JP2013186053A - Magnetic inspection system for magnetic sensors - Google Patents

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Norifumi Fukuzaki
規文 福▲崎▼
Yukio Wakui
幸夫 涌井
Hideki Sato
秀樹 佐藤
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Yamaha Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow each of a plurality of test devices to inspect magnetic properties of a three-dimensional magnetic sensor with a simple configuration while eliminating influences of magnetic fields from adjacent devices in an environment where the plurality of test devices are placed side-by-side, which makes it unnecessary to secure a magnetic shield room and a large installation space for keeping distance between each device.SOLUTION: A test magnetic field generator coil of a first magnetic test device and a canceling magnetic field generator coil of a second magnetic test device are brought into electrical contact by aligning one of the three axes of each coil. The canceling magnetic field generator coil generates a canceling magnetic field whose intensity is inversely proportional to a square of a distance ratio L2/L1 against a test magnetic field generated by the test magnetic field generator coil, where L1 is a distance from the test magnetic field generator coil to a test region of the first magnetic test device and L2 is a distance from the test magnetic field generator coil to a test region of the second magnetic test device. Each magnetic test device inspects a three-dimensional magnetic sensor while canceling a magnetic field from the second magnetic test device acting on a test region thereof using a canceling magnetic field generator coil.

Description

本発明は、磁場を発生させながら三次元磁気センサの磁気特性等を検査する磁気センサの磁気検査装置に関する。   The present invention relates to a magnetic inspection apparatus for a magnetic sensor that inspects magnetic characteristics and the like of a three-dimensional magnetic sensor while generating a magnetic field.

磁気センサの磁気特性を検査する場合、ヘルムホルツコイル等の磁場発生コイルにより発生させた磁場内に磁気センサを配置し、その磁場に対する磁気センサの出力信号を測定する。磁気センサが方位センサである場合は、磁場発生コイルを備えた磁気検査装置として地磁気シミュレータが開発されている。
このような磁気検査装置は、外部からの磁場の影響を受けないように、磁気遮蔽材で囲った磁気シールドルーム内に設置され、あるいは、近くに他の磁場発生源が存在する場合は、その磁場発生源からの磁場の影響を受けない程度に離れた場所に設置されるが、高価な磁気シールドルームが必要であったり、装置を設置するための広いスペースが必要であるなど、コスト高を招く。
そこで、外部から影響する磁場に対して逆磁場を発生させて外部磁場をキャンセルするアクティブ磁気シールド装置が開発されている。
When inspecting the magnetic characteristics of a magnetic sensor, the magnetic sensor is placed in a magnetic field generated by a magnetic field generating coil such as a Helmholtz coil, and an output signal of the magnetic sensor with respect to the magnetic field is measured. When the magnetic sensor is an azimuth sensor, a geomagnetic simulator has been developed as a magnetic inspection apparatus having a magnetic field generating coil.
Such a magnetic inspection device is installed in a magnetic shield room surrounded by a magnetic shielding material so as not to be affected by an external magnetic field, or when another magnetic field generation source exists nearby. Although it is installed at a location that is not affected by the magnetic field from the magnetic field generation source, an expensive magnetic shield room or a large space for installing the device is required. Invite.
In view of this, an active magnetic shield device has been developed in which a reverse magnetic field is generated with respect to a magnetic field influenced from the outside to cancel the external magnetic field.

特許文献1には、電子顕微鏡の真空シリンダが三次元のホルムヘルツコイルの中央に配置されるとともに、真空シリンダの近傍に、センサ(ゾンデ)がX、Y、Zの各方向に配向して三つ設置され、これらのセンサがそれぞれ磁力計、出力増幅器に接続され、各出力増幅器がそれぞれのホルムヘルツコイルに接続された装置が開示されている。センサにより検出された磁場に依存する電流をヘルムホルツコイルに流して外部からの磁場(擾乱磁場)と反対方向の磁場を形成することにより、センサの設置箇所に生ずる磁場の和が実質上零になるようにして、真空シリンダへの影響を除去している。また、各コイルからセンサへの相互干渉を除去するために、各コイルに接続された可調整抵抗及び補償巻線を各センサに設けて、これら可調整抵抗及び補償巻線の設定により、コイルからセンサに作用する磁場の影響をも除去するようにしている。   In Patent Document 1, a vacuum cylinder of an electron microscope is arranged in the center of a three-dimensional form-hertz coil, and a sensor (sonde) is oriented in each of the X, Y, and Z directions in the vicinity of the vacuum cylinder. There is disclosed a device in which one of these sensors is connected to a magnetometer and an output amplifier, and each output amplifier is connected to a respective Holm coil. By applying a current dependent on the magnetic field detected by the sensor to the Helmholtz coil to form a magnetic field in the direction opposite to the external magnetic field (disturbance magnetic field), the sum of the magnetic fields generated at the location where the sensor is installed becomes substantially zero. In this way, the influence on the vacuum cylinder is eliminated. In addition, in order to eliminate mutual interference from each coil to the sensor, an adjustable resistor and a compensation winding connected to each coil are provided in each sensor. The influence of the magnetic field acting on the sensor is also removed.

また、特許文献2には、直方体状の空間の外面をX、Y、Z方向に直交するように配設し、これら各軸方向に向けて配設した各電磁コイルの相対するシールド面位置に、その軸方向の磁気変動を測定する磁気センサがそれぞれ配設され、これら磁気センサによる測定で得られた磁気変動量をもとに、それぞれ独立に各磁気センサ設置箇所に磁気変動を相殺する方向に磁界をかけて、電磁コイルで囲まれた空間をアクティブ磁気シールド空間とする技術が開示されている。   Also, in Patent Document 2, the outer surface of a rectangular parallelepiped space is disposed so as to be orthogonal to the X, Y, and Z directions, and the shield surface positions of the electromagnetic coils disposed in the axial directions are opposed to each other. Magnetic sensors that measure the magnetic fluctuations in the axial direction are provided, and the direction of canceling the magnetic fluctuations independently at each magnetic sensor installation location based on the amount of magnetic fluctuation obtained by the measurement by these magnetic sensors. A technique is disclosed in which a magnetic field is applied to a space surrounded by electromagnetic coils to make an active magnetic shield space.

特公昭51−38215号公報Japanese Patent Publication No.51-38215 特許第3883855号公報Japanese Patent No. 3883855

このような特許文献記載の技術を用いれば、地磁気シミュレータのような精密な磁場制御と磁場測定が必要な磁気検査装置を設置した環境においても、隣接機器からの磁場の影響を打ち消すことができるため、機器相互を磁気遮蔽材で囲った磁気シールドルーム内に設置して区画する必要はなく、また、機器間を離間させるための広いスペースを確保する必要もなく、接近した位置に機器を配置することが可能である。   By using such a technique described in the patent document, it is possible to cancel the influence of a magnetic field from an adjacent device even in an environment where a magnetic inspection device that requires precise magnetic field control and magnetic field measurement such as a geomagnetic simulator is installed. It is not necessary to install and divide the devices in a magnetic shield room surrounded by magnetic shielding materials, and it is not necessary to secure a wide space for separating the devices, and the devices are arranged at close positions. It is possible.

しかしながら、いずれの特許文献記載の技術も、外部からの磁場を磁気センサにより測定し、その測定値に基いて外部からの磁場とは反対方向の磁場を形成するものであるから、外部から影響受ける磁場を正確に測定する磁気センサが必要である。前述したように地磁気シミュレータ等の磁気検査装置を複数台並べて設置する場合、それぞれの検査機器において、他の検査機器からの磁場の影響を打ち消すために、各特許文献記載のように三次元のホルムヘルツコイルに対応した複数ずつの磁気センサが必要になり、装置構成が複雑になる。   However, any of the techniques described in the patent documents is affected by the outside because the magnetic field from the outside is measured by a magnetic sensor and a magnetic field in the opposite direction to the magnetic field from the outside is formed based on the measured value. There is a need for a magnetic sensor that accurately measures the magnetic field. As described above, when a plurality of magnetic inspection devices such as a geomagnetic simulator are installed side by side, in each inspection device, in order to cancel out the influence of the magnetic field from other inspection devices, a three-dimensional form as described in each patent document. A plurality of magnetic sensors corresponding to the Hertz coil are required, and the apparatus configuration is complicated.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、検査機器を複数台並べて設置した環境において、磁気シールドルームや検査機器を離間させる広い設置スペースの確保を不要にするとともに、各検査機器で簡単な構成で隣接機器からの磁場の影響を排除しながら三次元磁気センサの磁気特性を検査することができる磁気センサの磁気検査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and in an environment in which a plurality of inspection devices are installed side by side, it is not necessary to secure a large installation space for separating the magnetic shield room and the inspection devices. An object of the present invention is to provide a magnetic sensor magnetic inspection apparatus capable of inspecting the magnetic characteristics of a three-dimensional magnetic sensor while eliminating the influence of a magnetic field from an adjacent device with a simple configuration.

本発明の磁気検査装置は、第1検査領域で三次元磁気センサの磁気特性を検査する第1検査領域用磁気検査機器と該第1検査領域から離間した第2検査領域で三次元磁気センサの磁気特性を検査する第2検査領域用磁気検査機器とを備え、これら各検査領域用磁気検査機器は、両検査領域のうち検査対象とする検査領域に検査磁場を発生して該検査領域に配置した磁気センサの磁気特性を検査するための三次元構造の検査磁場発生コイルと、該検査領域に作用する他方の検査機器からの磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を発生する三次元構造のキャンセル磁場発生コイルとが設けられるとともに、一方の検査領域用磁気検査機器の検査磁場発生コイルと他方の検査領域用磁気検査機器のキャンセル磁場発生コイルとが、三次元のうちのいずれかのコイルの軸を同一軸上に向けて電気的接続状態に設けられ、これら電気的接続状態とされた前記検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、前記検査磁場発生コイルから前記検査対象とする検査領域までの距離をL1とし、前記検査磁場発生コイルから前記他方の検査領域までの距離をL2としたときに、前記検査磁場発生コイルが発生する検査磁場に対して、前記キャンセル磁場発生コイルが前記距離の比率L2/L1の2乗に反比例した大きさのキャンセル磁場を発生し、各検査領域用磁気検査機器は、他方の検査領域用磁気検査機器から自身の検査領域に作用する磁場を前記キャンセル磁場発生コイルによりキャンセルした状態で、前記検査磁場発生コイルから検査磁場を発生して前記検査領域に配置した三次元磁気センサの磁気特性を検査することを特徴とする。   The magnetic inspection apparatus of the present invention includes a first inspection region magnetic inspection device for inspecting the magnetic characteristics of the three-dimensional magnetic sensor in the first inspection region and a three-dimensional magnetic sensor in the second inspection region separated from the first inspection region. A magnetic inspection device for a second inspection region for inspecting magnetic characteristics, and each of the inspection region magnetic inspection devices generates an inspection magnetic field in an inspection region to be inspected out of both inspection regions and arranges the inspection magnetic field in the inspection region. Three-dimensional inspection magnetic field generating coil for inspecting the magnetic characteristics of the magnetic sensor, and a three-dimensional structure canceling magnetic field generation for canceling the magnetic field from the other inspection device acting on the inspection region The inspection magnetic field generating coil of one inspection region magnetic inspection device and the canceling magnetic field generation coil of the other inspection region magnetic inspection device are in three dimensions. The inspection magnetic field generating coil and the cancel magnetic field generating coil which are provided in an electrically connected state with the axis of one of the coils directed on the same axis are connected to the inspection magnetic field generating coil from the inspection magnetic field generating coil. When the distance to the target inspection region is L1, and the distance from the inspection magnetic field generating coil to the other inspection region is L2, the canceling magnetic field is compared with the inspection magnetic field generated by the inspection magnetic field generating coil. The generating coil generates a cancel magnetic field having a magnitude inversely proportional to the square of the distance ratio L2 / L1, and each inspection region magnetic inspection device acts on its own inspection region from the other inspection region magnetic inspection device. A three-dimensional magnetic field generated in the inspection region by generating an inspection magnetic field from the inspection magnetic field generation coil in a state where the magnetic field is canceled by the cancellation magnetic field generation coil. Characterized by inspecting the magnetic characteristics of the sensor.

第1検査領域及び第2検査領域の両方で磁気センサを検査する場合、各検査領域用磁気検査機器に電流を流すと、第1検査領域用磁気検査機器においては、検査磁場発生コイルにより、磁気センサの磁気特性の検査のために必要な検査磁場が第1検査領域に発生し、また、第2検査領域用磁気検査機器においても、その検査磁場発生コイルにより、必要な検査磁場が第2検査領域に発生する。このため、第1検査領域において、検査磁場だけでなく、第2検査領域用磁気検査機器からの磁場も作用するが、第1検査領域に設置されているキャンセル磁場発生コイルが、第2検査領域用磁気検査機器からの磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を第1検査領域に発生するので、この第1検査領域においては、第2検査領域用磁気検査機器による磁場は実質零となり、第1検査領域用磁気検査機器による検査磁場のみが残る。この場合、第2検査領域用磁気検査機器から第1検査領域に影響する磁場は、第2検査領域用磁気検査機器の検査磁場発生コイルから第2検査領域までの距離をL1とし、第1検査領域までの検査磁場発生コイルからの距離をL2としたときに、これら距離の比率L2/L1の2乗に反比例して減少しており、キャンセル磁場発生コイルは、その減少した磁場を打ち消す程度のキャンセル磁場を発生すればよい。   When a magnetic sensor is inspected in both the first inspection region and the second inspection region, when a current is passed through each inspection region magnetic inspection device, the first inspection region magnetic inspection device uses the inspection magnetic field generating coil to generate magnetism. The inspection magnetic field required for the inspection of the magnetic characteristics of the sensor is generated in the first inspection region. Also, in the magnetic inspection equipment for the second inspection region, the inspection magnetic field required for the inspection is generated by the inspection magnetic field generating coil. Occurs in the area. Therefore, in the first inspection area, not only the inspection magnetic field but also the magnetic field from the magnetic inspection device for the second inspection area acts, but the cancel magnetic field generating coil installed in the first inspection area has the second inspection area. Since the cancel magnetic field for canceling the magnetic field from the magnetic inspection apparatus for the machine is generated in the first inspection area, the magnetic field by the magnetic inspection apparatus for the second inspection area is substantially zero in the first inspection area, and the first inspection area Only the magnetic field for inspection by the magnetic inspection equipment remains. In this case, the magnetic field affecting the first inspection region from the magnetic inspection device for the second inspection region is set to L1 as the distance from the inspection magnetic field generating coil of the magnetic inspection device for the second inspection region to the second inspection region. When the distance from the inspection magnetic field generating coil to the region is L2, the distance is reduced in inverse proportion to the square of the ratio L2 / L1, and the cancellation magnetic field generating coil cancels the reduced magnetic field. A cancel magnetic field may be generated.

同様にして、第2検査領域用磁気検査機器においては、検査磁場発生コイルが第2検査領域に検査磁場を発生し、第1検査領域用磁気検査機器によって第2検査領域に影響する磁場を第2検査領域に設けられたキャンセル磁場発生コイルのキャンセル磁場によって打ち消し、この第1検査領域用磁気検査機器による第2検査領域での磁場を実質零にする。   Similarly, in the second inspection region magnetic inspection device, the inspection magnetic field generating coil generates an inspection magnetic field in the second inspection region, and the first inspection region magnetic inspection device generates a magnetic field that affects the second inspection region. The canceling magnetic field generating coil provided in the two inspection areas cancels out the magnetic field in the second inspection area by the magnetic field inspection device for the first inspection area.

このように各検査領域用磁気検査機器のそれぞれが検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとを備えて、他方の検査領域での検査のために発生した検査磁場による自身の磁気検査機器の検査領域への影響をキャンセルするので、各検査領域において、他方の磁気検査機器において発生させている検査磁場がいかなる軸方向のものであっても、その磁場の影響を受けることなく、自身の検査磁場のみによって検査することができ、各軸方向の単独の磁場、あるいはこれらの合成磁場等、検査磁場を切り替えながら順次検査する場合も、断続させることなく連続して検査することができる。この場合、両検査機器における検査領域の離間距離に応じて互いの磁場の影響をキャンセルするので、両検査機器の離間距離を小さくすることが可能である。
なお、各磁場の大きさの関係は、電気的接続状態とされた検査磁場発生コイルの検査磁場に対して、キャンセル磁場発生コイルのキャンセル磁場の大きさが前述した距離の比率(L2/L1)の2乗に反比例した関係となっていればよい。
As described above, each of the magnetic inspection devices for the inspection region includes the inspection magnetic field generation coil and the cancel magnetic field generation coil, and the inspection region of the magnetic inspection device of its own by the inspection magnetic field generated for the inspection in the other inspection region. Since the influence on the magnetic field is cancelled, in each inspection area, even if the inspection magnetic field generated by the other magnetic inspection equipment is in any axial direction, it is not affected by that magnetic field, but only its own inspection magnetic field. In the case of sequentially inspecting while switching the inspection magnetic field, such as a single magnetic field in each axial direction or a synthetic magnetic field thereof, it is possible to inspect continuously without interruption. In this case, since the influence of the mutual magnetic field is canceled according to the separation distance between the inspection regions in both inspection apparatuses, the separation distance between both inspection apparatuses can be reduced.
It should be noted that the relationship between the magnitudes of the magnetic fields is the ratio of the above-mentioned distance (L2 / L1) to the magnitude of the cancel magnetic field of the cancel magnetic field generating coil with respect to the test magnetic field of the test magnetic field generating coil in the electrically connected state. It is sufficient that the relationship is inversely proportional to the square of.

また、それぞれのキャンセル磁場発生コイルで発生するキャンセル磁場が他方の検査領域に逆作用することが考えられるが、キャンセル磁場は、前述したように距離の2乗に反比例した小さい磁場であり、その逆作用は、さらに距離の2乗に反比例して小さくなるので、現実的な磁気検査装置として1m四方のヘルムホルツ型コイルを備えたものを、2m程度の離間距離で配置するものと想定すれば、実質上無視することができる。   Further, it is conceivable that the cancel magnetic field generated in each cancel magnetic field generating coil acts on the other inspection region, but the cancel magnetic field is a small magnetic field that is inversely proportional to the square of the distance as described above, and vice versa. Since the action is further reduced in inverse proportion to the square of the distance, if it is assumed that a realistic magnetic inspection apparatus equipped with a 1 m square Helmholtz type coil is arranged at a separation distance of about 2 m, Above can be ignored.

本発明の磁気検査装置おいて、前記電気的接続状態とされた前記検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、一つの電源に直列に接続されるとともに、相互に逆向きに巻回され、コイル径に対する巻数が、前記検査磁場発生コイルに対して、前記キャンセル磁場発生コイルが前記距離の比率L2/L1の2乗に反比例した関係に設定されているものとしてもよい。   In the magnetic inspection apparatus of the present invention, the inspection magnetic field generating coil and the cancel magnetic field generating coil in the electrically connected state are connected in series to one power source and wound in opposite directions, The number of turns with respect to the coil diameter may be set so that the cancel magnetic field generating coil is inversely proportional to the square of the distance ratio L2 / L1 with respect to the inspection magnetic field generating coil.

または、前記電気的接続状態とされた前記検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、相互に逆向きに巻回されるとともに、コイル径に対する巻数が同じに設定され、これらコイルに接続された電源に、前記検査磁場発生コイルに供給する電流に対して、前記距離の比率L2/L1の2乗に反比例した電流を前記キャンセル磁場発生コイルに供給する電流制御手段が設けられているものとしてもよい。   Alternatively, the inspection magnetic field generating coil and the canceling magnetic field generating coil in the electrical connection state are wound in opposite directions, and the number of turns with respect to the coil diameter is set to be the same and connected to these coils. The power source may be provided with current control means for supplying a current that is inversely proportional to the square of the distance ratio L2 / L1 to the current supplied to the inspection magnetic field generating coil. Good.

本発明の磁気検査装置によれば、各検査領域用磁気検査機器が検査対象の検査領域に発生させた検査磁場によって磁気センサを検査する際に、その検査領域に他方の磁気検査機器から及ぶ磁場をキャンセル磁場によりキャンセルするので、相互に他の磁気検査機器からの磁場の影響を受けることなく、自身の検査磁場のみによって検査することができ、一方でX軸方向の磁場により検査しているときに、他方でY軸方向の磁場により検査するなど、各磁気検査機器が独立して磁気センサの三次元の検査を行うことができる。したがって、磁気シールドルームや検査機器を離間させる広いスペースを必要とせず、また、検査対象の検査領域と他方の検査領域とのそれぞれの距離に応じたキャンセル磁場を発生するので、キャンセルすべき磁場の測定等も不要で、装置構成を簡略にすることができる。   According to the magnetic inspection apparatus of the present invention, when a magnetic sensor is inspected by the inspection magnetic field generated in the inspection region to be inspected by each inspection region magnetic inspection device, the magnetic field extending from the other magnetic inspection device to the inspection region. Is canceled by the canceling magnetic field, so that it can be inspected only by its own inspection magnetic field without being influenced by the magnetic fields from other magnetic inspection devices, while it is inspected by the magnetic field in the X-axis direction. On the other hand, each magnetic inspection device can independently perform a three-dimensional inspection of the magnetic sensor, such as inspection with a magnetic field in the Y-axis direction. Therefore, a large space for separating the magnetic shield room and the inspection equipment is not required, and a cancel magnetic field is generated according to the distance between the inspection area to be inspected and the other inspection area. No measurement or the like is required, and the apparatus configuration can be simplified.

本発明に係る磁気検査装置の一実施形態を一部を省略して示した概略斜視図である。It is the schematic perspective view which abbreviate | omitted and showed one Embodiment of the magnetic inspection apparatus which concerns on this invention. 一実施形態の磁気検査装置の磁場キャンセルの原理を説明するためにX軸コイルを抜き出して示した模式図である。It is the schematic diagram which extracted and showed the X-axis coil in order to demonstrate the principle of the magnetic field cancellation of the magnetic inspection apparatus of one Embodiment. 図1の磁気検査装置における磁場発生コイル、ステージ及びプローブカードを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the magnetic field generation coil, stage, and probe card in the magnetic inspection apparatus of FIG. 図3のステージとプローブカードとの水平面上の位置関係を示す平面図である。It is a top view which shows the positional relationship on the horizontal surface of the stage of FIG. 3, and a probe card. 本発明の第2実施形態を示した図2同様の模式図である。It is the same schematic diagram as FIG. 2 which showed 2nd Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
図1〜図4は本発明の第1実施形態の磁気検査装置を示しており、この磁気検査装置1は、第1検査領域T1と第1検査領域T1から離間した第2検査領域T2とでそれぞれ磁気検査する二組の磁気検査機器2,3を備えている。
第1検査領域用磁気検査機器2は、検査対象とする第1検査領域T1に検査磁場を発生する検査磁場発生コイル4と、第1検査領域T1に作用する第2検査領域用磁気検査機器3からの磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を第1検査領域T1に発生するキャンセル磁場発生コイル5とを有しており、また、第2検査領域用磁気検査機器3は、検査対象とする第2検査領域T2に検査磁場を発生する検査磁場発生コイル6と、第2検査領域T2に作用する第1検査領域用磁気検査機器2からの磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を第2検査領域T2に発生するキャンセル磁場発生コイル7とを有している。
これら検査機器2,3は、その基本構成が共通しており、以下では、第1検査領域用磁気検査機器2を代表として装置構成の詳細を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1 to 4 show a magnetic inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. The magnetic inspection apparatus 1 includes a first inspection area T1 and a second inspection area T2 spaced from the first inspection area T1. Two sets of magnetic inspection devices 2 and 3 for magnetic inspection are provided.
The first inspection region magnetic inspection device 2 includes an inspection magnetic field generating coil 4 that generates an inspection magnetic field in the first inspection region T1 to be inspected, and a second inspection region magnetic inspection device 3 that operates on the first inspection region T1. And a cancel magnetic field generating coil 5 for generating a cancel magnetic field for canceling the magnetic field from the first inspection region T1, and the second inspection region magnetic inspection device 3 is a second inspection to be inspected. An inspection magnetic field generating coil 6 for generating an inspection magnetic field in the region T2 and a cancel magnetic field for canceling the magnetic field from the first inspection region magnetic inspection apparatus 2 acting on the second inspection region T2 are generated in the second inspection region T2. The cancel magnetic field generating coil 7 is included.
These inspection devices 2 and 3 have the same basic configuration, and the details of the apparatus configuration will be described below with the first inspection region magnetic inspection device 2 as a representative.

この第1検査領域用磁気検査機器2は、検査磁場発生コイル4が、相互に直交したX軸方向、Y軸方向、Z軸方向のそれぞれの軸方向に沿って対向する2個を一組とした3組のヘルムホルツ型コイル11,12,13から構成されており、フレーム14の両側部、上部及び下部、前面及び背面にそれぞれ一組ずつ配設され、全体として正六面体を構成するように配置されている。   The first inspection region magnetic inspection apparatus 2 includes a set of two inspection magnetic field generating coils 4 that face each other in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction orthogonal to each other. The three sets of Helmholtz type coils 11, 12, 13 are arranged on the both sides, upper and lower, front and back of the frame 14, respectively, so as to constitute a regular hexahedron as a whole. Has been.

具体的には、図3に示すように、フレーム14の両側部に、水平方向に沿う軸方向(X軸方向とする)を一致させた一組のX軸コイル11が設けられ、これらX軸コイル11の軸方向と直交する水平方向に軸方向(Y軸方向とする)を向けた一組のY軸コイル12がフレーム14の前面及び背面に設けられ、これらX軸コイル11とY軸コイル12との両軸方向のいずれにも直交する垂直方向に軸方向(Z軸方向とする)を向けた一組のZ軸コイル13がフレーム14の上部及び下部に設けられている。図3には、X軸、Y軸、Z軸の各軸を一点鎖線で示している。また、これらコイル11,12,13に囲まれた空間の中心位置に第1検査領域T1が設けられており、各組のコイル11,12,13により、第1検査領域T1に、X軸方向、Y軸方向、Z軸方向の3軸方向のそれぞれの単独の磁場を発生するとともに、これら3軸の合成磁場を作用させ得るようになっている。   Specifically, as shown in FIG. 3, a pair of X-axis coils 11 are provided on both sides of the frame 14 so that the axial direction along the horizontal direction (X-axis direction) coincides. A set of Y-axis coils 12 having an axial direction (referred to as the Y-axis direction) oriented in the horizontal direction perpendicular to the axial direction of the coil 11 are provided on the front surface and the back surface of the frame 14, and these X-axis coil 11 and Y-axis coil A pair of Z-axis coils 13 are provided on the upper and lower portions of the frame 14 with the axial direction (referred to as the Z-axis direction) oriented in the vertical direction orthogonal to both of the two axial directions. In FIG. 3, the X axis, the Y axis, and the Z axis are indicated by alternate long and short dash lines. In addition, a first inspection region T1 is provided at the center position of the space surrounded by the coils 11, 12, and 13, and each set of coils 11, 12, and 13 provides the first inspection region T1 to the first inspection region T1 in the X-axis direction. In addition, a single magnetic field in each of the three axial directions of the Y-axis direction and the Z-axis direction can be generated, and a composite magnetic field of these three axes can be applied.

第1検査領域T1には、プローブカード15が固定されるとともに、磁気センサ16を有するウエハ17を載置する移動可能なステージ18が設けられている。この場合、磁気センサ16は、ウエハ17から分離される前の状態であり、ウエハ17に整列状態に多数形成されたものが用いられる。プローブカード15は、このウエハ状態に並べられた多数の磁気センサ16のうちの複数個の磁気センサ16に対して同時に接触可能なプローブ群19が設けられ、これら複数個の磁気センサ16を同時に検査することができるようになっている。そして、ステージ18上に固定したウエハ17を図4の矢印で示すようにX方向、Y方向に移動しながら、プローブカード15のプローブ群19に複数個の磁気センサ16を対峙させ、この対峙状態でステージ18をZ方向に移動することにより、これら磁気センサ16にプローブ群119を接触させ、各磁気センサ16に通電して、その出力から磁気センサ16の磁気特性を検査する。この検査を3組のコイル11,12,13によりX軸、Y軸、Z軸方向に磁場を発生させながら行う。   In the first inspection region T1, a probe card 15 is fixed, and a movable stage 18 on which a wafer 17 having a magnetic sensor 16 is placed is provided. In this case, the magnetic sensor 16 is in a state before being separated from the wafer 17, and a plurality of magnetic sensors 16 formed in an aligned state on the wafer 17 are used. The probe card 15 is provided with a probe group 19 that can simultaneously contact a plurality of magnetic sensors 16 among the many magnetic sensors 16 arranged in the wafer state, and the plurality of magnetic sensors 16 are simultaneously inspected. Can be done. Then, while moving the wafer 17 fixed on the stage 18 in the X direction and the Y direction as indicated by the arrows in FIG. 4, a plurality of magnetic sensors 16 are opposed to the probe group 19 of the probe card 15. The probe group 119 is brought into contact with these magnetic sensors 16 by moving the stage 18 in the Z direction, and each magnetic sensor 16 is energized, and the magnetic characteristics of the magnetic sensor 16 are inspected from the output. This inspection is performed while generating magnetic fields in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions by the three sets of coils 11, 12, and 13.

また、キャンセル磁場発生コイル5も、検査磁場発生コイル4と同様に、相互に直交したX軸方向、Y軸方向、Z軸方向のそれぞれの軸方向に沿って対向する2個を一組とした3組のヘルムホルツ型コイル21,22,23から構成されており、図示例では、検査磁場発生コイル4よりも大きいコイル径に形成され、検査磁場発生コイル4を囲むフレーム24の両側部、上部及び下部、前面及び背面にそれぞれ一組ずつ配設され、全体として正六面体を構成するように配置されている。   Similarly to the inspection magnetic field generating coil 4, the cancel magnetic field generating coil 5 is a set of two facing each other in the X axis direction, the Y axis direction, and the Z axis direction orthogonal to each other. It is composed of three sets of Helmholtz type coils 21, 22, 23. In the example shown in the figure, the coil diameter is larger than that of the inspection magnetic field generating coil 4, One set is disposed on each of the lower part, the front face, and the rear face, and is arranged so as to constitute a regular hexahedron as a whole.

一方、第2検査領域用磁気検査機器3においても、第1検査領域用磁気検査機器2と同様に、検査磁場発生コイル6は、相互に同一コイル径のX軸コイル31、Y軸コイル32、Z軸コイル33がフレーム30に一対ずつ固定されたヘルムホルツ型コイルを構成しているとともに、キャンセル磁場発生コイル7は、検査磁場発生コイル6の各コイルよりも大きいX軸コイル35、Y軸コイル36、Z軸コイル37がフレーム38に一対ずつ固定されたヘルムホルツ型コイルを構成しており、第2検査領域T2を囲んで検査磁場発生コイル6が設けられ、その外側にキャンセル磁場発生コイル7が配置されている。   On the other hand, in the second inspection region magnetic inspection device 3, as in the first inspection region magnetic inspection device 2, the inspection magnetic field generating coil 6 includes the X-axis coil 31, the Y-axis coil 32, the same coil diameter, The Z-axis coil 33 constitutes a Helmholtz type coil fixed to the frame 30 one by one, and the canceling magnetic field generating coil 7 is larger than each coil of the inspection magnetic field generating coil 6 as an X-axis coil 35 and a Y-axis coil 36. The Z-axis coils 37 constitute a Helmholtz type coil fixed to the frame 38 one by one, the inspection magnetic field generating coil 6 is provided surrounding the second inspection region T2, and the canceling magnetic field generating coil 7 is arranged outside thereof. Has been.

そして、第1検査領域用磁気検査機器2と第2検査領域用磁気検査機器3とは、その一方の検査機器の検査磁場発生コイルと他方の検査機器のキャンセル磁場発生コイルとが、図1に示すように、3軸のうちの一つ、図示例ではX軸を同一軸線上に配置した状態に並べられており、他のY軸、Z軸は相互に平行とされている。
また、第1検査領域用磁気検査機器2の検査磁場発生コイル4と第2検査領域用磁気検査機器3のキャンセル磁場発生コイル7との各コイルはX軸、Y軸、Z軸ごとに直列に接続されて一つの電源25に接続され、同じ電流が流されるようになっている。同様に、第2検査領域用磁気検査機器3の検査磁場発生コイル6と第1検査領域用磁気検査機器2のキャンセル磁場発生コイル5との各コイルも、X軸、Y軸、Z軸ごとに直列に接続されて一つの電源に接続され、同じ電流が流されるようになっている。また、これら電気的接続状態の各軸ごとに検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとのコイルの巻方向が逆向きとされ、かつ異なる巻数に設定されている。
The first inspection region magnetic inspection device 2 and the second inspection region magnetic inspection device 3 include an inspection magnetic field generation coil of one inspection device and a cancellation magnetic field generation coil of the other inspection device in FIG. As shown, one of the three axes, in the illustrated example, the X axis is arranged on the same axis, and the other Y axis and Z axis are parallel to each other.
Further, the inspection magnetic field generating coil 4 of the first inspection region magnetic inspection device 2 and the cancel magnetic field generation coil 7 of the second inspection region magnetic inspection device 3 are arranged in series for each of the X axis, the Y axis, and the Z axis. They are connected to one power source 25 so that the same current flows. Similarly, each of the inspection magnetic field generating coil 6 of the second inspection region magnetic inspection device 3 and the cancel magnetic field generation coil 5 of the first inspection region magnetic inspection device 2 is also provided for each of the X axis, the Y axis, and the Z axis. They are connected in series and connected to a single power supply so that the same current flows. Further, the winding directions of the inspection magnetic field generating coil and the canceling magnetic field generating coil are reversed for each axis in the electrical connection state, and are set to different numbers of turns.

X軸コイルを例にとって図2により説明すると、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11とキャンセル磁場発生コイル7のX軸コイル34とは、直列に接続され、相互に巻方向が逆向きとされ、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11よりもキャンセル磁場発生コイル7のX軸コイル34の方が巻数が小さく設定されている。
コイルによって発生する磁場の大きさは、コイルの巻数に比例するとともに、コイル径に反比例し、ビオ・サバールの法則(定常電流が流れる導線の微小部分から所定距離離れた点に作用する磁場の大きさは、距離の2乗に反比例する)により、コイルからの距離の2乗に反比例する。
Referring to FIG. 2 taking an X-axis coil as an example, the X-axis coil 11 of the inspection magnetic field generating coil 4 and the X-axis coil 34 of the canceling magnetic field generating coil 7 are connected in series and their winding directions are opposite to each other. The X-axis coil 34 of the cancel magnetic field generating coil 7 is set to have a smaller number of turns than the X-axis coil 11 of the inspection magnetic field generating coil 4.
The magnitude of the magnetic field generated by the coil is proportional to the number of turns of the coil and inversely proportional to the coil diameter. Bio-Savart's law Is inversely proportional to the square of the distance from the coil.

したがって、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11とキャンセル磁場発生コイル7のX軸コイル34とは、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11から第1検査領域T1までの距離をL1とし、そのX軸コイル11から第2検査領域T2までの距離をL2としたときに、第1検査領域T1に作用する検査磁場に対して、第1検査領域T1までの距離L1に対する第2検査領域T2までの距離L2の比率(L2/L1)の2乗に反比例した大きさのキャンセル磁場を第2検査領域T2に発生するように、コイル径に対する巻数の関係を設定すればよい。例えば、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11から第1検査領域T1までの距離L1が50cmで、そのX軸コイル11から第2検査領域T2までの距離L2が2mである場合、検査磁場発生コイル4のX軸コイル11により第2検査領域T2に作用する磁場は、第1検査領域T1で受ける磁場の(200/50)の2乗に反比例し、1/16となる。したがって、キャンセル磁場発生コイル7におけるX軸コイル34のコイル径に対する巻数を、検査磁場発生コイル4におけるX軸コイル11で発生した磁場の1/16の磁場を発生するように設定すればよい。   Therefore, the X-axis coil 11 of the inspection magnetic field generating coil 4 and the X-axis coil 34 of the canceling magnetic field generating coil 7 have a distance L1 from the X-axis coil 11 of the inspection magnetic field generating coil 4 to the first inspection region T1. When the distance from the X-axis coil 11 to the second inspection region T2 is L2, the inspection magnetic field acting on the first inspection region T1 is up to the second inspection region T2 with respect to the distance L1 to the first inspection region T1. The relationship of the number of turns to the coil diameter may be set so that a canceling magnetic field having a magnitude inversely proportional to the square of the ratio (L2 / L1) of the distance L2 is generated in the second inspection region T2. For example, when the distance L1 from the X-axis coil 11 of the inspection magnetic field generating coil 4 to the first inspection region T1 is 50 cm and the distance L2 from the X-axis coil 11 to the second inspection region T2 is 2 m, the inspection magnetic field is generated. The magnetic field applied to the second inspection region T2 by the X-axis coil 11 of the coil 4 is inversely proportional to the square of (200/50) of the magnetic field received in the first inspection region T1, and becomes 1/16. Therefore, the number of turns with respect to the coil diameter of the X-axis coil 34 in the cancel magnetic field generating coil 7 may be set so that 1/16 of the magnetic field generated in the X-axis coil 11 in the inspection magnetic field generating coil 4 is generated.

このような検査磁場発生コイル4とキャンセル磁場発生コイル7のX軸コイル11,34相互の関係は、Y軸コイル12,35、Z軸コイル13,36についても同様であり、各軸ごとに検査磁場発生コイル4とキャンセル磁場発生コイル7とではコイルの巻方向が逆向きとされ、かつ、検査磁場発生コイル4のY軸コイル12及びZ軸コイル13から第1検査領域T1までの距離をそれぞれL1とし、これらY軸コイル12及びZ軸コイル13から第2検査領域T2までの距離をそれぞれL2としたときに、検査磁場発生コイル4のY軸コイル12及びZ軸コイル13から第1検査領域T1までの距離L1に対する第2検査領域T2までの距離L2の比率(L2/L1)の2乗に反比例したキャンセル磁場をそれぞれ発生するようにコイル径に対する巻数が設定されている。この場合、それぞれの距離L1,L2は図2のX軸コイル11の場合と同じ符号を用いているが、X軸コイル11の場合と同一寸法になるとは限らない。   The relationship between the X-axis coils 11 and 34 of the inspection magnetic field generating coil 4 and the cancel magnetic field generating coil 7 is the same for the Y-axis coils 12 and 35 and the Z-axis coils 13 and 36. The winding direction of the magnetic field generating coil 4 and the canceling magnetic field generating coil 7 is reversed, and the distance from the Y-axis coil 12 and the Z-axis coil 13 of the inspection magnetic field generation coil 4 to the first inspection region T1 is set respectively. When the distance from the Y-axis coil 12 and the Z-axis coil 13 to the second inspection region T2 is L2, respectively, the first inspection region from the Y-axis coil 12 and the Z-axis coil 13 of the inspection magnetic field generating coil 4 is L1. A coil is generated so as to generate a canceling magnetic field inversely proportional to the square of the ratio (L2 / L1) of the distance L2 to the second inspection region T2 with respect to the distance L1 to T1. The number of turns is set against. In this case, the distances L1 and L2 are the same as those in the case of the X-axis coil 11 in FIG.

また、第2検査領域T2に検査磁場を発生する検査磁場発生コイル6に対して、第1検査領域T1にキャンセル磁場を発生するキャンセル磁場発生コイル5も、コイルの巻方向が逆向きとされ、かつ、検査磁場に対して、検査磁場発生コイル6から第2検査領域T2までの距離L1に対する第1検査領域T1までの距離L2の比率(L2/L1)の2乗に反比例したキャンセル磁場を発生するようにコイル径に対する巻数が設定されている。この場合も、それぞれの距離L1,L2は第1検査領域用磁気検査機器2の場合と同じ符号を用いているが、第1検査領域用磁気検査機器2の場合と同一寸法となるとは限らない。   In addition, with respect to the inspection magnetic field generating coil 6 that generates the inspection magnetic field in the second inspection region T2, the cancel magnetic field generation coil 5 that generates the cancellation magnetic field in the first inspection region T1 is also reversed in the coil winding direction. In addition, a cancellation magnetic field that is inversely proportional to the square of the ratio (L2 / L1) of the distance L2 to the first inspection region T1 with respect to the distance L1 from the inspection magnetic field generating coil 6 to the second inspection region T2 is generated with respect to the inspection magnetic field. Thus, the number of turns with respect to the coil diameter is set. In this case as well, the same reference numerals are used for the distances L1 and L2 as in the case of the first inspection region magnetic inspection device 2, but the distances L1 and L2 are not necessarily the same as those in the case of the first inspection region magnetic inspection device 2. .

そして、これら第1検査領域用磁気検査機器2と第2検査領域用磁気検査機器3とを組み合わせ、相互の検査磁場発生コイル4及びキャンセル磁場発生コイル5を第1検査領域T1及び第2検査領域T2に前述した位置関係で配置することにより、2箇所の検査領域T1,T2で別個に磁気特性の検査ができる磁気検査装置1が構成される。   The first inspection region magnetic inspection device 2 and the second inspection region magnetic inspection device 3 are combined, and the mutual inspection magnetic field generation coil 4 and cancel magnetic field generation coil 5 are combined into the first inspection region T1 and the second inspection region. By arranging in T2 in the above-described positional relationship, the magnetic inspection apparatus 1 that can inspect magnetic characteristics separately in the two inspection regions T1 and T2 is configured.

このように構成した磁気検査装置1において、第1検査領域T1及び第2検査領域T2の両方で磁気検査する場合、第1検査領域用磁気検査機器2の磁場発生コイル4に電流を流すと、第2検査領域用磁気検査機器3のキャンセル磁場発生コイル7にも同じ電流が流れ、検査磁場発生コイル4においては第1検査領域T1に検査のために必要な大きさの検査磁場を発生する。この検査磁場発生コイル4で発生する磁場は、前述したように、検査磁場発生コイル4から第1検査領域T1及び第2検査領域T2までのそれぞれの距離L1,L2に応じた大きさで第2検査領域T2にも影響する。この第2検査領域T2では、キャンセル磁場発生コイル7により、検査磁場発生コイル4から第2検査領域T2に影響する磁場とは逆方向で同じ大きさのキャンセル磁場が発生して、検査磁場発生コイル4からの磁場をキャンセルする。   In the magnetic inspection apparatus 1 configured as described above, when a magnetic inspection is performed in both the first inspection region T1 and the second inspection region T2, when a current is passed through the magnetic field generating coil 4 of the magnetic inspection device 2 for the first inspection region, The same current also flows through the cancellation magnetic field generating coil 7 of the magnetic inspection device 3 for the second inspection region, and the inspection magnetic field generating coil 4 generates an inspection magnetic field having a magnitude necessary for the inspection in the first inspection region T1. As described above, the magnetic field generated by the inspection magnetic field generating coil 4 has a magnitude corresponding to the distances L1 and L2 from the inspection magnetic field generating coil 4 to the first inspection region T1 and the second inspection region T2, and is second. This also affects the inspection area T2. In the second inspection region T2, the cancel magnetic field generating coil 7 generates a cancel magnetic field having the same magnitude in the opposite direction as the magnetic field affecting the second inspection region T2 from the inspection magnetic field generating coil 4. Cancel the magnetic field from 4.

一方、第2検査領域用磁気検査機器3においても、磁場発生コイル6に電流を流すと、第1検査領域用磁気検査機器2のキャンセル磁場発生コイル5にも同じ電流が流れ、第2検査領域T2に検査磁場発生コイル6により検査磁場が発生し、この検査磁場発生コイル6から第1検査領域T1に影響する磁場をキャンセル磁場発生コイル5の逆方向の磁場によってキャンセルする。   On the other hand, in the second inspection region magnetic inspection device 3, when a current is passed through the magnetic field generation coil 6, the same current also flows through the cancellation magnetic field generation coil 5 of the first inspection region magnetic inspection device 2. An inspection magnetic field is generated by the inspection magnetic field generating coil 6 at T <b> 2, and the magnetic field that affects the first inspection region T <b> 1 from the inspection magnetic field generating coil 6 is canceled by the magnetic field in the reverse direction of the cancel magnetic field generating coil 5.

したがって、両磁気検査機器2,3とも、自身の検査領域での検査のために検査磁場を発生することにより、他の磁気検査機器からの検査領域への影響はキャンセル磁場によってキャンセルするので、各検査領域T1,T2において、他の磁気検査機器からの磁場の影響を受けることなく、自身の検査磁場のみによって検査することができる。   Therefore, both the magnetic inspection devices 2 and 3 generate the inspection magnetic field for the inspection in their own inspection region, so that the influence on the inspection region from other magnetic inspection devices is canceled by the cancellation magnetic field. In the inspection regions T1 and T2, it is possible to inspect only with its own inspection magnetic field without being affected by the magnetic field from other magnetic inspection equipment.

例えば、各磁気検査機器2,3において、X軸、Y軸、Z軸の各検査磁場発生コイルにより、各軸毎に切り替えながら検査領域に各軸の磁場を順次発生させ、その検査領域に配置した磁気センサに対してプローブカードを接触させて、各軸毎の磁気特性を順次検査する場合、第1検査領域用磁気検査機器2で、例えばX軸方向の検査磁場を発生させて検査しているときには、第2検査領域用磁気検査機器3で発生する磁場がどの軸方向の磁場であっても、この第2検査領域用磁気検査機器3からの磁場の影響は第1検査領域用磁気検査装置2においてはキャンセル磁場発生コイル5によってキャンセルされるので、第1検査領域T1でX軸方向の検査磁場のみによって磁気検査することができる。Y軸方向、Z軸方向の各磁場においても同様である。   For example, in each of the magnetic inspection devices 2 and 3, the X-axis, Y-axis, and Z-axis inspection magnetic field generating coils sequentially generate the magnetic fields of the respective axes in the inspection area while switching for each axis, and are arranged in the inspection areas. When the probe card is brought into contact with the magnetic sensor and the magnetic characteristics for each axis are sequentially inspected, the first inspection region magnetic inspection device 2 generates, for example, an inspection magnetic field in the X-axis direction for inspection. When the magnetic field generated by the second inspection region magnetic inspection device 3 is in any axial direction, the influence of the magnetic field from the second inspection region magnetic inspection device 3 is affected by the first inspection region magnetic inspection. In the apparatus 2, since the cancel magnetic field generating coil 5 cancels, the magnetic inspection can be performed only by the inspection magnetic field in the X-axis direction in the first inspection region T1. The same applies to each magnetic field in the Y-axis direction and the Z-axis direction.

また、第2検査領域用磁気検査機器3においても、X軸、Y軸、Z軸の各方向に検査磁場を発生させて検査する際に、第1検査領域用磁気検査機器2で発生する磁場がどの軸方向の磁場であっても、自身の検査領域T2では、自身の検査磁場発生コイルから発生する検査磁場のみによって検査することができる。
これら二つの磁気検査機器2,3相互間で、互いの磁場の影響を受けずにそれぞれ独立して磁気検査することができ、各軸方向の単独の磁場、あるいはこれらの合成磁場等、検査磁場を切り替えながら順次検査する場合も、断続させることなく連続して検査することができる。
In the second inspection region magnetic inspection apparatus 3, the magnetic field generated by the first inspection region magnetic inspection apparatus 2 when performing inspection by generating inspection magnetic fields in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions. Can be inspected only by the inspection magnetic field generated from its own inspection magnetic field generating coil in its own inspection region T2.
These two magnetic inspection devices 2 and 3 can be independently magnetically inspected without being affected by each other's magnetic field, such as a single magnetic field in each axial direction, or a synthetic magnetic field of these, etc. Even when sequentially inspecting while switching, it is possible to inspect continuously without interruption.

図5は本発明の磁気検査装置の第2実施形態を示すもので、図2と同様に、X軸コイルのみを模式的に示している。この磁気検査装置は、第1実施形態と同様、第1検査領域用磁気検査機器及び第2検査領域用磁気検査機器ともに、自身の検査領域に検査磁場を発生する検査磁場発生コイルと、他方の磁気検査機器の検査領域に生じる磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を発生するキャンセル磁場発生コイルとを有しており、それぞれが、相互に直交したX軸方向、Y軸方向、Z軸方向のそれぞれの軸方向に沿って対向する2個を一組とした3組のヘルムホルツ型コイルから構成され、一方の検査領域用磁気検査機器の磁場発生コイルと他方の検査領域用磁気検査機器のキャンセル磁場発生コイルとが電気的接続状態とされ、これら電機接続状態の検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとはX軸コイルが同一軸上に、Y軸コイル及びZ軸コイルが平行に配置されている。   FIG. 5 shows a second embodiment of the magnetic inspection apparatus of the present invention, and schematically shows only the X-axis coil as in FIG. As in the first embodiment, this magnetic inspection apparatus includes both a first inspection region magnetic inspection device and a second inspection region magnetic inspection device, an inspection magnetic field generating coil that generates an inspection magnetic field in its own inspection region, and the other And a cancel magnetic field generating coil for generating a cancel magnetic field for canceling the magnetic field generated in the inspection region of the magnetic inspection device, each of which is in the X axis direction, the Y axis direction, and the Z axis direction orthogonal to each other. A magnetic field generating coil of one inspection region magnetic inspection device and a canceling magnetic field generation coil of the other inspection region magnetic inspection device, which are composed of two sets of two Helmholtz coils facing each other in the axial direction And the inspection magnetic field generating coil and the canceling magnetic field generating coil in the electrical connection state, the X-axis coil is on the same axis, the Y-axis coil and the Z-axis coil. They are arranged in parallel.

また、電機接続状態の検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、X軸コイル、Y軸コイル、Z軸コイルとも、キャンセル磁場発生コイルの方が大きいコイル直径に形成されているが、これらのコイル径に対する巻数が同じに設定され、検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとで巻方向が逆向きに設定されており、検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとに接続された電源に、これらに供給する電流を制御する電流制御手段が設けられている。図5では、検査磁場発生コイル51のX軸コイル52とキャンセル磁場発生コイル53のX軸コイル54とが電源55に接続され、各X軸コイル52,54への電流を制御する電流制御手段56が設けられている。   In addition, the inspection magnetic field generating coil and the cancel magnetic field generating coil in the electrical connection state are formed such that the cancel magnetic field generating coil has a larger coil diameter in all of the X-axis coil, the Y-axis coil, and the Z-axis coil. The number of turns with respect to the coil diameter is set to be the same, and the winding direction of the inspection magnetic field generating coil and that of the canceling magnetic field generating coil are opposite to each other. The power source connected to the inspection magnetic field generating coil and the canceling magnetic field generating coil Current control means is provided for controlling the current supplied to. In FIG. 5, the X-axis coil 52 of the inspection magnetic field generating coil 51 and the X-axis coil 54 of the canceling magnetic field generating coil 53 are connected to the power supply 55, and current control means 56 that controls the current to each X-axis coil 52, 54. Is provided.

この電流制御手段56は、例えば、電源55とキャンセル磁場発生コイル53の間にシャント回路を設けて、電流を距離の比率L2/L1に応じて調整するものとされる。つまり、検査磁場発生コイルに流れる電流に対して、検査磁場発生コイルから第1検査領域までの距離L1に対する第2検査領域までの距離L2の比率(L2/L1)の2乗に反比例した電流が流れるようになっている。図5では、検査磁場発生コイル51のX軸コイル52に流れる電流に対して、このX軸コイル52から第1検査領域T1までの距離L1に対する第2検査領域T2までの距離L2の比率(L2/L1)の2乗に反比例した電流がキャンセル磁場発生コイル53のX軸コイル54に流れる。このような電流制御により、検査磁場発生コイルによって第2検査領域T2に発生した検査磁場により第1検査領域T1に影響する磁場をキャンセル磁場発生コイルによってキャンセルすることができる。
その他の構成は第1実施形態のものと同様である。
For example, the current control means 56 is provided with a shunt circuit between the power supply 55 and the cancel magnetic field generating coil 53 to adjust the current according to the distance ratio L2 / L1. That is, the current that is inversely proportional to the square of the ratio (L2 / L1) of the distance L2 from the inspection magnetic field generation coil to the first inspection region to the second inspection region with respect to the current flowing through the inspection magnetic field generation coil. It comes to flow. In FIG. 5, the ratio of the distance L2 from the X-axis coil 52 to the first inspection region T1 to the second inspection region T2 (L2) with respect to the current flowing through the X-axis coil 52 of the inspection magnetic field generating coil 51 Current that is inversely proportional to the square of / L1) flows through the X-axis coil 54 of the cancellation magnetic field generation coil 53. By such current control, the magnetic field that affects the first inspection region T1 by the inspection magnetic field generated in the second inspection region T2 by the inspection magnetic field generation coil can be canceled by the cancellation magnetic field generation coil.
Other configurations are the same as those of the first embodiment.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態では、各磁気検査機器において検査磁場発生コイルの外側にキャンセル磁場発生コイルを配置したが、逆にキャンセル磁場発生コイルの外側に検査磁場発生コイルを配置してもよい。また、電気的接続状態とされる検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、コイル直径、巻数、電流を適宜組み合わせることにより、検査磁場発生コイルが発生する検査磁場に対して、キャンセル磁場発生コイルが、検査磁場発生コイルから検査対象の検査領域までの距離L1と、他方の検査領域までの距離L2との比率L2/L1の2乗に反比例した大きさのキャンセル磁場を発生するように設定すればよい。
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
For example, in the above embodiment, the cancel magnetic field generating coil is arranged outside the inspection magnetic field generating coil in each magnetic inspection device, but conversely, the inspection magnetic field generating coil may be arranged outside the cancel magnetic field generating coil. In addition, the inspection magnetic field generating coil and the cancel magnetic field generating coil that are in an electrically connected state can be compared with the inspection magnetic field generated by the inspection magnetic field generating coil by appropriately combining the coil diameter, the number of turns, and the current. Is set so as to generate a canceling magnetic field whose magnitude is inversely proportional to the square of the ratio L2 / L1 between the distance L1 from the inspection magnetic field generating coil to the inspection area to be inspected and the distance L2 to the other inspection area. That's fine.

1…磁気検査装置、2…第1検査領域用磁気検査機器、3…第2検査領域用磁気検査機器、4…検査磁場発生コイル、5…キャンセル磁場発生コイル、6…検査磁場発生コイル、7…キャンセル磁場発生コイル、11,31…X軸コイル、12,32…Y軸コイル、13,33…Z軸コイル、14,30…フレーム、15…プローブカード、16…磁気センサ、17…ウエハ、18…ステージ、19…プローブ群、25…電源、21,35…X軸コイル、22,36…Y軸コイル、23,37…Z軸コイル、24,38…フレーム、51…検査磁場発生コイル、52…X軸コイル、53…キャンセル磁場発生コイル、54…X軸コイル、55…電源、56…電流制御手段、T1…第1検査領域、T2…第2検査領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Magnetic test | inspection apparatus, 2 ... Magnetic test | inspection apparatus for 1st test | inspection areas, 3 ... Magnetic test | inspection apparatus for 2nd test | inspection areas, 4 ... Test magnetic field generating coil, 5 ... Cancel magnetic field generating coil, 6 ... Test magnetic field generating coil, 7 ... canceling magnetic field generating coil, 11, 31 ... X-axis coil, 12, 32 ... Y-axis coil, 13, 33 ... Z-axis coil, 14, 30 ... frame, 15 ... probe card, 16 ... magnetic sensor, 17 ... wafer, DESCRIPTION OF SYMBOLS 18 ... Stage, 19 ... Probe group, 25 ... Power supply, 21, 35 ... X-axis coil, 22, 36 ... Y-axis coil, 23, 37 ... Z-axis coil, 24, 38 ... Frame, 51 ... Inspection magnetic field generating coil, 52 ... X-axis coil, 53 ... Cancel magnetic field generating coil, 54 ... X-axis coil, 55 ... Power source, 56 ... Current control means, T1 ... First inspection region, T2 ... Second inspection region

Claims (1)

第1検査領域で三次元磁気センサの磁気特性を検査する第1検査領域用磁気検査機器と該第1検査領域から離間した第2検査領域で三次元磁気センサの磁気特性を検査する第2検査領域用磁気検査機器とを備え、これら各検査領域用磁気検査機器は、両検査領域のうち検査対象とする検査領域に検査磁場を発生して該検査領域に配置した磁気センサの磁気特性を検査するための三次元構造の検査磁場発生コイルと、該検査領域に作用する他方の検査機器からの磁場を打ち消すためのキャンセル磁場を発生する三次元構造のキャンセル磁場発生コイルとが設けられるとともに、一方の検査領域用磁気検査機器の検査磁場発生コイルと他方の検査領域用磁気検査機器のキャンセル磁場発生コイルとが、三次元のうちのいずれかのコイルの軸を同一軸上に向けて電気的接続状態に設けられ、これら電気的接続状態とされた前記検査磁場発生コイルとキャンセル磁場発生コイルとは、前記検査磁場発生コイルから前記検査対象とする検査領域までの距離をL1とし、前記検査磁場発生コイルから前記他方の検査領域までの距離をL2としたときに、前記検査磁場発生コイルが発生する検査磁場に対して、前記キャンセル磁場発生コイルが前記距離の比率L2/L1の2乗に反比例した大きさのキャンセル磁場を発生し、各検査領域用磁気検査機器は、他方の検査領域用磁気検査機器から自身の検査領域に作用する磁場を前記キャンセル磁場発生コイルによりキャンセルした状態で、前記検査磁場発生コイルから検査磁場を発生して前記検査領域に配置した三次元磁気センサの磁気特性を検査することを特徴とする磁気センサの磁気検査装置。   A first inspection region magnetic inspection device that inspects the magnetic characteristics of the three-dimensional magnetic sensor in the first inspection region and a second inspection that inspects the magnetic properties of the three-dimensional magnetic sensor in the second inspection region that is separated from the first inspection region. These inspection area magnetic inspection devices generate an inspection magnetic field in the inspection area to be inspected, and inspect the magnetic characteristics of the magnetic sensor arranged in the inspection area. A three-dimensional structure inspection magnetic field generating coil and a three-dimensional structure cancellation magnetic field generation coil for generating a cancel magnetic field for canceling the magnetic field from the other inspection device acting on the inspection area, The inspection magnetic field generating coil of the magnetic inspection device for the inspection region and the canceling magnetic field generation coil of the magnetic inspection device for the other inspection region have the same axis of one of the three dimensions. The inspection magnetic field generating coil and the cancel magnetic field generating coil that are provided in an electrically connected state upward and are in the electrically connected state have a distance from the inspection magnetic field generating coil to the inspection region to be inspected. When the distance from the inspection magnetic field generating coil to the other inspection region is L2, the cancel magnetic field generating coil has a ratio L2 / of the distance to the inspection magnetic field generated by the inspection magnetic field generating coil. A cancellation magnetic field having a magnitude inversely proportional to the square of L1 is generated, and each inspection area magnetic inspection apparatus cancels the magnetic field acting on its own inspection area from the other inspection area magnetic inspection apparatus by the cancellation magnetic field generating coil. In this state, an inspection magnetic field is generated from the inspection magnetic field generating coil to inspect the magnetic characteristics of the three-dimensional magnetic sensor arranged in the inspection area. The magnetic testing apparatus of the magnetic sensor according to claim Rukoto.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017020882A (en) * 2015-07-10 2017-01-26 有限会社パワーテック Three-dimensional magnetic field electromagnet device
CN106560721A (en) * 2015-09-30 2017-04-12 苹果公司 Efficient Testing Of Magnetometer Sensor Assemblies
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US10955493B2 (en) 2018-05-02 2021-03-23 Analog Devices Global Unlimited Company Magnetic sensor systems

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