JP2013506873A - エレクトロルミネッセントディスプレイのための欠陥のあるエミッター検出 - Google Patents
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Abstract
Description
同じ譲受人に譲渡された、同時係属中の、Levey他により2007年6月22日に出願された「OLED DISPLAY WITH AGING AND EFFICIENCY COMPENSATION」と題する米国特許出願第11/766,823号、Levey他による2008年10月25日に出願された「ELECTROLUMINESCENT DISPLAY WITH INITIAL NONUNIFORMITY COMPENSATION」と題する米国特許出願公開第12/258,388号、及びLeon他により2008年10月29日に出願された「ELECTROLUMINESCENT DISPLAY WITH EFFICIENCY COMPENSATION」と題する米国特許出願第12/260,103号が参照され、それらの開示は本明細書に援用される。
a)複数のサブピクセルを有する前記ELディスプレイを設けることであって、各サブピクセルは駆動トランジスタと、読出しトランジスタと、ELエミッターとを含み、該駆動トランジスタは前記ELエミッターの電極と該読出しトランジスタの第1の電極とに接続された電極を有することと、
b)サブピクセルを選択することと、
c)前記選択されたサブピクセル内の前記駆動トランジスタを通る電流の流れを遮断することと、
d)電流源を用いて、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターを通る選択された試験電流を与えることと、
e)前記選択されたサブピクセル内の前記読出しトランジスタの第2の電極における電圧を測定することであって、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターの特性を表すステータス信号を与えることと、
f)前記選択されたサブピクセルのための前記ステータス信号を少なくとも2つの近傍のサブピクセルの個々のステータス信号と比較することであって、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターに欠陥があるか否かを判断することと、
を含む、ELディスプレイ内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)エミッターを検出する方法が提供される。
a)複数のサブピクセルを有する前記エレクトロルミネッセント(EL)ディスプレイを設けることであって、各サブピクセルは、第1の電極及び第2の電極を有するELエミッターと、第1の電極、前記ELエミッターの前記第1の電極に接続された第2の電極、及びゲート電極を有する駆動トランジスタと、前記駆動トランジスタの前記第2の電極に接続された第1の電極、第2の電極及びゲート電極を有する読出しトランジスタとを有することと、
b)前記複数のサブピクセルのそれぞれの前記駆動トランジスタの前記第1の電極に関連付けられた第1の電圧源を設けることと、
c)前記複数のサブピクセルのそれぞれにおける前記ELエミッターの前記第2の電極に接続された第2の電圧源を設けることと、
d)前記読出しトランジスタの前記第2の電極に関連付けられた電流源を設けることと、
e)ELサブピクセル、並びに該ELサブピクセルの対応する駆動トランジスタ、読出しトランジスタ及びELエミッターを選択することと、
f)前記選択された読出しトランジスタの前記第2の電極に関連付けられる電圧測定回路を設けることと、
g)前記選択された駆動トランジスタを通る電流の流れを遮断することと、
h)前記電流源を用いて、前記ELエミッターを通る選択された試験電流を与えることと、
i)前記電圧測定回路を用いて、前記選択された読出しトランジスタの前記第2の電極における電圧を測定することであって、前記選択されたELエミッターの特性を表す対応するステータス信号を与えることと、
j)前記複数のELサブピクセル内の残りのELサブピクセルごとにステップe〜ステップiを繰り返すことと、
k)ELサブピクセルを選択することと、
l)前記選択されたELサブピクセルのためのサブピクセル近傍区域を選択することであって、該サブピクセル近傍区域は、前記選択されたELサブピクセルに隣接する少なくとも2つのサブピクセルを含むことと、
m)前記選択されたELサブピクセルのための前記ステータス信号を前記選択されたサブピクセル近傍区域内の前記サブピクセルのそれぞれの個々の前記ステータス信号と比較することであって、前記選択されたELエミッターに欠陥があるか否かを判断することと、
n)前記複数のELサブピクセル内の残りのELサブピクセルごとにステップk〜ステップmを繰り返すことであって、前記ELディスプレイ内の他の欠陥のあるELエミッターを検出することと、
を含む、ELエミッター内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)ディスプレイを検出する方法が提供される。
R1=S60/[(S61+S62+S63+S64+S65+S66+S67+S68)/8]
R1’=S60/[(S61+S62+S64+S65+S66+S67+S68)/7]
20、20a、20b 選択線
30、30a、30b 読出し線
35 データ線
40 マルチプレクサー
45 マルチプレクサー出力線
50 ELエミッター
51 第1の電極
52 第2の電極
60〜68 ELサブピクセル
60a、60b、60c、60d ELサブピクセル
69a、69b サブピクセルグループ
70 駆動トランジスタ
71 第1の電極
72 第2の電極
73 ゲート電極
75 コンデンサー
80 読出しトランジスタ
81 第1の電極
82 第2の電極
83 ゲート電極
90 選択トランジスタ
91 第1の電極
92 第2の電極
93 ゲート電極
95 制御線
110 第1のスイッチ
130、130a、130b 第2のスイッチ
131 接続
132 接続
140 第1の電圧源
150 第2の電圧源
155 ソースドライバー
160、160a、160b 電流源
170 電圧測定回路
180 ローパスフィルター
185 アナログ/デジタルコンバーター
190 プロセッサ
195 メモリ
301〜309 ステップ
310、314 判断ステップ
311、312、313 ステップ
401、402 サブピクセル近傍区域
1000 I−V特性
1010 ライン
1020 ライン
Claims (15)
- ELディスプレイ内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)エミッターを検出する方法であって、
a)複数のサブピクセルを有する前記ELディスプレイを設けることであって、各サブピクセルは駆動トランジスタと、読出しトランジスタと、ELエミッターとを含み、該駆動トランジスタは前記ELエミッターの電極と該読出しトランジスタの第1の電極とに接続された電極を有することと、
b)サブピクセルを選択することと、
c)前記選択されたサブピクセル内の前記駆動トランジスタを通る電流の流れを遮断することと、
d)電流源を用いて、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターを通る選択された試験電流を与えることと、
e)前記選択されたサブピクセル内の前記読出しトランジスタの第2の電極における電圧を測定することであって、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターの特性を表すステータス信号を与えることと、
f)前記選択されたサブピクセルのための前記ステータス信号を少なくとも2つの近傍のサブピクセルの個々のステータス信号と比較することであって、前記選択されたサブピクセル内の前記ELエミッターに欠陥があるか否かを判断することと、
を含む、ELディスプレイ内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)エミッターを検出する方法。 - ELディスプレイ内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)エミッターを検出する方法であって、
a)複数のサブピクセルを有する前記エレクトロルミネッセント(EL)ディスプレイを設けることであって、各サブピクセルは、第1の電極及び第2の電極を有するELエミッターと、第1の電極、前記ELエミッターの前記第1の電極に接続された第2の電極、及びゲート電極を有する駆動トランジスタと、前記駆動トランジスタの前記第2の電極に接続された第1の電極、第2の電極及びゲート電極を有する読出しトランジスタとを有することと、
b)前記複数のサブピクセルのそれぞれにおける前記駆動トランジスタの前記第1の電極に関連付けられた第1の電圧源を設けることと、
c)前記複数のサブピクセルのそれぞれにおける前記ELエミッターの前記第2の電極に接続された第2の電圧源を設けることと、
d)前記読出しトランジスタの前記第2の電極に関連付けられた電流源を設けることと、
e)ELサブピクセル、並びに該ELサブピクセルの対応する駆動トランジスタ、読出しトランジスタ及びELエミッターを選択することと、
f)前記選択された読出しトランジスタの前記第2の電極に関連付けられた電圧測定回路を設けることと、
g)前記選択された駆動トランジスタを通る電流の流れを遮断することと、
h)前記電流源を用いて、前記ELエミッターを通る選択された試験電流を与えることと、
i)前記電圧測定回路を用いて、前記選択された読出しトランジスタの前記第2の電極における電圧を測定することであって、前記選択されたELエミッターの特性を表す対応するステータス信号を与えることと、
j)前記複数のELサブピクセル内の残りのELサブピクセルごとにステップe〜ステップiを繰り返すことと、
k)ELサブピクセルを選択することと、
l)前記選択されたELサブピクセルのためのサブピクセル近傍区域を選択することであって、該サブピクセル近傍区域は、前記選択されたELサブピクセルに隣接する少なくとも2つのサブピクセルを含むことと、
m)前記選択されたELサブピクセルのための前記ステータス信号を前記選択されたサブピクセル近傍区域内の前記サブピクセルのそれぞれの個々の前記ステータス信号と比較することであって、前記選択されたELエミッターに欠陥があるか否かを判断することと、
n)前記複数のELサブピクセル内の残りのELサブピクセルごとにステップk〜ステップmを繰り返すことであって、前記ELディスプレイ内の他の欠陥のあるELエミッターを検出することと、
を含む、ELディスプレイ内の欠陥のあるエレクトロルミネッセント(EL)エミッターを検出する方法。 - ステップbは、前記第1の電圧源を、前記複数のサブピクセルのそれぞれにおける前記駆動トランジスタの前記第1の電極に選択的に接続するための第1のスイッチを設けることを含み、ステップgは、前記第1のスイッチを開いて、前記選択された駆動トランジスタを通る電流の流れを遮断することを含む、請求項2に記載の方法。
- 前記複数のサブピクセルは1つ又は複数のサブピクセルグループに分割され、ステップeは、前記電流源を、前記個々のサブピクセルグループ内の前記複数のサブピクセルのそれぞれにおける前記読出しトランジスタの前記第2の電極に選択的に接続するために、前記1つ又は複数のサブピクセルグループごとに個々の第2のスイッチを設けることを含む、請求項2に記載の方法。
- 各サブピクセル近傍区域は、前記選択されたELサブピクセルの上側のサブピクセル、前記選択されたELサブピクセルの下側のサブピクセル、前記選択されたELサブピクセルの左側のサブピクセル、及び前記選択されたELサブピクセルの右側のサブピクセルを含む、請求項2に記載の方法。
- 前記比較するステップは、前記近傍区域内の前記サブピクセルの前記個々のステータス信号の第1の平均値を計算することと、前記選択されたELサブピクセルの前記ステータス信号が、前記第1の平均値から、該第1の平均値の選択された第1のパーセントよりも大きく外れているか否かを判断することとを含む、請求項2に記載の方法。
- どのELエミッターに欠陥があるかについての情報を格納するための欠陥マップを設けることを更に含み、前記サブピクセル近傍区域内のサブピクセルごとの前記欠陥マップ内の個々の前記格納された情報は、前記サブピクセルに欠陥がないことを示す、請求項2に記載の方法。
- 前記選択された試験電流は、選択されたしきい値電流よりも大きい、請求項2に記載の方法。
- 前記ELディスプレイは有機発光ダイオード(OLED)ディスプレイであり、各ELサブピクセルはOLEDサブピクセルであり、各ELエミッターはOLEDエミッターである、請求項2に記載の方法。
- 各駆動トランジスタはアモルファスシリコン駆動トランジスタである、請求項2に記載の方法。
- 前記電圧測定回路はアナログ/デジタルコンバーターを含む、請求項2に記載の方法。
- 各ELサブピクセルは、前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に接続された第2の電極を有する選択トランジスタを更に含み、各選択トランジスタの前記ゲート電極は前記対応する読出しトランジスタの前記ゲート電極に接続される、請求項2に記載の方法。
- ステップg及びステップhは、第1の時間中に、選択された数のELサブピクセルに対して同時に実行され、ステップiは、前記第1の時間中に、前記選択された数のELサブピクセルのELサブピクセルごとに順次に実行される、請求項2に記載の方法。
- 前記ELサブピクセルを行及び列に配列することと、前記行に対応する複数の選択線、及び前記列に対応する複数の読出し線を設けることとを更に含み、各ELサブピクセルは、前記駆動トランジスタの前記ゲート電極に接続された第2の電極、第1の電極及びゲート電極を有する選択トランジスタを含み、各選択線は1つ又は複数の対応する選択トランジスタの前記ゲート電極(複数の場合もあり)に接続され、各読出し線は、1つ又は複数の対応する読出しトランジスタの前記第2の電極(複数の場合もあり)に接続される、請求項13に記載の方法。
- 前記複数の読出し線に接続され、前記所定の数のOLEDサブピクセルのための前記ステータス信号を順次に読み出すためのマルチプレクサーを用いることを更に含む、請求項14に記載の方法。
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