は、図4の部分断面図で示すように、n型InP51の右側の凸部上に、光導波路層A53が積層された積層体で構成されており、n型InP51の裏面には図示しないが、裏面電極が形成されている構造となっている。なお、低屈折率光導波路61にとって、この裏面電極は必ずしも必要ないが、本実施例では形成してある。この低屈折率光導波路61は、ほぼ一定幅であるが、高屈折率光導波路60と同様に、n型InP51の右側の凸部、光導波路層A53が長周期回折格子となるように、導波方向に沿って、左右に、周期的な矩形の平面パターン(光導波路の幅が周期的に変わるパターン)となっていてもよい。
低屈折率光導波路61は、図5の符号74、75で示すように、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの中央部(低屈折率光導波路61の中央部)は直線で、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの他方の端部(低屈折率光導波路61の端部)で高屈折率光導波路60から離れ、間隔が広がる方向に(中央に向って徐々に近づくように)湾曲した平面レイアウトになっている。この平面レイアウトを、図5では、低屈折率光導波路の直線部75、低屈折率光導波路の曲線部74として図示している。
さらに、本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタは、背が高い高屈折率光導波路60のメサ上面を露出させ、かつ、背が低い低屈折率光導波路61を完全に覆うように、半絶縁InP52が形成されている。この半絶縁InP52があることにより、電極59からの電流パスが狭窄され、低屈折率光導波路61にほとんど流れなくなっている。
高屈折率光導波路60と低屈折率光導波路61の上には、p型InP56がクラッド層として配置されるが、低屈折率光導波路61と接するように既に半絶縁InP52が形成されているので、低屈折率光導波路61の上には、半絶縁InP52を介してp型InP56が配置される。
このp型InP56の上には、電極59が形成されている。電極59の平面パターンは、図5で符号76として示すように、InP基板71(図4のn型InP51に相当する。)よりも一回り小さい。そして、電極76の全周にInP基板71がある構造となっている。従って、高屈折率光導波路の曲線部73と、低屈折率光導波路の曲線部74と、高屈折率光導波路の直線部72の低屈折率光導波路の曲線部74と隣接する部分と、低屈折率光導波路の直線部75の高屈折率光導波路の曲線部73と隣接する部分とが電極で覆われない構造となっている。なお、低屈折率光導波路61には電流を流すことを意図していないないので、本来、低屈折率光導波路61と重なる領域には電極59を形成する必要はないが、本実施例では低屈折率光導波路61と重なる領域にも形成されている。但し、電流注入効率を向上させるため、高屈折率光導波路60の周辺領域(直上及びその左右の一定領域)を除き、無機絶縁膜としてSiO58を配置した構造となっている。
次に、本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの作製プロセスを説明する。このプロセスを図6に示す。まず、n型InP基板全面(101)に組成波長1.3μmのn型InGaAsPを厚さ100nm(102)、n型InPを厚さ100nm(103)、組成波長1.4μmのInGaAsPを厚さ350nm(104)、p型InPを厚さ400nm(105)、InGaAsを厚さ100nm(106)を、既知のMOVPE法を用いて形成する(図6A)。この多層構造を有するInPウェハ上に、二酸化珪素膜(SiO2)109を被覆して保護マスクとする。この二酸化珪素マスクを用いて、n型InP基板(101)まで、エッチングすることで、n型InP基板の凸部の上に、n型InGaAsP(102)、n型InP(103)、InGaAsP(104)、p型InP(105)、InGaAs(106)の積層体で構成されたメサストライプが配置されることになる(図6B)。左側メサストライプ107の幅は1μm、右側メサストライプ108の幅は1μm、メサストライプ間は1μmである。エッチングには、例えば塩素系ガスによる反応性イオンエッチング(RIE:ReActive Ion Etching)等のドライエッチング、あるいは臭素系溶液等によるウェットエッチング、さらには両者の併用、いずれの手法を用いても良い。続いて右側メサストライプの上を除いてレジストで被覆する(図6C)。その後、バッファードフッ酸で二酸化珪素膜109、HPO:HO:HO=1:1:10溶液でp型InGaAs106、HBr:H3PO4=1:4溶液でp型InP105、HPO:HO:HO=1:1:10溶液でInGaAsP膜104を除去して、右側メサストライプ108のコア層を形成する(図6D)。その後、レジスト110を除去する。続いて、MOVPE法を用いて半絶縁性InPを再成長する(図6E)。この工程で、高さの高い高屈折率光導波路72の一部の層(高屈折率光導波路72のコア層となる組成波長1.4μmのInGaAsP膜104を除去し、残った層で組成波長1.3μmのInGaAsP低屈折率光導波路102を構成する。その後、二酸化珪素膜109を除去した後、全面にp型InP112をMOVPE法により成長する。二酸化珪素膜113、電極114を形成し、フィルタは完成する(図6F)。高屈折率光導波路72は図6F中の左側メサストライプ107に対応し、低屈折率光導波路74は右側メサストライプ108に対応する。
本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタは、電極から注入される電流量を制御することにより、1.5μmから1.57μmの広い波長範囲で透過率ピーク波長を制御できた。
なお、本実施例では、基板としてInPを用いたが、GaAs、GaN、ZnSeを用いることもできる。
また、本実施例では、発光波長が1.55μm帯のレーザについて説明したが、その他の波長帯のでもよい。
ここで、本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタの代表的な特徴を述べる。
本実施例の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタは、連続成長した同じ組成波長材料で、同じ膜厚の2本のメサストライプ型(n型InP51の凸部上に形成された光導波路層A53)の光導波路の一方に、さらに、別の光導波路(n型InP54、光導波路層B55、p型InP56)を配置させた構造をしている。従って、選択成長に伴うバットジョイント工程を経る必要がなく、光導波路の組成が部分的に変わりにくい再現性の高い構造となっている。また、高屈折率光導波路60を、低屈折率光導波路61を形成した層とは異なり、より高い層に形成することで実現できている。また、この構造により、2本の光導波路(高屈折率光導波路72、低屈折率光導波路75)の平面パターンを1ホトでパターニングできるようになるので、光導波路の位置ズレを考慮して狭めることができなかった2本の光導波路の間隔を2μm以下、具体的には、1μm程度に近接配置できるようになる。
また、長周期回折格子77が、導波路の幅の周期的変化により実現されているので、2本の光導波路(高屈折率光導波路72、低屈折率光導波路75)加工時に、1ホトでパターニングできるので、それらの間の位置ズレは解消し、フィルタ特性は安定化する。
また、左側メサストライプ107へは電流注入可能である一方、右側メサストライプ108は半絶縁InP111に囲まれているために、電流が注入されない。この結果、フィルタする波長を電流注入により効率よく変化させることができる。
(実施例2)
本発明の第2の実施例を、図7、図8を用いて説明する。本実施例はInP基板上の1.55μm帯の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタを用いた波長可変レーザである。
図7Aは、本実施例の波長可変レーザの上面図である。波長可変レーザは、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ131、位相調整領域132、ゲイン領域133、回折格子型反射鏡134が接続されている。図7Bは、本実施例の波長可変レーザの断面図である。n型InP基板135上に電流注入によりゲインを発生する光導波路層137と電流注入により屈折率が変化する光導波路層136が形成されている。光導波路層137はゲイン領域133のコア層(ゲイン層)となり、光導波路層136は横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ131、位相調整領域132、回折格子型反射鏡134のコア層となる。回折格子型反射鏡134には回折格子138が形成されている。光導波路層137と光導波路層136とは異なる組成波長の材料で構成されている。波長可変レーザの端面、つまり、図7A中の横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ131の左側と回折格子型反射鏡134の右側は、へき開面による反射面が構成されているが、多層誘電体膜でも構わない。「端面の反射面」の用語には、へき開面と多層誘電体膜の双方の意味を含むものとする。
動作原理は図2に説明したとおりであり、それぞれの領域に電流を流すことにより、発振波長を調整する。
この構成は、フィルタリング原理が異なる第1フィルタ手段と第2フィルタ手段とにゲイン領域が挟まれた波長可変レーザモジュールであって、前記ゲイン領域は、電流を供給することで発光し、前記第1フィルタ手段と前記第2フィルタ手段は、反射光強度のピーク波長が電気的に制御可能であり、第1フィルタ手段は、第2フィルタ手段のピーク波長がシフトする波長範囲において、周期的なピークが複数あるフィルタ特性を備え、前記第1フィルタ手段又は前記第2フィルタ手段を透過した光が出力されるようになっているといえ、特に、第2フィルタ手段として、同方向性光結合器型波長可変フィルタと端面の反射面を備えていることにより、マッハツェンダ干渉計を用いた特許文献2で実現困難であった、広い波長範囲でのシングルモード発振が可能となる。具体的には、Cバンド帯(波長1530-1570nm)で波長変化させてもシングルモード発振をさせることができるようになる。
この実施例の第1フィルタ手段は、特定波長に反射強度のピークがある反射フィルタとして回折格子型反射鏡134と付加的な反射膜である端面の反射面とで構成されているが、これは、(液晶)エタロンフィルタと端面の反射面とで構成することも、リング共振器と端面の反射面とで構成することもできる。
この構成は、第1フィルタ手段として回折格子型反射鏡134、第2フィルタ手段として、横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ131を用いた場合に、特に好適な構成である。従来の縦方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ131を用いる場合には、再成長工程とホト工程が増えるが、この構成に用いると製造プロセスが簡単で、導波路の光結合が効率的だからである。
次に、波長可変レーザの作製方法を図8に示す。n型InP基板135上にMOVPE法で電流注入によりゲインを発生する活性層として機能する光導波路層137(ゲイン層)を形成する(図8A)。次に、窒化珪素をマスクとして、反応性イオンエッチングでゲイン領域133以外の領域の光導波路層137を除去する。
続いて、電流注入により屈折率が変化する光導波路層136をMOVPE法により選択成長する(図8B)。次にEB描画法により回折格子138を形成後、MOVPE法によりp-InP139を成長し、ウエハを平坦化する(図8C)。続いて実施例1に示した、メサストライプ形成後、電極を形成して、レーザが完成する(図7B)。この際、ゲイン層となる光導波路137と光導波路136とは異なる組成の半導体材料で構成されたバットジョイント構造となっている。
このレーザは、1.5μmから1.57μmの広い波長範囲でシングルモード発振した。
本実施例では、基板としてInPを用いたが、GaAs、GaN、ZnSeでもよい。また、波長帯は1.55μm帯に限定したが、その他の波長帯でもよい。
1:InP基板、2:低屈折率光導波路層、3:高屈折率光導波路層、4:ゲイン層、5:回折格子、6:長周期回折格子、7:回折格子型反射鏡の電極、8:位相調整領域の電極、9:同方向性光結合器の電極、10:ゲイン領域の電極、11:共通電極、12:回折格子型反射鏡、13:位相調整領域、14:同方向性光結合器、15:ゲイン領域、16:n型InP、17:長周期回折格子の開始点、18:高屈折率光導波路層の開始点、19:低屈折率光導波路層の開始点、31:回折格子型反射鏡の反射スペクトル、32:同方向性光結合器の透過スペクトル、33:縦モード、34:レーザ発振、41:基板、42:左側光導波路層、43:右側光導波路層、44:左側光導波路、45:右側光導波路、46:長周期回折格子、47:左側光導波路層と右側光導波路層の境界、51:n型InP、52:半絶縁InP、53:光導波路層A、54:n型InP、55:光導波路層B、56:p型InP、57:長周期回折格子、58:二酸化珪素、59:電極、60:高屈折率光導波路、61:低屈折率光導波路、71:InP基板、72:高屈折率光導波路の直線部、73:高屈折率光導波路の曲線部、74:低屈折率光導波路の曲線部、75:低屈折率光導波路の直線部、76:電極、77:長周期回折格子、101:n型InP基板、102:n型InGaAsP(組成1.3μm、厚さ100nm)、103:n型InP(厚さ100nm)、104:InGaAsP(組成1.4μm、厚さ350nm)、105:p型InP(厚さ400nm)、106:p型InGaAs(厚さ100nm)、107:左側メサストライプ、108:右側メサストライプ、109:二酸化珪素膜、110:レジスト、111:半絶縁InP、112:p型InP、113:二酸化珪素膜、114:電極、131:横方向結合型同方向性光結合器型波長可変フィルタ、132:位相調整領域、133:ゲイン領域、134:回折格子型反射鏡、135:n型InP基板、136:電流注入により屈折率が変化する光導波路層、137:電流注入によりゲインを発生する光導波路層、138:回折格子、139:p型InP。

Claims (10)

  1. 半導体基板上に、第1のコア層をもつ第1の光導波路と第2のコア層をもつ第2の光導波路とが面内で平行に設けられ、
    それらの光導波路のうちで1つ以上の光導波路に回折格子が形成され、第1のコア層にはp型導電型の半導体とn型導電型の半導体が近接し電流注入または電圧印加可能な構造をもち、
    第2のコア層には一方の導電型の半導体のみが接しており、
    前記第2のコア層の上部には、前記第1のコア層への前記電流注入または前記電圧印加から電気的に分離させる半絶縁性半導体層が形成されることを特徴とする波長可変フィルタ。
  2. 第1のコア層と第2のコア層が一部共通の結晶構造を持つことを特徴とする請求項1記載の波長可変フィルタ。
  3. 前記第1の光導波路と第2の光導波路との間の間隔は、前記第2導波路の中央部よりも端部の方が広いことを特徴とする請求項1記載の波長可変フィルタ。
  4. 請求項1に記載の波長可変フィルタと、前記半導体基板上に形成され、前記第1のコア層と光結合するゲイン層を有するゲイン領域と、第2の回折格子を有し、かつ、前記ゲイン層と光結合する分布ブラッグ反射鏡(DBR)光導波路と、を備えることを特徴とする波長可変レーザモジュール。
  5. 第1導電型の半導体層で構成された半導体基板上に、前記半導体基板の第1辺から対向する第2辺に向って並行して伸びる第1光導波路と第2光導波路とを備え、
    前記第1光導波路は、第1回折格子を備え、
    前記第1光導波路は、第1導電型の半導体層の上に配置された第1コア層と、前記第1導電型半導体層の下に配置された第1電極と、前記第1コア層の上に配置された第2導電型の半導体層と、前記第2導電型半導体層の上に配置された第2電極とを備え、
    前記第2光導波路は、第1導電型の半導体層の上に配置された第2コア層と、前記第2コア層と前記第2電極との間に配置された絶縁膜と、
    前記第2コア層と前記絶縁膜との間に配置された半絶縁性半導体層と、を備え、
    前記版絶縁性半導体層により、前記第2コア層と前記第2電極および前記第2導電型の半導体層との間が電気的に分離をしていることを特徴とする波長可変フィルタ。
  6. 請求項5において、
    前記第1コア層と前記第2コア層とは、組成波長の異なる材料で構成されていることを特徴とする波長可変フィルタ。
  7. 請求項6において、
    前記第1コア層より下に配置された第1導電型の半導体層は、前記第2コア層と前記第2コア層の下に配置された第1導電型の半導体層との積層体と、同じ組成、同じ膜厚で構成された層を含むことを特徴とする波長可変フィルタ。
  8. 請求項6において、
    前記第1回折格子は、前記第1コア層の幅が周期的に変化する構造を含むことを特徴とする波長可変フィルタ。
  9. 請求項5において、
    前記第1コア層と前記第2コア層との間隔は、前記第2コア層の中央部よりも端部の方が広いことを特徴とする請求項1記載の波長可変フィルタ。
  10. 請求項5に記載された波長可変フィルタと、ゲイン領域とを備え、
    前記ゲイン領域は、前記第1導電型半導体層の上に配置されたゲイン層を備え、
    前記ゲイン層は、前記波長可変フィルタの前記第1コア層と異なる組成波長の材料で構成されていることを特徴とする波長可変レーザモジュール。
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