JP2013242413A - Imaging optical system and image capturing device - Google Patents

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Yosuke Kanzaki
陽介 神崎
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging optical system and an image capturing device, capable of suppressing a reduction in S/N ratio of an infrared light image when capturing infrared light and visible light images of an object.SOLUTION: An imaging optical system includes; a first image sensor 4; a first image forming optical system 3 for forming an image of light from an object M on the first image sensor 4; a second imaging sensor 6 located outside an optical path of the first image forming optical system 3; and a second image forming optical system 5 which uses the light from the object M split by a reflective mirror 7 located on an optical path between the object M and the first imaging sensor 4 to form an image on the second image sensor 6. The first image forming optical system 3 and the second image forming optical system 5 use an identical optical axis between the object M and the reflective mirror 7, and at least one of the optical systems has an F-number of 1.5 or less. The image sensors belonging to the optical system having an F-number of 1.5 or less are capable of capturing an infrared light image.

Description

本発明は、撮像光学系、および撮像装置に関する。   The present invention relates to an imaging optical system and an imaging apparatus.

従来より、たとえば、特許文献1,2に開示されるように、被写体光を、ガラスプリズムを用いて可視光と赤外光とに分光し、分光された各光(可視光/赤外光)をそれぞれ異なる撮像素子で撮像し、被写体光の各光について画像を取得することができる撮像装置が知られている。また、特許文献3に開示されるように、反射ミラーの一部に被写体光の一部が通過する孔部を設け、この孔部を通過した被写体光については赤外光用カメラで撮影し、反射ミラーで反射した被写体光については可視光用カメラで撮影を行い、被写体光の各光について画像を取得する撮像装置が知られている。   Conventionally, as disclosed in Patent Documents 1 and 2, for example, subject light is split into visible light and infrared light using a glass prism, and each of the separated lights (visible light / infrared light) There is known an imaging apparatus that can capture images with different imaging elements and acquire an image for each light of subject light. In addition, as disclosed in Patent Document 3, a hole through which a part of the subject light passes is provided in a part of the reflection mirror, and the subject light that has passed through the hole is photographed with an infrared light camera, 2. Description of the Related Art An imaging device that captures an object light reflected by a reflection mirror with a visible light camera and acquires an image of each light of the object light is known.

特開2005−229317号JP 2005-229317 A 特開2005−4181号JP 2005-4181 特開平4−37383号JP-A-4-37383

しかしながら、家庭用のビデオカメラあるいは電子スチルカメラに広く使用されているCCD(Charge Coupled Device)あるいはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)は、一般に、光検出部にSi(シリコン)が用いられている。かかるCCDは、可視光に対しては良好なS/Nの画像を撮像できるため可視光の撮像には適しているが、赤外光に対する感度が低い。そのため、赤外光の画像のS/Nは、可視光の画像に比べて劣る(低い)。したがって、上記のように検出部にSiを用いたCCDを用いて赤外光の撮像を行っても、S/Nが良好な画像を得難いという問題がある。   However, in a CCD (Charge Coupled Device) or CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) widely used for home video cameras or electronic still cameras, Si (silicon) is generally used in the light detection section. Such a CCD is suitable for imaging visible light because it can capture a good S / N image for visible light, but has low sensitivity to infrared light. Therefore, the S / N of the infrared light image is inferior (low) compared to the visible light image. Therefore, there is a problem that it is difficult to obtain an image with a good S / N even when infrared light is imaged using a CCD using Si as the detection unit as described above.

また、赤外光は、可視光に比べてガラスへの吸収率(消衰係数)が大きい。そのため、ガラスプリズムを用いて被写体光を可視光と赤外光とに分光する構成の場合、ガラスプリズムを透過する赤外光の透過率が大幅に低下し、赤外光の画像のS/Nも大幅に低下してしまうという問題がある。   Further, infrared light has a higher absorption rate (extinction coefficient) into glass than visible light. For this reason, in the case of a configuration in which subject light is split into visible light and infrared light using a glass prism, the transmittance of infrared light transmitted through the glass prism is greatly reduced, and the S / N of an infrared light image is reduced. However, there is a problem that it is greatly reduced.

また、ガラスプリズムを用いずに、特許文献3に開示されるように、反射ミラーに形成された孔部を通過した被写体光を赤外光用カメラで撮影する構成の場合、赤外光用カメラに入射する被写体光の光量は孔部を通過する光量に制限されてしまう。そのため、この構成の場合にも、赤外光用カメラで撮影される赤外光の画像のS/Nが低下し易いという問題がある。   In addition, as disclosed in Patent Document 3 without using a glass prism, in the case of a configuration in which subject light that has passed through a hole formed in a reflecting mirror is captured by an infrared light camera, an infrared light camera The amount of the subject light incident on the light is limited to the amount of light passing through the hole. For this reason, even in this configuration, there is a problem that the S / N of an infrared light image captured by the infrared light camera tends to decrease.

そこで、本発明は、被写体について、赤外光の撮影と可視光の撮影とを行う際に、赤外光の画像のS/Nの低下を抑制することができる撮像光学系、および撮像装置を提供することを課題とする。   Therefore, the present invention provides an imaging optical system and an imaging apparatus that can suppress a decrease in S / N of an infrared light image when photographing infrared light and visible light with respect to a subject. The issue is to provide.

上記課題を解決するため、撮像光学系は、第1撮像素子と、第1撮像素子上に被写体光を結像させる第1結像光学系と、第1結像光学系の光路外に配置される第2撮像素子と、被写体と第1撮像素子との間の光路上に配置される反射ミラーにより被写体光を分離し、第2撮像素子上に、分離された被写体光を結像させる第2結像光学系とを有し、第1結像光学系と、第2結像光学系とは、被写体と反射ミラーとの間の光軸が同一光軸であり、かつ、少なくとも一方の光学系のFナンバーは1.5以下であり、Fナンバーが1.5以下の光学系に配置される撮像素子は、赤外光を撮像することができる撮像素子であることとする。   In order to solve the above problems, the imaging optical system is disposed outside the optical path of the first imaging element, the first imaging optical system that forms an image of subject light on the first imaging element, and the first imaging optical system. A second imaging element that separates subject light by a second imaging element and a reflecting mirror disposed on an optical path between the subject and the first imaging element, and forms an image of the separated subject light on the second imaging element. The first imaging optical system and the second imaging optical system have the same optical axis between the subject and the reflection mirror, and at least one of the optical systems The F-number is 1.5 or less, and the imaging device arranged in the optical system having the F-number of 1.5 or less is an imaging device capable of imaging infrared light.

上記発明において、反射ミラーの反射面は、第1結像光学系の光軸上に配置され、第1撮像素子には、反射ミラーの周囲を通過した光が撮像されることとする。   In the above invention, the reflection surface of the reflection mirror is disposed on the optical axis of the first imaging optical system, and the first image pickup device captures light that has passed around the reflection mirror.

上記発明において、反射ミラーは、第1結像光学系の光軸を含む光束が通過する孔部が形成され、第1撮像素子には、孔部を通過した光が撮像されることとする。   In the above invention, the reflection mirror is formed with a hole through which a light beam including the optical axis of the first imaging optical system passes, and the light that has passed through the hole is imaged by the first imaging element.

上記発明において、赤外光を撮像することができる撮像素子は、遠赤外光を撮像できる撮像素子であることとする。   In the above invention, the imaging element that can image infrared light is an imaging element that can image far-infrared light.

上記発明において、赤外光を撮像することができる撮像素子が配置される結像光学系を構成するレンズの少なくとも1つは、プラスチックレンズであることとする。   In the above invention, at least one of the lenses constituting the imaging optical system in which an imaging element capable of imaging infrared light is disposed is a plastic lens.

上記発明において、赤外光を撮像することができる撮像素子が配置される結像光学系を構成するレンズの少なくとも1つは、フレネルレンズであることとする。   In the above invention, at least one of the lenses constituting the imaging optical system in which an imaging device capable of imaging infrared light is arranged is a Fresnel lens.

上記発明において、第1撮像素子は、赤外光を撮像することができる撮像素子であり、反射ミラーは、第1結像光学系を構成するレンズに支持されていることとする。   In the above invention, the first imaging device is an imaging device capable of imaging infrared light, and the reflection mirror is supported by a lens constituting the first imaging optical system.

上記課題を解決するため、撮像装置は、上述の撮像光学系を備えることとする。   In order to solve the above problem, the imaging apparatus includes the above-described imaging optical system.

本発明によれば、被写体について、赤外光の撮影と可視光の撮影とを行う際に、赤外光の撮影と可視光の撮影とを視差なく行うことができ、さらに、赤外光の画像のS/Nの低下を抑制することができる撮像光学系、および撮像装置を提供することができる。   According to the present invention, when photographing infrared light and visible light with respect to a subject, infrared light photographing and visible light photographing can be performed without parallax. An imaging optical system and an imaging apparatus that can suppress a decrease in the S / N of an image can be provided.

本発明の第1の実施の形態に係る撮像光学系および撮像装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the imaging optical system and imaging device which concern on the 1st Embodiment of this invention. 第1の実施の形態に係る撮像光学系および撮像装置の他の構成を示す図である。It is a figure which shows the other structure of the imaging optical system and imaging device which concern on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る撮像光学系および撮像装置の他の構成を示す図である。It is a figure which shows the other structure of the imaging optical system and imaging device which concern on 1st Embodiment. 本発明の第1の実施の形態に係る撮像光学系および撮像装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the imaging optical system and imaging device which concern on the 1st Embodiment of this invention. アルミニウムに入射する光の波長域と反射率、消衰係数、屈折率との関係性を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the wavelength range of the light which injects into aluminum, a reflectance, an extinction coefficient, and a refractive index. 金に入射する光の波長域と反射率、消衰係数、屈折率との関係性を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the wavelength range of the light which injects into gold | metal | money, a reflectance, an extinction coefficient, and a refractive index. ゲルマニウムに入射する光の波長域と消衰係数、屈折率との関係性を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the wavelength range of the light which injects into germanium, an extinction coefficient, and a refractive index. シリコンに入射する光の波長域と消衰係数、屈折率との関係性を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the wavelength range of the light which injects into silicon | silicone, an extinction coefficient, and a refractive index.

以下、本発明の実施の形態に係る、撮像光学系、およびこの撮像光学系を備える撮像装置の実施の形態について図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments of an image pickup optical system and an image pickup apparatus including the image pickup optical system according to embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1の実施の形態)
(撮像光学系1および撮像装置2の構成)
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る撮像光学系1と、この撮像光学系1を備える撮像装置2の構成を示す図である。
(First embodiment)
(Configuration of Imaging Optical System 1 and Imaging Device 2)
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an imaging optical system 1 according to the first embodiment of the present invention and an imaging apparatus 2 including the imaging optical system 1.

(撮像光学系1の構成)
撮像光学系1は、第1結像光学系3と、第1撮像素子4と、第2結像光学系5と、第2撮像素子6とを有する。第1結像光学系3は、被写体Mからの被写体光を第1撮像素子4に結像させる。第2結像光学系5は、被写体Mと第1撮像素子4との間の光路上に配置される反射ミラー7を有し、この反射ミラー7により反射された被写体光を第2撮像素子6に結像させる。
(Configuration of the imaging optical system 1)
The imaging optical system 1 includes a first imaging optical system 3, a first imaging element 4, a second imaging optical system 5, and a second imaging element 6. The first imaging optical system 3 causes subject light from the subject M to form an image on the first image sensor 4. The second imaging optical system 5 includes a reflection mirror 7 disposed on the optical path between the subject M and the first image sensor 4, and the subject light reflected by the reflection mirror 7 is reflected on the second image sensor 6. To form an image.

第1結像光学系3は、結像レンズ8と、可視光カットフィルター9と、第1撮像素子4とを有している。結像レンズ8は、赤外光の吸収がガラスよりも少ないプラスチックレンズにより構成される。可視光カットフィルター9は、たとえば、概ね700nm以下の波長の光を透過しない特性を有している。そして、第1撮像素子4は、概ね700nmを超える波長の光を撮像することができるCCDにより構成される。第1撮像素子4は、700nmを超える波長の光を撮像することができればよく、700nm以下の波長の光も撮像できるものであってもよい。さらに、第1結像光学系3は、Fナンバーが、たとえば、1.0となるように構成されている。   The first imaging optical system 3 includes an imaging lens 8, a visible light cut filter 9, and a first imaging element 4. The imaging lens 8 is made of a plastic lens that absorbs less infrared light than glass. The visible light cut filter 9 has a characteristic of not transmitting light having a wavelength of approximately 700 nm or less, for example. And the 1st image pick-up element 4 is comprised by CCD which can image the light of the wavelength over 700 nm in general. The first image sensor 4 only needs to be able to image light with a wavelength exceeding 700 nm, and may be capable of imaging light with a wavelength of 700 nm or less. Further, the first imaging optical system 3 is configured such that the F number is, for example, 1.0.

一方、第2結像光学系5は、反射ミラー7と、結像レンズ10と、赤外線カットフィルター11と、第2撮像素子6とを有している。反射ミラー7は、反射面が第1結像光学系3の光軸X1上に配置され、被写体光の一部を第1結像光学系3の光路と異なる光路の光として反射させる。そして、反射ミラー7と第2結像光学系5とは、反射ミラー7と被写体Mとの間において、第2結像光学系5の光軸X2が、第1結像光学系3の光軸X1と一致するように配置されている。   On the other hand, the second imaging optical system 5 includes a reflection mirror 7, an imaging lens 10, an infrared cut filter 11, and a second imaging element 6. The reflection mirror 7 has a reflection surface disposed on the optical axis X <b> 1 of the first imaging optical system 3, and reflects part of the subject light as light having an optical path different from the optical path of the first imaging optical system 3. The reflecting mirror 7 and the second imaging optical system 5 are arranged such that the optical axis X2 of the second imaging optical system 5 is the optical axis of the first imaging optical system 3 between the reflecting mirror 7 and the subject M. It arrange | positions so that it may correspond with X1.

結像レンズ10は、ガラス、あるいはプラスチック等、可視光を透過することができる材質により形成されている。赤外線カットフィルター11は、たとえば、概ね700nmを超える波長の光を透過しない特性を有している。そして、第2撮像素子6は、概ね700nm以下の波長の光を撮像することができるCCDにより構成される。第2撮像素子6は、700nm以下の波長の光を撮像することができればよく、700nmを超える波長の光も撮像できるものであってもよい。さらに、第2結像光学系5は、Fナンバーが、たとえば、5.0となるように構成されている。   The imaging lens 10 is made of a material that can transmit visible light, such as glass or plastic. For example, the infrared cut filter 11 has a characteristic of not transmitting light having a wavelength of more than 700 nm. The second image sensor 6 is composed of a CCD that can image light having a wavelength of approximately 700 nm or less. The second imaging element 6 only needs to be able to image light having a wavelength of 700 nm or less, and may be capable of imaging light having a wavelength exceeding 700 nm. Further, the second imaging optical system 5 is configured such that the F number is, for example, 5.0.

(画像処理部20の構成)
撮像装置2は、上述の撮像光学系1に加えて、画像処理部20を備える。画像処理部20は、第1撮像素子4および第2撮像素子6から出力される画像信号を処理して、モニター等の表示部MTあるいはハードディスク等の記録部MR等に出力する。
(Configuration of the image processing unit 20)
The imaging device 2 includes an image processing unit 20 in addition to the imaging optical system 1 described above. The image processing unit 20 processes image signals output from the first image sensor 4 and the second image sensor 6 and outputs the processed image signals to a display unit MT such as a monitor or a recording unit MR such as a hard disk.

画像処理部20は、信号処理部21,22と、フレームメモリー23,24と、同期信号生成部25と、画像合成部26と、インターフェース27と、CPU29等を有する。信号処理部21は、S/H(サンプルホールド)回路、AGC(Automatic Gain Control)回路、A/D(アナログ−デジタル変換)回路等を備え、第1撮像素子4にて光電変換されて得られたアナログ画像信号をデジタル画像信号として出力する。また、信号処理部21においては、第1撮像素子4から出力された画像信号に対して、ホワイトバランス、ガンマ補正等の信号処理が行われる。フレームメモリー23は、たとえば、DRAM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ)から構成され、信号処理部21から出力されたデジタル画像信号が格納される。   The image processing unit 20 includes signal processing units 21 and 22, frame memories 23 and 24, a synchronization signal generation unit 25, an image synthesis unit 26, an interface 27, a CPU 29, and the like. The signal processing unit 21 includes an S / H (sample hold) circuit, an AGC (Automatic Gain Control) circuit, an A / D (analog-digital conversion) circuit, and the like, and is obtained through photoelectric conversion by the first image sensor 4. The analog image signal is output as a digital image signal. In the signal processing unit 21, signal processing such as white balance and gamma correction is performed on the image signal output from the first image sensor 4. The frame memory 23 is composed of, for example, a DRAM (Dynamic Random Access Memory), and stores the digital image signal output from the signal processing unit 21.

信号処理部22も、S/H(サンプルホールド)回路、AGC(Automatic Gain Control)回路、A/D(アナログ−デジタル変換)回路等を備え、第2撮像素子6にて光電変換されて得られたアナログ画像信号をデジタル画像信号として出力する。また、信号処理部22においては、第2撮像素子6から出力された画像信号に対して、ガンマ補正等の輝度信号に関する信号処理が行われる。フレームメモリー24も、たとえば、DRAM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ)から構成され、信号処理部22から出力されたデジタル画像信号が格納される。   The signal processing unit 22 also includes an S / H (sample hold) circuit, an AGC (Automatic Gain Control) circuit, an A / D (analog-digital conversion) circuit, etc., and is obtained by photoelectric conversion by the second image sensor 6. The analog image signal is output as a digital image signal. In the signal processing unit 22, signal processing related to a luminance signal such as gamma correction is performed on the image signal output from the second image sensor 6. The frame memory 24 is also composed of, for example, a DRAM (Dynamic Random Access Memory) and stores the digital image signal output from the signal processing unit 22.

第1撮像素子4と第2撮像素子6には、同期信号生成部25が接続されている。同期信号生成部25は、第1撮像素子4と第2撮像素子6とが同じ時刻で撮像した画像に基づくアナログ画像信号を同じタイミングで信号処理部21,22に出力させるタイミング信号を生成する。   A synchronization signal generator 25 is connected to the first image sensor 4 and the second image sensor 6. The synchronization signal generation unit 25 generates timing signals that cause the signal processing units 21 and 22 to output analog image signals based on images captured by the first imaging device 4 and the second imaging device 6 at the same time.

画像合成部26は、フレームメモリー23,24から出力される、第1撮像素子4と第2撮像素子6とからそれぞれ出力されるデジタル画像信号を合成し、インターフェース27を介して表示部MTに出力する。したがって、表示部MTには、第1撮像素子4で撮像された画像と、第2撮像素子6で撮像された画像とが重ね合わされた画像を表示することができる。   The image synthesis unit 26 synthesizes the digital image signals output from the first image sensor 4 and the second image sensor 6 output from the frame memories 23 and 24, and outputs them to the display unit MT via the interface 27. To do. Therefore, the display unit MT can display an image obtained by superimposing the image captured by the first image sensor 4 and the image captured by the second image sensor 6.

CPU29は、撮像装置2の全体の動作を制御するものであり、CPU29が、第1撮像素子4と、第2撮像素子6と、信号処理部21,22と、フレームメモリー23,24と、同期信号生成部25と、画像合成部26等の動作を制御することで、第1撮像素子4で撮像された画像と、第2撮像素子6で撮像された画像とが重ね合わされた画像の画像データーがインターフェース27から表示部MTに出力される。   The CPU 29 controls the entire operation of the image pickup apparatus 2. The CPU 29 synchronizes the first image pickup device 4, the second image pickup device 6, the signal processing units 21 and 22, and the frame memories 23 and 24. Image data of an image in which the image captured by the first image sensor 4 and the image captured by the second image sensor 6 are superimposed by controlling the operations of the signal generator 25, the image composition unit 26, and the like. Is output from the interface 27 to the display unit MT.

なお、画像処理部20は上述の構成に限るものでなく、たとえば、表示部MTに表示する換わりにハードディスク等の記録部MRに記録する構成としてもよい。また、第1撮像素子4と第2撮像素子6で撮像された画像を合成する(重ね合わせる)ことなく別々に表示したり、あるいは、別々の画像として記録部MRに記録する構成としてもよい。   The image processing unit 20 is not limited to the above-described configuration. For example, the image processing unit 20 may be configured to record on the recording unit MR such as a hard disk instead of displaying on the display unit MT. Further, the images captured by the first image sensor 4 and the second image sensor 6 may be displayed separately without being combined (overlapped), or may be recorded in the recording unit MR as separate images.

(第1の実施の形態の主な効果)
上述のように撮像光学系1は、第1撮像素子4と、この第1撮像素子4上に被写体光を結像させる第1結像光学系3とを有している。また、撮像光学系1は、第2撮像素子6と、この第2撮像素子6上に被写体光を結像させる第2結像光学系5とを有している。第2結像光学系5は、第1結像光学系3の光軸X1上に反射面が配置される反射ミラー7を有している。
(Main effects of the first embodiment)
As described above, the imaging optical system 1 includes the first imaging element 4 and the first imaging optical system 3 that forms an image of subject light on the first imaging element 4. The imaging optical system 1 includes a second imaging element 6 and a second imaging optical system 5 that forms an image of subject light on the second imaging element 6. The second imaging optical system 5 includes a reflecting mirror 7 having a reflecting surface disposed on the optical axis X1 of the first imaging optical system 3.

反射ミラー7は、被写体M側において、第1結像光学系3の光軸X1と、第2結像光学系5の光軸X2とが一致するように配置されている。すなわち、第1結像光学系3と、第2結像光学系5とは、被写体Mと反射ミラー7との間において、光軸X1と光軸X2とは同一の光軸となっている。反射ミラー7は、被写体光を分離し、第1結像光学系3の光路とは異なる光路の光として反射させる。そして、第2撮像素子6は、反射ミラー7により反射され折り曲げられた光路上に配置され、第1結像光学系3の光路外に配置される。第1結像光学系3は、Fナンバーが1.0であり、第2結像光学系5はFナンバーが5.0とされている。   The reflection mirror 7 is arranged on the subject M side so that the optical axis X1 of the first imaging optical system 3 and the optical axis X2 of the second imaging optical system 5 coincide. That is, in the first imaging optical system 3 and the second imaging optical system 5, the optical axis X1 and the optical axis X2 are the same optical axis between the subject M and the reflection mirror 7. The reflection mirror 7 separates subject light and reflects it as light having an optical path different from the optical path of the first imaging optical system 3. The second image sensor 6 is disposed on the optical path reflected and bent by the reflection mirror 7 and is disposed outside the optical path of the first imaging optical system 3. The first imaging optical system 3 has an F number of 1.0, and the second imaging optical system 5 has an F number of 5.0.

上述のように、撮像光学系1を構成することで、第1撮像素子4と第2撮像素子6とにおいて、同一光軸の被写体像を撮像することができる。すなわち、第1撮像素子4と第2撮像素子6とにおいて、視差のない被写体像を撮像することができる。そのため、たとえば、画像処理部20において、第1撮像素子4と第2撮像素子6とにおいて撮像された画像を合成(重ね合わせ)する際に、視差のない状態で両画像を合成(重ね合わせ)することができる。   As described above, by configuring the imaging optical system 1, the first imaging element 4 and the second imaging element 6 can capture a subject image having the same optical axis. That is, the first image sensor 4 and the second image sensor 6 can capture a subject image without parallax. Therefore, for example, when the image picked up by the first image sensor 4 and the second image sensor 6 are combined (superposed) in the image processing unit 20, the two images are combined (superposed) without parallax. can do.

第1結像光学系3は、Fナンバーが1.0とされている。一般に、可視光の撮影においては、結像の明るさと、レンズによる光学収差の補正を適正に行う観点から、Fナンバーは2.0〜6.0とされることが多い。これに対し、第1結像光学系3は、Fナンバーを1.0とすることで、第1撮像素子4に入射する光量を多くすることができる。また、第1撮像素子4の光入射側には、可視光カットフィルター9が配置されている。   The first imaging optical system 3 has an F number of 1.0. In general, in photographing visible light, the F number is often set to 2.0 to 6.0 from the viewpoint of appropriately correcting the brightness of the image and correcting the optical aberration by the lens. In contrast, the first imaging optical system 3 can increase the amount of light incident on the first imaging element 4 by setting the F number to 1.0. A visible light cut filter 9 is arranged on the light incident side of the first image sensor 4.

一般に、光検出部にSi(シリコン)を用いたCCDやCMOSは、可視光に比べて赤外光に対する感度が低い。しかしながら、第1結像光学系3のFナンバーを1.0とすることで、第1撮像素子4に入射する被写体光の光量を多くすることができ赤外光の入射量も多くすることができる。さらに、第1結像光学系3には可視光カットフィルター9が備えられている。そのため、第1撮像素子4に撮像される赤外光の画像のS/Nを良好なものとすることができる。なお、第1撮像素子4が赤外光を受光できる撮像素子であれば、撮像素子の形態に拘わらず、上述の撮像光学系1を用いることで、第1撮像素子4に撮像される赤外光の画像のS/Nを向上させることができる。   In general, CCDs and CMOSs using Si (silicon) for the light detection unit have lower sensitivity to infrared light than visible light. However, by setting the F number of the first imaging optical system 3 to 1.0, the amount of subject light incident on the first image sensor 4 can be increased, and the amount of incident infrared light can be increased. it can. Further, the first imaging optical system 3 is provided with a visible light cut filter 9. Therefore, the S / N of the infrared light image captured by the first image sensor 4 can be improved. In addition, if the 1st image pick-up element 4 is an image pick-up element which can receive infrared light, the infrared imaged by the 1st image pick-up element 4 by using the above-mentioned image pick-up optical system 1 irrespective of the form of an image pick-up element. The S / N of a light image can be improved.

なお、第1撮像素子4に可視光の感度波長域が少ない撮像素子を用いる場合には、可視光カットフィルター9を配置しなくてもよい。たとえば、光検出部にInGaAs(インジウムガリウムヒ化物)を用いた撮像素子については、光の検出波長域を0.8μm〜2.6μmとすることができ、この場合には可視光カットフィルター9を配置しなくてもよい。また、光検出部にPbS(硫化鉛)を用いた撮像素子については、光の検出波長域を1μm〜3.5μmとすることができ、この場合にも可視光カットフィルター9を配置しない構成とすることができる。   In addition, when using an image pick-up element with few visible light sensitivity wavelength ranges for the 1st image pick-up element 4, the visible light cut filter 9 does not need to be arrange | positioned. For example, for an image sensor using InGaAs (indium gallium arsenide) for the light detection unit, the light detection wavelength range can be set to 0.8 μm to 2.6 μm. In this case, the visible light cut filter 9 is It is not necessary to arrange. In addition, for an image sensor using PbS (lead sulfide) in the light detection unit, the detection wavelength range of light can be set to 1 μm to 3.5 μm. In this case, the visible light cut filter 9 is not disposed. can do.

また、結像レンズ8は、プラスチック材により形成されている。プラスチック材としては、たとえば、ポリエチレン、PET (ポリエチレンテレフタレート)、アクリル等を用いることができる。プラスチック材は、ガラスに比べて赤外線の吸収率が小さい。したがって、結像レンズ8をプラスチックレンズとすることで、被写体光が結像レンズ8を通過する際の赤外光の損失を抑えることができ、第1撮像素子4に入射する赤外光の光量の増加を図ることができる。その結果、第1撮像素子4においてS/Nが良好な赤外線画像を撮像することができる。なお、結像レンズ8が複数枚のレンズにより構成される場合には、少なくとも1枚のレンズについてプラスチック材にて構成することで、被写体光が結像レンズ8を通過する際の赤外光の損失を抑えることができる。   The imaging lens 8 is made of a plastic material. As the plastic material, for example, polyethylene, PET (polyethylene terephthalate), acrylic, or the like can be used. Plastic materials have a lower infrared absorption rate than glass. Therefore, when the imaging lens 8 is a plastic lens, loss of infrared light when subject light passes through the imaging lens 8 can be suppressed, and the amount of infrared light incident on the first image sensor 4 is reduced. Can be increased. As a result, an infrared image with a good S / N can be captured by the first image sensor 4. When the imaging lens 8 is composed of a plurality of lenses, at least one lens is made of a plastic material, so that the infrared light when the subject light passes through the imaging lens 8 can be obtained. Loss can be suppressed.

ところで、赤外光は可視光に比べて光エネルギーが小さく、撮像素子に撮像される画像のコントラストが可視光に比べて低くなり易い。そのため、第1結像光学系3のFナンバーを小さくすることにより、第1撮像素子4の赤外光の結像に収差が発生し易くなったとしても、観察される画像(撮像画像)においては収差が目立ち難くなる。また、可視光に比べて光エネルギーが小さい赤外光を受光する撮像素子については、ノイズ対策を行う必要から、光検出部の構造や光検出部に用いられる材料等に制限が生じ光検出部の微細化が難しい。たとえば、可視光用のCCDと赤外光用のボロメータとでは、前者が画素ピッチ1.2μm程度であるのに対し、後者は画素ピッチ24μm程度であり画素ピッチが大きく異なる。画素ピッチの値は光検出部に使用される材料等により前後するが、赤外光用のボロメータは、可視光用のCCDに比べて画素ピッチが十数倍以上大きい。そのため、第1結像光学系3のFナンバーを小さくすることにより、第1撮像素子4の赤外光の結像に収差が発生し易くなったとしても、観察される画像においては収差が目立ち難い。したがって、第2結像光学系5に比べてFナンバーが小さな第1結像光学系3に赤外光を透過させることで、S/Nを大きくしながら収差の影響をできるだけ小さく抑えた状態の赤外光の画像を観察することができる。   By the way, infrared light has smaller light energy than visible light, and the contrast of an image picked up by the image sensor tends to be lower than that of visible light. Therefore, even if aberrations are likely to occur in the imaging of the infrared light of the first imaging element 4 by reducing the F number of the first imaging optical system 3, in the observed image (captured image) The aberration becomes inconspicuous. In addition, for an image sensor that receives infrared light having a light energy smaller than that of visible light, it is necessary to take measures against noise, so that the structure of the light detection unit and the material used for the light detection unit are limited, and the light detection unit It is difficult to miniaturize. For example, in the CCD for visible light and the bolometer for infrared light, the former has a pixel pitch of about 1.2 μm, whereas the latter has a pixel pitch of about 24 μm, and the pixel pitch is greatly different. Although the value of the pixel pitch varies depending on the material used for the light detection unit, the bolometer for infrared light has a pixel pitch that is more than a dozen times larger than that of the CCD for visible light. Therefore, even if the first imaging optical system 3 has a small F number, aberrations are likely to occur in the imaging of the infrared light of the first image sensor 4. hard. Accordingly, by transmitting infrared light through the first imaging optical system 3 having a smaller F number than the second imaging optical system 5, the influence of aberration is suppressed as much as possible while increasing the S / N. An infrared image can be observed.

特に、10μm〜1000μmの波長の赤外線に対して撮像光学系1を用い、第1撮像素子4の画素ピッチを20μm〜30μmとした場合には、波長が長いにも拘わらず、S/Nの低下を効果的に防ぎながら収差についてもできるだけ小さく抑えた状態の赤外光の画像を観察することができる。   In particular, when the imaging optical system 1 is used for infrared rays having a wavelength of 10 μm to 1000 μm and the pixel pitch of the first imaging element 4 is set to 20 μm to 30 μm, the S / N is reduced although the wavelength is long. It is possible to observe an infrared light image in which the aberration is suppressed as much as possible while effectively preventing the aberration.

一方、可視光は赤外光に比べて光エネルギーが大きく、撮像素子に撮像される画像のコントラストが赤外光に比べて高くなり易い。コントラストが高くなることで、第2結像光学系5で発生する収差は観察される画像において目立ち易くなる。また、撮像素子は、上述のように、赤外光を受光できる構成に比べて可視光を受光できる構成の方が画素ピッチを小さくし易い反面、撮像素子の画素ピッチが小さくなるに従って観察される画像においては収差が目立ち易くなる。しかしながら、第2結像光学系5は、Fナンバーが5.0であり、可視光について収差の発生を抑え易い光学系に構成されている。したがって、赤外光に比べて可視光に対する感度の高い撮像素子として、たとえば、光検出部にSiを用いたCCDやCMOSを第2撮像素子6に用いた場合であっても、第2結像光学系5のFナンバーを5.0とした場合には、収差が好適に抑制され、収差の影響が抑えられた可視光の画像を撮像することができる。   On the other hand, visible light has higher light energy than infrared light, and the contrast of an image picked up by the image sensor is likely to be higher than infrared light. By increasing the contrast, the aberration generated in the second imaging optical system 5 is easily noticeable in the observed image. In addition, as described above, the configuration in which visible light can be received is easier to reduce the pixel pitch than the configuration in which infrared light can be received, as described above, but is observed as the pixel pitch of the imaging device decreases. In the image, the aberration becomes conspicuous. However, the second imaging optical system 5 has an F number of 5.0 and is configured as an optical system that easily suppresses the occurrence of aberrations with respect to visible light. Therefore, even when a CCD or CMOS using Si for the light detection unit is used for the second imaging device 6 as an imaging device having higher sensitivity to visible light than infrared light, the second imaging is performed. When the F number of the optical system 5 is 5.0, it is possible to capture an image of visible light in which the aberration is suitably suppressed and the influence of the aberration is suppressed.

上述のように、赤外光を結像させる第1結像光学系3については、Fナンバーを1.0とすることで、撮像される画像のS/Nを良好なものとすることができ、可視光を結像させる第2結像光学系5については、Fナンバーを5.0とすることで、収差の発生を抑えた画像を撮像することができる。すなわち、第1結像光学系3のFナンバーは、第1撮像素子4で赤外光の撮像を好適に行うことができるように光量を優先した値に設定され、第2結像光学系5のFナンバーは、可視光について収差の抑え易さを優先とした値に設定する。   As described above, with respect to the first imaging optical system 3 that forms an image of infrared light, the S / N of the captured image can be improved by setting the F number to 1.0. For the second imaging optical system 5 that forms an image of visible light, by setting the F number to 5.0, it is possible to capture an image in which the occurrence of aberration is suppressed. That is, the F number of the first imaging optical system 3 is set to a value giving priority to the amount of light so that infrared imaging can be suitably performed by the first imaging element 4, and the second imaging optical system 5. The F number is set to a value that prioritizes the ease of suppressing aberrations for visible light.

具体的には、第1結像光学系3については、Fナンバーを1.5以下、0.5以上とすることで、第1撮像素子4において赤外光について、S/Nが好適な撮像を行うことができる。Fナンバーが1.5を超えると、撮像のS/Nが十分に確保できないという問題が生じ易く、Fナンバーが0.5未満となると、観察される画像に収差の影響が目立ち易くなるという問題が生じる。Fナンバーを1.2以下、0.8以上とすることで、観察される画像に収差の影響を目立ち難くしながらS/Nについてもより好適に向上させることができる。   Specifically, for the first imaging optical system 3, by setting the F number to 1.5 or less and 0.5 or more, the first image pickup device 4 has an S / N suitable for infrared light. It can be performed. When the F number exceeds 1.5, the problem that the S / N of imaging cannot be sufficiently secured is likely to occur, and when the F number is less than 0.5, the effect of the aberration becomes conspicuous on the observed image. Occurs. By setting the F number to 1.2 or less and 0.8 or more, it is possible to improve S / N more suitably while making the influence of the aberration less noticeable in the observed image.

また、第2結像光学系5については、Fナンバーを2.0以上、8.0以下とすることで、第2撮像素子6において可視光について、収差とS/Nが好適に抑えられた撮像を行うことができる。Fナンバーが8.0を超えると、画像が暗くなりすぎ撮像のS/Nが十分に確保できないという問題が生じ易く、Fナンバーが2.0未満となると、収差の補正が難しくなるという問題が生じ易い。Fナンバーを3.0以上、7.0以下とすることで、収差を好適に抑制しながらS/Nについてもより好適に向上させることができる。   Further, for the second imaging optical system 5, by setting the F number to 2.0 or more and 8.0 or less, the aberration and S / N of the visible light in the second imaging element 6 were suitably suppressed. Imaging can be performed. If the F-number exceeds 8.0, the image becomes too dark, and a problem that the S / N for imaging cannot be sufficiently secured is likely to occur. If the F-number is less than 2.0, it is difficult to correct aberrations. It is likely to occur. By setting the F number to 3.0 or more and 7.0 or less, it is possible to improve S / N more suitably while appropriately suppressing aberration.

なお、第1撮像素子4の赤外光に対する感度や、赤外光の像に対して要求される像の収差の程度、および、第2撮像素子6の可視光に対する感度や、可視光の像に対して要求される像の収差の程度により、第1結像光学系3および第2結像光学系5に要求されるFナンバーは異なるが、概ね上記の範囲とすることで、第1撮像素子4で得られる赤外光の画像と第2撮像素子6で得られる可視光の画像とを好適なものとし易い。   Note that the sensitivity of the first image sensor 4 to infrared light, the degree of image aberration required for an infrared light image, the sensitivity of the second image sensor 6 to visible light, and the visible light image. The F number required for the first imaging optical system 3 and the second imaging optical system 5 differs depending on the degree of aberration of the image required for the first imaging. It is easy to make the infrared image obtained by the element 4 and the visible light image obtained by the second image sensor 6 suitable.

また、反射ミラー7よりも被写体M側においては、第1結像光学系3と第2結像光学系5は同一光軸であるため、第1撮像素子4で得られた画像と第2撮像素子6で得られた画像とに視差が発生しないようにすることができる。   Further, since the first imaging optical system 3 and the second imaging optical system 5 are on the same optical axis on the subject M side with respect to the reflecting mirror 7, the image obtained by the first imaging element 4 and the second imaging are taken. It is possible to prevent parallax from occurring in the image obtained by the element 6.

(結像レンズ8の他の構成)
上述の第1結像光学系3を構成する結像レンズ8は、図2に示すように、フレネルレンズ8F1,8F2により構成することが好ましい。結像レンズ8は、レンズ面が連続する球面あるいは非球面レンズにて構成することもできるが、図2に示すように、フレネルレンズ8F1,8F2にて構成することが好ましい。結像レンズ8をフレネルレンズ8F1,8F2で構成することで、結像レンズ8の被写体光が通過する部分の厚さを薄くすることができる。結像レンズ8のレンズの厚さを薄くすることで、赤外光がレンズに吸収される量を抑制することができ、第1撮像素子4においてS/Nが好適な赤外光の撮像を行うことができる。
(Other configuration of the imaging lens 8)
The imaging lens 8 constituting the first imaging optical system 3 described above is preferably constituted by Fresnel lenses 8F1 and 8F2, as shown in FIG. The imaging lens 8 can be constituted by a spherical or aspherical lens having a continuous lens surface, but is preferably constituted by Fresnel lenses 8F1 and 8F2, as shown in FIG. By forming the imaging lens 8 with the Fresnel lenses 8F1 and 8F2, the thickness of the portion of the imaging lens 8 through which subject light passes can be reduced. By reducing the thickness of the imaging lens 8, the amount of infrared light absorbed by the lens can be suppressed, and the first image sensor 4 can capture infrared light with a suitable S / N. It can be carried out.

結像レンズ8は、フレネルレンズ8F1,8F2の2枚構成とする必要はなく、1枚構成であってもあるいは3枚以上の構成であってもよいが、被写体光が結像レンズ8を透過する際の総厚ができるだけ薄くなるように、フレネルレンズの枚数や、屈折率等を設定することが好ましい。また、結像レンズ8を構成するフレネルレンズはプラスチック材で形成することが好ましい。フレネルレンズをプラスチック材とすることで、赤外光が結像レンズ8を透過する際に結像レンズ8に吸収される量をより抑制することができる。   The imaging lens 8 does not have to be a two-lens configuration of Fresnel lenses 8F1 and 8F2, but may be a single-lens configuration or a configuration of three or more, but subject light passes through the imaging lens 8. It is preferable to set the number of Fresnel lenses, the refractive index, and the like so that the total thickness at the time is as thin as possible. Further, the Fresnel lens constituting the imaging lens 8 is preferably formed of a plastic material. By using a plastic material for the Fresnel lens, the amount of infrared light absorbed by the imaging lens 8 when passing through the imaging lens 8 can be further suppressed.

(反射ミラー7の支持構造)
上述の図1,2に示す撮像光学系1においては、結像レンズ10は、図示を省略する鏡筒に保持されている。そして、反射ミラー7についても該鏡筒に支持することができる。反射ミラー7の該鏡筒への支持は、たとえば、図1,2に示すように、支持柱12により行うことができる。支持柱12は、光軸X1の周囲に、たとえば、120度間隔で配置される。しかしながら、このように、該鏡筒に支持柱12を用いて反射ミラー7を支持する構成とした場合には、支持柱12の部分で光の回折が生じ、第1撮像素子4で得られる撮像が乱れる虞がある。
(Support structure of reflection mirror 7)
In the imaging optical system 1 shown in FIGS. 1 and 2 described above, the imaging lens 10 is held by a lens barrel (not shown). The reflection mirror 7 can also be supported by the lens barrel. The support of the reflection mirror 7 to the lens barrel can be performed by a support column 12 as shown in FIGS. The support pillars 12 are arranged around the optical axis X1, for example, at intervals of 120 degrees. However, when the reflection column 7 is supported by using the support column 12 in the lens barrel as described above, light is diffracted at the portion of the support column 12 and the image obtained by the first image sensor 4 is obtained. May be disturbed.

そこで、図3に示すように、反射ミラー7を結像レンズ8に対して支持手段としての支持杆13により支持する構成としてもよい。つまり、反射ミラー7の直後、すなわち第1撮像素子4側に隣接するレンズの光軸X1上に前方に伸びる支持杆13を取り付け、この支持杆13に反射ミラー7を支持する。   Therefore, as shown in FIG. 3, the reflection mirror 7 may be supported by the support rod 13 as a support unit with respect to the imaging lens 8. That is, the support rod 13 extending forward is attached immediately after the reflection mirror 7, that is, on the optical axis X <b> 1 of the lens adjacent to the first imaging element 4, and the reflection mirror 7 is supported on the support rod 13.

かかる構成とした場合には、反射ミラー7を支持する支持杆13は、反射ミラー7の後方に配置されるため、第1撮像素子4に入射する光束中に配置されないようにすることができる。このように構成した場合には、支持杆13により被写体光が回折して、第1撮像素子4で得られる撮像が乱れてしまうことを防止できる。   In such a configuration, the support rod 13 that supports the reflection mirror 7 is disposed behind the reflection mirror 7, so that it can be prevented from being disposed in the light beam incident on the first image sensor 4. In such a configuration, it is possible to prevent the subject light from being diffracted by the support rod 13 and disturbing the imaging obtained by the first imaging device 4.

結像レンズ8に反射ミラー7を支持する支持手段は、支持杆13の他に、結像レンズ8に反射ミラー7を支持する台座を設け、この台座に反射ミラー7を取り付けたり、あるいは、反射ミラー7を直接結像レンズ8に取り付ける構成としてもよい。   The supporting means for supporting the reflecting mirror 7 on the imaging lens 8 is provided with a pedestal for supporting the reflecting mirror 7 on the imaging lens 8 in addition to the support rod 13, and the reflecting mirror 7 is attached to the pedestal or reflecting. The mirror 7 may be directly attached to the imaging lens 8.

なお、図1から図3に示す撮像光学系1に備えられる反射ミラー7は、結像レンズ8よりも前側(被写体M側)に配置されている。しかしながら、反射ミラー7は、結像レンズ8の背後、すなわち、結像レンズ8と第1撮像素子4との間に配置してもよい。また、結像レンズ8が複数のレンズから構成される場合には、結像レンズ8を構成するレンズとレンズとの間に、反射ミラー7を配置してもよい。   Note that the reflection mirror 7 provided in the imaging optical system 1 shown in FIGS. 1 to 3 is disposed in front of the imaging lens 8 (subject M side). However, the reflection mirror 7 may be disposed behind the imaging lens 8, that is, between the imaging lens 8 and the first image sensor 4. When the imaging lens 8 is composed of a plurality of lenses, the reflection mirror 7 may be disposed between the lenses constituting the imaging lens 8.

(第2の実施の形態)
(撮像光学系31および撮像装置32の構成)
次に、図4を参照しながら本発明の第2の実施の形態に係る撮像光学系31と、この撮像光学系31を備える撮像装置32の構成について説明する。上述した第1の実施の形態に係る撮像光学系1(図1参照)は、第1結像光学系としての第1結像光学系3のFナンバーが、第2結像光学系としての第2結像光学系5のFナンバーよりも大きい構成である。これに対し、図4に示す本発明の第2の実施の形態に係る撮像光学系31のように、第2結像光学系としての第2結像光学系33のFナンバーが、第1結像光学系としての第1結像光学系34よりも大きな構成としてもよい。なお、以下の説明において、図1に示す第1の実施の形態に係る撮像光学系1と、この撮像光学系1を備える撮像装置2の構成部分と同様の構成部分については同一の符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
(Second Embodiment)
(Configuration of the imaging optical system 31 and the imaging device 32)
Next, the configuration of the imaging optical system 31 according to the second embodiment of the present invention and the imaging device 32 including the imaging optical system 31 will be described with reference to FIG. In the imaging optical system 1 (see FIG. 1) according to the first embodiment described above, the F number of the first imaging optical system 3 as the first imaging optical system is the first number as the second imaging optical system. The configuration is larger than the F-number of the two imaging optical system 5. On the other hand, like the imaging optical system 31 according to the second embodiment of the present invention shown in FIG. 4, the F number of the second imaging optical system 33 as the second imaging optical system is the first result. It is good also as a bigger structure than the 1st image formation optical system 34 as an image optical system. In the following description, the same components as those of the imaging optical system 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 and the imaging apparatus 2 including the imaging optical system 1 are denoted by the same reference numerals. The description is omitted or simplified.

(撮像光学系31の構成)
撮像光学系31は、第1結像光学系34と、第1撮像素子35と、第2結像光学系33と、第2撮像素子36とを有する。第1結像光学系34は、被写体Mからの被写体光を第1撮像素子35に結像させる。第2結像光学系33は、被写体Mと第1撮像素子35との間の光路上に配置される反射ミラー37を有し、この反射ミラー37により反射された被写体光を第2撮像素子36に結像させる。
(Configuration of the imaging optical system 31)
The imaging optical system 31 includes a first imaging optical system 34, a first imaging element 35, a second imaging optical system 33, and a second imaging element 36. The first imaging optical system 34 causes subject light from the subject M to form an image on the first image sensor 35. The second imaging optical system 33 has a reflection mirror 37 disposed on the optical path between the subject M and the first image sensor 35, and the subject light reflected by the reflection mirror 37 is reflected by the second image sensor 36. To form an image.

第1結像光学系34は、結像レンズ38と、赤外線カットフィルター39と、第1撮像素子35とを有し、被写体Mからの被写体光を第1撮像素子35に結像させる。第2結像光学系33は、被写体Mと第1撮像素子35との間の光路上に配置される反射ミラー37と、結像レンズ40を有し、反射ミラー37により反射された被写体光を第2撮像素子36に結像させる。   The first imaging optical system 34 includes an imaging lens 38, an infrared cut filter 39, and a first image sensor 35, and causes subject light from the subject M to be imaged on the first image sensor 35. The second imaging optical system 33 includes a reflection mirror 37 disposed on the optical path between the subject M and the first image sensor 35, and an imaging lens 40. The second imaging optical system 33 reflects subject light reflected by the reflection mirror 37. An image is formed on the second image sensor 36.

反射ミラー37は、中央部に孔部41が形成され、この孔部41内を第1結像光学系34の光軸X1を含む光束が通過するように配置されている。したがって、反射ミラー37の孔部41を通過した被写体光は、第1結像光学系34によって第1撮像素子35に結像される。また、第2結像光学系33は、反射ミラー37の孔部41以外の反射面で反射された被写体光を第2撮像素子36に結像させる。そして、反射ミラー37と第2結像光学系33とは、反射ミラー37と被写体Mとの間において、第2結像光学系33の光軸X2が、第1結像光学系34の光軸X1と一致するように配置されている。   The reflection mirror 37 has a hole 41 formed in the center, and is arranged so that a light beam including the optical axis X1 of the first imaging optical system 34 passes through the hole 41. Therefore, the subject light that has passed through the hole 41 of the reflection mirror 37 is imaged on the first imaging element 35 by the first imaging optical system 34. Further, the second imaging optical system 33 causes the second imaging element 36 to form an image of the subject light reflected by the reflecting surface other than the hole 41 of the reflecting mirror 37. The reflecting mirror 37 and the second imaging optical system 33 are configured such that the optical axis X2 of the second imaging optical system 33 is the optical axis of the first imaging optical system 34 between the reflecting mirror 37 and the subject M. It arrange | positions so that it may correspond with X1.

撮像光学系31は、第1結像光学系34のFナンバーが、たとえば、5.0となるように構成され、また、第2結像光学系33のFナンバーが、たとえば、1.0となるように構成されている。   The imaging optical system 31 is configured such that the F number of the first imaging optical system 34 is, for example, 5.0, and the F number of the second imaging optical system 33 is, for example, 1.0. It is comprised so that it may become.

第1結像光学系34は、結像レンズ38と、赤外線カットフィルター39と、第1撮像素子35とを有し、結像レンズ38は、ガラス、あるいはプラスチック等、可視光を透過することができる材質により形成されている。また、赤外線カットフィルター39は、概ね700nmを超える波長の光を透過しない特性を有している。そして、第2撮像素子36は、概ね700nm以下の波長の光を撮像することができるCCDにより構成される。   The first imaging optical system 34 includes an imaging lens 38, an infrared cut filter 39, and a first imaging device 35. The imaging lens 38 can transmit visible light such as glass or plastic. It is made of a material that can be used. The infrared cut filter 39 has a characteristic that does not transmit light having a wavelength of more than 700 nm. The second image sensor 36 is constituted by a CCD that can image light having a wavelength of approximately 700 nm or less.

一方、第2結像光学系33は、反射ミラー37と、結像レンズ40と、可視光カットフィルター42と、第2撮像素子36とを有し、結像レンズ40は、赤外光の吸収がガラスよりも少ないプラスチックレンズにより構成される。可視光カットフィルター42は、概ね700nm以下の波長の光を透過しない特性を有している。そして、第2撮像素子36は、概ね700nmを超える波長の光を撮像することができるCCDにより構成される。第2撮像素子36は、700nmを超える波長の光を撮像することができればよく、700nm以下の波長の光も撮像できるものであってもよい。   On the other hand, the second imaging optical system 33 includes a reflection mirror 37, an imaging lens 40, a visible light cut filter 42, and a second imaging element 36. The imaging lens 40 absorbs infrared light. Is made up of plastic lenses that are fewer than glass. The visible light cut filter 42 has a characteristic of not transmitting light having a wavelength of approximately 700 nm or less. The second image sensor 36 is composed of a CCD that can image light having a wavelength of more than 700 nm. The second imaging element 36 only needs to be able to image light with a wavelength exceeding 700 nm, and may be capable of imaging light with a wavelength of 700 nm or less.

反射ミラー37には、第1結像光学系34の光軸X1上の光を含む光束を結像レンズ38の側に通過させる孔部41が形成され、孔部41の周囲の反射面で被写体光の一部を第1結像光学系34の光路と異なる光路を構成する結像レンズ40の側に反射させる。反射ミラー37と第2結像光学系33とは、反射ミラー37と被写体Mとの間において、第2結像光学系33の光軸X2が、第1結像光学系34の光軸X1と一致するように配置されている。   The reflection mirror 37 is formed with a hole 41 that allows a light beam including light on the optical axis X1 of the first imaging optical system 34 to pass to the imaging lens 38 side, and a subject is reflected by a reflection surface around the hole 41. A part of the light is reflected toward the imaging lens 40 that forms an optical path different from the optical path of the first imaging optical system 34. The reflection mirror 37 and the second imaging optical system 33 are arranged such that the optical axis X2 of the second imaging optical system 33 is between the reflection mirror 37 and the subject M and the optical axis X1 of the first imaging optical system 34. They are arranged to match.

(画像処理部50の構成)
撮像装置32は、上述の撮像光学系31に加えて、画像処理部50を備える。第1の実施の形態における撮像装置2においては、信号処理部22およびフレームメモリー24は、第2結像光学系5の側に接続されると共に、信号処理部21およびフレームメモリー23は、第1結像光学系3の側に接続されているのに対し、画像処理部50においては、信号処理部22およびフレームメモリー24は、第1結像光学系34に接続され、また、信号処理部21およびフレームメモリー23は、第2結像光学系33に接続されている点で相違するが、他の構成については、同様の構成であるのでその説明を省略する。
(Configuration of the image processing unit 50)
The imaging device 32 includes an image processing unit 50 in addition to the imaging optical system 31 described above. In the imaging device 2 in the first embodiment, the signal processing unit 22 and the frame memory 24 are connected to the second imaging optical system 5 side, and the signal processing unit 21 and the frame memory 23 are the first one. In contrast to being connected to the imaging optical system 3 side, in the image processing unit 50, the signal processing unit 22 and the frame memory 24 are connected to the first imaging optical system 34, and the signal processing unit 21. The frame memory 23 differs from the frame memory 23 in that it is connected to the second imaging optical system 33. However, the other configurations are the same as those of the second imaging optical system 33, and the description thereof will be omitted.

(第2の実施の形態の主な効果)
上述のように撮像光学系31は、第1撮像素子35と、この第1撮像素子35上に被写体光を結像させる第1結像光学系34とを有している。また、撮像光学系31は、第2撮像素子36と、この第2撮像素子36上に被写体光を結像させる第2結像光学系33とを有している。第2結像光学系33は、第1結像光学系34の光軸X1上に配置される反射ミラー37を有している。
(Main effects of the second embodiment)
As described above, the imaging optical system 31 includes the first imaging element 35 and the first imaging optical system 34 that forms an image of subject light on the first imaging element 35. The imaging optical system 31 has a second imaging element 36 and a second imaging optical system 33 that forms an image of subject light on the second imaging element 36. The second imaging optical system 33 has a reflection mirror 37 disposed on the optical axis X1 of the first imaging optical system 34.

反射ミラー37は、中央部に孔部41が形成され、この孔部41内を第1結像光学系34の光軸X1が通過するように配置されている。すなわち、孔部41は、第1結像光学系34の光軸X1を含む光束が通過する部分に形成されている。したがって、反射ミラー37の孔部41を通過した被写体光は、第1結像光学系34によって第1撮像素子35に結像される。   The reflection mirror 37 is formed with a hole 41 at the center, and the optical axis X1 of the first imaging optical system 34 passes through the hole 41. That is, the hole 41 is formed in a portion through which a light beam including the optical axis X1 of the first imaging optical system 34 passes. Therefore, the subject light that has passed through the hole 41 of the reflection mirror 37 is imaged on the first imaging element 35 by the first imaging optical system 34.

また、第2結像光学系33は、反射ミラー37の孔部41以外の反射面で反射された被写体光を第2撮像素子36に結像させる。そして、反射ミラー37と第2結像光学系33とは、反射ミラー37と被写体Mとの間において、第2結像光学系33の光軸X2が、第1結像光学系34の光軸X1とが一致するように配置されている。すなわち、第1結像光学系34と第2結像光学系33とは、反射ミラー37よりも被写体M側において同一光軸の光学系を構成している。反射ミラー37は、被写体光を分離し、第1結像光学系34の光路とは異なる光路の光として反射させる。つまり、第2結像光学系33は、反射ミラー37により反射され折り曲げられた光路上に配置され、第1結像光学系34の光路外に配置されている。第1結像光学系34は、Fナンバーが5.0であり、第2結像光学系33はFナンバーが1.0とされている。   Further, the second imaging optical system 33 causes the second imaging element 36 to form an image of the subject light reflected by the reflecting surface other than the hole 41 of the reflecting mirror 37. The reflecting mirror 37 and the second imaging optical system 33 are configured such that the optical axis X2 of the second imaging optical system 33 is the optical axis of the first imaging optical system 34 between the reflecting mirror 37 and the subject M. It arrange | positions so that X1 may correspond. In other words, the first imaging optical system 34 and the second imaging optical system 33 constitute an optical system having the same optical axis on the subject M side with respect to the reflection mirror 37. The reflection mirror 37 separates subject light and reflects it as light having an optical path different from the optical path of the first imaging optical system 34. That is, the second imaging optical system 33 is disposed on the optical path reflected and bent by the reflecting mirror 37 and is disposed outside the optical path of the first imaging optical system 34. The first imaging optical system 34 has an F number of 5.0, and the second imaging optical system 33 has an F number of 1.0.

上述のように、撮像光学系31を構成することで、第1撮像素子35と第2撮像素子36とにおいて、同一光軸の被写体像を撮像することができる。すなわち、第1撮像素子35と第2撮像素子36とにおいて、視差のない被写体像を撮像することができる。そのため、たとえば、画像処理部20において、第1撮像素子35と第2撮像素子36とにおいて撮像された画像を合成する際に、視差のない状態で両画像を合成することができる。   As described above, by configuring the imaging optical system 31, the first imaging element 35 and the second imaging element 36 can capture a subject image having the same optical axis. That is, the first image sensor 35 and the second image sensor 36 can capture a subject image without parallax. Therefore, for example, when the image processing unit 20 combines images captured by the first image sensor 35 and the second image sensor 36, both images can be combined without any parallax.

第2結像光学系33は、Fナンバーが1.0とされている。一般に、可視光の撮影においては、結像の明るさと、レンズによる光学収差の補正を適正に行う観点から、Fナンバーは2.0〜6.0とされることが多い。これに対し、第2結像光学系33はFナンバーを1.0とすることで、第2撮像素子36に入射する光量を多くすることができる。また、第2撮像素子36の光入射側には、可視光カットフィルター9が配置されている。   The second imaging optical system 33 has an F number of 1.0. In general, in photographing visible light, the F number is often set to 2.0 to 6.0 from the viewpoint of appropriately correcting the brightness of the image and correcting the optical aberration by the lens. On the other hand, the second imaging optical system 33 can increase the amount of light incident on the second imaging element 36 by setting the F number to 1.0. A visible light cut filter 9 is disposed on the light incident side of the second image sensor 36.

一般に、光検出部にSiを用いたCCDやCMOSは、可視光に比べて赤外光に対する感度が低い。しかしながら、第2結像光学系33のFナンバーを1.0とすることで、第2撮像素子36に被写体光の光量を多くすることで赤外光の入射量も多くすることができる。さらに、第2結像光学系33には可視光カットフィルター42が備えられている。そのため、第2撮像素子36に撮像される赤外光の画像のS/Nを良好なものとすることができる。なお、第2撮像素子36が赤外光を受光できる撮像素子であれば、撮像素子の形態に拘わらず、上述の撮像光学系31を用いることで、第2撮像素子36に撮像される赤外光の画像のS/Nを向上させることができる。   In general, CCDs and CMOSs using Si for the light detection section are less sensitive to infrared light than visible light. However, by setting the F number of the second imaging optical system 33 to 1.0, the amount of incident light incident on the second image sensor 36 can be increased by increasing the amount of subject light. Further, the second imaging optical system 33 is provided with a visible light cut filter 42. Therefore, the S / N of the infrared light image picked up by the second image sensor 36 can be improved. In addition, if the 2nd image pick-up element 36 is an image pick-up element which can receive infrared light, the infrared imaged by the 2nd image pick-up element 36 is used by using the above-mentioned image pick-up optical system 31 irrespective of the form of an image pick-up element. The S / N of a light image can be improved.

なお、第2撮像素子36に感度波長域に可視光を含まない撮像素子を用いる場合には、可視光カットフィルター42を配置しなくてもよい。たとえば、光検出部にInGaAs(インジウムガリウムヒ化物)を用いた撮像素子については、光の検出波長域を0.8μm〜2.6μmとすることができ、この場合には可視光カットフィルター42を配置しなくてもよい。また、光検出部にPbS(硫化鉛)を用いた撮像素子については、光の検出波長域を1.0μm〜3.5μmとすることができ、この場合にも可視光カットフィルター42を配置しない構成とすることができる。   In addition, when using the image pick-up element which does not contain visible light in the sensitivity wavelength range for the 2nd image pick-up element 36, the visible light cut filter 42 does not need to be arrange | positioned. For example, for an image sensor using InGaAs (indium gallium arsenide) for the light detection portion, the light detection wavelength range can be set to 0.8 μm to 2.6 μm. In this case, the visible light cut filter 42 is provided. It is not necessary to arrange. In addition, for an image sensor using PbS (lead sulfide) in the light detection unit, the light detection wavelength range can be 1.0 μm to 3.5 μm, and in this case, the visible light cut filter 42 is not disposed. It can be configured.

また、結像レンズ40は、プラスチック材により形成されている。プラスチック材としては、たとえば、ポリエチレン、PET (ポリエチレンテレフタレート)、アクリル等を用いることができる。プラスチック材は、ガラスに比べて赤外線の吸収率が少ない。したがって、結像レンズ40をプラスチックレンズとすることで、被写体光が結像レンズ40を通過する際の赤外光の損失を抑えることができ、第2撮像素子36に入射する赤外光の光量の増加を図ることができる。その結果、第2撮像素子36においてS/Nが良好な赤外線画像を撮像することができる。なお、結像レンズ40が複数枚のレンズにより構成される場合には、少なくとも1枚のレンズについてプラスチック材にて構成することで、被写体光が結像レンズ40を通過する際の赤外光の損失を抑えることができる。   The imaging lens 40 is made of a plastic material. As the plastic material, for example, polyethylene, PET (polyethylene terephthalate), acrylic, or the like can be used. Plastic materials have less infrared absorption than glass. Therefore, by forming the imaging lens 40 as a plastic lens, loss of infrared light when subject light passes through the imaging lens 40 can be suppressed, and the amount of infrared light incident on the second image sensor 36 is reduced. Can be increased. As a result, the second image sensor 36 can capture an infrared image with a good S / N. When the imaging lens 40 is composed of a plurality of lenses, at least one lens is made of a plastic material so that the infrared light when the subject light passes through the imaging lens 40 can be reduced. Loss can be suppressed.

ところで、赤外光は可視光に比べて光エネルギーが小さく、撮像素子に撮像される画像のコントラストが可視光に比べて低くなり易い。そのため、第2結像光学系33のFナンバーを小さくすることにより、第2撮像素子36の赤外光の結像に収差が発生し易くなったとしても、観察される画像(撮像画像)においては収差が目立ち難くなる。また、可視光に比べて光エネルギーが小さい赤外光を受光する撮像素子については、ノイズ対策を行う必要から、光検出部の構造や光検出部に用いられる材料等に制限が生じ光検出部の微細化が難しい。たとえば、可視光用のCCDと赤外光用のボロメータとでは、前者が画素ピッチ1.2μm程度であるのに対し、後者は画素ピッチ24μm程度であり画素ピッチが大きく異なる。画素ピッチの値は光検出部に使用される材料等により前後するが、赤外光用のボロメータは、可視光用のCCDに比べて画素ピッチが十数倍以上大きい。そのため、第2結像光学系33のFナンバーを小さくすることにより、第2撮像素子36の赤外光の結像に収差が発生し易くなったとしても、観察される画像においては収差が目立ち難い。したがって、第1結像光学系34に比べてFナンバーが小さな第2結像光学系33に赤外光を透過させることで、S/Nを大きくしながら収差の影響をできるだけ小さく抑えた状態の赤外光の画像を観察することができる。   By the way, infrared light has smaller light energy than visible light, and the contrast of an image picked up by the image sensor tends to be lower than that of visible light. Therefore, even if aberrations are likely to occur in the infrared imaging of the second imaging element 36 by reducing the F number of the second imaging optical system 33, the observed image (captured image) The aberration becomes inconspicuous. In addition, for an image sensor that receives infrared light having a light energy smaller than that of visible light, it is necessary to take measures against noise, so that the structure of the light detection unit and the material used for the light detection unit are limited, and the light detection unit It is difficult to miniaturize. For example, in the CCD for visible light and the bolometer for infrared light, the former has a pixel pitch of about 1.2 μm, whereas the latter has a pixel pitch of about 24 μm, and the pixel pitch is greatly different. Although the value of the pixel pitch varies depending on the material used for the light detection unit, the bolometer for infrared light has a pixel pitch that is more than a dozen times larger than that of the CCD for visible light. Therefore, even if the second imaging optical system 33 has a small F-number and aberrations tend to occur in the infrared imaging of the second image sensor 36, the aberration is conspicuous in the observed image. hard. Therefore, by transmitting infrared light through the second imaging optical system 33 having a smaller F-number than the first imaging optical system 34, the influence of aberration is suppressed as much as possible while increasing the S / N. An infrared image can be observed.

特に、10μm〜1000μmの波長の赤外線に対して撮像光学系31を用い、第2撮像素子36の画素ピッチを20μm〜30μmとした場合には、波長が長いにも拘わらず、S/Nの低下を効果的に防ぎながら収差についてもできるだけ小さく抑えた状態の赤外光の画像を観察することができる。   In particular, when the imaging optical system 31 is used for infrared rays having a wavelength of 10 μm to 1000 μm and the pixel pitch of the second imaging element 36 is set to 20 μm to 30 μm, the S / N is reduced even though the wavelength is long. It is possible to observe an infrared light image in which the aberration is suppressed as much as possible while effectively preventing the aberration.

一方、可視光は赤外光に比べて光エネルギーが大きく、撮像素子に撮像される画像のコントラストが赤外光に比べて高くなり易い。コントラストが高くなることで、第2結像光学系33で発生する収差は観察される画像において目立ち易くなる。また、撮像素子は、上述のように、赤外光を受光できる構成に比べて可視光を受光できる構成の方が画素ピッチを小さくし易い反面、撮像素子の画素ピッチが小さくなるに従って観察される画像においては収差が目立ち易くなる。   On the other hand, visible light has higher light energy than infrared light, and the contrast of an image picked up by the image sensor is likely to be higher than infrared light. By increasing the contrast, the aberration generated in the second imaging optical system 33 is easily noticeable in the observed image. In addition, as described above, the configuration in which visible light can be received is easier to reduce the pixel pitch than the configuration in which infrared light can be received, as described above, but is observed as the pixel pitch of the imaging device decreases. In the image, the aberration becomes conspicuous.

しかしながら、第1結像光学系34は、Fナンバーが5.0であり、可視光について収差の発生を抑え易い光学系に構成されている。したがって、赤外光に比べて可視光に対する感度の高い撮像素子として、たとえば、光検出部にSiを用いたCCDやCMOSを第1撮像素子35に用いた場合であっても、第1結像光学系34のFナンバーを5.0とした場合には、収差が好適に抑制され、収差の影響が抑えられた可視光の画像を撮像することができる。   However, the first imaging optical system 34 has an F number of 5.0 and is configured as an optical system that easily suppresses the occurrence of aberrations with respect to visible light. Therefore, even when a CCD or CMOS using Si for the light detection unit is used for the first imaging device 35 as an imaging device having higher sensitivity to visible light than infrared light, the first imaging is performed. When the F number of the optical system 34 is set to 5.0, it is possible to capture a visible light image in which the aberration is suitably suppressed and the influence of the aberration is suppressed.

上述のように、赤外光を結像させる第2結像光学系33については、Fナンバーを1.0とすることで、撮像される画像のS/Nを良好なものとすることができ、可視光を結像させる第1結像光学系34については、Fナンバーを5.0とすることで、収差の発生を抑えた画像を撮像することができる。すなわち、第2結像光学系33のFナンバーは、第2撮像素子36で赤外光の撮像を好適に行うことができるように光量を優先した値に設定され、第1結像光学系34のFナンバーは、可視光について収差の発生が抑え易さを優先とした値に設定する。   As described above, with respect to the second imaging optical system 33 that forms an image of infrared light, the S / N of the captured image can be improved by setting the F number to 1.0. The first imaging optical system 34 that forms an image of visible light can capture an image in which the occurrence of aberration is suppressed by setting the F number to 5.0. That is, the F number of the second imaging optical system 33 is set to a value giving priority to the amount of light so that infrared imaging can be suitably performed by the second imaging element 36, and the first imaging optical system 34. The F number is set to a value that prioritizes the ease of suppressing the occurrence of aberrations for visible light.

具体的には、第2結像光学系33については、Fナンバーを1.5以下、0.5以上とすることで、第2撮像素子36において赤外光について、S/Nが好適な撮像を行うことができる。Fナンバーが1.5を超えると、撮像のS/Nが十分に確保できないという問題が生じ易く、Fナンバーが0.5未満となると、観察される画像に収差の影響が目立ち易くなるという問題が生じる。Fナンバーを1.2以下、0.8以上とすることで、観察される画像に収差の影響を目立ち難くしながらS/Nについてもより好適に向上させることができる。   Specifically, with respect to the second imaging optical system 33, by setting the F number to 1.5 or less and 0.5 or more, the second image pickup device 36 has an image pickup with suitable S / N for infrared light. It can be performed. When the F number exceeds 1.5, the problem that the S / N of imaging cannot be sufficiently secured is likely to occur, and when the F number is less than 0.5, the effect of the aberration becomes conspicuous on the observed image. Occurs. By setting the F number to 1.2 or less and 0.8 or more, it is possible to improve S / N more suitably while making the influence of the aberration less noticeable in the observed image.

また、第1結像光学系34については、Fナンバーを2.0以上、8.0以下とすることで、第1撮像素子35において可視光について、収差とS/Nが好適に抑えられた撮像を行うことができる。Fナンバーが8.0を超えると、画像が暗くなりすぎ撮像のS/Nが十分に確保できないという問題が生じ易く、Fナンバーが2.0未満となると、収差の補正が難しくなるという問題が生じ易い。Fナンバーを3.0以上、7.0以下とすることで、収差を好適に抑制しながらS/Nについてもより好適に向上させることができる。   In addition, with respect to the first imaging optical system 34, by setting the F number to be 2.0 or more and 8.0 or less, the aberration and S / N of the first imaging element 35 are suitably suppressed for visible light. Imaging can be performed. If the F-number exceeds 8.0, the image becomes too dark, and a problem that the S / N for imaging cannot be sufficiently secured is likely to occur. If the F-number is less than 2.0, it is difficult to correct aberrations. It is likely to occur. By setting the F number to 3.0 or more and 7.0 or less, it is possible to improve S / N more suitably while appropriately suppressing aberration.

なお、第2撮像素子36の赤外光に対する感度や、赤外光の像に対して要求される像の収差の程度、および、第1撮像素子35の可視光に対する感度や、可視光の像に対して要求される像の収差の程度により、第2撮像素子36および撮像光学系31に要求されるFナンバーは異なるが、概ね上記の範囲とすることで、第2撮像素子36で得られる赤外光の撮像と第1撮像素子35で得られる可視光の撮像とを好適なものとし易い。   Note that the sensitivity of the second image sensor 36 to infrared light, the degree of image aberration required for an infrared light image, the sensitivity of the first image sensor 35 to visible light, and the visible light image. The F number required for the second image sensor 36 and the image pickup optical system 31 varies depending on the degree of aberration of the image required for the above, but can be obtained by the second image sensor 36 within the above range. Infrared light imaging and visible light imaging obtained by the first image sensor 35 are likely to be suitable.

また、反射ミラー37よりも被写体M側においては、第2結像光学系33と第1結像光学系34は同一光軸であるため、第2撮像素子36で得られた画像と第1撮像素子35で得られた画像とに視差が発生しないようにすることができる。   Further, on the subject M side with respect to the reflection mirror 37, the second imaging optical system 33 and the first imaging optical system 34 have the same optical axis, so that the image obtained by the second imaging element 36 and the first imaging are obtained. It is possible to prevent parallax from occurring in the image obtained by the element 35.

上述の第2結像光学系33の結像レンズ40についても、少なくとも1枚についてはフレネルレンズとすることが好ましい。フレネルレンズで構成することで、結像レンズ40の被写体光が通過する部分の厚さを薄くすることができ、第2撮像素子36においてS/Nが好適な赤外光の撮像を行うことができる。また、フレネルレンズをプラスチック材とすることで、赤外光が結像レンズ40を透過する際に結像レンズ40に吸収される量をより抑制することができる。   Regarding the imaging lens 40 of the second imaging optical system 33 described above, it is preferable that at least one lens is a Fresnel lens. By configuring with the Fresnel lens, the thickness of the portion of the imaging lens 40 through which the subject light passes can be reduced, and the second imaging element 36 can perform imaging of infrared light with suitable S / N. it can. In addition, by using a plastic material for the Fresnel lens, it is possible to further suppress the amount of infrared light absorbed by the imaging lens 40 when it passes through the imaging lens 40.

なお、反射ミラー37については、凹面鏡あるいは凸面鏡としてもよい。反射ミラー37を凹面鏡あるいは凸面鏡として、結像レンズ40の結像機能の一部あるいは全部を、反射ミラー37に担わせることで、結像レンズ40の枚数を減らすことが可能となる。光を反射する反射ミラー37において損失される光量は、光を透過するレンズに比べて小さい。したがって、結像レンズ40の結像機能の全部あるいは一部を、反射ミラー37に担わせることで、結像レンズ40の枚数を減らすことが可能となり、第2撮像素子36への赤外光の入射量の低下を抑えることができる。   The reflection mirror 37 may be a concave mirror or a convex mirror. By using the reflecting mirror 37 as a concave mirror or a convex mirror and causing the reflecting mirror 37 to bear a part or all of the imaging function of the imaging lens 40, the number of imaging lenses 40 can be reduced. The amount of light lost in the reflection mirror 37 that reflects light is smaller than that of a lens that transmits light. Therefore, it is possible to reduce the number of imaging lenses 40 by having the reflection mirror 37 bear all or part of the imaging function of the imaging lens 40, and the infrared light to the second image sensor 36 can be reduced. A decrease in incident amount can be suppressed.

(撮像光学系1および撮像光学系31の他の実施の形態)
一般に、赤外光は、概ね、波長0.7−2.5μmの光を近赤外光、波長2.5−4μmの光を中赤外光、波長4−1000μmの光を遠赤外光という。アルミニウム(Al)、金(Au)について、光の波長に対する屈折率(n)、消衰係数(k)、反射率(R)は、図5,6に示すようになっている。また、ゲルマニウム(Ge)、シリコン(Si)について、光の波長に対する屈折率(n)、消衰係数(k)は、図7,8に示すようになっている。
(Another embodiment of the imaging optical system 1 and the imaging optical system 31)
In general, infrared light generally includes near-infrared light having a wavelength of 0.7-2.5 μm, mid-infrared light having a wavelength of 2.5-4 μm, and far-infrared light having a wavelength of 4-1000 μm. That's it. For aluminum (Al) and gold (Au), the refractive index (n), extinction coefficient (k), and reflectance (R) with respect to the wavelength of light are as shown in FIGS. For germanium (Ge) and silicon (Si), the refractive index (n) and extinction coefficient (k) with respect to the wavelength of light are as shown in FIGS.

図5,6に示すように、Al、Auは、近赤外光以上の波長域の光、すなわち赤外光全域に亘って、可視光に対する反射率よりも高い反射率を有している。したがって、図4に示す第2の実施の形態に係る撮像光学系31に備えられる反射ミラー37の反射面をAl、あるいはAuにより形成することが好ましい。かかる構成とすることで、反射ミラー37で反射し第2撮像素子36に入射する被写体光の赤外光の光量の増加を図ることができる。   As shown in FIGS. 5 and 6, Al and Au have a reflectance higher than the reflectance for visible light over light in a wavelength region equal to or greater than near-infrared light, that is, over the entire infrared light region. Therefore, it is preferable that the reflection surface of the reflection mirror 37 provided in the imaging optical system 31 according to the second embodiment shown in FIG. 4 is made of Al or Au. With such a configuration, it is possible to increase the amount of infrared light of the subject light reflected by the reflection mirror 37 and incident on the second image sensor 36.

図7に示すように、Geは、中赤外光および略30〜60μmの波長域を除く遠赤外光に対する消衰係数が、可視光および近赤外光に対する消衰係数に比べて小さい。また、図8に示すように、Siは、中赤外光および遠赤外光に対する消衰係数が、可視光および近赤外光に対する消衰係数に比べて小さい。   As shown in FIG. 7, Ge has a smaller extinction coefficient for mid-infrared light and far-infrared light except for a wavelength range of approximately 30 to 60 μm, compared to extinction coefficients for visible light and near-infrared light. Further, as shown in FIG. 8, Si has a smaller extinction coefficient for mid-infrared light and far-infrared light than that for visible light and near-infrared light.

したがって、図1,2,3に示す結像レンズ8をGeあるいはSiにより形成することで、結像レンズ8をガラスあるいは樹脂により形成する場合に比べて、中赤外光および遠赤外光が結像レンズ8を透過する際の損失量の低減を図ることができ(Geについては、略30〜60μmの波長域の光を除く)、第1撮像素子4に入射する被写体光の中赤外光および遠赤外光の光量の増加を図ることができる(Geについては、略30〜60μmの波長域の光を除く)。また、GeおよびSiは可視光については透過率が低いため、結像レンズ8をGeあるいはSiにより形成することで、可視光カットフィルター9を備えない構成とすることもできる。   Therefore, when the imaging lens 8 shown in FIGS. 1, 2 and 3 is formed of Ge or Si, compared with the case where the imaging lens 8 is formed of glass or resin, mid-infrared light and far-infrared light are generated. It is possible to reduce the amount of loss when passing through the imaging lens 8 (excluding light having a wavelength range of about 30 to 60 μm for Ge), and mid-infrared light of subject light incident on the first image sensor 4. The amount of light and far-infrared light can be increased (excluding light having a wavelength range of about 30 to 60 μm for Ge). Further, since Ge and Si have low transmittance for visible light, the imaging lens 8 may be formed of Ge or Si so that the visible light cut filter 9 is not provided.

また、図4に示す結像レンズ40をGeあるいはSiにより形成することで、結像レンズ40をガラスあるいは樹脂により形成する場合に比べて、中赤外光および遠赤外光が結像レンズ40を透過する際の損失量の低減を図ることができ(Geについては、略30〜60μmの波長域の光を除く)、第2撮像素子36に入射する被写体光の中赤外光および遠赤外光の光量の増加を図ることができる(Geについては、略30〜60μmの波長域の光を除く)。また、GeおよびSiは可視光については透過率が低いため、結像レンズ8をGeあるいはSiにより形成することで、可視光カットフィルター42を備えない構成とすることもできる。   Further, by forming the imaging lens 40 shown in FIG. 4 with Ge or Si, the mid-infrared light and the far-infrared light can be generated by the imaging lens 40 as compared with the case where the imaging lens 40 is formed with glass or resin. Can be reduced (excluding light in the wavelength range of approximately 30 to 60 μm for Ge), and mid-infrared light and far-red light of subject light incident on the second image sensor 36 can be reduced. The amount of external light can be increased (excluding light in the wavelength range of about 30 to 60 μm for Ge). Further, since Ge and Si have low transmittance for visible light, the visible light cut filter 42 may not be provided by forming the imaging lens 8 with Ge or Si.

撮像光学系1の第1撮像素子4に、たとえば、ボロメータ型赤外線撮像素子を用いることで20〜1000μmの波長域の遠赤外光を撮像することができる。   By using, for example, a bolometer-type infrared imaging device as the first imaging device 4 of the imaging optical system 1, it is possible to image far infrared light in a wavelength region of 20 to 1000 μm.

上述したように、撮像光学系1の第1結像光学系3は、被写体光の中の赤外光について、第1撮像素子4への入射量の増大が図られた構成とされている。したがって、第1撮像素子4に上述の遠赤外光(20〜1000μmの波長域)を受光することができる撮像素子を用いることで、第1撮像素子4で得られる遠赤外光の撮像のS/Nを効果的に向上させることができる。特に、結像レンズ8をフレネルレンズとし、かつ、GeあるいはSiにて形成することで、第1撮像素子4で得られる遠赤外光の画像のS/Nをより効果的に向上させることができる。   As described above, the first imaging optical system 3 of the imaging optical system 1 is configured to increase the amount of incident light on the first imaging element 4 with respect to infrared light in the subject light. Therefore, by using the above-described far-infrared light (wavelength range of 20 to 1000 μm) for the first image sensor 4, the far-infrared light obtained by the first image sensor 4 can be captured. S / N can be improved effectively. In particular, the S / N of the far-infrared light image obtained by the first imaging device 4 can be more effectively improved by forming the imaging lens 8 as a Fresnel lens and using Ge or Si. it can.

また、撮像光学系31の第2撮像素子36についても同様に、遠赤外光に対して感度が高い、上述のボロメータ型赤外線撮像素子を使用してもよい。撮像光学系31の第2結像光学系33は、上述したように、被写体光の中の赤外光について、第2撮像素子36への入射量の増大が図られた構成とされている。つまり、第2撮像素子36に上述の遠赤外光(20〜1000μmの波長域)を受光することができる撮像素子を用いることで、第2撮像素子36で得られる遠赤外光の撮像のS/Nを効果的に向上させることができる。特に、結像レンズ40をフレネルレンズとし、かつ、GeあるいはSiにて形成することで、第2撮像素子36で得られる遠赤外光の撮像のS/Nをより効果的に向上させることができる。   Similarly, the above-described bolometer-type infrared imaging device having high sensitivity to far infrared light may be used for the second imaging device 36 of the imaging optical system 31. As described above, the second imaging optical system 33 of the imaging optical system 31 is configured to increase the incident amount of the infrared light in the subject light to the second imaging element 36. That is, by using the above-described far-infrared light (wavelength range of 20 to 1000 μm) as the second image sensor 36, the far-infrared light imaging obtained by the second image sensor 36 can be performed. S / N can be improved effectively. In particular, by forming the imaging lens 40 as a Fresnel lens and using Ge or Si, it is possible to more effectively improve the S / N of far-infrared light imaging obtained by the second imaging element 36. it can.

なお、上述した撮像光学系1,31および撮像装置2,32は、フローサイトメトリーの検出光学系に使用することができる。   The imaging optical systems 1 and 31 and the imaging devices 2 and 32 described above can be used for a flow cytometry detection optical system.

1,31 … 撮像光学系。
2,32 … 撮像装置
3 … 第1結像光学系
4 … 第1撮像素子
5 … 第2結像光学系
6 … 第2撮像素子
7,37 … 反射ミラー
8F1,8F2 … フレネルレンズ
41 … 孔部
M … 被写体
X2 … 光軸
X1,X2 … 光路
1,31 ... Imaging optical system.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 2,32 ... Imaging device 3 ... 1st imaging optical system 4 ... 1st imaging device 5 ... 2nd imaging optical system 6 ... 2nd imaging device 7, 37 ... Reflection mirror 8F1, 8F2 ... Fresnel lens 41 ... Hole M ... Subject X2 ... Optical axis X1, X2 ... Optical path

Claims (8)

第1撮像素子と、
前記第1撮像素子上に被写体光を結像させる第1結像光学系と、
前記第1結像光学系の光路外に配置される第2撮像素子と、
被写体と前記第1撮像素子との間の光路上に配置される反射ミラーにより前記被写体光を分離し、前記第2撮像素子上に、前記分離された前記被写体光を結像させる第2結像光学系と、
を有し、
前記第1結像光学系と、前記第2結像光学系とは、前記被写体と前記反射ミラーとの間の光軸が同一光軸であり、かつ、少なくとも一方の光学系のFナンバーは1.5以下であり、前記Fナンバーが1.5以下の光学系に配置される撮像素子は、赤外光を撮像することができる撮像素子である、
ことを特徴とする撮像光学系。
A first image sensor;
A first imaging optical system that forms an image of subject light on the first image sensor;
A second imaging element disposed outside the optical path of the first imaging optical system;
A second imaging that separates the subject light by a reflecting mirror disposed on an optical path between the subject and the first image sensor and forms the separated subject light on the second image sensor. Optical system,
Have
In the first imaging optical system and the second imaging optical system, the optical axis between the subject and the reflection mirror is the same optical axis, and the F number of at least one of the optical systems is 1. .5 or less, and the image sensor arranged in the optical system having the F number of 1.5 or less is an image sensor capable of imaging infrared light.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1に記載の撮像光学系において、
前記反射ミラーの反射面は、前記第1結像光学系の光軸上に配置され、
前記第1撮像素子には、前記反射ミラーの周囲を通過した光が撮像される、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to claim 1,
The reflecting surface of the reflecting mirror is disposed on the optical axis of the first imaging optical system,
The first imaging element captures an image of light that has passed around the reflection mirror.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1に記載の撮像光学系において、
前記反射ミラーは、前記第1結像光学系の光軸を含む光束が通過する孔部が形成され、
前記第1撮像素子には、前記孔部を通過した光が撮像される、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to claim 1,
The reflection mirror is formed with a hole through which a light beam including the optical axis of the first imaging optical system passes,
The first image sensor captures an image of light that has passed through the hole.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1から3のいずれか1項に記載の撮像光学系において、
前記赤外光を撮像することができる撮像素子は、遠赤外光を撮像できる撮像素子である、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to any one of claims 1 to 3,
The imaging device capable of imaging the infrared light is an imaging device capable of imaging far-infrared light.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1から4のいずれか1項に記載の撮像光学系において、
前記赤外光を撮像することができる撮像素子が配置される結像光学系を構成するレンズの少なくとも1つは、プラスチックレンズである、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to any one of claims 1 to 4,
At least one of the lenses constituting the imaging optical system in which an imaging device capable of imaging the infrared light is disposed is a plastic lens.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1から5に記載の撮像光学系において、
前記赤外光を撮像することができる撮像素子が配置される結像光学系を構成するレンズの少なくとも1つは、フレネルレンズである、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to claim 1,
At least one of the lenses constituting the imaging optical system in which an imaging device capable of imaging the infrared light is disposed is a Fresnel lens.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項2に記載の撮像光学系において、
前記第1撮像素子は、赤外光を撮像することができる撮像素子であり、
前記反射ミラーは、前記第1結像光学系を構成するレンズに支持されている、
ことを特徴とする撮像光学系。
The imaging optical system according to claim 2,
The first image sensor is an image sensor capable of imaging infrared light,
The reflection mirror is supported by a lens constituting the first imaging optical system.
An imaging optical system characterized by the above.
請求項1から7のいずれか1項に記載の撮像光学系を備えることを特徴とする撮像装置。   An imaging apparatus comprising the imaging optical system according to claim 1.
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