JP2013197839A - 撮像装置、その制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】ユーザの操作性を損なうことなく、撮像素子における後発画素欠陥の影響を低減させられるようにする。
【解決手段】撮影に際して、後発画素欠陥検出条件を満たすか否かを判断し、満たすと判断した場合、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する。例えば後発画素欠陥検出用の撮影条件がシャッタースピード１秒、ＩＳＯ感度２００であり、測光データがシャッタースピード１/２秒、Ｆ値５.６、ＩＳＯ感度４００であった場合、シャッタースピードを１秒、Ｆ値を５.６、ＩＳＯ感度を２００と測光データを変更する。変更した撮影条件で、撮像素子１４で本画像を撮像し、続いて撮像素子１４を遮光した状態で黒画像を取得して、本画像から黒画像を減算する。その後、黒画像を用いて後発画素欠陥を検出して、後発画素欠陥が検出された場合、不揮発メモリ５６の画素欠陥の情報を更新する。
【選択図】図５

Description

本発明は、撮像素子の後発画素欠陥を検出するに好適な撮像装置、その制御方法及びプログラムに関する。

従来、デジタルカメラやビデオカメラ等の撮像装置において、ＣＣＤやＣＭＯＳセンサ等の固体撮像素子が一般的に使用されている。この固体撮像素子では、製造過程において発生する画素欠陥が、画質の低下や製造上の歩留まりを下げる要因の一つとなっていることが知られている。
画素欠陥にはいくつかの種類があり、遮光した状態で撮影したにも関わらず、画素が白く飽和してしまう白画素欠陥と呼ばれるものや、逆に光をあてた状態で撮影したにも関わらず、画素が黒のままになってしまう黒画素欠陥と呼ばれるものもある。
また、画素欠陥には、撮像素子の経時劣化や撮像時の環境変化等の影響によって過渡的に発生する後発画素欠陥も存在する。

画素欠陥を完全に無くすことは困難であることから、一般的に、欠陥画素の周囲画素を用いた補間処理を行って画質向上を図ることが知られている。
欠陥画素から出力される信号の補正技術として、例えば、特許文献１の「従来の技術」に記載された方法が知られている。まず、固体撮像素子の工場出荷時等に、所定の条件下において標準電荷蓄積時間、固体撮像素子を露光して得られる出力値を用いて欠陥画素を判定する。そして、その際に取得した欠陥画素の位置情報及び出力レベル等の欠陥画素情報を記憶しておき、撮像時には、この記憶した欠陥画素情報に基づいて、欠陥画素に隣接する画素の出力レベルを用いて欠陥画素の出力の補間処理を行う。

一方、固体撮像素子では、温度等の要因に起因して発生する暗電流が知られているが、この暗電流は使用環境や露光時間等によって変化する。そのため、実際の撮影動作の直前又は直後に、撮像素子を遮光した状態で撮影動作を行い、その際に得られた撮影画像（ダーク画像又は黒画像）を、被写体を撮影した画像から減算処理する技術が知られている（例えば、特許文献１の「従来の技術」を参照）。このように、被写体画像からダーク画像を減算することで、暗電流成分の固定パターンノイズや微小なキズ等による影響を低減させ、画質の向上を図っている。

また、固体撮像素子の製造時にダーク画像から抽出し、記憶しておいた固定パターンノイズを、撮像装置内の温度センサが検出した温度変化に対応させるようにゲインをかける方法も開示されている（例えば、特許文献２を参照）。この方法では、被写体を撮影した画像に対して、温度変化に応じたゲインがかけられた固定パターンノイズの加減算を行って補正することで、固定パターンノイズの温度依存性による影響を取り除く。

また、ダーク画像の出力データを複数回取り込んで平均したデータを用いて補正を行うことで、ダーク画像のランダム成分を低減させた黒レベルの補正を行う技術も開示されている（例えば、特許文献３を参照）。

特開２００３−３３３４３５号公報 特開２００３−１８４７５号公報 特開平８−６５５０６号公報

特許文献１に記載のように、固体撮像素子の工場出荷時等に取得した欠陥画素情報を記憶しておき、撮像時には、この記憶した欠陥画素情報に基づいて、欠陥画素の出力の補間処理を行う方法では、撮像素子の経時劣化や撮像時の環境変化等の影響によって過渡的に発生した後発画素欠陥に対しては位置情報及び出力レベル等の情報がなく、補正処理を行うことができない。
そのため、後発画素欠陥を検出し、欠陥画素情報を更新しようとした場合、画素欠陥を検出するための撮影、画素欠陥の検出、欠陥画素情報の更新等に時間を要し、ユーザの操作性を損ねてしまう。例えば白画素欠陥を検出するための撮影条件として、遮光して撮影する必要があったり、適切な露出（感度、シャッタースピード）と温度で撮影を行ったりする必要がある。

また、特許文献３に記載の方法では、複数回、画像を取り込むために時間が余計に必要である。そのため、カメラ等の撮像装置においてはレリーズ間隔等に支障を来し、ユーザの操作性を損ねてしまう。

本発明は上記のような問題点を鑑みてなされたものであり、ユーザの操作性を損なうことなく、撮像素子における後発画素欠陥の影響を低減させられるようにすることを目的とする。

本発明の撮像装置は、複数の画素を備える撮像素子と、前記撮像素子の画素欠陥の情報を記憶する記憶手段と、撮影に際して、後発画素欠陥検出条件を満たすか否かを判断する判断手段と、前記判断手段で後発画素欠陥検出条件を満たすと判断した場合、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する変更手段と、前記変更した撮影条件で、前記撮像素子で本画像を撮像するように制御する手段と、前記変更した撮影条件で、前記撮像素子を遮光した状態で黒画像を取得するように制御する手段と、前記本画像から前記黒画像を減算する減算手段と、前記黒画像を用いて後発画素欠陥を検出する後発画素欠陥検出手段と、前記後発画素欠陥が検出された場合、前記記憶手段の画素欠陥の情報を更新する更新手段とを備えたことを特徴とする。

本発明によれば、ユーザの操作性を損なうことなく、撮像素子における後発画素欠陥の影響を低減させることができる。

実施形態に係るデジタルカメラの構成を示す図である。 実施形態に係るデジタルカメラの主ルーチンを説明するためのフローチャートである。 実施形態に係るデジタルカメラの主ルーチンを説明するためのフローチャートである。 測距・測光処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 撮影処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 撮影処理において後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する処理を説明するためのフローチャートである。

以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。
以下に説明する実施形態では、本発明を適用する撮像装置としてデジタルカメラを例に説明する。
図１は、本発明の実施形態に係るデジタルカメラ１００の構成を示す図である。１０は撮影レンズである。１２は絞り機能を備える機械式シャッターである。１４は光学像を電気信号に変換する撮像素子であり、複数の画素を備える。１６はＡ／Ｄ変換器であり、撮像素子１４のアナログ信号出力をデジタル信号に変換する。１８はタイミング発生回路であり、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給する。タイミング発生回路１８は、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。機械式シャッター１２以外にも、タイミング発生回路１８による撮像素子１４のリセットタイミングの制御によって、電子シャッターとして蓄積時間を制御することが可能であり、動画撮影等に使用可能である。

２０は画像処理回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０によって画像の切り出し、変倍処理を行うことで電子ズーム機能が実現される。また、画像処理回路２０は、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてシステム制御回路５０が露光制御部４０、測距制御部４２に対して制御を行う、ＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュプリ発光）処理を行う。さらに、画像処理回路２０は、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理も行う。

２２はメモリ制御回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６のデータが画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器１６のデータが直接メモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に書き込まれる。

２４は画像表示メモリ、２６はＤ／Ａ変換器、２８はＴＦＴ ＬＣＤ等からなる画像表示部であり、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データは、Ｄ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８により表示される。画像表示部２８を用いて撮像した画像データを逐次表示すれば、電子ファインダ機能を実現することが可能である。また、画像表示部２８は、システム制御回路５０の指示により任意に表示をオン／オフすることが可能であり、表示をオフにした場合にはデジタルカメラ１００の電力消費を大幅に低減することができる。

３０は撮影した静止画像や動画像のデータを格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像のデータを格納するのに十分な記憶量を備える。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影する連射撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。また、メモリ３０は、システム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
３２は圧縮・伸長回路であり、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する。圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像データを読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。

４０は機械式シャッター１２を制御する露光制御部であり、フラッシュ４８と連携することによりフラッシュ調光機能も有する。４２は撮影レンズ１０のフォーカシングを制御する測距制御部である。４４は撮影レンズ１０のズーミングを制御するズーム制御部である。４６はバリア１０２の動作を制御するバリア制御部である。４８はフラッシュであり、ＡＦ補助光の投光機能、フラッシュ調光機能も有する。露光制御部４０、測距制御部４２はＴＴＬ方式を用いて制御され、撮像した画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果に基づき、システム制御回路５０が露光制御部４０、測距制御部４２に対して制御を行う。

５０はシステム制御回路であり、デジタルカメラ１００全体を制御する。５２はメモリであり、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶する。

５４はシステム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する液晶表示装置、スピーカー等の表示部である。表示部５４は、デジタルカメラ１００の操作部近辺の視認し易い位置に設置され、例えばＬＣＤやＬＥＤ、発音素子等の組み合わせにより構成される。また、表示部５４は、その一部の機能が光学ファインダ１０４内に設置される。表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤ等に表示するものとしては、シングルショット／連写撮影表示、セルフタイマー表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示等がある。また、ブザー設定表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００及び２１０の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示等も可能である。また、表示部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示等がある。

５６は電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、例えばＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。各種パラメータやＩＳＯ感度等の設定値、また、欠陥画素の出力に対して補正処理を行う際に用いる、欠陥画素の位置情報等の欠陥画素に関する補正用データ等が格納される。

６０、６２、６４、６６、７０及び７２は、システム制御回路５０の各種の動作指示を入力するための操作手段であり、スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせにより構成される。
６０はモードダイアルスイッチであり、電源オフ、自動撮影モード、撮影モード、パノラマ撮影モード、動画撮影モード、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード、テレビ受信モード等の各機能モードを切り替え設定することができる。
６２はシャッタースイッチＳＷ１であり、シャッターボタンの操作途中（半押し）でオンとなり、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理、ＥＦ処理等の動作開始を指示する。６４はシャッタースイッチＳＷ２であり、シャッターボタンの操作完了（全押し）でオンとなり、露光処理、現像処理、圧縮処理、記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。露光処理では、撮像素子１４から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０に画像データを書き込む。現像処理は、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算が用いられる。圧縮処理では、メモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行う。記録処理では、記録媒体２００或いは２１０に画像データを書き込む。
６６は表示切替スイッチであり、画像表示部２８の表示切替をすることができる。この機能により、光学ファインダ１０４を用いて撮影を行う際に、画像表示部２８への電流供給を遮断することにより、省電力を図ることが可能となる。
７０は各種ボタンやタッチパネル等からなる操作部であり、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマー切り替えボタン等がある。また、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付/時間設定ボタン等もある。
７２はズームスイッチであり、ユーザが撮像画像の倍率変更指示を行う。ズームスイッチ７２は、撮像画角を望遠側に変更させるテレスイッチと、広角側に変更させるワイドスイッチからなる。このズームスイッチ７２を用いることにより、ズーム制御部４４に撮影レンズ１０の撮像画角の変更を指示し、光学ズーム操作を行うトリガとなる。また、画像処理回路２０による画像の切り出しや、画素補間処理等による撮像画角の電子的な変更のトリガともなる。
７４は被写体検出部であり、被写体を検出する素子等から構成される。被写体として、顔検出する場合も考えられる。

８０は電源制御部であり、電池検出回路、ＤＣ-ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成され、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。電源制御部８０は、検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ-ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。
８２はコネクタ、８４はコネクタである。８６は電源であり、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やＮｉＣｄ電池やＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池等の二次電池、ＡＣアダプタ等からなる。

９０及び９４はメモリカードやハードディスク等の記録媒体とのインタフェース、９２及び９６はメモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行うコネクタである。なお、本実施形態では記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタを２系統持つものとして説明している。もちろん、記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタは、単数或いは３以上の複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインタフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。インタフェース及びコネクタとしては、ＳＤカードやＣＦカード等の規格に準拠したものを用いて構成して構わない。さらに、インタフェース９０及び９４、そしてコネクタ９２及び９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カード等の規格に準拠したものを用いて構成することも可能である。すなわちＬＡＮカードやモデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、ＳＣＳＩカード、ＰＨＳ等の通信カード、等の各種通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことができる。

１０２は保護手段であるバリアであり、デジタルカメラ１００の撮影レンズ１０を含む撮像部を覆うことにより、撮像部の汚れや破損を防止する。
１０４は光学ファインダであり、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用すること無しに、光学ファインダのみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示等が設置される。
１１０は通信部であり、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、ＬＡＮ、無線通信等の各種通信機能を有する。１１２は通信部１１０によりデジタルカメラ１００を他の機器と接続するコネクタ或いは無線通信の場合はアンテナである。

２００はメモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２、デジタルカメラ１００とのインタフェース２０４、デジタルカメラ１００と接続を行うコネクタ２０６を備える。２１０はメモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、デジタルカメラ１００とのインタフェース２１４、デジタルカメラ１００と接続を行うコネクタ２１６を備える。

図２及び図３に、本実施形態に係るデジタルカメラ１００の主ルーチンのフローチャートを示す。図２及び図３を用いて、デジタルカメラ１００の動作を説明する。
電池交換等の電源投入により、システム制御回路５０はフラグや制御変数等を初期化し（ステップＳ１０１）、画像表示部２８の画像表示をオフ状態に初期設定する（ステップＳ１０２）。制御変数等の初期化時に、後発画素欠陥検出条件となる撮像装置内の温度の情報、前回の後発画素欠陥検出時からの経過時間を初期設定しておく。

次に、システム制御回路５０は、モードダイアルスイッチ６０の設定位置を判断する（ステップＳ１０３）。モードダイアルスイッチ６０が電源オフに設定されていたならば、所定の終了処理を行い（ステップＳ１０５）、その後ステップＳ１０３に戻る。所定の終了処理として、例えば次のようなものがある。各表示部の表示を終了状態に変更する。また、バリア１０２を閉じて撮像部を保護する。また、フラグや制御変数等を含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性メモリ５６に記録する。また、電源制御部８０により画像表示部２８を含むデジタルカメラ１００各部の不要な電源を遮断する。モードダイアルスイッチ６０が撮影モードに設定されていたならば、ステップＳ１０６に進む。モードダイアルスイッチ６０がその他のモードに設定されていたならば、システム制御回路５０は選択されたモードに応じた処理を実行し（ステップＳ１０４）、その後ステップＳ１０３に戻る。

ステップＳ１０６で、システム制御回路５０は、電源制御部８０により電源８６の残容量や動作情況がデジタルカメラ１００の動作に問題があるか否かを判断する。その結果、電源に問題があるならば、表示部５４を用いて画像や音声により所定の警告表示を行い（ステップＳ１０８）、その後ステップＳ１０３に戻る。電源８６に問題が無いならば、システム制御回路５０は、記録媒体２００或いは２１０の動作状態がデジタルカメラ１００の動作、特に記録媒体に対する画像データの記録再生動作に問題があるか否かを判断する（ステップＳ１０７）。その結果、記録媒体に問題があるならば、表示部５４を用いて画像や音声により所定の警告表示を行い（ステップＳ１０８）、その後ステップＳ１０３に戻る。記録媒体に問題が無いならば、システム制御回路５０は、表示部５４を用いて画像や音声によりデジタルカメラ１００の各種設定状態の表示を行う（ステップＳ１０９）。なお、画像表示部２８の画像表示がオンであったならば、画像表示部２８も用いて画像や音声によりデジタルカメラ１００の各種設定状態の表示を行う。

次に、システム制御回路５０は、撮像した画像データを逐次表示するスルー表示状態に設定する（ステップＳ１１６）。スルー表示状態においては、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４に逐次書き込まれたデータを、メモリ制御回路２２、Ｄ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８により逐次表示することにより、電子ファインダ機能を実現している。

次に、システム制御回路５０は、シャッタースイッチＳＷ１（６２）のオン、オフを判断する（ステップＳ１１９）。その結果、シャッタースイッチＳＷ１（６２）がオフ（シャッターボタンが押されていない）であれば、ステップＳ１０３に戻る。シャッタースイッチＳＷ１（６２）がオン（シャッターボタンの半押し）であれば、ステップＳ１２２に進む。
ステップＳ１２２で、システム制御回路５０は、測距処理を行って撮影レンズ１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッター時間を決定する。測光処理において、必要であればフラッシュの設定も行う。このステップＳ１２２の測距・測光処理の詳細は図４を用いて後述する。

次に、システム制御回路５０は、シャッタースイッチＳＷ２（６４）のオン、オフを判断する（ステップＳ１２５）。その結果、シャッタースイッチＳＷ２（６４）がオフで、さらにシャッタースイッチＳＷ１（６２）も解除されたならば（ステップＳ１２６）、ステップＳ１０３に戻る。シャッタースイッチＳＷ２（６４）がオン（シャッターボタンの全押し）であれば、ステップＳ１２９に進む。
ステップＳ１２９で、システム制御回路５０は、露光処理及び現像処理からなる撮影処理を実行する。露光処理では、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器から直接メモリ制御回路２２を介して、メモリ３０に撮影した画像データを書き込む。現像処理では、メモリ制御回路２２そして必要に応じて画像処理回路２０を用いて、メモリ３０に書き込まれた画像データを読み出して各種処理を行う。このステップＳ１２９の撮影処理の詳細は図５を用いて後述する。

撮影処理の後、システム制御回路５０は、シャッタースイッチＳＷ２（６４）のオン、オフを判断し（ステップＳ１３５）、オフであればステップＳ１０３に戻り、オンであればステップＳ１３６に進み、連写か否かを判断する。その結果、連写であればステップＳ１２９に戻り、連写でなければステップＳ１３５に戻る。

図４に、図３のステップＳ１２２における測距・測光処理の詳細なフローチャートを示す。
システム制御回路５０は、撮像素子１４から電荷信号を読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６を介して画像処理回路２０に撮影画像データを逐次読み込む（ステップＳ２０１）。この逐次読み込まれた画像データを用いて、画像処理回路２０はＴＴＬ方式のＡＥ処理、ＥＦ処理、ＡＦ処理に用いる所定の演算を行う。なお、ここでの各処理は、撮影した全画素数のうちの必要に応じた特定の部分を必要個所分切り取って抽出し、演算に用いている。これにより、ＴＴＬ方式のＡＥ処理、ＥＦ処理、ＡＷＢ処理、ＡＦ処理において、中央重点モード、平均モード、評価モードの各モード等の異なるモード毎に最適な演算を行うことが可能となる。

システム制御回路５０は、画像処理回路２０での演算結果を用いて露出（ＡＥ）が適正と判断されるまで（ステップＳ２０２）、露光制御部４０を用いてＡＥ制御を行う（ステップＳ２０３）。このとき、システム制御回路５０は、ＡＥ制御で得られた測定データを用いてフラッシュが必要か否かを判断し（ステップＳ２０４）、フラッシュが必要ならばフラッシュフラグをセットし、フラッシュ４８を充電する（ステップＳ２０５）。
ステップＳ２０２において露出（ＡＥ）が適正と判断したならば、システム制御回路５０は、測定データ及び或いは設定パラメータを内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。そして、システム制御回路５０は、画像処理回路２０での演算結果及びＡＥ制御で得られた測定データを用いてホワイトバランス（ＡＷＢ）が適正と判断されるまで（ステップＳ２０６）、画像処理回路２０を用いて色処理のパラメータを調節してＡＷＢ制御を行う（ステップＳ２０７）。
ステップＳ２０６においてホワイトバランス（ＡＷＢ）が適正と判断したならば、システム制御回路５０は、測定データ及び或いは設定パラメータを内部メモリ或いはメモリ５２に記憶する。そして、システム制御回路５０は、ＡＥ制御及びＡＷＢ制御で得られた測定データを用いて測距（ＡＦ）が合焦と判断されるまで（ステップＳ２０８）、測距制御部４２を用いてＡＦ制御を行う（ステップＳ２０９）。
ステップＳ２０９において測距（ＡＦ）が合焦と判断したならば、システム制御回路５０は、測定データ及び或いは設定パラメータを内部メモリ或いはメモリ５２に記憶し、測距・測光処理ルーチン（ステップＳ１２２）を終了する。

図５に、図３のステップＳ１２９における撮影処理の詳細なフローチャートを示す。
システム制御回路５０は、初期化時に設定された内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された後発画素欠陥検出条件を読み出し、現在の撮影条件が後発画素欠陥検出条件を満たしているか否かを判断する（ステップＳ３０１）。ここで、後発画素欠陥検出条件を満たすとは、撮像装置内の温度が一定以上で、前回の後発画素欠陥検出時からの経過時間が一定以上であることとする。

システム制御回路５０は、後発画素欠陥検出条件を満たすと判断した場合、内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された測光データに基づいて、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する（ステップＳ３０２）。このステップＳ３０２の後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する処理の詳細は図６を用いて後述する。この場合に、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された測光データが大きく変化しないように制御することが必要となる。例えば測光データと後発画素欠陥検出用の撮影条件が大きく異なる場合には、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更しないようにする。

次に、システム制御回路５０は、変更された撮影条件（測光データ）に従って、露光制御部４０によって、機械式シャッター１２を絞り値に応じて開放して撮像素子１４を露光し、本画像撮影を行う（ステップＳ３０３）。
ここで、シャッタースピードが所定の速度以上である否か（ステップＳ３０４）、撮像装置内の温度が所定の温度以上であるか否かを確認する（ステップＳ３０５）。両方とも満たしていれば、ステップＳ３０６に進み、変更された撮影条件（測光データ）に従って、黒画像撮影を行う。黒画像撮影では、撮像素子１４を遮光した状態で黒画像を取得する。いずれかでも満たしていなければ、ステップＳ３１６に進む。黒画像撮影が行われない場合、後発画素欠陥検出処理は行われないことになる。なお、ステップＳ３０２の撮影条件の変更は、後発画素欠陥検出用の撮影条件を満たすように変更するのではなく、光量としては変わらない範囲で、可能な限り後発画素欠陥検出用の撮影条件に近づけるように設定を変更するものである。それに対して、ステップＳ３０４、Ｓ３０５でチェックするのは、変更された撮影条件に対して、黒画像撮影を行うか否かである。ここで、再確認しているのは、変更された撮影条件に対して黒画像撮影が必要か否かをチェックしている。
ステップＳ３０６の黒画像撮影の後、本画像から黒画像を減算し（ステップＳ３０７）、ステップＳ３０８に進む。

ステップＳ３０８、Ｓ３１６で、システム制御回路５０の制御下で、設定された撮影モードに応じて、現像処理を順次行った後、メモリ３０に処理を終えた画像データを書き込む。システム制御回路５０は、メモリ制御回路２２を用いて、メモリ３０に書き込まれた画像データを読み出して、設定したモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長回路３２により行う（ステップＳ３０９、Ｓ３１７）。その後、インタフェース９０或いは９４、コネクタ９２或いは９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッシュカード等の記録媒体２００或いは２１０へ圧縮した画像データの書き込みを行う（ステップＳ３１０、Ｓ３１８）。ステップＳ３１０の後、ステップＳ３１１に進む。

ステップＳ３１１で、システム制御回路５０は、ステップＳ３０２において設定した撮影条件が、後発画素欠陥検出に適しているか否かを判断する。その結果、適していればステップＳ３１３に進み、適していなければ、黒画像にゲインをかけて後発画素欠陥を検出しやすくした後（ステップＳ３１２）、ステップＳ３１３に進む。なお、ステップＳ３１２において、黒画像にゲインをかけるのではなく、白画素欠陥を判断する閾値を変更するようにしてもよい。
ステップＳ３１３で、黒画像の各画素に対して出力レベルと閾値とを比較し、後発画素欠陥である白画素欠陥を検出する。ステップＳ３１３において後発画素欠陥が検出されたならば（ステップＳ３１４）、不揮発性メモリ５６の補正用データを更新する（ステップＳ３１５）。また、このとき更新した日時も保存しておく。一連の処理を終えたならば、撮影処理ルーチンＳ１２９を終了する。

図６に、図５のステップＳ３０２における後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する処理の詳細なフローチャートを示す。
システム制御回路５０は、内部メモリ或いはメモリ５２に記憶された測光データが後発画素欠陥検出用の撮影条件を満たすか否かを判断する（ステップＳ４０１）。例えば後発画素欠陥検出用の撮影条件として、シャッタースピードが１秒、ＩＳＯ感度が２００として規定されているとする。記録された測光データが、シャッタースピードが１/２秒、Ｆ値が５.６、ＩＳＯ感度が４００であった場合、後発画素欠陥検出用の撮影条件を満たすように、シャッタースピードを１秒、Ｆ値を５.６、ＩＳＯ感度を２００と測光データを変更する（ステップＳ４０２）。このように測光データを変更したとしても、光量としては変わらない設定となり、撮影画像に対しての影響はほとんどない。また、ここでの撮影条件の変更は、後発画素欠陥検出用の撮影条件を満たすように変更するのではなく、光量としては変わらない範囲で、可能な限り後発画素欠陥検出用の撮影条件に近づけるように設定を変更する。ステップＳ４０１において後発画素欠陥検出用の撮影条件を満たす場合は、測光データを変更する必要はない。一連の処理を終えたならば、処理ルーチンＳ３０２を終了する。

以上述べたように、特許文献１等にある従来からの技術である黒画像を利用して、後発画素欠陥である白画素欠陥を検出することが可能となり、欠陥画素情報を更新することで、後発画素欠陥に対しても補正処理を行うことが可能となる。この場合に、後発画素欠陥検出が毎撮影行われるのではなく、撮影に際して後発画素欠陥検出条件を満たした場合のみに行われるので、ユーザが意図的に黒画像を撮影する必要がなく、ユーザの操作性を損なうことがない。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。すなわち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

１４：撮像素子、１８：タイミング発生回路、２０：画像処理回路、２２：メモリ制御回路、２４：画像表示メモリ、３２：画像圧縮・伸長回路、４０：露光制御部、４２：測距制御部、５０：システム制御回路、５２：メモリ、５６：不揮発性メモリ、１００：デジタルカメラ

Claims (6)

1. 複数の画素を備える撮像素子と、
   前記撮像素子の画素欠陥の情報を記憶する記憶手段と、
   撮影に際して、後発画素欠陥検出条件を満たすか否かを判断する判断手段と、
   前記判断手段で後発画素欠陥検出条件を満たすと判断した場合、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する変更手段と、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子で本画像を撮像するように制御する手段と、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子を遮光した状態で黒画像を取得するように制御する手段と、
   前記本画像から前記黒画像を減算する減算手段と、
   前記黒画像を用いて後発画素欠陥を検出する後発画素欠陥検出手段と、
   前記後発画素欠陥が検出された場合、前記記憶手段の画素欠陥の情報を更新する更新手段とを備えたことを特徴とする撮像装置。
2. 前記後発画素欠陥検出条件は、当該撮像装置内の温度が一定以上で、前回の後発画素欠陥検出時からの経過時間が一定以上であることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記後発画素欠陥検出用に変更する撮影条件として、シャッタースピード及びＩＳＯ感度が規定されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の撮像装置。
4. 前記変更した撮影条件が、後発画素欠陥検出に適しているか否かを判断する判断手段と、
   前記判断手段で後発画素欠陥検出に適していないと判断した場合、前記黒画像にゲインをかける手段とを備え、
   前記後発画素欠陥検出手段は、前記ゲインがかけられた黒画像を用いて後発画素欠陥を検出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
5. 複数の画素を備える撮像素子と、前記撮像素子の画素欠陥の情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置の制御方法であって、
   撮影に際して、後発画素欠陥検出条件を満たすか否かを判断するステップと、
   前記後発画素欠陥検出条件を満たすと判断した場合、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更するステップと、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子で本画像を撮像するステップと、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子を遮光した状態で黒画像を取得するステップと、
   前記本画像から前記黒画像を減算するステップと、
   前記黒画像を用いて後発画素欠陥を検出するステップと、
   前記後発画素欠陥が検出された場合、前記記憶手段の画素欠陥の情報を更新するステップとを有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
6. 複数の画素を備える撮像素子と、前記撮像素子の画素欠陥の情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置を制御するためのプログラムであって、
   撮影に際して、後発画素欠陥検出条件を満たすか否かを判断する処理と、
   前記後発画素欠陥検出条件を満たすと判断した場合、後発画素欠陥検出用に撮影条件を変更する処理と、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子で本画像を撮像する処理と、
   前記変更した撮影条件で、前記撮像素子を遮光した状態で黒画像を取得する処理と、
   前記本画像から前記黒画像を減算する処理と、
   前記黒画像を用いて後発画素欠陥を検出する処理と、
   前記後発画素欠陥が検出された場合、前記記憶手段の画素欠陥の情報を更新する処理とをコンピュータに実行させるためのプログラム。

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