JP2013191631A - Transport mechanism - Google Patents

Transport mechanism Download PDF

Info

Publication number
JP2013191631A
JP2013191631A JP2012054921A JP2012054921A JP2013191631A JP 2013191631 A JP2013191631 A JP 2013191631A JP 2012054921 A JP2012054921 A JP 2012054921A JP 2012054921 A JP2012054921 A JP 2012054921A JP 2013191631 A JP2013191631 A JP 2013191631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
annular frame
suction
suction pad
transport
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012054921A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keigo Yoshida
圭吾 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2012054921A priority Critical patent/JP2013191631A/en
Publication of JP2013191631A publication Critical patent/JP2013191631A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transport mechanism that can prevent an annular frame from falling with a simple structure even when a suction force of a suction pad is lost.SOLUTION: A transport mechanism 100 includes: a transport plate 21P reciprocally moved in a vertical direction and a horizontal direction; a suction pad 30 disposed on the lower surface of the transport plate 21P and suckingly holds an annular frame F by being brought into contact with the upper surface thereof; an opening 33 formed in a part of the suction pad 30; a suction pump 41 communicated with the opening 33 via communication passages 31, 22 and 24; and an adsorption member 32 having a surface structure capable of adsorbing to the annular frame F by Van der Waals force disposed at a portion thereof brought into contact with at least the annular frame F.

Description

本発明は、ウエーハの裏面側に粘着テープを貼着して一体となった環状フレームを吸引保持して搬送する搬送機構に関する。   The present invention relates to a transport mechanism that sucks and holds an integrated annular frame by sticking an adhesive tape to the back side of a wafer.

切削装置等の加工装置においては、ウエーハ等の板状物は裏面側が粘着テープに貼着され、環状フレームと一体となった状態で、ウエーハカセットから搬出される。そして、吸引パッドを有する搬送機構が環状フレームの上面を吸着して、切削加工位置に搬送する。環状フレームを真空吸着して搬送している途中で、真空ラインが何らかの理由により失われると吸引パッドが環状フレームを吸引する力が減少し、結果として環状フレームを保持できなくなる可能性がある。そのため、真空ラインの切断又は移送動作中の振動等により吸引パッドの吸引力が減少し、環状フレームが吸引パッドから外れても、環状フレームが落下防止受けの爪部で受け止められる落下防止機構を有する搬送装置が採用されている(例えば、特許文献1)。   In a processing apparatus such as a cutting apparatus, a plate-like object such as a wafer is carried out of a wafer cassette in a state where the back side is attached to an adhesive tape and integrated with an annular frame. And the conveyance mechanism which has a suction pad adsorb | sucks the upper surface of a cyclic | annular frame, and conveys it to a cutting position. If the vacuum line is lost for any reason while the annular frame is being sucked and conveyed, the force with which the suction pad sucks the annular frame is reduced, and as a result, the annular frame may not be held. Therefore, even if the suction force of the suction pad decreases due to vibration during cutting or transfer operation of the vacuum line and the annular frame is detached from the suction pad, the annular frame has a fall prevention mechanism that is received by the claw portion of the fall prevention receptacle. A conveyance device is employed (for example, Patent Document 1).

特開2007−157996号公報JP 2007-157996 A

しかし、環状フレームの落下を防止する機構は、機械的な機構を有しているため、比較的複雑な構造である。このため、省スペース化等が難しいという問題があった。   However, since the mechanism for preventing the annular frame from dropping has a mechanical mechanism, it has a relatively complicated structure. For this reason, there has been a problem that it is difficult to save space.

本発明は、シンプルな構造で、吸引パッドの吸引力が失われた場合であっても環状フレームの落下を防止できる搬送機構を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a transport mechanism that has a simple structure and can prevent the annular frame from dropping even when the suction force of the suction pad is lost.

本発明は、ウエーハの裏面側に粘着テープを貼着して一体となった環状フレームを搬送するための搬送機構であって、鉛直方向及び水平方向に往復動される搬送プレートと、該搬送プレートの下面に配設され該環状フレームの上面に当接して吸引保持する吸引パッドと、該吸引パッドの一部に形成された開口と、該開口に連通路を介して連通する吸引源と、少なくとも該環状フレームに当接する部分に、該環状フレームをファンデルワールス力で吸着可能な表面構造を有する吸着部材と、を備えることを特徴とする搬送機構である。   The present invention relates to a transport mechanism for transporting an integrated annular frame by sticking an adhesive tape to the back side of a wafer, the transport plate reciprocating vertically and horizontally, and the transport plate A suction pad that is disposed on the lower surface of the annular frame and sucks and holds the upper surface of the annular frame; an opening formed in a part of the suction pad; a suction source that communicates with the opening via a communication path; A conveyance mechanism comprising: a suction member having a surface structure capable of sucking the annular frame by van der Waals force at a portion in contact with the annular frame.

本発明において、該吸着部材に吸着された該環状フレームに、該吸着部材から離れる方向の力を付与する取り外し機構を備えることが好ましい。   In this invention, it is preferable to provide the removal mechanism which provides the force of the direction away from this adsorption | suction member to this annular frame adsorb | sucked by this adsorption | suction member.

本発明の搬送機構においては、環状フレームに当接する部分をファンデルワールス力で吸着可能な表面構造を有する吸着部材を搬送プレートに設けている。このため、吸引パッドの吸引力が失われても、吸着部材と環状フレームとの間のファンデルワールス力によって環状フレームは搬送プレートに保持される。このように、本発明は、吸着部材で環状フレームを保持するため、機械的な保持機構を用いる必要はなく、シンプルな構造で、吸引パッドの吸引力が失われた際にも環状フレームの落下を防止できる搬送機構を提供することができる。   In the transport mechanism of the present invention, an adsorption member having a surface structure capable of adsorbing a portion contacting the annular frame with van der Waals force is provided on the transport plate. For this reason, even if the suction force of the suction pad is lost, the annular frame is held on the transport plate by the van der Waals force between the suction member and the annular frame. Thus, in the present invention, since the annular frame is held by the adsorbing member, it is not necessary to use a mechanical holding mechanism, and the annular frame is dropped even when the suction force of the suction pad is lost with a simple structure. It is possible to provide a transport mechanism that can prevent the above.

図1は、本実施形態に係る切削装置の構成例を示す概略斜視図である。FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a configuration example of a cutting apparatus according to the present embodiment. 図2は、本実施形態に係る搬送機構を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the transport mechanism according to the present embodiment. 図3は、本実施形態に係る搬送機構が有する吸着部材の平面図である。FIG. 3 is a plan view of the suction member included in the transport mechanism according to the present embodiment. 図4は、本実施形態に係る搬送機構を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the transport mechanism according to the present embodiment. 図5は、吸着部材の配置の変形例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a modification of the arrangement of the adsorbing members. 図6は、取り外し機構の変形例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a modification of the removal mechanism.

以下、この発明を実施するための形態(以下、実施形態という)につき図面を参照しつつ詳細に説明する。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention (hereinafter referred to as embodiments) will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本実施形態に係る切削装置の構成例を示す概略斜視図である。切削装置10は、ウエーハ(半導体ウエーハ)又はCSP基板等の板状物を切削するための装置であり、例えばウエーハWをダイシングする場合、被加工物11は、ウエーハWが粘着テープTを介して環状フレームFと一体となった状態でカセット部12に複数収容される。切削装置10は、搬出入手段13、搬送アーム14、洗浄手段15及び搬送アーム16とともに、環状フレームFと一体となったウエーハWを備える被加工物11を保持するチャックテーブル17と、アライメント用のカメラ18と、チャックテーブル17に保持された被加工物11を切削する切削手段20と、を備える。   FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a configuration example of a cutting apparatus according to the present embodiment. The cutting device 10 is a device for cutting a plate-like object such as a wafer (semiconductor wafer) or a CSP substrate. For example, when the wafer W is diced, the workpiece 11 is connected to the wafer W via an adhesive tape T. A plurality of pieces are accommodated in the cassette unit 12 in a state integrated with the annular frame F. The cutting apparatus 10 includes a chuck table 17 that holds a workpiece 11 including a wafer W integrated with an annular frame F, a carry-in / out means 13, a transport arm 14, a cleaning means 15, and a transport arm 16. A camera 18 and cutting means 20 for cutting the workpiece 11 held on the chuck table 17 are provided.

搬出入手段13は、カセット部12に収納された被加工物11を第1搬送アーム14が搬送可能な載置領域に搬出するとともに、ウエーハWが切削処理済みの被加工物11をカセット部12に搬入するものである。第1搬送アーム14は、本実施形態に係る搬送機構を備えており、搬出入手段13によって載置領域に搬出された被加工物11をチャックテーブル17上に搬送するものである。第1搬送アーム14は、図示しないアクチュエータ等によって鉛直方向及び水平方向に往復動される。鉛直方向は、図1のZ軸と平行な方向であり、水平方向は、図1のX軸及びY軸を含む平面と平行な方向である(以下同様)。   The carry-in / out means 13 unloads the workpiece 11 stored in the cassette section 12 to a placement area that can be transported by the first transport arm 14, and also loads the workpiece 11 on which the wafer W has been subjected to the cutting process. It is to be carried into. The first transport arm 14 includes a transport mechanism according to the present embodiment, and transports the workpiece 11 transported to the placement area by the transporting / unloading means 13 onto the chuck table 17. The first transfer arm 14 is reciprocated vertically and horizontally by an actuator (not shown). The vertical direction is a direction parallel to the Z axis in FIG. 1, and the horizontal direction is a direction parallel to a plane including the X axis and the Y axis in FIG. 1 (the same applies hereinafter).

洗浄手段15は、ウエーハWが切削手段20による処理済みの被加工物11を洗浄するものである。第2搬送アーム16は、本実施形態に係る搬送機構を備えており、切削手段20による処理が終了した被加工物11をチャックテーブル17上から洗浄手段15へ搬送するものである。第2搬送アーム16は、図示しないアクチュエータ等によって鉛直方向及び水平方向に往復動される。   The cleaning means 15 is for the wafer W to clean the workpiece 11 processed by the cutting means 20. The second transfer arm 16 includes the transfer mechanism according to the present embodiment, and transfers the workpiece 11 that has been processed by the cutting means 20 from the chuck table 17 to the cleaning means 15. The second transfer arm 16 is reciprocated vertically and horizontally by an actuator (not shown).

チャックテーブル17は、図示しない駆動源に連結されて回転可能である。また、チャックテーブル17は、ボールネジ、ナット及びパルスモータ等による送り機構によってX軸方向に移動可能に設けられている。カメラ18は、チャックテーブル17に保持されたウエーハWの表面を撮像するためのものであり、図示しないアライメント部は、カメラ18によって取得した画像を基に切削すべき領域部分を検出し、切削手段20による切削動作の位置づけに供する。   The chuck table 17 is connected to a drive source (not shown) and is rotatable. The chuck table 17 is provided so as to be movable in the X-axis direction by a feed mechanism such as a ball screw, a nut, and a pulse motor. The camera 18 is for imaging the surface of the wafer W held on the chuck table 17, and an alignment unit (not shown) detects a region portion to be cut based on an image acquired by the camera 18, and cutting means 20 is used for positioning of the cutting operation.

切削手段20は、チャックテーブル17に保持された被加工物11中のウエーハWを切削ブレード20Bによって切削するもので、ボールネジ、ナット、パルスモータ等による図示しない切り込み送り機構によってZ軸方向に昇降移動可能に設けられ、また、ボールネジ、ナット、パルスモータ等による図示しない割り出し送り機構によってY軸方向に移動可能に設けられている。次に、本実施形態に係る搬送機構について説明する。   The cutting means 20 is for cutting the wafer W in the workpiece 11 held on the chuck table 17 with a cutting blade 20B, and is moved up and down in the Z-axis direction by a not shown cutting feed mechanism such as a ball screw, nut, pulse motor or the like. Further, it is provided so as to be movable in the Y-axis direction by an index feed mechanism (not shown) such as a ball screw, nut, pulse motor or the like. Next, the transport mechanism according to the present embodiment will be described.

図2は、本実施形態に係る搬送機構を示す断面図である。図3は、本実施形態に係る搬送機構が有する吸着部材の平面図である。図4は、本実施形態に係る搬送機構を示す断面図である。搬送機構100は、ウエーハWの裏面側に粘着テープTを貼着して一体となった環状フレームFを搬送するためのものである。このために、搬送機構100は、搬送プレート21Pと、吸引パッド30と、吸引パッド30の一部に形成された開口33と、吸引源としての吸引ポンプ41と、吸着部材32と、を備える。   FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the transport mechanism according to the present embodiment. FIG. 3 is a plan view of the suction member included in the transport mechanism according to the present embodiment. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the transport mechanism according to the present embodiment. The transport mechanism 100 is for transporting the annular frame F integrated with the adhesive tape T attached to the back side of the wafer W. For this purpose, the transport mechanism 100 includes a transport plate 21P, a suction pad 30, an opening 33 formed in a part of the suction pad 30, a suction pump 41 as a suction source, and a suction member 32.

搬送プレート21Pは、図1に示す第1搬送アーム14又は第2搬送アーム16に、胴部21Bを介して取り付けられている。このため、搬送プレート21Pは、第1搬送アーム14又は第2搬送アーム16が鉛直方向及び水平方向に往復動されることにより、鉛直方向及び水平方向に往復動される。搬送プレート21Pは、気体(本実施形態では空気)が通過する連通路22を有している。この連通路22は、胴部21Bの内部に設けられた連通路24と接続している。   The transport plate 21P is attached to the first transport arm 14 or the second transport arm 16 shown in FIG. 1 via the trunk portion 21B. For this reason, the transport plate 21P is reciprocated in the vertical direction and the horizontal direction when the first transport arm 14 or the second transport arm 16 is reciprocated in the vertical direction and the horizontal direction. The transport plate 21P has a communication path 22 through which gas (air in the present embodiment) passes. The communication path 22 is connected to a communication path 24 provided inside the trunk portion 21B.

吸引パッド30は、搬送プレート21Pの下面(環状フレームFと対向する面)に配設されており、環状フレームFの上面(搬送プレート21Pと対向する面)に当接してこれを吸引保持する。吸引パッド30は、搬送プレート21Pとは反対側の端部に開口33が形成されている。また、吸引パッド30は、開口33と接続される連通路31を有する。この連通路31は、搬送プレート21P内の連通路22と接続されている。このような構造により、吸引パッド30の開口33は、連通路31、22、24に接続されている。   The suction pad 30 is disposed on the lower surface (the surface facing the annular frame F) of the transport plate 21P, and contacts and holds the upper surface (the surface facing the transport plate 21P) of the annular frame F. The suction pad 30 has an opening 33 at the end opposite to the transport plate 21P. Further, the suction pad 30 has a communication path 31 connected to the opening 33. The communication path 31 is connected to the communication path 22 in the transport plate 21P. With such a structure, the opening 33 of the suction pad 30 is connected to the communication paths 31, 22, and 24.

吸着部材32は、少なくとも環状フレームFに当接する部分に、環状フレームFをファンデルワールス力で吸着可能な表面構造を有している。本実施形態において、吸着部材32は、吸引パッド30の少なくとも環状フレームFに当接する部分に設けられている。図3は、吸着部材32を、環状フレームFと当接する側から見た状態を示している。図3に示すように、吸着部材32は、開口34を有している。この開口34は、吸引パッド30の開口と接続している。したがって、吸着部材32の開口34は、吸引パッド30の開口33を介して連通路31、22、24と接続される。   The adsorbing member 32 has a surface structure capable of adsorbing the annular frame F with van der Waals force at least in a portion in contact with the annular frame F. In the present embodiment, the suction member 32 is provided on a portion of the suction pad 30 that contacts at least the annular frame F. FIG. 3 shows a state in which the adsorption member 32 is viewed from the side in contact with the annular frame F. As shown in FIG. 3, the adsorption member 32 has an opening 34. The opening 34 is connected to the opening of the suction pad 30. Therefore, the opening 34 of the suction member 32 is connected to the communication passages 31, 22, 24 via the opening 33 of the suction pad 30.

吸着部材32の環状フレームFと当接する面は、例えば、微細な柱状部(例えば、長さ1μmで直径200nm程度の柱)を多数有した構造となっている。吸着部材32を環状フレームFの表面に押し付けた際に、これらの柱状部が環状フレームFの表面に存在する凹凸等の形状にしたがって撓み、凹凸等と柱状部とが面接触状態になる。この結果、環状フレームF表面の分子と吸着部材32の分子との距離が1Å〜5Åまで接近している部分の面積が非常に大きくなり、環状フレームFに対する吸着部材32のファンデルワールス力が働いて、環状フレームFが吸着部材32に吸着されることとなる。   The surface of the adsorption member 32 that contacts the annular frame F has, for example, a structure having a large number of fine columnar portions (for example, columns having a length of 1 μm and a diameter of about 200 nm). When the adsorbing member 32 is pressed against the surface of the annular frame F, these columnar portions bend according to the shape such as irregularities present on the surface of the annular frame F, and the irregularities and the columnar portions are in a surface contact state. As a result, the area where the distance between the molecule on the surface of the annular frame F and the molecule of the adsorbing member 32 approaches 1 to 5 cm becomes very large, and the van der Waals force of the adsorbing member 32 on the annular frame F works. Thus, the annular frame F is attracted to the attracting member 32.

本実施形態において、吸着部材32の環状フレームFと当接する面は、少なくとも、環状フレームFを吸着部材32に押し付けると、その表面が環状フレームFの表面の形状にしたがって変形し、環状フレームFの表面との接触面積が大きくなって、ファンデルワールス力が環状フレームFに対して働く構造になっている。このような構造であれば、吸着部材32の環状フレームFと当接する面は、上述したような柱状部を有した構造に限られるのではない。本実施形態では、吸着部材32の環状フレームFと当接する面を、上述したファンデルワールス力を生じさせることができる表面構造と柔軟性とを有するシリコーンゴムを用いて形成してある。このような構造の吸着部材32を用いることにより、吸着部材32を環状フレームFに当接させると、吸着部材32が環状フレームFを吸着する。   In the present embodiment, at least the surface of the adsorbing member 32 that contacts the annular frame F is deformed according to the shape of the surface of the annular frame F at least when the annular frame F is pressed against the adsorbing member 32. The contact area with the surface is increased, and the van der Waals force acts on the annular frame F. If it is such a structure, the surface which contact | abuts the cyclic | annular flame | frame F of the adsorption | suction member 32 is not restricted to the structure which has the columnar part as mentioned above. In the present embodiment, the surface of the adsorbing member 32 that contacts the annular frame F is formed by using a silicone rubber having a surface structure capable of generating the above-mentioned van der Waals force and flexibility. By using the adsorption member 32 having such a structure, when the adsorption member 32 is brought into contact with the annular frame F, the adsorption member 32 adsorbs the annular frame F.

搬送機構100は、吸引ポンプ41を備えている。吸引ポンプ41は、吸引管46と、吸引側弁装置43と、通路分岐部としての三方向ジョイント45と、気体通路48とを介して、胴部21Bの内部に設けられた連通路24と接続される。このような構造により、吸引ポンプ41は、連通路24、22、31を介して吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34に連通可能になる。吸引側弁装置43は、例えば、電磁弁であり、遮断部43Sと、連通部43Tとを有する。これらを切り替えることにより、吸引側弁装置43は、連通状態と遮断状態とを実現することができる。   The transport mechanism 100 includes a suction pump 41. The suction pump 41 is connected to the communication passage 24 provided inside the trunk portion 21 </ b> B via a suction pipe 46, a suction side valve device 43, a three-way joint 45 as a passage branching portion, and a gas passage 48. Is done. With such a structure, the suction pump 41 can communicate with the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 via the communication passages 24, 22, and 31. The suction side valve device 43 is, for example, an electromagnetic valve, and includes a blocking unit 43S and a communication unit 43T. By switching these, the suction side valve device 43 can realize a communication state and a cutoff state.

本実施形態において、搬送機構100は、吸着部材32に吸着された環状フレームFに、吸着部材32から離れる方向の力を付与する取り外し機構40を備える。本実施形態において、この取り外し機構40は、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部に正圧(大気圧よりも大きい圧力)を与える機構である。   In the present embodiment, the transport mechanism 100 includes a removal mechanism 40 that applies a force in a direction away from the adsorption member 32 to the annular frame F adsorbed by the adsorption member 32. In the present embodiment, the detaching mechanism 40 is a mechanism that applies a positive pressure (pressure greater than atmospheric pressure) to the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32.

取り外し機構40は、気体供給源としての吐出ポンプ42と、供給側弁装置44とを含む。吐出ポンプ42は、供給管47と、供給側弁装置44と、三方向ジョイント45と、気体通路48とを介して、胴部21Bの内部に設けられた連通路24と接続される。このような構造により、吐出ポンプ42は、連通路24、22、31を介して吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34に連通可能になる。供給側弁装置44は、例えば、電磁弁であり、遮断部44Sと、連通部44Tとを有する。これらを切り替えることにより、供給側弁装置44は、連通状態と遮断状態とを実現することができる。   The removal mechanism 40 includes a discharge pump 42 as a gas supply source and a supply side valve device 44. The discharge pump 42 is connected to the communication passage 24 provided inside the trunk portion 21 </ b> B via a supply pipe 47, a supply side valve device 44, a three-way joint 45, and a gas passage 48. With such a structure, the discharge pump 42 can communicate with the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 via the communication passages 24, 22, and 31. The supply side valve device 44 is, for example, an electromagnetic valve, and includes a blocking unit 44S and a communication unit 44T. By switching these, the supply side valve device 44 can realize a communication state and a cutoff state.

搬送機構100が環状フレームFを吸引するときの動作を説明する。この場合、図2に示すように、吸着部材32を有した吸引パッド30を環状フレームFに当接させた状態で、吸引ポンプ41が気体(本実施形態では空気)を吸引するとともに、吸引側弁装置43を連通部43Tに切り替え、供給側弁装置44を遮断部44Sに切り替える。すると、吸引管46と、連通部43Tと、気体通路48と、連通路24、22、31と、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34とが連通する。このため、吸引ポンプ41が気体を吸引すると、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部が負圧となって吸引パッド30が環状フレームFを吸引する。第1搬送アーム14又は第2搬送アーム16は、搬送機構100が環状フレームFを吸引した状態で、搬送機構100を移動させる。   An operation when the transport mechanism 100 sucks the annular frame F will be described. In this case, as shown in FIG. 2, the suction pump 41 sucks gas (air in the present embodiment) while the suction pad 30 having the suction member 32 is in contact with the annular frame F, and the suction side The valve device 43 is switched to the communication portion 43T, and the supply side valve device 44 is switched to the blocking portion 44S. Then, the suction pipe 46, the communication portion 43T, the gas passage 48, the communication passages 24, 22, and 31, the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 communicate with each other. For this reason, when the suction pump 41 sucks gas, the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 becomes negative pressure, and the suction pad 30 sucks the annular frame F. The first transfer arm 14 or the second transfer arm 16 moves the transfer mechanism 100 in a state where the transfer mechanism 100 sucks the annular frame F.

搬送機構100が環状フレームFを分離するときの動作を説明する。この場合、吸着部材32が環状フレームFと吸引パッド30とを吸着した状態となっているので、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部を正圧として、この圧力によって吸着部材32と環状フレームFとを分離する。まず、吐出ポンプ42が気体(本実施形態では空気)を吐出するとともに、供給側弁装置44を連通部44Tに切り替え、吸引側弁装置43を遮断部43Sに切り替える。すると、供給管47と、連通部44Tと、気体通路48と、連通路24、22、31と、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34とが連通する。このため、吐出ポンプ42が気体を吐出すると、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部が正圧となって吸引パッド30及び吸着部材32から環状フレームFが分離する。第1搬送アーム14又は第2搬送アーム16は、環状フレームFが搬送機構100から分離されたら、搬送機構100を上方(図4の矢印Lで示す方向)に移動させる。   An operation when the transport mechanism 100 separates the annular frame F will be described. In this case, since the suction member 32 is in a state of sucking the annular frame F and the suction pad 30, the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 is set as a positive pressure, and this pressure causes the suction member. 32 and the annular frame F are separated. First, the discharge pump 42 discharges gas (air in this embodiment), the supply side valve device 44 is switched to the communication portion 44T, and the suction side valve device 43 is switched to the blocking portion 43S. Then, the supply pipe 47, the communication portion 44T, the gas passage 48, the communication passages 24, 22, and 31, the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 communicate with each other. Therefore, when the discharge pump 42 discharges gas, the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32 becomes positive pressure, and the annular frame F is separated from the suction pad 30 and the suction member 32. When the annular frame F is separated from the transport mechanism 100, the first transport arm 14 or the second transport arm 16 moves the transport mechanism 100 upward (in the direction indicated by the arrow L in FIG. 4).

搬送機構100は、環状フレームFを吸引している状態で、例えば、吸引ポンプ41の停止等によって吸引パッド30の吸引力が失われても、吸着部材32のファンデルワールス力によって環状フレームFを保持することができる。このため、搬送機構100は、吸引パッド30の吸引力が失われても、環状フレームFの落下が防止される。搬送機構100は、吸着部材32を吸引パッド30の一端部に設けるだけでよいので、機械的な保持機構が不要になる。その結果、搬送機構100は、シンプルかつコンパクトな構造となり、省スペース化を実現できる。このように、搬送機構100は、シンプルな構造で、吸引パッド30の吸引力が失われた場合であっても環状フレームFの落下を防止できる。次に、吸着部材32の配置の変形例を説明する。   Even if the suction force of the suction pad 30 is lost due to the suction pump 41 being stopped, for example, the transport mechanism 100 sucks the annular frame F by the van der Waals force of the suction member 32 in the state of sucking the annular frame F. Can be held. For this reason, the conveyance mechanism 100 prevents the annular frame F from falling even if the suction force of the suction pad 30 is lost. Since the transport mechanism 100 only needs to provide the suction member 32 at one end of the suction pad 30, a mechanical holding mechanism is not necessary. As a result, the transport mechanism 100 has a simple and compact structure and can realize space saving. As described above, the transport mechanism 100 has a simple structure and can prevent the annular frame F from dropping even when the suction force of the suction pad 30 is lost. Next, a modified example of the arrangement of the adsorption member 32 will be described.

図5は、吸着部材の配置の変形例を示す図である。搬送機構100aは、吸引パッド30とは異なる位置に、吸着部材32を備えている。搬送機構100aの他の構成は、図3、図4に示す搬送機構100と同様なので、同一の構成には同一の符号を付すとともに、説明を省略する。この例において、吸着部材32は、搬送プレート21Pの下面(環状フレームFと対向する面)であって、吸引パッド30とは異なる位置に設けられた支持部材35に取り付けられている。このように、吸着部材32が設けられる部分は、吸引パッド30の一端部に限定されるものではない。すなわち、吸着部材32は、環状フレームFに当接する部分に、環状フレームFをファンデルワールス力で吸着可能な表面構造を有していれば、配置される箇所は限定されるものではない。次に、取り外し機構40の変形例を説明する。   FIG. 5 is a diagram showing a modification of the arrangement of the adsorbing members. The transport mechanism 100 a includes a suction member 32 at a position different from the suction pad 30. Since the other structure of the conveyance mechanism 100a is the same as that of the conveyance mechanism 100 shown in FIGS. 3 and 4, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. In this example, the suction member 32 is attached to a support member 35 provided at a position different from the suction pad 30 on the lower surface (the surface facing the annular frame F) of the transport plate 21P. Thus, the portion where the suction member 32 is provided is not limited to one end of the suction pad 30. That is, the position where the adsorption member 32 is disposed is not limited as long as the adsorbing member 32 has a surface structure capable of adsorbing the annular frame F with van der Waals force at a portion that contacts the annular frame F. Next, a modified example of the removal mechanism 40 will be described.

図6は、取り外し機構の変形例を示す図である。図3、図4に示す搬送機構100は、吸引パッド30内に気体を供給して、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部に正圧(大気圧よりも大きい圧力)を与えることにより環状フレームFを吸引パッド30から分離した。これに対して、本例の搬送機構100bは、取り外し用の部材を環状フレームFに押圧することにより、環状フレームFを吸引パッド30から分離する。搬送機構100aの他の構成は、図3、図4に示す搬送機構100と同様なので、同一の構成には同一の符号を付すとともに、説明を省略する。   FIG. 6 is a diagram illustrating a modification of the removal mechanism. The transport mechanism 100 shown in FIGS. 3 and 4 supplies gas into the suction pad 30 and applies a positive pressure (pressure greater than atmospheric pressure) to the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32. The annular frame F was separated from the suction pad 30 by giving. On the other hand, the transport mechanism 100b of this example separates the annular frame F from the suction pad 30 by pressing a member for removal against the annular frame F. Since the other structure of the conveyance mechanism 100a is the same as that of the conveyance mechanism 100 shown in FIGS. 3 and 4, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

図6に示すように、搬送機構100bは、搬送プレート21Pに取り外し機構40bが取り付けられている。本例において、取り外し機構40bはエアシリンダである。取り外し機構40bは、シリンダ本体49Sとピストンロッド49Pとを備えている。ピストンロッド49Pは、搬送プレート21Pに穿孔された孔21PHを貫通して、搬送プレート21Pの下面(環状フレームFと対向する面)から突出している。シリンダ本体49Sは、搬送プレート21Pの上面(下面とは反対面)に固定されている。   As shown in FIG. 6, the transport mechanism 100b has a removal mechanism 40b attached to the transport plate 21P. In this example, the removal mechanism 40b is an air cylinder. The removal mechanism 40b includes a cylinder body 49S and a piston rod 49P. The piston rod 49P passes through the hole 21PH drilled in the transport plate 21P and protrudes from the lower surface (the surface facing the annular frame F) of the transport plate 21P. The cylinder body 49S is fixed to the upper surface (the surface opposite to the lower surface) of the transport plate 21P.

環状フレームFを吸引パッド30に設けられた吸着部材32から分離する場合、シリンダ本体49S内に気体を供給して、ピストンロッド49Pを伸ばすことにより、シリンダ本体49Sから突出させる。ピストンロッド49Pが伸びる過程で、ピストンロッド49Pの一端部が環状フレームFに当接する。この状態からさらにピストンロッド49Pを伸ばすと、ピストンロッド49Pからの押圧力によって環状フレームFが吸引パッド30に設けられた吸着部材32から分離する。このように、取り外し機構40bは、吸引パッド30の開口33及び吸着部材32の開口34の内部に正圧(大気圧よりも大きい圧力)を与える機構に限定されるものではない。   When the annular frame F is separated from the suction member 32 provided on the suction pad 30, gas is supplied into the cylinder body 49S, and the piston rod 49P is extended to protrude from the cylinder body 49S. One end of the piston rod 49P comes into contact with the annular frame F in the process of extending the piston rod 49P. When the piston rod 49P is further extended from this state, the annular frame F is separated from the suction member 32 provided on the suction pad 30 by the pressing force from the piston rod 49P. Thus, the detaching mechanism 40b is not limited to a mechanism that applies a positive pressure (pressure greater than atmospheric pressure) to the inside of the opening 33 of the suction pad 30 and the opening 34 of the suction member 32.

本例において、取り外し機構40bは、エアシリンダに限定されるものではない。例えば、取り外し機構40bに油圧シリンダを用いてもよい。また、取り外し機構40bは、電動機等のシャフトの回転運動をクランク機構によって往復運動に変換し、この変換後の往復運動をロッド等によって環状フレームFに伝達し、これに押圧力を与えるものであってもよい。すなわち、本実施形態において、取り外し機構40、40bは、吸着部材32に吸着された環状フレームFに、吸着部材32から離れる方向の力を付与するものであればよい。   In this example, the removal mechanism 40b is not limited to an air cylinder. For example, a hydraulic cylinder may be used for the removal mechanism 40b. The removal mechanism 40b converts the rotational motion of a shaft of an electric motor or the like into a reciprocating motion by a crank mechanism, transmits the reciprocating motion after the conversion to the annular frame F by a rod or the like, and applies a pressing force thereto. May be. In other words, in the present embodiment, the detaching mechanisms 40 and 40b only need to apply a force in a direction away from the adsorption member 32 to the annular frame F adsorbed by the adsorption member 32.

以上、本実施形態について説明したが、上述した内容により本実施形態が限定されるものではない。上述した本実施形態の構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、上述した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本実施形態の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換及び変更を行うことができる。   Although the present embodiment has been described above, the present embodiment is not limited to the above-described content. The components of the present embodiment described above include those that can be easily assumed by those skilled in the art, those that are substantially the same, and those in the so-called equivalent range. Furthermore, the above-described components can be appropriately combined. In addition, various omissions, substitutions, and changes of the components can be made without departing from the scope of the present embodiment.

10 切削装置
11 被加工物
12 カセット部
13 搬出入手段
14 第1搬送アーム
16 第2搬送アーム
20 切削手段
21B 胴部
21P 搬送プレート
22、24、31、33 連通路
30 吸引パッド
32 吸着部材
33、34 開口
40、40b 取り外し機構
41 吸引ポンプ
42 吐出ポンプ
43 吸引側弁装置
43S、44S 遮断部
43T、44T 連通部
44 供給側弁装置
45 三方向ジョイント
46 吸引管
47 供給管
48 気体通路
100、100a、100b 搬送機構
F 環状フレーム
T 粘着テープ
W ウエーハ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Cutting apparatus 11 Work piece 12 Cassette part 13 Carrying in / out means 14 1st conveyance arm 16 2nd conveyance arm 20 Cutting means 21B trunk | drum 21P Conveyance plates 22, 24, 31, 33 Communication path 30 Suction pad 32 Adsorption member 33, 34 Opening 40, 40b Removal mechanism 41 Suction pump 42 Discharge pump 43 Suction side valve device 43S, 44S Blocking portion 43T, 44T Communication portion 44 Supply side valve device 45 Three-way joint 46 Suction pipe 47 Supply pipe 48 Gas passages 100, 100a, 100b Conveying mechanism F Annular frame T Adhesive tape W Wafer

Claims (2)

ウエーハの裏面側に粘着テープを貼着して一体となった環状フレームを搬送するための搬送機構であって、
鉛直方向及び水平方向に往復動される搬送プレートと、
該搬送プレートの下面に配設され該環状フレームの上面に当接して吸引保持する吸引パッドと、
該吸引パッドの一部に形成された開口と、
該開口に連通路を介して連通する吸引源と、
少なくとも該環状フレームに当接する部分に、該環状フレームをファンデルワールス力で吸着可能な表面構造を有する吸着部材と、
を備えることを特徴とする搬送機構。
A transport mechanism for transporting an integrated annular frame by attaching an adhesive tape to the back side of the wafer,
A transport plate that reciprocates vertically and horizontally;
A suction pad disposed on the lower surface of the transport plate and abutting on and holding the upper surface of the annular frame;
An opening formed in a portion of the suction pad;
A suction source communicating with the opening via a communication path;
An adsorbing member having a surface structure capable of adsorbing the annular frame with van der Waals force at least in a portion contacting the annular frame;
A transport mechanism comprising:
該吸着部材に吸着された該環状フレームに、該吸着部材から離れる方向の力を付与する取り外し機構を備える、請求項1に記載の搬送機構。   The transport mechanism according to claim 1, further comprising a detaching mechanism that applies a force in a direction away from the adsorption member to the annular frame adsorbed by the adsorption member.
JP2012054921A 2012-03-12 2012-03-12 Transport mechanism Pending JP2013191631A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012054921A JP2013191631A (en) 2012-03-12 2012-03-12 Transport mechanism

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012054921A JP2013191631A (en) 2012-03-12 2012-03-12 Transport mechanism

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013191631A true JP2013191631A (en) 2013-09-26

Family

ID=49391614

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012054921A Pending JP2013191631A (en) 2012-03-12 2012-03-12 Transport mechanism

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013191631A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105280539A (en) * 2014-06-09 2016-01-27 株式会社迪思科 Conveyance device
JP2018060898A (en) * 2016-10-04 2018-04-12 株式会社ディスコ Conveyance mechanism

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62111442A (en) * 1985-11-11 1987-05-22 Hitachi Ltd Wafer holding jig
JPH0661202A (en) * 1991-10-28 1994-03-04 Shin Etsu Chem Co Ltd Method of holding semiconductor wafer
JP2011238870A (en) * 2010-05-13 2011-11-24 Lintec Corp Supporting device, supporting method, transfer device and transfer method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62111442A (en) * 1985-11-11 1987-05-22 Hitachi Ltd Wafer holding jig
JPH0661202A (en) * 1991-10-28 1994-03-04 Shin Etsu Chem Co Ltd Method of holding semiconductor wafer
JP2011238870A (en) * 2010-05-13 2011-11-24 Lintec Corp Supporting device, supporting method, transfer device and transfer method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105280539A (en) * 2014-06-09 2016-01-27 株式会社迪思科 Conveyance device
JP2018060898A (en) * 2016-10-04 2018-04-12 株式会社ディスコ Conveyance mechanism

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI512877B (en) Workpiece transport method and workpiece transport device
TWI719055B (en) Transport mechanism of processing device
KR102203039B1 (en) Holding mechanism of workpiece and machining apparatus
JP6186256B2 (en) Processing equipment
JP5941701B2 (en) Die bonder
KR20160120666A (en) Workpiece transporting tray
TWI806950B (en) cutting device
TWI789474B (en) Workpiece cutting method and chuck table of cutting device
JP6202962B2 (en) Cutting equipment
JP2016154168A (en) Delivery method for workpiece
KR20150141134A (en) Conveyance device
JP2013191631A (en) Transport mechanism
JP6762220B2 (en) Transfer mechanism of processing equipment
TW201913831A (en) Adsorption mechanism, adsorption hand, transport mechanism, resin molding device, transfer method, and method of manufacturing resin molded article
CN107068606B (en) Processing device
KR20140120822A (en) Chuck table
JP5412261B2 (en) Processing equipment
TWI611499B (en) Transport agency
TWI715727B (en) Disposal method of package substrate
JP6255221B2 (en) Transport device
JP2009059961A (en) Die bonder device
CN112008702A (en) Transfer robot
JP2011148576A (en) Sheet carrying device and film insert mold manufacturing device
JP4229029B2 (en) Plasma processing method and component mounting method
JP2008277612A (en) Chip carrying apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150209

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160216

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20161004