JP2014048176A - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計 Download PDF

Info

Publication number
JP2014048176A
JP2014048176A JP2012191912A JP2012191912A JP2014048176A JP 2014048176 A JP2014048176 A JP 2014048176A JP 2012191912 A JP2012191912 A JP 2012191912A JP 2012191912 A JP2012191912 A JP 2012191912A JP 2014048176 A JP2014048176 A JP 2014048176A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
chamber
spectroscopic
spectrophotometer
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012191912A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5915470B2 (ja
JP2014048176A5 (ja
Inventor
Michiaki Owa
道晃 尾和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2012191912A priority Critical patent/JP5915470B2/ja
Priority to US14/011,982 priority patent/US20140063496A1/en
Priority to CN201310389193.XA priority patent/CN103674863B/zh
Publication of JP2014048176A publication Critical patent/JP2014048176A/ja
Publication of JP2014048176A5 publication Critical patent/JP2014048176A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5915470B2 publication Critical patent/JP5915470B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0286Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by temperature, humidity or pressure, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a spectrometer, e.g. vacuum

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

【課題】従来の分光光度計に比べて、より一層、分光素子や試料等を収容する分光部の温度変化を低減することができる分光光度計を提供する。
【解決手段】光源室10と、光源室10と断熱部を隔てて分離された、少なくとも分光素子24、試料室22及び検出器25を備えた分光室20と、分光室20内の温度を測定する温度測定手段40と、分光室20の内部を加熱及び/又は冷却する温度調節手段50と、温度測定手段50より温度情報を取得し、分光室20内を予め定められた設定温度に維持するように温度調節手段50を動作させる制御手段31とを備えた分光光度計1を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、分光光度計に関する。特に、光源とは分離された分光室を有する分光光度計に関する。
分光光度計では、光源から発した光を試料に照射し、試料と相互作用した後の光(透過光など)を分光素子により波長分離して各波長毎の強度を検出する。このような分光光度計では、例えば、光源として重水素ランプ、分光素子として回折格子が用いられる。
重水素ランプを光源として用いた場合、光源からは数十ワットもの熱が発生する。その熱が分光素子である回折格子に伝わると、回折格子の格子間間隔が伸び、分光特性が変化する。
このように、光源から発生する熱が分光素子に伝わることを防ぐために、光源を収容した光源室と分光素子や試料セル、検出器等を収容した分光室を分離し、両者の間に断熱材を配して分析用の光だけを通すようにしたり、さらに、光源室で発生する熱を積極的に排出するという対策が採られている。例えば、特許文献1に記載の分光光度計では、光源室にヒートパイプの一端を取り付け、他端をファンにより強制空冷することにより光源室内の熱を排出し、断熱材を介して接続された分光室への影響を抑えている。
特開平8-233659号公報
近年、高速液体クロマトグラフ(HPLC)では、少量の試料でも分析できるようにするため、移動相の流量を従来の10分の1程度に抑える低流量化が行われている。低流量化HPLCでは、試料成分量の減少に伴って吸光量が減少する点を補うために、フローセル内で照射光を多重反射させるという手法が採られる。この場合、分光素子の温度変化に加え、移動相や試料周辺の僅かの温度変化も分析結果に大きな影響を及ぼす。
本発明が解決しようとする課題は、従来の分光光度計に比べて、より一層、分光素子や試料等を収容する分光部の温度変化を低減することができる分光光度計を提供することである。
上記課題を解決するために成された本発明に係る分光光度計は、
a) 光源室と、
b) 前記光源室と断熱部を隔てて分離された、少なくとも分光素子、試料室及び検出器を備えた分光室と、
c) 前記分光室内の温度を測定する温度測定手段と、
d) 前記分光室の内部を加熱及び/又は冷却する温度調節手段と、
e) 前記温度測定手段より温度情報を取得し、前記分光室内を予め定められた設定温度に維持するように前記温度調節手段を動作させる制御手段と
を備えることを特徴とする。
本発明では、温度測定手段からの温度情報に基づいて分光室の温度をフィードバック制御するため、高い精度で分光室内の温度を予め定められた設定温度に維持することができる。また、温度調節手段は分光室の内部全体の温度調節を行うため、その中に備えられた分光素子、試料室及び検出器が同時に温度調節される。そのため、それらの間に温度差が生じることが少なく、高精度の分光分析を行うことができる。このような空間的均一性の他、時間的安定性の効果もある。すなわち、分光室には分光素子、試料室、検出器がそれぞれ必要な距離・空間を隔てて配置されているため、分光室内には比較的大きな空間が存在する。本発明では、この大きな空間の全体を温度調節するため、時間的な温度変化(ゆらぎ)も小さくなり、安定性の高い、また、再現性の良い分析を行うことができる。
なお、前記光源室には、別途、冷却手段(放熱手段、温度調節手段)が設けられていてもよい。
本発明に係る分光光度計では、前記設定温度を室温よりも高い温度とすることが望ましい。
上述したように光源室と分光室を分離して両者の間に断熱材を配したり、光源室で発生した熱を積極的に排出する対策を採った場合でも、光源室で発生した熱の一部は外気を介して分光室に伝達される。そのため、分光室内の温度は室温よりも高くなりやすい。前記設定温度を室温よりも高くしておくことによって、より安定的かつ効率的に分光室内の温度を一定に維持することができる。
本発明に係る分光光度計では、光源室と分離された分光室の温度を、温度測定手段からの温度情報に基づいてフィードバック制御する。そのため、従来の分光光度計に比べて、より一層、分光素子や試料等を収容する分光部の温度変化を低減することができる。
本発明に係る分光光度計の一実施例の要部構成図。 従来の分光光度計と本実施例の分光光度計を用いてそれぞれ測定した吸光度の時間変化を示すグラフ。
本発明に係る分光光度計の一実施例について、以下、図面を参照して説明する。
本実施例の分光光度計1は、液体クロマトグラフの検出部として用いられるものであり、大別して光源室10と分光室20から構成されている(図1)。光源室10は、断熱空間を介して分光室20と分離された空間内に配置されている。
光源室10には重水素ランプ11が配置されている。また、光源室10において発生した熱を排出するためのファン12が配置されている。
分光室20には、光路上で光源室10に近い側から順に、集光レンズ21、試料セル22、スリット23、回折格子24、及びフォトダイオードアレイ検出器25が配置されている。フォトダイオードアレイ検出器25にはA/D変換器30が接続され、またA/D変換器30はコンピュータ31に接続されている。
また、分光室20の外壁には、分光室20内の温度を測定する温度センサ40とヒータ50が取り付けられており、それぞれコンピュータ31に接続されている。
本実施例の分光光度計の動作について説明する。試料セル22には、上流側に接続されたカラムにおいて時間的に分離された成分と移動相が順次流入し、下流側に接続されたドレインに排出される。重水素ランプ11から発せられた光は、集光レンズ21により集光され、試料セル22を通過する成分及び移動相に照射される。試料セル22を通過した光はスリット23を通過して回折格子24に入射する。回折格子24に入射した光は波長分離されて出射し、フォトダイオードアレイ検出器25によって検出される。フォトダイオードアレイ検出器25からの検出信号はA/D変換器30によりA/D変換され、コンピュータ31に入力される。
使用者は、分光光度計1を起動する前に、コンピュータ31上で分光室20の温度設定を行う。本実施例の分光光度計1では、使用者は室温よりも高い温度に設定する。温度設定完了後、使用者が分光光度計1を起動させると、温度センサ40は分光室20内の温度測定を開始し、該温度情報と予め使用者により設定されている温度をコンピュータ31に接続された表示部(図示なし)に表示する。また、コンピュータ31は温度センサ40を通じて取得した分光室20内の温度と、予め使用者により設定された温度を比較し、これらが同じ温度になるまでの間、ヒータ50を動作させて分光室20の内部を加熱する。そして、分光室20内の温度が、使用者により設定された温度に達するとヒータ50の動作を停止させる。
本実施例の分光光度計1では、分光室20の内部全体の温度調節を行うため、その中に備えられた試料セル22、回折格子24、及びフォトダイオードアレイ検出器25などが同時に温度調節される。そのため、それらの間に温度差が生じることが少なく、高精度の分光分析を行うことができる。このような空間的均一性の他、時間的安定性の効果もある。分光室20には集光レンズ21、試料セル22、スリット23、回折格子24、及びフォトダイオードアレイ検出器25がそれぞれ必要な距離・空間を隔てて配置されているため、分光室20内には比較的大きな空間が存在する。本実施例の分光光度計1では、この大きな空間の全体を温度調節するため、時間的な温度変化(ゆらぎ)も小さくなり、安定性の高い、また、再現性の良い分析を行うことができる。
本実施例の分光光度計1のように、温度センサ40からの温度情報に基づいて分光室20内の温度をフィードバック制御することによる効果を確認するために、フィードバック制御を行う場合と行わない場合のそれぞれにおいてベースライン測定を行った。試料セル22には移動相として水を流通させた。測定結果から得た検出波長254nmにおける吸光度の変化と、測定中の室温の変化を図2に示す。図2(a)はフィードバック制御を行わずにベースライン測定を行って得た吸光度の変化、図2(b)は分光室20の温度を37℃に設定してフィードバック制御を行いつつベースライン測定を行って得た吸光度の変化を示すグラフである。
フィードバック制御を行わずに吸光度の変化を測定した場合には、図2(a)に示すように、室温の変動と同期する吸光度の変動が顕著に現れた。測定時間中の室温の変動1.2℃に対して吸光度は1.60mAUシフトし、その変動度は1.33mAU/℃となった。その理由は次のように考えられる。
室温の変化に伴って分光室20内の温度が変化すると、回折格子24が伸縮してその格子間間隔が変化する。その結果、分光特性が変化してフォトダイオードアレイ検出器25の所定箇所に入射する光の波長が変化する。重水素ランプ11から発せられる光の強度は波長によって異なるため、回折格子24の分光特性が変化するとフォトダイオードアレイ検出器25の同一箇所で検出される光の強度が変化し、吸光度のドリフトとなって現れる。
また、フォトダイオードアレイ検出器25において発生する暗電流の大きさも温度に依存して変動する。ベースライン測定時には、フォトダイオードアレイ検出器25からの暗電流の値をオフセットする補正を行う。そのため、暗電流の大きさが変動すると、吸光度のドリフトとなって現れる。
一方、フィードバック制御を行って吸光度の変化を測定した場合には、図2(b)に示すように室温の変動に同期する吸光度の変動は生じなかった。測定時間中、温度の変動1.0℃に対する吸光度の変動は0.60mAUとなり、その変動度は0.60mAU/℃となった。つまり、分光室20内の温度をフィードバック制御することによって、吸光度の変動を半分以下に抑えられることが確認された。
上記実施例は一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜変更や修正を行うことが可能である。重水素ランプ、回折格子、試料セル、及びフォトダイオード検出器はいずれも一例であって、当然、他のものであってもよい。
上記実施例では、設定温度を室温よりも高く設定し、ヒータ50を用いて分光室20内を加熱する構成としたが、設定温度を室温よりも低く設定し、冷却手段を用いて分光室20を冷却することにより、分光室20内を設定温度に維持するようにしてもよい。あるいは、設定温度を室温と同程度に設定し、加熱と冷却の両方が可能な温度調節手段を用いるようにしてもよい。
上記実施例では、使用者がコンピュータ31上で温度設定を行うようにしたが、室温を測定する温度センサを備えておき、使用者が分光光度計1を起動させると同時にコンピュータ31が予め指定された温度だけ室温よりも高い(あるいは低い)温度設定を行うように構成してもよい。また、この構成において、分光光度計1を起動してから一定時間経過後に室温を測定して、コンピュータ31が再度、予め指定された温度だけ室温よりも高い(あるいは低い)温度設定を行うように構成してもよい。さらに、一定時間経過後ではなく、分光室20内の温度が起動時に設定された設定温度に近づいた時点で再度室温を測定し、コンピュータ31が再度、予め指定された温度だけ室温よりも高い(あるいは低い)温度設定を行うように構成してもよい。
上記実施例では、光源室10において発生した熱がその周辺の空気を介して分光室20に伝わってくる点を考慮して、分光室20内が熱平衡状態になるまでの時間を短縮させるように、ヒータ50を光源室10に近い位置に配置し、ヒータ50に隣接させて温度センサ40を配置したが、ヒータ50や温度センサ40の数や配置は適宜に変更することができる。例えば、分光室20が大きな空間を有する場合には、複数のヒータ50や温度センサ40を備えるようにしてもよい。また、分光室20内において、特に分光室20内の温度変化と同期して特性が変化しやすい光学素子等の近傍に温度センサ40を配置して、該光学素子等の温度を高精度で一定に維持するようにしてもよい。
なお、本発明に係る分光光度計は、液体クロマトグラフの検出部として好適に用いることができるが、当然、他の分析装置の検出器として用いられるものであってもよい。
1…分光光度計
10…光源室
11…重水素ランプ
12…ファン
20…分光室
21…集光レンズ
22…試料セル
23…スリット
24…回折格子
25…フォトダイオードアレイ検出器
30…A/D変換器
31…コンピュータ
40…温度センサ
50…ヒータ

Claims (3)

  1. a) 光源室と、
    b) 前記光源室と断熱部を隔てて分離された、少なくとも分光素子、試料室及び検出器を備えた分光室と、
    c) 前記分光室内の温度を測定する温度測定手段と、
    d) 前記分光室の内部を加熱及び/又は冷却する温度調節手段と、
    e) 前記温度測定手段より温度情報を取得し、前記分光室内を予め定められた設定温度に維持するように前記温度調節手段を動作させる制御手段と
    を備えることを特徴とする分光光度計。
  2. 前記設定温度が室温よりも高い温度であることを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
  3. 液体クロマトグラフの検出部に用いられることを特徴とする請求項1又は2に記載の分光光度計。
JP2012191912A 2012-08-31 2012-08-31 分光光度計 Active JP5915470B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012191912A JP5915470B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 分光光度計
US14/011,982 US20140063496A1 (en) 2012-08-31 2013-08-28 Spectrophotometer
CN201310389193.XA CN103674863B (zh) 2012-08-31 2013-08-30 分光光度计

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012191912A JP5915470B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 分光光度計

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014048176A true JP2014048176A (ja) 2014-03-17
JP2014048176A5 JP2014048176A5 (ja) 2014-12-25
JP5915470B2 JP5915470B2 (ja) 2016-05-11

Family

ID=50187167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012191912A Active JP5915470B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 分光光度計

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20140063496A1 (ja)
JP (1) JP5915470B2 (ja)
CN (1) CN103674863B (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016059675A1 (ja) * 2014-10-14 2016-04-21 株式会社島津製作所 分光器及びそれを備えた発光分光分析装置
KR20170006260A (ko) * 2015-07-07 2017-01-17 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 특성 측정 시스템 및 광학 특성 측정 시스템의 교정 방법
KR20170067679A (ko) * 2014-10-15 2017-06-16 가부시끼 가이샤 구보다 광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인
JP2020038226A (ja) * 2019-12-02 2020-03-12 大塚電子株式会社 光学測定装置
KR20200112637A (ko) * 2019-03-20 2020-10-05 주식회사 아도반테스토 접속기, 소켓, 소켓 조립체 및 배선판 조립체
US10866140B2 (en) 2017-04-20 2020-12-15 Shimadzu Corporation Spectrophotometer
US10935425B2 (en) 2017-07-18 2021-03-02 Shimadzu Corporation Spectroscopic detector
US11002604B2 (en) 2019-02-04 2021-05-11 Shimadzu Corporation Correction method of detection signal value in spectrophotometer and spectrophotometer having correction function of detection signal value
US11175218B2 (en) 2017-04-21 2021-11-16 Shimadzu Corporation Flow cell and detector equipped with the flow cell

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105158170A (zh) * 2015-06-08 2015-12-16 苏州谱道光电科技有限公司 一种样品测量装置加热结构
JPWO2018052074A1 (ja) * 2016-09-15 2019-06-27 株式会社堀場エステック 吸光度計及び該吸光度計を用いた半導体製造装置
JP6879363B2 (ja) * 2017-04-21 2021-06-02 株式会社島津製作所 分光検出器
WO2020183595A1 (ja) * 2019-03-12 2020-09-17 株式会社島津製作所 分光光度計
CN110764554A (zh) * 2019-11-13 2020-02-07 杭州浅海科技有限责任公司 一种应用在分光光度计法分析仪器中的温度控制***及方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6190056A (ja) * 1984-10-09 1986-05-08 Tokyo Rika Kikai Kk 計測用検出計
JPH03101449U (ja) * 1990-01-31 1991-10-23
JPH08233659A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Shimadzu Corp 分光光度計
JPH09127084A (ja) * 1995-11-06 1997-05-16 Hitachi Ltd 液体クロマトグラフの検出器
JP2000105147A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Shimadzu Corp 分光光度計
US20020011097A1 (en) * 2000-06-27 2002-01-31 Hubert Kuderer Method of reducing the effects of varying environmental conditions in a measuring instrument and measuring instrument using the method
JP2005257535A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2007064632A (ja) * 2005-08-29 2007-03-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計
US20090257054A1 (en) * 2008-04-04 2009-10-15 Melles Griot, Inc. Compact, thermally stable fiber-optic array mountable to flow cell
JP2011002310A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計、および分光光度計の冷却方法
US20110098542A1 (en) * 2009-10-28 2011-04-28 Yonatan Gerlitz Apparatus and method for non-invasive measurement of a substance within a body
US20120013255A1 (en) * 2010-07-15 2012-01-19 Prism Projection, Inc. Systems and methods for sampling light produced from an led array

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2835992Y (zh) * 2005-11-08 2006-11-08 杭州科汀光学技术有限公司 样品室温度可控的分光光度计
JP5533641B2 (ja) * 2010-12-27 2014-06-25 株式会社島津製作所 分析装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6190056A (ja) * 1984-10-09 1986-05-08 Tokyo Rika Kikai Kk 計測用検出計
JPH03101449U (ja) * 1990-01-31 1991-10-23
JPH08233659A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Shimadzu Corp 分光光度計
JPH09127084A (ja) * 1995-11-06 1997-05-16 Hitachi Ltd 液体クロマトグラフの検出器
JP2000105147A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Shimadzu Corp 分光光度計
US20020011097A1 (en) * 2000-06-27 2002-01-31 Hubert Kuderer Method of reducing the effects of varying environmental conditions in a measuring instrument and measuring instrument using the method
JP2005257535A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2007064632A (ja) * 2005-08-29 2007-03-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計
US20090257054A1 (en) * 2008-04-04 2009-10-15 Melles Griot, Inc. Compact, thermally stable fiber-optic array mountable to flow cell
JP2011002310A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計、および分光光度計の冷却方法
US20110098542A1 (en) * 2009-10-28 2011-04-28 Yonatan Gerlitz Apparatus and method for non-invasive measurement of a substance within a body
US20120013255A1 (en) * 2010-07-15 2012-01-19 Prism Projection, Inc. Systems and methods for sampling light produced from an led array

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016059675A1 (ja) * 2014-10-14 2016-04-21 株式会社島津製作所 分光器及びそれを備えた発光分光分析装置
JPWO2016059675A1 (ja) * 2014-10-14 2017-04-27 株式会社島津製作所 分光器及びそれを備えた発光分光分析装置
KR20170067679A (ko) * 2014-10-15 2017-06-16 가부시끼 가이샤 구보다 광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인
KR102317446B1 (ko) * 2014-10-15 2021-10-27 가부시끼 가이샤 구보다 광학식 곡립 평가 장치 및, 상기 광학식 곡립 평가 장치를 구비한 콤바인
TWI704339B (zh) * 2015-07-07 2020-09-11 日商大塚電子股份有限公司 光學特性測量系統以及光學特性測量系統之校正方法
KR20210106938A (ko) * 2015-07-07 2021-08-31 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 측정 장치
US10422695B2 (en) 2015-07-07 2019-09-24 Otsuka Electronics Co., Ltd. Optical characteristic measurement system and calibration method for optical characteristic measurement system
KR102409960B1 (ko) * 2015-07-07 2022-06-22 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 측정 장치
KR20200058366A (ko) * 2015-07-07 2020-05-27 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 특성 측정 시스템의 교정 방법
KR102152050B1 (ko) * 2015-07-07 2020-09-04 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 특성 측정 시스템
JP2017020792A (ja) * 2015-07-07 2017-01-26 大塚電子株式会社 光学特性測定システムおよび光学特性測定システムの校正方法
KR20170006260A (ko) * 2015-07-07 2017-01-17 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 특성 측정 시스템 및 광학 특성 측정 시스템의 교정 방법
US10422694B2 (en) 2015-07-07 2019-09-24 Otsuka Electronics Co., Ltd. Optical characteristic measurement system and calibration method for optical characteristic measurement system
KR102293477B1 (ko) * 2015-07-07 2021-08-26 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광학 특성 측정 시스템의 교정 방법
TWI733309B (zh) * 2015-07-07 2021-07-11 日商大塚電子股份有限公司 光學特性測量系統以及光學特性測量系統之校正方法
US10866140B2 (en) 2017-04-20 2020-12-15 Shimadzu Corporation Spectrophotometer
US11175218B2 (en) 2017-04-21 2021-11-16 Shimadzu Corporation Flow cell and detector equipped with the flow cell
US10935425B2 (en) 2017-07-18 2021-03-02 Shimadzu Corporation Spectroscopic detector
US11002604B2 (en) 2019-02-04 2021-05-11 Shimadzu Corporation Correction method of detection signal value in spectrophotometer and spectrophotometer having correction function of detection signal value
KR20200112637A (ko) * 2019-03-20 2020-10-05 주식회사 아도반테스토 접속기, 소켓, 소켓 조립체 및 배선판 조립체
KR102401214B1 (ko) 2019-03-20 2022-05-23 주식회사 아도반테스토 접속기, 소켓, 소켓 조립체 및 배선판 조립체
JP2020038226A (ja) * 2019-12-02 2020-03-12 大塚電子株式会社 光学測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20140063496A1 (en) 2014-03-06
JP5915470B2 (ja) 2016-05-11
CN103674863B (zh) 2016-12-28
CN103674863A (zh) 2014-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5915470B2 (ja) 分光光度計
JP5741770B2 (ja) 分光測定装置
JP2014048176A5 (ja)
JP5825349B2 (ja) 分光装置
JP2008256530A (ja) 蛍光検出器及びその蛍光検出器を備えた液体クロマトグラフ
JP2023056000A (ja) 分光検出器
Anhalt et al. Thermodynamic temperature by primary radiometry
JP4448808B2 (ja) 分光光度計
JP5448224B1 (ja) クロマトグラフィーシステム、信号処理装置、クロマトグラフィー・データ処理端末およびプログラム
JP5358466B2 (ja) 液体クロマトグラフ装置
JP6201547B2 (ja) 分光器の波長校正方法
JP2011002310A (ja) 分光光度計、および分光光度計の冷却方法
JP5915467B2 (ja) 液体クロマトグラフ検出器用送液管及び液体クロマトグラフ
JP2015135251A (ja) 溶液分析計
JP2006133146A (ja) 光検出器の分光応答度測定装置、その測定方法及び光源の分光放射照度校正方法
JP2006153543A (ja) 光路長設定支援装置及び濃度測定システム
JP5900137B2 (ja) 太陽電池評価装置および該方法
JP2000346805A (ja) 蛍光分光光度計
Boivin et al. Wideband filter radiometers for blackbody temperature measurements
JP7021717B2 (ja) 分光光度計
RU2438103C1 (ru) Устройство для калибровки многоканальных пирометров
JP5994593B2 (ja) 分光光度計
Gavrilov et al. National Primary Standard for the Units of Absolute and Relative Spectral Sensitivity at Wavelengths from 0.25 TO 14.00 μm Get 213–2014
Liu et al. UV focal plane array device relative spectral response measurement technology research
Zhang et al. Broadband optical radiometric calibration method based on monochromator light source with high precision

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141112

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150811

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150814

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151006

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160308

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160321

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5915470

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151