JP2014030130A - 放射線検出器、放射線撮像装置及び制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】高いフレームレートでの画像の読み出しが行える放射線検出器及び放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】光電変換素子を有する画素のサンプルホールド回路と画素の列毎に設けられた列信号線とを画素の行を順次選択することで接続状態とさせる垂直走査回路によりセンサにおいて放射線が照射されない照射領域外の行を選択させ、その後に照射された放射線に基づく信号をサンプルホールド回路にサンプルホールドさせ、その後に垂直走査回路により照射領域内の行を順次選択させつつ照射領域内の画素でサンプルホールドされた信号を読み出すようにして、照射された放射線に基づく信号のサンプルホールド前に照射領域外の行を選択することで、リードアウトタイムを短くし、高いフレームレートでの画像の読み出しを可能にする。
【選択図】図9
【解決手段】光電変換素子を有する画素のサンプルホールド回路と画素の列毎に設けられた列信号線とを画素の行を順次選択することで接続状態とさせる垂直走査回路によりセンサにおいて放射線が照射されない照射領域外の行を選択させ、その後に照射された放射線に基づく信号をサンプルホールド回路にサンプルホールドさせ、その後に垂直走査回路により照射領域内の行を順次選択させつつ照射領域内の画素でサンプルホールドされた信号を読み出すようにして、照射された放射線に基づく信号のサンプルホールド前に照射領域外の行を選択することで、リードアウトタイムを短くし、高いフレームレートでの画像の読み出しを可能にする。
【選択図】図9
Description
本発明は、放射線検出器、放射線撮像装置及び制御方法に関する。
近年、デジタル放射線撮像装置の分野では、イメージインテンシファイアに代わり、解像度の向上や体積の小型化、画像の歪みを抑えることを目的に光電変換素子を用いた等倍光学系の大面積フラットパネル式のセンサを用いた放射線撮像装置が普及している。大面積フラットパネル式のセンサとして、シリコン半導体ウエハから矩形状に切り出した、複数のCMOS型撮像素子が光電変換素子として形成された矩形半導体基板をタイリングすることにより大面積を実現したものが提案されている(特許文献1参照)。CMOS型撮像素子は、微細加工によりアモルファスシリコンより高速読み出しが可能で、さらに高感度が得られる。また、CMOS型撮像素子は、CCD型撮像素子のような電荷転送の転送段数や消費電力に問題が無く大面積化が容易である。
また、CMOS型撮像素子においては、撮影のための光が照射されていない期間においても暗電流が発生する。このため、CMOS型撮像素子は、蓄積後の出力にオフセット値を持ち、光を照射しなくともゼロでない値を各画素が光信号として出力する。ある蓄積期間に光を照射せずに取得した光信号データをCMOS型撮像素子のオフセットパターンとして取得し、動画撮影で得た光信号データから、同じ長さの蓄積期間で取得されたオフセットパターンを減算しオフセット補正をする方法がある。
CMOS型撮像素子を光電変換素子として使用したセンサでは、垂直走査回路及び水平走査回路を用いたXYアドレス方式によるスイッチング動作によって画素選択が行われ、各画素から信号が読み出される。すなわち、センサの各画素からの信号の読み出しは、垂直走査回路がセンサの端の行から1行ずつ順次選択するように走査するとともに、水平走査回路が各行において端の画素から1画素ずつ順次選択するように走査することで行われる。
ここで、CMOS型撮像素子を使用したセンサに放射線(例えば、X線)を照射して撮影を行う場合に、センサの一部領域のみに放射線を照射するようにコリメータ等により照射領域を絞って撮影を行うことがある。この場合には、行単位ですべての画素に放射線が照射されていない行については画素から信号を読み出す必要がない。しかしながら、垂直走査回路は、センサの端の行から1行ずつ順次選択するように走査を行う。そのため、センサの一部領域のみに放射線を照射して撮影を行い、垂直走査回路による走査で順次選択される先頭の何行かに放射線が照射されない場合には、照射領域外の画素行について読み飛ばし走査を行う必要がある。この照射領域外の行の読み飛ばし走査に要する時間は無駄な時間であり、放射線照射から信号の読み出しという撮影における1つのサイクルに要する時間を増大させることになる。これは、特に動画撮影において、高いフレームレートでの駆動を実現しようとする場合に問題となる。
本発明の目的は、高いフレームレートでの画像の読み出しが行える放射線検出器及び放射線撮像装置を提供することにある。
本発明の放射線検出器は、照射された放射線を電気信号に変換する放射線検出器であって、行列状に配置された、光電変換素子と該光電変換素子で得られた電荷に基づく電気信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路とを有する複数の画素と、前記画素の列毎に設けられ、前記サンプルホールドされた電気信号を伝送するための列信号線と、前記画素の行を所定の順序で順次選択することで、前記サンプルホールド回路と前記列信号線とを接続状態とする信号を出力する垂直シフトレジスタと、前記放射線検出器について放射線が照射される照射領域に対応する情報を取得する取得手段と、前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域外の所定の数の行を選択させる第一の制御と、該第一の制御の後に前記照射された放射線に基づく電気信号を前記サンプルホールド回路にサンプルホールドさせる第二の制御と、該第二の制御の後に前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域内の行を順次選択させつつ前記照射領域内の前記画素で前記サンプルホールドされた電気信号を読み出す第三の制御と、を実行する制御手段と、前記第三の制御により読み出された電気信号に基づく画像データを生成する生成手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、照射された放射線に基づく電気信号のサンプルホールド前に、照射領域外の行を選択することで、より高いフレームレートでの画像の読み出しが可能となる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
(第一の実施形態)
本発明の第一の実施形態について説明する。
図1は、第一の実施形態による放射線撮像装置の構成例を示すブロック図である。図1には、大面積フラットパネル式の放射線動画撮像装置の構成を模式的に示している。図1において、100は放射線検出器、101は画像処理部を含むシステム制御装置、102は画像表示装置、103は放射線発生装置、104は放射線源である。例えば、放射線がX線である場合、放射線発生装置103はX線発生装置であり、放射線源104はX線管である。
本発明の第一の実施形態について説明する。
図1は、第一の実施形態による放射線撮像装置の構成例を示すブロック図である。図1には、大面積フラットパネル式の放射線動画撮像装置の構成を模式的に示している。図1において、100は放射線検出器、101は画像処理部を含むシステム制御装置、102は画像表示装置、103は放射線発生装置、104は放射線源である。例えば、放射線がX線である場合、放射線発生装置103はX線発生装置であり、放射線源104はX線管である。
図1に示す放射線撮像装置において、撮影時にはシステム制御装置101により、放射線検出器100及び放射線発生装置103が同期制御される。被写体を透過した放射線は、放射線の入射面側に配置された不図示のシンチレータ(蛍光体)により可視光に変換されて光電変換され、光量に応じた光電変換後の信号がアナログ・デジタル変換(AD変換)される。そして、AD変換された信号が、放射線照射に対応したフレーム画像データとして放射線検出器100からシステム制御装置101内の画像処理部に転送され、画像処理が行われる。そして、画像処理が行われた後、例えばシステム制御装置101による表示制御により表示部である画像表示装置102に放射線画像がリアルタイムに表示される。
放射線検出器100は、フラットパネルセンサ105を有する。フラットパネルセンサ105と、フラットパネルセンサ105における放射線の入射面側に配置された前述のシンチレータにより、放射線を検出して画像を得る放射線画像センサが構成される。フラットパネルセンサ105は、光電変換素子と光電変換素子からの電気信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路とを有する画素が二次元状(行列状)に複数配置されている。フラットパネルセンサ105は、シリコン半導体ウエハから矩形状に切り出した、光電変換素子であるCMOS型撮像素子が形成された矩形半導体基板301が、不図示の平面基台上にマトリクス状にタイリングされている。
矩形半導体基板301は、つなぎ用エリアセンサとして利用可能なものであり、矩形半導体基板301上の光電変換画素は等ピッチで二次元状に配置されている。また、平面基台上で隣接する矩形半導体基板301は、矩形半導体基板間の境界を挟んで光電変換素子が矩形半導体基板301上と同じピッチになるようにタイリングされている。図1には、矩形半導体基板301が12列×2行のマトリクス状にタイリングされた例を示しているが、これに限定されるものではなく、タイリングする矩形半導体基板301の行方向の数、及び列方向の数は任意である。
フラットパネルセンサ105の上辺部及び下辺部には、マトリクス状に並んだ矩形半導体基板301の不図示の外部端子(電極パッド)が配されている。矩形半導体基板301の電極パッドは不図示のフライングリード式プリント配線板で外部の回路と接続される。矩形半導体基板301上には、アナログ出力のイネーブル/ディセーブルを切り換えるスイッチ素子等の切り換え素子が構成されている。アナログ出力用スイッチ素子を設けることでチップセレクト制御信号による矩形半導体基板301の出力制御が可能となり、矩形半導体基板301のアナログ出力線同士をまとめて接続し、直接に増幅器107に接続することができる。放射線検出器100では、タイリングされた3枚の矩形半導体基板301を1つのAD変換器108の変換領域として、画素からの信号がAD変換される。AD変換器108は、読み出した画素からの信号に基づく画像データを生成する生成手段に含まれ、画素からのアナログ信号をデジタル値にAD変換して出力する。
撮影制御部109は、システム制御装置101と制御コマンドの通信、同期信号の通信、システム制御装置101内の画像処理部への画像データの送信を行う。撮影制御部109は、フラットパネルセンサ105の制御機能も有しており、フラットパネルセンサ105の駆動制御や撮影モード制御を行う。例えば撮影制御部109では、フラットパネルセンサ105において放射線が照射される照射領域に対応する情報を取得する。そして、照射領域外の所定数の行についての走査を行わせる第一の制御、第一の制御の後に照射された放射線に基づく電気信号を画素のサンプルホールド回路にサンプルホールドさせる第二の制御を行う。また、第二の制御の後、照射領域内の行についての走査を行いサンプルホールドされた電気信号を読み出す第三の制御を行う。また、撮影制御部109は、第三の制御の後に、後述する垂直走査回路の動作を初期化し、いずれの行も選択されない状態とする第四の制御を行う。また、撮影制御部109は、放射線検出器100内の複数のAD変換器108によりAD変換されたブロック毎のデジタル画像データをフレームデータに合成し、システム制御装置101内の画像処理部に転送する。
110はコマンド制御用インターフェースであり、システム制御装置101からは撮影制御部109への撮影モードの設定、各種パラメータの設定、撮影開始設定、撮影終了設定等が通信される。また、コマンド制御用インターフェース110を介して、撮影制御部109からはシステム制御装置101へ放射線検出器100の状態等が通信される。111は画像データインターフェースであり、撮影により得られた画像データが、撮影制御部109からシステム制御装置101へ送られる。
112はREADY信号であり、放射線検出器100が撮影可能状態になったことを撮影制御部109からシステム制御装置101へ伝える信号である。113は外部同期信号であり、システム制御装置101が撮影制御部109からのREADY信号112を受け、撮影制御部109に放射線曝射のタイミングを知らせる信号である。114は曝射許可信号であり、曝射許可信号114がイネーブルの間にシステム制御装置101から放射線発生装置103に曝射信号が送信され、放射線源104から曝射された放射線が有効な放射線として蓄積され、放射線画像が形成される。
図2は、矩形半導体基板301に行列状に構成される画素回路の構成例を示す図である。図2には、1画素分の画素回路を示している。図2において、PDは光電変換を行うフォトダイオードである。M2はフローティングディフュージョンに蓄積された電荷を放電させるためのリセットMOSトランジスタ(リセットスイッチ)であり、Cfdは電荷を蓄積するフローティングディフュージョン(浮遊拡散領域)の容量である。M4はソースフォロアとして動作する増幅MOSトランジスタ(第一の画素アンプ)である。M3は第一の画素アンプ(M4)を動作状態とさせるための選択MOSトランジスタ(第一の選択スイッチ)である。
第一の画素アンプ(M4)の後段には、光電変換部で発生するkTCノイズを除去するクランプ回路が設けられている。Cclはクランプ容量であり、M5はクランプ用MOSトランジスタ(クランプスイッチ)である。M7はソースフォロアとして動作する増幅MOSトランジスタ(第二の画素アンプ)である。M6は第二の画素アンプ(M7)を動作状態とさせるための選択MOSトランジスタ(第二の選択スイッチ)である。
第二の画素アンプ(M7)の後段には、光信号用及び基準電圧信号用の2つのサンプルホールド回路が設けられている。M8は光信号蓄積用のサンプルホールド回路を構成する、サンプルホールド用MOSトランジスタ(光信号用サンプルホールドスイッチ)である。CSは光信号用ホールド容量である。M11は基準電圧信号蓄積用のサンプルホールド回路を構成する、サンプルホールド用MOSトランジスタ(基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ)である。CNは基準電圧信号用ホールド容量である。
M10はソースフォロアとして動作する光信号の増幅MOSトランジスタ(光信号用画素アンプ)である。M9は光信号用画素アンプ(M10)で増幅された光信号をS信号出力線へ出力するためのアナログスイッチ(光信号用転送スイッチ)である。M13はソースフォロアとして動作する基準電圧信号の増幅MOSトランジスタ(基準電圧信号用画素アンプ)である。M12は基準電圧信号用画素アンプ(M13)で増幅された基準電圧信号をN信号出力線へ出力するためのアナログスイッチ(基準電圧信号用転送スイッチ)である。
信号ENは、第一の選択スイッチ(M3)及び第二の選択スイッチ(M6)のゲートに接続され、第一の画素アンプ(M4)及び第二の画素アンプ(M7)を動作状態とさせるための制御信号である。制御信号ENがハイレベルの時に、第一の画素アンプ(M4)及び第二の画素アンプ(M7)は同時に動作状態となる。信号PRESは、リセットスイッチ(M2)をオンしてフォトダイオードPDに蓄積された電荷を放電させるリセット信号である。信号PCLは、クランプスイッチ(M5)を制御するクランプ信号である。クランプ信号PCLがハイレベルのときにクランプスイッチ(M5)がオンし、クランプ容量(Ccl)を基準電圧VCLにセットする。
信号TSは光信号サンプルホールド制御信号である。光信号サンプルホールド制御信号TSをハイレベルとして光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)をオンすることで、光信号が第二の画素アンプ(M7)を通して光信号用ホールド容量CSに一括転送される。次いで、全画一括で光信号サンプルホールド制御信号TSをローレベルとして光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)をオフすることで、サンプルホールド回路への光信号電荷の保持が完了する。
信号TNは基準電圧信号サンプルホールド制御信号である。基準電圧信号サンプルホールド制御信号TNをハイレベルとして基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)をオンすることで、基準電圧信号が第二の画素アンプ(M7)を通して基準電圧信号用ホールド容量CNに一括転送される。次いで、全画一括で基準電圧信号サンプルホールド制御信号TNをローレベルとして基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)をオフすることで、サンプルホールド回路への基準電圧信号電荷の保持が完了する。
光信号用ホールド容量CSへ光信号電荷をサンプルホールドした後は、光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)がオフとなり、光信号用ホールド容量CSは前段の蓄積回路と電気的に切り離される。また、基準電圧信号用ホールド容量CNへ基準電圧信号電荷をサンプルホールドした後は、基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)がオフとなり、基準電圧信号用ホールド容量CNは前段の蓄積回路と電気的に切り離される。そのため、再度サンプルホールドされるまで蓄積した光信号及び基準電圧信号を非破壊で読み出すことが可能である。
図3は、図2に示した画素回路における固定フレームレートでX線ウィンドウ制限のある動画撮影時の駆動タイミングを示すタイミングチャートである。以下、動画撮影において、光信号用ホールド容量CS及び基準電圧信号用ホールド容量CNに電荷がサンプルホールドされるまでの制御信号のタイミングについて、図3を用いて説明する。図3に示すタイミングチャートにおいて、時刻t50にて撮影開始設定がなされ、時刻t51から撮影のための駆動が開始される。
時刻t51から始まるリセット駆動R1について説明する。リセット駆動R1は、リセットとクランプを行う駆動である。まず、時刻t51で信号ENをハイレベルにし、第一の画素アンプ(M4)及び第二の画素アンプ(M7)を動作状態にする。次に、時刻t52で信号PRESをハイレベルにし、フォトダイオードPDを基準電圧VRESに接続する。次に、時刻t53で信号PCLをハイレベルにすることによりクランプスイッチ(M5)をオンし、クランプ容量(Ccl)の第二の画素アンプ(M7)側に基準電圧VCLが接続される。同時に、信号TS、TNをハイレベルにし、光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)及び基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)をオンする。
時刻t54で信号PRESをローレベルにしてリセットを終了し、クランプ容量(Ccl)の第一の画素アンプ(M4)側にリセット電圧がセットされる。時刻t55でクランプスイッチ(M5)をオフし、基準電圧VCLと基準電圧VRESの差分の電圧に応じた電荷がクランプ容量(Ccl)に蓄積されクランプが終了する。また、光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)及び基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)もオフされる。光信号用ホールド容量(CS)及び基準電圧信号用ホールド容量(CN)には、第二の画素アンプ(M7)の入力(ゲート)が基準電圧VCLにセットされた時の基準電圧信号がサンプルホールドされる。光信号用ホールド容量(CS)及び基準電圧信号用ホールド容量(CN)の電荷をサンプリング駆動S1前に一定にしていることにより残像の影響が低減される。
そして、リセット駆動R1を終了し、時刻t55からフォトダイオードPD及びフローティングディフュージョン容量(Cfd)の光電変換部の蓄積が開始される。時刻t56で信号ENをローレベルとし、第一の画素アンプ(M4)及び第二の画素アンプ(M7)を非動作状態にする。また、蓄積状態になったので曝射許可信号114をイネーブルにし放射線の曝射を要求する。後に続くリセット駆動もこのタイミングで制御される。
タイリングされた矩形半導体基板301は、動画撮影時に撮像素子間や走査線間の時間的スイッチングのずれにより発生する画像ズレを防止するために、各撮像素子のすべての画素を一括して同一のタイミング、かつ同一の期間でリセット駆動が行われる。その後、一括露光による蓄積が行われ各画素回路のフォトダイオードPDで発生した光電荷が容量(Cfd)に蓄積される。リセット駆動R1の時刻t52から時刻t54のフォトダイオードPDへの基準電圧VRESの印加において光電変換部でリセットノイズ(kTCノイズ)が発生する。しかし、クランプ回路のクランプ容量(Ccl)の第二の画素アンプ(M7)側に基準電圧VCLをセットすることによりリセットノイズは除去される。
時刻t60から始まるサンプリング駆動S1について説明する。時刻t60で信号ENをハイレベルにし、第一の選択スイッチ(M3)及び第二の選択スイッチ(M6)をオンする。これにより、容量(Cfd)に蓄積されている電荷は、電荷/電圧変換されソースフォロアとして動作する第一の画素アンプ(M4)により電圧としてクランプ容量(Ccl)に出力される。第一の画素アンプ(M4)の出力はリセットノイズを含むが、クランプ回路によりリセット時に第二の画素アンプ(M7)側を基準電圧VCLにセットしているので、リセットノイズが除去された光信号となって第二の画素アンプ(M7)に出力される。
次に、時刻t61で信号TSをハイレベルとして光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)をオンすることで、光信号が第二の画素アンプ(M7)を通して光信号用ホールド容量(CS)に一括転送される。サンプルホールドを開始したので、時刻t62で曝射許可信号114をディセーブルとし放射線曝射は禁止される。時刻t63で信号TSをローレベルとして光信号用サンプルホールドスイッチ(M8)をオフすることで、光信号用ホールド容量(CS)に光信号がサンプルホールドされる。次に、時刻t64で信号PRESをハイレベルとしてリセットスイッチ(M2)をオンし、容量(Cfd)を基準電圧VRESにリセットする。
次に、時刻t65で信号PCLをハイレベルとする。これにより、クランプ容量(Ccl)には電圧VCLと電圧VRESの差分の電圧にリセットノイズが重畳した電荷が蓄積される。時刻t66で信号PRESをローレベルとしリセットを完了する。時刻t67で信号TNをハイレベルとして基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)をオンすることで、基準電圧VCLにセットされた時の基準電圧信号を基準電圧信号用ホールド容量(CN)に転送する。続いて、時刻t68で信号TNをローレベルとして基準電圧信号用サンプルホールドスイッチ(M11)をオフすることで、基準電圧信号用ホールド用容量(CN)に基準電圧信号がサンプルホールドされる。
時刻t69で信号PCLをローレベルとし、時刻t70で信号ENをローレベルとし、サンプリング駆動S1を終了する。サンプリング駆動S1は全画素を一括して行う。後に続くサンプリング駆動もこのタイミングで制御される。サンプリング駆動S1の後、時刻t81にて再びリセット駆動R1が行われ、次のフレームのフォトダイオードPDでの蓄積を開始させる。
光信号用ホールド容量(CS)及び基準電圧信号用ホールド容量(CN)にサンプルホールドされた光信号及び基準電圧信号の走査は画素毎に行われる。光信号用転送スイッチ(M9)をオンすることで、光信号用ホールド容量(CS)の電圧が、光信号用画素アンプ(M10)を通して光信号出力線に転送される。また、基準電圧信号用転送スイッチ(M12)をオンすることで、基準電圧信号用ホールド用容量(CN)の電圧が、基準電圧信号用画素アンプ(M13)を通して基準電圧信号出力線に転送される。光信号出力線及び基準電圧信号出力線に転送された信号は、光信号出力線及び基準電圧信号出力線が接続された不図示の差動入力アンプで減算処理される。これにより、画素アンプでの熱ノイズ、1/fノイズ、温度差、プロセスばらつきによる固定パターンノイズ(FPN)を除去している。
なお、センサからの読み出しが可能な期間は、時刻t68のサンプルホールド終了時から、光信号用ホールド容量(CS)及び基準電圧信号用ホールド容量(CN)に、次フレームの信号のサンプルホールドが再び開始される時刻t81までの間である。サンプリング駆動S1の終了後に画素の読み出し処理RD11が行われる。読み出し処理は画像表示までの遅延をできる限り短くするよう、サンプリング駆動S1におけるサンプルホールド直後に行われる。
図2に示した画素回路において、フォトダイオードPDの蓄積開始のタイミングは、図3に示したリセット完了後に信号PCLをローレベルにしてクランプが完了した時点である時刻t55や時刻t69である。また、蓄積終了のタイミングは、信号TSをローレベルにして光信号をサンプルホールドした時点である時刻t63である。これにより、光信号及び基準電圧信号をサンプルホールドするサンプリング駆動S1とサンプリング駆動S1の間に、蓄積時間開始のためのリセット駆動R1又はサンプリング駆動S1を挿入することにより、蓄積時間を制限している。図3においては、時刻t60から始まるサンプリング駆動S1と時刻t90から始まるサンプリング駆動S1との間に、時刻t81から始まるリセット駆動R1を挿入している。これにより、実質的な蓄積時間であるX線ウィンドウを時刻t85から時刻t93までの期間Tに制限している。
図4は、矩形半導体基板301の内部構造の一例を模式的に示す図である。矩形半導体基板301は、チップセレクト信号端子CSx、光信号出力端子S、基準電圧信号出力端子N、垂直走査スタート信号端子VST、垂直走査クロック端子CLKV、水平走査スタート信号端子HST、水平走査クロック端子CLKHを有する。垂直シフトレジスタである垂直走査回路303は、横方向の画素群を所定の順序で選択し、垂直走査クロックCLKVに同期して画素群を順次副走査方向である垂直方向に走査する。垂直走査回路303は、シフトレジスタで構成されている。出力手段を構成する水平走査回路304は、垂直走査回路303により選択された主走査方向である横方向の画素群の列信号線を水平走査クロックCLKHに同期して所定の順序で順次1画素ずつ選択する。
画素回路302は、図2に示した画素回路であり、垂直走査回路303の出力線である行信号線305がイネーブルになることにより、サンプルホールドされた光信号S、基準電圧信号Nを列信号線306、307に出力する。列信号線306、307は、画素の列毎に設けられており、行信号線305がイネーブルになることにより、その行信号線が接続された画素回路302と列信号線306、307とが接続状態になる。列信号線306、307に出力された光信号S、基準電圧信号Nを水平走査回路304が順次選択することにより、アナログ出力線308、309に各画素の光信号S、基準電圧信号Nが順次出力される。列信号線306、307には、それぞれ寄生の抵抗310、311及び容量312、313がある。また、列信号線306、307は、定電流源314、315により接地されている。
以上のように、矩形半導体基板301は、垂直走査回路303及び水平走査回路304を使用したXYアドレス方式によるスイッチング動作によって所定の順序での画素選択が行われる。そして、選択された画素からのトランジスタで増幅された各画素の光信号S及び基準電圧信号Nの電圧信号は、列信号線306、307及びアナログ出力線308、309を通して、光信号出力端子S及び基準電圧信号出力端子Nに出力される。アナログ出力線308、309には、それぞれ寄生の抵抗320、321及び容量322、323がある。また、アナログ出力線308、309は、定電流源324、325により接地されている。
チップセレクト信号端子CSxは、チップセレクト信号の入力端子である。端子CSxより入力されるチップセレクト信号をハイレベルとすることにより内部走査に従った撮像素子の光信号S及び基準電圧信号Nが光信号出力端子S及び基準電圧信号出力端子Nから出力される。光信号及び基準電圧信号に係るサンプルホールド回路後段の出力切り換えアナログスイッチ、列信号線306、307、列信号線を水平走査回路304の出力により切り換えるスイッチングトランジスタは、読み出し走査の伝送回路を構成している。
垂直走査クロック端子CLKVは、垂直走査回路303のクロックの入力端子であり、垂直走査スタート信号端子VSTは、垂直走査回路303のスタート信号の入力端子である。垂直走査スタート信号VSTをハイレベルにした後、垂直走査クロックCLKVを入力することにより、V1,V2,・・・,Vmとの順序で行選択信号が順次イネーブルに入れ替わる。行選択信号Vi(i=1,2,・・・,m)がイネーブルであるとき、i行目の画素が選択される。垂直走査が開始されたら垂直走査スタート信号VSTがローレベルにされる。
水平走査クロック端子CLKHは、水平走査回路304のクロックの入力端子であり、水平走査スタート信号端子HSTは、水平走査回路304のスタート信号の入力端子である。水平走査スタート信号HSTをハイレベルにし、水平走査クロックCLKHを入力することにより、H1,H2,・・・,Hnとの順序で列選択信号が順次イネーブルに入れ替わる。列選択信号Hj(j=1,2,・・・,n)がイネーブルであるとき、j列目の画素が選択される。水平走査が開始されたら水平走査スタート信号HSTがローレベルにされる。
垂直走査回路303の出力のうち行選択信号V1がイネーブルになると、1行目の行信号線に接続する横1行の画素群(1,1)から(n,1)が選択され、横1行の各画素からそれぞれの列信号線306、307に光信号S、基準電圧信号Nが出力される。水平走査回路304の列選択信号のイネーブルをH1,H2,・・・,Hnと順次切り換えることにより、横1行の画素の光信号S、基準電圧信号Nが順次アナログ出力線308、309を経由して光信号出力端子S及び基準電圧信号出力端子Nに出力される。行選択信号Vmまで同様な水平走査を行うことで、全画素の画素出力が得られる。
図5は、ある一つのAD変換器108に対応する、タイリングされた3枚の矩形半導体基板301の画素データを読み出すためのタイムチャートの一例を示す図である。図5に示す時刻t1から時刻t2までの間に1フレームの信号が読み出される。図5において、信号CS0〜CS2は、矩形半導体基板301のアナログ信号の出力を制御するチップセレクト信号である。該当する3枚の矩形半導体基板301に対して互いに異なる1つの信号が入力されるようにして、チップセレクト信号CS0〜CS2を、図4に示したチップセレクト信号端子CSxに入力することで、3枚の矩形半導体基板の出力が順次オンになる。
画素データの読み出しでは、まずチップセレクト信号CS0が選択される。垂直走査スタート信号VSTがハイレベルの状態で、垂直走査クロックCLKVが立ち上がると、垂直走査回路303の出力において行選択信号V1がイネーブルとなる。そして、1行目の行信号線305によって選択される画素群(1,1)から(n,1)の出力が有効になり、列信号線306、307に画素群(1,1)から(n,1)の各画素の光信号S及び基準電圧信号Nが出力される。
その後、水平走査スタート信号HSTがハイレベルの状態で、水平走査クロックCLKHが立ち上がると、水平走査回路304の出力において列選択信号H1がイネーブルとなる。水平走査クロックCLKHの立ち上がりに同期して、水平走査回路304の出力においてイネーブルとなる列選択信号がH2,・・・,Hnと順次切り換わる。このようにして、画素を(1,1)から順番に(n,1)まで選択し、チップセレクト信号CS0で選択された矩形半導体基板301の横方向画素群の走査を終了する。AD変換器108でのAD変換は、水平走査クロックCLKHに同期して行われる。
次に、チップセレクト信号CS1に切り換えて同様に水平走査を行い、その後、チップセレクト信号CS2に切り換えて同様に水平走査を行う。これにより、3枚の矩形半導体基板301の横1ラインに配列した画像群の読み出しを終了する。以降、垂直走査クロックCLKVにより垂直走査回路303の出力においてイネーブルとなる行選択信号を順次切り換えながら、同様に水平走査を行選択信号Vmまで行うことにより、3枚の矩形半導体基板301の全画素の読み出しが完了する。垂直走査クロックCLKVは、行選択信号Vmまでの垂直走査を行った後は、次の垂直走査を開始するまで走査を停止することにより、シフトレジスタのスイッチング動作による電力の消費を抑えている。
センサ全面読み出し、すなわちフラットパネルセンサ105が有する全画素から信号を読み出す場合は、前述のように駆動される。以下では、放射線の照射領域をコリメータ等により絞って、フラットパネルセンサ105の一部領域のみに放射線を照射して撮影を行う場合の駆動制御について説明する。
図6は、図1に示したフラットパネルセンサ105の一部に放射線が照射されている様子を示す図である。説明の簡単化のために、図6にはフラットパネルセンサ105のみを示している。図6に示すように、フラットパネルセンサ105において、すべての矩形半導体基板301の垂直走査回路303の読み出し方向は中心向きである。120はフラットパネルセンサ105において放射線が照射されている領域を示している。図1に示した放射線源104からの放射線照射の範囲が不図示のコリメータにより狭められることにより、放射線照射領域120の範囲が決定する。
ここでは、一例として図7に示すように、すべての矩形半導体基板301において、a行目(1≦a<m)までの画素302aに放射線が照射されず、(a+1)行目以降の画素302bに放射線が照射されているものとする。すなわち、図7において、ハッチングを施して図示した1行目〜a行目の各画素302aには放射線が照射されず、(a+1)行目〜m行目の各画素302bには放射線が照射されている。なお、図7において、垂直走査回路303の走査による読み出し方向は上から下とする。このような場合、行単位ですべての画素に光が照射されていない行は読み出す必要がない。
まず、前述したセンサ全面読み出しと同様に駆動して、フラットパネルセンサ105の画素から信号を読み出す場合について、図8を用いて説明する。図8は、一つのAD変換器108に対応する3枚の矩形半導体基板の画素データを順次読み出す動作を示すタイムチャートである。図8には、図3及び図5に示した駆動を用いたときの画素回路内駆動、画素読出駆動及び垂直走査スタート信号VST、垂直走査クロックCLKVについて1フレーム分のタイムチャートを示している。ここで、画素回路内駆動とは、図2に示した回路における各信号EN、TS、TN、PCL、PRESの駆動を簡略して表したものである。また、画素読出駆動とは、図5に示した各信号CSx、HST、CLKHの駆動を簡略して表したものである。図8において、画素回路内駆動については、図3に示したリセット駆動R1が行われている時をR1、サンプリング駆動S1が行われている時をS1と記載している。
時刻t10で画素回路内駆動のサンプリング駆動S1が終了し、時刻t11から垂直走査回路303による行単位の選択が開始される。次いで、時刻t12で放射線が照射されていない行であるa行目の画素の読み出しが終了し、時刻t13でフラットパネルセンサ105のすべての行の画素からの信号の読み出しが終了する。ここで、時刻t11から時刻t12までは、信号を読み出す必要がない行、すなわち1行目〜a行目の画素を読み出す駆動である。この駆動により、サンプリング駆動S1が終了してからすべての画素が読み出される時刻t10から時刻t12までのリードアウトタイムを遅くしている。
例えば、図4に示した例において、m=800、n=500とし、a=400であったとする。このとき、図8に示した駆動において時刻t12は、垂直走査クロックCLKVが400回クロックされた時間である。水平走査クロックCLKHの周期が50nsであるとすると、時刻t11から時刻t12までの時間は10msとなる。また、時刻t12から時刻t13までの時間も10msである。このとき、蓄積時間が20msである場合、リセット駆動R1及びサンプリング駆動S1の合計時間を無視しても1フレームに費やす時間は40msであり、高速なフレームレートでの駆動を実現することができない。
それに対して、本実施形態では、フラットパネルセンサ105の一部領域のみに放射線を照射して撮影を行う場合には、以下のような駆動制御を行う。フラットパネルセンサ105の一部領域のみに放射線を照射して撮影を行う際の本実施形態における垂直走査回路の動作について、図9を用いて説明する。図9は、図6に示したようなフラットパネルセンサ105における、固定フレームレートでX線ウィンドウ制限のある動画撮影時の、本実施形態による駆動制御の一例を示すタイムチャートである。
図9には、画素回路内駆動、画素読出駆動及び垂直走査スタート信号VST、垂直走査クロックCLKVについて1フレーム分のタイムチャートを示している。図8と同様に、図9に示す画素回路内駆動では、図2に示した回路における各信号EN、TS、TN、PCL、PRESの駆動を簡略して表しており、画素読出駆動では、図5に示した各信号CSx、HST、CLKHの駆動を簡略して表している。また、図3に示したリセット駆動R1が行われている時をR1、サンプリング駆動S1が行われている時をS1と記載している。
まず、サンプリング駆動S1を行う前の時刻t20において、垂直走査スタート信号VSTをハイレベルにした後、時刻t21で垂直走査クロックCLKVを入力して垂直走査を開始する。時刻t21から時刻t22までの期間において、画素に放射線が照射されていないa行目、即ち照射領域の直前の行まで読み出しを行い、その後にサンプリング駆動S1を行う。ここで、サンプリング駆動S1において信号TSがハイレベルのときには、放射線が照射されていないa行目を垂直走査回路303で選択している。つまり、列信号線306、307に対して、a行目の画素回路302が接続されている。したがって、図4に示した列信号線307に接続されている寄生容量313には、常に図2に示した容量CSにサンプルホールドされた、放射線が照射されていないレベルの電荷が蓄積される。
仮に、サンプリング駆動S1時に垂直走査回路303で選択している画素に放射線が照射されていた場合、その放射線の照射のレベルに応じた電圧が、光信号が流れる列信号線307へ出力されて寄生容量313が充電されてしまう。サンプリング駆動S1後の読み出し駆動では、光信号にのみ寄生容量313に充電された電荷分のオフセットが重畳された状態で画素回路302から信号が読み出される。そのため、光信号と基準電圧信号との減算を行っても、列方向にオフセット分がノイズとして存在し、縦方向にアーチファクトが現れることがある。本実施形態では寄生容量313には放射線が照射されていないレベルの電荷が蓄積されるため、このアーチファクトを防ぐことができる。
その後、時刻t24から、画素に放射線が照射された(a+1)行目からの読み出しを開始し、時刻t25にてm行目までの読み出しを終了する。以上の動作により、サンプリング駆動S1の後に、放射線が照射されていない画素302aからの読み出しを行わずに、放射線が照射されている画素302bのみからの読み出しを行うことが可能となる。ここで、サンプリング駆動S1が終了してからすべての画素が読み出されるリードアウトタイムは、時刻t23から時刻t25までの時間である。本実施形態における駆動では、図8に示した駆動に比べ、放射線の照射と並行して放射線が照射されない画素302aの読み出しを行うことが可能になり、放射線が照射されていない画素302aを読み出す時間が省かれるため、リードアウトタイムが速くなる。リードアウトタイムが速くなることにより、サンプルホールドされた画素データの転送終了が速くなり、高いフレームでの画像の読み出しが可能となり、よりリアルタイムな画像表示が行え、なおかつ次のフレームの開始を速く行うことができる。
前述したm=800、n=500、a=400とし、蓄積時間20msである場合を例に、フレームレートについて説明する。図8における時刻t11から時刻t12までの時間10msが、図9では時刻t21から時刻t22までの時間に相当するが、本実施形態では、放射線の照射と並行して実行するため、この時間は蓄積時間20msの中に吸収される。よって、リセット駆動R1及びサンプリング駆動S1の合計時間を無視した場合、1フレームに費やす時間は30msとなる。よって、図9に示した駆動を用いれば、図8に示した駆動では実現できない、例えば30fps(毎秒30フレーム)の駆動が可能となる。
ここで、前述した説明ではサンプリング駆動S1を行う前に、画素に放射線が照射される行の直前の行(図7に示した例におけるa行目)まで読み出しを行うようにしている。サンプリング駆動S1時には、画素に放射線が照射される行の直前の行の画素が垂直走査回路により選択されて列信号線に接続されている。しかし、放射線を用いた撮影では、散乱線の影響や蛍光体から一部可視光が漏れ出すことにより、放射線が照射されないように照射領域外の画素として設定された画素も受光してしまうことがある。例えば、画素に放射線が照射される行の直前の行の画素が受光してしまうと、その画素が選択されて列信号線と接続されている時間が、サンプリング駆動S1後に読み出される画素の各々が列信号線と接続されている時間よりも長くなる。そのため、サンプリング駆動S1後に読み出される画素の信号が、サンプリング駆動S1時に選択された画素の信号の影響を受けてオフセットが重畳してしまう。
したがって、サンプリング駆動S1を行う前の読み出しは、画素に放射線が照射される行の直前の行から画素に放射線が照射されない行の側へ予め定められた行数だけ離れた行まで行うようにすることが好ましい。このようにした場合には、サンプリング駆動S1時に選択される画素の行を、照射領域から十分に離れた行とすることができ、散乱線の影響等が及ぶことを防止することができる。また、散乱線や蛍光体からの一部可視光の漏れ出しは一定でないことが考えられるので、画素に放射線が照射される行の直前の行から離す行数は、例えば放射線検出器100に複数回放射線を照射して得られた画像に基づいて決定すれば良い。複数回放射線を照射して得られた画像から、照射領域の画素の信号に影響を及ぼすレベルの信号が出力される行を判定し、その行の直前の行までサンプリング駆動S1を行う前に読み出しを行えば、画像の劣化させずにリードアウトタイムを速くすることができる。
次に、第一の実施形態による動画撮影時の駆動制御について、図10を用いて説明する。図10は、第一の実施形態による動画撮影時のセンサの駆動制御の例を示すタイミングチャートである。図10には、固定フレームレートでX線ウィンドウ制限のある動画撮影時の駆動制御を一例として示している。ここで、放射線の照射範囲は、図6に示した領域120であり、すべての矩形半導体基板301において、図7に示したように1行目からa行目まで放射線が照射されておらず、(a+1)行目からm行目まで放射線が照射されている。
図10において、読み出し処理RD21、RD22、RD23は、図9における時刻t20から時刻t22までの期間に行われた、放射線が照射されていない画素302aを読み出す駆動である。また、読み出し処理RD31、RD32、RD33は、図9における時刻t24から時刻t25までの期間に行われた、放射線が照射されている画素302bを読み出す駆動である。
まず、時刻t100において、撮影開始設定がなされる。このときに、不図示のコリメータ等の照射領域に対応する情報をシステム制御装置101が読み取り、撮影制御部109に照射領域に対応する情報を送信する。撮影制御部109は、受信した照射領域に対応する情報から、サンプリング駆動S1の前に、垂直走査回路303で何行目を選択するかを決定する。また、これにより読み出し処理RD21に要する時間が求まるため、撮影部制御部109は、サンプリング駆動S1において信号TSがハイレベルになる時間から逆算し、読み出し処理RD21を開始する時間を決定する。時刻t101において、外部同期信号によりリセット駆動R1が開始され、時刻t102から読み出し処理RD21が開始される。以降は、図9に示した駆動を順次繰り返し、動画像が撮影される。
ここで、読み出し処理RD21は、時刻t103に示す、サンプリング駆動S1が開始し信号TSがハイレベルになる前までに終了していればよい。よって、図10に示す例では、読み出し処理RD21の開始タイミングは、リセット駆動R1が終了してから行っているが、例えば、撮影開始設定時から駆動を開始してもよい。また、読み出し処理RD22に関しても、2フレーム目のサンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前までに終了していればよく、読み出し処理RD31が終了後、ただちに読み出し処理RD22を行っても問題ない。これは3フレーム目以降にも同様のことがいえる。
本実施形態では、サンプリング駆動S1の前に、放射線が照射されていない画素302aの最後の行であるa行目を選択しているが、行単位ですべての画素で放射線が照射されていない行を選択していればよい。例えば、前述のように、a行目から画素に放射線が照射されない行の側へ予め定められた行数だけ離れた、a行目よりも前の行を選択していてもよい。また、フレーム毎に画素の読み出し駆動とは別に図4に示した内部の寄生容量312、313、322、323をリフレッシュする動作が入る場合も、サンプリング駆動S1の前に、行単位ですべての画素で放射線が照射されていない行を選択するようにしてもよい。さらには、行単位ですべての画素が遮光されている行や、すべての画素がオプティカルブラックである行を選択していてもよい。
(第二の実施形態)
次に、本発明の第二の実施形態について説明する。
図11は、図6に示したようなフラットパネルセンサ105における、X線ウィンドウ制限のある動画撮影時の、第二の実施形態による駆動制御の一例を示すタイムチャートである。図11には、画素回路内駆動、画素読出駆動及び垂直走査スタート信号VST、垂直走査クロックCLKVについて1フレーム分のタイムチャートを示している。
次に、本発明の第二の実施形態について説明する。
図11は、図6に示したようなフラットパネルセンサ105における、X線ウィンドウ制限のある動画撮影時の、第二の実施形態による駆動制御の一例を示すタイムチャートである。図11には、画素回路内駆動、画素読出駆動及び垂直走査スタート信号VST、垂直走査クロックCLKVについて1フレーム分のタイムチャートを示している。
図11においては、図9に示した時刻t21から時刻t22までの駆動に対応する、時刻t30から時刻t31までの駆動で画素読出駆動を省略し、垂直走査クロックCLKVの走査のみで垂直走査回路303の選択行を進めている。a=400とし、時刻t30から時刻t31までの間では垂直走査クロックCLKVが、画素読出駆動を行うときの周期よりも短い周期1μsで動作しているとすると、時刻t30から時刻t31の時間は400μsとなる。ここで、蓄積時間が5msであったとする。図9に示した駆動では、リセット駆動R1及びサンプリング駆動S1の時間を無視しても最小で1フレーム当たり20msを要する。しかし、図11に示す本実施形態での駆動であれば、同様にリセット駆動R1及びサンプリング駆動S1の時間を無視すれば最小で1フレームあたり15msでの動作が可能となる。
(第三の実施形態)
次に、本発明の第三の実施形態について説明する。
図12は、第三の実施形態による動画撮影時の駆動制御を示すタイミングチャートである。図12には、連続X線透視モードでの駆動制御例を示しており、連続X線透視モードでは、連続X線を使用するためにX線ウィンドウはフルオープンとなる。読み出し処理RD21、RD22は、図11における時刻t30から時刻t31までの期間に行われる、放射線が照射されていない画素302aを読み出す駆動である。また、読み出し処理RD31、RD32は、図11における時刻t32から時刻t33までの期間に行われる、放射線が照射されている画素302bを読み出す駆動である。
次に、本発明の第三の実施形態について説明する。
図12は、第三の実施形態による動画撮影時の駆動制御を示すタイミングチャートである。図12には、連続X線透視モードでの駆動制御例を示しており、連続X線透視モードでは、連続X線を使用するためにX線ウィンドウはフルオープンとなる。読み出し処理RD21、RD22は、図11における時刻t30から時刻t31までの期間に行われる、放射線が照射されていない画素302aを読み出す駆動である。また、読み出し処理RD31、RD32は、図11における時刻t32から時刻t33までの期間に行われる、放射線が照射されている画素302bを読み出す駆動である。
サンプリング駆動S1を連続で行うことにより、連続X線透視モードでの撮影を実現している。時刻t150で第一の実施形態と同様の撮影開始設定がされたのち、時刻t151から時刻t152の間にサンプリング駆動S1を行う。図11に例示した駆動では、時刻t151から時刻t152のサンプリング駆動S1にてサンプリングされたデータは、フォトダイオードPDに電荷を蓄積する前の情報である。よって、読み出し処理は不要である。
時刻t153から読み出し処理RD21を行い、放射線が照射されていない画素302aを選択する。時刻t154から再度サンプリング駆動S1を行う。そして、時刻t155にてサンプリング駆動S1が終了してから、時刻t156で読み出し処理RD31を行う。読み出し処理RD22、RD32以降の読み出し処理も、同様にして図12に示すとおりの動作を行う。これにより、サンプリング駆動S1を行ってからすべての画素を読み込むような駆動に比べ、リードアウトタイムが速くなり、高いフレームレートでの画像の読み出しが可能となり、よりリアルタイムな画像表示を行うことが可能になる。
読み出し処理RD21は、時間短縮の面からは図11に示した時刻t30から時刻t31の駆動と同様の駆動が好ましいが、放射線が照射されていない画素302aを読み出す駆動であれば、図9に示した時刻t20から時刻t22の駆動と同様の駆動でもよい。また、図12に示す例では、時刻t151から開始されるサンプリング駆動S1の前後では、読み出しの処理を行っていない。しかし、駆動の実装を簡単にするために、時刻t151の前に読み出し処理RD21と同様の駆動を挿入し、時刻t152の後に読み出し処理RD31と同等の駆動を挿入してもよい。
(第四の実施形態)
次に、本発明の第四の実施形態について説明する。
第四の実施形態におけるフラットパネルセンサ105の一例を示す図である。図13に示すフラットパネルセンサ105は、放射線の散乱線を考慮したフラットパネルセンサである。図13は、図1に示したフラットパネルセンサ105の一部に放射線が照射されている様子を示しており、図6に示した例とは、光学的に遮光されている画素領域121がある点で異なる。
次に、本発明の第四の実施形態について説明する。
第四の実施形態におけるフラットパネルセンサ105の一例を示す図である。図13に示すフラットパネルセンサ105は、放射線の散乱線を考慮したフラットパネルセンサである。図13は、図1に示したフラットパネルセンサ105の一部に放射線が照射されている様子を示しており、図6に示した例とは、光学的に遮光されている画素領域121がある点で異なる。
図14は、図13に示したフラットパネルセンサ105が有する矩形半導体基板301において、画素回路のみを示した図である。図14において、図7と同様に、302bは放射線が照射されている画素である。また、塗りつぶして図示した画素302cは、光学的に遮光されている画素であり、ハッチングを施して図示した302dは、コリメータ等により放射線照射の範囲外となっている画素である。すなわち、1行目〜b行目の各画素302cは光学的に遮光されており、(b+1)行目〜c行目の画素302dは放射線照射の範囲外となっている画素であり、(c+1)行目〜m行目の画素302bは放射線が照射されている画素である(1≦b<c<m)。
前述した構成において、撮影制御部109が、サンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に、垂直走査回路303で何行目を選択するか決定する方法について、図15を用いて説明する。図15は、撮影制御部109が、サンプリング駆動S1において信号TSがハイレベルになる前に、垂直走査回路303で何行目を選択するかを決定する処理動作の例を示すフローチャートである。
まず、ステップS1にて、撮影制御部109は、システム制御装置101からコリメータ等の照射領域に対応する情報及び撮影対象となる部位の情報を取得する。次いで、ステップS2にて、撮影制御部109は、照射領域に対応する情報を基に、放射線の照射範囲を限定しているか否かの判定を行う。このとき、照射範囲が限定されていなければ、ステップS4へ移行し、撮影制御部109は、垂直走査回路303においてサンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に、b行目を選択するように決定する。
一方、照射範囲が限定されている場合には、次いで、ステップS3にて、撮影制御部109は、散乱線の多い部位を撮影するのか否かの判定を行う。例えば、人の胴体等の厚みのある部位のような散乱線の多い部位を撮影する場合には、ステップS4へ移行し、撮影制御部109は、垂直走査回路303においてサンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に、b行目を選択するように決定する。撮影部位が散乱線の多い部位でない場合は、ステップS5へ移行し、撮影制御部109は、垂直走査回路303においてサンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に、c行目を選択するように決定する。
多くの散乱線が発生する部位を撮影する場合には、コリメータ等で放射線の照射範囲を狭めても、照射の範囲外となっている画素302dも放射線の影響を受ける。前述した通り、放射線の影響を受けた画素列をサンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に選択すると、アーチファクトの原因となる。本実施形態によれば、散乱線の多い部位を撮影する場合に、すべての行が光学的に遮光されている画素302cである行を選択している状態でサンプリング駆動S1において信号TSをハイレベルとするので、アーチファクトの発生を防ぐことができる。
なお、本実施形態では、ステップS4において、撮影制御部109は垂直走査回路303がb行目を選択するようにしたが、b行目より前の行であれば、どの行を選択してもよい。同様に、ステップS5において、撮影制御部109は垂直走査回路303でc行目を選択するようにしたが、c行目より前の行であれば、どの行を選択してもよい。また、画素302cは、光学的に遮光されている画素としたが、例えば、光信号出力端子S及び基準電圧信号出力端子Nにそれぞれ一定の電圧を出力するだけの無効画素でもよい。また、前述した例では、サンプリング駆動S1における信号TSがハイレベルになる前に、垂直走査回路303で何行目を選択するかを決定するのは撮影制御部109であったが、システム制御装置101が決定するようにしてもよい。この場合には、システム制御装置101が、決定した選択行を撮影制御部109に送信して通知すればよい。
(本発明の他の実施形態)
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
なお、前記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
100:放射線検出器 101:システム制御装置 102:画像表示装置 105:フラットパネルセンサ 108:AD変換器 109:撮影制御部 302:画素回路 303:垂直走査回路 304:水平走査回路 305:行信号線 306、307:列信号線
Claims (13)
- 照射された放射線を電気信号に変換する放射線検出器であって、
行列状に配置された、光電変換素子と該光電変換素子で得られた電荷に基づく電気信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路とを有する複数の画素と、
前記画素の列毎に設けられ、前記サンプルホールドされた電気信号を伝送するための列信号線と、
前記画素の行を所定の順序で順次選択することで、前記サンプルホールド回路と前記列信号線とを接続状態とする信号を出力する垂直シフトレジスタと、
前記放射線検出器について放射線が照射される照射領域に対応する情報を取得する取得手段と、
前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域外の所定の数の行を選択させる第一の制御と、該第一の制御の後に前記照射された放射線に基づく電気信号を前記サンプルホールド回路にサンプルホールドさせる第二の制御と、該第二の制御の後に前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域内の行を順次選択させつつ前記照射領域内の前記画素で前記サンプルホールドされた電気信号を読み出す第三の制御と、を実行する制御手段と、
前記第三の制御により読み出された電気信号に基づく画像データを生成する生成手段と、
を有することを特徴とする放射線検出器。 - 前記制御手段は、前記第一の制御にて、前記放射線を照射する前に前記照射領域から予め定められた行数だけ離れた行まで選択させることを特徴とする請求項1記載の放射線検出器。
- 前記制御手段は前記第一の制御にて、前記放射線を照射する前に、前記照射領域の直前の行まで選択させることを特徴とする請求項1記載の放射線検出器。
- 前記制御手段は、前記第三の制御の後に、前記垂直シフトレジスタを初期化しいずれの行も選択されない状態とする第四の制御を行うことを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の放射線検出器。
- 前記制御手段は、前記放射線の照射と並行して前記第一の制御を実行することを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の放射線検出器。
- 前記制御手段は、前記第一の制御における前記行の選択を所定の周期で実行するとともに、前記第三の制御における前記行の選択を前記所定の周期よりも長い周期で実行することを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の放射線検出器。
- 前記制御手段は、前記第一の制御にて、前記画素からの前記電気信号を前記生成手段に対して出力しないことを特徴とする請求項6記載の放射線検出器。
- 前記画素の前記放射線の入射面側に配置され、前記放射線を可視光に変換する蛍光体を更に有することを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の放射線検出器。
- 前記列信号線により伝送される電気信号を前記生成手段に出力することで前記読み出しを行う出力手段と、
を更に有することを特徴とする請求項1〜8の何れか1項に記載の放射線検出器。 - 前記生成手段は、前記電気信号をデジタル値に変換するAD変換器を有することを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の放射線検出器。
- 請求項1〜10の何れか1項に記載の放射線検出器と、
前記生成された画像データを表示部に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記制御手段は、前記第一の制御にて、前記放射線を照射する前に前記照射領域から予め定められた行数だけ離れた行まで選択させ、
前記放射線検出器に複数回放射線を照射し得られた画像に基づいて、前記予め定められた行数を決定する決定手段を更に有することを特徴とする請求項11記載の放射線撮像装置。 - 行列状に配置された、光電変換素子と該光電変換素子で得られた電荷に基づく電気信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路とを有する複数の画素と、前記画素の行を所定の順序で順次選択する信号を出力する垂直シフトレジスタと、を有する放射線検出器の制御方法であって、
前記放射線検出器について放射線が照射される照射領域に対応する情報を取得する取得ステップと、
前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域外の所定の数の行を選択させる第一の制御ステップと、
前記第一の制御ステップの後に前記照射された放射線に基づく電気信号を前記サンプルホールド回路にサンプルホールドさせる第二の制御ステップと、
前記第二の制御ステップの後に前記垂直シフトレジスタにより前記照射領域内の行を順次選択させつつ前記照射領域内の前記画素で前記サンプルホールドされた電気信号を読み出す第三の制御ステップと、
前記第三の制御ステップにより読み出された電気信号に基づく画像データを生成する生成ステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
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JP2012170248A JP2014030130A (ja) | 2012-07-31 | 2012-07-31 | 放射線検出器、放射線撮像装置及び制御方法 |
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JP2012170248A JP2014030130A (ja) | 2012-07-31 | 2012-07-31 | 放射線検出器、放射線撮像装置及び制御方法 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10422890B2 (en) | 2016-01-22 | 2019-09-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus, control method of radiation imaging apparatus, and radiation imaging system |
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2012
- 2012-07-31 JP JP2012170248A patent/JP2014030130A/ja active Pending
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