JP2013217721A - 物理量センサーおよび電子機器 - Google Patents

物理量センサーおよび電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2013217721A
JP2013217721A JP2012087244A JP2012087244A JP2013217721A JP 2013217721 A JP2013217721 A JP 2013217721A JP 2012087244 A JP2012087244 A JP 2012087244A JP 2012087244 A JP2012087244 A JP 2012087244A JP 2013217721 A JP2013217721 A JP 2013217721A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode portion
physical quantity
movable electrode
quantity sensor
movable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012087244A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5935986B2 (ja
Inventor
Satoru Tanaka
悟 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2012087244A priority Critical patent/JP5935986B2/ja
Priority to CN201310115933.0A priority patent/CN103364589B/zh
Priority to US13/856,053 priority patent/US9470703B2/en
Publication of JP2013217721A publication Critical patent/JP2013217721A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5935986B2 publication Critical patent/JP5935986B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/003Details of instruments used for damping
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0862Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with particular means being integrated into a MEMS accelerometer structure for providing particular additional functionalities to those of a spring mass system
    • G01P2015/0882Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with particular means being integrated into a MEMS accelerometer structure for providing particular additional functionalities to those of a spring mass system for providing damping of vibrations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

【課題】簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることが可能な物理量センサーを提供する。
【解決手段】物理量センサー100は、基板10と、第1軸Q1を境にして、第1領域20aに設けられた第1可動電極部21と、第2領域20bに設けられた第2可動電極部22と、第1領域20aおよび第2領域20bの少なくとも一方に設けられたダンピング調整部23とを備えた可動体20と、可動体20を支持する梁部30,32と、第1固定電極部50と、第2固定電極部52と、を含み、ダンピング調整部23には、第1貫通孔26が設けられ、可動電極部21,22には、第2貫通孔27,28が設けられ、第1可動電極部21と第1固定電極部50とが重なる領域の面積と、第2可動電極部22と第2固定電極部52とが重なる領域の面積とは同じであり、第1貫通孔26の幅は、第2貫通孔27,28の幅よりも大きい。
【選択図】図1

Description

本発明は、物理量センサーおよび電子機器に関する。
近年、例えばシリコンMEMS(Micro Electro Mechanical System)技術を用いて、小型で高感度の物理量センサーを実現する技術が開発されている。
例えば、特許文献1には、トーションウェブを中心として回転可能な2つの翼部を有する質量体を備えた加速度センサーが開示されている。この加速度センサーでは、2つの翼部のそれぞれに貫通孔を設けることによって、トーションウェブに対して反対方向かつ同じ大きさのねじれが、同じ大きさの減衰トルクを生じさせるように構成されている。また、この加速度センサーは、一方の翼部の下方に第1電極を有し、他方の翼部の下方に第2電極を有しており、一方の翼部と第1電極との間の静電容量、および他方の翼部と第2電極との間の静電容量に基づいて、加速度を検出している。
特許文献1の加速度センサーでは、質量体は、窒素等の気体が充填されたケーシングに収容されており、翼部に貫通孔を設けることで、気体の粘性により生じるダンピング(質量体の動きを止めようとする働き、流動抵抗)を低減することができる。これにより、検出感度を高めることができる。
特表2009−537803号公報
しかしながら、特許文献1の加速度センサーでは、貫通孔の大きさが2つの翼部で異なっているため、平面視において、一方の翼部と第1電極とが重なる領域の面積と、他方の翼部と第2電極とが重なる領域の面積とが異なっている。そのため、初期状態(加速度が印加されていない状態、翼部が水平な状態)において、一方の翼部と第1電極との間の静電容量と、他方の翼部と第2電極との間の静電容量とが異なってしまう。したがって、この初期容量の差を解消するために、翼部と電極との間のギャップの調整や、初期容量の差を補正するための回路等が必要になるため、装置の構成を簡略化することができず、製造工程が増える、コストがかかる等の問題がある。
本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることが可能な物理量センサーを提供することにある。また、本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、上記物理量センサーを含む電子機器を提供することにある。
本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することができる。
[適用例1]
本適用例に係る物理量センサーは、
基板と、
第1軸を回転軸として変位可能であって、平面視で前記第1軸を境にして、第1領域に設けられた第1可動電極部と、第2領域に設けられた第2可動電極部と、前記第1領域および前記第2領域の少なくとも一方に設けられたダンピング調整部とを備えた可動体と、
前記可動体を前記第1軸まわりに変位可能に支持する梁部と、
前記基板に前記第1可動電極部と対向して配置されている第1固定電極部と、
前記基板に前記第2可動電極部と対向して配置されている第2固定電極部と、
を含み、
前記ダンピング調整部には、第1貫通孔が設けられ、
前記第1可動電極部および前記第2可動電極部には、第2貫通孔が設けられ、
平面視で前記第2貫通孔を除く部分において、前記第1可動電極部と前記第1固定電極部とが重なる領域の面積と、前記第2可動電極部と前記第2固定電極部とが重なる領域の面積とは同じであり、
前記第1貫通孔の幅は、前記第2貫通孔の幅よりも大きい。
このような物理量センサーによれば、平面視で第2貫通孔を除く部分において、第1可動電極部と第1固定電極部とが重なる領域の面積と、第2可動電極部と第2固定電極部とが重なる領域の面積とは同じであるため、簡易な構成で、初期状態(例えば可動体が水平な状態)における、第1可動電極部と第1固定電極部との間の静電容量と、第2可動電極部と第2固定電極部との間の静電容量と、を等しくすることができる。さらに、ダンピング調整部に設けられている貫通孔の幅が、第1可動電極部および第2可動電極部に設けられている貫通孔の幅よりも大きいため、第1可動電極部の面積および第2可動電極部の面積を確保しつつ、ダンピング(可動体の動きを止めようとする働き、流動抵抗)を効率よく低減することができる。したがって、このような物理量センサーによれば、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
[適用例2]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記可動体の前記第1領域の質量と前記可動体の前記第2領域の質量とは、異なっていてもよい。
このような物理量センサーによれば、例えば鉛直方向の加速度が加わったときに、可動体の第1領域の回転モーメントと、可動体の第2領域の回転モーメントとが均衡せず、可動体に所定の傾きを生じさせることができる。
[適用例3]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記第1可動電極部に設けられている前記第2貫通孔の総面積と、前記第2可動電極部に設けられている前記第2貫通孔の総面積とは、同じであってもよい。
このような物理量センサーによれば、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
[適用例4]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記第2貫通孔は、平面視で前記第1軸の方向に延出していてもよい。
このような物理量センサーによれば、第1可動電極部の面積および第2可動電極部の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。
[適用例5]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記第1貫通孔および前記第2貫通孔の少なくとも一方は、複数設けられていてもよい。
このような物理量センサーによれば、ダンピングをより低減することができる。
[適用例6]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記ダンピング調整部は、前記可動体の前記第1軸に交差する第2軸の方向の端部に設けられていてもよい。
このような物理量センサーによれば、回転軸となる第1軸から離れたところに第1貫通孔を設けることができるため、ダンピングを効率よく低減することができる。
[適用例7]
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記ダンピング調整部は、前記第1領域および前記第2領域の両方に設けられ、
前記第1領域に設けられた前記ダンピング調整部の前記第1貫通孔の幅は、前記第2領域に設けられた前記ダンピング調整部の前記第1貫通孔の幅よりも大きくてもよい。
このような物理量センサーによれば、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
[適用例8]
本適用例に係る電子機器は、
本適用例に係る物理量センサーを含む。
このような電子機器によれば、本適用例に係る物理量センサーを含むため、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
本実施形態に係る物理量センサーを模式的に示す平面図。 本実施形態に係る物理量センサーを模式的に示す断面図。 貫通孔とダンピングとの関係を説明するための図。 本実施形態に係る物理量センサーの製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る物理量センサーの製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る物理量センサーの製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る物理量センサーの変形例を模式的に示す平面図。 本実施形態に係る電子機器を模式的に示す斜視図。 本実施形態に係る電子機器を模式的に示す斜視図。 本実施形態に係る電子機器を模式的に示す斜視図。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1. 物理量センサー
まず、本実施形態に係る物理量センサーについて、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る物理量センサー100を模式的に示す平面図である。図2は、本実施形態に係る物理量センサー100を模式的に示す断面図である。なお、図2は、図1のII−II線断面図である。また、図1では、便宜上、蓋体60の図示を省略している。図1および図2では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、Z軸を図示している。
物理量センサー100は、例えば、慣性センサーとして使用することができ、具体的には、例えば、鉛直方向(Z軸方向)の加速度を測定するための加速度センサー(静電容量型加速度センサー、静電容量型MEMS加速度センサー)として利用可能である。
物理量センサー100は、図1および図2に示すように、支持基板(基板)10と、可動体20と、梁部30,32と、第1固定電極部50と、第2固定電極部52と、を含む。物理量センサー100は、さらに、固定部40と、蓋体60と、を含むことができる。
支持基板10には、第1固定電極部50および第2固定電極部52が設けられている。図示の例では、固定電極部50,52は、凹部12の底面を規定する支持基板10の面14に設けられている。固定電極部50,52が設けられている支持基板10の面14は、平坦な面である。支持基板10の面14は、可動体20が水平(XY平面に平行)な場合、可動体20に平行である。支持基板10には、固定部40および蓋体60が接合されている。支持基板10と、蓋体60とで、可動体20を収容するための空間を形成することができる。この空間には、例えば、窒素、ヘリウム、アルゴンなどの不活性ガスが充填されている。支持基板10の材質は、特に限定されないが、例えば、ガラス等の絶縁材料である。例えば支持基板10をガラス等の絶縁材料、可動体20をシリコン等の半導体材料にすることにより、可動体20と支持基板10とを貼り合わせることで容易に両者を電気的に絶縁することができ、センサー構造を簡素化することができる。
可動体20は、支持基板10上に、間隙2を介して設けられている。可動体20は、第1梁部30および第2梁部32によって、支持されている。可動体20は、第1軸Q1を回転軸として変位可能である。具体的には、可動体20は、例えば鉛直方向(Z軸方向)の加速度が加わると、梁部30,32によって決定される第1軸Q1を回転軸(揺動軸)としてシーソー揺動することができる。可動体20の外周縁の形状は、平面視において(Z軸方向からみて)、例えば、長方形である。また、可動体20の厚さ(Z軸方向の大きさ)は、例えば、一定である。
可動体20は、第1シーソー片20aと、第2シーソー片20bと、を有する。第1シーソー片20aは、平面視において、第1軸Q1によって区画される可動体20の2つの領域のうちの一方の第1領域(図1では右側に位置する部分)である。第2シーソー片20bは、平面視において、第1軸Q1によって区画される可動体20の2つの領域のうちの他方の第2領域(図1では左側に位置する部分)である。
例えば、鉛直方向の加速度(例えば重力加速度)が可動体20に加わった場合、第1シーソー片20aと第2シーソー片20bの各々に回転モーメント(力のモーメント)が生じる。ここで、第1シーソー片20aの回転モーメント(例えば時計回りの回転モーメント)と第2シーソー片20bの回転モーメント(例えば反時計回りの回転モーメント)が均衡した場合には、可動体20の傾きに変化が生じず、加速度の変化を検出することができない。したがって、鉛直方向の加速度が加わったときに、第1シーソー片20aの回転モーメントと、第2シーソー片20bの回転モーメントとが均衡せず、可動体20に所定の傾きが生じるように、可動体20が設計される。
物理量センサー100では、第1軸Q1を、可動体20の中心(重心)から外れた位置に配置することによって(第1軸Q1から各シーソー片20a,20bの先端までの距離を異ならせることによって)、シーソー片20a,20bが互いに異なる質量を有している。すなわち、可動体20は、第1軸Q1を境にして、一方側(第1シーソー片20a)と他方側(第2シーソー片20b)とで質量が異なる。図示の例では、第1軸Q1から第1シーソー片20aの端面24までの距離は、第1軸Q1から第2シーソー片20bの端面25までの距離よりも大きい。また、第1シーソー片20aの厚さと、第2シーソー片20bの厚さとは、等しい。したがって、第1シーソー片20aの質量は、第2シーソー片20bの質量よりも大きい。このように、シーソー片20a,20bが互いに異なる質量を有することにより、鉛直方向の加速度が加わったときに、第1シーソー片20aの回転モーメントと、第2シーソー片20bの回転モーメントとを均衡させないことができる。したがって、鉛直方向の加速度が加わったときに、可動体20に所定の傾きを生じさせることができる。
なお、図示はしないが、第1軸Q1を可動体20の中心に配置し、かつ、シーソー片20a,20bの厚みを互いに異ならせることによって、シーソー片20a,20bが互いに異なる質量を有するようにしてもよい。このような場合にも、鉛直方向の加速度が加わったときに、可動体20に所定の傾きを生じさせることができる。
可動体20は、支持基板10と離間して設けられている。図示の例では、可動体20と支持基板10との間には、間隙2が設けられている。また、可動体20は、梁部30,32によって、固定部40から離間して接続されている。可動体20と固定部40との間には、間隙4が設けられている。可動体20の周囲に間隙2,4が存在することによって、可動体20は、シーソー揺動することができる。
可動体20は、平面視で第1軸Q1の一方側の第1シーソー片20aに、第1可動電極部21と、ダンピング調整部23と、を有している。さらに、可動体20は、平面視で第1軸Q1の他方側の第2シーソー片20bに、第2可動電極部22を有している。
第1可動電極部21は、可動体20のうち、平面視で第1固定電極部50と重なる部分である。第1可動電極部21は、可動体20のうち、第1固定電極部50との間に静電容量C1を形成する部分である。第1可動電極部21には、可動体20を厚さ方向(Z軸方向)に貫通する貫通孔(第2貫通孔)27が設けられている。図示の例では、第1可動電極部21には、複数(5個)の貫通孔27が設けられている。
第2可動電極部22は、可動体20のうち、平面視で第2固定電極部52と重なる部分である。第2可動電極部22は、可動体20のうち、第2固定電極部52との間に静電容量C2を形成する部分である。第2可動電極部22には、可動体20を厚さ方向に貫通する貫通孔(第2貫通孔)28が設けられている。第2可動電極部22には、複数(5個)の貫通孔28が設けられている。物理量センサー100では、可動体20が導電性材料で構成されることによって可動電極部21,22が形成されてもよく、また、可動体20の表面に金属等の導体層からなる可動電極部を形成することもできる。図示の例では、可動体20が導電性材料(不純物がドープされたシリコン)で構成されることによって、可動電極部21,22が形成されている。
ダンピング調整部23は、可動体20のうち、平面視で固定電極部50,52と重ならない部分である。図示の例では、ダンピング調整部23は、可動体20の第2軸Q2の方向(第2軸Q2に沿う方向)の端部に設けられている。ここで、第2軸Q2は、第1軸Q1と直交する軸である。第1シーソー片20aでは、第2軸Q2の方向(図示の例では+X軸方向)に、第1軸Q1側から、第1可動電極部21、ダンピング調整部23の順で並んでいる。ダンピング調整部23には、可動体20を厚さ方向に貫通する貫通孔(第1貫通孔)26が設けられている。図示の例では、ダンピング調整部23には、複数(3個)の貫通孔26が設けられている。なお、貫通孔26,27,28の数は、特に限定されない。ダンピング調整部23において、貫通孔26の数や面積を調整することによって、可動体20の減衰を調整することができる。
貫通孔26,27,28は、可動体20の揺動(回動)する際に気体の流路となる。そのため、貫通孔26,27,28によって、可動体20が揺動する際に、気体の粘性により生じるダンピング(可動体の動きを止めようとする働き、流動抵抗)を低減することができる。したがって、検出感度を高めることができる。また、貫通孔26,27,28は、それぞれ複数設けられているため、ダンピングをより低減することができ、より検出感度を高めることができる。
貫通孔26の幅aは、貫通孔27の幅bおよび貫通孔28の幅cよりも大きい。ここで、貫通孔の幅とは、回転軸となる第1軸Q1と直交する第2軸Q2の方向における貫通孔の大きさであり、図示の例では、貫通孔のX軸方向の大きさである。貫通孔26の幅aを貫通孔27の幅bおよび貫通孔28の幅cよりも大きくすることにより、可動電極部21,22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減できる。以下に、その理由について説明する。
図3は、貫通孔とダンピングの関係を説明するための図である。図3では、可動電極部1021および固定電極部1050を有するモデルM1,モデルM2を図示している。具体的には、モデルM1の可動電極部1021の幅w1は、モデルM2の可動電極部1021の幅w2の2倍である。また、モデルM1の隣り合う可動電極部1021間の間隔S1は、モデルM2の隣り合う可動電極部1021間の間隔S2の2倍である。また、モデルM1の可動電極部1021の長さL1とモデルM2の可動電極部1021の長さL2とは、同じ大きさである。そのため、モデルM1の可動電極部1021の総面積(2×w1×L1)と、モデルM2の可動電極部1021の総面積(4×w2×L2)は等しく、モデルM1の可動電極部1021間の間隔の総面積(2×S1×L1)と、モデルM2の可動電極部1021の間隔の総面積(4×S2×L2)とは等しい。
ここで、可動電極部1021が動くことによって、電極部1021,1050間の気体が動き、その際に気体の粘性によって可動電極部1021の動きに関して、可動電極部の動きを止めようとする働き、すなわち、ダンピングが生じる。ダンピングの大きさを示すダンピング係数Dは、可動電極部1021の幅をw、可動電極部1021の長さをL、可動電極部1021と固定電極部1050との間の距離をd、電極部1021,1050のペア数をnとすると、下記式(1)で表すことができる。
式(1)から、モデルM2のダンピング係数Dは、モデルM1のダンピング係数Dの1/4となる。これは、ダンピング係数Dが、可動電極部1021の幅wの3乗に比例するためである。このように、モデルM2では、モデルM1と可動電極部1021の面積が同じであるにも関わらず、モデルM1と比べて、ダンピング係数Dを小さくする(ダンピングを低減する)ことができる。この結果から、隣り合う可動電極部間の間隔を小さくして可動電極部の幅を小さくすることで、可動電極部の面積を確保しつつ、効率よくダンピングを低減できることがわかる。
したがって、物理量センサー100において、貫通孔27,28の幅b,cを小さくすることによって、可動電極部21,22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。さらに、ダンピング調整部23では、面積を確保する(大きくする)必要がないため、可動電極部21,22に設けられた貫通孔27,28に比べて、幅の大きな貫通孔26を形成することで、ダンピングをより低減することができる。
ダンピング調整部23に設けられている貫通孔26は、図1に示すように、第1軸Q1の方向に延出している。貫通孔26の平面形状は、例えば、第1軸Q1に平行な長辺、第2軸Q2に平行な短辺を有する長方形である。ダンピング調整部23に設けられている複数(3つ)の貫通孔26は、第2軸Q2に沿って(X軸方向に)配列されている。複数の貫通孔26は、幅a、および長さ(Y軸方向の大きさ)が同じである。すなわち、複数の貫通孔26は、互いに同じ形状を有している。なお、複数の貫通孔26は、それぞれ異なる形状を有していてもよい。
第1可動電極部21に設けられている貫通孔27は、第1軸Q1の方向に延出している。図示の例では、貫通孔27の平面形状は、第1軸Q1に平行な長辺、第2軸Q2に平行な短辺を有する長方形である。そのため、第1可動電極部21において、隣り合う貫通孔27の間の部分の平面形状を、第1軸Q1に平行な長辺、第2軸Q2に平行な短辺を有する長方形とすることができる。したがって、第1可動電極部21の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。第1可動電極部21に設けられている複数(5つ)の貫通孔27は、第2軸Q2に沿って配列されている。複数の貫通孔27は、幅b、および長さが同じである。すなわち、複数の貫通孔27は、互いに同じ形状を有している。なお、複数の貫通孔27は、それぞれ異なる形状を有していてもよい。
第2可動電極部22に設けられている貫通孔28は、第1軸Q1の方向に延出している。図示の例では、貫通孔28の平面形状は、第1軸Q1に平行な長辺、第2軸Q2に平行な短辺を有する長方形である。そのため、第2可動電極部22において、隣り合う貫通孔28の間の部分の平面形状を、第1軸Q1に平行な長辺、第2軸Q2に平行な短辺を有する長方形とすることができる。したがって、第2可動電極部22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。第2可動電極部22に設けられている複数(5つ)の貫通孔28は、第2軸Q2に沿って配列されている。複数の貫通孔28は、幅c、および長さが同じである。すなわち、複数の貫通孔28は、互いに同じ形状を有している。なお、複数の貫通孔28は、それぞれ異なる形状を有していてもよい。
図示の例では、平面視において、可動体20の外周縁の内側に、固定電極部50,52が位置している。そのため、第1可動電極部21と第1固定電極部50とが重なる領域の面積は、第1固定電極部50の面積から、第1可動電極部21に設けられている貫通孔27の総面積を差し引いたものに等しい。また、第2可動電極部22と第2固定電極部52とが重なる領域の面積は、第2固定電極部52の面積から、第2可動電極部22に設けられている貫通孔28の総面積を差し引いたものに等しい。
ここで、貫通孔27と貫通孔28とは、同じ形状を有しており、貫通孔27の面積(開口の面積)と貫通孔28の面積(開口の面積)とは、等しい。また、貫通孔27の数と、貫通孔28の数とは、等しい。すなわち、第1可動電極部21に設けられている貫通孔27の総面積と、第2可動電極部22に設けられている貫通孔28の総面積とは、等しい。また、第1固定電極部50の面積と第2固定電極部52の面積とは、等しい。したがって、平面視で第2貫通孔27,28を除く部分において、第1可動電極部21と第1固定電極部50とが重なる領域の面積と、第2可動電極部22と第2固定電極部52とが重なる領域の面積とは等しい。そのため、初期状態(可動体が水平な状態)において、第1可動電極部21と第1固定電極部50との間の静電容量C1と、第2可動電極部22と第2固定電極部52との間の静電容量C2とを、等しくすることができる。
支持基板10の第1可動電極部21に対向する位置には、第1固定電極部50が設けられている。この第1可動電極部21と第1固定電極部50とによって、静電容量C1が形成されている。また、支持基板10の第2可動電極部22に対向する位置には、第2固定電極部52が設けられている。この第2可動電極部22と第2固定電極部52とによって、静電容量C2が形成されている。静電容量C1および静電容量C2は、例えば、初期状態(可動体20が水平な状態)において、等しくなるように構成されている。第1可動電極部21および第2可動電極部22は、可動体20の動きに応じて位置が変化する。この可動電極部21,22の位置の変化に応じて、静電容量C1,C2が変化する。可動体20には、例えば梁部30,32を介して、所定の電位が与えられる。
なお、図示はしないが、蓋体60の、第1可動電極部21に対向する位置に第1固定電極部50が設けられ、蓋体60の、第2可動電極部22に対向する位置に第2固定電極部52が設けられていてもよい。
第1梁部30および第2梁部32は、可動体20を第1軸Q1まわりに変位可能に支持している。梁部30,32は、トーションバネ(捻りバネ)として機能する。これにより、可動体20がシーソー揺動することにより梁部30,32に生じるねじり変形に対して強い復元力を有し、梁部30,32が破損することを防止することができる。
第1梁部30および第2梁部32は、図1に示すように、平面視において、第1軸Q1上に配置されている。梁部30,32は、固定部40から可動体20まで、第1軸Q1上を延出している。梁部30,32は、可動体20の回転軸(揺動軸)となる第1軸Q1の位置を決定する部材である。梁部30,32は、固定部40と可動体20とを接続している。第1梁部30は、可動体20の+Y軸方向側の側面に接続され、第2梁部32は、可動体20の−Y軸方向側の側面に接続されている。
固定部40は、平面視において、可動体20の周囲に設けられている。図示の例では、固定部40は、平面視において可動体20を囲むように設けられている。なお、固定部40の形状は、特に限定されない。固定部40は、支持基板10に固定されている。固定部40と可動体20とは、離間しており、固定部40と可動体20との間には、間隙4が設けられている。
可動体20、梁部30,32、および固定部40は、一体に設けられている。可動体20、梁部30,32、および固定部40は、1つの基板(例えばシリコン基板)をパターニングすることによって一体的に設けられる。
第1固定電極部50は、支持基板10上に設けられている。第1固定電極部50は、第1可動電極部21に対向する位置に配置されている。第1固定電極部50の上方には、間隙2を介して、第1可動電極部21が位置している。第1固定電極部50は、第1可動電極部21との間に静電容量C1を形成するように設けられている。
第2固定電極部52は、支持基板10上に設けられている。第2固定電極部52は、第2可動電極部22に対向する位置に配置されている。第2固定電極部52の上方には、間隙を介して、第2可動電極部22が位置している。第2固定電極部52は、第2可動電極部22との間に静電容量C2を形成するように設けられている。第1固定電極部50の面積と第2固定電極部52の面積は、等しい。第1固定電極部50の平面形状と、第2固定電極部52の平面形状は、例えば、第1軸Q1を軸として、対称である。
固定電極部50,52の材質は、例えば、アルミ、金、ITO(Indium Tin Oxide)等である。固定電極部50,52の材質は、ITO等の透明電極材料であることが望ましい。固定電極部50,52として、透明電極材料を用いることにより、支持基板10が透明基板(ガラス基板)である場合、固定電極部50,52上に存在する異物等を容易に視認することができるためである。
蓋体60は、支持基板10に載置されている。蓋体60としては、例えば、シリコン基板(シリコン製の基板)を用いることができる。支持基板10としてガラス基板を用いた場合、支持基板10と蓋体60とは、陽極接合によって接合されていてもよい。
次に、物理量センサー100の動作について説明する。物理量センサー100では、加速度、角速度等の物理量に応じて、可動体20が第1軸Q1まわりに揺動(回動)する。この可動体20の動きに伴って、第1可動電極部21と第1固定電極部50との間の距離、および第2可動電極部22と第2固定電極部52との間の距離が変化する。具体的には、電極部21,50間の距離および電極部22,52間の距離のうちの一方の距離が大きくなり、他方の距離が小さくなる。そのため、可動体20の揺動(回動)によって、静電容量C1,C2のうちの一方が大きくなり、他方が小さくなる。したがって、静電容量C1と静電容量C2との差に基づいて(いわゆる差動容量検出方式により)、加速度や角速度等の物理量を検出することができる。
上述のように、物理量センサー100は、加速度センサーやジャイロセンサー等の慣性センサーとして使用することができ、具体的には、例えば、鉛直方向の加速度を測定するための静電容量型加速度センサーとして使用することができる。
本実施形態に係る物理量センサー100は、例えば、以下の特徴を有する。
物理量センサー100では、可動体20は、回転軸となる第1軸Q1を境にして第1シーソー片20aに設けられた第1可動電極部21およびダンピング調整部23と、第2シーソー片20bに設けられた第2可動電極部22とを有し、平面視で第2貫通孔27,28を除く部分において、第1可動電極部21と第1固定電極部50とが重なる領域の面積と、第2可動電極部22と第2固定電極部52とが重なる領域の面積とは等しい。これにより、初期状態(可動体が水平な状態)において、第1可動電極部21と第1固定電極部50との間の静電容量C1と、第2可動電極部22と第2固定電極部52との間の静電容量C2とを、等しくすることができる。したがって、例えば、電極部21,50間の初期容量と電極部22,52間の初期容量との差を解消するために、可動電極部と固定電極部との間のギャップの調整や、初期容量の差を補正するための回路等が不要なため、装置を簡易な構成とすることができる。このように、物理量センサー100によれば、簡易な構成で、初期状態における静電容量C1,C2を等しくすることができる。
さらに、物理量センサー100では、ダンピング調整部23に設けられている貫通孔26の幅aは、可動電極部21,22に設けられている貫通孔27,28の幅b,cよりも大きい。これにより、可動電極部21,22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減できる。また、ダンピング調整部23では、面積を確保する(大きくする)必要がないため、可動電極部21,22に設けられた貫通孔27,28に比べて、幅の大きな貫通孔26を形成することで、ダンピングをより低減できる。したがって、物理量センサー100によれば、検出感度を高めることができる。このように物理量センサー100によれば、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
物理量センサー100では、可動体20の第1シーソー片20aの質量と可動体20の第2シーソー片20bの質量とは、異なっている。そのため、例えば鉛直方向の加速度が加わったときに、可動体20の一方側(第1シーソー片20a)の回転モーメントと、可動体20の他方側(第2シーソー片20b)の回転モーメントとが均衡せず、可動体に所定の傾きを生じさせることができる。
物理量センサー100では、第1可動電極部21に設けられている貫通孔27の面積と、第2可動電極部22に設けられている貫通孔28の面積とは、同じである。これにより、簡易な構成で、初期状態における静電容量C1,C2を等しくすることができる。
また、物理量センサー100では、第1可動電極部21に設けられている貫通孔27の総面積と、第2可動電極部22に設けられている貫通孔28の総面積とは、同じである。これにより、簡易な構成で、初期状態における静電容量C1,C2を等しくすることができる。
物理量センサー100では、可動電極部21,22に設けられている貫通孔27,28は、平面視で第1軸Q1の方向に延出している。これにより、可動電極部21,22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。
物理量センサー100では、ダンピング調整部23には、貫通孔26が複数設けられている。また、第1可動電極部21には、貫通孔27が複数設けられており、第2可動電極部22には、貫通孔28が複数設けられている。これにより、ダンピングをより低減することができる。
物理量センサー100では、ダンピング調整部23は、可動体20の第2軸Q2の方向の端部に設けられている。これにより、回転軸となる第1軸Q1から離れたところに貫通孔26を設けることができるため、ダンピングを効率よく低減することができる。
2. 物理量センサーの製造方法
次に、本実施形態に係る物理量センサーの製造方法について、図面を参照しながら説明する。図4〜図6は、本実施形態に係る物理量センサー100の製造工程を模式的に示す断面図である。
図4に示すように、例えば、ガラス基板をエッチングしてガラス基板に凹部12を形成して、支持基板10を得る。エッチングは、例えば、ウエットエッチングにより行われる。
次に、凹部12の底面を規定する支持基板10の面14に、第1固定電極部50および第2固定電極部52を形成する。固定電極部50,52は、スパッタ法等により支持基板10の面14上に導電層を成膜した後、当該導電層をフォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いてパターニングすることにより形成される。
図5に示すように、支持基板10に、シリコン基板201(センサー基板)を接合させる。支持基板10とシリコン基板201との接合は、例えば、陽極接合や直接接合、または接着剤を用いて行われる。
図6に示すように、シリコン基板201を、例えば研削機によって研削して薄膜化した後、所望の形状にパターニングして、可動体20、梁部30,32、および固定部40を形成する。さらに、可動体20には、貫通孔26,27,28が形成される。パターニングは、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術(ドライエッチング)によって行われ、より具体的なエッチング技術として、ボッシュ(Bosch)法を用いることができる。本工程では、シリコン基板201をパターニング(エッチング)することにより、可動体20、梁部30,32、固定部40が一体的に形成される。
図1および図2に示すように、支持基板10に蓋体60を接合して、支持基板10および蓋体60によって形成される空間に可動体20を収容する。支持基板10と蓋体60との接合は、例えば、陽極接合や接着剤等を用いて行われる。本工程を、不活性ガス雰囲気で行うことにより、可動体20が収容される空間に不活性ガスを充填することができる。
以上の工程により、物理量センサー100を製造することができる。
3. 物理量センサーの変形例
次に、本実施形態の変形例に係る物理量センサーについて、図面を参照しながら説明する。図7は、本実施形態の変形例に係る物理量センサー200を模式的に示す平面図である。以下、物理量センサー200において、物理量センサー100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
上述した物理量センサー100では、図1に示すように、回転軸となる第1軸Q1を、可動体20の中心(重心)から外れた位置に配置していた。
これに対して、物理量センサー200では、図7に示すように、回転軸となる第1軸Q1は、可動体20の中心(重心)を通るように配置されている。
可動体20は、第1軸Q1の一方側(第1シーソー片20a)に第1可動電極部21およびダンピング調整部23(第1ダンピング調整部23)を有し、第1軸Q1の他方側(第2シーソー片20b)に第2可動電極部22および第2ダンピング調整部223を有している。
第2ダンピング調整部223は、第2シーソー片20bのうち、平面視で第2固定電極部52と重ならない部分である。図示の例では、第2ダンピング調整部223は、可動体20の第2軸Q2の方向(第2軸Q2に沿う方向)の端部に設けられている。第2ダンピング調整部223には、可動体20を厚さ方向に貫通する貫通孔226が設けられている。図示の例では、第2ダンピング調整部223には、複数(2個)の貫通孔226が設けられている。ダンピング調整部23,223において、貫通孔26,226の数や面積を調整することによって、可動体20の減衰を調整することができる。
第2ダンピング調整部223に設けられている貫通孔226の幅a2は、第1ダンピング調整部23に設けられている貫通孔26の幅a1よりも大きい。そのため、第1シーソー片20aの質量は、第2シーソー片20bの質量よりも大きい。したがって、例えば鉛直方向の加速度が加わったときに、可動体20の一方側(第1シーソー片20a)の回転モーメントと、可動体20の他方側(第2シーソー片20b)の回転モーメントとが均衡せず、可動体に所定の傾きを生じさせることができる。
物理量センサー200によれば、ダンピング調整部23,223に設けられている貫通孔26,226の幅a1,a2は、可動電極部21,22に設けられている貫通孔27,28の幅b,cよりも大きい。これにより、物理量センサー100と同様に、可動電極部21,22の面積を確保しつつ、ダンピングを効率よく低減することができる。また、ダンピング調整部23,223では、面積を大きくする必要がないため、可動電極部21,22に設けられた貫通孔27,28に比べて、幅の大きな貫通孔26,226を形成することで、ダンピングをより低減することができる。したがって、物理量センサー200によれば、検出感度を高めることができる。さらに、第1可動電極部21と第1固定電極部50とが重なる領域の面積と、第2可動電極部22と第2固定電極部52とが重なる領域の面積とは等しいため、簡易な構成で、初期状態における静電容量C1,C2を等しくすることができる。
4. 電子機器
次に、本実施形態に係る電子機器について、図面を参照しながら説明する。本実施形態に係る電子機器は、本発明に係る物理量センサーを含む。以下では、本発明に係る物理量センサーとして、物理量センサー100を含む電子機器について、説明する。
図8は、本実施形態に係る電子機器として、モバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピューター1100を模式的に示す斜視図である。
図8に示すように、パーソナルコンピューター1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示部1108を有する表示ユニット1106と、により構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。
このようなパーソナルコンピューター1100には、物理量センサー100が内蔵されている。
図9は、本実施形態に係る電子機器として、携帯電話機(PHSも含む)1200を模式的に示す斜視図である。
図9に示すように、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206を備え、操作ボタン1202と受話口1204との間には、表示部1208が配置されている。
このような携帯電話機1200には、物理量センサー100が内蔵されている。
図10は、本実施形態に係る電子機器として、デジタルスチルカメラ1300を模式的に示す斜視図である。なお、図10には、外部機器との接続についても簡易的に示している。
ここで、通常のカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、デジタルスチルカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。
デジタルスチルカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部1310が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、表示部1310は、被写体を電子画像として表示するファインダーとして機能する。
また、ケース1302の正面側(図中裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCDなどを含む受光ユニット1304が設けられている。
撮影者が表示部1310に表示された被写体像を確認し、シャッターボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、メモリー1308に転送・格納される。
また、このデジタルスチルカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、ビデオ信号出力端子1312には、テレビモニター1430が、データ通信用の入出力端子1314には、パーソナルコンピューター1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、メモリー1308に格納された撮像信号が、テレビモニター1430や、パーソナルコンピューター1440に出力される構成になっている。
このようなデジタルスチルカメラ1300には、物理量センサー100が内蔵されている。
以上のような電子機器1100,1200,1300は、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることが可能な物理量センサー100を含む。そのため、電子機器1100,1200,1300は、簡易な構成を有し、かつ、検出感度を高めることができる。
なお、上記物理量センサー100を備えた電子機器は、図8に示すパーソナルコンピューター(モバイル型パーソナルコンピューター)、図9に示す携帯電話機、図10に示すデジタルスチルカメラの他にも、例えば、インクジェット式吐出装置(例えばインクジェットプリンター)、ラップトップ型パーソナルコンピューター、テレビ、ビデオカメラ、ビデオテープレコーダー、各種ナビゲーション装置、ページャー、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS端末、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシミュレーターなどに適用することができる。
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
2…間隙、4…間隙、10…支持基板、12…凹部、14…面、20…可動体、20a…第1シーソー片、20b…第2シーソー片、21…第1可動電極部、22…第2可動電極部、24,25…端面、26…ダンピング調整部、26…貫通孔(第1貫通孔)、27,28…貫通孔(第2貫通孔)、30…第1梁部、32…第2梁部、40…固定部、50…第1固定電極部、52…第2固定電極部、60…蓋体、100,200…物理量センサー、201…シリコン基板、223…第2ダンピング調整部、226…貫通孔、1021…可動電極部、1050…固定電極部、1100…パーソナルコンピューター、1100…電子機器、1102…キーボード、1104…本体部、1106…表示ユニット、1108…表示部、1200…携帯電話機、1202…操作ボタン、1204…受話口、1206…送話口、1208…表示部、1300…デジタルスチルカメラ、1302…ケース、1304…受光ユニット、1306…シャッターボタン、1308…メモリー、1310…表示部、1312…ビデオ信号出力端子、1314…入出力端子、1430…テレビモニター、1440…パーソナルコンピューター、C1,C2…静電容量、Q1…第1軸、Q2…第2軸

Claims (8)

  1. 基板と、
    第1軸を回転軸として変位可能であって、平面視で前記第1軸を境にして、第1領域に設けられた第1可動電極部と、第2領域に設けられた第2可動電極部と、前記第1領域および前記第2領域の少なくとも一方に設けられたダンピング調整部とを備えた可動体と、
    前記可動体を前記第1軸まわりに変位可能に支持する梁部と、
    前記基板に前記第1可動電極部と対向して配置されている第1固定電極部と、
    前記基板に前記第2可動電極部と対向して配置されている第2固定電極部と、
    を含み、
    前記ダンピング調整部には、第1貫通孔が設けられ、
    前記第1可動電極部および前記第2可動電極部には、第2貫通孔が設けられ、
    平面視で前記第2貫通孔を除く部分において、前記第1可動電極部と前記第1固定電極部とが重なる領域の面積と、前記第2可動電極部と前記第2固定電極部とが重なる領域の面積とは同じであり、
    前記第1貫通孔の幅の大きさは、前記第2貫通孔の幅よりも大きい、物理量センサー。
  2. 請求項1において、
    前記可動体の前記第1領域の質量と前記可動体の前記第2領域の質量とは、異なっている、物理量センサー。
  3. 請求項1または2において、
    前記第1可動電極部に設けられている前記第2貫通孔の総面積と、前記第2可動電極部に設けられている前記第2貫通孔の総面積とは、同じである、物理量センサー。
  4. 請求項1ないし3のいずれか1項において、
    前記第2貫通孔は、平面視で前記第1軸の方向に延出している、物理量センサー。
  5. 請求項1ないし4のいずれか1項において、
    前記第1貫通孔および前記第2貫通孔の少なくとも一方は、複数設けられている、物理量センサー。
  6. 請求項1ないし5のいずれか1項において、
    前記ダンピング調整部は、前記可動体の前記第1軸に交差する第2軸の方向の端部に設けられている、物理量センサー。
  7. 請求項1ないし6のいずれか1項において、
    前記ダンピング調整部は、前記第1領域および前記第2領域の両方に設けられ、
    前記第1領域に設けられた前記ダンピング調整部の前記第1貫通孔の幅は、前記第2領域に設けられた前記ダンピング調整部の前記第1貫通孔の幅よりも大きい、物理量センサー。
  8. 請求項1ないし7いずれか1項に記載の物理量センサーを含む、電子機器。
JP2012087244A 2012-04-06 2012-04-06 物理量センサーおよび電子機器 Expired - Fee Related JP5935986B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012087244A JP5935986B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 物理量センサーおよび電子機器
CN201310115933.0A CN103364589B (zh) 2012-04-06 2013-04-03 物理量传感器和电子设备
US13/856,053 US9470703B2 (en) 2012-04-06 2013-04-03 Physical quantity sensor and electronic apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012087244A JP5935986B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 物理量センサーおよび電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013217721A true JP2013217721A (ja) 2013-10-24
JP5935986B2 JP5935986B2 (ja) 2016-06-15

Family

ID=49291249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012087244A Expired - Fee Related JP5935986B2 (ja) 2012-04-06 2012-04-06 物理量センサーおよび電子機器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9470703B2 (ja)
JP (1) JP5935986B2 (ja)
CN (1) CN103364589B (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017046866A1 (ja) * 2015-09-15 2017-03-23 株式会社日立製作所 加速度センサ
US9828235B2 (en) 2014-05-01 2017-11-28 Seiko Epson Corporation Functional element, physical quantity sensor, electronic apparatus and mobile entity
CN108663539A (zh) * 2017-03-27 2018-10-16 精工爱普生株式会社 物理量传感器、电子设备、便携式电子设备及移动体
JP2020082345A (ja) * 2018-11-23 2020-06-04 株式会社村田製作所 陥凹構造をエッチングするための方法
US10830788B2 (en) 2016-03-03 2020-11-10 Seiko Epson Corporation Sensor device, electronic equipment, and vehicle
JP2022048897A (ja) * 2020-09-15 2022-03-28 株式会社東芝 センサ
US11454645B2 (en) 2019-06-24 2022-09-27 Seiko Epson Corporation Inertial sensor, electronic instrument, and vehicle

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6274413B2 (ja) * 2014-02-25 2018-02-07 セイコーエプソン株式会社 機能素子、電子機器、および移動体
JP6380737B2 (ja) * 2014-04-18 2018-08-29 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、電子機器、および移動体
US9810712B2 (en) * 2014-08-15 2017-11-07 Seiko Epson Corporation Physical quantity sensor, physical quantity sensor device, electronic equipment, and moving body
US10295346B2 (en) * 2014-10-28 2019-05-21 Seiko Epson Corporation Physical quantity detecting vibration element, physical quantity sensor, electronic apparatus, and moving object
JP6611467B2 (ja) * 2015-05-19 2019-11-27 キヤノン株式会社 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置
JP6485260B2 (ja) * 2015-07-10 2019-03-20 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、物理量センサー装置、電子機器および移動体
CN106800270B (zh) * 2015-11-26 2019-04-30 中国科学院上海微***与信息技术研究所 极板结构、采用该极板结构的静电驱动结构及其制作方法
CN109691135B (zh) 2016-07-11 2020-12-08 潍坊歌尔微电子有限公司 电容式mems麦克风以及电子设备
TWI663403B (zh) * 2017-05-08 2019-06-21 日商村田製作所股份有限公司 一種電容式微機械加速度計以及一種用於在此電容式微機械加速度計中執行一自我測試之方法
TWI668412B (zh) * 2017-05-08 2019-08-11 日商村田製作所股份有限公司 電容式微機電加速度計及相關方法
JP6585147B2 (ja) * 2017-12-01 2019-10-02 浜松ホトニクス株式会社 アクチュエータ装置
CN115051526A (zh) * 2017-12-01 2022-09-13 浜松光子学株式会社 致动器装置
IT201900000190A1 (it) * 2019-01-08 2020-07-08 St Microelectronics Srl Dispositivo mems con geometria ottimizzata per la riduzione dell'offset dovuto all'effetto radiometrico
JP2021021676A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 セイコーエプソン株式会社 慣性センサー、電子機器および移動体
JP7383978B2 (ja) * 2019-10-23 2023-11-21 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器および移動体
DE102020203572A1 (de) 2020-03-19 2021-09-23 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Mikromechanisches Bauelement mit einem Substrat und einer beweglichen Masse

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120031185A1 (en) * 2010-08-09 2012-02-09 Johannes Classen Acceleration sensor having a damping device
JP5145349B2 (ja) * 2006-12-12 2013-02-13 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング マイクロマシニング式のzセンサ
JP5557336B2 (ja) * 2007-08-03 2014-07-23 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド 微小電気機械システム(mems)センサを備える装置およびそのセンサの製造方法
JP5790296B2 (ja) * 2011-08-17 2015-10-07 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び電子機器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5404749A (en) 1993-04-07 1995-04-11 Ford Motor Company Boron doped silicon accelerometer sense element
US5488864A (en) 1994-12-19 1996-02-06 Ford Motor Company Torsion beam accelerometer with slotted tilt plate
DE19541388A1 (de) 1995-11-07 1997-05-15 Telefunken Microelectron Mikromechanischer Beschleunigungssensor
US6513380B2 (en) 2001-06-19 2003-02-04 Microsensors, Inc. MEMS sensor with single central anchor and motion-limiting connection geometry
US7121141B2 (en) 2005-01-28 2006-10-17 Freescale Semiconductor, Inc. Z-axis accelerometer with at least two gap sizes and travel stops disposed outside an active capacitor area
DE102006022811A1 (de) 2006-05-16 2007-11-22 Robert Bosch Gmbh Beschleunigungssensor
CN101386400B (zh) * 2007-09-13 2010-12-22 李刚 电容式单质量块三轴加速度传感器及制备方法
US8079262B2 (en) 2007-10-26 2011-12-20 Rosemount Aerospace Inc. Pendulous accelerometer with balanced gas damping

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5145349B2 (ja) * 2006-12-12 2013-02-13 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング マイクロマシニング式のzセンサ
JP5557336B2 (ja) * 2007-08-03 2014-07-23 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド 微小電気機械システム(mems)センサを備える装置およびそのセンサの製造方法
US20120031185A1 (en) * 2010-08-09 2012-02-09 Johannes Classen Acceleration sensor having a damping device
JP5790296B2 (ja) * 2011-08-17 2015-10-07 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び電子機器

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9828235B2 (en) 2014-05-01 2017-11-28 Seiko Epson Corporation Functional element, physical quantity sensor, electronic apparatus and mobile entity
US10421661B2 (en) 2014-05-01 2019-09-24 Seiko Epson Corporation Functional element, electronic apparatus and mobile entity
WO2017046866A1 (ja) * 2015-09-15 2017-03-23 株式会社日立製作所 加速度センサ
JPWO2017046866A1 (ja) * 2015-09-15 2018-05-31 株式会社日立製作所 加速度センサ
US10739376B2 (en) 2015-09-15 2020-08-11 Hitachi, Ltd. Acceleration sensor
US10830788B2 (en) 2016-03-03 2020-11-10 Seiko Epson Corporation Sensor device, electronic equipment, and vehicle
CN108663539A (zh) * 2017-03-27 2018-10-16 精工爱普生株式会社 物理量传感器、电子设备、便携式电子设备及移动体
JP2020082345A (ja) * 2018-11-23 2020-06-04 株式会社村田製作所 陥凹構造をエッチングするための方法
JP7060000B2 (ja) 2018-11-23 2022-04-26 株式会社村田製作所 陥凹構造をエッチングするための方法
US11454645B2 (en) 2019-06-24 2022-09-27 Seiko Epson Corporation Inertial sensor, electronic instrument, and vehicle
JP2022048897A (ja) * 2020-09-15 2022-03-28 株式会社東芝 センサ
JP7419202B2 (ja) 2020-09-15 2024-01-22 株式会社東芝 センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP5935986B2 (ja) 2016-06-15
US20130263662A1 (en) 2013-10-10
US9470703B2 (en) 2016-10-18
CN103364589B (zh) 2017-07-18
CN103364589A (zh) 2013-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5935986B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP5979344B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP5943192B2 (ja) 物理量センサーおよびその製造方法、並びに電子機器
JP5930183B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP6146565B2 (ja) 物理量センサー、電子機器、および移動体
US10317425B2 (en) Functional element, electronic apparatus, and moving object
JP6897663B2 (ja) センサーデバイス、電子機器、および移動体
JP5962900B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP5942554B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP2013181855A (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP6206650B2 (ja) 機能素子、電子機器、および移動体
JP6146566B2 (ja) 物理量センサー、電子機器、および移動体
JP2015017886A (ja) 物理量センサー、電子機器、および移動体
JP6380737B2 (ja) 電子デバイス、電子機器、および移動体
JP2013160554A (ja) 物理量センサーおよびその製造方法、並びに電子機器
JP2016044978A (ja) 物理量センサー、電子機器および移動体
JP6327384B2 (ja) 物理量センサー、電子機器、および移動体
JP5935402B2 (ja) 物理量センサーおよび電子機器
JP6464608B2 (ja) 物理量センサー、電子機器および移動体
JP6137451B2 (ja) 物理量センサー、電子機器、及び移動体
JP2014134482A (ja) 物理量センサー、電子機器、及び移動体
JP2016045190A (ja) 物理量センサー、電子機器および移動体

Legal Events

Date Code Title Description
RD07 Notification of extinguishment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427

Effective date: 20140619

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150402

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160323

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160413

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160426

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5935986

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees