JP2014035260A - 遊戯盤の検査装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】遊戯盤に植設される釘は植設される位置、および高さが所定の範囲内であるかどうかを見極める検査において、３Ｄセルを表面に有する遊戯盤では、すでに開示されている方法でも、ノイズを防ぐことができず釘頭部を鮮明に撮影することが困難になってきた。検査のために釘の頭に当てているライトの光が、３Ｄセルの遊戯盤表面で乱反射するからである。
【解決手段】遊戯盤を所定の速度で搬送する搬送手段と、遊戯盤の釘を照らすライト４３と、前記釘の頭を撮影するラインセンサ４０，４２と、ライトの光の一部を遮蔽する遮蔽板５１ａ、５１ｂを有する検査装置を提供する。
【選択図】図６

Description

本発明は、遊戯盤製造時における検査装置に関するものであり、障害釘の基盤面からの高さおよび位置の検出を画像処理を用いて行う検査方法および検査装置に関するものである。

パチンコ等に用いる遊戯機械では、遊戯盤の表面に障害釘を数多く植設させ、上方から落下させた鉄製の遊戯球の跳ね返りと、遊戯盤に設けた孔によって入賞を競う。この場合、植設させた障害釘の調整によって、入賞率が変わることが知られている。したがって、障害釘の調整を、製品完成後行うか否かに係らず、遊戯盤に植設される障害釘は、遊戯盤の表面の位置と、表面からの高さと角度が高い精度で植設されている必要がある。

そこで、遊戯盤の製造においては、高精度の障害釘植設装置が用いられる。しかし、釘を植設する際の失敗により、正確な位置から外れたり、釘が曲がるといった不良が発生する場合がある。

また遊戯盤が合板製の場合は、複数の単板を張り合わせているため、板の性質が場所によってまちまちである。そのため、ちょうど、硬いところに釘が打たれた場合は、周囲よりも沈み込みが少なく、規格の高さよりも高くなってしまう。また逆に、柔らかいところに打たれた場合は、周囲よりも沈み込み過ぎて、規格の高さよりも低くなってしまう。したがって、遊戯盤の製造においては、完成後の障害釘を検査する検査装置が利用される。

例えば、特許文献１では、障害釘が配置された遊戯盤に、遊戯盤の真上の撮像手段近傍から遊戯盤近傍までに設けられた縦長の照明手段で、側方から光をあて、真上から撮影する撮像手段の画像情報に基づいて、釘の配置位置を調べる検査装置が開示されている。

また、特許文献２では、障害釘が配置された遊戯盤の斜め上方から光をあて、上方から撮影するラインセンサの画像情報に基づいて、釘の配置位置を調べる検査装置が開示されている。

ところで、遊戯盤は、合板にセルロイドを張り付けた板に、装飾用の印刷を施したセル板を表面に貼っている。または樹脂製の板に、セル板を表面に張るか、場合によっては、樹脂表面に直接印刷を施すこともある。最近の遊戯盤では、豪華絢爛に見栄えがするように、セル板が、立体的に見える効果のある３Ｄ印刷を施した３Ｄシートからなる３Ｄセルで構成することも行われるようになってきている。

３Ｄシートとしては、ホログラム、レンチキュラー、レンズシート（フィルム）、タマムシフィルム等が挙げられる。これら３Ｄ印刷面の複雑画面並びに画面継ぎ目などがライトの光を複雑方向に反射するため、３Ｄセルを表面に設けた遊戯盤は、光を乱反射する傾向が非常に強い。

特開平６−２３８０４０号公報 特開２００９−１１６０６号公報

遊戯盤に植設される釘の位置および高さが、許容範囲内であるかどうかを見極める検査において、撮像手段によって得られる画像情報を用いる場合には、釘の頭部が鮮明に撮影されなければならない。釘の頭部撮影の鮮明度合いが、検査精度に影響するからである。

特許文献１の検査方法では、釘の頭部を真上からカメラ等で撮影し画像処理によって検査を行う。すると、遊戯盤表面のセルの模様の多色化、多様化により、遊戯盤表面の模様が画像処理の際にノイズとなる。そして、カラー撮像可能なカメラで撮影しても、釘の頭部が鮮明に撮影されず、検査精度が低下する。

特許文献２は、特許文献１の問題を解決するためになされた発明であり、傾斜した照射光路にてライン状に照明することによって、釘頭部への照明位置と遊戯盤基材表面への照明位置を平面視位置ずれさせた状態にして、その上で、照射光路とは異なった角度の撮像光路となるように設置した撮像手段にて釘の頭部を撮影し検査をする。これによって画像処理の際に、紛らわしい図柄がノイズになるのを防止して、鮮明な釘頭部像の撮影が可能となり、高精度な検査が可能となった。

しかしながら、印刷技術の進展によって、最近登場してきた３Ｄセルを表面に有する遊戯盤では、特許文献２の方法でも、ノイズを防ぐことができず釘頭部を鮮明に撮影することが困難になってきた。検査のために釘の頭に当てているライトの光が、３Ｄセルの遊戯盤表面で乱反射し、光路をずらしているにもかかわらず、画像情報中に写りこんでくるからである。

本発明は上記の課題に鑑みて想到されたものであり、遊戯盤表面からの乱反射光を極力防止することによって、遊戯盤に植設された障害釘の位置と遊戯盤の表面からの高さが所定範囲内に入っているか否かを高精度に検出可能な検査装置に係るものである。より具体的には、
表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を所定の速度で搬送する搬送手段と、
前記遊戯盤を照らすライトと、
前記釘の頭を撮影するラインセンサと、
前記ライトの光の一部を遮蔽する遮蔽板を有する遊戯盤の検査装置である。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記ラインセンサは、
前記搬送手段による前記遊戯盤の搬送方向と直角であって、
前記遊戯盤の垂直方向に沿って視軸が配置された第１のラインセンサと、
前記第１のラインセンサと平行に配置され、視軸が前記第１のラインセンサの視軸から所定の角度傾き、かつ視野が前記第１のラインセンサの視野と交わる交線が、前記遊戯盤の釘の頭と同じ高さに配置される第２のラインセンサを含み、
さらに、前記釘の頭を前記第１のラインセンサが撮影した地点と前記第２のラインセンサが撮影した地点の間の距離に基づいて、前記釘の高さを算出する制御装置を有する。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記遮蔽板には、前記釘の頭を撮影するために開放されている検査用開口部が設けられ、
前記検査用開口部の前記第２のラインセンサ設置側の端部が、前記第２のラインセンサの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記検査用開口部の前記第２のラインセンサ設置側の側面が、前記第２のラインセンサの傾き角度と同一の角度以下で前記第２のラインセンサの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記制御装置は、
前記遊戯盤に植設される釘の位置を示すマップ情報を有し、
前記第１のラインセンサが前記釘の頭を撮影した位置と、前記マップ情報を比較することを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記算出した前記釘の高さ若しくは前記釘の植設位置を表示する表示手段を有することを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記遊戯盤のＩＤコードを取得するＩＤコード取得手段と、
前記ＩＤコードおよび、前記算出した前記釘の高さおよび前記釘の植設位置を記憶する記憶手段をさらに有し、
前記制御装置は、前記ＩＤコードに基づいて、過去に行った検査結果との比較結果を求めることを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記釘の頭部側から撮影するラインセンサと、
前記ラインセンサにより撮影された前記釘の頭部位置を基準位置と比較して良否を判別し検査する判別手段を有する。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記ライトが前記遊戯盤の垂直方向から所定角度傾いて設置され、
前記遮蔽板には、前記釘の頭を撮影するために開放されている検査用開口部が設けられ、
前記検査用開口部の前記ライト設置側の側面が、前記ライトの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする。

また、本発明の遊戯盤の検査装置は、
前記検査用開口部の前記ライト設置側の側面が、前記ライトの傾き角度と同一の角度以下で前記ライトの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする。

また本発明の遊戯盤の検査方法は、
表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を移送する工程と、
前記移送中の遊戯盤の前記釘を、遮蔽板によって光の一部を遮蔽したライトで遊戯盤の釘を照らして、前記釘の頭部側から前記釘を撮影する工程と、
撮影された前記釘の頭部位置を基準位置と比較して良否を判別し検査する検査方法である。

また本発明の遊戯盤の検査方法は、
表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を移送する工程と、
前記移送中の遊戯盤の前記釘を、遮蔽板によって光の一部を遮蔽したライトで遊戯盤の釘を照らして、前記遊戯盤の法線方向および前記法線方向に対して所定角度傾斜した方向から前記釘を撮影する工程と、
前記法線方向および傾斜した方向から前記釘を撮影した地点間の距離に基づいて、前記釘の高さを求める検査方法である。

本発明の遊戯盤の検査装置および検査方法は、遊戯盤表面と比較して釘の頭の輝度を高くするために釘を照射するライトを有する場合にも、検査対象の釘だけにライトの光が当たるように、遮蔽板を設けたため、遊戯盤表面が３Ｄセルであっても、光の乱反射光を最小限に遮蔽することができるため、画像処理において、遊戯盤表面の模様が識別の精度を低下させることがない。

本発明の遮蔽板取り付け前の実施形態１の検査原理を説明する図である。 本発明の遮蔽板取り付け後の実施形態１の検査原理を説明する図である。 図２の側面からの拡大図である。 本発明の遮蔽板取り付け位置を説明する図である。 本発明の遮蔽板取り付け前の実施形態２の検査原理を説明する図である。 本発明の遮蔽板取り付け後の実施形態２の検査原理を説明する図である。 図６の側面からの拡大図である。 釘が高い場合の検査原理を示す図である。 釘が低い場合の検査原理を示す図である。 検査装置の構成を示す図である。 検査装置の全体処理のフローを示す図である。 ブロック化を説明する図である。 検査の詳細なフローを示す図である。 ＩＤコードを入れた遊戯盤を示す図である。 実施形態３の場合の処理フローを示す図である。

以下に本発明の実施形態について図面を用いて説明を行う。なお、以下の説明は本発明
の一例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、変更することが可能である。

（実施の形態１）
図１には、本発明の実施の形態１の検査装置１の原理を説明する。遊戯盤１０は概ね四角形をしている、基材が合板で表面がセルロイドからなる板材である。板材の表面は、レンズシートまたはレンチキュラーシート等の３Ｄシートによって、印刷画像が立体的に見えるようにし、きらびやかに色塗りされた装飾が施されている。

このように、基板表面に立体感を表現する処理が施された遊戯盤を、「表面に３Ｄ効果を付与された遊戯盤」と呼ぶ。立体感を表現する処理は、上記のようにシートを張り付ける処理だけでなく、遊戯盤表面に直接加工を施す、若しくは、基板自体を樹脂や表面化工した樹脂で形成する場合も含む。

また、表面には、液晶等の表示手段を視認するための孔１１が形成されており、また、真鍮性の釘１２が多数本植設されている。釘１２は、遊戯球が落下する際に落下方向を変えるための障害物で、障害釘とも呼ばれる。釘１２が植設された遊戯盤１０は、矢印１３の方向に所定の速度で移送される。

符号２０は釘の頭部側から撮影するラインセンサであり、視軸２４が遊戯盤１０の中心線１４に対して垂直方向に配設される。ラインセンサ２０は、通常の広角レンズを搭載し、撮像素子がライン上に配置されたもの、若しくは撮像素子は２次元に配置され、特定のラインの画像情報を出力できる機能を有する。ラインセンサ２０は少なくとも遊戯盤１０の釘１２が植設されている領域の幅１５を視野に収める。したがって、遊戯盤１０の釘１２が植設されている領域の幅１５は、ラインセンサ２０の視野と言ってもよい。

一方、符号２２は、ライトである。ライト２２の光軸２６は、遊戯盤１０の垂直方向であるラインセンサ２０の視軸２４から所定角度２８（例えば３０度）傾いて配設される。傾ける方向は、どちらでもよいが、以下の説明では、遊戯盤１０が移送される方向１３と反対方向に傾斜させるものとする。

図２（ａ）は、実施の形態１の検査装置１において、遮蔽板５０ａ、５０ｂを設置した状態を示す。また、図２（ｂ）は、図２（ａ）の一部拡大図を示す。図２の例では、遮蔽板は、ライト設置側の遮蔽板５０ａと、他方側の遮蔽板５０ｂの２枚の別々の遮蔽板からなり、少なくとも検査対象の釘１２ｍの頭を撮影するために、開放されている検査用開口部ｏが設けられている。

検査用開口部ｏは、遊戯盤１０が移送される方向１３と直角方向に開口した直線状のスリットである。移送方向１３に直角な方向の開口長さを検査用開口部ｏの幅Ｗといい、移送方向１３の方向の開口長さを検査用開口部ｏの長さＬと呼ぶ。検査用開口部ｏの幅Ｗは、少なくとも釘１２が植設された領域の幅１５の長さを有する。

検査用開口部ｏを通してラインセンサ２０は釘１２を撮影するからである。また、検査用開口部ｏの長さＬや配置場所は、後述するように、ライト２２がラインセンサ２０の視軸２４となす所定角度２８と、遊戯盤１０の表面からの高さｈｓ（図３で説明する）に依存する。

なお、遮蔽板５０ａ、５０ｂは、ラインセンサ２０に検査用開口部ｏ以外の遊戯盤１０表面からの反射光が入らない程度に広いことが必要である。また、検査用開口部ｏを形成する遮蔽板５０ａ、５０ｂの端部を５０ａｔ、５０ｂｔとする。遮蔽板５０ａ、５０ｂは、ボルト等で検査装置１の台に取り付ける。したがって、従来の検査装置にも、簡単に設置することができる。

図３は、図２の検査用開口部ｏ付近を側方から見た図である。ライト２２は、ラインセンサ２０の視軸２４と一致する遊戯盤１０の垂直方向と、所定角度２８（例えば３０度）傾いて設置されている。

遮蔽板５０ａ、５０ｂは、遊戯盤１０の表面からｈｓの高さに配置される。この高さｈｓは、遊戯盤１０に植設された釘１２の高さｈより高く、仮に釘１２の高さが規定値であるｈより高い場合であっても、遮蔽板５０ａ、５０ｂに干渉しない高さに設定される。固定された遮蔽板５０ａ、５０ｂの下を遊戯盤１０は符号１３方向に移動するので、釘１２が遮蔽板５０ａ、５０ｂに干渉すると、釘１２が折れてしまうからである。

遮蔽板５０ａ、５０ｂによって形成される検査用開口部ｏは、ラインセンサ２０の視軸２４の直下に設けられる。ラインセンサ２０が釘１２の頭を撮影するためである。したがって、ラインセンサ２０から見て、ライト２２が配置されているのと反対側の遮蔽板５０ｂの端部５０ｂｔは、ラインセンサ２０の視野内で、遮蔽板５０ａ、５０ｂの下を通過する釘１２の頭部が見える位置に配置される。

また、端部５０ｂｔは、仮に釘１２の配置に誤差があったとしても、釘１２の頭を視野に入れることができる範囲であって、なおかつできるだけラインセンサ２０から遊戯盤１０の表面を隠すように配置される。本発明に係る検査装置１では、表面に３Ｄ効果を付与された遊戯盤１０を検査対象としているので、遊戯盤１０の表面にライト２２の光が当たり、その光がラインセンサ２０に入ると、釘１２の頭を識別できなくなるからである。

また、検査用開口部ｏは、ライト２２からの光２５が釘１２の頭部に光が届く程度の長さＬを有する。ライト２２からの光２５が釘１２の頭部で反射してラインセンサ２０に届かなければ、ラインセンサ２０は撮影できないからである。

一方、検査用開口部ｏの長さＬが長すぎると、ライト２２の光が遊戯盤１０の表面で反射し、画像処理で釘１２の頭を認識できなくなる。したがって、検査用開口部ｏの長さＬは、ライト２２による光２５が釘１２の頭に照射でき、なおかつラインセンサ２０で釘１２の頭を撮影した際に、光があたっている遊戯盤１０の表面が写らないように形成されなければならない。

図４（ａ）を参照して、この関係をより詳細に説明する。ライト２２（図３参照）からの光軸２６は、ラインセンサ２０の視軸２４に対して所定角度２８傾いて設定されている。今この所定角度２８をφとする。また、遮蔽板５０ａ、５０ｂは、遊戯盤１０の表面からｈｓの高さに配置されている。なお、釘１２は、植設エラーによって、規定値のα倍までの高さがあり得るとする。したがって、遮蔽板５０ａ、５０ｂの遊戯盤１０の表面からｈｓの高さは、αｈより高く設定される。

ライト２２から入射した光２５を遮蔽する境界をつくるのは、ライト２２が配置された側の遮蔽板５０ａの端部５０ａｔである。遮蔽板５０ａの端部５０ａｔは、ライト２２の光軸２６同様角度φの傾斜面に形成されるのが望ましい。端部５０ａｔの板上側（ライト２２側）での光線の「蹴られ」を回避することができるからである。したがって、端部５０ａｔの傾斜角度２７１は、φより小さい角度であればよい。

また、ラインセンサ２０の視軸２４に対して、釘１２の頭の幅の１／２をβとする。また、釘１２の植設の誤差の最大値をδとする。すると、遮蔽板５０ｂの端部５０ｂｔは、ラインセンサ２０の視軸２４からβ＋δだけライト２２の反対側に配置される。釘１２の植設位置がδだけずれていてもラインセンサ２０が釘１２を識別できるためである。このように遮蔽板５０ｂの位置が決定する。

次に、ライト２２からの入射光が釘１２より遮蔽板５０ａ側の遊戯盤１０の表面に当たったとする（Ａ点）。すると、Ａ点で３Ｄ効果を発揮する反射が生じ、ラインセンサ２０が撮影する画像上で釘１２の頭部を識別することが困難となる。

また、釘１２から遮蔽板５０ｂ側でラインセンサ２０の視軸２４からβ以上、δ以下の遊戯盤１０の表面（Ｂ点）に光が当たっても、同様の問題が生じる。したがって、端部５０ａｔがライト２２に対して作る影が、釘１２の遮蔽板５０ｂ側の視軸からβ＋δ離れた点（Ｃ点）より遮蔽板５０ｂ側に落ちるように配置しなければならない。この時のラインセンサ２０の視軸２４から遮蔽板５０ａの端部５０ａｔまでの距離をｘ１とすると、以下の式が成り立つ。

すなわち、ラインセンサ２０の視軸２４から遮蔽板５０ａの端部５０ａｔは、（１）式のｘ１だけ離れた位置よりも、遮蔽板５０ｂ方向に配置する必要がある。この時の検査用開口部ｏの長さＬはδ＋β＋ｘ１であるから、（１）式よりＬ＝ｈｓ・ｔａｎφである。

次に図４（ｂ）を参照する。ライト２２からの光２５は、釘１２の頭に当たらなければならない。したがって遮蔽板５０ａの端部５０ａｔはライト２２の光２５を釘１２の頭に当たる位置に設定される。この時のラインセンサ２０の視軸２４から端部５０ａｔまでの距離をｘ２とし、それ以外は図４（ａ）の各部の記号をそのまま使用して、以下の式が成り立つ。なお、釘１２の頭の厚さをεとした。

すなわち、ラインセンサ２０の視軸２４から遮蔽板５０ａの端部５０ａｔは、（２）式のｘ２だけ離れた位置よりも、遮蔽板５０ａ方向に配置される。この時の検査用開口部ｏの長さＬはやはり、δ＋β＋ｘ２であるから、（２）式よりＬ＝（ｈｓ−αｈ＋ε）・ｔａｎφ＋δ＋βである。

なお、遮蔽板５０ａ側にも釘１２の植設誤差δを見込めば、遮蔽板５０ａの端部５０ａｔは、ラインセンサ２０の視軸２４からｘ２＋δだけ遮蔽板５０ａ側に移動させられる。この時検査用開口部ｏの長さＬは、さらにδを加算し、Ｌ＝（ｈｓ−αｈ＋ε）・ｔａｎφ＋２δ＋βとなる。すなわち、遮蔽板５０ａの端部５０ａｔは、ラインセンサ２０の視軸２４から、ライト２２がある側に、ｘ２より遠く、ｘ１より近い位置に配置されれば、３Ｄ効果を付与された遊戯盤１０であっても、確実に釘１２を識別することができる。

図３を再び参照する。以上のような配置にした遮蔽板５０ａ、５０ｂによって形成された検査用開口部ｏを通して、釘１２の植設位置を検査する方法を説明する。ラインセンサ２０のピントは、遊戯盤１０に植設された釘１２の頭に合わせる。つまり、釘１２の高さは、遊戯盤１０から所定の高さと決められているので、予め移送される遊戯盤１０から釘１２の高さｈ分だけ高い位置にピントを合わせておく。これによって、ラインセンサ２０は、遊戯盤１０上の所定の高さの位置１６（図１も参照）にピントが合わせられた状態に設定される。

言い換えると、ラインセンサ２０の視野のピント１６は、遊戯盤１０から所定の高さｈの位置に固定される（図１も参照）。図３では、釘１２の頭の先端に紙面表から裏側に向かってピントの位置１６が形成される。図１では、釘１２ｍの頭にラインセンサ２０のピント１６が合っている。この状態で、ラインセンサ２０により撮影された釘１２の頭部位置を、特許文献１又は特許文献２の従来の検査装置と同様の判別手段により、基準位置と比較して良否を判別する。

（実施の形態２）
図５には、本発明の実施の形態２の検査装置２の原理を説明する。本実施の形態でも、被検査対象は表面には３Ｄ効果を付与された遊戯盤３０である。また、表面には、液晶等の表示手段を視認するための孔３１が形成されており、また、真鍮性の釘３２が多数本植設されている。釘３２が植設された遊戯盤３０は、矢印３３の方向に所定の速度で移送される。

符号４０は第１のラインセンサであり、視軸４４が遊戯盤３０の中心線３４に対して垂直方向に配設される。第１のラインセンサ４０は、通常の広角レンズを搭載し、撮像素子がライン上に配置されたもの、若しくは撮像素子は２次元配置になっていても、特定のラインの画像情報を出力できる機能を有する。第１のラインセンサ４０は少なくとも遊戯盤３０の釘３２が植設されている領域の幅３５を視野に収める。したがって、遊戯盤３０の釘３２が植設されている領域の幅３５は、ラインセンサの視野と言ってもよい。

一方、符号４２は、第２のラインセンサである。第２のラインセンサ４２の視軸４６は、第１のラインセンサ４０の視軸４４から所定角度４８（例えば３０度）傾いて配設される。傾ける方向は、どちらでもよいが、以下の説明では、遊戯盤３０が移送される方向３３と反対方向に傾斜させるものとする。また、第２のラインセンサ４２の視野は、第１のラインセンサ４０の視野と同じに設定する。ライト４３の光軸が第１のラインセンサ４０となす角度は、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２のなす角より大きくてもよいし、小さくてもよい。

図６は、実施の形態２の検査装置２において、遮蔽板５１ａ、５１ｂを設置した状態を示す。図６の例では、遮蔽板は、第２のラインセンサ４２設置側の遮蔽板５１ａと、他方側の遮蔽板５１ｂの２枚の別々の遮蔽板からなり、少なくとも検査対象の釘３２ｍの頭を撮影するために、開放されている検査用開口部ｐが設けられている。検査用開口部ｐの細部は、図２（ｂ）で示したものと同様である。この遮蔽板５１ａ、５１ｂは、ボルト等で検査装置の台に取り付けるなどして、従来の検査装置に簡単に設置することができる。

図７は、図６を側方から見た図である。検査対象の釘３２の頭部を光らせることによって判別しやすくするために設けたライト４３は、第１のラインセンサ４０の視軸４４と一致する遊戯盤３０の垂直方向と、所定角度４８（例えば３０度）傾いて設置されている。これによって、第１のラインセンサ４０に届く、遊戯盤３０表面の印刷画像の反射光を大幅に減らすことができる。

しかしながら、本実施の形態では、遊戯盤３０表面の画像は３Ｄ効果が付与されているため、遊戯盤３０表面に当たったライト４３の光は乱反射を起こし、四方八方に届く。そのため、遊戯盤３０の表面に光が当たらない様に、また仮に当たってもラインセンサ４０および４２が釘３２の頭部を検査する邪魔にならないように、遮蔽板５１ａ、５１ｂを設置する。

遮蔽板５１ａ、５１ｂの配置の方法は、実施の形態１と同様であってよい。第２のラインセンサ４２は、第１のラインセンサ４０の視軸４４と所定角度４８だけ傾斜している。したがって、第２のラインセンサ４２から見ると、図４（ａ）のＣ点の位置より遮蔽板５０ｂ方向まで視野がある。

しかし、ライト４３が第２のラインセンサ４２と同じ側に配置してあれば、仮に第２のラインセンサ４２の視野中でライト４３の光が遊戯盤３０の表面に当たったとしても、反射光の大部分は、第２のラインセンサ４２から遠ざかる方向に反射するので、それほど大きなノイズにはならないからである。

つまり、遊戯盤３０に対して直角方向から画像を取り込む第１のラインセンサ４０に対して、実施の形態１同様のやりかたで、遮蔽板５１ａ、５１ｂを配置し遊戯盤３０の表面からの乱反射を抑制すれば、本発明の検査装置２は、釘３２の検査を行うことができる。

なお、遮蔽板５１ａの端部５１ａｔの傾斜４９１は、ライト４３と第２のラインセンサ４２のうち、第１のラインセンサ４０の視軸４４からの傾きが大きい方の角度以上に傾斜しておくのが好ましい。ライト４３による照射若しくは第２のラインセンサ４２による「蹴られ」を回避するためである。

遮蔽板５１ａ、５１ｂを配置した上で、以下のように遊戯盤３０に植設された釘３２を検査する。第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２のピントは、遊戯盤３０に植設された釘３２の頭に合わせる。つまり、釘３２の高さは、遊戯盤３０から所定の高さと決められているので、予め移送される遊戯盤３０から釘３２の高さｈ分だけ高い位置にピントを合わせておく。これによって、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２は、遊戯盤３０上の所定の高さの交線３６（図５参照）にピントが合わせられた状態に設定される。

言い換えると、第１のラインセンサ４０の視野と第２のラインセンサ４２の視野の交線３６は、遊戯盤３０から所定の高さｈの位置に固定される（図５参照）。図７では、釘３２の頭の先端に紙面表から裏側に向かって視野の交線３６が形成される。図５では、釘３２ｍの頭に第１のラインセンサ４０および第２のラインセンサ４２の視野が一致している。

図８（ａ）を参照して、もし、所定の高さより高い釘３７が遊戯盤３０上にあったとする。なお、図８では、ライトは図示していない。遊戯盤３０は所定の速度Ｖで移動しているので、まず、第２のラインセンサ４２が時刻Ｔ１に釘３７の頭を撮影することとなる。そして、時刻Ｔ２の時に第１のラインセンサ４０が釘３７の頭を撮影する。すなわち、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２は決められた釘３２の高さｈに視野をあわせているので、釘３２が所定の高さになければ、見える（撮影する）タイミングが第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２で異なる事となる。

第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２の撮影の時間差（Ｔ２−Ｔ１）と、移送速度Ｖが分かっていると、釘３７の高さ３７ｈが所定の高さｈと比較してどれくらい異なるか（Δｈ）を算出することができる。図８（ｂ）は、それを示す模式図である。第１のラインセンサ４０の視軸４４と第２のラインセンサ４２の視軸４６のなす角度θは決まっている（例えば、ここでは３０度）。一方、第１のラインセンサ４０が見た位置と第２のラインセンサ４２が見た位置の差（距離ΔＬ）は、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２の撮影の時間差（Ｔ２−Ｔ１）と、移送速度Ｖから（３）式のように求めることができる。
ΔＬ＝（Ｔ２−Ｔ１）・Ｖ （３）
次にそれぞれのラインセンサ４０および４２の視軸のなす角度θから観察された釘３７の高さ３７ｈと所定高さｈの差Δｈは、（４）式によって算出することができる。
Δｈ＝ΔＬ／ｔａｎ３０ （４）

一方、図９には、所定の高さより低い釘３８があった場合について示す。なお、図９では、ライトは図示していない。この場合は、遊戯盤３０の移送にともなって、第１のラインセンサ４０が釘３８の頭を時刻Ｔ１で撮影し、時刻Ｔ２に第２のラインセンサ４２が釘３８の頭を撮影する。釘３８の高さ３８ｈと所定高さｈとの差Δｈは、上記と同じ、（４）式で求めることができる（図９（ｂ）参照）。すなわち、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２のどちらが先に釘３８の頭を撮影したかという点が、釘３８の頭が所定高さｈより高いか低いかを決める基準となる。

さらに、第１のラインセンサ４０は、被検査物である遊戯盤３０の法線方向から撮影している。したがって、被検査物の釘３２の植設位置の情報があれば、釘３２が正しい位置に植設されているか否かも判断することができる。

なお、上記に説明したように、所定高さｈと植設された釘３８の高さを求めるには、第１のラインセンサ４０によって撮影された地点と、第２のラインセンサ４２によって撮影された地点の間の距離ΔＬとそれぞれのラインセンサ４０および４２の視軸の角度θがわかればよい。したがって、上述の説明のように、それぞれのラインセンサの撮影時刻の差と遊戯盤３０の移送速度から距離ΔＬを求める方法だけでなく、撮影された地点の基準点からの距離を求め、その差から距離ΔＬを求めてもよい。より具体的には、図８（ｂ）および図９（ｂ）において、それぞれのラインセンサが撮影した地点の位置情報Ｐ１およびＰ２の差（Ｐ２−Ｐ１）によってΔＬを求めてもよい。

また、上記で求めたのは、所定高さｈと実際に植設された釘の高さの差Δｈであるが、そもそも所定高さｈは知られた値であるから、上記の検査原理および以下の検査装置においては、植設された釘の高さを算出するということができる。植設された釘の高さは、ｈ±Δｈで求めることができるからである。

図１０には、本発明の検査装置２の主要な要素の構成を示す。本発明の検査装置２では、被検査物である遊戯盤３０を移送するための移送コンベア６０と、コンベア６０を駆動するモータ６１と、移送されるコンベア６０上の遊戯盤３０を遊戯盤３０の法線方向から撮影する第１のラインセンサ４０と、第１のラインセンサ４０の視軸４４と角度θ（例えば３０度）に交差する視軸４６を有する第２のラインセンサ４２と、釘３２の頭を照らすライト６２と、全体の動きを制御する制御装置７０を有する。

第１および第２のラインセンサはすでに説明した通りである。第１のラインセンサ４０および第２のラインセンサ４２は制御装置７０と連結されている。制御装置７０は、撮影指示の信号Ｃｓを出力することで、第１および第２のラインセンサに撮影をさせ、画像データＤｓ（図１０ではＤ１ｓとＤ２ｓ）を出力させることができる。画像データＤｓは、制御装置７０の指示によって出力させてもよいし、ＤＭＡ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｍｅｍｏｒｙ Ａｃｃｅｓｓ）によって、予め指定されたメモリにラインセンサが次々と出力するようにしてもよい。

ライト６２は、釘３２の頭をラインセンサに認識しやすくさせるためのものである。ラインセンサが設置されている周囲の空間を暗くしてライト６２を第２のラインセンサ４２側から照らすことで、遊戯盤３０の表面のデザインの部分の輝度が下がり、釘３２の頭部分だけを光らせることができる。

遊戯盤３０の表面のデザインが、３Ｄ効果を付与されたシートのように光を乱反射するものではないデザインの場合は、このようにライト６２を傾けることで十分に釘３２の検査精度を上げることができるが、３Ｄ効果を付与されたシートのように光を乱反射する表面デザインの場合は、ライト６２を傾ける方法だけではノイズを十分に防止することができない。

そのため、既に述べた通りに、釘３２のうち検査対象の釘だけを残して、それ以外は遮蔽板５１で覆う。このようにすることにより、ノイズの原因となる表面からの乱反射光を遮断することができる。結果、表面が３Ｄ効果を付与されたデザインである遊戯盤であっても、検査をすることができる。

コンベア６０および駆動モータ６１は、釘３２が植設された遊戯盤３０を所定の位置に固定し、ラインセンサの下を所定の速度Ｖで移送させる。つまり、コンベア６０および駆動モータ６１を制御する制御装置７０は、移送手段である。

遊戯盤３０の移送速度や移送位置の情報は釘３２の高さの測定精度を決めるための重要な情報である。したがって、コンベア６０には、遊戯盤３０を固定する固定チャック若しくは遊戯盤３０を固定するステージ等を設けても良い。遊戯盤３０にダボ孔が設けられている場合は、この孔を用いれば、より容易に遊戯盤３０を固定することができる。これらを遊戯盤３０の固定手段６４と呼ぶ。

また、遊戯盤３０がコンベア６０のどの位置を通過しているかを知るために、コンベア６０には、ポテンショメータなどの位置測定器６６が設けられていても良い。位置測定器６６は、固定手段６４がコンベア６０のどの位置にいるかという位置情報を適宜出力することができる。位置測定器６６も移送手段に含めてよい。

制御装置７０は、移送手段およびラインセンサと接続されており、それぞれに指示信号を出し、また、それぞれの要素から情報を得ることができる。また、制御装置７０には、メモリ手段７２が接続されている。制御装置７０には、全体を制御し、ラインセンサからの画像データＤｓを処理するためのプログラムが内蔵されている。また、予め遊戯盤３０上の釘３２の位置を示す「釘位置マップ」も記録されており、必要に応じて、植設される予定の釘の位置を参照することができる。

また、制御装置７０は内部に時計を有しており、それぞれのラインセンサに撮影の指示を出した時刻と、受け取った画像データに撮影時刻を付けた情報をメモリ手段７２に記録することができる。また、適当な項目に基づいて過去に検査した情報を呼び出すこともできる。また、制御装置７０はディスプレイ７４にも接続されており、検査結果や過去の情報等を表示することができる。ディスプレイ７４は表示手段である。

次に本発明の検査装置１を用いた検査方法について説明する。まず、釘３２を植設した遊戯盤３０をコンベア６０の固定手段６４にセットする。これは手動で行っても良いし、自動的に行っても良い。遊戯盤３０が移送コンベア６０の固定手段６４にセットされたら、制御装置７０は駆動モータ６１に始動信号Ｃｄを送る。

始動信号Ｃｄを受けた駆動モータ６１は所定の一定速度Ｖでコンベア６０およびその固定手段６４にセットされた遊戯盤３０を移送させる。遊戯盤３０がラインセンサの付近に来たら、制御装置７０は第１および第２のラインセンサに撮影指示信号Ｃｓを送る。ラインセンサは、同時若しくはほとんど同時にシャッターを落とし、画像データＤｓを制御装置７０に送る。この時には、制御装置７０は、それぞれのラインセンサに対して画像データＤｓを送信するように指示してもよい。

制御装置７０は、撮影された時刻Ｔと共に、画像データＤｓを記録する。ここで、第１のラインセンサ４０からの画像データＤｓを第１画像データＤ１ｓと呼び、第２のラインセンサ４２からの画像データを第２画像データＤ２ｓと呼ぶ。

制御装置７０内には、予め遊戯盤３０上の釘３２の位置を示す「釘位置マップ」も記録されている。釘位置マップは、遊戯盤３０上に座標軸を設定し、釘３２の位置を座標情報で表したものである。制御装置７０は、後述する処理フローによって、植設された釘３２の高さと、植設された釘３２の位置を検出し、釘位置マップの情報と比較することができる。

したがって、本発明の検査装置２を用いることで、植設した釘３２が所定高さより高い場合、低い場合だけでなく、植設した位置が予定していた場所と違う場合も検出することができる。これらの検査で決められた値に対して、許容範囲であった遊戯盤３０は良品として取り出され、ＯＫ品の台６９に置かれる。また、許容範囲でない釘があったら、遊戯盤３０は不良としてＮＧ品の台６８に置かれ、その後他の処理（修正処理）に回される。

次に制御装置７０の行うデータ処理について処理フローを参照しながら詳説する。図１１は、制御装置７０の行う処理のフローの一例である。検査装置１がスタート（ステップＳ１００）すると、終了判定（ステップＳ１０２）が行われる。すなわち、検査する遊戯盤が無い、若しくは緊急停止の場合などである。終了の場合（ステップＳ１０２のＹ分岐）は、装置を停止する（ステップＳ１０３）。検査装置１の終了でない場合（ステップＳ１０２のＮ分岐）は、検査する遊戯盤３０を固定手段６４に固定し、移送を開始する（ステップＳ１０４）。

続いて、１枚の遊戯盤３０の検査の終了判定を行う（ステップＳ１０６）。終了していない場合（ステップＳ１０６のＮ分岐）は、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２にデータ送信の指示を出す（ステップＳ１０８）。そして、読み込んだ画像データＤｓを２値化やブロック化といった処理を行う（ステップＳ１１０）。２値化は、画像データ中の画素毎のデータを１若しくは０（ゼロ）の何れかにする処理である。また、ブロック化は、ラインセンサからの１ライン画像データを数ライン分集めて釘の頭を１つの情報とする処理である。

図１２を参照して、釘３２の頭は複数の画素で形成されるため、数ライン分の画像データを集めなければ、１つの釘３２の頭にならない。図１２（ａ）は個々のマス目が画素データＤｉであるとする。ここで黒丸は釘３２の頭を表すとする。１つの釘３２の頭を認識するために、複数ライン（ここでは３〜４ライン）にまたがる複数の画像データをその都度取り扱うのは算出方法が複雑になり、計算時間もかかる。

そこで、釘３２の頭を１つのデータとして扱うために複数ラインの複数列毎の画像データを１つのデータとしてまとめる処理である。この処理を行うことで、釘３２の位置を遊戯盤上の１つの座標として読み替える事ができる。

図１２（ｂ）は、２値化を行った結果で、１画素を１若しくは０（ゼロ）とした結果である。図１２（ｃ）はブロック化を行った結果であり、複数の画素データＤｉを合わせて１つのデータとし、釘３２の位置を縦列と横列の座標（ｉ、ｊ）で表せるようにしたものである。

再び図１１を参照して、次に第１および第２のラインセンサからの画像データ比較する（ステップＳ１１２）。なお、ここでは、第１のラインセンサ４０の画像データ（第１画像データ）をＺといい、第２のラインセンサ４２の画像データ（第２画像データ）をθと呼ぶ。Ｚおよびθは、元々はラインセンサの画素分のデータ（例えば８０００画素）であるが、２値化およびブロック化によって図１２で示したように複数の画素データが１つのデータとなっている。

従って、Ｚおよびθは、１×Ｎ個のデータである。図１２（ｃ）を参照するとＺおよびθは、点線の１ラインのデータ４１である。ステップＳ１１２の詳細については、図１３を参照して後ほど詳説する。このステップＳ１１２の処理によって、第１若しくは第２のラインセンサが釘３２を見た際には、正しい位置に植設されているか、所定の高さになっているか、所定の範囲からずれているならどれくらいずれているか、といった検査結果を得る事ができる。

ステップＳ１１２を終えたら、その結果を記録（ステップＳ１１４）する。記録されるデータは、予め決められた位置若しくは高さに植設されなかった釘と、決められた位置からの誤差を記録すればよいが、全ての検査データを記録してもよい。そして、終了判定（ステップＳ１０２）に戻る。

次にステップＳ１０６の判定でＹ分岐に移った場合を説明する。これは、１枚の遊戯盤３０の検査が終わった場合の処理である。この場合は、ステップＳ１１４で記録されたデータ中にＮＧ品があるか否かを確認する（ステップＳ１１６）。ＮＧ品が有る場合（ステップＳ１１６のＹ分岐）は、ＮＧ品の台６８（図１０参照）に遊戯盤３０を移載する（ステップＳ１１８）。ＮＧ品は別途人の手によって修正作業が行われる。ＮＧ箇所がなければ（ステップＳ１１６のＮ分岐）、ＯＫ品の台６９（図１０参照）に載置する（ステップＳ１２０）。そして、処理を終了判定（ステップＳ１０２）に戻る。

なお、記録されたデータは後から再確認することができるようにするのが好ましい。特にＮＧ品とされた遊戯盤を人の手によって修正する場合は、どの釘がどれくらい規格からずれているのかを知ることで、修正の手間は軽減されるからである。再確認の方法は、ディスプレイ７４（図１０参照）上に表示する方法や、プリントアウトする方法など適宜選択することができる。

次に図１３を参照して、ステップＳ１１２のＺθ比較の処理を詳説する。２値化およびブロック化を経た画像データは１列のデータ（図１２（ｃ）参照）となっているので、これをｉ個のデータとする。つまり第１のラインセンサ４０および第２のラインセンサ４２からの画像データ（ブロック化後）のｋ番目のデータ（ただし、ｋ≦ｉ）は、Ｚ（ｋ）、θ（ｋ）と表される。なお、図１３では「（ｋ）」は省略している。

ステップＳ１１２の処理に入ると、まず終了判定（ステップＳ２０２）が行われる。ここで「Ｉｅ」は、ｉを表す。１行の画像データの処理が終わったならば（ステップＳ２０２のＹ分岐）、処理をメインの処理に戻す（ステップＳ２０３）。

終わっていない場合は、ｋを１つ進めて（図示せず）、Ｚ（ｋ）とθ（ｋ）のデータの値を見る。釘３２が見えた場合は、この画像データを１としてあるので、Ｚ（ｋ）とθ（ｋ）が共に正であるか否かを確認する（ステップＳ２０４）。

共に正である場合（ステップＳ２０４のＹ分岐）は、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２が同時にしかも同じ場所に釘３２を見たことを意味する。ここでさらにＺ（ｋ）が所定の位置に配置されているか否かを確認する（ステップＳ２０６）。ここで、Ｗは、釘３２が植設される予定の領域であり、予め「釘位置マップ」として記録されている。

この場合は、第１のラインセンサ４０からのデータだけで判断してよい。釘３２が所定の範囲の領域に存在していれば（ステップＳ２０６のＹ分岐）、ＯＫ品として記録し（ステップＳ２０８）、所定の領域になければ（ステップＳ２０６のＮ分岐）、ＮＧ品として記録する（ステップＳ２１０）。その後処理は、ステップＳ２０２に戻る。

ステップＳ２０４でＺ（ｋ）とθ（ｋ）が共に正でなければ（Ｎ分岐）、さらにＺ（ｋ）が正かどうか（釘で有るか否か）を調べる（ステップＳ２１２）。ここでＺ（ｋ）が正である場合（ステップＳ２１２のＹ分岐）は、第１のラインセンサ４０が釘３２を見たことを意味する。そこで、釘３２は正しい位置に植設されているか否かを判断する（ステップＳ２１４）。これはステップＳ２０６の判断と同じである。もし、所定の位置に植設されていなければ（ステップＳ２１４のＮ分岐）、ＮＧ品として記録し（ステップＳ２１６）、ステップＳ２０２に戻る。

釘３２が所定の位置にあれば（ステップＳ２１４のＹ分岐）、同じｋ番目の行で、第２のラインセンサ４２が見たという記録があるか否かを調べる（ステップＳ２１８）。つまり、第１のラインセンサ４０で釘３２を見た時に、それより時間的に前に第２のラインセンサ４０が釘３２を撮影している（見ている）か否かを確認する。図１３では「θｒｅｃ？」と表示したが、現在より前に読み込んだ画像データ中のθ（ｋ）に釘を見た記録があるかという意味である。

もし第２のラインセンサ４２がまだ釘３２を撮影して（見て）いなければ、第１のラインセンサ４０が先に釘３２を見たということになり、これは釘３２の頭が低い場合である。この場合は、第１のラインセンサ４０の画像データで釘３２を見たという点を記録し（ステップＳ２２０）、ステップＳ２０２に戻る。

ステップＳ２１８で、第２のラインセンサ４２が先に釘３２を見ている場合（ステップＳ２１８のＹ分岐）は、釘３２が所定高さより高い場合であり、第１のラインセンサ４０と第２のラインセンサ４２が釘３２を見た時刻が分かるので、移送速度から２つのラインセンサが釘３２を見た距離ΔＬを求めることができる。もちろん、位置測定器６６からの情報に基づいてΔＬを求めてもよい。

このΔＬが許容される範囲である場合（ステップＳ２２２のＹ分岐）は、ＯＫ品として記録し（ステップＳ２２４）、ステップＳ２０２に戻る。許容範囲内でなければ、（４）式に基づいてΔｈを算出（ステップＳ２２６）し、記録したうえで、ステップＳ２０２に戻る。この時のΔｈは所定高さより高い場合を表す。許容される範囲を示す「ε」は、設計事項として適宜決めることができる。

ステップＳ２１２に戻って、Ｎ分岐の場合を説明する。このステップの次には、θ（ｋ）が正か否か（釘があるか否か）を確認する（ステップＳ２３０）。もし、θ（ｋ）も正でなければ、第１のラインセンサ４０も第２のラインセンサ４２も釘３２を見なかったということなので、それを記録し、ステップＳ２０２に戻る。

第２のラインセンサ４２が釘３２を見ていれば（ステップＳ２３０のＹ分岐）、同じｋ番目の行で第１のラインセンサ４０が釘３２を見ているか否かを確認する（ステップＳ２３２）。まだ第１のラインセンサ４０が釘３２を見ていなければ（ステップＳ２３２のＮ分岐）、この釘３２は第２のラインセンサ４２が先に見た釘３２であるので、所定高さより高い釘である。そこで、θ（ｋ）を記録し（ステップＳ２３４）、ステップＳ２０２に戻る。

第１のラインセンサ４０がすでにこの釘３２を見ている場合（ステップＳ２３２のＹ分岐）は、この釘３２は所定高さより低い釘である。２つのラインセンサの見た時刻の差と移送速度から２つのラインセンサの見た位置の距離ΔＬを求め、これが許容範囲内か否かを判断する（ステップＳ２３６）。許容内であるなら（ステップＳ２３６のＹ分岐）、ＯＫ品であることを記録し（ステップＳ２２４）、ステップＳ２０２に戻る。

許容範囲内でなければ（ステップＳ２３６のＮ分岐）、（１）式より所定高さとの差Δｈを求め、記録して（ステップＳ２３８）、ステップＳ２０２に戻る。

以上のように、第１および第２のラインセンサ４０、４２の画像データを時刻に基づいて比較することで、遊戯盤３０に植設された釘３２の位置が許容される範囲か否か、植設された釘３２の高さが所定高さより高いか低いか、また、その差はどの程度かを検査することができる。

（実施の形態３）
本実施の形態では、実施の形態２によって、検査された結果ＮＧとなった遊戯盤３０を人手等を利用して修正した場合に、再度検査を行うことができる検査装置３について説明する。

装置としては、実施の形態１の場合と同じであるので、説明を省略する。本実施の形態を行う場合は、遊戯盤３０に固有のＩＤを設定する必要がある。例えば、図１４に示すように、ＱＲコード（登録商標）の隣に、固有のＩＤコードを入れる。このＩＤコードはバーコードであってもよいし、数字であってもよい。

図１５には処理フローを示す。図１５のフローは、図１１のフローとほぼ同じである。しかし、遊戯盤３０から釘３２だけではなく、ＩＤコードを読み取る（ステップＳ１３０）。これはラインセンサを用いてもよいが、別途コード読み取り用のカメラを用意してもよい。検査のフロー（ステップＳ１０８乃至Ｓ１１４）は、実施の形態２の場合と同じである。検査が終了したら、過去に検査した検査データの有無を調べる（ステップＳ１３２）。これはメモリ手段７２（図１０参照）に記録した過去のデータから同じＩＤコードを有するデータがあるか否かを調べる。

そして、同じＩＤコードのデータがあった場合（ステップＳ１３２のＮ分岐）は、今回の検査結果と比較し、それを表示手段７４（図１０参照）に表示する（ステップＳ１３４）。これによって、前回修正した箇所が確かに修正されており、また、その他の欠陥箇所もないことを確認することができる。

遊戯盤１枚中のすべての釘の検査が終了しているので、全ての釘の検査データを集計し、総合的にＯＫかＮＧかを判断する（ステップＳ１１６）。そして、ＮＧの場合は、ＮＧ台へ（ステップＳ１１８）、ＯＫの場合はＯＫ台へ（ステップＳ１２０）遊戯盤を載置する。本実施の形態に係る検査装置３では、一度修正された遊戯盤が含まれていた場合に、そのＮＧ箇所の修正ができたか否かを確認することができる。

本発明の検査装置は、３Ｄシート等の光を乱反射する遊戯盤表面に植設された釘の位置と高さを調べる際に好適に用いられる。

１、２ 検査装置
１０、３０ 遊戯盤
１２、３２ 釘
１３、３３ 移送方向
１４、３４ 遊技盤の中心線
１５、３５ 領域の幅（ラインセンサの視野）
１６ ピントの位置
３６ 視野の交線
２０ ラインセンサ
５０ａ、５０ｂ、５１ａ、５１ｂ 遮蔽板
４０ 第１のラインセンサ
４２ 第２のラインセンサ
２４ ラインセンサの視軸
４４ 第１のラインセンサの視軸
４６ 第２のラインセンサの視軸
６０ コンベア
６１ 駆動モータ
２２、４３、６２ ライト
６４ 固定手段
６６ 位置測定器
６８ ＮＧ品の台
６９ ＯＫ品の台
７０ 制御装置
７２ メモリ手段
７４ ディスプレイ（表示手段）

Claims (12)

1. 表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を所定の速度で搬送する搬送手段と、
   前記遊戯盤を照らすライトと、
   前記釘の頭を撮影するラインセンサと、
   前記ライトの光の一部を遮蔽する遮蔽板を有する遊戯盤の検査装置。
2. 前記ラインセンサは、
   前記搬送手段による前記遊戯盤の搬送方向と直角であって、
   前記遊戯盤の垂直方向に沿って視軸が配置された第１のラインセンサと、
   前記第１のラインセンサと平行に配置され、視軸が前記第１のラインセンサの視軸から所定の角度傾き、かつ視野が前記第１のラインセンサの視野と交わる交線が、前記遊戯盤の釘の頭と同じ高さに配置される第２のラインセンサを含み、
   さらに、前記釘の頭を前記第１のラインセンサが撮影した地点と前記第２のラインセンサが撮影した地点の間の距離に基づいて、前記釘の高さを算出する制御装置を有する請求項１に記載の遊戯盤の検査装置。
3. 前記遮蔽板には、前記釘の頭を撮影するために開放されている検査用開口部が設けられ、
   前記検査用開口部の前記第２のラインセンサ設置側の端部が、前記第２のラインセンサの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする請求項２に記載の遊戯盤の検査装置。
4. 前記検査用開口部の前記第２のラインセンサ設置側の側面が、前記第２のラインセンサの傾き角度と同一の角度以下で前記第２のラインセンサの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする請求項２または３に記載の遊戯盤の検査装置。
5. 前記制御装置は、
   前記遊戯盤に植設される釘の位置を示すマップ情報を有し、
   前記第１のラインセンサが前記釘の頭を撮影した位置と、前記マップ情報を比較する請求項２乃至４に記載された遊戯盤の検査装置。
6. 前記算出した前記釘の高さ若しくは前記釘の植設位置を表示する表示手段を有する請求項２乃至５の何れかの請求項に記載された遊戯盤の検査装置。
7. 前記遊戯盤のＩＤコードを取得するＩＤコード取得手段と、
   前記ＩＤコードおよび、前記算出した前記釘の高さおよび前記釘の植設位置を記憶する記憶手段をさらに有し、
   前記制御装置は、前記ＩＤコードに基づいて、過去に行った検査結果との比較結果を求める請求項２乃至６の何れか一の請求項に記載された遊戯盤の検査装置。
8. 前記釘の頭部側から撮影するラインセンサと、
   前記ラインセンサにより撮影された前記釘の頭部位置を基準位置と比較して良否を判別し検査する判別手段を有する請求項１に記載の遊戯盤の検査装置。
9. 前記ライトが前記遊戯盤の垂直方向から所定角度傾いて設置され、
   前記遮蔽板には、前記釘の頭を撮影するために開放されている検査用開口部が設けられ、
   前記検査用開口部の前記ライト設置側の側面が、前記ライトの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする請求項１または８に記載の遊戯盤の検査装置。
10. 前記検査用開口部の前記ライト設置側の側面が、前記ライトの傾き角度と同一の角度以下で前記ライトの傾きと同じ方向に傾斜していることを特徴とする請求項１または８または９に記載の遊戯盤の検査装置。
11. 表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を移送する工程と、
    前記移送中の遊戯盤の前記釘を、遮蔽板によって光の一部を遮蔽したライトで遊戯盤の釘を照らして、前記釘の頭部側から前記釘を撮影する工程と、
    撮影された前記釘の頭部位置を基準位置と比較して良否を判別し検査する遊戯盤の検査方法。
12. 表面に３Ｄ効果が付与され、前記表面に釘が植設された遊戯盤を移送する工程と、
    前記移送中の遊戯盤の前記釘を、遮蔽板によって光の一部を遮蔽したライトで遊戯盤の釘を照らして、前記遊戯盤の法線方向および前記法線方向に対して所定角度傾斜した方向から前記釘を撮影する工程と、
    前記法線方向および傾斜した方向から前記釘を撮影した地点間の距離に基づいて、前記釘の高さを求める遊戯盤の検査方法。