JP2013238576A - 変角分光イメージング測定方法およびその装置 - Google Patents

変角分光イメージング測定方法およびその装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2013238576A
JP2013238576A JP2012126389A JP2012126389A JP2013238576A JP 2013238576 A JP2013238576 A JP 2013238576A JP 2012126389 A JP2012126389 A JP 2012126389A JP 2012126389 A JP2012126389 A JP 2012126389A JP 2013238576 A JP2013238576 A JP 2013238576A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample surface
imaging
dimensional image
measurement
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012126389A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5475057B2 (ja
Inventor
Masayuki Osumi
雅之 大住
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Office Color Science Co Ltd
Original Assignee
Office Color Science Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Office Color Science Co Ltd filed Critical Office Color Science Co Ltd
Priority to JP2012126389A priority Critical patent/JP5475057B2/ja
Priority to CN201380020978.8A priority patent/CN104471361B/zh
Priority to PCT/JP2013/061671 priority patent/WO2013157641A1/ja
Priority to US14/395,476 priority patent/US20150131090A1/en
Priority to EP13779080.4A priority patent/EP2840368B1/en
Publication of JP2013238576A publication Critical patent/JP2013238576A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5475057B2 publication Critical patent/JP5475057B2/ja
Priority to US15/265,816 priority patent/US9823130B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2823Imaging spectrometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0264Electrical interface; User interface
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0297Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/1256Generating the spectrum; Monochromators using acousto-optic tunable filter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/463Colour matching
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/501Colorimeters using spectrally-selective light sources, e.g. LEDs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/502Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using a dispersive element, e.g. grating, prism
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/504Goniometric colour measurements, for example measurements of metallic or flake based paints
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/52Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
    • G01J3/524Calibration of colorimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G01N21/276Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/57Measuring gloss
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1226Interference filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2823Imaging spectrometer
    • G01J2003/2826Multispectral imaging, e.g. filter imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

【課題】より正確で実用性の高い変角分光イメージング測定方法およびその装置を実現すること。
【解決手段】測定サンプル面2に対して、2つ以上の角度方向から照明光を照射する照明装置10と、結像用の光学レンズ8と、白黒2次元画像センサー4を備える。これにより、測定波長毎に測定サンプル面2の2次元画像を撮像して、該2次元画像の全ての画素において、画素毎に変角、分光情報を短時間で正確に計測する方法及び装置を提供し、具体的には、より正確で実用性の高い変角分光イメージング測定方法及びその装置を実現する。
【選択図】図9

Description

本発明は、物体表面の色彩を計測する塗料、塗装、繊維、印刷、プラスチック等、全ての分野に関連し、計測評価、及びそれに基づく製造に供される変角分光イメージング測定方法およびその装置に関する。
物体表面の分光計測では、変角分光計測手段として、受光と照明の光学幾何条件を種々可変し、測定部位の平均的な分光計測が可能な変角分光光度計が一般的に市販されているが、画像の画素毎の変角分光計測は出来ない。
また、分光イメージング計測装置は、バンドパスフィルターや透過波長帯を可変できる液晶チューナブルフィルター、音響光学チューナブルフィルターなどを備えたもの、単色光源を測定波長毎に備えたものなどが市販されているが、変角測定において、物体表面の画素毎の変角、分光等の情報を短時間に効率よく同時に得ることができるシステムは無い。
また、特許文献1では、分光情報を得るにあたり、プリズムや回折格子の分光光を用いることによって、画像の部位によって異なる分光情報を得る方法を示しているが、分光情報は画素毎に異なっているにすぎず、全ての画素で画素毎に波長等を異ならせた分光情報を取得することができない。また、測定中の光量変動や露光時間の変動などの補正手段を構築しておらず、塗料製造や、塗装による製品製造において実用性を満たす高精度な計測は難しい。さらに、照明装置が40度より大きい角度位置からの1か所からの照明であるため、記録装置の画角を広く取らなければならず、記録装置に通常用いられている結像レンズの周辺部における歪曲が生じていた。
特許第3933581号公報
複雑な構造発色を含む光輝材の特徴や評価情報を得る為には,広色域で照明と観察方向に基づく光学幾何条件が可変できる変角計測が可能な画像計測が必要であり有効である。また、計測された分光イメージング情報については、その特徴を数値化する為の画像解析計算が必要となる。
しかし、このような装置は実用化されておらず、既存の方法では、情報量が極端に少ないか、データの計測に非常に時間を要するとともに、装置とあいまった有効な画像解析計算の手段が必要となる。また、近年の自動車塗料には、特殊な干渉性光輝材が多用されるようになっており、非常に微細で高輝度、かつ色の表現域が広い光輝性の反射色が含まれていることが特徴である。これらの塗色に対し、変角情報を有効に利用し、また特徴を評価する正確な画像解析計算を行う為には、画像全般にわたり高精細・高精度で高ダイナミックレンジ、広色域の計測が必要である。
そこで、本発明の目的は、前記背景技術で説明した従来技術の問題点に鑑みて、物体表面の画素毎の変角、分光等の情報を短時間に効率的に計測する方法および装置を提供することであり、より具体的には、より正確で実用性の高い変角分光イメージング測定方法およびその装置を実現することにある。
また、3次元形状の試料面に対して、光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング測定方法およびその装置を実現することにある。
複雑な構造発色を含む光輝材の特徴や評価情報を得る為には,広色域で照明と観察方向に基づく光学幾何条件が可変できる変角計測が可能な画像計測が必要であり有効である。
そこで、本発明では、その解決方法として試料面に対し垂直方向に撮像可能な2次元画像センサーを配し、試料面に対し垂直方向からある角度を持った照明装置を組み合わせ、2つ以上の角度方向からの照明光の照射によって、画像内X軸、Y軸方向の画素毎の光学幾何条件の変化を利用し、変角分光イメージング情報を計測する。
分光計測には、2次元画像センサーと試料面との間の位置に定波長毎に透過波長帯を持つバンドパスフィルターや透過波長帯を可変できる液晶チューナブルフィルター、音響光学素子などを備えた、白色光照明・分光受光方法を用いる。あるいは照明光に測定波長毎の単色光を出力できる分光光源装置を備えた、分光照明方法を用いる。あるいは、分光受光と分光照明を組み合わせた方法を用いることで、蛍光色の測定にも対応する。
測定した画素毎の分光データは、例えばCIEの三刺激値やCIELAB値、RGB値、マンセル表色値等の色彩数値に変換した後に、光学幾何条件に基づくLAB空間上の分布の3次元構造や空間周波数解析、情報エントロピーなどの数値を用いて、物体表面の特徴を比較・評価する数値計算手段に供する。
また、変角分光イメージング装置に3次元形状測定手段を組み込むことによって、試料面の3次元形状情報を用いて試料面の法線方向を求め、光学幾何条件の変化を補正する。
すなわち、請求項1に係る発明では、試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項2に係る発明では、試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項3に係る発明では、試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の2軸方向の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記照明装置からの測定波長を変更することにより該測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項4に係る発明では、試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、を有し、前記2次元状画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変更分光イメージング装置であって、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項5に係る発明では、試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、を有し、前記2次元状画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変更分光イメージング装置であって、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項6に係る発明では、前記2つ以上の角度方向からの照明光の照射は、単一の照明装置の角度位置を変更させる、あるいは角度を異ならせて2つ以上備えた照明装置を順次点灯し、照明光の前記試料面への照明方向を変更することによって、光学幾何条件を可変する請求項1〜5のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項7に係る発明では、前記照明装置はライン状又はスポット状に前記試料面を照明する請求項1〜6のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項8に係る発明では、前記照明装置の光量を可変、あるいは撮像時の露光時間を可変、あるいは両者を組み合わせることで、計測のダイナミックレンジを拡大する請求項1〜7のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項9に係る発明では、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項10に係る発明では、前記画素毎の測定波長毎の前記分光情報は、数値の平均化や色彩数値の色空間分布、空間周波数解析や情報エントロピー等の画像計算に用いられる請求項1〜9のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項11に係る発明では、請求項1〜10のいずれかに記載の変角分光イメージング装置に、3次元形状測定手段を組み込んだ装置であって、該3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項12に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面からの反射光を分光手段により分光し、分光された該反射光を結像用レンズによって結像し、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光して2次元画像センサーによって撮像し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項13に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面からの反射光を結像用のレンズで結像し、前記結像用のレンズで結像された光を分光手段により分光し、前記分光手段からの光を受光して2次元画像センサーによって撮像し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項14に係る発明では、前記照明装置によって、試料面と白色参照面を同時に照射し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正する請求項12又は13に記載の変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項15に係る発明では、請求項12〜14のいずれかに記載の変角分光イメージング計測方法において、3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項16に係る発明では、請求項1〜11のいずれかに記載の変角分光イメージング装置によって得られた画素毎の分光情報をもとに、画素ごとの分光反射率係数又は分光反射率係数から計算された色空間上の色彩数値を用い、変角情報に伴う計測波長毎の分光反射率係数、空間周波数解析、フラクタル解析の画像分布、画素毎の色彩値から求めた色空間上の分布状況、出現色数、情報エントロピーの計算を行う方法を提供するものである。
本発明により、物体表面の画素毎の変角、分光等の情報を短時間に効率的に計測する方法および装置を提供することであり、より具体的には、より正確で実用性の高い変角分光イメージング測定方法およびその装置を実現できる。また、2つ以上からの角度方向からの照明光の照射を用いることによって、結像用のレンズの画角範囲を小さくすることができるため、レンズ周辺部における歪曲を軽減することができる。さらに、3次元形状測定手段を組み込むことによって、試料面の3次元形状情報を測定して、試料面の光学幾何条件の変化を補正することができる。
本発明の概略構成を説明する図である。 本発明の光学幾何条件を説明する図である。 ライン状の照明装置を用いる実施形態を説明する図である。 スポット状の照明装置を用いる実施形態を説明する図である。 本発明の校正手順を説明するフローチャートである。 本発明の測定手順を説明するフローチャートである。 照明装置を20度の角度に設定した際の、測定対象の範囲ごとの鏡面反射挟角と、画像センサで得られた画像を表した図である。 照明装置を45度の角度に設定した際の、測定対象の範囲ごとの鏡面反射挟角と、画像センサで得られた画像を表した図である。 本発明において、波長と鏡面反射挟角を変化させた際の分光反射率係数の変化を表した図である。 サンプルAのCIELAB色空間における各画素の分布を表した図である。 サンプルAの、CIELAB色空間における各画素の分布を表した図であって、照明装置を20度及び45度に設定した際の、L*−a*関係、及び、L*の値を50にしたときの、a*−b*関係を表した図である。 サンプルAの、鏡面反射挟角に対して画像を8つの領域に分割した、CIELAB色空間における各画素の分布を表した図であって、照明装置を20度及び45度に設定した際の、各領域におけるL*−a*関係、及び、L*の値を50にしたときの、a*−b*関係を表した図である。 サンプルBの、CIELAB色空間における各画素の分布を表した図である。 サンプルBの、CIELAB色空間における各画素の分布を表した図であって、照明装置を20度及び45度に設定した際の、L*−a*関係、及び、L*の値を50にしたときの、a*−b*関係を表した図である。 サンプルBの、鏡面反射挟角に対して画像を8つの領域に分割した、CIELAB色空間における各画素の分布を表した図であって、照明装置を20度及び45度に設定した際の、各領域におけるL*−a*関係、及び、L*の値を50にしたときの、a*−b*関係を表した図である。 本発明に3次元形状測定手段を組み込んだ他の実施例を説明する図である。
以下、本発明の実施形態を図面と共に説明する。
(測定機構について)
図1は本発明の概略構成を説明する図である。
本発明の変角分光イメージング装置の実施形態は、平面状の測定サンプル面2の垂直方向に設置された白黒階調の画像を取得する白黒2次元画像センサー4、画像を白黒2次元画像センサー上に結像させる光学レンズ8、測定サンプル面2と光学レンズ8の間の所定位置に設置された液晶チューナブルフィルターなどの透過波長帯域を可変できる分光手段6、計測波長域で測定に必要なエネルギーを持つ照明装置10を備える。本発明の一実施形態では、測定サンプル面2の周縁部に測定サンプル面と平行に設置した白色参照面12を設けたものから構成される。白色参照面は撮像時に同時に写しこまれ、これにより計測時間中の照明の光量変動や撮像素子の露出時間の変動や誤差を吸収する為の補正に供される。
(光学幾何条件について)
以下、画像と照明と受光・観察の光学幾何条件について説明する。
図2は本発明の光学幾何条件を説明する図である。
照明装置10から照射される光は、測定サンプル面2及び白色参照面12を照射する。白黒2次元画像センサー4と光学レンズ8は、測定サンプル面2と白色参照面12を同時に画像の中に収められるように配置される。なお、本図面では分光手段6の記載を省略している。
照明装置10から照射される光は、測定サンプル面2と白色参照面12を照射するが、照射方向は照射形状に依存して、測定サンプル面2,白色参照面12の垂直方向に対し、測定サンプル面2,白色参照面12の位置毎に異なる。正反射方向は照射方向と反対の鏡面方向の関係にある。測定サンプル面2と白色参照面12を撮像する白黒2次元画像センサー4の各画素が受光する方向は、画素毎に異なり、その単位ベクトルをPijとする。i,jは、画像のX軸、Y軸方向の画素である。つまり、(i,j)は2次元画像上の各画素の座標を意味する。
画像上の照明方向の単位ベクトル20をIijとし、それに対する鏡面反射方向の単位ベクトル16をSijとする。照明の鏡面反射方向に対する受光方向の単位ベクトル18の角度を一般にa−specula角14(以下「鏡面反射挟角」という。)と呼び、自動車の外装塗色に用いられるメタリック色やパール色はこの角度に依存して色彩(明度、彩度、色彩)が変化する。画像上の各画素に於ける鏡面反射挟角をθijとすると、(数1)で表される。なお、図2では、理解し易いように、白黒2次元画像センサー4の各画素(i,j)19に対応する測定サンプル面2あるいは白色参照面12の各位置として説明している。
ここで、Pij・SijはPijとSijの内積を表す。
図2から明らかなように、白黒2次元画像センサー4の画素中の鏡面反射挟角は、i,j毎に異なり、変角の情報を持つことになる。
照明装置10の形状は、図3に示されるようにライン状(ライン状の光源)、あるいは図4に示されるようにスポット状(点光源)等のものが適用される。光学レンズ8と分光手段6は、それぞれの機能を果たすことができれば、配置の順序を入れ換えてもよい。ライン状の照明形状の場合は、設置の方向によって、画像のX軸あるいはY軸のいずれかの方向に対して変角の情報を持つことになる。また、スポット状の照明形状の場合、画像のX軸方向、Y軸方向の両者に対して照明と受光の角度が変わり、両方の方向に対して変角の情報を持つことになる。
ここで、測定サンプル面2は2次元の広がりがあるため、測定サンプル面2及び白色参照面12の位置ごとに、鏡面反射挟角は異なる。例えば、照明装置を20度に設定した場合は、測定サンプル面を照明装置から近い側から遠い側へ8つの領域に分けたときに、図7に示されるように、照明装置から最も近い側における鏡面反射挟角の平均値は3.5度であるのに対し、最も遠い側における鏡面反射挟角の平均値は35.7度となる。照明装置を45度に設定した場合も同様に、図8に示されているように、照明装置に最も近い側における鏡面反射挟角の平均値は30.1度となり、最も遠い側における鏡面反射挟角の平均値は58.6度となる。
(撮像用の2次元画像センサーについて)
以下、撮像用の2次元画像センサーについて説明する。
近年の自動車塗料には、特殊な干渉性光輝材が多用されるようになっており、非常に微細で高輝度、かつ色の表現域が広い光輝性の反射色が含まれている。これらの塗色に対しては、変角情報を有効に利用し、また特徴を評価する正確な画像解析計算を行う為には、画像全般にわたり高精細・高精度で高ダイナミックレンジ、広色域の計測が必要である。この為、本発明の実施形態では画像センサーに白黒の2次元センサーを用いることで、モアレ画像の発生を抑え、かつ撮像の前段階に分光手段を備えることで、広色域の分光情報を全画素に対して得る機構を実現した。
白黒2次元画像センサー4は、良好な光輝性の反射色を高精度にとらえる為、アンチブルーミング機構を備え、かつCCD撮像センサーの場合、ペルチェ素子等による冷却機構を備えていることが望ましく、ダイナミックレンジも8bit以上、望ましくは16bit以上の出力分解能を備えたものを用いる。
また、本発明では白黒の2次元センサーを用いているが、カラーのRGBセンサーを用いることもできる。
(光学レンズについて)
白黒2次元画像センサー4の前に配置された結像用の光学レンズ8も高精細で周辺部の乱れや減光が少ないものを用い、画角については、周辺部の画像の乱れを抑えるために、40°よりも少ないものを用いることが好ましい。また、照明については少なくとも2以上の角度について可変できる機構を備えることで、複数の角度の鏡面反射挟角に対して計測を可能とすることができる(図1、図3,図4参照)。
(分光イメージングについて)
以下、全撮像画素に対して分光情報を得る、分光イメージングについて説明する。
光学レンズ8の直前に備える分光手段6としては、測定波長に応じて透過波長帯域が異なる複数のバンドパスフィルターを備え、これを逐次交換し撮像することで、分光情報を得る方法が適用できる。この場合、可視光領域である400nmから700nmの間を10nm毎に計測する場合は、31枚のバンドパスフィルターを用意し、これを交換しつつ同位置の撮像を繰り返すことで、全画素に対して31個の分光情報を取得する。
バンドパスフィルターの代わりの手段としては、液晶チューナブルフィルター(LCTF:Liquid Crystalline Tunable Filter)や音響光学チューナブルフィルター(AOTF: Acoustic Optics Tunable Filter)等の、透過波長帯を制御できるバンドパスフィルターを用いる方法も同様に適用できる。
(照明装置について)
照明装置10に関しては、タングステンランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ、白色LED等の光源ランプを光ファイバーやライトガイドの機構を備えたもの、光源ランプに反射鏡、投影レンズ等を備えたもの等で、測定サンプル面2と白色参照面12を照明することができるものが適用される。
また、前述の光学レンズ8と測定サンプル面2および白色参照面12との間に分光手段6を配置する代わりに、照明装置10として分光照明を適用することもできる。この場合、照明装置10に含まれる光源ランプからの光を、回折格子やプリズム等の分光光学素子とスリット等を用いて単波長光を得る方法、複数個のバンドパスフィルターを逐次交換し単波長光を得る方法、バンドパスフィルターの代わりに液晶チューナブルフィルターや音響光学チューナブルフィルターを用いて単波長光を得る方法等が適用できる。
また、光学レンズ8の直前に分光手段6を備える方法と、分光照明を組み合わせることで、蛍光色等を計測する2波長分光イメージングを実現できる。
以下、実際の測定を行う前に行われる、機器の校正方法、及び、その後の測定方法、画像解析計算について、図5及び図6に基づいて説明する。
(機器の校正方法について)
最初に、図5に基づいて機器の校正方法について説明する。
安定した計測を行う為には、校正手段を確立することが重要である。校正は、気温や湿度といった測定環境の変化、電源の不安定性、光源装置や光学機器の経時変化に対応するもので、電源投入直後や、校正後数時間〜数日の時間範囲で実施し、計測値が常にある誤差範囲に収まるように補正を行うものである。
まず、基準となる標準白色板を用意する(S102)。表面構造は光沢の無い拡散面であり測定範囲で均一である。また分光反射率係数も測定波長領域で概ね80%以上あることが望ましい。代表的なものには、硫酸バリウムの粉末をプレスして固めたものなどがある。標準白色板は予め、別の校正済の分光光度計により波長λに於ける分光反射率係数を計測しておき、値を記憶装置に保存しておく。その値をRc(λ)とする。測定サンプルの代わりに、この標準白色板を設置し、照明pにて測定波長毎に撮像し、その結果を記憶装置内に記録する。その値をCij(p,λ)とする。(i,j)は標準白色板を撮像した画素の位置である。
その際に同時に周縁部に備えられた白色参照面も同時に撮像、記録される。その値をWkl(p,λ)とする。(k,l)は白色参照面を撮像した画素の位置である。白色参照面の表面構造は、受光や照明の角度にできるだけ依存しない、光沢の無い拡散面で構成されることが望ましく、また分光反射率係数も測定波長領域で概ね80%以上あることが望ましい。校正情報を計測する際には、分光手段6や、照明装置10の分光分布の特性に測定波長範囲内でばらつきがある為、これを補正する目的で、計測波長毎に露光時間を適性化してもよい(S103,S104)。これらを複数の照明、異なる波長において完了すれば校正は終了する(S105,S106)。この際には校正情報とともに露光時間も記憶装置に保存し、サンプルの測定の際には、ここで保存されたものと同じ露光時間で計測する。白色参照面の撮像結果の値を用いることによって、電源の不安定性、光源装置の光学機器の経時変化による、測定面の場所によるばらつきを補正することができ、露光時間を制御することによって、測定波長毎に異なる光源の分光分布、分光手段の分光特性、撮像素子の分光感度を一定化してダイナミックレンジを確保することができる。
(実際の測定サンプル面の測定について)
次に図6に基づいて実際の測定方法について説明する。測定サンプルをセットし(S111)、測定波長毎に撮像し(S112)、その結果を記憶装置内に記録する(S113)。その値をMCij(p,λ)とする。その際に同時に撮像した白色参照面の測定値をMWkl(p,λ)とする。この場合、(数2)により校正後の測定サンプルの分光反射率係数Rmij(p,λ)が求められる。これらを複数の照明、異なる波長において完了すれば測定は終了する(S114)。
この場合、白色参照面の画像位置k,lは、補正する測定サンプル面の画素位置(i,j)に対して、効果的に作用する位置を、例えば測定する位置からX軸及びY軸に平行に引いた直線と交わる部分の白色参照面の位置を、X軸Y軸に対する補外位置として参照したり、部分的な補間や平均化を施したりして求める。白色参照面は撮像時に同時に写しこまれ、これにより計測時間中の照明の光量変動や撮像素子の露出時間の変動や誤差を吸収する為の補正に供される。この為、より高精度で高安定性な測定が可能となる。尚、校正データを測定する際に光トラップや標準黒色板を用いて、分光反射率係数が0近辺の補正を加えてもよい。
(画像解析により特徴量を計算する方法について)
以下、測定した分光イメージング情報を用いて、画像解析により特徴量を計算する方法について説明する。これらの計算方法は一例に過ぎない。本発明においては、全画素に渡り高精細、高精度に測定を行うものであるから、多くの種類の画像解析計算を適用でき、また、これによる結果の信頼性を高く保つことが可能である。
測定された照明毎の全画素の分光反射率係数Rmij(p,λ)の変角情報に対する平均値を求める方法を説明する(S115)。画素位置(i,j)により、鏡面反射挟角は異なる。分光反射率の平均値Rm(p,λ)は、(数3)で表される。
ここで、Σの計算は、X軸方向に対してはiからi+I番目まで、Y軸方向に対してはjからj+J番目までの領域を計算する。Nは計算領域に含まれている画素の数で、N=(I+1)・(J+1)となる。
またこの計算領域に対する平均的な鏡面反射挟角θ(p)は、(数4)で表される。
i,j,I,Jの取り方により、求めたい空間分解能に対する任意の鏡面反射挟角θ(p)での平均分光反射率係数Rmij(p,λ)を得ることが可能となる。I,Jを小さくとれば、鏡面反射挟角θ(p)の平均計算領域の中での変動が小さく、高い空間分解能での平均計算が可能となり、一方、I,Jを大きくとれば、空間分解能は低下するが、Nを大きくとることになるので平均化、平滑化の効果は高くなる。
(色彩値を求める方法について)
測定された全画素の分光反射率係数Rmij(p,λ)から色彩値を求める方法について説明する(S116)。色彩値を計算する手順として、まず三刺激値XYZを計算する。この代表的な方法には国際照明委員会(CIE:Commission Internationale de l’Eclairage)で定められたものを利用する。
各画素の三刺激値Xij(p),Yij(p),Zij(p)は、(数5)で表すことができる。
ここでP(λ)は、物体を観察する際に想定される照明光の分光分布を表し、積分する波長λの範囲は測定に用いられた可視光領域となる。三刺激値Xij(p),Yij(p),Zij(p)は、コンピュータディスプレイやプリンター上に表示する際には、Rij(p),Gij(p),Bij(p)値に変換を行う。この変換には、規格に応じて、sRGBやAdobeRGBなどへの変換方法が知られている。
前述の分光反射率係数の平均計算と同じく、三刺激値に関しても、(数6)で平均値を得ることができる。
測定された全画素の三刺激値Xij(p),Yij(p),Zij(p)から色彩値を求める方法について説明する。代表的な方法にCIEで定められたCIELAB色空間の値であるL*a*b*を(数7)を用いて求める方法がある。
n,Yn,Znは、分光反射率係数が100%の物体を計測したときの三刺激値である。前述の分光反射率係数の平均計算と同じく、CIELAB値に関しても、(数8)で平均値を得ることができる。
また、画像解析から測定サンプル2の特徴を求める重要な方法として、CIELAB色空間に於ける計測値の分布を求めることがある。この際も画像のX軸方向に対してはiからi+I番目まで、Y軸方向に対してはjからj+J番目までの領域を計算する。
また、CIELAB色空間に於ける計測値の分布を数量的なパラメータとして表す方法に、出現色数や情報エントロピーを計算する方法が適用できる。情報エントロピーをHとした場合、(数9)で計算する。
P(p,c)は照明pで撮像した画像中における色cの出現頻度で、X軸方向に対してはiからi+I番目まで、Y軸方向に対してはjからj+J番目までの画素の範囲で,ΔL*,Δa*,Δb*各辺が一定の大きさの立方体で区切って計算する。
この他にも、画像フィルターや、微分値、フーリエ変換やウェーブレット変換等の周波数分析を画像位置、即ち照明と受光の幾何条件である鏡面反射挟角θ(p)に対し行う方法や、CIELAB色空間の分布状況をより詳細にパラメータ化する方法等、様々な方法が適用でき、測定対象の特徴量を数値化することで、2つの異なる測定対象の差を定量化することが可能となる。更には、製品製造の際の品質管理、製造方法の判断等、多方面にわたる合理化と効果が期待できる。
次に、本発明の実施形態の具体的な実施例を説明する。
実施例では、白黒2次元画像センサー4に、ペルチェ冷却機構とアンチブルーミング機構を備えたBitran製16bit出力でX軸方向に772画素、Y軸方向に580画素のものを用いた。結像レンズにはタムロン製の焦点距離25mmの単焦点Cマウントレンズで画角は長辺方向に22度である。分光手段としては、レンズ直前に、CRi製の液晶チューナブルフィルターを備え、可視光範囲内を10nm間隔で分光計測を行える。測定サンプル面には、画像中央部のX軸方向に720画素、Y軸方向に520画素を用い、それ以外の周縁部は白色参照面とした。照明は投影レンズを備えた白色LEDチップ10個を直線状に配置したものを2組用意して、測定サンプル面中央垂直方向から20度と45度の2方向から照明するように配置した。
本実施例では、電源投入後、測定に先立ち、標準校正板である標準白色板を測定部位にセットし、20度と45度照明に対する各波長における校正情報を計測した。その際に、液晶チューナブルフィルター、照明装置の分光分布の特性を補正する為に、計測波長毎に露光時間を適性化し、校正情報とともに露光時間も記憶装置に保存した。その後、測定サンプルを測定部位にセットし、20度と45度照明に対し、各波長に対して校正の時と同じ露光時間で測定を行った。
測定サンプルは、サンプルA(アルミ光輝材(東洋アルミ製、Alpate7670NS)を含む塗板)とサンプルB(干渉性光輝材(Merck製、Xirallic CtystalSylver XT60−10)を含む塗板)に対して行った。両者ともに、測定後、校正情報を基に20度と45度照明での全画素に対する分光反射率係数を求めた。分光反射率係数からは、三刺激値XYZ、画像表示の為のRGB、CIELAB色空間の値を求めた。図9に、20度と45度照明におけるX軸方向に対して8つの領域に分割し、合計16の領域において、それぞれの領域内の画素の計測値を平均化し、波長を400nmから700nmまで10nmごとに切り換えて、分光反射率係数を測定した結果を1枚の図としたものを示した。
更にCIELAB値からは、20度と45度照明での全画素に対するCIELAB色空間に於ける分布状況、出現色数、情報エントロピーを計算した。
CIELAB色空間に於ける画像中の出現色数は、塗板の特徴を表す指標として利用できる。顔料をのみを着色材に用いた塗板で一般にソリッド色と呼ばれる塗色の場合、計測した結果は画像内で略、同じ値になるので、出現色数は極端に少ないが、メタリック色の場合、含まれるアルミ光輝材の種類や配合量、組み合わされる着色顔料により、光学幾何条件により、主に明度と彩度について変化し、出現色数は増加する。更に干渉性の光輝材を含むパール色では、光学幾何条件に応じて明度と彩度に加えて色相方向にも変化すると同時に、細かい光輝材の干渉性の反射光が含まれるために、個々の画素に様々な色が出現するので、出現色数は増加する。これは、CIELAB色空間に対して、より広い範囲に色が分布することを意味している。また、情報エントロピーは、画像中の情報量を表す数値であり、出現色数と同様に、塗板の特徴を表す指標として利用できる。
画素毎のL*a*b*値は、式7に基づいたJIS Z8729:2004の計算方法を用い、照明光はJIS Z8781:1999に示されているCIE測色用標準イルミナントD65、等色関数は10度視野の条件で計算した。計算は小数点2桁の精度で行った。次にCIELAB空間をL*、a*、b*各軸の方向に一辺が1.00の大きさの立方体を仮定し、画像中の720×520=374400個の画素について計算されてL*a*b*の値を立方体にあてはめ、出現した画素の色を含む立方体の数を出現色数とした。これをNとする。この計算方法は、8つに分割した画像に対しても行われる。
また、情報エントロピーEは、以下の(数10)で計算した。
ここでP(i)は画像中における色iの出現頻度で,前述のL*、a*、b*各軸の方向に一辺が1.00の大きさの立方体の中に、全画素に対し何個の画素が含まれているかを表している。
図10にサンプルAのCIELAB色空間の分布を示し、図11に、20度と45度照明におけるL*−a*関係と、L*の値を50に設定したときの、a*−b*関係を示す。また、図13にサンプルBのCIELAB色空間の分布を示し、図14に、20度と45度照明におけるL*−a*関係と、L*の値を50に設定したときの、a*−b*関係を示す。
また、20度と45度照明それぞれの画像をX軸方向に対して8つの領域に分割し、それぞれの領域について、CIELAB色空間に於ける分布状況を示した。図12にサンプルAにおける、20度と45度照明における8つの領域の、L*−a*関係と、L*の値を50に設定したときの、a*−b*関係を、図15にサンプルBにおける、20度と45度照明における8つの領域の、L*−a*関係と、L*の値を50に設定したときの、a*−b*関係を示す。サンプルAの干渉性光輝材は、サンプルBのアルミ光輝材に比して、干渉色の光輝性反射を含むため、CIELAB色空間に於ける分布状況は広範囲にわたっている。両者の違いを特徴的に表している。
本実施の形態では、測定サンプル面2の周辺に白色参照面12を設けたもので説明をしたが、白色参照面12がなく、測定サンプル面2のみで計測を行ってもよい。また、本実施の形態では、照明装置10として白色光源を用いたが、照明装置内に分光機能を有し、単波長の光を照射可能な光源を用いてもよい。
また、本実施の形態では、平面状の測定対象を用いて、各画素毎の光学幾何条件の変化を利用して、試料面の分光情報を取得したが、測定対象面が曲面である場合、変角分光イメージング装置に3次元形状測定装置を組み込み、曲面の画素の法線から、光学幾何条件を正確に補正することができる。
そこで、図16に基づいて、3次元形状測定装置を組み込んだ他の実施例について説明する。前述の実施例と同様の構成については説明を省略する。
本実施例では、白黒2次元画像センサー4、分光手段6としての液晶チューナブルフィルター、白色LEDチップ10個を直線状に配置したものを2組用意した照明装置10を備える点は実施例1と同様であるが、それに加えて、測定サンプルの3次元形状補正のための形状測定手段として、レーザープロジェクター9(米国Microvision社製 SHOWWX)で測定面に格子像11を投影して、格子像11を白黒2次元画像センサー4で取得し、格子像11の変位から形状を得ている。
本実施例では、電源投入後の測定に先立ち、標準校正板である十分な平面性を持つ標準白色板を測定部位にセットして、20度と45度照明に対する各波長における校正情報を計測した後に、3次元形状測定用のレーザープロジェクター9で格子像を投影し、白黒2次元画像センサー4で撮像、基準平面のデータとして格子像11の位置を数値化して保存した。
測定にあたっては、測定サンプルをレーザープロジェクター9で格子像11を照射し、格子像を白黒2次元画像センサー4で取得し、予め計測して保存している基準平面上の格子像11の位置情報を用いて、三角法から3次元形状データを計算した。
その後、求められた3次元形状データから試料面の各位置の法線ベクトルを計算し、照明装置からの照明の正反射方向を補正した上で、鏡面反射挟角を再計算することによって、3次元形状の表面の光学幾何条件を補正した。
本実施の形態では、曲面の測定対象面に対して、変角分光イメージング装置に3次元形状測定装置を組み込んだので、光学幾何条件を正確に補正することができる。特に鏡面反射挟角に対してデータを取得する場合、3次元形状から法線ベクトルを計算し、照明の正反射方向を補正した上で、鏡面反射挟角を計算し直すことで、測定対象面の形状に影響されない計測を可能としている。
2 測定サンプル面
4 白黒2次元画像センサー
6 分光手段
8 光学レンズ
9 レーザープロジェクター
10 照明装置
11 格子像
12 白色参照面
14 鏡面反射挟角
16 鏡面反射方向の単位ベクトル
18 受光方向の単位ベクトル
19 画素(i,j)
20 照明方向の単位ベクトル
すなわち、請求項1に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項2に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項3に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の2軸方向の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項4に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項5に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項に係る発明では、前記照明装置はライン状又はスポット状に前記試料面を照明する請求項1〜のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項7に係る発明では、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする請求項1〜のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項に係る発明では、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする請求項1〜のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである
また、請求項に係る発明では、前記画素毎の測定波長毎の前記分光情報は、数値の平均化や色彩数値の色空間分布、空間周波数解析や情報エントロピー等の画像計算に用いられる請求項1〜のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項10に係る発明では、請求項1〜のいずれかに記載の変角分光イメージング装置に、3次元形状測定手段を組み込んだ装置であって、該3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項11に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面及び該試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面及び該白色参照面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面及び該白色参照面からの反射光を分光手段により分光し、分光された該反射光を結像用レンズによって結像し、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光して、固定された2次元画像センサーによって、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項12に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面及び該試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面及び該白色参照面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面及び該白色参照面からの反射光を結像用のレンズで結像し、前記結像用のレンズで結像された光を分光手段により分光し、前記分光手段からの光を受光して、固定された2次元画像センサーによって、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項13に係る発明では、請求項11又は12に記載の変角分光イメージング計測方法において、3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項14に係る発明では、請求項1〜10のいずれかに記載の変角分光イメージング装置によって得られた画素毎の分光情報をもとに、画素ごとの分光反射率係数又は分光反射率係数から計算された色空間上の色彩数値を用い、変角情報に伴う計測波長毎の分光反射率係数、空間周波数解析、フラクタル解析の画像分布、画素毎の色彩値から求めた色空間上の分布状況、出現色数、情報エントロピーの計算を行う方法を提供するものである。
すなわち、請求項1に係る発明では、光輝材を含む試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能なライン状又はスポット状の照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする
変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項2に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能なライン状又はスポット状の照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項3に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能なライン状又はスポット状の照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の2軸方向の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、前記照明装置からの測定波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項4に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能なライン状又はスポット状の照明装置と、前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項5に係る発明では、試料面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能なライン状又はスポット状の照明装置と、前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な、固定された2次元画像センサーと、前記試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面と、を有し、前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、前記照明装置の照射波長を変更し、前記分光手段の透過波長を変更することにより、前記照射波長と透過波長毎に前記試料面及び前記試料面の周縁部全体に設けられた前記白色参照面の2次元画像を、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能であり、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項6に係る発明では、前記照明装置の光量を可変、あるいは撮像時の露光時間を可変、あるいは両者を組み合わせることで、計測のダイナミックレンジを拡大する請求項1〜5のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置を提供するものである。
また、請求項に係る発明では、前記画素毎の測定波長毎の前記分光情報は、数値の平均化や色彩数値の色空間分布、空間周波数解析や情報エントロピー等の画像計算に用いられる請求項1〜のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項に係る発明では、請求項1〜のいずれかに記載の変角分光イメージング装置に、3次元形状測定手段を組み込んだ装置であって、該3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング装置を提供するものである。
また、請求項に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、ライン状又はスポット状の照明装置によって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、その後試料面及び該試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面及び該白色参照面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面及び該白色参照面からの反射光を分光手段により分光し、分光された該反射光を結像用レンズによって結像し、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光して、固定された2次元画像センサーによって、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項10に係る発明では、2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、ライン状又はスポット状の照明装置によって、測定前の校正時において、基準となる標準白色板と前記白色参照面とを同時に撮像して、画素毎及び波長毎の校正係数を計測し、かつ、前記波長毎の露光時間を決定し、試料面及び該試料面の周縁部全体に設けられた白色参照面の垂直方向に対して、それぞれ固定された2つ以上の角度方向から該試料面及び該白色参照面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面及び該白色参照面からの反射光を結像用のレンズで結像し、前記結像用のレンズで結像された光を分光手段により分光し、前記分光手段からの光を受光して、固定された2次元画像センサーによって、前記照明装置、前記2次元画像センサー、前記試料面及び前記白色参照面の相対的位置を変更せずに撮像し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得し、前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項11に係る発明では、請求項9又は10に記載の変角分光イメージング計測方法において、3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング計測方法を提供するものである。
また、請求項12に係る発明では、請求項1〜のいずれかに記載の変角分光イメージング装置によって得られた画素毎の分光情報をもとに、画素ごとの分光反射率係数又は分光反射率係数から計算された色空間上の色彩数値を用い、変角情報に伴う計測波長毎の分光反射率係数、空間周波数解析、フラクタル解析の画像分布、画素毎の色彩値から求めた色空間上の分布状況、出現色数、情報エントロピーの計算を行う方法を提供するものである。

Claims (16)

  1. 試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、
    前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、
    前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、
    前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、
    を有し、
    前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、
    前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置。
  2. 試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に白色光である照明光を照射可能な照明装置と、
    前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、
    前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、
    前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、
    を有し、
    前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、
    前記分光手段の透過波長を変更することにより測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置。
  3. 試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、
    前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、
    前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、
    を有し、
    前記2次元画像センサーで撮像された2次元画像内の2軸方向の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング装置であって、
    前記照明装置からの測定波長を変更することにより該測定波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、該2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得することが可能な変角分光イメージング計測装置。
  4. 試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、
    前記試料面からの反射光を分光する該試料面の上方に配置した分光手段と、
    前記分光手段により分光された反射光を結像する結像用のレンズと、
    前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、
    を有し、
    前記2次元状画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変更分光イメージング装置であって、
    前記照明装置の照射波長を変更し、
    前記分光手段の透過波長を変更することにより、
    前記照射波長と透過波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、
    前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置。
  5. 試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に波長可変の測定波長毎の単色照明光を照射可能な照明装置と、
    前記試料面からの反射光を結像する該試料面の上方に配置した結像用のレンズと、
    前記結像用のレンズで結像された光を分光する分光手段と、
    前記分光手段からの光を受光し該試料面を撮像可能な2次元画像センサーと、
    を有し、
    前記2次元状画像センサーで撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して前記試料面の分光情報を取得する変更分光イメージング装置であって、
    前記照明装置の照射波長を変更し、
    前記分光手段の透過波長を変更することにより、
    前記照射波長と透過波長毎に前記試料面の2次元画像を撮像し、
    前記2次元画像の全ての画素の照射及び透過波長毎の分光情報を取得することが可能な変角2波長分光イメージング計測装置。
  6. 前記2つ以上の角度方向からの照明光の照射は、単一の照明装置の角度位置を変更させる、あるいは角度を異ならせて2つ以上備えた照明装置を順次点灯し、照明光の前記試料面への照明方向を変更することによって、光学幾何条件を可変する請求項1〜5のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置。
  7. 前記照明装置はライン状又はスポット状に前記試料面を照明する請求項1〜6のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置。
  8. 前記照明装置の光量を可変、あるいは撮像時の露光時間を可変、あるいは両者を組み合わせることで、計測のダイナミックレンジを拡大する請求項1〜7のいずれか一つに記載の変角分光イメージング計測装置。
  9. 前記測定波長毎に校正及び測定時の撮像露光時間を可変することで、照明装置の分光特性、前記分光手段における分光特性、前記2次元画像センサーの分光特性の前記測定波長範囲内での利得の差を補正することを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置。
  10. 前記画素毎の測定波長毎の前記分光情報は、数値の平均化や色彩数値の色空間分布、空間周波数解析や情報エントロピー等の画像計算に用いられる請求項1〜9のいずれか一つに記載の変角分光イメージング装置。
  11. 請求項1〜10のいずれかに記載の変角分光イメージング装置に、3次元形状測定手段を組み込んだ装置であって、該3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング装置。
  12. 2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面からの反射光を分光手段により分光し、分光された該反射光を結像用レンズによって結像し、前記結像用のレンズを介して前記反射光を受光して2次元画像センサーによって撮像し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法。
  13. 2次元画像の全ての画素の測定波長毎の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法であって、照明装置によって試料面の垂直方向に対して2つ以上の角度方向から該試料面に照明光を照射し、照射された照明光の該試料面からの反射光を結像用のレンズで結像し、前記結像用のレンズで結像された光を分光手段により分光し、前記分光手段からの光を受光して2次元画像センサーによって撮像し、該撮像された2次元画像内の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して、該試料面の分光情報を取得する変角分光イメージング計測方法。
  14. 前記照明装置によって、試料面と白色参照面を同時に照射し、該白色参照面における反射光を参照して、測定中の照明光量の変化や、露光時間の変動を補正する請求項12又は13に記載の変角分光イメージング計測方法。
  15. 請求項12〜14のいずれかに記載の変角分光イメージング計測方法において、3次元形状測定手段によって前記試料面の3次元形状情報を測定し、該試料面の3次元形状情報を用いて該試料面の各位置の法線方向を求め、前記光学幾何条件の変化を補正する変角分光イメージング計測方法。
  16. 請求項1〜11のいずれかに記載の変角分光イメージング装置によって得られた画素毎の分光情報をもとに、画素ごとの分光反射率係数又は分光反射率係数から計算された色空間上の色彩数値を用い、変角情報に伴う計測波長毎の分光反射率係数、空間周波数解析、フラクタル解析の画像分布、画素毎の色彩値から求めた色空間上の分布状況、出現色数、情報エントロピーの計算を行う方法。
JP2012126389A 2012-04-20 2012-06-01 変角分光イメージング測定方法およびその装置 Active JP5475057B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012126389A JP5475057B2 (ja) 2012-04-20 2012-06-01 変角分光イメージング測定方法およびその装置
CN201380020978.8A CN104471361B (zh) 2012-04-20 2013-04-19 变角分光成像测定方法及其装置
PCT/JP2013/061671 WO2013157641A1 (ja) 2012-04-20 2013-04-19 変角分光イメージング測定方法およびその装置
US14/395,476 US20150131090A1 (en) 2012-04-20 2013-04-19 Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus
EP13779080.4A EP2840368B1 (en) 2012-04-20 2013-04-19 Variable angle spectroscopic imaging measurement method and device therefor
US15/265,816 US9823130B2 (en) 2012-04-20 2016-09-14 Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012097170 2012-04-20
JP2012097170 2012-04-20
JP2012126389A JP5475057B2 (ja) 2012-04-20 2012-06-01 変角分光イメージング測定方法およびその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013238576A true JP2013238576A (ja) 2013-11-28
JP5475057B2 JP5475057B2 (ja) 2014-04-16

Family

ID=49383589

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012126389A Active JP5475057B2 (ja) 2012-04-20 2012-06-01 変角分光イメージング測定方法およびその装置

Country Status (5)

Country Link
US (2) US20150131090A1 (ja)
EP (1) EP2840368B1 (ja)
JP (1) JP5475057B2 (ja)
CN (1) CN104471361B (ja)
WO (1) WO2013157641A1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016011874A (ja) * 2014-06-27 2016-01-21 キヤノン株式会社 画像処理装置およびその方法
EP2988112A1 (en) 2014-08-05 2016-02-24 Ricoh Company, Ltd. Specimen measuring device and computer program product
JP2018009987A (ja) * 2016-07-04 2018-01-18 株式会社リコー 計測システム、反射率計算方法及びプログラム
JP2018009988A (ja) * 2016-07-05 2018-01-18 株式会社リコー 計測装置および計測システム
JP2018077082A (ja) * 2016-11-08 2018-05-17 昭和電工株式会社 炭化タンタルの評価方法
JP2018125769A (ja) * 2017-02-02 2018-08-09 パイオニア株式会社 撮像装置、撮像方法、プログラム及び記録媒体
JP2021103129A (ja) * 2019-12-25 2021-07-15 株式会社イマジオム 色柄判別プローブ、色柄判別装置
JP2022177166A (ja) * 2019-09-27 2022-11-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 検査方法、プログラム、及び、検査システム
JP7309092B1 (ja) * 2022-10-04 2023-07-14 三菱電機株式会社 情報処理装置、判定方法、及び判定プログラム

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0621774D0 (en) 2006-11-01 2006-12-13 Level 5 Networks Inc Driver level segmentation
US20150022658A1 (en) * 2013-07-16 2015-01-22 University Of North Carolina At Charlotte Noise reduction techniques, fractional bi-spectrum and fractional cross-correlation, and applications
WO2015125311A1 (ja) * 2014-02-24 2015-08-27 オリンパス株式会社 分光測定方法
JP6213662B2 (ja) * 2014-03-07 2017-10-18 新日鐵住金株式会社 表面性状指標化装置、表面性状指標化方法及びプログラム
DE102014009372A1 (de) * 2014-06-23 2015-12-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Bestimmung von Eigenschaften und/oder Parametern einer Probe und/oder mindestens einer auf oder an einer Oberfläche einer Probe ausgebildeten Schicht
JP6390252B2 (ja) * 2014-08-05 2018-09-19 株式会社リコー 試料測定装置および試料測定プログラム
DE102015217091B4 (de) 2015-09-07 2017-05-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V Anordnung zur Bestimmung der erreichbaren Haftfestigkeit vor Ausbildung einer stoffschlüssigen Verbindung an einer Oberfläche eines Fügepartners
AT518675A1 (de) * 2016-05-19 2017-12-15 H & P Trading Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung zumindest einer Prüfeigenschaft eines Prüfgegenstands
US10559085B2 (en) 2016-12-12 2020-02-11 Canon Kabushiki Kaisha Devices, systems, and methods for reconstructing the three-dimensional shapes of objects
JP2018151832A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、および、プログラム
US10267899B2 (en) 2017-03-28 2019-04-23 Luminar Technologies, Inc. Pulse timing based on angle of view
CN110998257B (zh) * 2017-05-03 2022-11-15 爱色丽瑞士有限公司 车辆颜色测量方法和装置
CN107389197B (zh) * 2017-07-27 2018-07-17 中原工学院 一种基于分光反射率和cie表色系的颜色深度表征方法
EP3450938B1 (en) * 2017-08-30 2022-10-12 IMEC vzw An image sensor and an imaging apparatus
CN107991303B (zh) * 2017-12-18 2024-04-26 云南烟叶复烤有限责任公司 一种基于双光谱技术的打叶去梗质量检测装置及检测方法
KR102500640B1 (ko) * 2018-03-02 2023-02-15 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 로의 제어 방법
EP3788350A1 (en) * 2018-05-03 2021-03-10 Uster Technologies AG Textile brightness measurement system
KR102663185B1 (ko) * 2018-08-07 2024-05-03 삼성전자주식회사 광학 방출 분광 시스템 및 그 보정 방법, 반도체 소자 제조 방법
CN109283186A (zh) * 2018-10-12 2019-01-29 成都精工华耀科技有限公司 一种轨道可视化巡检双光谱二维与三维融合成像***
JP7192447B2 (ja) * 2018-11-30 2022-12-20 セイコーエプソン株式会社 分光カメラおよび電子機器
JP7387985B2 (ja) * 2018-12-13 2023-11-29 株式会社リコー 塗装面評価方法、塗装面評価装置、及びプログラム
CN110095136B (zh) * 2019-03-27 2023-12-01 苏州德沃物流科技有限公司 融合imu位姿修正的双目视觉三维重建标定装置和方法
JP7326972B2 (ja) * 2019-07-30 2023-08-16 株式会社リコー 表面特性評価方法、表面特性評価装置、及び表面特性評価プログラム
EP4055370A1 (en) 2019-11-06 2022-09-14 Uster Technologies AG Apparatus and method for optically characterizing a textile sample
JP7497622B2 (ja) * 2020-06-05 2024-06-11 セイコーエプソン株式会社 画像生成装置、及び画像生成方法
CN113295387B (zh) * 2021-05-25 2023-11-17 中国科学院合肥物质科学研究院 一种多波段条状滤光片光学参数测试***及其测试方法
CN113409379B (zh) * 2021-06-30 2022-08-02 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光谱反射率的确定方法、装置及设备
CN114354514B (zh) * 2021-12-24 2024-02-09 南昌大学 一种非接触式多模态材料感知与识别装置
CN117329406B (zh) * 2023-11-28 2024-02-06 南京海关工业产品检测中心 一种柔性材料逆反射系数相对测量法辅助转架

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6041731B2 (ja) * 1977-07-25 1985-09-18 工業技術院長 測定物体の恒常的測光、測色法
JPH07270238A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Minolta Co Ltd 測色装置
JPH11101692A (ja) * 1997-09-29 1999-04-13 Shimadzu Corp 分光測色装置
JP2001099711A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Minolta Co Ltd テストチャート測色システムおよびカラー出力機器校正システム
JP2001264174A (ja) * 2000-03-16 2001-09-26 Minolta Co Ltd 反射特性測定装置
JP2003337067A (ja) * 2002-05-16 2003-11-28 Telecommunication Advancement Organization Of Japan 分光測定システム、色再現システム
JP2004226262A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Kurabo Ind Ltd 分光測色装置
JP2005114529A (ja) * 2003-10-07 2005-04-28 Olympus Corp マルチバンドカメラの制御装置及び制御方法
JP2005181038A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Olympus Corp 反射特性測定装置とそれを用いた高色再現デザインシステム及び反射特性測定方法
JP2005195365A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Konica Minolta Sensing Inc 白色校正方法及び2次元測光装置
JP2006153498A (ja) * 2004-11-25 2006-06-15 Konica Minolta Sensing Inc 標準面試料および光学特性測定システム
JP2007333726A (ja) * 2006-05-17 2007-12-27 Toyota Motor Corp 塗装色の評価作業を支援する装置と支援する方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6041731A (ja) 1983-08-18 1985-03-05 Seiko Instr & Electronics Ltd 発光分光分析用グロ−放電装置
DE68903831T2 (de) * 1989-05-20 1993-04-15 Hewlett Packard Gmbh Verfahren zum betrieb eines spektrometers mit einer fotodiodenanordnung und spektrometer mit einer anordnung von fotodioden.
EP0570003B1 (en) * 1992-05-15 2000-08-02 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Three-dimensional automatic gonio-spectrophotometer
KR100875806B1 (ko) 2001-04-06 2008-12-26 아크조노벨코팅스인터내셔널비.브이. 표면 평가를 위한 방법 및 장치
EP1314972B1 (de) * 2001-11-26 2010-07-14 X-Rite Europe GmbH Spektralphotometer und Verwendung desselben
JP4663956B2 (ja) * 2002-12-25 2011-04-06 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
JP5148387B2 (ja) * 2008-06-30 2013-02-20 浜松ホトニクス株式会社 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム
EP2412296A4 (en) * 2009-03-24 2014-12-17 Olympus Corp FLUORESCENCE OBSERVATION DEVICE, FLUORESCENCE OBSERVATION SYSTEM, AND METHOD FOR PROCESSING FLUORESCENCE IMAGES

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6041731B2 (ja) * 1977-07-25 1985-09-18 工業技術院長 測定物体の恒常的測光、測色法
JPH07270238A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Minolta Co Ltd 測色装置
JPH11101692A (ja) * 1997-09-29 1999-04-13 Shimadzu Corp 分光測色装置
JP2001099711A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Minolta Co Ltd テストチャート測色システムおよびカラー出力機器校正システム
JP2001264174A (ja) * 2000-03-16 2001-09-26 Minolta Co Ltd 反射特性測定装置
JP2003337067A (ja) * 2002-05-16 2003-11-28 Telecommunication Advancement Organization Of Japan 分光測定システム、色再現システム
JP2004226262A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Kurabo Ind Ltd 分光測色装置
JP2005114529A (ja) * 2003-10-07 2005-04-28 Olympus Corp マルチバンドカメラの制御装置及び制御方法
JP2005181038A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Olympus Corp 反射特性測定装置とそれを用いた高色再現デザインシステム及び反射特性測定方法
JP2005195365A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Konica Minolta Sensing Inc 白色校正方法及び2次元測光装置
JP2006153498A (ja) * 2004-11-25 2006-06-15 Konica Minolta Sensing Inc 標準面試料および光学特性測定システム
JP2007333726A (ja) * 2006-05-17 2007-12-27 Toyota Motor Corp 塗装色の評価作業を支援する装置と支援する方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
大住雅之: ""変角分光イメ-ジング装置を用いた光輝材の評価方法 "", 日本色彩学会誌, vol. 36, JPN6012057959, 1 May 2012 (2012-05-01), pages 88 - 89, ISSN: 0002716233 *

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016011874A (ja) * 2014-06-27 2016-01-21 キヤノン株式会社 画像処理装置およびその方法
EP2988112A1 (en) 2014-08-05 2016-02-24 Ricoh Company, Ltd. Specimen measuring device and computer program product
US9958265B2 (en) 2014-08-05 2018-05-01 Ricoh Company, Ltd. Specimen measuring device and computer program product
JP2018009987A (ja) * 2016-07-04 2018-01-18 株式会社リコー 計測システム、反射率計算方法及びプログラム
JP2018009988A (ja) * 2016-07-05 2018-01-18 株式会社リコー 計測装置および計測システム
US10900888B2 (en) 2016-11-08 2021-01-26 Showa Denko K.K. Method for evaluating tantalum carbide
JP2018077082A (ja) * 2016-11-08 2018-05-17 昭和電工株式会社 炭化タンタルの評価方法
JP2018125769A (ja) * 2017-02-02 2018-08-09 パイオニア株式会社 撮像装置、撮像方法、プログラム及び記録媒体
JP2022126704A (ja) * 2017-02-02 2022-08-30 パイオニア株式会社 撮像装置、撮像方法、プログラム及び記録媒体
JP2022177166A (ja) * 2019-09-27 2022-11-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 検査方法、プログラム、及び、検査システム
US11846583B2 (en) 2019-09-27 2023-12-19 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Inspection method and inspection system
JP7515124B2 (ja) 2019-09-27 2024-07-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 検査方法
JP2021103129A (ja) * 2019-12-25 2021-07-15 株式会社イマジオム 色柄判別プローブ、色柄判別装置
JP7309092B1 (ja) * 2022-10-04 2023-07-14 三菱電機株式会社 情報処理装置、判定方法、及び判定プログラム
WO2024075181A1 (ja) * 2022-10-04 2024-04-11 三菱電機株式会社 情報処理装置、判定方法、及び判定プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP2840368A4 (en) 2015-12-30
EP2840368B1 (en) 2023-01-18
US20150131090A1 (en) 2015-05-14
WO2013157641A1 (ja) 2013-10-24
CN104471361A (zh) 2015-03-25
CN104471361B (zh) 2017-05-03
JP5475057B2 (ja) 2014-04-16
EP2840368A1 (en) 2015-02-25
US9823130B2 (en) 2017-11-21
US20170010158A1 (en) 2017-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5475057B2 (ja) 変角分光イメージング測定方法およびその装置
US10260950B2 (en) Hand-held measurement device for capturing the visual impression of a measurement object
US9958265B2 (en) Specimen measuring device and computer program product
US9984307B2 (en) Coloring inspection apparatus and coloring inspection method
JP6390252B2 (ja) 試料測定装置および試料測定プログラム
Liang et al. A new multi-spectral imaging system for examining paintings
JP6371237B2 (ja) 着色評価装置および着色評価方法
JP6068375B2 (ja) 分光放射輝度計
JP2019020311A (ja) 色彩測定方法及び色彩測定装置
Vilaseca et al. Repeatability, reproducibility, and accuracy of a novel pushbroom hyperspectral system
JP2016194449A (ja) 着色検査装置および着色検査方法
Picollo et al. Application of hyper-spectral imaging technique for colorimetric analysis of paintings
JP2020193928A (ja) 2次元分光測定システム及びデータの処理方法
JP2010256303A (ja) ハイパースペクトル画像処理装置及びハイパースペクトル画像処理方法
WO2019167806A1 (en) Method for setting colorimetric conversion parameters in a measuring device
CN106885630A (zh) 一种基于颜色进行光谱测量的方法及装置
US12025562B2 (en) Method for optical monitoring and/or determination of properties of sample
CN117073841A (zh) 面向成像***高动态范围颜色管理的色标数据生成方法
Fiorentin et al. A multispectral imaging device for monitoring of colour in art works
Shah Assesment and analysis of results from COSCH round robin test
JP2009053212A (ja) 色票処理装置、色票処理方法及び色票処理プログラム
Fiorentin et al. Performance analysis of an imaging spectro-chroma meter

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131119

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131128

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5475057

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250