JP2014006433A - パターン描画装置 - Google Patents

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大介 岸脇
Kohei Omori
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Abstract

【課題】ロッドインテグレータ70を介して空間光変調器80に入射させた光を空間光変調器80により変調して基板Sに照射するパターン描画装置1において、基板Sへの照射光Reの照度分布の均一性を向上可能とする。
【解決手段】駆動電流Idの大きさに応じた輝度で発光する発光素子601を複数有する光源アレイ60が設けられており、ロッドインテグレータ70は光源アレイ60から入射してきた光に対して、照度分布の均一化を行う。そして、駆動信号Idの大きさを発光素子601毎に個別に制御する照射制御部130が設けられている。そのため、発光素子601毎に輝度を個別に制御して、以降のロッドインテグレータ70に入射する光の照度分布を適宜調整することができる。その結果、光学ヘッド6による、照射領域Reへの照射光の照度分布の均一性を向上させることが可能となっている。
【選択図】図4

Description

この発明は、照度均一化素子を介して空間光変調器に入射させた光を空間光変調器により変調して基板に照射するパターン描画装置に関する。
従来、レジスト液等の感光性材料が塗布された基板等の描画対象をパターン状に露光して、描画対象にパターンを描画するパターン描画装置が知られている。また、特許文献1のパターン描画装置では、DMD(Digital Micromirror Device)で構成された空間光変調器が設けられており、この空間光変調器が超高圧水銀ランプからの光を形成すべきパターンに応じて変調して描画対象へ照射することで、パターンが描画対象に描画される。
ちなみに、このようなパターン描画装置では、パターンをムラなく形成するために、描画対象に照射される光の照度分布が均一であることが求められる。そこで、特許文献1では、超高圧水銀ランプから空間光変調器に到る光路中に照度均一化素子であるインテグレータが設けられており、インテグレータの機能によって照度分布の均一性が向上された光が空間光変調器に照射されている。これによって、描画対象に照射される光の照度分布の均一化が図られている。
特開2006−337475号公報
しかしながら、超高圧水銀ランプの発光点の輝度分布は一様とは限らず、ムラを有することがあり、これを楕円鏡等の光学系で集光してインテグレータのような照度均一化素子に導くと、インテグレータ入射端の照度分布に大きなムラが生じる。また、個々のファイバーをランダム配列したバンドルファイバーを用いて、ランプハウスからの光をインテグレータに導く場合でも、インテグレータ入射端の照度分布を一様に出来ないことがある。このように、インテグレータ入射端の照度分布にムラがある場合、インテグレータの照度分布を均一化する能力には限界がある。そのため、ムラが大きいと、描画対象に照射される光の照度分布の均一性を必ずしも十分に確保できるとは限らなかった。つまり、インテグレータ入射端の照度分布がインテグレータの能力で補償しきれないほど大きいと、描画対象に照射される光の照度分布の均一性が不十分になることがあった。あるいは、インテグレータそのものに製造誤差があって機能が低い場合や、光路中の光学素子の透過率や反射率のムラによって描画対象に照射される光の照度分布の均一性が不十分になることもあった。
この発明は上記課題に鑑みなされたものであり、照度均一化素子を介して空間光変調器に入射させた光を空間光変調器により変調して描画対象に照射するパターン描画装置において、照度均一化素子の能力に加えて、描画対象への照射光の照度分布の均一性を向上可能とする技術の提供を目的とする。
この発明にかかるパターン描画装置は、上記目的を達成するために、駆動信号の大きさに応じた輝度で発光する発光部を複数有する発光ユニットと、発光ユニットから入射してきた光を、光の照度分布を均一化してから射出する照度均一化素子と、照度均一化素子から射出された光を変調して描画対象に照射する空間光変調器と、駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御する駆動制御部とを備えたことを特徴としている。
このように構成された発明(パターン描画装置)では、駆動信号の大きさに応じた輝度で発光する発光部を複数有する発光ユニットが設けられており、照度均一化素子は発光ユニットから入射してきた光に対して、照度分布の均一化を行う。そして、本発明では、駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御する駆動制御部が設けられている。そのため、発光部毎に輝度を個別に制御して、照度均一化素子に入射する光の照度分布を適宜調整することができる。その結果、照度均一化素子の能力に加えて、描画対象への照射光の照度分布の均一性を向上させることが可能となっている。
ところで、描画対象に対して発光ユニットを第1方向へ相対移動させながら、発光ユニットが射出した光を空間光変調器に変調させて、描画対象にパターンを描画するパターン描画装置において、複数の発光部は、第1方向に直交する第2方向において互いに異なる位置に光を照射するようにパターン描画装置を構成することができる。このような構成では、描画対象に照射される光の照度ムラが第2方向に生じた場合、描画対象上で露光量分布の差が表れるため好ましくない。これに対して、上述したように駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御するように構成しておけば、このような第2方向への照度ムラの発生を効果的に抑制することが可能となる。
具体的には、複数の発光部が照度均一化素子入射端に対して第2方向へ互いに異なる位置に光を照射するようにパターン描画装置を構成しても良い。このような構成では、駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御することで、照度均一化素子入射端に入射する光の照度分布を第2方向において変化させることができる。この際、照度均一化素子入射端での照度分布が第2方向に変化すれば、これに応じて、照度均一化素子出射端でも照度分布が第2方向に僅かに変化する。したがって、このような照度均一化素子の特性を利用することで、駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御して、照度均一化素子出射端以後の光の照度分布を調整することができ、上述した第2方向への照度ムラの発生を効果的に抑制することが可能となる。
この際、発光部は、それぞれが駆動信号の大きさに応じた輝度で発光して、第1方向に直線状に並んだ位置にそれぞれが光を照射する複数の発光素子で構成され、駆動制御部は、同一の発光部に属する複数の発光素子に対しては、駆動信号の大きさの制御を一括して行うようにパターン描画装置を構成しても良い。このような構成では、同一の発光部に属する複数の発光素子が光を照射する領域は、描画対象に対して発光ユニットが相対移動する方向(第1方向)に並んでいることになる。そのため、同一の発光部に属する複数の発光素子は、描画対象に対して第1方向に移動しつつ光を照射することで、同一領域に積算する方向に露光を行なうこととなる。したがって、これら発光素子のそれぞれの照射光に照度のムラがあったとしても、最終的に形成されるパターンへの影響は少ない。そこで、同一の発光部に属する複数の発光素子に対しては、駆動信号の大きさの制御を一括して行なうこととし、駆動制御の簡素化を図っても良い。
具体的には、発光部は、それぞれが駆動信号の大きさに応じた輝度で発光して、照度均一化素子入射端において第1方向に直線状に並ぶ位置にそれぞれが光を照射する複数の発光素子で構成され、駆動制御部は、同一の発光部に属する複数の発光素子に対しては、駆動信号の大きさの制御を一括して行うようにパターン描画装置を構成しても良い。このような構成では、同一の発光部に属する複数の発光素子が光を照射する領域は、照度均一化素子入射端において描画対象に対して発光ユニットが相対移動する方向(第1方向)に並んでいることになる。そのため、同一の発光部に属する複数の発光素子は、描画対象に対して第1方向に移動しつつ光を照射することで、同一領域に積算する方向に露光を行なうこととなる。したがって、これら発光素子のそれぞれの照射光に照度のムラがあったとしても、最終的に形成されるパターンへの影響は少ない。そこで、同一の発光部に属する複数の発光素子に対しては、駆動信号の大きさの制御を一括して行なうこととし、駆動制御の簡素化を図っても良い。
また、照度均一化素子から射出された後の光の照度分布を検出する照度検出器をさらに備え、駆動制御部は、照度検出器の検出結果に応じて、駆動信号の大きさを発光部毎に個別に制御するようにパターン描画装置を構成しても良い。このような構成では、照度均一化素子から射出された後の光の照度分布を検出した結果に基づいて、各発光部への駆動信号の大きさが制御されるため、描画対象への照射光の照度分布の均一性をより確実に向上させることができる。
この際、照度検出器は、描画対象に照射された光の照度分布を検出するようにパターン描画装置を構成しても良い。これによって、描画対象への照射光の照度分布の均一性をさらに確実に向上させることができる。
なお、空間光変調器としては種々のものを用いることができる。そこで、空間光変調器はDMDであるようにパターン描画装置を構成しても良い。
本発明によれば、照度均一化素子を介して空間光変調器に入射させた光を空間光変調器により変調して描画対象に照射するパターン描画装置において、照度均一化素子の能力に加えて、描画対象への照射光の照度分布の均一性を向上させることが可能となる。
本発明を適用可能であるパターン描画装置の一例を模式的に示す側面図である。 図1のパターン描画装置を模式的に示す部分平面図である。 光学センサの搬送機構を示す部分平面図である。 光学ヘッドが備える概略構成を模式的に示す斜視図である。 光源パネルの概略構成を模式的に示す側面図である。 光源パネルの概略構成を模式的に示す平面図である。 光源パネルの概略構成を模式的に示す斜視図である。 ロッドインテグレータに入射する光の光線図を示した図である。 ロッドインテグレータに照射される発光素子の像の一例を模式的に示した平面図である。 発光素子を個別制御する回路の一例を示すブロック図である。
図1は、本発明を適用可能であるパターン描画装置の一例を模式的に示す側面図である。図2は、図1のパターン描画装置を模式的に示す部分平面図である。図3は、光学センサの搬送機構を示す部分平面図である。パターン描画装置1の各部の位置関係を示すために、これらの図では、Z軸方向を鉛直方向とするXYZ直交座標軸を適宜示すこととする。また、必要に応じて、各座標軸の図中矢印側を正側と称するとともに各座標軸の図中矢印の反対側を負側と称することとする。
パターン描画装置1は、Y軸方向の負側の搬入口11から装置内部に搬入されてきた基板Sに露光によるパターン描画を実行して、Y軸方向の正側の搬出口12からパターン描画済みの基板Sを搬出するものである。基板Sは、レジスト液等の感光材料がその上面(一方主面)に塗布された半導体基板やFPC(Flexible Printed Circuits)用基板、プラズマ表示装置や有機EL(Electro-Luminescence)表示装置等の表面表示装置用のガラス基板、あるいはプリント配線基板等である。このパターン描画装置1は、搬入されてきた基板Sを支持する支持部3と、支持部3に支持された基板Sを露光する露光部5と、基板Sのアライメントマークを撮像する撮像部9と、各部3、5、9を制御するコントローラ100とからなる概略構成を有する。
支持部3では、その上面に載置された基板Sを吸着して支持する支持ステージ31と、支持ステージ31のY軸方向両側に設けられた一対の剥離ローラ32とが設けられている。つまり、支持ステージ31は、水平に形成された上面に多数の吸引孔を有しており、図示を省略する吸引機構が各吸引孔を吸引することで、支持ステージ31上面に載置された基板Sが支持ステージに吸着される。これによって、搬入されてきた基板Sを支持ステージ31によりしっかりと支持して、基板Sへのパターン描画を安定して実行することができる。また、パターン描画を終えて基板Sを搬出する際には、吸引孔の吸引が停止されるとともに一対の剥離ローラ32が上昇して基板Sを突き上げることで、基板Sが支持ステージ31から剥離される。
また、支持部3では、支持ステージ31は、昇降テーブル33、回転テーブル34および支持板35を介してリニアモータ37の可動子37aに接続されている。したがって、支持ステージ31は、昇降テーブル33により昇降自在であるとともに、回転テーブル34により回転自在になっている。さらに、Y軸方向に延びるリニアモータ37の固定子37bに沿って可動子37aを駆動することで、搬入口11から搬出口12までの範囲において支持ステージ31をY軸方向に駆動することができる。なお、支持ステージ31に伴って、一対の剥離ローラ32も移動するように構成されている。
さらに、支持ステージ31は、図3に示すように、当該支持ステージ31に支持される基板S表面(に相当する位置)に光学ヘッド6が照射する光の照度分布を検出する光学センサSC、および光学センサSCをX軸方向に移動する搬送機構20を、当該支持ステージ31のY軸方向先端部に備える。光学センサSCは支持ステージ31の上面であって、支持ステージ31の(+Y)側に配置されている。後に明らかになるように、光学ヘッド6による光の照度分布を調整する動作が行われる際には、支持ステージ31が主走査方向(Y軸方向)に沿って移動されることにより、光学ヘッド6が光学センサSCの真上に配置された状態とされる。
光学センサSCは、ピンホール、拡散板、および受光素子であるフォトダイオードが筐体41の内部に配置された構造を有する。光学ヘッド6から照射された二次元領域の変調光は、筐体41内部に導入され、その光量を検出される。搬送機構20は、副走査方向(X軸方向)に配設されたボールネジ21、支持ステージ31上に固定されるとともに筐体41を支持する副走査方向に配設された2本のガイドレール22、およびボールネジ21に接続されるモータ23を備える。
パターン描画装置1は、後述する光の照度分布を検出する動作の際に、搬送機構20のモータ23によってボールネジ21が回転し、光学センサSCがガイドレール22に沿って、すなわち副走査方向に沿って所定方向に移動される。これによって、光学ヘッド6から照射される変調光は、光学センサSCのフォトダイオードによって発光素子601毎に順次受光および検出される。検出された光信号は、それぞれ照射制御部130に送信されて記憶されるとともに所定の演算処理が行われる。
なお、ここでは、光学センサSCが受光しつつ、搬送機構20の駆動により光学センサSCが移動することで、光を検出していた。しかしながら、光を検出する具体的形態はこれに限られない。したがって、搬送機構20が設けられておらず、光学センサSCが支持ステージ31に対して固定設置されている形態であっても構わない。この場合には、支持ステージ31の主走査方向および支持テーブル51の副走査方向における移動によって、光学センサSCは光学ヘッド6に対して相対的に移動して光を検出する。
露光部5は、支持ステージ31の可動領域に対して上方側に配置された複数の光学ヘッド6を有する。各光学ヘッド6は、その下方で支持ステージ31に支持される基板Sへ向けて光を射出して、基板Sを露光するものである。なお、複数の光学ヘッド6は、X軸方向に並んで配置されており、X軸方向において互いに異なる領域の露光を担当する。また、複数の光学ヘッド6を支持する支持テーブル51は、X軸方向に延びる一対のリニアガイド52に沿って移動自在となっている。したがって、図示を省略するリニアモータにより支持テーブルをリニアガイド52に沿って駆動することで、複数の光学ヘッド6を一括してX軸方向へ移動させることができる。
撮像部9は、X軸方向に間隔を空けて並ぶ2つのCCD(Charge Coupled Device)カメラ91を有する。これらCCDカメラ91は、図示を省略する駆動機構によって、X軸方向へ移動自在に構成されており、基板Sに形成されたアライメントマークの上方に移動して、当該アライメントマークを撮像する。
以上が、パターン描画装置1の機械的構成の概要である。続いては、パターン描画装置1の電気的構成であるコントローラ100について説明する。コントローラ100は、光学ヘッド6からの照射光を支持ステージ31に支持される基板S表面に走査して、基板S表面にパターンを描画する動作を主として実行するものであり、データ処理部110、走査制御部120および照射制御部130で構成される。
データ処理部110は、CAD(computer aided design)等により生成された画像データを、描画データに変換して走査制御部120に出力する。一方、走査制御部120は、支持ステージ31および光学ヘッド6のパターン描画動作中の移動を描画データに基づいて制御する。また、照射制御部130は、パターン描画動作中における光学ヘッド6の光の照射を制御する。より具体的には、パターン描画動作は次のようにして実行される。
パターン描画動作を開始するにあたっては、コントローラ100は、基板Sに付されたアライメントマークを撮像部9に撮像させる。そして、コントローラ100は、撮像部9の撮像結果に基づいて、支持ステージ31と光学ヘッド6の位置関係を調整することで、支持ステージ31上の基板Sへの露光を開始する位置に複数の光学ヘッド6を位置決めする。
この位置決めが完了すると、支持ステージ31がY軸方向の一方側(例えばY軸負側)への移動を開始する。そして、この支持ステージ31に伴って移動する基板Sの表面に対して、複数の光学ヘッド6のそれぞれが描画データに応じたパターンの光を照射する。これによって、複数の光学ヘッド6それぞれが、基板S表面に対して照射光をY軸方向(主走査方向)に走査して、1ライン分のパターン(ラインパターン)を基板S表面に形成する。こうして、光学ヘッド6の個数に応じた複数のラインパターンが、X軸方向に間隔を空けて並んで形成される。
この複数のラインパターンの形成が完了すると、コントローラ100は光学ヘッド6をX軸方向(副走査方向)に移動させる。これによって、複数の光学ヘッド6のそれぞれは、先に形成された複数のラインパターンの間に対向する。そして、支持ステージ31が先程とは逆側であるY軸方向の他方側(例えばY軸正側)へ移動を開始すると、この支持ステージ31に伴って移動する基板Sの表面に対して、複数の光学ヘッド6のそれぞれが描画データに応じたパターンの光を照射する。
こうして、先に形成された複数のラインパターンの各間に、光学ヘッド6の照射光が走査されて、新たなラインパターンが形成される。このようにして、光学ヘッド6をX軸方向に間欠移動させつつ、複数のラインパターンを順次形成することで、基板Sの表面全体に対してパターンが描画される。
以上が、パターン描画装置1の概要である。続いては、光学ヘッド6の詳細について説明する。なお、複数の光学ヘッド6は互いに同一の構成を具備するため、ここでは、1つの光学ヘッド6についてのみ説明を行なう。図4は、光学ヘッドが備える概略構成を模式的に示す斜視図である。
光学ヘッド6は、光源アレイ60が射出する光を棒状のインテグレータであるロッドインテグレータ70を介して光変調器である空間光変調器80に入射して、空間光変調器80により空間変調された光を基板S表面の照射領域Reに照射する概略構成を備える。図4に示すように、光学ヘッド6では、2つの光源アレイ60が設けられており、これら光源アレイ60それぞれに対してはレンズアレイ61が対向配置されている。そして、互いに対向する光源アレイ60とレンズアレイ61とが光源パネル62として一体化されている。
図5は、光源パネルの概略構成を模式的に示す側面図である。図6は、光源パネルの概略構成を模式的に示す平面図である。図7は、光源パネルの概略構成を模式的に示す斜視図である。これらの図において、符号Aoaは光学ヘッド6の光軸方向を示す。なお、2つの光源パネル62は、発光素子から射出する光の波長においてのみ異なり、その他の構成は互いに同一である。したがって、以下の説明は、基本的には1個の光源パネル62を示して行う。図5〜図7に示すように、光源パネル62の光源アレイ60は、12個の発光素子601を平板状の電極基板602に3行4列で二次元的に配列した構成を有する。この際、行方向および列方向のいずれにおいても隣接する発光素子601の間隔は等しく、複数の発光素子601は一様に配置されている。ここで、列方向に並ぶ3個の発光素子601からなる集合を特に、発光素子列601Cと称することとする。
各発光素子601は、駆動電流Id(図1)に応じた輝度で発光するものであり、具体的には、紫外線光を射出するLED(Light Emitting Diode)のベアチップで構成されている。つまり、この実施形態では、複数のLEDが並べて用いられている。さらに詳細には、発光素子601は角形の発光領域を有するLEDチップを内部に収めたセラミックパッケージにより構成されている。そして、各セラミックパッケージの前面には、内部の保護のためのカバーガラスが設けられている。
このように、複数のLEDを並べて用いる理由の1つは、次のとおりである。従来は、超高圧水銀ランプを光源として用いることが一般的であった。一方、このような超高圧水銀ランプに対して、LEDは高効率、長寿命、単色発光および省スペース等の利点を有している。この実施形態は、このような利点に着目して、光源としてLEDを用いたものである。ただし、単一のLEDでは露光に必要な光量が不十分となるおそれがある。そこで、複数のLEDを並べることで、十分な光量の確保が図られている。しかも、LEDは、超高圧水銀ランプと比較して著しく小型であるため、複数のLEDを並べても省スペースという利点が損なわれることはない。こうして、この実施形態は、複数のLEDを並べて用いることで、十分な光量を確保しつつ、LEDの持つ利点を効果的に引き出している。
一方、光源パネル62のレンズアレイ61は、12個の発光素子601に一対一で対応して、各LEDチップの発光領域の像を形成するレンズ群をLEDチップの配列と対応して同じ縦横二次元に3×4の12個配列して形成したものであって、発光素子601の1個あたり発光素子601側から見て、両凸の第1レンズ611と平凸の第2レンズ612の2枚で構成されるレンズ群を有し、それらを枠に組み付けて構成される。つまり、光源アレイ60での発光素子601の配列と同様にして、レンズアレイ61では、12個の第1レンズ611および12個の第2レンズ612それぞれが3行4列で配列されている。こうして、12個の発光素子601のそれぞれには、2個のレンズ611、612が対向することとなり、各発光素子601からの光は第1レンズ611、第2レンズ612を透過して光源パネル62の外側へと射出される。なお、上述のとおり、光学ヘッド6には、2個の光源パネル62が設けられている。これらのうち、光源パネル62aの発光素子601は、中心波長が385[nm]の光を射出し、光源パネル62bの発光素子601は、中心波長が365[nm]の光を射出する。つまり、光源パネル62a、62bは、中心波長が互いに異なる光を射出する。
図4に戻って光学ヘッド6の説明を続ける。2個の光源パネル62それぞれから射出された光は、ダイクロイックミラー63へと入射する。このダイクロイックミラー63は、その一方面(透過側)を光源パネル62aに向けるとともに、その他方面(反射側)を光源パネル62bに向けている。そして、光源パネル62aの各発光素子601からの光(12個の光)はダイクロイックミラー63の一方面から他方面へ透過し、また、光源パネル62bの各発光素子601からの光(12個の光)はダイクロイックミラー63の他方面で反射される。こうして、ダイクロイックミラー63によって、それぞれ中心波長の異なる光が合成される。
ちなみに、ダイクロイックミラー63が合成する光の中心波長の差は、20[nm]程度であるため、ダイクロイックミラー63には比較的急峻なエッジを持った分光反射率(分光透過率)特性が必要となる。これに対して、ダイクロイックミラー63への入射角が45度以上になると、PS偏光成分の光学特性に分離が生じて急峻な特性が得られない。そこで、光源パネル62a、62bそれぞれから射出された光がダイクロイックミラー63へ入射する入射角度は40度よりも小さく設定されている。
ダイクロイックミラー63から射出された12個の光は、レンズアレイ64へ入射する。このレンズアレイ64はレンズアレイ61と同様に、12個の発光素子601に一対一で対応して12個のレンズ641を配列した構成を有する。つまり、レンズアレイ64には、ダイクロイックミラー63から射出される12個の光に一対一で対応して12個のレンズ641が設けられている。また、各レンズ641上には対応する各発光素子601の拡大投影像が形成されており、各発光素子601と対応する各レンズ641とは光学的に共役な関係にあり、各レンズ641はフィールドレンズとして機能するものである。したがって、ダイクロイックミラー63から射出された各光はレンズ641を透過した後に主光線が光軸方向に平行に進行する。こうして、レンズアレイ64からは、主光線が光軸に平行な12個の光束が射出されることとなる。
レンズアレイ64から射出された光は、3枚のレンズ65a、65b、65cで構成された光学系65に入射する。この光学系65は両側テレセントリックの光学系であり、レンズアレイ64の像をロッドインテグレータ70の入射端70aに縮小投影するとともに、主光線が光軸と平行となるように、光学系65から射出された光がロッドインテグレータ70に入射する。
図8は、ロッドインテグレータ70に入射する光の光路図である。同図において、符号Aoaは光学ヘッド6の光軸方向を示す。同図に示すように、光源アレイ60から射出された光は、レンズアレイ61によってレンズアレイ64上に結像される。この際の結像倍率は、光源アレイ60の発光素子601の像がレンズアレイ64のレンズ641の外形以上の大きさとなるように設定されている。また、レンズアレイ64の形状は、ロッドインテグレータ70の入射端70aの形状と相似になっている。このレンズアレイ64を透過した光は、主光線が光軸方向Aoaに平行な平行光として、両側テレセントリックな光学系65に入射する。そして、光学系65から射出された光は、主光線が光軸方向Aoaに平行な光として、ロッドインテグレータ70の入射端70aに縮小投影される。
図4に戻って説明を続ける。ロッドインテグレータ70は、入射端70aに入射してきた光を、当該光の照度分布を均一化して射出端70bから射出する。なお、ロッドインテグレータ70としては、中空ロッドタイプや中実ロッドタイプ等の種々のものを用いることができる。また、ロッドインテグレータ70の入射端70aと射出端70bとは互いに相似形状となるが、それぞれの寸法が等しい必要はなく、入射端70aから70bにかけてテーパー状に形成されたロッドインテグレータ70を用いることもできる。
ロッドインテグレータ70の射出端70bから射出された光は、2枚のレンズ66、平面ミラー67aおよび凹面ミラー67bを介して、空間光変調器80に入射する。なお、ロッドインテグレータ70の射出端70bと空間光変調器80とは光学的に共役な関係にある。この空間光変調器80は、多数の微小ミラーを格子状に配列したDMDで構成されている。空間光変調器80の微小ミラーは、照射制御部130からの制御信号により制御されて、オン状態とオフ状態のいずれかに対応する姿勢を取る。オン状態に対応する姿勢にある微小ミラーは、ロッドインテグレータ70からの光を第1投影レンズ68へ向けて反射する。一方、オフ状態に対応する姿勢にある微小レンズは、ロッドインテグレータ70からの光を第1投影レンズ68から外れた方向へ反射する。したがって、ロッドインテグレータ70からの光は、空間光変調器80のオン状態にある微小ミラーにより反射されて、第1投影レンズ68へと入射する。
そして、第1投影レンズ68と第2投影レンズ69は一対で投影レンズとしての働きを持ち、互いの間隔を変更することで倍率調整を受けた後に、空間光変調器80の像を基板S表面の照射領域Reに投影する。なお、空間光変調器80の微小ミラーと基板S表面の照射領域Reとは光学的に共役な関係にある。また、図4に示す光学ヘッド6は、フォーカスを自動調整するオートフォーカス機構95を具備している。このオートフォーカス機構95は、照射領域Reに光を照射する照射部96と、照射領域Reからの反射光を受光する受光部97とで構成され、受光部97の受光結果に基づいて第2投影レンズ69を上下方向に駆動することで、フォーカスが自動調整される。
図9は、ロッドインテグレータ70に照射される発光素子601の像を模式的に示した平面図である。同図において、単位像IMは、1個の発光素子601からの光をロッドインテグレータ70に照射して得られる像である。同図に示すように、光源アレイ60における12個の発光素子601の3行4列配置に対応して、ロッドインテグレータ70では、12個の単位像IMが3行4列で並んでいる。その結果、同一の発光素子列601Cに属する3個の発光素子601が照射した3個の単位像IMは、基板SのY軸方向に相当する方向に直線状に並んで単位像列IMCを構成する。つまり、同一の単位像列IMCに属する3個の単位像IMは、基板Sでの光の走査方向である基板SのY軸方向に相当する方向に並ぶこととなる。
そして、この実施形態では、図9に例示するようにロッドインテグレータ70に照射される光の照度分布を調整するために、単位像IMの照度が個別に変更可能となっている。具体的には、照射制御部130が駆動電流Idの大きさを発光素子601毎に個別に制御する。これによって、発光素子601毎にその輝度が個別に制御されて、単位像IMの照度が個別に制御される。これによって、照射領域Reでの照度分布が調整される。この際、照射制御部130は、光学センサSCが照射領域Reの照度分布を検出した結果に基づいて、各発光素子601の駆動電流Idを制御する。
以上に説明したように、この実施形態では、駆動電流Idの大きさに応じた輝度で発光する発光素子601を複数有する光源アレイ60が設けられており、ロッドインテグレータ70は光源アレイ60から入射してきた光に対して、照度分布の均一化を行う。そして、この実施形態では、駆動信号Idの大きさを発光素子601毎に個別に制御する照射制御部130が設けられている。ロッドインテグレータ70は、ロッドインテグレータ70の入射端70aの一方向に照度ムラがある場合、ロッドインテグレータ70の出射端70bでも同一方向に僅かな照度分布が発生するという特性をもっている。そのため、発光素子601毎に輝度を個別に制御して、ロッドインテグレータ70の出射端70bの照度分布を適宜調整することができる。その結果、ロッドインテグレータ70の能力に加えて、ロッドインテグレータ70の出射端70bの照度分布の均一性を向上させることが可能となっている。
ところで、この実施形態のパターン描画装置1は、基板S表面に対して光源アレイ60をY軸方向へ相対移動させながら、光源アレイ60が射出した光を空間光変調器80に変調させて、基板S表面にパターンを描画する。このとき、基板S表面に照射される光の照度ムラがX軸方向において生じた場合、基板S表面で露光量分布の差が表れるため好ましくない。これに対して、この実施形態では、ロッドインテグレータ70の出射端70bが空間変調素子80に投影され、さらに第1投影レンズ68、第2投影レンズ69によって照射領域Reに投影される構成において、X軸方向において互いに異なる領域を露光する4個の発光素子601の駆動信号Idの大きさが発光素子601毎に個別に制御されているため、X軸方向への照度ムラの発生を効果的に抑制することが可能となっている。
また、この実施形態では、光学ヘッド6から射出された後の光の照度分布を検出する光学センサSCが設けられている。そして、照射制御部130は、光学センサSCの検出結果に応じて、駆動信号Idの大きさを発光素子601毎に個別に制御している。このような構成では、ロッドインテグレータ70から射出された後の光の照度分布を検出した結果に基づいて、各発光素子601への駆動信号Idの大きさが制御されるため、基板S表面への照射光の照度分布の均一性をより確実に向上させることができる。
特に、この実施形態では、光学センサSCは、基板S表面に照射された光の照度分布が検出される。これによって、基板S表面への照射光の照度分布の均一性をさらに確実に向上させることができる。
このように、この実施形態では、パターン描画装置1が本発明の「パターン描画装置」に相当し、基板Sが本発明の「描画対象」に相当し、発光素子601あるいは発光素子列601Cが本発明の「発光部」に相当し、光源アレイ60が本発明の「発光ユニット」に相当し、ロッドインテグレータ70が本発明の「照度均一化素子」に相当し、空間光変調器80が本発明の「空間光変調器」に相当し、照射制御部130が本発明の「駆動制御部」に相当し、駆動電流Idが本発明の「駆動信号」に相当し、Y軸方向が本発明の「第1方向」に相当し、X軸方向が本発明の「第2方向」に相当し、光学センサSCが本発明の「照度検出器」に相当する。
なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。例えば、上記実施形態では、光源アレイ60に設けられた12個の発光素子601の全てについて、駆動電流Idの個別制御を行なっていた。しかしながら、本発明の適用態様はこれに限られず、例えば次のような態様で本発明を適用することもできる。
上述したとおり、同一の発光素子列601Cに属する3個の発光素子601は、基板S表面に対して相対移動しつつ光を照射して、同一領域に重複露光を行なう。したがって、これら発光素子601のそれぞれの照射光に照度のムラがあったとしても、最終的に形成されるパターンへの影響は少ない。そこで、同一の発光素子列601Cに属する3個の発光素子601に対しては、駆動電流Idの大きさの制御を一括して行なうこととし、駆動制御の簡素化を図っても良い。ちなみに、かかる変形例では、発光素子列601Cが本発明の「発光部」に相当することとなる。
なお、この変形例においても、異なる発光素子列601Cの駆動電流Idの大きさを個別に制御することで、上記と同様の効果を奏することができる。図10は、発光素子601を個別制御する照射制御部130の回路を示すブロック図である。同一の発光素子列601Cに属する3個の発光素子601は直列に接続され、その入力端と出力端がDC−DCコンバータ102を介して電源100に接続される。また、これら3個の発光素子601の出力側には、電流検出部103が直列に接続されており、電流検出部103の検出結果に基づいて照射制御部130内でDC−DCコンバータ101への制御電圧を変更することで、これら3個の発光素子601に与える駆動電流Idが制御される。そして、同様の構成を有する回路が、4列の発光素子列601Cそれぞれに対して設けられている。したがって、発光素子列601C毎に発光素子601に与える駆動電流Idを個別に制御することができる。なお、互いに異なる発光素子列601Cに対応する4個のDC−DCコンバータ101は、AC−DCコンバータ102を介して電源100に接続され、電源供給を受ける。
また、上記実施形態では、照度分布を検出した結果に基づいて、発光素子601への駆動信号Idを制御していた。これによって、露光によって照射される光量の積算値(積算光量)が基板Sの略全域で均一とすることができる。この際、駆動信号Idと積算光量との関係を示す積算光量プロファイルを予め計測して、照射制御部130等に記憶しておいても良い。そして、この積算光量プロファイルに基づいて駆動信号Idを制御することで、基板Sの略全域で積算光量を均一として、より良好なパターン描画を実行することが可能となる。
また、上記実施形態では、発光素子601に与える駆動電流Idの大きさを制御して、発光素子601の輝度を調整していた。しかしながら、発光素子601に与える駆動電圧Vdを制御して、発光素子601の輝度を調整しても良い。
また、駆動電流Id、駆動電圧Vdの具体的な値については特に触れなかったが、これらの値についても種々の変形が可能である。したがって、例えば駆動電流Id、駆動電圧Vdの値を、定格電流、定格電圧より大きい値としても良く、具体的には、定格電流、定格電圧の2倍以上あるいは3倍以上としても良い。これによって、発光素子601の輝度を著しく向上させることができる。
また、上記実施形態では、同一の単位像列IMCに属する3個の単位像IMが基板S表面の同一領域を相対移動して、露光が実行されていた。しかしながら、このような露光による方法を用いずに、基板S表面を露光しても良い。具体的には、単位像列IMCのX軸方向への長さずつ基板Sが移動する度に、12個の発光素子601を点灯させて、図9に示した12個の単位像IMの基板Sへの照射を行うように構成しても良い。
また、光源アレイ60における複数の発光素子601の配列態様は上記のものに限られない。したがって、複数の発光素子601が配列される行数や列数を適宜変更したり、隣接する発光素子601の間隔を適宜変更したりできる。あるいは、行列態様以外の態様で、複数の発光素子601を配列しても良い。
また、上記実施形態では、基板SをY軸方向に移動させることで、基板Sと光学ヘッド6とを相対移動させていた。しかしながら、光学ヘッド6をY軸方向に移動させることで、基板Sと光学ヘッド6とを相対移動させても良い。
また、光照度分布を検出する光学センサSCの構成も上記のものに限られない。別途設置する二次元イメージセンサによって照度分布を検出しても良い。また、光学センサSCが照度分布を検出する位置は、基板S表面に限られない。そこで、空間光変調器80に入射する光の一部を分岐して、照度分布を光学センサSCや別途設置する二次元イメージセンサで検出するように構成しても良い。
また、光学ヘッド6の光学的構成も上記のものに限られず、これを構成する各光学素子の追加・変更・削除を適宜実行可能である。そこで、光源アレイ60からロッドインテグレータ70までの光学系65を排除して、レンズアレイ64の直後にロッドインテグレータ70を配しても良い。あるいは、光源アレイ60からロッドインテグレータ70までの全ての光学的構成を排除して、光源アレイ60の直後にロッドインテグレータ70を配しても良い。
また、ロッドインテグレータ70以外のインテグレータを用いることも可能であり、例えばフライアイレンズで構成されたフライアイインテグレータを用いても良い。つまり、フライアイインテグレータも、照度分布を均一化するインテグレータとしての機能を発揮する。この際、光学系65内において光の主光線が光軸と交わる位置にフライアイインテグレータを配置すると良い。また、フライアイインテグレータを構成する各レンズの形状は、DMD80の形状と相似に構成すると良い。
また、上記実施形態では、異なる波長の2個の光が合成されていた。しかしながら、このような光の合成を行わないように構成することもできる。あるいは、異なる波長の3個の光を合成するように構成しても良い。この場合、ダイクロイックミラーを複数用いても良いし、ダイクロイックプリズム(クロスプリズム、フィリップスタイププリズム、ケスタープリズム等)を用いても良い。あるいは、これらを組み合わせて用いても良い。
発光素子601の種類はLEDに限られず、その他の種々の光源を用いることができる。
本発明は、ロッドインテグレータ70のような照度均一化素子を介して空間光変調器に入射させた光を空間光変調器により変調して基板に照射するパターン描画装置に利用することができる。
1…パターン描画装置
6…光学ヘッド
60…光源アレイ
601…発光素子
601C…発光素子列
62…光源パネル
62a…光源パネル
62b…光源パネル
63…ダイクロイックミラー
64…レンズアレイ
65…光学系
67a、67b…光学ミラー
68…ズームレンズ
69…対物レンズ
70…ロッドインテグレータ
70a…入射端
70b…射出端
80…空間光変調器
IM…単位像
IMC…単位像列
SC…光学センサ
100…コントローラ
110…データ処理部
120…走査制御部
130…照射制御部
S…基板

Claims (6)

  1. 駆動信号の大きさに応じた輝度で発光する発光部を複数有する発光ユニットと、
    前記発光ユニットから入射してきた光を、前記光の照度分布を均一化してから射出する照度均一化素子と、
    前記照度均一化素子から射出された前記光を変調して描画対象に照射する空間光変調器と、
    前記駆動信号の大きさを前記発光部毎に個別に制御する駆動制御部と
    を備えたことを特徴とするパターン描画装置。
  2. 前記描画対象に対して前記発光ユニットを第1方向へ相対移動させながら、前記発光ユニットが射出した前記光を前記空間光変調器に変調させて、前記描画対象にパターンを描画する請求項1に記載のパターン描画装置において、
    前記複数の発光部は、前記第1方向に直交する第2方向において互いに異なる位置に光を照射するパターン描画装置。
  3. 前記発光部は、それぞれが前記駆動信号の大きさに応じた輝度で発光して、前記第1方向に直線状に並んだ位置にそれぞれが光を照射する複数の発光素子で構成され、
    前記駆動制御部は、同一の前記発光部に属する前記複数の発光素子に対しては、前記駆動信号の大きさの制御を一括して行う請求項2に記載のパターン描画装置。
  4. 前記照度均一化素子から射出された後の前記光の照度分布を検出する照度検出器をさらに備え、
    前記駆動制御部は、前記照度検出器の検出結果に応じて、前記駆動信号の大きさを前記発光部毎に個別に制御する請求項1ないし3のいずれか一項に記載のパターン描画装置。
  5. 前記照度検出器は、前記描画対象に照射された前記光の照度分布を検出する請求項4に記載のパターン描画装置。
  6. 前記空間光変調器は、DMDである請求項1ないし5のいずれか一項に記載のパターン描画装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160034792A (ko) * 2014-09-22 2016-03-30 도시바 라이텍쿠 가부시키가이샤 광원장치
JP2016068052A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 東芝ライテック株式会社 光源装置
JP2016200787A (ja) * 2015-04-14 2016-12-01 株式会社サーマプレシジョン 光照射装置、露光装置及びledアレイ光源
JP2019164264A (ja) * 2018-03-20 2019-09-26 株式会社Screenホールディングス パターン描画装置およびパターン描画方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5615207B2 (ja) * 2011-03-03 2014-10-29 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
CN113204176A (zh) * 2021-04-27 2021-08-03 合肥芯碁微电子装备股份有限公司 用于检测和调试设备成像光路的工装、检测***和方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077533A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 Kabushiki Kaisha Hayashi Soken 露光装置
JP2005079470A (ja) * 2003-09-02 2005-03-24 Nikon Corp 照明光学系の調整方法、露光装置及び方法、並びにデバイス製造方法
JP2006344747A (ja) * 2005-06-08 2006-12-21 Shinko Electric Ind Co Ltd 面光源制御装置および面光源制御方法
JP2007329455A (ja) * 2006-04-13 2007-12-20 Asml Holding Nv パターニング用デバイスへの照明効率を改善する光学系
JP2012063390A (ja) * 2010-09-14 2012-03-29 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 露光装置および光源装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004335826A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Nikon Corp 光源装置、露光装置及び露光方法
JP2006350131A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Shinko Electric Ind Co Ltd 光源制御装置
JP2007140166A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Shinko Electric Ind Co Ltd 直接露光装置および照度調整方法
JP5121783B2 (ja) * 2009-06-30 2013-01-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ Led光源およびその製造方法ならびにled光源を用いた露光装置及び露光方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077533A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 Kabushiki Kaisha Hayashi Soken 露光装置
JP2005079470A (ja) * 2003-09-02 2005-03-24 Nikon Corp 照明光学系の調整方法、露光装置及び方法、並びにデバイス製造方法
JP2006344747A (ja) * 2005-06-08 2006-12-21 Shinko Electric Ind Co Ltd 面光源制御装置および面光源制御方法
JP2007329455A (ja) * 2006-04-13 2007-12-20 Asml Holding Nv パターニング用デバイスへの照明効率を改善する光学系
JP2012063390A (ja) * 2010-09-14 2012-03-29 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 露光装置および光源装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160034792A (ko) * 2014-09-22 2016-03-30 도시바 라이텍쿠 가부시키가이샤 광원장치
KR102297802B1 (ko) * 2014-09-22 2021-09-03 도시바 라이텍쿠 가부시키가이샤 광원장치
JP2016068052A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 東芝ライテック株式会社 光源装置
JP2016200787A (ja) * 2015-04-14 2016-12-01 株式会社サーマプレシジョン 光照射装置、露光装置及びledアレイ光源
JP2019164264A (ja) * 2018-03-20 2019-09-26 株式会社Screenホールディングス パターン描画装置およびパターン描画方法
JP7045890B2 (ja) 2018-03-20 2022-04-01 株式会社Screenホールディングス パターン描画装置およびパターン描画方法

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